JP2013152091A - 光学式ガス測定装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】検知材の試薬との反応による光学濃度測定する測定装置の検知材の感度低下を防止すること。
【解決手段】検出対象ガスと反応して反応痕を生じる反応試薬を含浸させた検知材3に発光手段4からの光を照射し、前記検知材3の前記反応痕からの反射光に基づいて前記反応痕の光学濃度を検出して検出対象ガスの濃度を測定する装置であって、前記発光手段4を、一定時間ごとに間欠的に駆動する。
【選択図】図1
【解決手段】検出対象ガスと反応して反応痕を生じる反応試薬を含浸させた検知材3に発光手段4からの光を照射し、前記検知材3の前記反応痕からの反射光に基づいて前記反応痕の光学濃度を検出して検出対象ガスの濃度を測定する装置であって、前記発光手段4を、一定時間ごとに間欠的に駆動する。
【選択図】図1
Description
本発明は、環境中に存在するガスを検知材との呈色反応により測定する光学式ガス測定装置、より詳細には検知材の反応痕の光学濃度を測定する装置に関する。
環境中に存在するホルムアルデヒドに呈色反応する検知材は、特許文献1にみられるように、4−アミノ−4−フェニル−3−エン−2−オンと緩衝液とを含む発色液を少なくともガス反応領域にシリカゲルを含有する基材に含侵させて構成されている。
これによれば、4−アミノ−4−フェニル−3−エン−2−オンとホルムアルデヒドとの反応により生成するルチジン体の特異的な吸収波長の吸光度を検出することにより、高い感度でホルムアルデヒドを検出することができる。
これによれば、4−アミノ−4−フェニル−3−エン−2−オンとホルムアルデヒドとの反応により生成するルチジン体の特異的な吸収波長の吸光度を検出することにより、高い感度でホルムアルデヒドを検出することができる。
しかしながら、低い濃度の測定に適用すると意外に感度が低いという問題がった。そこで
その原因を探るべく被検出ガスと接触していない検知材に発光手段の光を所定時間照射し、その後に所定濃度の被検出ガスを所定時間作用させ、その反応痕の発色度合いを比較したところ図6のようになった。
このことから検知材の試薬は、光の照射を受けると、図6に示したように積算の照射時間に応じて反応痕の発色の度合い(相対発色度)が変化、つまり被検出ガスの検出感度が低下することを発見した。
その原因を探るべく被検出ガスと接触していない検知材に発光手段の光を所定時間照射し、その後に所定濃度の被検出ガスを所定時間作用させ、その反応痕の発色度合いを比較したところ図6のようになった。
このことから検知材の試薬は、光の照射を受けると、図6に示したように積算の照射時間に応じて反応痕の発色の度合い(相対発色度)が変化、つまり被検出ガスの検出感度が低下することを発見した。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであって、その目的とするところはガスと検知材との呈色反応により測定する光学式ガス測定装置において、検出光による検知材の劣化を防止できる光学式ガス装置を提供することである。
このような課題を達成するために本発明は、検出対象ガスと反応して反応痕を生じる反応試薬を含浸させた検知材に発光手段からの光を照射し、前記検知材の前記反応痕からの反射光を受光手段により検出して前記反応痕の光学濃度を検出して検出対象ガスの濃度を測定する装置において、前記発光手段を間欠的に駆動するようにした。
光学濃度検出用の光による反応試薬の劣化を可及的に防止して、低濃度の検出対象ガスを高い精度で測定することができる。
そこで以下に本発明の詳細を図1に示した実施例に基づいて説明する。
本発明の光学式ガス測定装置は、検出ユニット1と、これに対向するように配置されたガス吸引ユニット2とを検知材3を挟むように配置して構成されている。
検出ユニット1は、発光手段4と受光手段5とを発光手段4の光が検知材3で反射されて受光手段5に入射するように配置すると共に、被測定環境からの空気を管6により取り込むように構成されている。一方、ガス吸引ユニット2は吸引口7を備え、図示しない吸引ポンプに管8を介して接続されている。
なお、図中符号9、10は検知材3を収容するリールと巻き取りリールであり、また符号11は、ガス吸引ユニット2を検出ユニットに切離させて巻き取りリール10を駆動する駆動機構を示す。
本発明の光学式ガス測定装置は、検出ユニット1と、これに対向するように配置されたガス吸引ユニット2とを検知材3を挟むように配置して構成されている。
検出ユニット1は、発光手段4と受光手段5とを発光手段4の光が検知材3で反射されて受光手段5に入射するように配置すると共に、被測定環境からの空気を管6により取り込むように構成されている。一方、ガス吸引ユニット2は吸引口7を備え、図示しない吸引ポンプに管8を介して接続されている。
なお、図中符号9、10は検知材3を収容するリールと巻き取りリールであり、また符号11は、ガス吸引ユニット2を検出ユニットに切離させて巻き取りリール10を駆動する駆動機構を示す。
ところで本発明が検出対象としているホルムアルデヒド(HCHO)の検知材3は、ホルムアルデヒドと反応していない状態では図2の曲線(A)に示したように、波長400〜700nmの範囲ではほとんど一定の吸光特性を有する。
他方、HCHOによる反応痕に対しては、図2の曲線(B)に示したように波長420nmに最大の吸収領域を有する。
他方、HCHOによる反応痕に対しては、図2の曲線(B)に示したように波長420nmに最大の吸収領域を有する。
したがってこの実施例では発光手段4は、波長420nmの近辺に発光スペクトルを有する青色発光ダイオードを用いて波長420nmの光を照射するように構成されている。
発光手段4は、点灯時間と点灯周期を制御する発光制御手段21から電力の供給を受けている。なお、図中符号13は、受光手段5からの信号に基づいてガスの濃度を算出するための信号処理手段である。
発光手段4は、点灯時間と点灯周期を制御する発光制御手段21から電力の供給を受けている。なお、図中符号13は、受光手段5からの信号に基づいてガスの濃度を算出するための信号処理手段である。
ところで点灯時間は、発光手段4の発光特性、つまり点灯開始以後の時間と光度との関係が図3のような場合、つまり通電開始から時間と共に変化する場合には、少なくとも0.9秒以上に設定されている。すなわち点灯直後から0.9秒ぐらいまでは光度が過渡的に変化するため、安定になる0.9秒以後での反射光を検出するのが望ましい。すなわち、発光制御手段12は、短くとも0.9秒以上で、かつ安定な光量の光を受光手段5で確実に検出できる必要最小限の時間だけ点灯させるように構成されている。
次に、上述の実施例による検出結果を図4、図5に示す。
図4は濃度0.05ppmのHCHOを従来の方式、つまり常時点灯(A)、そして本発明の方式、つまり2秒消灯ー1秒点灯(B)、8.8秒消灯ー1.2点灯(C)、18.8秒消灯ー1.2点灯(D)により測定したものであり、また図5は0.1ppmのHCHOを同上の方式で測定したものである。
図4は濃度0.05ppmのHCHOを従来の方式、つまり常時点灯(A)、そして本発明の方式、つまり2秒消灯ー1秒点灯(B)、8.8秒消灯ー1.2点灯(C)、18.8秒消灯ー1.2点灯(D)により測定したものであり、また図5は0.1ppmのHCHOを同上の方式で測定したものである。
これらのことから発光手段4を間欠点灯することが低い濃度のガスを高い感度で検出するのに極めて有効であることが判る。
1 検出ユニット 2 ガス吸引ユニット 3 検知材 4 発光手段 5 受光手段
Claims (1)
- 検出対象ガスと反応して反応痕を生じる反応試薬を含浸させた検知材に発光手段からの光を照射し、前記検知材の前記反応痕からの反射光に基づいて前記反応痕の光学濃度を検出して検出対象ガスの濃度を測定する装置において、
前記発光手段を、一定時間ごとに間欠的に駆動することを特徴とする光学式ガス測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012011616A JP2013152091A (ja) | 2012-01-24 | 2012-01-24 | 光学式ガス測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2012011616A JP2013152091A (ja) | 2012-01-24 | 2012-01-24 | 光学式ガス測定装置 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2013152091A true JP2013152091A (ja) | 2013-08-08 |
Family
ID=49048558
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012011616A Pending JP2013152091A (ja) | 2012-01-24 | 2012-01-24 | 光学式ガス測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2013152091A (ja) |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6082946A (ja) * | 1983-10-14 | 1985-05-11 | Hochiki Corp | ガスセンサ |
JPS62251638A (ja) * | 1986-04-24 | 1987-11-02 | Hochiki Corp | 水素センサ |
JPH04181147A (ja) * | 1990-11-15 | 1992-06-29 | Tdk Corp | 化学物質センサ |
JPH05126742A (ja) * | 1991-11-06 | 1993-05-21 | Tdk Corp | 化学物質センサ |
JP2010133725A (ja) * | 2008-12-02 | 2010-06-17 | Riken Keiki Co Ltd | 光学式ガス検知器 |
JP2010175268A (ja) * | 2009-01-27 | 2010-08-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | ガス測定装置および方法 |
-
2012
- 2012-01-24 JP JP2012011616A patent/JP2013152091A/ja active Pending
Patent Citations (6)
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