JP2013199562A - Sheet substrate for workpiece processing and sheet for workpiece processing - Google Patents

Sheet substrate for workpiece processing and sheet for workpiece processing Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress generation of dicing debris occurring at the time of dicing a workpiece without applying physical energy such as electron beams and γ rays.SOLUTION: A substrate includes a block copolymer shown by the following formula: (high Tg block)-{(low Tg block)-(high Tg block)}n, wherein: n is an integer of 1 to 3; the high Tg block is a polymer block comprising a monomer unit whose homopolymer has 0°C or higher glass transition temperature; the low Tg block is a polymer block comprising a monomer unit whose homopolymer has lower than 0°C glass transition temperature; the difference between the glass transition temperature of the high Tg block and the glass transition temperature of the low Tg block is 30°C or more; and 25 mass% or more of the high Tg monomer is contained in 100 mass% of whole monomers used for polymerization of the block copolymer.

Description

本発明は、半導体ウエハ等の被切断物(以下、「ワーク」と記載することがある)にダイシングなどの加工を行う際に、当該ワークが貼付、保持されるワーク加工用シートに用いられる基材に関し、また本発明はかかる基材を備えたワーク加工用シートに関する。   The present invention relates to a substrate used for a workpiece processing sheet on which a workpiece is stuck and held when a workpiece such as a semiconductor wafer (hereinafter sometimes referred to as “work”) is processed such as dicing. The present invention relates to a material, and the present invention relates to a workpiece processing sheet provided with such a substrate.

半導体ウエハなどのワークをダイシングし、得られたチップをダイボンドする一連の工程では、各種の粘着シートやフィルム状接着剤が用いられている。   Various adhesive sheets and film adhesives are used in a series of steps of dicing a workpiece such as a semiconductor wafer and die bonding the obtained chip.

たとえば、ダイシング工程に用いる粘着シートは、基材と感圧接着性を有する粘着剤層とからなり、半導体ウエハなどのワークをダイシングする際に、当該ワークを固定し、またダイシング後にはチップを保持するために用いられる。また、粘着シート上でダイシングされたチップを、該粘着シートから直接ピックアップしたり、またチップを、ピックアップ用粘着シートに転写した後に、ピックアップしたりすることがある。   For example, the pressure-sensitive adhesive sheet used in the dicing process consists of a base material and a pressure-sensitive adhesive layer, and when the work such as a semiconductor wafer is diced, the work is fixed and the chip is held after dicing. Used to do. Further, a chip diced on the pressure-sensitive adhesive sheet may be directly picked up from the pressure-sensitive adhesive sheet, or may be picked up after the chip is transferred to the pressure-sensitive adhesive sheet for pickup.

また、ダイシング時のウエハ固定機能とダイボンド時のダイ接着機能とを同時に兼ね備えたダイシング・ダイボンド兼用シートも提案されている。ダイシング・ダイボンド兼用シートは、ウエハ保持機能とダイ接着機能とを兼ね備えた接着性樹脂層と、基材とからなる。接着性樹脂層は、ダイシング工程においては半導体ウエハやチップを保持し、ダイボンド時にはチップを固着するための接着剤として機能する。接着性樹脂層は、ダイシング時には、ウエハとともに切断され、切断されたチップと同形状の接着性樹脂層が形成される。ダイシング終了後、チップのピックアップを行うと、接着性樹脂層は、チップとともに剥離する。接着性樹脂層を伴ったチップを基板に載置し、加熱等を行い、チップと基板とを接着性樹脂層を介して接着する。このようなダイシング・ダイボンド兼用シートは、基材上に、ウエハ固定機能とダイ接着機能とを兼ね備えた接着性樹脂層が形成されてなる。   A dicing / die-bonding sheet has also been proposed that has both a wafer fixing function during dicing and a die bonding function during die bonding. The dicing / die-bonding sheet is composed of an adhesive resin layer having both a wafer holding function and a die bonding function, and a base material. The adhesive resin layer holds a semiconductor wafer or chip in the dicing process, and functions as an adhesive for fixing the chip during die bonding. At the time of dicing, the adhesive resin layer is cut together with the wafer, and an adhesive resin layer having the same shape as the cut chip is formed. When the chip is picked up after the dicing is completed, the adhesive resin layer is peeled off together with the chip. The chip with the adhesive resin layer is placed on the substrate, heated, etc., and the chip and the substrate are bonded via the adhesive resin layer. Such a dicing / die-bonding sheet is formed by forming an adhesive resin layer having both a wafer fixing function and a die bonding function on a substrate.

また、チップの表面に保護膜を形成するために、硬化性の樹脂層に半導体ウエハを貼付し、樹脂層を硬化させ、その後、半導体ウエハと樹脂層をダイシングし、硬化した樹脂層(保護膜)を有するチップを製造するプロセスも提案されている。このような保護膜形成用のシートは、剥離性基材上に保護膜となる接着性の樹脂層を有する。   In addition, in order to form a protective film on the surface of the chip, a semiconductor wafer is attached to the curable resin layer, the resin layer is cured, and then the semiconductor wafer and the resin layer are diced, and the cured resin layer (protective film) A process for manufacturing a chip having) has also been proposed. Such a sheet for forming a protective film has an adhesive resin layer serving as a protective film on a peelable substrate.

以下、上記のようなダイシングシート、ピックアップ用粘着シート、ダイシング・ダイボンド兼用シート、保護膜形成用シートを総称して、「ワーク加工用シート」と呼ぶ。また、上記のような感圧接着性を有する粘着剤層や、ウエハ保持機能とダイ接着機能とを兼ね備えた接着性樹脂層および保護膜となる接着性の樹脂層を、単に「接着性樹脂層」と記載することがある。   Hereinafter, the above-described dicing sheet, pickup adhesive sheet, dicing / die-bonding sheet, and protective film forming sheet are collectively referred to as “work processing sheet”. In addition, the pressure-sensitive adhesive layer having the pressure-sensitive adhesive property as described above, the adhesive resin layer having both the wafer holding function and the die bonding function, and the adhesive resin layer serving as a protective film are simply referred to as “adhesive resin layer”. May be described.

このようなワーク加工用シートは、通常、基材としてポリオレフィン系フィルムまたはポリ塩化ビニル系フィルム等が使用されている。   In such a workpiece processing sheet, a polyolefin film or a polyvinyl chloride film is usually used as a base material.

ダイシング工程の具体的な手法として一般的なフルカットダイシングでは、回転する丸刃によってワークの切断が行われる。このとき、ワーク加工用シートが貼り付けられたワークが確実に切断されるように、ワークのみならず接着性樹脂層も切断され、さらに基材の一部も切断されることがある。   In general full-cut dicing as a specific method of the dicing process, the workpiece is cut by a rotating round blade. At this time, not only the workpiece but also the adhesive resin layer may be cut, and a part of the base material may be further cut so that the workpiece to which the workpiece processing sheet is attached is surely cut.

このとき、接着性樹脂層および基材を構成する材料からなるダイシング屑がワーク加工用シートから発生し、得られるチップがそのダイシング屑によって汚染される場合がある。そのようなダイシング屑の形態の一つに、糸状のダイシング屑がある。糸状のダイシング屑は、チップに付着し、ピックアップの際にチップに同伴してしまうことがある。   At this time, the dicing waste which consists of the material which comprises an adhesive resin layer and a base material generate | occur | produces from the sheet | seat for workpiece | work processing, and the chip | tip obtained may be contaminated with the dicing waste. One form of such dicing waste is thread-like dicing waste. The thread-like dicing waste adheres to the chip and may be accompanied by the chip during pickup.

上記のような糸状のダイシング屑がチップに付着したままチップの封止を行うと、チップに付着する糸状のダイシング屑が封止の熱で分解し、この熱分解物がパッケージを破壊したり、得られるデバイスにて動作不良の原因となったりする。この糸状のダイシング屑は洗浄により除去することが困難であるため、糸状のダイシング屑の発生によってダイシング工程の歩留まりは著しく低下する。それゆえ、ワーク加工用シートを用いてダイシングを行う場合には、糸状のダイシング屑の発生を防止することが求められている。   When sealing the chip with the thread-like dicing waste as described above attached to the chip, the thread-like dicing waste attached to the chip is decomposed by the heat of sealing, and this thermal decomposition product destroys the package, It may cause malfunction in the obtained device. Since this thread-like dicing waste is difficult to remove by washing, the yield of the dicing process is significantly reduced due to the occurrence of thread-like dicing waste. Therefore, when dicing is performed using a workpiece processing sheet, it is required to prevent generation of thread-like dicing waste.

また、複数のチップが硬化した樹脂で封止されているパッケージをワークとしてダイシングする場合には、半導体ウエハをダイシングする場合と比べ、より厚い刃幅のダイシングブレードが使用され、ダイシングの切り込み深さもより深くなる。このため、ダイシング時に切断除去される基材の量が半導体ウエハの場合よりも増えるため、糸状のダイシング屑の発生量も増加する。   In addition, when dicing a package in which a plurality of chips are sealed with a cured resin as a workpiece, a dicing blade having a thicker blade width is used than in the case of dicing a semiconductor wafer, and the cutting depth of dicing is also increased. Become deeper. For this reason, since the amount of base material cut and removed during dicing is larger than in the case of a semiconductor wafer, the amount of thread-like dicing waste generated also increases.

一方、たとえばポリエステル樹脂のような軟化しにくいフィルムを基材に用いた場合には、ダイシング屑の発生は抑制される。しかしながら、このようなフィルムは引張り応力が高いためにエキスパンドを行うことが実質上不可能である。このため、ワークをチップ化した後、チップ間隔を離間することができず、チップのピックアップが困難になる。   On the other hand, when a film that is difficult to soften, such as a polyester resin, is used as the substrate, the generation of dicing waste is suppressed. However, such films are practically impossible to expand due to high tensile stress. For this reason, after the work is made into chips, the chip interval cannot be separated, and chip pickup becomes difficult.

ダイシング屑の発生を抑制することを目的として、特許文献1には、ダイシングシートの基材フィルムとして、電子線またはγ(ガンマ)線が1〜80Mrad照射されたポリオレフィン系フィルムを用いる発明が開示されている。当該発明では、電子線またはγ線の照射により基材フィルムを構成する樹脂が架橋し、基材の溶融が起こりにくくなるためダイシング屑の発生が抑制されると考えられる。   For the purpose of suppressing the generation of dicing waste, Patent Document 1 discloses an invention using a polyolefin film irradiated with 1 to 80 Mrad of electron beam or γ (gamma) ray as a base film of a dicing sheet. ing. In the said invention, since resin which comprises a base film bridge | crosslinks by irradiation of an electron beam or a gamma ray, and it becomes difficult to melt | dissolve a base material, it is thought that generation | occurrence | production of a dicing waste is suppressed.

