JP2013068874A - Liquid crystal device, method for manufacturing liquid crystal device, and electronic equipment - Google Patents

Liquid crystal device, method for manufacturing liquid crystal device, and electronic equipment Download PDF

Info

Publication number
JP2013068874A
JP2013068874A JP2011208669A JP2011208669A JP2013068874A JP 2013068874 A JP2013068874 A JP 2013068874A JP 2011208669 A JP2011208669 A JP 2011208669A JP 2011208669 A JP2011208669 A JP 2011208669A JP 2013068874 A JP2013068874 A JP 2013068874A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
substrate
crystal device
electrode
insulating film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2011208669A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masatsugu Nakagawa
雅嗣 中川
Masayuki Yazaki
正幸 矢崎
Toshiki Tani
俊樹 谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2011208669A priority Critical patent/JP2013068874A/en
Publication of JP2013068874A publication Critical patent/JP2013068874A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a liquid crystal device having an inorganic alignment layer efficiently formed by oblique vapor deposition and showing stable optical characteristics as well as display qualities, a method for manufacturing the liquid crystal device, and electronic equipment including the liquid crystal device.SOLUTION: A liquid crystal device 100 in an embodiment includes a device substrate 10 as a first substrate, a counter substrate 20 as a second substrate, a liquid crystal layer 50 comprising liquid crystal molecules having negative dielectric anisotropy and sandwiched by the device substrate 10 and the counter substrate 20, a base insulating film 11 disposed between the device substrate 10 and the liquid crystal layer 50 and having a plurality of recesses 11a, a pixel electrode 15 as an electrode disposed between the base insulating film 11 and the liquid crystal layer 50 and having a recessed surface corresponding to the base insulating film 11, and an alignment layer 18 as an inorganic alignment layer formed by oblique vapor deposition on the recessed surface.

Description

本発明は、液晶装置、液晶装置の製造方法、液晶装置を備えた電子機器に関する。   The present invention relates to a liquid crystal device, a method for manufacturing the liquid crystal device, and an electronic apparatus including the liquid crystal device.

上記液晶装置として、無機配向膜が形成された一対の基板をシール材を介して貼り合わせることで形成された隙間に液晶が封入され、該無機配向膜の表面に液晶分子を配列させる凹部が無数に形成された液晶表示素子が開示されている(特許文献1)。   As the liquid crystal device, liquid crystal is sealed in a gap formed by bonding a pair of substrates on which an inorganic alignment film is formed through a sealing material, and there are innumerable recesses for arranging liquid crystal molecules on the surface of the inorganic alignment film. A liquid crystal display element formed in (1) is disclosed (Patent Document 1).

上記特許文献1によれば、上記無機配向膜は、無機膜の表面をエッチングすることでその表面に無数の凹部を形成し、凹部の垂直な壁面に沿って液晶分子を垂直配向させている。   According to Patent Document 1, the inorganic alignment film etches the surface of the inorganic film to form innumerable recesses on the surface, and vertically aligns liquid crystal molecules along the vertical wall surface of the recess.

一方で、液晶に駆動電圧を印加するITOからなる電極を常温で成膜して形成することにより、該電極表面に生ずる凹凸を少なくす方法が開示されている(特許文献2)。これによれば、該電極表面を覆って形成される無機配向膜上の凹凸を少なくし、該凹凸に起因して液晶の配向不良が発生することを低減できるとしている。特許文献2に開示された無機配向膜は、シリコン酸化物等の無機材料を斜方蒸着して形成されている。   On the other hand, a method is disclosed in which an electrode made of ITO for applying a driving voltage to a liquid crystal is formed by film formation at room temperature to reduce unevenness generated on the electrode surface (Patent Document 2). According to this, the unevenness on the inorganic alignment film formed so as to cover the electrode surface can be reduced, and the occurrence of poor alignment of liquid crystal due to the unevenness can be reduced. The inorganic alignment film disclosed in Patent Document 2 is formed by oblique deposition of an inorganic material such as silicon oxide.

特開2006−284722号公報JP 2006-284722 A 特開2008−216943号公報JP 2008-216943 A

しかしながら、上記特許文献1の液晶表示素子では、凹部が形成された表面に対して所定のプレチルトを与えて液晶分子を垂直配向させることが難しく、液晶表示素子に駆動電圧を与えたときに、電界方向に液晶分子が傾く方向を一定に制御することが困難である。ゆえに、安定した視野角特性などの光学特性を実現できないという課題がある。
また、上記特許文献2のように無機配向膜が形成される電極表面の凹凸を少なくすると、凹凸を有する場合に比べて斜方蒸着時の成膜レートを遅くしないと所定のプレチルトを与えて液晶分子を垂直配向させる無機配向膜を形成し難い、つまり生産性が低下するという課題があった。
However, in the liquid crystal display element of Patent Document 1 described above, it is difficult to vertically align liquid crystal molecules by giving a predetermined pretilt to the surface on which the recesses are formed, and an electric field is applied when a driving voltage is applied to the liquid crystal display element. It is difficult to control the direction in which the liquid crystal molecules are inclined to the direction. Therefore, there is a problem that optical characteristics such as stable viewing angle characteristics cannot be realized.
Further, as described in Patent Document 2, if the unevenness of the electrode surface on which the inorganic alignment film is formed is reduced, the liquid crystal can be given a predetermined pretilt unless the film formation rate during oblique deposition is slow compared to the case where the unevenness is provided. There is a problem that it is difficult to form an inorganic alignment film for vertically aligning molecules, that is, productivity is lowered.

本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following forms or application examples.

[適用例1]本適用例の液晶装置は、第1の基板と、第2の基板と、前記第1の基板と前記第2の基板とにより挟持された負の誘電異方性を有する液晶分子からなる液晶層と、前記第1の基板と前記液晶層との間に設けられ、複数の凹部を有する下地絶縁膜と、前記下地絶縁膜と前記液晶層との間に設けられ、前記下地絶縁膜に応じた凹部表面を有する電極と、前記凹部表面に斜方蒸着により形成された無機配向膜と、を備えたことを特徴とする。   Application Example 1 A liquid crystal device according to this application example includes a first substrate, a second substrate, and a liquid crystal having negative dielectric anisotropy sandwiched between the first substrate and the second substrate. A liquid crystal layer made of molecules; a base insulating film provided between the first substrate and the liquid crystal layer, having a plurality of recesses; and provided between the base insulating film and the liquid crystal layer; An electrode having a concave surface corresponding to the insulating film and an inorganic alignment film formed by oblique deposition on the concave surface are provided.

この構成によれば、無機配向膜が形成される電極は、下地絶縁膜に応じた凹部表面を有しているので、負の誘電異方性を有する液晶分子に所定のプレチルトを与えて垂直配向させる無機配向膜を斜方蒸着により効率的に得ることができる。すなわち、安定した光学特性を有する液晶装置を高い生産性で提供できる。
また、電極そのものを加工してその表面に複数の凹部が形成される場合に比べて、電極の下地絶縁膜に複数の凹部が形成されているので、電極の厚みが薄くなってもその表面に容易に凹部が形成される。
According to this configuration, since the electrode on which the inorganic alignment film is formed has a concave surface corresponding to the underlying insulating film, the liquid crystal molecules having negative dielectric anisotropy are given a predetermined pretilt to achieve vertical alignment. The inorganic alignment film to be formed can be efficiently obtained by oblique deposition. That is, a liquid crystal device having stable optical characteristics can be provided with high productivity.
In addition, compared to the case where the electrode itself is processed to form a plurality of recesses on the surface, a plurality of recesses are formed in the base insulating film of the electrode. A recess is easily formed.

[適用例2]本適用例の他の液晶装置は、第1の基板と、第2の基板と、前記第1の基板と前記第2の基板とにより挟持された負の誘電異方性を有する液晶分子からなる液晶層と、前記第1の基板と前記液晶層との間に設けられた電極と、前記電極と前記液晶層の間に設けられ、複数の凹部が形成された凹部表面を有する絶縁膜と、前記凹部表面に斜方蒸着により形成された無機配向膜と、を備えたことを特徴とする。   Application Example 2 Another liquid crystal device according to this application example has a negative dielectric anisotropy sandwiched between a first substrate, a second substrate, and the first substrate and the second substrate. A liquid crystal layer comprising liquid crystal molecules, an electrode provided between the first substrate and the liquid crystal layer, and a recess surface provided between the electrode and the liquid crystal layer and having a plurality of recesses. And an inorganic alignment film formed by oblique vapor deposition on the surface of the recess.

この構成によれば、無機配向膜が形成される絶縁膜の表面に複数の凹部を形成して凹部表面を構成することにより、負の誘電異方性を有する液晶分子に所定のプレチルトを与えて垂直配向させる無機配向膜を斜方蒸着により効率的に得ることができる。すなわち、安定した光学特性を有する液晶装置を高い生産性で提供できる。
また、電極を覆う絶縁膜に複数の凹部を形成するので、電極の厚みに係らず、電極と液晶層との間において、負の誘電異方性を有する液晶分子に所定のプレチルトを与えて垂直配向させる無機配向膜を絶縁膜上に斜方蒸着により効率的に得ることができる。
According to this configuration, a plurality of recesses are formed on the surface of the insulating film on which the inorganic alignment film is formed to form the recess surface, thereby giving a predetermined pretilt to liquid crystal molecules having negative dielectric anisotropy. An inorganic alignment film that is vertically aligned can be efficiently obtained by oblique deposition. That is, a liquid crystal device having stable optical characteristics can be provided with high productivity.
In addition, since a plurality of recesses are formed in the insulating film covering the electrode, the liquid crystal molecules having negative dielectric anisotropy are given a predetermined pretilt between the electrode and the liquid crystal layer, regardless of the thickness of the electrode. An inorganic alignment film to be aligned can be efficiently obtained on the insulating film by oblique vapor deposition.

[適用例3]上記適用例の液晶装置において、前記凹部表面のラフネスRaが5nm以上20nm以下であることが好ましい。
この構成によれば、ラフネスRaが5nm以上20nm以下の凹部表面に斜方蒸着により無機配向膜が形成されるので、形成後の無機配向膜の表面におけるラフネスRaもほぼ同等となる。無機配向膜の表面におけるラフネスRaつまり凹凸が無機配向膜の膜厚に対して、比較的小さいので、該凹凸に起因する液晶分子の配向不良の発生は殆ど起こらない。したがって、負の誘電異方性を有する液晶分子に所定のプレチルトを与えて垂直配向させる無機配向膜を斜方蒸着により効率的に得ることができると共に、より安定した光学特性を有する液晶装置を提供できる。
Application Example 3 In the liquid crystal device according to the application example described above, it is preferable that the roughness Ra of the concave surface is 5 nm or more and 20 nm or less.
According to this configuration, since the inorganic alignment film is formed by oblique deposition on the surface of the recess having a roughness Ra of 5 nm or more and 20 nm or less, the roughness Ra on the surface of the inorganic alignment film after the formation is substantially equal. Since the roughness Ra, that is, the unevenness on the surface of the inorganic alignment film is relatively small with respect to the film thickness of the inorganic alignment film, the occurrence of poor alignment of liquid crystal molecules due to the unevenness hardly occurs. Accordingly, it is possible to efficiently obtain an inorganic alignment film that vertically aligns liquid crystal molecules having negative dielectric anisotropy by giving a predetermined pretilt, and provides a liquid crystal device having more stable optical characteristics. it can.

