JP2013231888A - 焦点位置検出装置およびそれを用いた撮像システム - Google Patents

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Abstract

【課題】 Fナンバー、被写体位置に依存せず、高精度なオートフォーカスシステムを位相差方式で実現すること。
【解決手段】 A偏光の光束を瞳分割後に、片方の光束のみ半波長板で偏光状態をAからB偏光に変化させる。2つの光束を分割するミラーにPBS(偏光ビームスプリッター)を使用することでフォーカス位置から被写体が大きく離れていても焦点検出を可能にする。
【選択図】 図1

Description

本発明は、放送用カメラ(TVカメラ)、デジタルスチルカメラ、ビデオカメラなどに用いられる撮影レンズにおける焦点位置情報を得るのに好適な撮像システムに関する。
近年、テレビカメラ用の撮像システムには、撮像素子の高画素化、および表示機器の大型化に伴い、より高精細な映像が求められる。特に、フォーカシングにおいては、カメラに搭載されるビューファインダーの制約から、求められる高精細映像を実現するのが非常に困難になっている。そこで、高精度で迅速にオートフォーカス(自動合焦)ができることが切望されている。
高精度なオートフォーカスを行う方式の一つとして、「位相差方式」がある。この方式では、光軸に対し偏心させた対の絞りとレンズを用い、光束の一部をそれぞれ結像させる。偏心させた光路を通るため、その光軸と垂直な方向における光束位置の変移は物体距離に依存する。光束位置の変移量を観察することで測距を行う(非特許文献1)。
SMPTE Motion Imaging Journal March 2008 P22-29
図8に従来の位相差方式の一形態に関する模式図を示す。従来の位相差方式においては、図8に示したように、レンズ絞り801を含み一次結像面へ像を形成する1次結像光学系G1、瞳分割絞り802とそれに対応する眼鏡レンズ803を含む2次結像光学系G2から構成されている。ここでいう眼鏡レンズとは、瞳分割絞りによって分割された光束を、各々の光電変換素子上に結像させるための偏心レンズ対のことをいう。1次結像光学系G1を通り第一結像点を結んだ光束は2次結像光学系に導かれ、光軸に対し対称な位置に配置される瞳分割絞り802により、2つの光束に分割される。2つの光束は、それぞれ眼鏡レンズ803を通り、光電変換素子804に結像される。物体距離に応じて、光束位置が光軸と垂直な方向に移動する。
しかし、2次結像光学系上に瞳分割絞り802を設けることから、測距をするためには1次結像光学系に制約を設ける必要がある。具体的には、レンズ絞り801と瞳分割絞り802との間に瞳結像的な共役関係を満たす必要がある。ここでいう瞳結像的な共役関係とは、レンズ絞り(801)面上の物体が瞳分割絞り(802)面上に結像するように、1次結像光学系の射出瞳位置を構成することを意味する。このような共役関係を満たすことにより、軸外光束についても、けられることなく、測距することが可能となる。
さらに、本形態の位相差方式では、瞳分割間隔807(基線長)が固定である。瞳分割間隔807は測距できる最大Fナンバーを決定する。図8において、レンズ絞り801は測距できる最大Fナンバーの位置にある。これ以上絞ると、測距のために用いる光束がけられ、センサーに光が届かないため、測距できない。従って、本形態の位相差方式では、2次結像系の瞳分割間隔によって、測距できる最大Fナンバーが決定してしまう。測距できるFナンバーを広く取るためには、瞳分割間隔を短くとる必要がある。
加えて、瞳分割間隔807は測距精度にも影響を与える。物体距離に対する2次結像光学系透過後の(光軸に垂直な方向の)光束位置の変移量は、瞳分割間隔807が大きいほど大きい。従って、瞳分割間隔807を短くしてしまうと、測距の精度が下がってしまう。
本発明の目的は、上記の諸問題を解決するためになされたものであり、位相差方式において、Fナンバーおよび被写体距離に依らず、大ボケ状態からも高精度な測距を実現する撮像システムを提供するものである。
上記目的を達成するために、本発明では、位相差方式により焦点位置検出を行うオートフォーカスシステムを持ち、瞳分割の間隔を可変にすることを特徴とした撮像システムにおいて、分割した双方の光束を異なる偏光状態とし、偏光ビームスプリッターを用いて光束を分離することを特徴とする。
本発明の更なる目的又はその他の特徴は、以下、添付の図面を参照して説明される好ましい実施例等によって明らかにされるであろう。
本発明によれば、位相差方式において、Fナンバーおよび被写体距離に依らず高精度な測距を実現する撮像システムが得られる。
実施例1における光学配置の模式図 本発明における光学配置の模式図 実施例2における光学配置の模式図(元5) 実施例2の軸上光束における瞳分割エリア(元3) 実施例2の軸外光束における瞳分割エリア(元4) 実施例3における光学配置の模式図 実施例4における光学配置の模式図 従来の位相差方式の模式図
以下に、本発明の実施の形態を添付の図面に基づいて詳細に説明する。
図2に本発明の位相差方式の模式図を示す。本発明の位相差方式は、1次結像光学系に瞳分割絞り202を配置している。ここでいう1次結像光学系とは、中間結像点を持たない、すなわち本線撮像系と等価な一次結像面へ像を形成する光学系を指す。1次結像光学系中には、偏光板等を用いることで、光線の偏光方向を予め揃えておく。瞳分割絞り202は光軸と垂直な方向に開口位置を変化させることができ、瞳分割絞り間隔を可変にする。これは、Fナンバーに応じて瞳分割間隔を可変にすることにより、レンズ絞りを絞ることによる光線のけられをなくすためである。瞳分割絞り202によって分割される光束の片方に図のような半波長板207を配置する。これにより、それぞれの光束が異なる直線偏光方向を持つ。一次結像面には光電変換素子204、205を配置している。また、瞳分割絞り202により分割された光束をそれぞれ異なる光電変換素子204、205で検出するために、2つの光束を分離するための偏光ビームスプリッター(以後PBSと呼ぶ)203を配置している。PBSを用いることで、図のように光束が交差するような大ボケ時でも、正しい光電変換素子に光束を導くことができる。
また、瞳分割間隔は測距の精度にも影響を与える。位相差方式の場合、瞳分割間隔が大きいほど測距精度が高い。本発明においては、Fナンバーが小さい場合、即ち、焦点深度が浅く高い測距精度が必要な場合に瞳分割間隔を大きくすることができる。
[実施例1]
図1に示す実施例1は、本発明における光学配置の一例である。ズームレンズなどの本線光学系の光路中に、検出光学系へ光束の一部を導く偏光分岐プリズム103が配置されている。分岐プリズムは光束の偏光成分によって分岐する偏光プリズムとなっており、検出光学系側にS偏光の一部、残りのS偏光とP偏光成分を撮像素子105側に分岐している。(以後、偏光プリズム反射面に対し、垂直な偏光成分を持つS偏光と同じ偏光方向をA偏光と呼ぶ。また、同じく反射面に対し平行な偏光成分を持つP偏光と同じ偏光方向をB偏光と呼ぶ。)分岐プリズムの前後には、偏光状態を解消するための偏光解消板102が構成されている。前の偏光解消板は、反射光やPLフィルターを透過した光など、入射する光が偏光している場合を想定して構成している。また後ろの偏光解消板は撮像素子前に色分解光学系やLPFが配置される場合など、撮像において偏光による影響を受けることを想定して配置している。検出光学系に分岐した光束は、瞳分割絞り(液晶素子)106により瞳分割される。この瞳分割絞り(液晶素子)は光軸と垂直な面上において、瞳分割間隔や分割位置を自由に変化させることができる。この瞳分割間隔は、レンズ絞りのFナンバー、測距する画角のヴィネッティング状態に応じて能動的に変化させることができる。使用する光束のうちなるべく広い間隔で瞳分割したほうが測距精度は高い。また液晶素子は、電荷を加えない場合、光束の偏光方向を回転させる機能を持つ。
本実施例においては、90度偏光方向を回転させるとする。従って、瞳分割絞り(液晶素子)106を通った光束はA偏光からB偏光に変化する。瞳分割絞り(液晶素子)106の後には、半波長板が片方の光束にのみ配置されている。これにより2つに分割された高速の片方のみB偏光からA偏光に変化する。こうして、それぞれ異なる直線偏光方向を持つ2つの光束は、結像させるための検出光学系を通り、PBS108によりそれぞれ別の光電変換素子(109,110)に結像する。PBS108を用いることにより、デフォーカス量が大きく、PBS上で光束が交差するような場合でも、正しい光電変換素子に光束を導くことができる。また、位相差方式は、光束の一部を用いて測距する方式であるため、物体距離が同じであっても、光束のうちのどの部分を用いるかに応じて収差量が変わる。即ち、分割した2つの像の像面上における光束位置の変移量が変化してしまう。従って、その変化量を考慮した補正値を持つ必要がある。従来の位相差方式においては、瞳分割間隔は固定されており、光束の中で使用する部分が一定であるため、変化量を考慮する必要はなかった。また、同様にズームレンズのように焦点距離に変化のあるレンズに適用する場合も、収差に変動があることから、補正値を持つ必要がある。
[実施例2]
図3に示す実施例2は、本発明における光学配置の別の一例である。実施例1と異なるのは、分割した片方の偏光方向を変化させる半波長板の代わりに液晶を用いている点である。液晶は電荷をかけないと、偏光方向を回転させるので、半波長板と同じ機能を有することができる。部分的に電荷をかけることで、ある一部分のみ半波長板として機能させることができる。
図4は、実施例2の瞳分割絞り305上において中心画界の測距をする際に、瞳分割をする光束エリアの一例を図示したものである。レンズ絞り310上の光束を光束分離プリズム302側から見た平面図を示した。図4<A>は本線光学系に対する水平方向に瞳分割する際の図、図4<B>はそれに対し、45°傾けた際の図である。401、405がF2.8の中心光束、402、406がF5.6の中心光束である。中心光束とは画角0の軸上光束を意味する。従来の位相差方式は、瞳分割間隔が固定であるため、例えば401に合わせて403のように間隔を決定すると、F5.6ではけられてしまい、測距できない。そこで、従来の位相差方式においては複数の眼鏡レンズを持ち、さらに光電変換素子上に複数の受光部を作りこむことで対処していた。本発明においては、瞳分割間隔を能動的に変更できるため、図4のようにFナンバーに応じた瞳分割を行うことができる。また、図4<A>のように水平方向に瞳分割すると、瞳分割方向と垂直な方向にコントラストの濃淡を持つストライプ模様(例えば、横ストライプ)の物体を撮影した場合、測距できない可能性がある。その場合は図4<B>のように水平方向から傾けた方向に瞳分割すると測距ができるようになる。実際にはさまざまな被写体があることから、図4<A>の水平方向と図4<B>の45°方向のような2方向の測距を行い、合焦させても良い。
図5<A>は、実施例2の305上において周辺画界の測距をする際に、瞳分割する光束エリアの一例を図示したものである。図4と同様の平面図で示した。図5<B>には、軸上光束と軸外光束の模式図を示した(簡単にするために偏光分岐プリズムや本線リレー光学系を省略してある)。図5<B>における瞳分割絞り面506が図5<A>にあたる。周辺画界の光束である軸外光束は、図5<B>のようにヴィネッティングの影響で図5<A>に示したような変形した光束である場合が多い。特に、一次結像光学系における軸外光束は、レンズ絞り面以外では必ず図5のような変形した光束を取る。従って、本発明において軸外光束を測距する場合、光束の変形の仕方を、測距する画界、瞳分割絞りを挿入する面、Fナンバーから算出し、図5<A>のように瞳分割位置を決定する必要がある。
また、このようにレンズ絞りを絞ったり、周辺画界の測距をする場合、瞳分割位置の変化に応じて半波長板(もしくはそれに変わるもの)の位置を変更する必要がある。実施例1のような半波長板を用いる場合は機械的に位置を変える必要がある。本実施例のような液晶を用いれば、半波長板としての機能をする部分は、電荷印加の有無で制御することが可能になり、より簡便に測距ができる。
[実施例3]
図6に示す実施例3は、本発明における光学配置の別の一例である。実施例1と異なるのは、瞳分割絞り(液晶素子)、半波長板を別の位置(ここでは検出光学系の後)に配置している点である。従来の位相差方式においては、瞳結像的な共役関係を満たす必要があるため、瞳分割絞りの配置位置に制約があった。本発明においては、瞳分割絞りを光学系内のどこに配置しても良いという特長がある。
[実施例4]
図7に示す実施例4は、瞳分割絞りとして機械絞りを用いた一例である。実施例1のように液晶を用いていないため、光束の偏光方向が回転しない。従って半波長板を入れる光束が実施例1と逆になっている。
なお、この発明は、前記一実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を変更しない範囲で種々変形可能である。例えば、偏光解消板(102,331,602,702)は用途や性能、精度、コストなどを鑑み、構成しないなどが考えられる。
