JP2013013722A5 - - Google Patents

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Claims (12)

  1. 散乱を推定する方法であって、
    線源から検出器までのX線透過に基づいて初期容積を生成するステップと、
    物質類型に基づいて前記初期容積の内部の複数のボクセルの特徴を決定するステップと、
    前記複数のボクセルに基づいて密度積分容積を生成するステップと、
    前記検出器の複数の離散的な位置について散乱プロファイルを生成するために、前記検出器で開始して前記線源へ向けて進むように1又は複数の散乱X線を追尾するステップと
    を備えた方法。
  2. 前記散乱プロファイル又は該散乱プロファイルに少なくとも部分的に基づくカーネルを用いて1又は複数の再構成画像での散乱を補正すること
    を含んでいる請求項1に記載の方法。
  3. 前記複数のボクセルは、軟組織、骨、空気、及び造影剤を含む物質類型に基づいて特徴を決定される、請求項1または2に記載の方法。
  4. 前記複数のボクセルの特徴を決定するステップは、セグメント分割アルゴリズムを適用することを含んでおり、該セグメント分割アルゴリズムの出力は前記異なるそれぞれの物質類型に対応する、請求項1乃至3のいずれかに記載の方法。
  5. 前記複数のボクセルの特徴を決定するステップは、前記異なるそれぞれの物質類型に対応するそれぞれの閾値に対して観察された強度値又は強度差を比較することを含んでいる、請求項1乃至4のいずれかに記載の方法。
  6. 前記密度積分容積の各々のボクセルが、前記線源から当該それぞれのボクセルまでの密度積分を表わす、請求項1乃至5のいずれかに記載の方法。
  7. 少なくとも前記散乱プロファイル及び前記検出器に関連する散乱格子幾何学的構成に基づく散乱拒絶カーネルを生成することと、
    改訂した散乱プロファイルを生成するために、前記散乱拒絶カーネルに基づいて前記散乱プロファイルを更新すること
    を含んでいる請求項1乃至6のいずれかに記載の方法。
  8. 1又は複数のルーチンを記憶するメモリと、
    該メモリに記憶された前記1又は複数のルーチンを実行するように構成されている処理構成要素と
    を備えた画像処理システムであって、前記1又は複数のルーチンは、前記処理構成要素により実行されると、
    物質類型に基づいて初期再構成容積の内部の複数のボクセルの特徴を決定し、
    前記複数のボクセルに基づいて密度積分容積を生成し、
    前記検出器の複数の離散的な位置について散乱プロファイルを生成するために、1又は複数の散乱X線をそれぞれの受光点からそれぞれの送光点まで反転追尾して、
    前記散乱プロファイル又は該散乱プロファイルに少なくとも部分的に基づくカーネルを用いて1又は複数の散乱補正画像を形成する、画像処理システム。
  9. 前記1又は複数のルーチンは、前記処理構成要素により実行されると、
    前記それぞれの送光点を含む線源から前記それぞれの受光点を含む検出器へのX線透過に基づいて前記初期再構成容積を生成する、請求項に記載の画像処理システム。
  10. 1又は複数のルーチンを符号化した1又は複数の非一時的なコンピュータ可読の媒体であって、前記1又は複数のルーチンはプロセッサにより実行されると、
    密度積分容積を生成する動作であって、当該密度積分容積の各々のボクセルがX線の線源からそれぞれの当該ボクセルまでの密度積分を表わしているような密度積分容積を生成する動作と、
    前記密度積分容積を通して検出器のそれぞれの位置から前記線源まで1又は複数の散乱X線を追尾することにより散乱プロファイルを生成する動作と、
    前記散乱プロファイル又は該散乱プロファイルに少なくとも部分的に基づくカーネルを用いて1又は複数の再構成画像の散乱を補正する動作と
    を含む動作を当該プロセッサに行なわせる、1又は複数の非一時的なコンピュータ可読の媒体。
  11. 前記密度積分容積は、物質類型に基づいて特徴を決定された初期容積を用いて生成される、請求項10に記載の1又は複数の非一時的なコンピュータ可読の媒体。
  12. プロセッサにより実行されると、
    前記線源から前記検出器へのX線透過に基づいて初期容積を生成する動作
    を当該プロセッサに行なわせるルーチンをさらに符号化した請求項11に記載の1又は複数の非一時的なコンピュータ可読の媒体。
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Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103339652A (zh) * 2010-12-01 2013-10-02 皇家飞利浦电子股份有限公司 靠近伪影源的诊断图像特征
DE102013206081B4 (de) * 2013-04-05 2023-08-10 Siemens Healthcare Gmbh Verfahren zur verbesserten Erzeugung und Darstellung von Projektionsaufnahmen mit einer Röntgendurchleuchtungsvorrichtung und Röntgendurchleuchtungsvorrichtung
US9724056B2 (en) * 2013-11-28 2017-08-08 Toshiba Medical Systems Corporation Method and system for spectral computed tomography (CT) with inner ring geometry
CN107019518B (zh) * 2016-02-01 2020-07-28 通用电气公司 用于计算机断层扫描中的散射校正的信号处理方法及成像系统
JP2017176297A (ja) * 2016-03-29 2017-10-05 キヤノン株式会社 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラム
US9905953B1 (en) 2016-09-30 2018-02-27 Slobodan Pavlovic High power spring-actuated electrical connector
DE102016221658B4 (de) * 2016-11-04 2024-05-08 Siemens Healthineers Ag Streustrahlungskompensation für ein bildgebendes medizinisches Gerät
WO2018082088A1 (zh) * 2016-11-07 2018-05-11 深圳先进技术研究院 一种用于锥束ct图像散射修正的阻挡光栅优化方法及装置
KR102592165B1 (ko) * 2018-02-26 2023-10-19 인벤티브 컨설팅 엘엘씨 고전력 응용을 위한 스프링 작동식 전기 커넥터
EP3576047A1 (en) * 2018-05-29 2019-12-04 Koninklijke Philips N.V. Scatter correction for x-ray imaging
WO2019237009A1 (en) 2018-06-07 2019-12-12 Royal Precision Products, Llc Electrical connector system with internal spring component
US10799206B2 (en) * 2018-09-28 2020-10-13 General Electric Company System and method for calibrating an imaging system
WO2020154330A1 (en) 2019-01-21 2020-07-30 Royal Precision Products, Llc Power distribution assembly with boltless busbar system
DE112020003846T5 (de) 2019-09-09 2022-05-12 Royal Precision Products Llc Verbinderaufzeichnungssystem mit lesbaren und aufzeichenbarenkennzeichnungen
US11721942B2 (en) 2019-09-09 2023-08-08 Eaton Intelligent Power Limited Connector system for a component in a power management system in a motor vehicle
KR20230043171A (ko) 2020-07-29 2023-03-30 이턴 인텔리전트 파워 리미티드 인터로크 시스템을 포함하는 커넥터 시스템
US12008689B2 (en) 2021-12-03 2024-06-11 Canon Medical Systems Corporation Devices, systems, and methods for deep-learning kernel-based scatter estimation and correction

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3426677B2 (ja) * 1994-01-27 2003-07-14 株式会社日立メディコ X線ct装置
FR2759800B1 (fr) * 1997-02-17 1999-03-26 Commissariat Energie Atomique Procede de correction du flux diffuse dans des images de radiographie numerique
JP4218908B2 (ja) * 1998-04-24 2009-02-04 株式会社東芝 X線ct装置
US6632020B2 (en) * 2001-10-12 2003-10-14 General Electric Company Method and apparatus for calibrating an imaging system
WO2004067091A1 (en) * 2003-01-30 2004-08-12 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Reconstruction of local patient doses in computed tomography
US6876718B2 (en) 2003-06-27 2005-04-05 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Scatter correction methods and apparatus
EP1714255B1 (en) * 2004-02-05 2016-10-05 Koninklijke Philips N.V. Image-wide artifacts reduction caused by high attenuating objects in ct deploying voxel tissue class
DE102004022332A1 (de) * 2004-05-06 2005-12-08 Siemens Ag Verfahren zur post-rekonstruktiven Korrektur von Aufnahmen eines Computer-Tomographen
DE102004029009A1 (de) 2004-06-16 2006-01-19 Siemens Ag Vorrichtung und Verfahren für die Streustrahlungskorrektur in der Computer-Tomographie
US7471813B2 (en) * 2004-10-01 2008-12-30 Varian Medical Systems International Ag Systems and methods for correction of scatter in images
GB0513922D0 (en) * 2005-07-07 2005-08-17 Hammersmith Imanet Ltd Method od and software for calculating a scatter estimate for tomographic scanning and system for tomographic scanning
US7583780B2 (en) * 2006-06-22 2009-09-01 General Electric Company Systems and methods for improving a resolution of an image
US7760848B2 (en) * 2006-09-08 2010-07-20 General Electric Company Method and system for generating a multi-spectral image of an object
JP5243449B2 (ja) * 2007-01-04 2013-07-24 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 獲得投影データから関心領域の補正画像を生成する装置、方法、及びコンピュータ・プログラム
JP2008267913A (ja) * 2007-04-18 2008-11-06 Shimadzu Corp 核医学診断装置およびそれに用いられる診断システム
JP5052281B2 (ja) * 2007-10-02 2012-10-17 株式会社東芝 X線ctにおける散乱線強度分布の推定方法およびx線ct装置
JP5214942B2 (ja) * 2007-10-02 2013-06-19 東芝メディカルシステムズ株式会社 多管球x線ctにおける散乱線強度分布のスケーリング方法および多管球x線ct装置
US20090129539A1 (en) * 2007-11-21 2009-05-21 General Electric Company Computed tomography method and system
US9070181B2 (en) * 2007-12-21 2015-06-30 General Electric Company System and method for extracting features of interest from an image
US9453922B2 (en) * 2008-09-09 2016-09-27 Multi-Magnetics Incorporated System and method for correcting attenuation in hybrid medical imaging
JP5284025B2 (ja) * 2008-09-29 2013-09-11 株式会社東芝 X線コンピュータ断層撮影装置及び画像処理装置
US8260023B2 (en) * 2008-11-26 2012-09-04 General Electric Company Forward projection for the generation of computed tomography images at arbitrary spectra
EP2400921A4 (en) * 2009-02-25 2015-11-25 Zimmer Inc PERSONALIZED ORTHOPEDIC IMPLANTS AND ASSOCIATED METHODS

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