JP2012247811A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2012247811A5
JP2012247811A5 JP2012207059A JP2012207059A JP2012247811A5 JP 2012247811 A5 JP2012247811 A5 JP 2012247811A5 JP 2012207059 A JP2012207059 A JP 2012207059A JP 2012207059 A JP2012207059 A JP 2012207059A JP 2012247811 A5 JP2012247811 A5 JP 2012247811A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical system
lens group
zooming
catadioptric
lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2012207059A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012247811A (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from US08/908,247 external-priority patent/US5999310A/en
Application filed filed Critical
Publication of JP2012247811A publication Critical patent/JP2012247811A/ja
Publication of JP2012247811A5 publication Critical patent/JP2012247811A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Claims (23)

  1. 紫外域内の少なくとも一つの波長を含む複数の波長に亘って高次色収差を変えることなくズーム若しくは倍率変更を行うことができるチューブレンズ部と、
    非ズーミング高開口数カタディオプトリック対物レンズ部とを有する、高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システム。
  2. 前記レンズ部は石英ガラス及びフッ化カルシウムを使用する請求項1記載の光学システム。
  3. ズーミング中、若しくは、前記チューブレンズ部の倍率の変更中に移動しない検出器アレイを更に有する請求項1記載の光学システム。
  4. 前記対物レンズレンズ部は、残りの色収差を除去し、前記チューブレンズ部を高次色収差に関して補償する色消し処理された視野レンズ群を含み、
    前記チューブレンズ部と前記対物レンズ部の組み合わせは、球面収差、コマ収差、及び、非点収差の色変動を補正する、請求項1記載の光学システム。
  5. 前記チューブレンズ部は、高次色収差を変えることなくズーム若しくは倍率変更を行うことができる全屈折ズーミングチューブレンズ群である、請求項1記載の光学システム
  6. 高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システムであって、
    レンズ表面が前記光学システムの光路に沿って第1の所定位置に配置され、前記光学システム内で紫外線を中間像に集光させ、同時に、前記光学システムの残りの部分と組み合わされて、紫外線域の少なくとも一つの波長を含む波長帯域に亘り像収差及び収差の色変動の両方を高いレベルで補正するよう曲率及び前記位置が選択された、複数のレンズ部品を有する焦点レンズ群と、
    前記中間像の付近で前記光路に沿って並べられ正味の正の度数を備え、分散が異なり、レンズ表面が第2の所定位置に配置され、前記波長帯域に亘って前記光学システムの少なくとも2次縦方向色と1次及び2次横方向色を含む色収差を実質的に補正するように曲率が選択された複数のレンズ部品を有する視野レンズ群と、
    第3の所定位置に配置された少なくとも2枚の反射面及び少なくとも1枚の屈折面の組み合わせを備え、前記中間像の実像を形成するよう選択された曲率を有し、前記焦点レンズ群と組み合わされて、前記波長帯域に亘り前記光学システムの1次縦方向色を実質的に補正するカタディオプトリックリレーレンズ群と、
    前記光学システムの光路に沿って第4の所定位置に配置されたレンズ表面を備え、高次色収差を変えることなくズーム若しくは倍率変更を行うことができるズーミングチューブレンズ群とを含み、
    前記光学システムの少なくとも一つのズーミングしないレンズ群は、前記波長帯域に亘って、前記ズーミングチューブレンズ群の補正されていない安定した高次色収差の残りの部分を実質的に補償する、高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システム。
  7. 前記ズーミングチューブレンズ群は、高次色収差を変えることなくズーム若しくは倍率変更を行うことができる全屈折ズーミングチューブレンズ群である請求項6記載の高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システム。
  8. 前記視野レンズ群は分散の異なる少なくとも2種類の屈折材料から形成された複数のレンズ部品を含む、請求項6記載の高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システム。
  9. 高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システムであって、
    前記光学システム内で紫外線を中間像に集光させ、同時に、前記光学システムの残りの部分と組み合わされて、紫外線域の少なくとも一つの波長を含む波長帯域に亘り像収差及び収差の色変動の両方を高いレベルで補正するよう曲率及び位置が選択された屈折面を備えた複数のレンズ部品を有する焦点レンズ群と、
    前記中間像の付近で前記光路に沿って並べられ正味の正の度数を有し、前記波長帯域に亘って前記光学システムの少なくとも2次縦方向色と1次及び2次横方向色を含む色収差を実質的に補正するように曲率が選択された屈折面を備えた、複数のレンズ部品を有する視野レンズ群と、
    前記中間像の実像を形成するよう選択された曲率を有する少なくとも2枚の反射面及び少なくとも1枚の屈折面の組み合わせを備え、前記焦点レンズ群と組み合わされて、前記波長帯域に亘り前記光学システムの1次縦方向色を実質的に補正するカタディオプトリックリレーレンズ群と、
    高次色収差を変えることなくズーム若しくは倍率変更を行うことができ、屈折面を備えたチューブレンズ群とを含み、
    前記高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システムの少なくとも一つのズーミングしないレンズ群は、前記波長帯域に亘って、前記ズーミングチューブレンズ群の補正されていない安定した高次色収差の残りの部分を実質的に補償する、高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システム。
  10. 前記チューブレンズ群は、高次色収差を変えることなくズーム若しくは倍率の変更を行うことができる全屈折ズーミングチューブレンズ群である、請求項9記載の高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システム。
  11. 紫外波長域に亘る像を受容し得る検出器アレイと、
