JP2013178240A - ジッタ測定用トリガ発生器及びこれを用いたジッタ測定装置、ジッタ測定用トリガ発生方法及びジッタ測定方法 - Google Patents
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- H03B19/00—Generation of oscillations by non-regenerative frequency multiplication or division of a signal from a separate source
Abstract
【解決手段】位相可変器2aは、被測定データ信号に同期したトリガクロックを入力とし、被測定データ信号のサンプルのトリガ周期が被測定データ信号の1ビットにつき1サンプルとなるようにトリガクロックの位相を制御する。可変分周器2bは、被測定データ信号の波形パターンの中でサンプリングされる点であるサンプル位置を固定したタイミングでトリガパルスを発生するように分周比が設定される。インターリーブ処理部4dは、被測定データ信号の測定パターン長と互いに素の関係になる離散値を用い、可変分周器2bからのトリガパルスにより測定パターン長と同じサンプル数分データをサンプラ3から取得する。
【選択図】図2
Description
前記被測定データ信号に同期したトリガクロックを入力とし、前記被測定データ信号のサンプルのトリガ周期が前記被測定データ信号の1ビットにつき1サンプルとなるように前記トリガクロックの位相を制御する位相可変器2aと、
前記被測定データ信号の波形パターンの中でサンプリングされる点であるサンプル位置を固定したタイミングで前記トリガパルスを発生するように分周比が設定可能な可変分周器2bとを備えたことを特徴とする。
前記被測定データ信号の測定パターン長と互いに素の関係になる離散値を用いて前記測定パターン長と同じサンプル数分データを取得するインターリーブ処理部4dを備えたことを特徴とする。
前記サンプラでサンプリングされたデータを処理して遷移サンプルによるジッタ値をジッタ成分毎に分離してジッタ分析を行うデータ処理部4とを備えたことを特徴とする。
前記被測定データ信号に同期したトリガクロックを入力とし、前記被測定データ信号のサンプルのトリガ周期が前記被測定データ信号の1ビットにつき1サンプルとなるように前記トリガクロックの位相を制御するステップと、
前記被測定データ信号の波形パターンの中でサンプリングされる点であるサンプル位置を固定したタイミングで前記トリガパルスを発生するように分周比を設定するステップとを含むことを特徴とする。
前記被測定データ信号の測定パターン長と互いに素の関係になる離散値を用いて前記測定パターン長と同じサンプル数分データを取得するステップを含むことを特徴とする。
前記サンプリングされたデータを処理して遷移サンプルによるジッタ値をジッタ成分毎に分離してジッタ分析を行うステップとを含むことを特徴とする。
2 ジッタ測定用トリガ発生器
2a 位相可変器
2b 可変分周器
3 サンプラ
4 データ処理部
4a エッジ抽出処理部
4b 電圧/ジッタ変換処理部
4c ジッタ分析処理部
4d インターリーブ処理部
Claims (6)
- 測定対象となる被測定データ信号に含まれるジッタを測定するためのトリガパルスを発生するジッタ測定用トリガ発生器(2)において、
前記被測定データ信号に同期したトリガクロックを入力とし、前記被測定データ信号のサンプルのトリガ周期が前記被測定データ信号の1ビットにつき1サンプルとなるように前記トリガクロックの位相を制御する位相可変器(2a)と、
前記被測定データ信号の波形パターンの中でサンプリングされる点であるサンプル位置を固定したタイミングで前記トリガパルスを発生するように分周比が設定可能な可変分周器(2b)とを備えたことを特徴とするジッタ測定用トリガ発生器。 - 前記被測定データ信号の測定パターン長と互いに素の関係になる離散値を用いて前記測定パターン長と同じサンプル数分データを取得するインターリーブ処理部(4d)を備えたことを特徴とする請求項1記載のジッタ測定用トリガ発生器。
- 前記請求項1又は2記載のジッタ測定用トリガ発生器(2)が発生するトリガパルスに応じたタイミングで測定対象となる被測定データ信号をサンプリングするサンプラ(3)と、
前記サンプラでサンプリングされたデータを処理して遷移サンプルによるジッタ値をジッタ成分毎に分離してジッタ分析を行うデータ処理部(4)とを備えたことを特徴とするジッタ測定装置。 - 測定対象となる被測定データ信号に含まれるジッタを測定するためのトリガパルスを発生するジッタ測定用トリガ発生方法において、
前記被測定データ信号に同期したトリガクロックを入力とし、前記被測定データ信号のサンプルのトリガ周期が前記被測定データ信号の1ビットにつき1サンプルとなるように前記トリガクロックの位相を制御するステップと、
前記被測定データ信号の波形パターンの中でサンプリングされる点であるサンプル位置を固定したタイミングで前記トリガパルスを発生するように分周比を設定するステップとを含むことを特徴とするジッタ測定用トリガ発生方法。 - 前記被測定データ信号の測定パターン長と互いに素の関係になる離散値を用いて前記測定パターン長と同じサンプル数分データを取得するステップを含むことを特徴とする請求項4記載のジッタ測定用トリガ発生方法。
- 前記請求項4又は5記載のジッタ測定用トリガ発生方法により発生するトリガパルスに応じたタイミングで測定対象となる被測定データ信号をサンプリングするステップと、
前記サンプリングされたデータを処理して遷移サンプルによるジッタ値をジッタ成分毎に分離してジッタ分析を行うステップとを含むことを特徴とするジッタ測定方法。
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