JP2013250443A

JP2013250443A - 光学評価装置および光学評価方法

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Publication number: JP2013250443A
Application number: JP2012125149A
Authority: JP
Inventors: Makiko Kofuji; 真樹子小藤
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 2012-05-31
Filing date: 2012-05-31
Publication date: 2013-12-12
Anticipated expiration: 2032-05-31
Also published as: JP5932492B2

Abstract

【課題】変形解析と光学評価に用いる形状モデルと光学データを効率的に対応付け、変形解析後にの効率的な光学評価を実行可能とする。
【解決手段】形状モデルとしてのCADデータ302と、該形状モデルを構成する光学面ごとの特性情報を示す光学データ303、および光軸の情報を示す光軸データ304を入力する。光学面検索部305はCADデータ302に基づき、光軸データ304が示す光軸と交わる面であって、かつ光学データ303に合致する面を検出する。識別子付与部306は、検出面上において変形解析対象となる節点に対し、該検出面と対応付けた識別子を付与する。光軸算出部307は、該検出面に応じて光軸データ304を変換して、該検出面を通過後の新たな光軸データを算出する。そして変形解析実行部309が、CADデータ302より作成された変形解析モデルを用いて変形解析を行い、解析結果抽出部310が、識別子が付与された節点についての変形解析結果のみを抽出する。
【選択図】図3

Description

本発明は、光学機器に対する変形解析結果を用いて、変形後の光学性能を評価する技術に関する。

近年、部品や製品の設計にCAD(Computer Aided Design)の技術が広く利用されている。そして、CADを用いて作成されたモデル(以下、CADモデルと称する)を数値解析用モデル(以下、解析モデルと称する)に変換して数値解析シミュレーションを行い、その解析結果から設計内容を検討することが行われている。

一般にカメラやコピー装置等の光学機器の設計においては、熱変形や衝撃変形等の機械的変形が、結像位置等の光学的性能に及ぼす影響を考慮した設計を行う必要がある。したがって、機械的変形を予測する変形解析と、光学的性能を予測する光学評価とを組み合わせた数値解析シミュレーションが行われている。例えば特許文献1には、このような機械的変形と光学的性能との関係を考察する方法が記載されている。

特開平11-14924号公報

しかしながら、上記特許文献1に開示される技術を光学機器の設計に適用した場合、変形解析と光学評価に用いるモデルやデータの対応付けに多くの手間や時間を要するという課題がある。例えば、変形解析の結果を光学評価に用いるには、外装部品や鏡筒といった多くの機械的部品が含まれる変形解析結果の中から、レンズやミラーといった光学評価に必要な光学部品を探し、光学評価と対応付けて変形解析結果を抽出する必要がある。

本発明は上記課題を鑑み、変形解析と光学評価に用いる形状モデルと光学データを効率的に対応付け、変形解析結果から光学評価に必要な範囲のデータを抽出することで、変形解析後の効率的な光学評価を実行可能とすることを目的とする。

上記目的を達成するための一手段として、本発明の光学評価装置は以下の構成を備える。すなわち、光学機器に対する変形解析結果を用いて光学評価を行う光学評価装置であって、評価対象となる形状モデルと、該形状モデルを構成する光学面ごとの特性情報を示す光学データ、および光軸の情報を示す光軸データを入力する入力手段と、前記形状モデルから、前記光軸データが示す光軸と交わる面を検出面として検出する面検出手段と、前記検出面が前記光学データに含まれる光学面であるか否かを、前記形状モデルおよび前記光学データのそれぞれにおける面の位置情報に基づいて判定する判定手段と、前記検出面が前記光学データに含まれる場合に、該検出面上に前記形状モデルにより規定される変形解析対象の節点に対し、該検出面と対応付けた識別子を付与する識別子付与手段と、前記検出面に応じて前記光軸データを変換することで、該検出面を通過後の新たな光軸データを、前記面検出手段における次の面の検出用に算出する光軸算出手段と、前記形状モデルに基づいて作成された変形解析モデルを用いて変形解析を行う変形解析手段と、前記変形解析手段における変形解析結果から、前記識別子が付与された節点についての変形解析結果を抽出する解析結果抽出手段と、を有することを特徴とする。

本発明によれば、変形解析と光学評価に用いる形状モデルと光学データを効率的に対応付け、変形解析結果から光学評価に必要な範囲のデータを抽出することで、変形解析後の効率的な光学評価が実行可能となる。

第1実施形態に係るコンピュータシステムを示す斜視図、コンピュータシステムの本体部内の要部構成を示すブロック図、コンピュータシステムの機能構成を示すブロック図、光学データの一例を示す図、変形解析結果の抽出処理を示すフローチャート、変形解析結果の抽出処理が適用されるカメラの構成例を示す図、光学面に付与される識別子の一例を示す図、面の種類に応じた光軸の変換例を示す図、第2実施形態における抽出面に対する有効領域を示す図、有効領域の縮小例を示す図、有効領域の拡大例を示す図、第2実施形態における識別子の付与処理を示すフローチャート、である。

以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、以下の実施の形態は特許請求の範囲に関わる本発明を限定するものではなく、また、本実施の形態で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。

＜第1実施形態＞
本実施形態は、光学機器に対する変形解析結果を用いて光学評価を行う光学評価装置を示すものである。具体的にはまず、評価対象となる形状モデルと、該形状モデルを構成する光学面ごとの特性情報を示す光学データ、および光軸の情報を示す光軸データを入力する(入力処理)。そして形状モデルから、光軸データが示す光軸と交わる面を検出面として検出する(面検出処理)。そしてさらに、該検出面が光学データに含まれる光学面であるか否かを、形状モデルおよび光学データのそれぞれにおける面の位置情報に基づいて判定する(判定処理)。そして、検出面が光学データに含まれる場合に、該検出面上に形状モデルにより規定される変形解析対象の節点に対し、該検出面と対応付けた識別子を付与する(識別子付与処理)。そして、検出面に応じて光軸データを変換することで、該検出面を通過後の新たな光軸データを、次の面の検出用に算出する(光軸算出処理)。そして、形状モデルに基づいて作成された変形解析モデルを用いて変形解析を行い(変形解析処理)、識別子が付与された節点についての変形解析結果のみを抽出する(解析結果抽出処理)。

このように、変形解析と光学評価に用いる形状モデルと光学データを効率的に対応付けることで、変形解析後に効率的な光学評価を行うことが可能となる。

●装置構成
第1実施形態においては、本発明がコンピュータシステムに適用された場合について説明する。図1は、本実施形態に係るコンピュータシステムを示す斜視図である。図1に示すコンピュータシステム100において、101は、CPUやディスクドライブなどを内蔵した本体部である。102は、本体部101からの指示により表示画面102A上にCADモデル等の画像を表示するディスプレイである。103は、コンピュータシステム100の種々の情報を入力するためのキーボードである。104は、ディスプレイ102における表示画面102A上の任意の位置を指定するためのマウスである。105は、外部のデータベース等にアクセスして他のコンピュータシステムに記憶されているプログラム等のダウンロードを可能とするモデムである。

コンピュータシステム100にCAD機能を持たせるためのプログラム(CADソフトウェア)は、ディスク110等の可搬記録媒体に格納されるか、モデム105等の通信装置を介して他のコンピュータシステムの記録媒体106からダウンロードされる。ダウンロードされたプログラムは、コンピュータシステム100に入力されてコンパイルされ、コンピュータシステム100(後述するCPU201)を、CAD機能を有するCADシステムとして動作させる。

なお、プログラムを記録する例えばディスク110等のコンピュータ読み取り可能な記録媒体としては、ディスク110、ICカードメモリ、フロッピー(登録商標)ディスク等の磁気ディスク、光磁気ディスク、CD-ROM、等が挙げられる。なお、本発明に適用可能な可搬型記録媒体はこれらの例に限定されず、例えば、モデム105やLAN等の通信手段を介して接続されるコンピュータシステムでアクセス可能な各種記録媒体も含まれる。

図2は、コンピュータシステム100の本体部101内の要部の構成を示すブロック図である。図2に示すように本体部101は、バス200により接続されたCPU201、RAMやROM等からなるメモリ部202、ディスク110用のディスクドライブ203、及びハードディスクドライブ204、からなる。なお本実施形態では、ディスプレイ102、キーボード103及びマウス104も、バス200を介してCPU201に接続されているが、これらは直接CPU201に接続されていても良い。またディスプレイ102は、入出力画像データの処理を行う周知のグラフィックインタフェース(不図示)を介してCPU201に接続されていても良い。

コンピュータシステム100において、キーボード103やマウス104は、CADシステムの入力手段を構成する。ディスプレイ102は、CADモデルなどを表示画面102Ａ上に表示する出力手段を構成する。なお、コンピュータシステム100の構成は図1及び図2に示す構成に限定されるものではなく、各種周知の構成を使用しても良い。

図3は、本実施形態に係るコンピュータシステム100の機能的な構成を示すブロック図である。各ブロックに示す機能は、CPU201がプログラム(CADソフトウェア)を実行することにより実現する。

図3において解析データ生成部301は、複数の部品モデル(以下、単に部品とも称する)を含むモデルについて、CADデータ302、光学データ303、光軸データ304を入力する。

CADデータ302は、部品モデルを表す部品データとして、形状モデル、モデルの属性情報、モデルの幾何情報、等を含む。部品データは複数の部品各々に対応するデータであっても、複数の部品全体に対応する1つのデータであっても良く、データの構造は問わない。

光学データ303は、光学評価に必要な光学部品の面の情報を含む。図4に、光学データ303の一例を示す。図4に示すように光学データ303は、複数の光学部品の面(以下、光学面)について、光学ID401、曲率半径情報402、面の位置情報である中心座標403、傾き404、屈折率情報405、種類情報406、等の各種情報を含む。なお、光学ID401は、評価対象となる光学部品の表面および裏面のそれぞれに割り当てられる。なお、光学データ303の形式は図4に示す例に限定されず、例えば解析の精度を上げるために、光学データ303としてより詳細な面の形状情報等を含むようにしても良い。

光軸データ304は、入射光線の情報であり、例えば入射光線の始点位置、方向を示す情報を含む。

解析データ生成部301は、複数のモデルについて、入力したCADデータ302、光学データ303、光軸データ304を入力し、これらに基づいて、後述する変形解析実行部309で用いられる解析データを生成する。解析データ生成部301は、光学面検索部305、識別子付与部306、光軸算出部307、変形解析モデル作成部308、を有する。

光学面検索部305は、CADデータ302から、光軸データ304が示す光軸と交わり、光学データ303とも合致する光学面を検索する。識別子付与部306は、光学面検索部305により検出された光学面に対して識別子を付与する。この識別子に基づいて、本実施形態における変形解析結果の抽出が行われる。

光軸算出部307は、光学面検索部305により検出された光学面の種類に応じて光軸の向きを変化させることで、現在の光軸に続く次の光軸を算出する。変形解析モデル作成部308は、CADデータ302に基づいて解析に必要な境界条件の設定等行うもので、ユーザによって設定された拘束条件、荷重条件等に基づき、変形解析モデルを作成する。

変形解析実行部309は、解析データ生成部301によって生成された解析データを入力し、変形解析を実行する。この変形解析は、上述したように作成された解析モデルのデータに対して行われる。変形解析には、解析、評価、最適化等の処理が含まれ、解析のみが行われても良いし、また解析及び評価のみが行われても、また解析と評価と最適化の全てが行われても良い。

解析結果抽出部310は、変形解析実行部309によって生成された解析結果から、識別子付与部306で付与された識別子を用いて、光学評価に必要な範囲の変形解析結果を抽出する。

●変形解析結果抽出処理
以下、本実施形態に係るコンピュータシステムにおいて実行される、光学評価に必要な範囲における変形解析結果を抽出する処理について、図5のフローチャートを用いて説明する。この処理は、CPUがプログラムを実行することにより行われる。

本実施形態では、CADデータ302が示す部品モデルから光学データ303における面を検索し、光軸を算出する。ここで図6に示す構成からなるカメラの解析に対し、変形解析結果の抽出処理が適用される例を示す。図6(a)に示すカメラは、その筐体601内に、光学部品としての光学面(表面)602、(裏面)603を有するレンズ604、ミラー605、撮像素子606、ペンタプリズム607、ファインダーのレンズ608、が装着されている。なお以下ではレンズ604について、表面／裏面の区別を省略して記す。光軸始点609から発射された光線は、光軸610に示すようにレンズ604を通過し、ミラー605で反射し、ペンタプリズム607内で反射し、レンズ608を通過して、ファインダーに届く。また、シャッターが押された際には、ミラー605が光軸外に移動し、図6(b)に示すように光軸始点609から発射された光線は、光軸612に示すようにレンズ604を通過した後、撮像素子606に到達して記録される。