    紫外波長帯域を生ずる広帯域紫外放射線源と、
    カタディオプトリック光学システムとを含む、高解像度の広帯域紫外映像システムであって、
    前記カタディオプトリック光学システムは、
    前記光学システム内で紫外線を中間像に集光させ、同時に、前記光学システムの残りの部分と組み合わされて、紫外線域の一つの波長を含む波長帯域に亘り像収差及び収差の色変動の両方を高いレベルで補正するよう曲率及び位置が選択された屈折面を備えた、複数のレンズ部品を有する焦点レンズ群と、
    前記中間像の付近に設けられ、前記波長帯域に亘って前記光学システムの少なくとも2次縦方向色と1次及び2次横方向色を含む色収差を実質的に補正するように曲率が選択された屈折面を備えた複数のレンズ部品を有する視野レンズ群と、
    前記中間像の実像を形成するよう選択された曲率を有する少なくとも2枚の反射面及び少なくとも1枚の屈折面の組み合わせを備え、前記焦点レンズ群と組み合わされて、前記波長帯域に亘り前記光学システムの1次縦方向色を実質的に補正するカタディオプトリックリレーレンズ群と、
    高次色収差を変えることなくズーム若しくは倍率変更を行うことができ、複数の屈折面を備えたズーミングチューブレンズ群とを含み、
    前記高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システムの少なくとも一つのズーミングしないレンズ群は、前記波長帯域に亘って、前記ズーミングチューブレンズ群の補正されていない安定した高次色収差の残りの部分を実質的に補償する、高解像度の広帯域紫外映像システム。
  12. 前記検出器アレイはズーミング中若しくは倍率の変更中に静止した状態を保つ請求項11記載の高解像度の広帯域紫外映像システム。
  13. 前記カタディオプトリック光学システムは、視野レンズを色消し処理し、残りの色収差を実質的に除去し、これにより、前記ズーミングチューブレンズ群を高次色収差に関して実質的に補償する補償手段を備え、
    前記レンズ部レンズ群の組み合わせは、前記波長帯域に亘る球面収差、コマ収差及び非点収差の色変動を実質的に補正する、請求項11記載の高解像度の広帯域紫外映像システム。
  14. 高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システムであって、
    前記光学システム内で紫外線を集光させ、同時に、前記光学システムの残りの部分と組み合わされて、紫外線域の少なくとも一つの波長を含む波長帯域に亘り像収差及び収差の色変動の両方を高いレベルで補正するよう配置された屈折面を備えた、複数のレンズ部品を有する焦点レンズ群と、
    正味の正の度数を有し、前記波長帯域に亘って前記光学システムの少なくとも2次縦方向色と1次及び2次横方向色を含む色収差を実質的に補正するように曲率が選択された屈折面を備えた複数のレンズ部品を有する視野レンズ群と、
    実質的に高次色収差を変えることなくズーム若しくは倍率変更を行うことができるズーミングチューブレンズ部と、
    前記ズーミングチューブレンズ部の補正されていない安定した高次色収差の残りの部分を実質的に補償する手段を構成する非ズーミングカタディオプトリック対物レンズ部とを含む、高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システム。
  15. 前記カタディオプトリック対物レンズ部は、視野レンズを色消し処理し、残りの色収差を実質的に除去し、これにより、前記チューブレンズ部を高次色収差に関して実質的に補償する補償手段を備え、
    前記レンズ部の組み合わせは、前記波長帯域に亘る球面収差、コマ収差及び非点収差の色変動を実質的に補正する、請求項14記載の光学システム。
  16. 前記視野レンズ群の中の少なくとも1枚のレンズは石英ガラスから製作されたレンズである請求項14記載の高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システム。
  17. 前記視野レンズ群の中の少なくとも1枚のレンズはフッ化カルシウムから製作されたレンズである請求項14記載の高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システム。
  18. 高次色収差を実質的に変えることなくズーム若しくは倍率の変更を行うことができる全屈折ズーミングチューブレンズ群を更に有する請求項14記載の高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システム。
  19. 少なくとも1枚の屈折レンズを備えたズーミングチューブレンズ群を更に有する請求項14記載の高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システム。
  20. 高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システムを製作する方法であって、
    屈折面が前記光学システムの光路に沿って第1の所定位置に配置され、前記光学システム内で紫外線を中間像に集光させ、同時に、前記光学システムの残りの部分と組み合わされて、紫外線域の少なくとも一つの波長を含む波長帯域に亘り像収差及び収差の色変動の両方を高いレベルで補正するよう曲率及び前記位置が選択された複数のレンズ部品を有する焦点レンズ群を設ける段階と、
    前記中間像の付近で前記光路に沿って並べられ正味の正の度数を備え、屈折面が第2の所定位置に配置され、前記波長帯域に亘って前記光学システムの少なくとも2次縦方向色と1次及び2次横方向色を含む色収差を実質的に補正するように曲率が選択された、異なる分散を備えた少なくとも二つの異なる屈折材料から形成された複数のレンズ部品を有する視野レンズ群を設ける段階と、
    第3の所定位置に配置され前記中間像の実像を形成するよう選択された曲率を有する少なくとも2枚の反射面及び少なくとも1枚の屈折面の組み合わせを備え、前記焦点レンズ群と組み合わされて、前記波長帯域に亘り前記光学システムの1次縦方向色を実質的に補正するカタディオプトリックリレーレンズ群を用いて実像を形成する段階と、
    前記光学システムの光路に沿って第4の所定位置に配置されたレンズ表面を備え、高次色収差を変えることなくズーム若しくは倍率変更を行うことができるズーミングチューブレンズ群を用いてズーミングする段階とを含み、
    前記光学システムの少なくとも一つのズーミングしないレンズ群は、前記波長帯域に亘って、前記ズーミングチューブレンズ群の補正されていない安定した高次色収差の残りの部分を実質的に補償する、方法。
  21. 視野レンズを色消し処理し、残りの色収差を実質的に除去し、これにより、チューブレンズ部を高次色収差に関して実質的に補償する補償手段を備えたカタディオプトリック対物レンズ部を作成する段階を更に有し、
    前記対物レンズ部と前記チューブレンズ部の組み合わせは、前記波長帯域に亘って、球面収差、コマ収差及び非点収差の色変動を実質的に補正する、請求項20記載の方法。
  22. 高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システムを用いて対象を映像化する方法であって、
    少なくとも色収差の一部分を変えることなく、ズーム若しくは倍率変更を行い得るズーミングチューブレンズ群を用いてズーミングする段階と、
    前記ズーミングチューブレンズ群の補正されていない安定した高次色収差の残りの部分を実質的に補償する紫外スペクトル域で映像化を行うため最適化された非ズーミング高開口数のカタディオプトリック対物レンズ部を用いて前記対象を映像化する段階とを含む方法。
