JP2013151058A - Polishing pad - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、被研磨物を研磨するための研磨パッドに関し、特に、半導体製造工程において化学的機械的研磨(CMP)によってシリコンウエハを研磨するのに好適な研磨パッドに関する。 The present invention relates to a polishing pad for polishing an object to be polished, and more particularly to a polishing pad suitable for polishing a silicon wafer by chemical mechanical polishing (CMP) in a semiconductor manufacturing process.
この種の研磨パッドは、一般には円盤状であって、例えば研磨装置における下定盤(ターンテーブル)の上面に接着されて使用される。かかる研磨工程では、研磨パッドの研磨面である上面に、上定盤の下面に保持されたウエハを押しつけ、下定盤を回転させると共に上定盤も回転させ、スラリー供給装置からスラリーを供給しながらウエハを研磨する。また、効率的な研磨を行うため、研磨面にスラリーの流路となる溝を格子状や同心円状に形成したり、貫通孔を多数形成したりすることもある(特許文献1)。 This type of polishing pad is generally disc-shaped, and is used by being bonded to the upper surface of a lower surface plate (turn table) in a polishing apparatus, for example. In such a polishing step, the wafer held on the lower surface of the upper surface plate is pressed against the upper surface, which is the polishing surface of the polishing pad, and the lower surface plate is rotated and the upper surface plate is also rotated while supplying the slurry from the slurry supply device. Polish the wafer. In addition, in order to perform efficient polishing, grooves serving as a slurry flow path may be formed in a lattice shape or concentric circles on the polishing surface, or many through holes may be formed (Patent Document 1).
このような研磨パッドの研磨面は、被研磨物を研磨すること自体による摩耗の他、その研磨面の目詰まりを解消するためのドレッシングによっても摩耗していく。研磨面が摩耗していくと例えば上記のように溝を形成している場合にはその溝の深さが浅くなっていくことなり、研磨能力が初期状態とは異なることになる。また、研磨面全体が均一に摩耗するのではなく不均一に摩耗することが多いため、研磨面の平坦性も初期状態に比べて悪化してくる。何れにしても、研磨パッドを長期に亘って使用し続けると研磨面の摩耗によって結果的にはウエハの歩留まり低下を招くことになるが、この摩耗度合いを把握することが容易ではないことから、現場では、研磨パッドを最後まで使い切るのではなく、むしろ寿命よりも早いタイミングで新しいものに交換することによってウエハの歩留まり低下を未然に防ぐようにしているのが実情である。 The polishing surface of such a polishing pad is worn by dressing for eliminating clogging of the polishing surface in addition to wear caused by polishing the workpiece itself. When the polishing surface is worn, for example, when grooves are formed as described above, the depth of the grooves becomes shallow, and the polishing ability is different from the initial state. Further, since the entire polished surface is often worn unevenly rather than uniformly, the flatness of the polished surface is also deteriorated compared to the initial state. In any case, if the polishing pad continues to be used for a long period of time, it will result in a decrease in the yield of the wafer due to abrasion of the polishing surface, but it is not easy to grasp the degree of wear, In the actual situation, the polishing pad is not used up to the end, but rather is replaced with a new one at a timing earlier than the lifetime, thereby preventing a decrease in the yield of the wafer.
それゆえに本発明は、上記従来の問題に鑑みてなされ、使用者が簡単に研磨面の摩耗状態を把握することができる研磨パッドを提供することを課題とする。 Therefore, the present invention has been made in view of the above-described conventional problems, and an object thereof is to provide a polishing pad that allows a user to easily grasp the wear state of the polishing surface.
本発明は、上記課題を解決すべくなされたものであり、本発明に係る研磨パッドは、研磨面上に形成された溝であって、スラリーの流路となる溝と、研磨面上に視認可能に設けられた有底凹部からなる報知部であって、研磨面上の異なる箇所のそれぞれで一群をなす複数の報知部とを備え、一群をなす複数の報知部のそれぞれは、深さを異にして形成されていることを特徴とする。 The present invention has been made to solve the above problems, and a polishing pad according to the present invention is a groove formed on a polishing surface, which is a groove serving as a slurry flow path, and is visually recognized on the polishing surface. It is a notification unit comprising a bottomed recess provided in a possible manner, and includes a plurality of notification units forming a group at each of different locations on the polishing surface, and each of the plurality of notification units forming a group has a depth. It is characterized by being formed differently.
本発明の一態様として、報知部が溝の配置と異なる位置に設けられることが好ましい。 As one aspect of the present invention, it is preferable that the notification section is provided at a position different from the groove arrangement.
本発明の他態様として、報知部の底面は、着色されてもよい。 As another aspect of the present invention, the bottom surface of the notification unit may be colored.
また、本発明の別の態様として、一群をなす複数の報知部のそれぞれの底面は、異なる色に着色されてもよい。 As another aspect of the present invention, the bottom surfaces of a plurality of notification units forming a group may be colored in different colors.
また、本発明の他態様として、一群をなす複数の報知部のそれぞれは、大きさ又は形状を異にして形成されてもよい。 Moreover, as another aspect of the present invention, each of the plurality of notification units forming a group may be formed with a different size or shape.
本発明によれば、研磨パッドの交換時期を使用者が報知部により容易に把握でき、これまでのように経験等を頼りにしてパッド交換を行う必要がなくなり、常に一定且つ客観的な基準でパッド交換を行うことができる。 According to the present invention, the user can easily grasp the replacement time of the polishing pad by the notification unit, and it is not necessary to replace the pad by relying on experience as in the past, and it is always based on a constant and objective standard. Pad replacement can be performed.
以下、本発明に係る研磨パッドの一実施形態について図1,2を参酌しつつ説明する。 Hereinafter, an embodiment of a polishing pad according to the present invention will be described with reference to FIGS.
研磨パッドは、全体が研磨層を構成する単層構造のものや、研磨層の下にクッション層が接着層を介して積層された多層構造のものがあるが、図1には、単層構造の研磨パッド1を示している。 The polishing pad includes a single-layer structure that entirely constitutes a polishing layer, and a multi-layer structure in which a cushion layer is laminated below the polishing layer via an adhesive layer. FIG. 1 shows a single-layer structure. A polishing pad 1 is shown.
該研磨パッド1は、例えばポリウレタンを主成分とするものであって発泡により内部に気泡を有する構造のものである。具体的には、ポリウレタン樹脂を発泡硬化させたウレタン重合体樹脂パッドであり、該ウレタン重合体樹脂パッドとしては、ポリエーテル系ウレタン樹脂や、ポリエステル系ウレタン樹脂、ポリエステルエーテル系ウレタン樹脂、ポリカーボネート系ウレタン樹脂等を使用できる。発泡方法としては、微小中空体を混合する方法や、発泡剤を使用する方法、気泡導入の方法、溶解したガスの再析出による方法等があり、特に各気泡が互いに独立した独立気泡タイプが好ましい。尚、以上の材質等については多層構造の場合の研磨層についても同様である。 The polishing pad 1 has, for example, polyurethane as a main component and has a structure having bubbles inside by foaming. Specifically, it is a urethane polymer resin pad obtained by foaming and curing a polyurethane resin. Examples of the urethane polymer resin pad include polyether urethane resins, polyester urethane resins, polyester ether urethane resins, and polycarbonate urethanes. Resin etc. can be used. Examples of the foaming method include a method of mixing micro hollow bodies, a method of using a foaming agent, a method of introducing bubbles, a method of reprecipitation of dissolved gas, etc., and a closed cell type in which each cell is independent from each other is particularly preferable. . The same applies to the polishing material in the case of a multilayer structure.
かかる研磨パッド1は一般的にはその下面1bが下定盤に固着されて使用されるため、その下定盤の大きさに合わせた薄板の円盤状に形成されており、その上面が研磨面1aとなる。そして、その研磨面1aには、スラリーを保持すると共にその流路となる溝2が形成されている。該溝2は、例えば研磨層の約40%の深さを有するものであって、単層構造の場合には研磨パッド1全厚の約40%の深さとなる。図1に示すように、該溝2は、研磨パッド1の中央部1cを除く全領域に、研磨パッド1の中心Cを中心として互いに間隔を開けて同心円状に多数形成されている。
Since the
そして、この研磨面1aが所定量摩耗した際にそのことを知らせるための報知部が研磨パッド1に設けられている。具体的には、報知部として研磨面1aには有底凹部10が形成されている。該有底凹部10は、研磨面1aが所定量摩耗すると消失する消失部であって、研磨面1aが所定量摩耗するまでは存在し研磨面1aが所定量摩耗することによって消失するので、使用者はその有無を視認可能である。
A polishing pad 1 is provided on the polishing pad 1 for informing when the
該有底凹部10は、貫通していない有底の孔であって、具体的には丸孔であり、例えば、直径1乃至3mm、深さ0.3乃至0.5mmのものである。但し、その形状は丸孔に限定されることなく、矩形や溝状のもの等であっても無論よい。また、深さの異なる複数の有底凹部10、具体的には三つの有底凹部10a,10b,10cが一つの群をなして形成されている。群を構成する三つの有底凹部10a,10b,10cは、何れも溝2よりも浅いものであるが、例えば、それぞれの深さを大中小としている。そして、図2に示すように、それら一群の三つの有底凹部10a,10b,10cは、隣り合った溝2間に形成されていて、且つ、溝2に沿って一列に配置されている。図1、図2では、紙面上側から深さ大の有底凹部10a、深さ中の有底凹部10b、そして、深さ小の有底凹部10cという順で配置されている。
The bottomed
更に、これらの一群の三つの有底凹部10a,10b,10cは、研磨面1aの一箇所ではなく複数の箇所、具体的には中心Cからの距離が異なる複数の箇所に形成されている。より詳細には、中心Cからの距離が小さい内周部分と、それより距離が大きく研磨パッド1の半径の略1/2近傍の中途部分(A部)と、それより距離が大きく周縁に近い外周部分の合計三つの箇所に形成されており、特に、これら三つの箇所は互いに周方向に位置ずれせずに径方向に直線的に配置されている。尚、最も外側の外周部分における有底凹部10の群は最も外側の溝2よりも更に外側に形成されている。このように、深さ大中小の三つの有底凹部10a,10b,10cを一群として中心Cからの距離が異なる合計三つの箇所に形成していることにより、中心Cからの距離が同じ箇所に深さの異なる三つの有底凹部10が形成されると共に、中心Cからの距離が異なる三つの箇所にそれぞれ同じ深さの有底凹部10、即ち深さ小の有底凹部10cが三つの箇所にそれぞれ形成され、深さ中の有底凹部10bも三つの箇所にそれぞれ形成され、深さ大の有底凹部10aも三つの箇所にそれぞれ形成されることとなる。尚、有底凹部10は例えばドリルやエンドミル等によって形成することができる。
Further, the group of three bottomed
本実施形態における研磨パッド1は以上のような構成を採用したことにより以下のような利点を有する。即ち、研磨面1aに有底凹部10が形成されているので、研磨面1aがドレッシング等によって摩耗していき、その摩耗量が所定量に達すると有底凹部10が消失する。従って、有底凹部10が消失することをもって使用者は研磨面1aの摩耗量が所定量に達したことを知ることができる。具体的には、深さ小の有底凹部10cが最も早い時期に消失し、それから深さ中の有底凹部10b、深さ大の有底凹部10aと順に消失していくことになる。例えば、深さ大の有底凹部10aが消失した時がパッド交換の時期となるようにその深さ大の有底凹部10aの深さを設定しておき、更に、深さ中の有底凹部10bを深さ大の有底凹部10の2/3の深さに、深さ小の有底凹部10cを深さ大の有底凹部10の1/3の深さにそれぞれ設定したとすると、深さ小の有底凹部10cが消失することでパッド寿命の約1/3に達したことがわかる。そして、深さ中の有底凹部10bが消失するとパッド寿命が残り約1/3になったことがわかり、深さ大の有底凹部10aが消失することでパッド寿命が到来してパッド交換時期であることがわかる。このように、深さの異なる有底凹部10が形成されていることにより、研磨面1aの摩耗の程度を詳細に把握することができる。
The polishing pad 1 in the present embodiment has the following advantages by adopting the above configuration. That is, since the bottomed
しかも、深さ大中小の三つの有底凹部10a,10b,10cの群を中心Cからの距離が異なる三箇所に設けているので、場所による摩耗の程度の違いも把握することができる。例えば、外周部分が特に摩耗の程度が激しい等、特定の箇所のみが偏って摩耗するような場合には、図1のように異なる箇所に同じ深さの有底凹部10を配置しておくことで、どの場所が最も摩耗度合いが大きいか等、場所に起因した摩耗度合いを容易に把握することができる。
In addition, since the three bottomed
尚、本実施形態では、隣り合う溝2間に該溝2とは離間するようにして有底凹部10を形成した場合について説明したが、図10のように、隣り合う両溝2それぞれに連通するように有底凹部10を形成してもよい。また、隣り合う両溝2のうちの一方のみに連通するようにしてもよい。何れにしても、溝2に連通するようにして有底凹部10を形成すると、有底凹部10に溜まった研磨クズ等の不要物を溝2を介して排出することができる。特に、両溝2の両方に連通する場合には、隣り合う両溝2がその間の有底凹部10によって互いに連通することとなるから、溝2から溝2への研磨クズ等の不要物の移動も生じることとなるため好ましい。
In the present embodiment, the case where the bottomed
また、上記実施形態では、深さ大中小三つの有底凹部10からなる群を合計三箇所に配置した場合を説明したが、この群の数や配置場所については適宜設計変更可能であって、例えば、図3のように、内周側から外周側へと一定間隔毎に合計五箇所形成してもよい。尚、有底凹部10の総数は、有底凹部10の形状や大きさ又は深さ等によっても異なるが、例えば数十個(20個程度)程度であれば、被研磨物の研磨状態にはほとんど影響を及ぼさない。 Further, in the above embodiment, the case where the group consisting of the bottomed recesses 10 having three depths is arranged at a total of three places, but the number and arrangement places of the groups can be appropriately changed in design, For example, as shown in FIG. 3, a total of five locations may be formed at regular intervals from the inner circumference side to the outer circumference side. The total number of the bottomed recesses 10 varies depending on the shape, size, depth, etc. of the bottomed recesses 10. For example, if the number is about several tens (about 20), the polished state of the object to be polished is Has little effect.
また、図1や図3のように有底凹部10の群を内周側から外周側に向けて直線状に配置するのではなく、周方向に互いに位置ずれさせて配置してもよい。例えば、深さ大中小三つの有底凹部10a,10b,10cからなる群を内周側から外周側にかけて徐々に周方向にずらしながら配置してもよく、例えば、図4のように螺旋状に配置してもよい。
In addition, the group of bottomed
更に、深さの異なる複数の有底凹部10を一つの群として配置する構成以外にも種々の構成があり、深さの異なる複数の有底凹部10をランダムに配置することも可能である他、一種類の深さの有底凹部10のみを複数形成することもできる。深さを一種類のみとする場合、パッド交換時期を把握できるようにすることが好ましく、従って、研磨面1aの摩耗量がパッド寿命となる所定量に達したときに消失する深さに設定することが好ましい。その配置については群で配置した場合と同様に多種多様の配置パターンがあるが、例えば、図5のように、内周側から外周側へと周方向に所定角度ずつ(図5では90度ずつ)位置ずれさせながら螺旋状に配置することができる。また、図6のように、内周側から外周側へと有底凹部10を直線状に配置しても(列α)、内周側から外周側へと曲線状に配置しても(列β)、列の形状はどのようなものであってもよい。そして、このような内周側から外周側へ配置した有底凹部10の列は一列設ければ足りるが、図6のように複数列設けることもできる。このように、有底凹部10の配置態様は種々のものがある。
Furthermore, there are various configurations other than a configuration in which a plurality of bottomed
尚、スラリーの流路となる溝2を同心円状に設けた場合について説明したが、溝2を格子状に設けても無論よく、その場合でも上述したのと同様の深さ大中小三つの有底凹部10a,10b,10cの群を、例えば図7のように内周部分と中途部分と外周部分の三箇所に配置することができる。尚、溝2を格子状に形成した場合には、この図7のように、その直線状の溝2に沿って深さ大中小三つの有底凹部10も直線的に配置することができる。
In addition, although the case where the
また、深さ大中小三つの有底凹部10a,10b,10cを一箇所にまとめて配置せずに周方向に間隔を開けて配置してもよく、例えば、図8のように、中心Cからの距離が異なる内周部分と中途部分と外周部分の三箇所において、それぞれ深さ大中小三つの有底凹部10a,10b,10cを配置すると共に、その深さ大中小三つの有底凹部10a,10b,10cを互いに周方向に間隔を大きく開けて配置し、結果として、三つの深さ大の有底凹部10a、三つの深さ中の有底凹部10b、三つの深さ小の有底凹部10cが、それぞれ内周側から外周側に向けて直線状に列をなすようにして配置するようにしてもよい。
Further, the bottomed
更には、図9のように、同心円上に深さ大中小三つの有底凹部10a,10b,10cを互いに90度ずつ間隔を開けて配置すると共に、その深さ大中小三つの有底凹部10a,10b,10cの周方向の配置箇所を内周側から外周側へと螺旋状に225度ずつずらせていくようにしてもよい。
Furthermore, as shown in FIG. 9, three bottomed
尚、図4,5,8,9における破線は、研磨面1aに実際に形成されているものではなく、仮想の円、直線である。
4, 5, 8, and 9 are not actually formed on the polishing
尚、深さ大中小三つの有底凹部10a,10b,10cを設けた場合の他、深さ大小二種類としたり四種類以上としたりすることも無論できる。
Of course, in addition to the case where the bottomed
尚、有底凹部10の底面を着色することによって有底凹部10の消失をより一層明確に視認できるようにしてもよい。深さの異なる有底凹部10を形成する場合には、その深さの違いを色別で示してもよい。尚、深さの違いを色別で示す他には、例えば、有底凹部10の大きさや形状によって底さの違いを判別できるようにしてもよい。
The disappearance of the bottomed
また、消失部としては上述のような有底凹部10の他、図11のように溝2の一部を浅く形成してその浅溝部20を消失部として構成することもできる。尚、図11において、符号2aは溝2の底面を示している。このように、浅溝部20を消失部として構成する場合にも有底凹部10の場合と同様に、浅溝部20の深さを複数種類、例えば深さ大中小の三種類設けることができ、深さの浅いものから順に消失するので現状の摩耗の程度をより正確に把握できる。図11においては、深さ大中小の浅溝部20a,20b,20cはその順で溝2の長手方向(矢印B方向)に沿って形成されているが、何れにしても、溝2に消失部としての浅溝部20を形成することにより、溝2の加工と共に浅溝部20を形成することができるため消失部の加工が容易である。尚、図11には、多層構造の研磨パッド1を示しており、研磨層100の下に接着層101を介してクッション層102が積層され、そのクッション層102の下には下定盤に貼着するための接着層103が形成されている。また、溝2とは別に溝(スリット)を形成し、その溝に図11に示したような深さの異なる浅溝部20a,20b,20cを形成してもよい。このように、消失部の構成は有底凹部10や浅溝部20など種々の構成があるが、何れにしても、研磨面1aが所定量摩耗すると消失する構成であればよい。
Further, as the disappearing portion, in addition to the bottomed recessed
尚、報知部として消失部を設けた場合について説明したが、研磨面1aから所定量内部に存在して研磨面1aが所定量摩耗すると研磨面1aに表出する構成の報知部を採用することも可能である。
In addition, although the case where the vanishing part is provided as the notification part has been described, a notification part configured to be exposed on the polishing
また、研磨面1aに視認可能な報知部を設けることが好ましいが、研磨面1a以外の例えば周面(図1の符号1d)に設けることも可能である。
In addition, it is preferable to provide a visually recognizable notification portion on the polishing
1…研磨パッド、1a…研磨面(上面)、2…溝、10,10a,10b,10c…有底凹部、20,20a,20b,20c…浅溝部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Polishing pad, 1a ... Polishing surface (upper surface), 2 ... Groove, 10, 10a, 10b, 10c ... Bottomed recessed part, 20, 20a, 20b, 20c ... Shallow groove part
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019139117A1 (en) * | 2018-01-12 | 2019-07-18 | ニッタ・ハース株式会社 | Polishing pad |
CN115106931A (en) * | 2022-06-23 | 2022-09-27 | 万华化学集团电子材料有限公司 | Chemical mechanical polishing pad with labyrinth-shaped grooves and application thereof |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1113857A (en) * | 1997-06-30 | 1999-01-22 | Ricoh Co Ltd | Motion transmitting mechanical element |
JPH11151662A (en) * | 1997-11-18 | 1999-06-08 | Asahi Chem Ind Co Ltd | Polishing cloth |
JP2003205451A (en) * | 2002-01-07 | 2003-07-22 | Hitachi Ltd | Polishing pad |
JP2004501789A (en) * | 2000-06-29 | 2004-01-22 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | Grooved polishing pad and method of use |
JP2004207397A (en) * | 2002-12-24 | 2004-07-22 | Rodel Nitta Co | Polishing pad and polishing device |
JP2006232152A (en) * | 2005-02-25 | 2006-09-07 | Bridgestone Corp | Tire |
JP2009018399A (en) * | 2007-07-13 | 2009-01-29 | Nitta Haas Inc | Polishing pad |
-
2013
- 2013-02-25 JP JP2013034410A patent/JP5887290B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1113857A (en) * | 1997-06-30 | 1999-01-22 | Ricoh Co Ltd | Motion transmitting mechanical element |
JPH11151662A (en) * | 1997-11-18 | 1999-06-08 | Asahi Chem Ind Co Ltd | Polishing cloth |
JP2004501789A (en) * | 2000-06-29 | 2004-01-22 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | Grooved polishing pad and method of use |
JP2003205451A (en) * | 2002-01-07 | 2003-07-22 | Hitachi Ltd | Polishing pad |
JP2004207397A (en) * | 2002-12-24 | 2004-07-22 | Rodel Nitta Co | Polishing pad and polishing device |
JP2006232152A (en) * | 2005-02-25 | 2006-09-07 | Bridgestone Corp | Tire |
JP2009018399A (en) * | 2007-07-13 | 2009-01-29 | Nitta Haas Inc | Polishing pad |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019139117A1 (en) * | 2018-01-12 | 2019-07-18 | ニッタ・ハース株式会社 | Polishing pad |
JP2019123031A (en) * | 2018-01-12 | 2019-07-25 | ニッタ・ハース株式会社 | Polishing pad |
CN111601681A (en) * | 2018-01-12 | 2020-08-28 | 霓达杜邦股份有限公司 | Polishing pad |
US20210053181A1 (en) * | 2018-01-12 | 2021-02-25 | Nitta Dupont Incorporated | Polishing pad |
JP7113626B2 (en) | 2018-01-12 | 2022-08-05 | ニッタ・デュポン株式会社 | polishing pad |
TWI800589B (en) * | 2018-01-12 | 2023-05-01 | 日商霓塔杜邦股份有限公司 | Polishing pad |
CN115106931A (en) * | 2022-06-23 | 2022-09-27 | 万华化学集团电子材料有限公司 | Chemical mechanical polishing pad with labyrinth-shaped grooves and application thereof |
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Publication number | Publication date |
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