JP2013179504A - 圧電デバイス - Google Patents

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修一 内川
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Abstract

【課題】 本発明は前記課題に鑑みてなされたものであり、IC素子が外部から受ける電磁波の影響を低減し、圧電デバイスの発振周波数が変動することを低減する圧電デバイスを提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明の圧電デバイスは、IC素子140を実装する基板部110aと、基板部110a上にI設けられた第1枠部110bと、第1枠部110bの外縁に沿って設けられた第2枠部110cと、IC実装領域に設けられたIC素子140と、水晶実装領域にIC素子140と間をあけて設けられた水晶素子120と、基板部110a、第1枠部110b及び第2枠部110cで囲まれる領域であって、IC素子140と水晶素子120との間に、IC素子140を覆うように設けられた電磁波遮蔽部材160と、基板部110a内に、平面視してIC素子140と重なる領域に設けられた電磁波遮蔽層150とを備えたことを特徴とする。
【選択図】図2

Description

本発明は、電子機器等に用いられる圧電デバイスに関するものである。
従来の水晶デバイスは、上面に凹部が設けられたパッケージにおいて、凹部内に水晶素子と、IC素子との両方を設けた構造が提案されている(例えば、特許文献1を参照)。
特開2009−207067号公報
圧電デバイスは、電子機器などのマザーボード上に配置して用いるが、従来の圧電デバイスは、例えばパワーアンプの駆動時に発する電磁波の影響によって、基板部の上面に接合されたIC素子にノイズが重畳しやすく、圧電デバイスの発振周波数が変動してしまうといった虞があった。また、従来の圧電デバイスは、IC素子の駆動時に発する電磁波の影響によって、基板部の上面に接合された圧電素子にノイズが重畳しやすく、圧電素子の発振周波数が変動してしまう虞があった。
本発明は前記課題に鑑みてなされたものであり、IC素子が受ける電磁波の影響を低減し、圧電素子の発振周波数が変動することを低減する圧電デバイスを提供することを目的とする。
本発明の1つの態様による圧電デバイスは、IC素子を実装するIC実装領域を有する基板部と、基板部上にIC実装領域を囲むように設けられた第1枠部と、第1枠部上に水晶素子を実装する圧電実装領域を有し、圧電実装領域を残して第1枠部の外縁に沿って設けられた第2枠部と、IC実装領域に設けられたIC素子と、圧電実装領域にIC素子と間をあけて設けられた水晶素子と、基板部、第1枠部及び第2枠部で囲まれる領域であって、IC素子と水晶素子との間に、IC素子を覆うように設けられた電磁波遮蔽部材と、基板部内に、平面視してIC素子と重なる領域に設けられた電磁波遮蔽層とを備えたことを特徴とするものである。
本発明の1つの態様による圧電デバイスは、IC素子と圧電素子との間に、IC素子を覆うように設けられた電磁波遮蔽部材と、基板部内に、平面視してIC素子と重なる領域に設けられた電磁波遮蔽層とを備えているので、IC素子が受ける外部からの電磁波の影響を低減し、IC素子にノイズが重畳することを低減することができる。よって、本発明の1つの態様による圧電デバイスは、IC素子にノイズが重畳しにくくすることで、圧電デバイスの発振周波数の変動を低減することが可能となる。また、本発明の1つの態様による圧電デバイスは、IC素子と圧電素子との間に、IC素子を覆うように設けられた電磁波遮蔽部材と、基板部内に、平面視してIC素子と重なる領域に設けられた電磁波遮蔽層とを備えているので、圧電素子が受けるIC素子から発する電磁波の影響を低減し、圧電素子にノイズが重畳することを低減することができる。
本発明の第1の実施形態における圧電デバイスの一例を示す分解斜視図である。 図1のA−A断面図である。 (a)は、本発明の第1の実施形態における圧電デバイスを構成するパッケージの上面からみた平面透視図であり、(b)は、本発明の第1の実施形態における圧電デバイスを構成する基板部の内層の上面からみた平面透視図である。 (a)は、本発明の第1の実施形態における圧電デバイスを構成する基板部の内層の上面からみた平面透視図であり、(b)は、本発明の第1の実施形態における圧電デバイスを構成するパッケージを下面からみた平面透視図である。 本発明の実施形態の変形例における圧電デバイスを示す断面図である。 本発明の実施形態の変形例における圧電デバイスを構成するパッケージの上面からみた平面透視図である 本発明の第2の実施形態における圧電デバイスの一例を示す分解斜視図である。 図7のB−B断面図である。
以下、本実施形態について図面を参照して説明する。なお、圧電素子として水晶素子を用いた場合について説明する。圧電実装領域は、水晶実装領域として説明する。
(第1の実施形態)
第1の実施形態における圧電デバイスは、図1及び図2に示されているように、パッケージ110と、パッケージ110に接合された水晶素子120及びIC素子140と、パッケージ110の内層に設けられた電磁波遮蔽層150と、電磁波遮蔽部材160と備えている。
パッケージ110は、図1及び図2に示されているように、IC素子140を実装するIC実装領域AR1を有する基板部110aと、基板部110a上にIC実装領域AR1を囲むように設けられた第1枠部110bと、第1枠部110b上に水晶素子120を実装する水晶実装領域AR2を有し、水晶実装領域AR2を残して第1枠部110bの外縁に沿って設けられた第2枠部110cとを含んでいる。パッケージ110は、基板部110aと、第1枠部110b及び第2枠部110cによって囲まれた凹部K1が形成されている。
基板部110aは、IC素子140を支持するための支持部材として機能するものであり、上面には、IC素子140を接合するためのIC用電極パッド111が設けられている。また、基板部110aの上面には、IC用電極パッド111を囲むようにして、電磁波遮蔽部材160を接合するための接合パターン170が設けられている。また、基板部110aの下面の4隅には、外部接続用電極端子Gが設けられている。外部接続用電極端子Gは、例えば電源電圧端子G1、グランド端子G2、発振出力端子G3、発振制御端子G4として用いられる。
基板部110aは、例えばアルミナセラミックス又はガラス−セラミックス等のセラミック材料からなる絶縁層を、1層又は複数層積層することによって形成されている。基板部110aの内部には、電磁波遮蔽層150が設けられている。基板部110aの内部には、基板部110aの上面のIC用電極パッド111aと基板部110aの下面の外部接続用電極端子Gとを電気的に接続するためのビア導体114及び配線パターン115が設けられている。基板部110aの内部には、基板部110aの上面のIC用電極パッド111bと第1の枠部上面の水晶用電極パッド112とを電気的に接続するためのビア導体116及び配線パターン117が設けられている。基板部110aの表面及び内部には、基板部110aの上面のIC用電極パッド111cと基板部110aの下面の外部接続用電極端子Gのうちの1つであるグランド端子G2とを電気的に接続するためのビア導体118及び配線パターン119が設けられている。
電磁波遮蔽層150は、下方向からの電磁波によるIC素子140への影響を低減するための電磁波シールド層として機能するものである。電磁波遮蔽層150は、基板部110aの内部の平面視してIC素子140と重なる領域に設けられている。ここで、“重なるように”とは、図示されているように、IC電極パッド111と接続されているビア導体を除くように重なっている構造に加えて、IC素子140の形状に完全に重なっている構造も含まれる。また、IC素子140の形状よりも大きくIC実装領域AR1に完全に重なっている構造も含まれる。また、電磁波遮蔽層150は、図3及び図4に示されているように、ビア導体118を介して、IC用電極パッド111cと電気的に接続されている。電磁波遮蔽層150は、図3及び図4に示されているように、ビア導体118及び配線パターン119を介して外部接続用電極端子Gの内の1つであるグランド端子G2と電気的に接続されている。
接合パターン170は、図3に示されているように、基板部110aの表層及び内部に形成されているビア導体118及び配線パターン119により、外部接続用電極端子Gのうちの1つであるグランド端子G2と電気的に接続されている。
第1枠部110bは、基板部110a上にIC素子140を接合するためのIC実装領域AR1を形成するためのスペーサとして機能するものである。第1枠部110bは、基板部110a上にIC実装領域AR1を囲むように設けられている。第1枠部110bの上面には、水晶用電極パッド112が設けられている。
第1枠部110bは、例えばアルミナセラミックス又はガラス−セラミックス等のセラミック材料からなり、基板部110aと一体的に形成されている。第1枠部110bの内部には、図3及び図4に示されているように、水晶用電極パッド112と基板部110aの上面のIC用電極パッド111bとを電気的に接続するためのビア導体116及び配線パターン117が設けられている。
第2枠部110cは、第1枠部110b上に水晶素子120を接合するための水晶実装領域AR2を形成するためのスペーサとして機能するものである。第2枠部110cは、第1枠部110b上に水晶実装領域AR2を囲むように設けられている。第2枠部110cの上面には、封止用導体パターン113が設けられている。
第2枠部110cは、例えばアルミナセラミックス又はガラス−セラミックスのセラミック材料からなり、基板部110a及び第1枠部110bと一体的に形成されている。第2枠部110cの内部には、図3及び図4に示されているように、封止用導体パターン113と基板部110aの下面の外部接続用電極端子Gのうちの1つであるグランド端子G2とを電気的に接続するためのビア導体118が設けられている。
ここで、パッケージ110の作製方法について説明する。基板部110aと第1枠部110b及び第2枠部110cがアルミナセラミックスから成る場合、まず所定のセラミック材料粉末に適当な有機溶剤等を添加・混合して得た複数のセラミックグリーンシートを準備する。次に、セラミックグリーンシートの表面或いはセラミックグリーンシートに打ち抜き等を施して予め穿設しておいた貫通孔内に、従来周知のスクリーン印刷等によって所定の導体ペーストを塗布する。さらに、これらのグリーンシートを積層してプレス成形したものを、高温で焼成する。最後に、導体パターンの所定部位、具体的には、IC用電極パッド111と水晶用電極パッド112及び外部接続用電極端子Gとなる部位にニッケルメッキ又は金メッキ等を施すことにより製作される。
IC素子140は、回路形成面に水晶素子120からの発振出力を生成する発振回路等が設けられており、この発振回路で生成された出力信号は外部接続用電極端子Gを介して圧電デバイスの外へ出力され、例えば、クロック信号等の基準信号として利用される。
IC素子140は、図2に示されているように、基板部110aに設けられたIC用電極パッド111に導電性接着剤DSを介して接合されている。
電磁波遮蔽部材160は、図1及び図2に示されているように、平板部161と、平板部161の下面に囲繞するように設けられた壁部162と、壁部162の下面に囲繞し且つ延在するように設けられた鍔部163から構成されている。電磁波遮蔽部材150は、IC素子140を覆うようにして基板部110aの上面に設けられた接合パターン170と導電性接着剤DSを介して接合されている。電磁波遮蔽部材160は、例えば、鉄、ニッケル又はコバルトの少なくともいずれかを含む合金からなる。
電磁波遮蔽部材160は、水晶素子120とIC素子140との間に設けられていることにより、水晶素子120が受けるIC素子140から発する電磁波の影響を低減し、水晶素子120にノイズが重畳することを低減することができる。よって、水晶素子120の発振周波数の変動を低減することができる。
電磁波遮蔽部材160は、IC素子140を覆うようにして基板部110aに接合されている。IC素子140は、電磁波遮蔽部材160によって覆われることで、IC素子140の上面及び側面からの電磁波の影響を低減し、IC素子140にノイズが重畳することを低減することができる。
電磁波遮蔽部材160の製造方法について説明する。シート状金属板をプレス加工して、シート状金属板に複数の凹部空間を形成する。シート状金属板から複数の凹部空間の周囲を切断することにより、複数個の電磁波遮蔽部材160を得る。
水晶素子120は、安定した機械振動と圧電効果により、電子装置等の基準信号を発振する役割を果たしている。水晶素子120は、図2に示されているように、長方形状をなす水晶素板121の上面及び下面のそれぞれに励振用電極122、接続用電極123及び引き出し電極124を被着させた構造を有している。水晶素子120は、パッケージ110の第1枠部110bの水晶実装領域AR2に水晶用電極パッド111に導電性接着剤DSを介して接合されている。本実施形態においては、水晶素子120の長辺方向の一端側を固定端部とし、長辺方向の他端側を先端部とした片保持構造にて水晶素子120がパッケージ110の第1枠部110b上に固定されている。
ここで、水晶素子120の動作について説明する。水晶素子120は、外部からの交番電圧が接続用電極123から引き出し電極124及び励振用電極122を介して水晶素板121に印加されると、水晶素板121が所定の振動モード及び周波数で励振を起こすようになっている。
ここで、水晶素子120の作製方法について説明する。まず、人工水晶体から所定のカットアングルで切断し外形加工を施すことによって水晶素板121を得る。そして、水晶素子120は、水晶素板121の両主面に従来周知のスパッタリング技術等によって金属膜を被着させることにより、励振用電極122、接続用電極123及び引き出し電極124を形成することにより製作される。
水晶素子120のパッケージ110への接合方法について説明する。まず、導電性接着剤DSが、水晶用電極パッド112上に例えばディスペンサによって塗布される。そして、水晶素子120が、治具で固定されたパッケージ110の凹部K1内における導電性接着剤DS上に搬送される。さらに、水晶素子120が、導電性接着剤DS上に載置される。そして、水晶素子120は、導電性接着剤DSを加熱硬化させることによってパッケージ110に接合される。
導電性接着剤DSは、バインダーの中に導電フィラーとして導電性粉末が含有されているものである。導電性粉末としては、アルミニウム、モリブデン、タングステン、白金、パラジウム、銀、チタン、ニッケル又はニッケル鉄のうちのいずれか、或いはこれらの組み合わせを含むものが用いられている。また、バインダーとしては、例えばシリコーン樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂又はビスマレイミド樹脂等が用いられる。
蓋体130は、例えば、鉄、ニッケル又はコバルトの少なくともいずれかを含む合金からなる。このような蓋体130は、真空状態にある凹部K1又は窒素ガスなどが充填された凹部K1を気密的に封止するためのものである。具体的には、蓋体130は、所定雰囲気で、パッケージ110の第2枠部110c上に載置され、第2枠部110cの封止用導体パターン113と蓋体130の封止部材131とが溶接されるように所定電流を印加してシーム溶接を行うことにより、第2枠部110cに接合される。
封止部材131は、パッケージ110の第2枠部110c上面に設けられた封止用導体パターン113に相対する蓋体130の箇所に設けられている。封止部材131は、例えば、銀ロウ又は金錫によって設けられている。
第1の実施形態における圧電デバイスは、IC素子140と水晶素子120との間に、IC素子140を覆うように設けられた電磁波遮蔽部材160と、基板部110a内に、平面視してIC素子140と重なる領域に設けられた電磁波遮蔽層150とを備えている。仮に、圧電デバイスが、電磁波遮蔽部材160及び電磁波遮蔽層150を備えていないとすると、IC素子140の内部に形成されている発振回路又は増幅回路にノイズが重畳し、圧電デバイスの発振周波数が時間的に揺らぐことになる。よって、圧電デバイスの発振周波数は、安定して出力することができない。そこで、IC素子140と水晶素子120との間に、IC素子140を覆うように設けられた電磁波遮蔽部材160と、基板部110a内に、平面視してIC素子140と重なる領域に設けられた電磁波遮蔽層150とを備えていることによって、IC素子140が受ける外部からの電磁波の影響を低減し、IC素子140にノイズが重畳することを低減することができる。よって、本発明の1つの態様による圧電デバイスは、IC素子140の発振回路又は増幅回路にノイズが重畳しにくくすることで、圧電デバイスの発振周波数が時間的に揺らぐことなく、安定して発振周波数を出力することができる。また、電子機器に圧電デバイスを実装してもデータ転送を確実に行うことが可能となる。
また、本発明の1つの態様による圧電デバイスは、IC素子140と水晶素子120との間に、IC素子140を覆うように設けられた電磁波遮蔽部材160と、基板部110a内に、平面視してIC素子140と重なる領域に設けられた電磁波遮蔽層150とを備えているので、水晶素子120がIC素子140から発する電磁波の影響を低減し、水晶素子120にノイズが重畳しにくくすることで、水晶素子120の波形が乱れることがなく、所望する発振周波数を出力することができる。
以下、第1の実施形態における圧電デバイスの変形例について説明する。なお、変形例に係る圧電デバイスのうち、第1実施形態における圧電デバイスと同様な部分ついては、同一の符号を付して適宜説明を省略する。
(変形例)
第1の実施形態の変形例におけるに圧電デバイスは、図5及び図6に示されているように、基板部110aのIC用電極パッド111を囲繞するようにして溝部Mを設け、その溝部Mから露出している電磁波遮蔽層150の一部と電磁波遮蔽部材160の鍔部162とが導電性接着剤DSで接合したものである。
溝部Mは、図5及び図6に示されているように、基板部110aのIC実装領域AR1に設けられたIC用電極パッド111を囲繞するようにして設けられている。溝部Mの上下方向の深さは、基板部110aの上面から電磁波遮蔽層150が形成されている基板部110aの内層までの長さとなる。また、溝部Mの外周縁部から内周縁部までの長さは、電磁波遮蔽部材160の鍔部162が入り込む余裕がある長さとなる。
電磁波遮蔽層150の一部は、溝部Mから露出されており、電磁波遮蔽層150の一部と電磁波遮蔽部材160の鍔部162とが導電性接着剤DSにより接合されている。電磁波遮蔽部材160は、ビア導体や配線パターン等を介さずに電磁波遮蔽層150と直接接合されることになる。よって、IC素子140は、電磁波遮蔽層150及び電磁波遮蔽部材160で囲まれることになる。
第1の実施形態の変形例におけるに圧電デバイスは、溝部Mから露出している電磁波遮蔽層150の一部と電磁波遮蔽部材160の鍔部162とが導電性接着剤DSで接合されることによって、IC素子140の上下面及び側面からの電磁波の影響をさらに低減し、IC素子140にノイズが重畳することをさらに低減することができる。
第1の実施形態の変形例におけるに圧電デバイスは、電磁波遮蔽部材160の鍔部162を溝部Mにはめ込むようにして載置し接合するため、蓋体130の位置ずれを低減することができる。
以下、第2の実施形態における圧電デバイスについて説明する。なお、第2の実施形態における圧電デバイスのうち、上述した圧電デバイスと同様な部分については、同一の符号を付して適宜説明を省略する。
(第2の実施形態)
第2の実施形態における圧電デバイスは、図7及び図8に示されているように、電磁波遮蔽部材260が、第1枠部210bの内壁面に設けられている電極膜261と、水晶素子120とIC素子140との間に設けられている金属遮蔽板262とにより構成されている点で第1の実施形態とは異なる。電磁波遮蔽部材260は、第1枠部210bの内壁面に設けられている電極膜261と、水晶素子120とIC素子140との間に設けられている金属遮蔽板262とにより構成されている。
パッケージ210は、図7及び図8に示されているように、IC素子140を実装するIC実装領域AR1を有する基板部210aと、基板部210a上にIC実装領域AR1を囲むように設けられた第1枠部210bと、第1枠部210b上に金属遮蔽板120を実装する金属遮蔽板実装領域AR3を有し、金属遮蔽板実装領域AR3を残して第1枠部210bの外縁に沿って設けられた第2枠部210cと、第2枠部210c上に水晶素子120を実装する水晶実装領域AR2を有し、水晶実装領域AR2を残して第2枠部210cの外縁に沿って設けられた第3枠部210dとを含んでいる。パッケージ210は、基板部210aと、第1枠部210b、第2枠部210c及び第3枠部210dによって囲まれた凹部K2が形成されている。
基板部210aは、IC素子140を支持するための支持部材として機能するものであり、上面には、IC素子140を接合するためのIC用電極パッド211が設けられている。また、基板部210aの下面の4隅には、外部接続用電極端子Gが設けられている。外部接続用電極端子Gは、例えば電源電圧端子、グランド端子、発振出力端子、発振制御端子として用いられる。
基板部210aは、例えばアルミナセラミックス又はガラス−セラミックス等のセラミック材料からなる絶縁層を、1層又は複数層積層することによって形成されている。基板部210aの内部には、電磁波遮蔽層250が設けられている。基板部210aの表面及び内部には、基板部210aの上面のIC用電極パッド211と基板部210aの下面の外部接続用電極端子Gとを電気的に接続するためのビア導体及び配線パターンが設けられている。
電磁波遮蔽層250は、下方向からの電磁波によるIC素子140への影響を低減するためのシールド層として機能するものである。電磁波遮蔽層250は、基板部210aの内部の平面視してIC素子140と重なる領域に設けられている。ここで、“重なるように”とは、IC電極パッド111と接続されているビア導体を除くように重なっている構造に加えて、IC素子140の形状に完全に重なっている構造も含まれる。また、IC素子140の形状よりも大きくIC実装領域AR1に完全に重なっている構造も含まれる。電磁波遮蔽層250は、ビア導体を介して、IC用電極パッド211のうちの1つと電気的に接続されている。また、電磁波遮蔽層250は、ビア導体及び配線パターンを介して外部接続用電極端子Gの内の1つであるグランド端子と電気的に接続されている。
第1枠部210bは、基板部210a上にIC素子140を接合するためのIC実装領域AR1を形成するためのスペーサとして機能するものである。第1枠部210bは、基板部210a上にIC実装領域AR1を囲むように設けられている。第2枠部210bの上面には、接合パッド270が設けられている。また、第1枠部210bの内壁面には、電極膜261が設けられている。第1枠部210bの上面には、金属遮蔽板実装領域AR3を残して第1枠部210bの外縁に沿って第2枠部210cが設けられている。
第1枠部210bは、例えばアルミナセラミックス又はガラス−セラミックス等のセラミック材料からなり、基板部210aと一体的に形成されている。第1枠部210bの上面及び内部には、水晶用電極パッド212と基板部210aの上面のIC用電極パッド211とを電気的に接続するためのビア導体及び配線パターンが設けられている。
電極膜261は、図7及び図8に示されているように、第1枠部210bの内壁面にIC素子140を囲むようにして設けられている。電極膜261は、IC素子140の側面における電磁波の影響を低減し、IC素子140にノイズが重畳することを低減することができる。電極膜261は、タングステン又はモリブデンの導体材料からなる。
電極膜261の形成方法について説明する。まず、タングステンの粉末を有機溶剤やバインダーなどとともに混練して、タングステンのメタライズペーストを作製する。次に、第1枠部210bとなるセラミックグリーンシートに貫通孔を、金型を用いた打ち抜き加工等の加工方法で形成する。そして、作製したメタライズペーストをセラミックグリーンシートの貫通孔に充填するとともに金型等を用いて最初の貫通孔よりも平面視して面積が小さくなる貫通孔を成形する。その後、セラミックグリーンシートと同時焼成することで第1枠部210bの内壁に電極膜261が形成される。
第2枠部210cは、第1枠部210b上に金属遮蔽板262を接合するための金属遮蔽板実装領域AR3を形成するためのスペーサとして機能するものである。第2枠部210cは、第1枠部210b上に金属遮蔽板実装領域AR2を囲むように設けられている。第2枠部210cの上面には、接合パッド270が設けられている。
第2枠部210cは、例えばアルミナセラミックス又はガラス−セラミックス等のセラミック材料からなり、基板部210a及び第1枠部210bと一体的に形成されている。第2枠部210cの内部には、接合パッド270と基板部210aの下面の外部接続用電極端子Gのうちの1つであるグランド端子とを電気的に接続するためのビア導体が設けられている。
金属遮蔽板262は、図7及び図8に示されているように、第2枠部210bの上面に配置され、上面に設けられた接合パッド270と導電性接着剤DSで接合されている。金属遮蔽板262は、IC素子140の上面における電磁波の影響を低減し、IC素子140にノイズが重畳することを低減することができる。金属遮蔽板262は、例えば鉄、ニッケル又はコバルトの少なくともいずれかを含む合金からなる。
第3枠部210dは、第2枠部210c上に水晶素子120を接合するための水晶実装領域AR2を形成するためのスペーサとして機能するものである。第3枠部210dは、第2枠部210c上に水晶実装領域AR2を囲むように設けられている。第3枠部210dの上面には、封止用導体パターン213が設けられている。
第3枠部210dは、例えばアルミナセラミックス又はガラス−セラミックス等のセラミック材料からなり、基板部210a、第1枠部210b及び第2枠部210cと一体的に形成されている。第3枠部210dの内部には、封止用導体パターン213と基板部210aの下面の外部接続用電極端子Gのうちの1つであるグランド端子とを電気的に接続するためのビア導体が設けられている。
第2の実施形態における圧電デバイスは、電磁波遮蔽部材260が、第1枠部210bの内壁面設けられている電極膜261と、水晶素子120とIC素子140との間に設けられている金属遮蔽板262とにより構成されているので、IC実装領域全体が囲まれることになるので、IC素子140が受ける外部からの電磁波の影響を低減し、IC素子140の内部に形成されている発振回路又は増幅回路にノイズが重畳することを低減することができる。よって、第2の実施形態における圧電デバイスは、IC素子140の発振回路又は増幅回路にノイズが重畳しにくくすることで、圧電デバイスの発振周波数が揺らぐことなく、安定して発振周波数を出力することができる。
尚、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更、改良等が可能である。例えば、前記本実施形態では、圧電素子として水晶を用いた場合を説明したが、他の圧電素子として、ニオブ酸リチウム、タンタル酸リチウム又は圧電セラミックスを圧電素子として用いても構わない。
上記の第1の実施形態では、第2枠部110cが基板部110a及び第1枠部110bと同様にセラミック材で一体的に形成した場合を説明したが、第2枠部110cが金属製であっても構わない。この場合、第2枠部110cは、銀ロウ等のロウ材を介して第1枠部110bに設けられた導体膜に接合されている。
上記の第2の実施形態では、第3枠部210dが基板部210a、第1枠部210b及び第2枠部210cと同様にセラミック材で一体的に形成した場合を説明したが、第3枠部210dが金属製であっても構わない。この場合、第3枠部210dは、銀ロウ等のロウ材を介して第2枠部210cに設けられた導体膜に接合されている。
上記の実施形態では、水晶素子は、AT用水晶素子を用いた場合を説明したが、基部と、基部の側面より同一の方向に延びる2本の平板形状の振動腕部とを有する音叉型屈曲水晶素子を用いても構わない。
110、210・・・パッケージ
110a、210a・・・基板部
110b、210b・・・第1枠部
111c、210c・・・第2枠部
210d・・・第3枠部
111、211・・・IC用電極パッド
112、212・・・水晶用電極パッド
120・・・圧電素子
121・・・水晶素板
122・・・励振用電極
123・・・接続用電極
124・・・引き出し電極
130・・・蓋体
140・・・IC素子
150、250・・・電磁波遮蔽層
160、260・・・電磁波遮蔽部材
G・・・外部接続用電極端子
DS・・・導電性接着剤
K1・・・凹部
AR1・・・IC実装領域
AR2・・・水晶実装領域

Claims (2)

  1. IC素子を実装するIC実装領域を有する基板部と、
    前記基板部上に前記IC実装領域を囲むように設けられた第1枠部と、
    前記第1枠部上に圧電素子を実装する圧電実装領域を有し、前記圧電実装領域を残して前記第1枠部の外縁に沿って設けられた第2枠部と、
    前記IC実装領域に設けられたIC素子と、
    前記圧電実装領域に前記IC素子と間をあけて設けられた圧電素子と、
    前記基板部、前記第1枠部及び前記第2枠部で囲まれる領域であって、前記IC素子と前記圧電素子との間に、前記IC素子を覆うように設けられた電磁波遮蔽部材と、
    前記基板部内に、平面視してIC素子と重なる領域に設けられた電磁波遮蔽層とを備えたことを特徴とする圧電デバイス。
  2. 請求項1記載の圧電デバイスにおいて、前記電磁波遮蔽部材及び前記電磁波遮蔽層が前記基板部の下面に設けられた外部接続用電極端子のうちの1つであるグランド端子と電気的に接続されたことを特徴とする圧電デバイス。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2017046159A (ja) * 2015-08-26 2017-03-02 日本電波工業株式会社 表面実装型水晶発振デバイス
US10446418B2 (en) * 2014-04-09 2019-10-15 Applied Materials, Inc. Symmetric chamber body design architecture to address variable process volume with improved flow uniformity/gas conductance

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