[適用例4]上記適用例の液晶装置において、前記電極が画素電極であり、前記画素電極の膜厚は、10nm以上50nm以下であることが好ましい。
この構成によれば、画素電極の厚みが10nm以上、50nm以下であるため、例えば下地絶縁膜の複数の凹部を画素電極で覆ってもその表面が平坦にならずに、画素電極の表面に下地絶縁膜の複数の凹部を反映させた凹部表面を容易に形成できる。
Application Example 4 In the liquid crystal device according to the application example, it is preferable that the electrode is a pixel electrode, and the film thickness of the pixel electrode is 10 nm or more and 50 nm or less.
According to this configuration, since the thickness of the pixel electrode is 10 nm or more and 50 nm or less, for example, even if a plurality of concave portions of the base insulating film is covered with the pixel electrode, the surface does not become flat, and the surface of the pixel electrode is not grounded. A recess surface reflecting a plurality of recesses of the insulating film can be easily formed.

[適用例5]本適用例の液晶装置の製造方法は、第1の基板と第2の基板とにより負の誘電異方性を有する液晶分子からなる液晶層が挟持された液晶装置の製造方法であって、前記第1の基板の前記液晶層に面する側に下地絶縁膜を形成する工程と、前記下地絶縁膜の前記液晶層に面する側の表面に複数の凹部を形成する凹部形成工程と、前記下地絶縁膜を覆って導電膜を形成し前記導電膜をパターニングして、前記下地絶縁膜に応じた凹部表面を有する電極を形成する電極形成工程と、前記凹部表面に斜方蒸着により無機配向膜を形成する配向膜形成工程と、を備えることを特徴とする。   Application Example 5 A method for manufacturing a liquid crystal device according to this application example is a method for manufacturing a liquid crystal device in which a liquid crystal layer composed of liquid crystal molecules having negative dielectric anisotropy is sandwiched between a first substrate and a second substrate. A step of forming a base insulating film on a side of the first substrate facing the liquid crystal layer, and a step of forming a plurality of concave portions on the surface of the base insulating film on the side facing the liquid crystal layer. A step of forming an electrode having a concave surface corresponding to the base insulating film by forming a conductive film covering the base insulating film and patterning the conductive film; and oblique deposition on the concave surface And an alignment film forming step of forming an inorganic alignment film.

この方法によれば、凹部形成工程において電極の下地絶縁膜に複数の凹部を形成することにより、電極形成工程では、電極の表面に下地絶縁膜の複数の凹部が反映された凹部表面が形成される。したがって、配向膜形成工程では、電極の凹部表面に負の誘電異方性を有する液晶分子に所定のプレチルトを与えて垂直配向させる無機配向膜を斜方蒸着により効率的に形成することができる。すなわち、安定した光学特性を有する液晶装置を高い生産性で製造することができる。
また、電極そのものを加工してその表面に複数の凹部を形成する場合に比べて、凹部形成工程では、電極の下地絶縁膜に複数の凹部を形成するので、電極の厚みが薄くなってもその表面に容易に凹部を形成することができる。
According to this method, by forming a plurality of recesses in the base insulating film of the electrode in the recess forming step, the surface of the recess reflecting the plurality of recesses of the base insulating film is formed on the surface of the electrode in the electrode forming step. The Therefore, in the alignment film forming step, an inorganic alignment film can be efficiently formed by oblique deposition by vertically applying the liquid crystal molecules having negative dielectric anisotropy to the concave surface of the electrode by giving a predetermined pretilt. That is, a liquid crystal device having stable optical characteristics can be manufactured with high productivity.
In addition, compared with the case where the electrode itself is processed to form a plurality of recesses on the surface, the recess forming step forms a plurality of recesses in the base insulating film of the electrode, so even if the electrode thickness is reduced A recess can be easily formed on the surface.

[適用例6]本適用例の他の液晶装置の製造方法は、第1の基板と第2の基板とにより負の誘電異方性を有する液晶分子からなる液晶層が挟持された液晶装置の製造方法であって、前記第1の基板の前記液晶層に面する側に電極を形成する電極形成工程と、前記電極を覆う絶縁膜を形成する工程と、前記絶縁膜の前記液晶層に面する側の表面に複数の凹部を形成して、凹部表面を形成する凹部形成工程と、前記凹部表面に斜方蒸着により無機配向膜を形成する配向膜形成工程と、を備えることを特徴とする。   Application Example 6 Another method of manufacturing a liquid crystal device according to this application example is a liquid crystal device in which a liquid crystal layer composed of liquid crystal molecules having negative dielectric anisotropy is sandwiched between a first substrate and a second substrate. An electrode forming step of forming an electrode on a side of the first substrate facing the liquid crystal layer, a step of forming an insulating film covering the electrode, and a surface of the insulating film facing the liquid crystal layer. A recess forming step of forming a plurality of recesses on the surface on the surface to form the recess surface, and an alignment film forming step of forming an inorganic alignment film on the recess surface by oblique vapor deposition. .

この方法によれば、凹部形成工程において電極を覆う絶縁膜に複数の凹部を形成して、凹部表面を形成することにより、配向膜形成工程では、絶縁膜の凹部表面に負の誘電異方性を有する液晶分子に所定のプレチルトを与えて垂直配向させる無機配向膜を斜方蒸着により効率的に形成することができる。すなわち、安定した光学特性を有する液晶装置を高い生産性で製造することができる。
また、この方法によれば、電極の厚みに係らず、電極と液晶層との間に、負の誘電異方性を有する液晶分子に所定のプレチルトを与えて垂直配向させる無機配向膜を絶縁膜上に斜方蒸着により効率的に形成することができる。
According to this method, by forming a plurality of recesses in the insulating film covering the electrodes in the recess forming step and forming the recess surface, in the alignment film forming step, negative dielectric anisotropy is formed on the recess surface of the insulating film. Inorganic alignment films that vertically align liquid crystal molecules having a predetermined pretilt can be efficiently formed by oblique deposition. That is, a liquid crystal device having stable optical characteristics can be manufactured with high productivity.
In addition, according to this method, an inorganic alignment film that vertically aligns liquid crystal molecules having negative dielectric anisotropy by applying a predetermined pretilt between the electrode and the liquid crystal layer regardless of the thickness of the electrode. It can be formed efficiently by oblique deposition.

[適用例7]上記適用例の液晶装置の製造方法において、前記電極形成工程は、前記電極としての画素電極を、膜厚が10nm以上50nm以下となるように形成することが好ましい。
この方法によれば、画素電極は、その厚みが10nm以上、50nm以下となるように形成されるので、例えば画素電極の表面に下地絶縁膜の複数の凹部を反映させた凹部表面を確実に形成することができる。
Application Example 7 In the method of manufacturing a liquid crystal device according to the application example, it is preferable that in the electrode formation step, the pixel electrode as the electrode is formed so as to have a thickness of 10 nm to 50 nm.
According to this method, the pixel electrode is formed so that the thickness thereof is 10 nm or more and 50 nm or less. Therefore, for example, the surface of the recess that reflects the plurality of recesses of the base insulating film is reliably formed on the surface of the pixel electrode. can do.

[適用例8]上記適用例の液晶装置の製造方法において、前記凹部形成工程は、前記凹部表面のラフネスRaが5nm以上20nm以下となるように前記複数の凹部を形成することが好ましい。
この方法によれば、配向膜形成工程では、ラフネスRaが5nm以上20nm以下の表面に斜方蒸着により無機配向膜を形成するので、形成後の無機配向膜の表面におけるラフネスRaもほぼ同等となる。無機配向膜の表面におけるラフネスRaつまり凹凸が比較的に小さいので、該凹凸に起因する液晶分子の配向不良の発生が低減される。すなわち、より安定した光学特性を有する液晶装置を製造することができる。
Application Example 8 In the method of manufacturing a liquid crystal device according to the application example, it is preferable that the recess forming step forms the plurality of recesses so that roughness Ra of the surface of the recess is 5 nm or more and 20 nm or less.
According to this method, in the alignment film forming step, since the inorganic alignment film is formed by oblique deposition on the surface having a roughness Ra of 5 nm to 20 nm, the roughness Ra on the surface of the inorganic alignment film after the formation is substantially equal. . Since the roughness Ra, that is, the unevenness on the surface of the inorganic alignment film is relatively small, occurrence of poor alignment of liquid crystal molecules due to the unevenness is reduced. That is, a liquid crystal device having more stable optical characteristics can be manufactured.

[適用例9]本適用例の電子機器は、上記適用例の液晶装置を備えたことを特徴とする。
この構成によれば、安定した光学特性と高いコストパフォーマンスとを備えた電子機器を提供することができる。
Application Example 9 An electronic apparatus according to this application example includes the liquid crystal device according to the application example described above.
According to this configuration, an electronic apparatus having stable optical characteristics and high cost performance can be provided.

(a)は液晶装置の構成を示す概略平面図、(b)は、(a)に示す液晶装置のH−H’線に沿う概略断面図。(A) is a schematic plan view which shows the structure of a liquid crystal device, (b) is a schematic sectional drawing in alignment with the H-H 'line | wire of the liquid crystal device shown to (a). 液晶装置の電気的な構成を示す等価回路図。FIG. 3 is an equivalent circuit diagram illustrating an electrical configuration of the liquid crystal device. 液晶装置の画素の構造を示す概略断面図。FIG. 4 is a schematic cross-sectional view illustrating a structure of a pixel of a liquid crystal device. (a)および(b)は無機配向膜の形成面における凹部の配置を示す概略平面図。(A) And (b) is a schematic plan view which shows arrangement | positioning of the recessed part in the formation surface of an inorganic alignment film. 斜方蒸着装置を示す概略図。Schematic which shows an oblique vapor deposition apparatus. 実施例と比較例1および比較例2の無機配向膜形成条件と、液晶装置における表示品質と生産性の評価を示す表。The table | surface which shows the inorganic alignment film formation conditions of an Example, the comparative example 1, and the comparative example 2, and evaluation of the display quality and productivity in a liquid crystal device. 電子機器としての投射型表示装置の構成を示す概略図。Schematic which shows the structure of the projection type display apparatus as an electronic device. 変形例の液晶装置の画素の構造を示す概略断面図。FIG. 6 is a schematic cross-sectional view illustrating a pixel structure of a liquid crystal device according to a modification.

以下、本発明を具体化した実施形態について図面に従って説明する。なお、使用する図面は、説明する部分が認識可能な状態となるように、適宜拡大または縮小して表示している。   DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of the invention will be described with reference to the drawings. Note that the drawings to be used are appropriately enlarged or reduced so that the part to be described can be recognized.

なお、以下の形態において、例えば「基板上に」と記載された場合、基板の上に接するように配置される場合、または基板の上に他の構成物を介して配置される場合、または基板の上に一部が接するように配置され、一部が他の構成物を介して配置される場合を表すものとする。   In the following embodiments, for example, when “on the substrate” is described, the substrate is disposed so as to be in contact with the substrate, or is disposed on the substrate via another component, or the substrate. It is assumed that a part is arranged so as to be in contact with each other and a part is arranged via another component.

(第1実施形態)
本実施形態では、薄膜トランジスターを画素のスイッチング素子として備えたアクティブマトリックス型の液晶装置を例に挙げて説明する。この液晶装置は、例えば後述する投射型表示装置(液晶プロジェクター)の光変調素子(液晶ライトバルブ)として好適に用いることができるものである。
(First embodiment)
In this embodiment, an active matrix type liquid crystal device including a thin film transistor as a pixel switching element will be described as an example. This liquid crystal device can be suitably used as, for example, a light modulation element (liquid crystal light valve) of a projection type display device (liquid crystal projector) described later.

<液晶装置>
まず、本実施形態の液晶装置について、図1および図2を参照して説明する。図1(a)は液晶装置の構成を示す概略平面図、同図(b)は、同図(a)に示す液晶装置のH−H’線に沿う概略断面図である。図2は液晶装置の電気的な構成を示す等価回路図である。
<Liquid crystal device>
First, the liquid crystal device of this embodiment will be described with reference to FIGS. 1A is a schematic plan view showing the configuration of the liquid crystal device, and FIG. 1B is a schematic cross-sectional view taken along the line HH ′ of the liquid crystal device shown in FIG. FIG. 2 is an equivalent circuit diagram showing an electrical configuration of the liquid crystal device.

図1(a)および(b)に示すように、本実施形態の液晶装置100は、対向配置された第1の基板としての素子基板10および第2の基板としての対向基板20と、これら一対の基板によって挟持された液晶層50とを有する。素子基板10および対向基板20は、透明な例えば石英基板やガラス基板が用いられている。   As shown in FIGS. 1A and 1B, a liquid crystal device 100 according to the present embodiment includes an element substrate 10 as a first substrate and a counter substrate 20 as a second substrate, which are opposed to each other, and a pair of these. And a liquid crystal layer 50 sandwiched between the substrates. The element substrate 10 and the counter substrate 20 are made of, for example, a transparent quartz substrate or glass substrate.

素子基板10は対向基板20よりも一回り大きく、両基板は、額縁状に配置されたシール材40を介して接合され、その隙間に負の誘電異方性を有する液晶が封入されて液晶層50を構成している。シール材40は、例えば熱硬化性又は紫外線硬化性のエポキシ樹脂などの接着剤が採用されている。シール材40には、一対の基板の間隔を一定に保持するためのスペーサー(図示省略)が混入されている。   The element substrate 10 is slightly larger than the counter substrate 20, and both the substrates are joined via a seal material 40 arranged in a frame shape, and a liquid crystal having negative dielectric anisotropy is sealed in the gap to form a liquid crystal layer 50. As the sealing material 40, for example, an adhesive such as a thermosetting or ultraviolet curable epoxy resin is employed. A spacer (not shown) is mixed in the sealing material 40 to keep the distance between the pair of substrates constant.

額縁状に配置されたシール材40の内側には、同じく額縁状に見切り部21が設けられている。見切り部21は、例えば遮光性の金属あるいは金属酸化物などからなり、見切り部21の内側が複数の画素Pを有する画素領域Eとなっている。なお、画素領域Eは、表示に寄与する複数の画素Pに加えて、複数の画素Pを囲むように配置されたダミー画素を含むとしてもよい。また、図1では図示省略したが、画素領域Eにおいて複数の画素Pをそれぞれ平面的に区分する遮光部が設けられている。   On the inner side of the sealing material 40 arranged in a frame shape, a parting portion 21 is provided in the same frame shape. The parting part 21 is made of, for example, a light-shielding metal or metal oxide, and the inside of the parting part 21 is a pixel region E having a plurality of pixels P. The pixel region E may include dummy pixels arranged so as to surround the plurality of pixels P in addition to the plurality of pixels P contributing to display. Although not shown in FIG. 1, a light-shielding portion that divides a plurality of pixels P in a plane in the pixel region E is provided.

素子基板10の1辺部に沿ったシール材40と該1辺部との間にデータ線駆動回路101が設けられている。また、該1辺部に対向する他の1辺部に沿ったシール材40の内側に検査回路103が設けられている。さらに、該1辺部と直交し互いに対向する他の2辺部に沿ったシール材40の内側に走査線駆動回路102が設けられている。該1辺部と対向する他の1辺部のシール材40の内側には、2つの走査線駆動回路102を繋ぐ複数の配線105が設けられている。   A data line driving circuit 101 is provided between the sealing material 40 along one side of the element substrate 10 and the one side. Further, an inspection circuit 103 is provided inside the sealing material 40 along the other one side facing the one side. Further, a scanning line driving circuit 102 is provided inside the sealing material 40 along the other two sides orthogonal to the one side and facing each other. A plurality of wirings 105 that connect the two scanning line driving circuits 102 are provided inside the sealing material 40 on the other side facing the one side.

これらデータ線駆動回路101、走査線駆動回路102に繋がる配線は、該1辺部に沿って配列した複数の外部接続端子104に接続されている。以降、該1辺部に沿った方向をX方向とし、該1辺部と直交し互いに対向する他の2辺部に沿った方向をY方向として説明する。なお、検査回路103の配置はこれに限定されず、データ線駆動回路101と画素領域Eとの間のシール材40の内側に沿った位置に設けてもよい。   Wirings connected to the data line driving circuit 101 and the scanning line driving circuit 102 are connected to a plurality of external connection terminals 104 arranged along the one side. Hereinafter, the direction along the one side will be referred to as the X direction, and the direction along the other two sides orthogonal to the one side and facing each other will be described as the Y direction. Note that the arrangement of the inspection circuit 103 is not limited to this, and the inspection circuit 103 may be provided at a position along the inner side of the sealant 40 between the data line driving circuit 101 and the pixel region E.

図1(b)に示すように、素子基板10の液晶層50側の表面には、画素Pごとに設けられた光透過性を有する画素電極15およびスイッチング素子としての薄膜トランジスター(Thin Film Transistor、以降、TFTと呼称する)30と、信号配線と、これらを覆う配向膜18とが形成されている。また、TFT30における半導体層に光が入射してスイッチング動作が不安定になることを防ぐ遮光構造が採用されている。   As shown in FIG. 1B, on the surface of the element substrate 10 on the liquid crystal layer 50 side, a light-transmissive pixel electrode 15 provided for each pixel P and a thin film transistor (Thin Film Transistor, (Hereinafter referred to as TFT) 30, a signal wiring, and an alignment film 18 covering these are formed. In addition, a light shielding structure is employed that prevents light from entering the semiconductor layer in the TFT 30 to make the switching operation unstable.

対向基板20の液晶層50側の表面には、見切り部21と、これを覆うように成膜された層間膜層22と、層間膜層22を覆うように設けられた共通電極23と、共通電極23を覆う配向膜24とが設けられている。   On the surface of the counter substrate 20 on the liquid crystal layer 50 side, a parting portion 21, an interlayer film layer 22 formed so as to cover it, a common electrode 23 provided so as to cover the interlayer film layer 22, An alignment film 24 covering the electrode 23 is provided.

見切り部21は、図1(a)に示すように平面的に走査線駆動回路102、検査回路103と重なる位置において額縁状に設けられている。これにより対向基板20側から入射する光を遮蔽して、これらの駆動回路を含む周辺回路の光による誤動作を防止する役目を果たしている。また、不必要な迷光が画素領域Eに入射しないように遮蔽して、画素領域Eの表示における高いコントラストを確保している。   As shown in FIG. 1A, the parting portion 21 is provided in a frame shape at a position where it overlaps the scanning line driving circuit 102 and the inspection circuit 103 in a plane. Thus, the light incident from the counter substrate 20 side is shielded, and the malfunction of the peripheral circuits including these drive circuits due to the light is prevented. Further, unnecessary stray light is shielded from entering the pixel region E to ensure high contrast in the display of the pixel region E.

層間膜層22は、例えば酸化シリコンなどの無機材料からなり、光透過性を有して見切り部21を覆うように設けられている。このような層間膜層22の形成方法としては、例えばプラズマCVD法などを用いて成膜する方法が挙げられる。   The interlayer film layer 22 is made of an inorganic material such as silicon oxide, for example, and is provided so as to cover the parting portion 21 with light transmittance. Examples of a method for forming such an interlayer film layer 22 include a method of forming a film using a plasma CVD method or the like.

共通電極23は、例えばITO(Indium Tin Oxide)などの透明導電膜からなり、層間膜層22を覆うと共に、図1(a)に示すように対向基板20の四隅に設けられた上下導通部106により素子基板10側の配線に電気的に接続している。   The common electrode 23 is made of, for example, a transparent conductive film such as ITO (Indium Tin Oxide), covers the interlayer film layer 22, and as shown in FIG. 1 (a), the vertical conductive portions 106 provided at the four corners of the counter substrate 20. Thus, the wiring is electrically connected to the wiring on the element substrate 10 side.

画素電極15を覆う配向膜18および共通電極23を覆う配向膜24は、液晶装置100の光学設計に基づいて設定される。本実施形態では、SiOx(酸化シリコン)などの無機材料を基板面に対して所定の方位から斜方蒸着して成膜化し、負の誘電異方性を有する液晶分子に上記所定の方位に沿ったプレチルトを与えて略垂直配向させる無機配向膜が採用されている。具体的には、図1(a)に示すように、素子基板10においては右上から左下に向かう破線の矢印で示した蒸着方向から斜方蒸着がなされ、対向基板20においては左下から右上に向かう実線の矢印で示した蒸着方向から斜方蒸着がなされている。基準となるY方向と蒸着方向とがなす方位角度θaは45°である。つまり、素子基板10と対向基板20とでは互いに反対の方位から斜方蒸着がなされており、このような配向処理方法は、液晶分子に所定の方位に沿ったプレチルトを与えることから1軸垂直配向処理と呼ばれている。配向膜18,24による液晶分子の配向のさせ方や配向膜18,24の形成方法については、後述する。   The alignment film 18 that covers the pixel electrode 15 and the alignment film 24 that covers the common electrode 23 are set based on the optical design of the liquid crystal device 100. In this embodiment, an inorganic material such as SiOx (silicon oxide) is formed into a film by oblique vapor deposition from a predetermined direction with respect to the substrate surface, and the liquid crystal molecules having negative dielectric anisotropy are aligned along the predetermined direction. In addition, an inorganic alignment film that gives a pretilt and is substantially vertically aligned is employed. Specifically, as shown in FIG. 1A, oblique deposition is performed in the element substrate 10 from the deposition direction indicated by the dashed arrow from the upper right to the lower left, and from the lower left to the upper right in the counter substrate 20. Diagonal vapor deposition is performed from the vapor deposition direction indicated by the solid arrows. The azimuth angle θa formed by the reference Y direction and the vapor deposition direction is 45 °. In other words, the element substrate 10 and the counter substrate 20 are obliquely vapor-deposited from opposite directions, and such an alignment treatment method gives a pretilt along a predetermined direction to liquid crystal molecules, so that uniaxial vertical alignment is performed. It is called processing. A method for aligning liquid crystal molecules by the alignment films 18 and 24 and a method for forming the alignment films 18 and 24 will be described later.

図2に示すように、液晶装置100は、少なくとも画素領域Eにおいて互いに絶縁されて直交する信号線としての複数の走査線3aおよび複数のデータ線6aと、データ線6aに沿って平行に配置された容量線3bとを有する。走査線3aが延在する方向がX方向であり、データ線6aが延在する方向がY方向である。   As shown in FIG. 2, the liquid crystal device 100 is arranged in parallel along the data lines 6 a with a plurality of scanning lines 3 a and a plurality of data lines 6 a as signal lines insulated and orthogonal to each other at least in the pixel region E. Capacitance line 3b. The direction in which the scanning line 3a extends is the X direction, and the direction in which the data line 6a extends is the Y direction.

走査線3aとデータ線6aならびに容量線3bと、これらの信号線類により区分された領域に、画素電極15と、TFT30と、保持容量16とが設けられ、これらが画素Pの画素回路を構成している。   A pixel electrode 15, a TFT 30, and a storage capacitor 16 are provided in a region divided by the scanning line 3a, the data line 6a, the capacitor line 3b, and these signal lines, and these constitute a pixel circuit of the pixel P. doing.

走査線3aはTFT30のゲートに電気的に接続され、データ線6aはTFT30の第1ソース・ドレイン領域に電気的に接続されている。画素電極15はTFT30の第2ソース・ドレイン領域に電気的に接続されている。   The scanning line 3 a is electrically connected to the gate of the TFT 30, and the data line 6 a is electrically connected to the first source / drain region of the TFT 30. The pixel electrode 15 is electrically connected to the second source / drain region of the TFT 30.

データ線6aはデータ線駆動回路101(図1参照)に接続されており、データ線駆動回路101から供給される画像信号D1,D2,…,Dnを画素Pに供給する。走査線3aは走査線駆動回路102(図1参照)に接続されており、走査線駆動回路102から供給される走査信号SC1,SC2,…,SCmを各画素Pに供給する。   The data line 6a is connected to the data line driving circuit 101 (see FIG. 1), and supplies image signals D1, D2,..., Dn supplied from the data line driving circuit 101 to the pixels P. The scanning line 3a is connected to a scanning line driving circuit 102 (see FIG. 1), and supplies scanning signals SC1, SC2,..., SCm supplied from the scanning line driving circuit 102 to each pixel P.

データ線駆動回路101からデータ線6aに供給される画像信号D1〜Dnは、この順に線順次で供給してもよく、互いに隣り合う複数のデータ線6a同士に対してグループごとに供給してもよい。走査線駆動回路102は、走査線3aに対して、走査信号SC1〜SCmを所定のタイミングでパルス的に線順次で供給する。   The image signals D1 to Dn supplied from the data line driving circuit 101 to the data lines 6a may be supplied line-sequentially in this order, or may be supplied for each of a plurality of adjacent data lines 6a for each group. Good. The scanning line driving circuit 102 supplies the scanning signals SC1 to SCm to the scanning line 3a in a pulse-sequential manner at a predetermined timing.

液晶装置100は、スイッチング素子であるTFT30が走査信号SC1〜SCmの入力により一定期間だけオン状態とされることで、データ線6aから供給される画像信号D1〜Dnが所定のタイミングで画素電極15に書き込まれる構成となっている。そして、画素電極15を介して液晶層50に書き込まれた所定レベルの画像信号D1〜Dnは、画素電極15と液晶層50を介して対向配置された共通電極23との間で一定期間保持される。   In the liquid crystal device 100, the TFT 30 that is a switching element is turned on for a certain period by the input of the scanning signals SC1 to SCm, so that the image signals D1 to Dn supplied from the data line 6a are supplied to the pixel electrode 15 at a predetermined timing. It is the structure written in. The predetermined level of image signals D1 to Dn written to the liquid crystal layer 50 via the pixel electrode 15 is held for a certain period between the pixel electrode 15 and the common electrode 23 arranged to face each other via the liquid crystal layer 50. The

保持された画像信号D1〜Dnがリークするのを防止するため、画素電極15と共通電極23との間に形成される液晶容量と並列に保持容量16が接続されている。保持容量16は、TFT30の第2ソース・ドレイン領域と容量線3bとの間に設けられている。   In order to prevent the held image signals D1 to Dn from leaking, the holding capacitor 16 is connected in parallel with the liquid crystal capacitor formed between the pixel electrode 15 and the common electrode 23. The storage capacitor 16 is provided between the second source / drain region of the TFT 30 and the capacitor line 3b.

保持容量16は、遮光性の第1容量電極および第2容量電極との間に誘電体層を有するものである。また、第1容量電極が上記容量線3bの機能を果たしている。また、容量線3b(第1容量電極)は、固定電位に接続されている。   The storage capacitor 16 has a dielectric layer between the light-shielding first capacitor electrode and the second capacitor electrode. The first capacitor electrode functions as the capacitor line 3b. Further, the capacitor line 3b (first capacitor electrode) is connected to a fixed potential.

なお、図1(a)に示した検査回路103には、データ線6aが接続されており、液晶装置100の製造過程において、上記画像信号を検出することで液晶装置100の動作欠陥などを確認できる構成となっているが、図2の等価回路では省略している。   Note that a data line 6a is connected to the inspection circuit 103 shown in FIG. 1A, and an operation defect or the like of the liquid crystal device 100 is confirmed by detecting the image signal in the manufacturing process of the liquid crystal device 100. Although it can be configured, it is omitted in the equivalent circuit of FIG.

また、検査回路103は、上記画像信号をサンプリングしてデータ線6aに供給するサンプリング回路、データ線6aに所定電圧レベルのプリチャージ信号を画像信号に先行して供給するプリチャージ回路を含むものとしてもよい。   The inspection circuit 103 includes a sampling circuit that samples the image signal and supplies it to the data line 6a, and a precharge circuit that supplies a precharge signal of a predetermined voltage level to the data line 6a prior to the image signal. Also good.

このような液晶装置100は透過型であって、例えば、画素Pが非駆動時に暗表示となるノーマリーブラックモードの光学設計が採用される。光の入射側と射出側とにそれぞれ偏光素子が光学設計に応じて配置されて用いられる。   Such a liquid crystal device 100 is a transmissive type, and employs a normally black mode optical design in which, for example, the pixel P is darkly displayed when not driven. Polarizing elements are arranged and used according to the optical design on the light incident side and the light exit side, respectively.

次に、液晶装置100の画素Pの詳しい構造や、液晶装置100の製造方法とりわけ配向膜18,24の形成方法について、図3〜図5を参照して説明する。図3は画素の構造を示す概略断面図、図4(a)および(b)は無機配向膜の形成面における凹部の配置を示す概略平面図、図5は斜方蒸着装置を示す概略図である。なお、図3は、前述した1軸垂直配向処理の所定の方位に沿った画素Pの概略断面図である。   Next, a detailed structure of the pixel P of the liquid crystal device 100 and a method for manufacturing the liquid crystal device 100, particularly a method for forming the alignment films 18 and 24, will be described with reference to FIGS. 3 is a schematic cross-sectional view showing the structure of the pixel, FIGS. 4A and 4B are schematic plan views showing the arrangement of recesses on the surface on which the inorganic alignment film is formed, and FIG. 5 is a schematic view showing an oblique deposition apparatus. is there. FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of the pixel P along a predetermined direction of the uniaxial vertical alignment process described above.

図3に示すように、液晶装置100における画素電極15および共通電極23の表面には、酸化シリコンを斜方蒸着して得られた配向膜18および配向膜24が形成されている。具体的には、液晶層50に面した基板面に対する蒸着方向の角度θbはおよそ45°である。このような斜方蒸着により基板面には蒸着方向に向って酸化シリコンの結晶体が柱状に成長する。この柱状結晶体をカラム18a,24aと呼ぶ。配向膜18,24はこのようなカラム18a,24aの集合体である。また、基板面に対するカラム18a,24aの成長方向の角度θcは蒸着方向の角度θbと必ずしも一致せず、この場合およそ70°となっている。   As shown in FIG. 3, an alignment film 18 and an alignment film 24 obtained by obliquely depositing silicon oxide are formed on the surfaces of the pixel electrode 15 and the common electrode 23 in the liquid crystal device 100. Specifically, the angle θb of the vapor deposition direction with respect to the substrate surface facing the liquid crystal layer 50 is approximately 45 °. By such oblique deposition, silicon oxide crystals grow in the form of columns on the substrate surface in the deposition direction. These columnar crystals are called columns 18a and 24a. The alignment films 18 and 24 are aggregates of such columns 18a and 24a. Further, the angle θc in the growth direction of the columns 18a and 24a with respect to the substrate surface does not necessarily coincide with the angle θb in the vapor deposition direction, and in this case, is approximately 70 °.

このような配向膜18,24の表面において略垂直配向する液晶分子50aの基板の法線方向に対するプレチルト角θpはおよそ4°である。また、基板面の法線方向から見た液晶分子50aのプレチルトの所定の方向は、図1(a)に示したように配向膜18,24における斜方蒸着の平面的な蒸着方向と同じである。このような1軸垂直配向処理の上記所定の方向は、液晶装置100の光学設計条件に基づいて適宜設定される。本実施形態では、上記所定の方向は光の入射方向と射出方向とに配置される偏光素子の透過軸または吸収軸に対して45°の角度で交わっている。   The pretilt angle θp with respect to the normal direction of the substrate of the liquid crystal molecules 50a that are substantially vertically aligned on the surfaces of the alignment films 18 and 24 is about 4 °. Further, the predetermined direction of the pretilt of the liquid crystal molecules 50a viewed from the normal direction of the substrate surface is the same as the planar deposition direction of the oblique deposition in the alignment films 18 and 24 as shown in FIG. is there. The predetermined direction of the uniaxial vertical alignment process is appropriately set based on the optical design conditions of the liquid crystal device 100. In the present embodiment, the predetermined direction intersects at an angle of 45 ° with respect to the transmission axis or absorption axis of the polarizing element arranged in the light incident direction and the light emitting direction.

次に、素子基板10の構成について詳しく説明する。素子基板10の液晶層50に面する側の表面には、下地絶縁膜11と、画素電極15と、配向膜18とが順に形成されている。
下地絶縁膜11は、例えば、酸化シリコンや酸化シリコンにB(ボロン)などが添加された無機絶縁膜が用いられており、その表面には複数の凹部11aが形成されている(凹部形成工程)。複数の凹部11aが形成された表面を覆って、例えばITO(Indium Tin Oxide)などの透明導電膜を成膜してパターニングすることにより、透光性の画素電極15が形成されている(電極形成工程)。これにより、画素電極15の液晶層50側の表面にも複数の凹部11aに応じた複数の凹部15a、すなわち本発明における凹部表面が形成されている。以降、画素電極15に形成された複数の凹部15aを総称して凹部表面15aと呼ぶこともある。
Next, the configuration of the element substrate 10 will be described in detail. On the surface of the element substrate 10 facing the liquid crystal layer 50, a base insulating film 11, a pixel electrode 15, and an alignment film 18 are sequentially formed.
As the base insulating film 11, for example, an inorganic insulating film in which B (boron) or the like is added to silicon oxide or silicon oxide is used, and a plurality of concave portions 11a are formed on the surface (recess forming step). . A transparent conductive pixel electrode 15 is formed by forming a film of a transparent conductive film such as ITO (Indium Tin Oxide) and patterning the surface on which the plurality of concave portions 11a are formed (electrode formation). Process). As a result, a plurality of recesses 15a corresponding to the plurality of recesses 11a, that is, the recess surfaces in the present invention are also formed on the surface of the pixel electrode 15 on the liquid crystal layer 50 side. Hereinafter, the plurality of recesses 15a formed in the pixel electrode 15 may be collectively referred to as a recess surface 15a.

複数の凹部11a(凹部15a)の平面的な形状と配置は、例えば図4(a)に示すように、平面視で円形であって、隣り合う凹部11a(凹部15a)の中心が正方形の角部に位置する単純マトリックス配置や、例えば図4(b)に示すように、隣り合う凹部11a(凹部15a)の中心が正三角形の頂点に位置するデルタ配置などを挙げることができる。なお、複数の凹部11a(凹部15a)の平面的な形状と配置は、1画素単位で見て、複数の異なる形状を略同様の密度で配置するなど、これに限定されるものではない。   The planar shape and arrangement of the plurality of recesses 11a (recesses 15a) are, for example, as shown in FIG. 4A, circular in plan view, and the center of the adjacent recesses 11a (recesses 15a) is a square corner. For example, as shown in FIG. 4 (b), a simple matrix arrangement located in a portion, a delta arrangement in which the centers of adjacent concave portions 11a (concave portions 15a) are located at the vertices of equilateral triangles, and the like can be given. Note that the planar shape and arrangement of the plurality of recesses 11a (recesses 15a) are not limited to this, for example, a plurality of different shapes are arranged at substantially the same density when viewed in units of pixels.

凹部11a(凹部15a)は微小な大きさであって、配向膜18を斜方蒸着により効率的に形成することと、配向膜18の液晶層50側の表面に生ずる凹凸により液晶分子50aの配向ムラが生ずるおそれとを考慮して、画素電極15に接する側の表面のラフネスRa(算術平均あらさ)が5nm以上20nm以下となるように凹部11aが形成されている。   The recess 11a (recess 15a) has a small size, and the alignment film 18 is efficiently formed by oblique deposition, and the alignment of the liquid crystal molecules 50a is caused by the unevenness generated on the surface of the alignment film 18 on the liquid crystal layer 50 side. In consideration of the possibility of unevenness, the recess 11a is formed so that the roughness Ra (arithmetic mean roughness) of the surface in contact with the pixel electrode 15 is 5 nm or more and 20 nm or less.

(実施例)
凹部11aの実施例としては、例えば平面視で大きさがφ500nm、隣り合う凹部11aの配置間隔がおよそ1μm、その深さはおよそ10nmである。このような凹部11aが形成された表面に形成される画素電極15の厚みは、可視光透過率および電気抵抗と、画素電極15の表面に下地絶縁膜11の複数の凹部11aが反映されることとを考慮して、10nm以上50nm以下としている。また、画素電極15の外周付近における無機配向膜(配向膜18)の着き廻りを考慮すれば、画素電極15の厚みは無機配向膜(配向膜18)の膜厚に対して薄い方が好ましい。実施例では、無機配向膜(配向膜18)の膜厚を70nm〜80nm、画素電極15の厚みを20nmとした。
(Example)
As an example of the recess 11a, for example, the size is φ500 nm in plan view, the arrangement interval between the adjacent recesses 11a is approximately 1 μm, and the depth is approximately 10 nm. The thickness of the pixel electrode 15 formed on the surface where the concave portion 11 a is formed reflects the visible light transmittance and electric resistance, and the plurality of concave portions 11 a of the base insulating film 11 on the surface of the pixel electrode 15. Therefore, the thickness is set to be 10 nm or more and 50 nm or less. In consideration of the surrounding of the inorganic alignment film (alignment film 18) in the vicinity of the outer periphery of the pixel electrode 15, the pixel electrode 15 is preferably thinner than the inorganic alignment film (alignment film 18). In the example, the thickness of the inorganic alignment film (alignment film 18) was set to 70 nm to 80 nm, and the thickness of the pixel electrode 15 was set to 20 nm.

液晶装置100の製造方法における配向膜形成工程は、図5に示すような斜方蒸着装置300を用いて行う。図5のワークWは、素子基板10が複数面付けされた例えば平面視でウェハ状の石英基板である。   The alignment film forming step in the method for manufacturing the liquid crystal device 100 is performed using an oblique deposition apparatus 300 as shown in FIG. The workpiece W in FIG. 5 is a quartz substrate in a wafer shape, for example, in plan view, on which a plurality of element substrates 10 are provided.

斜方蒸着装置300は、内部を減圧可能なチャンバー301と、チャンバー301の底部に設けられた蒸着源302とを有している。蒸着源302には、配向膜18を構成するところの酸化シリコンなどの無機材料が例えばペレットとして装着され、これを減圧下で加熱して蒸発させる。チャンバー301の蒸着源302の上方には、複数のワークWを配置することが可能となっている。具体的には、ワークWの被蒸着面が蒸着源302に向かう垂線に対して傾斜するように、ワークWはチャンバー301に配置される。蒸着源302に向かう垂線と、被蒸着面の法線とがなす角を仰角と呼ぶ。もちろん、前述した蒸着方向における平面的な方位の角度θa(45°;図1(a)参照)と、被蒸着面に対する蒸着方向の角度θb(45°;図3参照)とが得られるようにワークWは上記仰角が設定されて配置される。   The oblique vapor deposition apparatus 300 includes a chamber 301 capable of reducing the pressure inside, and a vapor deposition source 302 provided at the bottom of the chamber 301. In the vapor deposition source 302, an inorganic material such as silicon oxide constituting the alignment film 18 is mounted as, for example, pellets, which are heated and evaporated under reduced pressure. A plurality of workpieces W can be arranged above the vapor deposition source 302 of the chamber 301. Specifically, the workpiece W is disposed in the chamber 301 such that the deposition surface of the workpiece W is inclined with respect to a normal line toward the deposition source 302. The angle formed by the perpendicular line toward the vapor deposition source 302 and the normal line of the vapor deposition surface is called the elevation angle. Of course, the planar orientation angle θa (45 °; see FIG. 1A) in the vapor deposition direction and the vapor deposition direction angle θb (45 °; see FIG. 3) with respect to the deposition surface are obtained. The workpiece W is arranged with the elevation angle set.

蒸着源302から蒸発した無機材料はワークWに到達して結晶化する。このような斜方蒸着を所定の時間行うことで、無機材料の結晶が成長して柱状のカラム18a(図3参照)となり、カラム18aの集合体である配向膜18が形成される。   The inorganic material evaporated from the vapor deposition source 302 reaches the workpiece W and crystallizes. By performing such oblique deposition for a predetermined time, the crystal of the inorganic material grows to become a columnar column 18a (see FIG. 3), and the alignment film 18 that is an aggregate of the column 18a is formed.

なお、蒸着源302の垂線に対して所定の仰角を与えてワークWを傾斜させるので、被蒸着面に対する蒸着方向の角度θbは、ワークWの大きさにも寄るが蒸着源302から遠ざかるほど小さくなる。言い換えれば、ワークWに対する蒸着方向の角度θbは必ずしも一定ではない。蒸着方向の角度θbを一定とするために、例えば、ワークWの被蒸着面に対向するように配置されたスリット状の開口部を有する遮蔽板を設け、蒸着源から飛来する膜成分のビーム平行度を上げる手段がとられる。   In addition, since the workpiece W is tilted by giving a predetermined elevation angle with respect to the vertical line of the vapor deposition source 302, the angle θb in the vapor deposition direction with respect to the vapor deposition surface decreases depending on the size of the work W, but decreases as the distance from the vapor deposition source 302 increases. Become. In other words, the angle θb in the vapor deposition direction with respect to the workpiece W is not necessarily constant. In order to make the angle θb in the vapor deposition direction constant, for example, a shielding plate having a slit-like opening disposed so as to face the vapor deposition surface of the workpiece W is provided, and the beam parallel of the film component flying from the vapor deposition source is provided. Measures are taken to increase the degree.

次に、図6を参照して、実施例と比較例1および比較例2の配向膜18の形成と液晶装置100の表示品質と生産性との関係について説明する。図6は実施例と比較例1および比較例2の無機配向膜形成条件と、液晶装置における表示品質と生産性の評価を示す表である。
図6に示すように、実施例と比較例1および比較例2における配向膜18の形成条件は、以下の通りである。
(実施例)
下地絶縁膜11における複数の凹部11aの有無は「有」、凹部11aの形状と配置は前述したように円形でφ500nm、配置間隔1μm、凹部11aの深さは10nmである。画素電極15の膜厚は20nm、無機配向膜の斜方蒸着レートは1.5nm/min、仰角は48°で配向膜18の膜厚がおよそ70nm〜80nmとなるように斜方蒸着を実施した。
Next, with reference to FIG. 6, the relationship between the formation of the alignment film 18 of the example, Comparative Example 1 and Comparative Example 2, and the display quality and productivity of the liquid crystal device 100 will be described. FIG. 6 is a table showing the inorganic alignment film forming conditions in Examples, Comparative Examples 1 and 2, and evaluation of display quality and productivity in the liquid crystal device.
As shown in FIG. 6, the conditions for forming the alignment film 18 in the example, comparative example 1, and comparative example 2 are as follows.
(Example)
The presence or absence of the plurality of recesses 11a in the base insulating film 11 is “present”, and the shape and arrangement of the recesses 11a are circular as described above, φ500 nm, the arrangement interval 1 μm, and the depth of the recesses 11a is 10 nm. The oblique deposition was carried out so that the pixel electrode 15 had a thickness of 20 nm, the inorganic alignment film had an oblique deposition rate of 1.5 nm / min, the elevation angle was 48 °, and the orientation film 18 had a thickness of about 70 nm to 80 nm. .

(比較例1)
下地絶縁膜11における複数の凹部11aの有無は「無」、画素電極15の膜厚は140nm、無機配向膜の斜方蒸着レートは1.5nm/min、仰角は48°で配向膜18の膜厚がおよそ70nm〜80nmとなるように斜方蒸着を実施した。
(Comparative Example 1)
The presence or absence of the plurality of recesses 11a in the base insulating film 11 is “no”, the film thickness of the pixel electrode 15 is 140 nm, the oblique deposition rate of the inorganic alignment film is 1.5 nm / min, the elevation angle is 48 °, and the film of the alignment film 18 The oblique deposition was performed so that the thickness was approximately 70 nm to 80 nm.

(比較例2)
下地絶縁膜11における複数の凹部11aの有無は「無」、画素電極15の膜厚は20nm、無機配向膜の斜方蒸着レートは1.25nm/min、仰角は50°で配向膜18の膜厚がおよそ70nm〜80nmとなるように斜方蒸着を実施した。
(Comparative Example 2)
The presence or absence of the plurality of recesses 11a in the base insulating film 11 is “no”, the film thickness of the pixel electrode 15 is 20 nm, the oblique deposition rate of the inorganic alignment film is 1.25 nm / min, the elevation angle is 50 °, and the film of the alignment film 18 The oblique deposition was performed so that the thickness was approximately 70 nm to 80 nm.

比較例1は、画素電極15の厚みが実施例に比べて厚いため、斜方蒸着時に画素電極15間において十分にカラム18aが成長しない部分(画素電極15の外周に対して蒸着方向における影となる部分)が発生した。形成された配向膜18の平均的なプレチルト角θpは4°であったが、カラム18aが成長し難い画素電極15の外周付近では、所定のプレチルトを与えて液晶分子50aを略垂直配向させることが難しかった。それゆえに、画素Pの外縁部において液晶分子50aの適正な垂直配向状態が得られず、画素電極15と共通電極23との間に駆動電圧を印加して液晶層50を駆動したときに、例えば画素Pの外縁部において光漏れなどが見られた。したがって、比較例1における表示品質の評価を×とした。   In Comparative Example 1, the thickness of the pixel electrode 15 is thicker than that of the example. Therefore, a portion where the column 18a does not grow sufficiently between the pixel electrodes 15 during oblique deposition (a shadow in the deposition direction with respect to the outer periphery of the pixel electrode 15). Part) occurred. Although the average pretilt angle θp of the formed alignment film 18 is 4 °, the liquid crystal molecules 50a are substantially vertically aligned by giving a predetermined pretilt near the outer periphery of the pixel electrode 15 where the column 18a is difficult to grow. It was difficult. Therefore, an appropriate vertical alignment state of the liquid crystal molecules 50a cannot be obtained at the outer edge portion of the pixel P, and when the liquid crystal layer 50 is driven by applying a driving voltage between the pixel electrode 15 and the common electrode 23, for example, Light leakage or the like was observed at the outer edge of the pixel P. Therefore, the evaluation of the display quality in the comparative example 1 was set to x.

比較例2は、画素電極15の厚みが実施例と同じであるが、下地絶縁膜11には複数の凹部11aが形成されておらず、画素電極15が形成された素子基板10の表面は、比較例1よりも平坦な状態となっている。実施例や比較例1と同じ膜厚となるように配向膜18を形成するには、実施例や比較例1に対して仰角を大きく(つまり蒸着方向の角度θbを小さく)設定し、蒸着レートを遅くしないと、被蒸着面において無機材料の結晶が成長し難かった。形成された配向膜18における液晶分子50aのプレチルト角θpは4°で表示品質の評価は不具合が見られず○であったが、比較例1に比べて蒸着レートが遅くなった分、生産性が低下するので、生産性の評価は×とした。   In Comparative Example 2, the thickness of the pixel electrode 15 is the same as that of the example, but the plurality of recesses 11a are not formed in the base insulating film 11, and the surface of the element substrate 10 on which the pixel electrode 15 is formed is It is in a flatter state than Comparative Example 1. In order to form the alignment film 18 so as to have the same film thickness as the example and the comparative example 1, the elevation angle is set larger (that is, the angle θb in the vapor deposition direction is smaller) than the example and the comparative example 1, and the vapor deposition rate is set. Without slowing down, it was difficult for the inorganic material crystal to grow on the deposition surface. The pretilt angle θp of the liquid crystal molecules 50a in the formed alignment film 18 was 4 °, and the evaluation of display quality was ○ without any defect. However, the productivity was reduced because the deposition rate was lower than that of Comparative Example 1. The productivity was evaluated as x.

比較例1や比較例2に対して、下地絶縁膜11に複数の凹部11aを形成した実施例は、画素電極15の厚みが比較例1よりも薄いにも係らず、比較例1と同じ蒸着レートと仰角で、同じプレチルト角θp(4°)と同じ膜厚(70nm〜80nm)を有する配向膜18が得られた。画素電極15の厚みが比較例1よりも薄いので、画素電極15間の下地絶縁膜11の表面11b(図3参照)においてもカラム18aはムラなく成長し、画素Pの外縁部における例えば光漏れなどの不具合はなく、表示品質の評価は○とした。比較例1と比べても蒸着レートが同じであるため生産性の評価は○とした。   Compared with Comparative Example 1 and Comparative Example 2, the example in which the plurality of recesses 11a are formed in the base insulating film 11 is the same vapor deposition as Comparative Example 1 even though the pixel electrode 15 is thinner than Comparative Example 1. An alignment film 18 having the same pretilt angle θp (4 °) and the same film thickness (70 nm to 80 nm) at the rate and the elevation angle was obtained. Since the pixel electrode 15 is thinner than the comparative example 1, the column 18a grows evenly on the surface 11b (see FIG. 3) of the base insulating film 11 between the pixel electrodes 15, and light leakage at the outer edge of the pixel P occurs. The display quality was evaluated as ○. Since the deposition rate was the same as in Comparative Example 1, the evaluation of productivity was evaluated as ◯.

なお、実施例および比較例1ならびに比較例2における対向基板20の構成は同じである。具体的には、図3に示すように、対向基板20の液晶層50に面する側の表面には、層間膜層22と、共通電極23と、配向膜24とが順に形成されている。
共通電極23は、例えばITOなどの透明導電膜が用いられており、その厚みはおよそ140nmとなっている。共通電極23は対向基板20において複数の画素Pに跨るように形成されているので、画素間に段差は生じない。
In addition, the structure of the opposing board | substrate 20 in an Example, the comparative example 1, and the comparative example 2 is the same. Specifically, as shown in FIG. 3, an interlayer film layer 22, a common electrode 23, and an alignment film 24 are sequentially formed on the surface of the counter substrate 20 facing the liquid crystal layer 50.
The common electrode 23 is made of a transparent conductive film such as ITO, and has a thickness of about 140 nm. Since the common electrode 23 is formed so as to straddle a plurality of pixels P in the counter substrate 20, no step is generated between the pixels.

以上に述べた実施形態によれば、以下の効果が得られる。
(1)液晶装置100およびその製造方法によれば、複数の凹部11aが形成された下地絶縁膜11に接するように画素電極15が形成され、画素電極15の表面には複数の凹部11aが反映された凹部表面15aが形成される。凹部表面15aを有する画素電極15の表面に斜方蒸着によって配向膜18を形成するので、画素電極15の表面が平坦である場合に比べて、カラム18aのプレチルトが効率的に発現する。つまり、負の誘電異方性を有する液晶分子50aを所定のプレチルトを与えて略垂直配向させる配向膜18を効率よく形成することができる。ゆえに、安定した光学特性と高い生産性とを有する液晶装置100を提供または製造することができる。
(2)下地絶縁膜11の表面のラフネスRaが5nm以上20nm以下となるように複数の凹部11aを形成し、膜厚が10nm以上50nm以下となるように画素電極15を形成するので、形成された画素電極15の表面に下地絶縁膜11の凹部11aが確実に反映された凹部表面15aが形成される。言い換えれば、光学特性を考慮して画素電極15の厚みを薄くしても、下地絶縁膜11に複数の凹部11aが形成されているので、画素電極15そのものを加工しなくても、画素電極15の表面に凹部表面15aを形成できる。したがって、斜方蒸着により配向膜18を効率よく形成可能であると共に、配向膜18の液晶層50側の凹凸に起因する配向ムラが低減され、安定した光学特性と表示品質とを兼ね備えた液晶装置100を提供または製造することができる。
(3)画素電極15の厚みが10nm以上、50nm以下のため、画素電極15の外周端部における段差が比較例1よりも小さくなり、画素電極15間の下地絶縁膜11の表面11bにおけるカラム18aの成長を阻害し難い。つまり、画素電極15の周囲における配向膜18の形成ムラが減少し、より安定した光学特性と表示品質とを有する液晶装置100を提供または製造することができる。
According to the embodiment described above, the following effects can be obtained.
(1) According to the liquid crystal device 100 and the manufacturing method thereof, the pixel electrode 15 is formed so as to be in contact with the base insulating film 11 in which the plurality of recesses 11 a are formed, and the plurality of recesses 11 a are reflected on the surface of the pixel electrode 15. The recessed surface 15a thus formed is formed. Since the alignment film 18 is formed by oblique vapor deposition on the surface of the pixel electrode 15 having the concave surface 15a, the pretilt of the column 18a is efficiently developed as compared with the case where the surface of the pixel electrode 15 is flat. That is, it is possible to efficiently form the alignment film 18 in which the liquid crystal molecules 50a having negative dielectric anisotropy are substantially vertically aligned by giving a predetermined pretilt. Therefore, the liquid crystal device 100 having stable optical characteristics and high productivity can be provided or manufactured.
(2) Since the plurality of recesses 11a are formed so that the roughness Ra of the surface of the base insulating film 11 is 5 nm or more and 20 nm or less, and the pixel electrode 15 is formed so that the film thickness is 10 nm or more and 50 nm or less. A recess surface 15a is formed on the surface of the pixel electrode 15 in which the recess 11a of the base insulating film 11 is reliably reflected. In other words, even if the thickness of the pixel electrode 15 is reduced in consideration of the optical characteristics, the plurality of recesses 11a are formed in the base insulating film 11, so that the pixel electrode 15 can be processed without processing the pixel electrode 15 itself. The concave surface 15a can be formed on the surface of the substrate. Therefore, the alignment film 18 can be efficiently formed by oblique deposition, and the alignment unevenness due to the unevenness of the alignment film 18 on the liquid crystal layer 50 side is reduced, and the liquid crystal device has both stable optical characteristics and display quality. 100 can be provided or manufactured.
(3) Since the thickness of the pixel electrode 15 is 10 nm or more and 50 nm or less, the step at the outer peripheral edge of the pixel electrode 15 is smaller than that of the comparative example 1, and the column 18a on the surface 11b of the base insulating film 11 between the pixel electrodes 15 It is difficult to hinder growth. That is, the formation unevenness of the alignment film 18 around the pixel electrode 15 is reduced, and the liquid crystal device 100 having more stable optical characteristics and display quality can be provided or manufactured.

(第2実施形態)
<電子機器>
次に、本実施形態の電子機器としての投射型表示装置について、図7を参照して説明する。図7は、電子機器としての投射型表示装置の構成を示す概略図である。
(Second Embodiment)
<Electronic equipment>
Next, a projection display device as an electronic apparatus according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 7 is a schematic diagram illustrating a configuration of a projection display device as an electronic apparatus.

図7に示すように、本実施形態の電子機器としての投射型表示装置1000は、システム光軸Lに沿って配置された偏光照明装置1100と、光分離素子としての2つのダイクロイックミラー1104,1105と、3つの反射ミラー1106,1107,1108と、5つのリレーレンズ1201,1202,1203,1204,1205と、3つの光変調手段としての透過型の液晶ライトバルブ1210,1220,1230と、光合成素子としてのクロスダイクロイックプリズム1206と、投射レンズ1207とを備えている。   As shown in FIG. 7, a projection display apparatus 1000 as an electronic apparatus according to the present embodiment includes a polarization illumination apparatus 1100 arranged along the system optical axis L, and two dichroic mirrors 1104 and 1105 as light separation elements. Three reflection mirrors 1106, 1107, 1108, five relay lenses 1201, 1202, 1203, 1204, 1205, three transmissive liquid crystal light valves 1210, 1220, 1230 as light modulation means, and a light combining element As a cross dichroic prism 1206 and a projection lens 1207.

偏光照明装置1100は、超高圧水銀灯やハロゲンランプなどの白色光源からなる光源としてのランプユニット1101と、インテグレーターレンズ1102と、偏光変換素子1103とから概略構成されている。   The polarized light illumination device 1100 is generally configured by a lamp unit 1101 as a light source composed of a white light source such as an ultra-high pressure mercury lamp or a halogen lamp, an integrator lens 1102, and a polarization conversion element 1103.

ダイクロイックミラー1104は、偏光照明装置1100から射出された偏光光束のうち、赤色光(R)を反射させ、緑色光(G)と青色光(B)とを透過させる。もう1つのダイクロイックミラー1105は、ダイクロイックミラー1104を透過した緑色光(G)を反射させ、青色光(B)を透過させる。   The dichroic mirror 1104 reflects red light (R) and transmits green light (G) and blue light (B) among the polarized light beams emitted from the polarization illumination device 1100. Another dichroic mirror 1105 reflects the green light (G) transmitted through the dichroic mirror 1104 and transmits the blue light (B).

ダイクロイックミラー1104で反射した赤色光(R)は、反射ミラー1106で反射した後にリレーレンズ1205を経由して液晶ライトバルブ1210に入射する。
ダイクロイックミラー1105で反射した緑色光(G)は、リレーレンズ1204を経由して液晶ライトバルブ1220に入射する。
ダイクロイックミラー1105を透過した青色光(B)は、3つのリレーレンズ1201,1202,1203と2つの反射ミラー1107,1108とからなる導光系を経由して液晶ライトバルブ1230に入射する。
The red light (R) reflected by the dichroic mirror 1104 is reflected by the reflection mirror 1106 and then enters the liquid crystal light valve 1210 via the relay lens 1205.
Green light (G) reflected by the dichroic mirror 1105 enters the liquid crystal light valve 1220 via the relay lens 1204.
The blue light (B) transmitted through the dichroic mirror 1105 enters the liquid crystal light valve 1230 via a light guide system including three relay lenses 1201, 1202, 1203 and two reflection mirrors 1107, 1108.

液晶ライトバルブ1210,1220,1230は、クロスダイクロイックプリズム1206の色光ごとの入射面に対してそれぞれ対向配置されている。液晶ライトバルブ1210,1220,1230に入射した色光は、映像情報(映像信号)に基づいて変調されクロスダイクロイックプリズム1206に向けて射出される。このプリズムは、4つの直角プリズムが貼り合わされ、その内面に赤色光を反射する誘電体多層膜と青色光を反射する誘電体多層膜とが十字状に形成されている。これらの誘電体多層膜によって3つの色光が合成されて、カラー画像を表す光が合成される。合成された光は、投射光学系である投射レンズ1207によってスクリーン1300上に投射され、画像が拡大されて表示される。   The liquid crystal light valves 1210, 1220, and 1230 are disposed to face the incident surfaces of the cross dichroic prism 1206 for each color light. The color light incident on the liquid crystal light valves 1210, 1220, and 1230 is modulated based on video information (video signal) and emitted toward the cross dichroic prism 1206. In this prism, four right-angle prisms are bonded together, and a dielectric multilayer film that reflects red light and a dielectric multilayer film that reflects blue light are formed in a cross shape on the inner surface thereof. The three color lights are synthesized by these dielectric multilayer films, and the light representing the color image is synthesized. The synthesized light is projected on the screen 1300 by the projection lens 1207 which is a projection optical system, and the image is enlarged and displayed.

液晶ライトバルブ1210は、上述した液晶装置100が適用されたものである。液晶装置100は、色光の入射側と射出側とにおいてクロスニコルに配置された一対の偏光素子の間に隙間を置いて配置されている。他の液晶ライトバルブ1220,1230も同様である。   The liquid crystal light valve 1210 is the one to which the liquid crystal device 100 described above is applied. The liquid crystal device 100 is arranged with a gap between a pair of polarizing elements arranged in crossed Nicols on the incident side and the emission side of colored light. The same applies to the other liquid crystal light valves 1220 and 1230.

このような投射型表示装置1000によれば、液晶ライトバルブ1210,1220,1230として、安定した光学特性が得られると共に高い生産性を有して製造可能な液晶装置100を用いているので、安定した表示品質と高いコストパフォーマンスとが実現されている。   According to such a projection type display device 1000, the liquid crystal light valves 1210, 1220, and 1230 use the liquid crystal device 100 that can obtain stable optical characteristics and can be manufactured with high productivity. Display quality and high cost performance.

本発明は、上記した実施形態に限られるものではなく、請求の範囲および明細書全体から読み取れる発明の要旨あるいは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う液晶装置100および該液晶装置100の製造方法ならびに該液晶装置100を適用する電子機器もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。上記実施形態以外にも様々な変形例が考えられる。以下、変形例を挙げて説明する。   The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be appropriately changed without departing from the spirit or concept of the invention that can be read from the claims and the entire specification. The manufacturing method of the liquid crystal device 100 and electronic equipment to which the liquid crystal device 100 is applied are also included in the technical scope of the present invention. Various modifications other than the above embodiment are conceivable. Hereinafter, a modification will be described.

(変形例1)上記液晶装置100およびその製造方法において、複数の凹部を形成するのは画素電極15の下地絶縁膜11に限定されない。図8は変形例の液晶装置の画素の構造を示す概略断面図である。なお、液晶装置100と同じ構成には同じ符号を付して省略の説明は省略する。例えば、図8に示すように、変形例の液晶装置150は、画素電極15を有する素子基板10と、共通電極23を有する対向基板20とにより負の誘電異方性を有する液晶分子50aからなる液晶層50が挟持されたものである。素子基板10の複数の画素電極15を覆う例えば酸化シリコンなどからなる無機の絶縁膜12を有し、絶縁膜12の液晶層50側の表面には、該表面のラフネスRaが5nm以上20nm以下となるように複数の凹部12aが形成され、本発明における凹部表面が形成されている。絶縁膜12の厚みはおよそ50nm〜100nmである。複数の凹部12aが形成された絶縁膜12に斜方蒸着によって配向膜18が形成されている。同じく、対向基板20の共通電極23の液晶層50に面する側の表面に斜方蒸着により配向膜24が形成されている。
画素電極15を覆う絶縁膜12に複数の凹部12aを形成する形態とすれば、画素電極15の厚みに係らず、配向膜18を効率的に形成することができる。
(Modification 1) In the liquid crystal device 100 and the manufacturing method thereof, the formation of the plurality of recesses is not limited to the base insulating film 11 of the pixel electrode 15. FIG. 8 is a schematic cross-sectional view illustrating a pixel structure of a liquid crystal device according to a modification. Note that the same components as those of the liquid crystal device 100 are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted. For example, as shown in FIG. 8, a liquid crystal device 150 according to a modified example includes liquid crystal molecules 50 a having negative dielectric anisotropy by an element substrate 10 having pixel electrodes 15 and a counter substrate 20 having a common electrode 23. The liquid crystal layer 50 is sandwiched. An inorganic insulating film 12 made of, for example, silicon oxide covering the plurality of pixel electrodes 15 of the element substrate 10 is provided, and the surface roughness Ra of the insulating film 12 on the liquid crystal layer 50 side is 5 nm or more and 20 nm or less. A plurality of recesses 12a are formed to form the recess surface in the present invention. The thickness of the insulating film 12 is approximately 50 nm to 100 nm. An alignment film 18 is formed by oblique deposition on the insulating film 12 having a plurality of recesses 12a. Similarly, an alignment film 24 is formed by oblique deposition on the surface of the common substrate 23 facing the liquid crystal layer 50 of the counter substrate 20.
If the plurality of recesses 12 a are formed in the insulating film 12 covering the pixel electrode 15, the alignment film 18 can be efficiently formed regardless of the thickness of the pixel electrode 15.

(変形例2)複数の凹部が形成された表面に斜方蒸着により無機配向膜を形成する構成および方法は、画素電極15を有する素子基板10に適用されることに限定されない。例えば、対向基板20において、共通電極23の下層に位置する層間膜層22に複数の凹部を形成してもよいし、共通電極23を覆う絶縁膜を形成し、該絶縁膜の液晶層50側に面する表面に複数の凹部を形成するとしてもよい。   (Modification 2) The configuration and method of forming an inorganic alignment film by oblique vapor deposition on the surface where a plurality of recesses are formed are not limited to being applied to the element substrate 10 having the pixel electrodes 15. For example, in the counter substrate 20, a plurality of recesses may be formed in the interlayer film layer 22 located below the common electrode 23, or an insulating film that covers the common electrode 23 is formed, and the liquid crystal layer 50 side of the insulating film is formed. A plurality of recesses may be formed on the surface facing the surface.

(変形例3)複数の凹部が形成された表面に斜方蒸着により無機配向膜を形成する構成および方法は、透過型の液晶装置100に適用することに限定されない。光反射性を有する画素電極15を備えた反射型の液晶装置にも適用可能である。また、反射型の液晶装置は、画素電極15が光反射性を有することに限定されず、例えば、光反射性のAl(アルミニウム)やAlの合金からなる反射層を設け、反射層の表面をエッチングして複数の凹部を形成した後に、光透過性の画素電極15を反射層に積層する構成としてもよい。但し、画素電極15の表面における光の反射率が著しく低下しない程度の凹形状にする必要がある。   (Modification 3) The configuration and method of forming an inorganic alignment film by oblique vapor deposition on the surface having a plurality of recesses is not limited to being applied to the transmissive liquid crystal device 100. The present invention can also be applied to a reflective liquid crystal device including a pixel electrode 15 having light reflectivity. The reflective liquid crystal device is not limited to the pixel electrode 15 having light reflectivity. For example, a reflective layer made of light reflective Al (aluminum) or an alloy of Al is provided, and the surface of the reflective layer is formed. After forming a plurality of recesses by etching, the light transmissive pixel electrode 15 may be stacked on the reflective layer. However, it is necessary to form a concave shape so that the light reflectance on the surface of the pixel electrode 15 is not significantly reduced.

(変形例4)液晶装置100を適用可能な電子機器は、上記実施形態の投射型表示装置1000に限定されない。例えば、投射型のHUD(ヘッドアップディスプレイ)や直視型のHMD(ヘッドマウントディスプレイ)、または電子ブック、パーソナルコンピューター、デジタルスチルカメラ、液晶テレビ、ビューファインダー型あるいはモニター直視型のビデオレコーダー、カーナビゲーションシステム、電子手帳、POSなどの情報端末機器の表示部として好適に用いることができる。   (Modification 4) The electronic apparatus to which the liquid crystal device 100 can be applied is not limited to the projection display device 1000 of the above embodiment. For example, projection-type HUD (head-up display), direct-view type HMD (head-mounted display), electronic book, personal computer, digital still camera, LCD TV, viewfinder type or monitor direct-view type video recorder, car navigation system It can be suitably used as a display unit of an information terminal device such as an electronic notebook or POS.

10…素子基板、11…下地絶縁膜、11a…下地絶縁膜の凹部、12…絶縁膜、12a…絶縁膜の凹部、15…画素電極、15a…画素電極の凹部あるいは凹部表面、18…無機配向膜としての配向膜、20…対向基板、23…共通電極、24…無機配向膜としての配向膜、50…液晶層、50a…液晶分子、100,150…液晶装置、1000…電子機器としての投射型表示装置。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Element board | substrate, 11 ... Base insulating film, 11a ... Concave part of base insulating film, 12 ... Insulating film, 12a ... Concave part of insulating film, 15 ... Pixel electrode, 15a ... Concave or concave surface of pixel electrode, 18 ... Inorganic orientation Alignment film as film, 20 ... counter substrate, 23 ... common electrode, 24 ... alignment film as inorganic alignment film, 50 ... liquid crystal layer, 50a ... liquid crystal molecule, 100, 150 ... liquid crystal device, 1000 ... projection as electronic equipment Type display device.

Claims (9)

第1の基板と、
第2の基板と、
前記第1の基板と前記第2の基板とにより挟持された負の誘電異方性を有する液晶分子からなる液晶層と、
前記第1の基板と前記液晶層との間に設けられ、複数の凹部を有する下地絶縁膜と、
前記下地絶縁膜と前記液晶層との間に設けられ、前記下地絶縁膜に応じた凹部表面を有する電極と、
前記凹部表面に斜方蒸着により形成された無機配向膜と、を備えたことを特徴とする液晶装置。
A first substrate;
A second substrate;
A liquid crystal layer composed of liquid crystal molecules having negative dielectric anisotropy sandwiched between the first substrate and the second substrate;
A base insulating film provided between the first substrate and the liquid crystal layer and having a plurality of recesses;
An electrode provided between the base insulating film and the liquid crystal layer, and having a concave surface corresponding to the base insulating film;
A liquid crystal device comprising: an inorganic alignment film formed by oblique vapor deposition on the concave surface.
第1の基板と、
第2の基板と、
前記第1の基板と前記第2の基板とにより挟持された負の誘電異方性を有する液晶分子からなる液晶層と、
前記第1の基板と前記液晶層との間に設けられた電極と、
前記電極と前記液晶層の間に設けられ、複数の凹部が形成された凹部表面を有する絶縁膜と、
前記凹部表面に斜方蒸着により形成された無機配向膜と、を備えたことを特徴とする液晶装置。
A first substrate;
A second substrate;
A liquid crystal layer composed of liquid crystal molecules having negative dielectric anisotropy sandwiched between the first substrate and the second substrate;
An electrode provided between the first substrate and the liquid crystal layer;
An insulating film provided between the electrode and the liquid crystal layer and having a recess surface in which a plurality of recesses are formed;
A liquid crystal device comprising: an inorganic alignment film formed by oblique vapor deposition on the concave surface.
前記凹部表面のラフネスRaが5nm以上20nm以下であることを特徴とする請求項1または2に記載の液晶装置。   3. The liquid crystal device according to claim 1, wherein roughness Ra of the surface of the recess is 5 nm or more and 20 nm or less. 前記電極が画素電極であり、
前記画素電極の膜厚は、10nm以上50nm以下であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の液晶装置。
The electrode is a pixel electrode;
4. The liquid crystal device according to claim 1, wherein the pixel electrode has a thickness of 10 nm to 50 nm.
第1の基板と第2の基板とにより負の誘電異方性を有する液晶分子からなる液晶層が挟持された液晶装置の製造方法であって、
前記第1の基板の前記液晶層に面する側に下地絶縁膜を形成する工程と、
前記下地絶縁膜の前記液晶層に面する側の表面に複数の凹部を形成する凹部形成工程と、
前記下地絶縁膜を覆って導電膜を形成し前記導電膜をパターニングして、前記下地絶縁膜に応じた凹部表面を有する電極を形成する電極形成工程と、
前記凹部表面に斜方蒸着により無機配向膜を形成する配向膜形成工程と、
を備えることを特徴とする液晶装置の製造方法。
A method of manufacturing a liquid crystal device in which a liquid crystal layer composed of liquid crystal molecules having negative dielectric anisotropy is sandwiched between a first substrate and a second substrate,
Forming a base insulating film on the side of the first substrate facing the liquid crystal layer;
A recess forming step of forming a plurality of recesses on the surface of the base insulating film facing the liquid crystal layer;
An electrode forming step of forming an electrode having a concave surface corresponding to the base insulating film by forming a conductive film covering the base insulating film and patterning the conductive film;
An alignment film forming step of forming an inorganic alignment film on the concave surface by oblique vapor deposition;
A method of manufacturing a liquid crystal device, comprising:
第1の基板と第2の基板とにより負の誘電異方性を有する液晶分子からなる液晶層が挟持された液晶装置の製造方法であって、
前記第1の基板の前記液晶層に面する側に電極を形成する電極形成工程と、
前記電極を覆う絶縁膜を形成する工程と、
前記絶縁膜の前記液晶層に面する側の表面に複数の凹部を形成して、凹部表面を形成する凹部形成工程と
前記凹部表面に斜方蒸着により無機配向膜を形成する配向膜形成工程と、
を備えることを特徴とする液晶装置の製造方法。
A method of manufacturing a liquid crystal device in which a liquid crystal layer composed of liquid crystal molecules having negative dielectric anisotropy is sandwiched between a first substrate and a second substrate,
Forming an electrode on the side of the first substrate facing the liquid crystal layer;
Forming an insulating film covering the electrodes;
A recess forming step of forming a plurality of recesses on a surface of the insulating film facing the liquid crystal layer to form a recess surface; an alignment film forming step of forming an inorganic alignment film on the recess surface by oblique vapor deposition; ,
A method of manufacturing a liquid crystal device, comprising:
前記電極形成工程は、前記電極としての画素電極を、膜厚が10nm以上50nm以下となるように形成することを特徴とする請求項5または6に記載の液晶装置の製造方法。   The method for manufacturing a liquid crystal device according to claim 5, wherein in the electrode forming step, the pixel electrode as the electrode is formed so as to have a thickness of 10 nm to 50 nm. 前記凹部形成工程は、前記凹部表面のラフネスRaが5nm以上20nm以下となるように前記複数の凹部を形成することを特徴とする請求項5乃至7のいずれか一項に記載の液晶装置の製造方法。   8. The liquid crystal device manufacturing method according to claim 5, wherein, in the recess forming step, the plurality of recesses are formed so that roughness Ra of the surface of the recess is 5 nm or more and 20 nm or less. Method. 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の液晶装置を備えたことを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the liquid crystal device according to any one of claims 1 to 4.
JP2011208669A 2011-09-26 2011-09-26 Liquid crystal device, method for manufacturing liquid crystal device, and electronic equipment Withdrawn JP2013068874A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011208669A JP2013068874A (en) 2011-09-26 2011-09-26 Liquid crystal device, method for manufacturing liquid crystal device, and electronic equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011208669A JP2013068874A (en) 2011-09-26 2011-09-26 Liquid crystal device, method for manufacturing liquid crystal device, and electronic equipment

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2013068874A true JP2013068874A (en) 2013-04-18

Family

ID=48474601

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011208669A Withdrawn JP2013068874A (en) 2011-09-26 2011-09-26 Liquid crystal device, method for manufacturing liquid crystal device, and electronic equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2013068874A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014211593A (en) * 2013-04-22 2014-11-13 セイコーエプソン株式会社 Liquid crystal device, manufacturing method of liquid crystal device, and electronic apparatus
JP2019138931A (en) * 2018-02-06 2019-08-22 セイコーエプソン株式会社 Liquid crystal device, electronic apparatus and projection type display device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014211593A (en) * 2013-04-22 2014-11-13 セイコーエプソン株式会社 Liquid crystal device, manufacturing method of liquid crystal device, and electronic apparatus
JP2019138931A (en) * 2018-02-06 2019-08-22 セイコーエプソン株式会社 Liquid crystal device, electronic apparatus and projection type display device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5737037B2 (en) Electro-optical device and projection display device
JP2013025071A (en) Electro-optic device, method for manufacturing electro-optic device, and projection type display device
JP2013213899A (en) Electro-optic device and electronic equipment
JP2013068874A (en) Liquid crystal device, method for manufacturing liquid crystal device, and electronic equipment
JP2012123144A (en) Liquid crystal device, method for manufacturing liquid crystal device, and electronic equipment
JP2013113869A (en) Liquid crystal device, electronic apparatus and phase difference compensation plate
JP2018180428A (en) Liquid crystal device, and electronic apparatus
JP2013235129A (en) Liquid crystal device and electronic apparatus
JP2018045018A (en) Liquid crystal device and electronic apparatus
JP2013224994A (en) Electro-optic device and electronic apparatus
JP2021148813A (en) Optical substrate, electro-optic device, and electronic apparatus
JP2017083678A (en) Electro-optical device and electronic apparatus
US11676738B2 (en) Electro-optical device with ion-adsorbing adsorption film in contact with sealing material and electronic apparatus having the same
JP7415725B2 (en) Liquid crystal devices and electronic equipment
US11106092B2 (en) Electro-optical device comprising an inter-substrate conductive member disposed spaced apart from a seal material and electronic apparatus
JP2014010210A (en) Liquid crystal device, manufacturing method of liquid crystal device, and electronic apparatus
JP2013025135A (en) Liquid crystal device and electronic apparatus
JP2012150380A (en) Liquid crystal device and electronic apparatus
JP2013088742A (en) Electro-optical device, and electronic equipment
JP2022188878A (en) Liquid crystal device and electronic apparatus
JP2021179490A (en) Liquid crystal device and electronic apparatus
JP2008152007A (en) Liquid crystal device and method for manufacturing the same, and electronic apparatus equipped with the same
JP5929097B2 (en) Liquid crystal device and electronic device
JP2022038106A (en) Electro-optical device and electronic device
JP2013003286A (en) Liquid crystal device and electronic apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20141202