JP2013026914A - 画像処理装置、画像形成装置およびプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】スクリーン処理が施された二値の画像データにおける連続したオン画素により構成される設定された幅以下の細線であるオン画素細線および連続したオフ画素により構成される設定された幅以下の細線であるオフ画素細線を、本構成を有していない場合と比較して正確に判定する。
【解決手段】
ポジ細線判定部４１は、二値の入力画像データの各画素について、オン画素かつ左右方向または上下方向に連続するオン画素の数が予め設定された数以下かつ判定領域内のオン画素数が第１の閾値以上である画素をポジ細線の画素と判定する。ネガ細線判定部４２は、二値の入力画像データの各画素について、オフ画素かつ左右方向または上下方向に連続するオフ画素の数が予め設定された数以下かつ判定領域内のオン画素数が第２の閾値以上かつ判定領域内のオフ画素数が第３の閾値以上である画素をネガ細線の画素と判定する。
【選択図】図３

Description

本発明は、画像処理装置、画像形成装置およびプログラムに関する。

特許文献１には、多値の画像データに対してスクリーン処理を施す場合に、エッジ部の画素に対して高線数スクリーン処理を施し、非エッジ部の画素に対して低線数スクリーン処理を施す技術が開示されている。

また、特許文献２には、背景より低濃度の線であるネガ線およびエッジ部が抽出された多値の画像データに対して、ネガ線と隣接していない画素に対して再度エッジ判定を行い、ネガ線と隣接していないエッジ部の画素には高線数スクリーン処理を施し、それ以外の画素には低線数スクリーン処理を施す技術が開示されている。

特開２００６−２６２２０４号公報 特開２０１０−２４５５９１号公報

本発明の目的は、スクリーン処理が施された二値の画像データにおける連続したオン画素により構成される設定された幅以下の細線であるオン画素細線および連続したオフ画素により構成される設定された幅以下の細線であるオフ画素細線を、本構成を有していない場合と比較して正確に判定することができる画像処理装置、画像形成装置およびプログラムを提供することである。

[画像処理装置]
請求項１に係る本発明は、スクリーン処理が施された二値の画像データの各画素に対して、エッジを構成する画素であるか否かを判定してエッジ部の画素を検出するエッジ検出手段と、
前記画像データを構成する画素のうちの１つを順次注目画素として選択し、該注目画素がオン画素であり、該注目画素を含めて左右方向または上下方向に連続するオン画素の数である連続オン画素数が予め設定されている数以下であり、予め設定されている範囲の判定領域内のオン画素数が予め設定された第１の閾値以上である場合に、該注目画素を連続するオン画素により構成される幅が前記連続オン画素数の細線であるオン画素細線の画素と判定するオン画素細線判定手段と、
前記画像データを構成する画素のうちの１つを順次注目画素として選択し、該注目画素がオフ画素であり、該注目画素を含めて左右方向または上下方向に連続するオフ画素の数である連続オフ画素数が予め設定されている数以下であり、予め設定されている範囲の判定領域内のオン画素数が予め設定された第２の閾値以上かつ該判定領域内のオフ画素数が予め設定された第３の閾値以上である場合に、該注目画素を連続するオフ画素により構成される幅が前記連続オフ画素数の細線であるオフ画素細線の画素と判定するオフ画素細線判定手段と、
前記エッジ検出手段により検出されたエッジ部の画素のうち、前記オン画素細線判定手段により判定されたオン画素細線および前記オフ画素細線判定手段により判定されたオフ画素細線を構成していない画素に対してオン画素数を変更するように変換するオン画素変換手段と、
を有する画像処理装置である。

請求項２に係る本発明は、前記第１の閾値は前記連続オン画素数に基づいて設定され、
前記第２の閾値および前記第３の閾値は前記連続オフ画素数に基づいて設定される請求項１記載の画像処理装置である。

