JP2013239964A - 半導体装置及びデータ処理システム - Google Patents
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Abstract
【課題】応用範囲の広い、A/D変換器の断線検出のための技術を提供する。
【解決手段】本半導体装置(100、101)は、信号を入力する入力端子(DSAN_P、DSAN_N)に電気的に接続される信号線(SP、SN)の電圧を示すアナログ信号をディジタル信号に変換するアナログ・ディジタル変換部(2)と、所定の周波数(fx)の信号を生成し容量素子(CP、CN)を介して前記信号線に出力する信号生成部(3、7)と、データ処理部(1)とを有する。前記データ処理部は、前記アナログ・ディジタル変換部による変換結果に含まれる前記所定の周波数に係るスペクトルの大きさに基づいて、前記入力端子に接続される信号経路の断線の有無を判別することが可能にされる。
【選択図】図1
【解決手段】本半導体装置(100、101)は、信号を入力する入力端子(DSAN_P、DSAN_N)に電気的に接続される信号線(SP、SN)の電圧を示すアナログ信号をディジタル信号に変換するアナログ・ディジタル変換部(2)と、所定の周波数(fx)の信号を生成し容量素子(CP、CN)を介して前記信号線に出力する信号生成部(3、7)と、データ処理部(1)とを有する。前記データ処理部は、前記アナログ・ディジタル変換部による変換結果に含まれる前記所定の周波数に係るスペクトルの大きさに基づいて、前記入力端子に接続される信号経路の断線の有無を判別することが可能にされる。
【選択図】図1
Description
本発明は、半導体装置及びデータ処理システムに関し、特にA/D変換器を備える半導体装置に適用して有効な技術に関する。
家電製品、携帯電話、自動車、及び産業機械等の機器に組み込まれるマイクロコントローラ(以下単に「マイコン」とも称する。)は、用途に応じた信頼性・安全性が要求される。例えば車載マイコンでは、故障が発生した場合にこれを検出して自動車が危険な状態にならないようにする機能が要求されている。例えば、センサ等から入力されたアナログ信号をディジタル信号に変換するアナログ・ディジタル変換器(以下、「A/D変換器」とも称する。)を搭載した車載マイコンは、A/D変換器の故障の有無を診断する診断機能を備えている。近年、更なる安全性の向上のため、A/D変換器自体の診断に加えて、A/D変換器に信号を入力するための入力信号経路の断線を検出する診断機能も要求されている。
A/D変換器の入力信号経路の断線を検出するための従来技術として、特許文献1及び2に開示がある。特許文献1には、複数の入力チャネルを有する逐次比較型のA/D変換器において、入力段のサンプリング容量に電荷が蓄えられることを利用し、所望の入力チャネルの変換結果とその直前に変換を行った他の入力チャネルの変換結果とが一致した場合には前記所望の入力チャネルが断線していると判断する技術が開示されている。特許文献2には、逐次比較型のA/D変換器において、入力段のサンプリング容量に蓄えられた電荷を定期的に放電させ、放電前後のアナログ・ディジタル変換結果を比較することで断線の有無を判別する技術が開示されている。
近年、マイコンを搭載する機器の高機能化・高精度化の要求に応えるため、ΔΣ方式のA/D変換器や差動入力方式のA/D変換器のような、より高精度なA/D変換器がマイコンに搭載されつつある。しかしながら、これらのA/D変換器を搭載したマイコンに、上述した特許文献1及び2の技術を適用したとしても、A/D変換器の入力信号経路の断線を的確に検出することはできない。例えば、特許文献1の技術は、逐次比較型のA/D変換器を想定しており、入力段のサンプリング容量に電荷を蓄えることを前提とする技術である。そのため、ΔΣ方式のA/D変換器のように入力段のインピーダンスが低い場合には、サンプリング容量に電荷を蓄えておくことができず、入力信号線が断線していたとしても変換結果が直前の変換結果と一致しないため、断線を検出することは困難である。また、特許文献2の技術を差動入力方式のA/D変換器に適用すると、差動入力端子のうち一方の入力端子のみ断線している場合には、断線していない入力端子の電圧値によってアナログ・ディジタル変換結果が変化するため、断線を検出することは困難となる。
そこで、本願発明者は、A/D変換器の構成等によって制限を受けないような応用範囲の広い、新たな診断のための技術が必要であると考えた。
このような課題を解決するための手段等を以下に説明するが、その他の課題と新規な特徴は本明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろう。
本願において開示される実施の形態のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記のとおりである。
すなわち、本半導体装置は、信号を入力する入力端子に電気的に接続される信号線の電圧を示すアナログ信号をディジタル信号に変換するアナログ・ディジタル変換部と、所定の周波数の信号を生成し容量素子を介して前記信号線に出力する信号生成部と、データ処理部とを有する。前記データ処理部は、前記アナログ・ディジタル変換部による変換結果に含まれる前記所定の周波数に係るスペクトルの大きさに基づいて、前記入力端子に接続される信号経路の断線の有無を判別することが可能にされる。
本願において開示される実施の形態のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである。
すなわち、本半導体装置によれば、A/D変換の方式等によらずA/D変換器を備えるシステムに広く適用することができる。
1.実施の形態の概要
先ず、本願において開示される代表的な実施の形態について概要を説明する。代表的な実施の形態についての概要説明で括弧を付して参照する図面中の参照符号はそれが付された構成要素の概念に含まれるものを例示するに過ぎない。
先ず、本願において開示される代表的な実施の形態について概要を説明する。代表的な実施の形態についての概要説明で括弧を付して参照する図面中の参照符号はそれが付された構成要素の概念に含まれるものを例示するに過ぎない。
〔1〕(容量結合によりA/D変換器の入力信号経路に入力した周期信号に係る周波数成分の大きさに基づいて、入力信号経路の断線を検出する半導体装置)
本願の代表的な実施の形態に係る半導体装置(100、101)は、信号を入力する入力端子(DSAN_P、DSAN_N)と、前記入力端子と電気的に接続される信号線(SP、SN)と、前記信号線の電圧を示すアナログ信号をディジタル信号に変換するアナログ・ディジタル変換部(2)と、所定の周波数(fx)の信号を生成し、容量素子(CP、CF、CP0〜CPn、CN0〜CNn)を介して前記信号線に出力する信号生成部(3、7)と、を有する。更に前記半導体装置は、前記アナログ・ディジタル変換部による変換結果に含まれる前記所定の周波数に係るスペクトルの大きさに基づいて、前記入力端子に接続される信号経路の断線の有無を判別可能にするデータ処理部(1)と、を有する。
本願の代表的な実施の形態に係る半導体装置(100、101)は、信号を入力する入力端子(DSAN_P、DSAN_N)と、前記入力端子と電気的に接続される信号線(SP、SN)と、前記信号線の電圧を示すアナログ信号をディジタル信号に変換するアナログ・ディジタル変換部(2)と、所定の周波数(fx)の信号を生成し、容量素子(CP、CF、CP0〜CPn、CN0〜CNn)を介して前記信号線に出力する信号生成部(3、7)と、を有する。更に前記半導体装置は、前記アナログ・ディジタル変換部による変換結果に含まれる前記所定の周波数に係るスペクトルの大きさに基づいて、前記入力端子に接続される信号経路の断線の有無を判別可能にするデータ処理部(1)と、を有する。
これによれば、前記入力端子に接続される容量成分(例えば、ノイズ除去を目的として入力端子と接地ノードとの間に接続される外付け容量等)と前記信号生成部における容量素子の容量成分の比率に応じて、前記アナログ・ディジタル変換部に入力される前記所定の周波数の信号成分の大きさが決まる。例えば、入力端子に接続される信号経路が断線している場合、前記入力端子に接続される容量成分が小さくなり、前記アナログ・ディジタル変換部による変換結果に含まれる前記所定の周波数に係るスペクトルは、断線していない場合に比べて大きくなる。そこで、項1の半導体装置のように、前記変換結果に含まれる前記所定の周波数に係るスペクトルの大きさを判別することで、A/D変換器の入力信号線の断線を検出することができる。また、本半導体装置は、特許文献1及び2に記載された装置のようにアナログ・ディジタル変換結果が特定の値(特定の電圧値)になったことを検出するのではなく、特定の周波数成分の大きさに基づいて断線の有無を判別するものであるから、応用範囲が広い。例えば、逐次比較型のA/D変換器を備えるシステムのみならず、ΔΣ方式のA/D変換器や差動方式のA/D変換器を備えるシステムにも適用することができる。また、例えば、センサからの検出信号をA/D変換器によってディジタル信号に変換し、その変換結果の周波数解析を行うようなデータ処理システムを構成する半導体装置であれば、既存のデータ処理システムの周波数解析ブロックを用いて断線検出を行うことができ、断線検出のための周波数解析ブロックを新たに設ける必要はない。
〔2〕(所定の閾値と比較することにより断線の有無を判別する)
項1の半導体装置において、前記データ処理部は、前記所定の周波数に係るスペクトルが所定の閾値(400、500)よりも大きい場合には、前記入力端子に接続される信号経路に断線が有ると判断し、前記所定の周波数に係るスペクトルが所定の閾値よりも小さい場合には、前記入力端子に接続される信号経路に断線が無いと判断する。
項1の半導体装置において、前記データ処理部は、前記所定の周波数に係るスペクトルが所定の閾値(400、500)よりも大きい場合には、前記入力端子に接続される信号経路に断線が有ると判断し、前記所定の周波数に係るスペクトルが所定の閾値よりも小さい場合には、前記入力端子に接続される信号経路に断線が無いと判断する。
これによれば、前記所定の周波数に係るスペクトルの大きさから、容易に断線の有無を検出することができる。
〔3〕(周波数調整用レジスタ)
項1又は2の半導体装置は、第1記憶部(204)を更に有する。本半導体装置において、前記信号生成部(7)は、前記第1記憶部に設定された値に基づいて前記所定の周波数を決定する。
項1又は2の半導体装置は、第1記憶部(204)を更に有する。本半導体装置において、前記信号生成部(7)は、前記第1記憶部に設定された値に基づいて前記所定の周波数を決定する。
これによれば、前記半導体装置を適用するシステムに合わせて、断線検出に用いる信号の周波数を容易に変更することができる。例えば、前述の例のように、センサの検出結果の周波数解析を行うデータ処理システムを構成する半導体装置の場合、データ処理システムによる検出目的とされる周波数帯域内に、断線検出のための前記所定の周波数が含まれると、主たるデータ処理システムの動作に悪影響を与える虞があるが、本半導体装置によれば、適用するシステムに応じて前記所定の周波数を容易に調整することができるので、適用するシステム本来の主たる機能に与える影響を小さくすることができる。
〔4〕(容量値調整用レジスタ)
項1乃至3の何れかの半導体装置は第2記憶部(203)を更に有する。本半導体装置において、前記信号生成部は、前記第2記憶部に設定された値に基づいて前記容量素子の容量値を決定する。
項1乃至3の何れかの半導体装置は第2記憶部(203)を更に有する。本半導体装置において、前記信号生成部は、前記第2記憶部に設定された値に基づいて前記容量素子の容量値を決定する。
これによれば、前記半導体装置を適用するシステムに合わせて、断線検出の検出感度を容易に変更することができる。例えば、前記入力端子に接続される容量成分(例えば、ノイズ除去のための外付け容量)が比較的小さいシステムでは、断線が起きていない状態での前記所定の周波数に係る信号成分が大きくなるので、断線の誤検出の可能性が高くなるが、本半導体装置によれば、前記容量素子の容量値を調整することで、適用するシステムに適した検出感度になるように調整することが可能となる。また、断線が起きていない正常状態において、前記所定の周波数の信号によるアナログ・ディジタル変換結果に与える影響を小さくすることができる。
〔5〕(判定基準調整用レジスタ)
項2乃至4の何れかの半導体装置は、第3記憶部(205)を更に有する。本半導体装置において、前記データ処理部は、前記第3記憶部に設定された値に基づいて前記所定の閾値を決定する。
項2乃至4の何れかの半導体装置は、第3記憶部(205)を更に有する。本半導体装置において、前記データ処理部は、前記第3記憶部に設定された値に基づいて前記所定の閾値を決定する。
これによれば、前記半導体装置を適用するシステムに合わせて、断線検出の検出感度を容易に変更することができる。例えば、前記入力端子に接続される容量成分が比較的小さいシステムでは、断線が起きていない状態での前記所定の周波数に係る信号成分が大きくなるので、断線の誤検出の可能性が高くなるが、本半導体装置によれば、前記所定の閾値を調整することで、適用するシステムに適した検出感度になるように調整することが可能となる。
〔6〕(正弦波発生回路)
項1乃至5の何れかの半導体装置において、前記所定の周波数の信号は、正弦波信号である。
項1乃至5の何れかの半導体装置において、前記所定の周波数の信号は、正弦波信号である。
これによれば、前記アナログ・ディジタル変換部に入力される信号に重畳される前記所定の周波数以外の周波数成分の信号をより少なくすることができ、例えば、適用するシステム本来の主たる機能に与える影響を小さくすることができる。
〔7〕(システム)
本願の代表的な実施の形態に係るデータ処理システム(U1、U2)は、センサ(200)と、前記センサからの検出信号を入力するフィルタ回路(300)と、前記フィルタ回路を介して出力された前記検出信号を前記入力端子に入力する請求項1に記載の半導体装置(100、101)と、を有する。
本願の代表的な実施の形態に係るデータ処理システム(U1、U2)は、センサ(200)と、前記センサからの検出信号を入力するフィルタ回路(300)と、前記フィルタ回路を介して出力された前記検出信号を前記入力端子に入力する請求項1に記載の半導体装置(100、101)と、を有する。
これによれば、前記センサと前記半導体装置との間の信号経路の断線を検出することができるから、センサからの信号を前記半導体装置が正常に受け付けているか否かを容易に判別することができる。
〔8〕(入力端子の外付け容量>結合容量)
項7のデータ処理システムにおいて、前記信号生成部における容量素子(CP、CN、CP0〜CPn、CN0〜CNn)は、前記フィルタ回路を構成する容量素子(CFP、CFN)よりも容量値が小さい。
項7のデータ処理システムにおいて、前記信号生成部における容量素子(CP、CN、CP0〜CPn、CN0〜CNn)は、前記フィルタ回路を構成する容量素子(CFP、CFN)よりも容量値が小さい。
これによれば、断線が起きていない正常状態における前記センサの検出信号に重畳される前記所定の周波数の信号成分を小さくすることができる。これにより、断線が起きていない正常状態において前記所定の周波数の信号によるアナログ・ディジタル変換結果に与える影響を小さくすることができ、前記データ処理システム本来の主たる機能に与える影響を小さくすることができる。
〔9〕(ΔΣADC)
項8のデータ処理システムにおいて、前記アナログ・ディジタル変換部は、デルタ・シグマ変調方式に基づいて、入力したアナログ信号を所要のサンプリングレートに基づくディジタル信号に変換して出力する。
項8のデータ処理システムにおいて、前記アナログ・ディジタル変換部は、デルタ・シグマ変調方式に基づいて、入力したアナログ信号を所要のサンプリングレートに基づくディジタル信号に変換して出力する。
2.実施の形態の詳細
実施の形態について更に詳述する。
実施の形態について更に詳述する。
≪実施の形態1≫
図1は、本願の一実施の形態に係る半導体装置を例示するブロック図である。
図1は、本願の一実施の形態に係る半導体装置を例示するブロック図である。
同図に示されるデータ処理システムU1は、例えば自動車のエンジン制御システムの一部であって、例えば、エンジンのノッキングを検出してプラグの点火時期を制御するノックコントロールシステムである。データ処理システムU1は、例えば、センサ200、フィルタ回路300、及び半導体装置100を有する。センサ200は、例えばノックセンサであり、自動車のエンジンブロックに取り付けられ、エンジンの振動を検出し検出信号を出力する。センサ200は、特に制限されないが、例えば差動出力とされる。アナログ信号である前記検出信号は、フィルタ回路300を介して半導体装置100に入力される。フィルタ回路300は、センサ200からの検出信号に対するノイズを除去する。フィルタ回路300は、特に制限されないが、RCローパスフィルタである。例えば、図1に示されるように、センサ200の正側の検出信号を伝達する信号経路に抵抗RP及び容量CFPからなるローパスフィルタが設けられ、負側の検出信号を伝達する信号経路に抵抗RN及び容量CFNからなるローパスフィルタが設けられる。具体的には、抵抗RPは、センサ200の正側の出力端子(+)と半導体装置の正側の入力端子DSAN_Pとの間の信号経路に挿入され、容量CFPは、抵抗RPと入力端子DSAN_Pが接続されるノードと接地ノード(グラウンド)との間に接続される。同様に、抵抗RNはセンサ200の負側の出力端子(−)と半導体装置の負側の入力端子DSAN_Nとの間の信号経路に挿入され、容量CFNは、抵抗RNと入力端子DSAN_Nが接続されるノードと接地ノードとの間に接続される。
半導体装置100は、センサ200からの信号を受けてエンジンを制御するためのマイクロコントローラであり、例えばECU(Electronic control unit)を構成する1つの半導体集積回路である。半導体装置100は、特に制限されないが、公知のCMOS集積回路の製造技術によって1個の単結晶シリコンのような半導体基板に形成される。具体的には、半導体装置100は、センサ200から出力されたアナログ形式の検出信号をフィルタ回路300を介して入力するとともに前記検出信号をディジタル信号に変換する。そして、半導体装置100は、その変換結果の周波数解析を行うことによりノッキングの発生の有無を判別するとともに、判別結果に応じてプラグの点火タイミングを制御する。半導体装置100は、自己診断機能として、センサ200からの検出信号を入力する信号経路の断線を検出する機能を備える。
半導体装置100は、例えば、入力端子DSAN_P、DSAN_N、データ処理部1、アナログ・ディジタル変換部(A/D変換部)2、信号生成部3、内部周辺バス4、内部メインバス5、並びに、その他の図示されない複数の入力端子及び出力端子や周辺回路等から構成される。
入力端子DSAN_P、DSAN_Nは、センサ200からの検出信号(アナログ信号)を入力するため端子である。例えば、入力端子DSAN_Pは信号線SPと接続され、入力端子DSAN_Nは信号線SNと接続される。なお、以下の説明では、参照符号SP及びSNは、信号線のみならずその信号線を伝播する信号をも表すものとする。
データ処理部1は、例えば、CPU10、メモリ(MRY)11、DMA(Direct Memory Access)コントローラ(DMAC)12等から構成される。CPU10は、メモリ11に格納されたプログラムに係る命令を実行し、演算やデータ転送などの処理を行うプロセッサであり、半導体装置100全体の統括的な制御を行う。メモリ12は、例えばROM(Read Only Memory)や内蔵RAM(Random Access Memory)であり、CPU10が実行するプログラム、及び当該プログラム処理によって算出されたデータを記憶するための記憶領域を備える。DMAコントローラ12は、CPU10のアクセスによって設定された転送制御情報に従ってデータ転送制御を行う。データ処理部1は、半導体装置100全体の統括的な制御を行う。例えば、データ処理部1は、内部周辺バス4や内部メインバス5を介してA/D変換部2と接続され、A/D変換部2によるA/D変換処理の実行と停止を制御するとともに、A/D変換結果を取得し、各種のデータ処理を実行する。データ処理部1によるデータ処理の詳細は後述する。
信号生成部3は、入力端子DSAN_P,DSAN_Nに接続される信号経路における断線検出のための信号(以下、「断線検出用信号」とも称する。)を生成し、信号線SP、SNに供給する。具体的には、信号生成部3は、発振回路30及び容量CP、CNを含んで構成される。発振回路30は、断線検出用信号として、特定の周波数の周期信号を生成する。前記断線検出用信号としては、周期信号であれば特に制限されないが、データ処理システムU1の主たる動作(例えばノッキングコントロールに係る動作)に与える影響を小さくするため、周期信号に含まれる周波数成分が少ない信号が望ましい。本実施の形態では、断線検出用信号は、周波数fxの正弦波信号であるとして説明する。
容量CPは、発振回路30の出力端子と信号線SPとの間に接続され、容量CNは、発振回路30の出力端子と信号線SNとの間に接続される。これにより、発振回路30から出力された断線検出用信号のAC成分が、容量CP、CNを介して信号線SP、SNに入力される。すなわち、A/D変換部2には、センサ200からの検出信号に断線検出用信号のAC成分が重畳された信号SP、信号SNが入力される。
A/D変換部2は、A/D変換処理部21と制御部20とから構成される。制御部20は、例えば、制御レジスタ202及び変換結果格納レジスタ201等のレジスタ群から構成される。制御レジスタ202には、例えば、A/D変換処理部21によるA/D変換処理の実行と停止を指示する情報がCPU10によって設定される。変換結果格納レジスタ201には、A/D変換処理部21による変換結果が格納される。
A/D変換処理部21の正側の入力端子INPは信号線SPに接続され、負側の入力端子INNは信号線SNに接続される。A/D変換処理部21は、制御レジスタ202の設定値に従って、正側の入力端子INPと負側の入力端子INNとの間の電圧を示すアナログ信号に対してA/D変換処理を行い、変換結果を変換結果格納レジスタ201に格納する。特に制限されないが、本実施の形態では、A/D変換処理部21がΔΣ方式のA/D変換回路であるとして説明する。
図2は、A/D変換部2の入力段の詳細な回路構成を例示するブロック図である。同図には、説明の便宜上、半導体装置100の機能部として、A/D変換処理部21、信号生成部300、及び入力端子DSAN_P、DSAN_Nのみが図示される。
図2に示されるように、A/D変換処理部21は、ΔΣ変調器210とディジタルフィルタ211とを含んで構成される。例えば、CPU10が内部メインバス5及び内部周辺バス4を経由して制御レジスタ202にA/D変換のための各種制御情報を設定すると、ΔΣ変調器210が、設定された制御情報に従って正側の入力端子INPと負側の入力端子INNとの間の電圧を示すアナログ信号をオーバーサンプリングし、オーバーサンプリングすることによって取得したデータをΔΣ変調方式によって変調し、変調データを出力する。ディジタルフィルタ211は、ΔΣ変調器210から出力された変調データに対して所定のフィルタ処理を行うとともに、所要のサンプリングレート(サンプリング周波数)に基づくディジタル信号にダウンサンプリングして出力する。ディジタルフィルタ211から出力されたディジタル信号は、A/D変換結果として変換結果格納レジスタ201に格納される。
データ処理部1は、内部メインバス5及び内部周辺バス4を介して、変換結果格納レジスタ201にアクセスし、A/D変換結果を取得する。データ処理部1は、取得したA/D変換結果に対して高速フーリエ変換(FFT)演算を行い、時間の関数で表される時間軸信号を周波数軸上の信号(スペクトル信号)に変換する。そして、データ処理部1は、前記スペクトル信号に基づいてセンサ200の検出信号にノッキングに起因するエンジンの振動に応じた特定の周波数帯域の信号成分が含まれるか否かを判別することにより、ノッキングの発生の有無を判別し、当該判別結果に応じてプラグの点火タイミングを制御するための制御データを生成する。前記制御データは、例えば内部メインバス5や図示されないインターフェース回路等を介して外部に出力される。
更に、データ処理部1は、入力端子DSAN_P,DSAN_Nに接続される信号経路における断線検出のためのデータ処理を行う。具体的には、データ処理部1は、前述の高速フーリエ変換(FFT)演算によって得たスペクトル信号を参照し、A/D変換結果に含まれる断線検出用信号に係る周波数成分(周波数fx)の大きさを判別する。例えば、データ処理部1は、周波数fxにおけるスペクトル信号の大きさが所定の閾値を超えているか否かを判別することにより、入力端子DSAN_P,DSAN_Nに接続される信号経路における断線の有無を判別する。以下、断線検出について詳細に説明する。
前述したように、A/D変換部2に入力される信号SP、SNは、センサ200からの検出信号に断線検出用信号のAC成分が重畳された信号である。重畳される断線検出用信号のAC成分の大きさは、入力端子DSAN_P、DSAN_Nの容量成分によって決定される。具体的には、主に、信号線SP(SN)と発振回路30の出力端子との間に接続される容量CP(CN)と、信号線SP(SN)と外部の接地ノードとの間に接続される容量CFP(CFN)との容量比によって決定される。例えば、容量CPに対する外付けの容量CFPの容量値が大きくなるほど、重畳される断線検出用信号のAC成分は小さくなり、外付けの容量CFPの容量値が小さくなるほど、重畳される断線検出用信号のAC成分は大きくなる。したがって、入力端子DSAN_P、DSAN_Nにおいて断線が発生する前と後では、検出信号に重畳される断線検出用信号のAC成分の大きさが異なる。例えば、容量CFPとして数μFの容量を接続し、容量CFPとして数pFの容量を接続したときに、入力端子DSAN_Pとセンサ200との間の信号経路が断線した場合を考える。この場合、信号線SPには容量CFPが接続されず容量CPのみが接続されるため、検出信号に重畳される断線検出用信号のAC成分は大きくなる。他方、信号線SNには容量CPと容量CFNとが接続されるため、容量CPと容量CFNの容量比により、検出信号に重畳される断線検出用信号のAC成分は小さくなる。そこで、半導体装置100では、入力端子DSAN_P、DSAN_Nの容量成分による信号SP、SNに含まれる断線検出用信号のAC成分の差異を利用し、断線検出を行う。なお、断線していないときのA/D変換結果に与える影響を小さくするため、容量CP、CNは、フィルタ回路300における容量CFP、CFNよりも小さい容量値とされる。
図3は、断線していない場合のA/D変換結果のスペクトル特性を例示する説明図である。同図に示される参照符号401は、入力端子DSAN_Pに接続される信号経路及び入力端子DSAN_Nに接続される信号経路の双方に断線が無い場合におけるA/D変換結果のスペクトル特性の一例である。例えば、ノッキングが発生している場合、ノッキングに起因するエンジンの振動に応じた周波数fdの信号成分が検出される。他方、重畳される断線検出用信号に起因する信号成分(周波数fx)は小さい。
図4は、断線している場合のA/D変換結果のスペクトル特性を例示する説明図である。同図に示される参照符号402は、例えば、入力端子DSAN_Pに接続される信号経路が断線している場合におけるA/D変換結果のスペクトル特性の一例である。この場合、前述したように、信号線SPには容量CPのみが接続されるため、信号SPに含まれる断線検出用信号に起因する信号成分(周波数fx)が大きくなる。
データ処理部1は、断線検出用信号に起因する信号成分(周波数fx)のスペクトル信号の大きさが、閾値400を超えるか否かによって、断線の有無を判別する。例えば、図3のように周波数fxでのスペクトル信号の大きさが閾値400を超えない場合には、データ処理装置1は、入力端子DSAN_Pに接続される信号経路及び入力端子DSAN_Nに接続される信号経路が断線していないと判断する。一方、図4のように周波数fxでのスペクトル信号の大きさが閾値400を超える場合には、データ処理装置1は、入力端子DSAN_Pに接続される信号経路又は入力端子DSAN_Nに接続される信号経路が断線していると判断する。なお、断線検出のためのデータ処理を行うタイミングは、特に制限されない。例えば、データ処理システムU1のパワーオンリセット解除後に行ってもよいし、データ処理システムU1の動作中に定期的に行っても良い。
以上のように、実施の形態1に係る半導体装置100は、断線の有無に応じてA/D変換部2の入力信号経路における容量成分が変化することを利用し、容量結合により前記入力信号経路に入力した周期信号に係る周波数成分の大きさに基づいて、A/D変換部2の入力信号経路の断線を検出することができる。また、半導体装置100は、前述の特許文献1及び2のように断線時のA/D変換結果が特定の電圧値(DC値)になるようにするものではないから、本実施の形態のようにA/D変換部2が入力段のインピーダンスが低いΔΣ方式のA/D変換器を備えるデータ処理システムに適用することができるし、差動方式のA/D変換器や逐次比較型のA/D変換器を備えるデータ処理システムにも適用することができる。また、本半導体装置はA/D変換器を用いた様々なデータ処理システムに適用することができるが、上述したノックコントロールシステムのように、センサからの検出信号をA/D変換器によってディジタル信号に変換し、その変換結果の周波数解析を行うようなデータ処理システムに適用すると、特に有効である。すなわち、このようなデータ処理システムであれば、断線検出のために周波数解析ブロックを別途設けずに、既存のデータ処理システムの周波数解析ブロックを用いて断線検出のための周波数解析を行うことができる。これにより、データ処理システムとしての主たる目的を実現するための機能部の大規模な設計変更を行うことなく、回路規模の増大を抑えて、断線検出機能を追加することができる。以上のように断線検出機能を備える半導体装置100は、A/D変換器を備えるシステムに広く適用することができる。
≪実施の形態2≫
図5は、本願の実施の形態2に係る半導体装置を例示するブロック図である。
図5は、本願の実施の形態2に係る半導体装置を例示するブロック図である。
同図に示されるデータ処理システムU2を構成する半導体装置101は、半導体装置100の機能に加えて、断線検出の検出感度や断線検出用信号の周波数を調整する機能を備える。なお、同図において、データ処理システムU1と同様の構成要素には同一の符号を付して、その詳細な説明を省略する。
図5に示されるように、A/D変換部6における制御部22は、前述した制御レジスタ202及び変換結果格納レジスタ201に加え、検出感度設定レジスタ205、周波数設定レジスタ204、及び容量値設定レジスタ203を更に備える。検出感度設定レジスタ205、周波数設定レジスタ204、及び容量値設定レジスタ203は、データ処理部1によってアクセス可能とされ、例えば半導体装置101のパワーオンリセット解除後に、CPU1によって内部メインバス5及び内部周辺バス4を介して所定の値が設定される。
検出感度設定レジスタ205には、断線の有無を判別するための基準となる、断線検出用信号に起因する周波数成分のスペクトル信号の大きさを判定するための閾値を示す値が設定される。例えば、データ処理部1は、断線検出のための処理を行う際、検出感度設定レジスタ205の設定値に応じて前記閾値を決定し、断線検出用信号に起因する周波数成分のスペクトル信号が前記閾値を超えているか否か判別することにより、断線の有無を判定する。周波数設定レジスタ204及び容量値設定レジスタ203の詳細については後述する。
半導体装置101における信号生成部7は、発振回路70と、容量回路CPX、CNXとを備える。
発振回路70は、周波数設定レジスタ204の設定値に応じた周波数の断線検出用信号を生成して出力する。周波数設定レジスタ204には、断線検出用信号の周波数を指示する値が設定される。
容量回路CPXは、例えば、複数の容量CP0〜CPn(nは1以上の整数)と、複数のスイッチ素子SWP0〜SWPnとから構成される。同様に、容量回路CNXは、例えば、複数の容量CN0〜CNnと、複数のスイッチ素子SWN0〜SWNnとから構成される。容量回路CPX、CNXの容量値は、容量値設定レジスタ203によって決定される。容量値設定レジスタ203には、容量回路CPX、CNXの容量値を指示する値が設定される。例えば、容量回路CPXは、容量値設定レジスタ203の設定値に従ってスイッチ素子SWP0〜SWPnのオン・オフが制御されることにより、発振回路70の出力端子と信号線SPとの間に接続される容量の容量値が可変にされる。これにより、外付け容量CFPと容量回路CPXの容量比を調整することができる。同様に、容量値設定レジスタ203の設定値に従ってスイッチ素子SWN0〜SWNnのオン・オフが制御されることにより、外付け容量CFNと容量回路CNXの容量比を調整することができる。容量回路CPX、CNXの容量比を調整することにより、検出信号に重畳される断線検出用信号のAC成分の大きさ、すなわち、A/D変換結果に係るスペクトル信号の周波数fxにおける大きさを調整することができる。
