JP2013258098A - プラズマ処理装置、プラズマ生成装置、アンテナ構造体、及びプラズマ生成方法 - Google Patents
プラズマ処理装置、プラズマ生成装置、アンテナ構造体、及びプラズマ生成方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013258098A JP2013258098A JP2012134593A JP2012134593A JP2013258098A JP 2013258098 A JP2013258098 A JP 2013258098A JP 2012134593 A JP2012134593 A JP 2012134593A JP 2012134593 A JP2012134593 A JP 2012134593A JP 2013258098 A JP2013258098 A JP 2013258098A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plasma
- window member
- conducting wire
- divided
- capacitor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 13
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 51
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 43
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 19
- 230000006837 decompression Effects 0.000 claims description 7
- 230000006698 induction Effects 0.000 claims description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 20
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 20
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 11
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 8
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 8
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 7
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 6
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 6
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 6
- 230000005674 electromagnetic induction Effects 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 238000005513 bias potential Methods 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 230000001976 improved effect Effects 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- -1 for example Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000008093 supporting effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32082—Radio frequency generated discharge
- H01J37/321—Radio frequency generated discharge the radio frequency energy being inductively coupled to the plasma
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32082—Radio frequency generated discharge
- H01J37/321—Radio frequency generated discharge the radio frequency energy being inductively coupled to the plasma
- H01J37/3211—Antennas, e.g. particular shapes of coils
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32082—Radio frequency generated discharge
- H01J37/321—Radio frequency generated discharge the radio frequency energy being inductively coupled to the plasma
- H01J37/32119—Windows
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32192—Microwave generated discharge
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05H—PLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
- H05H1/00—Generating plasma; Handling plasma
- H05H1/24—Generating plasma
- H05H1/46—Generating plasma using applied electromagnetic fields, e.g. high frequency or microwave energy
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Plasma Technology (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
【解決手段】プラズマ処理装置10は、チャンバ11と、該チャンバ11の内部に配置されて基板Sを載置する載置台12と、チャンバ11の外部において載置台12と対向するように配置されて高周波電源26に接続されるICPアンテナ13と、ICPアンテナ13と対向するチャンバ11の壁部を構成し、載置台12及びICPアンテナ13の間に介在する、導電体からなる窓部材14と、窓部材14に両端が接続される導線28とを備え、窓部材14及び導線28は閉回路を形成し、導線28はコンデンサ29を有する。
【選択図】図2
Description
IIND ≒ −MωIRF/(LS−1/CSω) … (1)
ここで、IINDは誘導電流33、MはICPアンテナ13及び閉回路30の間の相互インダクタンス、ωは角周波数、IRFは高周波電流31、LSは閉回路30の自己インダクタンス、CSはコンデンサ29の静電容量、LS−1/CSωは閉回路30のリアクタンスである。
S 基板
10 プラズマ処理装置
11 チャンバ
12 載置台
13 ICPアンテナ
14 窓部材
28,36 導線
29 コンデンサ
30 閉回路
35,39 分割片
38 誘電体
40 プラズマ生成装置
Claims (17)
- 基板を収容する処理室と、該処理室の内部に配置されて前記基板を載置する載置台と、前記処理室の外部において前記載置台と対向するように配置されて高周波電源に接続される誘導結合アンテナとを備えるプラズマ処理装置において、
前記誘導結合アンテナと対向する前記処理室の一の壁部であって、前記処理室の他の壁部と電気的に直接導通しない前記一の壁部を構成し、且つ前記載置台及び前記誘導結合アンテナの間に介在する、導電体からなる窓部材と、
前記窓部材に両端が接続される導線とを備え、
前記窓部材及び前記導線は閉回路を形成し、
前記導線は少なくとも1つのコンデンサを有することを特徴とするプラズマ処理装置。 - 前記閉回路のリアクタンスが負になるように前記コンデンサの静電容量が調整されることを特徴とする請求項1記載のプラズマ処理装置。