  23. 少なくとも色収差の一部分を変えることなく、ズーム若しくは倍率変更を行い得るズーミングチューブレンズ群と、
    前記ズーミングチューブレンズ群の補正されていない安定した高次色収差の残りの部分を実質的に補償する紫外スペクトル域で映像化を行うため最適化された非ズーミング高開口数のカタディオプトリック対物レンズ部とを含む、高開口数の広スペクトル域カタディオプトリック光学システム。
JP2012207059A 1997-08-07 2012-09-20 広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム Pending JP2012247811A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/908,247 US5999310A (en) 1996-07-22 1997-08-07 Ultra-broadband UV microscope imaging system with wide range zoom capability
US08/908,247 1997-08-07

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011002136A Division JP2011070230A (ja) 1997-08-07 2011-01-07 広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014196625A Division JP2015018279A (ja) 1997-08-07 2014-09-26 広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012247811A JP2012247811A (ja) 2012-12-13
JP2012247811A5 true JP2012247811A5 (ja) 2013-07-18

Family

ID=25425441

Family Applications (6)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000506547A Pending JP2001517806A (ja) 1997-08-07 1998-08-07 広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム
JP2004329065A Pending JP2005115394A (ja) 1997-08-07 2004-11-12 広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム
JP2008212979A Pending JP2008276272A (ja) 1997-08-07 2008-08-21 広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム
JP2011002136A Pending JP2011070230A (ja) 1997-08-07 2011-01-07 広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム
JP2012207059A Pending JP2012247811A (ja) 1997-08-07 2012-09-20 広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム
JP2014196625A Pending JP2015018279A (ja) 1997-08-07 2014-09-26 広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム

Family Applications Before (4)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000506547A Pending JP2001517806A (ja) 1997-08-07 1998-08-07 広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム
JP2004329065A Pending JP2005115394A (ja) 1997-08-07 2004-11-12 広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム
JP2008212979A Pending JP2008276272A (ja) 1997-08-07 2008-08-21 広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム
JP2011002136A Pending JP2011070230A (ja) 1997-08-07 2011-01-07 広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014196625A Pending JP2015018279A (ja) 1997-08-07 2014-09-26 広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5999310A (ja)
EP (1) EP1000371B1 (ja)
JP (6) JP2001517806A (ja)
AU (1) AU9016798A (ja)
WO (1) WO1999008134A2 (ja)

Families Citing this family (121)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6512631B2 (en) * 1996-07-22 2003-01-28 Kla-Tencor Corporation Broad-band deep ultraviolet/vacuum ultraviolet catadioptric imaging system
US6522475B2 (en) * 1996-02-15 2003-02-18 Canon Kabushiki Kaisha Zoom lens
US6483638B1 (en) * 1996-07-22 2002-11-19 Kla-Tencor Corporation Ultra-broadband UV microscope imaging system with wide range zoom capability
WO2000039623A1 (fr) 1998-12-25 2000-07-06 Nikon Corporation Systeme optique de formation d'image par reflexion refraction et appareil d'exposition par projection comprenant le systeme optique
JP4717974B2 (ja) * 1999-07-13 2011-07-06 株式会社ニコン 反射屈折光学系及び該光学系を備える投影露光装置
GB9930156D0 (en) * 1999-12-22 2000-02-09 Secr Defence Optical system interface
TW538256B (en) * 2000-01-14 2003-06-21 Zeiss Stiftung Microlithographic reduction projection catadioptric objective
JP2001255464A (ja) * 2000-03-10 2001-09-21 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡光学系
US6862142B2 (en) 2000-03-10 2005-03-01 Kla-Tencor Technologies Corporation Multi-detector microscopic inspection system
US6362923B1 (en) 2000-03-10 2002-03-26 Kla-Tencor Lens for microscopic inspection
US6661580B1 (en) * 2000-03-10 2003-12-09 Kla-Tencor Technologies Corporation High transmission optical inspection tools
JP2001343589A (ja) * 2000-03-31 2001-12-14 Canon Inc 投影光学系、および該投影光学系による投影露光装置、デバイス製造方法
JP2002083766A (ja) * 2000-06-19 2002-03-22 Nikon Corp 投影光学系、該光学系の製造方法、及び前記光学系を備えた投影露光装置
US7136234B2 (en) * 2000-09-12 2006-11-14 Kla-Tencor Technologies Corporation Broad band DUV, VUV long-working distance catadioptric imaging system
US6842298B1 (en) 2000-09-12 2005-01-11 Kla-Tencor Technologies Corporation Broad band DUV, VUV long-working distance catadioptric imaging system
US7136159B2 (en) * 2000-09-12 2006-11-14 Kla-Tencor Technologies Corporation Excimer laser inspection system
JP4245286B2 (ja) * 2000-10-23 2009-03-25 株式会社ニコン 反射屈折光学系および該光学系を備えた露光装置
ATE338961T1 (de) * 2002-07-22 2006-09-15 Panavision Inc Zoom mit ultrahohem vergrösserungsverhältnis
US7639419B2 (en) * 2003-02-21 2009-12-29 Kla-Tencor Technologies, Inc. Inspection system using small catadioptric objective
US7180658B2 (en) * 2003-02-21 2007-02-20 Kla-Tencor Technologies Corporation High performance catadioptric imaging system
US7646533B2 (en) * 2003-02-21 2010-01-12 Kla-Tencor Technologies Corporation Small ultra-high NA catadioptric objective
US7884998B2 (en) 2003-02-21 2011-02-08 Kla - Tencor Corporation Catadioptric microscope objective employing immersion liquid for use in broad band microscopy
US7869121B2 (en) 2003-02-21 2011-01-11 Kla-Tencor Technologies Corporation Small ultra-high NA catadioptric objective using aspheric surfaces
US7307783B2 (en) * 2003-02-21 2007-12-11 Kla-Tencor Technologies Corporation Catadioptric imaging system employing immersion liquid for use in broad band microscopy
US7672043B2 (en) * 2003-02-21 2010-03-02 Kla-Tencor Technologies Corporation Catadioptric imaging system exhibiting enhanced deep ultraviolet spectral bandwidth
US8675276B2 (en) * 2003-02-21 2014-03-18 Kla-Tencor Corporation Catadioptric imaging system for broad band microscopy
US8208198B2 (en) 2004-01-14 2012-06-26 Carl Zeiss Smt Gmbh Catadioptric projection objective
US7466489B2 (en) 2003-12-15 2008-12-16 Susanne Beder Projection objective having a high aperture and a planar end surface
WO2005059645A2 (en) 2003-12-19 2005-06-30 Carl Zeiss Smt Ag Microlithography projection objective with crystal elements
CN102207608B (zh) 2004-01-14 2013-01-02 卡尔蔡司Smt有限责任公司 反射折射投影物镜
US7463422B2 (en) 2004-01-14 2008-12-09 Carl Zeiss Smt Ag Projection exposure apparatus
US20080151364A1 (en) 2004-01-14 2008-06-26 Carl Zeiss Smt Ag Catadioptric projection objective
WO2005096098A2 (en) * 2004-03-30 2005-10-13 Carl Zeiss Smt Ag Projection objective, projection exposure apparatus and reflective reticle for microlithography
US7712905B2 (en) 2004-04-08 2010-05-11 Carl Zeiss Smt Ag Imaging system with mirror group
EP1751601B1 (en) 2004-05-17 2007-12-05 Carl Zeiss SMT AG Catadioptric projection objective with intermediate images
US20060026431A1 (en) * 2004-07-30 2006-02-02 Hitachi Global Storage Technologies B.V. Cryptographic letterheads
US7351980B2 (en) * 2005-03-31 2008-04-01 Kla-Tencor Technologies Corp. All-reflective optical systems for broadband wafer inspection
US7345825B2 (en) * 2005-06-30 2008-03-18 Kla-Tencor Technologies Corporation Beam delivery system for laser dark-field illumination in a catadioptric optical system
US7224535B2 (en) * 2005-07-29 2007-05-29 Panavision International, L.P. Zoom lens system
US7934390B2 (en) * 2006-05-17 2011-05-03 Carl Zeiss Smt Gmbh Method for manufacturing a lens of synthetic quartz glass with increased H2 content
FR2910133B1 (fr) * 2006-12-13 2009-02-13 Thales Sa Systeme d'imagerie ir2-ir3 bi-champ compact
GB0625775D0 (en) * 2006-12-22 2007-02-07 Isis Innovation Focusing apparatus and method
US8665536B2 (en) 2007-06-19 2014-03-04 Kla-Tencor Corporation External beam delivery system for laser dark-field illumination in a catadioptric optical system
US9052494B2 (en) 2007-10-02 2015-06-09 Kla-Tencor Technologies Corporation Optical imaging system with catoptric objective; broadband objective with mirror; and refractive lenses and broadband optical imaging system having two or more imaging paths
EP2203777B1 (en) * 2007-10-02 2018-12-05 KLA-Tencor Corporation Optical imaging system with catoptric objective; broadband objective with mirror; and refractive lenses and broadband optical imaging system having two or more imaging paths
JP5022959B2 (ja) * 2008-03-24 2012-09-12 株式会社日立製作所 反射屈折型対物レンズを用いた欠陥検査装置
US8064148B2 (en) 2008-04-15 2011-11-22 Asml Holding N.V. High numerical aperture catadioptric objectives without obscuration and applications thereof
WO2009154731A2 (en) 2008-06-17 2009-12-23 Kla-Tencor Corporation External beam delivery system using catadioptric objective with aspheric surfaces
DE102009037366A1 (de) * 2009-08-13 2011-02-17 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Mikroskop, insbesondere zur Messung von Totalreflexions-Fluoreszenz, und Betriebsverfahren für ein solches
JP5479224B2 (ja) 2010-05-27 2014-04-23 キヤノン株式会社 反射屈折光学系及びそれを有する撮像装置
JP5656682B2 (ja) * 2011-02-22 2015-01-21 キヤノン株式会社 反射屈折光学系及びそれを有する撮像装置
US9793673B2 (en) 2011-06-13 2017-10-17 Kla-Tencor Corporation Semiconductor inspection and metrology system using laser pulse multiplier
US8873596B2 (en) 2011-07-22 2014-10-28 Kla-Tencor Corporation Laser with high quality, stable output beam, and long life high conversion efficiency non-linear crystal
US9250178B2 (en) 2011-10-07 2016-02-02 Kla-Tencor Corporation Passivation of nonlinear optical crystals
JP6115084B2 (ja) 2011-11-29 2017-04-19 株式会社Gsユアサ 蓄電素子
US10197501B2 (en) 2011-12-12 2019-02-05 Kla-Tencor Corporation Electron-bombarded charge-coupled device and inspection systems using EBCCD detectors
US9496425B2 (en) 2012-04-10 2016-11-15 Kla-Tencor Corporation Back-illuminated sensor with boron layer
US9601299B2 (en) 2012-08-03 2017-03-21 Kla-Tencor Corporation Photocathode including silicon substrate with boron layer
US9042006B2 (en) 2012-09-11 2015-05-26 Kla-Tencor Corporation Solid state illumination source and inspection system
US9151940B2 (en) 2012-12-05 2015-10-06 Kla-Tencor Corporation Semiconductor inspection and metrology system using laser pulse multiplier
US9426400B2 (en) 2012-12-10 2016-08-23 Kla-Tencor Corporation Method and apparatus for high speed acquisition of moving images using pulsed illumination
US8929406B2 (en) 2013-01-24 2015-01-06 Kla-Tencor Corporation 193NM laser and inspection system
US9529182B2 (en) 2013-02-13 2016-12-27 KLA—Tencor Corporation 193nm laser and inspection system
US9608399B2 (en) 2013-03-18 2017-03-28 Kla-Tencor Corporation 193 nm laser and an inspection system using a 193 nm laser
US9478402B2 (en) 2013-04-01 2016-10-25 Kla-Tencor Corporation Photomultiplier tube, image sensor, and an inspection system using a PMT or image sensor
US9293882B2 (en) 2013-09-10 2016-03-22 Kla-Tencor Corporation Low noise, high stability, deep ultra-violet, continuous wave laser
DE102013112212B4 (de) * 2013-11-06 2022-03-10 Carl Zeiss Smt Gmbh Optische Zoomeinrichtung, optische Abbildungseinrichtung, optisches Zoomverfahren und Abbildungsverfahren für die Mikroskopie
US9347890B2 (en) 2013-12-19 2016-05-24 Kla-Tencor Corporation Low-noise sensor and an inspection system using a low-noise sensor
US9748294B2 (en) 2014-01-10 2017-08-29 Hamamatsu Photonics K.K. Anti-reflection layer for back-illuminated sensor
US9410901B2 (en) 2014-03-17 2016-08-09 Kla-Tencor Corporation Image sensor, an inspection system and a method of inspecting an article
US9804101B2 (en) 2014-03-20 2017-10-31 Kla-Tencor Corporation System and method for reducing the bandwidth of a laser and an inspection system and method using a laser
US9525265B2 (en) 2014-06-20 2016-12-20 Kla-Tencor Corporation Laser repetition rate multiplier and flat-top beam profile generators using mirrors and/or prisms
US9767986B2 (en) 2014-08-29 2017-09-19 Kla-Tencor Corporation Scanning electron microscope and methods of inspecting and reviewing samples
US9419407B2 (en) 2014-09-25 2016-08-16 Kla-Tencor Corporation Laser assembly and inspection system using monolithic bandwidth narrowing apparatus
US9748729B2 (en) 2014-10-03 2017-08-29 Kla-Tencor Corporation 183NM laser and inspection system
US9860466B2 (en) 2015-05-14 2018-01-02 Kla-Tencor Corporation Sensor with electrically controllable aperture for inspection and metrology systems
US10748730B2 (en) 2015-05-21 2020-08-18 Kla-Tencor Corporation Photocathode including field emitter array on a silicon substrate with boron layer
US10656397B2 (en) 2015-06-25 2020-05-19 Young Optics Inc. Optical lens system
US10462391B2 (en) 2015-08-14 2019-10-29 Kla-Tencor Corporation Dark-field inspection using a low-noise sensor
US10139610B2 (en) 2015-10-30 2018-11-27 Nikon Corporation Broadband catadioptric microscope objective with small central obscuration
US9865447B2 (en) 2016-03-28 2018-01-09 Kla-Tencor Corporation High brightness laser-sustained plasma broadband source
US10778925B2 (en) 2016-04-06 2020-09-15 Kla-Tencor Corporation Multiple column per channel CCD sensor architecture for inspection and metrology
US10313622B2 (en) 2016-04-06 2019-06-04 Kla-Tencor Corporation Dual-column-parallel CCD sensor and inspection systems using a sensor
TWI699550B (zh) * 2016-08-29 2020-07-21 揚明光學股份有限公司 光學鏡頭
US10175555B2 (en) 2017-01-03 2019-01-08 KLA—Tencor Corporation 183 nm CW laser and inspection system
US10495287B1 (en) 2017-01-03 2019-12-03 Kla-Tencor Corporation Nanocrystal-based light source for sample characterization
US11662646B2 (en) 2017-02-05 2023-05-30 Kla Corporation Inspection and metrology using broadband infrared radiation
US10806016B2 (en) 2017-07-25 2020-10-13 Kla Corporation High power broadband illumination source
