JP2013246096A - 線量計、プログラムおよび記録媒体 - Google Patents

線量計、プログラムおよび記録媒体 Download PDF

Info

Publication number
JP2013246096A
JP2013246096A JP2012121252A JP2012121252A JP2013246096A JP 2013246096 A JP2013246096 A JP 2013246096A JP 2012121252 A JP2012121252 A JP 2012121252A JP 2012121252 A JP2012121252 A JP 2012121252A JP 2013246096 A JP2013246096 A JP 2013246096A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pulse
voltage signal
output
dosimeter
peak value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012121252A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6081084B2 (ja
Inventor
Masahiko Maruyama
正彦 丸山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2012121252A priority Critical patent/JP6081084B2/ja
Publication of JP2013246096A publication Critical patent/JP2013246096A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6081084B2 publication Critical patent/JP6081084B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

【課題】擬似パルスを除去し感度を損なうことなく正確に放射線を計測する。
【解決手段】放射線の照射量に応じた電圧信号を生成するチャージアンプ110と、上記電圧信号が参照電圧を超えたことを検知するとパルスを生成する比較器120と、上記電圧信号のピーク値に応じた上記パルスを検知すると、非出力期間に上記パルスを出力しないステートマシン130と、上記パルスの個数を計数するパルス計数器140とを備える。
【選択図】図1

Description

本発明は放射線の線量に応じたパルス数を計数する線量計の感度向上に関する。
放射線線量計は、所定の時間単位における放射線の照射量を定量的に示すための装置である。このような線量計としては、放射線の線量を直接的に検出する検出器が半導体からなる、半導体式の線量計がよく知られている。
まず、特許文献1には、半導体結晶から構成される放射線検出器と、放射線検出器にバイアス電圧を印加するための電源と、放射線検出器からのパルス信号を増幅する前置増幅器と、前置増幅器からの出力信号を波形整形する波形整形回路を2系統有しており、波形整形回路は互いに異なる時定数で出力信号波形を整形する機能を有しており、2系統の波形整形回路からの信号を演算処理することでガンマ線のエネルギーを決定する機能を有する放射線計測装置が開示されている。この放射線計測装置において、ガンマ線のエネルギー値を2系統の波形整形回路から得られる2つのパルス波高値の差分を利用して求めている。
また、特許文献2には、半導体結晶で構成される放射線検出器と、放射線検出器にバイアス電圧を印加するための高圧直流電源と、放射線検出器と高圧直流電源との間に設けられており、高圧直流電源からのバイアス電圧をオンオフ制御する制御装置と、放射線検出器からの検出信号を増幅するための増幅回路と、放射線検出器と増幅回路との間に設けられており、バイアス電圧がオンオフ制御される際に発生するサージ電流から増幅回路を保護する保護回路と、を備えた放射線計測装置が開示されている。この放射線計測装置は、さらに、サージ電流が増幅回路に流れるのを阻止するコントロール手段と、保護回路に並列に設けられており、コントロール手段によって作動状態が制御されるスイッチとを備えており、コントロール手段は、制御装置によるオンオフ制御と同期してスイッチの作動状態をコントロールし、サージ電流が増幅回路に流れるのを阻止する。
さて、非特許文献1にて示されているように、一般的な放射線線量計では、放射線の照射量を計測して定量的に示す際に、CPM(Count Per Minute)を用いている。CPMとは、放射性核種の壊変によって放出される放射線を、線量計が1分間あたりどれだけ検出したかを示すものである。
以下では、特許文献1および2に開示された放射線計測装置の基本的な構成について、一般的な放射線線量計を例に挙げて説明する。
<一般的な放射線線量計>
(一般的な放射線線量計の構成および動作)
図7は、従来技術に係る、一般的な放射線線量計の構成を示す図である。図7に示すように、線量計10は、主に、放射線検出器100と、チャージアンプ110と、比較器120と、パルス計数器140とにより構成されおり、この順番に接続されている。以下では、線量計10の動作について説明する。
まず、放射線検出器100は、照射される放射線の照射量に応じた量の電荷を生成する。次に、チャージアンプ110は、当該電荷量を電圧信号に変換する。ここで当該電圧信号は、電荷量が多いほど大きい値をとる。つまり、電圧信号は、放射線の照射量に対応していると言える。また、比較器120には、チャージアンプ110が接続されている反転入力端子とは異なる非反転入力端子に、参照電圧源121がさらに接続されている。次に、比較器120は、電圧信号と参照電圧源121から得られる参照電圧とを比較して、電圧信号が参照電圧を超えたときにはパルスを生成する。最後に、パルス計数器140は、当該パルスを計数する。
線量計10は、上述のように動作することにより、放射線の照射量に応じた量の電荷を電圧信号に変換し、当該電圧信号が参照電圧を超えた場合に、つまり、放射線の照射量が所定のエネルギーを超えた場合にパルスを生成し、当該パルスを計数することにより、放射線の照射量を定量的に計測することができる。
以下では、上述した線量計10の動作を、各段階での電圧信号の波形を示しながら、より詳しく説明する。
(一般的な放射線線量計の詳細な動作)
図8は、図7の線量計において、チャージアンプの出力における電圧信号および比較器出力におけるパルスの波形を示す図である。ここで、図8の横軸は時間を表し、縦軸は電圧を表す。図8に示すように、チャージアンプ出力OUT110(図7参照)における電圧信号の波形は、時刻T1においてピークを有している。これは、時刻T1において、放射線検出器100に放射線が照射されることにより電荷が生成されて、チャージアンプ110に当該電荷が入力されたことを意味している。ここで、当該電圧信号のピーク値V1と初期値V0との差は、放射線検出器100が生成する電荷の量が多いほど大きくなる。
さて、チャージアンプ出力OUT110における電圧信号は、時刻T1においてピークとなった後、チャージアンプ110が備えるコンデンサ113に蓄積された電荷が、チャージアンプ110が備える抵抗112により放電されることにより、当該電圧信号が初期値V0となるまで下がり続ける。ここで、時刻T2は、電圧値がV0に戻った時刻である。
また、チャージアンプ出力OUT110における電圧信号は、時刻T1において参照電圧VREFを超えている。このとき、比較器120は、当該電圧信号と参照電圧VREFとを比較しており、図8に示すパルスPを生成する。ここで、放射線検出器100が生成する電荷量が多いほど、電圧信号は大きい値をとる。また、電圧信号が大きいほど、放射線検出器100が生成する電荷量も多いと言える。つまり、パルスPが生成されるとき、電圧信号は、所定の電圧値(参照電圧VREF)を超えているため、放射線検出器100が生成する電荷量も所定の量を超えて生成されていることになる。すなわち、パルスPが生成されるとき、所定のエネルギーを超える放射線の照射が起こっているとみなすことができる。
図7に示すパルス計数器140は、上述のように生成されたパルスPを計数することにより、放射線の線量を定量的に計測することができる。ここで、例えば、1分間あたりに比較器120が出力するパルスの個数を計数することにより、上述のCPMを求めることができる。
さて、放射線線量計においては、チャージアンプが出力する電圧信号をフィルタリングしながら増幅することも行われている。以下では、後段増幅器をさらに備えており、当該後段増幅器がチャージアンプから生成される電圧信号をフィルタリングしながら増幅するような放射線線量計について説明する。
<後段増幅器を備える放射線線量計>
(後段増幅器を備える放射線線量計の構成および動作)
図9は、従来技術に係る、後段増幅器をさらに備えている放射線線量計の構成を示す図である。図9に示すように、線量計20は、図7に示す線量計10の構成に加えて、チャージアンプ110の後段に、後段増幅器210がさらに接続されており、後段増幅器210の後段に、比較器220が接続されている。以下では、線量計20がどのように動作するのかということについて説明する。
まず、線量計10と同様に、放射線検出器100は、照射される放射線の照射量に応じた量の電荷を生成する。次に、チャージアンプ110は、当該電荷量を電圧信号に変換する。ここで、当該電圧信号は、電荷量が多いほど大きい値をとる。つまり、電圧信号は、放射線の照射量に対応していると言える。
次に、線量計10とは異なり、後段増幅器210が、当該電圧信号をフィルタリングしながら増幅する。次に、比較器220は、当該増幅された電圧信号と参照電圧源121から得られる参照電圧とを比較して、当該電圧信号が参照電圧を超えたときにはパルスを生成する。最後に、パルス計数器140は、当該パルスを計数する。
線量計20は、上述のように動作することにより、放射線の照射量に応じた量の電荷を電圧信号に変換し、当該電圧信号をフィルタリングしながら増幅し、当該増幅された電圧信号が参照電圧を超えた場合に、つまり、放射線の照射量が所定のエネルギーを超えた場合に、パルスを生成し、当該パルスを計数することにより、放射線の照射量を定量的に計測することができる。
以下では、上述した線量計20の動作を、各段階での電圧信号の波形を示しながら、より詳しく説明する。
(後段増幅器を備える放射線線量計の詳細な動作)
図10は、図9の線量計において、後段増幅器の出力における電圧信号および比較器の出力におけるパルスの波形を示す図である。ここで、図10の横軸は時間を表し、縦軸は電圧を表す。図10に示すように、後段増幅器出力OUT210における電圧信号の波形は、時刻U1においてピークを有している。これは、時刻U1において、放射線検出器100に放射線が照射されることにより電荷が生成されて、チャージアンプ110に当該電荷が入力されて電圧信号が生成され、後段増幅器210に当該電圧信号が入力されたことを意味している。ここで、当該電圧信号のピーク値V1と初期値V0との差は、放射線検出器100が生成する電荷量が多いほど大きくなる。
さて、後段増幅器出力OUT210における電圧信号は、時刻U1においてピークとなった後、後段増幅器210が備えるコンデンサ213に蓄積された電荷が、後段増幅器210が備える抵抗212により放電されることにより、当該電圧信号は、初期値V0に収束するまで振動する。ここで、時刻U2は、電圧値がV0に収束した時刻である。
また、後段増幅器出力OUT210における電圧信号は、時刻U1において参照電圧VREFを超えている。このとき、比較器220は、当該電圧信号と参照電圧VREFとを比較しており、図10に示すパルスPを生成している。ここで、放射線検出器100が生成する電荷量が多いほど、電圧信号は大きい値をとる。また、電圧信号が大きいほど、放射線検出器100が生成する電荷量も多いと言える。つまり、パルスPが生成されるとき、電圧信号は、所定の電圧値(参照電圧VREF)を超えているため、放射線検出器が生成する電荷量も所定の量を超えて生成されていることになる。すなわち、パルスPが生成されるとき、所定のエネルギーを超える放射線の照射が起こっているとみなすことができる。
図9に示すパルス計数器140は、上述のように生成されたパルスPを計数することにより、チャージアンプ110が生成する電圧信号をフィルタリングしながら増幅して、放射線の線量を定量的に計測することができる。ここで、例えば、1分間あたりに比較器220が出力するパルスの個数を計数することによりCPMを求めることができる。
特開平2011−185885号公報(2011年9月22日公開) 特開平2009−244093号公報(2009年10月22日公開)
wikipedia、"カウント毎分"、[online]、平成19年5月16日、[平成24年5月17日検索]、インターネット〈URL:http://ja.wikipedia.org/wiki/%E5%A3%8A%E5%A4%89%E6%AF%8E%E5%88%86〉
しかしながら、上述の従来技術においては、以下のような問題が存在する。
まず、線量計を構成する放射線検出器に放射線が照射され励起される電子によって生成される電荷の量は微少なため、チャージアンプを用いて大きく増幅する必要がある。しかしながら、チャージアンプは雑音も増幅してしまうために、当該チャージアンプの出力は、必ずしもSN比が大きくない。
図11は、雑音の波形を示す図である。また、図12は、図7の線量計において、チャージアンプの出力に雑音が重畳した電圧信号の波形および比較器出力におけるパルスの波形を示す図である。上述のように、チャージアンプの出力には、照射された放射線に由来する電圧信号の他に、図11に示すような雑音が重畳された図12に示すような電圧信号が観測される。図12に示すように、雑音の重畳に起因して、参照電圧VREFの電圧レベルによっては、電圧信号が雑音に由来するピークを有することになり、参照電圧VREFを超えてしまうために、比較器の出力には、照射された放射線に由来するパルスPの他に、雑音に由来するパルスNも生成される場合がある。なお、参照電圧VREFを超えるとは、電圧信号が、初期値V0とは逆の側に、参照電圧VREFを超えることを意味する。
このように、雑音が重畳した電圧信号が、参照電圧VREFを超えた場合に、雑音に由来するパルスNが発生する。そして、雑音に由来するパルスNの個数を計数してしまう場合には、正確に、放射線に由来するパルスPのCPMを得ることができなくなるといった課題がある。
また、チャージアンプの出力をフィルタリングしながら増幅する場合、後段増幅器をさらに設けることになる。この場合、フィルタ定数の設定次第では、リンギング応答が後段増幅器の出力にて観測されることになる。
図13は、図9の線量計において、後段増幅器の出力にリンギング応答が重畳した電圧信号の波形および比較器の出力におけるパルスの波形を示す図である。図13に示すように、リンギング応答が重畳した電圧信号が参照電圧VREFを超えた場合には、リンギング応答に由来するパルスNが発生し、正確に、放射線に由来するパルスPのCPMを得ることができなくなるといった課題がある。
ここで、雑音およびリンギング応答よりも、参照電圧レベルを十分に大きく設定すれば、上述のように雑音およびリンギングに由来するピークが参照電圧VREFを超えなくなる場合がある。しかしながら、放射線の照射により電子を励起する場合は、当該電子による電荷の生成量が一定にはなら無い。さらには、チャージアンプや後段増幅器の出力にて得られる電圧信号は、雑音の電圧レベルに近い場合も多い。このため、参照電圧VREFを大きく設定した場合には、放射線の照射を適正に検知できない場合が増加する。この結果、放射線線量計としての感度が低くなるといった課題がある。
そこで、上記課題に鑑み、本発明の目的は、雑音由来の擬似パルスを除去し、放射線線量計としての感度を損なうことなく、正確な放射線の計測を可能とすることである。
上記の課題を解決するために、本発明の線量計は、上記照射量に応じた電圧信号を生成する電圧信号生成手段と、上記電圧信号が参照電圧を超えたことを検知するとパルスを生成するパルス生成手段と、上記電圧信号のピーク値に応じた上記パルスをピーク値パルスとして検知すると、上記電圧信号が上記ピーク値から減衰を終了するまでの期間と同等に設定されるか、または当該期間よりも短く設定された非出力期間に、上記ピーク値パルス以外の上記パルスを出力しないパルス出力制限手段と、上記パルス出力制限手段によって検知された上記ピーク値パルスの個数を計数するパルス計数手段とを備えている。
上記構成によれば、まず、電圧信号生成手段は、放射線の照射量に応じた電圧信号を出力する。次に、パルス生成手段は、当該電圧信号と参照電圧とを比較して、電圧信号が参照電圧を超えたことを検知するとパルスを生成する。次に、パルス出力制限手段は、当該生成されたパルスを受け取り、後述するようにパルスの出力を制限する。次に、パルス計数手段は、当該出力を制限されたパルスを受け取り、パルスの個数を計数する。
ここで、パルス生成手段がパルスを生成する場合には、電圧信号が参照電圧を超えている。また、電圧信号は、放射線の照射量に応じて生成されている。つまり、パルス生成手段がパルスを生成することは、電圧信号が参照電圧を超えるような照射量の放射線の照射が起こったことを意味している。仮に、パルス出力制限手段が何らのパルスの出力を制限しない場合には、パルス計数手段がすべてのパルスを計数することになり、電圧信号が参照電圧を越えるような照射量の放射線の照射が起こった回数を、すべて計数することができる。つまり、上記構成によれば、放射線の計測が可能となる。
ここで、電圧信号生成手段が生成する電圧信号は、放射線の照射に応じて、所定のピーク値を有しており、当該ピーク値以降は、放射線が照射される前の電圧値へと単調に戻る。よって、電圧信号が参照電圧を超えるような照射量の放射線の照射が起こった場合には、電圧信号が初期値からピーク値へ向かう途上のある1点において、パルスが生成される。つまり、放射線の照射により、電圧信号のピーク値に応じたピーク値パルスが生成されると言える。また、電圧信号のピーク値に応じたパルスが生成されるときには、放射線の照射があったと言える。
さて、上記構成によれば、放射線の計測が可能となる。しなしながら、実際の電圧信号には雑音が重畳されるため、パルス生成手段が生成するパルスには、上述した電圧信号のピーク値パルス以外にも、雑音由来のパルス(擬似パルス)が含まれることになる。ここで、擬似パルスは、ピーク値パルスが生成された後、電圧信号がピーク値から減衰を終了するまでの期間と同等、または当該期間よりも短い期間に発生することが知られている。よって、パルス出力制限手段が、ピーク値パルスを検知した後、電圧信号がピーク値から減衰を終了するまでの期間と同等に設定されるか、または当該期間よりも短く設定された非出力期間に、パルスを出力しないことにより、擬似パルスの出力を制限することができる。すなわち、パルス計数手段が計数するパルスから擬似パルスが除外されており、パルス計数手段は、ピーク値パルスのみを計数することが可能となる。上述のように、ピーク値パルスは、放射線の照射に対応している。ゆえに、パルス計数手段は、雑音由来の擬似パルスを無視して、放射線の照射を計測できると言える。
すなわち、雑音由来の擬似パルスを計測の対象から除外できるため、放射線線量計としての感度を損なうことなく、正確な放射線の計測が可能となる。
また、本発明の線量計において、上記パルス出力制限手段は、上記非出力期間の時間を任意に設定する期間設定手段を備えていることが好ましい。
上記構成によれば、期間設定手段により、非出力期間の時間を任意に設定することができる。よって、非出力期間の時間を、雑音由来の擬似パルスを計測の対象から除外するのに最適な値に設定することができる。さらに、線量計の設計仕様の変更などにも容易に対応することができる。
また、本発明の線量計は、上記パルス出力制限手段が、上記ピーク値パルスの入力を受け付け、入力された上記ピーク値パルスを検知する待機状態と、クロックを上記非出力期間に応じた所定のカウント値に達するまでカウントするカウント状態とで動作し、上記待機状態が上記ピーク値パルスを検知すると上記待機状態に遷移し、上記カウント状態は上記クロックを上記カウント値までカウントすると上記待機状態に遷移し、上記パルス計数手段が、上記待機状態から上記カウント状態への遷移の回数を上記ピーク値パルスの個数として計数することが好ましい。
上記構成によれば、パルス出力制限手段は、待機状態で入力されたピーク値パルスを検知すると、待機状態からカウント状態に遷移し、クロックを非出力期間に応じたカウント値までカウントして、カウント状態から待機状態に遷移する。すると、パルス計数手段は、待機状態からカウント状態への遷移の回数をピーク値パルスの個数として計数する。
このように、パルス出力制限手段は、計数すべきピーク値パルスを待機状態からカウント状態への遷移としてパルス計数手段に与えている。これにより、パルス出力制限手段を状態の遷移として動作するステートマシンで構成することができる。よって、ステートマシンをハードウェアまたはソフトウェアで設計することにより、パルス出力制限手段の設計の自由度を向上させることができる。
また、本発明の線量計は、上記パルス出力制限手段が、上記ピーク値パルスの検知から上記非出力期間の時間幅を有する非出力期間パルスを出力するパルス出力回路と、上記非出力期間パルスおよび上記非出力期間パルスを上記パルスの1個分遅延した遅延パルスの論理積を出力する論理積回路とを備えていることが好ましい。
上記構成によれば、パルス出力回路が、ピーク値パルスの検知から非出力期間の時間幅を有する非出力期間パルスを出力すると、論理積回路が、非出力期間パルスおよび非出力期間パルスをパルスの1個分遅延した遅延パルスの論理積を出力する。パルス出力回路は、例えば、単安定マルチバイブレータによって構成することができる。これにより、比較的簡単な回路によってパルス出力制限手段を構成することができる。よって、線量計のコスト低減を容易に図ることができる。
また、本発明の線量計は、上記電圧信号生成手段が、上記照射量に応じた前段電圧信号を生成する前段電圧信号増幅手段と、当該前段電圧信号をフィルタリングしながら増幅し上記電圧信号を生成する後段電圧信号増幅手段とを備えていることが好ましい。
まず、放射線の照射により生成される電荷の量は微少なため、大きく増幅する必要がある。しかしながら、当該増幅においては、雑音も増幅してしまうために、得られる出力は、必ずしもSN比が大きくない。
上記構成によれば、まず、前段電圧信号増幅手段において、上記照射量に応じた前段電圧信号を生成する。次に、後段電圧信号増幅手段において、前段電圧信号をフィルタリングして雑音等を取り除いた上で増幅し、電圧信号を得ることができる。よって、ノイズが取り除かれSN比が大きい、十分に増幅された電圧信号を得ることができる。
本発明のプログラムは、コンピュータを、ステートマシンで構成可能な前記パルス出力制限手段として機能させるためのプログラムである。また、本発明の記録媒体は、前記プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体である。これらのプログラムおよび記録媒体も本発明の技術的範囲に含まれる。
本発明の線量計は、以上のように構成されている。それゆえ、雑音由来の擬似パルスを除去できるため、放射線線量計としての感度を損なうことなく、正確な放射線の計測が可能となる効果を奏する。
本発明の実施形態1に係る線量計の構成を示す回路図である。 図1の線量計において、チャージアンプが生成する電圧信号と、比較器が生成するパルスと、ステートマシンの状態と、パルス計数値とを関連付けて示すタイムチャートである。 (a)は回路によるステートマシンの構成例を示す図であり、(b)は当該ステートマシンの各部での電圧信号の波形を示すタイムチャートである。 ソフトウェアでの実装によるステートマシンの構成例を示す図である。 本発明の実施形態2に係る線量計の構成を示す回路図である。 図5の線量計において、後段増幅器が生成する電圧信号と、比較器が生成するパルスと、ステートマシンの状態と、パルス計数値とを関連付けて示すタイムチャートである。 従来技術に係る、一般的な放射線線量計の構成を示す回路図である。 図1および図7の線量計において、チャージアンプの出力における電圧信号および比較器の出力におけるパルスの波形を示す図である。 従来技術に係る、後段増幅器をさらに備えている放射線線量計の構成を示す回路図である。 図5および図9の線量計において、後段増幅器の出力における電圧信号および比較器の出力におけるパルスの波形を示す図である。 雑音の波形を示す図である。 図7の線量計において、チャージアンプの出力に雑音が重畳した電圧信号の波形および比較器の出力におけるパルスの波形を示す図である。 図9の線量計において、後段増幅器の出力にリンギング応答が重畳した電圧信号の波形および比較器の出力におけるパルスの波形を示す図である。
〔実施形態1〕
本発明の実施形態1について、図1〜図4、図8に基づいて説明すれば、以下の通りである。
<線量計の基本構成>
図1は、本発明の線量計の基本構成を示す図である。図1に示すように、線量計1は、まず大きく分けて、放射線検出器100と、チャージアンプ(電圧信号生成手段,前段電圧信号増幅手段)110と、比較器(パルス生成手段)120と、ステートマシン(パルス出力制限手段)130と、パルス計数器(パルス計数手段)140とを備えており、この順番に接続されている。また、ステートマシンには、カウント値設定部(期間設定手段)132が接続されている。
(放射線検出器100)
放射線検出器100は、放射線の照射量に応じた量の電荷を生成するための半導体素子である。さて、放射線検出器100は、主に、フォトダイオードを備えている。以下では、フォトダイオードによる、放射線の検出について説明する。
フォトダイオードの空乏層に飛び込んだ放射線は、電子励起を引き起こす。その後、励起された電子により電荷が形成される。なお、当該電荷は、後段のチャージアンプ110によって増幅され、電圧振幅を持つ信号に変換されることとなる。
(チャージアンプ110)
チャージアンプ110は、放射線検出器100が生成した電荷を電圧信号に変換するための変換回路である。本実施形態に示す例では、チャージアンプ110は、オペアンプ111と、抵抗112と、コンデンサ113とを備えている。以下では、チャージアンプ110が備える各要素の詳細について説明する。
まず、放射線検出器100はチャージアンプ110に接続されているが、より具体的には、放射線検出器100はチャージアンプ110が備えるオペアンプ111の反転入力端子(図1において「−」と示している端子)に接続されている。ここで、放射線検出器100が生成した電荷により、当該反転入力端子においては負電圧が作用することになる。なお、オペアンプ111の非反転入力端子(図1において「+」と示している端子)は、接地されている。さて、当該負電圧は、オペアンプ111により増幅され、オペアンプ111の出力端子に出力される。よって、チャージアンプ出力OUT110において、電圧信号は、放射線検出器100が生成した電荷の量に応じた電圧値を有することになる。当該電圧信号は、抵抗(帰還抵抗)112およびコンデンサ(帰還コンデンサ)113が並列に設けられた回路を介して、オペアンプ111の反転入力端子へとフィードバックされる。
なお、一度、放射線の照射により放射線検出器100にて電荷が生成され、チャージアンプ110にて電圧信号が生成された後に、更なる放射線の照射がない場合には、コンデンサ113に蓄積された電荷が抵抗112により放電されて行く。よって、当該電圧信号の波形は、図8に示すように、放射線の照射に応じて最初に鋭いピーク(V1)を有し、時間が経つにつれて放射線の照射前の状態(V0)戻っていく軌跡を描くことになる。当該放電が行われる速度は、抵抗112の抵抗値とコンデンサ113の容量の積に応じた値により定まる。つまり、チャージアンプ110は、図8に示すような所定の放電期間(時刻T1から時刻T2までの期間)を有する。
なお、上述のような、所定の放電期間を有するチャージアンプ110を用いて、放射線を計測する場合、当該放電期間中に、さらなる放射線の照射が起こる確率は極めて低い(例えば0.1%程度)ことが知られている。これは、放射線同位元素から放出される、放射線の線量の時間的な振る舞いが、ポワソン分布に従うためである。このことから、図8に示すような電圧信号は、放電期間を重複させて複数の波形が重畳する確率は極めて低いと言える。ここで、放電期間を短くすればするほど、当該重畳が起こる確率も低くなる。また、通常、線量計システムは、当該確率が十分に低くなるように設計されている。
このため、擬似パルスを無視する時間幅は、テール部分の時間幅と同等か、それよりも短時間に設定することで、放射線線量計としての感度を損なうことなく、正確な放射線の計測が可能となる。
また、チャージアンプ110においては、コンデンサ113の放電に抵抗112を用いているが、このような構成に限定されるわけではなく、抵抗112を、例えば、アナログスイッチにより代替しても良い。上述したような抵抗112を用いた構成では、抵抗112の抵抗値およびコンデンサ113の容量値の積に応じた時定数に比例した期間の放電がなされるが、アナログスイッチを用いた構成では、瞬間的に放電が完了する。つまり、抵抗112のかわりにアナログスイッチを用いることにより、例えば、パイルアップを防止することができる。ただし、この場合、アナログスイッチを駆動する際に発生する雑音が、電圧信号に重畳する可能性がある。
さらに、図1に示す構成では、チャージアンプ110が、ただ一つだけ用いられているが、このような構成に限定されるわけではなく、チャージアンプ110が、並列に複数並べて用いられても良い。また、並列に複数並べたチャージアンプ110を、スイッチの切り替えによって、各々選択する構成としても良い。
(比較器120)
比較器120は、チャージアンプ110によって生成された電圧信号と参照電圧とを比較して当該電圧信号が参照電圧を超えたときに、パルスを生成するためのパルス生成回路である。以下では、比較器120と線量計1を構成する他の構成部材との接続関係をより詳しく説明する。
まず、チャージアンプ110の出力端子は、比較器120の反転入力端子に接続されている。これは、チャージアンプ110の出力が、上述のとおり負電圧であるためである。次に、比較器120の非反転入力端子には、参照電圧源121が接続されている。ここで、参照電圧源121は、比較器120に参照電圧を提供している。さて、チャージアンプ110は、反転入力端子に入力された電圧信号と、非反転入力端子に入力された参照電圧とを比較し、当該電圧信号が参照電圧を超えた場合には、比較器120の出力端子にパルスを出力する。
このときの電圧信号と、参照電圧の関係は、理想的には、図8に示すような関係になっている。ここで、図8の横軸は時間を表しており、縦軸は電圧を表している。つまり、放射線検出器100が放射線の照射を受けて電荷を生成し、チャージアンプ110が当該電荷に応じた電圧信号を生成した結果、当該電圧信号は、図8に示すように、時刻T1において概ね垂直に立ち下がる。ここで、当該立ち下がりにより、電圧信号が参照電圧VREFを超えて低下すると、比較器120が時刻T1において、パルスPを出力することになる。以上は理想的な場合を説明したが、後述するように、実際には電圧信号に雑音が重畳することになる。この場合には、時刻T1以外の時刻においても、雑音に由来するパルス(擬似パルス)が出力される可能性がある。
(ステートマシン130)
ステートマシン130は、比較器120が生成するパルスの出力を制限するためのハードウェアまたはソフトウェアからなる部分である。ここで、ステートマシン130は、カウント値設定部132に接続され、クロック131が入力されている。これらの構成は、後述の方法により、比較器120が生成するパルスのうち、放射線の照射に由来するパルス以外のパルス(擬似パルス)の出力を制限するために用いられる。具体的には、まず、放射線の照射に由来するパルス(電圧信号のピーク値に応じたパルス)をステートマシン130が受け取った後は、カウント値設定部132において設定したカウント値の回数、図示しないクロック発生器が出力する所定の時間間隔のクロック131を計数する。次に、当該クロック131の計数期間においては、ステートマシン130は、比較器120が生成するパルスを出力しない。
後述するように、上記の構成を備えることにより、ステートマシン130は、擬似パルスを除去することができる。また、ステートマシン130の出力端子は、パルス計数器140に接続されている。これにより、ステートマシン130にて出力を制限されたパルスが、パルス計数器140により計数されることになる。
(パルス計数器140)
パルス計数器140は、ステートマシン130により出力を制限されたパルスを計数するための構成部材である。ここで、パルス計数器140は、アナログ回路により構成されても良いし、デジタル回路により構成されても良いし、ソフトウェアによって実装されても良い。また、パルスの計数結果を表示する表示部が別途接続されていても良いし、特に、毎分あたりのパルスの計数結果(CPM)を、放射線の計測結果として提示しても良い。さらに、得られた計数結果(CPM)に、所定の係数を積算してマイクロシーベルト(μSv)などに変換しても良い。ここで、当該所定の係数は、例えば、1CPMを0.05μSv/hourへと換算するような係数であっても良い。
<線量計1の動作>
図2は、図1の線量計において、チャージアンプが生成する電圧信号と、比較器が生成するパルスと、ステートマシンの状態と、パルス計数値とを関連付けて示すタイムチャートである。図2に示すように、チャージアンプ110が生成する電圧信号には、雑音が重畳している。このため、比較器120においては、電圧信号のピーク値に応じたパルスP(ピーク値パルス)以外にも、雑音の重畳に応じた不正なパルス(擬似パルス)Nが含まれることになる。そこで、ステートマシン130は、IDLE状態(待機状態)で電圧信号のピーク値に応じたパルスPを検知すると、カウンタ値設定部132により設定された所定の期間(非出力期間)、パルスの出力を制限する状態(CNT状態)に遷移する(図2の時刻T1に対応)。パルス計数器140は、当該CNT状態においては、複数のパルスがステートマシン130に入力されても、IDLE状態で検知したパルスの数のみをIDLE状態からCNT状態に変化した回数としてカウントする。これにより、パルスPが検知されると、それ以降に擬似パルスNが発生しても、ただ1つのパルスが入力されたものとして、カウント計数値を1だけ増加させる。
