JP2013215804A - Laser processing apparatus - Google Patents

Laser processing apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP2013215804A
JP2013215804A JP2013056572A JP2013056572A JP2013215804A JP 2013215804 A JP2013215804 A JP 2013215804A JP 2013056572 A JP2013056572 A JP 2013056572A JP 2013056572 A JP2013056572 A JP 2013056572A JP 2013215804 A JP2013215804 A JP 2013215804A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser light
laser
light source
processing apparatus
optical system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013056572A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hong Ki Kim
キ キム、ホン
Do Yeong Yoon
イーオン ヨーン、ド
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electro Mechanics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electro Mechanics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electro Mechanics Co Ltd filed Critical Samsung Electro Mechanics Co Ltd
Publication of JP2013215804A publication Critical patent/JP2013215804A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/06Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
    • B23K26/0604Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by a combination of beams
    • B23K26/0608Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by a combination of beams in the same heat affected zone [HAZ]
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/06Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
    • B23K26/064Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by means of optical elements, e.g. lenses, mirrors or prisms

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a laser processing apparatus capable of reducing damages to a light modulator and improving productivity in a process of processing a workpiece using laser light with high light energy.SOLUTION: A laser processing apparatus includes: a first laser light source 10 and a second laser light source 20 for emitting laser light; a light modulator 30 for selecting and forming the laser light emitted from the first laser light source 10; and an irradiation optical system 40 for irradiating a workpiece B with the laser light.

Description

本発明は、レーザ加工装置に関し、特に、レーザ光を照射して加工対象物を加工するレーザ加工装置に関する。   The present invention relates to a laser processing apparatus, and more particularly to a laser processing apparatus that processes a workpiece by irradiating a laser beam.

一般に、液品ディスプレイ(LCD:Liquid Crystal Display)やプラズマディスプレイパネル(PDP:Plasma Display Panel)などの平板ディスプレイ(FPD:Flat Panel Display)、半導体ウエハ(wafer)、積層プリント基板(multilayer Printed Circuit Board)などの基板にパターンを形成するのには、該基板にパターン材料を塗布し、フォトマスク(Photomask)を用いて該パターン材料に選択的に露光を施して、化学的性質の変わったパターン材料部分またはその以外の部分を選択的に除去する工程が用いられる。   In general, flat display (FPD: Flat Panel Display) such as liquid product display (LCD: Liquid Crystal Display) and plasma display panel (PDP: Plasma Display Panel), semiconductor wafer (wafer), multilayer printed circuit board (multilayer printed circuit board). In order to form a pattern on a substrate, etc., a pattern material is applied on the substrate, and the pattern material is selectively exposed using a photomask, so that the pattern material portion having a changed chemical property is used. Alternatively, a step of selectively removing other portions is used.

また、最近には、フォトマスクの代わりに、空間光変調器(SLM:spatial light modulator)を用いて基板上の予め決められた位置、方向及び形状にレーザ光を照射してパターンを形成する、レーザを用いる加工装置が用いられている。   Recently, instead of a photomask, a spatial light modulator (SLM) is used to irradiate laser light at a predetermined position, direction, and shape on a substrate to form a pattern. A processing apparatus using a laser is used.

該空間光変調器は、主にガルバノミラー(galvano mirror)や多面鏡(polygon mirror)を用いる1次元スキャナを使っている。これに比べて、DMD(Digital Micromirror Device)のようなアレイタイプの空間光変調器が一度にレーザ光を照射することができる領域が広く、生産性が向上すると共に加工装備の構成及び制御方法が比較的簡単になるという長所がある。   The spatial light modulator mainly uses a one-dimensional scanner using a galvano mirror or a polygon mirror. Compared to this, the array type spatial light modulator such as DMD (Digital Micromirror Device) has a wider area that can irradiate laser light at a time, improving the productivity and improving the configuration and control method of the processing equipment. It has the advantage of being relatively easy.

韓国公開特許第10−2009−0012470号公報Korean Published Patent No. 10-2009-0012470 韓国公開特許第10−2009−0033817号公報Korean Published Patent No. 10-2009-0033817

ガルバノミラや多面鏡を用いる1次元スキャナの場合、十分な大きさの反射面を用いて製作され、加工に必要なレーザ光の波長や光エネルギを収容可能な材料として用いられる。また、コーティングなどの処理が可能で、レーザ光による損傷が発生されない。しかしながら、アレイタイプの空間光変調器の場合、十分な空間分解能を得るために半導体工程などによって微細な大きさに製作される。そのため、加工に必要なレーザ光の光エネルギを耐えるための材料やコーティングなどの処理ができなく、加工に必要なレーザ光のような光エネルギに耐えなく劣化してしまうという不都合がある。   In the case of a one-dimensional scanner using a galvano mirror or a polygon mirror, it is manufactured using a sufficiently large reflecting surface, and is used as a material that can accommodate the wavelength and optical energy of laser light necessary for processing. In addition, a coating or the like can be performed, and damage due to laser light is not generated. However, in the case of an array type spatial light modulator, it is manufactured in a fine size by a semiconductor process or the like in order to obtain sufficient spatial resolution. For this reason, there is a problem that a material or a coating for enduring the optical energy of the laser beam necessary for processing cannot be processed, and the optical energy such as the laser beam necessary for processing is deteriorated without being endured.

また、ガルバノミラまたは多面鏡などの1次元スキャナのように、レーザ光による損傷が発生しない場合、加工に必要な十分な光エネルギを加工対象物に印加しなければならないため、該加工対象物にレーザ光を印加する時間が長くなり、生産性に限界がある。   Further, in the case where damage due to laser light does not occur as in a one-dimensional scanner such as a galvano mirror or a polygonal mirror, sufficient light energy necessary for processing must be applied to the processing target. The time for applying light becomes longer, and the productivity is limited.

本発明は上記の問題点に鑑みて成されたものであって、その目的は、高い光エネルギのレーザ光が用いられる加工対象物の加工工程において、光変調器の損傷を減らすと共に、生産性を向上することができる、レーザ加工装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and its object is to reduce damage to the optical modulator and improve productivity in a processing process of a processing object in which a laser beam with high light energy is used. An object of the present invention is to provide a laser processing apparatus that can improve the above.

上記目的を解決するために、本発明の実施形態1によるレーザ加工装置は、レーザ光を発光する第1のレーザ光源及び第2のレーザ光源と、前記第1のレーザ光源から発光されたレーザ光を選択して形象化する光変調器と、前記レーザ光を加工対象物に照射する照射光学系とを含む。   In order to solve the above-described object, a laser processing apparatus according to Embodiment 1 of the present invention includes a first laser light source and a second laser light source that emit laser light, and laser light emitted from the first laser light source. And an irradiation optical system for irradiating the workpiece with the laser light.