- 前記処理室内のプラズマの分布に応じて前記導線及び前記窓部材の接続位置が変更されることを特徴とする請求項1又は2記載のプラズマ処理装置。
- 前記窓部材は複数の分割片に分割され、前記分割片の少なくとも一つに対応して前記導線が設けられ、前記導線が対応して設けられた前記分割片に前記導線の両端が接続されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 前記窓部材は複数の分割片に分割され、
前記導線の一端は一の前記分割片に接続され、前記導線の他端は他の前記分割片に接続され、前記一の分割片及び前記他の分割片は、前記導線とは別の導線によって接続されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。 - 前記誘導結合アンテナは前記一の分割片にのみ対向することを特徴とする請求項5記載のプラズマ処理装置。
- 前記窓部材は複数の分割片に分割され、
前記導線の一端は一の前記分割片に接続され、前記導線の他端は他の前記分割片に接続され、
前記一の分割片及び前記他の分割片は隣接するとともに間に配置された誘電体によって分離されて互いに電気的に導通しないように直接接触せず、
前記一の分割片及び前記他の分割片の間の前記誘電体の一部が薄く形成されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。 - 前記配線は、前記誘導結合アンテナから生じる磁力線が通過する通過面を形成するように巻回されることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 前記コンデンサは容量可変コンデンサであり、前記処理室内のプラズマの密度及び密度分布の少なくとも一方に応じて前記コンデンサの静電容量が調整されることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 減圧室内にプラズマを生成させるプラズマ生成装置であって、
前記減圧室の外部に配置されて高周波電源に接続される誘導結合アンテナと、
該誘導結合アンテナ及び前記減圧室内のプラズマの間に介在する、導電体からなる窓部材と、
前記窓部材に両端が接続される導線とを備え、
前記窓部材及び前記導線は閉回路を形成し、
前記導線は少なくとも1つのコンデンサを有することを特徴とするプラズマ生成装置。 - 前記閉回路のリアクタンスが負になるように前記コンデンサの静電容量が調整されることを特徴とする請求項10記載のプラズマ生成装置。
- 前記窓部材は複数の分割片に分割され、
前記導線の一端は一の前記分割片に接続され、前記導線の他端は他の前記分割片に接続され、前記一の分割片及び前記他の分割片は、前記導線とは別の導線によって接続されることを特徴とする請求項10又は11記載のプラズマ生成装置。 - 高周波電源に接続される誘導結合アンテナを備えるアンテナ構造体において、
前記誘導結合アンテナ及び前記誘導結合アンテナにより生成されるプラズマの間に介在する、導電体からなる窓部材と、
前記窓部材に両端が接続される導線とを備え、
前記窓部材及び前記導線は閉回路を形成し、
前記導線は少なくとも1つのコンデンサを有することを特徴とするアンテナ構造体。 - 前記閉回路のリアクタンスが負になるように前記コンデンサの静電容量が調整されることを特徴とする請求項13記載のアンテナ構造体。
- 前記窓部材は複数の分割片に分割され、
前記導線の一端は一の前記分割片に接続され、前記導線の他端は他の前記分割片に接続され、前記一の分割片及び前記他の分割片は、前記導線とは別の導線によって接続されることを特徴とする請求項13又は14記載のアンテナ構造体。 - 高周波電源に接続される誘導結合アンテナと、前記誘導結合アンテナ及びプラズマの間に介在する導電体からなる窓部材と、導線とを備え、前記導線は少なくとも1つのコンデンサを有するアンテナ構造体を用いたプラズマ生成方法であって、
前記導線の両端を前記窓部材に接続して閉回路を形成し、
前記閉回路のリアクタンスが負になるように前記コンデンサの静電容量を調整することを特徴とするプラズマ生成方法。 - 前記コンデンサは容量可変コンデンサであり、前記プラズマの密度及び密度分布の少なくとも一方に応じて前記コンデンサの静電容量が調整されることを特徴とする請求項16記載のプラズマ生成方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012134593A JP6084784B2 (ja) | 2012-06-14 | 2012-06-14 | プラズマ処理装置、プラズマ生成装置、アンテナ構造体、及びプラズマ生成方法 |
TW102120159A TWI569693B (zh) | 2012-06-14 | 2013-06-06 | A plasma processing apparatus, a plasma generating apparatus, an antenna structure, and a plasma generating method |
KR1020130067634A KR101718182B1 (ko) | 2012-06-14 | 2013-06-13 | 플라즈마 처리 장치, 플라즈마 생성 장치, 안테나 구조체, 및 플라즈마 생성 방법 |
CN201310236940.6A CN103517536B (zh) | 2012-06-14 | 2013-06-14 | 等离子体处理装置、生成装置及生成方法、天线结构体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012134593A JP6084784B2 (ja) | 2012-06-14 | 2012-06-14 | プラズマ処理装置、プラズマ生成装置、アンテナ構造体、及びプラズマ生成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013258098A true JP2013258098A (ja) | 2013-12-26 |
JP6084784B2 JP6084784B2 (ja) | 2017-02-22 |
Family
ID=49899299
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012134593A Active JP6084784B2 (ja) | 2012-06-14 | 2012-06-14 | プラズマ処理装置、プラズマ生成装置、アンテナ構造体、及びプラズマ生成方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6084784B2 (ja) |
KR (1) | KR101718182B1 (ja) |
CN (1) | CN103517536B (ja) |
TW (1) | TWI569693B (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6625429B2 (ja) * | 2015-12-25 | 2019-12-25 | 株式会社ショーワ | ベーンポンプ装置 |
US11551909B2 (en) * | 2017-10-02 | 2023-01-10 | Tokyo Electron Limited | Ultra-localized and plasma uniformity control in a plasma processing system |
WO2021181531A1 (ja) * | 2020-03-10 | 2021-09-16 | 日新電機株式会社 | アンテナ機構及びプラズマ処理装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011096687A (ja) * | 2009-10-27 | 2011-05-12 | Tokyo Electron Ltd | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 |
JP2011119658A (ja) * | 2009-10-27 | 2011-06-16 | Tokyo Electron Ltd | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 |
JP2012133680A (ja) * | 2010-12-22 | 2012-07-12 | Fujitsu Frontech Ltd | マークシート読取装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6447637B1 (en) * | 1999-07-12 | 2002-09-10 | Applied Materials Inc. | Process chamber having a voltage distribution electrode |
