JP2013045719A - 自動クリーニング機能付き質量分析装置 - Google Patents
自動クリーニング機能付き質量分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013045719A JP2013045719A JP2011183945A JP2011183945A JP2013045719A JP 2013045719 A JP2013045719 A JP 2013045719A JP 2011183945 A JP2011183945 A JP 2011183945A JP 2011183945 A JP2011183945 A JP 2011183945A JP 2013045719 A JP2013045719 A JP 2013045719A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- mass spectrometer
- parallel plate
- cleaning
- wiping material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
Abstract
【解決手段】本発明は、電極表面が拭き取り材により自動的にクリーニングされるため、ユーザーの負担を低減させた(使い易い)質量分析装置の提供を最も主要な特徴とする。
【選択図】図1
Description
上記した以外の、課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
図1は、本発明による大気圧イオン化(API)質量分析装置の一実施例の構成図である。システム全体は、制御部に格納された分析メソッド(ファイル)に従って制御される。分析メソッドの詳細例は、図21を参照して後述する。液体クロマトグラフ(LC)などの分離部で分離されたサンプルは、イオン生成部に導入され、ほぼ大気圧下において気体状イオンが生成される。その気体状イオンは、ヒーター1で120℃程度に加熱された細孔2から差動排気されるイオン輸送部3に導入される。イオン輸送部3には、イオン輸送のための電極4が設置されている。この電極4には、クリーニング機構5が設置され、電極4の表面が自動的にクリーニングされる。イオン輸送部3を透過したイオンは、イオンガイド6により真空度の高い分析部7に導入され、質量分離されたイオンは検出器により検出される。検出器出力は制御部に入力され、データ処理される。電極4やイオンガイド6、分析部7、検出器には、制御部からの制御信号に従って電源部から直流や交流電圧が印加される。分析部7は、四重極質量分析計や四重極イオントラップ質量分析計、飛行時間型質量分析計、フーリエ変換質量分析計、磁場型質量分析計などの質量分析計や複数種類の質量分析計を組み合わせたハイブリッド型質量分析計を利用することが可能であり、特に質量分析計に関わる制約はない。
2 細孔
3 イオン輸送部
4 電極
5 クリーニング機構
6 イオンガイド
7 分析部
8 第二細孔
9 拭き取り材
10 穴
11 平行平板電極
12 基板電極
13 支持材
14 駆動機構
15 回転軸
16 固定ブロック
17 ガイド
18 微動機構
19 真空チャンバー
20 排気口
21 棒
22 棒
31 サンプル
32 サンプル板
Claims (14)
- サンプル由来のイオンを生成するイオン生成部と、
前記生成されたイオンを質量分離する質量分析計が設置された分析部と、
前記質量分離されたイオンを検出する検出器と、
前記イオン生成部と前記分析部との間に設けられた、前記イオン生成部で生成されたイオンを前記分析部に輸送する電極を有するイオン輸送部と、
前記イオン生成部、前記電極、前記質量分析計、及び前記検出器に電圧を印加する電源部と、
前記電源部を制御する制御部とを備える質量分析装置において、
前記電極をクリーニングするための拭き取り材と、前記拭き取り材を移動させて前記電極をクリーニングする駆動機構とを有することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置において、前記電極は、前記拭き取り材によりクリーニングされる領域の前記電極の厚さが1mm以下、0.1mm以上であることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記拭き取り材は、前記拭き取り材より柔軟性及び伸縮性の低い支持材により支持されて前記駆動機構により移動させられることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記拭き取り材は誘電体であることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記拭き取り材による前記電極のクリーニングは、前記制御部における画面操作により実施されることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記電極のクリーニングの動作シーケンスは、前記制御部に格納された分析メソッドファイルにより設定されることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記検出器による1サンプル分のデータ取得終了後に、前記拭き取り材による前記電極のクリーニングを実施することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記電極のクリーニング中は、前記電源から前記電極に印加する電圧の値を変更することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記イオン輸送部には真空ポンプにより真空排気される排気口が設けられており、前記拭き取り材は、前記電極と前記排気口との間の空間以外の場所に設置されていることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、液体サンプルを分離する液体分離部を有し、前記イオン生成部は前記液体分離部によって分離された前記液体サンプル由来のイオンを生成することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項10に記載の質量分析装置において、前記液体分離部に前記液体サンプルがインジェクションされる前に、前記電極のクリーニングを実施することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記電極は、前記イオンを通過させる穴を有する複数の平行平板電極から構成され、前記イオン輸送部の上流側に配置された平行平板電極に設けられた穴の中心軸と、前記イオン輸送部の下流側に配置された平行平板電極に設けられた穴の中心軸とがずれていることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記電極は、前記イオンを通過させる穴を有する複数の平行平板電極から構成され、前記平行平板電極に設けられた穴の中心軸に対して、前記イオン生成部で生成されたイオンを前記イオン輸送部に導入する細孔の軸がずれていることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記電極は、前記イオンを通過させる穴を有する複数の平行平板電極から構成され、前記平行平板電極に設けられた穴の中心軸に対して、前記イオン生成部で生成されたイオンを前記イオン輸送部に導入する細孔の軸が傾斜していることを特徴とする質量分析装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011183945A JP5792561B2 (ja) | 2011-08-25 | 2011-08-25 | 自動クリーニング機能付き質量分析装置 |
PCT/JP2012/069659 WO2013027551A1 (ja) | 2011-08-25 | 2012-08-02 | 自動クリーニング機能付き質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011183945A JP5792561B2 (ja) | 2011-08-25 | 2011-08-25 | 自動クリーニング機能付き質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013045719A true JP2013045719A (ja) | 2013-03-04 |
JP5792561B2 JP5792561B2 (ja) | 2015-10-14 |
Family
ID=47746302
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011183945A Expired - Fee Related JP5792561B2 (ja) | 2011-08-25 | 2011-08-25 | 自動クリーニング機能付き質量分析装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5792561B2 (ja) |
WO (1) | WO2013027551A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113533541B (zh) * | 2020-04-15 | 2022-07-08 | 中国科学院上海药物研究所 | 一种具有自动清洗功能的纳升液相系统及控制方法 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0574409A (ja) * | 1991-09-12 | 1993-03-26 | Hitachi Ltd | 質量分析の方法および装置 |
JP2000208093A (ja) * | 1999-01-14 | 2000-07-28 | Hitachi Ltd | 質量分析計 |
JP2000340167A (ja) * | 1999-05-25 | 2000-12-08 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
JP2002298776A (ja) * | 2001-03-29 | 2002-10-11 | Anelva Corp | イオン化装置 |
JP2004071470A (ja) * | 2002-08-08 | 2004-03-04 | Yokogawa Analytical Systems Inc | 大気圧プラズマイオン化源質量分析装置 |
JP2004087493A (ja) * | 2003-08-08 | 2004-03-18 | Nippon Pachinko Buhin Kk | イオン発生装置 |
JP2008040143A (ja) * | 2006-08-07 | 2008-02-21 | Canon Inc | 電極清掃方法、コロナ放電装置、帯電装置、および画像形成装置 |
WO2010045123A1 (en) * | 2008-10-15 | 2010-04-22 | Thermo Finnigan Llc | Electro-dynamic or electro-static lens coupled to a stacked ring ion guide |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9612070D0 (en) * | 1996-06-10 | 1996-08-14 | Micromass Ltd | Plasma mass spectrometer |
-
2011
- 2011-08-25 JP JP2011183945A patent/JP5792561B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-08-02 WO PCT/JP2012/069659 patent/WO2013027551A1/ja active Application Filing
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0574409A (ja) * | 1991-09-12 | 1993-03-26 | Hitachi Ltd | 質量分析の方法および装置 |
JP2000208093A (ja) * | 1999-01-14 | 2000-07-28 | Hitachi Ltd | 質量分析計 |
JP2000340167A (ja) * | 1999-05-25 | 2000-12-08 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
JP2002298776A (ja) * | 2001-03-29 | 2002-10-11 | Anelva Corp | イオン化装置 |
JP2004071470A (ja) * | 2002-08-08 | 2004-03-04 | Yokogawa Analytical Systems Inc | 大気圧プラズマイオン化源質量分析装置 |
JP2004087493A (ja) * | 2003-08-08 | 2004-03-18 | Nippon Pachinko Buhin Kk | イオン発生装置 |
JP2008040143A (ja) * | 2006-08-07 | 2008-02-21 | Canon Inc | 電極清掃方法、コロナ放電装置、帯電装置、および画像形成装置 |
WO2010045123A1 (en) * | 2008-10-15 | 2010-04-22 | Thermo Finnigan Llc | Electro-dynamic or electro-static lens coupled to a stacked ring ion guide |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2013027551A1 (ja) | 2013-02-28 |
JP5792561B2 (ja) | 2015-10-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2688086B1 (en) | Mass spectrometer and ion source used therefor | |
US7564028B2 (en) | Vacuum housing system for MALDI-TOF mass spectrometry | |
JP6191778B2 (ja) | 質量分析装置 | |
US8866070B2 (en) | Mass spectrometer | |
WO2014181396A1 (ja) | 質量分析装置 | |
JP5808815B2 (ja) | イオン銃の改良及びイオン銃に関連する改良 | |
JP2013502046A (ja) | 携帯型質量分析計のための低流量でのイオン差動移動度ベース周囲圧力イオン事前フィルタリングとイオン集束との結合 | |
JP6593548B2 (ja) | 質量分析装置及びイオン検出装置 | |
JP2020177912A (ja) | 向上した四重極の堅牢性を有する質量分析計 | |
US9269557B2 (en) | Ionization device, mass spectrometer including the ionization device, and image generation system including the ionization device | |
US20210151307A1 (en) | Multipole Ion Guide | |
JP2014067707A (ja) | イオン化装置、該イオン化装置を有する質量分析装置、該質量分析装置を有する画像表示システム、分析方法 | |
US20140072476A1 (en) | Ionization device, mass spectrometer including the ionization device, and image generation system | |
CN106575598B (zh) | 质谱仪的等离子体清洁 | |
JP7187447B2 (ja) | イオン汚染を制御するための方法およびシステム | |
US20220230866A1 (en) | Charge detection mass spectrometry with real time analysis and signal optimization | |
JP5792561B2 (ja) | 自動クリーニング機能付き質量分析装置 | |
US20140070089A1 (en) | Ionization device, mass spectrometer including the ionization device, and image generation system including the ionization device | |
JP4231873B2 (ja) | 質量分析装置及び質量分析方法 | |
JP3596375B2 (ja) | 大気圧イオン化質量分析装置 | |
EP3382740A1 (en) | Ionization mass spectrometry method and mass spectrometry device using same | |
JP2017533429A (ja) | 連続ビーム移動度ベースの分光計におけるクロストーク排除のための方法およびシステム | |
JP5759036B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP2012202682A (ja) | 電界イオン化イオン源の調整方法 | |
WO2017046849A1 (ja) | 質量分析装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140131 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20141014 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20141112 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20150317 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150612 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20150619 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150728 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150806 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5792561 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |