JP2013118351A - Manufacturing apparatus for solar cell, solar cell, and manufacturing method for solar cell - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、太陽電池の製造装置、太陽電池、及び太陽電池の製造方法に関する。 The present invention relates to a solar cell manufacturing apparatus, a solar cell, and a solar cell manufacturing method.
太陽光発電システムは、化石エネルギーの燃焼による二酸化炭素(CO2)ガスの増加から21世紀の地球環境を守るクリーンエネルギーとして期待されており、その生産量は世界中で爆発的に増加している。 The solar power generation system is expected as clean energy that protects the global environment in the 21st century from the increase in carbon dioxide (CO 2 ) gas due to the burning of fossil energy, and its production volume is exploding worldwide. .
現在の一般的な結晶シリコン太陽電池は、厚さが200μm程度のp型結晶シリコン基板を用い、光吸収率を高める表面テクスチャ、n型不純物拡散層、反射防止膜および表面電極(例えば、櫛型Ag電極)を当該基板の表面側に順次形成し、また、裏面電極(例えば、Al電極)をスクリーン印刷によって当該基板の裏面側に形成した後、これらを焼成することによって製造されている。 A current general crystalline silicon solar cell uses a p-type crystalline silicon substrate having a thickness of about 200 μm, and has a surface texture, an n-type impurity diffusion layer, an antireflection film, and a surface electrode (for example, comb type) that increase the light absorption rate. Ag electrodes) are sequentially formed on the front surface side of the substrate, and back electrodes (for example, Al electrodes) are formed on the back surface side of the substrate by screen printing, and then these are fired.
かかる焼成では、表面電極および裏面電極の溶媒分が揮発すると共に、当該基板の受光面側において櫛型Ag電極が反射防止膜を突き破ってn型不純物拡散層に接続され、また、当該基板の裏面側においてAl電極の一部のAlが当該基板に拡散して裏面電界層(BSF:Back Surface Field)を形成する。このBSF層は、当該シリコン基板との接合面で内部電界を形成してBSF層近傍で発生した少数キャリアをシリコン基板内部へ押し戻し、Al電極近傍でのキャリア再結合を抑制する効果を有する。しかし、この拡散による接合やBSF層の膜厚は、適度なドーパント濃度を持つ熱プロセスを用いて形成すると数百nm〜数μmの厚い膜厚となり、層内での再結合による開放電圧低下や光吸収よる短絡電流の低下を生じる。 In such firing, the solvent content of the front electrode and the back electrode is volatilized, and the comb-shaped Ag electrode penetrates the antireflection film and is connected to the n-type impurity diffusion layer on the light receiving surface side of the substrate. On the side, a part of Al of the Al electrode diffuses into the substrate to form a back surface field layer (BSF). The BSF layer has an effect of suppressing the carrier recombination in the vicinity of the Al electrode by forming an internal electric field at the joint surface with the silicon substrate to push back minority carriers generated in the vicinity of the BSF layer into the silicon substrate. However, the thickness of the junction and the BSF layer by this diffusion becomes a thick film thickness of several hundred nm to several μm when formed using a thermal process having an appropriate dopant concentration. Short circuit current decreases due to light absorption.
そこで、結晶シリコン基板の裏面に薄い真性半導体薄膜(i層)を介して不純物ドープシリコン層からなる接合或いはBSF層を形成するヘテロ接合太陽電池が開発されている。 Therefore, a heterojunction solar cell has been developed in which a junction made of an impurity-doped silicon layer or a BSF layer is formed on the back surface of a crystalline silicon substrate via a thin intrinsic semiconductor thin film (i layer).
ヘテロ接合太陽電池では、裏面側の不純物ドープシリコン層を薄膜で形成することにより不純物ドープシリコン層の不純物濃度分布を自由に設定でき、また不純物層が薄いため膜中でのキャリアの再結合や光吸収を抑制することができ、大きい短絡電流が得られる。また、間に挿入した真性半導体層は接合間の不純物拡散を抑制し、急峻な不純物プロファイルをもつ接合を形成することができるため、良好な接合界面形成により高い開放電圧を得ることができる。 In a heterojunction solar cell, the impurity concentration distribution of the impurity-doped silicon layer can be freely set by forming the impurity-doped silicon layer on the back side as a thin film, and the recombination of carriers and light in the film is possible because the impurity layer is thin. Absorption can be suppressed, and a large short-circuit current can be obtained. In addition, since the intrinsic semiconductor layer inserted between them can suppress impurity diffusion between the junctions and form a junction having a steep impurity profile, a high open-circuit voltage can be obtained by forming a good junction interface.
さらに、ヘテロ接合太陽電池では、裏面側の真性半導体薄膜および不純物ドープシリコン層は200℃程度の低温で形成できるため、基板の厚みが薄くても熱により基板に生じるストレスや、基板の反りを低減することができる。また、熱により劣化しやすい結晶シリコン基板に対しても基板品質の低下を抑制できることが期待できる。 Furthermore, in the heterojunction solar cell, the intrinsic semiconductor thin film and the impurity-doped silicon layer on the back side can be formed at a low temperature of about 200 ° C., thereby reducing the stress and warpage of the substrate caused by heat even if the substrate is thin. can do. In addition, it can be expected that a decrease in substrate quality can be suppressed even for a crystalline silicon substrate that is easily deteriorated by heat.
ヘテロ接合太陽電池の製造に当たっては、例えばn型結晶シリコン基板を用いる場合は、表面側には、真性半導体薄膜(i層)とp型不純物ドープシリコン層とが、裏面側には真性半導体薄膜(i層)とn型不純物ドープシリコン層とが成膜される。 In manufacturing a heterojunction solar cell, for example, when an n-type crystalline silicon substrate is used, an intrinsic semiconductor thin film (i layer) and a p-type impurity doped silicon layer are formed on the front surface side, and an intrinsic semiconductor thin film ( i layer) and an n-type impurity-doped silicon layer are formed.
一方、特許文献1には、光起電力装置におけるPIN接合を備えた半導体活性層の製造において、シランとメタンの混合ガスにジボランを添加してP型の不純物層を形成し、シリコン化合物ガスに窒素源ガスと酸素源ガスを強制的に混入させて真性層を形成し、シランにホスフィンを添加してN型の不純物層を形成することが記載されている。これにより、特許文献1によれば、真性層中に強制的に窒素及び酸素を同時に含有せしめることによって、強い光の長時間照射による光電変換効率の劣化割合を抑圧することができるとされている。 On the other hand, in Patent Document 1, in the production of a semiconductor active layer having a PIN junction in a photovoltaic device, diborane is added to a mixed gas of silane and methane to form a P-type impurity layer, and silicon compound gas is used. It is described that an intrinsic layer is formed by forcibly mixing a nitrogen source gas and an oxygen source gas, and an N-type impurity layer is formed by adding phosphine to silane. Thereby, according to patent document 1, it is supposed that the deterioration rate of the photoelectric conversion efficiency by long-time irradiation of strong light can be suppressed by forcibly containing nitrogen and oxygen simultaneously in the intrinsic layer. .
また、複数種の膜が積層された半導体薄膜の積層体を成膜する装置として、複数の反応室を直列に接続したインライン型のCVD装置が知られている。 An in-line type CVD apparatus in which a plurality of reaction chambers are connected in series is known as an apparatus for forming a semiconductor thin film stack in which a plurality of types of films are stacked.
特許文献2には、pin構造を形成するための連続分離プラズマ装置において、仕込み室、第1反応室、第2反応室、第3反応室、及び取出室を直列に備え、ガラス基板を各室に順次に搬送していく過程でp型、i型、n型非晶質半導体膜の成膜を順次に行って光起電力装置を形成することが記載されている。この連続分離プラズマ装置の第2反応室では、上側放電電極と下側放電電極との間隔が、ガラス基板の進行方向に沿って次第に広がった後に次第に狭まるように設定されるものとされている。これにより、特許文献2によれば、基板の進行方向に沿って放電電力密度を正確に変化させることができるので、反応室を移動していく複数のガラス基板の1つ1つに所望のバンドギャップ構造を持つi層を形成することができるとされている。 In Patent Document 2, in a continuous separation plasma apparatus for forming a pin structure, a preparation chamber, a first reaction chamber, a second reaction chamber, a third reaction chamber, and an extraction chamber are provided in series, and a glass substrate is provided in each chamber. Describes that a p-type, i-type, and n-type amorphous semiconductor film is sequentially formed in the process of sequentially transporting to form a photovoltaic device. In the second reaction chamber of this continuous separation plasma apparatus, the interval between the upper discharge electrode and the lower discharge electrode is set so as to gradually increase along the traveling direction of the glass substrate and then gradually decrease. Thus, according to Patent Document 2, since the discharge power density can be accurately changed along the traveling direction of the substrate, a desired band is provided for each of the plurality of glass substrates moving in the reaction chamber. It is said that an i layer having a gap structure can be formed.
特許文献1及び特許文献2に記載の技術は、いずれも、ガラス基板(絶縁性基板)における2つの主面のうち一方のみに成膜することを前提としている。そのため、特許文献1及び特許文献2には、ヘテロ接合太陽電池を製造するための半導体基板(例えば、シリコン基板)における2つの主面への異なる膜の成膜処理をどのようにして効率化するのかに関して一切記載がない。 Each of the techniques described in Patent Document 1 and Patent Document 2 is based on the premise that a film is formed on only one of two main surfaces of a glass substrate (insulating substrate). For this reason, Patent Document 1 and Patent Document 2 describe how to efficiently form different films on two main surfaces of a semiconductor substrate (for example, a silicon substrate) for manufacturing a heterojunction solar cell. There is no mention at all.
仮に、ヘテロ接合太陽電池を製造するために特許文献2に記載の連続分離プラズマ装置を用いた場合、半導体基板の2つの主面(表面及び裏面)のそれぞれに異なる半導体薄膜の積層体を成膜するためには、半導体基板の一方の主面に半導体薄膜を成膜した後に、半導体基板を反転させる工程が必要になる。そのため、表面側、裏面側の半導体薄膜層を成膜する複数のCVD装置と、それぞれのCVD装置間にシリコン基板を反転させる装置が必要となる。これにより、装置コストの増大と製造工程の複雑化とを招き、製造コストの高騰をもたす可能性がある。 If the continuous separation plasma apparatus described in Patent Document 2 is used to manufacture a heterojunction solar cell, a stack of different semiconductor thin films is formed on each of the two main surfaces (front and back surfaces) of the semiconductor substrate. In order to do so, a step of inverting the semiconductor substrate after forming a semiconductor thin film on one main surface of the semiconductor substrate is required. Therefore, a plurality of CVD apparatuses for forming the semiconductor thin film layers on the front surface side and the back surface side and an apparatus for inverting the silicon substrate between the respective CVD apparatuses are required. As a result, the apparatus cost increases and the manufacturing process becomes complicated, which may increase the manufacturing cost.
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、ヘテロ接合太陽電池の製造コストを低減できる太陽電池の製造装置、太陽電池、及び太陽電池の製造方法を得ることを目的とする。 This invention is made | formed in view of the above, Comprising: It aims at obtaining the manufacturing method of a solar cell which can reduce the manufacturing cost of a heterojunction solar cell, a solar cell, and the manufacturing method of a solar cell.
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の1つの側面にかかる太陽電池の製造装置は、第1の主面と前記第1の主面の反対側の第2の主面とを有する基板の前記第1の主面及び前記第2の主面の両方が露出されるように複数の前記基板を平面的に保持する基板ホルダと、前記基板ホルダがアノード電極側に搬入された際に、前記基板ホルダが前記アノード電極上に接触して、前記第2の主面が発生されるべき放電から隔離され前記第1の主面が前記発生されるべき放電に対して露出するように前記基板ホルダが載置されて、カソード電極及び前記アノード電極の間に高周波電力を印加して第1のガスを放電させることにより前記基板の前記第1の主面に第1の膜を成膜する前成膜室と、前記基板ホルダがアノード電極側に搬入された際に、前記基板ホルダが前記アノード電極上に接触して、前記第1の主面が発生されるべき放電から隔離され前記第2の主面が前記放電に対して露出するように前記基板ホルダが載置されて、カソード電極及び前記アノード電極の間に高周波電力を印加して第2のガスを放電させることにより前記基板の前記第2の主面に第2の膜を成膜する後成膜室と、前記前成膜室から前記後成膜室へ大気開放せずに前記基板ホルダを搬送経路の大部分において前記第1の主面に沿った方向に搬送する搬送機構とを備えたことを特徴とする。 In order to solve the above-described problems and achieve the object, a solar cell manufacturing apparatus according to one aspect of the present invention includes a first main surface and a second main surface opposite to the first main surface. A substrate holder for holding the plurality of substrates in a plane so that both the first main surface and the second main surface of the substrate are exposed, and the substrate holder is carried into the anode electrode side. When the substrate holder contacts the anode electrode, the second main surface is isolated from the discharge to be generated and the first main surface is exposed to the discharge to be generated. The substrate holder is placed as described above, and a first film is applied to the first main surface of the substrate by discharging high-frequency power between the cathode electrode and the anode electrode to discharge the first gas. The film formation chamber before film formation and the substrate holder are carried to the anode electrode side When the substrate holder is in contact with the anode electrode, the first main surface is isolated from the discharge to be generated and the second main surface is exposed to the discharge. A substrate holder is placed, and a second film is formed on the second main surface of the substrate by applying high-frequency power between the cathode electrode and the anode electrode to discharge the second gas. A post-deposition chamber; and a transport mechanism that transports the substrate holder in a direction along the first main surface in most of the transport path without opening the atmosphere from the pre-deposition chamber to the post-deposition chamber. It is characterized by having.
本発明によれば、基板ホルダを反転させるための工程が不要であり、かつ反転を行う場合に比べて前成膜室及び後製膜室を接続する移動室の大きさを小さくすることができる。これにより、製造工程を短縮できるとともに製造装置の大型化を抑制できるので、ヘテロ接合太陽電池の製造コストを低減できる。 According to the present invention, a process for inverting the substrate holder is unnecessary, and the size of the moving chamber connecting the pre-deposition chamber and the post-deposition chamber can be reduced as compared with the case of inverting. . Thereby, since a manufacturing process can be shortened and the enlargement of a manufacturing apparatus can be suppressed, the manufacturing cost of a heterojunction solar cell can be reduced.
以下に、本発明にかかる太陽電池の製造装置の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。また、以下の実施の形態で用いられる太陽電池製造装置図は模式的なものであり、長さ、奥行き、高さの関係やそれぞれの比率などは現実のものとは異なる。 Embodiments of a solar cell manufacturing apparatus according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. Note that the present invention is not limited to the embodiments. Moreover, the solar cell manufacturing apparatus diagram used in the following embodiments is schematic, and the relationship between length, depth, height, ratios thereof, and the like are different from actual ones.
実施の形態1.
実施の形態1にかかる太陽電池の製造装置100について図1を用いて説明する。図1は、太陽電池の製造装置100の構成の一例を模式的に示す上面図である。
Embodiment 1 FIG.
A solar
太陽電池の製造装置100は、例えば、ヘテロ接合太陽電池を製造するためのインライン型プラズマCVD装置であり、複数の成膜室が複数のゲートバルブを介して直列に接続されている。具体的には、太陽電池の製造装置100は、太陽電池基板ホルダ6、ロード室1、第1成膜室21、第2成膜室22、移動室3、第3成膜室23、第4成膜室24、アンロード室4、複数のゲートバルブ5−1〜5−6、及び搬送機構30を備える。
The solar
太陽電池基板ホルダ6は、複数の基板9−1〜9−16(図2参照)を各基板9における表面9a及び裏面9bの両方(図3参照)が露出されるように平面的に保持する。各基板9は、例えば、半導体(例えば、シリコン)を主成分とする材料で形成されており、ヘテロ接合太陽電池が形成されるように表面9a及び裏面9bの両方に互いに異なる膜が堆積されるべき基板である。ロード室1、第1成膜室21、第2成膜室22、移動室3、第3成膜室23、第4成膜室24、アンロード室4は、複数のゲートバルブ5−1〜5−6を介して直列に接続されている。
The solar
例えば略鉛直にセットされた太陽電池基板ホルダ6は、ゲートバルブ5−1が閉じた状態で、大気中からロード室1に投入される。ロード室1の真空引きが行われた後、ゲートバルブ5−1が開かれ、搬送機構30は、基板9の表面9aに沿って、太陽電池基板ホルダ6をロード室1から第1成膜室21へ搬送する。ゲートバルブ5−1,5−2が閉じられ、第1成膜室21の真空引きが行われた後、第1の成膜ガスが第1成膜室21に導入され、太陽電池基板ホルダ6に保持された各基板9の表面9aに第1の膜が成膜される。同様にして、太陽電池基板ホルダ6が搬送機構30により順次次の成膜室へと移動されていく。各成膜室(第1成膜室21、第2成膜室22、第3成膜室23、第4成膜室24)における成膜が終了した後に、太陽電池基板ホルダ6が搬送機構30によりアンロード室4へと導かれる。アンロード室4が大気解放された後に、太陽電池基板ホルダ6は、太陽電池の製造装置100の外部へと取り出される。
For example, the solar
各成膜室(第1成膜室21、第2成膜室22、第3成膜室23、第4成膜室24)には、カソード電極7とアノード電極8とが設置されている。カソード電極7とアノード電極8との位置関係は、移動室3をはさんだ、第1成膜室21および第2成膜室22と、第3成膜室23および第4成膜室24とでは逆転している。すなわち、第1成膜室21及び第2成膜室22のそれぞれでは、カソード電極7が図1中下側に位置し、アノード電極8が図1中上側に位置する。それに対して、第3成膜室23及び第4成膜室24のそれぞれでは、カソード電極7が図1中上側に位置し、アノード電極8が図1中下側に位置する。太陽電池基板ホルダ6は、移動室3内で基板9の表面9a(図3参照)に対して交差する方向(例えば、略垂直な方向)に沿って平行に移動することで、どの成膜室においてもアノード電極8上に近接された状態で成膜が行われる。
In each film formation chamber (first
搬送機構30は、第1成膜室21から第4成膜室24へ大気開放せずに太陽電池基板ホルダ6を搬送経路の大部分において基板9の表面9aに沿った方向に搬送する。具体的には、搬送機構30は、第1搬送機構31、第2搬送機構32、及び第3搬送機構33を有する。
The
第1搬送機構31は、基板9の表面9a(図3参照)に沿って搬送可能な機構である。例えば、第1搬送機構31は、基板9の表面9aに沿って太陽電池基板ホルダ6をロード室1から、第1成膜室21、第2成膜室22、及び移動室3へ順次に搬送していく。例えば、第1搬送機構31は、固定子31a、移動子31b、及び保持部31cを有する(図5(a)参照)。固定子31aは、基板9の表面9aに沿った方向に延びている。移動子31bは、固定子31aの長手方向に沿って移動可能に構成されている。例えば、固定子31a及び移動子31bは、一方が永久磁石を有し他方が電磁石を有するようなリニアモータを構成していてもよい。保持部31cは、移動子31bに結合されており太陽電池基板ホルダ6を保持しながら移動子31bとともに移動する。保持部31cは、例えば、太陽電池基板ホルダ6の4側面6a〜6dのうち製造装置100の長手方向に沿った側の側面6a,6b近傍を保持しても良い(図2、図5(a)参照)。
The
第2搬送機構32は、基板9の表面9a(図3参照)に交差する方向(例えば、略垂直な方向)に沿って搬送可能な機構である。例えば、第2搬送機構32は、移動室3内で太陽電池基板ホルダ6を第2成膜室22のアノード電極8に対応した位置から第3成膜室23のアノード電極8に対応した位置へ移動させる。例えば、第2搬送機構32は、固定子32a、移動子32b、及び保持部32cを有する(図5(b)参照)。固定子32aは、基板9の表面9aに交差する方向(例えば、略垂直な方向)に延びている。固定子32aは、例えば、太陽電池基板ホルダ6に関して固定子31aの反対側に配されている。移動子32bは、固定子32aの長手方向に沿って移動可能に構成されている。例えば、固定子32a及び移動子32bは、一方が永久磁石を有し他方が電磁石を有するようなリニアモータを構成していてもよい。保持部32cは、移動子32bに結合されており太陽電池基板ホルダ6を保持しながら移動子32bとともに移動する。保持部32cは、例えば、太陽電池基板ホルダ6の4側面6a〜6dのうち製造装置100の長手方向に交差する側の側面6c近傍を保持しても良い(図2、図5(b)参照)。
The
第3搬送機構33は、基板9の表面9a(図3参照)に沿って搬送可能な機構である。例えば、第3搬送機構33は、基板9の表面9aに沿って太陽電池基板ホルダ6を移動室3から、第3成膜室23、第4成膜室24、アンロード室4へ順次に搬送していく。例えば、第3搬送機構33は、固定子33a、移動子33b、及び保持部33cを有する(図5(c)参照)。固定子33aは、基板9の表面9aに沿った方向に延びている。移動子33bは、固定子33aの長手方向に沿って移動可能に構成されている。例えば、固定子33a及び移動子33bは、一方が永久磁石を有し他方が電磁石を有するようなリニアモータを構成していてもよい。保持部33cは、移動子33bに結合されており太陽電池基板ホルダ6を保持しながら移動子33bとともに移動する。保持部33cは、例えば、太陽電池基板ホルダ6の4側面6a〜6dのうち進行方向に沿った側の側面6a,6b近傍を保持しても良い(図2、図5(c)参照)。
The
このように、搬送機構30は、第1成膜室21から第4成膜室24へ大気開放せずに太陽電池基板ホルダ6を搬送経路の大部分において基板9の表面9aに沿った方向に搬送するので、太陽電池基板ホルダ6を大きく反転させることなく、基板9の両面(表面9a及び裏面9b)に成膜することが可能になる。これにより、太陽電池基板ホルダ6を反転させるための工程(回転させるための大気開放や真空引きの工程など)が不要であり、かつ反転を行う場合に比べて移動室3の大きさを小さくすることができる。例えば、移動室3の大きさは、第2搬送機構32による横方向(基板9の表面9aに略垂直な方向)の移動に対して最小限にとどめることができる。
In this way, the
次に、太陽電池基板ホルダ6の構成について図2及び図3を用いて説明する。図2は、太陽電池基板ホルダ6の構成を示す平面図であり、例えば図1中下方から太陽電池基板ホルダ6を見た場合の構成を示す図である。図3は、太陽電池基板ホルダ6の構成を示す断面図であり、図2のA−A線で切った場合の断面を示す図である。
Next, the configuration of the solar
図2に示すように、太陽電池基板ホルダ6には、複数枚の基板9−1〜9−16が載置され、複数枚の基板9−1〜9−16へ同時に成膜することが可能である。各基板9は、例えば、半導体(例えば、シリコン)を主成分とする材料(例えば、結晶)で形成されており、ヘテロ接合太陽電池が形成されるように表面9a及び裏面9bの両方に互いに異なる膜が堆積されるべき基板である。
As shown in FIG. 2, a plurality of substrates 9-1 to 9-16 are placed on the solar
太陽電池基板ホルダ6は、図3に示すように、太陽電池基板トレー61及び太陽電池基板押さえ62を有する。基板9は、その縁部が太陽電池基板トレー61と太陽電池基板押さえ62とに挟み込まれるように固定される。また、太陽電池基板トレー61及び太陽電池基板押さえ62は、ともに開口部61a,62aが設けられており、基板9は表面9a及び裏面9bがそれぞれプラズマに暴露可能なように露出されている。すなわち、太陽電池基板ホルダ6は、複数の基板9−1〜9−16(図2参照)を各基板9における表面9a及び裏面9bの両方(図3参照)が露出されるように保持する。これにより、各基板9における表面9a及び裏面9bの両面に成膜を行うことが可能である。太陽電池基板トレー61、および太陽電池基板押さえ62には、その材料としては表面をアルマイト加工したアルミニウム、アルミナ等のセラミックス系材料、カーボンコンポジット材料等を使用することができる。
As shown in FIG. 3, the solar
次に、各成膜室(第1成膜室21、第2成膜室22、第3成膜室23、第4成膜室24)の構成について図4を用いて説明する。図4は、図1に示す第1成膜室21を右回りに90°回転させた場合の上面図を例示的に示すものである。
Next, the configuration of each film forming chamber (the first
第1成膜室21は、チャンバー壁CHにより囲まれた真空引き可能な空間である。チャンバー壁CHには、排気口CHa及び供給口CHbが形成されている。第1成膜室21内には、アノード電極8とカソード電極7とが、互いに対向するように配置されている。カソード電極7には、例えばシャワー状に複数の開口部7aが設けられている。カソード電極7は、例えば、高周波電源10に電気的に接続されている。アノード電極8は、例えば、グランド電位に電気的に接続されている。
The first
排気口CHaを介して真空ポンプにより第1成膜室21内が真空引きされたあと、図4に示すように、太陽電池基板ホルダ6が第1搬送機構31によりアノード電極8側へ搬入されアノード電極8近傍に配置される。太陽電池基板ホルダ6は、例えば、アノード電極8に接触するように載置される。このとき、太陽電池基板ホルダ6に保持された各基板9における2つの主面(表面9a及び裏面9b)のうち例えば表面9aがカソード電極7側に向いている。そして、アノード電極8とカソード電極7との間の空間SPに、ガス供給源(図示せず)からプロセスガス制御系11を経て供給口CHb及びカソード電極7のシャワー状の開口部7aを介してプロセスガスが供給される。また、高周波電源10より供給される高周波電力(高周波バイアス)がカソード電極7に印加され、カソード電極7とアノード電極8との間の空間SPにプラズマPLが生成される。プラズマPL中で生成される化学活性種が成膜前駆体となり、基板9の主面(この場合は表面9a)で反応し所望の膜が成膜される。なお、太陽電池基板ホルダ6は例えばアノード電極8に接触するように載置された場合、基板9の2つの主面のうちプラズマPLに暴露される主面(この場合は表面9a)にのみ成膜が行われ、アノード電極8と接触する反対側の主面(この場合は裏面9b)には成膜は行われない。また、図示はされないが、アノード電極8はヒータにより加熱され太陽電池基板ホルダ6および基板9の温度を制御する。反応に寄与しないプロセスガスや反応生成物は真空ポンプにより排気口CHaを介して成膜室外へと排出される。
After the inside of the first
なお、第2成膜室22についても太陽電池基板ホルダ6に保持された各基板9における2つの主面(表面9a及び裏面9b)のうち表面9aがカソード電極7側に向いており、各基板9の表面9a側に成膜が行われる点は上記と同様である。それに対して、第3成膜室23及び第4成膜室24については、太陽電池基板ホルダ6に保持された各基板9における2つの主面(表面9a及び裏面9b)のうち裏面9bがカソード電極7側に向いており、各基板9の裏面9b側に成膜が行われる点が上記と異なる。その他の点は、上記と同様である。
In the second
次に、成膜工程について図1及び図5を用いて説明する。図5(a),(b),(c)は、それぞれ図1中下方から第1搬送機構31、第2搬送機構32、及び第3搬送機構33を見た場合の動作を示す図である。
Next, the film forming process will be described with reference to FIGS. FIGS. 5A, 5 </ b> B, and 5 </ b> C are diagrams illustrating operations when the
基板9としてはn型単結晶シリコン基板を用いて、太陽電池基板押さえ62の開口部62a側を太陽電池として作用させる場合に太陽光が入射する側となる受光面(表面9a)とし、太陽電池基板トレー61の開口部61a側を裏面9bとするように、n型単結晶シリコン基板(基板9)を太陽電池基板ホルダ6に設置する。ゲートバルブ5−1を閉じた状態でロード室1へ太陽電池基板ホルダ6を投入し、ロード室1を真空引きする。その後、ゲートバルブ5−1を開いた状態で第1搬送機構31は、太陽電池基板ホルダ6を第1成膜室21へと移動させる。太陽電池基板押さえ62の開口部62a側がプラズマPLに暴露するように太陽電池基板ホルダ6をアノード電極8近傍に配置する。そして、ゲートバルブ5−1,5−2を閉じて第1成膜室21内を真空引きした後、i型非晶質シリコン層を成膜するためプロセスガスとしてシランガスと水素ガスとが第1成膜室21内に導入される。このとき、例えば、プロセスガス制御系11等により、シランガス流量に対する水素ガスの流量を0〜20倍の範囲になるように設定し、圧力が50〜500Paの範囲の一定の値となるように制御し、基板温度は100〜200℃の一定の値となるように制御する。例えば、電力密度1平方cm当たり10〜100mWの高周波電力(高周波バイアス)をカソード電極7及びアノード電極8の間に印加して上記のプロセスガスを放電させる。これにより、例えば膜厚2〜10nmのi型非晶質シリコン層を各基板9の表面9a側に成膜する。
As the
次に、ゲートバルブ5−2を開いた状態で、第1搬送機構31は、太陽電池基板ホルダ6を第2成膜室22へと移動させる。そして、ゲートバルブ5−2,5−3を閉じて第2成膜室22内を真空引きした後、p型非晶質シリコン層を成膜するためプロセスガスとしてシランガス、ジボランガスおよび水素ガスとが第2成膜室22内に導入される。このとき、例えば、プロセスガス制御系11等により、シランガス流量に対するジボランガス流量が0.4〜5.0%になるように、シランガス流量に対する水素ガスの流量を0〜20倍の範囲になるようにそれぞれ設定し、50〜500Paの範囲の一定の値となるように制御し、基板温度は100〜200℃の一定の値となるように制御する。例えば、電力密度1平方cm当たり10〜100mWの高周波電力(高周波バイアス)をカソード電極7及びアノード電極8の間に印加して上記のプロセスガスを放電させる。これにより、例えば膜厚2〜10nmのp型非晶質シリコン層を各基板9の表面9a側に成膜する。
Next, with the gate valve 5-2 opened, the
なお、p型非晶質シリコン層よりもバンドギャップが広く光透過率の高いp型非晶質炭化シリコン層を成膜するためにメタンガスやモノメチルシランガスをプロセスガスとして用いてもよい。 Note that methane gas or monomethylsilane gas may be used as a process gas in order to form a p-type amorphous silicon carbide layer having a wider band gap and higher light transmittance than the p-type amorphous silicon layer.
次に、ゲートバルブ5−3を開いた状態で、第1搬送機構31は、太陽電池基板ホルダ6を移動室3へと移動させる。具体的には、図5(a)に示すように、第1搬送機構31は、各基板9の表面9aに沿って、太陽電池基板ホルダ6を移動させる。すなわち、第1搬送機構31は、太陽電池基板ホルダ6を、第2成膜室22におけるアノード電極8近傍の位置から、移動室3における第2成膜室22のアノード電極8に対応した位置へ移動させる。
Next, the
そして、第2搬送機構32は、図5(b)に示すように、移動室3における第2成膜室22のアノード電極8に対応した位置にある太陽電池基板ホルダ6を保持する。その後、第1搬送機構31は、太陽電池基板ホルダ6の保持を解除する。第2搬送機構32は、太陽電池基板ホルダ6を移動室3内で横方向に移動させる。具体的には、第2搬送機構32は、各基板9の表面9aに略垂直な方向に(例えば、図5(b)紙面に対して手前に近づく方向に)太陽電池基板ホルダ6を移動させる。すなわち、第2搬送機構32は、太陽電池基板ホルダ6を、移動室3における第2成膜室22のアノード電極8に対応した位置から、移動室3における第3成膜室23のアノード電極8に対応した位置へ移動させる。なお、このとき、ゲートバルブ5−3,5−4は、閉じていても良い。
And the
さらに、第3搬送機構33は、図5(c)に示すように、移動室3における第3成膜室23のアノード電極8に対応した位置にある太陽電池基板ホルダ6を保持する。その後、第2搬送機構32は、太陽電池基板ホルダ6の保持を解除する。ゲートバルブ5−4を開いた状態で、第3搬送機構33は、太陽電池基板ホルダ6を第2成膜室23へと移動させる。具体的には、図5(c)に示すように、第3搬送機構33は、各基板9の表面9aに沿って、太陽電池基板ホルダ6を移動させる。すなわち、第3搬送機構33は、太陽電池基板ホルダ6を、移動室3における第3成膜室23のアノード電極8に対応した位置から、第3成膜室23におけるアノード電極8近傍の位置へ移動させる。
Further, as shown in FIG. 5C, the
太陽電池基板ホルダ6は、移動室3内で横方向(各基板9の表面9aに略垂直な方向)に移動したことにより、太陽電池基板トレー61の開口部61a側がプラズマに暴露するように、太陽電池基板ホルダ6はアノード電極8近傍に配置される。そして、ゲートバルブ5−4,5−5を閉じて第3成膜室23内を真空引きした後、i型非晶質シリコン層を成膜するためプロセスガスとしてシランガスと水素ガスとが第3成膜室23内に導入される。このとき、例えば、プロセスガス制御系11等により、シランガス流量に対する水素ガスの流量を0〜20倍の範囲になるように設定し、圧力が50〜500Paの範囲の一定の値となるように制御し、基板温度は100〜200℃の一定の値となるように制御する。例えば、電力密度1平方cm当たり10〜100mWの高周波電力(高周波バイアス)をカソード電極7及びアノード電極8の間に印加して上記のプロセスガスを放電させる。これにより、例えば膜厚2〜10nmのi型非晶質シリコン層を各基板9の裏面9b側に成膜する。
The solar
次に、ゲートバルブ5−5を開いた状態で、第3搬送機構33は、太陽電池基板ホルダ6を第4成膜室24へと移動させる。そして、ゲートバルブ5−5,5−6を閉じて第4成膜室24内を真空引きした後、n型非晶質シリコン層を成膜するためプロセスガスとしてシランガス、ホスフィンガスおよび水素ガスとが第4成膜室24内に導入される。このとき、例えば、プロセスガス制御系11等により、シランガス流量に対するホスフィンガス流量が0.4〜5.0%になるように、シランガス流量に対する水素ガスの流量を0〜20倍の範囲になるようにそれぞれ設定し、圧力が50〜500Paの範囲の一定の値となるように制御し、基板温度は100〜200℃の一定の値となるように制御する。例えば、電力密度1平方cm当たり10〜100mWの高周波電力(高周波バイアス)をカソード電極7及びアノード電極8の間に印加して上記のプロセスガスを放電させる。これにより、例えば膜厚2〜20nmのn型非晶質シリコン層を各基板9の裏面9b側に成膜する。
Next, with the gate valve 5-5 opened, the
第4成膜室24での成膜が終了した後、ゲートバルブ5−6を開いた状態で、第3搬送機構33は、太陽電池基板ホルダ6をアンロード室4へ移動させる。そして、ゲートバルブ5−6を閉じた状態で、アンロード室4が大気解放された後に、太陽電池基板ホルダ6は取り出される。このようしてn型単結晶シリコン基板の受光面側にはi型非晶質シリコン層とp型非晶質シリコン層との積層体が裏面側にはi型非晶質シリコン層とn型非晶質シリコン層との積層体がそれぞれ形成される。
After the film formation in the fourth
以上により対向するカソード電極7とアノード電極8との間に印加される高周波電界により生成されたプラズマを用いた容量結合型プラズマCVD方式の成膜装置において、基板9あるいは太陽電池基板ホルダ6を装置外に取り出したり、あるいは基板9あるいは太陽電池基板ホルダ6を反転させる機構を必要とせず、連続的に基板9両面にヘテロ接合太陽電池を構成する非晶質シリコン層を成膜することができる。
In the capacitively coupled plasma CVD film forming apparatus using plasma generated by the high-frequency electric field applied between the
容量結合型プラズマCVD法は、誘導結合型プラズマCVD法に比べて、プラズマ中での電離が穏やかなため、シランガス等の反応生成種を過剰に分解する傾向が弱いので、ヘテロ接合型太陽電池に適した、膜中欠陥が少ない高品質の非晶質膜シリコン層を成膜する点で有利である。 The capacitively coupled plasma CVD method has a milder ionization in the plasma than the inductively coupled plasma CVD method, so it is less prone to excessive decomposition of reaction product species such as silane gas. It is advantageous in that a suitable high quality amorphous silicon layer with few defects in the film is formed.
なお、本実施の形態においては各層を独立した成膜室にて成膜を行っているが、同一成膜室内で連続する膜の成膜を行ってもよく、例えば第1成膜室21においてi型非晶質シリコン層とp型非晶質シリコン層とを連続して成膜を行うことで、第2成膜室22を省略してもよい。また受光面側と裏面側の成膜順序を逆にしてもよい。さらにロード室1と第1成膜室21との間に予備加熱室を設けてもよい。
In the present embodiment, each layer is formed in an independent film formation chamber, but a continuous film may be formed in the same film formation chamber. For example, in the first
また、太陽電池用結晶基板としてp型単結晶シリコン基板、n型多結晶シリコン基板、p型多結晶シリコン基板を用いてもよい。 Further, a p-type single crystal silicon substrate, an n-type polycrystalline silicon substrate, or a p-type polycrystalline silicon substrate may be used as the solar cell crystal substrate.
以上のように、実施の形態1では、太陽電池基板ホルダ6が、複数の基板9−1〜9−16(図2参照)を各基板9における表面9a及び裏面9bの両方(図3参照)が露出されるように平面的に保持する。そして、搬送機構30は、第1成膜室21から第4成膜室24へ大気開放せずに太陽電池基板ホルダ6を搬送経路の大部分において基板9の表面9aに沿った方向に搬送する。これにより、太陽電池基板ホルダ6を大きく反転させることなく、基板9の両面(表面9a及び裏面9b)に成膜することが可能になるので、太陽電池基板ホルダ6を反転させるための工程(回転させるための大気開放や真空引きの工程など)が不要であり、かつ反転を行う場合に比べて移動室3の大きさを小さくすることができる。したがって、製造工程を短縮できるとともに製造装置の大型化を抑制できるので、ヘテロ接合太陽電池の製造コストを低減できる。
As described above, in the first embodiment, the solar
また、実施の形態1では、第1成膜室21及び第2成膜室22のそれぞれにおけるカソード電極7とアノード電極8との位置関係は、第3成膜室23及び第4成膜室24のそれぞれにおけるカソード電極7とアノード電極8との位置関係と逆になっている。これにより、基板9を反転させること無く、搬送機構30が太陽電池基板ホルダ6を第1成膜室21、第2成膜室22、第3成膜室23、及び第4成膜室24へ順次に搬送することにより、各基板9における表面9a及び裏面9bの両面への成膜が可能になる。これにより、太陽電池基板ホルダ6を反転させるための工程(回転させるための大気開放や真空引きの工程など)が不要であり、かつ反転を行う場合に比べて移動室3の大きさを小さくすることができる。例えば、移動室3の大きさは、第2搬送機構32による横方向(基板9の表面9aに略垂直な方向)の移動に対して最小限にとどめることができる。したがって、製造工程を短縮できるとともに製造装置の大型化を抑制できるので、ヘテロ接合結晶太陽電池の製造コストを低減することができる。
In the first embodiment, the positional relationship between the
また、実施の形態1では、搬送機構30において、第1搬送機構31が、基板9の表面9aに沿って太陽電池基板ホルダ6をロード室1から、第1成膜室21、第2成膜室22、及び移動室3へ順次に搬送していく。第2搬送機構32は、移動室3内で太陽電池基板ホルダ6を第2成膜室22のアノード電極8に対応した位置から第3成膜室23のアノード電極8に対応した位置へ移動させる。第3搬送機構33は、基板9の表面9aに沿って太陽電池基板ホルダ6を移動室3から、第3成膜室23、第4成膜室24、アンロード室4へ順次に搬送していく。これにより、基板9を反転させること無く基板9における表面9a及び裏面9bの両面への成膜を行うことのできる装置を簡易な構成で実現できる。
In the first embodiment, in the
また、実施の形態1では、第1搬送機構31が、例えば、太陽電池基板ホルダ6の4側面6a〜6dのうち製造装置100の長手方向に沿った側の側面6a,6b近傍を保持し、第2搬送機構32が、例えば、太陽電池基板ホルダ6の4側面6a〜6dのうち製造装置100の長手方向に交差する側の側面6c近傍を保持し、第3搬送機構33が、例えば、太陽電池基板ホルダ6の4側面6a〜6dのうち進行方向に沿った側の側面6a,6b近傍を保持する。すなわち、第1搬送機構31と第2搬送機構32とが太陽電池基板ホルダ6の4側面6a〜6dのうち異なる側面近傍を保持するとともに、第2搬送機構32と第3搬送機構33とが太陽電池基板ホルダ6の4側面6a〜6dのうち異なる側面近傍を保持する。これにより、第1搬送機構31と第2搬送機構32との太陽電池基板ホルダ6の受け渡しをスムーズに行うことができるとともに受け渡しのためのスペースをコンパクトなものに抑えることができる。また、第2搬送機構32と第3搬送機構33との太陽電池基板ホルダ6の受け渡しをスムーズに行うことができるとともに受け渡しのためのスペースをコンパクトなものに抑えることができる。
Moreover, in Embodiment 1, the
また、実施の形態1では、移動室3は、基板9の表面9aに沿った方向に、第1成膜室21及び第2成膜室22と第3成膜室23及び第4成膜室24とを連結する。これにより、搬送機構30の第2搬送機構32が、移動室3内で太陽電池基板ホルダ6を第2成膜室22のアノード電極8に対応した位置から第3成膜室23のアノード電極8に対応した位置へ移動させる際のストロークを短く抑えることが容易である。
Further, in the first embodiment, the moving
実施の形態2.
次に、実施の形態2にかかる太陽電池の製造装置200について図6及び図7を用いて説明する。図6及び図7は、太陽電池の製造装置200の構成及び動作の一例を模式的に示す上面図である。以下では、実施の形態1と異なる部分を中心に説明する。
Embodiment 2. FIG.
Next, the solar
実施の形態2にかかる太陽電池の製造装置200は、例えば、複数の成膜室が複数のゲートバルブを介して直列に接続された系列L1,L2が2列並列に並べられたインライン型CVD装置である。系列L1では、ロード室201−1、第1成膜室221−1、第2成膜室222−1、第3成膜室223−1、第4成膜室224−1、アンロード室204−1が複数のゲートバルブ5−11〜5−16を介して直列に接続されている。同様に、系列L2では、ロード室201−2、第1成膜室221−2、第2成膜室222−2、第3成膜室223−2、第4成膜室224−2、アンロード室204−2が複数のゲートバルブ5−21〜5−26を介して直列に接続されている。
The solar
第2成膜室222−1,222−2と第3成膜室223−1,223−2との間に両列共通の移動室203がゲートバルブ5−13,5−23,5−14,5−24を介して接続されている。移動室203は、基板9の表面9aと交差する方向に、系列L1の第2成膜室222−1と系列L2の第3成膜室223−2とを連結している。また、移動室203は、基板9の表面9aと反対側に交差する方向に、系列L2の第2成膜室222−2と系列L1の第3成膜室223−1とを連結している。
Between the second film formation chambers 222-1 and 222-2 and the third film formation chambers 223-1 and 223-2, there is a
搬送機構230は、第1搬送機構231、第2搬送機構232、第3搬送機構233、第4搬送機構234、及び第5搬送機構235を有する。
The
図6に示すように、第1搬送機構231は、基板9の表面9aに沿って太陽電池基板ホルダ6−1を系列L1におけるロード室201−1から、第1成膜室221−1、第2成膜室222−1、及び移動室203へ順次に搬送していく。第2搬送機構232は、移動室203内で太陽電池基板ホルダ6−1を系列L1の第2成膜室222−1のアノード電極8に対応した位置から系列L2の第3成膜室223−2のアノード電極8に対応した位置へ平行に移動させる。第3搬送機構233は、基板9の表面9aに沿って太陽電池基板ホルダ6−1を移動室203から、系列L2における第3成膜室223−2、第4成膜室224−2、アンロード室204−2へ順次に搬送していく。
As shown in FIG. 6, the
このとき、系列L1の第1成膜室221−1及び第2成膜室222−1のそれぞれにおけるカソード電極7及びアノード電極8の位置関係は、系列L2の第3成膜室223−2、第4成膜室224−2のそれぞれにおけるカソード電極7及びアノード電極8の位置関係と逆になっている。
At this time, the positional relationship between the
また、図7に示すように、第4搬送機構234は、基板9の表面9aに沿って太陽電池基板ホルダ6−2を系列L2におけるロード室201−2から、第1成膜室221−2、第2成膜室222−2、及び移動室203へ順次に搬送していく。第2搬送機構232は、移動室203内で太陽電池基板ホルダ6−2を系列L2の第2成膜室222−2のアノード電極8に対応した位置から系列L1の第3成膜室223−1のアノード電極8に対応した位置へ平行に移動させる。第5搬送機構235は、基板9の表面9aに沿って太陽電池基板ホルダ6−2を移動室203から、系列L1における第3成膜室223−1、第4成膜室224−1、アンロード室204−1へ順次に搬送していく。
7, the
このとき、系列L2の第1成膜室221−2及び第2成膜室222−2のそれぞれにおけるカソード電極7及びアノード電極8の位置関係は、系列L1の第3成膜室223−1、第4成膜室224−1のそれぞれにおけるカソード電極7及びアノード電極8の位置関係と逆になっている。
At this time, the positional relationship between the
これにより、実施の形態1とは異なり、各系列L1,L2において、成膜室内のカソード電極7とアノード電極8との位置関係は移動室203を挟んで反転させなくとも、基板9の両面それぞれに成膜することが可能となるので、全ての成膜室においてカソード電極7を製造装置200の内側に、アノード電極8をカソード電極7より製造装置200の外側になるように配置している。すなわち、系列L1における各成膜室のカソード電極7が系列L2側に配され、系列L2における各成膜室のカソード電極7が系列L1側に配されている。
Thus, unlike the first embodiment, in each of the series L1 and L2, the positional relationship between the
このとき、図8に示すように、系列L1と系列L2とで対応する成膜室(例えば、第1成膜室221−1及び第1成膜室221−2)におけるカソード電極7を製造装置200の内側にしたことでプロセスガス制御系211等や高周波電源等の設備を製造装置200の内側に集約して配置することができ、製造装置200を小型化させることができる。また、高周波電源やプロセスガス系統が接続されておらず、その構造が単純なアノード電極8をカソード電極7より外側に配置できたことで、成膜室を大気開放し清掃等する際のメンテナンス作業が容易となる。
At this time, as shown in FIG. 8, the
このように、実施の形態2では、単純な構造で基板を反転させる工程なしに基板両面への連続的な成膜が可能で、かつ成膜室を並列に配置することにより処理能力が増大し、製造コストを低減することができる。 As described above, in the second embodiment, it is possible to perform continuous film formation on both surfaces of the substrate without a process of inverting the substrate with a simple structure, and the throughput is increased by arranging the film formation chambers in parallel. The manufacturing cost can be reduced.
