JP2013038114A - Mounting component inspection device and mounting component inspection method - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a mounting component inspection device and a method which allow an inexperienced operator to promptly understand a cause and take steps when inspection results indicating mounting failure are consecutively shown in one component mounting position.SOLUTION: When an operator selects a plot mark P displayed on a component mounting position map 79, a mounting failure detailed image 83 is displayed on a touch panel 64. At the time of the display, whether or not a decision rate of mounting failure exceeds a predetermined threshold is determined for each component mounting position and the words "estimated failure cause: imperfect disposition of lower receiving pins" are displayed when it is determined that the decision rate of mounting failure exceeds the threshold. Thus, an inexperienced operator can easily and promptly understand that the mounting failure is due to the imperfect disposition of lower receiving pins 26 and 46 and take steps such as newly adding the lower receiving pins 26 and 46 to the vicinity of a print position or the vicinity of the component mounting position of cream solder Pt where the imperfect disposition is pointed out.

Description

本発明は、部品を基板に実装する部品実装装置で実装された部品実装済み基板の検査を行う実装部品検査装置及び実装部品検査方法に関するものである。   The present invention relates to a mounted component inspection apparatus and a mounted component inspection method for inspecting a component mounted board mounted by a component mounting apparatus for mounting components on a substrate.

電子部品等の部品を基板に実装する部品実装においては、基板の下面を下受けピン等の複数のバックアップ支持部材によって支持し、基板の上面に設けられた複数の部品実装位置に部品を実装する方法が広く知られている。下受けピンは基板の種類に応じてその配置が変更されるが、従来技術として、画像投影装置によって基板の裏面に部品が装着された状態を、基板の表面側から透視したものに相当する画像を下受けピンが取り付けられる支持板の支持面に投影することで、作業者がその投影像を見ながら下受けピンを支持面上の部品と干渉しない部品に配置する方法が提案されている(例えば特許文献1参照)。部品が実装された実装基板はその後、検査装置によって基板の各部品実装位置における実装の良否についての検査を受け、検査結果がモニタ等の表示手段によって表示される。   In mounting components such as electronic components on a substrate, the lower surface of the substrate is supported by a plurality of backup support members such as receiving pins, and the components are mounted at a plurality of component mounting positions provided on the upper surface of the substrate. The method is widely known. Although the arrangement of the receiving pins is changed according to the type of the board, as a conventional technique, an image corresponding to a state in which the component is mounted on the back surface of the board by the image projection device as seen through from the front side of the board. Is projected onto the support surface of the support plate to which the lower receiving pin is attached, so that an operator can place the lower receiving pin on a component that does not interfere with the component on the supporting surface while viewing the projected image ( For example, see Patent Document 1). Thereafter, the mounting board on which the components are mounted is inspected by the inspection device for the quality of mounting at each component mounting position of the board, and the inspection result is displayed by a display means such as a monitor.

特開2004―221165号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2004-221165

実装の良否検査においては、基板上のある部品実装位置で連続的に実装不良の検査結果があらわれることがある。しかしながら、部品実装装置を取り扱う作業員が経験の浅い者である場合には、当検査結果を見てもそれがどのような原因によるものであるかを理解することは困難であった。その結果、迅速な実装不良対策を講じることができず、実装基板の生産性が低下するという問題が生じていた。   In the mounting quality inspection, there may be a continuous mounting failure inspection result at a certain component mounting position on the board. However, if the worker handling the component mounting apparatus is an inexperienced person, it is difficult to understand what the cause is even if the inspection result is seen. As a result, it has been impossible to take quick measures against mounting defects, resulting in a problem that the productivity of the mounting board is lowered.

そこで本発明は、基板上のある部品実装位置において連続的に実装不良が検出された場合、経験の浅い作業員でも迅速な実装不良対策を講じることができる実装部品検査装置及び実装部品検査方法を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention provides a mounting component inspection apparatus and a mounting component inspection method that enable even an inexperienced worker to take quick measures against mounting failures when a mounting failure is continuously detected at a certain component mounting position on the substrate. The purpose is to provide.

請求項1記載の本発明の実装部品検査装置は、バックアップ支持部材により下面が支持された基板の当該基板上に設定された複数の部品実装位置に対して部品実装のための作業を行う部品実装用装置を含む部品実装システムにより実装作業が行われた部品実装済み基板を対象として実装状態の検査を行う実装部品検査装置であって、部品実装後の基板において部品実装位置を撮像する撮像手段と、前記撮像手段による撮像結果に基づいて実装状態の良否を判定して判定結果を出力する判定手段と、前記判定結果を複数の部品実装済み基板について部品実装位置毎に累積記憶する記憶手段と、部品実装済み基板における部品実装位置を部品実装位置マップとして視覚的に画像表示する部品実装位置マップ表示手段と、前記部品実装位置マップ上において部品実装位置毎に累積記憶された判定結果を表示する判定結果累積表示手段と、前記判定手段において実装不良と判定された割合又は回数が所定の条件を満たしたか否かを部品実装位置毎に判断する判断手段と、前記判断手段において実装不良と判定された割合又は回数が所定の条件を満たしたと判断された部品実装位置について、当該部品実装位置の周辺のバックアップ支持部材の配置状況を確認する旨の報知を行う報知手段を備えた。   According to a first aspect of the present invention, there is provided a component mounting apparatus for performing a component mounting operation on a plurality of component mounting positions set on a substrate whose lower surface is supported by a backup support member. A mounting component inspection apparatus for inspecting a mounting state for a component mounted board that has been mounted by a component mounting system including a device for mounting, and an imaging unit that images a component mounting position on the substrate after component mounting; A determination unit that determines whether the mounting state is good or not based on an imaging result of the imaging unit and outputs a determination result; a storage unit that accumulates and stores the determination result for each component mounting position for a plurality of component-mounted boards; Component mounting position map display means for visually displaying a component mounting position on a component mounted board as a component mounting position map, and on the component mounting position map Determination result accumulation display means for displaying the determination result accumulated and stored for each component mounting position, and whether or not the ratio or the number of times that the determination means determines that the mounting is defective satisfies a predetermined condition for each component mounting position. Check the placement status of the backup support members around the component mounting position for the component mounting position for which the determination unit determines that the ratio or number of times the mounting is determined to be defective satisfies the predetermined condition. An informing means for informing the effect is provided.

請求項2記載の本発明の実装部品検査方法は、バックアップ支持部材により下面が支持された基板の当該基板上に設定された複数の部品実装位置に対して部品実装のための作業を行う部品実装用装置を含む部品実装システムにより実装作業が行われた部品実装済み基板を対象として実装状態の検査を行う実装部品検査方法であって、部品実装後の基板において部品実装位置を撮像する撮像工程と、前記撮像工程における撮像結果に基づいて実装状態の良否を判定して判定結果を出力する判定工程と、前記判定結果を複数の部品実装済み基板について部品実装位置毎に累積記憶する記憶工程と、部品実装済み基板における部品実装位置を部品実装位置マップとして視覚的に画像表示する部品実装位置マップ表示工程と、前記部品実装位置マップ上において部品実装位置毎に累積記憶された判定結果を表示する判定結果累積表示工程と、前記判定工程において実装不良と判定された割合又は回数が所定の条件を満たしたか否かを部品実装位置毎に判断する判断工程と、前記判断工程において実装不良と判定された割合又は回数が所定の条件を満たしたと判断された部品実装位置について、当該部品実装位置の周辺のバックアップ支持部材の配置状況を確認する旨の報知を行う報知工程を含む。   According to a second aspect of the present invention, there is provided a component mounting inspection method for performing component mounting on a plurality of component mounting positions set on a substrate whose lower surface is supported by a backup support member. A mounting component inspection method for inspecting a mounting state on a component-mounted board that has been mounted by a component mounting system including a device for an imaging, the imaging step for imaging a component mounting position on the substrate after component mounting; A determination step of determining whether the mounting state is good or not based on an imaging result in the imaging step and outputting a determination result; a storage step of accumulating and storing the determination result for each component mounting position for a plurality of component-mounted boards; Component mounting position map display step for visually displaying a component mounting position on a component mounted board as a component mounting position map, and the component mounting position map In each component mounting position, a determination result accumulation display step for displaying the determination result accumulated and stored for each component mounting position and whether or not the ratio or the number of times determined as defective mounting in the determination step satisfies a predetermined condition. For the component mounting position for which it is determined that the determination step for determining and the ratio or number of times determined as mounting failure in the determination step satisfy a predetermined condition, the arrangement status of the backup support members around the component mounting position is confirmed. A notification step of performing notification to the effect.

本発明によれば、実装不良と判定された割合又は回数が所定の条件を満たした部品実装位置がある場合には、当該部品実装位置の周辺のバックアップ支持部材の配置状況を確認する旨の報知が行われることから、部品実装分野での経験が浅い作業員でも実装不良の原因を的確に理解することができ、当該部品実装位置周辺にバックアップ支持部材を新たに追加して配置する等、迅速な実装不良対策を講じることできる。その結果、実装不良基板の発生を抑制して実装基板の生産性を向上せさることができる。   According to the present invention, when there is a component mounting position in which the ratio or number of times determined to be mounting failure satisfies a predetermined condition, the notification that the arrangement status of the backup support members around the component mounting position is confirmed. Therefore, even workers with little experience in the component mounting field can accurately understand the cause of mounting failure, and a new backup support member can be added around the component mounting position. It is possible to take measures against mounting defects. As a result, it is possible to improve the productivity of the mounting substrate by suppressing the generation of the mounting defective substrate.

本発明の一実施の形態の部品実装ラインの平面図The top view of the component mounting line of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の印刷装置の断面図Sectional drawing of the printing apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実装の形態の印刷装置及び部品実装装置に設けられた基板支持機構の斜視図The perspective view of the board | substrate support mechanism provided in the printing apparatus of one mounting form of this invention, and a component mounting apparatus 本発明の一実施の形態の部品実装装置の平面図The top view of the component mounting apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の部品実装装置の断面図Sectional drawing of the component mounting apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の部品実装装置の制御系の構成を示すブロック図The block diagram which shows the structure of the control system of the component mounting apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の実装部品検査装置の(a)平面図(b)側面図BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS (a) Top view (b) Side view of mounting component inspection apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の実装部品検査装置の制御系の構成を示すブロック図The block diagram which shows the structure of the control system of the mounted component inspection apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の実装部品検査装置のタッチパネルに表示される画像を示す図The figure which shows the image displayed on the touchscreen of the mounting component inspection apparatus of one embodiment of this invention (a)本発明の一実施の形態の部品実装装置にて実装作業の対象となる多面取り基板の平面図(b)(c)本発明の一実施の形態の部品実装装置にて実装作業の対象となる多面取り基板に部品実装作業を行う場合の説明図(A) Plan view of a multi-sided board to be mounted in the component mounting apparatus according to one embodiment of the present invention (b) (c) Mounting operation performed by the component mounting apparatus according to one embodiment of the present invention Explanatory drawing when component mounting work is performed on the target multi-sided board 本発明の一実施の形態の部品実装装置にて実装作業の対象となる多面取り基板の下面に下受けピンを追加して配置した状態を示す図The figure which shows the state which added the receiving pin and has arrange | positioned to the lower surface of the multi-sided board | substrate used as the object of mounting operation in the component mounting apparatus of one embodiment of this invention. 本発明の一実施の形態の実装部品検査方法のフロー図The flowchart of the mounting component inspection method of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の実装部品検査方法のフロー図The flowchart of the mounting component inspection method of one embodiment of this invention

まず図1を参照して、本発明の部品実装検査装置を含んだ部品実装システムについて説明する。この部品実装システムを形成する部品実装ライン1は、基板2上に設定された複数の部品実装位置としての電極3のそれぞれに、部品としての電子部品4を実装した部品実装済み基板(以下、「実装基板5」と称する)を製造・検査するための各装置を連結して成る。   First, a component mounting system including a component mounting inspection apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG. A component mounting line 1 forming this component mounting system includes a component mounted substrate (hereinafter referred to as “a component mounting board”) in which an electronic component 4 as a component is mounted on each of electrodes 3 as a plurality of component mounting positions set on the substrate 2. Each device for manufacturing and inspecting a mounting substrate 5 ”) is connected.