コンピュータシステムはまず、設計対象のCADデータ302、光学データ303、初期の光軸データ304を入力する(S501)。なお初期の光軸データ304とは、光軸始点(図6の609)からの光軸を示すデータである。これらの入力は、コンピュータシステムの入力手段、又は、RAMやROM等の記憶部から入力されても良いし、通信回線を介して他のコンピュータシステムから入力されても良い。また、コンピュータシステムの外部の記憶媒体(ディスク等)から入力されても良い。

すると光学面検索部305が、S501で入力したCADデータ302に対して、光軸データ304が示す光軸と交わる面を検索し、該検索によって検出された面のうち光軸開始点に最も近い面を検出する(S502)。さらに、該検出面を光学データ303内に含まれる面と照合し、合致した面を検出する(S503)。なお、CADデータ302と光学データ303の面の照合には、例えばそれぞれにおける面の位置情報を用いれば良い。

そして識別子付与部306は、光学データ303内の面に合致した検出面はすなわち光学評価に必要となる光学部品の面(光学面)であるから、該検出面に対して識別子を付与する(S504)。例えば図6(a)の例であれば、最初に光学面602に対して識別子が付与される。ここで付与される識別子とは、CADデータ302(すなわち後述する変形解析モデル内)において光学評価に必要となる面と、光学データ303との関連付けを行うものであり、図7にその一例を示す。図7では、検出面上にある節点を1つのグループとして、識別子を付与する例を示している。ここで節点とは、CADデータ302に基づいて各部品の面上に規定される、変形解析の実行点である。図7の例では、識別子として節点グループ名701を用いており、光学データ303において面を識別する光学ID401(図4)ごとに節点をグループ分けし、光学ID401と節点番号群702を関連付けている。

S504で識別子の付与が終了した場合、またはS503で検出面が光学データ303内の面に合致しない場合には、光軸算出部307が、該検出面を通過後の光軸を次の光軸として算出する(S505)。具体的には、検出面が光学データ303内にあって識別子が付与された場合には、該検出面の種類等に応じて次の光軸を算出する。すなわち、光学データ303に含まれる面の位置・形状情報(402,403,404)、屈折率情報405、および種類情報406に基づき、S502で面の検索を行った光軸に対し、物理法則に従った屈折・反射相当の変換を施すことで、次の光軸を算出する。ここで図8に、光軸の変換例を示す。図8(a)は、面の種類がミラーであって、光軸を反射させた際の変換例を示す。すなわち、始点802、方向803である光軸がミラー801と交わると、反射の法則に従い、始点804、方向805となるよう、光軸が変換されることを示している。また図8(b)は、面の種類がガラスであって、光軸を屈折させた際の変換例を示す。すなわち、ガラス面806に、始点807、方向808の光軸が交わると、屈折の法則に従い、始点809、方向810の光軸に変換されることを示している。一方、検出面が光学データ303内になかった場合には、該検出面を単純透過するものとして次の光軸を算出する。

このように、S505で次の光軸を算出することによって、図6(a)のように光軸が屈曲するような光学系にも対応可能となる。光軸の変換後、該変換された光軸(次の光軸)を用い、S502において光軸と交わる面が見つからなくなるまで、S502〜S505の処理を繰り返す。これにより、光学系において光軸と交わる全ての光学面について、S504で識別子が付与される。

光軸と交わる全ての面に対する識別子の付与が終了したら、変形解析モデル作成部308がCADデータ302に基づき、変形解析に必要な境界条件の設定等を行って、変形解析モデルを作成する(S506)。この変形解析モデルの作成処理としては一般的な処理を行うため、ここでは詳細な説明を省略する。そして変形解析実行部309が、S506で作成された変形解析モデルを用いて変形解析を実行する(S507)。

そして最後に解析結果抽出部310が、S507における変形解析結果から、S504で付与した識別子を用いて、光学評価に必要な範囲の変形解析結果を抽出する(S507)。すなわち、識別子に対応する変形解析結果は光学部品についての変形解析結果であるから、これを抽出することによって、光学部品の面上における節点の変形解析結果が得られ、光学評価が可能となる。詳細には、抽出された節点の変形解析結果を自由曲面で近似(フィッティング)し、該近似結果に基づいて光学データ303を変形して変形後光学データを作成することで、変形後の光学評価を行うことが可能となる。このとき、光学データ303を識別子に基づいて参照することができる。

なお本実施形態においては、識別子の付与後に変形解析モデルを作成する例を示したが、識別子の付与前に変形解析モデルを作成しても、さらに変形解析を実行しても良く、すなわち識別子が付された節点についての変形解析結果が抽出できれば良い。また、光軸データ304として、入射光線の始点位置及び方向を示すデータを与えて光学面を検索する例を示したが、光軸データ304を線分または直線としても良い。なお、識別子の付与は予め定められた、あるいは、ユーザ指示により選択的に特定される一部の面についてのみ行っても良い。

以上説明したように本実施形態によれば、変形解析結果のうち、光学評価に必要な部分のデータのみを容易に抽出することが可能となる。したがって、変形解析結果に対する光学評価を効率的に行うことができる。

＜第2実施形態＞
以下、本発明に係る第2実施形態について説明する。上述した第1実施形態では、検出した光学面の全面についての変形解析結果を抽出する方法について説明した。しかし、光学部品の保持方法によっては、数値解析上、保持部近辺で局所的な変形を起こし、その変形解析結果も抽出すると精度の悪化が懸念される。具体的には図9に示すように、保持部品902及び903に保持された光学部品901は、条件により保持点904及び905で局所的な変形をおこす場合がある。この光学面906に対して上述した第1実施形態による抽出を行った場合、その抽出範囲は図中矢印1001で示す範囲の面となり、保持点905を含む。このとき、保持点905が変形をきたしていた場合には、光学評価精度が悪化してしまう。

そこで第2実施形態では、図9に示す第1実施形態での検出面1001に対し、図10に示すように、光線が通過する領域1002のみに限定して、変形解析結果の抽出を行うようにする。これにより、光学部品において保持部近辺での局所的な変形が光学評価へ与える影響を低減させることが可能となる。

一方、光学部品の面形状によっては、有効領域を拡大することが望ましい場合がある。例えば図11に示すように、光学上の扱いは単一面であるにも関わらず、CADデータ302上では単一の面として定義されておらず、必要な領域(有効領域)1102に対して、1103の面のみの検出となってしまう場合がある。このような場合、有効領域1102に拡大して変形解析結果を抽出することが望まれる。そこで第2実施形態では、より精度を上げるために、変形解析結果を抽出する範囲を調整(限定または拡大)する例について説明する。

第2実施形態における装置構成は上述した第1実施形態と同様であるが、上述したように光学評価の精度を上げるために、光学データ303として、光学面内において光線が通過する領域に関する情報(以下、有効領域情報)を含むものとする。以下、第2実施形態における変形解析結果の抽出処理について説明する。その概要は第1実施形態で示した図5のフローチャートとほぼ同様であるが、S504における識別子の付与処理が異なるため、これを図12のフローチャートに示して説明する。

第1実施形態と同様に、光軸と交わる面が検出されたら(S502)、光軸開始点に最も近い検出面を光学データ303内の面と照合し(S503)、光学データ303内の面と合致する場合に、該検出面に対して識別子の付与処理を行う(S504)。

詳細には図12に示すように、検出面のサイズを、該面について光学データ303で示される有効領域情報が示す有効領域サイズと比較する(S1201)。なお検出面のサイズはCADデータ302から取得可能である。そして、図9に示すように検出面1001よりも有効領域情報によって示される有効領域1002の方が小さければ、識別子を付与する範囲を有効領域1002内に絞る(S1202)。

一方、図11に示すように検出面1103のサイズが有効領域1102のサイズ以上であれば、検出面1103に連続する周囲の面についても、識別子の付与範囲とする。すなわち、有効領域1102に対し、さらに有効領域1102と検出面1103の差分を含めるように、識別子の付与範囲を拡大する(S1203)。

そして、限定または拡大した識別子付与範囲に対して識別子を付与する(S1204)。すなわち、検出面に対応する有効領域内に存在する節点グループに対し、識別子が限定付与または拡大付与される。その後は第1実施形態と同様にS505に移行する。

