JPH11119136A - 光学機器の設計支援方法、光学機器の設計支援装置及び光学機器の設計支援プログラムを記録した記録媒体 - Google Patents

光学機器の設計支援方法、光学機器の設計支援装置及び光学機器の設計支援プログラムを記録した記録媒体

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JPH11119136A
JPH11119136A JP29616997A JP29616997A JPH11119136A JP H11119136 A JPH11119136 A JP H11119136A JP 29616997 A JP29616997 A JP 29616997A JP 29616997 A JP29616997 A JP 29616997A JP H11119136 A JPH11119136 A JP H11119136A
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 光学機器の最適な機械特性パラメータを算出
しその結果を設計者に与えることにより光学系の設計者
に要求される機械系の知識およびノウハウを軽減する。 【解決手段】 光学機器の機械系解析モデル、光学系解
析モデル及び機械特性パラメータの初期値を作成する
(S1)。機械系解析モデルに械特性パラメータの初期
値を代入して光学部品の変形状態を算出する(S2)。
光学系解析モデルを用いて光学部品の変形時の光学的性
能を計算する(S3)。予め計算しておいた静止時の光
学的性能とを比較し、その差が許容値以内かどうか判断
する(S4)。許容値以内でなければ(S4でNo)、
光学的性能の変化を求め、その結果を基に最適化計算を
行って機械特性パラメータの最適化計算を行い(S
5)、機械特性パラメータの値をS5で得られた値に変
更する(S6)。以上の処理を、許容値以内に収まるま
で繰り返す。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複写機やレーザプ
リンタなど電子写真方式の画像形成装置に装備される光
書込みユニットなどの光学機器の設計支援技術に関し、
特に、機械的挙動による光学的性能への影響を軽減する
のに最適な機械構造を、光路解析及び機械系解析の手法
を用いて、且つ使用する光学部品の変形を考慮しつつ行
えるようにした光学機器の設計支援装置、光学部品の設
計支援方法及び光学部品の設計支援プログラムを記録し
た記憶媒体に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、複写機やレーザプリンタ等に装
備される光書き込みユニットなどの光学機器の設計は、
その光学機器の機械的挙動が光学的性能に及ぼす影響を
考慮して行う必要がある。光書き込みユニットの場合、
例えばスポット位置ずれを引き起こす要因としてハウジ
ングの変形、振動等を挙げることができ、その影響を受
けないようにユニット全体及びユニットを構成する各光
学部品を設計する必要がある。そのためには、第1にユ
ニット全体で位置ずれとなる要因が発生したときにどの
程度スポット位置がずれるのかについて事前に検証して
おく必要がある。この点に関する従来の技術として、ス
ポット位置がずれなどの要因となる機械的な挙動を有限
要素法により解析し、光路については光学式を設定して
光線の変位量を解析することで、機械的な要因による光
線の変位量を予測する方法がある。しかし、この方法で
は具体的な設計指針を得るまでには至っていない。この
ため従来の開発設計プロセスでは、機械系のシミュレー
ション解析技術を用いた機械系の設計パラメータの最適
化、および光学系のシミュレーション解析技術を用いた
光学系設計パラメータの最適化を行っており、最適な設
計パラメータを算出する際に、機械系と光学系を別々に
評価していた。よって、光学機器の設計者には、機械系
が光学系にもたらす影響等、光学系と機械系の両分野に
またがる広範な知識およびノウハウが要求されていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、機械
系解析技術と光学系解析技術とを用いて光学機器の最適
な機械特性パラメータ(構造パラメータ)を算出し、そ
の結果を設計者に与えることにより光学系の設計者に要
求される機械系の知識およびノウハウを軽減することが
できる光学部品の設計支援装置、及び設計支援方法、更
にはこの設計支援方法により光学機器の最適な機械構造
を算出するためのプログラムを記録した記録媒体を提供
することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1記載の発明は、光学機器を構成する光学部
品の機械的挙動が該機器の光学的性能に及ぼす影響を軽
減する上で最適な光学部品の機械特性パラメータを、光
路解析及び機械系解析により算出する光学部品の設計支
援方法に関する発明であり、対象となる光学機器の機械
系解析モデル、光学系解析モデル、及び機械系解析に使
用する機械特性パラメータを作成して記憶手段に登録す
るとともに、該記憶手段から前記機械系解析モデル、前
記光学系解析モデル、及び前記機械特性パラメータを適
宜読み出して演算処理を行う処理手段とを用意し、前記
処理手段により、前記機械系解析モデルに前記機械特性
パラメータを代入して光学部品の機械的挙動状態を算出
する機械的挙動状態算出処理、前記機械的挙動状態算出
処理の結果に基づき、前記光学系解析モデルを用いて前
記光学部品の機械的挙動時の光学的性能を解析する光学
的性能算出処理、前記光学的性能算出処理による解析結
果と予め計算しておいた静止時の光学的性能とを比較
し、その差が許容値以内であるかどうかを判断する評価
処理、前記評価処理の結果、前記差が予め設定した許容
値以内でなかった場合、前記機械特性パラメータの変化
に対する前記光学部品の光学的性能の変化を求め、その
結果を基に機械特性パラメータを最適化する計算を行う
最適化計算処理、及び前記機械系解析モデルに代入する
機械特性パラメータの値を、前記最適化計算処理により
得られた値に変更するパラメータ変更処理を、前記評価
処理により前記差が許容値以内であると判断されるまで
繰り返すことにより、機械特性パラメータの最適値を求
めるようにしたことを特徴としている。請求項1記載の
方法によれば、機械系解析技術と光学系解析技術とを用
いて光学機器の最適な機械特性パラメータを算出し、そ
の結果を設計者に与えることができるので、光学系の設
計者に要求される機械系の知識およびノウハウを軽減す
ることができる。また、光学系の問題を解決する際に、
光学部品の変形を含めた光学的な評価を直接行うことが
できるので、実際の系に合った効果的な機械特性パラメ
ータを得ることができる。
【0005】また、請求項2記載の発明は、請求項1記
載の方法において、光学部品の装着方法と機械特性パラ
メータとを対応させた情報をデータベース化しておき、
前記機械特性パラメータの最適値に最も近い機械特性パ
ラメータに対応する装着方法を前記データベース内から
選出するようにしたことを特徴としている。請求項2記
載の方法によれば、データベースに登録されている実際
に存在する装着方法の中から、最適な機械特性パラメー
タを自動的に選出できるので、実用的な結果を得ること
ができる。また、請求項3記載の発明は、請求項2記載