JP3903730B2 (ja) * | 2001-04-04 | 2007-04-11 | 松下電器産業株式会社 | エッチング方法 |
JP3714924B2 (ja) * | 2002-07-11 | 2005-11-09 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置 |
JP2004079557A (ja) * | 2002-08-09 | 2004-03-11 | Hitachi High-Technologies Corp | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 |
JP2005285564A (ja) * | 2004-03-30 | 2005-10-13 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | プラズマ処理装置 |
KR20060073737A (ko) * | 2004-12-24 | 2006-06-29 | 삼성전자주식회사 | 플라즈마 장치 |
CN2907173Y (zh) * | 2006-02-24 | 2007-05-30 | 苏州大学 | 大面积并联高密度感应耦合等离子体源 |
JP5479867B2 (ja) * | 2009-01-14 | 2014-04-23 | 東京エレクトロン株式会社 | 誘導結合プラズマ処理装置 |
CN102056395B (zh) * | 2009-10-27 | 2014-05-07 | 东京毅力科创株式会社 | 等离子体处理装置和等离子体处理方法 |
JP5916044B2 (ja) * | 2010-09-28 | 2016-05-11 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 |
-
2012
- 2012-06-14 JP JP2012134593A patent/JP6084784B2/ja active Active
-
2013
- 2013-06-06 TW TW102120159A patent/TWI569693B/zh active
- 2013-06-13 KR KR1020130067634A patent/KR101718182B1/ko active IP Right Review Request
- 2013-06-14 CN CN201310236940.6A patent/CN103517536B/zh active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011096687A (ja) * | 2009-10-27 | 2011-05-12 | Tokyo Electron Ltd | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 |
JP2011119658A (ja) * | 2009-10-27 | 2011-06-16 | Tokyo Electron Ltd | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 |
JP2011119659A (ja) * | 2009-10-27 | 2011-06-16 | Tokyo Electron Ltd | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 |
JP2012133680A (ja) * | 2010-12-22 | 2012-07-12 | Fujitsu Frontech Ltd | マークシート読取装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201414363A (zh) | 2014-04-01 |
CN103517536A (zh) | 2014-01-15 |
KR101718182B1 (ko) | 2017-03-20 |
JP6084784B2 (ja) | 2017-02-22 |
TWI569693B (zh) | 2017-02-01 |
KR20130140571A (ko) | 2013-12-24 |
CN103517536B (zh) | 2017-03-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102508029B1 (ko) | 유도 결합 플라즈마용 안테나 유닛, 유도 결합 플라즈마 처리 장치 및 유도 결합 플라즈마 처리 방법 | |
JP5934030B2 (ja) | プラズマ処理装置、プラズマ生成装置、アンテナ構造体、及びプラズマ生成方法 | |
JP3905502B2 (ja) | 誘導結合プラズマ発生装置 | |
KR101615492B1 (ko) | 복합형 플라즈마 반응기 | |
CN104217914B (zh) | 等离子体处理装置 | |
JP2012018921A (ja) | プラズマ発生装置 | |
JP6084784B2 (ja) | プラズマ処理装置、プラズマ生成装置、アンテナ構造体、及びプラズマ生成方法 | |
KR20120025430A (ko) | 안테나 유닛 및 유도 결합 플라즈마 처리 장치 | |
US9167680B2 (en) | Plasma processing apparatus, plasma generating apparatus, antenna structure and plasma generating method | |
KR100719804B1 (ko) | 다중 안테나 구조 | |
KR100387927B1 (ko) | 유도결합형 플라즈마 에칭 장치 | |
KR20140022453A (ko) | 유도 결합 플라즈마용 안테나 유닛 및 유도 결합 플라즈마 처리 장치 | |
KR100734773B1 (ko) | 다중 안테나가 구비된 플라즈마 처리장치 | |
WO2018173892A1 (ja) | プラズマ処理装置 | |
KR101585893B1 (ko) | 복합형 플라즈마 반응기 | |
KR101167952B1 (ko) | 대면적의 플라즈마를 발생시키는 플라즈마 반응기 | |
WO2019229784A1 (ja) | プラズマ処理装置 | |
KR100290158B1 (ko) | 대면적 평면 안테나를 이용한 플라즈마 가공장치 | |
KR101585891B1 (ko) | 혼합형 플라즈마 반응기 | |
KR101609319B1 (ko) | 복합형 플라즈마 반응기 | |
US8264153B2 (en) | Plasma source for large size substrate | |
JP2021136064A (ja) | 誘導結合アンテナ及びプラズマ処理装置 | |
JP2021136065A (ja) | アンテナセグメント及び誘導結合プラズマ処理装置 | |
KR101002260B1 (ko) | 혼합형 플라즈마 반응기 | |
KR20110066682A (ko) | 대면적의 플라즈마를 발생시키는 플라즈마 반응기 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150508 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160310 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160322 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160518 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160809 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160831 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170117 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170126 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6084784 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |