JP2012252631A - 入出力装置、コンピュータシステム及び障害処理方法 - Google Patents

入出力装置、コンピュータシステム及び障害処理方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2012252631A
JP2012252631A JP2011126259A JP2011126259A JP2012252631A JP 2012252631 A JP2012252631 A JP 2012252631A JP 2011126259 A JP2011126259 A JP 2011126259A JP 2011126259 A JP2011126259 A JP 2011126259A JP 2012252631 A JP2012252631 A JP 2012252631A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
failure
output device
unit
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011126259A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5640900B2 (ja
Inventor
Gen Miyazaki
弦 宮崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2011126259A priority Critical patent/JP5640900B2/ja
Publication of JP2012252631A publication Critical patent/JP2012252631A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5640900B2 publication Critical patent/JP5640900B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

【課題】インタフェース障害の被疑箇所を特定する。
【解決手段】予め設定された複数のノードのうち制御部に近い側のノードから順に試験信号を送信し且つ折り返しを要求した結果、折り返しが不成功であった箇所を特定することによって、被疑箇所の調査を行う。
【選択図】図4

Description

本発明は、コンピュータシステムの障害発生箇所を特定する技術に関する。
I/Oプロセッサを介して周辺機器と接続されたコンピュータシステムにおいて、周辺機器との通信に障害が発生する場合がある。障害に対処するために、通信路の中で障害が発生した箇所を特定することが求められる。
特許文献1には、障害検出に関する技術の一例が記載されている。この文献に記載の障害検出装置は、階層状に接続された複数のモジュールで構成されるディスクコントローラに発生した障害を検出する。
特許第4387968号公報
IOP(Input Output Processor)を介して周辺装置、例えばディスク装置と接続されるコンピュータシステムにおいて、IOPと周辺装置との間でのインタフェース障害を検出することが望まれる。しかしながら、このような箇所の障害検出においては、IOPに折り返して来る信号に障害が発生した場合、その障害が送信路の障害によるのか受信路の障害によるのかを区別することが難しい。特に、通信が断続的に不調となる間欠故障(Intermittent Fault)の場合に、送信側と受信側の切り分けが出来ないことがある。
図5は、IOP又はHBA(ホストバスアダプタ)105からディスク装置又はホストアダプタ107へWriteデータ(ディスク装置に書き込まれるデータ)を転送する例を示す。IOP/HBA105(送信側)のトレースに転送データの送信を示すトレース情報があり、且つディスク装置/HA107(受信側)との間の通信に障害があった場合を考える。障害としては例えば、ディスク装置/HA107がファイバチャネルのフレーム抜けを検出した場合や、8B/10B変換でエラーが発生した場合が考えられる。
このような障害では、HBA105のファイバチャネル制御LSI(ドライバ)130からHA107のファイバチャネル制御LSI(ドライバ)136までの経路のどこでデータが不正になったか分からないことがある。つまり、IOPとディスク装置間のデータ転送において、HBA105のファイバチャネル制御LSI130、HBA105の基板131、HBA105の光トランシーバ132、光ケーブル133、HA107の光トランシーバ134、HA107の基板135、HA107のファイバチャネルLSI136のどこでデータが不正になったか分からないことがある。
この課題について、図6を用いてより詳細に説明する。図6は、コンピュータシステムのIOPとディスク装置間の障害処理動作の参考例を説明したシーケンスチャートである。
システムの起動時、IOP/HBAとディスク/HAのインタフェースの初期化が行われる(図6ステップA1)。初期化完了後、IOP/HBAから転送処理が起動される。ディスク/HAは、異常を検出すると、HBAに再送要求を行う(図6ステップA2)。HBAは再送要求を受け取り、再び転送処理を起動する。HAが再び異常を検出した場合、HAの再送要求とHBAの転送処理が繰り返される。このようなリトライが一定期間続くと、I/Oのタイムアウトにかかる。その場合、HBAはIOP経由で、HBAを介して書き込みデータをHAに送信しているホストコンピュータのOSに、I/Oの異常終了を通知する(図6ステップA3)。OSは当該HBAのパスでリトライを行う。それでも救済されない場合、ホストコンピュータは当該パスを切り離し(閉塞し)て、代替パスでのリトライを行う。
閉塞されたパスはその後、部品保守交換により復旧することが出来る。しかし、IOPとディスク装置間の経路上のどこで障害が発生したか切り分けがつかない。そのため、確実に被疑箇所を取り除くには経路上の全ての部品を交換する必要があるという問題がある。
コンピュータシステムのI/Oプロセッサ(IOP)とディスク装置間などに発生するインタフェース障害の被疑(故障)箇所を特定するための手段が望まれる。
本発明の一側面において、入出力装置は、処理部と、入出力部とを備える。入出力部は、信号を送受信する送受信部と、送受信部を制御する制御部とを備える。処理部は、第1の機器から入力した入力信号を送受信部を介して第2の機器に転送し、第2の機器から入力信号を再送信する要求を受信したときに入力信号の再送信を行う機能と、再送信が第1の所定の基準を超えて繰り返されたときに、再送信を停止して障害箇所の調査を開始する機能とを備える。障害箇所の調査は、処理部が、予め設定された複数のノードのうち制御部に近い側のノードから順に試験信号を送信し且つ折り返しを要求した結果、折り返しが不成功であった箇所を特定することによって実行される。
本発明により、インタフェース障害の被疑(故障)箇所を特定することを可能とする手段が提供される。
図1は、コンピュータシステムの構成を示す。 図2は、HBA(ホストバスアダプタ)とHA(ホストアダプタ)の構成を示す。 図3は、信号の流れを示す。 図4は、HBAとHA間での信号の流れを示すシーケンスチャートである。 図5は、参考例における技術の問題を説明するための図である。 図6は、参考例におけるHBAとHA間での信号の流れを示すシーケンスチャートである。
以下、本発明の実施形態について説明する。上述のように、一般的にコンピュータシステムのIOPと周辺装置(ディスク装置)間のインタフェース障害の場合、送信路の障害と受信路の障害との区別が出来ないことがある。特に間欠故障の場合は、その区別が難しい。
本実施形態では、IOPとディスク装置間のデータ転送経路上で、予め取り決められた基本動作をIOPとディスク装置により実施する。また、部分的に転送動作を行い、どの部分まで動作が出来たか確認することにより、被疑箇所を絞りこむ。さらに間欠障害の場合に備え、上記の確認項目を規定回数繰り返す。
次に本発明の実施例の構成について図面を参照して説明する。図1は本発明の一実施例としてのコンピュータシステムの構成を示す概略図である。コンピュータシステムは、中央処理装置(CPU)1、I/Oプロセッサ(IOP)4、ディスク装置6、診断制御プロセッサ(DGP)2および、サービスプロセッサ(SVP)15を有する。
障害箇所を特定する機能を有するプロセッサを、本明細書では以下、DGP(Diagnostic Processor)と呼ぶ。コンピュータシステムは、CPUを構成する各ユニット上にあるDGPによってシステムの診断を行う。通常、DGPはハードウェア障害発生時、故障箇所を示すエラー表示フラグ情報や装置情報を採取する。CPUは、これらの情報と故障辞書を参照して、故障部位、被疑ユニットを指摘し、その箇所を示す情報を生成し出力する。CPUは更に、必要に応じて、システムチェック処理、故障部位をシステムから切り離す処理、及びシステム再立ち上げ処理を行う。
図1において、コンピュータシステムの処理部であるCPU1は、通信経路21を介して接続されたコンピュータシステムなどの第1の機器から入力信号を入力する。CPU1は、その入力信号を、送受信部であるIOP4を介して、第2の機器であるディスク装置6に転送する。CPU1は、ディスク装置6側から入力信号の再送信を要求する信号を受信すると、その入力信号を再送信する機能を有する。
CPU1にはDGP2が設けられる。再送信が第1の所定の基準(リトライの回数や時間によって設定される)を超えて繰り返されると、DGP2は再送信を停止して障害箇所の調査を開始する。
DGP2は、CPU1を構成する各ユニット上にある診断制御ユニット3(DGU)と協働し、システムの診断を行う。DGP2は、ハードウェア障害発生時、故障箇所を示すエラー表示フラグ情報や装置情報を採取する。DGP2は、これらの情報と故障辞書とを参照して、故障部位、被疑ユニットを指摘し特定する情報を生成する。DGP2は更に、必要に応じて、システムチェック処理、故障部位をシステムから切り離す処理、及びシステム再立ち上げ処理を行う。DGU3は、各ユニット上に設けられ、DGP2と協同してシステムの診断制御を行う。
DGP2は、以下のように障害箇所を調査する。DGP2の被疑箇所切り分け情報12には、予め設定された複数のノードの情報が格納される。複数のノードは、例えば、図2に示すHBA基板31(FC制御LSI30と光トランシーバ32とを基板上で接続する配線)、光トランシーバ32、光ケーブル33、ディスク装置側HA7の光トランシーバ34、HA基板36(光トランシーバ34とFC制御LSI36とを基板上で接続する配線)である。すなわち、障害箇所を特定するために区別することが望まれる通信経路上の区間を指定する箇所である。
障害箇所の調査は、それらの予め設定された複数のノードのうち、HBA5の制御部であるFC制御LSI30に近い側のノードから順に試験信号を送信し、且つ折り返しを要求した結果、折り返しが不成功となったノードを特定することによって実行される。予め設定された複数のノードには、FC制御LSI30と同一のHBA5の送受信部である光トランシーバ32が含まれていると、HBA5内での折り返しテストを行うことができるため好ましい。
CPU1は更に、プロセッサやメモリも備えるが、図示は省略する。IOP4は、CPU1の情報をディスク装置6との間で入出力する入出力部である。IOP4には、DGU(Diagnostic Unit)3等の制御部と、ディスク装置6に対する信号の送受信を行うHBA5が搭載されている。DGP2は演算及び制御を行うプロセッサ8を備える。そのプロセッサ8上でDGPファームウェア9が動作することにより、通信路の診断を行う機能が実現される。DGP2は更に、システム構成情報11、被疑箇所切り分け情報(suspicious portion discrimination information)12、及び再現試験モード情報13を格納するためのローカルメモリ10を備える。
DGPファームウェア9は、障害処理を行うためにIOP4とディスク装置6間の障害(被疑)箇所切り分け処理を実行する被疑箇所切り分け部14を備える。DGP2は、DGPファームウェア9に記述された手順に従って、当該パス障害によりOSから切り離されたあと、継続して障害箇所の切り分け処理を行う。
CPU1は、通信経路21を介してサービスプロセッサ(SVP)15に接続される。SVP15はコンピュータシステムであり、ハードディスクを備える。そのハードディスクに、システム構成情報、被疑箇所切り分け情報、及び再現試験の手順を示す再現試験モード情報がシステム設定値として格納される。システム構成情報は、システムの構成の変更に応じてアップデートされる。DGP2は、システム立ち上げ時にSVP15からシステム構成情報、被疑箇所切り分け情報、及び再現試験モード情報をロードして、システム構成情報11、被疑箇所切り分け情報12、及び再現試験モード情報13としてローカルメモリ10に格納する。
SVP15のハードディスクには更に、保守交換単位や被疑箇所を指摘するための主要部品情報を納めた故障辞書19、ならびに各種ファームウェア20が格納される。故障辞書19は、DGP2が障害発生時に参照し、障害情報と照らし合わせて故障部位、被疑ユニットを指摘する際に使用する。各種ファームウェア20はシステム立ち上げ時にDGP経由でシステムの各ユニットにロードされる。
次に図2において、ホストバスアダプタ(HBA)5はファイバチャネル制御LSI30、HBA基板31、光トランシーバ32により構成され、ディスク装置6とは光ケーブル33を介して接続される。ディスク装置6にはHBA5とのインタフェースを持つホストアダプタ(HA)7があり、光トランシーバ(光モジュール)34、HA基板35、ファイバチャネル制御LSI36により構成される。
本実施形態においては、DGP2がIOP4とディスク装置6間の障害処理を行う際、当該パス障害によりOSから切り離されたあと、継続して障害箇所の切り分け処理を行う。ファイバチャネル制御内の折り返し接続試験、光トランシーバの光出力停止/光出力投入、ファイバチャネルのリンクアップ、リンクダウンの繰り返し処理等、予め被疑箇所切り分け情報(システム設定値)17にて取り決められた基本動作をHBA5とHA7で実施する。これらの基本動作のうち、どこまで動作が出来たか確認することにより被疑箇所を絞りこむことが出来る。間欠障害の場合に備え、上記の切り分け処理をOSから切り離された状態で規定回数繰り返し行う。
障害が検出された場合、システムの保守ポリシーに依り、障害でOSから切り離されたパスの部品を即時交換するオンライン交換のケースと、業務が終了した後でシステムを停止してオフライン交換するケースがある。オフライン交換するケースでは、SVP15の再現試験モード(システム設定値)の設定値をオフラインに設定する。この設定のときは、DGP2は、保守交換作業までの間、当該パスをOSから切り離した状態で障害再現試験の実行を行う。
従来、再現試験は、障害候補の装置を工場に持ち帰ってから実施していた。しかし上記のようにオフライン交換時の再現試験を行うことによって、障害が発生した条件(環境)に非常に近い環境で再現試験が行われる。その結果、障害の再現率を向上することが出来る。
次に、本実施形態における障害処理方法の動作を、図3の信号の流れを示す図と図4に示すシーケンスチャートを使用して説明する。本実施形態による障害処理方法を適用したコンピュータシステムにおいて、障害処理の一連の流れを説明する。
システムの起動時、IOP4/HBA5とディスク/HA7のインタフェースの初期化を行う(図4ステップB1)。初期化完了後、IOP4/HBA5から転送処理が起動される。その際、ディスク/HA7側は、異常を検出すると、HBA5に再送要求を行う(図4ステップB2)。HBA5は再送要求を受け取ると、再び転送処理を起動する。
HA7が再送に対して異常を検出し続けると、HBA5はリトライを繰り返す。リトライがI/Oのタイムアウトの基準として設定された第2の所定の基準(リトライの回数又は時間によって設定される)に達するまで繰り返されると、HBA5はIOP4経由でOSにI/Oの異常終了を通知する(図4ステップB3)。
異常終了の通知を受けたOSは、当該パスでリトライを行う。リトライがOSで設定された第3の所定の基準に達するまで繰り返されると、障害が救済されないと判断して当該通信経路を切り離して(閉塞して)、代替パスでのリトライを行う。OS側から見ると、ディスク装置6にデータを記録するために入出力装置であるIOP4に入力信号を送信したとき、通常は、正常にデータの書き込みが完了したことを示す返信信号が得られる。しかし、入力信号を送信した後に第3の所定の基準を超えて返信信号を受信しなかったときは、その入出力装置に対する通信経路を閉塞して、他の入出力装置に対する通信に切り替える。
DGP2は、当該パスがOSから切り離されたあと、継続して障害箇所の切り分け処理を行う。切り分け処理は、予め被疑箇所切り分け情報(システム設定値)12にて取り決められた基本動作を、DGP2からの指示に従ってHBA5とHA7が実施することにより行われる。基本動作としては、図4に示すステップB4〜B6が例示される。ファイバチャネル制御LSI30内での折り返し接続試験を行う(図3(a)、図4ステップB4)。光トランシーバの光出力停止/光出力投入を行い、入力光強度確認を実施する(図3(b)、図4ステップB5)。ファイバチャネルのリンクアップ、リンクダウンの繰り返し実施(図3(c)、図4ステップB6)を行う。
被疑箇所切り分け情報12には、これらの基本動作の各々における信号の到達目標のノードと、そのノードに対して信号を送信して行う試験内容とが保存される。DGP2は、被疑箇所切り分け情報12に基づいて、ステップB4〜B6に示されるような試験を実行する。
このような基本動作をHBA5とHA7で実施し、どこまで動作が出来たか確認することにより被疑箇所を絞りこむことが出来る。間欠障害の場合に備え上記の切り分け処理をOSから切り離された状態で規定回数繰り返し行うことが望ましい。
以上説明したように、本実施形態においては、以下に記載するような効果が得られる。
第1の効果は、IOPとディスク装置間のインタフェース障害の被疑箇所を切り分け出来るようになる。
第2の効果は、保守交換後、工場に戻ってから実施していた再現試験を、障害が発生した条件(環境)に非常に近い環境で実施することで、再現率を向上させることが出来る。
1 CPU
2 DGP
3 DGU
4 IOP
5 HBA(ホストバスアダプタ)
6 ディスク装置
7 HA(ホストアダプタ)
8 プロセッサ
9 DGPファームウェア
10 ローカルメモリ
11 システム構成情報
12 被疑箇所切り分け情報
13 再現試験モード情報
14 被疑箇所切り分け部
15 SVP(サービスプロセッサ)
21 通信経路
30 ファイバチャネル制御LSI
31 HBA基板
32 光トランシーバ
33 光ケーブル
34 光トランシーバ
35 HA基板
36 ファイバチャネル制御LSI
105 HBA(ホストバスアダプタ)
107 HA(ホストアダプタ)
130 ファイバチャネル制御LSI
131 HBA基板
132 光トランシーバ
133 光ケーブル
134 光トランシーバ
135 HA基板
136 ファイバチャネル制御LSI

Claims (6)

  1. 処理部と、
    入出力部とを具備し、
    前記入出力部は、
    信号を送受信する送受信部と、
    前記送受信部を制御する制御部とを具備し、
    前記処理部は、
    第1の機器から入力した入力信号を前記送受信部を介して第2の機器に転送し、前記第2の機器から前記入力信号を再送信する要求を受信したときに前記入力信号の再送信を行う機能と、
    前記再送信が第1の所定の基準を超えて繰り返されたときに、前記再送信を停止して障害箇所の調査を開始する機能とを備え、
    前記障害箇所の調査は、前記処理部が、予め設定された複数のノードのうち前記制御部に近い側のノードから順に試験信号を送信し且つ折り返しを要求した結果、前記折り返しが不成功であった箇所を特定することによって実行される
    入出力装置。
  2. 請求項1に記載された入出力装置であって、
    前記予め設定された複数のノードは、前記制御部と同一の前記入出力装置の前記送受信部を含む
    入出力装置。
  3. 請求項1又は2に記載された入出力装置であって、
    前記処理部は、前記障害箇所の調査を、第2の所定の基準に達するまで繰り返す
    入出力装置。
  4. 請求項1から3のいずれかに記載された入出力装置であって、
    前記第1の所定の基準は、前記第1の機器が前記入出力装置に対する通信経路を閉塞したという基準である
    入出力装置。
  5. 請求項1から4のいずれかに記載された入出力装置と、
    前記第1の機器とを具備し、
    前記入出力装置は、前記第1の機器から入力した入力信号に応答して前記第2の機器から送信された返信信号を前記第1の機器に送信する機能を有し、
    前記第1の機器は、前記入出力装置に対して前記入力信号を送信した後に第3の所定の基準を超えて前記返信信号を受信しなかったとき、前記入出力装置に対する通信経路を閉塞して他の入出力装置に対する通信に切り替える
    コンピュータシステム。
  6. 処理部が、第1の機器から入力した入力信号を送受信部を介して第2の機器に転送し、前記第2の機器から前記入力信号を再送信する要求を受信したときに前記入力信号の再送信を行う工程と、
    前記処理部が、前記再送信が第1の所定の基準を超えて繰り返されたときに、前記再送信を停止して障害箇所の調査を開始する工程とを備え、
    前記障害箇所の調査は、前記処理部が、予め設定された複数のノードのうち前記送受信部を制御する制御部に近い側のノードから順に試験信号を送信し且つ折り返しを要求した結果、前記折り返しが不成功であった箇所を特定することによって実行される
    障害処理方法。
JP2011126259A 2011-06-06 2011-06-06 入出力装置、コンピュータシステム及び障害処理方法 Expired - Fee Related JP5640900B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011126259A JP5640900B2 (ja) 2011-06-06 2011-06-06 入出力装置、コンピュータシステム及び障害処理方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011126259A JP5640900B2 (ja) 2011-06-06 2011-06-06 入出力装置、コンピュータシステム及び障害処理方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012252631A true JP2012252631A (ja) 2012-12-20
JP5640900B2 JP5640900B2 (ja) 2014-12-17