US10690589B2 (en) * 2017-07-28 2020-06-23 Kla-Tencor Corporation Laser sustained plasma light source with forced flow through natural convection
CN107608051B (zh) * 2017-09-19 2024-02-23 舜宇光学(中山)有限公司 机器视觉镜头
CN107505692B (zh) * 2017-09-26 2020-04-10 张家港中贺自动化科技有限公司 一种折反射式物镜
WO2019108260A1 (en) 2017-11-29 2019-06-06 Kla-Tencor Corporation Measurement of overlay error using device inspection system
US11067389B2 (en) 2018-03-13 2021-07-20 Kla Corporation Overlay metrology system and method
US10714327B2 (en) 2018-03-19 2020-07-14 Kla-Tencor Corporation System and method for pumping laser sustained plasma and enhancing selected wavelengths of output illumination
US10568195B2 (en) 2018-05-30 2020-02-18 Kla-Tencor Corporation System and method for pumping laser sustained plasma with a frequency converted illumination source
CN110609439B (zh) * 2018-06-15 2023-01-17 夏普株式会社 检查装置
US11114489B2 (en) 2018-06-18 2021-09-07 Kla-Tencor Corporation Back-illuminated sensor and a method of manufacturing a sensor
US10823943B2 (en) 2018-07-31 2020-11-03 Kla Corporation Plasma source with lamp house correction
CN108845405B (zh) * 2018-09-25 2020-06-12 云南博硕信息技术有限公司 宽光谱昼夜两用的双视场监控镜头
US10943760B2 (en) 2018-10-12 2021-03-09 Kla Corporation Electron gun and electron microscope
US11262591B2 (en) 2018-11-09 2022-03-01 Kla Corporation System and method for pumping laser sustained plasma with an illumination source having modified pupil power distribution
US11114491B2 (en) 2018-12-12 2021-09-07 Kla Corporation Back-illuminated sensor and a method of manufacturing a sensor
US11121521B2 (en) 2019-02-25 2021-09-14 Kla Corporation System and method for pumping laser sustained plasma with interlaced pulsed illumination sources
US10921261B2 (en) 2019-05-09 2021-02-16 Kla Corporation Strontium tetraborate as optical coating material
US11011366B2 (en) 2019-06-06 2021-05-18 Kla Corporation Broadband ultraviolet illumination sources
US11255797B2 (en) 2019-07-09 2022-02-22 Kla Corporation Strontium tetraborate as optical glass material
US10811158B1 (en) 2019-07-19 2020-10-20 Kla Corporation Multi-mirror laser sustained plasma light source
US11596048B2 (en) 2019-09-23 2023-02-28 Kla Corporation Rotating lamp for laser-sustained plasma illumination source
US11844172B2 (en) 2019-10-16 2023-12-12 Kla Corporation System and method for vacuum ultraviolet lamp assisted ignition of oxygen-containing laser sustained plasma sources
US11761969B2 (en) 2020-01-21 2023-09-19 Kla Corporation System and method for analyzing a sample with a dynamic recipe based on iterative experimentation and feedback
US11450521B2 (en) 2020-02-05 2022-09-20 Kla Corporation Laser sustained plasma light source with high pressure flow
US11848350B2 (en) 2020-04-08 2023-12-19 Kla Corporation Back-illuminated sensor and a method of manufacturing a sensor using a silicon on insulator wafer
US11690162B2 (en) 2020-04-13 2023-06-27 Kla Corporation Laser-sustained plasma light source with gas vortex flow
CN111856737B (zh) * 2020-07-13 2021-06-18 浙江大学 一种双光子光场计算显微物镜
EP4009092A1 (en) * 2020-12-04 2022-06-08 Hexagon Technology Center GmbH Compensation of pupil aberration of a lens objective
US11776804B2 (en) 2021-04-23 2023-10-03 Kla Corporation Laser-sustained plasma light source with reverse vortex flow
US11923185B2 (en) 2021-06-16 2024-03-05 Kla Corporation Method of fabricating a high-pressure laser-sustained-plasma lamp