請求項３に係る本発明は、前記判定領域は前記連続オン画素数または前記連続オフ画素数に基づいて範囲が設定される請求項１または２記載の画像処理装置である。

[画像形成装置]
請求項４に係る本発明は、スクリーン処理が施された二値の画像データの各画素に対して、エッジを構成する画素であるか否かを判定してエッジ部の画素を検出するエッジ検出手段と、
前記画像データを構成する画素のうちの１つを順次注目画素として選択し、該注目画素がオン画素であり、該注目画素を含めて左右方向または上下方向に連続するオン画素の数である連続オン画素数が予め設定されている数以下であり、予め設定されている範囲の判定領域内のオン画素数が予め設定された第１の閾値以上である場合に、該注目画素を連続するオン画素により構成される幅が前記連続オン画素数の細線であるオン画素細線の画素と判定するオン画素細線判定手段と、
前記画像データを構成する画素のうちの１つを順次注目画素として選択し、該注目画素がオフ画素であり、該注目画素を含めて左右方向または上下方向に連続するオフ画素の数である連続オフ画素数が予め設定されている数以下であり、予め設定されている範囲の判定領域内のオン画素数が予め設定された第２の閾値以上かつ該判定領域内のオフ画素数が予め設定された第３の閾値以上である場合に、該注目画素を連続するオフ画素により構成される幅が前記連続オフ画素数の細線であるオフ画素細線の画素と判定するオフ画素細線判定手段と、
前記エッジ検出手段により検出されたエッジ部の画素のうち、前記オン画素細線判定手段により判定されたオン画素細線および前記オフ画素細線判定手段により判定されたオフ画素細線を構成していない画素に対してオン画素数を変更するように変換するオン画素変換手段と、
前記オン画素変換手段により変換された画像データを出力する出力手段と、
を有する画像形成装置である。

[プログラム]
請求項５に係る本発明は、スクリーン処理が施された二値の画像データの各画素に対して、エッジを構成する画素であるか否かを判定してエッジ部の画素を検出するステップと、
前記画像データを構成する画素のうちの１つを順次注目画素として選択し、該注目画素がオン画素であり、該注目画素を含めて左右方向または上下方向に連続するオン画素の数である連続オン画素数が予め設定されている数以下であり、予め設定されている範囲の判定領域内のオン画素数が予め設定された第１の閾値以上である場合に、該注目画素を連続するオン画素により構成される幅が前記連続オン画素数の細線であるオン画素細線の画素と判定するステップと、
前記画像データを構成する画素のうちの１つを順次注目画素として選択し、該注目画素がオフ画素であり、該注目画素を含めて左右方向または上下方向に連続するオフ画素の数である連続オフ画素数が予め設定されている数以下であり、予め設定されている範囲の判定領域内のオン画素数が予め設定された第２の閾値以上かつ該判定領域内のオフ画素数が予め設定された第３の閾値以上である場合に、該注目画素を連続するオフ画素により構成される幅が前記連続オフ画素数の細線であるオフ画素細線の画素と判定するステップと、
検出されたエッジ部の画素のうち、オン画素細線およびオフ画素細線を構成していない画素に対してオン画素数を変更するように変換するステップと、
をコンピュータに実行させるためのプログラムである。

請求項１に係る本発明によれば、スクリーン処理が施された二値の画像データにおける連続したオン画素により構成される設定された幅以下の細線であるオン画素細線および連続したオフ画素により構成される設定された幅以下の細線であるオフ画素細線を、本構成を有していない場合と比較して正確に判定することができる画像処理装置を提供することができる。

請求項２に係る本発明によれば、請求項１により得られる効果に加えて、オン画素細線およびオフ画素細線をその線幅に応じてより正確に判定することができる。

請求項３に係る本発明によれば、請求項１または２により得られる効果に加えて、オン画素細線およびオフ画素細線をその線幅に応じてより正確に判定することができる。

請求項４に係る本発明によれば、スクリーン処理が施された二値の画像データにおける連続したオン画素により構成される設定された幅以下の細線であるオン画素細線および連続したオフ画素により構成される設定された幅以下の細線であるオフ画素細線を、本構成を有していない場合と比較して正確に判定することができる画像形成装置を提供することができる。

請求項５に係る本発明によれば、スクリーン処理が施された二値の画像データにおける連続したオン画素により構成される設定された幅以下の細線であるオン画素細線および連続したオフ画素により構成される設定された幅以下の細線であるオフ画素細線を、本構成を有していない場合と比較して正確に判定することができるプログラムを提供することができる。

本発明の一実施形態の印刷システムを示す図である。 本発明の一実施形態における画像形成装置１のハードウェア構成を示すブロック図である。 本発明の一実施形態における画像処理装置４の機能構成を示すブロック図である。 本発明の一実施形態の画像処理装置４における全体の処理の流れを示すフローチャートである。 本発明の一実施形態のエッジ検出部４３におけるエッジ検出の流れを示すフローチャートである。 本発明の一実施形態のポジ細線判定部４１におけるポジ線を判定する流れを示すフローチャートである。 本発明の一実施形態における注目画素周辺の各行の画素および各列の画素を示す図である。 本発明の一実施形態における連続オン画素５２の一例を示す図である。 本発明の一実施形態のポジ細線判定におけるオン画素閾値の一例を示す図である。 本発明の一実施形態のポジ細線判定における条件の一例を表に表した図である。 本発明の一実施形態におけるポジ細線の画素と判定された場合のポジ細線情報の一例を示す図である。 本発明の一実施形態におけるポジ細線の画素と判定されなかった場合のポジ細線情報の一例を示す図である。 本発明の一実施形態のネガ細線判定部４２におけるネガ線を判定する流れを示すフローチャートである。 本発明の一実施形態における連続オフ画素の一例を示す図である。 本発明の一実施形態のネガ細線判定におけるオン画素閾値およびオフ画素閾値の一例を示す図である。 本発明の一実施形態のネガ細線判定における条件の一例を表で表した図である。 本発明の一実施形態におけるネガ細線の画素と判定された場合のネガ細線情報の一例を示す図である。 本発明の一実施形態におけるネガ細線の画素と判定されなかった場合のネガ細線情報の一例を示す図である。

[背景]
まず、本発明の理解を助けるために、本発明が発明されるに至った背景について説明する。

電子写真において、文字や線を用紙に出力する場合、ドットゲイン等の影響によって、元の画像や潜像データよりも実際に用紙に出力された文字や線が太ってしまうという課題があった。

上記の課題に対して、例えば、特許文献１に記載されているようにエッジの検出を行い、エッジ部の濃度を薄くすることで、用紙に出力した際に文字や線の線幅を調整する補正が行われている。

しかし、ある一定の線幅以下の線である細線のうち、背景より高濃度であるポジ細線に対して濃度を薄くするように調整する場合、このポジ細線がかすれてしまうという問題があった。また、背景より低濃度であるネガ細線の白抜き部分がぼやけてしまうというような問題があった。

そこで、特許文献２では、ポジ細線およびネガ細線に対しては濃度を変更することなくポジ細線およびネガ細線以外のエッジ部のみの濃度を変更するという技術が開示されている。

一方、上記の技術は、多値の画像データに対しては問題ないが、スクリーン処理が施された二値画像データとなると正確にポジ細線およびネガ細線を検出することができなかった。なぜなら、スクリーン済みの画像データでは、ハーフトーンなどの網点や汚れなどによる孤立点もポジ細線またはネガ細線と判定されてしまう恐れがあるためである。

従って、スクリーン処理が施された二値の画像データにおけるポジ細線およびネガ細線を精度よく判定する技術が求められていた。

[実施形態]
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。

図１は本発明の一実施形態の画像形成システムを示す図である。

本実施形態における画像形成装置１は、ネットワーク３を介して端末装置２と接続されている。画像形成装置１は、端末装置２からネットワーク３を介して送信されてきた画像データ、および図示しない光学的に画像を読み取るプリンタなどの読み取り装置から送信されてきた画像データを用紙に印刷する。また、本実施形態において、画像形成装置１には、内部に画像処理装置が設置されている。

次に、画像形成装置１のハードウェアの構成を図２を参照して詳細に説明する。

画像形成装置１は、図２に示されるように、ＣＰＵ１１、メモリ１２、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）等の記憶装置１３、ネットワーク３を介して外部の装置等との間でデータの送信及び受信を行う通信インタフェース（ＩＦ）１４、タッチパネル又は液晶ディスプレイ並びにキーボードを含むユーザインタフェース（ＵＩ）装置１５、スキャナ１６、プリンタ１７を有する。これらの構成要素は、制御バス１８を介して互いに接続されている。

ＣＰＵ１１は、メモリ１２または記憶装置１３に格納された制御プログラムに基づいて所定の処理を実行して、画像形成装置１に設置された画像形成装置の動作を制御する。なお、本実施形態では、ＣＰＵ１１は、メモリ１２または記憶装置１３内に格納された制御プログラムを読み出して実行するものとして説明したが、当該プログラムをＣＤ−ＲＯＭ等の記憶媒体に格納してＣＰＵ１１に提供することも可能である。

図３は、上記の制御プログラムが実行されることにより実現される画像形成装置１内の画像処理装置４の機能構成を示すブロック図である。

画像処理装置４は、図４に示されるように、ポジ細線判定部４１、ネガ細線判定部４２、エッジ検出部４３、ハーフトーン検知部４４、データ処理部４５、オン画素変換部４６を有する。そして、オン画素変換部４６によりオン画素変換が行われた画像データを用紙に出力するプリンタ１７が画像処理装置４と接続されている。なお、本実施形態において画像処理装置４は、画像形成装置１の内部に設置されているものとして説明するが、本発明はこのような構成に限定されず、画像形成装置１から独立させるようにしてもよい。

以下、画像形成装置１はスクリーン処理が施された二値の画像データを受信し、この画像データが入力画像データとして画像処理装置４に入力されたものとして説明する。

ポジ細線判定部４１は、入力画像データの画素のうちの１つを順次注目画素として選択し、この注目画素がオン画素であり、この注目画素を含めて左右方向または上下方向に連続するオン画素の数である連続オン画素数が４つ以下であり、連続オン画素数に基づいて設定される範囲の判定領域内のオン画素数が第１の閾値以上である場合に、この注目画素を幅が連続オン画素数分のポジ細線（オン画素細線）の画素と判定する。ここで、ポジ細線とは、連続するオン画素により構成される連続オン画素数の細線のことである。

また、ポジ細線判定部４１において、第１の閾値および判定領域は連続オン画素数に基づいて設定される。そして、ポジ細線判定部４１は、入力画像データの各画素についてポジ細線の画素であるか否かを示す情報であるポジ細線情報を生成する。

ネガ細線判定部４２は、入力画像データの画素のうちの１つを順次注目画素として選択し、この注目画素がオフ画素であり、この注目画素を含めて左右方向または上下方向に連続するオフ画素の数である連続オフ画素数が４つ以下であり、連続オフ画素数に基づいて設定される範囲の判定領域内のオン画素数が第２の閾値以上かつ判定領域内のオフ画素数が第３の閾値以上である場合に、この注目画素を幅が連続オフ画素数分のネガ細線（オフ画素細線）の画素と判定する。ここで、ネガ細線とは、連続するオフ画素により構成される幅が連続オフ画素数の細線のことである。

また、ネガ細線判定部４２において、第２の閾値、第３の閾値および判定領域は、連続オフ画素数に基づいて設定される。そして、ネガ細線判定部４２は、入力画像データの各画素についてネガ細線の画素であるか否かを示す情報であるネガ細線情報を生成する。

エッジ検出部４３は、入力画像データの各画素に対して、エッジを構成する画素であるか否かを判定してエッジ部の画素を検出する。そして、エッジ検出部４３は、入力画像データの各画素についてエッジ部であるか否かを示す情報であるエッジ情報を生成する。

ハーフトーン検知部４４は、入力画像データにおける白い背景と黒点の面積比で表現される中間階調（ハーフトーン）の領域を検知する。そして、ハーフトーン検知部４４は、入力画像データの各画素についてハーフトーンの領域であるか否かを示すハーフトーン情報を生成する。

データ処理部４５は、ポジ細線情報、ネガ細線情報、エッジ情報およびハーフトーン情報に基づいて、オン画素変換部４６に対して入力画像データの変換を指示する。ここで、データ処理部４５は、ハーフトーンの領域ではなく、かつエッジ部のうち、ポジ細線およびネガ細線と判定されていない画素のオン画素数を変更するようにオン画素変換部４６に指示する。

オン画素変換部４６は、データ処理部４５からの指示に基づいて入力画像データのオン画素を変換する。ここで、オン画素変換部４６は、オン画素により構成されるエッジである黒エッジ部に対してはオン画素を減らすように変換し、オフ画素により構成されるエッジである白エッジ部に対してはオン画素を追加するように変換する。

次に、本実施形態の画像処理装置４の動作を図面を参照して詳細に説明する。

まず、画像処理装置４の動作の全体的な流れを図４を参照して説明する。

まず、ハーフトーン検知部４４は、入力画像データにおけるハーフトーンの領域を検知してハーフトーン情報を生成する（ステップＳ１０1）。

次に、エッジ検出部４３は、入力画像データの各画素に対して、エッジを構成する画素であるか否かを判定してエッジ部の画素を検出してエッジ情報を生成する（ステップＳ１０２）。エッジ部の検出方法の詳細は後述する。

そして、ポジ細線判定部４１およびネガ細線判定部４２は、入力画像データにおけるポジ細線およびネガ細線を判定して、ポジ細線情報およびネガ細線情報を生成する（ステップＳ１０３、ステップＳ１０４）。ポジ細線の判定方法およびネガ細線の判定方法についても後述する。

次に、データ処理部４５は、ステップＳ１０１〜ステップＳ１０４における処理で得られたハーフトーン情報、エッジ情報、ポジ細線情報およびネガ細線情報に基づいて、ハーフトーンではなく、かつエッジ部である画素のうち、ポジ細線ではない画素およびネガ細線ではない画素のオン画素数を変更するようオン画素変換部４６に指示する（ステップＳ１０５）。

最後に、オン画素変換部４６は、画像データに対してデータ処理部４５からの指示に基づいて、ハーフトーンではなく、かつポジ細線およびネガ細線と判定されていないエッジ部うち、オン画素により構成されるエッジである黒エッジに対してはオン画素を減らすように変換し、オフ画素により構成されるエッジである白エッジに対してはオン画素を追加するように変更する（ステップＳ１０６）。

次に、ステップＳ１０２におけるエッジ検出方法を図５を参照して詳細に説明する。

まず、エッジ検出部４３は、入力画像データの画素のうち１つを注目画素として選択する（ステップＳ２０１）。

そして、注目画素の近傍８画素のオン画素の配置パターンが予め設定されたパターンと一致する場合には、ステップＳ２０３に進み、注目画素の近傍８画素のオン画素の配置パターンが予め設定されたパターンと一致しない場合には、ステップＳ２０４に進む（ステップＳ２０２）。