実施の形態3.
次に、実施の形態3にかかる太陽電池の製造装置について説明する。以下では、実施の形態1及び実施の形態2と異なる部分を中心に説明する。
Next, a solar cell manufacturing apparatus according to
実施の形態1及び実施の形態2では、太陽電池基板ホルダ6における開口部61a,62aの形状について具体的に限定していないが、実施の形態3では、太陽電池基板ホルダ306が開口部61a,62aの形状に以下のような工夫を加える。
In Embodiment 1 and Embodiment 2, the shape of the
太陽電池基板ホルダ306は、例えば、図9〜図13に示すような構成を有する。
For example, the solar
図9は、太陽電池基板トレー61が準備され、基板9及び太陽電池基板押さえ362がまだ載置されていない状態における太陽電池基板ホルダ306の構成を示す平面図である。太陽電池基板トレー61上には、図2のように、複数の基板9−1〜9−16がマトリクス状に配置されるが、そのうち図9は、1つの基板9に対応した部分を示している。図10は、図9に示す太陽電池基板トレー61をB−B線に沿って切った場合の断面を示す図である。図10に示すように、太陽電池基板トレー61における開口部61aの周縁部61a1近傍には、額縁状にザグリ部61bが形成されている。
FIG. 9 is a plan view showing the configuration of the solar
図11は、太陽電池基板トレー61上に基板9を載置し、さらに太陽電池基板押さえ362を載置して基板9を固定した状態における太陽電池基板ホルダ306の構成を示す平面図である。図11は、図9に対応した平面図であり、1つの基板9に対応した部分を示している。図12は、図9に示す太陽電池基板押さえ362及び太陽電池基板トレー61をC−C線に沿って切った場合の断面を示す図であり、図13は、図9に示す太陽電池基板押さえ362及び太陽電池基板トレー61をD−D線に沿って切った場合の断面を示す図である。
FIG. 11 is a plan view showing the configuration of the solar
図12に示されるように、太陽電池基板押さえ362の開口部362aのC−C線に沿った方向の幅は基板9よりも狭くなっているため、基板9はC−C線に沿った方向と直交する一対の辺縁部で太陽電池基板トレー61と太陽電池基板押さえ362に挟まれて固定されている。一方、図13に示されるように、D−D線に沿った方向の太陽電池基板押さえ362の開口部362aの幅は基板9と同じか0.5〜2.0mm程度広くなっているため、基板9の表面9aは全幅にわたってプラズマに暴露されるようになっている。
As FIG. 12 shows, since the width | variety of the direction along the CC line of the
この状態で実施の形態1と同じく、第1成膜室21、第2成膜室22において基板9の表面9aに成膜がなされ、次に第3成膜室23、第4成膜室24において基板9の裏面9bに成膜がなされる(図1参照)。図14に成膜後の基板9のD−D断面を示す。基板9の表面9aにはi型非晶質シリコン層14とp型非晶質シリコン層15とが順に積層されて成膜されており、基板9の裏面9bにはi型非晶質シリコン層14とn型非晶質シリコン層16とが順に積層されて成膜されている。
In this state, as in the first embodiment, film formation is performed on the
図14に示されるように、表面9aには基板9の略全幅にわたって成膜がなされているが、裏面9bの辺縁部9b1には、太陽電池基板押さえ362によって被覆されて成膜されない領域が存在する。このため、基板9の端面近傍に至るまで表面9aに成膜されたp型非晶質シリコン層15と、裏面9bに成膜されたn型非晶質シリコン層16とが接触することはなく、これにより端面部での漏れ電流を抑制することができる。また基板9の表面9aにおける略全幅にi型非晶質シリコン層14とp型非晶質シリコン層15とが積層されており、n型のシリコン基板とでp−i−n型のダイオード構造が形成されているため、裏面9bにi型非晶質シリコン層14とn型非晶質シリコン層16とが成膜されていない辺縁部も太陽電池として機能し、太陽電池としての有効面積を広く確保できるので、セル変換効率を向上させることができる。例えば、裏面9bの辺縁部9b1の非成膜領域の幅は0.5〜5mmとすることが望ましい。
As shown in FIG. 14, the film is formed on the
以上のように、実施の形態3では、基板9の表面9a(受光面)の成膜の際に、基板9の表面9aに沿った第1の方向(C−C線に沿った方向)における太陽電池基板ホルダ306の開口部362aの幅を基板9の幅より狭くし、基板9の表面9aに沿った第2の方向(D−D線に沿った方向)における太陽電池基板ホルダ306の開口部362aの幅を基板9の幅と同等もしくは基板9より広くする。これにより、太陽電池基板ホルダ306が基板9を保持しながら、成膜面積を広く確保できる。その結果、太陽電池としての有効面積を広く確保できるので、セル変換効率を向上させることができる。
As described above, in the third embodiment, when the
なお、太陽電池基板ホルダ306iにおける太陽電池基板押さえ362iの開口部362aiの形状を図15に示すようにして、基板9の角部のみで固定するようにしてもよい。すなわち、開口部362aiは、基板9の輪郭辺に対応して延びた主要辺部362ai1と、隣接する2つの主要辺部362ai1をつなぐとともに基板9の角部近傍で基板9の輪郭辺に交差するように延びた傾斜辺部362ai2とを有する。この場合、太陽電池基板押さえ362iに被覆される表面9aの非成膜領域の面積をさらに小さくすることができ、セル変換効率をさらに向上させることができる。
Note that the shape of the opening 362ai of the solar
あるいは、図16に示すように太陽電池基板ホルダ306jにおける太陽電池基板押さえ362jの開口部362ajをツメ状の突起を設けた形状としてもよい。すなわち、開口部362ajは、基板9の輪郭辺に対応して延びた主要辺部362aj1と、主要辺部362aj1から開口部362ajの内側へ突出した突起362aj2とを有する。この場合、太陽電池基板押さえ362iに被覆される表面9aの非成膜領域の面積をさらに小さくすることができ、セル変換効率をさらに向上させることができる。
Alternatively, as shown in FIG. 16, the opening 362aj of the solar
あるいは、図17に示すように太陽電池基板ホルダ306kにおける太陽電池基板押さえ362kの開口部362akをはしご状の形状として、基板9を固定してもよい。すなわち、開口部362akは、基板9の輪郭辺に対応して延びた主要辺部362ak1と、対向する2つの主要辺部362ak1をつなぐはしご部36ak2とを有する。この場合、はしご部36ak2を基板9に形成されるべき集電電極17に対応するように設けてもよい。例えば、図18及び図19に示すように基板9の表面9aにおけるはしご部36ak2(図17参照)に被覆される領域(非成膜領域19)に集電電極17を形成する。図18は、集電電極17が形成された状態の基板9を表面9a側から見た平面図であり、図19は、図18の基板9をE−E線に沿って切った場合の断面を示す図である。図19に示すように、基板9の表面9a側のi型非晶質シリコン層14とp型非晶質シリコン層15とが成膜されない非成膜領域19の上方に集電電極17が形成される。すなわち、太陽電池としてほとんど機能しない非成膜領域19下の基板部は集電電極17の影部となるため、太陽光がほとんど入射しないため太陽電池としての有効面積が減少することがない。言い換えると、太陽電池としての有効面積を確保できるとともに、i型非晶質シリコン層14及びp型非晶質シリコン層15の成膜に用いる材料を節約することができる。
Alternatively, as shown in FIG. 17, the
なお、i型非晶質シリコン層14とp型非晶質シリコン層15の上には酸化インジウムスズ(ITO)や酸化亜鉛(ZnO2)等の酸化物導電体からなる透明導電層18が形成されるため、基板9で生成された電荷は透明導電層18を介して集電電極17へと輸送されるため、非成膜領域19と集電電極17とが接していても、接続抵抗の増大により太陽電池の変換効率は低下することはない。
A transparent
また、基板9の端面部でp型非晶質シリコン層15とn型非晶質シリコン層16とが接触しなければ漏れ電流は発生しないので、基板9の裏面9bの全周に非成膜領域を設ける必要は必ずしもない。例えば、図20に示すように太陽電池基板ホルダ306pにおける太陽電池基板トレー361pのザグリ部361bpを、G−G線と直交する一対の辺縁部に設け、F−F線と直交する一対の辺縁部に設けないように構成し、図21に示すように太陽電池基板ホルダ306pにおける太陽電池基板押さえ362の開口部362apを、H−H方向の幅が基板9よりも狭くなりI−I方向の幅が基板9と同様もしくは基板9より広くなるように構成してもよい。図20は、太陽電池基板トレー361pが準備され、基板9及び太陽電池基板押さえ362pがまだ載置されていない状態における太陽電池基板ホルダ306pの構成を示す平面図である。図21は、太陽電池基板トレー61上に基板9を載置し、さらに太陽電池基板押さえ362pを載置して基板9を固定した状態における太陽電池基板ホルダ306pの構成を示す平面図である。
Further, since no leakage current is generated unless the p-type
この場合、図21に示す太陽電池基板押さえ362p及び太陽電池基板トレー361pをH−H線に沿って切った場合の断面を示す図は、図22のようになり、図21に示す太陽電池基板押さえ362p及び太陽電池基板トレー361pをI−I線に沿って切った場合の断面を示す図は、図23のようになる。図22及び図23に示されるように、基板9の表面9aはH−H線と直交する一対の辺縁部で太陽電池基板押さえ362pと接し、基板9の裏面9bはI−I線と直交する一対の辺縁部で太陽電池基板トレー361pと接するかたちで基板9が固定されるので、基板9の表面9aに垂直な方向から透視した場合に、基板9の表面9aにおける非成膜領域と基板9の裏面9bにおける非成膜領域とが互いに相補的に基板9の周縁を囲むように延びている。これにより、端面部でp型非晶質シリコン層15とn型非晶質シリコン層16とが接触しにくくなっている。
In this case, a diagram showing a cross section when the solar
実施の形態4.
次に、実施の形態4にかかる太陽電池の製造装置について図24を用いて説明する。図24は、実施の形態4にかかる太陽電池の製造装置を構成する成膜室の一部断面図である。以下では、実施の形態1及び実施の形態2と異なる点を中心に説明する。
Next, a solar cell manufacturing apparatus according to
実施の形態1及び実施の形態2では、アノード電極8がヒータにより加熱されることで基板9の温度を制御するが、実施の形態4では、所定の温度を有するプロセスガスを基板9の非成膜面側へ供給することで基板9の温度を制御する。
In the first and second embodiments, the
具体的には、各成膜室(第1成膜室21、第2成膜室22、第3成膜室23、第4成膜室24)は、プロセスガス制御系(第1のプロセスガス制御系)11に加えて、プロセス制御系(第2のプロセスガス制御系)412、プロセス制御系(第3のプロセスガス制御系)413及び切り替え部414を有する。プロセスガス制御系11は、実施の形態1と同様に、カソード電極7の開口部7aを介して成膜室にプロセスガス(第1のガス又は第2のガス)を供給する。
Specifically, each film formation chamber (the first
一方、プロセス制御系412は、アノード電極8の開口部8aを介してプロセスガス(第3のガス)を供給する。プロセス制御系413は、アノード電極8の開口部8bを介してプロセスガス(第4のガス)を供給する。プロセスガス制御系412および413から供給されるプロセスガスには、例えば、シランガス等のシリコンを含有するガスやPH3、B2H6ガス等のリン(P)ホウ素(B)といったドーパントとなる元素を含有するガスは含まず、水素、二酸化炭素、希ガス等の単独、あるいはそれらの組み合わせからなるガスを用いる。すなわち、プロセスガス制御系412および413から供給されるプロセスガスには、膜を形成することができないガス種のいずれかの単独ガス、あるいはそれらの混合ガスが用いられる。これらプロセスガスは、基板9の非成膜面側から、太陽電池基板トレー61、太陽電池基板押さえ62、基板9の空隙部を通して成膜室内部へ供給されるため、これにより成膜室で生成されるSiHxラジカル等の成膜反応種やPH3やB2H6といったドーパントガスの非成膜面側への回り込みを抑制することができる。
On the other hand, the
また、プロセスガス制御系412および413から供給されるプロセスガスは、互いに温度が異なるものが用いられる。例えば、プロセスガス制御系412から供給されるプロセスガスの温度は、プロセスガス制御系413から供給されるプロセスガスの温度より低い。
In addition, the process gases supplied from the process
そして、切り替え部414は、制御すべき基板9の温度に応じて、第2のプロセスガス制御系412及び第3のプロセスガス制御系413のいずれか一方が動作するよう切り替える。例えば、切り替え部414は、制御すべき基板9の温度がプロセスガス制御系412から供給されるプロセスガスの温度に近い場合、第2のプロセスガス制御系412が動作するよう切り替え、制御すべき基板9の温度がプロセスガス制御系413から供給されるプロセスガスの温度に近い場合、第3のプロセスガス制御系413が動作するよう切り替える。
Then, the
次に、成膜手順について説明する。まず、プロセスガス制御系412より低温の水素ガスを供給し、基板9の温度を100〜150℃の範囲になるように制御する。この状態で、カソード電極7を介してプロセスガス制御系11からシランと水素の混合ガスを供給する。プロセスガス制御系11および412から供給される水素ガスの総量はシランガス流量の1〜20倍の範囲となるように設定する。そして、カソード電極7に高周波電力を供給することでプロセスガスを放電させ、i型非晶質シリコン層の成膜を開始する。そして、成膜途中にプロセスガス制御系を412から413に切り替えて、基板9の非成膜面側により高温の水素ガスを供給することで、基板9の温度を150〜200℃の範囲に加熱してi型非晶質シリコン層の成膜を継続して行い、総膜厚2〜10nmのi型非晶質シリコン層を成膜する。
Next, a film forming procedure will be described. First, low temperature hydrogen gas is supplied from the process
これによりエピタキシャル成長する傾向の強いシリコン基板界面部では比較的低温で成膜を行うことにより、エピタキシャル成長が十分に抑制されたi型非晶質シリコン層を成膜し、直後に成膜温度を高めることでより膜中欠陥の少ない、より高品質のi型非晶質シリコン層の成膜を連続的に行うことができる。なお、ここで高品質のi型非晶質シリコン層とはフーリエ変換赤外線吸収分光(FTIR)法から算出される、膜中の水素原子密度が10〜20%の範囲にあり、SiH結合に対するSiH2結合の比1/10以下であることと定義する。 As a result, an i-type amorphous silicon layer in which epitaxial growth is sufficiently suppressed is formed at a relatively low temperature at the interface portion of the silicon substrate where there is a strong tendency to grow epitaxially, and the film forming temperature is immediately increased. Thus, it is possible to continuously form a higher quality i-type amorphous silicon layer with fewer defects in the film. Here, the high-quality i-type amorphous silicon layer has a hydrogen atom density in the range of 10 to 20% calculated from Fourier transform infrared absorption spectroscopy (FTIR), and SiH2 with respect to SiH bonds. It is defined as a bond ratio of 1/10 or less.
なお、図24には記載されていないが、アノード電極8内にヒータ電極等を備えることにより、アノード電極8自体にも温度制御機構を設けてもよい。
Although not shown in FIG. 24, the
また、成膜中の基板9の非成膜面側に供給されるプロセスガス温度の制御方法については、温度の異なるプロセスガスの供給を切り替える代わりに、図25に示すように、プロセスガスを加熱する加熱機構を設けてその加熱温度を変えることで行ってもよい。すなわち、各成膜室(第1成膜室21、第2成膜室22、第3成膜室23、第4成膜室24)は、プロセスガス制御系412、プロセスガス制御系413、及び切り替え部414に代えて、プロセスガス制御系415iを有していてもよい。プロセスガス制御系415iは、制御系本体415i1及び加熱機構415i2を有する。プロセスガス制御系415iは、制御系本体415i1から加熱機構415i2へプロセスガスを供給させ加熱機構415i2で所定の温度に加熱して、加熱されたプロセスガスを、アノード電極8の開口部8aを介して基板9の非成膜面側から成膜室に供給する。例えば、シリコン基板界面部の成膜時には、加熱機構415i2を停止することで加熱されていない比較的低温のプロセスガスを供給し、エピタキシャル成長が十分に抑制されたi型非晶質シリコン層を成膜した後では、加熱機構415i2を動作させ加熱を行わせることで高温のプロセスガスを供給してシリコン基板の温度を高めることができる。
In addition, regarding the method for controlling the temperature of the process gas supplied to the non-film-forming surface side of the
また、図26に示すように、図24に示す構成に対して、アノード電極8の開口部8cを介して基板9の非成膜面側からプロセスガスを排気させるプロセスガス排気系416jを備えることにより、基板9の非成膜面側に供給されるプロセスガスを循環させる構造としてもよい。この構造を適用することで、基板9の温度を制御するため、非成膜面側に成膜に必要とする以上の大流量のガスを供給することが可能となるので、基板9の温度制御をより容易に行うことができる。
Further, as shown in FIG. 26, a process gas exhaust system 416j for exhausting the process gas from the non-film-forming surface side of the
あるいは、図27に示すように、図25に示す構成に対して、アノード電極8の開口部8cを介して基板9の非成膜面側からプロセスガスを排気させるプロセスガス排気系416jを備えることにより、基板9の非成膜面側に供給されるプロセスガスを循環させる構造としてもよい。この構造を適用することで、基板9の温度を制御するため、非成膜面側に成膜に必要とする以上の大流量のガスを供給することが可能となるので、基板9の温度制御をより容易に行うことができる。
Alternatively, as shown in FIG. 27, a process gas exhaust system 416j for exhausting the process gas from the non-film-forming surface side of the
なお、上記の実施の形態4では、i型非晶質シリコン層の成膜について説明したが、p型およびn型の非晶質シリコン層やp型およびn型の微結晶シリコン層に適用してもよく、例えば成膜中にプロセスガス制御系412から基板9の裏面9bに低温のガスを供給して基板9の温度を低下させ、膜中の水素原子密度を高めることでバンドギャップを制御して電極材料等との接合特性の改善に用いてもよい。
In the fourth embodiment, the film formation of the i-type amorphous silicon layer has been described. However, the present invention is applied to p-type and n-type amorphous silicon layers and p-type and n-type microcrystalline silicon layers. For example, during film formation, a low-temperature gas is supplied from the process
以上のように、本発明にかかる太陽電池の製造装置、及び太陽電池の製造方法は、ヘテロ接合太陽電池の製造に有用である。 As described above, the solar cell manufacturing apparatus and the solar cell manufacturing method according to the present invention are useful for manufacturing a heterojunction solar cell.
1,201−1,201−2 ロード室、 3,203 移動室、 4 アンロード室、 5−1〜5−6,5−11〜5−16,5−21〜5−26 ゲートバルブ、 6,6−1,6−2 太陽電池基板ホルダ、 7 カソード電極、 8 アノード電極、 9 基板、 10 高周波電源、 11,412,413,415i プロセスガス制御系、 14 i型非晶質シリコン層、 15 p型非晶質シリコン層、 16 n型非晶質シリコン層、 17 集電電極、 18 透明導電層、 19 非成膜領域、 21,221−1,221−2 第1成膜室、 22,222−1,222−2 第2成膜室、 23,223−1,223−2 第3成膜室、 24,224−1,224−2 第4成膜室、 30,230 搬送機構、 31,231 第1搬送機構、 32,232 第2搬送機構、 33,233 第3搬送機構、 61 太陽電池基板トレー、 62 太陽電池基板押さえ、 100,200 製造装置、 234 第4搬送機構、 235 第5搬送機構、 414 切り替え部、 415i1 制御系本体、 415i2 加熱機構、 416j 排気系。 1, 201-1, 201-2 load chamber, 3,203 moving chamber, 4 unload chamber, 5-1 to 5-6, 5-11 to 5-16, 5-21 to 5-26 gate valve, 6 , 6-1,6-2 Solar cell substrate holder, 7 cathode electrode, 8 anode electrode, 9 substrate, 10 high frequency power source, 11, 412, 413, 415i process gas control system, 14 i-type amorphous silicon layer, 15 p-type amorphous silicon layer, 16 n-type amorphous silicon layer, 17 collector electrode, 18 transparent conductive layer, 19 non-deposition region, 21221-1, 211-2 first deposition chamber, 22, 222-1, 222-2 second film forming chamber, 23, 223-1, 223-2 third film forming chamber, 24, 224-1, 224-2 fourth film forming chamber, 30, 230 transport mechanism, 31 , 231 First transfer Structure, 32,232 second transport mechanism, 33,233 third transport mechanism, 61 solar cell substrate tray, 62 solar cell substrate holder, 100,200 manufacturing apparatus, 234 fourth transport mechanism, 235 fifth transport mechanism, 414 switching Part, 415i1 control system main body, 415i2 heating mechanism, 416j exhaust system.
Claims (18)
前記基板ホルダがアノード電極側に搬入された際に、前記基板ホルダが前記アノード電極上に接触して、前記第2の主面が発生されるべき放電から隔離され前記第1の主面が前記発生されるべき放電に対して露出するように前記基板ホルダが載置されて、カソード電極及び前記アノード電極の間に高周波電力を印加して第1のガスを放電させることにより前記基板の前記第1の主面に第1の膜を成膜する前成膜室と、
前記基板ホルダがアノード電極側に搬入された際に、前記基板ホルダが前記アノード電極上に接触して、前記第1の主面が発生されるべき放電から隔離され前記第2の主面が前記放電に対して露出するように前記基板ホルダが載置されて、カソード電極及び前記アノード電極の間に高周波電力を印加して第2のガスを放電させることにより前記基板の前記第2の主面に第2の膜を成膜する後成膜室と、
前記前成膜室から前記後成膜室へ大気開放せずに前記基板ホルダを搬送経路の大部分において前記第1の主面に沿った方向に搬送する搬送機構と、
を備えたことを特徴とする太陽電池の製造装置。 A plurality of the first main surface and the second main surface of the substrate having a first main surface and a second main surface opposite to the first main surface are exposed. A substrate holder for holding the substrate planarly;
When the substrate holder is loaded on the anode electrode side, the substrate holder comes into contact with the anode electrode, and the second main surface is isolated from the discharge to be generated, and the first main surface is The substrate holder is placed so as to be exposed to the discharge to be generated, and a high frequency power is applied between the cathode electrode and the anode electrode to discharge the first gas, thereby discharging the first gas on the substrate. A pre-deposition chamber for depositing a first film on one main surface;
When the substrate holder is loaded on the anode electrode side, the substrate holder comes into contact with the anode electrode, and the first main surface is isolated from the discharge to be generated, and the second main surface is The substrate holder is placed so as to be exposed to the discharge, and the second main surface of the substrate is discharged by applying a high frequency power between the cathode electrode and the anode electrode to discharge the second gas. A film formation chamber after forming a second film on
A transport mechanism for transporting the substrate holder in a direction along the first main surface in most of the transport path without opening the atmosphere from the pre-deposition chamber to the post-deposition chamber;
An apparatus for manufacturing a solar cell, comprising:
ことを特徴とする請求項1に記載の太陽電池の製造装置。 The positional relationship between the cathode electrode and the anode electrode in the pre-deposition chamber is opposite to the positional relationship between the cathode electrode and the anode electrode in the post-deposition chamber. Solar cell manufacturing equipment.
ことを特徴とする請求項2に記載の太陽電池の製造装置。 The transfer mechanism moves the substrate holder from the pre-deposition chamber to the transfer chamber connecting the pre-deposition chamber and the post-deposition chamber along the first main surface of the substrate. The substrate holder is moved from the position corresponding to the anode electrode of the pre-deposition chamber to the position corresponding to the anode electrode of the post-deposition chamber in the moving chamber. And moving the substrate holder from the moving chamber to the post-deposition chamber along the first main surface in the direction along the first main surface. The manufacturing apparatus of the solar cell of Claim 2.
ことを特徴とする請求項3に記載の太陽電池の製造装置。 4. The solar cell manufacturing apparatus according to claim 3, wherein the moving chamber connects the front film formation chamber and the rear film formation chamber in a direction along the first main surface of the substrate. .
ことを特徴とする請求項3に記載の太陽電池の製造装置。 The solar cell manufacturing apparatus according to claim 3, wherein the moving chamber connects the front film formation chamber and the rear film formation chamber in a direction intersecting the first main surface of the substrate. .
前記第2の基板ホルダがアノード電極側に搬入された際に、前記基板ホルダが前記アノード電極上に接触して、前記第2の主面が発生されるべき放電から隔離され前記第1の主面が前記発生されるべき放電に対して露出するように前記基板ホルダが載置されて、カソード電極及び前記アノード電極の間に高周波電力を印加して前記第1のガスを放電させることにより前記第2の基板の前記第1の主面に第1の膜を成膜する第2の前成膜室と、
前記第2の基板ホルダがアノード電極側に搬入された際に、前記基板ホルダが前記アノード電極上に接触して、前記第1の主面が発生されるべき放電から隔離され前記第2の主面が前記放電に対して露出するように前記基板ホルダが載置されて、カソード電極及び前記アノード電極の間に高周波電力を印加して前記第2のガスを放電させることにより前記第2の基板の前記第2の主面に第2の膜を成膜する第2の後成膜室と、
前記第2の前成膜室から前記第2の後成膜室へ大気開放せずに前記第2の基板ホルダを搬送経路の大部分において前記第1の主面に沿った方向に搬送する第2の搬送機構と、
をさらに備え、
前記第2の前成膜室における前記カソード電極及び前記アノード電極の位置関係は、前記第2の後成膜室における前記カソード電極及び前記アノード電極の位置関係と逆になっており、
前記移動室は、前記基板の前記第1の主面と交差する方向に前記前成膜室と前記後成膜室とを連結するとともに、前記基板の前記第1の主面と反対側に交差する方向に前記第2の前成膜室と前記第2の後成膜室とを連結する
ことを特徴とする請求項5に記載の太陽電池の製造装置。 Both the first main surface and the second main surface of the second substrate having the first main surface and the second main surface opposite to the first main surface are exposed. A second substrate holder for holding the second substrate;
When the second substrate holder is carried into the anode electrode side, the substrate holder comes into contact with the anode electrode, and the second main surface is isolated from the discharge to be generated, and the first main holder is isolated. The substrate holder is placed so that the surface is exposed to the discharge to be generated, and the first gas is discharged by applying high-frequency power between the cathode electrode and the anode electrode. A second pre-deposition chamber for depositing a first film on the first main surface of the second substrate;
When the second substrate holder is carried into the anode electrode side, the substrate holder comes into contact with the anode electrode, and the first main surface is isolated from the discharge to be generated, and the second main holder is isolated. The substrate holder is placed so that the surface is exposed to the discharge, and the second gas is discharged by applying high-frequency power between the cathode electrode and the anode electrode to discharge the second gas. A second post-deposition chamber for forming a second film on the second main surface of
The second substrate holder is transferred from the second pre-deposition chamber to the second post-deposition chamber in the direction along the first main surface in most of the transfer path without opening to the atmosphere. Two transport mechanisms;
Further comprising
The positional relationship between the cathode electrode and the anode electrode in the second pre-deposition chamber is opposite to the positional relationship between the cathode electrode and the anode electrode in the second post-deposition chamber,
The moving chamber connects the front film formation chamber and the rear film formation chamber in a direction intersecting the first main surface of the substrate and intersects the opposite side of the substrate from the first main surface. The solar cell manufacturing apparatus according to claim 5, wherein the second pre-deposition chamber and the second post-deposition chamber are connected in a direction in which the second pre-deposition chamber is connected.
ことを特徴とする請求項6に記載の太陽電池の製造装置。 The second transport mechanism moves the second substrate holder along the first main surface of the substrate from the second pre-deposition chamber to the transfer chamber along the first main surface. And moving the second substrate holder from the position corresponding to the anode electrode of the second pre-deposition chamber to the position corresponding to the anode electrode of the second post-deposition chamber in the moving chamber. The first main surface is moved in a direction intersecting the first main surface, and the second main body holder is moved from the moving chamber to the second post-deposition chamber along the first main surface of the substrate. It conveys in the direction along the surface. The manufacturing apparatus of the solar cell of Claim 6 characterized by the above-mentioned.
前記基板トレーと前記基板押さえとは、それぞれ基板と接触して挟み込むことによって基板を保持しており、
前記基板と前記基板トレー又は前記基板押さえとの接触部は、前記基板の両面に成膜される半導体層が端面部で前記基板トレー及び前記基板押さえに接触せず、且つ、前記半導体層が選択的にマスクされ形成されない領域が設けられるように、配置される
ことを特徴とする請求項1から7のいずれか1項に記載の太陽電池の製造装置。 The substrate holder has a substrate tray and a substrate holder,
The substrate tray and the substrate press hold the substrate by sandwiching in contact with the substrate, respectively.
The contact portion between the substrate and the substrate tray or the substrate retainer is selected so that the semiconductor layer formed on both surfaces of the substrate does not contact the substrate tray and the substrate retainer at the end surface portion, and the semiconductor layer is selected. The solar cell manufacturing apparatus according to any one of claims 1 to 7, wherein the solar cell manufacturing apparatus is disposed so as to be provided with a region that is masked and not formed.
前記前成膜室及び前記後成膜室のそれぞれに対して、前記アノード電極を介して第3のガスを前記基板の非成膜面側から供給する第2のプロセスガス制御系と、
前記前成膜室及び前記後成膜室のそれぞれに対して、前記アノード電極を介して前記第3のガスと温度の異なる第4のガスを前記基板の非成膜面側から供給する第3のプロセスガス制御系と、
制御すべき前記基板の温度に応じて、前記第2のプロセスガス制御系及び前記第3のプロセスガス制御系のいずれか一方が動作するよう切り替える切り替え部と、
をさらに備えた、
ことを特徴とする請求項1から8のいずれか1項に記載の太陽電池の製造装置。 A first process gas control system for supplying the first gas or the second gas to the pre-deposition chamber and the post-deposition chamber via the cathode electrode;
A second process gas control system for supplying a third gas from the non-film-forming surface side of the substrate to the pre-deposition chamber and the post-deposition chamber via the anode electrode;
A third gas is supplied from the non-film-forming surface side of the substrate to the pre-film formation chamber and the post-film formation chamber through the anode electrode, with a fourth gas having a temperature different from that of the third gas. A process gas control system of
A switching unit configured to switch so that one of the second process gas control system and the third process gas control system operates according to the temperature of the substrate to be controlled;
Further equipped with,
The solar cell manufacturing apparatus according to any one of claims 1 to 8, wherein the apparatus is a solar cell manufacturing apparatus.
ことを特徴とする請求項9に記載の太陽電池の製造装置。 An exhaust system for exhausting the third gas and the fourth gas through the anode electrode;
The solar cell manufacturing apparatus according to claim 9.
加熱機構を有し、前記前成膜室及び前記後成膜室のそれぞれに対して、前記加熱機構により加熱した第3のガスを、前記アノード電極を介して前記基板の非成膜面側から供給する第4のプロセスガス制御系と、
をさらに備えた、
ことを特徴とする請求項1から8のいずれか1項に記載の太陽電池の製造装置。 A first process gas control system for supplying the first gas to the pre-deposition chamber via the cathode electrode and supplying the second gas to the post-deposition chamber via the cathode electrode;
And a third gas heated by the heating mechanism to each of the pre-deposition chamber and the post-deposition chamber from the non-deposition surface side of the substrate via the anode electrode. A fourth process gas control system to supply;
Further equipped with,
The solar cell manufacturing apparatus according to any one of claims 1 to 8, wherein the apparatus is a solar cell manufacturing apparatus.
ことを特徴とする請求項11に記載の太陽電池の製造装置。 An exhaust system for exhausting the third gas and the fourth gas through the anode electrode;
The solar cell manufacturing apparatus according to claim 11.
前記基板と前記基板トレー又は前記基板押さえとの接触部に対応した第1の領域に配された集電電極と、
表面における前記第1の領域を除いて残る第2の領域に配された半導体層と、
を備えたことを特徴とする太陽電池。 A solar cell manufactured using the solar cell manufacturing apparatus according to claim 8,
A collector electrode disposed in a first region corresponding to a contact portion between the substrate and the substrate tray or the substrate holder;
A semiconductor layer disposed in a second region remaining on the surface except for the first region;
A solar cell comprising:
前記基板ホルダを前成膜室におけるアノード電極側に搬入する搬入工程と、
前記基板ホルダが前記アノード電極上に接触して、前記第2の主面が発生されるべき放電から隔離され前記第1の主面が前記発生されるべき放電に対して露出するように前記基板ホルダが載置されて、前記前成膜室内でカソード電極及び前記アノード電極の間に高周波電力を印加して第1のガスを放電させることにより前記搬入された基板の前記第1の主面に第1の膜を成膜する第1の成膜工程と、
大気開放せずに前記基板ホルダを前記前成膜室における前記アノード電極側から後成膜室におけるアノード電極側へ搬送する搬送工程と、
前記基板ホルダが前記アノード電極上に接触して、前記第1の主面が発生されるべき放電から隔離され前記第2の主面が前記放電に対して露出するように前記基板ホルダが載置されて、前記後成膜室内でカソード電極及び前記アノード電極の間にバイアスを印加して第2のガスを放電させることにより前記基板の前記第2の主面に第2の膜を成膜する第2の成膜工程と、
を備え、
前記前成膜室における前記カソード電極及び前記アノード電極の位置関係は、前記後成膜室における前記カソード電極及び前記アノード電極の位置関係と逆になっている
ことを特徴とする太陽電池の製造方法。 A plurality of the first main surface and the second main surface of the substrate having a first main surface and a second main surface opposite to the first main surface are exposed. A solar cell manufacturing method for manufacturing a solar cell including the substrate using a substrate holder that holds the substrate in a plane,
A loading step of loading the substrate holder to the anode electrode side in the pre-deposition chamber;
The substrate is in contact with the anode electrode so that the second main surface is isolated from the discharge to be generated and the first main surface is exposed to the discharge to be generated. A holder is placed on the first main surface of the loaded substrate by applying a high frequency power between the cathode electrode and the anode electrode in the pre-deposition chamber to discharge the first gas. A first film forming step of forming a first film;
A transport step of transporting the substrate holder from the anode electrode side in the pre-deposition chamber to the anode electrode side in the post-deposition chamber without opening to the atmosphere;
The substrate holder is placed so that the substrate holder contacts the anode electrode, and the first main surface is isolated from the discharge to be generated and the second main surface is exposed to the discharge. Then, a second film is formed on the second main surface of the substrate by applying a bias between the cathode electrode and the anode electrode in the post-deposition chamber to discharge the second gas. A second film forming step;
With
The positional relationship between the cathode electrode and the anode electrode in the pre-deposition chamber is opposite to the positional relationship between the cathode electrode and the anode electrode in the post-deposition chamber. .
前記基板の前記第1の主面に沿って前記基板ホルダを前記前成膜室から前記第1の主面に沿った方向に搬出する搬出工程と、
前記搬出工程の後に、前記基板の前記第1の主面に略垂直な方向に沿って前記前成膜室の前記アノード電極に対応した位置から前記後成膜室の前記アノード電極に対応した位置まで前記基板ホルダを移動させる移動工程と、
前記移動工程の後に、前記基板の第1の主面に沿って前記基板ホルダを前記後成膜室へ前記第1の主面に沿った方向に搬入する搬入工程と、
を含む
ことを特徴とする請求項14に記載の太陽電池の製造方法。 The conveying step is
An unloading step of unloading the substrate holder from the pre-deposition chamber in a direction along the first main surface along the first main surface of the substrate;
After the unloading step, a position corresponding to the anode electrode in the post-deposition chamber from a position corresponding to the anode electrode in the pre-deposition chamber along a direction substantially perpendicular to the first main surface of the substrate A moving step of moving the substrate holder to
A carrying-in step of carrying the substrate holder along the first main surface of the substrate into the post-deposition chamber in the direction along the first main surface after the moving step;
The method for manufacturing a solar cell according to claim 14, comprising:
前記基板トレーと前記基板押さえとは、それぞれ基板と接触して挟み込むことによって基板を保持しており、
前記第1の成膜工程又は前記第2の成膜工程は、前記基板と前記基板トレー又は前記基板押さえとの接触部が、前記基板の両面に成膜される半導体層が端面部で前記基板トレー及び前記基板押さえに接触せず、且つ、前記半導体層が選択的にマスクされ形成されない領域が設けられるように、配置された状態で行われる
ことを特徴とする請求項14又は15に記載の太陽電池の製造方法。 The substrate holder has a substrate tray and a substrate holder,
The substrate tray and the substrate press hold the substrate by sandwiching in contact with the substrate, respectively.
In the first film forming step or the second film forming step, a contact portion between the substrate and the substrate tray or the substrate presser is formed, and a semiconductor layer formed on both surfaces of the substrate is an end surface portion. 16. The method according to claim 14, wherein the step is performed so that a region that does not contact the tray and the substrate pressing member and is selectively formed by masking the semiconductor layer is provided. A method for manufacturing a solar cell.
前記第2の成膜工程では、前記カソード電極を介して前記後成膜室に前記第2のガスを供給し、
前記第1の成膜工程及び前記第2の成膜工程のそれぞれでは、
前記アノード電極を介して第3のガスを前記基板の非成膜面側から供給する第1の動作と前記アノード電極を介して前記第3のガスと温度の異なる第4のガスを前記基板の非成膜面側から供給する第2の動作とのいずれか一方を、制御すべき前記基板の温度に応じて切り替えて行う
ことを特徴とする請求項14から16のいずれか1項に記載の太陽電池の製造方法。 In the first film formation step, the first gas is supplied to the pre-film formation chamber through the cathode electrode,
In the second film formation step, the second gas is supplied to the post film formation chamber via the cathode electrode,
In each of the first film forming step and the second film forming step,
A first operation for supplying a third gas from the non-film-forming surface side of the substrate through the anode electrode and a fourth gas having a temperature different from that of the third gas through the anode electrode are supplied to the substrate. 17. The method according to claim 14, wherein either one of the second operation supplied from the non-film-forming surface side is switched according to the temperature of the substrate to be controlled. A method for manufacturing a solar cell.
前記第2の成膜工程では、前記カソード電極を介して前記後成膜室に前記第2のガスを供給し、
前記第1の成膜工程及び前記第2の成膜工程のそれぞれでは、
前記アノード電極を介して第3のガスを加熱機構により加熱して前記基板の非成膜面側から供給する
ことを特徴とする請求項14から16のいずれか1項に記載の太陽電池の製造方法。
In the first film formation step, the first gas is supplied to the pre-film formation chamber through the cathode electrode,
In the second film formation step, the second gas is supplied to the post film formation chamber via the cathode electrode,
In each of the first film forming step and the second film forming step,
The solar cell production according to any one of claims 14 to 16, wherein the third gas is heated by a heating mechanism through the anode electrode and supplied from the non-film-forming surface side of the substrate. Method.
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Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015025510A1 (en) * | 2013-08-21 | 2015-02-26 | 三洋電機株式会社 | Photoelectric conversion element and method for manufacturing photoelectric conversion element |
JP2015142132A (en) * | 2014-01-29 | 2015-08-03 | エルジー エレクトロニクス インコーポレイティド | Solar cell and manufacturing method therefor |
WO2015145944A1 (en) * | 2014-03-25 | 2015-10-01 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Photoelectric conversion element and photoelectric conversion element manufacturing method |
JP2016006223A (en) * | 2014-05-28 | 2016-01-14 | キヤノンアネルバ株式会社 | Substrate processing device |
WO2016052046A1 (en) * | 2014-09-30 | 2016-04-07 | 株式会社カネカ | Solar cell, method for manufacturing same, solar cell module, and method for manufacturing same |
JP2016541101A (en) * | 2013-09-27 | 2016-12-28 | インデオテク・ソシエテ・アノニム | Plasma reaction vessel and assembly and method for performing plasma treatment |
CN110527988A (en) * | 2019-09-23 | 2019-12-03 | 苏州迈正科技有限公司 | Heterojunction solar battery on-line continuous filming equipment and the method for carrying out plated film |
WO2020137582A1 (en) * | 2018-12-26 | 2020-07-02 | 株式会社カネカ | Solar cell manufacturing method and solar cell manufacturing device |
US11133430B2 (en) | 2017-08-09 | 2021-09-28 | Kaneka Corporation | Photoelectric conversion element production method |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6188921B2 (en) * | 2014-03-31 | 2017-08-30 | 国立研究開発法人科学技術振興機構 | Solar cell and method for manufacturing solar cell |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09106952A (en) * | 1995-10-13 | 1997-04-22 | Sanyo Electric Co Ltd | Device and method for forming semiconductor film on substrate |
JP2002217119A (en) * | 2001-01-22 | 2002-08-02 | Anelva Corp | Plasma cvd method and its apparatus |
JP2007277617A (en) * | 2006-04-05 | 2007-10-25 | Ulvac Japan Ltd | Vertical chemical vapor deposition apparatus |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007123032A1 (en) * | 2006-04-19 | 2007-11-01 | Ulvac, Inc. | Vertical substrate conveyance device and film deposition equipment |
DE102008019427A1 (en) * | 2008-04-17 | 2009-10-29 | Von Ardenne Anlagentechnik Gmbh | Method for diffusion treatment of workpiece, involves moving workpiece between sequent diffusion processes by transfer area arranged between reaction chambers |
JP5721132B2 (en) * | 2009-12-10 | 2015-05-20 | オルボテック エルティ ソラー,エルエルシー | Shower head assembly for vacuum processing apparatus and method for fastening shower head assembly for vacuum processing apparatus to vacuum processing chamber |
US20110263065A1 (en) * | 2010-04-22 | 2011-10-27 | Primestar Solar, Inc. | Modular system for high-rate deposition of thin film layers on photovoltaic module substrates |
-
2012
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09106952A (en) * | 1995-10-13 | 1997-04-22 | Sanyo Electric Co Ltd | Device and method for forming semiconductor film on substrate |
JP2002217119A (en) * | 2001-01-22 | 2002-08-02 | Anelva Corp | Plasma cvd method and its apparatus |
JP2007277617A (en) * | 2006-04-05 | 2007-10-25 | Ulvac Japan Ltd | Vertical chemical vapor deposition apparatus |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015025510A1 (en) * | 2013-08-21 | 2015-02-26 | 三洋電機株式会社 | Photoelectric conversion element and method for manufacturing photoelectric conversion element |
JP2016541101A (en) * | 2013-09-27 | 2016-12-28 | インデオテク・ソシエテ・アノニム | Plasma reaction vessel and assembly and method for performing plasma treatment |
JP2015142132A (en) * | 2014-01-29 | 2015-08-03 | エルジー エレクトロニクス インコーポレイティド | Solar cell and manufacturing method therefor |
WO2015145944A1 (en) * | 2014-03-25 | 2015-10-01 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Photoelectric conversion element and photoelectric conversion element manufacturing method |
JP2016006223A (en) * | 2014-05-28 | 2016-01-14 | キヤノンアネルバ株式会社 | Substrate processing device |
WO2016052046A1 (en) * | 2014-09-30 | 2016-04-07 | 株式会社カネカ | Solar cell, method for manufacturing same, solar cell module, and method for manufacturing same |
JPWO2016052046A1 (en) * | 2014-09-30 | 2017-07-20 | 株式会社カネカ | SOLAR CELL AND ITS MANUFACTURING METHOD, SOLAR CELL MODULE AND ITS MANUFACTURING METHOD |
US11133430B2 (en) | 2017-08-09 | 2021-09-28 | Kaneka Corporation | Photoelectric conversion element production method |
WO2020137582A1 (en) * | 2018-12-26 | 2020-07-02 | 株式会社カネカ | Solar cell manufacturing method and solar cell manufacturing device |
JPWO2020137582A1 (en) * | 2018-12-26 | 2021-09-27 | 株式会社カネカ | Solar cell manufacturing method and solar cell manufacturing equipment |
JP7202396B2 (en) | 2018-12-26 | 2023-01-11 | 株式会社カネカ | SOLAR CELL MANUFACTURING METHOD AND SOLAR CELL MANUFACTURING APPARATUS |
CN110527988A (en) * | 2019-09-23 | 2019-12-03 | 苏州迈正科技有限公司 | Heterojunction solar battery on-line continuous filming equipment and the method for carrying out plated film |
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