以上説明したように第2実施形態によれば、変形解析結果のうち、変形解析結果の抽出範囲を必要な範囲内に調整することで、解析精度を向上させることが可能となる。

＜その他の実施形態＞
本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。

Claims

光学機器に対する変形解析結果を用いて光学評価を行う光学評価装置であって、
評価対象となる形状モデルと、該形状モデルを構成する光学面ごとの特性情報を示す光学データ、および光軸の情報を示す光軸データを入力する入力手段と、
前記形状モデルから、前記光軸データが示す光軸と交わる面を検出面として検出する面検出手段と、
前記検出面が前記光学データに含まれる光学面であるか否かを、前記形状モデルおよび前記光学データのそれぞれにおける面の位置情報に基づいて判定する判定手段と、
前記検出面が前記光学データに含まれる場合に、該検出面上に前記形状モデルにより規定される変形解析対象の節点に対し、該検出面と対応付けた識別子を付与する識別子付与手段と、
前記検出面に応じて前記光軸データを変換することで、該検出面を通過後の新たな光軸データを、前記面検出手段における次の面の検出用に算出する光軸算出手段と、
前記形状モデルに基づいて作成された変形解析モデルを用いて変形解析を行う変形解析手段と、
前記変形解析手段における変形解析結果から、前記識別子が付与された節点についての変形解析結果を抽出する解析結果抽出手段と、
を有することを特徴とする光学評価装置。
前記判定手段、前記識別子付与手段、および前記光軸算出手段は、前記面検出手段において、該光軸の始点に最も近い面を抽出し、前記形状モデルから前記検出面が検出されなくなるまで、それぞれの処理を繰り返すことを特徴とする請求項1に記載の光学評価装置。
前記光軸算出手段は、前記検出面が前記光学データに含まれる場合に、前記検出面について前記光学データが示す特性情報に基づき、前記新たな光軸データを算出することを特徴とする請求項1または2に記載の光学評価装置。
前記光軸算出手段は、前記検出面が前記光学データに含まれない場合に、該検出面を透過するように前記新たな光軸データを算出することを特徴とする請求項3に記載の光学評価装置。
前記光学データは、光学面の有効領域サイズを示す有効領域情報を有し、
前記識別子付与手段は、
前記形状モデルから取得される前記検出面のサイズと、該検出面に対応する前記光学データが示す有効領域サイズとを比較する比較手段と、
前記有効領域サイズが前記検出面のサイズよりも小さい場合に、該検出面上の節点のうち、該有効領域内にある節点に前記識別子を付与する限定付与手段と、
前記有効領域サイズが前記検出面のサイズ以上である場合に、該有効領域と該検出面との差分を含めて該有効領域内にある節点に前記識別子を付与する拡大付与手段と、
を有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の光学評価装置。
さらに、前記解析結果抽出手段で抽出された、光学面ごとの節点の変形解析結果を自由曲面に近似する近似手段と、
該近似結果を用いて前記光学データを変形して変形後光学データを作成し、光学評価を行う光学評価手段と、
を有することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の光学評価装置。
前記光学データは、前記特性情報として、光学面の種類情報、光学面の形状情報、および光学面の屈折率情報を含むことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の光学評価装置。
入力手段、面検出手段、判定手段、識別子付与手段、光軸算出手段、変形解析手段、および解析結果抽出手段、を有し、光学機器に対する変形解析結果を用いて光学評価を行う光学評価装置における光学評価方法であって、
前記入力手段が、評価対象となる形状モデルと、該形状モデルを構成する光学面ごとの特性情報を示す光学データ、および光軸の情報を示す光軸データを入力し、
前記面検出手段が、前記形状モデルから、前記光軸データが示す光軸と交わる面を検出面として検出し、
前記判定手段が、前記検出面が前記光学データに含まれる光学面であるか否かを、前記形状モデルおよび前記光学データのそれぞれにおける面の位置情報に基づいて判定し、
前記識別子付与手段が、前記検出面が前記光学データに含まれる場合に、該検出面上に前記形状モデルにより規定される変形解析対象の節点に対し、該検出面と対応付けた識別子を付与し、
前記光軸算出手段が、前記検出面に応じて前記光軸データを変換することで、該検出面を通過後の新たな光軸データを、前記面検出手段における次の面の検出用に算出し、
前記変形解析手段が、前記形状モデルに基づいて作成された変形解析モデルを用いて変形解析を行い、
前記解析結果抽出手段が、前記変形解析手段における変形解析結果から、前記識別子が付与された節点についての変形解析結果を抽出する、
ことを特徴とする光学評価方法。
コンピュータ装置で実行されることにより、該コンピュータ装置を請求項1乃至7のいずれか１項に記載の光学評価装置の各手段として機能させるためのプログラム。