次に、ステップＳ２０２において、注目画素の近傍８画素のオン画素の配置パターンが予め設定されたパターンと一致すると判定された場合は、エッジ検出部４３は、この注目画素がエッジ部の画素であると判定する（ステップＳ２０３）。また、エッジ検出部４３は、注目画素として選択された画素がエッジ部であるか否かを示すエッジ情報を生成する。

そして、エッジ検出部４３は、入力画像データ中に注目画素として選択されていない画素があるか否かを判定する（ステップＳ２０４）。ここで、注目画素として選択されていない画素がまだある場合は、エッジ検出部４３は、ステップＳ２０１に戻り上記の処理によってエッジ部を検出していく。そして、入力画像データの全ての画素についてエッジ判定が行われてエッジ情報が生成された場合には、エッジ検出部４３は、エッジ検出の処理を終了する。

なお、本実施形態では、注目画素の近傍８画素のオン画素の配置パターンが予め設定されたパターンと一致するか否かを判定することによってエッジが検出されるものとして説明したが、本発明においては、エッジ部が検出される方法であれば上記の方法に限定されるものではない。例えば、注目画素の近傍８画素のオン画素数が予め設定されている閾値以上であるか否かを判定して閾値以上である場合にはエッジ部と判定するようにしてもよい。

次に、ステップＳ１０３におけるポジ細線判定方法を図６を参照して詳細に説明する。

まず、ポジ細線判定部４１は、入力画像データのうちの１つの画素を順次注目画素として選択する（ステップＳ３０１）。ここで、ポジ細線判定部４１は、図７に示されるような９行×９列画素の画像データのうちの４１番目の画素を注目画素５１として選択したものとする。ここで、図７は、以後の処理の理解を助けるために、入力画像データのうち、注目画素を中心とする９行×９列の領域の各行、各列および各画素に番号が振られている図である。

次に、ポジ細線判定部４１は、選択された注目画素がオン画素かオフ画素かを判定する（ステップＳ３０２）。ここで、注目画素５１がオン画素である場合はステップＳ３０３に進み、注目画素がオフ画素である場合はステップＳ３０７に進む。

次に、ポジ細線判定部４１は、注目画素５１を含めて左右方向または上下方向に連続するオン画素の数が４つ以下か否かを判定する（ステップＳ３０３）。ここで、左右方向または上下方向の連続するオン画素の数が４つ以下である場合にはステップＳ３０４に進み、左右方向および上下方向ともに連続するオン画素の数が４つより多い場合はステップＳ３０７に進む。

次に、ポジ細線判定部４１は、第１の閾値および判定領域を設定する（ステップＳ３０３）。

このステップＳ３０３において、ポジ細線判定部４１は、図８（Ａ）に示されるように、注目画素５１を含めた連続するオン画素５２が１つの場合、図９に示される１ドット幅のポジ細線判定用の閾値１ｄＰＯＮを第１の閾値として設定し、注目画素５１を中心とした５行×５列の領域を判定領域として設定する。また、ポジ細線判定部４１は、図８（Ｂ）に示されるように、注目画素５１を含む左右方向に連続するオン画素５２が２つ連続している場合、図９に示される２ドット幅のポジ線判定用の閾値２ｄＰＯＮを第１の閾値として設定し、注目画素５１を中心とした５行×５列の領域を判定領域として設定する。

さらに、ポジ細線判定部４１は、図８（Ｃ）に示されるように、注目画素５１を含む上下方向に連続するオン画素５２が３つ連続している場合、図９に示される３ドット幅のポジ線判定用の閾値３ｄＰＯＮを第１の閾値として設定し、注目画素５１を中心とした７行×７列の領域を判定領域として設定する。そして、ポジ細線判定部４１は、図８（Ｄ）に示されるように、注目画素５１を含む左右方向に連続するオン画素５２が４つ連続している場合、図９に示される４ドット幅のポジ線判定用の閾値４ｄＰＯＮを第１の閾値として設定し、注目画素５１を中心とした９行×９列の領域を判定領域として設定する。

次に、ポジ細線判定部４１は、第１の閾値と判定領域内のオン画素数を比較する（ステップＳ３０４）。

そして、ステップＳ３０４において判定領域内のオン画素数が第１の閾値以上である場合は、注目画素５１をポジ細線の画素と判定してステップＳ３０６に進み、判定領域内のオン画素数が第１の閾値未満である場合はステップＳ３０７に進む（ステップＳ３０５）。

上記で説明したポジ細線の画素と判定される条件の一覧を図１０に示す。ここで、図１０におけるドット判定および背景判定の番号は、図７の番号に該当する画素の画素値、つまりオンであるかオフであるかを表す。

例えば、図１０に示されるように、注目画素である４１番目の画素を含む４１番目の画素、４０番目の画素、３９番目の画素がオン画素であり、３８番目の画素および４２番目の画素がオフ画素である場合、ポジ細線判定部４１は、図７における２行２列目から８行８列目を判定領域とし、第１の閾値として閾値３ｄＰＯＮが設定される。そして、ポジ細線判定部４１は、判定領域内のオン画素数が閾値３ｄＰＯＮ以上の場合は４１番目の画素を３ドットポジ細線の画素であると判定する。

次に、ポジ細線判定部４１は、注目画素がポジ細線の画素であることを示すポジ細線情報を生成する（ステップＳ３０６）。例えば、ポジ細線判定部４１は、図１１（Ａ）に示すようなポジ細線に対して、図１１（Ｂ）に示すようなポジ細線の画素と判定されたオン画素５２を“１”、オフ画素を“０”としたポジ細線情報を生成する。

また、ポジ細線判定部４１が、図１２（Ａ）に示されるようなオン画素により構成される孤立点やハーフトーン処理における網点を判定する場合について説明する。例えば、入力画像データ中の図１２（Ａ）に示されるような領域を判定する場合、左右方向の連続オン画素数が２画素であるため、閾値２ｄＰＯＮとして７が設定されるが、判定領域内のオン画素数が６であり閾値２ｄＰＯＮよりも小さい。また、上下方向の連続オン画素数が３画素であるため、閾値３ｄＰＯＮとして１０が設定されるが、判定領域内のオン画素数が６であり閾値３ｄＰＯＮより小さい。従って、図１２（Ａ）に示されるオン画素５２は図１０に示されるような条件と一致しないため、ポジ細線判定部４１は、図１２（Ａ）に示されるオン画素５２を、ポジ細線ではないものとして、図１２（Ｂ）に示すように“０”とした情報を生成する。

そして、上記のステップＳ３０１〜Ｓ３０６の処理により、入力画像データの全ての画素についてポジ細線の画素か否かを判定してポジ細線情報を生成した場合、ポジ細線判定部４１は、ポジ細線判定の処理を終了する（ステップ３０７）。

次に、ステップＳ１０４におけるネガ細線判定方法を図１３を参照して詳細に説明する。

まず、ネガ細線判定部４２は、入力画像データのうちの１つの画素を順次注目画素として選択する（ステップＳ４０１）。ここで、ネガ細線判定部４２は、図７に示されるような９行×９列画素の画像データのうちの４１番目の画素を注目画素５１として選択したものとする。

次に、ネガ細線判定部４２は、選択された注目画素がオン画素かオフ画素かを判定する（ステップＳ４０２）。ここで、注目画素５１がオフ画素である場合はステップＳ４０３に進み、注目画素がオフ画素である場合はステップＳ４０７に進む。

次に、ネガ細線判定部４２は、注目画素５１を含めて左右方向または上下方向に連続するオフ画素の数が４つ以下か否かを判定する（ステップＳ４０３）。ここで、左右方向または上下方向の連続するオフ画素の数が４つ以下である場合にはステップＳ４０４に進み、左右方向および上下方向ともに連続するオフ画素の数が４つより多い場合はステップＳ４０７に進む。

次に、ネガ細線判定部４２は、第２の閾値、第３の閾値および判定領域を設定する（ステップＳ４０３）。

このステップＳ４０３において、ネガ細線判定部４２は、図１４（Ａ）に示されるように、注目画素５１を含めた連続するオフ画素５３が１つの場合、図１５に示される１ドット幅のネガ細線判定用の閾値１ｄＮＯＦＦを第２の閾値、閾値１ｄＮＯＮを第３の閾値として設定し、注目画素５１を中心とした５行×５列の領域を判定領域として設定する。また、ネガ細線判定部４２は、図１４（Ｂ）に示されるように、注目画素５１を含む左右方向に連続するオフ画素５３が２つ連続している場合、図１５に示される２ドット幅のネガ線判定用の閾値２ｄＮＯＦＦを第２の閾値、閾値２ｄＮＯＮを第３の閾値として設定し、注目画素５１を中心とした５行×５列の領域を判定領域として設定する。

さらに、ネガ細線判定部４２は、図１４（Ｃ）に示されるように、注目画素５１を含む上下方向に連続するオフ画素５３が３つ連続している場合、図１５に示される３ドット幅のネガ線判定用の閾値３ｄＮＯＦＦを第２の閾値、閾値３ｄＮＯＮを第３の閾値として設定し、注目画素５１を中心とした７行×７列の領域を判定領域として設定する。そして、ネガ細線判定部４２は、図１４（Ｄ）に示されるように、注目画素５１を含む左右方向に連続するオフ画素５３が４つ連続している場合、図１５に示される４ドット幅のネガ線判定用の閾値４ｄＮＯＦＦを第２の閾値、閾値４ｄＮＯＮを第３の閾値として設定し、注目画素５１を中心とした９行×９列の領域を判定領域として設定する。

次に、ポジ細線判定部４１は、第２の閾値と判定領域内のオフ画素数、第３の閾値と判定領域内のオン画素数を比較する（ステップＳ４０４）。

そして、ステップＳ４０４において判定領域内のオフ画素数が第２の閾値以上かつ判定領域内のオン画素数が第３の閾値以上である場合は、注目画素５１をネガ細線の画素と判定してステップＳ４０６に進み、判定領域内のオフ画素数が第２の閾値未満または判定領域内のオン画素数が第３の閾値未満である場合はステップＳ４０７に進む（ステップＳ４０５）。

上記で説明したネガ細線の画素と判定される条件の一覧を図１６に示す。ここで、図１６におけるドット判定および背景判定の番号は、図７の番号と該当する画素の画素値、つまりオンであるかオフであるかを示している。

例えば、図１６に示されるように、注目画素である４１番目の画素を含む４１番目の画素、３２番目の画素がオフ画素であり、２３番目の画素および５０番目の画素がオン画素である場合、ポジ細線判定部４１は、図７における３行３列目から７行７列目を判定領域とし、第２の閾値として閾値２ｄＮＯＦＦ、第３の閾値として閾値２ｄＮＯＮが設定される。そして、ポジ細線判定部４１は、判定領域内のオフ画素数が閾値２ｄＮＯＦＦ以上かつ判定領域内のオン画素数が閾値２ｄＮＯＮ以上の場合は４１番目の画素を２ドットネガ細線の画素であると判定する。

次に、ネガ細線判定部４２は、注目画素５１がネガ細線の画素であることを示すネガ細線情報を生成する（ステップＳ４０６）。例えば、ネガ細線判定部４２は、図１７（Ａ）に示すようなネガ細線に対して、図１７（Ｂ）に示すようなネガ細線の画素と判定されたオフ画素５３を“２”、オン画素５２を“０”としたネガ細線情報を生成する。

また、ネガ細線判定部４２が、図１８（Ａ）に示されるようなオフ画素５３により構成される孤立点やハーフトーン処理における網点を判定する場合について説明する。例えば、入力画像データ中の図１８（Ａ）に示されるような領域を判定する場合、左右方向の連続オフ画素数が２画素であるため閾値２ｄＮＯＦＦとして７および閾値２ｄＮＯＮとして１３が設定されるが、判定領域内のオフ画素数が６であり閾値２ｄＮＯＦＦよりも小さい。また、上下方向の連続オフ画素数が３画素であるため閾値３ｄＮＯＦＦとして１０および閾値３ｄＮＯＮとして２５が設定されるが、判定領域内のオフ画素数が６であり閾値３ｄＮＯＦＦより小さい。従って、図１８（Ａ）に示されるようなオフ画素５３は、図１６に示されるような条件と一致しないため、ネガ細線判定部４２は、図１８（Ａ）に示されるオフ画素５３を、ポジ細線ではないものとして、図１８（Ｂ）に示すように“０”とした情報を生成する。

そして、上記のステップＳ４０１〜Ｓ４０６の処理により、入力画像データの全ての画素についてネガ細線の画素か否かを判定してネガ細線情報を生成した場合、ネガ細線判定部４２は、ネガ細線判定の処理を終了する（ステップ４０７）。

なお、本実施形態においては、連続オン画素数が４画素以下の場合のポジ細線、連続オフ画素数が４画素以下の場合のネガ細線を判定するものとして説明したが、細線の幅の上限を４画素と定義しただけに過ぎず、細線の幅の上限を４画素より多いまたは４画素未満と定義する場合でも本発明は同様に適用できるものである。

また、様々な画像に対する実験の結果、ポジ細線を判定する場合にはオフ画素数による判定を行わなくても精度よく判定できていたため、本実施形態においてはオフ画素数による判定をしない方法を採用したが、本発明においてオフ画素数による判定を行うようにしても同様にポジ細線の判定を行うことができる。
また、本実施形態では、ネガ細線を判定する場合に、オフ画素数による判定だけでなくオン画素数による判定を行うものとして説明したが、これは判定領域内の背景が基本的にオン画素であることを条件としていたためである。本発明は、ネガ細線を判定する場合においてオン画素数による判定を行わないようにしてオフ画素数による判定のみでもネガ細線の判定を行うことができる。

１ 画像形成装置
２ 端末装置
３ ネットワーク
４ 画像処理装置
１１ ＣＰＵ
１２ メモリ
１３ 記憶装置
１４ 通信ＩＦ
１５ ＵＩ装置
１６ スキャナ
１７ プリンタ
１８ 制御バス
４１ ポジ線判定部
４２ ネガ線判定部
４３ エッジ検出部
４４ ハーフトーン検知部
４５ データ処理部
４６ オン画素変換部
５１ 注目画素
５２ オン画素
５３ オフ画素

Claims (5)

1. スクリーン処理が施された二値の画像データの各画素に対して、エッジを構成する画素であるか否かを判定してエッジ部の画素を検出するエッジ検出手段と、
   前記画像データを構成する画素のうちの１つを順次注目画素として選択し、該注目画素がオン画素であり、該注目画素を含めて左右方向または上下方向に連続するオン画素の数である連続オン画素数が予め設定されている数以下であり、予め設定されている範囲の判定領域内のオン画素数が予め設定された第１の閾値以上である場合に、該注目画素を連続するオン画素により構成される幅が前記連続オン画素数の細線であるオン画素細線の画素と判定するオン画素細線判定手段と、
   前記画像データを構成する画素のうちの１つを順次注目画素として選択し、該注目画素がオフ画素であり、該注目画素を含めて左右方向または上下方向に連続するオフ画素の数である連続オフ画素数が予め設定されている数以下であり、予め設定されている範囲の判定領域内のオン画素数が予め設定された第２の閾値以上かつ該判定領域内のオフ画素数が予め設定された第３の閾値以上である場合に、該注目画素を連続するオフ画素により構成される幅が前記連続オフ画素数の細線であるオフ画素細線の画素と判定するオフ画素細線判定手段と、
   前記エッジ検出手段により検出されたエッジ部の画素のうち、前記オン画素細線判定手段により判定されたオン画素細線および前記オフ画素細線判定手段により判定されたオフ画素細線を構成していない画素に対してオン画素数を変更するように変換するオン画素変換手段と、
   を有する画像処理装置。
2. 前記第１の閾値は前記連続オン画素数に基づいて設定され、
   前記第２の閾値および前記第３の閾値は前記連続オフ画素数に基づいて設定される請求項１記載の画像処理装置。
3. 前記判定領域は前記連続オン画素数または前記連続オフ画素数に基づいて範囲が設定される請求項１または２記載の画像処理装置。
4. スクリーン処理が施された二値の画像データの各画素に対して、エッジを構成する画素であるか否かを判定してエッジ部の画素を検出するエッジ検出手段と、
   前記画像データを構成する画素のうちの１つを順次注目画素として選択し、該注目画素がオン画素であり、該注目画素を含めて左右方向または上下方向に連続するオン画素の数である連続オン画素数が予め設定されている数以下であり、予め設定されている範囲の判定領域内のオン画素数が予め設定された第１の閾値以上である場合に、該注目画素を連続するオン画素により構成される幅が前記連続オン画素数の細線であるオン画素細線の画素と判定するオン画素細線判定手段と、
   前記画像データを構成する画素のうちの１つを順次注目画素として選択し、該注目画素がオフ画素であり、該注目画素を含めて左右方向または上下方向に連続するオフ画素の数である連続オフ画素数が予め設定されている数以下であり、予め設定されている範囲の判定領域内のオン画素数が予め設定された第２の閾値以上かつ該判定領域内のオフ画素数が予め設定された第３の閾値以上である場合に、該注目画素を連続するオフ画素により構成される幅が前記連続オフ画素数の細線であるオフ画素細線の画素と判定するオフ画素細線判定手段と、
   前記エッジ検出手段により検出されたエッジ部の画素のうち、前記オン画素細線判定手段により判定されたオン画素細線および前記オフ画素細線判定手段により判定されたオフ画素細線を構成していない画素に対してオン画素数を変更するように変換するオン画素変換手段と、
   前記オン画素変換手段により変換された画像データを出力する出力手段と、
   を有する画像形成装置。
5. スクリーン処理が施された二値の画像データの各画素に対して、エッジを構成する画素であるか否かを判定してエッジ部の画素を検出するステップと、
   前記画像データを構成する画素のうちの１つを順次注目画素として選択し、該注目画素がオン画素であり、該注目画素を含めて左右方向または上下方向に連続するオン画素の数である連続オン画素数が予め設定されている数以下であり、予め設定されている範囲の判定領域内のオン画素数が予め設定された第１の閾値以上である場合に、該注目画素を連続するオン画素により構成される幅が前記連続オン画素数の細線であるオン画素細線の画素と判定するステップと、
   前記画像データを構成する画素のうちの１つを順次注目画素として選択し、該注目画素がオフ画素であり、該注目画素を含めて左右方向または上下方向に連続するオフ画素の数である連続オフ画素数が予め設定されている数以下であり、予め設定されている範囲の判定領域内のオン画素数が予め設定された第２の閾値以上かつ該判定領域内のオフ画素数が予め設定された第３の閾値以上である場合に、該注目画素を連続するオフ画素により構成される幅が前記連続オフ画素数の細線であるオフ画素細線の画素と判定するステップと、
   検出されたエッジ部の画素のうち、オン画素細線およびオフ画素細線を構成していない画素に対してオン画素数を変更するように変換するステップと、
   をコンピュータに実行させるためのプログラム。

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