JP2013073064A - Photosensitive resin composition and permanent mask resist using the same and method for manufacturing the same - Google Patents

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Tetsufumi Fujii
徹文 藤井
Tetsuya Yoshida
哲也 吉田
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photosensitive resin composition which is excellent in flame retardancy while satisfying various characteristics required for a solder resist and can sufficiently reduce warpage and repulsion in mounting components, and provide a permanent mask resist using the same and a method for manufacturing the same.SOLUTION: There are provided a photosensitive resin composition comprising (A) a polymer having a carboxyl group, (B) a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond, (C) a photopolymerization initiator, (D) a phosphorus-containing flame retardant and (E) a heat-curing agent, wherein (E) the heat-curing agent is a glycidyl etherified product of a phenol-formaldehyde polycondensate with epichlorohydrin and/or a derivative thereof and has an epoxy equivalent of 160 or more. There are also provided a permanent mask resist comprising a cured product of the photosensitive resin composition, and a method for manufacturing the permanent mask resist comprising the steps of: forming a photosensitive layer comprising the photosensitive resin composition; irradiating the photosensitive layer patternwise with actinic rays; and developing the photosensitive layer to form a permanent mask resist.

Description

本発明は、感光性樹脂組成物、及びそれを用いた永久マスクレジストとその製造方法に関する。   The present invention relates to a photosensitive resin composition, a permanent mask resist using the same, and a method for producing the same.

プリント配線板の製造業界では従来、プリント配線板上にソルダーレジスト(永久マスクレジスト)を形成することが行われている。このソルダーレジストは、実装部品をプリント配線板に接合するためのはんだ付け工程において、プリント配線板の導体層の不要な部分にはんだが付着することを防ぐ役割を有している他、実装部品接合後のプリント配線板の使用時においては導体層の腐食を防止したり導体層間の電気絶縁性を保持したりする永久マスクとしての役割も有している。   In the printed wiring board manufacturing industry, conventionally, a solder resist (permanent mask resist) is formed on a printed wiring board. This solder resist has a role to prevent solder from adhering to unnecessary portions of the conductor layer of the printed wiring board in the soldering process for bonding the mounted part to the printed wiring board. When the printed wiring board is used later, it also serves as a permanent mask for preventing corrosion of the conductor layer and maintaining electrical insulation between the conductor layers.

ソルダーレジストの形成方法としては、例えば、プリント配線板の導体層上に熱硬化性樹脂をスクリーン印刷する方法が知られているが、このような方法ではレジストパターンの高解像度化に限界があるため、近年のプリント配線板の高密度化に対応させることが困難になってきている。   As a method for forming a solder resist, for example, a method of screen printing a thermosetting resin on a conductor layer of a printed wiring board is known. However, since such a method has a limit in increasing the resolution of a resist pattern. However, it has become difficult to cope with the recent increase in the density of printed wiring boards.

そこで、レジストパターンの高解像度化を達成するために、フォトレジスト法が盛んに用いられるようになってきている。このフォトレジスト法は、基板上に感光性樹脂組成物からなる感光層を形成し、この感光層を所定パターンの露光により硬化させ、未露光部分を現像により除去して所定パターンの硬化膜を形成するものである。   Therefore, in order to achieve high resolution of the resist pattern, the photoresist method has been actively used. In this photoresist method, a photosensitive layer made of a photosensitive resin composition is formed on a substrate, the photosensitive layer is cured by exposure of a predetermined pattern, and an unexposed portion is removed by development to form a cured film of a predetermined pattern. To do.

上記フォトレジスト法に使用される感光性樹脂組成物は、ドライフィルムレジストのようなフィルムタイプと、ソルダーレジストインキのような液状タイプに大別されるが、フィルムタイプでは、熱圧着の際に気泡を生じやすい等の問題があるため、ソルダーレジストインキのような液状タイプが主流となっている   The photosensitive resin composition used in the photoresist method is roughly classified into a film type such as a dry film resist and a liquid type such as a solder resist ink. Liquid type such as solder resist ink has become mainstream.

上記目的に使用される感光性樹脂組成物には、感度、現像性、解像性、耐はんだ性、耐HAST(Highly Accelerated Stress Test;超加速寿命試験)性等の特性が要求される。このような感光性樹脂組成物としては、例えば、下記特許文献記載の感光性熱硬化性樹脂組成物などが知られている(特許文献1〜2参照)。   The photosensitive resin composition used for the above purpose is required to have characteristics such as sensitivity, developability, resolution, solder resistance, and HAST (Highly Accelerated Stress Test) properties. As such a photosensitive resin composition, for example, a photosensitive thermosetting resin composition described in the following patent document is known (see Patent Documents 1 and 2).

特開2000−109541号公報JP 2000-109541 A 国際公開第06/109890号パンフレットWO 06/109890 Pamphlet

ところで、近年、各種工業製品の火災に対する難燃化の規制が厳しくなっており、プリント配線板等に使用される材料も例外ではない。難燃化する方法としては、ハロゲン系化合物、アンチモン系化合物、リン系化合物、窒素系化合物、ホウ素系化合物、無機充填剤等を添加する方法が一般的に知られている。   By the way, in recent years, regulations on flame retardancy of various industrial products against fire have become stricter, and materials used for printed wiring boards and the like are no exception. As a flame retardant method, a method of adding a halogen compound, an antimony compound, a phosphorus compound, a nitrogen compound, a boron compound, an inorganic filler, or the like is generally known.

しかし、最近では、環境問題、人体に対する安全性問題への関心の高まりと共に、非公害性、低有毒性、安全性へと重点が移り、単に燃えにくいだけでなく、有害ガス及び発煙性物質の低減が要望されつつある。これを受けて、ハロゲン系化合物やアンチモン系化合物を使用しない難燃基板が既に開発・実用化され始めている。   However, recently, with increasing interest in environmental issues and human safety issues, the focus has shifted to non-polluting, low toxic and safety, not only flammable but also harmful gases and fuming substances. Reduction is being demanded. In response, flame retardant substrates that do not use halogen compounds or antimony compounds have already been developed and put into practical use.

また、近年の電子機器の小型化薄型化に伴い難燃技術とともに部品実装時の反り、反発力の低減の要求が多くなっている。   Further, along with recent downsizing and thinning of electronic devices, there is an increasing demand for reduction of warpage and repulsive force when mounting components together with flame retardant technology.

また回路の微細化に伴い、熱プレス工程でレジスト開口部にレジスト成分が染み出す不具合現象(ブリード)が問題となるケースが増加している。しかしながら、現在市場に流通する難燃剤は、多量に添加すると感光性樹脂組成物の硬化膜の物性を低下させ、反発力の増加やクラックの発生、熱プレス工程でのブリードの増加、絶縁信頼性の低下を招く。このため、これらの特性低下がより少ない難燃剤を選択するとともに、難燃剤以外の樹脂組成においても、より少量の難燃剤添加によって難燃性を確保可能な設計が必要とされている。   In addition, with the miniaturization of circuits, there are an increasing number of cases in which a defect phenomenon (bleed) in which a resist component oozes out in a resist opening in a hot press process becomes a problem. However, the flame retardants currently on the market, when added in a large amount, will deteriorate the physical properties of the cured film of the photosensitive resin composition, increase repulsion and cracks, increase bleed in the hot press process, insulation reliability Cause a decline. For this reason, while selecting the flame retardant with these characteristic deterioration less, also in resin compositions other than a flame retardant, the design which can ensure a flame retardance by addition of a little flame retardant is required.

さらに、フォトレジスト法において基板上に形成された感光性樹脂組成物層の表面は、作業性の観点からタック性(張り付き性)が小さいものが望ましいが、従来の感光性樹脂組成物はタック性を十分に満足し得るものではなかった。   Further, the surface of the photosensitive resin composition layer formed on the substrate in the photoresist method is preferably one having a small tack property (stickiness) from the viewpoint of workability, but the conventional photosensitive resin composition has a tack property. Was not enough to satisfy.

上記事情に鑑み本発明は、ソルダーレジストに要求される諸特性を満足しつつ、難燃性に優れ、部品実装時の反り、反発性、タック性を充分に低減できる感光性樹脂組成物、及びそれを用いた永久マスクレジストとその製造方法を提供することを目的とする。   In view of the above circumstances, the present invention is a photosensitive resin composition that is excellent in flame retardancy and can sufficiently reduce warpage, resilience, and tackiness during component mounting while satisfying various properties required for a solder resist, and An object of the present invention is to provide a permanent mask resist using the same and a manufacturing method thereof.

本発明者らは、上記目的を達成すべく鋭意研究を重ねた結果、特定の構造及びエポキシ当量を有する化合物を使用することで、上記目的を達成できることを見出し、本発明を完成するに至った。   As a result of intensive studies to achieve the above object, the present inventors have found that the above object can be achieved by using a compound having a specific structure and epoxy equivalent, and have completed the present invention. .

すなわち、本発明は、(A)カルボキシル基を有するポリマー、(B)エチレン性不飽和結合を有する光重合性化合物、(C)光重合開始剤、(D)リン含有難燃剤、(E)熱硬化剤、を含有する感光性樹脂組成物において、上記(E)熱硬化剤が、フェノール・ホルムアルデヒド重縮合物のエピクロルヒドリンによるジグリシジルエーテル化物及び/またはその誘導体であり、かつエポキシ当量が160以上である、感光性樹脂組成物を提供する。   That is, the present invention includes (A) a polymer having a carboxyl group, (B) a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond, (C) a photopolymerization initiator, (D) a phosphorus-containing flame retardant, (E) heat In the photosensitive resin composition containing a curing agent, the (E) thermosetting agent is a diglycidyl etherified product of epichlorohydrin of phenol / formaldehyde polycondensate and / or a derivative thereof, and an epoxy equivalent is 160 or more. A photosensitive resin composition is provided.

本発明の感光性樹脂組成物は、上記構成を有することにより、現像前の未露光部の表面ベタつきが少なく、希アルカリ水溶液による現像が可能で、該感光性樹脂組成物を硬化して得られる硬化膜の難燃性、耐めっき性、はんだ耐熱性、耐HAST性を高い水準で満足させることができ、更に部品実装時の反り、反発を抑制でき、作業性が向上する。よって、本発明の感光性樹脂組成物によれば、十分な難燃性を有する硬化膜を高解像度で効率よく形成することが可能となる。   The photosensitive resin composition of the present invention is obtained by curing the photosensitive resin composition because of having the above-described structure, which has less surface stickiness in the unexposed area before development, can be developed with a dilute aqueous alkali solution, and The flame retardancy, plating resistance, soldering heat resistance, and HAST resistance of the cured film can be satisfied at a high level, and warpage and repulsion during component mounting can be suppressed, thereby improving workability. Therefore, according to the photosensitive resin composition of the present invention, a cured film having sufficient flame retardancy can be efficiently formed with high resolution.

また、本発明の感光性樹脂組成物によれば、ハロゲン系化合物やアンチモン系化合物を含まずに硬化膜の難燃性を十分高いものとすることができることから、例えば、プリント配線板の環境負荷や毒性を低減することが可能となる。特に、本発明の感光性樹脂組成物を非ハロゲン系或いは非アンチモン系の難燃基板に適用する場合、上記の効果が更に有効に奏される。   Further, according to the photosensitive resin composition of the present invention, since the flame retardancy of the cured film can be made sufficiently high without containing a halogen compound or an antimony compound, for example, the environmental load of a printed wiring board And toxicity can be reduced. In particular, when the photosensitive resin composition of the present invention is applied to a non-halogen-based or non-antimony-based flame retardant substrate, the above-described effects are more effectively exhibited.

また、上記(A)カルボキシル基を有する化合物は、(a)ジグリシジル化合物と(メタ)アクリル酸とを反応させて得られるエチレン性不飽和基及び2つ以上の水酸基を有するエポキシアクリレート化合物と、(b)ジイソシアネート化合物と、(c)カルボキシル基を有するジオール化合物との反応物であることが好ましい。これにより、アルカリ現像性と難燃性、可とう性(耐折曲げ性・低反り・低反発力)を向上させることができる。   In addition, the compound (A) having a carboxyl group includes (a) an epoxy acrylate compound having an ethylenically unsaturated group and two or more hydroxyl groups obtained by reacting a diglycidyl compound and (meth) acrylic acid, and ( It is preferably a reaction product of b) a diisocyanate compound and (c) a diol compound having a carboxyl group. Thereby, alkali developability, flame retardancy, and flexibility (bending resistance, low warpage, low repulsion) can be improved.

また、上記(D)リン含有難燃剤は、下記一般式(1)で示されるホスフィン酸塩であることが好ましい。   The (D) phosphorus-containing flame retardant is preferably a phosphinic acid salt represented by the following general formula (1).

Figure 2013073064
Figure 2013073064

[一般式(1)中、A及びBは各々独立に、直鎖状の若しくは枝分かれした炭素数1〜6のアルキル基又はアリール基を示し、MはMg、Ca、Al、Sb、Sn、Ge、Ti、Zn、Fe、Zr、Ce、Bi、Sr、Mn、Li、Na及びKからなる群より選択される金属類の少なくとも1種であり、mは1〜4の整数である。]
これにより感光性樹脂組成物を硬化して得られる硬化膜が十分な難燃性を有することができる。
[In General Formula (1), A and B each independently represent a linear or branched alkyl group or aryl group having 1 to 6 carbon atoms, and M represents Mg, Ca, Al, Sb, Sn, Ge. , Ti, Zn, Fe, Zr, Ce, Bi, Sr, Mn, Li, Na, and K. At least one metal selected from the group consisting of K and m is an integer of 1 to 4. ]
Thereby, the cured film obtained by hardening | curing the photosensitive resin composition can have sufficient flame retardance.

本発明の感光性樹脂組成物は、十分な難燃性を有する硬化膜を効率よく高解像度で形成でき、十分な可とう性を有することから、プリント配線板、特にフレキシブルプリント配線板の永久マスクを形成するための永久マスクレジストに用いられるものであることが好ましい。本発明の永久マスクレジストの製造方法は、基板上に、上記の感光性樹脂組成物からなる感光層を設ける工程と、前記感光層に活性光線をパターン照射する工程と、前記感光層を現像して永久マスクレジストを形成させる工程とにより作製することができる。   The photosensitive resin composition of the present invention can efficiently form a cured film having sufficient flame retardancy with high resolution, and has sufficient flexibility, so that it is a permanent mask for printed wiring boards, particularly flexible printed wiring boards. It is preferable that it is used for the permanent mask resist for forming. The method for producing a permanent mask resist of the present invention comprises a step of providing a photosensitive layer comprising the above-mentioned photosensitive resin composition on a substrate, a step of pattern irradiating the photosensitive layer with actinic rays, and developing the photosensitive layer. And a step of forming a permanent mask resist.

本発明の感光性樹脂組成物を用い、その硬化物からなる永久マスクレジストとその製造方法によれば、本発明の感光性樹脂組成物からなる感光層を備えることにより、十分な難燃性を有する硬化膜を高解像度で効率よく形成することが可能となり、更に部品実装時の反り、反発を低減することが可能となる。   Using the photosensitive resin composition of the present invention, according to the permanent mask resist composed of the cured product and the method for producing the same, by providing the photosensitive layer composed of the photosensitive resin composition of the present invention, sufficient flame retardancy is provided. It is possible to efficiently form a cured film having high resolution, and further, it is possible to reduce warpage and repulsion during component mounting.

また、本発明の永久マスクレジストとその製造方法によれば、ハロゲン系化合物やアンチモン系化合物を用いることなく十分な難燃性を有することから、低環境負荷、低毒性、高解像度のプリント配線板の効率的な生産が可能となる。   Further, according to the permanent mask resist of the present invention and the manufacturing method thereof, since it has sufficient flame retardancy without using a halogen compound or an antimony compound, the printed wiring board has a low environmental load, low toxicity, and high resolution. Efficient production is possible.

本発明によれば、特に現像までの工程において作業性に優れ、アルカリ現像性、難燃性、及び可とう性に優れた硬化膜を高解像度で効率よく形成できる感光性樹脂組成物、及びそれを用いた永久マスクレジストとその製造方法を提供することができる。   According to the present invention, a photosensitive resin composition capable of efficiently forming a cured film excellent in workability and excellent in alkali developability, flame retardancy, and flexibility, particularly in a process up to development, and high resolution, and It is possible to provide a permanent mask resist using the above and a manufacturing method thereof.

以下、本発明の実施の形態について詳細に説明する。なお、本発明において、(メタ)アクリル酸とはアクリル酸及びそれに対応するメタクリル酸を意味し、(メタ)アクリレートとはアクリレート及びそれに対応するメタクリレートを意味し、(メタ)アクリロイル基とはアクリロイル基及びそれに対応するメタクリロイル基を意味する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail. In the present invention, (meth) acrylic acid means acrylic acid and methacrylic acid corresponding thereto, (meth) acrylate means acrylate and corresponding methacrylate, and (meth) acryloyl group means acryloyl group. And the corresponding methacryloyl group.

[感光性樹脂組成物]
先ず、本発明の感光性樹脂組成物について説明する。本発明の感光性樹脂組成物は、
(A)カルボキシル基を有するポリマー、
(B)エチレン性不飽和結合を有する光重合性化合物、
(C)光重合開始剤、
(D)リン含有難燃剤、
(E)熱硬化剤、を含有する感光性樹脂組成物において、前記(E)熱硬化剤が、フェノール・ホルムアルデヒド重縮合物のエピクロルヒドリンによるグリシジルエーテル化物及び/またはその誘導体であり、かつエポキシ当量が160以上である、感光性樹脂組成物である。
[Photosensitive resin composition]
First, the photosensitive resin composition of the present invention will be described. The photosensitive resin composition of the present invention is
(A) a polymer having a carboxyl group,
(B) a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond,
(C) a photopolymerization initiator,
(D) a phosphorus-containing flame retardant,
(E) In the photosensitive resin composition containing a thermosetting agent, the (E) thermosetting agent is a glycidyl etherified product of epichlorohydrin of phenol / formaldehyde polycondensate and / or a derivative thereof, and an epoxy equivalent is It is a photosensitive resin composition which is 160 or more.

以下、本発明の感光性樹脂組成物に含まれる各成分について説明する。
<(A)成分>
(A)成分のカルボキシル基を有するポリマーとしては、例えば、アクリル樹脂、ポリウレタン、ビニル基含有エポキシ樹脂、エポキシ樹脂、フェノキシ樹脂、ポリエステル、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエステルイミド、ポリカーボネート、メラミン樹脂、ポリフェニレンスルフィド、及びポリオキシベンゾイル等の公知の樹脂やその酸変性樹脂であって、分子内にカルボキシル基を有するものが挙げられる。これらは単独で又は2種類以上を組み合わせて使用することができる。
Hereinafter, each component contained in the photosensitive resin composition of the present invention will be described.
<(A) component>
Examples of the component (A) polymer having a carboxyl group include acrylic resin, polyurethane, vinyl group-containing epoxy resin, epoxy resin, phenoxy resin, polyester, polyamide, polyimide, polyamideimide, polyesterimide, polycarbonate, melamine resin, and polyphenylene. Known resins such as sulfide and polyoxybenzoyl and acid-modified resins thereof having a carboxyl group in the molecule can be mentioned. These can be used alone or in combination of two or more.

(A)成分は、アルカリ現像性をより向上させる観点から、分子内にカルボキシル基を有するポリマーを含む。   The component (A) includes a polymer having a carboxyl group in the molecule from the viewpoint of further improving alkali developability.

上記分子内にカルボキシル基を有するポリマーとしては、得られる硬化膜の耐めっき性及び耐熱衝撃性をより向上させる観点から、カルボキシル基及びエチレン性不飽和基を有する重合性プレポリマーを含むことが好ましい。   The polymer having a carboxyl group in the molecule preferably includes a polymerizable prepolymer having a carboxyl group and an ethylenically unsaturated group from the viewpoint of further improving the plating resistance and thermal shock resistance of the resulting cured film. .

中でも、(a)ジグリシジル化合物及び(メタ)アクリル酸を反応させて得られるエチレン性不飽和基及び2つ以上の水酸基を有するエポキシアクリレート化合物と、(b)ジイソシアネート化合物と、(c)カルボキシル基を有するジオール化合物と、を反応させて得られるポリウレタン化合物を好適に用いることができる。これにより、後述する(E)成分との組合せにより本発明の効果を一層向上させることができる。   Among them, (a) an epoxy acrylate compound having an ethylenically unsaturated group and two or more hydroxyl groups obtained by reacting a diglycidyl compound and (meth) acrylic acid, (b) a diisocyanate compound, and (c) a carboxyl group. A polyurethane compound obtained by reacting the diol compound with the diol compound can be suitably used. Thereby, the effect of this invention can be further improved with the combination with (E) component mentioned later.

上記ポリウレタン化合物は、(a)グリシジル化合物及び(メタ)アクリル酸を反応させて得られるエチレン性不飽和基及び2つ以上の水酸基を有するエポキシアクリレート化合物(以下、「原料エポキシアクリレート」という)、(b)ジイソシアネート化合物(以下、「原料ジイソシアネート」という)及び、(c)カルボキシル基を有するジオール化合物(以下、「原料ジオール」という)を原料成分として得られる。まず、これらの原料成分について説明する。   The polyurethane compound includes (a) an epoxy acrylate compound having an ethylenically unsaturated group and two or more hydroxyl groups obtained by reacting a glycidyl compound and (meth) acrylic acid (hereinafter referred to as “raw material epoxy acrylate”), ( b) A diisocyanate compound (hereinafter referred to as “raw material diisocyanate”) and (c) a diol compound having a carboxyl group (hereinafter referred to as “raw material diol”) are obtained as raw material components. First, these raw material components will be described.

原料エポキシアクリレートとしては、ビスフェノールA型エポキシ化合物、ビスフェノールF型エポキシ化合物、ノボラック型エポキシ化合物、フルオレン骨格を有するエポキシ化合物等のグリシジル化合物に(メタ)アクリル酸を反応させて得られる化合物等が挙げられる。   Examples of the raw material epoxy acrylate include compounds obtained by reacting (meth) acrylic acid with glycidyl compounds such as bisphenol A type epoxy compounds, bisphenol F type epoxy compounds, novolac type epoxy compounds, and epoxy compounds having a fluorene skeleton. .

原料ジイソシアネートとしては、イソシアナト基を2つ有する化合物であれば特に制限なく適用できる。ジイソシアネート化合物としては、例えば、フェニレンジイソシアネート、トリレンジイソシアネート、キシリレンジイソシアネート、テトラメチルキシリレンジイソシアネート、ジフェニルメタンジイソシアネート、ナフタレンジイソシアネート、トリデンジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、ジシクロヘキシルメタンジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート、アリレンスルホンエーテルジイソシアネート、アリルシアンジイソシアネート、N−アシルジイソシアネート、トリメチルヘキサメチレンジイソシアネート、1,3−ビス(イソシアネートメチル)シクロヘキサン、ノルボルナン−ジイソシアネートメチル等が挙げられる。   As the raw material diisocyanate, any compound having two isocyanato groups can be used without particular limitation. Examples of the diisocyanate compound include phenylene diisocyanate, tolylene diisocyanate, xylylene diisocyanate, tetramethylxylylene diisocyanate, diphenylmethane diisocyanate, naphthalene diisocyanate, tridenic diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, dicyclohexylmethane diisocyanate, isophorone diisocyanate, arylene sulfone ether diisocyanate. , Allyl cyanide diisocyanate, N-acyl diisocyanate, trimethylhexamethylene diisocyanate, 1,3-bis (isocyanatemethyl) cyclohexane, norbornane-diisocyanate methyl, and the like.

原料ジオールは、分子内に、水酸基を2つ有するとともに、カルボキシル基を有している化合物である。水酸基としては、イソシアネートとの反応性の高いアルコール性水酸基であることが好ましい。このようなジオール化合物としては、ジメチロールプロピオン酸、ジメチロールブタン酸等が例示できる。   The raw material diol is a compound having two hydroxyl groups and a carboxyl group in the molecule. The hydroxyl group is preferably an alcoholic hydroxyl group highly reactive with isocyanate. Examples of such diol compounds include dimethylolpropionic acid and dimethylolbutanoic acid.

また、原料ジオールとして上記以外のジオール化合物(例えば、エチレングリコール、プロピレングリコールなど)をさらに組み合わせて適用することも可能である。上記以外のジオール化合物を組み合わせることで、(A)成分の酸価や二重結合当量を容易に調節することが可能である。   In addition, diol compounds other than those described above (for example, ethylene glycol, propylene glycol, etc.) can be used in combination as the raw material diol. By combining diol compounds other than those described above, it is possible to easily adjust the acid value and double bond equivalent of the component (A).

次に、上述した原料成分を用いてポリウレタン化合物を製造する工程の例について説明する。   Next, an example of a process for producing a polyurethane compound using the above-described raw material components will be described.

すなわち、ポリウレタン化合物の製造工程では、まず、原料エポキシアクリレート及び原料ジオールを、原料ジイソシアネートと反応させる。かかる反応においては、主に、原料エポキシアクリレートにおける水酸基と原料ジイソシアネートにおけるイソシアナト基との間、及び、原料ジオールにおける水酸基と原料ジイソシアネートにおけるイソシアナト基との間で、いわゆるウレタン化反応が生じる。この反応により、例えば、原料エポキシアクリレートに由来する重合性不飽和二重結合を含む構造単位と、原料ジオールに由来するカルボキシル基を含有する構造単位とが、原料ジイソシアネートに由来する構造単位を介して交互に又はブロック的に重合したポリウレタン化合物が得られる。   That is, in the production process of the polyurethane compound, first, the raw material epoxy acrylate and the raw material diol are reacted with the raw material diisocyanate. In such a reaction, a so-called urethanization reaction occurs mainly between the hydroxyl group in the raw material epoxy acrylate and the isocyanate group in the raw material diisocyanate, and between the hydroxyl group in the raw material diol and the isocyanate group in the raw material diisocyanate. By this reaction, for example, a structural unit containing a polymerizable unsaturated double bond derived from a raw material epoxy acrylate and a structural unit containing a carboxyl group derived from a raw material diol are introduced via a structural unit derived from a raw material diisocyanate. A polyurethane compound polymerized alternately or blockwise is obtained.

上述したポリウレタン化合物の製造工程では、原料エポキシアクリレート、原料ジオール及び原料ジイソシアネート以外に、これらとは異なるジオール化合物を更に添加してもよい。これにより、得られるポリウレタン化合物の主鎖構造を変えることが可能となり、後述する酸価等の特性を所望の範囲に調整できる。また、上述した各工程では、適宜、触媒等を用いてもよい。   In the production process of the polyurethane compound described above, a diol compound different from these may be further added in addition to the raw material epoxy acrylate, the raw material diol and the raw material diisocyanate. Thereby, it becomes possible to change the main chain structure of the obtained polyurethane compound, and the characteristics such as the acid value described later can be adjusted to a desired range. Moreover, in each process mentioned above, you may use a catalyst etc. suitably.

上述のポリウレタン化合物としては、例えば、下記一般式(2)で表される構造を有する化合物が挙げられる。   As said polyurethane compound, the compound which has a structure represented by following General formula (2) is mentioned, for example.

Figure 2013073064
Figure 2013073064

式中、R11は原料エポキシアクリレートの残基を示し、R12は原料イソシアネートの残基を示し、R13は、炭素数1〜5のアルキル基を示し、R14は水素原子又はメチル基を示す。なお、残基とは、原料成分から結合に供された官能基を除いた部分の構造をいう。具体的には、R11としては、例えば、ビス(4−オキシフェニル)−メタン、2,2−ビス(4−オキシフェニル)−プロパン、2,2−ビス(4−オキシフェニル)−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン等のビスフェノールA型及びビスフェノールF型骨格、ノボラック骨格、フルオレン骨格が挙げられ、R12としては、例えば、フェニレン、トリレン、キシリレン、テトラメチルキシリレン、ジフェニルメチレン、ヘキサメチレン、トリメチルヘキサメチレン、ジシクロヘキシルメチレン、イソホロンが挙げられる。また、炭素数1〜5のアルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、イソブチル基、ペンチル基、アミル基等が挙げられる。 In the formula, R 11 represents a residue of the raw material epoxy acrylate, R 12 represents a residue of the raw material isocyanate, R 13 represents an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and R 14 represents a hydrogen atom or a methyl group. Show. In addition, a residue means the structure of the part remove | excluding the functional group used for the coupling | bonding from the raw material component. Specifically, as R 11 , for example, bis (4-oxyphenyl) -methane, 2,2-bis (4-oxyphenyl) -propane, 2,2-bis (4-oxyphenyl) -1, Examples thereof include bisphenol A skeletons such as 1,1,3,3,3-hexafluoropropane, bisphenol F skeletons, novolac skeletons, and fluorene skeletons. Examples of R 12 include phenylene, tolylene, xylylene, and tetramethylxylylene. , Diphenylmethylene, hexamethylene, trimethylhexamethylene, dicyclohexylmethylene, and isophorone. Moreover, as a C1-C5 alkyl group, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, an isobutyl group, a pentyl group, an amyl group etc. are mentioned.

上記一般式(2)のような構造を有するポリウレタン化合物を感光性樹脂組成物に含有させることによって、アルカリ現像性、難燃性、可とう性(耐折曲げ性・低反り・低反発力)をより向上することができる。   By containing a polyurethane compound having the structure of the general formula (2) in the photosensitive resin composition, alkali developability, flame retardancy, flexibility (bending resistance, low warpage, low repulsion) Can be further improved.

上記一般式(2)のような構造を有するポリウレタン化合物としては、市販のものを利用することができ、例えば、UXE−3044、UXE−3061、UXE−3063、UXE−3064、UXE−3073(商品名、日本化薬株式会社製)等が購入可能である。   As the polyurethane compound having the structure represented by the general formula (2), a commercially available product can be used. For example, UXE-3044, UXE-3061, UXE-3063, UXE-3064, UXE-3073 (product) Name, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.).

また、(A)成分としては、エポキシ化合物と不飽和モノカルボン酸のエステル化物に、飽和又は不飽和多塩基酸無水物を付加した付加反応物を用いることもできる。上記エポキシ化合物としては例えばビスフェノールA型、ビスフェノールF型とエピクロルヒドリンを反応させて得られるビスフェノール型エポキシ化合物が適しており、チバ・ガイギ社製GY−260、255、XB−2615等のビスフェノールA型、ビスフェノールF型、水添ビスフェノールA型、アミノ基含有、脂環式あるいはポリブタジエン変性等のエポキシ化合物が好適に用いられる。また、フェノール、クレゾール、ハロゲン化フェノール及びアルキルフェノール類とホルムアルデヒドとを酸性触媒下で反応して得られるノボラック類とエピクロルヒドリンを反応させて得られるノボラック型エポキシ化合物も適しており、東都化成株式会社製YDCN−701、704、YDPN−638、602、ダウ・ケミカル社製DEN−431、439、チバ・ガイギ社製EPN−1299、大日本インキ化学工業株式会社製N−730、770、865、665、673、VH−4150、4240、日本化薬株式会社製EOCN−120等が挙げられる。   In addition, as the component (A), an addition reaction product obtained by adding a saturated or unsaturated polybasic acid anhydride to an esterified product of an epoxy compound and an unsaturated monocarboxylic acid can also be used. As the epoxy compound, for example, bisphenol type epoxy compounds obtained by reacting bisphenol A type, bisphenol F type and epichlorohydrin are suitable, and bisphenol A types such as GY-260, 255, XB-2615 manufactured by Ciba Geigy, Epoxy compounds such as bisphenol F type, hydrogenated bisphenol A type, amino group-containing, alicyclic or polybutadiene-modified are preferably used. Also suitable are novolak-type epoxy compounds obtained by reacting novolaks obtained by reacting phenol, cresol, halogenated phenols and alkylphenols with formaldehyde in the presence of an acidic catalyst and epichlorohydrin. YDCN manufactured by Toto Kasei Co., Ltd. -701, 704, YDPN-638, 602, DEN-431, 439 manufactured by Dow Chemical Co., Ltd., EPN-1299 manufactured by Ciba Geigy Co., Ltd., N-730, 770, 865, 665, 673 manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Inc. , VH-4150, 4240, Nippon Kayaku Co., Ltd. EOCN-120, and the like.

また、ビスフェノール型、ノボラック型エポキシ化合物以外にも、例えばサリチルアルデヒド−フェノールあるいはクレゾール型エポキシ化合物(日本化薬株式会社製EPPN502H、FAE2500等)が好適に用いられる。また、例えばジャパンエポキシレジン株式会社製エピコート828、1007、807、大日本インキ化学工業株式会社(DIC株式会社)製エピクロン840、860、3050、ダウ・ケミカル社製DER−330、337、361、ダイセル化学工業株式会社製セロキサイド2021、三菱ガス化学株式会社製TETRAD−X、C、日本曹達株式会社製EPB−13、27等が使用できる。これらの混合物あるいはブロック共重合物も使用できる。   In addition to bisphenol type and novolak type epoxy compounds, for example, salicylaldehyde-phenol or cresol type epoxy compounds (Nippon Kayaku Co., Ltd. EPPN502H, FAE2500, etc.) are preferably used. Further, for example, Epicoat 828, 1007, 807 manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., Epicron 840, 860, 3050 manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Inc. (DIC Corporation), DER-330, 337, 361 manufactured by Dow Chemical Co., Ltd., Daicel Chemical Industry Co., Ltd. Celoxide 2021, Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd. TETRAD-X, C, Nippon Soda Co., Ltd. EPB-13, 27, etc. can be used. Mixtures or block copolymers of these can also be used.

上記不飽和モノカルボン酸としては、(メタ)アクリル酸、クロトン酸、桂皮酸及び飽和又は不飽和多塩基酸無水物と1分子中に1個の水酸基を有する(メタ)アクリレート類あるいは飽和又は不飽和二塩基酸と不飽和モノグリシジル化合物との半エステル化合物類との反応物、例えばフタル酸、テトラヒドロフタル酸、へキサヒドロフタル酸、マレイン酸、コハク酸とヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、トリス(ヒドロキシエチル)イソシアヌレートジ(メタ)アクリレート、グリシジル(メタ)アクリレートを常法により等モル比で反応させて得られる反応物が挙げられる。これらの不飽和モノカルボン酸は単独又は混合して用いることができる。これらの中でアクリル酸が好ましい。   Examples of the unsaturated monocarboxylic acid include (meth) acrylic acid, crotonic acid, cinnamic acid, saturated or unsaturated polybasic acid anhydrides and (meth) acrylates having one hydroxyl group per molecule, or saturated or unsaturated. Reactions of half-ester compounds of saturated dibasic acids with unsaturated monoglycidyl compounds, eg phthalic acid, tetrahydrophthalic acid, hexahydrophthalic acid, maleic acid, succinic acid and hydroxyethyl (meth) acrylate, hydroxypropyl Examples thereof include reactants obtained by reacting (meth) acrylate, tris (hydroxyethyl) isocyanurate di (meth) acrylate, and glycidyl (meth) acrylate at an equimolar ratio by a conventional method. These unsaturated monocarboxylic acids can be used alone or in combination. Of these, acrylic acid is preferred.

上記飽和又は不飽和多塩基酸無水物としてはフタル酸、テトラヒドロフタル酸、ヘキサヒドロフタル酸、マレイン酸、コハク酸、トリメリット酸等の無水物が用いられる。   Examples of the saturated or unsaturated polybasic acid anhydride include anhydrides such as phthalic acid, tetrahydrophthalic acid, hexahydrophthalic acid, maleic acid, succinic acid, and trimellitic acid.

また、市販品のカルボキシル基及びエチレン性不飽和基を有する重合性プレポリマーとしては、日本化薬株式会社製ZAR−1035、CCR-1171H、PCR−1050等が挙げられる。   Moreover, Nippon Kayaku Co., Ltd. product ZAR-1035, CCR-1171H, PCR-1050 etc. are mentioned as a polymeric prepolymer which has a carboxyl group and an ethylenically unsaturated group.

(A)成分としては(メタ)アクリル酸及び(メタ)アクリル酸アルキルエステルを共重合成分として得られるビニル系共重合化合物も使用することができる。
例えば、(メタ)アクリル酸及び(メタ)アクリル酸アルキルエステル等を共重合成分としてラジカル重合させることにより得られる。
As the component (A), a vinyl copolymer compound obtained by using (meth) acrylic acid and (meth) acrylic acid alkyl ester as a copolymerization component can also be used.
For example, it can be obtained by radical polymerization of (meth) acrylic acid and (meth) acrylic acid alkyl ester as a copolymerization component.

上記(メタ)アクリル酸アルキルエステルとしては、例えば、(メタ)アクリル酸メチルエステル、(メタ)アクリル酸エチルエステル、(メタ)アクリル酸プロピルエステル、(メタ)アクリル酸ブチルエステル、(メタ)アクリル酸ペンチルエステル、(メタ)アクリル酸ヘキシルエステル、(メタ)アクリル酸ヘプチルエステル、(メタ)アクリル酸オクチルエステル、及び(メタ)アクリル酸2−エチルヘキシルエステル等が挙げられる。   Examples of the (meth) acrylic acid alkyl ester include (meth) acrylic acid methyl ester, (meth) acrylic acid ethyl ester, (meth) acrylic acid propyl ester, (meth) acrylic acid butyl ester, and (meth) acrylic acid. Examples include pentyl ester, (meth) acrylic acid hexyl ester, (meth) acrylic acid heptyl ester, (meth) acrylic acid octyl ester, and (meth) acrylic acid 2-ethylhexyl ester.

上記ビニル系共重合体化合物としては、(メタ)アクリル酸アルキルエステルや(メタ)アクリル酸とともに、これらと共重合し得るビニルモノマーを共重合させて得られる化合物を使用してもよい。このようなビニルモノマーとしては、例えば、ジアセトンアクリルアミド等のアクリルアミド、アクリロニトリル及びビニル−n−ブチルエーテル等のビニルアルコールのエーテル類、(メタ)アクリル酸テトラヒドロフルフリルエステル、(メタ)アクリル酸ジメチルアミノエチルエステル、(メタ)アクリル酸ジエチルアミノエチルエステル、(メタ)アクリル酸グリシジルエステル、2,2,2−トリフルオロエチル(メタ)アクリレート、2,2,3,3−テトラフルオロプロピル(メタ)アクリレート、α−ブロモ(メタ)アクリル酸、α−クロル(メタ)アクリル酸、β−フリル(メタ)アクリル酸、及びβ−スチリル(メタ)アクリル酸等の(メタ)アクリル酸系単量体、マレイン酸、マレイン酸無水物、マレイン酸モノメチル、マレイン酸モノエチル、及びマレイン酸モノイソプロピル等のマレイン酸系単量体、フマル酸、ケイ皮酸、α−シアノケイ皮酸、イタコン酸、クロトン酸、プロピオール酸、スチレン、及びビニルトルエン等が挙げられる。これらは単独で又は2種類以上を組み合わせて用いることができる。   As said vinyl type copolymer compound, you may use the compound obtained by copolymerizing the vinyl monomer which can be copolymerized with these with (meth) acrylic-acid alkylester and (meth) acrylic acid. Examples of such vinyl monomers include acrylamide such as diacetone acrylamide, ethers of vinyl alcohol such as acrylonitrile and vinyl-n-butyl ether, tetrahydrofurfuryl ester of (meth) acrylic acid, dimethylaminoethyl (meth) acrylate. Ester, (meth) acrylic acid diethylaminoethyl ester, (meth) acrylic acid glycidyl ester, 2,2,2-trifluoroethyl (meth) acrylate, 2,2,3,3-tetrafluoropropyl (meth) acrylate, α -(Meth) acrylic monomers such as bromo (meth) acrylic acid, α-chloro (meth) acrylic acid, β-furyl (meth) acrylic acid, and β-styryl (meth) acrylic acid, maleic acid, Maleic anhydride, monomethyl maleate Monoethyl maleate, and maleic acid monomers such as maleic acid monoisopropyl, fumaric acid, cinnamic acid, alpha-cyanocinnamic acid, itaconic acid, crotonic acid, propiolic acid, styrene, and a vinyl toluene. These can be used alone or in combination of two or more.

また、(メタ)アクリル酸アルキルエステル及び(メタ)アクリル酸と共重合し得るビニルモノマー共重合体の側鎖及び/又は末端にエチレン性不飽和結合を導入した共重合体も好適である。ビニルモノマー共重合体としては、アクリル酸、メタクリル酸、フマル酸、ケイヒ酸、クロトン酸、イタコン酸等のカルボキシル基を持つビニル重合性単量体と、メチルメタクリレート、メチルアクリレート、エチルメタクリレート、エチルアクリレート、n−プロピルメタクリレート、n−プロピルアクリレート、ブチルメタクリレート、ブチルアクリレート、ラウリルメタクリレート、ラウリルアクリレート、2−エチルヘキシルメタクリレート、2−エチルヘキシルアクリレート、ビニルトルエン、N−ビニルピロリドン、α−メチルスチレン、2−ヒドロキシエチルメタクリレート、2−ヒドロキシエチルアクリレート、アクリルアミド、アクリロニトリル、ジメチルアミノエチルメタクリレート、ジメチルアミノエチルアクリレート等のビニル重合性単量体を、有機溶剤中でアゾビスイソブチロニトリル、アゾビスジメチルバレロニトリル、過酸化ベンゾイル等の重合開始剤を用いて一般的な溶液重合により得られるものを用いることができる。   Moreover, the copolymer which introduce | transduced the ethylenically unsaturated bond into the side chain and / or terminal of the vinyl monomer copolymer which can be copolymerized with (meth) acrylic-acid alkylester and (meth) acrylic acid is also suitable. Examples of vinyl monomer copolymers include vinyl polymerizable monomers having a carboxyl group such as acrylic acid, methacrylic acid, fumaric acid, cinnamic acid, crotonic acid, and itaconic acid, and methyl methacrylate, methyl acrylate, ethyl methacrylate, and ethyl acrylate. , N-propyl methacrylate, n-propyl acrylate, butyl methacrylate, butyl acrylate, lauryl methacrylate, lauryl acrylate, 2-ethylhexyl methacrylate, 2-ethylhexyl acrylate, vinyl toluene, N-vinyl pyrrolidone, α-methyl styrene, 2-hydroxyethyl Methacrylate, 2-hydroxyethyl acrylate, acrylamide, acrylonitrile, dimethylaminoethyl methacrylate, dimethylaminoethyl acrylate Use vinyl polymerizable monomers such as those obtained by general solution polymerization using polymerization initiators such as azobisisobutyronitrile, azobisdimethylvaleronitrile, and benzoyl peroxide in an organic solvent. Can do.

(A)成分の含有量は、感光性樹脂組成物中の有機化合物固形物全量を基準として20〜80質量%が好ましく、30〜70質量%がより好ましい。   The content of the component (A) is preferably 20 to 80% by mass, and more preferably 30 to 70% by mass based on the total amount of solid organic compound in the photosensitive resin composition.

(A)成分の酸価は、25〜140mgKOH/gであることが好ましく、45〜100mgKOH/gであることがより好ましく、55〜80mgKOH/gであることがさらに好ましい。(A)成分の酸価が25mgKOH/g以上であることで、感光性樹脂組成物のアルカリ水溶液による現像性が良好となり、優れた解像度が得られ易くなり、酸価が140mgKOH/g以下であることで、可とう性に優れた感光性樹脂組成物の硬化膜が得られる易くなる。   (A) It is preferable that the acid value of a component is 25-140 mgKOH / g, It is more preferable that it is 45-100 mgKOH / g, It is further more preferable that it is 55-80 mgKOH / g. When the acid value of the component (A) is 25 mgKOH / g or more, the developability of the photosensitive resin composition with an alkaline aqueous solution is improved and excellent resolution is easily obtained, and the acid value is 140 mgKOH / g or less. Thereby, it becomes easy to obtain the cured film of the photosensitive resin composition excellent in flexibility.

(A)成分の酸価は、以下の方法により測定することができる。まず、(A)成分としての樹脂溶液約1gを精秤した後、その樹脂溶液にアセトンを30g添加し、樹脂溶液を均一に溶解する。次いで、指示薬であるフェノールフタレインをその溶液に適量添加して、0.1NのKOH水溶液を用いて滴定を行う。そして、滴定結果より下記式(3)により酸価を算出する(式中、VfはKOH水溶液の滴定量(mL)を示し、Wpは(A)成分としての樹脂溶液の質量(g)を示し、Iは(A)成分としての樹脂溶液の不揮発分の割合(質量%)を示す。)。

酸価(mgKOH/g)=10×Vf×56.1/(Wp×I) (3)
The acid value of the component (A) can be measured by the following method. First, after precisely weighing about 1 g of the resin solution as the component (A), 30 g of acetone is added to the resin solution to uniformly dissolve the resin solution. Next, an appropriate amount of phenolphthalein as an indicator is added to the solution, and titration is performed using a 0.1N aqueous KOH solution. Then, the acid value is calculated from the titration result by the following formula (3) (where Vf represents the titration amount (mL) of the KOH aqueous solution, and Wp represents the mass (g) of the resin solution as the component (A). , I represents the ratio (% by mass) of the nonvolatile content of the resin solution as the component (A).

Acid value (mgKOH / g) = 10 × Vf × 56.1 / (Wp × I) (3)

(A)成分の重量平均分子量は、感光性樹脂組成物の成膜性、硬化膜の耐クラック性及び耐HAST性を向上する観点から、5000〜20000であるが、8500〜15500であることがより好ましく、7000〜15000であることがさらに好ましい。平均分子量が5000より大きいことで、印刷・乾燥後の感光性樹脂組成物のベタつきが少なくなり、装置への樹脂組成物の付着による汚染や、異物の不着による感光層表面の汚染が発生しづらくすることができる。また、平均分子量が20000より小さいことで、樹脂組成物のスクリーン印刷時の版離れが良くなるとともに、希アルカリ水溶液による現像を可能にすることができる。   The weight average molecular weight of the component (A) is 5000 to 20000 from the viewpoint of improving the film formability of the photosensitive resin composition, the crack resistance and the HAST resistance of the cured film, and may be 8500 to 15500. More preferably, it is 7000-15000. When the average molecular weight is greater than 5,000, stickiness of the photosensitive resin composition after printing and drying is reduced, and contamination due to adhesion of the resin composition to the apparatus and contamination of the surface of the photosensitive layer due to non-adherence of foreign matter are less likely to occur. can do. Moreover, when the average molecular weight is smaller than 20000, the plate separation at the time of screen printing of the resin composition is improved, and development with a dilute alkaline aqueous solution can be made possible.

(A)成分の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)による標準ポリスチレン換算値により求めることができる。なお、GPCにおける測定の条件は以下のとおりである。
カラム:Gelpack GL−R440+GL−R450+GL−R400M
流量:2.05mL/min
濃度:120mg/5mL
注入量:200μL
溶離液:THF
(A) The weight average molecular weight of a component can be calculated | required by the standard polystyrene conversion value by a gel permeation chromatography (GPC). The measurement conditions in GPC are as follows.
Column: Gelpack GL-R440 + GL-R450 + GL-R400M
Flow rate: 2.05 mL / min
Concentration: 120 mg / 5 mL
Injection volume: 200 μL
Eluent: THF

<(B)成分>
(B)成分のエチレン性不飽和結合を有する化合物の具体例としては、例えば、ビスフェノールA系(メタ)アクリレート化合物;多価アルコールにα,β−不飽和カルボン酸を反応させて得られる化合物;グリシジル基含有化合物にα,β−不飽和カルボン酸を反応させて得られる化合物;ウレタン結合を有する(メタ)アクリレート化合物等のウレタンモノマー又はウレタンオリゴマーが挙げられ、これら以外にも、ノニルフェノキシポリオキシエチレンアクリレート;γ−クロロ−β−ヒドロキシプロピル−β´−(メタ)アクリロイルオキシエチル−o−フタレート、β−ヒドロキシアルキル−β´−(メタ)アクリロイルオキシアルキル−o−フタレート等のフタル酸系化合物;(メタ)アクリル酸アルキルエステル、エチレンオキサイド(EO)変性ノニルフェニル(メタ)アクリレート等が例示可能である。これらは1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
<(B) component>
Specific examples of the compound (B) having an ethylenically unsaturated bond include, for example, a bisphenol A (meth) acrylate compound; a compound obtained by reacting a polyhydric alcohol with an α, β-unsaturated carboxylic acid; A compound obtained by reacting a glycidyl group-containing compound with an α, β-unsaturated carboxylic acid; a urethane monomer or urethane oligomer such as a (meth) acrylate compound having a urethane bond; in addition to these, nonylphenoxypolyoxy Phthalic acid compounds such as ethylene acrylate; γ-chloro-β-hydroxypropyl-β ′-(meth) acryloyloxyethyl-o-phthalate, β-hydroxyalkyl-β ′-(meth) acryloyloxyalkyl-o-phthalate ; (Meth) acrylic acid alkyl ester, ethylene oxide (EO) modified nonylphenyl (meth) acrylate and the like can be exemplified. These can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

上記の中でも、密着性及び解像性に優れる点では、ビスフェノールA系(メタ)アクリレート化合物を含むことが好ましい。ビスフェノールA系(メタ)アクリレート化合物としては、例えば、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシポリエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシポリプロポキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシポリブトキシ)フェニル)プロパン及び2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシポリエトキシポリプロポキシ)フェニル)プロパン等が挙げられる。   Among these, it is preferable to include a bisphenol A-based (meth) acrylate compound in terms of excellent adhesion and resolution. Examples of bisphenol A-based (meth) acrylate compounds include 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolyethoxy) phenyl) propane and 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolypropoxy). ) Phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolybutoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolyethoxypolypropoxy) phenyl) propane, etc. Can be mentioned.

(B)成分の含有量は、解像性及び難燃性の観点から、感光性樹脂組成物中の(B)成分の含有量が、5〜80質量%であることが好ましく、10〜80質量%であることがより好ましい。(B)成分の含有量が5質量%未満では実装時の反り、反発性が劣る傾向があり、80質量%を超えて多い場合は難燃性が低下する傾向がある。   The content of the component (B) is preferably 5 to 80% by mass from the viewpoint of resolution and flame retardancy, and the content of the component (B) in the photosensitive resin composition is preferably 10 to 80%. More preferably, it is mass%. When the content of the component (B) is less than 5% by mass, the warping and rebound characteristics during mounting tend to be inferior, and when the content exceeds 80% by mass, the flame retardancy tends to decrease.

<(C)成分>
本実施形態の(C)成分である光重合開始剤としては、例えば、ベンゾフェノン、N,N´−テトラアルキル−4,4´−ジアミノベンゾフェノン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタノン−1、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルホリノ−プロパノン−1等の芳香族ケトン;ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインフェニルエーテル等のベンゾインエーテル;ベンジルジメチルケタール等のベンジル誘導体;2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジ(m−メトキシフェニル)イミダゾール二量体、2−(o−フルオロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(o−メトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2,4−ジ(p−メトキシフェニル)−5−フェニルイミダゾール二量体、2−(2,4−ジメトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体等の2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体;9−フェニルアクリジン、1,7−ビス(9,9´−アクリジニル)ヘプタン等のアクリジン誘導体;N−フェニルグリシン、N−フェニルグリシン誘導体、クマリン系化合物等などが挙げられる。これらは1種類を単独で又は2種類以上を組み合わせて用いることができる。
<(C) component>
Examples of the photopolymerization initiator that is the component (C) of this embodiment include benzophenone, N, N′-tetraalkyl-4,4′-diaminobenzophenone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4 -Morpholinophenyl) -butanone-1, 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-propanone-1, etc. aromatic ketones; benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin phenyl ether, etc. Benzoin ether; benzyl derivatives such as benzyldimethyl ketal; 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-di (m-methoxyphenyl) imidazole 2-mer (2- (o-fluorophenyl) -4,5-diphenylimidazole) 2- (o-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2,4-di (p-methoxyphenyl) -5-phenylimidazole dimer, 2- (2,4-dimethoxyphenyl) ) 4,4,5-triarylimidazole dimers such as 4,5-diphenylimidazole dimer; acridine derivatives such as 9-phenylacridine, 1,7-bis (9,9′-acridinyl) heptane; N-phenylglycine, N-phenylglycine derivatives, coumarin compounds and the like can be mentioned. These can be used singly or in combination of two or more.

本実施形態に係る(C)成分は、感度及び解像度を良好にする観点から、芳香族ケトンを含有することが好ましく、中でもα-アミノアルキルフェノン化合物を含むことが好ましい。α-アミノアルキルフェノン化合物としては、例えば、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルホリノ−プロパノン−1が挙げられる。   From the viewpoint of improving sensitivity and resolution, the component (C) according to this embodiment preferably contains an aromatic ketone, and particularly preferably contains an α-aminoalkylphenone compound. Examples of the α-aminoalkylphenone compound include 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-propanone-1.

(C)成分の含有量は、光感度の観点から、感光性樹脂組成物中の(C)成分の含有量が、0.1〜10質量%であることが好ましく、0.2〜5質量%であることがより好ましい。   As for content of (C) component, it is preferable that content of (C) component in the photosensitive resin composition is 0.1-10 mass% from a viewpoint of photosensitivity, and 0.2-5 mass % Is more preferable.

<(D)成分>
(D)成分である、リン含有難燃剤は、下記一般式(1)で示されるホスフィン酸塩であると好ましい。
<(D) component>
The phosphorus-containing flame retardant that is the component (D) is preferably a phosphinic acid salt represented by the following general formula (1).

Figure 2013073064
[一般式(1)中、A及びBは各々独立に、直鎖状の若しくは枝分かれした炭素数1〜6のアルキル基又はアリール基を示し、MはMg、Ca、Al、Sb、Sn、Ge、Ti、Zn、Fe、Zr、Ce、Bi、Sr、Mn、Li、Na及びKからなる群より選択される金属類の少なくとも1種であり、mは1〜4の整数である。]
A、Bの具体例としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、第三−ブチル基、n−ペンチル基、フェニル基等が挙げられる。
Figure 2013073064
[In General Formula (1), A and B each independently represent a linear or branched alkyl group or aryl group having 1 to 6 carbon atoms, and M represents Mg, Ca, Al, Sb, Sn, Ge. , Ti, Zn, Fe, Zr, Ce, Bi, Sr, Mn, Li, Na, and K. At least one metal selected from the group consisting of K and m is an integer of 1 to 4. ]
Specific examples of A and B include, for example, methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, tert-butyl group, n-pentyl group, and phenyl group.

またホスフィン酸塩の80質量%以上は、感光性樹脂組成物及び、永久マスクレジストに用いた際の信頼性の見地から、ホスフィン酸塩の粒子の粒度(粒径)が10μm以下であることが好ましく、5μm以下であるとさらに好ましく、3μm以下であると特に好ましい。この粒子の粒度が10μmを超えると、感光性樹脂組成物の塗膜外観が悪くなる傾向があり、高解像度のプリント配線板の製造が困難になる傾向がある。   Further, 80% by mass or more of the phosphinic acid salt may have a particle size (particle size) of 10 μm or less from the viewpoint of reliability when used for the photosensitive resin composition and the permanent mask resist. It is preferably 5 μm or less, more preferably 3 μm or less. When the particle size of the particles exceeds 10 μm, the appearance of the coating film of the photosensitive resin composition tends to be deteriorated, and the production of a high-resolution printed wiring board tends to be difficult.

(D)成分は、感光性樹脂組成物中のリン含有量が1.5〜5.0質量%の範囲になるように含有させることが好ましい。リン含有量が1.5質量%以上とすることで必要な難燃性を確保することが可能となり、また、5.0質量%以下とすることで、低反り、低反発の柔軟性に富んだ硬化膜を形成することが可能である。ホスフィン酸塩は、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用することができる。   The component (D) is preferably contained so that the phosphorus content in the photosensitive resin composition is in the range of 1.5 to 5.0% by mass. When the phosphorus content is 1.5% by mass or more, necessary flame retardancy can be secured, and by 5.0% by mass or less, low warpage and low rebound flexibility are abundant. It is possible to form a cured film. Phosphinates can be used alone or in combination of two or more.

ホスフィン酸塩は市販品を使用することができ、例えば、EXOLIT OP 930、EXOLIT OP 935、EXOLIT OP 940(いずれもクラリアントジャパン株式会社製、商品名)を用いることもできる。   A commercial item can be used for the phosphinic acid salt, for example, EXOLIT OP 930, EXOLIT OP 935, EXOLIT OP 940 (all are the Clariant Japan Co., Ltd. make, brand name) can also be used.

<(E)成分>
(E)成分である熱硬化剤は、フェノール・ホルムアルデヒド重縮合物のエピクロルヒドリンによるグリシジルエーテル化物および、またはその誘導体で、さらにそのエポキシ当量(g/eq、以下同様)が160以上である。上記エポキシ当量は300以上であることが好ましい。また、5000以下であることが好ましい。エポキシ当量を160以上とすることで、乾燥後の表面タック、および熱プレス時のブリードが低減し、低反り・低反発の硬化膜となる。また、エポキシ当量を5000以下とすることで、現像性が向上し、硬化膜の絶縁信頼性が向上する。なお、エポキシ当量は下記の方法で測定することができる。
<(E) component>
The thermosetting agent as component (E) is a glycidyl etherified product of epichlorohydrin of phenol / formaldehyde polycondensate and / or its derivative, and its epoxy equivalent (g / eq, hereinafter the same) is 160 or more. The epoxy equivalent is preferably 300 or more. Moreover, it is preferable that it is 5000 or less. By setting the epoxy equivalent to 160 or more, surface tack after drying and bleed during hot pressing are reduced, and a cured film with low warpage and low resilience is obtained. Moreover, by making an epoxy equivalent into 5000 or less, developability improves and the insulation reliability of a cured film improves. The epoxy equivalent can be measured by the following method.

(エポキシ当量の測定方法)
約4(g)のエポキシ樹脂試料を100mlのビーカーに精秤し、メチレンクロライド50mlを加えて溶解させる。これにテトラエチルアンモニウムブロマイド/酢酸溶液10mlとクリスタルバイオレット指示薬2〜3滴加え、0.1N過塩素酸/酢酸溶液で滴定する。滴定の終点は、指示薬の変色点とする。又、同様の方法で空試験を行ない、エポキシ当量は下式により求める。
<エポキシ当量>
(g/eq)=1000×W×α/((V−B)×N×F)
W:試料質量
α:エポキシ樹脂試料の不揮発分
V:0.1N過塩素酸/酢酸溶液の滴定量(ml)
B:空試験での0.1N過塩素酸/酢酸溶液の滴定量(ml)
N:0.1N過塩素酸/酢酸溶液の規定度(eq/1)
F:0.1N過塩素酸/酢酸溶液の力価
エポキシ樹脂試料の不揮発分(α)の測定方法
約1(g)のエポキシ樹脂試料を、予め精秤(W)した直径50mmのアルミ皿に精秤して薄く伸ばし(W)、108℃−3時間の乾燥後、放冷し、アルミ皿の質量(W)を測定する。
これらの質量差より樹脂分率αを求める。
<樹脂分率;α>=(W3−W1)/(W2−W1
1;アルミ皿の質量(g)
2;エポキシ樹脂試料+アルミ皿の質量(g)
3;乾燥後のエポキシ樹脂試料+アルミ皿の質量(g)
(Measurement method of epoxy equivalent)
About 4 (g) of the epoxy resin sample is precisely weighed in a 100 ml beaker, and 50 ml of methylene chloride is added and dissolved. To this, 10 ml of tetraethylammonium bromide / acetic acid solution and 2 to 3 drops of crystal violet indicator are added and titrated with 0.1N perchloric acid / acetic acid solution. The end point of titration is the color change point of the indicator. In addition, a blank test is performed in the same manner, and the epoxy equivalent is determined by the following equation.
<Epoxy equivalent>
(G / eq) = 1000 × W × α / ((V−B) × N × F)
W: Sample mass
* Α: Nonvolatile content of epoxy resin sample V: Titration amount of 0.1N perchloric acid / acetic acid solution (ml)
B: Titration of 0.1N perchloric acid / acetic acid solution in blank test (ml)
N: Normality of 0.1N perchloric acid / acetic acid solution (eq / 1)
F: Potency of 0.1N perchloric acid / acetic acid solution
* Measurement method of non-volatile content (α) of epoxy resin sample About 1 (g) of epoxy resin sample was precisely weighed on an aluminum dish with a diameter of 50 mm that was precisely weighed in advance (W 1 ) and thinly stretched (W 2 ), 108 After drying at 3 ° C. for 3 hours, it is allowed to cool and the mass (W 3 ) of the aluminum dish is measured.
The resin fraction α is determined from these mass differences.
<Resin fraction; α> = (W 3 −W 1 ) / (W 2 −W 1 )
W 1 : Mass of aluminum dish (g)
W 2 : Mass of epoxy resin sample + aluminum dish (g)
W 3 ; epoxy resin sample after drying + mass of aluminum dish (g)

(E)成分である熱硬化剤は、フェノール・ホルムアルデヒド重縮合物のエピクロルヒドリンによるグリシジルエーテル化物および、またはその誘導体であり、フェノール・ホルムアルデヒド重縮合物のエピクロルヒドリンによるグリシジルエーテル化物のグリシジル基の一部を変性させたものも使用可能である。例えば、アクリル酸やメタクリル酸を付加して光反応性を付与したものや、反応性リン化合物、反応性窒素化合物等を付加して難燃性を向上させたもの、ポリエチレングリコールを付加して柔軟性を付与させたものなどである。   The thermosetting agent as component (E) is a glycidyl etherified product of a phenol / formaldehyde polycondensate with epichlorohydrin and / or a derivative thereof. A modified one can also be used. For example, acrylic acid or methacrylic acid is added to provide photoreactivity, reactive phosphorus compounds, reactive nitrogen compounds, etc. are added to improve flame retardancy, and polyethylene glycol is added for flexibility. Such as those imparted with sex.

また、他の熱硬化剤と組み合わせて使用することも可能で、組み合わせる熱硬化剤は、例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、尿素樹脂、メラミン樹脂等の熱硬化性の化合物などが挙げられる。エポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型三級脂肪酸変性ポリオールエポキシ樹脂;フタル酸ジグリシジルエステル、テトラヒドロフタル酸ジグリシジルエステル等のジグリシジルエステル類、ジグリシジルアニリン、ジグリシジルトルイジン等のジグリシジルアミン類等が挙げられる。これらは1種を単独で、または2種以上を併用して使用してもよい。   Moreover, it can also be used in combination with another thermosetting agent. Examples of the thermosetting agent to be combined include thermosetting compounds such as epoxy resins, phenol resins, urea resins, and melamine resins. Examples of the epoxy resin include bisphenol A type tertiary fatty acid-modified polyol epoxy resin; diglycidyl esters such as diglycidyl phthalate and diglycidyl tetrahydrophthalate, and diglycidyl amines such as diglycidyl aniline and diglycidyl toluidine. Etc. These may be used alone or in combination of two or more.

熱硬化剤として、潜在性の熱硬化剤であるブロックイソシアネート化合物を用いることもできる。ブロックイソシアネート化合物としては、例えば、アルコール化合物、フェノール化合物、ε−カプロラクタム、オキシム化合物、活性メチレン化合物等のブロック剤によりブロック化されたポリイソシアネート化合物が挙げられる。ブロック化されるポリイソシアネート化合物としては、4,4−ジフェニルメタンジシソシアネート、2,4−トリレンジイソシアネート、2,6−トリレンジイソシアネート、ナフタレン1,5−ジイソシアネート、o−キシレンジイソシアネート、m−キシレンジイソシアネート、2,4−トリレンダイマー等の芳香族ポリイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、4,4−メチレンビス(シクロヘキシルイソシアネート)、イソホロンジイソシアネート等の脂肪族ポリイソシアネート、ビシクロヘプタントリイソシアネート等の脂環式ポリイソシアネートが挙げられ、耐熱性の観点からは芳香族ポリイソシアネートが、着色防止の観点からは脂肪族ポリイソシアネート又は脂環式ポリイソシアネートが好ましい。   As the thermosetting agent, a block isocyanate compound which is a latent thermosetting agent can also be used. Examples of the blocked isocyanate compound include polyisocyanate compounds blocked with a blocking agent such as an alcohol compound, a phenol compound, ε-caprolactam, an oxime compound, and an active methylene compound. Examples of blocked polyisocyanate compounds include 4,4-diphenylmethane disissocyanate, 2,4-tolylene diisocyanate, 2,6-tolylene diisocyanate, naphthalene 1,5-diisocyanate, o-xylene diisocyanate, and m-xylene. Aromatic polyisocyanates such as diisocyanates, 2,4-tolylene dimers, aliphatic polyisocyanates such as hexamethylene diisocyanate, 4,4-methylenebis (cyclohexyl isocyanate), isophorone diisocyanate, and alicyclic polyisocyanates such as bicycloheptane triisocyanate An aromatic polyisocyanate is preferable from the viewpoint of heat resistance, and an aliphatic polyisocyanate or an alicyclic polyisocyanate is preferable from the viewpoint of preventing coloring.

(E)成分の含有量は、難燃性及び絶縁信頼性の観点から、感光性樹脂組成物中の含有量が、5〜60質量%であることが好ましく、10〜50質量%であることがより好ましい。含有量を5質量%以上とすることで、乾燥後の表面タック・硬化後の柔軟性・耐薬品性・絶縁信頼性・難燃性が良好となり、60質量%以下とすることで解像性・現像性が良好となる。   (E) From content of a flame retardance and insulation reliability, it is preferable that content in the photosensitive resin composition is 5-60 mass%, and, as for content of (E) component, it is 10-50 mass%. Is more preferable. When the content is 5% by mass or more, the surface tack after drying, the flexibility after curing, the chemical resistance, the insulation reliability, and the flame retardancy are improved, and the resolution is achieved by setting the content to 60% by mass or less. -Good developability.

また、本発明の感光性樹脂組成物には、必要に応じて、マラカイトグリーン等の染料、ロイコクリスタルバイオレット等の光発色剤、熱発色防止剤若しくはp−トルエンスルホンアミド等の可塑剤、フタロシアニンブルー等のフタロシアニン系、アゾ系等の有機顔料若しくは二酸化チタン等の無機顔料、シリカ、アルミナ、タルク、炭酸カルシウム若しくは硫酸バリウム等の無機顔料からなる充填剤、消泡剤、安定剤、密着性付与剤、レベリング剤、酸化防止剤、香料或いはイメージング剤などを含有させることができる。これらの成分は、感光性樹脂組成物中の含有量として、各々0.01〜20質量%程度含有させることが好ましい。また、上記の成分は、1種類を単独で又は2種類以上を組み合わせて用いることができる。   In addition, the photosensitive resin composition of the present invention includes a dye such as malachite green, a photochromic agent such as leuco crystal violet, a plasticizer such as a thermochromic inhibitor or p-toluenesulfonamide, phthalocyanine blue, if necessary. Phthalocyanine-based organic pigments such as azo-based pigments, inorganic pigments such as titanium dioxide, silica, alumina, talc, calcium carbonate or barium sulfate, and other fillers, antifoaming agents, stabilizers, and adhesion-imparting agents , A leveling agent, an antioxidant, a fragrance, an imaging agent, or the like. These components are preferably contained in an amount of about 0.01 to 20% by mass as the content in the photosensitive resin composition. Moreover, said component can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

更に、本発明の感光性樹脂組成物は、必要に応じて、メタノール、エタノール、アセトン、メチルエチルケトン、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、トルエン、N,N−ジメチルホルムアミド、プロピレングリコールモノメチルエーテル等の溶剤又はこれらの混合溶剤に溶解し、固形分30〜70質量%程度の溶液として塗布することができる。   Furthermore, the photosensitive resin composition of the present invention may contain a solvent such as methanol, ethanol, acetone, methyl ethyl ketone, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, toluene, N, N-dimethylformamide, propylene glycol monomethyl ether or the like as necessary. It can melt | dissolve in a mixed solvent and can apply | coat as a solution of solid content about 30-70 mass%.

[感光性フィルム]
次に、本発明の永久マスクレジストや永久マスクレジストの製造方法に好適に用いることができる感光性フィルムについて説明する。
感光性フィルムは、支持体と、該支持体上に形成された本発明の感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂組成物層とを備えた感光性積層体からなるものである。感光性樹脂組成物層上には、該感光性樹脂組成物層を被覆する保護フィルムをさらに備えていてもよい。
[Photosensitive film]
Next, the photosensitive film which can be used suitably for the manufacturing method of the permanent mask resist and permanent mask resist of this invention is demonstrated.
A photosensitive film consists of a photosensitive laminated body provided with the support body and the photosensitive resin composition layer which consists of the photosensitive resin composition of this invention formed on this support body. On the photosensitive resin composition layer, you may further provide the protective film which coat | covers this photosensitive resin composition layer.

上記支持体としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート等のポリエステル、ポリプロピレン、ポリエチレン等の耐熱性及び耐溶剤性を有する重合体フィルムを用いることができる。上記支持体(重合体フィルム)の厚みは、5〜25μmとすることが好ましく、この厚みが5μm未満では、現像前に行う支持フィルム剥離の際に支持フィルムが破れやすくなる傾向があり、25μmを超えると解像度が低下する傾向がある。なお、上記重合体フィルムは、一つを支持体かつ保護フィルムとして感光樹脂組成物層の両面に積層して使用してもよい。   As the support, for example, a polymer film having heat resistance and solvent resistance such as polyester such as polyethylene terephthalate, polypropylene, and polyethylene can be used. The thickness of the support (polymer film) is preferably 5 to 25 μm. If the thickness is less than 5 μm, the support film tends to be broken when the support film is peeled off before development. If it exceeds, the resolution tends to decrease. In addition, you may use the said polymer film laminated | stacked on both surfaces of the photosensitive resin composition layer as a support body and a protective film.

上記保護フィルムとしては、例えば、ポリエチレンテレフタレート等のポリエステル、ポリプロピレン、ポリエチレン等の耐熱性及び耐溶剤性を有する重合体フィルムを用いることができる。市販のものとしては、例えば、王子製紙株式会社製の商品名:アルファンMA−410、E−200C、信越フィルム株式会社製等のポリプロピレンフィルム、帝人株式会社製の商品名:PS−25等のPSシリーズ等のポリエチレンテレフタレートフィルム等が挙げられるが、これらに限られたものではない。   As the protective film, for example, a polymer film having heat resistance and solvent resistance such as polyester such as polyethylene terephthalate, polypropylene, and polyethylene can be used. Examples of commercially available products include, for example, trade names made by Oji Paper Co., Ltd .: Alphan MA-410, E-200C, polypropylene films made by Shin-Etsu Film Co., Ltd., trade names made by Teijin Limited: PS-25, etc. Examples thereof include polyethylene terephthalate films such as PS series, but are not limited thereto.

上記保護フィルムの厚みは、1〜100μmであることが好ましく、5〜50μmであることがより好ましく、5〜30μmであることがさらに好ましく、15〜30μmであることが特に好ましい。この厚みが1μm未満では、ラミネートの際に保護フィルムが破れる傾向があり、100μmを超えると廉価性に劣る傾向がある。なお、保護フィルムは、感光性樹脂組成物層及び支持体の接着力よりも、感光性樹脂組成物層及び保護フィルムの接着力の方が小さいものが好ましく、また、低フィッシュアイのフィルムが好ましい。
フィッシュアイとは、材料を熱溶融し、混練、押し出し、2軸延伸、キャスティング法等によりフィルムを製造する際に、材料の異物、未溶解物、酸化劣化物等がフィルム中に取り込まれたものである。
The thickness of the protective film is preferably 1 to 100 μm, more preferably 5 to 50 μm, further preferably 5 to 30 μm, and particularly preferably 15 to 30 μm. If this thickness is less than 1 μm, the protective film tends to be broken during lamination, and if it exceeds 100 μm, the cost tends to be inferior. The protective film preferably has a smaller adhesive strength between the photosensitive resin composition layer and the protective film than the adhesive strength between the photosensitive resin composition layer and the support, and is preferably a low fisheye film. .
Fisheye is a material in which foreign materials, undissolved materials, oxidatively deteriorated materials, etc. are incorporated into the film when the material is melted and kneaded, extruded, biaxially stretched, or casted to produce a film. It is.

上記感光性樹脂組成物層は、本発明の感光性樹脂組成物を先に述べたような溶剤に溶解して固形分30〜70質量%程度の溶液(塗布液)とした後に、かかる溶液(塗布液)を支持体上に塗布して乾燥することにより形成することが好ましい。上記塗布は、例えば、ロールコータ、コンマコータ、グラビアコータ、エアーナイフコータ、ダイコータ、バーコータ等を用いた公知の方法で行うことができる。また、上記乾燥は70〜150℃、5〜30分間程度で行うことができる。感光性樹脂組成物中の残存有機溶剤量は、後の工程での有機溶剤の拡散を防止する点から、感光性樹脂組成物の総量に対して3質量%以下とすることが好ましい。   The photosensitive resin composition layer is prepared by dissolving the photosensitive resin composition of the present invention in a solvent as described above to obtain a solution (coating solution) having a solid content of about 30 to 70% by mass. The coating liquid is preferably formed by coating on a support and drying. The application can be performed by a known method using, for example, a roll coater, comma coater, gravure coater, air knife coater, die coater, bar coater or the like. Moreover, the said drying can be performed at 70-150 degreeC and about 5 to 30 minutes. The amount of the remaining organic solvent in the photosensitive resin composition is preferably 3% by mass or less with respect to the total amount of the photosensitive resin composition from the viewpoint of preventing diffusion of the organic solvent in the subsequent step.

上記感光層の厚みは、用途により異なるが、乾燥後の厚みで5〜200μmであることが好ましく、15〜60μmであることがより好ましく、20〜50μmであることが特に好ましい。この厚みが5μm未満では、工業的に塗工困難な傾向があり、200μmを超えると感光性樹脂組成物層内部の感度及び解像度が低下する傾向がある。   Although the thickness of the said photosensitive layer changes with uses, it is preferable that it is 5-200 micrometers by the thickness after drying, It is more preferable that it is 15-60 micrometers, It is especially preferable that it is 20-50 micrometers. If the thickness is less than 5 μm, it tends to be difficult to apply industrially, and if it exceeds 200 μm, the sensitivity and resolution inside the photosensitive resin composition layer tend to be lowered.

上記感光性フィルムは、さらにクッション層、接着層、光吸収層、ガスバリア層等の中間層等を有していてもよい。また、得られた感光性フィルムはシート状、又は巻芯にロール状に巻き取って保管することができる。なお、この際支持体が最も外側になるように巻き取られることが好ましい。上記ロール状の感光性フィルムロールの端面には、端面保護の観点から端面セパレータを設置することが好ましく、耐エッジフュージョンの観点から防湿端面セパレータを設置することが好ましい。また、梱包方法として、透湿性の小さいブラックシートに包んで包装することが好ましい。上記巻芯としては、例えば、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ABS樹脂(アクリロニトリル−ブタジエン−スチレン共重合体)等のプラスチックなどが挙げられる。   The photosensitive film may further have an intermediate layer such as a cushion layer, an adhesive layer, a light absorption layer, and a gas barrier layer. Moreover, the obtained photosensitive film can be wound up and stored in a sheet form or a roll around a core. In addition, it is preferable to wind up so that a support body may become the outermost part in this case. From the viewpoint of end face protection, it is preferable to install an end face separator on the end face of the roll-shaped photosensitive film roll, and it is preferable to install a moisture-proof end face separator from the viewpoint of edge fusion resistance. Moreover, as a packing method, it is preferable to wrap and package in a black sheet with low moisture permeability. Examples of the winding core include plastics such as polyethylene resin, polypropylene resin, polystyrene resin, polyvinyl chloride resin, and ABS resin (acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer).

[レジストパターンの形成方法]
次に、上記の感光性フィルムを用いたレジストパターンの形成方法について説明する。
[Method of forming resist pattern]
Next, a method for forming a resist pattern using the above photosensitive film will be described.

レジストを形成すべき基板上に、上記した感光性樹脂組成物からなる感光層を形成する。上記感光性フィルムの保護フィルムを感光性樹脂組成物層から剥離させ、露出した面をラミネート等により、基板上に形成された回路パターンを有する導体層を覆うように密着させる。密着性、追従性向上の観点から減圧下で積層する方法も好ましい。
なお、感光性樹脂組成物は、感光性樹脂組成物のワニスをスクリーン印刷法やロールコータにより塗布する方法等の公知の方法により基板上に塗布することもできる。
A photosensitive layer made of the above-described photosensitive resin composition is formed on a substrate on which a resist is to be formed. The protective film of the photosensitive film is peeled from the photosensitive resin composition layer, and the exposed surface is adhered by a laminate or the like so as to cover the conductor layer having a circuit pattern formed on the substrate. A method of laminating under reduced pressure is also preferable from the viewpoint of improving adhesion and followability.
In addition, the photosensitive resin composition can also be apply | coated on a board | substrate by well-known methods, such as the method of apply | coating the varnish of the photosensitive resin composition with a screen printing method or a roll coater.

次いで、マスクパターンを通して、感光性樹脂組成物層の所定部分に活性光線をパターン照射し、照射部の感光性樹脂組成物層を光硬化させる露光工程を行う。   Next, an exposure process is performed in which a predetermined portion of the photosensitive resin composition layer is irradiated with an actinic ray through a mask pattern, and the photosensitive resin composition layer in the irradiated portion is photocured.

さらに、感光層上に支持体が存在している場合にはその支持体を除去した後、ウエット現像又はドライ現像で光硬化されていない部分(未露光部)を除去して現像することにより、レジストパターン(永久マスクレジスト)を形成することができる。   Further, when a support is present on the photosensitive layer, after removing the support, by removing a portion that has not been photocured by wet development or dry development (unexposed portion) and developing, A resist pattern (permanent mask resist) can be formed.

上記ウエット現像の場合、現像液としては、アルカリ性水溶液、水系現像液、有機溶剤等の安全かつ安定であり操作性が良好なものが、感光性樹脂組成物の種類に対応して用いられる。また、現像方法としては、スプレー、揺動浸漬、ブラッシング、スクラッピング等の公知の方法が適宜採用される。   In the case of the above-described wet development, as the developer, an alkaline aqueous solution, an aqueous developer, an organic solvent, or the like that is safe and stable and has good operability is used according to the type of the photosensitive resin composition. Further, as a developing method, a known method such as spraying, rocking dipping, brushing, scraping or the like is appropriately employed.

上記アルカリ性水溶液の塩基としては、アルカリ金属、例えば、リチウム、ナトリウム、カリウムの水酸化物である水酸化リチウム、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム等、アルカリ金属、アンモニウム等の炭酸塩又は重炭酸塩である炭酸アルカリ又は重炭酸アルカリ、アルカリ金属のリン酸塩であるリン酸ナトリウム、リン酸カリウム等、アルカリ金属のピロリン酸塩であるピロリン酸ナトリウム、ピロリン酸カリウム等、安全かつ安定であり、操作性が良好なものが用いられる。   Examples of the base of the alkaline aqueous solution include alkali metals such as lithium hydroxide, sodium hydroxide and potassium hydroxide which are hydroxides of lithium, sodium and potassium, carbonates or bicarbonates such as alkali metals and ammonium. Alkaline carbonate or bicarbonate, alkali metal phosphate sodium phosphate, potassium phosphate, etc., alkali metal pyrophosphate sodium pyrophosphate, potassium pyrophosphate etc., safe and stable, operability The one with good is used.

また、このようなアルカリ性水溶液としては、例えば、0.1〜5質量%炭酸ナトリウムの希薄溶液、0.1〜5質量%炭酸カリウムの希薄溶液、0.1〜5質量%水酸化ナトリウムの希薄溶液、0.1〜5質量%四ホウ酸ナトリウムの希薄溶液が好ましく、そのpHは9〜11の範囲とすることが好ましい。また、このようなアルカリ性水溶液の温度は感光層の現像性に合わせて調節され、20〜50℃とすることが好ましい。さらに、上記アルカリ性水溶液中には、現像を促進させるために界面活性剤、消泡剤等の少量の有機溶剤を混入させてもよい。   Examples of the alkaline aqueous solution include a dilute solution of 0.1 to 5% by mass of sodium carbonate, a dilute solution of 0.1 to 5% by mass of potassium carbonate, and a dilute solution of 0.1 to 5% by mass of sodium hydroxide. A solution, a dilute solution of 0.1 to 5% by mass sodium tetraborate is preferred, and the pH is preferably in the range of 9 to 11. The temperature of the alkaline aqueous solution is adjusted according to the developability of the photosensitive layer, and is preferably 20 to 50 ° C. Furthermore, a small amount of an organic solvent such as a surfactant or an antifoaming agent may be mixed in the alkaline aqueous solution in order to promote development.

上記水系現像液としては、水及びアルカリ性水溶液若しくは一種以上の有機溶剤とからなるものが用いられる。ここでアルカリ性水溶液の塩基としては、上記したもの以外に、例えば、ホウ砂、メタケイ酸ナトリウム、水酸化テトラメチルアンモニウム、エタノールアミン、エチレンジアミン、ジエチレントリアミン、2−アミノ−2−ヒドロキシメチル−1,3−プロパンジオール、1,3−ジアミノプロパノール−2、モルホリンが挙げられる。このような水系現像液のpHは、現像処理が充分にできる範囲でできるだけ小さくすることが好ましく、pH8〜12であることが好ましく、pH9〜10であることがより好ましい。   As the aqueous developer, one comprising water and an alkaline aqueous solution or one or more organic solvents is used. Here, as the base of the alkaline aqueous solution, in addition to those described above, for example, borax, sodium metasilicate, tetramethylammonium hydroxide, ethanolamine, ethylenediamine, diethylenetriamine, 2-amino-2-hydroxymethyl-1,3- Examples include propanediol, 1,3-diaminopropanol-2, and morpholine. The pH of such an aqueous developer is preferably as small as possible within a range where development processing can be sufficiently performed, preferably pH 8 to 12, and more preferably pH 9 to 10.

上記有機溶剤としては、例えば、アセトン、酢酸エチル、炭素数1〜4のアルコキシ基をもつアルコキシエタノール、エチルアルコール、イソプロピルアルコール、ブチルアルコール、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテルが用いられる。このような有機溶剤の濃度は、通常、2〜90質量%であることが好ましい。また、このような有機溶剤の温度は、現像性にあわせて調節することができる。さらに、このような有機溶剤は単独で又は二種類以上を組み合わせて用いることができる。単独で用いる有機溶剤系現像液としては、例えば、1,1,1−トリクロロエタン、N−メチルピロリドン、N,N−ジメチルホルムアミド、シクロヘキサノン、メチルイソブチルケトン、γ−ブチロラクトンが挙げられる。さらに、上記アルカリ性水溶液中には、現像を促進させるために界面活性剤、消泡剤等の少量の有機溶剤を混入させてもよい。   Examples of the organic solvent include acetone, ethyl acetate, alkoxyethanol having an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, ethyl alcohol, isopropyl alcohol, butyl alcohol, diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, and diethylene glycol monobutyl ether. . The concentration of such an organic solvent is usually preferably 2 to 90% by mass. Moreover, the temperature of such an organic solvent can be adjusted according to developability. Furthermore, such organic solvents can be used alone or in combination of two or more. Examples of the organic solvent-based developer used alone include 1,1,1-trichloroethane, N-methylpyrrolidone, N, N-dimethylformamide, cyclohexanone, methyl isobutyl ketone, and γ-butyrolactone. Furthermore, a small amount of an organic solvent such as a surfactant or an antifoaming agent may be mixed in the alkaline aqueous solution in order to promote development.

本発明のレジストパターンの製造方法においては、必要に応じて、上記した二種類以上の現像方法を併用してもよい。現像の方式には、ディップ方式、バトル方式、スプレー方式、高圧スプレー方式、ブラッシング、スラッピング等があり、高圧スプレー方式が解像度向上のためには最も適している。   In the method for producing a resist pattern of the present invention, if necessary, two or more kinds of development methods described above may be used in combination. Development methods include a dip method, a battle method, a spray method, a high-pressure spray method, brushing, and slapping, and the high-pressure spray method is most suitable for improving resolution.

[永久マスクレジストの好適な実施形態]
本発明の感光性樹脂組成物を用いた永久マスクレジストの好適な実施形態について説明する。
[Preferred Embodiment of Permanent Mask Resist]
A preferred embodiment of a permanent mask resist using the photosensitive resin composition of the present invention will be described.

上記現像工程終了後、はんだ耐熱性及び耐薬品性等を向上させる目的で、高圧水銀ランプによる紫外線照射や加熱を行うことが好ましい。紫外線を照射させる場合は必要に応じてその照射量を調整することができ、例えば0.05〜10J/cm程度の照射量で照射を行うことができる。また、レジストパターンを加熱する場合は、130〜200℃程度の範囲で15〜90分程行われることが好ましい。 After the development step, it is preferable to perform ultraviolet irradiation or heating with a high-pressure mercury lamp for the purpose of improving solder heat resistance and chemical resistance. In the case of irradiating ultraviolet rays, the irradiation amount can be adjusted as necessary, and for example, irradiation can be performed at an irradiation amount of about 0.05 to 10 J / cm 2 . Moreover, when heating a resist pattern, it is preferable to carry out for about 15 to 90 minutes in the range of about 130-200 degreeC.

紫外線照射及び加熱は、両方を行ってもよい。この場合、両方を同時に行ってもよく、いずれか一方を実施した後に他方を実施してもよい。紫外線照射と加熱とを同時に行う場合は、はんだ耐熱性及び耐薬品性をより良好に付与する観点から、60〜150℃に加熱することが好ましい。   Both ultraviolet irradiation and heating may be performed. In this case, both may be performed at the same time, and after either one is performed, the other may be performed. When performing ultraviolet irradiation and heating simultaneously, it is preferable to heat to 60-150 degreeC from a viewpoint of providing solder heat resistance and chemical resistance more favorably.

このようにして形成された永久マスクレジストは、基板にはんだ付けを施した後の配線の保護膜を兼ね、ソルダーレジストの諸特性を有しプリント配線板用、半導体パッケージ基板用、フレキシブル配線板用のソルダーレジストとして用いることが可能である。   The permanent mask resist formed in this way also serves as a protective film for the wiring after soldering to the board, and has various characteristics of solder resist, for printed wiring boards, for semiconductor package boards, for flexible wiring boards It can be used as a solder resist.

上記ソルダーレジストは、例えば、基板に対し、めっきやエッチングを施す場合に、めっきレジストやエッチングレジストとして用いられる他、そのまま基板上に残されて、配線等を保護するための保護膜(永久マスクレジスト)として用いられる。   The solder resist is used, for example, as a plating resist or an etching resist when plating or etching a substrate, and is left on the substrate as it is to protect a wiring or the like (permanent mask resist). ).

また、上記の露光工程において、上記導体層の所定部分が未露光となるパターンを有するマスク又は描画データを用いて露光を行った場合、これを現像することにより、未露光部分が除去され、基板上に形成された導体層の一部が露出した、開口パターンを有するレジストが得られる。その後、上記の永久マスクレジストを形成するのに必要な処理を行うことが好ましい。   Further, in the above exposure step, when exposure is performed using a mask or drawing data having a pattern in which a predetermined portion of the conductor layer is unexposed, the unexposed portion is removed by developing this, and the substrate A resist having an opening pattern in which a part of the conductor layer formed thereon is exposed is obtained. Thereafter, it is preferable to perform a process necessary for forming the permanent mask resist.

永久マスクレジストを備えた基板は、その後、半導体素子などの実装(例えば、ワイヤーボンディング、C4はんだ接続)がなされ、そして、パソコン等の電子機器へ装着される。   The substrate provided with the permanent mask resist is then mounted with a semiconductor element or the like (for example, wire bonding, C4 solder connection), and is mounted on an electronic device such as a personal computer.

以上、本発明をその実施形態に基づいて詳細に説明した。しかし、本発明は上記実施形態に制限されるものでなく、その要旨を逸脱しない範囲で様々な変形が可能である。   The present invention has been described in detail based on the embodiments. However, the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention.

以下、実施例によって本発明を更に詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
(実施例1〜4、比較例1〜4)
表1に示す各成分をそこに示す固形分の配合比(質量基準)で混合することにより感光性樹脂組成物溶液を得た。
EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited to these Examples.
(Examples 1-4, Comparative Examples 1-4)
The photosensitive resin composition solution was obtained by mixing each component shown in Table 1 with the compounding ratio (mass basis) of the solid content shown there.

なお、表1中の各成分は下記の通りである。
(A-1)成分:ポリウレタン化合物UXE-3044(日本化薬株式会社製、酸価60mgKOH/g、二重結合当量450g/mol、重量平均分子量10000)
上記(A−1)成分は(A)成分に相当する。
(B-1)成分:エチレンオキサイド変性ビスフェノールAのメタクリル酸エステル(FA-321M、日立化成工業株式会社製)
上記(B−1)成分は(B)成分に相当する。
(C-1)成分:チバスペシャリティーケミカルズ株式会社製、商品名I−907)
上記(C−1)成分は(C)成分に相当する。
(D-1)成分:ホスフィン酸塩(クラリアントジャパン株式会社製、商品名「EXOLIT OP 935」、リン含有量=23質量%)
上記(D−1)成分は(D)成分に相当する。
(E-1)成分:YDPF-1000S(東都化成株式会社製、フェノール・ホルムアルデヒド重縮合物のエピクロルヒドリンによるグリシジルエーテル化物、エポキシ当量423)
(E−2)成分:YDF−2001(東都化成株式会社製、フェノール・ホルムアルデヒド重縮合物のエピクロルヒドリンによるグリシジルエーテル化物、エポキシ当量417)
上記(E−1)〜(E−2)成分はいずれも(E)成分に相当する。
(E−3)成分:YDF−170(東都化成株式会社製、フェノール・ホルムアルデヒド重縮合物のエピクロルヒドリンによるグリシジルエーテル化物、エポキシ当量158)
(E−4)成分:NC−3000H(日本化薬株式会社製、ビフェニル骨格含有フェノール化合物のエピクロルヒドリンによるグリシジルエーテル化物、エポキシ当量289)
(E−5)成分:YD−011(東都化成株式会社製、ビスフェノールA骨格含有フェノール化合物のエピクロルヒドリンによるグリシジルエーテル化物、エポキシ当量478)
上記(E−3)〜(E−5)成分はいずれもフェノール化合物のエピクロルヒドリンによるグリシジルエーテル化物であるが、それぞれエポキシ当量、フェノール化合物の構造のいずれか、あるいは両方が異なるため、(E)成分に該当しない。
In addition, each component in Table 1 is as follows.
Component (A-1): Polyurethane compound UXE-3044 (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., acid value 60 mgKOH / g, double bond equivalent 450 g / mol, weight average molecular weight 10,000)
The component (A-1) corresponds to the component (A).
Component (B-1): Methacrylic acid ester of ethylene oxide-modified bisphenol A (FA-321M, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.)
The component (B-1) corresponds to the component (B).
(C-1) Ingredient: Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd., trade name I-907)
The component (C-1) corresponds to the component (C).
(D-1) component: Phosphinic acid salt (manufactured by Clariant Japan, trade name “EXOLIT OP 935”, phosphorus content = 23 mass%)
The component (D-1) corresponds to the component (D).
(E-1) Component: YDPF-1000S (manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., glycidyl etherified product of phenol / formaldehyde polycondensate with epichlorohydrin, epoxy equivalent 423)
(E-2) Component: YDF-2001 (manufactured by Tohto Kasei Co., Ltd., glycidyl etherified product of epoxy formaldehyde polycondensate with epichlorohydrin, epoxy equivalent 417)
The above components (E-1) to (E-2) all correspond to the component (E).
Component (E-3): YDF-170 (manufactured by Tohto Kasei Co., Ltd., glycidyl etherified product of phenol / formaldehyde polycondensate with epichlorohydrin, epoxy equivalent 158)
(E-4) Component: NC-3000H (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., glycidyl etherified product of biphenyl skeleton-containing phenol compound with epichlorohydrin, epoxy equivalent 289)
(E-5) Component: YD-011 (manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., glycidyl etherified product of bisphenol A skeleton-containing phenol compound with epichlorohydrin, epoxy equivalent 478)
The above components (E-3) to (E-5) are all glycidyl etherification products of epichlorohydrin of a phenol compound, but either the epoxy equivalent or the structure of the phenol compound is different, or both, the component (E) Not applicable.

Figure 2013073064
注)表1中の値は、各成分の固形分の配合比である。また、表中記号「−」は、該当する成分を含有していないことを示す。
Figure 2013073064
Note) The values in Table 1 are the blending ratio of the solid content of each component. Moreover, the symbol “-” in the table indicates that the corresponding component is not contained.

[評価基板の作製及び版離れ性の評価]
得られた各々の感光性樹脂組成物溶液を銅張積層板(新日鐵化学株式会社製、エスパネックスMBシリーズ)上にそれぞれ均一に塗布することにより感光性樹脂組成物層を形成した。印刷はスクリーン印刷機(株式会社セリテック製、SS1520)を使用して、印刷速度(スキージ走行速度)200mm/秒にて、スクリーン版(メッシュ120、材質ポリエステル、印刷範囲110mm角)と銅張積層板とのギャップ(クリアランス)1mmで行った。版離れ性の評価は、スキージ通過後1秒以内に版離れした場合は、版離れ性「○」とし、版離れに一秒以上要した場合を「×」として評価した。印刷後、熱風対流式乾燥機を用いて80℃で約20分間乾燥した。感光性樹脂組成物層の乾燥後の膜厚は、15μmであった。得られた基板を評価基板とした。
[Production of evaluation board and evaluation of release properties]
Each of the obtained photosensitive resin composition solutions was uniformly coated on a copper-clad laminate (manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd., Espanex MB series) to form a photosensitive resin composition layer. Printing is performed using a screen printing machine (SS1520, manufactured by Seritech Co., Ltd.) at a printing speed (squeegee running speed) of 200 mm / second and a screen plate (mesh 120, polyester material, printing area 110 mm square) and a copper-clad laminate. The gap (clearance) was 1 mm. The evaluation of the release property was evaluated as “◯” when the plate was released within 1 second after passing through the squeegee, and “X” when the release was required for one second or more. After printing, it was dried at 80 ° C. for about 20 minutes using a hot air convection dryer. The film thickness after drying of the photosensitive resin composition layer was 15 μm. The obtained substrate was used as an evaluation substrate.

[乾燥後タックの評価]
上述の乾燥後の評価基板2枚の感光層形成面同士を合わせて重ね、そのまま平置きして1分間放置し、その後2枚の基板を分けた。このとき感光層の一部が別の基板に転写しないものを感光層のべたつき性無しとして「○」とし、別の基板に転写してしまうものを感光層のべたつき性有として「×」として評価した。
[Evaluation of tack after drying]
The two photosensitive substrate formation surfaces after the above-mentioned drying were put together and overlapped, left flat and allowed to stand for 1 minute, and then the two substrates were separated. At this time, if a part of the photosensitive layer does not transfer to another substrate, it is evaluated as “◯” as no stickiness of the photosensitive layer, and if it is transferred to another substrate, it is evaluated as “×” as the stickiness of the photosensitive layer. did.

[光感度の評価]
得られた上記評価基板上に、ネガとしてストーファー21段ステップタブレットを有するフォトツールを密着させ、株式会社オーク製作所製HMW−201GX型露光機を使用して、該ストーファー21段ステップタブレットの現像後の残存ステップ段数が8.0となるエネルギー量で露光を行った後、30℃の1質量%炭酸ナトリウム水溶液を15秒間スプレーして現像を行い、80℃で10分間加熱(乾燥)した。光感度を評価する数値として、上記エネルギー量を用いた。この数値が低いほど、光感度が高いことを示す。結果を表2に示した。
[Evaluation of light sensitivity]
A phototool having a stove 21-step tablet as a negative is brought into close contact with the obtained evaluation substrate, and development of the stove 21-step tablet is performed using an HMW-201GX type exposure machine manufactured by Oak Manufacturing Co., Ltd. After exposure with an energy amount that the remaining number of steps of the subsequent step was 8.0, development was carried out by spraying a 1% by mass aqueous sodium carbonate solution at 30 ° C. for 15 seconds, and heating (drying) at 80 ° C. for 10 minutes. The above energy amount was used as a numerical value for evaluating photosensitivity. The lower this value, the higher the photosensitivity. The results are shown in Table 2.

[解像度の評価]
ストーファー21段ステップタブレットを有するフォトツールと、解像度評価用ネガとしてライン幅/スペース幅が30/30〜200/200(単位:μm)の配線パターンを有するフォトツールとを評価用積層体上に密着させ、上述した露光機を用いて、ストーファー21段ステップタブレットの現像後の残存ステップ段数が8.0となるエネルギー量で露光を行った後、30℃の1質量%炭酸ナトリウム水溶液を15秒間スプレーして現像を行い、80℃で10分間加熱、乾燥した。ここで、解像度は、現像処理によって矩形のレジスト形状が得られたライン幅間のスペース幅の最も小さい値(単位:μm)により評価した。この値が小さいほど、解像度に優れていることを示す。結果を表2に示した。
[Resolution evaluation]
A phototool having a stove 21-step tablet and a phototool having a wiring pattern with a line width / space width of 30/30 to 200/200 (unit: μm) as a negative for resolution evaluation are provided on the evaluation laminate. Using the exposure machine described above, the exposure was performed with an energy amount such that the number of remaining step stages after development of the stove 21-step tablet was 8.0, and then 15% 1% by weight aqueous sodium carbonate solution at 30 ° C. Development was carried out by spraying for 2 seconds, followed by heating and drying at 80 ° C. for 10 minutes. Here, the resolution was evaluated based on the smallest value (unit: μm) of the space width between the line widths in which a rectangular resist shape was obtained by development processing. It shows that it is excellent in the resolution, so that this value is small. The results are shown in Table 2.

[評価用FPCの作製]
評価基板上に、ストーファー21段ステップタブレットを有するフォトツールと、カバーレイの信頼性評価用ネガとして配線パターンを有するフォトツールとを密着させ、上述した露光機を使用して、該ストーファー21段ステップタブレットの現像後の残存ステップ段数が8.0となるエネルギー量で露光を行った後、光感度評価の場合と同様の現像液及び現像条件でスプレー現像を行い、80℃で10分間加熱、乾燥した。更に160℃で60分間加熱処理を行うことにより、カバーレイを形成した評価用FPCを得た。
[Production of evaluation FPC]
A photo tool having a stove 21-step tablet and a photo tool having a wiring pattern as a negative for evaluating the reliability of the coverlay are brought into close contact with each other on the evaluation substrate. After exposure with an energy amount such that the number of remaining steps after development of the stepped tablet is 8.0, spray development is performed under the same developer and development conditions as in the photosensitivity evaluation, and heating at 80 ° C. for 10 minutes. , Dried. Furthermore, the FPC for evaluation which formed the coverlay was obtained by heat-processing at 160 degreeC for 60 minute (s).

[耐折性の評価]
上述のようにして得られた評価用FPCを、ハゼ折りにより180°折り曲げを繰り返して行い、その際のカバーレイにおけるクラックが発生するまでの回数を顕微鏡により観察し、次の基準で評価した。すなわち、5回以上折り曲げてもカバーレイにクラックが認められないものは「A」とし、クラックが発生するまでの回数が2回以上で5回以下のものは「B」とし、クラックが発生するまでの回数が2回以下のものは「C」として評価した。結果を表2に示した。
[Evaluation of folding resistance]
The evaluation FPC obtained as described above was repeatedly folded 180 ° by goblet folding, and the number of times until cracks in the coverlay were generated was observed with a microscope, and evaluated according to the following criteria. That is, if the coverlay is not cracked even if it is bent 5 times or more, it is “A”, and if the number of times until the crack is generated is 2 times or more and 5 times or less, it is “B”. Those having a number of times of 2 or less were evaluated as “C”. The results are shown in Table 2.

[難燃性の評価]
上述した評価用FPCについて、UL94規格に準拠した薄材垂直燃焼試験を行った。評価はUL94規格に基づいて、VTM−0又はVTM−1と表した。結果を表2に示した。なお、表2中「燃焼」とは、燃焼試験において難燃性評価用サンプルがVTM−0、VTM−1、VTM−2に該当せず全焼したことを示す。
[Evaluation of flame retardancy]
A thin material vertical combustion test based on the UL94 standard was performed on the evaluation FPC described above. Evaluation was expressed as VTM-0 or VTM-1 based on the UL94 standard. The results are shown in Table 2. In Table 2, “combustion” indicates that the flame retardancy evaluation sample did not fall under VTM-0, VTM-1, or VTM-2 in the combustion test.

[反りの評価]
上述のようにして得られた評価用FPCを、一定のサイズへカットし、260℃のホットプレート上へ60秒放置した後の反りを評価した。反りが3mm以下のものは「A」とし、3〜10mmのものは「B」、円筒状になるものは「C」として評価し、結果を表2に示した。
[Evaluation of warpage]
The evaluation FPC obtained as described above was cut into a certain size, and the warpage after being left on a hot plate at 260 ° C. for 60 seconds was evaluated. Those with a warp of 3 mm or less were evaluated as “A”, those with 3 to 10 mm as “B”, and those with a cylindrical shape as “C”. The results are shown in Table 2.

[反発性(スティフネス性)の評価]
上述のようにして得られた評価用FPCを、ガーレー式スティフネステスターを用い反発性(スティフネス性)の評価を実施した。数値が小さいほど低反発となる。結果を表2に示した。
[Evaluation of resilience (stiffness)]
The evaluation FPC obtained as described above was evaluated for resilience (stiffness) using a Gurley-type stiffness tester. The smaller the value, the lower the rebound. The results are shown in Table 2.

「耐めっき性の評価」
上記評価用FPCに対し、無電解ニッケルめっき(上村工業株式会社製、商品名ニムデンNPR−4)を施し(15分間処理)、更に無電解金めっき(上村工業株式会社製、商品名ゴブライトTAM−54)を施した(10分間処理)。
"Evaluation of plating resistance"
The FPC for evaluation is subjected to electroless nickel plating (trade name Nimden NPR-4, manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd.) (15 minutes treatment), and further electroless gold plating (trade name, Goblite TAM-, manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd.). 54) (treatment for 10 minutes).

このようにしてめっきが施された評価用基板に対し、カバーレイ底部へのめっき液の染み込み、並びに、基板からのカバーレイの浮き及び剥離を100倍の金属顕微鏡により観察し、次の基準で評価した。すなわち、カバーレイ底部への染み込みが認められず、カバーレイの浮き及び剥離も認められないものは「A」とし、それらのいずれかが認められるものは「C」として評価した。また、ソルダーレジスト底部へ僅かに染み込みが認められるものの実用上全く問題ないものは実施例間での差を明らかにするために「B」として評価した。結果を表2に示した。   For the evaluation substrate plated in this way, the plating solution soaked into the bottom of the cover lay, and the cover lay floating and peeling from the substrate were observed with a 100-fold metal microscope. evaluated. That is, the case where no penetration into the bottom of the cover lay was observed and the cover lay was not lifted or peeled was evaluated as “A”, and the case where any of them was recognized was evaluated as “C”. In addition, although a slight permeation to the bottom of the solder resist was recognized, there was no practical problem at all. The results are shown in Table 2.

「はんだ耐熱性の評価」
上記「耐めっき性の評価」と同様にして得られたカバーレイを有する評価用基板を用い、以下のようにしてはんだ耐熱性の評価を行った。すなわち、評価用基板に対し、ロジン系フラックス(タムラ化研株式会社(株式会社タムラ製作所)製、商品名MH−820V)を塗布した後、288℃のはんだ浴中に10秒間浸漬するはんだ処理を行った。
このようにしてはんだめっきを施された評価用基板上のカバーレイのクラック発生状況、並びに、基板からのカバーレイの浮き程度及び剥離を100倍の金属顕微鏡により観察した。その結果を、次の基準で評価した。すなわち、カバーレイのクラックの発生が認められず、カバーレイの浮き及び剥離も認められないものは「A」とし、それらのいずれかが認められるものは「B」として評価した。結果を表2に示した。
"Evaluation of solder heat resistance"
Using the evaluation substrate having a cover lay obtained in the same manner as in the above “evaluation of plating resistance”, the solder heat resistance was evaluated as follows. That is, after applying a rosin flux (trade name MH-820V, manufactured by Tamura Kaken Co., Ltd., Tamura Seisakusho Co., Ltd.) to a substrate for evaluation, a soldering treatment in which the substrate is immersed in a solder bath at 288 ° C. for 10 seconds. went.
The crack occurrence state of the cover lay on the evaluation substrate subjected to the solder plating in this way, and the degree to which the cover lay was lifted and peeled off from the substrate were observed with a 100-fold metal microscope. The results were evaluated according to the following criteria. That is, the case where no crack of the coverlay was observed and the coverlay was neither lifted nor peeled was evaluated as “A”, and the case where any of them was recognized was evaluated as “B”. The results are shown in Table 2.

「HAST耐性の評価」
12μm厚の銅箔をガラスエポキシ基材に積層したプリント配線板用基板(日立化成工業株式会社製、商品名MCL E−679)の銅表面を、エッチングによりライン/スペースが50μm/50μmのくし型電極に加工した。これを、評価用配線板とした。
この評価用配線板におけるくし型電極上に、上記「耐めっき性の評価」と同様にしてレジストの硬化物からなるカバーレイを形成し、これを評価用基板とした。この評価用基板を、130℃、85%RH、6Vの条件で超加速高温高湿寿命試験(HAST)槽内に入れて100時間処理した。試験後、各評価用基板におけるマイグレーションの発生の程度を、100倍の金属顕微鏡により観察し、次の基準で評価した。すなわち、カバーレイに大きなマイグレーションが発生しなかったものは「A」とし、大きくマイグレーションが発生したものは「C」として評価した。結果を表2に示した。マイグレーションとは、銅電極からソルダーレジストへ銅が溶出し、析出することにより、電極周辺のソルダーレジストの変色や絶縁抵抗の低下が起こる現象である。
"Evaluation of HAST resistance"
Comb type with a line / space of 50 μm / 50 μm etched by etching the copper surface of a printed wiring board substrate (trade name MCL E-679, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) with a 12 μm thick copper foil laminated on a glass epoxy substrate. Processed into electrodes. This was used as an evaluation wiring board.
A cover lay made of a cured resist was formed on the comb-shaped electrode of this evaluation wiring board in the same manner as in the above “evaluation of plating resistance”, and this was used as an evaluation substrate. This evaluation substrate was placed in a super accelerated high temperature and high humidity life test (HAST) bath under the conditions of 130 ° C., 85% RH, 6 V, and treated for 100 hours. After the test, the degree of migration in each evaluation substrate was observed with a 100-fold metal microscope and evaluated according to the following criteria. That is, “A” indicates that no significant migration has occurred in the coverlay, and “C” indicates that significant migration has occurred. The results are shown in Table 2. Migration is a phenomenon in which discoloration of the solder resist around the electrode and a decrease in insulation resistance occur when copper is eluted and deposited from the copper electrode to the solder resist.

「熱プレス耐性の評価」
上記「耐めっき性の評価」と同様にして得られたカバーレイを有する評価用基板を用い、以下のようにして熱プレス耐性の評価を行った。すなわち、油圧式熱プレス装置を用いて、圧力50kgf/cm、熱盤温度200℃、30分間評価基板の熱プレスを行った。プレス終了後、レジスト開口部を観察し、樹脂の染み出し(ブリード)が見られないものを「○」、見られるものを「×」として評価した。結果を表2に示した。
"Evaluation of heat press resistance"
Using the evaluation substrate having a cover lay obtained in the same manner as the above “evaluation of plating resistance”, the hot press resistance was evaluated as follows. In other words, the evaluation substrate was hot pressed for 30 minutes at a pressure of 50 kgf / cm 2 , a hot platen temperature of 200 ° C. using a hydraulic hot press apparatus. After completion of the press, the resist opening was observed and evaluated as “◯” when the resin exudation (bleeding) was not observed, and “×” when it was observed. The results are shown in Table 2.

Figure 2013073064
ソルダーレジスト(特にフレキシブル基板用)としての適用に好ましくない結果は網掛けで示した。
Figure 2013073064
Unfavorable results for application as a solder resist (especially for flexible substrates) are shown by shading.

表2から明らかなように、(A)〜(D)成分を含有し、さらに(E)成分の熱硬化剤にフェノール・ホルムアルデヒド重縮合物のエピクロルヒドリンによるグリシジルエーテル化物で、エポキシ当量が160以上の熱硬化剤を用いる実施例1、2、3及び4の感光性樹脂組成物によれば、作業性が良好となり、十分な光感度及び解像度が得られることが確認された。また、実施例1、2、3及び4の感光性樹脂組成物から形成された硬化膜を備える積層板は、十分な難燃性(VTM−0)、耐めっき性、はんだ耐熱性、HAST耐性を有していることが確認された。更に、実施例1、2、3及び4の感光性樹脂組成物から形成された硬化膜は、良好な低反り、低反発性を有していることが分かった。   As is apparent from Table 2, the glycidyl etherification product containing the components (A) to (D), the thermosetting agent (E) and the phenol-formaldehyde polycondensate epichlorohydrin, and having an epoxy equivalent of 160 or more. According to the photosensitive resin compositions of Examples 1, 2, 3, and 4 using the thermosetting agent, it was confirmed that workability was good and sufficient photosensitivity and resolution were obtained. Moreover, the laminated board provided with the cured film formed from the photosensitive resin composition of Examples 1, 2, 3 and 4 has sufficient flame resistance (VTM-0), plating resistance, solder heat resistance, and HAST resistance. It was confirmed that Furthermore, it turned out that the cured film formed from the photosensitive resin composition of Example 1, 2, 3, and 4 has favorable low curvature and low resilience.

Claims (5)

(A)カルボキシル基を有するポリマー、
(B)エチレン性不飽和結合を有する光重合性化合物、
(C)光重合開始剤、
(D)リン含有難燃剤、
(E)熱硬化剤、を含有する感光性樹脂組成物において、前記(E)熱硬化剤が、フェノール・ホルムアルデヒド重縮合物のエピクロルヒドリンによるグリシジルエーテル化物及び/またはその誘導体であり、かつエポキシ当量が160以上である、感光性樹脂組成物。
(A) a polymer having a carboxyl group,
(B) a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond,
(C) a photopolymerization initiator,
(D) a phosphorus-containing flame retardant,
(E) In the photosensitive resin composition containing a thermosetting agent, the (E) thermosetting agent is a glycidyl etherified product of epichlorohydrin of phenol / formaldehyde polycondensate and / or a derivative thereof, and an epoxy equivalent is The photosensitive resin composition which is 160 or more.
前記(A)カルボキシル基を有する化合物が、(a)グリシジル化合物と(メタ)アクリル酸とを反応させて得られるエチレン性不飽和基及び2つ以上の水酸基を有するエポキシアクリレート化合物と、(b)ジイソシアネート化合物と、(c)カルボキシル基を有するジオール化合物との反応物である、請求項1に記載の感光性樹脂組成物。   The (A) compound having a carboxyl group is (a) an epoxy acrylate compound having an ethylenically unsaturated group and two or more hydroxyl groups obtained by reacting a glycidyl compound with (meth) acrylic acid, and (b) The photosensitive resin composition according to claim 1, which is a reaction product of a diisocyanate compound and (c) a diol compound having a carboxyl group. 前記(D)リン含有難燃剤が下記一般式(1)で示されるホスフィン酸塩である、請求項1又は2に記載の感光性樹脂組成物。
Figure 2013073064
[一般式(1)中、A及びBは各々独立に、直鎖状の若しくは枝分かれした炭素数1〜6のアルキル基又はアリール基を示し、MはMg、Ca、Al、Sb、Sn、Ge、Ti、Zn、Fe、Zr、Ce、Bi、Sr、Mn、Li、Na及びKからなる群より選択される金属類の少なくとも1種であり、mは1〜4の整数である。]
The photosensitive resin composition of Claim 1 or 2 whose said (D) phosphorus containing flame retardant is the phosphinic acid salt shown by following General formula (1).
Figure 2013073064
[In General Formula (1), A and B each independently represent a linear or branched alkyl group or aryl group having 1 to 6 carbon atoms, and M represents Mg, Ca, Al, Sb, Sn, Ge. , Ti, Zn, Fe, Zr, Ce, Bi, Sr, Mn, Li, Na, and K. At least one metal selected from the group consisting of K and m is an integer of 1 to 4. ]
請求項1〜3のいずれか一項に記載の感光性樹脂組成物の硬化物からなる永久マスクレジスト。   The permanent mask resist which consists of a hardened | cured material of the photosensitive resin composition as described in any one of Claims 1-3. 基板上に、請求項1〜3のいずれか一項に記載の感光性樹脂組成物からなる感光層を設ける工程と、
前記感光層に活性光線をパターン照射する工程と、
前記感光層を現像して永久マスクレジストを形成させる工程と、
を備える、永久マスクレジストの製造方法。
Providing a photosensitive layer comprising the photosensitive resin composition according to any one of claims 1 to 3 on a substrate;
Pattern irradiating the photosensitive layer with actinic rays;
Developing the photosensitive layer to form a permanent mask resist;
A method for producing a permanent mask resist.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013103950A (en) * 2011-11-10 2013-05-30 Shinnakamura Kagaku Kogyo Kk Epoxy group-containing (meth)acrylate compound excellent in storage stability, and method for producing the same
WO2015186707A1 (en) * 2014-06-03 2015-12-10 新日鉄住金化学株式会社 Polyurethane-modified epoxy resin, method for producing same, epoxy resin composition and cured product
WO2019188399A1 (en) * 2018-03-30 2019-10-03 日鉄ケミカル&マテリアル株式会社 Epoxy resin modified with polyurethane in low concentration, production method therefor, epoxy resin composition, and cured object

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013103950A (en) * 2011-11-10 2013-05-30 Shinnakamura Kagaku Kogyo Kk Epoxy group-containing (meth)acrylate compound excellent in storage stability, and method for producing the same
WO2015186707A1 (en) * 2014-06-03 2015-12-10 新日鉄住金化学株式会社 Polyurethane-modified epoxy resin, method for producing same, epoxy resin composition and cured product
JP2016011409A (en) * 2014-06-03 2016-01-21 学校法人 名古屋電気学園 Polyurethane modified epoxy resin, manufacturing method therefor, epoxy resin composition and cured article
US10266637B2 (en) 2014-06-03 2019-04-23 Nippon Steel Chemical & Material Co., Ltd. Polyurethane-modified epoxy resin, method for producing same, epoxy resin composition and cured product
WO2019188399A1 (en) * 2018-03-30 2019-10-03 日鉄ケミカル&マテリアル株式会社 Epoxy resin modified with polyurethane in low concentration, production method therefor, epoxy resin composition, and cured object
JPWO2019188399A1 (en) * 2018-03-30 2021-04-01 日鉄ケミカル&マテリアル株式会社 Low-concentration polyurethane-modified epoxy resin, its manufacturing method, epoxy resin composition and cured product
JP7212035B2 (en) 2018-03-30 2023-01-24 日鉄ケミカル&マテリアル株式会社 Low-concentration polyurethane-modified epoxy resin, method for producing the same, epoxy resin composition and cured product
US11802175B2 (en) 2018-03-30 2023-10-31 Nippon Steel Chemical & Material Co., Ltd. Epoxy resin modified with polyurethane in low concentration, production method therefor, epoxy resin composition, and cured object

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