図6は、A/D変換部6によるA/D変換結果のスペクトル特性を例示する説明図である。同図において参照符号500は、断線検出用信号に起因する周波数成分のスペクトル信号の大きさを判定するための閾値を表し、周波数fxは発振回路70によって生成される断線検出用信号の周波数を表す。
図6に示されるように、閾値500の大きさは、検出感度設定レジスタ205の設定値に応じて調整可能にされる。これにより、断線検出の検出感度を調整することができる。例えば、容量値の小さい外付け容量CFP、CFNを用いるデータ処理システムの場合、外付け容量CFP、CFNに対する容量回路CPX、CNXの容量の比率が大きくなるので、断線が起きていない正常動作時における前記検出信号に重畳される断線検出用信号のAC成分が大きくなる。その結果、断線が起きていない正常動作時におけるA/D変換結果のスペクトル信号の周波数fxでのピーク値が大きくなり、誤検出の虞がある。本半導体装置101によれば、閾値500の大きさを調整することができるので、データ処理システムの構成によらず断線検出の検出感度を最適な状態にすることができる。
また、図6に示されるように、周波数fxは、周波数設定レジスタ204の設定値に応じて調整可能にされる。これにより、データ処理システム主たる検出目的とされる周波数帯域内に、断線検出のための前記所定の周波数が含まれないように調整することが可能となり、主たるデータ処理システムの動作に与える影響を小さくすることができる。例えば、搭載するエンジンによってノッキング発生時の検出信号の周波数が変わるノッキングコントロールシステムのように、検出目的の周波数が搭載するシステムによって変わるような場合には、主たる検出動作に影響を与えないように、断線検出用信号の周波数を調整することができる。
更に、図6に示されるように、周波数fxにおけるスペクトル信号の大きさは、容量値設定レジスタ203の設定値によって調整可能にされる。例えば、容量回路CPX(CNX)の容量値を小さくすると、参照符号502のように周波数fxにおけるスペクトル信号のピークが小さくなり、容量回路CPX(CNX)の容量値を大きくすると、参照符号501のように周波数fxにおけるスペクトル信号のピークが大きくなる。このように、容量回路CPX,CNXの容量値を調整することで、適用するシステムに適した検出感度になるように調整することが可能となる。例えば、外付け容量CFP、CFNが小さいデータ処理システムでは、容量回路CPX、CNXの容量値を小さくすることで、断線が起きていない正常状態において、断線検出信号によるアナログ・ディジタル変換結果に与える影響を小さくすることができる。
以上、実施の形態2に係る半導体装置101によれば、半導体装置100と同様に、A/D変換部2の入力信号経路の断線を検出することができる。また、上述したように、断線検出の検出感度や断線検出用信号の周波数を調整する機能を備えることで、応用範囲がより広がり、より多くのA/D変換器を備えるシステムに適用することが可能となる。
以上本発明者によってなされた発明を実施形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。
例えば、発振回路30、70によって生成される断線検出用信号が正弦波信号である場合を例示したが、これに限られず、矩形波(パルス)信号等の非正弦波信号であってもよい。
また、フィルタ回路300として、CRローパスフィルタを例示したが、これに限られない。例えば、容量CP、CNとの容量比の関係で、A/D変換部2の入力信号に重畳される断線検出用信号のAC成分の大きさが断線の有無によって相違する構成のフィルタ回路であれば、半導体装置100、101によって断線検出を行うことができる。例えば、OPアンプを用いたアクティブフィルタでも良い。
また、実施の形態2における容量回路CPX、CNPの構成は、図5に示される回路構成に限られず、容量値が調整できる構成であれば別の回路構成であってもよい。
U1 データ処理システム
200 センサ
300 フィルタ回路
RP、RN 外付けの抵抗
CFP、CFN 外付けの容量
100 半導体装置
DSAN_P 正側の入力端子
DSAN_N 負側の入力端子
SP 信号線、及び当該信号線を伝播する信号
SN 信号線、及び当該信号線を伝播する信号
1 データ処理部
10 CPU
11 メモリ部(MRY)
12 DMAC
3 信号生成部
30 発振回路
CP、CN 容量
4 内部周辺バス
5 内部メインバス
2 A/D変換部
20 制御部
201 変換結果格納レジスタ
202 制御レジスタ
21 A/D変換処理部
210 ΔΣ変調器
211 ディジタルフィルタ
INP ΔΣ変調器210の正側の入力端子
INN ΔΣ変調器210の負側の入力端子
401 断線していない場合のA/D変換結果のスペクトル特性
402 断線している場合のA/D変換結果のスペクトル特性
400 閾値
fd ノッキングに起因するエンジンの振動に応じた周波数
fx 断線検出用信号の周波数
U2 データ処理システム
101 半導体装置
6 A/D変換部
22 制御部
203 容量値設定レジスタ
204 周波数設定レジスタ
205 検出感度設定レジスタ
7 信号生成部
70 発振回路
CPX、CNX 容量回路
CP0〜CPn、CN0〜CNn 容量
SWP0〜SWPn、SWN0〜SWNn スイッチ素子
500 閾値
501 容量回路CPX(CNX)を大きくした場合のA/D変換結果のスペクトル特性
502 容量回路CPX(CNX)を小さくした場合のA/D変換結果のスペクトル特性
200 センサ
300 フィルタ回路
RP、RN 外付けの抵抗
CFP、CFN 外付けの容量
100 半導体装置
DSAN_P 正側の入力端子
DSAN_N 負側の入力端子
SP 信号線、及び当該信号線を伝播する信号
SN 信号線、及び当該信号線を伝播する信号
1 データ処理部
10 CPU
11 メモリ部(MRY)
12 DMAC
3 信号生成部
30 発振回路
CP、CN 容量
4 内部周辺バス
5 内部メインバス
2 A/D変換部
20 制御部
201 変換結果格納レジスタ
202 制御レジスタ
21 A/D変換処理部
210 ΔΣ変調器
211 ディジタルフィルタ
INP ΔΣ変調器210の正側の入力端子
INN ΔΣ変調器210の負側の入力端子
401 断線していない場合のA/D変換結果のスペクトル特性
402 断線している場合のA/D変換結果のスペクトル特性
400 閾値
fd ノッキングに起因するエンジンの振動に応じた周波数
fx 断線検出用信号の周波数
U2 データ処理システム
101 半導体装置
6 A/D変換部
22 制御部
203 容量値設定レジスタ
204 周波数設定レジスタ
205 検出感度設定レジスタ
7 信号生成部
70 発振回路
CPX、CNX 容量回路
CP0〜CPn、CN0〜CNn 容量
SWP0〜SWPn、SWN0〜SWNn スイッチ素子
500 閾値
501 容量回路CPX(CNX)を大きくした場合のA/D変換結果のスペクトル特性
502 容量回路CPX(CNX)を小さくした場合のA/D変換結果のスペクトル特性
Claims (9)
- 信号を入力する入力端子と、
前記入力端子と電気的に接続される信号線と、
前記信号線の電圧を示すアナログ信号をディジタル信号に変換するアナログ・ディジタル変換部と、
所定の周波数の信号を生成し、容量素子を介して前記信号線に出力する信号生成部と、
前記アナログ・ディジタル変換部による変換結果に含まれる前記所定の周波数に係るスペクトルの大きさに基づいて、前記入力端子に接続される信号経路の断線の有無を判別可能にするデータ処理部と、を有する半導体装置。 - 前記データ処理部は、前記所定の周波数に係るスペクトルが所定の閾値よりも大きい場合には、前記入力端子に接続される信号経路に断線が有ると判断し、前記所定の周波数に係るスペクトルが所定の閾値よりも小さい場合には、前記入力端子に接続される信号経路に断線が無いと判断する請求項1に記載の半導体装置。
- 第1記憶部を更に有し、
前記信号生成部は、前記第1記憶部に設定された値に基づいて前記所定の周波数を決定する請求項2に記載の半導体装置。 - 第2記憶部を更に有し、
前記信号生成部は、前記第2記憶部に設定された値に基づいて前記容量素子の容量値を決定する請求項2に記載の半導体装置。 - 第3記憶部を更に有し、
前記データ処理部は、前記第3記憶部に設定された値に基づいて前記所定の閾値を決定する請求項2に記載の半導体装置。 - 前記所定の周波数の信号は、正弦波信号である請求項2に記載の半導体装置。
- センサと、
前記センサからの検出信号を入力するフィルタ回路と、
前記フィルタ回路を介して出力された前記検出信号を前記入力端子に入力する請求項1に記載の半導体装置と、を有するデータ処理システム。 - 前記信号生成部における容量素子は、前記フィルタ回路を構成する容量素子よりも容量値が小さい請求項7に記載のデータ処理システム。
- 前記アナログ・ディジタル変換部は、デルタ・シグマ変調方式に基づいて、入力したアナログ信号を所要のサンプリングレートに基づくディジタル信号に変換して出力する請求項8に記載のデータ処理システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012112445A JP2013239964A (ja) | 2012-05-16 | 2012-05-16 | 半導体装置及びデータ処理システム |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012112445A JP2013239964A (ja) | 2012-05-16 | 2012-05-16 | 半導体装置及びデータ処理システム |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012112445A Pending JP2013239964A (ja) | 2012-05-16 | 2012-05-16 | 半導体装置及びデータ処理システム |
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JP (1) | JP2013239964A (ja) |
-
2012
- 2012-05-16 JP JP2012112445A patent/JP2013239964A/ja active Pending
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