JP2013077249A - Ic module of ic card, ic card with ic module, and ic module manufacturing method - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an IC module capable of surely preventing a detective IC card and preventing outflow of it to a market, an IC card and an IC card manufacturing method.SOLUTION: The IC module of the IC card comprises: a substrate; multiple external terminals C1 to C8 provided on the substrate for contact communication each having a contract area with which a contact of an external terminal device can contact; multiple through-holes 38 formed on the substrate each of which faces a connection part of each external terminal; and a card control IC 32 mounted on the back face of the substrate and connected to each external terminal through each through-hole by a wiring 40. At least one external terminal has a linkage part 46 which electrically links the contact area and the connection part and which can be cut off by forming an open hole and a separation slit 50 extending from an edge of a side of the external terminal to the linkage part between the contact area and the connection part.

Description

本発明の実施形態は、ICカードのICモジュール、これを備えたICカード、およびICモジュールの製造方法に関する。   Embodiments described herein relate generally to an IC module of an IC card, an IC card including the IC module, and a method of manufacturing the IC module.

一般に、ICカードと呼ばれるものには、ISO/IEC7816に規定される接触式ICカード、ISO/IEC14443に規定される非接触カード(無線カード)、およびその双方の機能を有するデュアルインターフェイスカードがある。   Generally, what is called an IC card includes a contact IC card specified by ISO / IEC7816, a contactless card (wireless card) specified by ISO / IEC14443, and a dual interface card having both functions.

例えば、接触式ICカードは一般的に、内部にICを有するICモジュールをポリ塩化ビニル(PVC)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、紙などのカード基材内に埋め込むことで形成される。ICモジュールは6つないしは8つの外部と通信するための端子を備え、接触端子裏側に配置したICと各端子が、金線などにより電気的に接続され、更に、ICと金線は熱硬化樹脂などで封止されている。それぞれの端子の機能はISO7816にて規定されている。ICモジュールのカードへの埋め込みは、一般的に、接着テープを貼り付けられたICモジュールを、カード基材の定められた位置に設けられたザグリ穴に設置し、加熱圧着することでICモジュールとカード基材との接着が行われる。   For example, a contact IC card is generally formed by embedding an IC module having an IC inside in a card substrate such as polyvinyl chloride (PVC), polyethylene terephthalate (PET), or paper. The IC module has 6 or 8 terminals for communication with the outside, the IC arranged on the back side of the contact terminal and each terminal are electrically connected by a gold wire or the like, and the IC and the gold wire are thermoset. Sealed with resin or the like. The function of each terminal is defined in ISO7816. In general, an IC module is embedded in a card by placing an IC module with an adhesive tape attached in a counterbore hole provided at a predetermined position on a card base and thermocompression bonding. Adhesion with the card substrate is performed.

上述したICモジュールを製造する場合、通常、複数組の端子が設けられたリール形状の端子付き基板を形成し、この基板の端子裏面側に、ICカード用のICを実装する。更に、端子裏面側の端子と電気的に導通しているボンディングホールと、ICのパッドと、をワイヤボンディングなどの手法で電気的に接続した後、ICをモールド樹脂などで封止することにより形成される。   When manufacturing the above-described IC module, a reel-shaped substrate with a terminal provided with a plurality of sets of terminals is usually formed, and an IC for an IC card is mounted on the back side of the substrate. Further, the bonding hole electrically connected to the terminal on the back side of the terminal and the IC pad are electrically connected by a method such as wire bonding, and then the IC is sealed with a mold resin or the like. Is done.

リール内のICモジュールは製造工程で不良があった場合、リールの所定の位置に貫通穴が設けられ、後工程にて、この貫通穴が不良品の識別に用いられる。接触式ICカードは、リール上に形成されたICモジュールを個々に打ち抜いて、カード基材上に切削加工により設けた凹部に接着剤で接着することで形成される。その際、別用の貫通穴を光電センサなどにより検知して、不良ICモジュールはカード基材に埋め込まれないよう処置が取られる。ICモジュールが埋め込まれたICカードは、カード発行工程にてICモジュールに情報が書き込まれた後、市場へと出荷される。   When the IC module in the reel is defective in the manufacturing process, a through hole is provided at a predetermined position of the reel, and this through hole is used for identifying a defective product in a subsequent process. A contact type IC card is formed by individually punching an IC module formed on a reel and bonding the IC module to a recess provided by cutting on a card substrate. At that time, another through hole is detected by a photoelectric sensor or the like, and a measure is taken so that the defective IC module is not embedded in the card substrate. The IC card in which the IC module is embedded is shipped to the market after information is written in the IC module in the card issuing process.

特開2010−86260号公報JP 2010-86260 A

リール上に複数並べて形成されたICモジュールは、その一部に不良品を含んでおり、不良品には、所定の位置に貫通穴が設けられている。ICモジュールをカード基材に埋め込む工程にて、この貫通穴を光電センサなどにより検知することで、不良ICモジュールはカード基材に埋め込まれない。   A plurality of IC modules formed side by side on a reel include defective products, and the defective products are provided with through holes at predetermined positions. In the step of embedding the IC module in the card substrate, the defective IC module is not embedded in the card substrate by detecting this through hole with a photoelectric sensor or the like.

しかし、センサの設定ミスや、不良識別用の貫通穴にゴミが付いてしまうことで、不良品が検知されず、誤ってカード基材に埋め込まれる場合が有る。不良ICモジュールの一部は傷、欠け等の外観不良などによるものであり、カード基材に埋め込まれると正常に動作する場合がある。この場合、ICカードは検査工程を通って、市場へ流出してしまう可能性がある。このことから、不良ICモジュールは間違ってカード基材に埋め込まれた後も動作しないことが望ましい。   However, there is a case where a defective product is not detected and is erroneously embedded in the card base material due to a sensor setting error or dust attached to the through hole for defect identification. Some of the defective IC modules are due to poor appearance such as scratches and chips, and may operate normally when embedded in the card substrate. In this case, the IC card may flow out to the market through the inspection process. For this reason, it is desirable that the defective IC module does not operate even after it is erroneously embedded in the card substrate.

この発明は、上記事情に鑑みなされたもので、その課題は、不良品を確実に検出することができ、不良品の市場流出を防止することが可能なICカードのICモジュール、これを備えたICカード、およびICモジュールの製造方法を提供することにある。   SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and the object thereof is to provide an IC module for an IC card that can reliably detect defective products and prevent the outflow of defective products to the market. An object of the present invention is to provide an IC card and an IC module manufacturing method.

実施形態によれば、ICカードのICモジュールは、基板と、この基板上に設けられ、それぞれ外部端末の接触子が接触可能な接触領域を有する接触通信用の複数の外部端子と、前記基板に形成され、それぞれ前記外部端子の接続部に対向する複数の透孔と、前記基板の裏面に実装され、配線により前記透孔を通して前記外部端子に接続されたカード制御用ICと、を備え、
少なくとも1つの外部端子は、前記接触領域と前記接続部とを電気的に連結しているとともに貫通孔を形成することにより切除可能な連結部と、前記接触領域と前記接続部との間を前記外部端子の一側縁から前記連結部まで延びる分離用スリットと、を有する。
According to the embodiment, an IC module of an IC card includes a substrate, a plurality of external terminals for contact communication provided on the substrate, each having a contact area that can be contacted by a contact of an external terminal, and the substrate. A plurality of through-holes that are formed and opposed to the connection portions of the external terminals, and are mounted on the back surface of the substrate and connected to the external terminals through the through-holes by wiring; and
At least one external terminal electrically connects the contact area and the connection part and forms a through-hole so as to be excised between the contact area and the connection part. A separation slit extending from one side edge of the external terminal to the connecting portion.

図1は、第1の実施形態に係るICカードを示す平面図。FIG. 1 is a plan view showing an IC card according to the first embodiment. 図2は、図1の線A−Aに沿ったICカードの断面図。FIG. 2 is a cross-sectional view of the IC card taken along line AA in FIG. 図3は、前記ICカードのICモジュールを示す平面図。FIG. 3 is a plan view showing an IC module of the IC card. 図4は、前記ICモジュールのカード制御用ICおよび透孔を透視して示すICモジュールの平面図。FIG. 4 is a plan view of the IC module shown through the card control IC and the through hole of the IC module. 図5は、前記ICモジュールの外部端末の接触子と接触可能な接触領域を示すICモジュールの平面図。FIG. 5 is a plan view of the IC module showing a contact area that can contact a contact of an external terminal of the IC module. 図6は、前記ICモジュールの断面図。FIG. 6 is a cross-sectional view of the IC module. 図7は、前記ICモジュールおよびICカードの製造工程を示す平面図。FIG. 7 is a plan view showing manufacturing steps of the IC module and the IC card. 図8は、断線孔が空けられた不良ICモジュールを示す平面図。FIG. 8 is a plan view showing a defective IC module in which a disconnection hole is formed. 図9は、前記不良ICモジュールの断面図。FIG. 9 is a cross-sectional view of the defective IC module. 図10は、第2の実施形態に係るICカードのICモジュールを示す平面図。FIG. 10 is a plan view showing an IC module of an IC card according to a second embodiment.

以下、図面を参照しながら、種々の実施形態について詳細に説明する。
(第1の実施形態)
図1ないし図6は、第1の実施形態に係る接触式のICカードを示している。ICカード10は、矩形板状のカード基材12と、カード基材12に埋め込まれたICモジュール16と、を備えている。
Hereinafter, various embodiments will be described in detail with reference to the drawings.
(First embodiment)
1 to 6 show a contact type IC card according to the first embodiment. The IC card 10 includes a rectangular plate-shaped card base 12 and an IC module 16 embedded in the card base 12.

図1および図2に示すように、カード基材12は、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、PET−G、ポリ塩化ビニル(PVC)、ポリカーボネート(PC)などの材料からなる薄厚のプラスチックシートを複数積層し、熱プレスで接着してISO/IEC7810に規定される厚さ(0.76±0.08mm)のシートを形成した後、このシートを所定サイズのカード形状に打ち抜くことにより、形成される。その他、カード基材12は、カード形状の金型を用いて、合成樹脂により射出成形してもよい。カード基材12の最も外側の面に透明のオーバーコート層をさらに積層してもよい。   As shown in FIGS. 1 and 2, the card substrate 12 includes a plurality of thin plastic sheets made of materials such as polyethylene terephthalate (PET), PET-G, polyvinyl chloride (PVC), and polycarbonate (PC). It is formed by laminating and bonding with a hot press to form a sheet having a thickness (0.76 ± 0.08 mm) defined in ISO / IEC7810, and then punching the sheet into a card shape of a predetermined size. In addition, the card | curd base material 12 may be injection-molded with a synthetic resin using a card-shaped metal mold | die. A transparent overcoat layer may be further laminated on the outermost surface of the card substrate 12.

カード基材12には、ICモジュール16が装着される段付きの凹所20が形成され、カード基材12の表面に開口している。凹所20は、矩形状の大径凹所20aと、大径凹所の中心部に、この大径凹所20aよりも深く形成された矩形状の小径凹所20bとを有し、矩形状の2段凹所に形成されている。   The card base 12 is formed with a stepped recess 20 in which the IC module 16 is mounted, and is open to the surface of the card base 12. The recess 20 has a rectangular large-diameter recess 20a and a rectangular small-diameter recess 20b formed deeper than the large-diameter recess 20a at the center of the large-diameter recess. Are formed in a two-step recess.

図3は、ICモジュールの外部端子を示す平面図、図4は、ICモジュールのカード制御用ICおよび配線用の透孔を示す平面図、図5は、外部端末の接触子が接触する規定端子位置を示す平面図、図6は、ICモジュールの断面図である。図3ないし図6に示すように、ICモジュール16は、絶縁材料で形成された矩形状の基板30と、この基板30の上面上に形成されISO/IEC7816にて規定される接触通信用の外部端子C1、C2、C3、C4、C5、C6、C7、C8と、基板30の裏面に実装されたカード制御用IC32と、を備えている。   FIG. 3 is a plan view showing an external terminal of the IC module, FIG. 4 is a plan view showing an IC module card control IC and a wiring through hole, and FIG. FIG. 6 is a cross-sectional view of the IC module. As shown in FIGS. 3 to 6, the IC module 16 includes a rectangular substrate 30 formed of an insulating material and an external contact communication formed on the upper surface of the substrate 30 and defined by ISO / IEC7816. Terminals C 1, C 2, C 3, C 4, C 5, C 6, C 7, C 8 and a card control IC 32 mounted on the back surface of the substrate 30 are provided.

外部端子C1ないしC8は、互いに0.2mm程度の隙間31をおいて配置され、互いに電気的に絶縁されている。また、外部端子C1ないしC8は、輪郭を形成する外側縁を有し、これら外部端子C1ないしC8全体として、矩形状の輪郭を有している。実施形態において、矩形の角部に位置するC1端子は、例えば、電源として用いられ、他の角部に位置するC5端子は、グランドとして用いられている。C5端子は、外部端子郡の中央部に延出する中央延出部36を有し、この中央延出部の裏面側で基板30に制御用IC32が実装される。他の外部端子、C2、C3、C6ないしC8は、それぞれ別々の機能が割り当てられている。   The external terminals C1 to C8 are arranged with a gap 31 of about 0.2 mm from each other and are electrically insulated from each other. The external terminals C1 to C8 have outer edges that form a contour, and the external terminals C1 to C8 as a whole have a rectangular contour. In the embodiment, the C1 terminal located at the corner of the rectangle is used as a power source, for example, and the C5 terminal located at the other corner is used as the ground. The C5 terminal has a central extension 36 extending to the central portion of the external terminal group, and the control IC 32 is mounted on the substrate 30 on the back side of the central extension. Different functions are assigned to the other external terminals C2, C3, C6 to C8.

図4および図6に示すように、基板30には複数の透孔38が形成され、これらの透孔は、制御用IC32の外周に位置し、それぞれ外部端子C1ないしC8の内側の端部(接続部)、つまり、中央延出部36側の端部、に対向している。基板30に実装された制御用IC32の複数のパッドは、例えば、ワイヤボンディングを用いて、金線等からなるボンディングワイヤ40により、透孔38を通して対応する外部端子の接続部に電気的に接続されている。本実施形態では、外部端子C1、C2、C3、C5、C7がそれぞれ制御用IC32に電気的に接続され、外部端子C4、C6、C8は空きの状態となっている。   As shown in FIGS. 4 and 6, the substrate 30 is formed with a plurality of through holes 38, which are located on the outer periphery of the control IC 32, and are respectively the inner end portions of the external terminals C1 to C8 ( It is opposed to the connecting portion), that is, the end portion on the central extension portion 36 side. The plurality of pads of the control IC 32 mounted on the substrate 30 are electrically connected to corresponding external terminal connection portions through the through holes 38 by, for example, bonding wires 40 made of gold wires or the like using wire bonding. ing. In the present embodiment, the external terminals C1, C2, C3, C5, and C7 are electrically connected to the control IC 32, respectively, and the external terminals C4, C6, and C8 are empty.

基板30の裏面上に実装されたカード制御用IC32、透孔38、およびボンディングワイヤ40は、熱硬化樹脂、モールド樹脂等の封止材42によって覆われ封止されている。封止材42の外形輪郭は、例えば矩形状に形成され、透孔38の外側に位置しているとともに、外部端子C1ないしC8の外側縁から広く離間している。   The card control IC 32, the through hole 38, and the bonding wire 40 mounted on the back surface of the substrate 30 are covered and sealed with a sealing material 42 such as a thermosetting resin or a mold resin. The outer contour of the sealing material 42 is formed, for example, in a rectangular shape, is located outside the through hole 38, and is widely separated from the outer edges of the external terminals C1 to C8.

図5および図6に示すように、外部端子C1ないしC8の各々は、ICカード10を外部端末に装着した際、外部端末側の接触子44に接触可能な接触領域D1ないしD8を有している。これらの接触領域D1ないしD8の位置は、ISO/IEC7816により規定領域に決められている。   As shown in FIGS. 5 and 6, each of the external terminals C1 to C8 has contact areas D1 to D8 that can contact the contact 44 on the external terminal side when the IC card 10 is mounted on the external terminal. Yes. The positions of these contact areas D1 to D8 are determined as defined areas by ISO / IEC7816.

図3ないし図5に示すように、制御用ICに電気的に接続されている外部端子の少なくとも1つ、ここでは、外部端子C1は、接触領域D1を含む第1領域R1とIC32との接続部を含む第2領域R2とを電気的に連結しているとともに貫通孔(断線孔)を形成することにより切除可能な連結部46と、第1領域R1と第2領域R2との間を外部端子C1の一側縁から連結部46まで延びる分離用スリット50と、を有している。分離用スリット50は、隙間31から封止材42の外輪郭を越えて、外部端子C1の外側縁近傍まで延びている。これにより、分離用スリット50の先に残る連結部46は、封止材42から外れて位置しているとともに、連結部46の幅Wは、後述する断線孔の径よりも小さく、例えば、2mm程度に形成されている。   As shown in FIGS. 3 to 5, at least one of the external terminals electrically connected to the control IC, here, the external terminal C1 is a connection between the first region R1 including the contact region D1 and the IC 32. Between the first region R1 and the second region R2 between the first region R1 and the second region R2, which is electrically connected to the second region R2 including the portion and can be excised by forming a through hole (disconnection hole) A separation slit 50 extending from one side edge of the terminal C1 to the connecting portion 46. The separation slit 50 extends from the gap 31 beyond the outer contour of the sealing material 42 to the vicinity of the outer edge of the external terminal C1. As a result, the connecting portion 46 remaining at the tip of the separation slit 50 is positioned away from the sealing material 42, and the width W of the connecting portion 46 is smaller than the diameter of a disconnection hole described later, for example, 2 mm. It is formed to the extent.

上記のように構成されたICモジュール16は、図1および図2に示すように、カード基材12の第2凹所20に埋め込まれ、接着剤51によりカード基材12に加熱圧着される。第2凹所20の大径凹所20aは、基板30に対応した大きさおよび形状に形成され、ICモジュール16の基板30および外部端子が、大径凹所20a内に収容されている。基板30は、裏面の周縁部が接着剤51により大径凹所20aの底に接着される。ICモジュール16の外部端子C1〜C8は、カード基材12の表面とほぼ面一に配置され、外部に露出している。小径凹所20bは、ICモジュール16の封止材42に対応した大きさおよび深さに形成され、この小径凹所20bに封止部分が収容されている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the IC module 16 configured as described above is embedded in the second recess 20 of the card base 12 and is heat-pressed to the card base 12 with an adhesive 51. The large-diameter recess 20a of the second recess 20 is formed in a size and shape corresponding to the substrate 30, and the substrate 30 and external terminals of the IC module 16 are accommodated in the large-diameter recess 20a. As for the board | substrate 30, the peripheral part of a back surface is adhere | attached on the bottom of the large diameter recess 20a with the adhesive agent 51. FIG. The external terminals C1 to C8 of the IC module 16 are disposed substantially flush with the surface of the card base 12 and are exposed to the outside. The small-diameter recess 20b is formed in a size and depth corresponding to the sealing material 42 of the IC module 16, and the sealing portion is accommodated in the small-diameter recess 20b.

上記のように構成されたICカード10およびICモジュール16の製造工程について説明する。
図7に示すように、複数組の外部端子が並んで形成されているとともに、裏面に基板30が貼付されたリール60を形成する。外部端子の裏面側で基板30にカード制御用IC32を実装し、ワイヤボンディングなどの手法で、ICのパッドと外部端子の接続部と透孔38を通して電気的に接続する。次いで、IC32、透孔38、ボンディングワイヤ40をモールド樹脂などで封止する。これにより、複数のICモジュール16がリール60上に形成される。
A manufacturing process of the IC card 10 and the IC module 16 configured as described above will be described.
As shown in FIG. 7, a reel 60 having a plurality of sets of external terminals arranged side by side and a substrate 30 attached to the back surface is formed. The card control IC 32 is mounted on the substrate 30 on the back side of the external terminal, and is electrically connected through the through-hole 38 to the IC pad and the connection portion of the external terminal by a method such as wire bonding. Next, the IC 32, the through hole 38, and the bonding wire 40 are sealed with a mold resin or the like. As a result, a plurality of IC modules 16 are formed on the reel 60.

続いて、各ICモジュール16の外形検査、および、外部端子の規定接触位置に検査ピンを当て電気的な接続が成されているか否かを検査する。   Subsequently, the outer shape of each IC module 16 is inspected, and whether or not the electrical connection is established by applying an inspection pin to the specified contact position of the external terminal is inspected.

これらの検査により、良品と判断されたICモジュール16は、リール60から打ち抜き、カード基材12上に切削加工により設けた凹所20に接着剤で接着する。これにより、ICカードが製造される。ICモジュール16が埋め込まれたICカード10は、カード検査工程を経て、カード発行工程にてICモジュール16に情報が書き込まれた後、市場へと出荷される。   The IC module 16 determined to be a non-defective product by these inspections is punched from the reel 60 and adhered to the recess 20 provided by cutting on the card substrate 12 with an adhesive. Thereby, an IC card is manufactured. The IC card 10 in which the IC module 16 is embedded is shipped to the market after the card inspection process, information is written in the IC module 16 in the card issuing process.

一方、上述したICモジュール16の検査工程において、不良品として識別されたICモジュール16aが発生した場合、図7、図8、図9に示すように、C1端子の第1領域R1と第2領域R2との間にある分離用スリット50の延長上にある連結部46に貫通孔(断線孔52)を開け、連結部46を除去する。これにより、C1端子の第1領域R1と第2領域R2が切り離され、電気的に完全に接続されない状態となる。ICモジュール製造工程で発生した不良品は識別用の断線孔52を光電センサなどにより検知して、不良ICモジュール16aはカード基材12に埋め込まれないよう処置が取られる。   On the other hand, when the IC module 16a identified as a defective product is generated in the above-described inspection process of the IC module 16, as shown in FIGS. 7, 8, and 9, the first region R1 and the second region of the C1 terminal A through-hole (disconnection hole 52) is formed in the connecting portion 46 on the extension of the separation slit 50 between R2 and the connecting portion 46 is removed. As a result, the first region R1 and the second region R2 of the C1 terminal are disconnected and are not completely electrically connected. For defective products generated in the IC module manufacturing process, the disconnection hole 52 for identification is detected by a photoelectric sensor or the like, and measures are taken so that the defective IC module 16a is not embedded in the card substrate 12.

また、誤って不良ICモジュール16aがリール60から打ち抜かれ、カード基材12に埋め込まれた場合、カード検査工程でC1端子の規定接触位置に検査ピンを当てても電源がIC32に供給されないため動作せず、不良品であることが容易に識別することができる。従って、この不良ICカードを排除し、誤って市場に流出することを防ぐことができる。
上記のように断線孔52を不良識別孔として、良品/不良品の判定に用いても良いし、断線孔と不良識別孔とを別々に形成してもよい。
Also, if the defective IC module 16a is accidentally punched from the reel 60 and embedded in the card substrate 12, the power is not supplied to the IC 32 even if the inspection pin is applied to the specified contact position of the C1 terminal in the card inspection process. Therefore, it can be easily identified as a defective product. Therefore, it is possible to eliminate the defective IC card and prevent it from being accidentally leaked to the market.
As described above, the disconnection hole 52 may be used as a defect identification hole for determination of a non-defective product / defective product, or the disconnection hole and the defect identification hole may be formed separately.

以上のように構成されたICモジュール、ICカードおよびその製造方法によれば、外部端子に断線孔により切除可能な連結部および分離用スリットを設け、不良品発生時に、断線孔を開けて連結部を除去することにより、外部端子の接触領域と接続部とを電気的に完全に切り離すことができる。これにより、ICモジュールをカード基材に埋め込む工程にて、不良識別用貫通孔の検知を誤った場合でも、カード基材に埋めこまれたICモジュールは動作不能となっているため、カード検査工程にて容易に不良品を発見することができ、不良品の市場流出を確実に防ぐことができる。また、連結部は、断線孔の径よりも小さい幅に形成され、更に、封止材の外側に設けられていることから、不良品として識別された際、ICモジュールに断線孔を容易に開けることができるとともに、連結部を確実に切除し、外部端子を断線状態とすることができる。   According to the IC module, the IC card, and the manufacturing method thereof configured as described above, the connection portion and the separation slit that can be removed by the disconnection hole are provided in the external terminal, and when the defective product occurs, the disconnection hole is opened and the connection portion By removing, the contact area of the external terminal and the connection portion can be electrically separated completely. Thereby, in the step of embedding the IC module in the card substrate, even if the detection of the through hole for defect identification is wrong, the IC module embedded in the card substrate is inoperable, so the card inspection step In this way, defective products can be found easily, and the outflow of defective products can be reliably prevented. In addition, since the connecting portion is formed to have a width smaller than the diameter of the disconnection hole and further provided outside the sealing material, the disconnection hole can be easily opened in the IC module when identified as a defective product. In addition, the connecting portion can be reliably cut off and the external terminal can be disconnected.

本実施形態では、C1端子に接触領域と接続部との間を断線する構造を設けたが、これに限らず、制御用ICに接続されている別の端子に上述した断線構造を設けてもよい。   In the present embodiment, the C1 terminal is provided with a structure for disconnecting between the contact region and the connection portion. However, the present invention is not limited thereto, and the above-described disconnection structure may be provided for another terminal connected to the control IC. Good.

(第2の実施形態)
次に、第2の実施形態に係るICカードについて説明する。図10は、第2の実施形態に係る接触式のICカード10のICモジュール16を示している。本実施形態によれば、分離用スリット50および連結部46は、カード制御用IC32に電気的に接続されたC5端子に設けられている。
(Second Embodiment)
Next, an IC card according to the second embodiment will be described. FIG. 10 shows the IC module 16 of the contact IC card 10 according to the second embodiment. According to the present embodiment, the separation slit 50 and the connecting portion 46 are provided at the C5 terminal electrically connected to the card control IC 32.

分離用スリット50は、隙間31により規定されているC5端子の一側縁から、C5端子の接触領域と接続部との間を通り、更に、ほぼ直角に折れ曲がった後、C5端子の外側縁近傍まで延びている。分離用スリット50の延出端とC5端子の外側縁との間に連結部46が形成されている。連結部46は、断線孔52を形成することにより切除可能な幅に形成されている。   The separation slit 50 passes from one side edge of the C5 terminal defined by the gap 31 between the contact area of the C5 terminal and the connecting portion, and further bends substantially at a right angle, and then near the outer edge of the C5 terminal. It extends to. A connecting portion 46 is formed between the extending end of the separation slit 50 and the outer edge of the C5 terminal. The connecting portion 46 is formed to have a width that can be removed by forming the disconnection hole 52.

分離用スリット50は、基板の裏面側でカード制御用IC32、透孔38、およびボンディングワイヤ40を覆った封止材42の外側まで延び、連結部46は、封止材42から外れて位置している。
ICカードおよびICモジュール16の他の構成は、前述した第1の実施形態と同一であり、同一の部分には、同一の参照符号を付してその詳細な説明を省略する。
上記のように構成された第2の実施形態においても、前述した第1の実施形態と同様の作用効果を得ることができる。
The separation slit 50 extends to the outside of the sealing material 42 that covers the card control IC 32, the through hole 38, and the bonding wire 40 on the back surface side of the substrate, and the connecting portion 46 is located away from the sealing material 42. ing.
Other configurations of the IC card and the IC module 16 are the same as those of the first embodiment described above, and the same portions are denoted by the same reference numerals and detailed description thereof is omitted.
Also in the second embodiment configured as described above, the same operational effects as those of the first embodiment described above can be obtained.

この発明は上述した実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化可能である。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
例えば、本発明に係るICカードは、接触式のICカードに限らず、無線通信の機能を更に有するコンビカード、ハイブリッドカードにも適用してもよい。
The present invention is not limited to the above-described embodiment as it is, and can be embodied by modifying the constituent elements without departing from the scope of the invention in the implementation stage. In addition, various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of components disclosed in the embodiment. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiment. Furthermore, constituent elements over different embodiments may be appropriately combined.
For example, the IC card according to the present invention is not limited to a contact type IC card, but may be applied to a combination card or a hybrid card further having a wireless communication function.

10…ICカード、12…カード基材、16…ICモジュール、20…凹所、
22…配線、30…基板、31…隙間、32…カード制御用IC、38…透孔、
40…ボンディングワイヤ、42…封止材、46…連結部、50…分離用スリット、
52…断線孔(貫通孔)、C1〜C8…外部端子、R1…第1領域、R2…第2領域
10 ... IC card, 12 ... card substrate, 16 ... IC module, 20 ... recess,
22 ... wiring, 30 ... substrate, 31 ... gap, 32 ... card control IC, 38 ... through hole,
40 ... bonding wire, 42 ... sealing material, 46 ... connecting portion, 50 ... slit for separation,
52 ... Disconnection hole (through hole), C1 to C8 ... External terminal, R1 ... First region, R2 ... Second region

Claims (8)

ICカードのICモジュールであって、
基板と、この基板上に設けられ、それぞれ外部端末の接触子が接触可能な接触領域を有する接触通信用の複数の外部端子と、前記基板に形成され、それぞれ前記外部端子の接続部に対向する複数の透孔と、前記基板の裏面に実装され、配線により前記透孔を通して前記外部端子に接続されたカード制御用ICと、を備え、
少なくとも1つの外部端子は、前記接触領域と前記接続部とを電気的に連結しているとともに貫通孔を形成することにより切除可能な連結部と、前記接触領域と前記接続部との間を前記外部端子の一側縁から前記連結部まで延びる分離用スリットと、を有するICモジュール。
An IC module of an IC card,
A substrate, a plurality of external terminals for contact communication provided on the substrate, each having a contact area that can be contacted by a contact of an external terminal, and formed on the substrate, each facing a connection portion of the external terminal A plurality of through holes, and a card control IC mounted on the back surface of the substrate and connected to the external terminals through the through holes by wiring;
At least one external terminal electrically connects the contact area and the connection part and forms a through-hole so as to be excised between the contact area and the connection part. A separation slit extending from one side edge of the external terminal to the connecting portion;
前記基板の裏面側で前記カード制御用ICおよび配線を覆った封止材を備え、
前記分離用スリットは、前記封止材の外側まで延びているとともに、前記連結部は、前記封止材から外れて位置している請求項1に記載のICモジュール。
A sealing material covering the card control IC and wiring on the back side of the substrate;
2. The IC module according to claim 1, wherein the separation slit extends to the outside of the sealing material, and the connecting portion is positioned away from the sealing material.
前記複数の外部端子は、互いに隙間を置いて並んで配置され、前記分離スリットは、前記隙間から前記外部端子の外側縁近傍まで延びている請求項1又は2に記載のICモジュール。   The IC module according to claim 1, wherein the plurality of external terminals are arranged side by side with a gap therebetween, and the separation slit extends from the gap to the vicinity of an outer edge of the external terminal. 前記少なくとも1つの外部端子は、電源用端子である請求項1ないし3のいずれか1項に記載のICモジュール。   The IC module according to claim 1, wherein the at least one external terminal is a power supply terminal. カード基材と、
前記カード基材に埋め込まれたICモジュールと、を備え、
前記ICモジュールは、基板と、この基板上に設けられ、それぞれ外部端末の接触子が接触可能な接触領域を有する接触通信用の複数の外部端子と、前記基板に形成され、それぞれ前記外部端子の接続部に対向する複数の透孔と、前記基板の裏面に実装され、配線により前記透孔を通して前記外部端子に接続されたカード制御用ICと、を備え、
少なくとも1つの外部端子は、前記接触領域と前記接続部とを電気的に連結しているとともに貫通孔を形成することにより切除可能な連結部と、前記接触領域と前記接続部との間を前記外部端子の一側縁から前記連結部まで延びる分離用スリットと、を有するICカード。
A card substrate;
An IC module embedded in the card substrate,
The IC module is formed on the substrate, a plurality of external terminals for contact communication provided on the substrate, each having a contact area that can be contacted by a contact of the external terminal, and each of the external terminals. A plurality of through-holes facing the connecting portion; and a card control IC mounted on the back surface of the substrate and connected to the external terminal through the through-hole by wiring,
At least one external terminal electrically connects the contact area and the connection part and forms a through-hole so as to be excised between the contact area and the connection part. An IC card having a separation slit extending from one side edge of the external terminal to the connecting portion.
前記基板の裏面側で前記カード制御用ICおよび配線を覆った封止材を備え、
前記分離用スリットは、前記封止材の外側まで延びているとともに、前記連結部は、前記封止材から外れて位置している請求項5に記載のICカード。
A sealing material covering the card control IC and wiring on the back side of the substrate;
The IC card according to claim 5, wherein the separation slit extends to the outside of the sealing material, and the connecting portion is located away from the sealing material.
前記複数の外部端子は、互いに隙間を置いて並んで配置され、前記分離スリットは、前記隙間から前記外部端子の外側縁近傍まで延びている請求項6又は7に記載のICカード。   The IC card according to claim 6 or 7, wherein the plurality of external terminals are arranged side by side with a gap therebetween, and the separation slit extends from the gap to the vicinity of an outer edge of the external terminal. 基板と、この基板の上面上に形成され、それぞれ外部端末の接触子が接触可能な接触領域を有する接触通信用の複数の外部端子と、前記基板に形成され、それぞれ前記外部端子の接続部に対向する複数の透孔と、前記基板の裏面に実装され、配線により前記透孔を通して前記外部端子に接続されたカード制御用ICと、を備え、
少なくとも1つの外部端子は、前記接触領域と前記接続部とを電気的に連結しているとともに貫通孔を形成することにより切除可能な連結部と、前記接触領域と前記接続部との間を前記外部端子の一側縁から前記連結部まで延びる分離用スリットと、を有するICモジュールの製造方法であって、
リール上に前記ICモジュールを複数並んで形成し、
前記形成されたICモジュールを検査し、
前記検査により良品とされたICモジュールを前記リールから切り出し、
前記検査により不良品とされたICモジュールの連結部に断線孔を開けて前記連結部を切除し、前記外部端子の接触領域と接続部とを切り離す
ICモジュールの製造方法。
A substrate, a plurality of external terminals for contact communication formed on the upper surface of the substrate, each having a contact area that can be contacted by a contact of an external terminal, and formed on the substrate, each connected to a connection portion of the external terminal A plurality of opposing through holes, and a card control IC mounted on the back surface of the substrate and connected to the external terminals through the through holes by wiring;
At least one external terminal electrically connects the contact area and the connection part and forms a through-hole so as to be excised between the contact area and the connection part. A separation slit extending from one side edge of the external terminal to the connecting portion, and a method of manufacturing an IC module,
A plurality of the IC modules are formed side by side on a reel,
Inspecting the formed IC module,
Cut out an IC module that has been made a good product by the inspection from the reel,
A method of manufacturing an IC module, wherein a disconnection hole is formed in a connecting portion of an IC module that has been determined to be defective by the inspection, the connecting portion is cut off, and a contact region and a connecting portion of the external terminal are separated.
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