特許文献1においては、電子線またはγ線が照射されるポリオレフィン系フィルムとして、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリメチルペンテン、エチレン−酢酸ビニル共重合体、エチレン−(メタ)アクリル酸共重合体、エチレン−メチル(メタ)アクリル酸エステル共重合体、エチレン−エチル(メタ)アクリル酸共重合体、エチレン−アイオノマー共重合体、エチレン−ビニルアルコール共重合体、ポリブテン等の樹脂が例示されている。   In Patent Document 1, polyethylene, polypropylene, polymethylpentene, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene- (meth) acrylic acid copolymer, ethylene-methyl are used as polyolefin films irradiated with electron beams or γ rays. Examples include (meth) acrylic acid ester copolymers, ethylene-ethyl (meth) acrylic acid copolymers, ethylene-ionomer copolymers, ethylene-vinyl alcohol copolymers, and polybutenes.

特開平5−211234号公報Japanese Patent Laid-Open No. 5-21234

しかしながら、電子線またはγ線の照射は、上記のような樹脂を一度フィルム状に成形した後に行われるため、製造工程が一つ増えることとなり、製造コストが一般の基材フィルムに比べ高くなる傾向にある。   However, since the electron beam or γ-ray irradiation is performed after the above resin is once formed into a film shape, the number of manufacturing steps is increased, and the manufacturing cost tends to be higher than that of a general base film. It is in.

本発明は、上記のような実状に鑑みてなされたものであり、電子線やγ線などの物理的なエネルギーを与えることなく、ワークのダイシング時に発生するダイシング屑、特に糸状のダイシング屑の発生を抑制する手段を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the actual situation as described above, and does not give physical energy such as an electron beam or γ-ray, and generates dicing waste, particularly yarn-like dicing waste, generated when dicing a workpiece. It aims at providing the means which suppresses.

上記課題を解決する本発明は、下記の要旨を含む。
(1)ワーク加工用シートに用いられる基材であり、下記式にて示されるブロック共重合体を含む基材:
(高Tgブロック)−{(低Tgブロック)−(高Tgブロック)}n
ここで、
nは、1〜3の整数であり、
高Tgブロックは、ホモポリマーのガラス転移温度が0℃以上の単量体単位からなるポリマーブロックであり、
低Tgブロックは、ホモポリマーのガラス転移温度が0℃未満の単量体単位からなるポリマーブロックであり、
高Tgブロックのガラス転移温度と、低Tgブロックのガラス転移温度との差が、30℃以上であり、
ブロック共重合体の重合に用いる全単量体100質量%中、高Tgモノマーは25質量%以上含まれる。
The present invention for solving the above problems includes the following gist.
(1) A base material used for a workpiece processing sheet and including a block copolymer represented by the following formula:
(High Tg block)-{(Low Tg block)-(High Tg block)} n
here,
n is an integer of 1 to 3,
The high Tg block is a polymer block composed of monomer units having a homopolymer glass transition temperature of 0 ° C. or higher.
The low Tg block is a polymer block composed of monomer units having a glass transition temperature of the homopolymer of less than 0 ° C.,
The difference between the glass transition temperature of the high Tg block and the glass transition temperature of the low Tg block is 30 ° C. or more,
In 100% by mass of all monomers used for the polymerization of the block copolymer, 25% by mass or more of high Tg monomer is contained.

(2)基材を構成するブロック共重合体を含むフィルムのヤング率が300MPa以下である(1)に記載のワーク加工用シート。 (2) The work processing sheet according to (1), wherein the Young's modulus of the film including the block copolymer constituting the substrate is 300 MPa or less.

(3)上記(1)または(2)に記載の基材の少なくとも片面に接着性樹脂層を有するワーク加工用シート。 (3) A workpiece processing sheet having an adhesive resin layer on at least one surface of the substrate according to (1) or (2).

(4)接着性樹脂層が感圧接着性を有する(3)に記載のワーク加工用シート。 (4) The work processing sheet according to (3), wherein the adhesive resin layer has pressure-sensitive adhesiveness.

(5)接着性樹脂層が、ダイ接着用である(3)に記載のワーク加工用シート。 (5) The work processing sheet according to (3), wherein the adhesive resin layer is for die bonding.

(6)接着性樹脂層が、保護膜形成用である(3)に記載のワーク加工用シート。 (6) The workpiece processing sheet according to (3), wherein the adhesive resin layer is for forming a protective film.

本発明に係る基材およびワーク加工用シートによれば、電子線やγ線などの物理的なエネルギーを付与することなく、ワークのダイシング時に発生するダイシング屑を効果的に低減することができる。当該基材およびワーク加工用シートにおいては、電子線やγ線の処理を必要としないため、生産が容易である。   According to the base material and the workpiece processing sheet according to the present invention, it is possible to effectively reduce dicing waste generated during dicing of the workpiece without applying physical energy such as electron beams and γ rays. Since the base material and the workpiece processing sheet do not require electron beam or γ-ray processing, production is easy.

本発明の一実施形態に係るワーク加工用シートの断面図である。It is sectional drawing of the sheet | seat for workpiece | work processing which concerns on one Embodiment of this invention.

以下、本発明に係る基材および該基材を備えたワーク加工用シートの実施の形態について、添付図面に基づいて説明する。   DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of a base material according to the present invention and a workpiece processing sheet provided with the base material will be described with reference to the accompanying drawings.

本発明に係る基材は、上記のダイシングシートやダイシング・ダイボンド兼用シートに代表されるワーク加工用シート1の基材2として用いられる樹脂製シートであり、ブロック共重合体を含む。この基材は、特に基材の一部が切断される工程を含むプロセスに用いられるワーク加工用シートの基材として好ましく用いられる。   The base material which concerns on this invention is a resin-made sheet | seat used as the base material 2 of the sheet | seat 1 for workpiece | work processing represented by said dicing sheet and the sheet | seat for dicing die-bonding together, and contains a block copolymer. This base material is preferably used as a base material for a workpiece processing sheet used in a process including a step of cutting a part of the base material.

<基材>
基材を構成するブロック共重合体は、下記式にて示される構造を有する。
(高Tgブロック)−{(低Tgブロック)−(高Tgブロック)}n
ここで、
nは、1〜3の整数であり、好ましくは1〜2の整数、特に好ましくは1であり、この場合には、該ブロック共重合体は、トリブロック共重合体である。
<Base material>
The block copolymer constituting the substrate has a structure represented by the following formula.
(High Tg block)-{(Low Tg block)-(High Tg block)} n
here,
n is an integer of 1 to 3, preferably an integer of 1 to 2, particularly preferably 1. In this case, the block copolymer is a triblock copolymer.

高Tgブロックは、ホモポリマーのガラス転移温度(Tg)が0℃以上、好ましくは50〜300℃、さらに好ましくは70〜200℃の単量体単位からなる重合鎖(ポリマーブロック)である。   The high Tg block is a polymer chain composed of monomer units having a glass transition temperature (Tg) of the homopolymer of 0 ° C. or higher, preferably 50 to 300 ° C., more preferably 70 to 200 ° C.

ホモポリマーのTgが0℃以上の単量体としては、具体的には、下記の高Tgモノマーが挙げられる。なお、下記において、括弧内の数字は、ホモポリマーのTg(℃)を示す。   Specific examples of the monomer having a homopolymer Tg of 0 ° C. or higher include the following high Tg monomers. In addition, in the following, the number in a parenthesis shows Tg (degreeC) of a homopolymer.

アクリル酸(103℃)、メタクリル酸(228℃)、アクリル酸メチル(10℃)、メタクリル酸メチル(105℃)、酢酸ビニル(32℃)、アクリルアミド(109℃)、スチレン(100℃)を以下では総称して高Tgモノマーと呼ぶ。これらの高Tgモノマーの中でも、特にメタクリル酸メチル、アクリル酸メチル、酢酸ビニル、アクリルアミドが好ましく用いられる。このような高Tgモノマーを用いた場合には、ブロック共重合体において高Tgモノマー同士が静電的な相互作用を持ちにくく、ブロック共重合体の重合に用いる単量体中の高Tgモノマーの割合が増加しても、基材の柔軟性が維持されやすい。また、高Tgモノマーとしては、特に、反応性が低く、ホモポリマーのTgの高いメタクリル酸メチルが好ましい。   Acrylic acid (103 ° C), methacrylic acid (228 ° C), methyl acrylate (10 ° C), methyl methacrylate (105 ° C), vinyl acetate (32 ° C), acrylamide (109 ° C), styrene (100 ° C) In general, it is called a high Tg monomer. Among these high Tg monomers, methyl methacrylate, methyl acrylate, vinyl acetate, and acrylamide are particularly preferably used. When such a high Tg monomer is used, it is difficult for the high Tg monomers to have an electrostatic interaction in the block copolymer, and the high Tg monomer in the monomer used for the polymerization of the block copolymer is Even if the ratio is increased, the flexibility of the substrate is easily maintained. Further, as the high Tg monomer, methyl methacrylate having low reactivity and high homopolymer Tg is particularly preferable.

高Tgブロックは、上記高Tgモノマー1種の重合鎖からなるブロックであってもよく、また2種以上の高Tgモノマーを共重合した共重合ブロックであってもよい。1個の高Tgブロックの重合度は、好ましくは50〜1000、さらに好ましくは100〜500である。また、Foxの式から計算される高Tgブロックのガラス転移温度は、好ましくは50〜300℃、さらに好ましくは70〜200℃である。Foxの式は、下記式にて示される。したがって、高Tgブロックのガラス転移温度は、高Tgモノマーの種類および比率により制御することができる。具体的には、ホモポリマーのTgが高いモノマー成分の比率を高くすることで、高Tgブロックのガラス転移温度を高くできる。   The high Tg block may be a block composed of one polymer chain of the high Tg monomer, or may be a copolymer block obtained by copolymerizing two or more high Tg monomers. The polymerization degree of one high Tg block is preferably 50 to 1000, more preferably 100 to 500. Further, the glass transition temperature of the high Tg block calculated from the Fox formula is preferably 50 to 300 ° C, more preferably 70 to 200 ° C. The formula of Fox is shown by the following formula. Therefore, the glass transition temperature of the high Tg block can be controlled by the type and ratio of the high Tg monomer. Specifically, the glass transition temperature of the high Tg block can be increased by increasing the ratio of the monomer component having a high Tg of the homopolymer.

1/Tg=w1/Tg1+w2/Tg2・・・・(Foxの式)
Tg1,Tg2:モノマー成分1,2のホモポリマーのTg(K)
w1,w2:モノマー成分1,2の重量分率
1 / Tg = w1 / Tg1 + w2 / Tg2 (Fox's formula)
Tg1, Tg2: Tg (K) of homopolymer of monomer components 1 and 2
w1, w2: weight fraction of monomer components 1 and 2

また、ブロック共重合体中に複数存在する高Tgブロックは、同一の組成であってもよく、異なっていてもよい。   Further, the plurality of high Tg blocks present in the block copolymer may have the same composition or may be different.

低Tgブロックは、ホモポリマーのガラス転移温度(Tg)が0℃未満、好ましくは−120〜0℃、さらに好ましくは−80〜−10℃の単量体単位からなるポリマーブロックである。   The low Tg block is a polymer block composed of monomer units having a glass transition temperature (Tg) of a homopolymer of less than 0 ° C, preferably -120 to 0 ° C, more preferably -80 to -10 ° C.

ホモポリマーのTgが0℃未満の単量体としては、具体的には、下記の低Tgモノマーが挙げられる。なお、下記において、括弧内の数字は、ホモポリマーのTg(℃)を示す。
アクリル酸エチル(−24℃)、アクリル酸ブチル(−54℃)、メタクリル酸ブチル(−24℃)、アクリル酸ヘキシル(−57℃)、メタクリル酸ヘキシル(−5)℃、アクリル酸2−エチルヘキシル(−70℃)、エチレン(−125℃)、イソプレン(−73℃)、ブタジエン(−7℃)、塩化ビニリデン(−18℃)を以下では総称して低Tgモノマーと呼ぶ。これらの低Tgモノマーの中でも、高Tgモノマーとして好ましいメタクリル酸メチルとのブロック共重合が容易である、アクリル酸エチル、メタクリル酸エチル、アクリル酸ブチル、メタクリル酸ブチル、アクリル酸ヘキシル、メタクリル酸ヘキシル、アクリル酸2−エチルヘキシルが好ましく用いられ、ホモポリマーのTgが過度に低くないアクリル酸エチル、アクリル酸ブチル、メタクリル酸ブチルが特に好ましい。
Specific examples of the monomer having a Tg of less than 0 ° C. include the following low Tg monomers. In addition, in the following, the number in a parenthesis shows Tg (degreeC) of a homopolymer.
Ethyl acrylate (-24 ° C), butyl acrylate (-54 ° C), butyl methacrylate (-24 ° C), hexyl acrylate (-57 ° C), hexyl methacrylate (-5) ° C, 2-ethylhexyl acrylate (−70 ° C.), ethylene (−125 ° C.), isoprene (−73 ° C.), butadiene (−7 ° C.), and vinylidene chloride (−18 ° C.) are hereinafter collectively referred to as low Tg monomers. Among these low Tg monomers, ethyl acrylate, ethyl methacrylate, butyl acrylate, butyl methacrylate, hexyl acrylate, hexyl methacrylate, which are easily block copolymerized with methyl methacrylate, which is preferable as a high Tg monomer, 2-ethylhexyl acrylate is preferably used, and ethyl acrylate, butyl acrylate, and butyl methacrylate, in which the homopolymer Tg is not excessively low, are particularly preferable.

低Tgブロックは、上記低Tgモノマー1種の重合鎖からなるブロックであってもよく、また2種以上の低Tgモノマーを共重合した共重合ブロックであってもよい。低Tgブロックの重合度は、好ましくは200〜2000、さらに好ましくは300〜1000である。また、Foxの式から計算される低Tgブロックのガラス転移温度は、好ましくは−120〜0℃、さらに好ましくは−80〜−10℃である。低Tgブロックのガラス転移温度は、低Tgモノマーの種類および比率により制御することができる。具体的には、ホモポリマーのTgが低いモノマー成分の比率を高くすることで、低Tgブロックのガラス転移温度を低くできる。   The low Tg block may be a block composed of a polymer chain of one kind of the low Tg monomer, or may be a copolymer block obtained by copolymerizing two or more kinds of low Tg monomers. The degree of polymerization of the low Tg block is preferably 200 to 2000, more preferably 300 to 1000. The glass transition temperature of the low Tg block calculated from the Fox equation is preferably −120 to 0 ° C., more preferably −80 to −10 ° C. The glass transition temperature of the low Tg block can be controlled by the type and ratio of the low Tg monomer. Specifically, the glass transition temperature of the low Tg block can be lowered by increasing the ratio of the monomer component having a low Tg of the homopolymer.

また、nが2以上の場合、ブロック共重合体中に複数存在する低Tgブロックは、同一の組成であってもよく、異なっていてもよい。   When n is 2 or more, the plurality of low Tg blocks present in the block copolymer may have the same composition or may be different.

また、Foxの式から計算される高Tgブロックのガラス転移温度と、低Tgブロックのガラス転移温度との差は、30℃以上であり、好ましくは80〜300℃、さらに好ましくは100〜250℃である。ここで、異なる組成の複数の高Tgブロックが存在する場合は、最も低いガラス転移温度を有する高Tgブロックの値を採用し、異なる組成の複数の低Tgブロックが存在する場合は、最も高いガラス転移温度を有する高Tgブロックの値を採用して、これらの差を上記のガラス転移温度の差とする。   The difference between the glass transition temperature of the high Tg block calculated from the Fox equation and the glass transition temperature of the low Tg block is 30 ° C. or higher, preferably 80 to 300 ° C., more preferably 100 to 250 ° C. It is. Here, when a plurality of high Tg blocks having different compositions are present, the value of the high Tg block having the lowest glass transition temperature is adopted, and when a plurality of low Tg blocks having different compositions are present, the highest glass is employed. The value of the high Tg block having a transition temperature is adopted, and these differences are defined as the above glass transition temperature differences.

ブロック共重合体の重合に用いる全単量体100質量%中、高Tgモノマーの割合は、25質量%以上であり、好ましくは30〜60質量%であり、さらに好ましくは、35〜60質量%である。高Tgモノマーの割合が少なすぎる場合には、両末端が高Tgブロックで構成されるブロック共重合体を基材に用いても、ダイシング屑の発生を抑制できない。基材におけるブロック共重合体を含むフィルムに、複数の種類のブロック共重合体が含まれる場合は、ブロック共重合体の重合に用いる全単量体100質量%中の高Tgモノマーの割合は、それらのものの平均である。   In 100% by mass of all monomers used for polymerization of the block copolymer, the proportion of the high Tg monomer is 25% by mass or more, preferably 30 to 60% by mass, more preferably 35 to 60% by mass. It is. When the proportion of the high Tg monomer is too small, the generation of dicing waste cannot be suppressed even if a block copolymer having both ends composed of high Tg blocks is used as the substrate. When the film containing the block copolymer in the substrate contains a plurality of types of block copolymers, the ratio of the high Tg monomer in 100% by mass of all monomers used for the polymerization of the block copolymer is: The average of those things.

ブロック共重合体の重量平均分子量は、好ましくは3万以上、さらに好ましくは4万〜20万である。ブロック共重合体の分子量が高すぎる場合には、ブロック共重合体を有機溶剤に溶解した溶液の粘度が高くなり、製膜が困難になることがある。一方、ブロック共重合体の分子量が低すぎる場合には、造膜性に劣り、フィルム化できないことがある。   The weight average molecular weight of the block copolymer is preferably 30,000 or more, more preferably 40,000 to 200,000. When the molecular weight of the block copolymer is too high, the viscosity of a solution obtained by dissolving the block copolymer in an organic solvent increases, and film formation may be difficult. On the other hand, if the molecular weight of the block copolymer is too low, the film-forming property may be inferior and the film may not be formed.

上記のようなブロック共重合体を基材の主成分として用いることで、基材には、十分なエキスパンド性が付与され、またダイシング時に基材の一部が切り込まれても、糸状のダイシング屑の発生は低減される。何ら理論的に制限されるものではないが、上記効果が奏される機構を本発明者らは次のように推定している。   By using the block copolymer as the main component of the base material, sufficient expandability is imparted to the base material, and even if a part of the base material is cut during dicing, the yarn-shaped dicing Waste generation is reduced. Although not limited theoretically, the present inventors presume the mechanism of the above effect as follows.

すなわち、低Tgブロックの存在により、基材は柔軟性を有し、十分なエキスパンド性が得られる。しかし、低Tgブロック自体は溶融しやすく、基材の一部がダイシングブレードにより切り込まれると、その際の摩擦熱により溶融し、ブレードの回転により引き延ばされ、糸状の屑を発生するおそれがある。   That is, due to the presence of the low Tg block, the substrate has flexibility and sufficient expandability can be obtained. However, the low Tg block itself is easy to melt, and if a part of the base material is cut by the dicing blade, it melts by the frictional heat at that time, and is stretched by the rotation of the blade, which may generate thread-like debris There is.

しかし、高Tgブロックが、共重合体の両末端に存在することで、ブロック共重合体自体は軟化しつつも溶融し難い構造を有する。このため、基材は柔軟でありながらも、溶融しにくいという性質を示し、糸状屑の発生が抑制されると考えられる。   However, since the high Tg block exists at both ends of the copolymer, the block copolymer itself has a structure that is difficult to melt while being softened. For this reason, although a base material is flexible, it shows the property of being hard to melt | dissolve and it is thought that generation | occurrence | production of a filamentous waste is suppressed.

ブロック共重合体の製造方法は、特に限定はされないが、リビング重合法を用いることで、ブロック共重合体が得られやすい。高Tgモノマー、低Tgモノマーとして、上述した好ましいモノマーを選択した場合には、リビングラジカル重合法を用いることが好ましい。低Tgモノマーの重合または共重合を行い、低Tgブロックを製造した後、低Tgブロックの存在下で高Tgモノマーの重合または共重合を行うことで、両末端が高Tgブロックであり、中間ブロックが低Tgブロックのトリブロック共重合体が得られる。また、該トリブロック共重合体の存在下で、さらに低Tgモノマーの重合または共重合、およびその後の高Tgモノマーの重合または共重合を繰り返すことで、前記式におけるnを増加することができる。最終工程において、高Tgモノマーの重合または共重合を行うことで、両末端が高Tgブロックのマルチブロック共重合体が得られる。   Although the manufacturing method of a block copolymer is not specifically limited, A block copolymer is easy to be obtained by using a living polymerization method. When the above-mentioned preferable monomers are selected as the high Tg monomer and the low Tg monomer, it is preferable to use a living radical polymerization method. After polymerizing or copolymerizing a low Tg monomer to produce a low Tg block, by polymerizing or copolymerizing a high Tg monomer in the presence of the low Tg block, both ends are high Tg blocks, and an intermediate block A low Tg block triblock copolymer. In the presence of the triblock copolymer, n in the above formula can be increased by further repeating polymerization or copolymerization of a low Tg monomer and subsequent polymerization or copolymerization of a high Tg monomer. In the final step, by polymerizing or copolymerizing the high Tg monomer, a multi-block copolymer having a high Tg block at both ends can be obtained.

なお、低Tgモノマーの重合と、高Tgモノマーの重合を交互に行うと、高Tgモノマーの重合時に未反応の低Tgモノマーも重合し、高Tgブロックに低Tgモノマー単位が含まれることがあり、この逆もある。したがって、高Tgブロックには、5質量%未満の割合で低Tgモノマー単位が含まれていてもよく、また低Tgブロックには、5質量%未満の割合で高Tgモノマー単位が含まれていてもよい。   If the polymerization of the low Tg monomer and the polymerization of the high Tg monomer are performed alternately, unreacted low Tg monomer may also be polymerized when the high Tg monomer is polymerized, and the low Tg monomer unit may be included in the high Tg block. And vice versa. Accordingly, the high Tg block may contain a low Tg monomer unit in a proportion of less than 5% by mass, and the low Tg block contains a high Tg monomer unit in a proportion of less than 5% by mass. Also good.

本発明の基材には、上記ブロック共重合体が含まれる。基材はブロック共重合体を含む単層フィルムであってもよく、またブロック共重合体を含むフィルムと他の樹脂フィルムとの積層体であってもよい。基材の厚みは、好ましくは20〜300μm、さらに好ましくは60〜200μmの範囲にある。基材の厚みが薄すぎると、ダイシングブレードにより基材が切り込まれると、その部分の厚みが極度に薄くなり、エキスパンドの際に断裂するおそれがある。厚すぎると引張りに対する力が昂進し、エキスパンド性が低下することがある。   The base copolymer of the present invention contains the block copolymer. The substrate may be a single layer film containing a block copolymer, or may be a laminate of a film containing a block copolymer and another resin film. The thickness of the substrate is preferably in the range of 20 to 300 μm, more preferably 60 to 200 μm. If the thickness of the substrate is too thin, when the substrate is cut with a dicing blade, the thickness of the portion becomes extremely thin, and there is a possibility of tearing during expansion. If it is too thick, the force against tension increases, and the expandability may decrease.

基材が単層フィルムの場合、該フィルムは上記ブロック共重合体のみから構成されていてもよく、またポリオレフィンやポリ塩化ビニルなどの他の共重合体、フィラー、着色剤、帯電防止剤、酸化防止剤、有機滑剤などが含まれていても良い。このような他の成分は、基材を構成する固形分100質量%中にたとえば50質量%以下の割合で配合することができる。本発明の前記ブロック共重合体に由来する効果を発揮させるためには、前記ブロック共重合体の、基材を構成する固形分中における割合は多いほど好ましく、基材を構成する固形分100質量%中に、前記ブロック共重合体は、好ましくは50質量%以上、さらに好ましくは50〜100質量%の割合で含まれ、特に好ましくは90〜100質量%の割合で含まれる。上記ブロック共重合体は、ブロック共重合体の重合に用いる単量体中の高Tgモノマーの割合を比較的多くすることができ、高Tgモノマーの割合の多寡により基材の特性を一定程度制御することができる。したがって、ブロック共重合体以外の他の共重合体等を添加して基材の特性を制御する必要性が小さく、製造方法の簡便化、配合の簡素化等が可能であり生産性に優れる。   When the substrate is a single layer film, the film may be composed only of the above block copolymer, and other copolymers such as polyolefin and polyvinyl chloride, filler, colorant, antistatic agent, oxidation An inhibitor, an organic lubricant, etc. may be contained. Such other components can be blended in a proportion of, for example, 50% by mass or less in 100% by mass of the solid content constituting the substrate. In order to exert the effect derived from the block copolymer of the present invention, the proportion of the block copolymer in the solid content constituting the base material is preferably as large as possible, and the solid content constituting the base material is 100 mass. %, The block copolymer is preferably contained in a proportion of 50% by mass or more, more preferably 50 to 100% by mass, particularly preferably 90 to 100% by mass. The above block copolymer can relatively increase the proportion of high Tg monomer in the monomer used for polymerization of the block copolymer, and control the properties of the substrate to some extent by the high proportion of the high Tg monomer. can do. Therefore, it is not necessary to control the properties of the base material by adding a copolymer other than the block copolymer, and the production method and formulation can be simplified and the productivity is excellent.

このようなブロック共重合体を含むフィルムの製法は特に限定はされないが、前記ブロック共重合体、その他の添加剤および適当な溶剤または分散媒を混合し、得られた溶液または分散液を適当な塗工手段で塗工、乾燥して、ブロック共重合体を含むフィルムが得られる。または、一般的にフィルム製膜で用いられる溶融押出法、カレンダー法を用いても良い。   The method for producing a film containing such a block copolymer is not particularly limited, but the block copolymer, other additives, and an appropriate solvent or dispersion medium are mixed, and the resulting solution or dispersion is appropriately mixed. The film containing a block copolymer is obtained by coating and drying by a coating means. Alternatively, a melt extrusion method or a calendar method generally used for film formation may be used.

ブロック共重合体を含むフィルムのヤング率は、300MPa以下であることが好ましく、200〜100でMPaであることが好ましい。ブロック共重合体を含むフィルムのヤング率がこのような範囲にあることで、基材がブロック共重合体フィルムの単層フィルムである場合には、基材のエキスパンド性を向上させることが容易となる。また、基材がブロック共重合体を含むフィルムと他のフィルムとの積層体の場合には、ワーク加工用シートを用いてダイシングを行う際に、ブロック共重合体を含むフィルムを完全に切断しきらなかったときでも、残存したブロック共重合体を含むフィルムがエキスパンドの妨げとなり難い。   The Young's modulus of the film containing the block copolymer is preferably 300 MPa or less, and preferably 200 to 100 MPa. When the Young's modulus of the film containing the block copolymer is in such a range, when the substrate is a single-layer film of the block copolymer film, it is easy to improve the expandability of the substrate. Become. In addition, when the substrate is a laminate of a film containing a block copolymer and another film, when the workpiece processing sheet is diced, the film containing the block copolymer is completely cut. Even if not, the film containing the remaining block copolymer is unlikely to hinder expansion.

また、基材が積層体の場合には、上記ブロック共重合体と他の樹脂を共押出法により基材としても良い。または、上記のブロック共重合体を含むフィルムと、他の樹脂フィルムとを、ドライラミネーションや接着剤により一体化し、あるいはブロック共重合体を40〜90℃程度に加熱することにより軟化させて他の樹脂フィルムと貼りあわせて基材を得ることもできる。他の樹脂フィルムとしては、たとえば、低密度ポリエチレン(LDPE)フィルム、直鎖低密度ポリエチレン(LLDPE)フィルム、高密度ポリエチレン(HDPE)フィルム等のポリエチレンフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリブテンフィルム、ポリブタジエンフィルム、ポリメチルペンテンフィルム、ポリ塩化ビニルフィルム、塩化ビニル共重合体フィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリブチレンテレフタレートフィルム、ポリウレタンフィルム、ポリイミドフィルム、エチレン酢酸ビニル共重合体フィルム、アイオノマー樹脂フィルム、エチレン・(メタ)アクリル酸共重合体フィルム、エチレン・(メタ)アクリル酸エステル共重合体フィルム、ポリスチレンフィルム、ポリカーボネートフィルム、フッ素樹脂フィルム、およびその水添加物または変性物等からなるフィルムが用いられる。またこれらの架橋フィルム、共重合体フィルムも用いられる。他の樹脂フィルムとしては、25%伸長時の引張応力が100MPa以下の軟質フィルムを一層以上用いることが好ましい。軟質フィルムの25%伸長時の引張応力は、より好ましくは50MPa以下である。基材を、かかる軟質フィルムを用いた積層体とすることで、基材のエキスパンド性がいっそう向上する。   When the substrate is a laminate, the block copolymer and other resin may be used as a substrate by coextrusion. Alternatively, the film containing the block copolymer and another resin film are integrated by dry lamination or an adhesive, or the block copolymer is softened by heating to about 40 to 90 ° C. A base material can also be obtained by bonding to a resin film. Examples of other resin films include polyethylene films such as low density polyethylene (LDPE) films, linear low density polyethylene (LLDPE) films, and high density polyethylene (HDPE) films, polypropylene films, polybutene films, polybutadiene films, and polymethyl. Penten film, polyvinyl chloride film, vinyl chloride copolymer film, polyethylene terephthalate film, polybutylene terephthalate film, polyurethane film, polyimide film, ethylene vinyl acetate copolymer film, ionomer resin film, ethylene / (meth) acrylic acid copolymer Polymer film, ethylene (meth) acrylic acid ester copolymer film, polystyrene film, polycarbonate film, fluorine resin Films, and films are used consisting of the hydrogenated product or modified product or the like. These crosslinked films and copolymer films are also used. As another resin film, it is preferable to use one or more soft films having a tensile stress at 25% elongation of 100 MPa or less. The tensile stress at 25% elongation of the flexible film is more preferably 50 MPa or less. By making a base material into a laminated body using such a soft film, the expandability of the base material is further improved.

また、基材が積層体の場合には、ブロック共重合体を含むフィルム上に後述の接着性樹脂層を形成する。接着性樹脂層の直下の基材を構成する層は、ダイシング時にダイシングブレードにより切り込まれるが、接着性樹脂層の直下の基材を構成する層を、上記ブロック共重合体を含むフィルムとすることにより、ダイシング時に基材が切り込まれた場合であっても、発生するダイシング屑を効果的に低減することができる。ここで、「直下の」とは、本発明のダイシング屑を低減する効果を損なわない範囲で、後述するプライマーや剥離剤からなる層などを介している状態も含む。   Moreover, when a base material is a laminated body, the below-mentioned adhesive resin layer is formed on the film containing a block copolymer. The layer constituting the base material immediately below the adhesive resin layer is cut by a dicing blade during dicing, and the layer constituting the base material immediately below the adhesive resin layer is a film containing the block copolymer. Thereby, even if it is a case where a base material is cut at the time of dicing, the generated dicing waste can be reduced effectively. Here, “directly” includes a state in which a layer made of a primer or a release agent, which will be described later, is interposed as long as the effect of reducing dicing waste of the present invention is not impaired.

なお、ブロック共重合体を含むフィルムには、前記単層基材と同様に他の共重合体、フィラー、着色剤、帯電防止剤、酸化防止剤、有機滑剤などの他の成分が10質量%以下の割合で含まれていても良い。   The film containing the block copolymer contains 10% by mass of other components such as other copolymers, fillers, colorants, antistatic agents, antioxidants, and organic lubricants as in the case of the single layer substrate. It may be included in the following ratio.

また、基材が積層体の場合、基材全体の厚さは、上述したとおりの範囲が好ましいが、ブロック共重合体を含むフィルムの厚みとしては、好ましくは10〜100μm、さらに好ましくは20〜50μmである。   In the case where the substrate is a laminate, the thickness of the entire substrate is preferably in the range as described above, but the thickness of the film containing the block copolymer is preferably 10 to 100 μm, more preferably 20 to 20 μm. 50 μm.

基材の接着性樹脂層と接する面には接着性樹脂層との密着性を向上するために、コロナ処理を施したりプライマー等の他の層を設けてもよい。さらに基材から接着性樹脂層を剥離し、チップ等に接着性樹脂層を転写する場合には、接着性樹脂層と基材との間での剥離を容易にするため、基材表面に剥離処理を施しても良い。この場合、基材の表面張力は、好ましくは40mN/m以下、さらに好ましくは37mN/m以下、特に好ましくは25〜35mN/mである。剥離処理に用いられる剥離剤としては、アルキッド系、シリコーン系、フッ素系、不飽和ポリエステル系、ポリオレフィン系、ワックス系などが用いられるが、特にアルキッド系、シリコーン系、フッ素系の剥離剤が耐熱性を有するので好ましい。   In order to improve the adhesiveness with the adhesive resin layer, the surface of the substrate that contacts the adhesive resin layer may be subjected to corona treatment or other layers such as a primer. Furthermore, when peeling the adhesive resin layer from the substrate and transferring the adhesive resin layer to the chip, etc., it is peeled off from the substrate surface to facilitate peeling between the adhesive resin layer and the substrate. Processing may be performed. In this case, the surface tension of the substrate is preferably 40 mN / m or less, more preferably 37 mN / m or less, and particularly preferably 25 to 35 mN / m. As the release agent used for the release treatment, alkyd, silicone, fluorine, unsaturated polyester, polyolefin, wax, and the like are used. In particular, alkyd, silicone, and fluorine release agents are heat resistant. This is preferable.

上記の剥離剤を用いて基材の表面を剥離処理するためには、剥離剤をそのまま無溶剤で、または溶剤希釈やエマルション化して、グラビアコーター、メイヤーバーコーター、エアナイフコーター、ロールコーターなどにより塗布することもできるが、ブロック共重合体を含むフィルムの熱による変形等を防ぐ観点から、紫外線硬化性の剥離剤を用いることが好ましい。   In order to release the surface of the substrate using the above release agent, the release agent can be applied as it is without solvent, or after solvent dilution or emulsification, using a gravure coater, Mayer bar coater, air knife coater, roll coater, etc. However, it is preferable to use an ultraviolet curable release agent from the viewpoint of preventing deformation of the film containing the block copolymer due to heat.

<接着性樹脂層>
本発明のワーク加工用シート1は、上記した基材2の少なくとも片面に接着性樹脂層3を有する。基材が、積層体である場合には、ブロック共重合体を含むフィルム上に接着性樹脂層が形成される。ワーク加工用シートにおける接着性樹脂層は、シートの用途に応じて様々な機能を有する樹脂の中から適宜に選択される。
<Adhesive resin layer>
The workpiece processing sheet 1 of the present invention has an adhesive resin layer 3 on at least one side of the base material 2 described above. When the base material is a laminate, an adhesive resin layer is formed on the film containing the block copolymer. The adhesive resin layer in the workpiece processing sheet is appropriately selected from resins having various functions depending on the use of the sheet.

(感圧接着性樹脂層)
ワーク加工用シートをダイシングシートとして用いる場合には、接着性樹脂層が再剥離性を有する感圧性接着剤層(粘着剤層)からなることが好ましい。前記した基材は、比較的軟質であり、エキスパンド性に優れており、かつ、基材が特定のブロック共重合体を含むため、ダイシングブレードが基材を切り込んだ場合であっても糸状のダイシング屑の発生が起こりにくい。
(Pressure-sensitive adhesive resin layer)
When the workpiece processing sheet is used as a dicing sheet, the adhesive resin layer is preferably composed of a pressure-sensitive adhesive layer (pressure-sensitive adhesive layer) having removability. The above-mentioned base material is relatively soft, has excellent expandability, and the base material contains a specific block copolymer. Therefore, even when the dicing blade cuts the base material, the yarn-like dicing Waste generation is difficult to occur.

ダイシングシートは、半導体ウエハなどのワークをダイシングしチップ化する際に、ワークならびにダイシングにより生成するチップを保持しておくために使用される。したがって、ダイシング後にチップを剥離できる程度の適度な再剥離性を有することが求められる。このような粘着剤層は、従来より公知の種々の感圧性接着剤(粘着剤)により形成され得る。粘着剤としては、何ら限定されるものではないが、たとえばゴム系、アクリル系、シリコーン系、ポリビニルエーテル等の粘着剤が用いられる。これらの中でも粘着力の制御が容易なアクリル系粘着剤が特に好ましい。   The dicing sheet is used for holding a workpiece and a chip generated by dicing when a workpiece such as a semiconductor wafer is diced into chips. Therefore, it is required to have an appropriate re-peelability that can peel the chip after dicing. Such a pressure-sensitive adhesive layer can be formed by various conventionally known pressure-sensitive adhesives (pressure-sensitive adhesives). The pressure-sensitive adhesive is not limited at all. For example, a rubber-based, acrylic-based, silicone-based, polyvinyl ether, or other pressure-sensitive adhesive is used. Among these, an acrylic pressure-sensitive adhesive that can easily control the adhesive force is particularly preferable.

アクリル系粘着剤は、(メタ)アクリル酸エステル重合体を主剤とする。(メタ)アクリル酸エステル重合体としては、アクリル酸メチル、アクリル酸エチル、アクリル酸プロピル、アクリル酸ブチル、アクリル酸−2−エチルヘキシル、アクリル酸デシル、アクリル酸ドデシル、アクリル酸ラウリル、アクリル酸ミリスチル、メタクリル酸メチル、メタクリル酸エチル、メタクリル酸プロピル、メタクリル酸ブチルなどの(メタ)アクリル酸アルキルエステル、アクリル酸ベンジルなどの芳香族(メタ)アクリル酸エステル、アクリル酸シクロヘキシル、アクリル酸イソボルニルなどの脂環族(メタ)アクリル酸エステル(以下、(メタ)アクリル酸アルキルエステル、芳香族(メタ)アクリル酸エステル、脂環族(メタ)アクリル酸エステルを併せて、エステル構造に炭化水素のみが付加した(メタ)アクリル酸エステルということがある。)と、必要に応じて、アクリル酸−2−ヒドロキシエチル、アクリル酸−2−ヒドロキシプロピル、アクリル酸−3−ヒドロキシプロピル、アクリル酸−3−ヒドロキシブチル、アクリル酸−4−ヒドロキシブチル、メタクリル酸−2−ヒドロキシエチル、メタクリル酸−2−ヒドロキシプロピル、メタクリル酸−3−ヒドロキシプロピル、メタクリル酸−3−ヒドロキシブチル、メタクリル酸−4−ヒドロキシブチルなどの水酸基含有(メタ)アクリル酸アルキルエステル;アクリル酸、メタクリル酸、マレイン酸、フマル酸などのカルボキシル基含有化合物;酢酸ビニル、プロピオン酸ビニルなどのビニルエステル;アクリロニトリル、メタクリロニトリルなどのシアノ基含有化合物;アクリルアミドなどのアミド基含有化合物;スチレン、ビニルピリジンなどの芳香族化合物などの重合性単量体から選ばれる1種以上の単量体の単独重合体または共重合体などが挙げられる。また、(メタ)アクリルは、アクリルとメタクリルの両者を含む意味で用いる。   The acrylic pressure-sensitive adhesive mainly comprises a (meth) acrylic acid ester polymer. (Meth) acrylic acid ester polymers include methyl acrylate, ethyl acrylate, propyl acrylate, butyl acrylate, acrylate-2-ethylhexyl, decyl acrylate, dodecyl acrylate, lauryl acrylate, myristyl acrylate, (Meth) acrylic acid alkyl esters such as methyl methacrylate, ethyl methacrylate, propyl methacrylate, and butyl methacrylate, aromatic (meth) acrylic esters such as benzyl acrylate, cyclohexyl acrylate, and isobornyl acrylate. Group (meth) acrylic acid ester (hereinafter referred to as (meth) acrylic acid alkyl ester, aromatic (meth) acrylic acid ester, alicyclic (meth) acrylic acid ester, and only hydrocarbon added to the ester structure ( (Meth) acrylic And 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxypropyl acrylate, 3-hydroxypropyl acrylate, 3-hydroxybutyl acrylate, and acrylate-4 as required. -Hydroxyl-containing (meth) such as hydroxybutyl, 2-hydroxyethyl methacrylate, 2-hydroxypropyl methacrylate, 3-hydroxypropyl methacrylate, 3-hydroxybutyl methacrylate, and 4-hydroxybutyl methacrylate Acrylic acid alkyl esters; carboxyl group-containing compounds such as acrylic acid, methacrylic acid, maleic acid, and fumaric acid; vinyl esters such as vinyl acetate and vinyl propionate; cyano group-containing compounds such as acrylonitrile and methacrylonitrile; acrylamide, etc. Amide group-containing compounds; styrene, and the like polymerizable homopolymer of one or more monomers selected from the monomers or copolymers of such aromatic compounds such as vinyl pyridine. Moreover, (meth) acryl is used in the meaning containing both acryl and methacryl.

(メタ)アクリル酸エステル重合体におけるエステル構造に炭化水素のみが付加した(メタ)アクリル酸エステルに由来する単位の含有割合は、10〜98質量%が好ましく、20〜95質量%がより好ましく、50〜93質量%がさらに好ましい。(メタ)アクリル酸エステル重合体の重量平均分子量は、10万〜250万が好ましく、20万〜150万がより好ましく、30万〜100万が特に好ましい。なお、本明細書において、重量平均分子量とは、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー法により測定した標準ポリスチレン換算の値である。   The content ratio of units derived from the (meth) acrylic acid ester in which only the hydrocarbon is added to the ester structure in the (meth) acrylic acid ester polymer is preferably 10 to 98% by mass, more preferably 20 to 95% by mass, 50-93 mass% is still more preferable. The weight average molecular weight of the (meth) acrylic acid ester polymer is preferably 100,000 to 2,500,000, more preferably 200,000 to 1,500,000, and particularly preferably 300,000 to 1,000,000. In the present specification, the weight average molecular weight is a value in terms of standard polystyrene measured by gel permeation chromatography.

これらの粘着剤は、1種単独でまたは2種以上を組み合わせて用いることができる。これらの粘着剤のうち、アクリル系粘着剤が好ましく用いられる。特に、上記の(メタ)アクリル酸エステル重合体を、ポリイソシアネート系架橋剤、エポキシ系架橋剤、アジリジン系架橋剤、キレート系架橋剤などの架橋剤の1種以上で架橋させて得られるアクリル系粘着剤が好ましい。   These pressure-sensitive adhesives can be used alone or in combination of two or more. Of these pressure-sensitive adhesives, acrylic pressure-sensitive adhesives are preferably used. In particular, an acrylic polymer obtained by crosslinking the (meth) acrylic acid ester polymer with one or more of a crosslinking agent such as a polyisocyanate crosslinking agent, an epoxy crosslinking agent, an aziridine crosslinking agent, and a chelating crosslinking agent. An adhesive is preferred.

エポキシ系架橋剤としては、(1,3−ビス(N,N−ジグリシジルアミノメチル)シクロヘキサン、N,N,N',N'−テトラグリジル−m−キシリレンジアミン、N,N,N',N'−テトラグリジルアミノフェニルメタン、トリグリシジルイソシアネート、m−N,N−ジグリシジルアミノフェニルグリシジルエーテル、N,N−ジグリシジルトルイジン、N,N−ジグリシジルアニリン、ペンタエリスリトールポリグリシジルエーテル、1,6−ヘキサンジオールジグリシジルエーテル等が挙げられる。   As the epoxy-based crosslinking agent, (1,3-bis (N, N-diglycidylaminomethyl) cyclohexane, N, N, N ′, N′-tetraglycyl-m-xylylenediamine, N, N, N ′, N'-tetraglycidylaminophenyl methane, triglycidyl isocyanate, m-N, N-diglycidylaminophenyl glycidyl ether, N, N-diglycidyl toluidine, N, N-diglycidyl aniline, pentaerythritol polyglycidyl ether, 1 , 6-hexanediol diglycidyl ether and the like.

ポリイソシアネート系架橋剤としては、トリレンジイソシアネート(TDI)、ヘキサメチレンジイソシアネート(HMDI)、イソホロンジイソシアネート(IPDI)、キシリレンジイソシアネート(XDI)、水素化トリレンジイソシアネート、ジフェニルメタンジイソシアネート及びその水添体、ポリメチレンポリフェニルポリイソシアネート、ナフチレン−1,5−ジイソシアネート、ポリイソシアネートプレポリマー、ポリメチロールプロパン変性TDIなどが挙げられる。   Examples of polyisocyanate crosslinking agents include tolylene diisocyanate (TDI), hexamethylene diisocyanate (HMDI), isophorone diisocyanate (IPDI), xylylene diisocyanate (XDI), hydrogenated tolylene diisocyanate, diphenylmethane diisocyanate and hydrogenated products thereof, poly Examples include methylene polyphenyl polyisocyanate, naphthylene-1,5-diisocyanate, polyisocyanate prepolymer, and polymethylolpropane-modified TDI.

架橋剤は、1種単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。架橋剤の使用量は、(メタ)アクリル酸エステル重合体100質量部に対して、0.01〜20質量部が好ましい。   A crosslinking agent may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type. As for the usage-amount of a crosslinking agent, 0.01-20 mass parts is preferable with respect to 100 mass parts of (meth) acrylic acid ester polymers.

さらに、ワーク加工用シートをダイシングシートとして用いる場合、粘着剤層は、エネルギー線硬化や加熱発泡、水膨潤などにより接着力を制御できる粘着剤であってもよい。エネルギー線硬化型粘着剤層は、従来より公知のガンマ線、電子線、紫外線、可視光等のエネルギー線の照射により硬化する種々のエネルギー線硬化型粘着剤により形成され得るが、特に紫外線硬化型粘着剤を用いることが好ましい。   Furthermore, when using the workpiece | work processing sheet | seat as a dicing sheet, the adhesive layer may be an adhesive which can control adhesive force by energy ray hardening, heating foaming, water swelling, etc. The energy ray-curable pressure-sensitive adhesive layer can be formed of various energy ray-curable pressure-sensitive adhesives that are cured by irradiation with energy rays such as gamma rays, electron beams, ultraviolet rays, and visible light that are conventionally known. It is preferable to use an agent.

エネルギー線硬化型粘着剤としては、例えばアクリル系粘着剤に、多官能エネルギー線硬化樹脂を混合した粘着剤が挙げられる。多官能エネルギー線硬化樹脂としては、エネルギー線重合性の官能基を複数有する低分子化合物、ウレタンアクリレートオリゴマーなどが挙げられる。また、側鎖にエネルギー線重合性の官能基を有する重合体を含む粘着剤も用いることができる。このようなエネルギー線重合性官能基としては(メタ)アクリロイル基が好ましい。   Examples of the energy ray curable pressure sensitive adhesive include a pressure sensitive adhesive obtained by mixing a polyfunctional energy ray curable resin with an acrylic pressure sensitive adhesive. Examples of the polyfunctional energy ray curable resin include low molecular weight compounds having a plurality of energy ray polymerizable functional groups, urethane acrylate oligomers, and the like. Moreover, the adhesive containing the polymer which has an energy-beam polymerizable functional group in a side chain can also be used. Such an energy ray polymerizable functional group is preferably a (meth) acryloyl group.

このようなダイシングシートは、半導体加工に汎用されていたものであり、ダイシング時にはウエハを固定し、またダイシングにより生成したチップが飛散しない程度の接着力を有する。ダイシング工程終了後には、チップをピックアップする。この際、突き上げピンや吸引コレットなどを用いて、ダイシングシートからチップをピックアップする。また、粘着剤層がエネルギー線硬化性を有する場合には、粘着剤層にエネルギー線を照射し、粘着力を低下させることで、チップのピックアップがより容易になる。また、チップのピックアップ時には、チップ同士の間隔を離間するために、ダイシングシートにチップが固定された状態でダイシングシートをエキスパンドすることが好ましい。エキスパンドによりチップ間隔が離間し、チップの認識が容易になり、またチップ同士の接触による破損も低減され歩留りも向上する。   Such a dicing sheet has been widely used for semiconductor processing, and has an adhesive strength that fixes the wafer during dicing and prevents chips generated by dicing from scattering. After the dicing process is completed, the chip is picked up. At this time, a chip is picked up from the dicing sheet using a push-up pin, a suction collet, or the like. Further, when the pressure-sensitive adhesive layer has energy ray curability, the chip can be more easily picked up by irradiating the pressure-sensitive adhesive layer with energy rays to reduce the adhesive force. Further, when picking up the chips, it is preferable to expand the dicing sheet in a state where the chips are fixed to the dicing sheet in order to separate the intervals between the chips. By expanding, the distance between the chips is increased, the chips can be easily recognized, the damage due to the contact between the chips is reduced, and the yield is improved.

(フィルム状接着剤) (Film adhesive)

さらに、本発明のワーク加工用シートは、ダイシング時のウエハ固定機能とダイボンド時のダイ接着機能とを同時に兼ね備えたダイシング・ダイボンド兼用シートであってもよい。この場合、接着性樹脂層を、感圧接着性を有し、又は加熱により軟化して被着体に付着する性状とすることで、ダイシング工程において半導体ウエハやチップを保持することができる。そして、ダイボンド時にはチップを固着するための接着剤として機能する。接着性樹脂層は、ダイシング時には、ウエハとともに切断され、切断されたチップと同形状の接着性樹脂層が形成される。ダイシング終了後、チップのピックアップを行うと、接着性樹脂層は、チップとともに基材から剥離する。接着性樹脂層を伴ったチップを基板に載置し、加熱等を行い、チップと、基板や他のチップ等の被着体とを接着性樹脂層を介して接着する。このようなダイシング・ダイボンド兼用シートは、基材上に、ウエハ固定機能とダイ接着機能とを兼ね備えた、接着性樹脂層が形成されてなる。このようなウエハ固定機能とダイ接着機能とを兼ね備えた接着性樹脂層は、たとえばバインダー樹脂と、エポキシ接着剤を含み、また必要に応じ、エネルギー線硬化型化合物および硬化助剤等を含む。接着性樹脂層のチップへの転写を容易にするため、ダイシング・ダイボンド兼用シートにおける基材は剥離処理されていることが好ましい。なお、接着性樹脂層付チップのピックアップ時には、前記と同様にエキスパンドを行うことが好ましい。   Furthermore, the work processing sheet of the present invention may be a dicing / die-bonding sheet having both a wafer fixing function during dicing and a die bonding function during die bonding. In this case, the adhesive resin layer has pressure-sensitive adhesiveness, or has a property of being softened by heating and attached to the adherend, whereby the semiconductor wafer or chip can be held in the dicing process. And it functions as an adhesive for fixing the chip during die bonding. At the time of dicing, the adhesive resin layer is cut together with the wafer, and an adhesive resin layer having the same shape as the cut chip is formed. When the chip is picked up after the dicing is completed, the adhesive resin layer is peeled off from the substrate together with the chip. A chip with an adhesive resin layer is placed on the substrate, heated, etc., and the chip and an adherend such as a substrate or another chip are bonded via the adhesive resin layer. In such a dicing / die-bonding sheet, an adhesive resin layer having both a wafer fixing function and a die bonding function is formed on a base material. Such an adhesive resin layer having both a wafer fixing function and a die bonding function includes, for example, a binder resin and an epoxy adhesive, and also includes an energy ray curable compound and a curing aid as necessary. In order to facilitate the transfer of the adhesive resin layer to the chip, it is preferable that the base material in the dicing / die-bonding sheet is subjected to a peeling treatment. In addition, when picking up the chip with the adhesive resin layer, it is preferable to perform the expansion in the same manner as described above.

(保護膜形成用シート)
さらに、ワーク加工用シートは、チップの裏面に保護膜を形成するための保護膜形成用シートであってもよい。この場合、接着性樹脂層に半導体ウエハを貼付し、接着性樹脂層を硬化させ、その後、半導体ウエハと樹脂層をダイシングし、硬化した樹脂層(保護膜)を有するチップを得る。このような保護膜形成用のシートは、剥離性基材上に保護膜となる接着性の樹脂層を有する。保護膜となる接着性樹脂層は、たとえばバインダー樹脂と、エポキシ接着剤および硬化助剤を含み、また必要に応じフィラー等が含まれていても良い。
(Protective film forming sheet)
Further, the workpiece processing sheet may be a protective film forming sheet for forming a protective film on the back surface of the chip. In this case, a semiconductor wafer is attached to the adhesive resin layer, the adhesive resin layer is cured, and then the semiconductor wafer and the resin layer are diced to obtain a chip having a cured resin layer (protective film). Such a sheet for forming a protective film has an adhesive resin layer serving as a protective film on a peelable substrate. The adhesive resin layer serving as a protective film contains, for example, a binder resin, an epoxy adhesive, and a curing aid, and may contain a filler or the like as necessary.

<ワーク加工用シート>
本発明のワーク加工用シート1における接着性樹脂層の3厚みは、その用途により様々であり、ダイシングシートとして用いる場合は、30〜200μm程度であり、またダイシング・ダイボンド兼用シートとして用いる場合には、50〜300μm程度である。
接着性樹脂層3は、上記基材2の片面に直接塗工して形成してもよく、また剥離フィルム上に接着性樹脂層を形成した後、これを基材上に転写してもよい。
<Work processing sheet>
The thickness of the adhesive resin layer 3 in the workpiece processing sheet 1 of the present invention varies depending on the application, and is about 30 to 200 μm when used as a dicing sheet, and when used as a dicing / die-bonding sheet. 50 to 300 μm.
The adhesive resin layer 3 may be formed by directly coating on one side of the substrate 2, or after forming the adhesive resin layer on the release film, it may be transferred onto the substrate. .

以上、本発明のワーク加工用シートについて、接着性樹脂層の代表的な組成と用途について概説したが、本発明のワーク加工用シートにおける接着性樹脂層は上記のものに限定されることはなく、またその用途も特に限定されない。   As described above, the representative composition and application of the adhesive resin layer have been outlined for the workpiece processing sheet of the present invention, but the adhesive resin layer in the workpiece processing sheet of the present invention is not limited to the above. Also, its use is not particularly limited.

以下、本発明を実施例によりさらに具体的に説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。なお、「ブロック共重合体を含むフィルムまたは基材のヤング率」は以下のように測定し、「ダイシング屑」および「エキスパンド性」は以下のように評価した。   EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples. The “Young's modulus of the film or substrate containing the block copolymer” was measured as follows, and “Dicing waste” and “Expandability” were evaluated as follows.

(ブロック共重合体を含むフィルムまたは基材のヤング率)
ブロック共重合体を含むフィルムまたは基材のヤング率は、万能引張試験機(オリエンテック社製テンシロンRTA−T−2M)を用いて、JIS K7161:1994に準拠して、23℃、湿度50%の環境下において引張速度200mm/分で測定した。実施例1〜4および比較例1については、得られた基材について試験を行い、実施例5については、エチレン・メタクリル酸共重合体フィルムと積層させる前のブロック共重合体を含むフィルムについて試験を行った。また、比較例2および3で用いた基材についても参考のためヤング率を測定した。
(Young's modulus of a film or substrate containing a block copolymer)
The Young's modulus of the film or base material containing the block copolymer is 23 ° C. and 50% humidity in accordance with JIS K7161: 1994 using a universal tensile tester (Tensilon RTA-T-2M manufactured by Orientec Co., Ltd.). The measurement was performed at a tensile speed of 200 mm / min. About Examples 1-4 and Comparative Example 1, it tests about the obtained base material, About Example 5, it tests about the film containing the block copolymer before making it laminate | stack with an ethylene methacrylic acid copolymer film. Went. In addition, the Young's modulus of the substrates used in Comparative Examples 2 and 3 was also measured for reference.

(ダイシング屑)
実施例および比較例で作成したワーク加工用シートの接着性樹脂層をシリコンウエハに貼付した後、ダイシング装置(DISCO社製,DFD−651)にセットし、以下の条件でダイシングを行った。
・ワーク(被着体):シリコンウエハ
・ワークサイズ:6インチ、厚さ 350μm
・ダイシングブレード:ディスコ社製 NBC-ZH 2050 27HECC
・ブレード回転数:30,000rpm
・ダイシングスピード:80mm/秒
・切り込み深さ:基材フィルム表面より20μmの深さまで切り込み
・ダイシングサイズ:10mm×10mm
(Dicing waste)
After affixing the adhesive resin layer of the workpiece processing sheet prepared in the examples and comparative examples to a silicon wafer, it was set in a dicing apparatus (manufactured by DISCO, DFD-651) and diced under the following conditions.
・ Work (adherence): Silicon wafer ・ Work size: 6 inches, thickness 350μm
・ Dicing blade: NBC-ZH 2050 27HECC manufactured by DISCO
・ Blade rotation speed: 30,000rpm
・ Dicing speed: 80 mm / second ・ Incision depth: Incision to a depth of 20 μm from the substrate film surface ・ Dicing size: 10 mm × 10 mm

上記条件でダイシング後、基材フィルム側から紫外線を照射(160mJ/cm)して、切断されたチップを剥離した。縦及び横のダイシングラインのうち、それぞれの中央付近における縦の1ライン及び横の1ラインに発生した糸状屑の個数を、デジタル顕微鏡(キーエンス社製,VHX−100,倍率:100倍)を用いてカウントした。糸状屑の個数が0〜10個のものを良好、11個以上のものを不良として評価した。 After dicing under the above conditions, ultraviolet rays were irradiated from the base film side (160 mJ / cm 2 ), and the cut chips were peeled off. Among vertical and horizontal dicing lines, use a digital microscope (Keyence Corp., VHX-100, magnification: 100 times) to determine the number of filaments generated on one vertical line and one horizontal line near the center of each. And counted. The number of filamentous scraps of 0 to 10 was evaluated as good and 11 or more were evaluated as defective.

(エキスパンド性)
上記条件でダイシングおよび紫外線照射を行った後、エキスパンド装置(SE−100 JCM社製)を用いて、5mm/sの速さで引き落としエキスパンドを行った。エキスパンド性について、エキスパンドが可能な引き落とし量(長さ)の最大値を基準として評価を行った。引き落とし量の最大値が長いほど、エキスパンド性に優れている。
(Expandable)
After performing dicing and ultraviolet irradiation under the above-mentioned conditions, using an expanding apparatus (SE-100 manufactured by JCM), it was pulled down and expanded at a speed of 5 mm / s. The expandability was evaluated based on the maximum amount of withdrawal (length) that can be expanded. The longer the maximum withdrawal amount, the better the expandability.

(実施例1)
(接着性樹脂)
2-エチルヘキシルアクリレート40質量部、酢酸ビニルモノマー40質量部、2−ヒドロキシエチルアクリレート20質量部からなる共重合体100gに対して33.6gメタクリロイルオキシエチルイソシアネートを反応させて得られたポリマー100質量部と、紫外線硬化型反応開始剤3質量部と、架橋剤(イソシアネート系)1質量部とを配合し、接着性樹脂組成物を得た。
Example 1
(Adhesive resin)
100 parts by mass of a polymer obtained by reacting 33.6 g of methacryloyloxyethyl isocyanate with 100 g of a copolymer comprising 40 parts by mass of 2-ethylhexyl acrylate, 40 parts by mass of vinyl acetate monomer and 20 parts by mass of 2-hydroxyethyl acrylate. And 3 parts by weight of an ultraviolet curable reaction initiator and 1 part by weight of a crosslinking agent (isocyanate) were blended to obtain an adhesive resin composition.

(基材)
ブロック共重合体の重合に用いる全単量体100質量%中のメタクリル酸メチルの割合が30質量%であり、両末端がポリメタクリル酸メチルブロック(高Tgブロック)であり、中間ブロックがポリアクリル酸ブチルブロック(低Tgブロック)である、重量平均分子量が50000のトリブロック共重合体(株式会社クラレ社製、LA−2250)をメチルエチルケトンで溶解させ混合物を作成した。なお、以下の実験例においても同様に、ポリメタクリル酸メチルブロックが高Tgブロックであり、ポリアクリル酸ブチルブロックが低Tgブロックである。
(Base material)
The proportion of methyl methacrylate in 100% by mass of all monomers used for polymerization of the block copolymer is 30% by mass, both ends are polymethyl methacrylate blocks (high Tg block), and the intermediate block is polyacrylic. A triblock copolymer (LA-2250, manufactured by Kuraray Co., Ltd.) having a weight average molecular weight of 50,000 which is an acid butyl block (low Tg block) was dissolved in methyl ethyl ketone to prepare a mixture. In the following experimental examples, similarly, the polymethyl methacrylate block is a high Tg block, and the polybutyl acrylate block is a low Tg block.

上記の混合溶液を、第1の剥離フィルム(リンテック社製、SP−PET381031、表面が剥離処理された厚さ38μmのポリエチレンテレフタレートフィルム)上に乾燥後の厚さが80μmとなるように塗布し、100℃で3分間加熱し、ブロック共重合体を含むフィルムのみからなる基材を形成した。   The above mixed solution was applied to the first release film (SP-PET 381031, manufactured by Lintec Corporation, 38 μm thick polyethylene terephthalate film whose surface was peeled) so that the thickness after drying was 80 μm, It heated at 100 degreeC for 3 minute (s), and the base material which consists only of a film containing a block copolymer was formed.

(ワーク加工用シート)
接着性樹脂組成物を、第2の剥離フィルム(リンテック社製、SP−PET381031)の剥離処理された面上に厚さ10μmとなるように塗布し、100℃で1分間加熱した。次いで、得られた接着性樹脂層と基材フィルムと貼合し、第1および第2の剥離フィルムを剥離し、基材上に接着性樹脂層を有するワーク加工用シートを作成した。
(Work processing sheet)
The adhesive resin composition was applied on the surface of the second release film (SP-PET 381031 manufactured by Lintec Corporation) so as to have a thickness of 10 μm and heated at 100 ° C. for 1 minute. Next, the obtained adhesive resin layer and the substrate film were bonded together, the first and second release films were peeled off, and a workpiece processing sheet having an adhesive resin layer on the substrate was prepared.

得られたワーク加工用シートを用いて、「ダイシング屑」および「エキスパンド性」の評価を行った。結果を表1に示す。   “Dicing waste” and “expandability” were evaluated using the obtained workpiece processing sheet. The results are shown in Table 1.

(実施例2)
基材を構成するトリブロック共重合体として、ブロック共重合体の重合に用いる全単量体100質量%中のメタクリル酸メチルの割合が30質量%であり、両末端がポリメタクリル酸メチルブロックであり、中間ブロックがポリアクリル酸ブチルブロックである、重量平均分子量が80000のトリブロック共重合体(株式会社クラレ社製、LA−2550)を用いた以外は、実施例1と同様にして、ワーク加工用シートを作成した。結果を表1に示す。
(Example 2)
As a triblock copolymer constituting the base material, the proportion of methyl methacrylate in 100% by mass of all monomers used for polymerization of the block copolymer is 30% by mass, and both ends are polymethyl methacrylate blocks. Yes, in the same manner as in Example 1 except that a triblock copolymer (LA-2550, manufactured by Kuraray Co., Ltd.) having a weight average molecular weight of 80000, in which the intermediate block is a polybutyl acrylate block, was used. A processing sheet was created. The results are shown in Table 1.

(実施例3)
基材を構成するトリブロック共重合体として、ブロック共重合体の重合に用いる全単量体100質量%中のメタクリル酸メチルの割合が30質量%であり、両末端がポリメタクリル酸メチルブロックであり、中間ブロックがポリアクリル酸ブチルブロックである、重量平均分子量が50000のトリブロック共重合体(株式会社クラレ社製、LA−2250)と、ブロック共重合体の重合に用いる全単量体100質量%中のメタクリル酸メチルの割合が50質量%であり、両末端がポリメタクリル酸メチルブロックであり、中間ブロックがポリアクリル酸ブチルブロックである、重量平均分子量が50000のトリブロック共重合体(株式会社クラレ社製、LA−4285)との等量混合物(メタクリル酸メチルのブロック共重合体の重合に用いる全単量体100質量%中の割合の平均が40質量%)を用いた以外は、実施例1と同様にして、ワーク加工用シートを作成した。結果を表1に示す。
(Example 3)
As a triblock copolymer constituting the base material, the proportion of methyl methacrylate in 100% by mass of all monomers used for polymerization of the block copolymer is 30% by mass, and both ends are polymethyl methacrylate blocks. Yes, a triblock copolymer (LA-2250, manufactured by Kuraray Co., Ltd.) having a weight average molecular weight of 50,000, the intermediate block being a polybutyl acrylate block, and all monomers 100 used for polymerization of the block copolymer A triblock copolymer having a weight average molecular weight of 50000, wherein the ratio of methyl methacrylate in mass% is 50 mass%, both ends are polymethyl methacrylate blocks, and the intermediate block is polybutyl acrylate block ( Equal amount mixture with Kuraray Co., Ltd. (LA-4285) (polymerization of methyl methacrylate block copolymer) Except that the average percentage of the total monomers in 100% by mass there are using 40 wt%), the same procedure as in Example 1 to prepare a workpiece processing sheet. The results are shown in Table 1.

(実施例4)
基材を構成するトリブロック共重合体として、ブロック共重合体の重合に用いる全単量体100質量%中のメタクリル酸メチルの割合が50質量%であり、両末端がポリメタクリル酸メチルブロックであり、中間ブロックがポリアクリル酸ブチルブロックである、重量平均分子量が50000のトリブロック共重合体(株式会社クラレ社製、LA−4285)を用いた以外は、実施例1と同様にして、ワーク加工用シートを作成した。結果を表1に示す。
Example 4
As a triblock copolymer constituting the substrate, the proportion of methyl methacrylate in 100% by mass of all monomers used for polymerization of the block copolymer is 50% by mass, and both ends are polymethyl methacrylate blocks. Yes, in the same manner as in Example 1 except that a triblock copolymer having a weight average molecular weight of 50000 (LA-4285, manufactured by Kuraray Co., Ltd.), in which the intermediate block is a polybutyl acrylate block, was used. A processing sheet was created. The results are shown in Table 1.

(実施例5)
(積層基材)
メブロック共重合体の重合に用いる全単量体100質量%中のタクリル酸メチルの割合が50質量%であり、両末端がポリメタクリル酸メチルブロックであり、中間ブロックがポリアクリル酸ブチルブロックである、重量平均分子量が50000のトリブロック共重合体(株式会社クラレ社製、LA−4285)をメチルエチルケトンで溶解させ混合物を作成した。
(Example 5)
(Laminated substrate)
The proportion of methyl tacrylate in 100% by mass of all monomers used for polymerization of the meblock copolymer is 50% by mass, both ends are polymethyl methacrylate blocks, and the intermediate block is a polybutyl acrylate block. A triblock copolymer having a weight average molecular weight of 50,000 (Kuraray Co., Ltd., LA-4285) was dissolved in methyl ethyl ketone to prepare a mixture.

上記の混合溶液を、第1の剥離フィルム(リンテック社製、SP−PET381031)上に乾燥後の厚さが30μmとなるように塗布し、100℃で3分間加熱しブロック共重合体を含むフィルムを形成した。   The above mixed solution is applied onto the first release film (SP-PET 381031 manufactured by Lintec Corporation) so that the thickness after drying is 30 μm, and heated at 100 ° C. for 3 minutes to contain a block copolymer Formed.

次いで、厚さ60μmのエチレン・メタクリル酸共重合体フィルム(25%伸長時の引張応力:7.8MPa)と前記ブロック共重合体フィルムとを60℃に加熱して積層し基材を得た。   Subsequently, a 60 μm thick ethylene / methacrylic acid copolymer film (tensile stress at 25% elongation: 7.8 MPa) and the block copolymer film were heated to 60 ° C. and laminated to obtain a substrate.

(ワーク加工用シート)
上記基材のブロック共重合体を含むフィルム側に、接着性樹脂層を形成した以外は、実施例1と同様にして、ワーク加工用シートを作成した。結果を表1に示す。
(Work processing sheet)
A workpiece processing sheet was prepared in the same manner as in Example 1 except that an adhesive resin layer was formed on the side of the substrate containing the block copolymer. The results are shown in Table 1.

(比較例1)
基材を構成するトリブロック共重合体として、ブロック共重合体の重合に用いる全単量体100質量%中のメタクリル酸メチルの割合が20質量%であり、両末端がポリメタクリル酸メチルブロックであり、中間ブロックがポリアクリル酸ブチルブロックである、重量平均分子量が50000のトリブロック共重合体(株式会社クラレ社製、LA−2140e)を用いた以外は、実施例1と同様にして、ワーク加工用シートを作成した。結果を表1に示す。
(Comparative Example 1)
As a triblock copolymer constituting the substrate, the proportion of methyl methacrylate in 100% by mass of all monomers used for polymerization of the block copolymer is 20% by mass, and both ends are polymethyl methacrylate blocks. Yes, in the same manner as in Example 1 except that a triblock copolymer having a weight average molecular weight of 50000 (LA-2140e, manufactured by Kuraray Co., Ltd.), in which the intermediate block is a polybutyl acrylate block, was used. A processing sheet was created. The results are shown in Table 1.

(比較例2)
基材として、厚さ80μmのエチレン・メタクリル酸共重合体フィルムを用いた以外は、実施例1と同様にして、ワーク加工用シートを作成した。結果を表1に示す。
(Comparative Example 2)
A workpiece processing sheet was prepared in the same manner as in Example 1 except that an ethylene / methacrylic acid copolymer film having a thickness of 80 μm was used as the substrate. The results are shown in Table 1.

(比較例3)
基材として、厚さ100μmのポリエチレンテレフタレートフィルムを用いた以外は、実施例1と同様にして、ワーク加工用シートを作成した。結果を表1に示す。

Figure 2013199562
(Comparative Example 3)
A workpiece processing sheet was prepared in the same manner as in Example 1 except that a polyethylene terephthalate film having a thickness of 100 μm was used as the substrate. The results are shown in Table 1.
Figure 2013199562

1:ワーク加工用シート
2:基材
3:接着性樹脂層
1: Work processing sheet 2: Base material 3: Adhesive resin layer

Claims (6)

ワーク加工用シートに用いられる基材であり、下記式にて示されるブロック共重合体を含む基材:
(高Tgブロック)−{(低Tgブロック)−(高Tgブロック)}n
ここで、
nは、1〜3の整数であり、
高Tgブロックは、ホモポリマーのガラス転移温度が0℃以上の単量体単位からなるポリマーブロックであり、
低Tgブロックは、ホモポリマーのガラス転移温度が0℃未満の単量体単位からなるポリマーブロックであり、
高Tgブロックのガラス転移温度と、低Tgブロックのガラス転移温度との差が、30℃以上であり、
ブロック共重合体の重合に用いる全単量体100質量%中、高Tgモノマーは25質量%以上含まれる。
A base material used for a workpiece processing sheet, comprising a block copolymer represented by the following formula:
(High Tg block)-{(Low Tg block)-(High Tg block)} n
here,
n is an integer of 1 to 3,
The high Tg block is a polymer block composed of monomer units having a homopolymer glass transition temperature of 0 ° C. or higher.
The low Tg block is a polymer block composed of monomer units having a glass transition temperature of the homopolymer of less than 0 ° C.,
The difference between the glass transition temperature of the high Tg block and the glass transition temperature of the low Tg block is 30 ° C. or more,
In 100% by mass of all monomers used for the polymerization of the block copolymer, the high Tg monomer is contained in an amount of 25% by mass or more.
基材を構成するブロック共重合体を含むフィルムのヤング率が300MPa以下である請求項1に記載のワーク加工用シート。   The work processing sheet according to claim 1, wherein the Young's modulus of the film containing the block copolymer constituting the substrate is 300 MPa or less. 請求項1または2に記載の基材の少なくとも片面に接着性樹脂層を有するワーク加工用シート。   A work processing sheet having an adhesive resin layer on at least one surface of the substrate according to claim 1. 接着性樹脂層が感圧接着性を有する請求項3に記載のワーク加工用シート。   The work processing sheet according to claim 3, wherein the adhesive resin layer has pressure-sensitive adhesiveness. 接着性樹脂層が、ダイ接着用である請求項3に記載のワーク加工用シート。   The work processing sheet according to claim 3, wherein the adhesive resin layer is for die bonding. 接着性樹脂層が、保護膜形成用である請求項3に記載のワーク加工用シート。   The work processing sheet according to claim 3, wherein the adhesive resin layer is for forming a protective film.
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