US20230034635A1 (en) 2021-07-30 2023-02-02 Kla Corporation Protective coating for nonlinear optical crystal
US11978620B2 (en) 2021-08-12 2024-05-07 Kla Corporation Swirler for laser-sustained plasma light source with reverse vortex flow
KR102507043B1 (ko) * 2022-04-18 2023-03-07 (주)그린광학 고 분해능을 갖도록 하는 이미징용 광학계
US11637008B1 (en) 2022-05-20 2023-04-25 Kla Corporation Conical pocket laser-sustained plasma lamp

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4278330A (en) * 1979-05-14 1981-07-14 Applied Systems Corporation Catadioptric virtual-zoom optical system
EP0145845A1 (en) * 1983-10-03 1985-06-26 Texas Instruments Incorporated Dual field of view catadioptric optical system
US4779966A (en) * 1984-12-21 1988-10-25 The Perkin-Elmer Corporation Single mirror projection optical system
US4988858A (en) * 1986-11-12 1991-01-29 The Boeing Company Catoptric multispectral band imaging and detecting device
US4812021A (en) * 1987-10-07 1989-03-14 Xerox Corporation Wide angle zoom lens
US4971428A (en) * 1989-03-27 1990-11-20 Lenzar Optics Corporation Catadioptric zoom lens
JPH03287147A (ja) * 1990-04-02 1991-12-17 Minolta Camera Co Ltd ファインダ光学系
US5089910A (en) * 1990-06-28 1992-02-18 Lookheed Missiles & Space Company, Inc. Infrared catadioptric zoom relay telescope with an asperic primary mirror
US5114238A (en) * 1990-06-28 1992-05-19 Lockheed Missiles & Space Company, Inc. Infrared catadioptric zoom relay telescope
US5031976A (en) * 1990-09-24 1991-07-16 Kla Instruments, Corporation Catadioptric imaging system
US5488229A (en) * 1994-10-04 1996-01-30 Excimer Laser Systems, Inc. Deep ultraviolet microlithography system
US5757469A (en) * 1995-03-22 1998-05-26 Etec Systems, Inc. Scanning lithography system haing double pass Wynne-Dyson optics
US5650877A (en) * 1995-08-14 1997-07-22 Tropel Corporation Imaging system for deep ultraviolet lithography
JP3547103B2 (ja) * 1995-09-19 2004-07-28 富士写真光機株式会社 広角結像レンズ
US5717518A (en) * 1996-07-22 1998-02-10 Kla Instruments Corporation Broad spectrum ultraviolet catadioptric imaging system

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2012247811A5 (ja)
JP5307952B2 (ja) 硬性鏡用光学系および硬性内視鏡
JP5549462B2 (ja) 光学系及びそれを備えた画像投影装置及び撮像装置
US20160131900A1 (en) Lens and optical observation device
US9817227B2 (en) Relay set for an endoscope and an endoscope
US20160077309A1 (en) Image forming lens and image capturing device
US10976537B2 (en) Compact telescope having a plurality of focal lengths compensated for by a deformable mirror
TWI438472B (zh) 鏡頭系統
JP2019191274A (ja) 撮像光学系、及び、顕微鏡システム
US10656411B2 (en) Optical system for field mapping and/or pupil mapping
JP2019179251A (ja) 光学撮像システム
JP2016538605A (ja) 撮像レンズ
JP2019090890A (ja) 撮像光学系および撮像装置
US9606333B2 (en) Relay optical system and microscope apparatus
JP5836087B2 (ja) 顕微鏡用リレー光学系
Chen et al. Reduction of distortion aberration in imaging systems by using a microlens array
Youn et al. Optical performance test and validation of microcameras in multiscale, gigapixel imagers
JP2010249877A (ja) 変倍式望遠光学系及びこれを備える光学装置
JP2017078725A (ja) 変倍光学系
RU2584382C1 (ru) Ахроматический зеркально-линзовый объектив
Corsetti et al. Design of a ZnS/ZnSe Radial Gradient-Index Objective Lens in the Mid-Wave Infrared
JP2015111259A (ja) 光学結像装置及び顕微鏡検査用の結像方法
Fitzgerald et al. Extending the depth of field in a fixed focus lens using axial colour
JP5719220B2 (ja) 撮像装置
RU2328022C2 (ru) Объектив с вынесенным входным зрачком