JP2013207058A - 基板処理装置、基板処理方法、半導体装置の製造方法および記録媒体。 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】複数の基板を収納した運搬容器を載置する載置台と、前記基板に対して加熱処理を施す処理室と、前記処理室に隣接され且つ前記載置台との間に設けられ、前記載置台と前記処理室の間で前記基板を搬送する搬送ロボットを有する搬送室と、前記搬送室に設けられ、前記処理室で処理された基板を積層するよう構成する基板載置部と、前記搬送室に設けられ、前記積層された基板を当該基板の側方から冷却ガスを供給する冷却部と、を有する
【選択図】図1
Description
しかしながら、処理済のウエハが冷却される際の冷却場所や、冷却方法によっては、スループットが低下するという問題が有った。
複数の基板を収納した運搬容器を載置する載置台と、前記基板に対して加熱処理を施す処理室と、前記処理室に隣接され且つ前記載置台との間に設けられ、前記載置台と前記処理室の間で前記基板を搬送する搬送ロボットを有する搬送室と、前記搬送室に設けられ、前記処理室で処理された基板を積層するよう構成する基板載置部と、前記搬送室に設けられ、前記積層された基板を当該基板の側方から冷却ガスを供給する冷却部と、を有する基板処理装置が提供される。
処理室に基板を搬入するステップと、前記処理室で基板を加熱処理するステップと、前記処理室から加熱処理された基板を搬送室へ搬出するステップと、前記加熱処理された基板を、当該基板の側方へ冷却ガスを供給する冷却部が設けられ複数の基板が載置される基板載置部に搬送するステップと、を有する基板処理方法が提供される。
処理室に基板を搬入するステップと、前記処理室で基板を加熱処理するステップと、前記処理室から加熱処理された基板を搬送室へ搬出するステップと、前記加熱処理された基板を、当該基板の側方へ冷却ガスを供給する冷却部が設けられ複数の基板が載置される基板載置部に搬送するステップと、を有する半導体装置の製造方法が提供される。
処理室に基板を搬入するステップと、前記処理室で基板を加熱処理するステップと、前記処理室から加熱処理された基板を搬送室へ搬出するステップと、前記加熱処理された基板を、当該基板の側方へ冷却ガスを供給する冷却部が設けられ複数の基板が載置される基板載置部に搬送するステップと、を有する基板処理方法を実行するためのプログラムが記録された記録媒体が提供される。
以下に、本発明の一実施形態について説明する。
まず、本実施形態にかかる基板処理装置の構成例について、図1、図2を用いて説明する。図1、図2は基板処理装置の断面構成図である。基板処理装置は、マイクロ波を用いて基板や基板に形成された膜を加熱処理する装置である。例えば、シリコン等からなる基板200を処理する装置である。
により、ポッド100に対する基板200の出し入れを可能にする。また、ポッド100は図示しない工程内搬送装置(OHT)によって、ロードポート105に対して供給および排出されるようになっている。
以下、前記構成をもつ基板処理装置を使用した基板の搬送工程を説明する。
続いて本発明の実施形態に係る処理炉の構成について、図3に示す処理炉201を用いて説明する。
なお、真空ポンプ264をガス排出部に含めるようにしても良い。
続いて、本実施形態に於ける加熱処理工程について説明する。
続いて、基板の冷却効率を向上させるための方法を説明する。
ここで、図4を用いて搬送室121内に設けられた基板載置台106について具体的に説明する。
基板保持用パッド281は、フレーム280のそれぞれの辺に凸状に設ける。基板保持用パッドの材質は耐熱性材質とし、例えばアルミナセラミック、耐熱性樹脂、石英などを用いる。
複数のフレーム280は複数の支柱282によって、垂直方向に支持され、ウエハ200を垂直方向に複数枚搭載可能な構造としている。フレーム280は例えば3枚搭載される。
アームによって搬送されたウエハ200は、それぞれのフレーム280に備えられた基板保持用パッド281に載置され、積層される。このとき、各ウエハ200のエッジ部と基板保持用パッド281が接触する。
尚、エッジ部とは、基板の外周であって、半導体装置として使用しない部分を言い、除外エリアとも呼ばれる。
また、フレーム280の一部を支柱282で支持することで、それぞれの支柱282間からフレーム280間にエアーフローが流れ込むことが可能となる。更には、フレーム280の中央を開放することで、エアーフローがウエハ裏面及びその裏面に対向するウエハの表面に回り込むため、冷却効率をより上げることができる。
また、更に、耐熱性材質であるため、プロセスモジュールにて加熱処理されたウエハ200を支持しても熱変形が起きることが無い。そのため、温度の高い基板を載置しても、ウエハ裏面の損傷を防ぐことができる。
尚、ここでフレーム280はコの字形状としたが、それに限らず、円形状、八角形状など多角形状でも良い。
次に、本基板処理装置の基板処理シーケンスの詳細について、図5を用いて説明する。
W1、W2・・・Wn・・・W9は、プロセスモジュール10にて処理される基板を示し、W1は1ロット中の最初のウエハ、W2は1ロット中の2枚目のウエハ、Wnはn毎目のウエハを示す。ここでは、説明の便宜上、9枚のウエハであって、High−k膜を有するシリコン基板を対象として説明する。また、PM1はプロセスモジュール201、PM2は、プロセスモジュール202、PM3はプロセスモジュール203を示す。
また、CSは基板載置部106を示し、CS1は基板載置部106の内最もファン118から遠い位置に設けられる第一フレーム280aを、CS2はフレーム280aの重力方向情報に隣接する基板載置部106の第二フレーム280bを、CS3は、フレーム280bの重力方向上方に隣接する基板載置部106の第三フレーム280cを示す。
搬送とは、基板移載機124がウエハをプロセスモジュールへ搬入、もしくはプロセスモジュールから搬出することを言う。
スワップ搬送とは基板移載機124がプロセスモジュールで処理した処理済みウエハを搬出、未処理ウエハをプロセスモジュールに搬入し、更に、搬送室121の基板載置台106に処理済みウエハを載置することを言う。
基板返却搬送とは、基板移載機124がWnをロードポート105上のポッド100に戻すことを言う。以下説明の搬送時間1Tは、上記スワップ搬送に要する時間に相当する。
処理の具体例については、後述する。
本シーケンスは、全てのプロセスモジュールにて同じ処理をする場合を想定しており、処理時間を7Tとしている。
冷却(PMn)は、プロセスモジュールnで処理済みウエハを冷却する動作を言い、4Tとしている。
シャッター134が開放され、ロードポート上に載置されたポッド100に搭載された最初のウエハW1を基板移載機124が取り出す。基板移載機124は、搬送室121内を移動/回転し、W1をPM1の基板支持ピン上端213へ載置する(W1の搬送)。
基板移載機124は、移載室121内を移動/回転し、ポッド100からW2を取り出す。基板移載124は、移載室121内を移動/回転し、W2をPM2に搬入する(W2の搬送)。
これと並行して、PM1の導波口222から処理室にマイクロ波を供給し、W1を加熱する(処理(PM1))。
基板移載機124は、移載室121内を移動/回転し、ポッド100からW3を取り出す。基板移載機124は、移載室121内を移動/回転し、W3をPM3に搬入する(W3の搬送)。
これと並行して、PM2の導波口222から処理室にマイクロ波を供給しW2を加熱する(処理(PM2))。
PM3の導波口222から処理室にマイクロ波を供給し、W3を加熱する(処理(PM3))。
ステップ2の開始から7T後、PM1ではマイクロ波の供給を停止する。次にPM1のガス供給管252から不活性のガス(例えばN2ガス)を供給する。基板200と基板支持台212の間にガスを流すことにより、加熱されたW1を冷却する(冷却(PM1))。
ステップ3の開始から7T後、PM2ではマイクロ波の供給を停止する。次にPM2のガス供給管252から不活性のガス(例えばN2ガス)を供給する。基板200と基板支持台212の間にガスを流すことにより、加熱されたW2を冷却する(冷却(PM2))。
ステップ4の開始から7T後、PM3ではマイクロ波の供給を停止する。次にPM3のガス供給管252から不活性のガス(例えばN2ガス)を供給する。基板200と基板支持台212との間にガスを流すことにより、加熱されたW3を冷却する(冷却(PM3))。
基板移載機124は、ポッド100から取り出したW4をPM1に搬入し、加熱処理され、更に処理室内で冷却されたW1をPM1から搬出する。搬出されたW1を搭載した基板移載機124は、移載室121内を移動/回転し、移載室121内に備えられた基板載置台106の内、第一フレーム280aにウエハを載置する(搬送)。
基板載置台106の第一フレーム280aに載置されたウエハは天井からのエアーフローにより効率よく冷却が行われる。
基板移載機124は、ポッド100から取り出したW5をPM2に搬入し、加熱処理され、更に処理室内で冷却されたW2をPM2から搬出する。搬出されたW2を搭載した基板移載機124は、移載室121内を移動/回転し、移載室121内に備えられた基板載置台106の内、第二フレーム280bにウエハを載置する(搬送)。また、これと並行して、PM1の導波口122から処理室にマイクロ波を供給し、W4を加熱する(処理(PM1))。
基板載置台106の第二フレーム280bに載置されたウエハは天井からのエアーフローにより効率よく冷却が行われる。このとき、第一フレーム280aに載置されたW1は、基板載置台106の側面から供給されるエアーフローによって、間接的に冷却される(冷却(CS1))。
基板移載機124は、ポッド100から取り出したW6をPM3に搬入し、加熱処理され、更に処理室内で冷却されたW3をPM3から搬出する。搬出されたW3を搭載した基板移載機124は、移載室121内を移動/回転し、移載室121内に備えられた基板載置台106の内、第三フレーム210cにウエハを載置する(搬送)。
また、これと並行して、PM2の導波口222から処理室にマイクロ波を供給し、W5を加熱する(処理(PM2))。
基板載置台106の第三フレーム280cに載置されたウエハは天井からのエアーフローにより効率良く冷却が可能となる。このとき、第二フレーム280bに載置されたW2は、基板載置台106の側面から供給されるエアーフローによって間接的に冷却される(冷却(CS3))。
また、これと並行して、PM3の導波口222から処理室にマイクロ波を供給し、W6を加熱する(処理(PM3))。
S9から3T後、基板移載機124が第一フレーム280aからW1を取り出し、移載室121内を移動/回転し、ポッド100の所定の位置へ戻す。
S10から3T後、基板移載機124が第二フレーム280bからW2を取り出し、移載室121内を移動/回転し、ポッド100の所定の位置へ戻す。
S11から3T後、基板移載機124が第三フレーム280cからW3を取り出し、移載室121内を移動/回転し、ポッド100の所定の位置へ戻す。
上記ステップと同様に、各プロセスモジュール、基板載置フレームでウエハを加熱処理、冷却処理を繰り返し、ポッド100の所定の位置へウエハを戻す。
更に、処理時間及び冷却時間を調整することで、下層側のフレームにウエハを載置する際には、上層側のフレームにウエハを載置していない状態にする。
具体的には、加熱されたn枚目のウエハを最下層に載置する。例えば、第一フレーム210aに載置した後、次に加熱されたn+1枚目のウエハを、n枚目のウエハを載置したフレームより更にファンに近い位置に設けられたフレーム、例えば第二フレーム210bに載置する。
このように搬送/載置することで、ウエハを基板載置部に載置した際、n+1枚目のウエハがn番目のウエハの熱影響を受けたとしても、エアーフローによる冷却効果を優先的に得ることができるため、n+1番目のウエハの冷却時間を短くすることができる。
本実施形態によれば、以下に示す1つまたは複数の効果を奏する。
High−k膜とLow−k膜が形成され、High−k膜が加熱された基板を効率良く冷却することができる。
(b)また、上述の基板処理シーケンスによって、High−k膜とLow−k膜が形成され、High−k膜を加熱処理する処理工程の工程を短縮することができる。
(c)また、基板載置台へ、上述の様に基板を搬送することによって、n+1枚目のウエハがn番目のウエハの熱影響を受けたとしても、エアーフローによる冷却効果を優先的に得ることができるため、n+1番目のウエハの冷却時間を短くすることができる
以下に、本発明の他の実施形態について説明する。
前述の様に、マイクロ波の出力を上げる等して基板の処理時間を短くして更に高いスループット処理を達成するためには、基板処理時間に合わせて基板載置台106での基板冷却時間も短くする必要がある。
発明者は、更に鋭意研究した結果、基板載置台106へのエアーフローを工夫することにより、基板の冷却時間を短縮することができ、基板処理スループットを向上させられることを見出した。
図7に示す基板冷却室110では、冷却室前部にクリーンユニット111が備えられている。クリーンユニット111は、基板冷却汁110の前方から基板冷却室110の中に設置された基板載置台106に向けて、除塵された大気または、N2ガスやArガスなどの基板に対して不活性な冷却ガスを供給することで、基板載置台106に積層されて置かれた加熱処理されたウエハを冷却する。
本実施形態によれば、上述の一実施形態に係る効果に加え、以下に示す1つまたは複数の効果を奏する。
以下に、本発明の更に他の実施形態について説明する。
図8に示した基板冷却室110の実施形態について説明する。
基板冷却室110の内部には、図8に示すように、一方にシャワーヘッド112が備えられ、他の一方にガス排気管115が備えられている。移載室121と冷却室110との間にはドアバルブ113が設けられ、処理基板を処理室121から冷却室110へ移載する時と、冷却済み基板を冷却室110から移載室121へ移載する時に開く。シャワーヘッド112には、一個または複数個のガス供給孔が設けられ、ガス供給管114からN2ガスなどの不活性ガスが供給される。シャワーヘッド112のガス供給孔から、基板冷却室110の中に設置された基板載置台106に向けて、不活性ガスを供給することで、基板載置台106に積層されて置かれた加熱処理されたウエハを冷却する。
図1,図2,図7,図8に示すように、制御部300は、信号線Aによって処理室201と接続され、信号線Bによって処理室202と接続され、信号線Cによって処理室203と接続され、信号線Dによって、基板載置台106と接続され、信号線Eによって基板移載機124と接続され、信号線Fによって、基板搬入搬出口134・基板搬入搬出口クロージャ142と接続され、信号線Hによってクリーンユニット111と接続され、信号線Iによってガス排気部と接続され、信号線Jによってガス供給管114と接続されている。また、図3に示すように、制御部300は、信号線Aaによってマイクロ波発生部220と接続され、信号線Abによってウエハ温度測定器223と接続され、信号線Acによって開閉バルブ253・流量制御装置254と接続され、信号線Adによって圧力調整バルブ263・真空ポンプ264と接続され、信号線Aeによって、開閉バルブ232・冷却水流量計231と接続されている。
なお、信号線Gでクリーンユニット118と制御部300とを接続し、クリーンユニット118に設けられたファン回転数を調整できるようにしても良い。
以下に、本発明の好ましい態様について付記する。
本発明の一態様によれば、
複数の基板を収納した運搬容器を載置する載置台と、前記基板に対して加熱処理を施す処理室と、前記処理室に隣接され且つ前記載置台との間に設けられ、前記載置台と前記処理室の間で前記基板を搬送する搬送ロボットを有する搬送室と、前記搬送室に設けられ、前記処理室で処理された基板を積層するよう構成する基板載置部と、前記搬送室に設けられ、前記積層された基板を当該基板の側方から冷却ガスを供給する冷却部と、を有する基板処理装置が提供される。
また好ましくは、
前記冷却ガスを排気する排気部を有する。
また好ましくは、
冷却部はシャワーヘッドを有する。
また好ましくは、
前記搬送室内であって、基板載置台の上部に別の冷却部を設ける。
また好ましくは、
前記処理室には、マイクロ波供給部が設けられている。
また本発明の他の態様によれば、
処理室に基板を搬入するステップと、前記処理室で基板を加熱処理するステップと、前記処理室から加熱処理された基板を搬送室へ搬出するステップと、前記加熱処理された基板を、当該基板の側方へ冷却ガスを供給する冷却部が設けられ複数の基板が載置される基板載置部に搬送するステップと、を有する基板処理方法が提供される。
また好ましくは、
前記基板載置部に設けられた複数の基板載置フレームの下方から基板を載置するステップを有する。
また本発明の他の態様によれば、
上述の基板処理方法を実行するためのプログラムが記録された記録媒体が提供される。
また本発明の他の態様によれば、
処理室に基板を搬入するステップと、前記処理室で基板を加熱処理するステップと、前記処理室から加熱処理された基板を搬送室へ搬出するステップと、前記加熱処理された基板を、当該基板の側方へ冷却ガスを供給する冷却部が設けられ複数の基板が載置される基板載置部に搬送するステップと、を有する半導体装置の製造方法が提供される。
また好ましくは、
前記基板載置部に設けられた複数の基板載置フレームの下方から基板を載置するステップを有する。
また好ましくは、
上述の半導体装置の製造方法を実行させるプログラムが記録された記録媒体が提供される。
100a FOUPキャップ
105 ロードポート
106 基板載置台
108 ポッドオープナ
111 クリーンユニット
112 シャワーヘッド
113 ドアバルブ
114 ガス供給管
115 ガス排気管
118 クリーンユニット
121 搬送室
124 基板移載機
125 搬送室筐体
128〜130 ゲートバルブ
131 基板移載機エレベータ
132 リニアアクチュエーター
134 基板搬入搬出口
136 クロージャ駆動機構
142 基板搬入搬出口クロージャ
200 基板(ウエハ)
201 第一の処理炉
202 第二の処理炉
203 第三の処理炉
212 基板支持台
213 基板支持ピン
218 反応炉筐体
220 マイクロ波発生部
221 導波路(導波管)
222 導波口
223 ウエハ温度測定器
231 冷却水流量計
232 開閉バルブ
233 冷却水経路
252 ガス供給管
253 開閉バルブ
254 流量制御装置
255 ガス供給源
262 ガス排出管
263 圧力調整バルブ
264 真空ポンプ
271 基板搬送口
280 基板載置台フレーム
281 基板保持パッド
282 基板載置台柱
300 制御部
301 表示部
302 演算部
303 操作部
304 記録部
Claims (5)
- 複数の基板を収納した運搬容器を載置する載置台と、
前記基板に対して加熱処理を施す処理室と、
前記処理室に隣接され且つ前記載置台との間に設けられ、前記載置台と前記処理室の間で前記基板を搬送する搬送ロボットを有する搬送室と、
前記搬送室に設けられ、前記処理室で処理された基板を積層するよう構成する基板載置部と、
前記搬送室に設けられ、前記積層された基板を当該基板の側方から冷却ガスを供給する冷却部と、
を有する基板処理装置。 - 処理室に基板を搬入するステップと、
前記処理室で基板を加熱処理するステップと、
前記処理室から加熱処理された基板を搬送室へ搬出するステップと、
前記加熱処理された基板を、当該基板の側方へ冷却ガスを供給する冷却部が設けられ複数の基板が載置される基板載置部に搬送するステップと、
を有する基板処理方法。 - 前記基板載置部に設けられた複数の基板載置フレームの下方から基板を載置するステップを有する請求項2記載の基板処理方法。
- 処理室に基板を搬入するステップと、
前記処理室で基板を加熱処理するステップと、
前記処理室から加熱処理された基板を搬送室へ搬出するステップと、
前記加熱処理された基板を、当該基板の側方へ冷却ガスを供給する冷却部が設けられ複数の基板が載置される基板載置部に搬送するステップと、
を有する半導体装置の製造方法。 - 処理室に基板を搬入するステップと、
前記処理室で基板を加熱処理するステップと、
前記処理室から加熱処理された基板を搬送室へ搬出するステップと、
前記加熱処理された基板を、当該基板の側方へ冷却ガスを供給する冷却部が設けられ複数の基板が載置される基板載置部に搬送するステップと、
を有する基板処理方法を実行させるプログラムが記録された記録媒体。
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-
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