図1に示すように、部品実装ライン1は上流側(図1において左側)から印刷装置M1、印刷状態検査装置M2、複数の部品実装装置M3〜M5、及び実装部品検査装置M6の各装置を、基板搬送方向であるX方向に連結して構成されている。印刷装置M1は、部品実装のための基板2上に設定された複数の電極3上に接合材料としてのクリーム半田Pt(図2参照)を印刷する機能を有する。印刷状態検査装置M2は、電極3上にクリーム半田Ptが印刷された基板2の印刷状態を検査する機能を有する。部品実装装置M3〜M5は、クリーム半田Ptが印刷された基板2上に電子部品4を実装する機能を有する。実装部品検査装置M6は、電子部品4が実装された実装基板5を対象として電子部品4の実装状態の検査を行う機能を有する。これらの各装置は通信ネットワーク6を介して管理コンピュータ7に接続され、管理コンピュータ7は部品実装ライン1の各装置による実装・検査作業を統括して制御する。   As shown in FIG. 1, the component mounting line 1 includes a printing device M1, a printing state inspection device M2, a plurality of component mounting devices M3 to M5, and a mounting component inspection device M6 from the upstream side (left side in FIG. 1). , And connected in the X direction, which is the substrate transport direction. The printing apparatus M1 has a function of printing cream solder Pt (see FIG. 2) as a bonding material on the plurality of electrodes 3 set on the substrate 2 for component mounting. The printing state inspection device M2 has a function of inspecting the printing state of the substrate 2 on which the cream solder Pt is printed on the electrode 3. The component mounting apparatuses M3 to M5 have a function of mounting the electronic component 4 on the substrate 2 on which the cream solder Pt is printed. The mounting component inspection apparatus M6 has a function of inspecting the mounting state of the electronic component 4 for the mounting substrate 5 on which the electronic component 4 is mounted. Each of these devices is connected to a management computer 7 via a communication network 6, and the management computer 7 controls the mounting / inspection work by each device on the component mounting line 1 in an integrated manner.

また図1に示すように、本実施の形態における印刷状態検査装置M2、部品実装装置M3〜M5、実装部品検査装置M6は、それぞれ後述する一対の搬送コンベアを各装置の前側、後側にそれぞれ備えており、各装置の前側(図1における下側)において一の搬送コンベアが連結して形成される第1搬送ラインL1、各装置の後側(図1における上側)において他の搬送コンベアが連結して形成される第2搬送ラインL2上で各装置における所定の作業が同時並行的に行うことができるようになっている。このような構成を採用することで、実装基板の生産性を向上させることができる。   As shown in FIG. 1, the printing state inspection device M2, the component mounting devices M3 to M5, and the mounting component inspection device M6 according to the present embodiment each have a pair of transport conveyors described later on the front side and the rear side of each device, respectively. A first conveyor line L1 formed by connecting one conveyor on the front side (lower side in FIG. 1) of each apparatus, and another conveyor on the rear side (upper side in FIG. 1) of each apparatus. Predetermined operations in the respective apparatuses can be performed simultaneously on the second transport line L2 formed by being connected. By adopting such a configuration, the productivity of the mounting substrate can be improved.

次に、図1〜3を用いて印刷装置M1について説明する。基台10の上面にはそれぞれ個別に制御され独立して印刷動作が可能な第1の印刷機構11A、第2の印刷機構11Bが、基板2の搬送方向であるX方向と直交するY方向に並んで配置されている。図2において、印刷機構11A,11Bは主としてマスク枠12に展張されたマスクプレート13と、マスクプレート13の上方に配設されたスキージヘッド14から成っている(便宜上、図1においてはスキージヘッド14の図示を省略している)。マスクプレート13には、印刷対象となる基板2上の電極3の形状・位置に対応してパターン孔13aが形成されており、マスクプレート13の上面にはクリーム半田供給装置(不図示)によってクリーム半田Ptが供給される。   Next, the printing apparatus M1 will be described with reference to FIGS. A first printing mechanism 11A and a second printing mechanism 11B that are individually controlled and can perform printing operations individually on the upper surface of the base 10 are arranged in the Y direction orthogonal to the X direction that is the transport direction of the substrate 2. They are arranged side by side. 2, the printing mechanisms 11A and 11B mainly include a mask plate 13 extended on the mask frame 12 and a squeegee head 14 disposed above the mask plate 13 (for convenience, the squeegee head 14 in FIG. Is omitted). A pattern hole 13a is formed in the mask plate 13 corresponding to the shape and position of the electrode 3 on the substrate 2 to be printed, and the upper surface of the mask plate 13 is creamed by a cream solder supply device (not shown). Solder Pt is supplied.

図2において、スキージヘッド14は、板状のスキージ部材15が装着されたスキージホルダ16を昇降させるスキージ昇降機構17を水平なフレーム18に配設した構成となっている。フレーム18の上面に配設されたスキージ昇降機構17は、下部から下方に延出する昇降軸17aを有しており、昇降軸17aの下端部にはスキージホルダ16が固着している。   In FIG. 2, the squeegee head 14 has a configuration in which a squeegee raising / lowering mechanism 17 for raising and lowering a squeegee holder 16 to which a plate-like squeegee member 15 is attached is disposed on a horizontal frame 18. The squeegee lifting mechanism 17 disposed on the upper surface of the frame 18 has a lifting shaft 17a extending downward from the lower portion, and a squeegee holder 16 is fixed to the lower end portion of the lifting shaft 17a.

図2において、基台10の上方であってマスクプレート13の下方には、基板2をX方向に搬送する一対の基板搬送コンベア19が設けられている。一対の基板搬送コンベア19は支持台20上にてY軸方向に対向して設けられた一対のコンベア支持部材21によって支持されており、各コンベア支持部材21の上端には基板2を両側から挟み込むクランプ部材22が設けられている。   In FIG. 2, a pair of substrate transport conveyors 19 for transporting the substrate 2 in the X direction is provided above the base 10 and below the mask plate 13. A pair of board | substrate conveyance conveyors 19 are supported by the pair of conveyor support member 21 provided facing the Y-axis direction on the support stand 20, and the board | substrate 2 is pinched | interposed into the upper end of each conveyor support member 21 from both sides A clamp member 22 is provided.

一対の基板搬送コンベア19上に基板2が保持された状態において、当該基板2の下方には基板支持機構23が配設されている。基板支持機構23は、支持台20上に設けられた第1昇降駆動部24によって昇降する下受け基部25に複数の下受けピン26を立設させた構成となっている。   In a state where the substrate 2 is held on the pair of substrate transfer conveyors 19, a substrate support mechanism 23 is disposed below the substrate 2. The substrate support mechanism 23 has a configuration in which a plurality of support pins 26 are erected on a support base 25 that is lifted and lowered by a first lift drive unit 24 provided on the support base 20.

図3において、第1昇降駆動部24の昇降軸24aに結合された下受け基部25の上面には、所定の規則配列で複数のピン保持孔25aが形成されており、ピン保持孔25aに下受けピン26を挿入することにより下受けピン26は下受け基部25に垂直姿勢で保持される。この下受けピン26は下受け基部25に対して着脱自在となっている。印刷作業を開始するにあたっては、作業員が基板2上の電極3の配置に応じて複数のピン保持孔25aのうち任意のピン保持孔25aに選択的に下受けピン26を挿入する。   In FIG. 3, a plurality of pin holding holes 25a are formed in a predetermined regular arrangement on the upper surface of the lower receiving base 25 coupled to the raising / lowering shaft 24a of the first raising / lowering driving part 24. By inserting the receiving pin 26, the lower receiving pin 26 is held on the lower receiving base 25 in a vertical posture. The lower receiving pin 26 is detachable from the lower receiving base 25. When starting the printing operation, the worker selectively inserts the receiving pin 26 into any pin holding hole 25a among the plurality of pin holding holes 25a according to the arrangement of the electrodes 3 on the substrate 2.

図2において、基台10上には支持台20をX、Y方向に移動させるXテーブル27X、Yテーブル27Yが段積み状態で設けられており、上段のXテーブル27X上には、支持台20を昇降させる第2昇降駆動部28が設けられている。   In FIG. 2, an X table 27X and a Y table 27Y for moving the support table 20 in the X and Y directions are provided in a stacked state on the base 10, and the support table 20 is provided on the upper X table 27X. A second elevating drive unit 28 is provided for elevating and lowering.

次に、印刷動作について説明する。印刷装置M1の上流側に設けられた一対の基板搬送コンベア29A(図1参照)によって搬入される基板2は基板搬送コンベア19に受け渡された後、所定の印刷位置まで搬送される。所定の印刷位置まで搬送された基板2は、第1昇降駆動部24によって下受け基部25が基板2の下方から上昇(図2の矢印a)することによって、当該下受け基部25に保持された下受けピン26によって下受けされる。即ち、下受けピン26は基板2を下面から支持するバックアップ支持部材となっている。   Next, the printing operation will be described. The substrate 2 carried in by a pair of substrate transport conveyors 29A (see FIG. 1) provided on the upstream side of the printing apparatus M1 is transferred to the substrate transport conveyor 19 and then transported to a predetermined printing position. The substrate 2 transported to a predetermined printing position is held by the lower receiving base 25 as the lower receiving base 25 is raised from below the substrate 2 by the first elevating drive unit 24 (arrow a in FIG. 2). It is received by the receiving pin 26. That is, the lower receiving pin 26 serves as a backup support member that supports the substrate 2 from the lower surface.

この後さらに基板2を所定の高さまで上昇させたならば、クランプ部材22によって基板2をその両側から挟み込む。基板2を挟み込んだ状態でさらに下受け基部25を上昇させることにより、基板2の上面とクランプ部材22の上面を同一の高さにする。この後、第2昇降駆動部28によって支持台20を基台10に対して上昇(図2の矢印b)させることによって基板2の上面をマスクプレート13の下面に接触させる。この状態でクリーム半田Ptが供給されたマスクプレート13上でスキージ移動手段(不図示)によって2つのスキージ部材15をY方向に摺動させることより、パターン孔13aを介して基板2の各電極3上にクリーム半田Ptが転写(印刷)される。   Thereafter, when the substrate 2 is further raised to a predetermined height, the substrate 2 is sandwiched from both sides by the clamp member 22. The upper surface of the substrate 2 and the upper surface of the clamp member 22 are made to have the same height by further raising the receiving base 25 while sandwiching the substrate 2. Thereafter, the upper surface of the substrate 2 is brought into contact with the lower surface of the mask plate 13 by raising the support base 20 with respect to the base 10 by the second elevating drive unit 28 (arrow b in FIG. 2). In this state, the two squeegee members 15 are slid in the Y direction by squeegee moving means (not shown) on the mask plate 13 to which the cream solder Pt is supplied, whereby each electrode 3 of the substrate 2 is passed through the pattern hole 13a. The cream solder Pt is transferred (printed) thereon.

各電極3上にクリーム半田Ptが転写されたら、下受け基部25がマスクプレート13に対して下降することによって基板2がマスクプレート13から離版する。その後、各電極3上にクリーム半田Ptが転写された基板2は、印刷装置M1の下流側に設けられた一対の基板搬送コンベア29B(図1参照)に受け渡され、下流の印刷状態検査装置M2に搬送される。   When the cream solder Pt is transferred onto each electrode 3, the base 2 is released from the mask plate 13 by lowering the receiving base 25 with respect to the mask plate 13. Thereafter, the substrate 2 on which the cream solder Pt is transferred onto each electrode 3 is transferred to a pair of substrate conveying conveyors 29B (see FIG. 1) provided on the downstream side of the printing apparatus M1, and the downstream printing state inspection apparatus. Transported to M2.

次に、図1を用いて印刷状態検査装置M2について説明する。印刷状態検査装置M2は基台30上にY軸方向に延びたY軸移動テーブル31と、Y軸移動テーブル31に対してY方向に移動自在な2つのX軸移動テーブル32と、X軸移動テーブル32に対してX軸方向に移動自在な2つのプレート33から成るヘッド移動機構を有し、このヘッド移動機構の各プレート33には、撮像視野を下方に向けた検査カメラを備えた印刷状態検査ヘッド34がそれぞれ設けられている。また基台30の上面の中央には、第1搬送ラインL1、第2搬送ラインL2の一部を構成して印刷装置M1から受け渡された基板2を基板搬送方向(X方向)に搬送する一対の基板搬送コンベア35が、印刷状態検査装置M2の前後にそれぞれ設けられている。   Next, the printing state inspection apparatus M2 will be described with reference to FIG. The printing state inspection device M2 includes a Y-axis movement table 31 extending in the Y-axis direction on the base 30, two X-axis movement tables 32 movable in the Y direction with respect to the Y-axis movement table 31, and an X-axis movement A print state having a head moving mechanism composed of two plates 33 movable in the X-axis direction with respect to the table 32, and each plate 33 of the head moving mechanism having an inspection camera with the imaging field of view directed downward Each inspection head 34 is provided. In addition, in the center of the upper surface of the base 30, a part of the first transport line L <b> 1 and the second transport line L <b> 2 is configured and the substrate 2 delivered from the printing apparatus M <b> 1 is transported in the substrate transport direction (X direction). A pair of board | substrate conveyance conveyors 35 are each provided before and after the printing condition inspection apparatus M2.

印刷状態検査装置M2は、上流側の印刷装置M1から受け渡された基板2を基板搬送コンベア35によって搬送して位置決めし、ヘッド移動機構によって検査カメラを移動させて基板2上の各電極3を上方から撮像する。そして、撮像された各電極3の画像に基づいて画像認識を行い、各電極3にクリーム半田Ptが正常に印刷されているか否かの印刷状態検査を行う。   The printing state inspection apparatus M2 conveys and positions the substrate 2 delivered from the upstream printing apparatus M1 by the substrate conveying conveyor 35, moves the inspection camera by the head moving mechanism, and moves the electrodes 3 on the substrate 2 to each other. Take an image from above. Then, image recognition is performed based on the captured image of each electrode 3, and a print state inspection is performed to determine whether or not the cream solder Pt is normally printed on each electrode 3.

次に、図4〜図6を参照して部品実装装置M3〜M5の構成を説明する。なお、部品実装装置M3〜M5は同一構造であるので、代表して部品実装装置M3について説明する。図4、図5において、基台40の上面の中央には、第1搬送ラインL1、第2搬送ラインL2を構成してX方向に延びた一対の基板搬送コンベア41が部品実装装置M3の前側・後側にそれぞれ設けられている。一対の基板搬送コンベア41は、基台40上にてY軸方向に対向して設けられた一対のコンベア支持部材42によって支持されている。各コンベア支持部材42の上端には、基板搬送コンベア41の上方に張り出して位置する一対の基板端部押え部材42aが設けられている。   Next, the configuration of the component mounting apparatuses M3 to M5 will be described with reference to FIGS. Since the component mounting apparatuses M3 to M5 have the same structure, the component mounting apparatus M3 will be described as a representative. 4 and 5, in the center of the upper surface of the base 40, a pair of board transfer conveyors 41 constituting the first transfer line L1 and the second transfer line L2 and extending in the X direction are on the front side of the component mounting apparatus M3.・ Each is provided on the rear side. The pair of substrate transport conveyors 41 are supported by a pair of conveyor support members 42 provided on the base 40 so as to face each other in the Y-axis direction. At the upper end of each conveyor support member 42, a pair of substrate end pressing members 42 a are provided so as to protrude over the substrate transfer conveyor 41.

図5に示すように、一対の基板搬送コンベア41上に基板2が保持された状態において、当該基板2の下方には基板支持機構43が配設されている。基板支持機構43は前述した印刷装置M1の基板支持機構23と同様の構成となっており、昇降駆動部44によって昇降する下受け基部45に複数の下受けピン46を立設させた構成となっている。図3に示すように、昇降駆動部44の昇降軸44aに結合された下受け基部45の上面には、所定の規則配列で複数のピン保持孔45aが形成されており、ピン保持孔45aに下受けピン46を挿入することにより下受けピン46は下受け基部45に垂直姿勢で保持される。この下受けピン46は下受け基部45に対して着脱自在となっている。部品実装作業を開始するにあたっては、作業員が基板2の上面の電極3の配置に応じて複数のピン保持孔45aのうち任意のピン保持孔45aに選択的に下受けピン46を挿入する。基板2の下面に部品が実装されている場合は、この部品と干渉しないように下受けピン46を配置する。   As shown in FIG. 5, a substrate support mechanism 43 is disposed below the substrate 2 in a state where the substrate 2 is held on a pair of substrate transport conveyors 41. The substrate support mechanism 43 has the same configuration as the substrate support mechanism 23 of the printing apparatus M1 described above, and has a configuration in which a plurality of lower receiving pins 46 are erected on a lower receiving base 45 that is lifted and lowered by a lifting drive unit 44. ing. As shown in FIG. 3, a plurality of pin holding holes 45 a are formed in a predetermined regular arrangement on the upper surface of the lower receiving base 45 coupled to the lifting shaft 44 a of the lifting drive unit 44. By inserting the lower receiving pin 46, the lower receiving pin 46 is held in a vertical posture on the lower receiving base 45. The lower receiving pin 46 is detachable from the lower receiving base 45. When starting the component mounting work, the worker selectively inserts the receiving pin 46 into any pin holding hole 45a among the plurality of pin holding holes 45a according to the arrangement of the electrodes 3 on the upper surface of the substrate 2. When a component is mounted on the lower surface of the substrate 2, the receiving pin 46 is disposed so as not to interfere with the component.

図5に示すように、昇降駆動部44を駆動して下受け基部45を基板2に対して下方から上昇させると(矢印c)、複数の下受けピン46の上端部に基板2の下面2aが当接し、さらに下受け基部45を上昇させると、基板2はその上面が基板端部押え部材42aの下面に当接した位置で停止する。これにより、基板2は実装作業高さ位置に保持される。即ち、下受けピン46は上述した印刷装置M1における下受けピン26と同様に、基板2を下面から支持するバックアップ支持部材となっている。   As shown in FIG. 5, when the elevating drive unit 44 is driven to raise the lower receiving base 45 from below with respect to the substrate 2 (arrow c), the lower surface 2a of the substrate 2 is placed on the upper ends of the plurality of receiving pins 46. And the lower receiving base 45 is further raised, the substrate 2 stops at a position where the upper surface thereof contacts the lower surface of the substrate end pressing member 42a. Thereby, the board | substrate 2 is hold | maintained in the mounting work height position. That is, the lower receiving pin 46 is a backup support member for supporting the substrate 2 from the lower surface, like the lower receiving pin 26 in the printing apparatus M1 described above.

図4において、部品実装装置M3の両側には、それぞれ部品供給部としての複数のテープフィーダ47が装着されている。テープフィーダ47は電子部品4を保持したキャリアテープ(不図示)をピッチ送りすることにより、電子部品4を部品取出位置47aに供給する機能を有する。   In FIG. 4, a plurality of tape feeders 47 as component supply units are mounted on both sides of the component mounting apparatus M3. The tape feeder 47 has a function of feeding the electronic component 4 to the component extraction position 47a by pitch-feeding a carrier tape (not shown) holding the electronic component 4.

図4および図5において、基台40上にはY軸方向に延びたY軸移動テーブル48と、Y軸移動テーブル48に対してY方向に移動自在な2つのX軸移動テーブル49と、X軸移動テーブル49に対してX軸方向に移動自在な2つのプレート50から成るヘッド移動機構51が配設されており、2つのプレート50のそれぞれには実装ヘッド52が装着されている。実装ヘッド52は複数の保持ヘッドを備えた多連型ヘッドであり、それぞれの保持ヘッドの下端部には電子部品4を吸着して保持し個別に昇降可能な吸着ノズル52aが装着されている。また、実装ヘッド52にはX軸移動テーブル49の下面側に位置して一体的に移動する基板認識カメラ53が装着されている。さらに、テープフィーダ47と基板搬送コンベア41との間には、吸着ノズル52aに吸着保持された電子部品4を撮像する部品認識カメラ54が設けられている。   4 and 5, on the base 40, a Y-axis movement table 48 extending in the Y-axis direction, two X-axis movement tables 49 movable in the Y direction with respect to the Y-axis movement table 48, and X A head moving mechanism 51 composed of two plates 50 that are movable in the X-axis direction with respect to the axis moving table 49 is disposed, and a mounting head 52 is mounted on each of the two plates 50. The mounting head 52 is a multiple-type head including a plurality of holding heads, and suction nozzles 52a capable of sucking and holding the electronic component 4 and individually moving up and down are attached to lower end portions of the respective holding heads. The mounting head 52 is mounted with a substrate recognition camera 53 that is located on the lower surface side of the X-axis moving table 49 and moves integrally therewith. Further, a component recognition camera 54 that captures an image of the electronic component 4 sucked and held by the suction nozzle 52 a is provided between the tape feeder 47 and the substrate transport conveyor 41.

次に図6を参照して、制御系の構成を説明する。部品実装装置M3に備えられた制御部55は部品実装装置M3をそれぞれ構成する以下の各部を制御する。制御部55がヘッド移動機構51、実装ヘッド52、テープフィーダ47を制御することにより、基板搬送コンベア41により搬送される基板2に対して部品実装作業が実行される。また、制御部55が基板支持機構43を制御することにより、下受けピン46を上昇させて基板2を下面から下受け支持する基板支持作業が実行される。   Next, the configuration of the control system will be described with reference to FIG. The control unit 55 provided in the component mounting apparatus M3 controls the following units constituting the component mounting apparatus M3. The control unit 55 controls the head moving mechanism 51, the mounting head 52, and the tape feeder 47, so that the component mounting operation is performed on the substrate 2 conveyed by the substrate conveying conveyor 41. In addition, the control unit 55 controls the substrate support mechanism 43 to perform a substrate support operation for raising the lower support pins 46 and supporting the substrate 2 from the lower surface.

制御部55には通信部56、入出力部としてのタッチパネル57及び記憶部58が接続されている。通信部56は図1に示す管理コンピュータ7を介して他装置との間で制御信号やデータの授受を行う。タッチパネル57は装置稼働のための操作入力や生産データ等の入力に用いられ、また制御部55からの出力情報を表示する。記憶部58は基板搬送動作や部品実装動作を実行するための必要な実装プログラムや生産情報を記憶する。   A communication unit 56, a touch panel 57 as an input / output unit, and a storage unit 58 are connected to the control unit 55. The communication unit 56 exchanges control signals and data with other devices via the management computer 7 shown in FIG. The touch panel 57 is used for operation input for operating the apparatus, input of production data, and the like, and displays output information from the control unit 55. The storage unit 58 stores a mounting program and production information necessary for executing a board transfer operation and a component mounting operation.

次に、部品実装装置M3における動作について説明する。部品実装装置M3の制御部55は上流側の装置から基板2が送られてきたことを検知すると、基板搬送コンベア41を動作させて基板2を受け取って搬送し、所定の部品実装位置に基板2を位置決めする。次いで、制御部55は昇降駆動部44を駆動して下受けピン46が装着された下受け基部45を基板2に対して下方から上昇(図5の矢印c)させることで、基板2の下面2aに下受けピン46の上端を当接させる。この状態でさらに下受け基部45が上昇すると、基板2は下受けピン46により下面2aを支持された状態のままその上面が基板端部押え部材42aの下面に当接した位置で停止する。基板2の上面が基板端部押え部材42aの下面に当接した位置で停止したならば、制御部55はヘッド移動機構51を駆動することにより基板認識カメラ53を基板2の上方に移動させて基板2を撮像し、基板2の位置ずれを検出する。   Next, the operation in the component mounting apparatus M3 will be described. When the control unit 55 of the component mounting apparatus M3 detects that the board 2 has been sent from the upstream apparatus, the board transfer conveyor 41 is operated to receive and transfer the board 2, and the board 2 is moved to a predetermined component mounting position. Positioning. Next, the control unit 55 drives the elevating drive unit 44 to raise the lower receiving base 45 to which the lower receiving pins 46 are attached from below with respect to the substrate 2 (arrow c in FIG. 5). The upper end of the lower receiving pin 46 is brought into contact with 2a. When the lower receiving base 45 further rises in this state, the substrate 2 stops at a position where the upper surface abuts against the lower surface of the substrate end pressing member 42a while the lower surface 2a is supported by the lower receiving pins 46. When the upper surface of the substrate 2 stops at a position where it contacts the lower surface of the substrate end pressing member 42a, the control unit 55 drives the head moving mechanism 51 to move the substrate recognition camera 53 above the substrate 2. The board | substrate 2 is imaged and the position shift of the board | substrate 2 is detected.

基板2の撮像後、制御部55は実装ヘッド52をテープフィーダ47の部品取出位置47a上に移動させ、部品取出位置47a上にて吸着ノズル52aを下降させることにより吸着ノズル52aに電子部品4を吸着保持させる。次いで制御部55は、電子部品4を保持した実装ヘッド52を部品認識カメラ54の上方に移動させ(図4参照)、部品認識カメラ54にて吸着ノズル52aに吸着保持された電子部品4を撮像して認識し、電子部品4の吸着ノズル52aに対する位置ずれを検出する。   After imaging the substrate 2, the control unit 55 moves the mounting head 52 onto the component extraction position 47 a of the tape feeder 47, and lowers the adsorption nozzle 52 a on the component extraction position 47 a to place the electronic component 4 on the adsorption nozzle 52 a. Adsorb and hold. Next, the control unit 55 moves the mounting head 52 holding the electronic component 4 above the component recognition camera 54 (see FIG. 4), and images the electronic component 4 sucked and held by the suction nozzle 52a by the component recognition camera 54. Then, the positional deviation of the electronic component 4 with respect to the suction nozzle 52a is detected.

位置ずれ検出後、制御部55は実装ヘッド52を基板2の上方に移動させて位置合わせし、吸着ノズル52aを基板2に対して下降させることにより電子部品4を基板2に実装する。このとき、制御部55は部品認識カメラ54による電子部品4の認識結果と、基板認識カメラ53による基板2の認識結果とを加味した実装位置補正を行って電子部品4を基板2の電極3上に実装する。部品実装装置M3〜M5のうち最下流に配設された部品実装装置M5にて実装作業を終えた実装基板5は、下流の実装部品検査装置M6に搬送される。   After detecting the misalignment, the control unit 55 moves the mounting head 52 above the substrate 2 to align it, and lowers the suction nozzle 52 a relative to the substrate 2 to mount the electronic component 4 on the substrate 2. At this time, the control unit 55 performs mounting position correction in consideration of the recognition result of the electronic component 4 by the component recognition camera 54 and the recognition result of the substrate 2 by the substrate recognition camera 53 to place the electronic component 4 on the electrode 3 of the substrate 2. To implement. The mounting substrate 5 that has been mounted by the component mounting apparatus M5 disposed at the most downstream of the component mounting apparatuses M3 to M5 is transported to the downstream mounting component inspection apparatus M6.

次に、実装部品検査装置M6について、図7〜図13を用いて説明する。図7および図8において、実装部品検査装置M6は、基台60と、基台60に設けられ電子部品4が実装された実装基板5の搬送及び実装基板5を検査位置に位置決めする一対の基板搬送コンベア61と、基台60に設けられたヘッド移動機構62と、ヘッド移動機構62によって移動される実装状態検査ヘッド63を備えて成る。また、基台60には入出力装置としてのタッチパネル64が備えられている。   Next, the mounting component inspection apparatus M6 will be described with reference to FIGS. 7 and 8, the mounting component inspection apparatus M6 includes a base 60, a pair of substrates that are provided on the base 60, transport the mounting substrate 5 on which the electronic component 4 is mounted, and position the mounting substrate 5 at the inspection position. The conveyance conveyor 61, the head moving mechanism 62 provided in the base 60, and the mounting state inspection head 63 moved by the head moving mechanism 62 are provided. The base 60 is provided with a touch panel 64 as an input / output device.

一対の基板搬送コンベア61はX方向に延びた状態で実装部品検査装置M6の前側・後側にそれぞれ設けられており、各基板搬送コンベア61はそれぞれ第1搬送ラインL1、第2搬送ラインL2の一部を構成している。ヘッド移動機構62は基台60上にY軸方向に延びたY軸移動テーブル65と、Y軸移動テーブル65に対してY方向に移動自在な2つのX軸移動テーブル66と、X軸移動テーブル66に対してX軸方向に移動自在な2つのプレート67から成る。実装状態検査ヘッド63は各プレート67に取り付けられており、また撮像視野を下方に向けた検査カメラ63aを備えている。このため実装状態検査ヘッド63は、ヘッド移動機構62を構成するY軸移動テーブル65に対するX軸移動テーブル66のY方向への移動動作と、X軸移動テーブル66に対するプレート67のX方向への移動動作とを組み合わせることによって水平面内で移動させることができる。   The pair of board transfer conveyors 61 are provided on the front side and the rear side of the mounting component inspection apparatus M6 in a state extending in the X direction, and each board transfer conveyor 61 has a first transfer line L1 and a second transfer line L2, respectively. Part of it. The head moving mechanism 62 includes a Y-axis moving table 65 extending on the base 60 in the Y-axis direction, two X-axis moving tables 66 that are movable in the Y direction with respect to the Y-axis moving table 65, and an X-axis moving table. It consists of two plates 67 that are movable in the X-axis direction with respect to 66. The mounting state inspection head 63 is attached to each plate 67 and includes an inspection camera 63a with the imaging field of view facing downward. For this reason, the mounting state inspection head 63 moves the X-axis movement table 66 in the Y direction relative to the Y-axis movement table 65 constituting the head movement mechanism 62 and moves the plate 67 in the X direction relative to the X-axis movement table 66. It can be moved in the horizontal plane by combining with movement.

基板搬送コンベア61による実装基板5の搬送動作は、実装部品検査装置M6が備える制御部68が有する機構制御部69が図示しないアクチュエータ等から成る基板搬送コンベア駆動部の作動制御を行うことによってなされ、また実装状態検査ヘッド63の移動動作は、同じく機構制御部69が前述のヘッド移動機構62の作動制御を行うことによってなされる。   The operation of transporting the mounting substrate 5 by the substrate transporting conveyor 61 is performed by the mechanism control unit 69 included in the control unit 68 included in the mounting component inspection apparatus M6 performing operation control of a substrate transporting conveyor driving unit including an actuator (not shown). Similarly, the movement operation of the mounting state inspection head 63 is performed by the mechanism control unit 69 controlling the operation of the head movement mechanism 62 described above.

次に図8を参照して、実装部品検査装置M6の制御系の構成について説明する。制御部68は機構制御部69、検査処理部70、記憶部71を有している。検査処理部70は画像処理部70a、良否検査部70b、カウント部70c、統計処理部70d、判断部70e、表示処理部70fから構成されている。また記憶部71はプログラム記憶部72、検査用データ記憶部73、検査済実装基板目標枚数記憶部74、実装不良累積データ記憶部75、実装不良判定割合しきい値記憶部76から構成されている。   Next, the configuration of the control system of the mounted component inspection apparatus M6 will be described with reference to FIG. The control unit 68 includes a mechanism control unit 69, an inspection processing unit 70, and a storage unit 71. The inspection processing unit 70 includes an image processing unit 70a, a pass / fail inspection unit 70b, a count unit 70c, a statistical processing unit 70d, a determination unit 70e, and a display processing unit 70f. The storage unit 71 includes a program storage unit 72, an inspection data storage unit 73, an inspected mounting board target number storage unit 74, a mounting failure cumulative data storage unit 75, and a mounting failure determination ratio threshold value storage unit 76. .

制御部68には前述のタッチパネル64が接続されており、タッチパネル64からの入力信号が制御部68に入力され、タッチパネル64には制御部68からの出力情報が表示される。即ち、タッチパネル64の出力動作は制御部68によって制御される。   The above-described touch panel 64 is connected to the control unit 68, an input signal from the touch panel 64 is input to the control unit 68, and output information from the control unit 68 is displayed on the touch panel 64. That is, the output operation of the touch panel 64 is controlled by the control unit 68.

次に、記憶部71について説明する。プログラム記憶部72には、ヘッド移動機構62、実装状態検査ヘッド63による検査動作のための処理プログラムが記憶されている。検査用データ記憶部73には部品実装位置データ73a、実装部品データ73b、及び検査しきい値データ73cが記憶されている。部品実装位置データ73aは、基板2において電子部品4が実装される部品実装位置の基板2における座標位置を示すデータである。実装部品データ73bは、各部品実装位置に実装される電子部品4の種類を示すデータである。検査しきい値データ73cは、電子部品4の正規位置に対する許容位置ずれ量を定めたデータである。検査済実装基板目標枚数記憶部74は、後述する実装不良判定割合の算出に必要な検査済み実装基板5の目標となる枚数を記憶する。実装不良累積データ記憶部75は、統計処理部70dにて統計処理された各部品実装位置における実装不良累積データを記憶する。実装不良判定割合しきい値記憶部76は、後述する実装不良詳細画像83にて推定不良要因を表示するか否かのしきい値を記憶する。   Next, the storage unit 71 will be described. The program storage unit 72 stores a processing program for an inspection operation by the head moving mechanism 62 and the mounting state inspection head 63. The inspection data storage unit 73 stores component mounting position data 73a, mounting component data 73b, and inspection threshold data 73c. The component mounting position data 73a is data indicating the coordinate position on the board 2 of the component mounting position where the electronic component 4 is mounted on the board 2. The mounted component data 73b is data indicating the type of the electronic component 4 mounted at each component mounting position. The inspection threshold data 73c is data that defines an allowable positional deviation amount with respect to the normal position of the electronic component 4. The inspected mounting board target number storage unit 74 stores the target number of inspected mounting boards 5 necessary for the calculation of a mounting defect determination ratio described later. The mounting failure accumulation data storage unit 75 stores mounting failure accumulation data at each component mounting position subjected to statistical processing by the statistical processing unit 70d. The mounting failure determination ratio threshold value storage unit 76 stores a threshold value as to whether or not to display an estimated failure factor in a mounting failure detail image 83 to be described later.

次に、機構制御部69について説明する。機構制御部69は、基板搬送コンベア61、ヘッド移動機構62、検査カメラ63aを含む実装状態検査ヘッド63、及び実装状態検査ヘッド63の撮像制御を行うCCU(カメラコントロールユニット)77の検査処理実行に供する機構部78を制御する。   Next, the mechanism control unit 69 will be described. The mechanism control unit 69 executes inspection processing of a substrate transport conveyor 61, a head moving mechanism 62, a mounting state inspection head 63 including an inspection camera 63a, and a CCU (camera control unit) 77 that performs imaging control of the mounting state inspection head 63. The mechanism 78 to be provided is controlled.

次に、検査処理部70について説明する。画像処理部70aはCCU77を介して実装状態検査ヘッド63によって撮像された実装基板5の画像データを受信し、所定の部品実装位置に対する電子部品4の位置ずれ検出等の所定の画像処理を行う。良否検査部70bは画像処理部70aによって処理された画像処理結果と、検査用データ記憶部73に記憶された各データとを比較することによって電極3に電子部品4が正常に実装されているか否かの部品実装状態の良否を判定し、判定結果を統計処理部70dに出力する。具体的には、電子部品4の所定の部品実装位置に対するずれ量が検査しきい値データ73cに記憶されているしきい値を超えている場合には実装不良と判定する。即ち、画像処理部70a及び良否検査部70bは撮像手段による撮像結果に基づいて実装状態の良否を判定して判定結果を出力する判定手段となっている。   Next, the inspection processing unit 70 will be described. The image processing unit 70a receives the image data of the mounting board 5 imaged by the mounting state inspection head 63 via the CCU 77, and performs predetermined image processing such as detection of positional deviation of the electronic component 4 with respect to a predetermined component mounting position. The pass / fail inspection unit 70b compares the image processing result processed by the image processing unit 70a with each data stored in the inspection data storage unit 73 to determine whether or not the electronic component 4 is normally mounted on the electrode 3. The quality of the component mounting state is determined, and the determination result is output to the statistical processing unit 70d. Specifically, if the amount of deviation of the electronic component 4 from the predetermined component mounting position exceeds the threshold value stored in the inspection threshold value data 73c, it is determined that the mounting is defective. That is, the image processing unit 70a and the quality inspection unit 70b are determination units that determine the quality of the mounting state based on the imaging result of the imaging unit and output the determination result.

この判定手段による判定結果の出力に際しては実装不良の判定のみならず、実装不良の種類も併せて出力する。具体的には、判定手段は電子部品4の実装位置が正規位置から外れた場合には「部品位置ずれNG」と判定し、部品実装位置に電子部品4が実装されていない場合には「部品無しNG」と判定し、電子部品4が表裏反転して実装された場合には「反転NG」と判定し、電子部品4の実装方向が誤った状態で実装された場合には「極性NG」と判定し、部品実装位置に異物が混入している場合には「異物NG」と判定する。   When the determination result is output by this determination means, not only the mounting failure is determined but also the type of mounting failure is output together. Specifically, the determination means determines “component position deviation NG” when the mounting position of the electronic component 4 deviates from the normal position, and “parts” when the electronic component 4 is not mounted at the component mounting position. If the electronic component 4 is mounted upside down, it is determined as “reversed NG”, and if the electronic component 4 is mounted in the wrong mounting direction, “polarity NG” is determined. If foreign matter is mixed in the component mounting position, it is judged as “foreign matter NG”.

カウント部70cは、判定手段によって実装の良否の判定を終えた検査済み実装基板5の枚数をカウントし、検査済み実装基板5の枚数が検査済実装基板目標枚数記憶部74に記憶された枚数に達したと判断した場合、統計処理部70dに対して後述する実装不良判定割合を算出するよう指令を出す。   The counting unit 70c counts the number of inspected mounting boards 5 that have been determined by the determination unit to determine whether the mounting is good or not, and the number of inspected mounting boards 5 is the number stored in the inspected mounting board target number storage unit 74. When it is determined that it has been reached, the statistical processing unit 70d is instructed to calculate a mounting failure determination ratio described later.

統計処理部70dは判定手段による実装基板5毎の判定結果を累積集計し、所定の統計処理を行う。具体的には、部品実装位置毎に実装不良と判定された回数をカウントするとともに、実装基板5毎の各部品実装位置における実装不良の種類の割合を算出する。さらに統計処理部70dは、カウント部70cからの指令を受けて統計処理結果を実装不良累積データ記憶部75に出力するとともに、各部品実装位置において実装不良と判定された割合を算出し、算出結果を実装不良累積データ記憶部75に出力する。実装不良の判定割合は、各部品実装位置において実装不良と判定された回数から検査を終えた実装基板5の枚数を除算することによって算出される。即ち、統計処理部70dは判定手段において実装不良と判定された割合を部品実装位置毎に算出する実装不良判定割合算出手段となっている。   The statistical processing unit 70d accumulates and aggregates the determination results for each mounting board 5 by the determination unit, and performs predetermined statistical processing. Specifically, the number of times that mounting failure is determined for each component mounting position is counted, and the ratio of the type of mounting failure at each component mounting position for each mounting substrate 5 is calculated. Further, the statistical processing unit 70d receives a command from the counting unit 70c, outputs the statistical processing result to the mounting failure accumulated data storage unit 75, calculates the proportion determined to be mounting failure at each component mounting position, and calculates the result. Is output to the mounting failure accumulation data storage unit 75. The mounting failure determination ratio is calculated by dividing the number of mounted substrates 5 that have been inspected from the number of mounting failures determined at each component mounting position. That is, the statistical processing unit 70d serves as a mounting failure determination ratio calculation unit that calculates a ratio determined as a mounting failure by the determination unit for each component mounting position.

判断部70eは、統計処理部70dによって算出された各部品実装位置における実装不良の判定割合が、実装不良判定割合しきい値記憶部76に記憶されているしきい値を超えているか否かを判断する。そして、実装不良判定割合がしきい値を超えたと判断した場合、当該しきい値を超えたと判断された部品実装位置に対して後述する推定不良要因の表示処理を行うよう表示処理部70fに指令を出す。即ち、判断部70eは判定手段において実装不良と判定された割合が所定の条件を満たしたか否かを部品実装位置毎に判断する判断手段となっている。   The determination unit 70e determines whether or not the mounting failure determination rate at each component mounting position calculated by the statistical processing unit 70d exceeds the threshold value stored in the mounting failure determination rate threshold storage unit 76. to decide. When it is determined that the mounting defect determination ratio exceeds the threshold value, the display processing unit 70f is instructed to perform a display process of an estimated defect factor described later on the component mounting position determined to exceed the threshold value. Put out. That is, the determination unit 70e is a determination unit that determines, for each component mounting position, whether or not the ratio determined to be defective by the determination unit satisfies a predetermined condition.

表示処理部70fは、検査を受けた実装基板5の部品実装位置を示す画像をタッチパネル64に表示する。また、実装不良累積データ記憶部75に記憶された各部品実装位置における統計処理データを表示処理し、タッチパネル64に出力する。さらに、判断部70eによって実装不良判定割合が所定のしきい値を超えたと判断された部品実装位置に対して、後述する推定不良要因の表示処理を行う。   The display processing unit 70 f displays on the touch panel 64 an image indicating the component mounting position of the mounting board 5 that has been inspected. Further, the statistical processing data at each component mounting position stored in the mounting failure accumulation data storage unit 75 is displayed and output to the touch panel 64. Further, an estimated defect factor display process, which will be described later, is performed on the component mounting position at which the determination unit 70e determines that the mounting defect determination ratio has exceeded a predetermined threshold.

図9は、実装不良累積データ記憶部75に記憶されたデータを表示処理部70fによって表示処理してタッチパネル64に表示した画像を示している。タッチパネル64に表示される画像には基板2上にて実装不良と判定された箇所を部品実装位置毎に表示する部品実装位置マップ79が含まれている。   FIG. 9 shows an image displayed on the touch panel 64 by display processing of the data stored in the mounting failure accumulation data storage unit 75 by the display processing unit 70f. The image displayed on the touch panel 64 includes a component mounting position map 79 that displays, for each component mounting position, a portion determined to be defective on the board 2.

制御部68が行う部品実装位置マップ79における実装不良箇所の表示方法について詳しく説明する。タッチパネル64に表示された累積表示ボタン80を作業員が操作すると、表示処理部70fは部品実装位置マップ79に表示された実装基板の画像上において、実装不良が発生した部品実装位置に対して実装不良判定データを表示する。本実施の形態では実装不良判定データの表示方法として、部品実装位置マップ79にて実装不良と判定された部品実装位置にプロットマークPを用いて表示し、且つ実装不良の判定割合に応じてプロットマークPの色を異ならしめている。プロットマークPの色の割り当ては、タッチパネル64に表示されるカラー参照欄81によって確認することができる。これにより作業員は、部品実装位置マップ79上に表示されたプロットマークPの色をカラー参照欄81と対比することにより、実装不良の判定割合を視覚的に知ることができる。   The display method of the mounting failure location in the component mounting position map 79 performed by the control unit 68 will be described in detail. When the operator operates the cumulative display button 80 displayed on the touch panel 64, the display processing unit 70f is mounted on the component mounting position where the mounting defect has occurred on the image of the mounting board displayed on the component mounting position map 79. Display defect determination data. In the present embodiment, as a method for displaying mounting failure determination data, display is made using a plot mark P at a component mounting position determined as a mounting failure in the component mounting position map 79, and plotting is performed according to a mounting failure determination ratio. The color of the mark P is made different. The color assignment of the plot mark P can be confirmed by the color reference column 81 displayed on the touch panel 64. Thus, the worker can visually know the mounting failure determination ratio by comparing the color of the plot mark P displayed on the component mounting position map 79 with the color reference field 81.

なお、実装不良の判定割合に応じて割り当てられるプロットマークPの色、プロットマークPの色を割り当てる数値の範囲等は任意に設定可能である。そして制御部68は、作業員によってタッチパネル64に表示された累積リセットボタン82が操作された場合には、記憶した実装不良累積データをリセットし、その時点から判定結果の累積記憶を新たに開始する。   The color of the plot mark P assigned in accordance with the mounting failure determination ratio, the range of numerical values to which the color of the plot mark P is assigned, etc. can be arbitrarily set. When the cumulative reset button 82 displayed on the touch panel 64 is operated by the worker, the control unit 68 resets the stored mounting failure cumulative data, and newly starts the cumulative storage of the determination result from that point. .

上記構成において、実装不良累積データ記憶部75は判定結果を複数の実装基板5について部品実装位置毎に累積記憶する記憶手段となっており、表示処理部70f及びタッチパネル64は、実装基板5における部品実装位置を部品実装位置マップ79として視覚的に画像表示する部品実装位置マップ表示手段となっている。また統計処理部70d及び表示処理部70fは、部品実装位置マップ79上において部品実装位置毎に累積記憶された判定結果を表示する判定結果累積表示手段を構成する。   In the above configuration, the mounting failure accumulation data storage unit 75 is a storage unit that accumulates and stores the determination results for each component mounting position for a plurality of mounting boards 5, and the display processing unit 70 f and the touch panel 64 are the components on the mounting board 5. Component mounting position map display means for visually displaying the mounting position as a component mounting position map 79 is provided. The statistical processing unit 70d and the display processing unit 70f constitute a determination result accumulation display unit that displays the determination result accumulated and stored for each component mounting position on the component mounting position map 79.

部品実装位置マップ79上にて表示されるプロットマークPを作業員が選択すると、制御部68は当該プロットマークPにおける実装不良の詳細な情報を表示する実装不良詳細画像83をタッチパネル64に表示する。実装不良詳細画像83には、部品実装位置マップ79に表示された検査対象である実装基板5の品種を示す「基板No.」、多面取り基板の場合には当該部品実装位置が属するパターンを示す「パターンNo.」、選択した部品実装位置において実装された電子部品4の基板2における実装順序を示す「ブロックNo.」、選択した部品実装位置において電子部品4の実装作業を行った部品実装装置M3〜M5を示す「実装マシンNo.」、前記「実装マシンNo.」にて示された部品実装装置M3〜M5に備えられた複数の吸着ノズル52aのうち、選択した部品実装位置に実装された電子部品4の実装作業に用いられた吸着ノズル52aを示す「使用ノズルNo.」、選択した部品実装位置に実装された電子部品4を供給したテープフィーダ47を示す「供給フィーダNo.」、選択した部品実装位置における電子部品4の位置ずれや部品無し等、実装不良の具体的な内容を示す「不良内容」、及び「推定不良要因:下受けピンの配置不備」という文言が含まれる。   When the operator selects a plot mark P displayed on the component mounting position map 79, the control unit 68 displays a mounting defect detailed image 83 on the touch panel 64, which displays detailed information on the mounting defect in the plot mark P. . In the mounting failure detailed image 83, a “board No.” indicating the type of the mounting board 5 to be inspected displayed on the component mounting position map 79, and a pattern to which the component mounting position belongs in the case of a multi-sided board. “Pattern No.”, “Block No.” indicating the mounting order of the electronic component 4 mounted at the selected component mounting position on the substrate 2, and the component mounting apparatus that has performed the mounting operation of the electronic component 4 at the selected component mounting position Mounted at a selected component mounting position among the plurality of suction nozzles 52a provided in the component mounting apparatuses M3 to M5 indicated by “Mounting Machine No.” indicating M3 to M5 and “Mounting Machine No.”. “Use nozzle No.” indicating the suction nozzle 52a used for the mounting operation of the electronic component 4, and the tape cartridge supplied with the electronic component 4 mounted at the selected component mounting position. "Supply Feeder No." indicating the feeder 47, "Failure content" indicating the specific content of the mounting failure, such as misalignment of the electronic component 4 at the selected component mounting position or no component, etc., and "Estimated failure factor: subordinate It includes the phrase “incomplete pin placement”.

上述した実装不良詳細画像83のうち「不良内容」については、選択した部品実装位置における実装不良の内容は単位実装基板毎に異なる場合があるので、「部品位置ずれNG」、「部品無しNG」、「反転NG」、「極性NG」、「異物混入NG」の発生比率が円グラフとして表示される。これにより、各部品実装位置における実装不良の詳細を容易に把握することができる。また「推定不良要因:下受けピンの配置不備」の文言は、プロットマークPが表示された部品実装位置のうち、実装不良と判定された割合が、実装不良判定割合しきい値記憶部76に記憶されているしきい値を超えたと判断部70eが判断した部品実装位置に対して表示される。例えば、ある部品実装位置における実装不良の判定割合が41%を超えたと判断部70eが判断した場合、判断部70eはその判断結果を表示処理部70fに出力し、表示処理部70fが当該判断結果に基づきタッチパネル64に上記文言の表示処理を行う。なお、しきい値は作業員が任意に設定するようにしてもよい。   Regarding the “defect content” in the detailed mounting defect image 83 described above, since the content of the mounting defect at the selected component mounting position may be different for each unit mounting board, “component misalignment NG”, “no component NG”. , “Inversion NG”, “Polarity NG”, and “Foreign matter mixed NG” occurrence ratios are displayed as a pie chart. Thereby, it is possible to easily grasp the details of the mounting failure at each component mounting position. Further, the phrase “estimated failure factor: inadequate placement of the receiving pin” means that the proportion of component mounting positions where the plot mark P is displayed is determined to be mounting failure in the mounting failure determination rate threshold storage unit 76. Displayed for the component mounting position determined by the determination unit 70e that the stored threshold value has been exceeded. For example, when the determination unit 70e determines that the mounting failure determination ratio at a certain component mounting position exceeds 41%, the determination unit 70e outputs the determination result to the display processing unit 70f, and the display processing unit 70f outputs the determination result. Based on the above, the above-mentioned wording is displayed on the touch panel 64. The threshold value may be arbitrarily set by the worker.

上述のように、基板2に電子部品4を実装して実装基板5を製造する電子部品実装においては、複数の部品実装位置にて実装NGが発生し得る。また、部品実装位置毎における実装NGの発生頻度や不具合の具体的な内容も様々である。このような実装NGの発生は実装基板5の品質に重大な影響を及ぼすので、実装NGの発生割合が高い部品実装位置が発生した場合、作業員は実装NGとなった原因をつきとめて迅速な対策をとる必要がある。ここで、制御部68によって実装不良詳細画像83に推定不具合要因が表示されるのは、実装不良と判定された原因の一つとして下受けピン46の配置状態が適切ではないことが考えられるものの、経験の浅い作業員はその原因を容易に理解することができず、具体的な対策を講じることができない傾向にあり、上記文言の表示に接した作業者は速やかに下受けピン46の配置不備を考慮した対策をとることができる。以下、この下受けピン46の配置不備によって発生し得る実装不良の内容とその対策方法について説明する。   As described above, in electronic component mounting in which the electronic component 4 is mounted on the substrate 2 to manufacture the mounting substrate 5, mounting NG can occur at a plurality of component mounting positions. Also, the frequency of mounting NG at each component mounting position and the specific content of the defect are various. The occurrence of such mounting NG has a significant effect on the quality of the mounting board 5. Therefore, when a component mounting position with a high generation ratio of mounting NG occurs, the worker quickly identifies the cause of mounting NG. It is necessary to take measures. Here, the reason that the estimated defect factor is displayed in the mounting defect detailed image 83 by the control unit 68 is that the arrangement state of the receiving pins 46 is considered to be one of the causes determined to be mounting defects. An inexperienced worker cannot easily understand the cause and cannot take concrete measures, and an operator who comes in contact with the display of the above words promptly arranges the receiving pin 46. Measures can be taken in consideration of deficiencies. In the following, the contents of mounting failures that may occur due to the poor placement of the receiving pins 46 and countermeasures for them will be described.

図10(a)、(b)、(c)は、下受けピン46の配置不備によって実装NGが発生している状態の一例を示している。図10(a)にて図示する基板90は、複数の単位基板90aを単一基板に作り込んだ多面取り基板である。単位基板90aは分割スリット90bによって予め区分され、各単位基板90aは部分的に形成されたブリッジ部90cのみによって基板90の本体部と結合されている。   FIGS. 10A, 10 </ b> B, and 10 </ b> C show an example of a state in which mounting NG occurs due to improper placement of the receiving pins 46. The substrate 90 illustrated in FIG. 10A is a multi-sided substrate in which a plurality of unit substrates 90a are formed on a single substrate. The unit substrate 90a is divided in advance by dividing slits 90b, and each unit substrate 90a is coupled to the main body of the substrate 90 only by a partially formed bridge portion 90c.

図10(b)に示すように、基板90において単位基板90aの下面以外の箇所に下受けピン46を配置すると、単位基板90aがその自重によって凹状に撓む場合がある。ここで、吸着ノズル52aの単位基板90aに対する下降距離(矢印d)は撓みのないフラットな状態の基板を前提として定められているので、単位基板90aが凹状に撓んだ状態のまま電子部品4の実装を行うと、吸着ノズル52aに吸着された電子部品4は単位基板90a上に形成された電極90dとの間で撓み量分の隙間を有した状態で吸着ノズル52aによる吸着が解除され、その結果、位置ずれを起こして実装される事態が発生し得る。   As shown in FIG. 10 (b), when the receiving pins 46 are arranged on the substrate 90 at locations other than the lower surface of the unit substrate 90a, the unit substrate 90a may be bent into a concave shape by its own weight. Here, since the descending distance (arrow d) of the suction nozzle 52a with respect to the unit substrate 90a is determined on the assumption that the substrate is flat without deflection, the electronic component 4 remains in a state where the unit substrate 90a is bent in a concave shape. When the electronic component 4 is mounted, the electronic component 4 sucked by the suction nozzle 52a is released from the suction by the suction nozzle 52a with a gap corresponding to the amount of deflection between the electronic component 4 and the electrode 90d formed on the unit substrate 90a. As a result, there may occur a situation in which mounting is caused by a positional shift.

また図10(c)に示すように、単位基板90aが凹状に撓んでいない場合であっても、単位基板90aの下面が下受けピン46により支持されていない部品実装位置に電子部品4の実装を行うと、単位基板90aに対する電子部品4の下方への押圧力(矢印e)によって単位基板90aが凹状に撓み、この撓みに起因して電子部品4が位置ずれを起こして実装される事態が発生し得る。   Further, as shown in FIG. 10C, even when the unit substrate 90a is not bent into a concave shape, the electronic component 4 is mounted at a component mounting position where the lower surface of the unit substrate 90a is not supported by the lower receiving pins 46. In this case, the unit substrate 90a is bent in a concave shape by the downward pressing force of the electronic component 4 against the unit substrate 90a (arrow e), and the electronic component 4 is mounted with a positional shift due to the bending. Can occur.

このように、下受けピン46の配置が適切でないにも拘らず電子部品4の実装作業が続けられると、当該部品実装位置にて連続して実装不良が発生し得る。なお、下受けピン46の配置不備に起因する実装不良は、上記した基板90のような多面取り基板を用いた場合に限定されるものでなく、例えば極めて薄い樹脂製の基板に対して電子部品を実装する場合にも上記と同様のケースが生じ得る。   As described above, when the mounting operation of the electronic component 4 is continued even though the placement of the receiving pins 46 is not appropriate, mounting defects may continuously occur at the component mounting position. Note that the mounting failure due to the insufficient placement of the support pins 46 is not limited to the case where a multi-sided substrate such as the above-described substrate 90 is used. For example, an electronic component is formed on an extremely thin resin substrate. A case similar to the above can also occur when mounting.

制御部68によって実装不良詳細画像83上に「推定不具合要因:下受けピンの配置不備」との表示がなされたら、作業員は実装不良詳細画像83上の「実装マシンNo.」、「使用ノズルNo.」、「供給フィーダNo.」等に表示される内容に基づいて、配置不備の指摘を受けている下受けピン46が配置されている実装作業箇所を特定し、下受けピン46の実際の配置状況を確認する。下受けピン46の配置が適切でない場合には、作業員は下受けピン46の配置の変更を行い、必要に応じて図11に示すように下受けピン46Aを追加して挿入する。   When the control unit 68 displays “Estimated failure factor: insufficient placement of the receiving pin” on the mounting defect detail image 83, the worker displays “Mounting machine No.” and “Use nozzle” on the mounting defect detail image 83. No. ”,“ Supply Feeder No. ”, etc., the mounting work location where the receiving pin 46 that has been pointed out of inadequate placement is specified is identified, and the actual position of the receiving pin 46 is determined. Check the placement status. If the arrangement of the lower receiving pins 46 is not appropriate, the worker changes the arrangement of the lower receiving pins 46 and inserts additional lower receiving pins 46A as shown in FIG. 11 as necessary.

上記構成において、タッチパネル64及びその制御を行う制御部68は、判定手段において実装不良と判定された割合が所定の条件を満たした部品実装位置について、当該部品実装位置周辺のバックアップ支持部材の配置状況を確認する旨の報知を行う報知手段となっている。   In the above-described configuration, the touch panel 64 and the control unit 68 that controls the touch panel 64 are arranged with respect to the component mounting position in which the ratio determined to be mounting failure by the determination unit satisfies a predetermined condition, It is an informing means for informing that it is confirmed.

次に、実装部品検査の実行フローについて図12、図13を用いて説明する。まず、制御部68は実装不良の判定割合を算出するために必要となる所定枚数分の実装基板5の検査データを取得する(ST1)。この実装基板5の検査データ取得のための実行フローについて、図12を用いて説明する。   Next, a mounting component inspection execution flow will be described with reference to FIGS. First, the control unit 68 acquires inspection data of the predetermined number of mounting boards 5 necessary for calculating the mounting failure determination ratio (ST1). An execution flow for acquiring inspection data of the mounting board 5 will be described with reference to FIG.

図13に示すように、まず、機構制御部69が基板搬送コンベア61を制御することによって実装基板5を実装部品検査装置M6内に搬入する(ST11)。次いで、機構制御部69はヘッド移動機構62を駆動して実装状態検査ヘッド63を実装基板5上に移動させ、検査カメラ63aによって検査対象となる1つあるいは検査カメラ63aの撮像範囲に含まれる複数の部品実装位置を撮像することで実装基板5の実装部品画像を取得する(ST12)。即ち、実装状態検査ヘッド63は部品実装後の基板2において部品実装位置を撮像する撮像手段となっている。この実装部品画像を画像処理部70aによって画像処理し、この処理結果に基づいて良否検査部70bによって部品実装位置における実装状態の良否検査を行う(ST13)。   As shown in FIG. 13, first, the mechanism control unit 69 controls the board transport conveyor 61 to carry the mounting board 5 into the mounting component inspection apparatus M6 (ST11). Next, the mechanism control unit 69 drives the head moving mechanism 62 to move the mounting state inspection head 63 onto the mounting substrate 5, and the inspection camera 63a includes one or a plurality included in the imaging range of the inspection camera 63a. The mounting component image of the mounting substrate 5 is acquired by imaging the component mounting position (ST12). That is, the mounting state inspection head 63 serves as an imaging unit that images the component mounting position on the substrate 2 after component mounting. The mounted component image is subjected to image processing by the image processing unit 70a, and based on the processing result, the pass / fail inspection unit 70b performs a pass / fail inspection of the mounting state at the component mounting position (ST13).

そして、良否検査部70bによって部品実装位置の実装状態の良否を判定し(ST14)、実装不良と判定した場合、良否検査部70bは当該部品実装位置及び実装不良の内容を含めた実装基板5の検査データを統計処理部70dに出力する(ST15)。そして、制御部68は1枚の実装基板5における全ての部品実装位置についての良否検査が終了したか否かを判断し(ST16)、全ての部品実装位置についての良否検査が終了していなければ、(ST12)に戻って未だ良否検査を行っていない他の部品実装位置における実装部品画像を取得して同様の処理を実行する。そして、制御部68は全ての部品実装位置の検査についての良否検査が終了したと判断した場合、実装基板5を実装部品検査装置M6から搬出する(ST17)。搬出された実装基板5はカウント部70cによってカウントされ、検査済実装基板目標枚数記憶部74に記憶された所定枚数分の実装基板5についての検査データを統計処理部70dが取得したか否かが判断される(ST18)。所定枚数分に達していなければ(ST11)に戻って実装基板5の検査を続行する。このように実装基板5の検査処理を反復実行することで、統計処理部70dは所定枚数分の実装基板の検査データを取得する。   Then, the pass / fail inspection unit 70b determines whether the mounting state of the component mounting position is good (ST14). If it is determined that the mounting is defective, the pass / fail inspection unit 70b determines whether the mounting substrate 5 includes the component mounting position and the content of the mounting failure. The inspection data is output to the statistical processing unit 70d (ST15). Then, the control unit 68 determines whether or not the pass / fail inspection for all the component mounting positions on one mounting board 5 is completed (ST16), and if the pass / fail inspection for all the component mounting positions is not ended. Returning to (ST12), mounting component images at other component mounting positions that have not yet been checked for pass / fail are acquired and similar processing is executed. If the control unit 68 determines that the quality inspection for all component mounting positions has been completed, the control unit 68 carries the mounting board 5 out of the mounting component inspection apparatus M6 (ST17). The carried-out mounting board 5 is counted by the counting unit 70c, and whether or not the statistical processing unit 70d has acquired the inspection data for the predetermined number of mounting boards 5 stored in the inspected mounting board target number storage unit 74. Judgment is made (ST18). If the predetermined number of sheets has not been reached, the process returns to ST11 and the inspection of the mounting board 5 is continued. By repeatedly executing the inspection process of the mounting board 5 in this way, the statistical processing unit 70d acquires the inspection data of the predetermined number of mounting boards.

図12に示すように、カウント部70cは所定枚数分の実装基板5についての検査データを統計処理部70dが取得したと判断したならば、統計処理部70dに対して実装基板5の各部品実装位置における実装不良の判定割合を算出するよう指令を出す。この指令を受けて統計処理部70dは実装不良の判定割合を算出し(ST2)、算出した各部品実装位置における実装不良の判定割合、各部品実装位置の実装不良回数、各部品実装位置における実装不良の種類の割合を含め、統計処理した実装不良の累積データを実装不良累積データ記憶部75に出力し、実装不良累積データ記憶部75はこれを記憶する。そして、表示処理部70fは実装不良累積データ記憶部75に記憶されたデータに基づいて、部品実装位置を含めた実装基板5の画像を部品実装位置マップ79上に表示する。   As shown in FIG. 12, when the count unit 70c determines that the statistical processing unit 70d has acquired inspection data for a predetermined number of mounting boards 5, each component mounting of the mounting board 5 on the statistical processing unit 70d is performed. A command is issued to calculate a mounting failure determination ratio at the position. In response to this instruction, the statistical processing unit 70d calculates a mounting failure determination ratio (ST2), calculates the mounting failure determination ratio at each component mounting position, the number of mounting failures at each component mounting position, and the mounting at each component mounting position. The statistically processed mounting failure cumulative data including the proportion of types of failures is output to the mounting failure cumulative data storage unit 75, and the mounting failure cumulative data storage unit 75 stores this. Then, the display processing unit 70 f displays an image of the mounting board 5 including the component mounting position on the component mounting position map 79 based on the data stored in the mounting failure accumulation data storage unit 75.

そして作業員がタッチパネル64上に表示される累積表示ボタン80を操作すると、表示処理部70fは実装不良累積データ記憶部75に記憶されたデータを、プロットマークPを用いて部品実装位置マップ79上に表示処理する。そして作業員が部品実装位置マップ79上に表示されたプロットマークPを操作すると、上述した実装不良詳細画像83が表示処理部70fによってタッチパネル64上に表示処理される。   When the operator operates the cumulative display button 80 displayed on the touch panel 64, the display processing unit 70f uses the plot mark P to store the data stored in the mounting failure cumulative data storage unit 75 on the component mounting position map 79. Display processing. When the operator operates the plot mark P displayed on the component mounting position map 79, the above-described mounting failure detailed image 83 is displayed on the touch panel 64 by the display processing unit 70f.

この表示処理部70fによる実装不良詳細画像83の表示処理に際しては、判断部70eによってプロットマークPが表示された部品実装位置における実装不良の判定割合が所定のしきい値を超えているか否かが部品実装位置毎に判断され(ST3)、判断部70eがしきい値を超えていると判断した場合、判断結果は表示処理部70fに出力される。そして、表示処理部70fはこの判断結果を受けて実装不良詳細画像83にて推定不良要因を表示する処理を行う(ST4)。   In the display processing of the mounting failure detailed image 83 by the display processing unit 70f, it is determined whether or not the mounting failure determination ratio at the component mounting position where the plot mark P is displayed by the determination unit 70e exceeds a predetermined threshold value. When it is determined for each component mounting position (ST3) and the determination unit 70e determines that the threshold value is exceeded, the determination result is output to the display processing unit 70f. Then, the display processing unit 70f receives the determination result and performs a process of displaying the estimated failure factor in the mounting failure detailed image 83 (ST4).

実装不良詳細画像83上で上記文言の報知がなされたら、作業員は下受けピン46の配置不備の指摘を受けている部品実装装置M3〜M5における下受けピン46の配置状況を確認する。そして、作業員は状況に応じて下受けピン46を新たに追加して設定する等の措置をとる。実装部品検査を終え、不良が検出されなかった実装基板5は、下流側に接続されたリフロー装置91(図1参照)に搬入され、ここで実装基板5を加熱することにより基板2と電子部品4は半田接合される。   When the above-mentioned wording is notified on the mounting failure detailed image 83, the worker confirms the arrangement state of the receiving pins 46 in the component mounting apparatuses M3 to M5 that have been pointed out that the receiving pins 46 are not properly arranged. Then, the worker takes measures such as newly adding and setting the support pin 46 according to the situation. The mounting board 5 in which the mounting component inspection has been completed and no defect has been detected is carried into a reflow device 91 (see FIG. 1) connected to the downstream side, where the mounting board 5 is heated to thereby form the board 2 and the electronic component. 4 is soldered.

なお、部品実装ライン1においては設備面積の都合等により印刷状態検査装置M2が配設されない場合もあり得る。かかる場合、印刷状態の検査が行われないまま部品実装装置M3〜M5にて部品実装作業が行われるため、発生した実装不良の要因が部品実装装置M3〜M5での下受けピン46の配置不備ではなく、印刷装置M1での下受けピン26の配置不備によって生じたクリーム半田Ptの印刷不良に起因する場合もあり得る。したがって、印刷状態検査装置M2を含まない部品実装ライン1で製造された実装基板5の検査において上記推定不良要因の表示がなされた場合、印刷装置M1における下受けピン26の配置状況も併せて確認し、その不備が確認されたならば下受けピン26を新たに配置する等の措置をとる。   In the component mounting line 1, the printing state inspection device M2 may not be provided due to the convenience of the equipment area. In such a case, since the component mounting operation is performed in the component mounting apparatuses M3 to M5 without performing the inspection of the printing state, the cause of the mounting failure that has occurred is inadequate arrangement of the receiving pins 46 in the component mounting apparatuses M3 to M5. Instead, it may be caused by printing failure of the cream solder Pt caused by improper arrangement of the receiving pins 26 in the printing apparatus M1. Therefore, when the above-mentioned estimated failure factor is displayed in the inspection of the mounting board 5 manufactured by the component mounting line 1 that does not include the printing state inspection device M2, the arrangement state of the receiving pins 26 in the printing device M1 is also confirmed. If the deficiency is confirmed, measures such as newly arranging the receiving pin 26 are taken.

上記構成において、印刷装置M1、部品実装装置M3〜M5は、バックアップ支持部材により下面2aが支持された基板2の当該基板2上に設定された複数の部品実装位置に対して部品実装のための作業を行う部品実装用装置となっている。そして実装部品検査装置M6は、部品実装用装置を含む部品実装システムにより実装された実装基板5を対象として実装状態の検査を行う。   In the above configuration, the printing device M1 and the component mounting devices M3 to M5 are for mounting components at a plurality of component mounting positions set on the substrate 2 of the substrate 2 whose lower surface 2a is supported by the backup support member. It is a component mounting device that performs work. The mounting component inspection apparatus M6 inspects the mounting state of the mounting substrate 5 mounted by the component mounting system including the component mounting apparatus.

そして、バックアップ支持部材により下面が支持された基板の当該基板上に設定された複数の部品実装位置に対して部品実装のための作業を行う部品実装用装置を含む部品実装システムにより実装作業が行われた部品実装済み基板を対象として実装状態の検査を行う実装部品検査方法においては、部品実装後の基板において部品実装位置を撮像する撮像工程と、撮像工程における撮像結果に基づいて実装状態の良否を判定して判定結果を出力する判定工程と、判定結果を複数の基板について部品実装位置毎に累積記憶する記憶工程と、基板における部品実装位置を部品実装位置マップとして視覚的に画像表示する部品実装位置マップ表示工程と、部品実装位置マップ上において部品実装位置毎に累積記憶された判定結果を表示する判定結果累積表示工程と、判定工程において実装不良と判定された割合が所定の条件を満たしたか否かを部品実装位置毎に判断する判断工程と、判断手段において実装不良と判定された割合が所定の条件を満たしたと判断された部品実装位置について、当該部品実装位置の近傍の計測点の設定状況を確認する旨の報知を行う報知工程を含む形態となっている。   Then, the mounting operation is performed by a component mounting system including a component mounting apparatus that performs a component mounting operation on a plurality of component mounting positions set on the substrate whose lower surface is supported by the backup support member. In the mounting component inspection method for inspecting the mounting state of a broken component-mounted board, the mounting state is imaged based on the imaging process of imaging the component mounting position on the board after mounting the component and the imaging result in the imaging process. A determination step of determining the output and outputting a determination result, a storage step of accumulating the determination results for each component mounting position for a plurality of substrates, and a component that visually displays the component mounting position on the substrate as a component mounting position map The mounting position map display process and the determination result accumulation that displays the determination result accumulated and stored for each component mounting position on the component mounting position map. A display step, a determination step for determining, for each component mounting position, whether or not a ratio determined as a mounting defect in the determination step satisfies a predetermined condition, and a ratio determined as a mounting defect in the determination unit satisfies a predetermined condition. For the component mounting position that is determined to be satisfied, a notification step of notifying that the setting state of the measurement points near the component mounting position is confirmed is included.

これにより、部品実装分野での経験が浅い作業員でも実装不良の具体的な原因を容易且つ迅速に理解し、下受けピン26,46の配置不備が指摘された部品実装位置周辺に対して下受けピン26,46を新たに追加する等の措置を速やかにとることができる。その結果、実装不良基板の発生を抑制して実装基板の生産性を向上せさることができる。   As a result, even a worker who has little experience in the component mounting field can easily and quickly understand the specific cause of the mounting failure, and lower the position around the component mounting position where the poor placement of the receiving pins 26 and 46 is pointed out. Measures such as newly adding the receiving pins 26 and 46 can be taken promptly. As a result, it is possible to improve the productivity of the mounting substrate by suppressing the generation of the mounting defective substrate.

そして実装不良の発生傾向を分析することにより,実装不良の発生要因を実証的データに基づいて推定して、下受けピン26,46をより適正に設定することが可能となる。すなわち実装部品検査において求められた検査結果情報を有効に活用し、部品実装状態検査の有用性を向上させることができる。   Then, by analyzing the tendency of occurrence of mounting defects, it is possible to estimate the cause of mounting defects based on empirical data and set the receiving pins 26 and 46 more appropriately. That is, it is possible to effectively utilize the inspection result information obtained in the mounting component inspection, and to improve the usefulness of the component mounting state inspection.

前述した本実施の形態では、実装不良詳細画像83における推定不良要因の表示は、プロットマークPが表示された部品実装位置において実装不良と判定された割合が所定の条件を満たした場合に行うようにしているが、実装不良と判定された回数が所定の条件を満たした場合に行うようにしてもよい。つまり、検査済み実装基板5の枚数が検査済実装基板目標枚数記憶部74に記憶された枚数に達したとカウント部70cが判断したならば、統計処理部70dによって統計処理された各部品実装位置における実装不良と判定された回数が所定のしきい値を超えているか否かを判断部70eが判断し、所定のしきい値を超えていると判断したならば、表示処理部70fは実装不良詳細画像83にて上記推定不良要因を表示する処理を行う。即ち、本発明における判定手段(判定工程)は、実装不良と判定された割合又は回数が所定の条件を満たしたか否かを部品実装位置毎に判断するよう構成され、また報知手段(報知工程)は、判断手段(判定工程)において実装不良と判定された割合又は回数が所定の条件を満たしたと判断された部品実装位置について、当該部品実装位置の近傍の計測点の設定状況を確認する旨の報知を行うよう構成される。   In the present embodiment described above, the display of the estimated failure factor in the mounting failure detailed image 83 is performed when the ratio determined to be mounting failure at the component mounting position where the plot mark P is displayed satisfies a predetermined condition. However, it may be performed when the number of times determined as mounting failure satisfies a predetermined condition. That is, if the count unit 70c determines that the number of inspected mounting boards 5 has reached the number stored in the inspected mounting board target number storage unit 74, each component mounting position statistically processed by the statistical processing unit 70d. The determination unit 70e determines whether or not the number of times the mounting failure is determined exceeds the predetermined threshold value. If the determination unit 70e determines that the mounting threshold value is exceeded, the display processing unit 70f The detailed image 83 is used to display the estimated failure factor. That is, the determination means (determination step) according to the present invention is configured to determine, for each component mounting position, whether or not the ratio or the number of times determined as mounting failure satisfies a predetermined condition, and also provides notification means (notification step). Is for confirming the setting status of the measurement points in the vicinity of the component mounting position for the component mounting position where it is determined that the ratio or the number of times determined as defective mounting in the determining means (determination step) satisfies a predetermined condition. It is configured to perform notification.

本発明の実装部品検査装置および実装部品検査方法は、実装部品検査において求められた検査結果情報を有効に活用してバックアップ支持部材の配置不備を是正し、実装部品検査の有用性を向上させることができるという効果を有し、基板に実装された部品の実装状態を検査する分野に有用である。   The mounting component inspection apparatus and the mounting component inspection method of the present invention can effectively utilize the inspection result information obtained in the mounting component inspection to correct the placement defect of the backup support member and improve the usability of the mounting component inspection. This is useful in the field of inspecting the mounting state of components mounted on a board.

2 基板
4 電子部品
5 実装基板
26,46 下受けピン
63 実装状態検査ヘッド
68 制御部
70 検査処理部
70a 画像処理部
70b 良否検査部
70c カウント部
70d 統計処理部
70e 判断部
70f 表示処理部
75 実装不良累積データ記憶部
79 部品実装位置マップ
83 実装不良詳細画像
M3〜M5 部品実装装置
M6 実装部品検査装置
2 Substrate 4 Electronic component 5 Mounting substrate 26, 46 Bottom receiving pin 63 Mounting state inspection head 68 Control unit 70 Inspection processing unit 70a Image processing unit 70b Pass / fail inspection unit 70c Count unit 70d Statistical processing unit 70e Judgment unit 70f Display processing unit 75 Mounting Defect accumulation data storage unit 79 Component mounting position map 83 Detailed mounting defect image M3 to M5 Component mounting device M6 Mounting component inspection device

Claims (2)

バックアップ支持部材により下面が支持された基板の当該基板上に設定された複数の部品実装位置に対して部品実装のための作業を行う部品実装用装置を含む部品実装システムにより実装作業が行われた部品実装済み基板を対象として実装状態の検査を行う実装部品検査装置であって、
部品実装後の基板において部品実装位置を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段による撮像結果に基づいて実装状態の良否を判定して判定結果を出力する判定手段と、
前記判定結果を複数の部品実装済み基板について部品実装位置毎に累積記憶する記憶手段と、
部品実装済み基板における部品実装位置を部品実装位置マップとして視覚的に画像表示する部品実装位置マップ表示手段と、
前記部品実装位置マップ上において部品実装位置毎に累積記憶された判定結果を表示する判定結果累積表示手段と、
前記判定手段において実装不良と判定された割合又は回数が所定の条件を満たしたか否かを部品実装位置毎に判断する判断手段と、
前記判断手段において実装不良と判定された割合又は回数が所定の条件を満たしたと判断された部品実装位置について、当該部品実装位置の周辺のバックアップ支持部材の配置状況を確認する旨の報知を行う報知手段を備えたことを特徴とする実装部品検査装置。
The mounting operation was performed by a component mounting system including a component mounting apparatus that performs a component mounting operation on a plurality of component mounting positions set on the substrate whose lower surface is supported by the backup support member. A mounting component inspection apparatus for inspecting a mounting state on a component-mounted board,
Imaging means for imaging the component mounting position on the substrate after component mounting;
A determination unit that determines the quality of the mounting state based on an imaging result of the imaging unit and outputs a determination result;
Storage means for accumulating and storing the determination results for each component mounting position for a plurality of component mounted boards;
Component mounting position map display means for visually displaying the component mounting position on the component mounted board as a component mounting position map;
Determination result accumulation display means for displaying the determination result accumulated and stored for each component mounting position on the component mounting position map;
A determination unit that determines, for each component mounting position, whether or not the ratio or the number of times determined as mounting failure in the determination unit satisfies a predetermined condition;
Notification for notifying the component mounting position where it is determined that the ratio or the number of times determined as defective mounting satisfies the predetermined condition in the determination means to confirm the arrangement status of the backup support members around the component mounting position A mounting component inspection apparatus characterized by comprising means.
バックアップ支持部材により下面が支持された基板の当該基板上に設定された複数の部品実装位置に対して部品実装のための作業を行う部品実装用装置を含む部品実装システムにより実装作業が行われた部品実装済み基板を対象として実装状態の検査を行う実装部品検査方法であって、
部品実装後の基板において部品実装位置を撮像する撮像工程と、
前記撮像工程における撮像結果に基づいて実装状態の良否を判定して判定結果を出力する判定工程と、
前記判定結果を複数の部品実装済み基板について部品実装位置毎に累積記憶する記憶工程と、
部品実装済み基板における部品実装位置を部品実装位置マップとして視覚的に画像表示する部品実装位置マップ表示工程と、
前記部品実装位置マップ上において部品実装位置毎に累積記憶された判定結果を表示する判定結果累積表示工程と、
前記判定工程において実装不良と判定された割合又は回数が所定の条件を満たしたか否かを部品実装位置毎に判断する判断工程と、
前記判断工程において実装不良と判定された割合又は回数が所定の条件を満たしたと判断された部品実装位置について、当該部品実装位置の周辺のバックアップ支持部材の配置状況を確認する旨の報知を行う報知工程を含むことを特徴とする実装部品検査方法。
The mounting operation was performed by a component mounting system including a component mounting apparatus that performs a component mounting operation on a plurality of component mounting positions set on the substrate whose lower surface is supported by the backup support member. A mounting component inspection method for inspecting a mounting state on a component-mounted board,
An imaging process for imaging the component mounting position on the substrate after component mounting;
A determination step of determining the quality of the mounting state based on the imaging result in the imaging step and outputting the determination result;
A storage step of accumulating and storing the determination result for each component mounting position for a plurality of component-mounted boards,
A component mounting position map display step for visually displaying a component mounting position on a component mounted board as a component mounting position map;
A determination result accumulation display step of displaying a determination result accumulated and stored for each component mounting position on the component mounting position map;
A determination step of determining, for each component mounting position, whether or not the ratio or number of times determined as mounting failure in the determination step satisfies a predetermined condition;
Notification for notifying the component mounting position where it is determined that the ratio or the number of times determined as mounting failure in the determining step satisfies a predetermined condition to confirm the arrangement status of the backup support members around the component mounting position The mounting component inspection method characterized by including a process.
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