JP2013511036A - 希釈媒体内種検出 - Google Patents
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Abstract
Description
E1=A1exp[i(ω1t−φ1)] (式1)
E2=A2exp[i(ω2t−φ2)] (式2)
で表すことができる。式中のA、ω及びφは、対応する電界の振幅、角周波数及び位相である。AOM30で1次回折ビーム60に周波数差が付与されているので、この式中のω2は、AOM30の励振周波数Ωを用いω1+Ωと表すこともできる。光検出器表面でE1・E2間ビートにより生じる光電流は、ビート周波数が検出器80の電気的帯域幅内であるなら、次の比例式
Iph∝A1 2+A2 2+2A1A2cos[(ω1−ω2)t+(φ1−φ2)] (式3)
で与えられる。φ(t)はビート信号の位相項である。
図10に、標本セル70が位置1にある状態を模式的に示す。但し、セル70の幾何学的な長さがLcであり、そのなかにある希釈媒体が周波数依存性の複素屈折率
N(ω)=n(ω)+iκ(ω) (式4)
を有しているものとする。
E1=A1exp[−κ(ω)k1Lc]・exp[i(ω1t−(k1(L+ΔL)+n(ω1)k1Lc))] (式5)
E2=A2exp[i(ω2t−k2L)] (式6)
で表すことができる。Lは1次回折ビーム60の光路長、ΔLは標本セル70内光路を除く1次・0次回折ビーム間開放気中光路長差である。これを更に変形すると、ビート信号位相を示す式
φ(t)=Ωt+(ω1/c)ΔL+n(ω1)・(ω1/c)Lc+(Ω/c)L (式6)
となる。この式は、キャリア周波数に加えビーム間光路長差、ひいてはセル70内屈折率変化に関する情報を含んでいる。
2πf(t)=(1/c)・dω/dt・[ΔL+Lc・(n(ω)+ω・dn(ω)/dω)] (式7)
で表すことができる。n(ω1)≒1であるので、この式に示す周波数復調信号中、複素屈折率実部の一次導関数情報の振れ幅は、レーザ周波数掃引速度の影響を強く受ける。レーザ光源に対するチャーピングが線形即ち
dω/dt≡定数=S (式8)
である場合、この周波数復調信号は次の式
2πf(t)=(1/c)S・(ΔL+Lc)+(1/c)・SLcω・dn/dω (式9)
で表すことができる。レーザ光源に対するチャーピングが線形であるので、この式の右辺第1項は定数となる。この項を0にするには、光学腕を略完全にバランスさせればよい。即ち、ΔL=−Lcにすればよい。右辺第2項には、屈折率の一次導関数とレーザ光周波数の積が含まれるほか、重要なことにレーザ周波数のチャーピング速度も含まれている。
図11に、標本セル70’が位置2にある状態を模式的に示す。両ビームがその内部を通る位置2にセル70’が挿入されている場合、光検出器表面での電界は次の式
E1=A1exp[−κ(ω1)k1Lc]exp[i(ω1t−(k1L+n(ω1)k1Lc))] (式10)
E2=A2exp[−κ(ω2)k2Lc]exp[i(ω2t−(k2・(L+ΔL)+n(ω2)k2Lc))] (式11)
で表される。Ω≪ω1であり、且つ想定中の分光因子に係る線スペクトルの幅が通例の如くAOM駆動周波数(RF源40の出力)の拡がりに比べかなり広い場合は、次の近似式
n(ω2)≒n(ω1)+Ω・dn(ω1)/dω (式12)
も成り立つ。従って、ビート信号位相を次の式
φ(t)=Ωt+(ω1/c)ΔL+Ω・dn(ω1)/dω・(ω1/c)Lc+n(ω1)・(Ω/c)Lc+dn(ω1)/dω・(Ω2/c)Lc+(Ω/c)・(L+ΔL) (式13)
で表すことができる。
2πf(t)=(1/c)・dω/dt・[ΔL+ΩLc・(dn/dω+ω・d2n/dω2)] (式14)
で表すことができる。
2πf(t)=(1/c)ΔLS+(1/c)ΩLcSω・d2n/dω2 (式15)
となる。
屈折率の実部は、供試標本の吸収係数が既知ならクラマース・クローニッヒ関係式に従い求めることができる。希釈媒体についてのクラマース・クローニッヒ関係式は、屈折率実部に媒体の吸収係数を関連付ける単一の式
n(ω)=1+(c/π)∫0 +∞(α(ω)/(Ω2−ω2))dΩ (式16)
に書き改めることができる。
一方のレーザビームだけが通るよう標本セル70を位置1に配し且つQCL20をダブレット狙いに調整した場合、レーザ光に対し8mAピークトゥピーク(p−p)の三角波電流変調を施すことで、チャーピングによるレーザ周波数掃引を理想的な線形掃引に近づけることができる。その変調信号の周期を調整すればレーザ周波数掃引速度も変化させうる。図4中のグラフA〜Dに示す振幅及び周波数は、順に、0.27、0.53、0.8及び1.6A/s、即ち174、347、521及び1043Hz/nsの掃引速度で計測された信号である。この例からは、高速掃引時に横軸収縮が現れる点を除きいずれの計測結果からも同様の吸収信号を読み取れる一方、レーザ周波数掃引速度と歩調を合わせ式9中の周波数オフセット値及び信号振幅が変化していることもわかる。
周波数復調信号がレーザ周波数掃引速度で変化するため、QCL20のスペクトル可調性に不足が生じてしまうこともありうる。例えば、電流源の変調帯域幅(250kHz)と、周波数復調を実行するスペクトルアナライザ(図示せず)の捕捉帯域幅(110MHz)とが二大制約になり、超高速レーザ周波数掃引時に信号を捕捉できなくなることがありうる。
2πf(t)=(ΔL/c)dω/dt (式17)
の如く、ステップ的電流供給によるレーザ周波数経時変化の情報を含む信号となる。図6に、8mA振幅の1kHz方形波変調電流を供給した場合に関し、レーザパワー(A)、周波数復調信号(B)及びその信号から求めたレーザ周波数経時変化の例を示す。グラフB中の周波数復調信号から読み取れるように、レーザ周波数掃引速度は、ステップ的電流供給に伴い上昇し(局所線形チャーピング)、最大値に達した後下降していく。図6中の線400はこの信号を積分したものであり、掃引に伴うレーザ周波数の経時変化を表している(式17参照)。計測の実行に最適なのは掃引速度が最大の領域、即ち周波数信号のピーク410の頂上に当たる領域である。図6及び図7は、方形波電流による変調でレーザパワー及びレーザ周波数掃引速度に生じるこうした経時変化を表している。特に、掃引10回分の平均をとった図7にはその効果がより明瞭に現れている。QCLに供給する直流電流を調整することで、NOによるダブレットを、レーザ周波数掃引速度最大の位置に動かすことや、そこから別の位置に動かすことができる。従って、信号振幅に対する効果を検出することができる。
標本セル70が図1中の位置1、即ち一方のレーザビームだけが通る位置にある場合、信号90の周波数復調によって、屈折率の一次導関数に関する情報を得ることができる。そうした構成では、光路が長めだと光路バランスを完全に近づけるのが難しい。長尺マルチパスセル等では非現実的にもなりうる。
まず、屈折率変化に関する能力上の検出限界は、NOによるスペクトルの計測で調べることができる。例えば、遷移の中心周波数がレーザ周波数掃引速度最高値と一致することになるよう、14mAのステップ状部分を有する電流でレーザ光源を励振しつつ、NO存在時に1912.79cm−1に現れる孤立した線スペクトルを計測すればよい。ベースラインについては三次多項式による補正を、データについては掃引100回に亘る平均化を施せばよい。図9にこの計測で得た信号を示す。図示したのは、レーザ光源を14mAステップで励振しつつNOによる1912.79cm−1での遷移を計測した結果である。掃引100回に亘る平均化と、三次多項式によるベースライン補正とが施されている。この例に関し、ベースラインに関する標準偏差の計測値で信号振幅p−p値を除しSNRを算出したところ、240なる値が得られた。
・レーザ光源に対するチャーピングの速度:300MHz/ns
・積分時間:200μs
・開放光路長:100m
その他、相応の値を使用すればよい。
Claims (26)
- 希釈媒体内の種を検出する方法であって、
互いにコヒーレントで調和したチャープパターンを有する第1及び第2レーザビームを発生させるステップと、
第1レーザビームのチャープパターンをその種に備わる分光因子のうち少なくとも一部を横切るようにして希釈媒体内に少なくとも第1レーザビームを通すステップと、
第1レーザビームと第2レーザビームを混合することで混成ビームを発生させるステップと、
チャープパターン発生中に混成ビームを検出することで出力信号を発生させる検出ステップと、
分光因子を横切ることによる希釈媒体内屈折率変化に伴い混成ビームに生じた変化を出力信号の処理を通じ計測する処理ステップと、
計測した変化に基づきその種を計測するステップと、
を有する方法。 - 請求項1記載の方法であって、希釈媒体内に第1及び第2レーザビーム双方を通す方法において、第1レーザビームと第2レーザビームの混合に先立ち第2レーザビームに光周波数差を付与するステップを有する方法。
- 請求項2記載の方法であって、第2レーザビームのチャープパターンをその種に備わる分光因子を横断させない方法。
- 請求項2又は3記載の方法であって、第1レーザビームと第2レーザビームの間の光周波数差に生じた変化を混成ビームの変化として計測する方法。
- 請求項2乃至4のうちいずれか一項記載の方法であって、付与する光周波数差が1MHz〜1GHzの範囲内である方法。
- 請求項2乃至5のうちいずれか一項記載の方法であって、上記検出ステップが、光周波数差に応じ混成ビーム中に生じるビート信号を検出するステップを含む方法。
- 請求項6記載の方法であって、上記処理ステップが、希釈媒体内屈折率変化に伴い混成ビームに生じた変化としてその混成ビームの位相変化を計測するステップを含む方法。
- 請求項6記載の方法であって、上記検出ステップが、ビート信号の周波数変化を検出するステップを含む方法。
- 請求項1記載の方法であって、上記処理ステップが、分光因子の所在による希釈媒体内屈折率変化に伴い第1レーザビームと第2レーザビームの間の光路長差に生じた変化を計測するステップを含む方法。
- 請求項9記載の方法であって、混成ビームの位相特性を比較することで第1レーザビームと第2レーザビームの間の光路長差の変化を計測する方法。
- 請求項1乃至10のうちいずれか一項記載の方法であって、量子カスケードレーザを用い第1及び第2レーザビームを発生させる方法。
- 請求項1乃至11のうちいずれか一項記載の方法であって、そのチャープパターンにおける第1及び第2レーザビームの周波数掃引速度が100Hz/ns以上、好ましくは100kHz/ns以上である方法。
- 請求項1乃至12のうちいずれか一項記載の方法であって、各チャープパターンのうち、分光因子の少なくとも一部と交わる部分の長さが10ms未満、好ましくは10μs未満である方法。
- 請求項1乃至13のうちいずれか一項記載の方法であって、その分光因子が、電子吸収、分子遷移、回転遷移、振動回転遷移、バンドギャップ又は振動バンドである方法。
- 気体標本内種に備わる分光因子のうち少なくとも一部に亘りその気体標本に生じる屈折率変化を利用した種の検出。
- 希釈媒体内種のうち分光因子を有するものを検出する装置であって、
互いにコヒーレントで調和したチャープパターンを有する第1及び第2レーザビームを発生させるビーム源と、
希釈媒体内に少なくとも第1レーザビームを通すビームガイドと、
第1レーザビームと第2レーザビームを混合することで混成ビームを発生させるビームミキサと、
チャープパターン発生中に混成ビームを検出し、分光因子を横切ることによる希釈媒体内屈折率変化に伴い混成ビームに生じた変化を計測する検出器と、
計測結果に応じ変化する信号を出力する出力部と、
を備える装置。 - 請求項16記載の装置であって、上記ビームガイドが、希釈媒体内に第1及び第2レーザビーム双方を通すよう構成されており、且つ、上記ビームミキサより前段にて第2レーザビームに光周波数を付与する光周波数シフタを備える装置。
- 請求項17記載の装置であって、上記ビームガイドが、開放大気内へと第1及び第2レーザビームを案内する装置。
- 請求項17又は18記載の装置であって、上記光周波数シフタが音響光学変調器即ちAOMである装置。
- 請求項16乃至19のうちいずれか一項記載の装置であって、上記ビーム源が量子カスケードレーザ即ちQCLである装置。
- 請求項16乃至20のうちいずれか一項記載の装置であって、上記ビーム源が、チャープパターン発生用の駆動信号を発生させるレーザドライバを有する装置。
- 請求項16乃至21のうちいずれか一項記載の装置であって、第1レーザビームと第2レーザビームの間の光路長差を変化させる可調遅延線を備える装置。
- 請求項16乃至22のうちいずれか一項記載の装置であって、上記検出器が光ヘテロダイン検出器である装置。
- 請求項16乃至23のうちいずれか一項記載の装置であって、上記検出器が、振幅復調器、周波数復調器又はその双方を伴う装置。
- 請求項16乃至23のうちいずれか一項記載の装置であって、希釈媒体が入るセルを備える装置。
- 請求項25記載の装置であって、基準標本が入る第2セルを備え、上記ビームガイドがその第2セルを介し第2レーザビームを案内する装置。
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