DE102013103063A1 - Laser processing device - Google Patents
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Abstract
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Laserbearbeitungsgerät, umfassend: eine erste Laserlichtquelle und eine zweite Laserlichtquelle zum Aussenden von Laserlicht; einen Lichtmodulator zum Auswählen und Formen des von der ersten Laserlichtquelle ausgesendeten Laserlichts; und ein optisches Bestrahlungssystem zum Bestrahlen eines zu bearbeitenden Objekts mit dem Laserlicht.The present invention relates to a laser processing apparatus comprising: a first laser light source and a second laser light source for emitting laser light; a light modulator for selecting and shaping the laser light emitted from the first laser light source; and an irradiation optical system for irradiating an object to be processed with the laser light.
Description
Bezugnahme auf verwandte AnmeldungenReference to related applications
Die vorliegende Anmeldung beansprucht die Priorität der
Hintergrund der ErfindungBackground of the invention
1. Gebiet der Erfindung1. Field of the invention
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Laserbearbeitungsgerät und insbesondere ein Laserbearbeitungsgerät, das ein zu bearbeitendes Objekt durch Bestrahlen mit Laserlicht bearbeitet.The present invention relates to a laser processing apparatus, and more particularly, to a laser processing apparatus that processes an object to be processed by irradiation with laser light.
2. Beschreibung des Standes der Technik2. Description of the Related Art
Im Allgemeinen wird bei Substraten wie ein Flachbildschirm (Flat Panel Display, FPD), eine Flüssigkristallanzeige (Liquid Crystal Display, LCD), oder ein Plasmadisplay (Plasma Display Panel, PDP), ein Halbleiterwafer einer Mehrschichtleiterplatte ein Muster durch Aufbringen eines Mustermaterials auf das Substrat und selektives Belichten des Mustermaterials gebildet, wobei eine Photomaske benutzt wird, um selektiv den Mustermaterialabschnitt mit geänderten chemischen Eigenschaften oder anderen Teilen zu entfernen.In general, in substrates such as a flat panel display (FPD), a liquid crystal display (LCD), or a plasma display panel (PDP), a semiconductor wafer of a multi-layer printed circuit board becomes a pattern by applying a pattern material to the substrate and selectively exposing the pattern material using a photomask to selectively remove the pattern material portion having altered chemical properties or other portions.
In letzter Zeit ist ein Laserbearbeitungsgerät benutzt worden, das ein Muster auf einem Substrat durch Bestrahlen mit Laserlicht in ausgewählter Position, Richtung und Form bildet, wobei ein räumlicher Lichtmodulator (Spatial Light Modulator, SLM) anstelle einer Photomaske benutzt wird.Recently, a laser processing apparatus has been used which forms a pattern on a substrate by irradiating laser light in a selected position, direction and shape using a spatial light modulator (SLM) instead of a photomask.
Der SLM benutzt derzeit einen eindimensionalen Scanner, der im Wesentlichen einen Galvanospiegel oder einen polygonalen Spiegel benutzt. Im Vergleich dazu, da ein SLM vom Feldtyp wie ein digitales Mikrospiegelbauteil (Digital Micromirror Device, DMD) eine große Fläche gleichzeitig mit Laserlicht bestrahlen kann, weist es Vorteile auf wie die Verbesserung der Produktivität und hinsichtlich der Vereinfachung der Konfiguration und des Steuerverfahrens des Bearbeitungsgeräts.The SLM currently uses a one-dimensional scanner that essentially uses a galvanomirror or a polygonal mirror. In comparison, since a field-type SLM such as a digital micromirror device (DMD) can simultaneously irradiate a large area with laser light, it has advantages such as improving productivity and simplifying the configuration and control method of the processing apparatus.
Da jedoch der eindimensionale Scanner, der einen Galvanospiegel oder einen Polygonspiegel benutzt, hergestellt wurde, indem eine reflektierende Oberfläche von ausreichender Größe benutzt wurde, kann ein Material benutzt werden, das Wellenlängen und Lichtenergie von für die Bearbeitung benötigten Laserlicht annehmen kann, und da es mit einer Beschichtung usw. behandelt werden kann, wird es nicht durch das Laserlicht beschädigt. Da jedoch der SLM vom Feldtyp in einer kleinen Größe mittels eines Halbleiterherstellungsverfahrens hergestellt ist, so dass er eine ausreichende räumliche Auflösung aufweist, kann er keinen Werkstoff oder eine Behandlung wie eine Beschichtung zum Ertragen der Lichtenergie des für die Bearbeitung benötigten Laserlichts benutzen. Dementsprechend kann der SLM vom Feldtyp nicht die Lichtenergie des Laserlichts aushalten, das für die Bearbeitung benötigt wird und dementsprechend verschlechtern sich seine Eigenschaften.However, since the one-dimensional scanner using a galvanomirror or a polygon mirror has been manufactured by using a reflective surface of sufficient size, a material that can accept wavelengths and light energy of laser light required for processing can be used, and because it can be used with a coating, etc., it is not damaged by the laser light. However, since the SLM of the field type is made in a small size by means of a semiconductor manufacturing process so that it has sufficient spatial resolution, it can not use a material or a treatment such as a coating for carrying the light energy of the laser light required for processing. Accordingly, the field-type SLM can not withstand the light energy of the laser light needed for processing, and accordingly, its characteristics deteriorate.
Daneben, wenn keine Beschädigung durch das Laserlicht entsteht wie bei einem eindimensionalen Scanner, der einen Galvanospiegel oder einen Polygonspiegel benutzt, da eine ausreichende Lichtenergie, die für die Bearbeitung erforderlich ist, auf das zu bearbeitende Objekt angewendet werden sollte, wird eine lange Zeitspanne benötigt, um das Laserlicht auf das zu bearbeitende Objekt anzuwenden, wodurch die Produktivität begrenzt wird.Besides, if no damage is caused by the laser light as in a one-dimensional scanner using a galvanomirror or a polygon mirror, since sufficient light energy required for processing should be applied to the object to be processed, a long period of time is required. to apply the laser light to the object to be processed, thereby limiting productivity.
Zusammenfassung der ErfindungSummary of the invention
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Laserbearbeitungsgerät anzugeben, bei dem die Beschädigung des Lichtmodulators beim Bearbeiten eines zu bearbeitenden Objekts mittels Laserlicht mit hoher Lichtenergie verringert und die Produktivität verbessert ist.The present invention has for its object to provide a laser processing apparatus in which the damage of the light modulator when machining an object to be processed by means of laser light with high light energy is reduced and the productivity is improved.
Zur Lösung dieser Aufgabe ist ein Laserbearbeitungsgerät vorgesehen, umfassend: eine erste Laserlichtquelle und eine zweite Laserlichtquelle zum Aussenden von Laserlicht; einen Lichtmodulator zum Auswählen und Formen des von der ersten Laserlichtquelle ausgesendeten Laserlichts; und ein optisches Bestrahlungssystem zum Bestrahlen eines zu bearbeitenden Objekts mit dem Laserlicht.To achieve this object, a laser processing apparatus is provided, comprising: a first laser light source and a second laser light source for emitting laser light; a light modulator for selecting and shaping the laser light emitted from the first laser light source; and an irradiation optical system for irradiating an object to be processed with the laser light.
Die zweite Laserlichtquelle kann so ausgebildet sein, dass das Laserlicht direkt auf das zu bearbeitende Objekt gestrahlt wird, wobei sie das Laserlicht mit Lichtenergie aussendet, die das zu bearbeitende Objekt nicht bearbeitet.The second laser light source may be configured such that the laser light is irradiated directly onto the object to be processed, emitting the laser light with light energy that does not process the object to be processed.
Zusätzlich kann die Summe der Lichtenergie der ersten Laserlichtquelle und der Lichtenergie der zweiten Laserlichtquelle größer sein als die zum Bearbeiten des zu bearbeitenden Objekts benötigte Lichtenergie.In addition, the sum of the light energy of the first laser light source and the light energy of the second laser light source may be greater than the light energy required for processing the object to be processed.
Dabei können die erste Laserlichtquelle und die zweite Laserlichtquelle aus einem der folgenden Lasertypen gebildet sein: Nd:YAG-Laser, Nd:YLF-Laser, Nd:YVO4-Laser, Titan-Saphir-Femtosekundenlaser, und CO2-Laser.The first laser light source and the second laser light source may be formed from one of the following laser types: Nd: YAG laser, Nd: YLF laser, Nd: YVO4 laser, titanium-sapphire femtosecond laser, and CO 2 laser.
Der Lichtmodulator kann ein Galvanospiegel oder ein Polygonspiegel oder ein DMD oder ein LCD oder eine Photomaske sein. The light modulator may be a galvanomirror or a polygon mirror or a DMD or an LCD or a photomask.
Das optische Bestrahlungssystem kann einen Strahlenexpander zum Aufweiten des von dem Lichtmodulator modulierten Lichts umfassen, eine Mikrolinse zum Verdichten des von dem Strahlexpander aufgeweiteten Laserlichts, und eine Projektionslinse zum Projizieren des durch die Mikrolinse verdichteten Laserlichts auf das zu bearbeitende Objekt.The irradiation optical system may include a beam expander for expanding the light modulated by the light modulator, a microlens for condensing the laser light expanded by the beam expander, and a projection lens for projecting the laser light condensed by the microlens onto the object to be processed.
Gemäß einem weiteren Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung ist ein Laserbearbeitungsgerät vorgesehen, umfassend: eine erste Laserlichtquelle und eine zweite Laserlichtquelle zum Emittieren von Laserlicht mit unterschiedlichen Wellenlängen; ein Lichtmodulator zum Auswählen und Formen des von der ersten Laserlichtquelle ausgesendeten Laserlichts; und ein optisches Bestrahlungssystem zum Bestrahlen eines zu bearbeitenden Objekts mit dem Laserlicht, wobei das Laserbearbeitungsgerät ferner eine dichroitische Linse umfassen kann, die zwischen dem Laserbearbeitungsgerät und dem zu bearbeitenden Objekt gebildet ist, um selektiv Laserlicht durchzulassen oder zu reflektieren, das von dem optischen Bestrahlungssystem und der zweiten Laserlichtquelle abgestrahlt wurde.According to another aspect of the present invention, there is provided a laser processing apparatus comprising: a first laser light source and a second laser light source for emitting laser light having different wavelengths; a light modulator for selecting and shaping the laser light emitted from the first laser light source; and an irradiation optical system for irradiating an object to be processed with the laser light, the laser processing apparatus further comprising a dichroic lens formed between the laser processing apparatus and the object to be processed to selectively transmit or reflect laser light from the irradiation optical system and the second laser light source was emitted.
Die erste Laserlichtquelle kann das Laserlicht mit Lichtenergie aussenden, die den Lichtmodulator nicht beschädigt.The first laser light source can emit the laser light with light energy that does not damage the light modulator.
Die zweite Laserlichtquelle kann so gebildet sein, dass das Laserlicht direkt auf das zu bearbeitende Objekt gestrahlt wird und sie kann das Laserlicht mit Lichtenergie abstrahlen, die das zu bearbeitende Objekt nicht bearbeitet.The second laser light source may be formed so that the laser light is irradiated directly onto the object to be processed, and it can radiate the laser light with light energy that does not process the object to be processed.
Zusätzlich kann die Summe der Lichtenergie der ersten Laserlichtquelle und der Lichtenergie der zweiten Laserlichtquelle größer sein als die zum Bearbeiten des zu bearbeitenden Objekts benötigte Lichtenergie.In addition, the sum of the light energy of the first laser light source and the light energy of the second laser light source may be greater than the light energy required for processing the object to be processed.
Die erste Laserlichtquelle und die zweite Laserlichtquelle können aus einem der folgenden Lasertypen gebildet sein: Nd:YAG-Laser, Nd:YLF-Laser, Nd:YVO4-Laser, Titan-Saphir-Femtosekundenlaser, und CO2-Laser.The first laser light source and the second laser light source may be formed of one of the following laser types: Nd: YAG laser, Nd: YLF laser, Nd: YVO4 laser, titanium sapphire femtosecond laser, and CO 2 laser.
Der Lichtmodulator kann ein Galvanospiegel oder ein Polygonspiegel oder ein DMD oder ein LCD oder eine Photomaske sein.The light modulator may be a galvanomirror or a polygon mirror or a DMD or an LCD or a photomask.
Das optische Bestrahlungssystem kann einen Strahlexpander zum Aufweiten des von dem Lichtmodulator modulierten Laserlichts umfassen, eine Mikrolinse zum Verdichten des von dem Strahlexpander aufgeweiteten Laserlichts und eine Projektionslinse zum Projizieren des von der Mikrolinse verdichteten Laserlicht auf das zu bearbeitende Objekt.The irradiation optical system may include a beam expander for expanding the laser light modulated by the light modulator, a microlens for condensing the laser light expanded by the beam expander, and a projection lens for projecting the laser light condensed by the microlens onto the object to be processed.
Gemäß einem weiteren Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung ist ein Laserbearbeitungsgerät vorgesehen, umfassend: eine erste Laserlichtquelle und eine zweite Laserlichtquelle zum Aussenden von Laserlicht; ein Lichtmodulator zum Auswählen und Formen des Laserlichts, das von der ersten Laserlichtquelle ausgesendet worden ist; und ein optisches Bestrahlungssystem zum Bestrahlen eines zu bearbeitenden Objekts mit dem Laserlicht, wobei das Laserbearbeitungsgerät ferner einen Polarisationskonverter zum Ändern der Polarisation des Laserlichts aufweist, das von der ersten Laserlichtquelle und der zweiten Laserlichtquelle ausgesendet worden ist.According to another aspect of the present invention, there is provided a laser processing apparatus comprising: a first laser light source and a second laser light source for emitting laser light; a light modulator for selecting and shaping the laser light emitted from the first laser light source; and an irradiation optical system for irradiating an object to be processed with the laser light, the laser processing apparatus further comprising a polarization converter for changing the polarization of the laser light emitted from the first laser light source and the second laser light source.
Das Laserbearbeitungsgerät kann ferner eine Polarisationslinse umfassen, die zwischen dem optischen Bestrahlungssystem und dem zu bearbeitenden Objekt ausgebildet ist, um selektiv Laserlicht, das von dem optischen Bestrahlungssystem ausgesendet worden ist und Laserlicht, das von der zweiten Laserlichtquelle ausgesendet worden ist, durchzulassen oder zu reflektieren.The laser processing apparatus may further include a polarizing lens formed between the irradiation optical system and the object to be processed to selectively transmit or reflect laser light emitted from the irradiation optical system and laser light emitted from the second laser light source.
Dabei kann die erste Laserlichtquelle das Laserlicht mit Lichtenergie aussenden, die den Lichtmodulator nicht beschädigt.In this case, the first laser light source can emit the laser light with light energy, which does not damage the light modulator.
Daneben kann die zweite Laserlichtquelle so gebildet sein, dass Laserlicht direkt auf das zu bearbeitende Objekt gestrahlt wird und sie kann das Laserlicht mit Lichtenergie aussenden, die das zu bearbeitende Objekt nicht bearbeitet.In addition, the second laser light source may be formed so that laser light is irradiated directly onto the object to be processed, and it can emit the laser light with light energy that does not process the object to be processed.
Zusätzlich kann die Summe der Lichtenergie der ersten Laserlichtquelle und der Lichtenergie der zweiten Laserlichtquelle größer sein als die Lichtenergie, die zum Bearbeiten des zu bearbeitenden Objekts erforderlich ist.In addition, the sum of the light energy of the first laser light source and the light energy of the second laser light source may be larger than the light energy required to process the object to be processed.
Dabei können die erste Laserlichtquelle und die zweite Laserlichtquelle aus einem der folgenden Lasertypen gebildet sein: Nd:YAG-Laser, Nd:YLF-Laser, Nd:YVO4-Laser, Titan-Saphir-Femtosekundenlaser, und CO2-Laser.The first laser light source and the second laser light source may be formed from one of the following laser types: Nd: YAG laser, Nd: YLF laser, Nd: YVO4 laser, titanium-sapphire femtosecond laser, and CO 2 laser.
Der Lichtmodulator kann ein Galvanospiegel oder ein Polygonspiegel oder ein DMD oder ein LCD oder eine Photomaske sein.The light modulator may be a galvanomirror or a polygon mirror or a DMD or an LCD or a photomask.
Das optische Bestrahlungssystem kann einen Strahlexpander zum Aufweiten des von dem Lichtmodulator modulierten Laserlichts umfassen, eine Mikrolinse zum Verdichten des von dem Strahlenexpander aufgeweiteten Laserlichts, und eine Projektionslinse zum Projizieren des von der Mikrolinse verdichteten Laserlichts auf das zu bearbeitende Objekt.The irradiation optical system may include a beam expander for expanding the laser light modulated by the light modulator, a microlens for condensing the laser light expanded by the beam expander, and a projection lens for projecting the laser light condensed by the microlens onto the object to be processed.
Kurze Beschreibung der Zeichnungen Brief description of the drawings
Diese und/oder weitere Gesichtspunkte und Vorteile des vorliegenden allgemeinen erfinderischen Konzepts werden anhand der nachfolgenden Beschreibung von Ausführungsbeispielen, zusammen mit den zugehörigen Zeichnungen erläutert, in denen:These and / or further aspects and advantages of the present general inventive concept will be explained with reference to the following description of embodiments, together with the accompanying drawings, in which:
Detaillierte Beschreibung der bevorzugten AusführungsbeispieleDetailed Description of the Preferred Embodiments
Nachfolgend werden Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die Zeichnungen erläutert. Die folgenden Ausführungsbeispiele erläutern lediglich die vorliegende Erfindung, und die vorliegende Erfindung ist nicht auf die nachfolgenden Ausführungsbeispiele beschränkt.Hereinafter, embodiments of the present invention will be explained with reference to the drawings. The following embodiments merely illustrate the present invention, and the present invention is not limited to the following embodiments.
Bei der Beschreibung der vorliegenden Erfindung werden spezielle Erläuterungen von wohl bekannten Technologien weggelassen, um die Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung nicht unnötigerweise unklar zu machen. Die nachfolgenden Begriffe werden im Hinblick auf die Funktion der vorliegenden Erfindung definiert und können im Hinblick auf einen Nutzer oder die Absichten eines Betreibers oder gemäß dem Gebrauch geändert werden. Die Begriffe können basierend auf dem Inhalt definiert werden und in der gesamten Beschreibung verwendet werden.In describing the present invention, specific illustrations of well-known technologies are omitted so as not to unnecessarily obscure the embodiments of the present invention. The following terms are defined in terms of the function of the present invention and may be changed with respect to a user or the intentions of an operator or according to use. The terms can be defined based on the content and used throughout the description.
Der technische Gehalt der vorliegenden Erfindung sollte durch die angehängten Patentansprüche definiert werden, und die folgenden Ausführungsbeispiele sind als Beispiele vorgesehen, um den technischen Gehalt der Erfindung einem Fachmann auf diesem Gebiet effizient zu vermitteln.The technical content of the present invention should be defined by the appended claims, and the following embodiments are provided as examples to efficiently convey the technical content of the invention to those skilled in the art.
Nachfolgend werden Ausführungsbeispiele des Laserbearbeitungsgeräts gemäß der vorliegenden Erfindung im Detail unter Bezugnahme auf die
Wie in
Das Laserbearbeitungsgerät, das ein Gerät ist, das ein zu bearbeitendes Objekt B mittels Laserlicht bearbeitet, das von der Laserlichtquelle ausgesendet wird, führt eine festgelegte Bearbeitung durch, wie Schmelzen, Schneiden, Drucken von Bildern oder Buchstaben, Belichtung, Bildung von Leiterbahnen auf einem Substrat, und Reparatur von Leiterbahnen, auf dem zu bearbeitenden Objekt B.The laser processing apparatus, which is a device that processes an object B to be processed by laser light emitted from the laser light source, performs predetermined processing such as melting, cutting, printing of images or letters, exposure, formation of conductive lines on a substrate , and repair of traces on the object B to be processed.
Das zu bearbeitende Objekt B kann ein Flachbildschirm sein, ein Halbleiterwafer, eine Mehrschichtleiterplatte, usw. Das zu bearbeitende Objekt B soll ein typisches Beispiel sein.The object B to be processed may be a flat panel display, a semiconductor wafer, a multi-layer board, etc. The object B to be processed is to be a typical example.
Die erste Laserlichtquelle
Die zweite Laserlichtquelle
Die erste Laserlichtquelle
Die erste Laserlichtquelle
Es wird jedoch bevorzugt, dass die Summe der Lichtenergie des von der ersten Laserlichtquelle
Das bedeutet, dass das zu bearbeitende Objekt B bearbeitet wird durch die Summe des Laserlichts der ersten Laserlichtquelle
Zusätzlich, obwohl erwähnt wurde, dass die Laserlichtquelle in dem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung benutzt wird, kann jegliche Komponente, die Licht aussendet, das das zu bearbeitende Objekt B bearbeitet, wie eine Leuchtdiode (LED), oder eine Lampe, ebenso wie die Laserlichtquelle benutzt werden.In addition, although it has been mentioned that the laser light source is used in the embodiment of the present invention, any component that emits light processing the object B to be processed, such as a light emitting diode (LED) or a lamp, may be used as well as the laser light source become.
Der Lichtmodulator
Der DMD, der das Laserlicht auf das zu bearbeitende Objekt B strahlt durch selektives Reflektieren und Formen des Laserlichts kann in einem oberen Raum des zu bearbeitenden Objekts B gebildet sein.The DMD which irradiates the laser light onto the object B to be processed by selectively reflecting and shaping the laser light may be formed in an upper space of the object B to be processed.
Der DMD kann aus einer Mehrzahl von Mikrospiegeln gebildet sein, die in einer zweidimensionalen Feldform angeordnet sind, und die in der Lage sind ihren Winkel einzustellen, wobei der Neigungswinkel jedes Mikrospiegels wenigstens in zwei Stellungen geändert werden kann.The DMD may be formed of a plurality of micromirrors arranged in a two-dimensional field shape and capable of adjusting their angle, wherein the tilt angle of each micromirror may be changed at least in two positions.
Zusätzlich kann jeder Mikrospiegel unabhängig in einen „eingeschalteten Zustand” und einen „ausgeschalteten Zustand” gemäß dem Neigungswinkel umgewandelt werden, und der Zustand des Mikrospiegels kann durch einen (nicht gezeigten) Controller geändert werden. Der Controller kann Daten speichern, die anzeigen, ob mit einfallendem Laserlicht bestrahlt wird oder nicht.In addition, each micromirror can be independently converted into an "on state" and an "off state" according to the tilt angle, and the state of the micromirror can be changed by a controller (not shown). The controller can store data indicating whether irradiated with incident laser light or not.
Dementsprechend wird in dem DMD der Mikrospiegel in einen „eingeschalteten Zustand” oder einen „ausgeschalteten Zustand” umgewandelt gemäß den Daten des Controllers und das einfallende Laserlicht wird in senkrechter Richtung reflektiert, so dass es auf das zu bearbeitende Objekt B gestrahlt wird, wenn es auf den Mikrospiegel in dem eingeschalteten Zustand einfällt, und das Laserlicht wird in einer zur senkrechten Richtung unterschiedlichen Richtung reflektiert, so dass es das zu bearbeitende Objekt B nicht bestrahlt, wenn es auf den Mikrospiegel im ausgeschalteten Zustand einfällt.Accordingly, in the DMD, the micromirror is converted into a "turned-on" state or an "off-state" according to the data of the controller, and the incident laser light is reflected in the vertical direction so as to be irradiated on the object B to be processed when it rises the micromirror is incident in the on state, and the laser light is reflected in a direction different from the perpendicular direction so that it does not irradiate the object B to be processed when it is incident on the micromirror when turned off.
Das optische Bestrahlungssystem
Der Lichtmodulator
Daneben, wie in
Wenn der Lichtmodulator
Da das zu bearbeitende Objekt B durch die zweite Laserlichtquelle vorgeheizt ist, wird lediglich der Bereich bearbeitet, der selektiv durch die Photomaske durchgelassen wird.Since the object B to be processed is preheated by the second laser light source, only the area which is selectively transmitted through the photomask is processed.
Ein Verfahren zum Bearbeiten des zu bearbeitenden Objekts B durch das Laserbearbeitungsgerät, das wie oben beschrieben aufgebaut ist, wird unter Bezugnahme auf
Zunächst sendet die zweite Laserlichtquelle
Anschließend wählt der Lichtmodulator
Das Laserlicht, das von der ersten Laserlichtquelle
Dementsprechend ist es möglich, die Bearbeitungsgeschwindigkeit zu erhöhen im Vergleich zu dem Fall, wenn eine Laserlichtquelle benutzt wird, durch Bearbeiten des zu bearbeitenden Objekts B mit den beiden Laserlichtquellen.Accordingly, it is possible to increase the machining speed as compared with the case where a laser light source is used by machining the object B to be processed with the two laser light sources.
Wie in
Die erste Laserlichtquelle
Das bedeutet, dass es möglich ist, Wartungskosten zu reduzieren wegen der Beschädigung des Lichtmodulators
Die dichroitische Linse
Dabei lässt die dichroitische Linse
Das bedeutet, wenn Laserlicht mit mehreren Wellenlängen benutzt wird, ist es möglich das zu bearbeitende Objekt B zu bearbeiten durch Addieren des Laserlichts mit mehreren Wellenlängen und durch Strahlen des Laserlichts in eine Richtung durch die dichroitische Linse
Dementsprechend ist es möglich die Bearbeitungsgeschwindigkeit zu erhöhen im Vergleich zu dem Fall wenn eine Laserlichtquelle genutzt wird, durch Vorheizen des zu bearbeitenden Objekts B durch das Laserlicht der zweiten Laserlichtquelle
Ein Laserbearbeitungsgerät gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung betrifft ein Laserbearbeitungsgerät, bei dem zwei Laserlichtquellen benutzt werden, die Laserlicht mit derselben Wellenlänge aussenden. A laser processing apparatus according to a third embodiment of the present invention relates to a laser processing apparatus using two laser light sources emitting laser light of the same wavelength.
Wie in
Daneben kann das Laserbearbeitungsgerät ferner eine Polarisationslinse
Der Polarisationskonverter
Der vertikale Polarisationskonverter
Die Polarisationslinse
Beispielsweise wird Laserlicht, das von der zweiten Laserlichtquelle
Die erste Laserlichtquelle
Allerdings wird es bevorzugt, dass die Summe der Lichtenergie des Laserlichts, das von der ersten Laserlichtquelle
D. h., dass es möglich ist Wartungskosten zu verringern wegen der Beschädigung des Lichtmodulators
Daneben ist es möglich die Bearbeitungsgeschwindigkeit zu verbessern im Vergleich zu dem Fall wenn eine Laserlichtquelle benutzt wird durch Bearbeiten des zu bearbeitenden Objekts mit den beiden Laserlichtquellen.Besides, it is possible to improve the processing speed as compared with the case where a laser light source is used by processing the object to be processed with the two laser light sources.
Das Laserbearbeitungsgerät gemäß dem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung, um die oben erwähnten Ziele zu erreichen, kann das zu bearbeitende Objekt bearbeiten ohne eine Beschädigung des Lichtmodulators durch Bearbeiten des zu bearbeitenden Objekts, wobei die Summe des Laserlichts, das von den beiden Laserlichtquellen ausgesendet wird mit einer solchen Lichtenergie benutzt wird, die den Lichtmodulator nicht beschädigt, wodurch Wartungskosten durch eine Beschädigung des Lichtmodulators reduziert werden.The laser processing apparatus according to the embodiment of the present invention, in order to achieve the above-mentioned objects, can process the object to be processed without damaging the light modulator by processing the object to be processed, the sum of the Laser light emitted by the two laser light sources is used with such a light energy that does not damage the light modulator, thereby reducing maintenance costs by damaging the light modulator.
Daneben ist es möglich das zu bearbeitende Gerät zu vereinfachen durch Benutzen des Lichtmodulators.In addition, it is possible to simplify the device to be processed by using the light modulator.
Zusätzlich ist es möglich die Zeit zu verringern, die für das Aufbringen der Lichtenergie für die Bearbeitung erforderlich ist und um somit die Produktivität zu verbessern durch ein geteiltes Aufbringen des Laserlichts auf das zu bearbeitende Objekt durch die beiden Laserlichtquellen.In addition, it is possible to reduce the time required for the application of the light energy for the processing and thus to improve the productivity by dividing the laser light onto the object to be processed by the two laser light sources.
Obwohl die vorliegende Erfindung im Detail unter Bezugnahme auf die bevorzugten Ausführungsbeispiele beschrieben wurde, ist es für einen Fachmann auf diesem Gebiet klar, dass unterschiedliche Veränderungen gemacht werden können in diesen Ausführungsbeispielen, ohne von der Idee der vorliegenden Erfindung abzuweichen.Although the present invention has been described in detail with reference to the preferred embodiments, it will be apparent to those skilled in the art that various changes can be made in these embodiments without departing from the spirit of the present invention.
Dementsprechend sollte der Schutzbereich der vorliegenden Erfindung nicht auf die beschriebenen Ausführungsbeispiele beschränkt werden, sondern durch die zugehörigen Patentansprüche und deren Äquivalente definiert sein.Accordingly, the scope of the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be defined by the appended claims and their equivalents.
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
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Zitierte PatentliteraturCited patent literature
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---|---|---|---|---|
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JP6459659B2 (en) | 2014-03-18 | 2019-01-30 | 株式会社リコー | Image processing apparatus, image processing method, driving support system, program |
KR101825922B1 (en) * | 2015-08-28 | 2018-03-22 | 주식회사 이오테크닉스 | Apparatus and method for laser processing |
KR101872441B1 (en) * | 2017-01-26 | 2018-06-28 | 주식회사 이오테크닉스 | Mask cleaning apparatus and laser annealing apparatus |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20120035515A (en) | 2010-10-05 | 2012-04-16 | 엘지이노텍 주식회사 | Solar cell apparatus |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19544502C1 (en) * | 1995-11-29 | 1997-05-15 | Baasel Scheel Lasergraphics Gm | Laser engraving machine |
US6141030A (en) * | 1997-04-24 | 2000-10-31 | Konica Corporation | Laser exposure unit including plural laser beam sources differing in wavelength |
JPH10315425A (en) * | 1997-05-20 | 1998-12-02 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Laser platemaking apparatus |
JP4322359B2 (en) * | 1999-07-08 | 2009-08-26 | 住友重機械工業株式会社 | Laser processing equipment |
JP2003203874A (en) * | 2002-01-10 | 2003-07-18 | Sharp Corp | Laser irradiator |
DE10201476B4 (en) * | 2002-01-16 | 2005-02-24 | Siemens Ag | Laser processing device |
JP5080009B2 (en) * | 2005-03-22 | 2012-11-21 | 日立ビアメカニクス株式会社 | Exposure method |
JP2010115670A (en) * | 2008-11-11 | 2010-05-27 | Olympus Corp | Laser repair apparatus |
-
2012
- 2012-04-05 KR KR1020120035515A patent/KR101497763B1/en not_active IP Right Cessation
-
2013
- 2013-03-19 JP JP2013056572A patent/JP2013215804A/en active Pending
- 2013-03-26 DE DE102013103063A patent/DE102013103063A1/en not_active Withdrawn
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20120035515A (en) | 2010-10-05 | 2012-04-16 | 엘지이노텍 주식회사 | Solar cell apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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JP2013215804A (en) | 2013-10-24 |
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