101 本線光学系ズーム部
102 偏光解消素子
103 偏光分岐プリズム
104 本線光学系リレー部
105 撮像素子
106 瞳分割絞り(液晶素子)
107 検出光学系
108 偏光ビームスプリッター(PBS)
109 A像光電変換素子
110 B像光電変換素子
111 レンズ絞り
112 半波長板
201 レンズ絞り
202 瞳分割絞り
203 光束分離ミラー
204 A像光電変換素子
205 B像光電変換素子
206 瞳分割間隔
207 半波長板
301 本線光学系ズーム部
302 偏光分岐プリズム
303 本線光学系リレー部
304 撮像素子
305 瞳分割絞り(液晶素子)
306 検出光学系
307 偏光ビームスプリッター(PBS)
308 A像光電変換素子
309 B像光電変換素子
310 レンズ絞り
401 Fno:2.8の光束
402 Fno:5.6の光束
403 Fno:2.8時の瞳分割位置
404 Fno:5.6時の瞳分割位置
405 Fno:2.8の光束
406 Fno:5.6の光束
407 Fno:2.8時の瞳分割位置
408 Fno:5.6時の瞳分割位置
501 軸外光束
502 軸上光束
503 軸外光束(501)の瞳分割位置
504 軸上光束(502)の瞳分割位置
505 物体面
506 瞳分割絞り面(瞳分割絞り106位置に相当)
507 像面(A、B像光線変換素子109,110位置に相当)
601 本線光学系ズーム部
602 偏光解消素子
603 偏光分岐プリズム
604 本線光学系リレー部
605 撮像素子
606 瞳分割絞り(液晶素子)
607 検出光学系
608 偏光ビームスプリッター(PBS)
609 A像光電変換素子
610 B像光電変換素子
611 レンズ絞り
612 半波長板
701 本線光学系ズーム部
702 偏光解消素子
703 偏光分岐プリズム
704 本線光学系リレー部
705 撮像素子
706 瞳分割絞り(機械絞り)
707 検出光学系
708 偏光ビームスプリッター(PBS)
709 A像光電変換素子
710 B像光電変換素子
711 レンズ絞り
712 半波長板
801 レンズ絞り
802 瞳分割絞り
803 眼鏡レンズ
804 光電変換素子
805 一次結像面
806 二次結像面
807 瞳分割間隔。

Claims (9)

  1. 位相差方式により焦点位置検出を行うオートフォーカスシステムを持ち、瞳分割の間隔を可変にすることを特徴とした撮像システムにおいて、
    分割した双方の光束を異なる偏光状態とし、偏光ビームスプリッターを用いて光束を分離することを特徴とする撮像システム。
  2. ある直線偏光方向をA偏光、それと直交する偏光方向をB偏光とし、A偏光光線を瞳分割し、分割する光束の片方にのみ半波長板を通過させ、B偏光に変えることを特徴とした請求項1に記載の撮像システム。
  3. 半波長板として液晶を用いることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の撮像システム。
  4. 瞳分割の間隔に応じ、補正値を持つことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の撮像システム。
  5. 焦点距離に応じ、補正値を持つことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の撮像システム。
  6. 瞳分割をするための偏心絞りに液晶を用いることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の撮像システム。
  7. 瞳分割の方向を水平方向に対し、傾けることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の撮像システム。
  8. 瞳分割の方向として異なる2方向の焦点位置検出を行うことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の撮像システム。
  9. 測距を行う光電変換素子として、エリアセンサーを用いることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の撮像システム。
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