Family

ID=47525358

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011126259A Expired - Fee Related JP5640900B2 (ja) 2011-06-06 2011-06-06 入出力装置、コンピュータシステム及び障害処理方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5640900B2 (ja)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05334205A (ja) * 1992-05-28 1993-12-17 Nec Corp 計算機システムにおけるi/oタイムアウト障害処理方式
JPH11136244A (ja) * 1997-10-27 1999-05-21 Omron Corp 入出力装置の制御方法
JP2000181811A (ja) * 1998-12-14 2000-06-30 Nec Eng Ltd バス診断装置及びそれに用いるバス診断方法
JP2006285519A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv データ転送システムの障害診断方法、データ転送システム及びデータ記憶装置
JP2007280258A (ja) * 2006-04-11 2007-10-25 Hitachi Ltd 記憶制御装置
JP2008084066A (ja) * 2006-09-28 2008-04-10 Hitachi Ltd ディスク制御装置及びストレージシステム
WO2010044224A1 (ja) * 2008-10-15 2010-04-22 三菱電機株式会社 情報記憶装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05334205A (ja) * 1992-05-28 1993-12-17 Nec Corp 計算機システムにおけるi/oタイムアウト障害処理方式
JPH11136244A (ja) * 1997-10-27 1999-05-21 Omron Corp 入出力装置の制御方法
JP2000181811A (ja) * 1998-12-14 2000-06-30 Nec Eng Ltd バス診断装置及びそれに用いるバス診断方法
JP2006285519A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv データ転送システムの障害診断方法、データ転送システム及びデータ記憶装置
JP2007280258A (ja) * 2006-04-11 2007-10-25 Hitachi Ltd 記憶制御装置
JP2008084066A (ja) * 2006-09-28 2008-04-10 Hitachi Ltd ディスク制御装置及びストレージシステム
WO2010044224A1 (ja) * 2008-10-15 2010-04-22 三菱電機株式会社 情報記憶装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP5640900B2 (ja) 2014-12-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7801984B2 (en) Diagnostic/remote monitoring by email
US9454415B2 (en) Communication failure source isolation in a distributed computing system
US20070288585A1 (en) Cluster system
JP5296878B2 (ja) 1つまたは複数の交換ユニットのテストを管理するために1つまたは複数の交換可能ユニットを含むコンピュータ化ストレージ・システムで使用するための方法、装置、およびプログラム(交換ユニットのテストを管理するために交換可能ユニットを含むコンピュータ化ストレージ・システム)
US8347142B2 (en) Non-disruptive I/O adapter diagnostic testing
JPH086910A (ja) クラスタ型計算機システム
US7831710B2 (en) Communication of offline status between computer systems
JP2006285519A (ja) データ転送システムの障害診断方法、データ転送システム及びデータ記憶装置
JP6429188B2 (ja) 中継装置
US7624305B2 (en) Failure isolation in a communication system
JP2020021313A (ja) データ処理装置および診断方法
JP5640900B2 (ja) 入出力装置、コンピュータシステム及び障害処理方法
JP6134720B2 (ja) 接続方法
JP2007293678A (ja) 共用バス接続診断装置
JP5643453B1 (ja) 通信路管理装置及びプログラム
US10762026B2 (en) Information processing apparatus and control method for suppressing obstacle
JP5367002B2 (ja) 監視サーバおよび監視プログラム
JP2014110620A (ja) ネットワーク運用システム
JP2019193202A (ja) 片方向通信装置、片方向通信方法および片方向通信プログラム
JP2013121095A (ja) 通信装置
JP5556226B2 (ja) インタフェース試験装置及びインタフェース試験方法
JP2011253285A (ja) 診断システム、診断装置及び診断プログラム
JP2015184049A (ja) 情報処理装置、診断方法、及び、プログラム
JP2012160027A (ja) チャネル装置の診断方法
JP2009267804A (ja) 中継装置、監視装置、異常検知方法およびプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130509

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140130

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140205

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140328

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140930

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20141013

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5640900

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees