JP2013174516A - 磁気歪測定方法及び磁気歪測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明では、磁界中に置かれた試料上の均一磁場領域内の第1標点(15)と第2標点(16)との間の変位量を光学的測定手段(11)で測定することで試料(5)の磁気歪を測定する磁気歪測定方法(磁気歪測定装置(1))において、光学的測定手段(11)から放射された光を、第1標点(15)で第2標点(16)へ向けて反射させ、第2標点(16)で第1標点(15)へ向けて反射させ、第1標点(15)で光学的測定手段(11)へと反射させることにした。また、前記試料(5)に接続したヨーク(12,13)を避けて前記試料(5)の伸延方向に対して斜めに向けて前記光学的測定手段(11)から光を放射することにした。
【選択図】図3
Description
ΔS=2・δ1/cos(θ/2)+δ2・cos(θ/2)−δ3
δ3=2・δ1・tan(θ/2)・sin(θ/2)
と表せる。
ΔS=2・δ/cos(θ/2)+δ・cos(θ/2)−δ3
δ3=2・δ・tan(θ/2)・sin(θ/2)
となり、
ΔS=2・δ/cos(θ/2)+δ・cos(θ/2)−2・δ・tan(θ/2)・sin(θ/2)
となる。
δ=ΔS/(2/cos(θ/2)+cos(θ/2)−2・tan(θ/2)・sin(θ/2))
となる。
ΔL=δ1+δ2
であり、
前記同様δ=δ1=δ2とすると、
ΔL=2・δとなり、上記式より
ΔL=2・ΔS/(2/cos(θ/2)+cos(θ/2)−2・tan(θ/2)・sin(θ/2))
となる。
3 コイルホルダー 4 コイル
5 試料 6 試料ホルダー
7,8 開口 9 第1反射体
10 第2反射体 11 光学的測定手段
12,13 ヨーク 14 複ヨーク
15 第1標点 16 第2標点
Claims (4)
- 磁界中に置かれた試料上の均一磁場領域内の第1標点と第2標点との間の変位量を光学的測定手段で測定することで試料の磁気歪を測定する磁気歪測定方法において、
光学的測定手段から放射された光を、第1標点で第2標点へ向けて反射させ、第2標点で第1標点へ向けて反射させ、第1標点で光学的測定手段へと反射させることを特徴とする磁気歪測定方法。 - 前記試料に接続したヨークを避けて前記試料の伸延方向に対して斜めに向けて前記光学的測定手段から光を放射することを特徴とする請求項1に記載の磁気歪測定方法。
- 磁界中に置かれた試料上の均一磁場領域内の第1標点と第2標点との間の変位量を光学的測定手段で測定することで試料の磁気歪を測定する磁気歪測定装置において、
第1標点に第1反射体を設けるとともに、第2標点に第2反射体を設け、
光学的測定手段から放射された光が、第1反射体で第2反射体へ向けて反射され、第2反射体で第1反射体へ向けて反射され、第1反射体で光学的測定手段へと反射されるように、前記第1反射体及び第2反射体を配置したことを特徴とする磁気歪測定装置。 - 前記光学的測定手段から放射された光が、前記試料に接続したヨークを避けて前記試料の伸延方向に対して斜めに前記第1反射体に入射するように、前記光学的測定手段を配置したことを特徴とする請求項3に記載の磁気歪測定装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106802399A (zh) * | 2016-12-05 | 2017-06-06 | 中国计量科学研究院 | 一种磁致伸缩系数的测量系统及方法 |
Citations (4)
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JPS6435203A (en) * | 1987-06-19 | 1989-02-06 | Schenck Ag Carl | Method and apparatus for measuring deformation of test piece for material tester |
JPH045524A (ja) * | 1990-04-23 | 1992-01-09 | Nippon Steel Corp | 交流磁歪測定方法 |
JPH08145951A (ja) * | 1994-11-28 | 1996-06-07 | Kawasaki Steel Corp | 鋼板の磁気歪検出装置 |
JP2003521678A (ja) * | 1999-09-06 | 2003-07-15 | フランツ、ロットナー | ひずみ検知装置 |
-
2012
- 2012-02-27 JP JP2012039544A patent/JP5631344B2/ja active Active
Patent Citations (4)
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