一実施形態によれば、前記第1のレーザ光源は、前記光変調器が損傷されないほどの光エネルギとしてのレーザ光を発光する。   According to an embodiment, the first laser light source emits laser light as light energy that does not damage the optical modulator.

一実施形態によれば、前記第2のレーザ光源は、前記レーザ光が前記加工対象物に直接照射されるように設けられ、前記加工対象物が加工されないほどの光エネルギとしてのレーザ光を発光する。   According to an embodiment, the second laser light source is provided so that the laser beam is directly irradiated onto the object to be processed, and emits laser light as light energy that does not process the object to be processed. To do.

一実施形態によれば、前記第1のレーザ光源の光エネルギと第2のレーザ光源の光エネルギとの和は、加工対象物の加工の時に必要な光エネルギより大きい。   According to one embodiment, the sum of the light energy of the first laser light source and the light energy of the second laser light source is larger than the light energy required when processing the workpiece.

一実施形態によれば、前記第1のレーザ光源及び第2のレーザ光源は、Nd:YAGレーザ、Nd:YLFレーザ、Nd:YVO4レーザ、チタンサファイヤフェムト秒のレーザ及びCOレーザのうちのいずれか一つにより設けられる。 According to one embodiment, the first laser light source and the second laser light source are any one of an Nd: YAG laser, an Nd: YLF laser, an Nd: YVO4 laser, a titanium sapphire femtosecond laser, and a CO 2 laser. Or one.

一実施形態によれば、前記光変調器は、ガルバノミラ、多面鏡、DMD、LCDまたはフォトマスクのうちのいずれか一つである。   According to an embodiment, the light modulator is any one of a galvano mirror, a polygon mirror, a DMD, an LCD, or a photomask.

また、一実施形態によれば、前記照射光学系は、前記光変調器によって変調されたレーザ光を拡大する光拡大器と、前記光拡大器によって拡大されたレーザ光を集光するマイクロレンズと、該マイクロレンズで集光されたレーザ光を加工対象物に投射する投射レンズとを含む。   According to one embodiment, the irradiation optical system includes a light expander that expands the laser light modulated by the light modulator, and a microlens that collects the laser light expanded by the light expander. And a projection lens that projects the laser beam condensed by the microlens onto the object to be processed.

また、上記目的を解決するために、本発明の実施形態2によるレーザ加工装置は、異なる波長のレーザ光を発光する第1のレーザ光源及び第2のレーザ光源と、該第1のレーザ光源から発光されたレーザ光を選択して形象化する光変調器と、前記レーザ光を加工対象物に照射する照射光学系とを含み、前記照射光学系と前記加工対象物との間に設けられ、前記照射光学系から照射されるレーザ光と第2のレーザ光源から発光されるレーザ光とを選択的に透過または反射させるダイクロイックレンズとをさらに含む。   In order to solve the above-described object, a laser processing apparatus according to Embodiment 2 of the present invention includes a first laser light source and a second laser light source that emit laser beams having different wavelengths, and the first laser light source. An optical modulator for selecting and shaping the emitted laser light, and an irradiation optical system for irradiating the workpiece with the laser light, provided between the irradiation optical system and the processing target, It further includes a dichroic lens that selectively transmits or reflects the laser light emitted from the irradiation optical system and the laser light emitted from the second laser light source.

一実施形態によれば、前記第1のレーザ光源は、前記光変調器が損傷されないほどの光エネルギとしてのレーザ光を発光する。   According to an embodiment, the first laser light source emits laser light as light energy that does not damage the optical modulator.

一実施形態によれば、前記第2のレーザ光源は、前記レーザ光が前記加工対象物に直接照射されるように設けられ、前記加工対象物が加工されないほどの光エネルギとしてのレーザ光を発光する。   According to an embodiment, the second laser light source is provided so that the laser beam is directly irradiated onto the object to be processed, and emits laser light as light energy that does not process the object to be processed. To do.

一実施形態によれば、前記第1のレーザ光源の光エネルギと第2のレーザ光源の光エネルギとの和は、加工対象物の加工の時に必要な光エネルギより大きい。   According to one embodiment, the sum of the light energy of the first laser light source and the light energy of the second laser light source is larger than the light energy required when processing the workpiece.

一実施形態によれば、前記第1のレーザ光源及び第2のレーザ光源は、Nd:YAGレーザ、Nd:YLFレーザ、Nd:YVO4レーザ、チタンサファイヤフェムト秒のレーザ及びCOレーザのうちのいずれか一つにより設けられる。 According to one embodiment, the first laser light source and the second laser light source are any one of an Nd: YAG laser, an Nd: YLF laser, an Nd: YVO4 laser, a titanium sapphire femtosecond laser, and a CO 2 laser. Or one.

一実施形態によれば、前記光変調器は、ガルバノミラ、多面鏡、DMD、LCDまたはフォトマスクのうちのいずれか一つである。   According to an embodiment, the light modulator is any one of a galvano mirror, a polygon mirror, a DMD, an LCD, or a photomask.

一実施形態によれば、前記照射光学系は、前記光変調器によって変調されたレーザ光を拡大する光拡大器と、前記光拡大器によって拡大されたレーザ光を集光するマイクロレンズと、該マイクロレンズで集光されたレーザ光を加工対象物に投射する投射レンズとを含む。   According to one embodiment, the irradiation optical system includes a light expander that expands the laser light modulated by the light modulator, a microlens that collects the laser light expanded by the light expander, and And a projection lens that projects the laser beam condensed by the microlens onto the object to be processed.

また、上記目的を解決するために、本発明の実施形態3によるレーザ加工装置は、レーザ光を発光する第1のレーザ光源及び第2のレーザ光源と、該第1のレーザ光源から発光されたレーザ光を選択して形象化する光変調器と、該レーザ光を加工対象物に照射する照射光学系とを含み、前記第1のレーザ光源及び前記第2のレーザ光源から発光されるレーザ光の偏光を変更する偏光変換部とをさらに含む。   In order to solve the above object, a laser processing apparatus according to Embodiment 3 of the present invention emits light from a first laser light source and a second laser light source that emit laser light, and from the first laser light source. Laser light emitted from the first laser light source and the second laser light source, which includes an optical modulator that selectively forms laser light and an irradiation optical system that irradiates the workpiece with the laser light. And a polarization converter that changes the polarization of the light.

一実施形態によれば、前記照射光学系と前記加工対象物との間に設けられ、前記照射光学系から照射されるレーザ光と前記第2のレーザ光源から発光されるレーザ光とを選択的に透過または反射させる偏光レンズをさらに含む。   According to an embodiment, a laser beam that is provided between the irradiation optical system and the workpiece and that is irradiated from the irradiation optical system and a laser beam emitted from the second laser light source is selectively used. And a polarizing lens that transmits or reflects the light.

一実施形態によれば、前記第1のレーザ光源は、前記光変調器が損傷されないほどの光エネルギとしてのレーザ光を発光する。   According to an embodiment, the first laser light source emits laser light as light energy that does not damage the optical modulator.

