JP2013187230A - 多チャネル光送信モジュールおよびその作製方法 - Google Patents

多チャネル光送信モジュールおよびその作製方法 Download PDF

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Abstract

【課題】本発明の目的は、配線板支持部を集積したアレイチップを使用することにより、アレイチップ全面を加圧しても半導体導波路を傷つけずに実装可能となり、放熱性を確保し、コストを抑えつつ、フリップチップ実装の特徴である、全チャネルで良好な高周波特性が得られる多チャネル光送信モジュールを実現することにある。
【解決手段】本願発明の多チャンネル光送信モジュールは、LDキャリアと、前記LDキャリア上に搭載され、光機能部と配線板支持部が配された半導体素子アレイと、前記半導体素子アレイの上方に配され、前記配線板支持部に固定されたフリップチップ配線板と、前記光機能部の表面に形成された電極と前記フリップチップ配線板とを接続する高周波配線である金バンプとを備え、前記配線板支持部の最大厚さが、前記光機能部の最大厚さと同等か、それより高いことを特徴とする。
【選択図】図6

Description

本発明は、大容量光通信網の構成要素である多チャネル用光送信モジュールに関するものである。
図1は、従来技術を使用した直接変調DFB(分布帰還型―Distributed Feedback)レーザを使用した単チャネル光送信モジュールの構成図である。高周波信号配線の電気結線の取り方として、従来は、金ワイヤを使用したワイヤボンディングによる結線が一般的であった。従来の単チャネルのモジュールの高周波信号配線を考えると、パッケージ101と配線板117、配線板117とDFBレーザ103との間は、金ワイヤ113で結線されている。このとき、DFBレーザ103と配線板117を接続する金ワイヤ113の長さは、チップ幅を0.5mmとしたときに最短で、0.3mm程度になる。このように、配線板117をDFBレーザ103の直近まで引いてくることにより、金ワイヤ113を使用する距離を短くし、寄生インダクタンス成分による特性劣化を最小限に抑える工夫がなされていた(特許文献1参照)。
図2は、先にでてきた従来のワイヤ実装技術の結線方法を使用した、合波器付き4チャネル直接変調DFBレーザアレイ203を使用した多チャネル光送信モジュールの構成図である。
図2において、先に出てきたように、パッケージ201と配線板217、配線板217とDFBレーザアレイ203の各チャネルは、金ワイヤ213で結線されている。このようにして、DFBレーザアレイ203の直近まで配線板217を引いているため、DFBレーザアレイ203の外側に相当する各DFBレーザと配線板217を結ぶ金ワイヤ213の長さは、レーザの間隔が、0.5mmだったとして、単チャネルの時と同じ最短で0.3mm程度に抑えられているが、DFBレーザアレイ203の中程の各DFBレーザと配線板217を結ぶ金ワイヤ213の長さは、最短でも、0.7mm以上と外側に比べて2倍以上の長さが必要となる。
このため、10Gbpsを超える高速信号を扱う場合は、アレイチップの最外側2チャネル以外へのDFBレーザに供給される高周波信号が金ワイヤ213の寄生インダクタンス成分により劣化する問題があった。加えて、多チャネル光送信モジュールは、全チャネル同時動作させるため、金ワイヤ213の近接するチャネル間で、電気クロストークが発生し、波形が劣化する問題も発生する。そこで、ワイヤ実装が不要であるフリップチップ実装技術を使用する方法が考えられている。
図3は、先にでてきた合波器付き4チャネルDFBレーザアレイをフリップチップ実装した多チャネル光送信モジュールの構成図である。図3において、DFBレーザアレイ303は、電極がついている面が下側になっており、金バンプ314を介してサブキャリア304上の配線と接合している。このように実装することにより、サブキャリア304上の配線とチップを接続するワイヤが不要となり帯域の劣化、クロストークによる信号波形劣化を抑制することができる。しかし、DFBレーザアレイ303が金バンプ314を介してのみサブキャリア304と繋がっているため、放熱性が悪く、デバイスの特性劣化につながる問題があった(特許文献2参照)。
また、先の実装方法と逆に配線板をフリップチップ実装する形態も考えられる。図4は、先にでてきた合波器付き4チャネルDFBレーザアレイに対してフリップチップ配線板415をフリップチップ実装した多チャネル光送信モジュールの構成図である。このような構成にすることにより、サブキャリア404とレーザアレイ403が、従来と同様に接するため、放熱性の面では従来のワイヤ実装型と同等性能が得られる。加えて、配線板とチップを接続するワイヤが不要となり帯域の劣化、クロストークによる信号波形劣化を抑制することができる。しかし、この方法では、フリップチップ配線板415が全ての金バンプ414と接するために、アレイチップ403と高周波配線板417の高さ誤差を金バンプ414が吸収できる程度の精度で作製する必要がある。このため、チップの研磨厚に依存する歩留まりの低下や、配線板の厚さ精度に依存した高コスト化の問題があった。
また、配線板支持板512を別に用意する形態も考えられる。図5は、先にでてきた合波器付き4チャネルDFBレーザアレイ503及び配線板支持板512に対してフリップチップ配線板515を、それぞれ金バンプ514と、金もしくは半田バンプ516を介して、フリップチップ実装した多チャネル光送信モジュールの構成図である。この構成では、配線板支持板512とレーザアレイ503とを同時研磨することにより、高さを合わせることが可能であり、厚さ精度の問題はある程度改善されるが、それでも別のウエハであるためある程度の高さ誤差は出てしまう点、配線板支持板512を用意する必要があるので高コスト化するといった問題があった。
また、アレイチップは、従来の単チャネルのチップに比較して非常に大きくなるため、キャリアにチップをダイボンディングする際に、チップが傾かないようにチップ全面を押しながら実装するが、上記のアレイチップの構造では導波路を加圧用のコレットで触るため導波路を破損するおそれがあった。
特開2003−207693号公報 特開2008−244364号公報
T.Fujisawa,S.Kanazawa,N.Nunoya,H.Ishii,Y.Kawaguchi,A.Ohki,N.Fujiwara,K.Takahata,R.Iga,F.Kano,and H.Oohashi,"4×25−Gbit/s,1.3−μm,monolithically integrated light source for 100−Gbit/s Ethernet," in Proc.ECOC,Th.9.D.1,2010.
高速の多チャネル光送信モジュールにとって、各チャネルに高周波信号の劣化を極力抑えることが非常に重要である。しかし、従来技術では、チャネル数の増大に伴いチップサイズが大きくなり、金ワイヤの長さも長くなるため、高周波信号が劣化する問題を抱えていた。また、帯域の劣化を防ぐフリップチップ実装技術を使用した場合、放熱性の劣化や、高コスト化する問題があった。加えて、アレイチップを傾きなくキャリアに実装するためにはチップ全面を加圧しながら実装するが、その際に加圧用コレットが導波路を傷つけるという問題があった。
そこで、本発明の目的は、配線板支持部を集積したアレイチップを使用することにより、アレイチップ全面を加圧しても半導体導波路を傷つけずに実装可能となり、放熱性を確保し、コストを抑えつつ、フリップチップ実装の特徴である、全チャネルで良好な高周波特性が得られる多チャネル光送信モジュールを実現することにある。
上記課題を解決するために、本願発明の請求項1に係る多チャネル光送信モジュールは、LDキャリアと、上記LDキャリア上に搭載され、光機能部と配線板支持部が配された半導体素子アレイと、上記半導体素子アレイの上方に配され、上記配線板支持部に固定されたフリップチップ配線板と、上記光機能部の表面に形成された電極と上記フリップチップ配線板とを接続する高周波配線である金バンプとを備え、上記配線板支持部の最大厚さが、上記光機能部の最大厚さと同等か、それより高いことを特徴とする。
また、本願発明の請求項2に係る多チャネル光送信モジュールは、上記半導体素子アレイは、高速直接変調半導体レーザアレイ素子であり、上記フリップチップ配線板は、フリップチップ実装対応高周波配線板であり、上記多チャンネル光送信モジュールは、さらに、高速多チャネルパッケージと、上記高速多チャネルパッケージに配置されたペルチェ素子と、上記ペルチェ素子上にあり、上記高速直接変調半導体レーザアレイ素子から出力された光が通過する第1のレンズと、上記LDキャリア上に配置されたサブキャリアと、上記パッケージ外部に配置された第2のレンズアイソレータ付き第2のレンズと、上記第2のレンズを通過した光が通過するフェルールカラーと、ピグテールファイバとから構成されることを特徴とする。
また、本願発明の請求項3に係る多チャネル光送信モジュールは、上記半導体素子アレイは、高速光変調器集積半導体レーザアレイ素子であり、上記フリップチップ配線板は、フリップチップ実装対応高周波配線板であり、上記多チャンネル光送信モジュールは、さらに、高速多チャネルパッケージと、上記高速多チャネルパッケージに配置されたペルチェ素子と、上記ペルチェ素子上にあり、上記高速光変調器集積半導体レーザアレイ素子から出力された光が通過する第1のレンズと、上記LDキャリア上に配置されたサブキャリアと、上記パッケージ外部に配された第2のレンズアイソレータ付き第2レンズと、上記第2のレンズを通過した光が通過するフェルールカラーと、ピグテールファイバとから構成されることを特徴とする。
また、本願発明の請求項4に係る多チャネル光送信モジュールは、上記半導体素子アレイの光機能部が、3個以上の直接変調DFBレーザ、もしくは、3個以上の電界吸収型光変調器集積DFBレーザ(以下、EADFBという)、もしくは、2個以上のマッハツェンダー変調器および、1個以上のDFBレーザから構成されることを特徴とする。
また、本願発明の請求項5に係る多チャネル光送信モジュールは、上記半導体素子アレイに、半導体素子レーザ、または、変調器からの光路を合波する合波器を形成するとともに、上記合波器として多モード干渉型合波器(以下、MMI合波器という)または、アレイ導波路格子合波器(以下、AWG合波器という)を使用することを特徴とする。
また、本願発明の請求項6に係る多チャネル光送信モジュールは、上記半導体素子アレイとは別に、半導体素子レーザ、または、変調器からの光路を合波する合波器を、独立して設けるとともに、上記合波器としてAWG合波器、または、誘電体フィルタを使用した合波器を使用することを特徴とする。
上記課題を解決するために、本願発明の請求項7に係る多チャネル光送信モジュールの作製方法は、半導体素子の光機能部の表面構造を形成する工程と同一工程で同時に配線板支持部も作製でき、上記配線板支持部の最大厚さが、上記光機能部の最大厚さと同等か、それより高いことを特徴とする。
以上のように本発明によれば、支持部集積チップと、ブリッジ型配線板フリップチップ実装技術を使用することで、チップと同一のウエハに支持部を作成するために、従来型ブリッジ型配線板フリップチップ実装技術で問題となるチップと支持部の高さ誤差による実装歩留まり低下の問題をなくすとともに、支持部を介してチップを加圧しながらキャリアに実装することが可能となるため、半導体導波路にキズをつけずに傾きなく実装が可能となる。また、従来のブリッジ型配線板フリップチップ実装技術と同等の高周波特性を維持しつつ、実装時の歩留まりを向上させ、低コストで作製可能な多チャネル光送信モジュールが実現可能となる。
従来技術によるDFBレーザを使用したワイヤ実装型単チャネル光送信モジュールの構成例を示す図である。 従来技術による合波器付きDFBレーザアレイを光源としたワイヤ実装型の多チャネル光送信モジュールの構成例を示す図である。 従来技術による合波器付きDFBレーザアレイを光源としたフリップチップ実装型多チャネル光送信モジュールの構成例を示す図である。 従来技術による合波器付きDFBレーザアレイを光源とした配線板フリップチップ実装型多チャネル光送信モジュールの構成例を示す図である。 従来技術による合波器付きDFBレーザアレイを光源としたブリッジ型フリップチップ配線板を使用した多チャネル光送信モジュールの構成例を示す図である。 本発明の実施例1に係る多チャネル光送信モジュールである支持部集積合波器付きDFBレーザアレイを光源としたブリッジ型フリップチップ配線板を使用した多チャネル光送信モジュールの構成例を示す図である。 図6に示す、支持部集積アレイチップの光機能部と支持部のプロセス工程ごとの断面図である。 図6に示す、支持部集積アレイチップの断面図である。 第1レンズを調芯するための実験系を示す図である。 第2レンズ、およびピグテールファイバを調芯するための実験系を示す図である。 合波器付きDFBレーザアレイを光源とした多チャネル光送信モジュールのアイパターン測定系を示す図である。 合波器付きDFBレーザアレイを光源とした多チャネル光送信モジュールのビットエラーレート測定系を示す図である。 本発明の実施例2に係る多チャンネル光送信モジュールである支持部集積合波器付きMZ集積レーザアレイを光源としたブリッジ型フリップチップ配線板を使用した多チャネル光送信モジュールの構成例を示す図である。 合波器付きMZ集積レーザアレイを光源としたブリッジ型フリップチップ配線板を使用した多チャネル光送信モジュール作製時の、第1レンズを調芯するための実験系を示す図である。 合波器付きMZ集積レーザアレイを光源とした多チャネル光送信モジュールのアイパターン測定系を示す図である。 合波器付きMZ集積レーザアレイを光源とした従来のワイヤ実装型の多チャネル光送信モジュールの構成図である。 合波器付きMZ集積レーザアレイを光源とした多チャネル光送信モジュールのビットエラーレート測定系を示す図である。
以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。
以下に、本発明の具体的な実施例に基づき説明する。本実施例は、本発明の効果を示す1つの例示であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内で種々の変更を行いうることは言うまでもない。
[実施例1]
図6は、本発明の実施例1に係る多チャネル光送信モジュール600の構成図である。本実施例では、多チャネル光送信用アレイデバイスとして、4チャネルの合波器付き支持部集積直接変調DFBレーザアレイ(以下、レーザアレイ)603を使用する構成となっている。また、フリップチップ配線板615は、マイクロストリップ線路の配線形状になっており、窒化アルミニウムを材料とし、配線613は、Auを材料とし、上面の配線部と下面の金バンプ接点は、側面の高周波配線を介して電気的に繋がっている。
また、フリップチップ配線板615の金バンプ614との接続部、配線板支持部617との接続部には、金−スズ合金半田を使用し、半田接合とした。この実施例では、チャネル間隔を500μm、合波器として多モード干渉型合波器(以下、MMI合波器)を使用している。また、各チャネルの波長は、1295nm、1300nm、1305nm、1310nmとした。このとき、レーザアレイ603は、InP基板上のものを使用する。また、データレート25Gbps、Non Return to ZERO(以下、NRZ)とし、疑似ランダム信号(以下PRBS)は、231−1の高周波信号を各チャネルに供給する。
1.動作原理
本実施例で、レーザアレイの各チャネルにどのようにして高速電気信号を供給するかを説明する。高周波信号は、パッケージ601の高周波配線板から金ワイヤ613を介して、フリップチップ配線板615に入り、さらに金バンプ614を介してレーザアレイ603の各DFBレーザに供給される。レーザアレイ603によって光に変換された信号は合波器を介して1つの導波路に合波されて出力される。出力された光は、第1レンズ605、第2レンズ609によって集光されて、ピグテールファイバ611に結合される。
2.組み立て工程
図7に、レーザアレイ603のDFBレーザ701および、配線板支持部617の作製手順を示す。まず、結晶成長されたウエハに光導波路703をドライエッチングで形成するが、その際に、配線板支持部617は、マスキングして、エッチングされないようにする。次に、絶縁性誘電体702を導波路703側面に形成するが、その際には、支持部617にも、絶縁性誘電体702を形成する。そして、レーザ部701の導波路703と絶縁性誘電体702上の一部に電極704を形成するが、その際には、支持部617にも電極704を形成する。最後にウエハ裏面を研磨して電極704を蒸着し、劈開することでレーザアレイ603が完成する。
図8は、支持部集積アレイ603の断面図を示したものである。図8において、支持部集積アレイ603は、光機能部(レーザ)701と、支持部617とを備え、上述したように、光機能部701、及び、支持部617は、それぞれ、絶縁性誘電体702と、半導体光導波路703と、金属電極704とを含む。図8を見ると分かるように、配線板支持部617は、光機能部701の一番高い部分である電極704の付いた部分よりも、さらに高い。以上の工程により、通常のレーザアレイ作製と同工程で光機能部701の一番厚い部分よりさらに厚い支持部617を形成することができる。
次に、このモジュールを作製するための手順を示す。まず、図6のレーザアレイ603を、レーザアレイ603より大きい面積を有するコレットで加圧しながらサブキャリア604に固定し、レーザアレイ603の電極部、配線板支持部617に金バンプ614を形成する。次に、フリップチップ配線板615を半田固定でフリップチップ実装する。そして、サブキャリア604をLDキャリア602に実装する。
また、図9に示す実験系を使用して、図6に示したレーザアレイ603のDFBレーザのうちの任意の1チャネルに直流電源922からDCプローブ921、フリップチップ配線板615を介して電流を、20mA程度供給した状態で、CCDカメラ924により、ビーム形状を確認し、レーザ光のビーム形状、位置が光の進行方向のどの位置でも変わらなくなるように第1レンズ605を調芯し、イットリウム・アルミニウム・ガーネットレーザ(以下、YAGレーザ)923による溶接でLDキャリア602に固定する。その後、図6に示したペルチェ素子606を実装してあるパッケージ601の中にLDキャリア602を搭載する。そして、フリップチップ配線板615とパッケージ601の間をワイヤボンディングによって、金ワイヤ613のように結線する。
最後に、図10に示す実験系を使用して、レーザアレイ603のDFBレーザのうちの任意の1チャネルに電流を50mA程度供給した状態で、光パワーメータ1025に入るパワーが最大になるように、第2レンズ609、フェルールカラー610、ピグテールファイバ611を調芯して、YAGレーザ623による溶接で固定する。以上で、多チャネル光送信モジュールが完成する。
3.搭載精度の確認
図6に示すサブキャリア604にアレイチップ603を固定した後、両端面を測長機能付き顕微鏡で観察し、浮きがあるかを確認した。10個のチップを搭載して、全てのチップにおいて、両端面で測長機能の測定限界である1μm以下の浮きで有ることが確認できた。また、レーザ干渉型段差計を使用して、チップ603の反りを確認したが、搭載した10個のチップ全てで段差1μm以下の反りであることが確認できた。以上から、フリップチップ実装時に、金バンプのつぶれによって吸収できる高さ誤差に十分収まっていることから、全チップがフリップチップ実装可能な高さ誤差で実装できていることが分かる。
4.多チャネル光送信モジュールの特性
図11に、アイパターン測定用実験系を示す。アイパターン測定用実験系1100は、多チャンネル光送信モジュール1101と、光ファイバ1102と、光分波器1103と、フォトディテクタ1104と、パルスパターンジェネレータ1105と、サンプリングオシロスコープ1106とを備える。比較として、図2に示す従来のワイヤ実装技術による多チャネル光送信モジュールの測定も同時に行った。多チャネル光送信モジュールは、チップ温度25℃一定、DFBレーザ603には、バイアス電流40mA、入力信号の振幅は、3.0Vppとした。このとき、ワイヤ実装型モジュールでは、消光比4.0dBであったのに対して、ブリッジ型配線板フリップチップ実装モジュールでは、5.4dBの消光比が得られた。また、4チャネル同時に、バイアス電流50mA、入力信号の振幅は、3.0Vppを印加した場合は、ワイヤ実装型モジュールでは、消光比3.0dBであったのに対して、ブリッジ型配線板フリップチップ実装モジュールでは、5.0dBの消光比が得られた。
次に、図12に示すビットエラーレート測定用の実験系を使用して、符号誤り率特性(以下、BER特性)を測定する。ビットエラーレート測定用の実験系1200は、多チャンネル光送信モジュール1201と、光ファイバ1202と、光分波器1203と、フォトディテクタ1204と、パルスパターンジェネレータ1205と、エラーディテクタ1206と、光可変減衰器1207とを備える。このとき、ワイヤ実装型モジュール、ブリッジ型配線板フリップチップ実装モジュールともに、各チャネルでのエラーフリー動作を確認することができた。また、全チャネル同時動作時に、上から2番目のチャネルの最小受光感度は、ワイヤ実装型モジュールで、−3dBm、ブリッジ型配線板フリップチップ実装モジュールで−4.9dBmであった。
以上より、10Gbpsを超える高周波信号を扱う時に、信号劣化が少ない多チャネル光送信モジュールが高い歩留まりで実現可能であることが明らかである。
[実施例2]
本実施例の構成を図13に示す。本実施例では、多チャネル光送信用アレイデバイスとして、2チャネルの合波器付きマッハツェンダー変調器集積DFBレーザアレイ(以下、MZ集積レーザアレイ)1303を使用する構成となっている。また、フリップチップ配線板1315は、差動マイクロストリップ線路の配線形状になっており、レジンを材料とし、配線は、Alを材料とし、上面の配線部と下面の金バンプ接点は貫通ビアで電気的に繋がっている。また、フリップチップ配線板1315の金バンプ1314との接続部、配線板支持部1317との接続部には、金−金での超音波接合とした。この実施例では、チャネル間隔を1000μm、合波器として多モード干渉型合波器(以下、MMI合波器という。)を使用している。また、波長は、チップ温度25℃のとき、1550nm、1560nmとした。このとき、レーザアレイは、InP基板上のものを使用する。また、データレート50Gbps、Non Return to ZERO(以下NRZ)とし、疑似ランダム信号(以下PRBS)は231−1の高周波信号を各チャネルに供給する。
1.動作原理
本実施例で、MZ集積レーザアレイの各チャネルにどのようにして高速電気信号を供給するかを説明する。高周波信号は、パッケージ1301の高周波配線から金ワイヤ1313を介して、フリップチップ配線板1315に入り、さらに金バンプ1314を介してMZ集積レーザアレイ1303の各MZ部に供給される。MZ集積レーザアレイ1303によって光に変換された信号は合波器を介して1つの導波路に合波されて出力される。出力された光は、第1レンズ1305、第2レンズ1309によって集光されて、ピグテールファイバ1311に結合される。
2.組み立て工程
本実施例も実施例1と同様の図7に示す工程により、レーザアレイ1303のDFBレーザ701および、配線板支持部1317が作製される。まず、結晶成長されたウエハに光導波路703をドライエッチングで形成するが、その際に配線板支持部1317は、マスキングして、エッチングされないようにする。次に、絶縁性誘電体を導波路703側面に形成するが、その際には、支持部1317にも絶縁性誘電体702を形成する。そして、レーザ部701の導波路703と絶縁性誘電体702上の一部に電極704を形成するが、その際には支持部1317にも電極704を形成する。最後にウエハ裏面を研磨して電極704を蒸着し、劈開することによりレーザアレイ1303が完成する。
図8は、支持部集積アレイの断面図を示したものである。図を見ると分かるように、配線板支持部1317は、光機能部701の一番高い部分である電極の付いた部分よりも、さらに高い。以上の工程により、通常のレーザアレイ作製と同工程で光機能部701の一番厚い部分よりさらに厚い支持部1317を形成可能である。
次に、このモジュールを作製するための手順を示す。まず、図13のMZ集積レーザアレイ1303をレーザアレイ1303より大きい面積を有するコレットで加圧しながらサブキャリア1304に実装し、MZ集積レーザアレイ1303の電極部、配線板支持部1317に金バンプ1314、1316を形成する。次に、フリップチップ配線板1315を超音波接合によりフリップチップ実装した後、配線板1315に終端抵抗1318を搭載する。そして、サブキャリア1304をLDキャリア1302に実装する。
そして、図14に示す実験系を使用して、MZ集積レーザアレイ1303のDFBレーザのうちの任意の1チャネルに電流を100mA程度供給した状態でCCDカメラ1424でビーム形状を確認し、レーザ光のビーム形状、位置が光の進行方向のどの位置でも変わらなくなるように第1レンズ1305を調芯し、イットリウム・アルミニウム・ガーネットレーザ(以下、YAGレーザ)1223による溶接でLDキャリア1302に固定する。
その後、図13のペルチェ素子1308を実装してあるパッケージ1301の中にLDキャリア1302を搭載する。そして、フリップチップ配線板1315とパッケージ1301を金ワイヤ1313のように結線する。最後に、図10に示す実験系を使用して、MZ集積レーザアレイ1303のDFBレーザのうちの任意の1チャネルに電流を100mA程度供給した状態で、光パワーメータ1025に入るパワーが最大になるように、第2レンズ1309、フェルールカラー1310、ピグテールファイバ1311を調芯して、YAGレーザ923による溶接で固定する。以上で、多チャネル光送信モジュールが完成する。
3.搭載精度の確認
図13に示されるサブキャリア1304に、アレイチップ1303を固定した後、両端面を測長機能付き顕微鏡で観察し、浮きがあるかを確認した。10個のチップを搭載して、全てのチップにおいて両端面で測長機能の測定限界である1μm以下の浮きで有ることが確認できた。また、レーザ干渉型段差計を使用して、チップ1303の反りを確認したが、搭載した10個のチップ全てで段差1μm以下の反りであることが確認できた。以上から、フリップチップ実装時に、金バンプのつぶれによって吸収できる高さ誤差以下に十分収まっていることから、全チップがフリップチップ実装可能な高さ誤差で実装できていることが分かる。
4.多チャネル光送信モジュールの特性
アイパターン測定用実験系を図15に示す。アイパターン測定用実験系1500は、多チャネル光送信モジュール1501とは、光ファイバ1502と、光分波器1503と、フォトディテクタ1504と、パルスパターンジェネレータ1505と、サンプリングオシロスコープ1506と、直流電源1507とを備える。比較として、図16の従来のワイヤ実装技術による多チャネル光送信モジュールの測定も同時に行った。このとき、図13のMZ集積レーザアレイ1303の上をチャネル1、下をチャネル2とする。多チャネル光送信モジュールは、25℃一定、DFBレーザにはバイアス電流120mA、MZ部には左電極にはバイアス電圧−3.5V、右電極にはバイアス電圧−3.0Vとし、両電極には差動信号を印加し、振幅は3.0Vppとした。このとき、チャネル2は、ワイヤ実装型モジュールでは、消光比9.5dBであったのに対して、ブリッジ型配線板フリップチップ実装モジュールでは、10.9dBの消光比が得られた。
また、2チャネル同時に、DFBレーザには、バイアス電流120mA、MZ部にはバイアス電圧−0.5V、入力信号の振幅2.0Vppを印加した場合には、チャネル2はワイヤ実装型モジュールでは、消光比8.9dBであったのに対して、ブリッジ型配線板フリップチップ実装モジュールでは、10.3dBの消光比が得られた。
次に、ビットエラーレート測定用の実験系、図17を使用して、符号誤り率特性(以下、BER特性)を測定した。図17において、ビットエラーレート測定用の実験系1700は、多チャンネル光送信モジュール1701と、光ファイバ1702と、光分波器1703と、フォトディテクタ1704と、パルスパターンジェネレータ1705と、エラーディテクタ1706と、光可変減衰器1707と、直流電源1708とを含む。このとき、ワイヤ実装型モジュール、ブリッジ型配線板フリップチップ実装モジュールともに、各チャネルでのエラーフリー動作を確認することができた。
また、2チャネル同時動作時、チャネル2の最小受光感度は、ワイヤ実装型モジュールで−9dBm、ブリッジ型配線板フリップチップ実装モジュールで、−11.6dBmであった。
以上より、10Gbpsを超える高周波信号を扱う時に、信号劣化が少ない多チャネル光送信モジュールが高い歩留まりで実現可能であることが明らかである。
601、1301 パッケージ
602、1302 LDキャリア
603 支持部集積DFBレーザアレイ
604、1304 サブキャリア
605、1305 第1レンズ
606、1306 ペルチェ素子
609、1309 アイソレータ付き第2レンズ
610、1310 フェルールカラー
611、1311 ピグテールファイバ
613、1313 金ワイヤ
614、1314 金バンプ
615、1315 フリップチップ配線板
616、1316 金もしくは半田バンプ
617、1317 配線板支持部
701 光機能部(レーザ)
702 絶縁性誘電体
703 光導波路
704 金属電極
1303 合波器付きMZ集積レーザアレイ

Claims (7)

  1. LDキャリアと、
    前記LDキャリア上に搭載され、光機能部と配線板支持部が配された半導体素子アレイと、
    前記半導体素子アレイの上方に配され、前記配線板支持部に固定されたフリップチップ配線板と、
    前記光機能部の表面に形成された電極と前記フリップチップ配線板とを接続する高周波配線である金バンプとを備え、
    前記配線板支持部の最大厚さが、前記光機能部の最大厚さと同等か、それより高いことを特徴とする多チャネル光送信モジュール。
  2. 前記半導体素子アレイは、高速直接変調半導体レーザアレイ素子であり、
    前記フリップチップ配線板は、フリップチップ実装対応高周波配線板であり、
    前記多チャンネル光送信モジュールは、
    さらに、高速多チャネルパッケージと、
    前記高速多チャネルパッケージに配置されたペルチェ素子と、
    前記ペルチェ素子上にあり、前記高速直接変調半導体レーザアレイ素子から出力された光が通過する第1のレンズと、
    前記LDキャリア上に配置されたサブキャリアと、
    前記パッケージ外部に配置された第2のレンズアイソレータ付き第2のレンズと、
    前記第2のレンズを通過した光が通過するフェルールカラーと、
    ピグテールファイバと
    から構成されることを特徴とする請求項1に記載の多チャネル光送信モジュール。
  3. 前記半導体素子アレイは、高速光変調器集積半導体レーザアレイ素子であり、
    前記フリップチップ配線板は、フリップチップ実装対応高周波配線板であり、
    前記多チャンネル光送信モジュールは、
    さらに、高速多チャネルパッケージと、
    前記高速多チャネルパッケージに配置されたペルチェ素子と、
    前記ペルチェ素子上にあり、前記高速光変調器集積半導体レーザアレイ素子から出力された光が通過する第1のレンズと、
    前記LDキャリア上に配置されたサブキャリアと、
    前記パッケージ外部に配された第2のレンズアイソレータ付き第2レンズと、
    前記第2のレンズを通過した光が通過するフェルールカラーと、
    ピグテールファイバと
    から構成されることを特徴とする請求項1に記載の多チャネル光送信モジュール。
  4. 前記半導体素子アレイの光機能部が
    3個以上の直接変調DFBレーザ、もしくは、
    3個以上の電界吸収型光変調器集積DFBレーザ(以下、EADFBという)、もしくは、
    2個以上のマッハツェンダー変調器および、1個以上のDFBレーザから構成されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の多チャネル光送信モジュール。
  5. 前記半導体素子アレイに、半導体素子レーザ、または、変調器からの光路を合波する合波器を形成するとともに、
    前記合波器として多モード干渉型合波器(以下、MMI合波器という)または、アレイ導波路格子合波器(以下、AWG合波器という)を使用することを特徴とする請求項1乃至4いずれか1項に記載の多チャネル光送信モジュール。
  6. 前記半導体素子アレイとは別に、半導体素子レーザ、または、変調器からの光路を合波する合波器を、独立して設けるとともに、
    前記合波器としてAWG合波器、または、誘電体フィルタを使用した合波器を使用することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の多チャネル光送信モジュール。
  7. 半導体素子の光機能部の表面構造を形成する工程と同一工程で同時に配線板支持部も作製でき、前記配線板支持部の最大厚さが、前記光機能部の最大厚さと同等か、それより高いことを特徴とする多チャネル光送信モジュールの作製方法。
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