の方法において、前記機械的挙動状態算出処理の際、前
記データベース内の機械特性パラメータのみを使用する
ようにしたことを特徴としている。請求項3記載の方法
によれば、実際に存在する装着方法を基に機械特性パラ
メータの最適化を行うので、算出結果が実在する装着方
法と比較してかけ離れている場合、実在する装着方法の
中で最も適したものを選定することができる。また、光
学部品の種類や装着する場所によって装着方法に制限が
ある場合、予め可能な装着方法を選択しておくことによ
り、限定した装着方法の中で最適な装着方法を算出する
ことができる。また、請求項4記載の発明は、請求項1
〜3のいずれかに記載の方法において、前記機械特性パ
ラメータの変化を観察しつつ前記機械特性パラメータの
最適値を求めるようにしたことを特徴としている。請求
項4記載の方法によれば、光学部品の配置等の問題によ
り、光学的性能の許容値内に収まる最適な装着方法が存
在しない場合でも、機械特性パラメータの変化をモニタ
することにより、算出状態を知ることができ、許容値内
に収まる最適な機械特性パラメータが存在するかどうか
を判断することができる。
【0006】また、請求項5記載の発明は、請求項1〜
4のいずれかに記載の方法において、前記機械特性パラ
メータの値に制限を設けたことを特徴としている。請求
項5記載の方法によれば、算出する機械特性パラメータ
の値に上限値、下限値などを設け、計算途中でその範囲
外になった場合、例えば上限値を越えた場合は上限値
を、下限値を下回った場合は下限値を機械特性パラメー
タの値に変更することにより、必ず指定した範囲内で機
械特性パラメータを算出することができ、実用上不可能
な機械的パラメータを算出しないようにすることができ
る。したがって無駄な計算時間を省くことができる。ま
た、請求項6記載の発明は、請求項1〜5のいずれかに
記載の方法において、前記光学部品を振動させる振動源
の情報をデータベース化しておき、実際に使用する振動
源に最も近い振動源の情報を前記データベース内から選
出して前記機械特性パラメータの最適値に反映させるよ
うにしたことを特徴としている。請求項6記載の方法に
よれば、光学機器に外乱(例えば読み取りユニット等の
振動)や内乱(例えばポリゴンモータなどの振動)を与
える振動源の情報をデータベース化することにより、複
数の環境試験下での最適化を行うことができ、より実用
的な機械的パラメータを自動的に得ることができる。ま
た、請求項7記載の発明は、請求項1〜6のいずれかに
記載の方法において、前記光学部品の光学面の有限要素
モデルの形状データを用いて光学的な解析を行うことを
特徴としている。請求項7記載の方法によれば、光学部
品の光学面の有限要素モデルの形状データを用いて光学
的な解析を行うことにより、光学機器の光学的挙動を計
算機上でシミュレートすることができる。また、請求項
8記載の発明は、請求項7記載の方法において、前記光
学部品が変形する場合、前記光学部品の光学面の有限要
素モデルにおける変形前と変形後の光学面のメッシュデ
ータを比較して光路解析を行うようにしたことを特徴と
している。請求項8記載の方法によれば、光学部品が変
形する場合、光学部品の光学面の有限要素モデルにおけ
る変形前と変形後の光学面のメッシュデータを比較して
光路解析を行うようにしたので、振動などの外因により
変形する光学機器の光路解析を計算機上でシミュレート
することができる。
【0007】また、請求項9記載の発明は、請求項8記
載の方法において、前記光学部品の変形後の光学面の有
限要素モデルを自由曲面で近似して光路解析を行うよう
にしたことを特徴としている。請求項9記載の方法によ
れば、光学部品の変形後の光学面の有限要素モデルを自
由曲面で近似して光路解析を行うようにしたので、光路
計算の精度を向上させることができる。また、請求項1
0記載の発明は、請求項9記載の方法において、予め求
めてあるビームのスポット位置を含む微少領域の光学面
を自由曲面で近似して光路計算を行うようにしたことを
特徴としている。請求項10記載の方法によれば、近似
する自由曲面をビームのスポット位置を含む微少領域の
光学面に限ることで曲面生成に要する計算量を減らすこ
とができる。また、請求項11記載の発明は、請求項7
記載の方法において、前記光学部品の構造上有限要素モ
デルで光学的な面を正しく表せない部分に関しては、当
該光学的な面に位置する点の位置情報を基に当該光学的
な面の偏心を算出し、それを光路解析に反映させるよう
にしたことを特徴としている。請求項11記載の方法に
よれば、ミラー面、レンズ面等の光学的な面が有限要素
モデルで正しく表せない部分に関しても、当該光学的な
面に位置する点の位置情報を基に当該光学的な面の偏心
を算出し、それを光路解析に反映させることにより、光
学部品を有限要素モデル化する際に3次元シェル要素を
用いて正確にモデル化することが可能になり、機械系解
析において精度の良い結果を得ることができる。
【0008】また、請求項12記載の発明は、光学機器
を構成する光学部品の機械的挙動が該機器の光学的性能
に及ぼす影響を軽減する上で最適な光学機器の機械特性
パラメータを、光路解析及び機械系解析により算出する
光学機器の設計支援装置に関する発明であり、解析対象
となる光学機器の機械系解析モデル、光学系解析モデ
ル、及び機械系解析に使用する機械特性パラメータを登
録しておくための記憶手段と、前記機械系解析モデルに
前記機械特性パラメータを代入して光学部品の機械的挙
動状態を算出する機械的挙動算出手段と、前記機械的挙
動算出手段の算出結果に基づき、前記光学系解析モデル
を用いて前記光学部品の機械的挙動時の光学的性能を解
析する光学的性能算出手段と、前記光学的性能算出手段
算出された光学的性能と、予め計算しておいた静止時の
光学的性能とを比較し、その差が許容値以内であるかど
うかを判断する評価手段と、前記評価手段による判断の
結果、前記差が許容値以内でなかった場合、前記機械特
性パラメータの変化に対する前記光学部品の光学的性能
の変化を求め、その結果を基に機械特性パラメータを最
適化する計算を行う最適化計算手段と、前記機械的挙動
算出手段において前記機械系解析モデルに代入する機械
特性パラメータの値を、前記最適化計算手段により得ら
れた値に変更するパラメータ変更手段と、前記評価手段
により前記差が許容値以内であると判断されたときの機
械特性パラメータを機械特性パラメータの最適値として
出力する最適値出力手段とを備えたことを特徴としてい
る。請求項12記載の装置によれば、機械系解析技術と
光学系解析技術とを用いて光学機器の最適な機械特性パ
ラメータを算出し、その結果を設計者に与えることがで
きるので、光学系の設計者に要求される機械系の知識お
よびノウハウを軽減することができる。
【0009】また、請求項13記載の発明は、光学機器
を構成する光学部品の機械的挙動が該機器の光学的性能
に及ぼす影響を軽減する上で最適な光学機器の機械特性
パラメータを、光路解析及び機械系解析により算出する
光学機器の設計支援装置に関する発明であり、解析対象
となる光学部品の形状データ及び前記機械特性パラメー
タに基づいて該光学部品の機械的挙動を解析し3次元形
状を表すメッシュデータを生成する機械系解析モジュー
ルと、前記メッシュデータで表された3次元形状を滑ら
かな自由曲面で近似した自由曲面データを生成するソリ
ッドモデラと、前記光学部品の光学特性データ及び前記
自由曲面データに基づいて前記光学部品の光路解析を行
う光学系解析モジュールと、前記光学部品の形状デー
タ、機械特性パラメータ、及び光学特性データを格納す
るデータベースと、これらを統合して解析を実行するた
めの制御モジュールとを備えたことを特徴としている。
請求項13記載の装置によれば、機械系解析技術と光学
系解析技術とを用いて光学機器の最適な機械特性パラメ
ータを算出し、その結果を設計者に与えることができる
ので、光学系の設計者に要求される機械系の知識および
ノウハウを軽減することができ、しかも、機能ごとにモ
ジュール化することで自由度の高い、カスタマイズ可能
な装置構成にすることができる。
【0010】また、請求項14記載の発明は、光学機器
を構成する光学部品の機械的挙動が該機器の光学的性能
に及ぼす影響を軽減する上で最適な光学機器の機械特性
パラメータを、光路解析及び機械系解析により算出する
光学機器の設計支援装置に関する発明であり、解析対象
となる光学部品の形状データ及び機械特性パラメータに
基づいて該光学部品の機械的挙動を解析し3次元形状を
表すメッシュデータを生成する機械系解析サーバと、前
記メッシュデータで表された3次元形状を滑らかな自由
曲面で近似した自由曲面データを生成するソリッドモデ
リングサーバと、前記光学部品の光学特性データ及び前
記自由曲面データに基づいて前記光学部品の光路解析を
行う光学系解析サーバと、前記光学部品の形状データ、
機械特性データ、及び光学特性データを管理するデータ
管理サーバと、を通信ネットワークを介して相互接続し
てなることを特徴としている。請求項14記載の装置に
よれば、機械系解析技術と光学系解析技術とを用いて光
学機器の最適な機械特性パラメータを算出し、その結果
を設計者に与えることができるので、光学系の設計者に
要求される機械系の知識およびノウハウを軽減すること
ができ、しかも通信ネットワークを介してクライアント
・サーバ環境を構築することで、装置資源を複数のユー
ザにより効率的に活用することが可能となる。また、あ
るサーバの障害時や高負荷時には通信ネットワーク上の
他の同機能のサーバで処理を行うことができる。また、
同機能のサーバに分散させて並列的に処理を行うことも
可能となる。
【0011】また、請求項15記載の発明は、請求項1
4記載の装置において、前記通信ネットワークを経由し
て前記形状データ、機械特性パラメータ、及び光学特性
データが各サーバに送られる際に、これらの送信データ
を送り先のサーバが読み込み可能なデータ形式に変換す
るデータ変換サーバを備えたことを特徴としている。請
求項15記載の装置によれば、解析処理などを行うサー
バ相互間で扱うデータ形式が異なる場合でも、データの
交換が可能となる。また、請求項16記載の発明は、光
学機器の設計支援プログラムを記録したコンピュータ読
み取り可能な記録媒体であって、請求項1〜11のいず
れかに記載の方法を用いて、光学機器を構成する光学部
品の機械的挙動が該機器の光学的性能に及ぼす影響を軽
減する上で最適な光学機器の機械特性パラメータを算出
するためのプログラムを記録したことを特徴とするもの
である。請求項16の記録媒体によれば、請求項1〜1
1のいずれか一つに記載された動作をコンピュータに実
行させるプログラムをコンピュータ読み取り可能な記憶
媒体に記録したことで、そのプログラムをコンピュータ
に読み取らせることにより、請求項1〜11のいずれか
の方法で光学機器の設計支援を行うシステムを構築する
ことが可能になる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。図1は本発明の第1の実施の形態を示す動
作フロー図である。なお第1の実施の形態は請求項1及
び請求項12に記載の発明に対応している。この実施の
形態では、初めに初期設定を行う(S1)。この初期設
定では、対象となる光学機器の機械系解析モデル、光学
系解析モデル、及び機械系解析に使用する機械特性パラ
メータの初期値を作成し、これらのデータを処理手段と
してのパーソナルコンピュータ(以下、PCと記す。)
の管理する記憶手段としてのハードディスク装置(以
下、HDDと記す。)に記憶させる。そして、PCによ
り以下の処理を実行させる。なお、PCはHDDから前
記機械系解析モデル、前記光学系解析モデル、及び前記
機械特性パラメータを適宜読み出して演算処理を行うた
めのプログラムを保有しており、このプログラムに従っ
て各種動作を行う。このプログラムはフロッピーディス
クや光ディスクなどコンピュータ読取可能な記録媒体に
記録された状態で供給され、PCはこの記録媒体からプ
ログラムデータを読み出しHDD上などに格納してい
る。まず、前記機械系解析モデルに前記機械特性パラメ
ータの初期値を代入して光学部品の変形状態を算出する
(S2、機械的挙動状態算出処理)。次に、S2の処理
結果に基づき、光学部品のミラー面、レンズ面等の光路
に影響する面の変形状態を求め、これを反映させた前記
光学系解析モデルを用いて光学部品の変形時の光学的性
能を計算する(S3、光学的性能算出処理)。次に、S
3で算出された光学的性能と、予め計算しておいた静止
時の光学的性能とを比較し、その差が許容値以内である
かどうかを判断する(S4、評価処理)。そして、S4
の判断の結果、光学部品の変形時の光学的性能と静止時
の光学的性能との差が許容値以内でなかった場合(S4
でNo)、機械特性パラメータの変化に対する光学的性
能の変化を感度解析の手法により求め、その結果を基に
非線形計画法等の最適化計算を行って機械特性パラメー
タを最適化する計算を行い(S5、最適化計算処理)、
前記機械系解析モデルに代入する機械特性パラメータの
値を、S5で得られた値に変更する(S6、パラメータ
変更処理)。以上の処理を、S4において前記差が許容
値以内であると判断されるまで繰り返し(S2〜S
6)、許容値以内であると判断されたら(S4でYe
s)、そのときの機械特性パラメータの値を機械特性パ
ラメータの最適値として出力する(S7)。
【0013】次に、具体例として、書き込みユニットの
機械特性パラメータの最適値を求める場合について説明
する。図2は書き込みユニットと感光体の主要部を概念
的に示したものであり、書き込みユニット100のハウ
ジング101上にはポリゴンミラー102、レンズ10
3A、103B、ミラー103C、103D、及び、ポ
リゴンミラー102を駆動するポリゴンモータ104が
それぞれ所定の位置に配設されている。上記のよな書き
込みユニット100では、ポリゴンモータ104の起振
力によりハウジング101が振動することにより、感光
体200上に照射するレーザ光線Lのスポット位置Pが
ずれるという問題が発生する。そこで、この例では最適
化すべき機械特性パラメータとして、ハウジング101
の底板101Aの板厚t、及びレンズ103A、103
B及びミラー103C、103Dなどの光学部品103
をハウジング101に固定する部分(固定治具、接着材
など。図中に☆で示す。)の剛性sを選ぶ。まず、ハウ
ジング101、光学部品103などを有限要素解析モデ
ル化する。そして、レーザ光源Sから出射されるレーザ
ー光線Lが各光学部品103を通ってスポット位置Pに
届くまでの光路を光路解析プログラム(光学的性能計算
プログラム)用にモデル化しておく。また、板厚tの初
期値t0 を設定しておく。また、光学部品103を固定
する部分をばねモデル化し、その剛性sの初期値s0を
設定しておく。(図1中のS1に相当) 次に、有限要素解析により光学部品103等の変形状態
を算出する。この結果より、レーザ光源Sから照射され
るレーザ光線Lの角度、光学部品103のミラー面、レ
ンズ面等の光路に影響する面の変形状態等、レーザ光線
Lの光路に影響する情報を光路解析プログラムに反映さ
せる。この光路解析プログラムを用いて、スポット位置
Pfの位置を求める。(図1中のS2、S3に相当) 次に、上記光路解析プログラムを用いて算出されたスポ
ット位置Pfと、予め計算しておいた静止時(ポリゴン
モータ停止時)のスポット位置Pgとを比較し、その差
|Pf−Pg|、すなわち両者の位置ずれ量が許容値以
内であるかどうか評価する。(図1中のS4に相当) そして、上記位置ずれ量が許容値以内ではない場合、機
械特性パラメータの変化に対するスポット位置Pの変化
量、この例では、ハウジング底板101Aの板厚tの変
化に対するスポット位置ずれの変化量、および光学部品
103を固定する部分の剛性sに対するスポット位置ず
れの変化量を感度解析により求めて、スポット位置ずれ
が小さくなるように非線形計画法等の最適化計算によ
り、ハウジング底板101Aの板厚t、および光学部品
103を固定する部分の剛性sを変更する。(図1中の
S5、S6に相当) 以上の処理をスポット位置ずれ量が許容値内に収まるま
で繰り返すことにより、最適な機械特性パラメータ、こ
の例ではハウジング底板101Aの板厚tと、光学部品
103を固定する部分の剛性sの最適値が求められる。
【0014】次に、本発明の第2の実施の形態を説明す
る。この実施の形態では、図1で説明した方法を実施す
るに際し、ハウジング101に対する各光学部品103
の装着(固定)方法と各方向の機械特性パラメータの情
報を予めデータベース化しておく。そして、請求項1の
方法で求めた機械特性パラメータの最適値に最も近い機
械特性パラメータに対応する装着方法をデータベース全
体、またはデータベース内の指定された範囲から選び出
す。例えば、書込みユニット100のハウジング底板1
01Aにレンズ103Aを装着する方法として、図3
(a)に示すように板ばね110を用いる方法と図3
(b)に示すように接着材111を用いる方法とを想定
し、それぞれの方法を用いた場合における剛性を図4の
ようなデータベースに登録しておき、最適な剛性が算出
された後に最も近い装着方法を、例えば最小二乗法によ
りこのデータベースより選び出すのである。(請求項2
に対応) 図5は本発明の第3の実施の形態を示す動作フロー図で
ある。この実施の形態においても、初めに図1の場合と
同様の初期設定を行う(S11)。また、この初期設定
では、PCの管理するHDDのに前記機械系解析モデ
ル、前記光学系解析モデル、及び前記機械特性パラメー
タ記憶させるだけでなく、図4に示したような装着方法
データベースをHDDに格納しておく。そして、PCに
より以下の処理を実行させる。まず、前記機械系解析モ
デルに前記機械特性パラメータの初期値を代入して光学
部品の変形状態を算出する(S12)。次に、S12の
処理結果に基づき、光学部品のミラー面、レンズ面等の
光路に影響する面の変形状態を求め、これを反映させた
前記光学系解析モデルを用いて光学部品の変形時の光学
的性能を計算する(S13)。次に、S13で算出され
た光学的性能と、予め計算しておいた静止時の光学的性
能とを比較し、その差が許容値以内であるかどうかを判
断する(S14)。そして、S14の判断の結果、光学
部品の変形時の光学的性能と静止時の光学的性能との差
が許容値以内でなかった場合(S14でNo)、機械構
造の最適な機械特性パラメータの変化に対する光学的性
能の変化を感度解析の手法により求め、その結果を基に
非線形計画法等の最適化計算を行って機械特性パラメー
タを最適化する計算を行う(S15) そして、S15
で得られた値に最も近い機械特性パラメータの値をデー
タベースから選出し、前記機械系解析モデルに代入する
機械特性パラメータの値をデータベースから選出した値
に変更する(S16)。以上の処理を、S14において
前記差が許容値以内であると判断されるまで繰り返し
(S12〜S16)、許容値以内であると判断されたら
(S14でYes)、そのときの機械特性パラメータの
値を機械特性パラメータの最適値として出力する(S1
7)。
【0015】このように反復計算時の機械特性パラメー
タの変更を、図4に示したような光学部品の装着方法の
データベースに登録された機械特性パラメータのみによ
り行うことにより、実際に存在する装着方法を元に最適
化を行うことができる。したがって、機械特性パラメー
タの算出結果が実在する装着方法と比較してかけ離れて
いる場合でも、この方法を用いることにより、実在する
装着方法の中で最も適したものを選定することができ
る。(請求項3に対応) また、以上の実施の形態では、光学部品103の配置等
の問題により、光学的性能の許容値内に収まる最適な装
着方法が存在しない場合があるが、図1あるいは図2に
示したような機械特性パラメータの算出過程で、機械特
性パラメータの値をリアルタイムでモニタし、値の増減
変化を監視することにより、許容値内に収まる最適な機
械特性パラメータが存在するかどうかを判断することが
できる。(請求項4に対応) また、光学部品によっては弾性的な挙動を示してはいけ
ない機械特性を持つ装着部が必要である場合があり、そ
の場合、機械特性パラメータである剛性sの値が反復計
算を行う毎に上がっていってしまう。このような場合、
算出する剛性sの値に上限値を設け、反復計算の途中で
その上限値を上回ったらその上限値を剛性sの値に変更
すればよい。また、機械特性パラメータの値が反復計算
を行う毎に下がってしまうような場合には、機械特性パ
ラメータの値に下限値を設け、反復計算の途中でその下
限値を下回ったらその下限値を機械特性パラメータの値
に変更すればよい。このように、算出する機械特性パラ
メータの値に上限値、下限値を設け、どちらかの反復計
算途中でその範囲外になった場合、上限値を越えた場合
は上限値を、下限値を下回ったら下限値を機械特性パラ
メータの値に変更することにより、必ず指定した範囲内
で機械特性パラメータを算出することができ、実用上不
可能な機械的パラメータを算出しないようにすることが
できる。(請求項5に対応) また、予め光学的性能に影響を及ぼす要因、例えば変
形、振動等を起こす要因(強制変位、振動源)の実測デ
ータ、経験値等の情報をデータベース化して登録してお
き、機械特性パラメータの算出時に考慮すべき数種類の
環境試験を自動的に行うようにすれば、複数の環境試験
下で機械特性パラメータを最適化することができ、より
実用的な機械的パラメータを得ることができる。(請求
項6に対応) 次に、本発明の第4の実施の形態を図6、図7を用いて
説明する。図6は図2中の一部の光学系を示したもので
あり、レンズ103Bを通ったレーザ光線Lがミラー1
03Cで反射する様子を示している。すなわちこの実施
の形態ではレンズ103Bが外因によって変形した場合
に、レーザ光線Lがどのような経路を通るかを考えてい
る。その際、図7に示すように、レンズ103Bの機械
的挙動解析用の変形前の有限要素モデルM1を作成し、
解析によって得られた変形後の有限要素モデルM2の形
状データを用いて光路計算を行うことにより、レンズ1
03Bの光学的な解析を計算機上でシミュレートするこ
とができる。(請求項7に対応) 次に、本発明の第5の実施の形態を図8、図9を用いて
説明する。光学部品の内部が変形の影響を受けても等方
で一様であるとすれば、レーザ光線Lがレンズ面に当た
るスポット位置および境界面の法線ベクトルがわかれば
光路を計算することができる。図8中のM1及び図9中
のM2はレンズ103Bの機械的挙動解析による有限要
素モデルであり、それぞれ変形前、変形後の有限要素モ
デルを示している。また、図8及び図9の右側には、そ
れぞれレンズ面8A及び9A内のレーザ光線Lが当たる
スポット位置を含む微少領域の様子がメッシュデータ8
−2、9−2として拡大して示されている。そして8−
1、9−1は、それぞれメッシュデータ8−2、9−2
中においてレーザ光線Lが当たるスポット位置を示して
いる。この実施の形態では、図8及び図9中に示すよう
なレンズ面をあらわす有限要素モデルのメッシュデータ
8−2、9−2を用いて光路計算を行う。すなわち、一
般的に光学系の定義において光学部品の偏心パラメータ
があるが、上記レンズ面の偏心量はレーザ光線Lが光学
面をあらわす有限要素モデルのメッシュデータ(並進
量、回転量など)を比較することにより計算することが
できる。したがって上記の例では、変形前と変形後の2
つのメッシュデータ8−2、9−2のそれぞれについて
の並進量と回転量から偏心量を算出することが可能であ
る。上記のようにして得られた光学面の偏心量を用いて
光路計算を行うことにより、外乱を受けて変形するレン
ズ103Bなどの光学部品の光学的な解析を計算機上で
より正確にシミュレートすることができる。(請求項8
に対応) しかし、上記の実施の形態のように光学面が解析曲面で
定義されている場合においても、その後の光学部品の変
形により同様の定義が不可能となる場合がある。このよ
うな場合においてレーザ光線Lがスキャンされると、ス
ポット位置がメッシュデータのどの部分にくるかを予め
知ることができない。このとき隣り合うメッシュ境界を
横切る際に不連続な光路になる。そこで、例えば図10
に示すように、レンズ103Bの有限要素モデルM2の
光学面のメッシュデータ10−1に対して、自由曲面1
0−2をフィッティングさせてメッシュ境界を無くした
状態で光路解析を行うことが望ましい。この場合、メッ
シュの接点を通過し隣接パッチと滑らかに接続するよう
にパラメトリック曲面、例えばBezier 曲面やNU
RBSなどで近似することも可能である。この生成され
た曲面を変形した光学部品の光学面として光路計算を行
うことにより、光学部品の光学的な解析を計算機上でよ
り正確にシミュレートすることができる。(請求項9に
対応) また、例えば図11に示すように、レンズ103Bの変
形した光学面の有限要素モデルM2から自由曲面を算出
する際に、スポット位置11−1を含む微少領域のメッ
シュデータ11−2を用いて局所的な自由曲面11−3
を生成して光路計算をするようにしてもよい。ただし自
由曲面11−3上のスポット位置11−4はメッシュデ
ータ11−2上のスポット位置11−1とは異なる。こ
のように、近似する自由曲面をスポット位置11−1を
含む微少領域に限ることで、自由曲面を生成するために
必要とする計算量を減らすことができる。(請求項10
に対応) 次に、本発明の第6の実施の形態を説明する。この実施
の形態では光学部品の構造上、有限要素モデルでミラー
面、レンズ面等など光学的な面を正しく表せない場合、
その部分に関しては、その部分を形成している点の位置
ずれ量から、元の位置に対する並進、回転量を算出し、
これを光学的な面の偏心として、光路解析プログラムに
反映させる。例えば、ポリゴンミラー102のような板
形状の光学部品の場合、図12に示すように、有限要素
解析で用いられる3次元シェル要素により解析モデル化
すると、ミラー面102Aが線状になってしまい、面を
形成することができない。そこで、例えば、接点Aの変
位量(x、y、z方向の変位とx、y、z軸廻りの回転
方向)をミラー面102Aの偏心量とする方法、または
ミラー面102Aを形成する両端の接点A及びBの変位
量の平均など、複数の接点の変位量の平均をミラー面1
02Aの偏心量とする方法、または3個以上の接点(例
えば、接点A、B、C)を用いて、各接点のx、y、z
方向の変位量の平均をミラー面102Aの偏心の並進量
とし、接点A、B、Cで形成される面の変形前と変形後
の傾きの差をミラー面102Aの偏心の回転量とする方
法、などによって求めたミラー面102Aの偏心を用い
て、光路解析プログラムに反映させる。このように、光
学部品の構造上有限要素モデルで光学的な面を正しく表
せない部分に関しては、当該光学的な面に位置する点の
位置情報を基に当該光学的な面の偏心を算出し、それを
光路解析に反映させることにより、ポリゴンミラー10
2のような板形状の光学部品を機械系解析モデル化する
際に3次元シェル要素を用いることが可能になる。(請
求項11に対応) 以上の実施の形態においては本発明に係る光学機器の設
計支援方法について主に説明した。以下の実施の形態で
は本発明に係る光学機器の設計支援装置について説明す
る。図13は本発明の第7の実施の形態を示す設計支援
装置のブロック図である。この設計支援装置300は、
解析対象である光学部品の形状データ及び機械特性パラ
メータに基づいて該光学部品の機械的挙動を解析し3次
元形状を表すメッシュデータを生成する機械系解析モジ
ュール301と、前記メッシュデータで表された3次元
形状を滑らかな自由曲面で近似した自由曲面データを生
成するソリッドモデラ303と、前記光学部品の光学特
性データ及び前記自由曲面データに基づいて前記光学部
品の光路解析を行う光学系解析モジュール302と、前
記光学部品の形状データ、機械特性パラメータ、及び光
学特性データを格納するデータベース303と、これら
を統合して光路解析を実行するための制御モジュール3
05とを備えている。制御モジュール305にはユーザ
インターフェース306を介してCAD端末、プリポス
ト端末などのユーザ端末307が接続されている。
【0016】上記構成において、ユーザはユーザ端末3
07から解析対象である光学部品の形状データ、有限要
素モデルデータ、光学特性データ、機械特性パラメータ
を入力する。すると制御モジュール306がこれらのデ
ータをユーザインターフェース304を介して受け取り
データベース304に格納する。そして、ユーザ端末3
07から解析実行が指示されると、制御モジュール30
6は機械系解析モジュール301に指示を与え、光学部
品の機械的挙動解析を実行させて3次元形状を表すメッ
シュデータを生成させる。次に制御モジュール306は
機械系解析モジュール301で生成されたメッシュデー
タをソリッドモデラ303に渡し、メッシュデータで表
された3次元形状を滑らかな自由曲面で近似した自由曲
面データを生成させる。次に制御モジュール306はソ
リッドモデラ303で生成された自由曲面データを光学
系解析モジュール302に渡して光路解析を実行させ、
得られた光路解析データをデータベース304に蓄積す
る。その後制御モジュール306は、光路解析データか
ら得られる光学部品の光学的性質、例えば変形による光
路のずれやスポット位置のずれ等に基づいて、前述した
方法で機械特性パラメータの最適値を求め、その最適値
データをユーザー端末307に送る。(請求項13に対
応) 図14は本発明の第8の実施の形態を示す設計支援装置
のブロック図である。この設計支援装置400は、解析
対象となる光学部品の形状データ及び機械特性パラメー
タに基づいて該光学部品の機械的挙動を解析し3次元形
状を表すメッシュデータを生成する機械系解析サーバ4
01と、メッシュデータで表された3次元形状を滑らか
な自由曲面で近似した自由曲面データを生成するソリッ
ドモデリングサーバ402と、光学部品の光学特性デー
タ及び自由曲面データに基づいて光学部品の光路解析を
行う光学系解析サーバ403と、光学部品の形状デー
タ、機械特性パラメータ、及び光学特性データを管理す
るデータ管理サーバ404と、プリポスト端末405、
CAD端末406などのユーザ端末とを通信ネットワー
ク407を介して相互接続してなる。データ管理サーバ
404には、光学部品の形状データ、機械特性パラメー
タ、及び光学特性データなどが蓄積されたデータベース
408が接続されている。
【0017】上記構成において、ユーザは通信ネットワ
ーク407に接続されたCAD端末406、プリポスト
端末405などのユーザ端末から光学部品の形状デー
タ、有限要素モデルデータ、光学特性データ、機械特性
パラメータなどを入力する。データ管理サーバ404は
これらのデータをデータベース408に格納する。そし
て、ユーザ端末から解析実行が指示されると、データ管
理サーバ404は機械系解析サーバ401に指示を与
え、光学部品の機械的挙動解析を実行させて3次元形状
を表すメッシュデータを生成させる。次にデータ管理サ
ーバ404は機械系解析サーバ401で生成されたメッ
シュデータをソリッドモデリングサーバ402に渡し、
メッシュデータで表された3次元形状を滑らかな自由曲
面で近似した自由曲面データを生成させる。次にデータ
管理サーバ404はソリッドモデリングサーバ402で
生成された自由曲面データを光学系解析サーバ403に
渡して光路解析を実行させ、得られた光路解析データを
データベース408に蓄積する。その後データ管理サー
バ404は、光路解析データから得られる光学部品の光
学的性質、例えば変形による光路のずれやスポット位置
のずれ等に基づいて、前述した方法で機械特性パラメー
タの最適値を求め、その最適値データをCAD端末40
6、プリポスト端末405などのユーザー端末に送る。
(請求項14に対応) また、上記の例では、機械系解析サーバ、ソリッドモデ
リングサーバ、光学系解析サーバなど、各々別々の機能
を持たせたサーバを通信ネットワークで接続している
が、このように各サーバの機能を特化することなく、例
えば図15に示すように、解析、計算などを行う同機能
の複数のアプリケーションサーバ501−1〜501−
Nを用いてもよい。この場合、データ管理サーバ404
は、あるアプリケーションサーバに障害が発生した場合
や、特定のアプリケーションサーバの負荷が高い場合、
通信ネットワーク407に接続された同機能の別のアプ
リケーションサーバを用いて効率的に処理を行う。ま
た、解析処理を同機能のアプリケーションサーバに分散
させることによって並列計算を行ってもよい。また、上
記の構成に加え、図16に示すように通信ネットワーク
407にデータ変換サーバ601を接続し、通信ネット
ワーク407を経由して形状データ、機械特性パラメー
タ、光学特性データなどが各サーバに送られる際に、こ
れらのデータを送り先のサーバが読み込み可能なデータ
形式に変換するようにしてもよい。このようにすれば解
析処理などを行うアプリケーションサーバ501−1〜
501−N間で扱うデータ形式が異なる場合でも、デー
タの交換が可能となる。(請求項15に対応)
【0018】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば以
下のような優れた効果を発揮できる。請求項1記載の方
法によれば、機械系解析技術と光学系解析技術とを用い
て光学機器の最適な機械特性パラメータを算出し、その
結果を設計者に与えることができるので、光学系の設計
者に要求される機械系の知識およびノウハウを軽減する
ことができる。請求項2記載の方法によれば、請求項1
の効果に加え、データベースに登録されている実際に存
在する装着方法の中から、最適な機械特性パラメータを
自動的に選出できるので、実用的な結果を得ることがで
きる。請求項3記載の方法によれば、請求項2の効果に
加え、実際に存在する装着方法を基に機械特性パラメー
タの最適化を行うので、算出結果が実在する装着方法と
比較してかけ離れている場合、実在する装着方法の中で
最も適したものを選定することができる。請求項4記載
の方法によれば、請求項1、2、3の効果に加え、光学
部品の配置等の問題により、光学的性能の許容値内に収
まる最適な装着方法が存在しない場合でも、機械特性パ
ラメータの変化をモニタすることにより、算出状態を知
ることができ、許容値内に収まる最適な機械特性パラメ
ータが存在するかどうかを判断することができる。請求
項5記載の方法によれば、請求項1、2、3、4の効果
に加え、算出する機械特性パラメータの値に上限値、下
限値などの制限を設け、計算途中でその範囲外になった
場合、例えば上限値を越えた場合は上限値を、下限値を
下回った場合は下限値を機械特性パラメータの値に変更
することにより、必ず指定した範囲内で機械特性パラメ
ータを算出することができ、実用上不可能な機械的パラ
メータを算出しないようにすることができる。
【0019】請求項6記載の方法によれば、請求項1〜
5の効果に加え、光学機器に振動を与える振動源の情報
をデータベース化することにより、複数の環境試験下で
の最適化を行うことができ、より実用的な機械的パラメ
ータを自動的に得ることができる。請求項7記載の方法
によれば、請求項1〜6の効果に加え、光学部品の光学
面の有限要素モデルの形状データを用いて光学的な解析
を行うことにより、光学機器の光学的挙動を計算機上で
シミュレートすることができる。請求項8記載の方法に
よれば、請求項7の効果に加え、光学部品が変形する場
合、光学部品の光学面の有限要素モデルにおける変形前
と変形後の光学面のメッシュデータを比較して光路解析
を行うようにしたので、振動などの外因により変形する
光学機器の光路解析を計算機上でシミュレートすること
ができる。請求項9記載の方法によれば、請求項8の効
果に加え、光学部品の変形後の光学面の有限要素モデル
を自由曲面で近似して光路解析を行うようにしたので、
光路計算の精度を向上させることができる。請求項10
記載の方法によれば、請求項9の効果に加え、近似する
自由曲面をビームのスポット位置を含む微少領域の光学
面に限ることで曲面生成に要する計算量を減らすことが
できる。
【0020】請求項11記載の方法によれば、請求項7
の効果に加え、ミラー面、レンズ面等の光学的な面が有
限要素モデルで正しく表せない部分に関しても、当該光
学的な面に位置する点の位置情報を基に当該光学的な面
の偏心を算出し、それを光路解析に反映させることによ
り、光学部品を有限要素モデル化する際に3次元シェル
要素を用いて正確にモデル化することが可能になり、機
械系解析において精度の良い結果を得ることができる。
請求項12記載の装置によれば、機械系解析技術と光学
系解析技術とを用いて光学機器の最適な機械特性パラメ
ータを算出し、その結果を設計者に与えることができる
ので、光学系の設計者に要求される機械系の知識および
ノウハウを軽減することができる。請求項13記載の装
置によれば、機械系解析技術と光学系解析技術とを用い
て光学機器の最適な機械特性パラメータを算出し、その
結果を設計者に与えることができるので、光学系の設計
者に要求される機械系の知識およびノウハウを軽減する
ことができ、しかも、機能ごとにモジュール化すること
で自由度の高い、カスタマイズ可能な装置構成にするこ
とができる。請求項14記載の装置によれば、機械系解
析技術と光学系解析技術とを用いて光学機器の最適な機
械特性パラメータを算出し、その結果を設計者に与える
ことができるので、光学系の設計者に要求される機械系
の知識およびノウハウを軽減することができ、しかも通
信ネットワークを介してクライアント・サーバ環境を構
築することで、装置資源を複数のユーザにより効率的に
活用することが可能となる。請求項15記載の装置によ
れば、請求項14の効果に加え、解析処理などを行うサ
ーバ相互間で扱うデータ形式が異なる場合でも、データ
の交換が可能となる。請求項16の記録媒体によれば、
請求項1〜11のいずれか一つに記載された動作をコン
ピュータに実行させるプログラムをコンピュータ読み取
り可能な記憶媒体に記録したので、そのプログラムをコ
ンピュータに読み取らせることにより、請求項1〜11
のいずれか一つの方法により光学機器の設計支援を行う
システムを構築することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態を示す動作フロー図
である。
【図2】書き込みユニットと感光体の主要部を概念的に
示した説明図である。
【図3】(a)、(b)は書込みユニットのハウジング
底板にレンズを装着する方法を例示した部分斜視図であ
る。
【図4】光学部品の装着方法のデータベースを例示した
説明図である。
【図5】本発明の第3の実施の形態を示す動作フロー図
である。
【図6】本発明の第4の実施の形態の説明図である。
【図7】本発明の第4の実施の形態の別の説明図であ
る。
【図8】本発明の第5の実施の形態の説明図である。
【図9】本発明の第5の実施の形態の別の説明図であ
る。
【図10】光学面のメッシュデータを自由曲面で近似し
て光路解析を行う方法に関する説明図である。
【図11】スポット位置を含む微少領域のメッシュデー
タを用いて局所的な自由曲面を生成して光路計算をする
方法に関する説明図である。
【図12】光学的な面が有限要素モデルで正しく表せな
い部分についての説明図である。
【図13】本発明の第7の実施の形態を示す設計支援装
置のブロック図である。
【図14】本発明の第8の実施の形態を示す設計支援装
置のブロック図である。
【図15】本発明の第9の実施の形態を示す設計支援装
置のブロック図である。
【図16】本発明の第9の実施の形態の変形例を示す設
計支援装置のブロック図である。
【符号の説明】
8A、9A レンズ面、8−2 メッシュデータ、9
−2 メッシュデータ、10−1 メッシュデータ、1
0−2 自由曲面、11−1 スポット位置、11−2
メッシュデータ、11−3 局所的な自由曲面、11
−4 スポット位置、100 書き込みユニット(光学
機器)、101 ハウジング(構造体)、101A 底
板、102 ポリゴンミラー(振動源)、103A レ
ンズ(光学部品)、103B レンズ(光学部品)、1
03C ミラー(光学部品)、103D ミラー(光学
部品)、104 ポリゴンモータ(振動源)、110
板ばね、111 接着材、102A ミラー面、200
感光体、300 設計支援装置、301 機械系解析
モジュール、302 光学系解析モジュール、303
ソリッドモデラ、304 データベース、305 制御
モジュール、306ユーザインターフェース、307
ユーザ端末、400 設計支援装置、401 機械系解
析サーバ、402 ソリッドモデリングサーバ、403
光学系解析サーバ、404 データ管理サーバ、40
5 プリポスト端末、406 CAD端末(ユーザ端
末)、407 通信ネットワーク、408 データベー
ス、501−1〜501−N アプリケーションサー
バ、601 データ変換サーバ、L レーザー光線、P
スポット位置、M1 変形前の有限要素モデル、M2
変形後の有限要素モデル、S レーザ光源。
【手続補正書】
【提出日】平成9年12月17日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正内容】
【発明の名称】 光学機器の設計支援方法、光学機器
の設計支援装置及び光学機器の設計支援プログラムを記
録した記録媒体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 平栗 和美 東京都大田区中馬込一丁目3番6号 株式 会社リコー内

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光学機器を構成する光学部品の機械的挙
    動が該機器の光学的性能に及ぼす影響を軽減する上で最
    適な光学機器の機械特性パラメータを、光路解析及び機
    械系解析により算出する光学機器の設計支援方法であっ
    て、 解析対象となる光学機器の機械系解析モデル、光学系解
    析モデル、及び機械系解析に使用する機械特性パラメー
    タを作成して記憶手段に登録するとともに、該記憶手段
    から前記機械系解析モデル、前記光学系解析モデル、及
    び前記機械特性パラメータを適宜読み出して演算処理を
    行う演算処理手段とを用意し、 前記前記処理手段を用いて、 前記機械系解析モデルに前記機械特性パラメータを代入
    して光学部品の機械的挙動状態を算出する機械的挙動状
    態算出処理、 前記機械的挙動状態算出処理の結果に基づき、前記光学
    系解析モデルを用いて前記光学部品の機械的挙動時の光
    学的性能を解析する光学的性能算出処理、 前記光学的性能算出処理による解析結果と予め計算して
    おいた静止時の光学的性能とを比較し、その差が許容値
    以内であるかどうかを判断する評価処理、 前記評価処理の結果、前記差が予め設定した許容値以内
    でなかった場合、前記機械特性パラメータの変化に対す
    る前記光学部品の光学的性能の変化を求め、その結果を
    基に機械特性パラメータを最適化する計算を行う最適化
    計算処理、及び、前記機械系解析モデルに代入する機械
    特性パラメータの値を、前記最適化計算処理により得ら
    れた値に変更するパラメータ変更処理を、 前記評価処理により前記差が許容値以内であると判断さ
    れるまで繰り返すことにより、前記機械特性パラメータ
    の最適値を求めるようにしたことを特徴とする光学機器
    の設計支援方法。
  2. 【請求項2】 光学部品の装着方法と機械特性パラメー
    タとを対応させた情報をデータベース化しておき、請求
    項1記載の方法で求めた前記機械特性パラメータの最適
    値に最も近い機械特性パラメータに対応する装着方法を
    前記データベース内から選出することを特徴とする光学
    機器の設計支援方法。
  3. 【請求項3】 前記機械的挙動状態算出処理の際、前記
    データベース内の機械特性パラメータのみを使用するこ
    とを特徴とする請求項2記載の光学機器の設計支援方
    法。
  4. 【請求項4】 前記機械特性パラメータの変化を観察し
    つつ前記機械特性パラメータの最適値を求めることを特
    徴とした請求項1〜3のいずれかに記載の光学機器の設
    計支援方法。
  5. 【請求項5】 前記機械特性パラメータの値に制限を設
    けたことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の
    光学機器の設計支援方法。
  6. 【請求項6】 前記光学部品を振動させる振動源の情報
    をデータベース化しておき、実際に使用する振動源に最
    も近い振動源の情報を前記データベース内から選出して
    前記機械特性パラメータの最適値に反映させることを特
    徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の光学機器の設
    計支援方法。
  7. 【請求項7】 前記光学部品の光学面の有限要素モデル
    の形状データを用いて光学的な解析を行うことを特徴と
    する請求項1〜6のいずれかに記載の光学機器の設計支
    援方法。
  8. 【請求項8】 前記光学部品が変形する場合、前記光学
    部品の光学面の有限要素モデルにおける変形前と変形後
    の光学面のメッシュデータを比較して光路解析を行うこ
    とを特徴とする請求項7記載の光学機器の設計支援方
    法。
  9. 【請求項9】 前記光学部品の変形後の光学面の有限要
    素モデルを自由曲面で近似して光路解析を行うことを特
    徴とする請求項8記載の光学機器の設計支援方法。
  10. 【請求項10】 予め求めてあるビームのスポット位置
    を含む微少領域の光学面を自由曲面で近似して光路計算
    を行うことを特徴とする請求項9記載の光学機器の設計
    支援方法。
  11. 【請求項11】 前記光学部品の構造上有限要素モデル
    で光学的な面を正しく表せない部分に関しては、当該光
    学的な面に位置する点の位置情報を基に当該光学的な面
    の偏心を算出し、それを光路解析に反映させることを特
    徴とする請求項7記載の光学機器の設計支援方法。
  12. 【請求項12】 光学機器を構成する光学部品の機械的
    挙動が該機器の光学的性能に及ぼす影響を軽減する上で
    最適な光学機器の機械特性パラメータを、光路解析及び
    機械系解析により算出する光学機器の設計支援装置であ
    って、 解析対象となる光学機器の機械系解析モデル、光学系解
    析モデル、及び機械系解析に使用する機械特性パラメー
    タを登録しておくための記憶手段と、 前記機械系解析モデルに前記機械特性パラメータを代入
    して光学部品の機械的挙動状態を算出する機械的挙動算
    出手段と、 前記機械的挙動算出手段の算出結果に基づき、前記光学
    系解析モデルを用いて前記光学部品の機械的挙動時の光
    学的性能を解析する光学的性能算出手段と、前記光学的
    性能算出手段算出された光学的性能と、 予め計算しておいた静止時の光学的性能とを比較し、そ
    の差が許容値以内であるかどうかを判断する評価手段
    と、 前記評価手段による判断の結果、前記差が許容値以内で
    なかった場合、前記機械特性パラメータの変化に対する
    前記光学部品の光学的性能の変化を求め、その結果を基
    に機械特性パラメータを最適化する計算を行う最適化計
    算手段と、 前記機械的挙動算出手段において前記機械
    系解析モデルに代入する機械特性パラメータの値を、前
    記最適化計算手段により得られた値に変更するパラメー
    タ変更手段と、 前記評価手段により前記差が許容値以内であると判断さ
    れたときの機械特性パラメータを機械特性パラメータの
    最適値として出力する最適値出力手段とを備えたことを
    特徴とする光学機器の設計支援装置。
  13. 【請求項13】 光学機器を構成する光学部品の機械的
    挙動が該機器の光学的性能に及ぼす影響を軽減する上で
    最適な光学機器の機械特性パラメータを、光路解析及び
    機械系解析により算出する光学機器の設計支援装置であ
    って、 解析対象となる光学部品の形状データ及び前記機械特性
    パラメータに基づいて該光学部品の機械的挙動を解析し
    3次元形状を表すメッシュデータを生成する機械系解析
    モジュールと、 前記メッシュデータで表された3次元形状を滑らかな自
    由曲面で近似した自由曲面データを生成するソリッドモ
    デラと、 前記光学部品の光学特性データ及び前記自由曲面データ
    に基づいて前記光学部品の光路解析を行う光学系解析モ
    ジュールと、 前記光学部品の形状データ、機械特性パラメータ、及び
    光学特性データを格納するデータベースと、 これらを統合して解析を実行するための制御モジュール
    と、 を備えたことを特徴とする光学機器の設計支援装置。
  14. 【請求項14】 光学機器を構成する光学部品の機械的
    挙動が該機器の光学的性能に及ぼす影響を軽減する上で
    最適な光学機器の機械特性パラメータを、光路解析及び
    機械系解析により算出する光学機器の設計支援装置であ
    って、 解析対象となる光学部品の形状データ及び機械特性パラ
    メータに基づいて該光学部品の機械的挙動を解析し3次
    元形状を表すメッシュデータを生成する機械系解析サー
    バと、 前記メッシュデータで表された3次元形状を滑らかな自
    由曲面で近似した自由曲面データを生成するソリッドモ
    デリングサーバと、 前記光学部品の光学特性データ及び前記自由曲面データ
    に基づいて前記光学部品の光路解析を行う光学系解析サ
    ーバと、 前記光学部品の形状データ、機械特性データ、及び光学
    特性データを管理するデータ管理サーバと、 を通信ネットワークを介して相互接続してなることを特
    徴とする光学機器の設計支援装置。
  15. 【請求項15】 前記通信ネットワークを経由して前記
    形状データ、機械特性パラメータ、及び光学特性データ
    が各サーバに送られる際に、これらのデータを送り先の
    サーバが読み込み可能なデータ形式に変換するデータ変
    換サーバを備えたことを特徴とする請求項14記載の光
    学機器の設計支援装置。
  16. 【請求項16】 請求項1〜11のいずれかに記載の方
    法を用いて、光学機器を構成する光学部品の機械的挙動
    が該機器の光学的性能に及ぼす影響を軽減する上で最適
    な光学機器の機械特性パラメータを算出するためのプロ
    グラムを記録したことを特徴とするコンピュータ読み取
    り可能な記録媒体。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008257705A (ja) * 2007-03-15 2008-10-23 Ricoh Co Ltd 光学機器の設計支援方法及び記録媒体
JP2013250443A (ja) * 2012-05-31 2013-12-12 Canon Inc 光学評価装置および光学評価方法
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