一実施形態によれば、前記第2のレーザ光源は、前記レーザ光が前記加工対象物に直接照射されるように設けられ、前記加工対象物が加工されないほどの光エネルギとしてのレーザ光を発光する。   According to an embodiment, the second laser light source is provided so that the laser beam is directly irradiated onto the object to be processed, and emits laser light as light energy that does not process the object to be processed. To do.

一実施形態によれば、前記第1のレーザ光源の光エネルギと前記第2のレーザ光源の光エネルギとの和は、加工対象物の加工の時に必要な光エネルギより大きい。   According to one embodiment, the sum of the light energy of the first laser light source and the light energy of the second laser light source is greater than the light energy required when processing the workpiece.

一実施形態によれば、前記第1のレーザ光源及び前記第2のレーザ光源は、Nd:YAGレーザ、Nd:YLFレーザ、Nd:YVO4レーザ、チタンサファイヤブェムト秒のレーザ及びCOレーザのうちのいずれか一つにより設けられる。 According to one embodiment, the first laser light source and the second laser light source are selected from among an Nd: YAG laser, an Nd: YLF laser, an Nd: YVO4 laser, a titanium sapphire beam laser, and a CO 2 laser. It is provided by any one of these.

一実施形態によれば、前記光変調器は、ガルバノミラ、多面鏡、DMD、LCDまたはフォトマスクのうちのいずれか一つである。   According to an embodiment, the light modulator is any one of a galvano mirror, a polygon mirror, a DMD, an LCD, or a photomask.

一実施形態によれば、前記照射光学系は、前記光変調器によって変調されたレーザ光を拡大する光拡大器と、該光拡大器によって拡大されたレーザ光を集光するマイクロレンズと、該マイクロレンズで集光されたレーザ光を加工対象物に投射する投射レンズとを含む。   According to one embodiment, the irradiation optical system includes a light expander that expands the laser light modulated by the light modulator, a microlens that collects the laser light expanded by the light expander, and the And a projection lens that projects the laser beam condensed by the microlens onto the object to be processed.

本発明の実施形態によれば、二つのレーザ光源から、光変調器を損傷させないほどの光エネルギとして発光されるレーザ光を合わせて加工対象物を加工することによって、光変調器を損傷させることなく、該加工対象物の加工が可能で、光変調器の損傷による維持補修費用を節減することができる。   According to the embodiment of the present invention, the optical modulator is damaged by processing the processing object by combining laser beams emitted from the two laser light sources as light energy that does not damage the optical modulator. In addition, the workpiece can be processed, and maintenance and repair costs due to damage to the optical modulator can be reduced.

また、光変調器を使うことによって、加工装置を単純化することができるという効果が奏する。   In addition, the use of the optical modulator produces an effect that the processing apparatus can be simplified.

また、加工対象物に二つのレーザ光源によってレーザ光を分けて印加することによって、加工に必要な光エネルギを印加するのに必要な時間を減らして、生産性を向上させることができるという効果が奏する。   In addition, by separately applying the laser light to the object to be processed by the two laser light sources, it is possible to reduce the time required to apply the light energy necessary for processing and to improve the productivity. Play.

本発明の実施形態1によるレーザ加工装置を示す構成図である。It is a block diagram which shows the laser processing apparatus by Embodiment 1 of this invention. フォトマスクを使ったレーザ加工装置を示す構成図である。It is a block diagram which shows the laser processing apparatus using a photomask. 本発明の実施形態2によるレーザ加工装置を示す構成図である。It is a block diagram which shows the laser processing apparatus by Embodiment 2 of this invention. 本発明の実施形態3によるレーザ加工装置を示す構成図である。It is a block diagram which shows the laser processing apparatus by Embodiment 3 of this invention.

以下、本発明の好適な実施の形態は図面を参考にして詳細に説明する。次に示される各実施の形態は当業者にとって本発明の思想が十分に伝達されることができるようにするために例として挙げられるものである。従って、本発明は以下示している各実施の形態に限定されることなく他の形態で具体化されることができる。そして、図面において、装置の大きさ及び厚さなどは便宜上誇張して表現されることができる。明細書全体に渡って同一の参照符号は同一の構成要素を示している。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Each embodiment shown below is given as an example so that those skilled in the art can sufficiently communicate the idea of the present invention. Therefore, the present invention is not limited to the embodiments described below, but can be embodied in other forms. In the drawings, the size and thickness of the device can be exaggerated for convenience. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification.

本明細書で使われた用語は、実施形態を説明するためのものであって、本発明を制限しようとするものではない。本明細書において、単数形は文句で特別に言及しない限り複数形も含む。明細書で使われる「含む」とは、言及された構成要素、ステップ、動作及び/又は素子は、一つ以上の他の構成要素、ステップ、動作及び/又は素子の存在または追加を排除しないことに理解されたい。   The terminology used herein is for the purpose of describing embodiments and is not intended to limit the invention. In this specification, the singular includes the plural unless specifically stated otherwise. As used herein, “includes” a stated component, step, action, and / or element does not exclude the presence or addition of one or more other components, steps, actions, and / or elements. Want to be understood.

以下、添付の図面を参照して、本発明の実施形態について詳記する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

図1は、本発明の実施形態1によるレーザ加工装置を示す構成図で、図2はフォトマスクを使ったレーザ加工装置を示す構成図である。   FIG. 1 is a configuration diagram illustrating a laser processing apparatus according to Embodiment 1 of the present invention, and FIG. 2 is a configuration diagram illustrating a laser processing apparatus using a photomask.

図1に示すように、本発明の実施形態1によるレーザ加工装置は、第1のレーザ光源10、第2のレーザ光源20、光変調器30及び照射光学系40を含む。   As shown in FIG. 1, the laser processing apparatus according to the first embodiment of the present invention includes a first laser light source 10, a second laser light source 20, an optical modulator 30, and an irradiation optical system 40.

レーザ加工装置は、加工対象物Bをレーザ光源から発光されたレーザ光によって加工する装置であって、熔融、切断、絵や文字などのプリント、露光、基板への回路パターンの形成及び回路パターンの復旧(リペア)など所定の加工を加工対象物Bに対して行う。   The laser processing apparatus is an apparatus for processing a workpiece B with laser light emitted from a laser light source, and is used for melting, cutting, printing of pictures and characters, exposure, formation of a circuit pattern on a substrate, and circuit pattern formation. Predetermined processing such as recovery (repair) is performed on the processing object B.

前記加工対象物Bには、平板ディスプレイ、半導体ウエハ、積層プリント基板などが挙げられるが、これに限定するものではない。例えば、一般的な試料であってもよい。   Examples of the processing object B include, but are not limited to, a flat panel display, a semiconductor wafer, and a laminated printed board. For example, a general sample may be used.

前記第1のレーザ光源10と第2のレーザ光源20とはレーザ光を発光する。前記第1のレーザ光源10から発光されたレーザ光は反射ミラー50に反射して光変調器30に入射され、第2のレーザ光源20から発光されたレーザ光は加工したい加工対象物Bに直接照射される。この場合、前記反射ミラー50は、レーザ光を反射して光経路を変更させ、第1のレーザ光源10から発光されたレーザ光を光変調器30へと案内するように設けられる。一実施形態によれば、反射ミラー50は、第1のレーザ光源10の位置及び光変調器30の位置によって使われなくてもよく、多数使われてもよい。   The first laser light source 10 and the second laser light source 20 emit laser light. The laser light emitted from the first laser light source 10 is reflected by the reflecting mirror 50 and is incident on the optical modulator 30, and the laser light emitted from the second laser light source 20 is directly applied to the workpiece B to be processed. Irradiated. In this case, the reflection mirror 50 is provided so as to reflect the laser light, change the optical path, and guide the laser light emitted from the first laser light source 10 to the optical modulator 30. According to one embodiment, the reflection mirror 50 may not be used depending on the position of the first laser light source 10 and the position of the light modulator 30, and may be used in large numbers.

一実施形態によれば、前記第2のレーザ光源20は、加工対象物Bにレーザ光を直接照射するために加工対象物Bの一側に設けられてもよく、一つまたは多数設けられてもよい。   According to one embodiment, the second laser light source 20 may be provided on one side of the workpiece B in order to directly irradiate the workpiece B with laser light, and one or a plurality of the second laser light sources 20 are provided. Also good.

また、前記第1のレーザ光源10及び第2のレーザ光源20は、Nd:YAGレーザ、Nd:YLFレーザ、Nd:YVO4レーザ、チタンサファイヤフェムト秒のレーザ及びCOレーザのうちのいずれか一つにより設けられてもよい。 The first laser light source 10 and the second laser light source 20 are any one of an Nd: YAG laser, an Nd: YLF laser, an Nd: YVO4 laser, a titanium sapphire femtosecond laser, and a CO 2 laser. May be provided.

前記第1のレーザ光源10は、後述の光変調器30が損傷されないほどの光エネルギとしてのレーザ光を発光し、前記第2のレーザ光源20は加工対象物Bが加工されないほどの光エネルギとしてのレーザ光を発光する。   The first laser light source 10 emits laser light as light energy that does not damage an optical modulator 30 described later, and the second laser light source 20 has light energy that does not process the workpiece B. The laser beam is emitted.

一実施形態によれば、第1のレーザ光源10及び第2レーザ光源20から発光されるレーザ光の光エネルギの和は、加工対象物Bの加工の時に必要な光エネルギより高く設けられることが望ましい。   According to one embodiment, the sum of the optical energies of the laser beams emitted from the first laser light source 10 and the second laser light source 20 may be provided higher than the light energy required when processing the workpiece B. desirable.

詳しくは、光変調器30が損傷されないほどの光エネルギとして発光される第1のレーザ光源10からのレーザ光と、加工対象物Bが加工されないほどの光エネルギとして発光される第2のレーザ光源20からのレーザ光とを合わせて、これらを用いて加工対象物Bを加工することによって、光変調器30の損傷を防止することができる。そのため、光変調器30の損傷による維持補修費用を節減すると共に、加工装置を単純化することができる。   Specifically, the laser light from the first laser light source 10 that emits light energy that does not damage the optical modulator 30 and the second laser light source that emits light energy that does not process the workpiece B. By combining the laser light from 20 and processing the workpiece B using these, damage to the optical modulator 30 can be prevented. Therefore, the maintenance and repair costs due to the damage of the optical modulator 30 can be reduced, and the processing apparatus can be simplified.

また、一つのレーザ光源を用いるのに比べて、加工対象物に二つのレーザ光源からのレーザ光を分けて印加することによって、加工に必要な光エネルギを印加するのに必要な時間を減らして、生産性を向上させることができる。   Compared to using one laser light source, the laser light from the two laser light sources is applied separately to the workpiece, thereby reducing the time required to apply the light energy required for processing. , Productivity can be improved.

また、本発明の実施形態ではレーザ光源を用いることと説明したが、このレーザ光源だけではなく、LED(Light Emitting Diode:固体ランプ)またはランプのように加工対象物Bを加工することができる光を発光する構成なら知何なるものでもよい。   Further, in the embodiment of the present invention, it has been described that a laser light source is used. However, not only the laser light source but also light that can process the workpiece B such as an LED (Light Emitting Diode) or a lamp. Any structure that emits light may be used.

前記光変調器30は、第1のレーザ光源10から発光されたレーザ光を選択して整形化するもので、DMD(Digital Micromirror Device)によって設けられてもよい。   The light modulator 30 selects and shapes the laser light emitted from the first laser light source 10, and may be provided by a DMD (Digital Micromirror Device).

この場合、DMDは、レーザ光を選択的に反射・形象化して加工対象物Bへ照射することができるもので、加工対象物Bの上部領域に設けられてもよい。   In this case, the DMD can selectively irradiate the laser beam with the laser beam and irradiate the workpiece B, and may be provided in an upper region of the workpiece B.

また、該DMDは、多数のマイクロミラー(micromirror)が角度調節が可能になるように2次元アレイ型に配列されて構成されてもよい。各マイクロミラーの傾斜角は、少なくとも2種類に切替え可能になるように設けられてもよい。   The DMD may be configured in a two-dimensional array so that a large number of micromirrors can be adjusted in angle. The inclination angle of each micromirror may be provided so that it can be switched between at least two types.

また、各マイクロミラーは、傾斜角によって各々独立して「オン状態」及び「オフ状態」に切替え可能であり、制御部(図示せず)によって選択的にその状態が切替えられてもよい。この場合、該制御部には、入射されるレーザ光の照射可否を示すデータが格納されてもよい。   In addition, each micromirror can be independently switched between an “on state” and an “off state” depending on the tilt angle, and the state may be selectively switched by a control unit (not shown). In this case, the control unit may store data indicating whether or not the incident laser light can be irradiated.

したがって、DMDは、制御部のデータによってマイクロミラーを「オン状態」または「オフ状態」に切り替え、入射されるレーザ光がオン状態のマイクロミラーに入射されれば、鉛直方向に反射し、加工対象物Bへ照射される。これに対して、レーザ光がオフ状態のマイクロミラーに入射されれば、鉛直方向と異なる方向に反射して加工対象物Bに照射されなくなる。   Therefore, the DMD switches the micromirror to the “on state” or “off state” according to the data of the control unit, and when the incident laser light is incident on the micromirror in the on state, it reflects in the vertical direction and is processed The object B is irradiated. On the other hand, when the laser light is incident on the micromirror in the off state, the laser beam is reflected in a direction different from the vertical direction and is not irradiated on the workpiece B.

前記照射光学系40は、レーザ光の移動経路上に設けられ、該レーザ光を拡大する光拡大器41と、この光拡大器41によって拡大されたレーザ光を加工したい領域に当たるように一定の大きさに集光するマイクロレンズ42と、このマイクロレンズ42で集光されたレーザ光を加工対象物Bに投射する投射レンズ43とを備え、光変調器30によって整形化されたレーザ光を加工対象物Bに照射するようになる。   The irradiation optical system 40 is provided on the moving path of the laser beam, and has a light expander 41 that expands the laser beam, and a certain size so that the laser beam expanded by the light expander 41 hits the region to be processed. And a projection lens 43 for projecting the laser beam condensed by the microlens 42 onto the workpiece B, and processing the laser beam shaped by the optical modulator 30. The object B is irradiated.

一実施形態によれば、前記光変調器30は、ガルバノミラ、多面鏡またはLCD(Liquid Crystal Display)によって設けられてもよい。   According to an embodiment, the light modulator 30 may be provided by a galvano mirror, a polygon mirror, or an LCD (Liquid Crystal Display).

また、図2に示すように、前記光変調器30は、フォトマスク(Photomask)によって設けられてもよい。   In addition, as shown in FIG. 2, the light modulator 30 may be provided by a photomask.

前記光変調器30がフォトマスクによって設けられた場合、前記照射光学系40と加工対象物Bとの間に設けられ、該照射光学系40を通過したレーザ光が選択的に透過されることによって、加工対象物Bに照射される。   When the light modulator 30 is provided by a photomask, the laser light that is provided between the irradiation optical system 40 and the workpiece B is selectively transmitted through the irradiation optical system 40. The processing object B is irradiated.

この場合、前記第2のレーザ光源20によって加工対象物Bが予熱されるため、前記フォトマスクによって選択的に透過された領域だけ加工されるようになる。   In this case, since the workpiece B is preheated by the second laser light source 20, only the region selectively transmitted by the photomask is processed.

次に、前述のように設けられたレーザ加工装置による加工対象物Bの加工方法について、図1を参考して説明する。   Next, a processing method of the processing object B by the laser processing apparatus provided as described above will be described with reference to FIG.

まず、前記第2のレーザ光源20は、加工対象物Bが加工されないほどの光エネルギとしてのレーザ光を発光する。この第2のレーザ光源20から発光されたレーザ光は、加工対象物Bの全面積または一部領域に照射されて加工対象物Bを予熱するようになる。   First, the second laser light source 20 emits laser light as light energy that does not allow the workpiece B to be processed. The laser light emitted from the second laser light source 20 is applied to the entire area or a partial area of the workpiece B to preheat the workpiece B.

続いて、前記光変調器30が、前記第1のレーザ光源10から発光されたレーザ光を制御部(図示せず)のデータによって選択して鉛直方向に反射させ、該反射したレーザ光を照射光学系40によって加工して加工対象物Bに照射することによって、加工対象物Bを加工するようになる。   Subsequently, the light modulator 30 selects the laser light emitted from the first laser light source 10 according to data from a control unit (not shown), reflects it in the vertical direction, and irradiates the reflected laser light. By processing the optical system 40 and irradiating the processing object B, the processing object B is processed.

すなわち、前記第2のレーザ光源20によって予熱された加工対象物Bに、第1のレーザ光源10から発光されて光変調器30によって選択されたレーザ光を照射することによって、該加工対象物Bを前記光変調器30によって選択された位置、方向及び形状に加工するようになる。   In other words, the workpiece B preheated by the second laser light source 20 is irradiated with the laser light emitted from the first laser light source 10 and selected by the optical modulator 30, whereby the workpiece B Are processed into the position, direction and shape selected by the light modulator 30.

したがって、前記加工対象物Bを二つのレーザ光源を用いて加工することによって、一つのレーザ光源を用いるのに比べて加工速度を上げることができる。   Therefore, by processing the workpiece B using two laser light sources, the processing speed can be increased compared to using one laser light source.

図3は、本発明の実施形態2によるレーザ加工装置を示す構成図である。   FIG. 3 is a block diagram showing a laser processing apparatus according to Embodiment 2 of the present invention.

本発明の実施形態2によるレーザ加工装置は、異なる波長のレーザ光を発光する二つのレーザ光源を用いるレーザ加工装置である。   The laser processing apparatus according to Embodiment 2 of the present invention is a laser processing apparatus that uses two laser light sources that emit laser beams having different wavelengths.

図3に示すように、本発明の実施形態2によるレーザ加工装置は、異なる波長のレーザ光を発光する第1のレーザ光源110及び第2のレーザ光源120と、この第1のレーザ光源110から発光されたレーザ光を選択的に反射して形象化する光変調器130と、この光変調器130によって形象化されたレーザ光を加工対象物に照射する照射光学系140とを備える。また、レーザ加工装置は、前記照射光学系130と加工対象物Bとの間に設けられ、照射光学系130に照射されるレーザ光及び第2のレーザ光源120から発光されるレーザ光を選択的に透過または反射させるダイクロイックレンズ160をさらに含む。   As shown in FIG. 3, the laser processing apparatus according to Embodiment 2 of the present invention includes a first laser light source 110 and a second laser light source 120 that emit laser beams of different wavelengths, and the first laser light source 110. An optical modulator 130 that selectively reflects the emitted laser light to form it, and an irradiation optical system 140 that irradiates the workpiece with the laser light formed by the optical modulator 130. The laser processing apparatus is provided between the irradiation optical system 130 and the workpiece B, and selectively selects the laser light emitted to the irradiation optical system 130 and the laser light emitted from the second laser light source 120. A dichroic lens 160 that transmits or reflects the light is further included.

前記第1のレーザ光源110は、光変調器130が損傷されないほどの光エネルギとしてのレーザ光を発光し、前記第2のレーザ光源120は該加工対象物Bが加工されないほどの光エネルギとしてのレーザ光を発光する。一実施形態によれば、前記第1のレーザ光源110及び第2レーザ光源120から発光するレーザ光の光エネルギの和は、加工対象物Bの加工の時に必要なエネルギより高く設けられることが望ましい。   The first laser light source 110 emits laser light as light energy that does not damage the optical modulator 130, and the second laser light source 120 emits light as light energy that does not process the workpiece B. Emits laser light. According to one embodiment, the sum of the optical energy of the laser beams emitted from the first laser light source 110 and the second laser light source 120 is preferably set higher than the energy required when processing the workpiece B. .

すなわち、前記光変調器130を損傷させないほどに少ない出力のレーザ光と加工対象物Bを予熱だけできる程度のレーザ光とを用いて、加工対象物を加工することによって、光変調器130の損傷による維持補修費用を節減することができる。また、加工装置を単純化すると共に生産性を向上させることができる。   That is, the optical modulator 130 is damaged by processing the processing object using a laser beam having an output that is low enough not to damage the optical modulator 130 and a laser beam that can only preheat the processing object B. The maintenance and repair costs due to can be reduced. Further, the processing apparatus can be simplified and productivity can be improved.

前記ダイクロイックレンズ160は、一定の波長のレーザ光は透過させ、その以外のレーザ光は反射させるもので、照射光学系130と加工対象物Bとの間に設けられる。   The dichroic lens 160 transmits laser light having a certain wavelength and reflects other laser light, and is provided between the irradiation optical system 130 and the workpiece B.

前記ダイクロイックレンズ160は、光変調器130で反射し、照射光学系140によって加工される第1のレーザ光源110からのレーザ光は透過させ加工対象物Bへ投影させ、第1のレーザ光源110と異なる波長を有する第2のレーザ光源120からのレーザ光は反射させ加工対象物Bに照射することができる。   The dichroic lens 160 is reflected by the light modulator 130, transmits the laser light from the first laser light source 110 processed by the irradiation optical system 140, and projects the laser light onto the workpiece B. Laser light from the second laser light source 120 having a different wavelength can be reflected and applied to the workpiece B.

詳しくは、異なる波長のレーザ光を発光する多数のレーザ光を使う場合、ダイクロイックレンズ160を通じて異なる波長を有する多数のレーザ光を合わせて一方向に照射することによって、加工対象物Bを加工することができるようになる。   Specifically, when using a large number of laser beams that emit laser beams having different wavelengths, the workpiece B is processed by irradiating a plurality of laser beams having different wavelengths through a dichroic lens 160 in one direction. Will be able to.

したがって、加工対象物Bが加工されないほどの光エネルギとして発光する第2のレーザ光源120からのレーザ光によって加工対象物Bを予熱し、前記光変調器130に第1のレーザ光源110から発光されたレーザ光を選択的に照射して加工対象物Bで加工するため、一つのレーザ光源を用いるのに比べて、加工速度を上げることができる。   Therefore, the workpiece B is preheated by the laser light from the second laser light source 120 that emits light energy that is not processed by the workpiece B, and the light modulator 130 emits light from the first laser light source 110. Therefore, the processing speed can be increased as compared with the case of using one laser light source.

図4は、本発明の実施形態3によるレーザ加工装置を示す構成図である。   FIG. 4 is a block diagram showing a laser processing apparatus according to Embodiment 3 of the present invention.

本発明の実施形態3によるレーザ加工装置は、同じ波長のレーザ光を発光する二つのレーザ光源を用いるレーザ加工装置である。   The laser processing apparatus according to Embodiment 3 of the present invention is a laser processing apparatus that uses two laser light sources that emit laser light having the same wavelength.

図4に示すように、本発明の実施形態3によるレーザ加工装置は、同じ波長のレーザ光を発光する第1のレーザ光源210及び第2のレーザ光源220と、この第1のレーザ光源210から発光されたレーザ光を選択的に反射して形象化する光変調器230と、この光変調器230によって形象化されたレーザ光を加工対象物Bに照射する照射光学系240とを備える。また、レーザ加工装置は、前記第1のレーザ光源210及び第2のレーザ光源220から発光されるレーザ光の偏光を変更する偏光変換部270をさらに含む。   As shown in FIG. 4, a laser processing apparatus according to Embodiment 3 of the present invention includes a first laser light source 210 and a second laser light source 220 that emit laser light having the same wavelength, and the first laser light source 210. An optical modulator 230 that selectively reflects the emitted laser light and forms it, and an irradiation optical system 240 that irradiates the workpiece B with the laser light formed by the light modulator 230. The laser processing apparatus further includes a polarization conversion unit 270 that changes the polarization of the laser light emitted from the first laser light source 210 and the second laser light source 220.

また、レーザ加工装置は、前記照射光学系240と加工対象物Bとの間に設けられ、照射光学系240に照射されるレーザ光と第2のレーザ光源220から発光されるレーザ光の偏光によって選択的に透過または反射させる偏光レンズ260をさらに含む。   The laser processing apparatus is provided between the irradiation optical system 240 and the workpiece B, and is based on the polarization of the laser light emitted to the irradiation optical system 240 and the laser light emitted from the second laser light source 220. It further includes a polarizing lens 260 that selectively transmits or reflects.

前記偏光変換部270は、第1のレーザ光源210に設けられ、この第1のレーザ光源210から発光するレーザ光の偏光方向を垂直方向に変換させる垂直偏光変換部271と、第2のレーザ光源220に設けられ、この第2のレーザ光源220から発光するレーザ光の偏光方向を水平方向に変換させる水平偏光変換部272とから構成される。   The polarization converter 270 is provided in the first laser light source 210, and converts the polarization direction of the laser light emitted from the first laser light source 210 into a vertical direction, and a second laser light source. 220, and a horizontal polarization conversion unit 272 that converts the polarization direction of the laser light emitted from the second laser light source 220 into a horizontal direction.

一実施形態によれば、前記垂直偏光変換部271と水平偏光変換部272とは、互いに位置変更されて設けられてもよい。即ち、第1のレーザ光源210に水平偏光変換部272が設置され、第2のレーザ光源220に垂直偏光変換部271が設置され、各々のレーザ光源から発光されるレーザ光の偏光を変換させてもよい。   According to one embodiment, the vertical polarization converter 271 and the horizontal polarization converter 272 may be provided with their positions changed. That is, a horizontal polarization conversion unit 272 is installed in the first laser light source 210 and a vertical polarization conversion unit 271 is installed in the second laser light source 220 to convert the polarization of the laser light emitted from each laser light source. Also good.

前記偏光ミラー260は、レーザ光を偏光方向によって選択的に透過または反射させるもので、照射光学系230と加工対象物Bとの間に設けられる。水平方向のレーザ光を透過させ、垂直方向のレーザ光を反射する水平偏光ミラーまたは垂直方向のレーザ光を透過させ、水平方向のレーザ光を反射する垂直偏光ミラーのうちのいずれか一つによって構成されてもよい。   The polarizing mirror 260 selectively transmits or reflects laser light depending on the polarization direction, and is provided between the irradiation optical system 230 and the workpiece B. Consists of either a horizontal polarizing mirror that transmits horizontal laser light and reflects vertical laser light or a vertical polarizing mirror that transmits vertical laser light and reflects horizontal laser light May be.

例えば、前記第2のレーザ光源220から発光され、水平偏光変換部272によって偏光が水平方向に変換されたレーザ光は、偏光ミラー260によって加工対象物Bに反射して加工対象物Bを予熱するようになる。前記第1のレーザ光源210から発光され、垂甚偏光変換部271によって偏光が垂直方向に変換されたレーザ光のうち、光変調器230で選択的に反射して整形化されたレーザ光は、照射光学系240によって加工され、偏光ミラー260を透過して加工対象物Bに照射されることによって、加工対象物Bを加工するようになる。   For example, laser light emitted from the second laser light source 220 and whose polarization has been converted in the horizontal direction by the horizontal polarization converter 272 is reflected by the polarizing mirror 260 to the workpiece B to preheat the workpiece B. It becomes like this. Of the laser light emitted from the first laser light source 210 and whose polarization is converted in the vertical direction by the vertical polarization converter 271, the laser light selectively reflected and shaped by the light modulator 230 is The processing target B is processed by being processed by the irradiation optical system 240 and irradiating the processing target B through the polarizing mirror 260.

この場合、前記第1のレーザ光源210は光変調器230が損傷されないほどの光エネルギとしてのレーザ光を発光し、前記第2のレーザ光源220は前記加工対象物Bが加工されないほどの光エネルギとしてのレーザ光を発光する。   In this case, the first laser light source 210 emits laser light as light energy that does not damage the optical modulator 230, and the second laser light source 220 has light energy that does not process the workpiece B. The laser beam is emitted.

一実施形態によれば、前記第1のレーザ光源210及び第2レーザ光源220から発光するレーザ光の光エネルギの和は、加工対象物Bの加工の時に必要なエネルギより高く設けられることが望ましい。   According to an embodiment, the sum of the optical energy of the laser light emitted from the first laser light source 210 and the second laser light source 220 is preferably higher than the energy required when processing the workpiece B. .

すなわち、前記光変調器230を損傷させないほどに少ない出力のレーザ光と加工対象物Bを予熱だけできる程度のレーザ光とを用いて加工対象物を加工することによって、光変調器230の損傷による維持補修費用を節減することができる。また、加工装置を単純化すると共に生産性を向上させることができる。   That is, by processing the processing object using a laser beam having an output that is small enough not to damage the optical modulator 230 and a laser beam that can only preheat the processing object B, the optical modulator 230 is damaged. Maintenance and repair costs can be reduced. Further, the processing apparatus can be simplified and productivity can be improved.

また、二つのレーザ光を用いて加工対象物Bを加工することによって、一つのレーザ光源を用いるのに比べて、加工速度を上げることができる。   Further, by processing the workpiece B using two laser beams, the processing speed can be increased as compared to using one laser light source.

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、前記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。   The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is shown not by the above description of the embodiments but by the scope of claims, and is intended to include all modifications within the meaning and scope equivalent to the scope of claims.

10 第1のレーザ光源
20 第2のレーザ光源
30 光変調器
40 照射光学系
41 光拡大器
42 マイクロレンズ
43 投射レンズ
50 反射ミラー
B 加工対象物
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 1st laser light source 20 2nd laser light source 30 Optical modulator 40 Irradiation optical system 41 Optical magnifying device 42 Micro lens 43 Projection lens 50 Reflection mirror B Processing target object

Claims (11)

第1のレーザ光を発光する第1のレーザ光源と、
前記第1のレーザ光源から発光された第1のレーザ光を選択して形象化する光変調器と、
前記第1のレーザ光を加工対象物に照射する照射光学系
とを含むレーザ加工装置。
A first laser light source that emits a first laser beam;
An optical modulator that selectively forms the first laser light emitted from the first laser light source;
An irradiation optical system for irradiating the object to be processed with the first laser beam.
第2のレーザ光を発光する第2のレーザ光源をさらに含む請求項1に記載のレーザ加工装置。   The laser processing apparatus according to claim 1, further comprising a second laser light source that emits a second laser beam. 異なる波長のレーザ光を発光する第1のレーザ光源及び第2のレーザ光源と、
前記第1のレーザ光源から発光された第1のレーザ光を選択して形象化する光変調器と、
前記第1のレーザ光を加工対象物に照射する照射光学系とを含み、
前記照射光学系と前記加工対象物との間に設けられ、前記照射光学系から照射されるレーザ光と前記第2のレーザ光源から発光される第2のレーザ光を選択的に透過または反射させるダイクロイックレンズを、さらに含むレーザ加工装置。
A first laser light source and a second laser light source that emit laser beams of different wavelengths;
An optical modulator that selectively forms the first laser light emitted from the first laser light source;
An irradiation optical system for irradiating the workpiece with the first laser beam,
Provided between the irradiation optical system and the object to be processed, and selectively transmits or reflects the laser light emitted from the irradiation optical system and the second laser light emitted from the second laser light source. A laser processing apparatus further including a dichroic lens.
レーザ光を発光する第1のレーザ光源及び第2のレーザ光源と、
前記第1のレーザ光源から発光された第1のレーザ光を選択して形象化する光変調器と、
前記第1のレーザ光を加工対象物に照射する照射光学系とを含み、
前記第1のレーザ光源から発光される第1のレーザ光及び前記第2のレーザ光源から発光される第2のレーザ光の偏光を変更する偏光変換部を、さらに含むレーザ加工装置。
A first laser light source and a second laser light source for emitting laser light;
An optical modulator that selectively forms the first laser light emitted from the first laser light source;
An irradiation optical system for irradiating the workpiece with the first laser beam,
A laser processing apparatus further comprising a polarization conversion unit that changes polarization of the first laser light emitted from the first laser light source and the second laser light emitted from the second laser light source.
前記照射光学系と前記加工対象物との間に設けられ、前記照射光学系から照射されるレーザ光と前記第2のレーザ光源から発光される第2のレーザ光を選択的に透過または反射させる偏光レンズを、さらに含む請求項4に記載のレーザ加工装置。   Provided between the irradiation optical system and the object to be processed, and selectively transmits or reflects the laser light emitted from the irradiation optical system and the second laser light emitted from the second laser light source. The laser processing apparatus according to claim 4, further comprising a polarizing lens. 前記第1のレーザ光源は、前記光変調器が損傷されないほどの光エネルギとしてのレーザ光を発光する請求項2から5の何れか1項に記載のレーザ加工装置。   The laser processing apparatus according to any one of claims 2 to 5, wherein the first laser light source emits laser light as light energy that does not damage the optical modulator. 前記第2のレーザ光源は、第2のレーザ光が前記加工対象物に直接照射されるように設けられ、前記加工対象物が加工されないほどの光エネルギとしての第2のレーザ光を発光する請求項2から6の何れか1項に記載のレーザ加工装置。   The second laser light source is provided so that the second laser light is directly irradiated onto the object to be processed, and emits the second laser light as light energy that does not process the object to be processed. Item 7. The laser processing apparatus according to any one of Items 2 to 6. 前記第1のレーザ光源の光エネルギと前記第2のレーザ光源の光エネルギとの和は、加工対象物の加工の時に必要な光エネルギより大きい請求項2から7の何れか1項に記載のレーザ加工装置。   The sum of the light energy of the said 1st laser light source and the light energy of the said 2nd laser light source is larger than the light energy required at the time of the process of a process target object, The any one of Claim 2 to 7 Laser processing equipment. 前記第1のレーザ光源及び前記第2のレーザ光源は、Nd:YAGレーザ、Nd:YLFレーザ、Nd:YVO4レーザ、チタンサファイヤフェムト秒のレーザ及びCOレーザのうちのいずれか一つにより構成される請求項2から8の何れか1項に記載のレーザ加工装置。 The first laser light source and the second laser light source are configured by any one of an Nd: YAG laser, an Nd: YLF laser, an Nd: YVO4 laser, a titanium sapphire femtosecond laser, and a CO 2 laser. The laser processing apparatus according to any one of claims 2 to 8. 前記光変調器は、ガルバノミラ、多面鏡、LCD、DMDおよびフォトマスクのうちのいずれか一つにより構成される請求項2から9の何れか1項に記載のレーザ加工装置。   10. The laser processing apparatus according to claim 2, wherein the optical modulator is configured by any one of a galvano mirror, a polygon mirror, an LCD, a DMD, and a photomask. 前記照射光学系は、
前記光変調器によって変調されたレーザ光を拡大する光拡大器と、
前記光拡大器によって拡大されたレーザ光を集光するマイクロレンズと、
前記マイクロレンズで集光されたレーザ光を加工対象物に投射する投射レンズとを含む請求項2から10の何れか1項に記載のレーザ加工装置。
The irradiation optical system is
A light expander that expands the laser light modulated by the light modulator;
A microlens for condensing the laser light magnified by the light magnifier;
The laser processing apparatus of any one of Claim 2 to 10 including the projection lens which projects the laser beam condensed with the said micro lens on a process target object.
JP2013056572A 2012-04-05 2013-03-19 Laser processing apparatus Pending JP2013215804A (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120035515A KR101497763B1 (en) 2012-04-05 2012-04-05 Laser processing device
KR10-2012-0035515 2012-04-05

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2013215804A true JP2013215804A (en) 2013-10-24

Family

ID=49210037

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013056572A Pending JP2013215804A (en) 2012-04-05 2013-03-19 Laser processing apparatus

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP2013215804A (en)
KR (1) KR101497763B1 (en)
DE (1) DE102013103063A1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2910971A1 (en) 2014-02-24 2015-08-26 Ricoh Company, Ltd. Object recognition apparatus and object recognition method
EP2921992A2 (en) 2014-03-18 2015-09-23 Ricoh Company, Ltd. Image processing device, drive support system, image processing method, and program

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101825922B1 (en) * 2015-08-28 2018-03-22 주식회사 이오테크닉스 Apparatus and method for laser processing
KR101872441B1 (en) * 2017-01-26 2018-06-28 주식회사 이오테크닉스 Mask cleaning apparatus and laser annealing apparatus

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10315425A (en) * 1997-05-20 1998-12-02 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Laser platemaking apparatus
JPH11500962A (en) * 1995-11-29 1999-01-26 バーゼル−シェール ラーゼルグラフィックス ゲーエムベーハー Laser engraving machine
JP2001023920A (en) * 1999-07-08 2001-01-26 Sumitomo Heavy Ind Ltd Laser processor
JP2003203874A (en) * 2002-01-10 2003-07-18 Sharp Corp Laser irradiator
US20030141288A1 (en) * 2002-01-16 2003-07-31 Mayer Hans Juergen Laser machining device
JP2010115670A (en) * 2008-11-11 2010-05-27 Olympus Corp Laser repair apparatus

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6141030A (en) * 1997-04-24 2000-10-31 Konica Corporation Laser exposure unit including plural laser beam sources differing in wavelength
JP5080009B2 (en) * 2005-03-22 2012-11-21 日立ビアメカニクス株式会社 Exposure method
KR101262457B1 (en) 2010-10-05 2013-05-08 엘지이노텍 주식회사 Solar cell apparatus

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11500962A (en) * 1995-11-29 1999-01-26 バーゼル−シェール ラーゼルグラフィックス ゲーエムベーハー Laser engraving machine
JPH10315425A (en) * 1997-05-20 1998-12-02 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Laser platemaking apparatus
JP2001023920A (en) * 1999-07-08 2001-01-26 Sumitomo Heavy Ind Ltd Laser processor
JP2003203874A (en) * 2002-01-10 2003-07-18 Sharp Corp Laser irradiator
US20030141288A1 (en) * 2002-01-16 2003-07-31 Mayer Hans Juergen Laser machining device
JP2005514212A (en) * 2002-01-16 2005-05-19 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト Laser processing equipment
JP2010115670A (en) * 2008-11-11 2010-05-27 Olympus Corp Laser repair apparatus

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2910971A1 (en) 2014-02-24 2015-08-26 Ricoh Company, Ltd. Object recognition apparatus and object recognition method
EP2921992A2 (en) 2014-03-18 2015-09-23 Ricoh Company, Ltd. Image processing device, drive support system, image processing method, and program

Also Published As

Publication number Publication date
KR101497763B1 (en) 2015-03-02
DE102013103063A1 (en) 2013-10-10
KR20130113154A (en) 2013-10-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5468627B2 (en) Laser processing equipment
JP5479924B2 (en) Laser processing method
JP5479925B2 (en) Laser processing system
CN102665999B (en) Laser processing method
KR102171301B1 (en) Digital exposure device using dmd and control method thereof
JP2008272830A (en) Laser beam machining apparatus
JP2013215804A (en) Laser processing apparatus
JP2013091068A (en) Apparatus and method for repairing
WO2013147122A1 (en) Maskless exposure device
JP6632203B2 (en) Laser processing apparatus and laser processing method
KR101720595B1 (en) Method and apparatus for producing raster image useable in exposure apparatus based on dmd and recording medium for recording program for executing the method
TW202135965A (en) Laser processing device and method for laser-processing a workpiece
JP2007029959A (en) Laser beam machining apparatus
JP2008046457A (en) Drawing device
JP5141648B2 (en) Proximity exposure apparatus and exposure method using this proximity exposure apparatus
KR102012297B1 (en) The pattern formation method to use multi-beam scanner system
JP2019176079A (en) Wafer processing method and wafer machining device
JP2019117271A (en) Exposure device
KR100904039B1 (en) Multi-head laser direct imaging system
KR20160140212A (en) Laser processing apparatus and laser processing method
JP2009106979A (en) Laser beam machining apparatus and laser beam machining method
KR101718529B1 (en) Exposure apparatus based on dmd
KR100889954B1 (en) Exposure apparatus using integrated optics
KR101584900B1 (en) Dual head exposure system and exposure method using the same
KR101390512B1 (en) Improved light exposure source for forming patterns, and exposure apparatus, system, and method for forming patterns having the same

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140225

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140228

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20140722