上述の非出力期間とは、電圧信号がピーク値から減衰を終了するまでの期間(図2に示す時刻T1から時刻T2までの間の期間)と同等に設定されるか、または、当該期間よりも短く設定された期間である。ここで、擬似パルスは、電圧信号のピーク値に応じたパルスが生成された後、電圧信号が当該ピーク値から減衰を終了するまでの期間と同等、または当該期間よりも短い期間に発生することが知られている。よって、CNT期間にパルスの出力を制限することにより、擬似パルスNを除去することができる。なお、CNT期間が終了すると(カウント動作がリセットされると)、IDLE状態へ遷移する(図2の時刻T2に対応)。
以上の動作を繰り返すことにより、連続的に、放射線の照射に由来するパルス(上述の、電圧信号のピーク値に応じたパルス)のみを正確に計数することが可能になる。
さて、以上のように、線量計1の動作においては、ステートマシン130において非出力期間を設定し、擬似パルスの出力を制限することが重要になる。この非出力期間は、チャージアンプ110が生成する電圧信号がピーク値から減衰を終了するまでの期間と同等に設定されるか、または、当該期間よりも短く設定された期間である。つまり、線量計1の動作においては、チャージアンプ110が生成する電圧信号がピーク値から減衰を終了するまでの期間(チャージアンプ110の放電期間)によって非出力期間が定まることになるため、チャージアンプ110の放電期間が重要となる。そこで、以下では、チャージアンプ110の放電期間について説明する。
(チャージアンプ110の放電期間)
一般的に、チャージアンプの放電期間とは、チャージアンプにおいて増幅された電圧信号が、ピーク値から減衰して、当該減衰を終了するまでの期間のことである。本発明の線量計1においては、図8に示す時刻T1から時刻T2の間の期間のことである。
さて、線量計1においては、当該放電時間は、チャージアンプ110の抵抗112の抵抗値およびコンデンサ113の容量値の積のおよそ4〜7倍程度になる。また、放電期間は、概ね当該積で定まる時定数に比例した長さの期間となる。以下では、当該放電期間の時間に、抵抗112およびコンデンサ113がどのように関係しているかについて説明する。
まず、チャージアンプ110の前段に接続されている放射線検出器100には、例えば、PIN-PhotoDiodeが用いられる。この場合、当該PIN-PhotoDiodeからチャージアンプ110への入力は電荷量となる。そして、当該電荷は、チャージアンプ110のコンデンサ113に転送され、チャージアンプ110の抵抗112で放電されることになる。当該転送および放電が行われるため、チャージアンプ110の放電期間は、抵抗112の抵抗値およびコンデンサ113の容量値により決定され、具体的には、抵抗112の抵抗値およびコンデンサ113の容量値の積に比例した長さの期間となる。
上述の理由により、チャージアンプ110の放電期間は、チャージアンプ110の抵抗112の抵抗値およびコンデンサ113の容量値の積を基準にして容易に決定することができる。ここで、上述の非出力期間は、チャージアンプ110の放電期間により定まる。ゆえに、当該非出力期間も、チャージアンプ110の抵抗112の抵抗値およびコンデンサ113の容量値の積を基準にして容易に決定することができると言える。
ここで、チャージアンプ110が生成する電圧信号のピーク値と初期値との差は、例えば1mV程度であっても良く、非出力期間は、例えば1ミリ秒程度であっても良い。
なお、放射線検出器100が生成する電荷量は、照射される放射線の線量が多ければ多く、照射される放射線の線量が少なければ少なくなる。以下では、当該電荷量が変化した場合のチャージアンプ110の放電期間について説明する。
チャージアンプ110の放電期間は、上述のように、チャージアンプ110の抵抗112の抵抗値およびコンデンサ113の容量値の積(時定数)に比例した長さの期間となる。つまり、チャージアンプ110の放電期間は、照射される放射線の線量の多少に関係なく定まる。なお、Q=CV(Q:電荷量,C:容量値,V:ピーク値)の関係から、チャージアンプ110に入力される電荷量が多ければ多いほど、チャージアンプが生成する電圧信号のピーク値が大きくなる。これは、放射線検出器100が生成する電荷量が多ければ、チャージアンプ110が生成する電圧信号が鋭く大きいピーク値を有し、逆に当該電荷量が少なければ、電圧信号が鈍く小さいピーク値を有することを意味する。
さて、以下では、図1に示すステートマシン130の具体例について、2つの例を挙げて説明する。
<ステートマシンの具体的な構成例1>
(ステートマシン130Aの構成)
図3(a)は、回路によるステートマシンの構成例を示す図である。なお、このステートマシンは、前述のようにクロック131をカウントしない簡易的な構成である。
図3(a)に示すように、ステートマシン130A(出力制限回路)は、入力端子(ステートマシン入力)および出力端子(ステートマシン出力)を備えている。当該入力端子は、図1に示す比較器120に接続されており、当該出力端子は、図1に示すパルス計数器140に接続されている。この構成により、上述のステートマシン130と同様に、ステートマシン130Aは、比較器120が生成したパルスを受け取り、当該パルスの出力を制限する。また、ステートマシン130Aは、出力を制限されたパルスをパルス計数器140へ出力する。以下では、より具体的に、ステートマシン130Aの内部構造について説明する。
ステートマシン130Aは、時間設定回路133と、NOR回路134と、インバータ135と、ディレイ回路136と、AND回路137(論理積回路)とを備えている。ここで、NOR回路134の第1の入力端子は、ステートマシン入力に接続されており、NOR回路134の出力端子は、時間設定回路に接続されている。また、時間設定回路133は、インバータ135の入力端子に接続されている。ここで、時間設定回路133は、コンデンサおよび抵抗を備えており、当該コンデンサの容量値および当該抵抗の抵抗値の積により、時間を設定する時定数回路である。
さて、インバータ135の出力は、NOR回路134の第2の入力端子に接続されているとともに、ディレイ回路136の入力端子に接続されている。次に、ディレイ回路136の出力端子は、AND回路137の第1の入力端子に接続されている。ここで、AND回路137の第2の入力には、ステートマシン入力が接続されている。そして、AND回路137の出力端子は、ステートマシン出力へ接続されている。
(ステートマシン130Aの動作)
以下では、ステートマシン130Aの動作について説明する。図3(b)は、図3(a)のステートマシンの各部での電圧信号の波形を示すタイムチャートである。まず、(A)は、比較器120が出力する入力パルスの波形である。次に、チャージアンプ110が生成する電圧信号のピーク値に対応する先頭のパルスがNOR回路134で反転して出力されると、時間設定回路133がその反転パルスを受けて時間設定回路133で規定された所定の時間幅のローレベルの信号を出力する(B)。この信号は、インバータ135で反転される(C)。
ここで、(C)の波形を見ると、一定の幅を有するステップ信号(非出力期間パルス)となっている。これは、NOR回路134と、時間設定回路133と、インバータ135とにより、単安定マルチバイブレータ(俗に「ワンショットマルチバイブレータ」と呼ぶ)(パルス出力回路)を構成していると考えることができる。よって、ステートマシン130Aの構成は、上述のような、NOR回路134と、時間設定回路133と、インバータ135とによる構成に限定されるわけではなく、当該構成を、市販されている単安定マルチバイブレータにより代替しても良い。
さて、(C)に波形を示す電圧信号は、さらにディレイ回路136を介して、パルス1個分遅延するとともに反転する(D)。この遅延した信号(遅延パルス)と入力パルスとの論理積をAND回路137でとることにより、先頭のパルスのみが出力される(E)。
上述のように動作することで、ステートマシン130Aは、チャージアンプ110が生成する電圧信号のピーク値に対応する先頭のパルスのみを取り出すことができる。
<ステートマシンの具体的な構成例2>
(ステートマシン130Bの構成)
図4は、ソフトウェアでの実装によるステートマシンの構成例を示す図である。図4に示すように、ステートマシン130Bは、ステートマシン130Aと同様に、入力端子(ステートマシン入力)および出力端子(ステートマシン出力)を備えている。また、ステートマシン130Aと同様に、当該入力端子は、図1に示す比較器120に接続されており、当該出力端子は、図1に示すパルス計数器140に接続されている。この構成により、上述のステートマシン130と同様に、ステートマシン130Aは、比較器120が生成したパルスを受け取り、当該パルスの出力を制限する。また、ステートマシン130Aは、出力を制限されたパルスをパルス計数器140へ出力する。
(ステートマシン130Bの動作)
以下では、ステートマシン130Bの動作について説明する。図4に示すように、ステートマシン130Bは、制御アルゴリズムを有するソフトウェアによって実装されている。当該アルゴリズムは、VHDLで記述されているが、このアルゴリズムをソフトウェアで実現すれば良い。大きくわけてカウンタ(COUNTER)を制御する部分とステートマシン(STATE MACHINE)を制御する部分とから実装されている。当該カウンタ制御部分では、クロック131をカウントし、カウント値設定部132により設定したカウント値によって、当該カウント動作を制御している。また、当該ステートマシン制御部分では、カウント(CNT)状態およびアイドル(IDLE)状態という2つの状態に応じて処理を分岐している。ここで、当該カウント状態とは、先頭パルスを検知しその後のパルス(擬似パルス)を無視する状態であり、当該アイドル状態とは、先頭パルスを待ち待機する状態である。以下では、各制御アルゴリズムの概略について簡単に説明する。
〔カウンタ(COUNTER)〕
(1)リセットを行う。
(2)クロックの立ち上がりを検知すると、カウント値が設定値(レジスタに記憶されている値)に達していなければ、カウント値に1を加算し、達していれば、カウントを終了する(FIN=1)。
(3)カウント終了でリセットすると、現在の状態をアイドル状態にセットし、クロックの立ち上がりで次の状態をセットした状態(アイドル状態)に更新する。
〔ステートマシン(STATE MACHINE)〕
(1)アイドル状態における処理
入力=1(先頭のパルスを検知)であれば、カウント状態に遷移し、入力=1でなければ、アイドル状態を維持する。
(2)カウント状態における処理
カウントが完了していれば、次の状態(アイドル状態)に遷移し、カウントを終了していなければ、カウント状態を維持する。
以上のように、ステートマシンは、回路、ソフトウェアなどで実装できる。特に、回路から構成されるステートマシンでは、例えば、擬似パルスの出力を制限する時間をCR回路により設定できる。また、特に、デジタル回路により実装されるステートマシンでは、例えば、上述のVHDL記述によるアルゴリズムをロジック回路で実装できる。また、ソフトウェアにより実装されるステートマシンでは、一般的なCPUを含むマイコン等により動作させることが可能である。
<線量計1の擬似パルス除去効果>
上記構成によれば、ステートマシン130が、電圧信号のピーク値に応じたパルスを検知した後、電圧信号がピーク値から減衰を終了するまでの期間と同等に設定されるか、または当該期間よりも短く設定された非出力期間に、パルスを出力しないことにより、擬似パルスの出力を制限することができる。
よって、雑音由来の擬似パルスを除去できるため、放射線線量計としての感度を損なうことなく、正確な放射線の計測が可能となる。
〔実施形態2〕
本発明の実施形態2について、図5、図6、図10に基づいて説明すれば、以下の通りである。
本実施形態では、後段増幅器を有する線量計について説明する。
なお、本実施形態において、実施形態1における構成要素と同等の機能を有する構成要素については、同一の符号を付記して、その説明を省略する。
<線量計2の基本構成>
図5は、本実施形態に係る線量計の構成を示す図である。図5に示すように、線量計2は、図1に示す線量計1の構成に加えて、後段増幅器(電圧信号生成手段,後段電圧信号増幅手段)210を備え、比較器120に代えて比較器220を備えている。後段増幅器210は、チャージアンプ110の後段に接続されており、比較器220は、後段増幅器210の後段に接続されている。
(後段増幅器210)
後段増幅器210は、チャージアンプ110の出力をフィルタリングしながら増幅するための増幅器である。また、後段増幅器210は、チャージアンプ110のオペアンプ111、抵抗112、コンデンサ113に対応する、オペアンプ211、抵抗212、コンデンサ213を備えている。さらに、後段増幅器210は、オペアンプ211、抵抗212、およびコンデンサ213の前段に、フィルタ214を備えている。
(フィルタ214)
フィルタ214は、後段増幅器210に入力される電圧信号の低周波成分を除去するためのフィルタである。ここで、フィルタ214は、抵抗およびコンデンサからなる回路である。
フィルタ214は、オペアンプ211、抵抗212、およびコンデンサ213により電圧信号が増幅される前に、チャージアンプ110が出力した電圧信号から、低周波成分を除去することになる。
(比較器220)
比較器220は、後段増幅器210によって増幅された電圧信号と参照電圧とを比較して当該電圧信号が参照電圧を超えたときに、パルスを生成するためのパルス生成回路である点において、比較器120と同様である。以下では、比較器220と他の構成部材との接続関係をより詳しく説明する。
まず、後段増幅器210の出力端子は、比較器220の非反転入力端子に接続されている。これは、後段増幅器210の出力が、正電圧であるためである。次に、比較器220の反転入力端子には、参照電圧源121が接続されている。ここで、参照電圧源121は、比較器220に参照電圧を提供している。さて、後段増幅器210は、非反転入力端子に入力された電圧信号と、反転入力端子に入力された参照電圧とを比較し、当該電圧信号が参照電圧を超えて上昇した場合には、比較器220の出力端子にパルスを出力する。このときの電圧信号と参照電圧との関係は、理想的には、図10に示すような関係になっている。ここで、図10の横軸は時間を表しており、縦軸は電圧を表している。つまり、放射線検出器100が放射線の照射を受けて電荷を生成し、チャージアンプ110が当該電荷に応じた電圧信号を生成し、当該電圧信号を、後段増幅器210がフィルタリングしながらさらに増幅して電圧信号を生成する。この結果、当該電圧信号は、図10に示す時刻U1において概ね垂直に立ち上がる。ここで、当該立ち上がりにより、電圧信号が参照電圧VREFを超え、比較器220が時刻U1において、パルスPを出力することになる。以上は理想的な場合を説明したが、後述するように、実際には、リンギング応答による電圧信号が重畳することになり、その場合には、時刻U1以外の時刻においても、当該リンギング(雑音)に由来するパルス(擬似パルス)が立ち上がる可能性がある。
<線量計2の動作>
図6は、図5に示す線量計において、後段増幅器が生成する電圧信号と、比較器が生成するパルスと、ステートマシンの状態と、パルス計数値とを関連付けて示すタイムチャートである。図6に示すように、後段増幅器210が生成する電圧信号には、リンギング(雑音)に由来する電圧信号が重畳している。このため、比較器220においては、電圧信号のピーク値に応じたパルスP以外にも、リンギング(雑音)に由来する電圧信号の重畳に応じた不正なパルス(擬似パルス)Nが含まれることになる。この場合にも、線量計1と同様に、ステートマシン130は、電圧信号のピーク値に応じたパルスPを検知すると、カウンタ値設定部により設定された非出力期間、パルスの出力を制限する状態(CNT状態)に遷移する(図6の時刻U1に相当)。当該CNT状態においては、複数のパルスがステートマシン130に入力されても、ただ1つのパルスが入力されたものとして、カウント計数値を1だけ増加させる。
よって、線量計1と同様に、当該非出力期間にパルスの出力を制限することにより、擬似パルスNを除去することができる。なお、当該期間が過ぎた後は、電圧信号のピーク値に応じたパルスを待ち受ける状態(IDLE状態)へ遷移する(図6の時刻U2に相当)。
以上の動作を繰り返すことにより、連続的に、放射線の照射に由来するパルス(上述の、電圧信号のピーク値に応じたパルス)のみを正確に計数することが可能になる。
<線量計2の擬似パルス除去効果>
上記構成によれば、リンギング(雑音)に由来する電圧信号が電圧信号に重畳していても、ステートマシン130が、電圧信号のピーク値に応じたパルスを検知した後、電圧信号がピーク値から減衰を終了するまでの期間と同等に設定されるか、または当該期間よりも短く設定された非出力期間に、パルスを出力しないことにより、擬似パルスの出力を制限することができる。
よって、リンギング(雑音)由来の擬似パルスを除去できるため、放射線線量計としての感度を損なうことなく、正確な放射線の計測が可能となる。
〔ステートマシンの実現形態〕
上述のステートマシン130は、ハードウェアロジックによって構成されてもよいし、以下のようにCPUを用いてソフトウェア(プログラム)によって実現されてもよい。つまり、このプログラムは、コンピュータをステートマシン130として機能させる。あるいは、ステートマシン130は、DSP(Digital Signal Processor)を用いたプログラムによる処理で実現されてもよい。
上記のソフトウェアのプログラムコード(実行形式プログラム、中間コードプログラム、ソースプログラム)は、コンピュータで読み取り可能に記録した記録媒体に記録されてもよい。本発明の目的は、当該記録媒体を線量計1,2に供給し、CPUが記録媒体に記録されているプログラムコードを読み出して実行することによっても達成することが可能である。
上記の記録媒体としては、例えば、磁気テープやカセットテープ等のテープ系、フロッピー(登録商標)ディスク/ハードディスク等の磁気ディスクやCD−ROM/MO/MD/BD/DVD/CD−R等の光ディスクを含むディスク系を用いることができる。その他、上記の記録媒体としては、ICカード(メモリカードを含む)/光カード等のカード系、あるいはマスクROM/EPROM/EEPROM(登録商標)/フラッシュROM等の半導体メモリ系などを用いることもできる。
また、線量計1,2を通信ネットワークと接続可能に構成し、通信ネットワークを介して上記のプログラムコードを供給してもよい。この通信ネットワークとしては、例えば、インターネット、イントラネット、エキストラネット、LAN、ISDN、VAN、CATV通信網、仮想専用網(virtual private network)、電話回線網、移動体通信網、衛星通信網等が利用可能である。また、通信ネットワークを構成する伝送媒体としては、有線媒体または無線媒体の利用が可能である。有線媒体としては、例えば、IEEE1394、USB、電力線搬送、ケーブルTV回線、電話線、ADSL回線等が挙げられる。無線媒体としては、IrDAやリモコンのような赤外線、Bluetooth(登録商標)、802.11無線、HDR、携帯電話網、衛星回線、地上波デジタル網等が挙げられる。
なお、本発明は、上記プログラムコードが電子的な伝送で具現化された、搬送波に埋め込まれたコンピュータデータ信号の形態でも実現され得る。
〔付記事項〕
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
本発明は、雑音またはリンギングに由来した電圧信号が重畳する電圧信号と参照電圧とを比較して有意な情報のみを検出することが可能であるので、雑音またはリンギングの発生が問題になる環境化での計測に広く利用することができる。
1,2,10,20 線量計
110 チャージアンプ(電圧信号生成手段,前段電圧信号増幅手段)
120,220 比較器(パルス生成手段)
130,130A,130B ステートマシン(パルス出力制限手段)
132 カウント値設定部(期間設定手段)
133 時間設定回路(期間設定手段,パルス出力回路)
134 NOR回路(パルス出力回路)
135 インバータ(パルス出力回路)
136 ディレイ回路
137 AND回路(論理積回路)
140 パルス計数器(パルス計数手段)
210 後段増幅器(電圧信号生成手段,後段電圧信号増幅手段)
N パルス
P パルス(ピーク値パルス)

Claims (7)

  1. 放射線の照射量を計測する線量計であって、
    上記照射量に応じた電圧信号を生成する電圧信号生成手段と、
    上記電圧信号が参照電圧を超えたことを検知するとパルスを生成するパルス生成手段と、
    上記電圧信号のピーク値に応じた上記パルスをピーク値パルスとして検知すると、上記電圧信号が上記ピーク値から減衰を終了するまでの期間と同等に設定されるか、または当該期間よりも短く設定された非出力期間に、上記ピーク値パルス以外の上記パルスを出力しないパルス出力制限手段と、
    上記パルス出力制限手段によって検知された上記ピーク値パルスの個数を計数するパルス計数手段とを備えている
    ことを特徴とする線量計。
  2. 上記パルス出力制限手段は、上記非出力期間の時間を任意に設定する期間設定手段を備えていることを特徴とする請求項1に記載の線量計。
  3. 上記パルス出力制限手段が、上記ピーク値パルスの入力を受け付け、入力された上記ピーク値パルスを検知する待機状態と、クロックを上記非出力期間に応じた所定のカウント値に達するまでカウントするカウント状態とで動作し、
    上記待機状態が上記ピーク値パルスを検知すると上記待機状態に遷移し、上記カウント状態は上記クロックを上記カウント値までカウントすると上記待機状態に遷移し、
    上記パルス計数手段が、上記待機状態から上記カウント状態への遷移の回数を上記ピーク値パルスの個数として計数する
    ことを特徴とする請求項1または2に記載の線量計。
  4. 上記パルス出力制限手段が、上記ピーク値パルスの検知から上記非出力期間の時間幅を有する非出力期間パルスを出力するパルス出力回路と、上記非出力期間パルスおよび上記非出力期間パルスを上記パルスの1個分遅延した遅延パルスの論理積を出力する論理積回路とを備えていることを特徴とする請求項1または2に記載の線量計。
  5. 上記電圧信号生成手段が、上記照射量に応じた前段電圧信号を生成する前段電圧信号増幅手段と、当該前段電圧信号をフィルタリングしながら増幅し上記電圧信号を生成する後段電圧信号増幅手段とを備えていることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の線量計。
  6. コンピュータを、請求項3に記載の線量計の上記パルス出力制限手段として機能させるためのプログラム。
  7. 請求項6に記載のプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
JP2012121252A 2012-05-28 2012-05-28 線量計 Expired - Fee Related JP6081084B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012121252A JP6081084B2 (ja) 2012-05-28 2012-05-28 線量計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012121252A JP6081084B2 (ja) 2012-05-28 2012-05-28 線量計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013246096A true JP2013246096A (ja) 2013-12-09
JP6081084B2 JP6081084B2 (ja) 2017-02-15

Family

ID=49845981

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012121252A Expired - Fee Related JP6081084B2 (ja) 2012-05-28 2012-05-28 線量計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6081084B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015224894A (ja) * 2014-05-26 2015-12-14 日立アロカメディカル株式会社 放射線測定装置
JP2016024102A (ja) * 2014-07-23 2016-02-08 株式会社リガク X線検出信号処理装置およびそれを用いたx線分析装置
CN106908827A (zh) * 2017-03-24 2017-06-30 北京科技大学 一种核辐射探测灵敏度放大器
US9784784B2 (en) 2014-09-16 2017-10-10 Kabushiki Kaisha Toshiba Signal processing device and method and radiation detecting device for a pileup phenomenon
WO2018179029A1 (ja) * 2017-03-27 2018-10-04 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線システム

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5340574A (en) * 1976-09-25 1978-04-13 Japan Atomic Energy Res Inst Method of correcting missed count for radiation measuring apparatus
JPS60102690U (ja) * 1983-12-19 1985-07-12 富士電機株式会社 放射線測定器雑音防止回路
JPH01214791A (ja) * 1988-02-24 1989-08-29 Rigaku Denki Kk 波高分析器および波高分析方法
JPH0882681A (ja) * 1994-09-12 1996-03-26 Toshiba Corp 放射線測定システム
JP2008215907A (ja) * 2007-03-01 2008-09-18 Mitsubishi Electric Corp 放射線測定装置
JP2009264813A (ja) * 2008-04-23 2009-11-12 Tohoku Univ 放射線検出方法及び放射線検出装置、並びにこれを有する陽電子断層撮影装置
JP2011085479A (ja) * 2009-10-15 2011-04-28 Tele Systems:Kk 光子計数型放射線検出器のキャリブレーション装置及びそのキャリブレーション方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5340574A (en) * 1976-09-25 1978-04-13 Japan Atomic Energy Res Inst Method of correcting missed count for radiation measuring apparatus
JPS60102690U (ja) * 1983-12-19 1985-07-12 富士電機株式会社 放射線測定器雑音防止回路
JPH01214791A (ja) * 1988-02-24 1989-08-29 Rigaku Denki Kk 波高分析器および波高分析方法
JPH0882681A (ja) * 1994-09-12 1996-03-26 Toshiba Corp 放射線測定システム
JP2008215907A (ja) * 2007-03-01 2008-09-18 Mitsubishi Electric Corp 放射線測定装置
JP2009264813A (ja) * 2008-04-23 2009-11-12 Tohoku Univ 放射線検出方法及び放射線検出装置、並びにこれを有する陽電子断層撮影装置
JP2011085479A (ja) * 2009-10-15 2011-04-28 Tele Systems:Kk 光子計数型放射線検出器のキャリブレーション装置及びそのキャリブレーション方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015224894A (ja) * 2014-05-26 2015-12-14 日立アロカメディカル株式会社 放射線測定装置
JP2016024102A (ja) * 2014-07-23 2016-02-08 株式会社リガク X線検出信号処理装置およびそれを用いたx線分析装置
US9791393B2 (en) 2014-07-23 2017-10-17 Rigaku Corporation X-ray detection signal processing device and X-ray analyzing apparatus using same
US9784784B2 (en) 2014-09-16 2017-10-10 Kabushiki Kaisha Toshiba Signal processing device and method and radiation detecting device for a pileup phenomenon
CN106908827A (zh) * 2017-03-24 2017-06-30 北京科技大学 一种核辐射探测灵敏度放大器
WO2018179029A1 (ja) * 2017-03-27 2018-10-04 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線システム

Also Published As

Publication number Publication date
JP6081084B2 (ja) 2017-02-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6081084B2 (ja) 線量計
KR101842259B1 (ko) 이미지 센서 및 이를 포함하는 엑스-레이 이미지 센싱 모듈
US10180351B2 (en) Dark current compensation for photon counting circuit
JP2011530067A (ja) エネルギー分散型放射線分光分析システムにおけるパイルアップ除去
JP6100268B2 (ja) 電流パルスを電圧パルスに変換するための装置
KR101647395B1 (ko) 양극성 임계상한시간방법을 이용한 방사선 신호처리 장치 및 방법
WO2009050619A2 (en) Particle-counting apparatus with pulse shortening
US8866094B2 (en) Radiation detector
CN105765405A (zh) 用于探测光子的探测设备和其方法
Hammad et al. Pile-up correction algorithm for high count rate gamma ray spectroscopy
US20230417932A1 (en) Front-end electronic circuitry for a photon counting application
JP2006287307A (ja) 光子検出回路およびノイズ除去方法
WO2016208295A1 (ja) 放射線検出器およびそれを備えた放射線撮影装置
JP6441062B2 (ja) 中性子測定装置および中性子測定方法
CN106821409B (zh) 堆积事件处理方法及装置
JP2011226922A (ja) 光子検出器
KR101745436B1 (ko) Cds 기법과 cdm을 이용한 방사선 계수 방법, 방사선 계수 장치, 프로그램 및 이를 저장한 기록매체
CN114252901A (zh) 死时间校正方法和系统
JP5861803B1 (ja) 放射線検出装置、放射線量計測処理方法、及び放射線量計測処理プログラム
JP6188710B2 (ja) アナログ/デジタル変換器の入力部で電圧パルスのランダムストリームを調節するための装置
KR101687522B1 (ko) X선 검출기
US8823571B2 (en) Asynchronous digitisation of transient signals from radiation detectors
US20230004644A1 (en) Random number generator for defending against subchannel attack, and operation method thereof
Yue et al. An Energy-Resolved Photon-Counting Readout Electronics for Scintillator Based on Pole-Zero Compensation and ToT Method
JP6969734B2 (ja) 電荷検出回路及びそれを含む放射線検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150401

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160126

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160328

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20161004

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20161104

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20161220

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170118

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6081084

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees