JP2012209050A - Electron microscope and three-dimensional image construction method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、電子顕微鏡および３次元像構築方法に関する。 The present invention relates to an electron microscope and a three-dimensional image construction method.
透過型電子顕微鏡（Transmission Electron Microscope，ＴＥＭ）や走査透過型電子顕微鏡（Scanning Transmission Electron Microscope，ＳＴＥＭ）にＣＴ法（Computerized Tomography Method）を適用することで、ナノメートルスケールの３次元構造物に対して、３次元的に構造観察・構造解析を可能とする手法として、ＴＥＭトモグラフィーやＳＴＥＭトモグラフィーが、一般的に知られている（例えば特許文献１参照）。トモグラフィーは、まず、ＴＥＭやＳＴＥＭを用いて試料をさまざまな角度で傾斜させ、透過電子顕微鏡像（ＴＥＭ像もしくはＳＴＥＭ像）を取得する。例えば、傾斜角度範囲を±６０度とし１度ずつ試料を傾斜させ、傾斜角度ごとに透過電子顕微鏡像を取得すれば、１２１枚の透過電子顕微鏡像から構成される傾斜像シリーズを取得できる。そして、傾斜像シリーズを構成する透過電子顕微鏡像に対してＣＴ法を適用することで、再構成断面像（２次元像）が得られる。得られた一連の断面像を重ね合わせることで３次元像が得られる。 By applying CT (Computerized Tomography Method) to Transmission Electron Microscope (TEM) and Scanning Transmission Electron Microscope (STEM), it can be applied to nanometer-scale three-dimensional structures. TEM tomography and STEM tomography are generally known as techniques that enable three-dimensional structure observation and structure analysis (see, for example, Patent Document 1). In tomography, first, a sample is tilted at various angles using TEM or STEM to obtain a transmission electron microscope image (TEM image or STEM image). For example, if the tilt angle range is ± 60 degrees and the sample is tilted by 1 degree and transmission electron microscope images are acquired for each tilt angle, a tilt image series composed of 121 transmission electron microscope images can be acquired. A reconstructed cross-sectional image (two-dimensional image) can be obtained by applying the CT method to the transmission electron microscope images constituting the tilt image series. A three-dimensional image is obtained by superimposing the obtained series of cross-sectional images.
ここで、定量性のある再構成像を得るためには、得られた傾斜像シリーズを構成する一連の透過電子顕微鏡像を精度よく位置合わせする必要がある。精度よく位置合わせを行う方法として、試料の特徴的な形状がある場合、その特徴的な形状をもとにFiducial Marker法で位置合わせを行う。 Here, in order to obtain a quantitatively reconstructed image, it is necessary to accurately align a series of transmission electron microscope images constituting the obtained tilted image series. If there is a characteristic shape of the sample as a method for accurate alignment, alignment is performed by the Fiducial Marker method based on the characteristic shape.
また、例えば、試料に特徴的な形状がない場合には、試料の表面に金粒子等をまいてマーカーを形成し、このマーカーをもとにFiducial Marker法で位置合わせを行う。 Further, for example, when the sample does not have a characteristic shape, a marker is formed by spreading gold particles or the like on the surface of the sample, and alignment is performed by the Fiducial Marker method based on this marker.
しかし、観察したい領域上に金粒子等のマーカーがあると、再構成断面像に虚像が現れる場合がある。このように、試料にマーカーが形成されると、この形成されたマーカーが構築された３次元像に影響を与えてしまうことがあり、観察の妨げになる場合がある。一方、金粒子等のマーカーをまかなければ、位置あわせの精度不足により、３次元像の空間分解能が低下してしまう。 However, if there are markers such as gold particles on the region to be observed, a virtual image may appear in the reconstructed cross-sectional image. Thus, when a marker is formed on a sample, the formed marker may affect the three-dimensional image constructed, which may hinder observation. On the other hand, if the marker such as gold particles is not covered, the spatial resolution of the three-dimensional image is lowered due to insufficient alignment accuracy.
本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたものであり、本発明のいくつかの態様によれば、ＣＴ法によって得られる３次元像の像質を向上させることが可能な、電子顕微鏡および３次元像構築方法を提供することができる。 The present invention has been made in view of the above-described problems, and according to some aspects of the present invention, an electron capable of improving the image quality of a three-dimensional image obtained by the CT method. A microscope and a three-dimensional image construction method can be provided.
（１）本発明に係る電子顕微鏡は、
試料を複数段階に傾斜させる試料傾斜部と、
前記試料傾斜部によって設定された傾斜角度ごとに得られる前記試料の透過電子顕微鏡像を取得する像取得部と、
取得した前記傾斜角度ごとの前記試料の透過電子顕微鏡像に基づいて、前記試料の３次元像を構築する３次元像構築処理を行う３次元像構築部と、
前記試料にマーカーを形成するマーカー形成部と、
を含み、
前記像取得部は、
前記マーカーが形成される前の前記試料の透過電子顕微鏡像を、前記傾斜角度ごとに取得することにより、第１傾斜像シリーズを取得する第１処理と、
前記マーカーが形成された前記試料の透過電子顕微鏡像を、前記傾斜角度ごとに取得することにより、第２傾斜像シリーズを取得する第２処理と、
を行い、
前記３次元像構築部は、
前記第２傾斜像シリーズに基づいて、前記第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像間の位置あわせを行うアライメント処理を行い、位置合わせされた前記第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像に対して、前記３次元構築処理を行う。
(1) The electron microscope according to the present invention is
A sample tilting section for tilting the sample in multiple stages;
An image acquisition unit for acquiring a transmission electron microscope image of the sample obtained for each inclination angle set by the sample inclination unit;
A three-dimensional image constructing unit that performs a three-dimensional image construction process for constructing a three-dimensional image of the sample based on the acquired transmission electron microscope image of the sample for each inclination angle;
A marker forming part for forming a marker on the sample;
Including
The image acquisition unit
A first process of acquiring a first tilt image series by acquiring a transmission electron microscope image of the sample before the marker is formed for each tilt angle;
A second process of acquiring a second tilt image series by acquiring a transmission electron microscope image of the sample on which the marker is formed for each tilt angle;
And
The three-dimensional image construction unit
Based on the second tilt image series, alignment processing is performed to perform alignment between a plurality of transmission electron microscope images constituting the first tilt image series, and a plurality of the first tilt image series are aligned. The three-dimensional construction process is performed on the transmission electron microscope image.
このような電子顕微鏡によれば、マーカーが３次元像に与える影響をなくすことができ、かつ、３次元像を構築するための第１傾斜像シリーズを構成する一連の透過電子顕微鏡像を、精度よく位置合わせすることができる。したがって、ＣＴ法によって得られる３次元像の像質を向上させることができる。 According to such an electron microscope, the influence of the marker on the three-dimensional image can be eliminated, and a series of transmission electron microscope images constituting the first tilted image series for constructing the three-dimensional image can be accurately obtained. Can be aligned well. Therefore, the image quality of a three-dimensional image obtained by the CT method can be improved.
（２）本発明に係る電子顕微鏡において、
前記３次元像構築部は、
前記第２傾斜像シリーズに基づいて、前記マーカーの位置情報を前記傾斜角度ごとに取得し、
取得された前記傾斜角度ごとの前記マーカーの位置情報を、対応する傾斜角度で得られた前記第１傾斜像シリーズの透過電子顕微鏡像に適用することにより、前記第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像間の位置あわせを行ってもよい。
(2) In the electron microscope according to the present invention,
The three-dimensional image construction unit
Based on the second tilt image series, to obtain the position information of the marker for each tilt angle,
By applying the acquired positional information of the marker for each inclination angle to a transmission electron microscope image of the first inclination image series obtained at the corresponding inclination angle, a plurality of pieces constituting the first inclination image series You may align between the transmission electron microscope images.
このような電子顕微鏡によれば、マーカーが３次元像に与える影響をなくすことができ、かつ、３次元像を構築するための第１傾斜像シリーズを構成する一連の透過電子顕微鏡像を、精度よく位置合わせすることができる。 According to such an electron microscope, the influence of the marker on the three-dimensional image can be eliminated, and a series of transmission electron microscope images constituting the first tilted image series for constructing the three-dimensional image can be accurately obtained. Can be aligned well.
（３）本発明に係る電子顕微鏡において、
前記マーカー形成部は、電子線を前記試料の所定の領域に照射して、前記マーカーを形成してもよい。
(3) In the electron microscope according to the present invention,
The marker forming unit may form the marker by irradiating a predetermined region of the sample with an electron beam.
このような電子顕微鏡によれば、複数のマーカーを、所望の位置に形成することができる。さらに、マーカーを電子顕微鏡内で形成することができる。 According to such an electron microscope, a plurality of markers can be formed at desired positions. Furthermore, the markers can be formed in an electron microscope.
（４）本発明に係る電子顕微鏡において、
前記３次元像構築部は、位置合わせされた前記第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像にＣＴ法を適用して前記３次元構築処理を行ってもよい。
(4) In the electron microscope according to the present invention,
The three-dimensional image constructing unit may perform the three-dimensional constructing process by applying a CT method to a plurality of transmission electron microscopic images constituting the aligned first tilted image series.
（５）本発明に係る３次元像構築方法は、
試料を複数段階に傾斜させて、前記試料の透過電子顕微鏡像を、傾斜角度ごとに取得することにより、第１傾斜像シリーズを取得する工程と、
前記第１傾斜像シリーズを取得する工程の後に、前記試料にマーカーを形成する工程と、
前記マーカーが形成された前記試料を複数段階に傾斜させて、前記マーカーが形成された前記試料の透過電子顕微鏡像を、前記傾斜角度ごとに取得することにより、第２傾斜像シリーズを取得する工程と、
前記第２傾斜像シリーズに基づいて、前記第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像間の位置合わせを行う工程と、
位置合わせされた前記第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像に基づいて、３次元像を構築する工程と、
を含む。
(5) A three-dimensional image construction method according to the present invention includes:
Obtaining a first tilt image series by tilting the sample in a plurality of stages and obtaining a transmission electron microscope image of the sample for each tilt angle;
After the step of obtaining the first tilt image series, forming a marker on the sample;
The step of acquiring the second inclined image series by inclining the sample on which the marker is formed in a plurality of stages and acquiring transmission electron microscopic images of the sample on which the marker is formed for each inclination angle. When,
A step of aligning a plurality of transmission electron microscope images constituting the first tilted image series based on the second tilted image series;
Constructing a three-dimensional image based on a plurality of transmission electron microscope images constituting the aligned first tilt image series;
including.
このような３次元像構築方法によれば、マーカーが３次元像に与える影響をなくすことができ、かつ、３次元像を構築するための第１傾斜像シリーズを構成する一連の透過電子顕微鏡像を、精度よく位置合わせすることができる。したがって、ＣＴ法によって得られる３次元像の像質を向上させることができる。 According to such a three-dimensional image construction method, the influence of the marker on the three-dimensional image can be eliminated, and a series of transmission electron microscope images constituting the first tilt image series for constructing the three-dimensional image. Can be accurately aligned. Therefore, the image quality of a three-dimensional image obtained by the CT method can be improved.
（６）本発明に係る３次元像構築方法において、
前記第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像間の位置合わせを行う工程では、
前記第２傾斜像シリーズに基づいて、前記マーカーの位置情報を前記傾斜角度ごとに検出し、
検出された前記傾斜角度ごとの前記マーカーの位置情報を、対応する傾斜角度で得られた前記第１傾斜像シリーズの透過電子顕微鏡像に適用することにより、前記第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像間の位置あわせを行ってもよい。
(6) In the three-dimensional image construction method according to the present invention,
In the step of performing alignment between a plurality of transmission electron microscope images constituting the first inclined image series,
Based on the second tilt image series, the position information of the marker is detected for each tilt angle,
By applying the detected positional information of the marker for each inclination angle to the transmission electron microscope image of the first inclination image series obtained at the corresponding inclination angle, a plurality of pieces constituting the first inclination image series You may align between the transmission electron microscope images.
このような３次元像構築方法によれば、マーカーが３次元像に与える影響をなくすことができ、かつ、３次元像を構築するための第１傾斜像シリーズを構成する一連の透過電子顕微鏡像を精度よく位置合わせすることができる。 According to such a three-dimensional image construction method, the influence of the marker on the three-dimensional image can be eliminated, and a series of transmission electron microscope images constituting the first tilt image series for constructing the three-dimensional image. Can be accurately aligned.
以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。 DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The embodiments described below do not unduly limit the contents of the present invention described in the claims. Also, not all of the configurations described below are essential constituent requirements of the present invention.
１． 電子顕微鏡の構成
まず、本実施形態に係る電子顕微鏡の構成について説明する。図１は、本実施形態に係る透過電子顕微鏡１００の構成を説明するための図である。ここでは、電子顕微鏡が、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）の構成を有する場合について説明するが、電子顕微鏡は、走査透過型電子顕微鏡（ＳＴＥＭ）の構成を有していてもよい。なお本実施形態に係る電子顕微鏡は、図１の構成要素（各部）の一部を省略した構成としてもよい。
1. Configuration of Electron Microscope First, the configuration of the electron microscope according to the present embodiment will be described. FIG. 1 is a diagram for explaining a configuration of a transmission electron microscope 100 according to the present embodiment. Here, the case where the electron microscope has the configuration of a transmission electron microscope (TEM) will be described, but the electron microscope may have the configuration of a scanning transmission electron microscope (STEM). Note that the electron microscope according to the present embodiment may have a configuration in which some of the components (each unit) in FIG. 1 are omitted.
電子顕微鏡１００は、図１に示すように、電子線源１と、照射レンズ系２と、照射レンズ系制御装置３と、偏向器４と、試料Ｓを保持するステージ６と、ステージ制御装置７と、対物レンズ８と、投影レンズ１０と、検出器１２と、鏡筒１４と、処理部２０と、操作部３０と、表示部３２と、記憶部３４と、情報記憶媒体３６とを含んでいる。 As shown in FIG. 1, the electron microscope 100 includes an electron beam source 1, an irradiation lens system 2, an irradiation lens system control device 3, a deflector 4, a stage 6 that holds a sample S, and a stage control device 7. An objective lens 8, a projection lens 10, a detector 12, a lens barrel 14, a processing unit 20, an operation unit 30, a display unit 32, a storage unit 34, and an information storage medium 36. Yes.
電子線源１、照射レンズ系２、偏向器４、ステージ６、対物レンズ８、投影レンズ１０、検出器１２は、鏡筒１４の内部に収容されている。鏡筒１４の内部は、排気装置（図示省略）によって減圧排気されている。 The electron beam source 1, the irradiation lens system 2, the deflector 4, the stage 6, the objective lens 8, the projection lens 10, and the detector 12 are housed inside the lens barrel 14. The inside of the lens barrel 14 is evacuated under reduced pressure by an exhaust device (not shown).
電子線源１は、陰極から放出された電子を陽極で加速し電子線を放出する。電子線源１の例として、公知の電子銃を挙げることができる。 The electron beam source 1 emits an electron beam by accelerating the electrons emitted from the cathode at the anode. As an example of the electron beam source 1, a well-known electron gun can be mentioned.
照射レンズ系２は、電子線源１の後段に配置されている。照射レンズ系２は、複数の集束レンズ（図示省略）を含んで構成されている。照射レンズ系２は、試料Ｓに照射される電子線（入射電子線）の収束角を調整する。例えば、照射レンズ系２によって電子線の収束角を調整することにより、電子線を絞ることができる。また、照射レンズ系２によって絞られた電子線を試料Ｓの所定の領域に照射することにより、試料Ｓ上にカーボンを主成分とするマーカーを形成することができる。照射レンズ系２は、照射レンズ系制御装置３により制御される。 The irradiation lens system 2 is arranged at the subsequent stage of the electron beam source 1. The irradiation lens system 2 includes a plurality of focusing lenses (not shown). The irradiation lens system 2 adjusts the convergence angle of the electron beam (incident electron beam) irradiated to the sample S. For example, the electron beam can be narrowed by adjusting the convergence angle of the electron beam by the irradiation lens system 2. Further, by irradiating a predetermined region of the sample S with the electron beam focused by the irradiation lens system 2, a marker mainly composed of carbon can be formed on the sample S. The irradiation lens system 2 is controlled by the irradiation lens system control device 3.
偏向器４は、照射レンズ系２の後段に配置されている。偏向器４は、複数の偏向コイルと、当該複数の偏向コイルに流れる電流量を制御するための電流制御部（図示省略）とを有する。偏向器４は、電流制御部で各偏向コイルに流れる電流を制御することにより入射電子線を２次元的に偏向させる。 The deflector 4 is arranged at the rear stage of the irradiation lens system 2. The deflector 4 includes a plurality of deflection coils and a current control unit (not shown) for controlling the amount of current flowing through the plurality of deflection coils. The deflector 4 deflects the incident electron beam two-dimensionally by controlling the current flowing through each deflection coil by the current control unit.
ステージ６は、試料Ｓを偏向器４の後段に位置させるように保持している。ステージ６は、ステージ制御装置７により制御され、試料Ｓを水平方向や垂直方向に移動させ、また試料Ｓを回転、傾斜させる。ステージ６は、光軸ＯＡに直交する傾斜軸ＴＡを中心（軸）として傾斜可能に構成されている。ステージ６は、試料Ｓが傾斜軸ＴＡを中心（軸）として傾斜するように、試料Ｓを保持している。 The stage 6 holds the sample S so as to be positioned at the rear stage of the deflector 4. The stage 6 is controlled by the stage control device 7 to move the sample S in the horizontal direction and the vertical direction, and to rotate and tilt the sample S. The stage 6 is configured to be tiltable about a tilt axis TA orthogonal to the optical axis OA as a center (axis). The stage 6 holds the sample S so that the sample S is tilted about the tilt axis TA (axis).
対物レンズ８は、試料Ｓの後段に配置されている。対物レンズ８は、対物レンズ制御装置（図示省略）により制御され、試料Ｓを透過した電子線を結像させる。投影レンズ１０は、対物レンズ８の後段に配置されている。投影レンズ１０は、対物レンズ８によって結像された像をさらに拡大し、検出器１２上に結像させる。 The objective lens 8 is arranged at the rear stage of the sample S. The objective lens 8 is controlled by an objective lens control device (not shown) and forms an image of an electron beam that has passed through the sample S. The projection lens 10 is disposed at the subsequent stage of the objective lens 8. The projection lens 10 further enlarges the image formed by the objective lens 8 and forms an image on the detector 12.
検出器１２は、投影レンズ１０の後段に配置されている。検出器１２は、投影レンズ１０によって結像された透過電子顕微鏡像を検出する。検出器１２の例として、２次元的に配置されたＣＣＤ（Charge Coupled Device）を受光部とするＣＣＤカメラを挙げることができる。検出器１２が検出した透過電子顕微鏡像の像情報は、処理部２０に出力される。 The detector 12 is arranged at the rear stage of the projection lens 10. The detector 12 detects a transmission electron microscope image formed by the projection lens 10. An example of the detector 12 is a CCD camera having a two-dimensionally arranged CCD (Charge Coupled Device) as a light receiving unit. The image information of the transmission electron microscope image detected by the detector 12 is output to the processing unit 20.
操作部３０は、ユーザーが操作情報を入力するためのものであり、入力された操作情報を処理部２０に出力する。操作部３０の機能は、キーボード、マウス、タッチパネル型ディスプレイなどのハードウェアにより実現することができる。 The operation unit 30 is for the user to input operation information, and outputs the input operation information to the processing unit 20. The function of the operation unit 30 can be realized by hardware such as a keyboard, a mouse, and a touch panel display.
表示部３２は、処理部２０によって生成された画像を表示するものであり、その機能は、ＬＣＤ、ＣＲＴなどにより実現できる。表示部３２は、処理部２０により生成された、透過電子顕微鏡像や、再構成断面像、３次元像を表示する。 The display unit 32 displays the image generated by the processing unit 20, and its function can be realized by an LCD, a CRT, or the like. The display unit 32 displays a transmission electron microscope image, a reconstructed cross-sectional image, and a three-dimensional image generated by the processing unit 20.
記憶部３４は、処理部２０のワーク領域となるもので、その機能はＲＡＭなどにより実現できる。情報記憶媒体３６（コンピュータにより読み取り可能な媒体）は、プログラムやデータなどを格納するものであり、その機能は、光ディスク（ＣＤ、ＤＶＤ）、光磁気ディスク（ＭＯ）、磁気ディスク、ハードディスク、或いはメモリ（ＲＯＭ）などにより実現できる。処理部２０は、情報記憶媒体３６に格納されるプログラムに基づいて本実施形態の種々の処理を行う。情報記憶媒体３６には、処理部２０の各部としてコンピューターを機能させるためのプログラムを記憶することができる。 The storage unit 34 serves as a work area for the processing unit 20, and its function can be realized by a RAM or the like. The information storage medium 36 (medium readable by a computer) stores programs, data, and the like, and functions as an optical disk (CD, DVD), magneto-optical disk (MO), magnetic disk, hard disk, or memory. (ROM) or the like. The processing unit 20 performs various processes of the present embodiment based on a program stored in the information storage medium 36. The information storage medium 36 can store a program for causing a computer to function as each unit of the processing unit 20.
処理部２０は、ステージ制御装置７、照射レンズ系制御装置３等を制御する処理や、透過電子顕微鏡像を取得する処理、試料Ｓの３次元像を構築する処理等の処理を行う。処理部２０の機能は、各種プロセッサ（ＣＰＵ、ＤＳＰ等）、ＡＳＩＣ（ゲートアレイ等）などのハードウェアや、プログラムにより実現できる。処理部２０は、制御信号生成部２２と、像取得部２４と、３次元像構築部２６とを含む。 The processing unit 20 performs processing such as processing for controlling the stage control device 7, the irradiation lens system control device 3, processing for acquiring a transmission electron microscope image, processing for constructing a three-dimensional image of the sample S, and the like. The functions of the processing unit 20 can be realized by hardware such as various processors (CPU, DSP, etc.), ASIC (gate array, etc.), and programs. The processing unit 20 includes a control signal generation unit 22, an image acquisition unit 24, and a three-dimensional image construction unit 26.
制御信号生成部２２は、各種制御信号を生成してステージ制御装置７や照射レンズ系制御装置３等に出力する。例えば、制御信号生成部２２は、ステージ６（試料Ｓ）を複数段階に傾斜させるための制御信号を生成してステージ制御装置７に出力する。すなわち、本発明の試料傾斜部は、例えば、ステージ６とステージ制御装置７と制御信号生成部２２により構成される。また、制御信号生成部２２は、電子線を試料Ｓの所定の領域に照射させてマーカーを形成するための制御信号を生成し、照射レンズ系制御装置３に出力する。すなわち、本発明のマーカー形成部は、例えば、照射レンズ系２と照射レンズ系制御装置３と制御信号生成部２２により構成される。 The control signal generation unit 22 generates various control signals and outputs them to the stage control device 7, the irradiation lens system control device 3, and the like. For example, the control signal generation unit 22 generates a control signal for tilting the stage 6 (sample S) in a plurality of stages and outputs the control signal to the stage control device 7. That is, the sample tilting portion of the present invention is configured by, for example, the stage 6, the stage control device 7, and the control signal generation unit 22. The control signal generation unit 22 generates a control signal for irradiating a predetermined region of the sample S with the electron beam to form a marker, and outputs the control signal to the irradiation lens system control device 3. That is, the marker forming unit of the present invention includes, for example, the irradiation lens system 2, the irradiation lens system control device 3, and the control signal generation unit 22.
像取得部２４は、検出器１２から出力された像情報を取り込むことで透過電子顕微鏡像（ＴＥＭ像）を取得する処理を行う。像取得部２４は、ステージ６（試料Ｓ）が各傾斜角度に設定されたときに得られる傾斜角度ごとの透過電子顕微鏡像を取得する。例えば、像取得部２４は、ステージ６（試料Ｓ）が−６０°から＋６０°まで１°ステップで１２１段階に傾斜されたときに得られる１２１枚の透過電子顕微鏡像を取得する。 The image acquisition unit 24 performs processing for acquiring a transmission electron microscope image (TEM image) by taking in the image information output from the detector 12. The image acquisition unit 24 acquires a transmission electron microscope image for each inclination angle obtained when the stage 6 (sample S) is set to each inclination angle. For example, the image acquisition unit 24 acquires 121 transmission electron microscope images obtained when the stage 6 (sample S) is tilted in 121 steps in steps of 1 ° from −60 ° to + 60 °.
また、像取得部２４は、マーカーが形成される前の試料Ｓの透過電子顕微鏡像を、傾斜角度ごとに取得することにより、第１傾斜像シリーズを取得する第１処理を行い、マーカーが形成された試料Ｓの透過電子顕微鏡像を傾斜角度ごとに取得することにより、第２傾斜像シリーズを取得する第２処理を行う。 In addition, the image acquisition unit 24 performs a first process of acquiring the first tilt image series by acquiring the transmission electron microscope image of the sample S before the marker is formed at each tilt angle, so that the marker is formed. The 2nd process which acquires the 2nd tilt image series is performed by acquiring the transmission electron microscope image of the sample S for every tilt angle.
３次元像構築部２６は、像取得部２４によって取得された傾斜角度ごとの透過電子顕微鏡像に基づいて、試料Ｓの３次元像を構築するための３次元像構築処理を行う。具体的には、３次元像構築部２６は、傾斜角度ごとの透過電子顕微鏡像から断面像を再構成し、得られた再構成断面像のシリーズを重ね合わせることで３次元像を構築する。 The three-dimensional image constructing unit 26 performs a three-dimensional image constructing process for constructing a three-dimensional image of the sample S based on the transmission electron microscope image for each inclination angle acquired by the image acquiring unit 24. Specifically, the three-dimensional image constructing unit 26 reconstructs a cross-sectional image from a transmission electron microscope image for each tilt angle, and constructs a three-dimensional image by superimposing a series of the obtained reconstructed cross-sectional images.
また、３次元像構築部２６は、第２傾斜像シリーズに基づいて、第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像間の位置合わせを行うアライメント処理を行い、位置合わせされた第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像に対して、３次元構築処理を行う。このアライメント処理は、例えば、第２傾斜像シリーズに基づいて、マーカーの位置情報を傾斜角度ごとに取得し、取得された傾斜角度ごとのマーカーの位置情報を、対応する傾斜角度（例えば、同じ傾斜角度）で得られた第１傾斜像シリーズの透過電子顕微鏡像に適用することにより行われる。そして、３次元像構築部２６は、位置合わせされた第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像にＣＴ法を適用して３次元構築処理を行う。 The three-dimensional image constructing unit 26 performs alignment processing for aligning a plurality of transmission electron microscope images constituting the first tilted image series based on the second tilted image series, and aligns the first aligned images. A three-dimensional construction process is performed on a plurality of transmission electron microscope images constituting the tilt image series. For example, the alignment processing acquires marker position information for each inclination angle based on the second inclined image series, and acquires the marker position information for each acquired inclination angle with a corresponding inclination angle (for example, the same inclination angle). The angle is applied to a transmission electron microscope image of the first tilted image series. Then, the three-dimensional image constructing unit 26 performs a three-dimensional construction process by applying the CT method to a plurality of transmission electron microscope images constituting the aligned first tilt image series.
２． ３次元像構築方法
次に、本実施形態に係る３次元像構築方法について、説明する。図２は、本実施形態に係る３次元構築工程の一例を示すフローチャートである。以下、図１に示す透過型電子顕微鏡１００および図２に示すフローチャートを参照しながら説明する。
2. Next, a three-dimensional image construction method according to this embodiment will be described. FIG. 2 is a flowchart showing an example of a three-dimensional construction process according to the present embodiment. Hereinafter, description will be made with reference to the transmission electron microscope 100 shown in FIG. 1 and the flowchart shown in FIG.
まず、試料Ｓを複数段階に傾斜させて、試料Ｓの透過電子顕微鏡像を、傾斜角度ごとに取得することにより、第１傾斜像シリーズを取得する（工程Ｓ１０）。 First, the sample S is inclined in a plurality of stages, and a transmission electron microscope image of the sample S is acquired for each inclination angle, thereby acquiring a first inclined image series (step S10).
具体的には、制御信号生成部２２が、ステージ６を複数段階に傾斜させるための制御信号を生成してステージ制御装置７に出力する。ステージ制御装置７は、この制御信号に基づいて、ステージ６を複数段階に傾斜させる。ステージ６は、光軸ＯＡに直交する傾斜軸ＴＡを中心として傾斜する。これにより、ステージ６に保持された試料Ｓが複数段階に傾斜する。ステージ制御装置７は、ステージ６を、例えば、−６０°から＋６０°まで１°ステップで１２１段階に傾斜させる。 Specifically, the control signal generation unit 22 generates a control signal for tilting the stage 6 in a plurality of stages and outputs the control signal to the stage control device 7. The stage controller 7 tilts the stage 6 in a plurality of stages based on this control signal. The stage 6 is tilted about the tilt axis TA orthogonal to the optical axis OA. Thereby, the sample S held on the stage 6 is inclined in a plurality of stages. The stage control device 7 tilts the stage 6 in 121 steps in 1 ° steps from −60 ° to + 60 °, for example.
そして、像取得部２４が、ステージ６が各傾斜角度に設定されたときに得られる傾斜角度ごとの試料Ｓの透過電子顕微鏡像を取得する。このようにして、第１傾斜像シリーズを取得することができる。すなわち、第１傾斜像シリーズは、互いに異なる傾斜角度で撮像された複数の透過電子顕微鏡像で構成されている。また、第１傾斜像シリーズは、例えば、同じ観察倍率で撮像されている。像取得部２４は、例えば、ステージ６（試料Ｓ）が−６０°から＋６０°まで１°ステップで１２１段階に傾斜されたときに得られる１２１枚の透過電子顕微鏡像を取得する。この場合、第１傾斜像シリーズは、１２１枚の透過電子顕微鏡像で構成される。像取得部２４は、第１傾斜像シリーズを構成する一連の透過電子顕微鏡像情報を３次元構築部２６に出力する。 And the image acquisition part 24 acquires the transmission electron microscope image of the sample S for every inclination angle obtained when the stage 6 is set to each inclination angle. In this way, the first tilted image series can be acquired. That is, the first tilted image series is composed of a plurality of transmission electron microscope images captured at different tilt angles. Further, the first tilted image series is captured at the same observation magnification, for example. For example, the image acquisition unit 24 acquires 121 transmission electron microscope images obtained when the stage 6 (sample S) is tilted in 121 steps in steps of 1 ° from −60 ° to + 60 °. In this case, the first tilted image series is composed of 121 transmission electron microscope images. The image acquisition unit 24 outputs a series of transmission electron microscope image information constituting the first tilt image series to the three-dimensional construction unit 26.
次に、試料Ｓにマーカーを形成する（工程Ｓ１１）。 Next, a marker is formed on the sample S (step S11).
具体的には、制御信号生成部２２が、電子線を試料Ｓの所定の領域に照射させるための制御信号を生成し、照射レンズ系制御装置３に出力する。照射レンズ系制御装置３は、この制御信号に基づいて、照射レンズ系２を制御して電子線を絞り、この絞った電子線を試料Ｓの所定の領域に照射させる。試料Ｓに絞った電子線を所定時間照射すると、試料Ｓ上にカーボン等が堆積し、マーカーが形成される。マーカーの大きさは、電子線の径に対応し、例えば、電子線を絞ることによりナノサイズに形成することが可能である。また、電子線を照射することによりマーカーを形成するため、電子顕微鏡内でマーカーを形成できる。さらに、マーカーを、所望の位置に所望の数だけ形成することができる。なお、試料Ｓにマーカーを形成するときの試料Ｓの傾斜角度は、特に限定されない。例えば、試料Ｓの傾斜角度が０度のとき、すなわち、試料Ｓが光軸ＯＡと直交する位置にあるときに、マーカーを形成してもよい。 Specifically, the control signal generation unit 22 generates a control signal for irradiating a predetermined region of the sample S with the electron beam and outputs the control signal to the irradiation lens system control device 3. Based on this control signal, the irradiation lens system control device 3 controls the irradiation lens system 2 to narrow the electron beam, and irradiates the narrowed electron beam to a predetermined region of the sample S. When an electron beam focused on the sample S is irradiated for a predetermined time, carbon or the like is deposited on the sample S, and a marker is formed. The size of the marker corresponds to the diameter of the electron beam. For example, the marker can be formed in a nano size by narrowing the electron beam. Moreover, since a marker is formed by irradiating an electron beam, a marker can be formed in an electron microscope. Further, a desired number of markers can be formed at a desired position. Note that the inclination angle of the sample S when the marker is formed on the sample S is not particularly limited. For example, the marker may be formed when the inclination angle of the sample S is 0 degree, that is, when the sample S is at a position orthogonal to the optical axis OA.
図３は、マーカーの作製方法を説明するための図である。図３（ａ）は、試料Ｓの透過電子顕微鏡像を表示部３２に表示している状態を示す模式図である。図３（ｂ）は、マーカーが形成される様子を示す模式図である。 FIG. 3 is a diagram for explaining a method for producing a marker. FIG. 3A is a schematic diagram showing a state where a transmission electron microscope image of the sample S is displayed on the display unit 32. FIG. 3B is a schematic diagram showing how the markers are formed.
マーカーの作製は、まず、表示部３２上でマーカーを形成する位置を指定する。具体的には、図３（ａ）に示すように、表示部３２に表示された試料Ｓの透過電子顕微鏡像上で、マーカーを形成したい位置（マーカー形成位置Ａ１〜Ａ４）に、操作部３０を用いて目印（図示の例では×印）をつけることにより行う。これにより、マーカー形成位置Ａ１〜Ａ４の位置情報が制御信号生成部２２に入力される。 In producing the marker, first, the position where the marker is to be formed is designated on the display unit 32. Specifically, as shown in FIG. 3A, on the transmission electron microscope image of the sample S displayed on the display unit 32, the operation unit 30 is located at a position (marker formation positions A1 to A4) where a marker is to be formed. This is done by attaching a mark (× mark in the example shown) using. Thereby, the position information of the marker formation positions A1 to A4 is input to the control signal generation unit 22.
次に、マーカー形成位置Ａ１〜Ａ４の位置情報に基づいて、マーカーを形成する。具体的には、制御信号生成部２２が、この位置情報に基づいて、電子線を試料Ｓのマーカー形成位置Ａ１〜Ａ４に照射させるための制御信号を生成し、照射レンズ系制御装置３に出力する。照射レンズ系制御装置３は、この制御信号に基づいて、図３（ｂ）に示すように、照射レンズ系２を制御して、マーカー形成位置Ａ１〜Ａ４に絞った電子線を照射する。電子線の照射は、例えば、まず、マーカー形成位置Ａ１に絞った電子線を所定時間照射し、マーカー形成位置Ａ１にマーカーを形成する。所定時間経過後、電子線の照射を停止し、次のマーカー形成位置Ａ２に電子線を照射し、マーカー形成位置Ａ２にマーカーを形成する。これをマーカー形成位置Ａ３，Ａ４に対しても行い、マーカー形成位置Ａ１〜Ａ４にマーカーを形成する。 Next, a marker is formed based on the position information of the marker formation positions A1 to A4. Specifically, the control signal generation unit 22 generates a control signal for irradiating the marker formation positions A1 to A4 of the sample S based on the position information, and outputs the control signal to the irradiation lens system control device 3. To do. Based on this control signal, the irradiation lens system control device 3 controls the irradiation lens system 2 to irradiate an electron beam focused on the marker formation positions A1 to A4 as shown in FIG. In the electron beam irradiation, for example, first, an electron beam focused on the marker formation position A1 is irradiated for a predetermined time to form a marker at the marker formation position A1. After the elapse of a predetermined time, the irradiation of the electron beam is stopped, the electron beam is irradiated to the next marker formation position A2, and the marker is formed at the marker formation position A2. This is also performed for the marker formation positions A3 and A4, and markers are formed at the marker formation positions A1 to A4.
このようなマーカー作成方法によれば、容易に、所望の位置に所望の数だけマーカーを形成することができる。 According to such a marker creation method, a desired number of markers can be easily formed at a desired position.
なお、マーカーの作製は、ユーザーが、直接、照射レンズ系制御装置３を操作し、マーカー形成位置に電子線を絞ることにより行ってもよい。 The marker may be produced by the user directly operating the irradiation lens system control device 3 to focus the electron beam at the marker formation position.
次に、マーカーが形成された試料Ｓを複数段階に傾斜させて、マーカーが形成された試料Ｓの透過電子顕微鏡像を、傾斜角度ごとに取得することにより、第２傾斜像シリーズを取得する（工程Ｓ１２）。 Next, the sample S on which the marker is formed is inclined in a plurality of stages, and a transmission electron microscope image of the sample S on which the marker is formed is acquired for each inclination angle, thereby obtaining a second inclined image series ( Step S12).
この工程Ｓ１２は、試料Ｓにマーカーが形成されている点を除いて、工程Ｓ１０と同様に行うことができる。また、工程Ｓ１２は、例えば、工程Ｓ１０と同じ観察条件で行われる。すなわち、工程Ｓ１０と工程Ｓ１２では、例えば、傾斜角度範囲、および傾斜角度ステップは、同じである。また、工程Ｓ１０と工程Ｓ１２では、例えば、観察倍率、観察領域等が同じである。 This step S12 can be performed in the same manner as the step S10 except that the marker is formed on the sample S. Moreover, process S12 is performed on the same observation conditions as process S10, for example. That is, in step S10 and step S12, for example, the tilt angle range and the tilt angle step are the same. Further, in step S10 and step S12, for example, the observation magnification, the observation region, and the like are the same.
工程Ｓ１２では、像取得部２４が、マーカーが形成された試料Ｓに対して、ステージ６が各傾斜角度に設定されたときに得られる傾斜角度ごとの透過電子顕微鏡像を取得する。これにより、第２傾斜像シリーズを取得することができる。像取得部２４は、例えば、ステージ６（マーカーが形成された試料Ｓ）が−６０°から＋６０°まで１°ステップで１２１段階に傾斜されたときに得られる１２１枚の透過電子顕微鏡像を取得する。第２傾斜像シリーズは、例えば、この１２１枚の透過電子顕微鏡像で構成される。像取得部２４は、第２傾斜像シリーズの像情報を３次元構築部２６に出力する。 In step S12, the image acquisition unit 24 acquires a transmission electron microscope image for each tilt angle obtained when the stage 6 is set to each tilt angle with respect to the sample S on which the marker is formed. Thereby, the second tilted image series can be acquired. For example, the image acquisition unit 24 acquires 121 transmission electron microscope images obtained when the stage 6 (the sample S on which the marker is formed) is tilted in 121 steps in steps of 1 ° from −60 ° to + 60 °. To do. The second tilted image series includes, for example, the 121 transmission electron microscope images. The image acquisition unit 24 outputs image information of the second tilted image series to the three-dimensional construction unit 26.
次に、第２傾斜像シリーズに基づいて、第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像間の位置合わせを行う（工程Ｓ１３）。 Next, based on the second tilt image series, alignment between a plurality of transmission electron microscope images constituting the first tilt image series is performed (step S13).
工程Ｓ１３では、３次元像構築部２６が、第２傾斜像シリーズに基づいて、第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像間の位置合わせを行うアライメント処理を行う。 In step S <b> 13, the three-dimensional image constructing unit 26 performs an alignment process for aligning a plurality of transmission electron microscope images constituting the first tilted image series based on the second tilted image series.
このアライメント処理は、例えば、第２傾斜像シリーズに基づいて、マーカーの位置情報を傾斜角度ごとに取得し、取得された傾斜角度ごとのマーカーの位置情報を、対応する傾斜角度で得られた第１傾斜像シリーズの透過電子顕微鏡像に適用することにより行われる。 For example, the alignment process acquires marker position information for each inclination angle based on the second inclined image series, and obtains marker position information for each acquired inclination angle at the corresponding inclination angle. This is done by applying to a transmission electron microscope image of one tilt image series.
ここで、傾斜角度ごとのマーカーの位置情報は、第２傾斜像シリーズを構成する一連の透過電子顕微鏡像のそれぞれに対して、マーカーの位置を検出することで取得できる。例えば、第２傾斜像シリーズを構成する１２１枚の透過電子顕微鏡像のそれぞれに対して、マーカーの位置を検出し、傾斜角度ごとのマーカーの位置情報を取得する。 Here, the marker position information for each tilt angle can be obtained by detecting the marker position with respect to each of a series of transmission electron microscope images constituting the second tilt image series. For example, the marker position is detected for each of the 121 transmission electron microscope images constituting the second tilt image series, and the marker position information for each tilt angle is acquired.
また、取得されたマーカーの位置情報の適用は、例えば、まず、対応する（例えば、同じ）傾斜角度で得られた第１傾斜像シリーズの透過電子顕微鏡像と第２傾斜像シリーズの透過電子顕微鏡像に対して、２次元相関処理を行い、位置あわせを行う。そして、位置あわせされた第２傾斜像シリーズの透過電子顕微鏡像から取得したマーカーの位置情報を、位置あわせされた第１傾斜像シリーズの透過電子顕微鏡像に適用する。この処理を、傾斜角度ごとに行い、傾斜角度ごとのマーカーの位置情報を、対応する傾斜角度で得られた第１傾斜像シリーズを構成する一連の透過電子顕微鏡像に適用する。 The acquired marker position information is applied, for example, by first transmitting electron microscope images of the first tilt image series and transmission electron microscopes of the second tilt image series obtained at corresponding (for example, the same) tilt angles. A two-dimensional correlation process is performed on the image to perform alignment. Then, the marker position information acquired from the aligned transmission electron microscope image of the second tilt image series is applied to the aligned transmission electron microscope image of the first tilt image series. This process is performed for each tilt angle, and the marker position information for each tilt angle is applied to a series of transmission electron microscope images constituting the first tilt image series obtained at the corresponding tilt angle.
このように第１傾斜像シリーズを構成する透過電子顕微鏡像に、マーカーの位置情報を適用することにより、３次元像構築部２６は、第１傾斜像シリーズを構成する一連の透過電子顕微鏡像間の位置合わせを、適用されたマーカーをもとにFiducial Marker法を用いて行うことができる。すなわち、試料Ｓ上にマーカーが形成されていない状態で撮像された一連の透過電子顕微鏡像間の位置合わせを、試料Ｓ上にマーカーが形成されている場合と同様に行うことができる。以下、マーカーを用いた位置合わせ方法について詳細に説明する。 In this way, by applying the marker position information to the transmission electron microscope images constituting the first tilt image series, the three-dimensional image constructing unit 26 makes the interval between the series of transmission electron microscope images constituting the first tilt image series. Can be aligned using the Fiducial Marker method based on the applied marker. That is, alignment between a series of transmission electron microscope images captured in a state where no marker is formed on the sample S can be performed in the same manner as when the marker is formed on the sample S. Hereinafter, an alignment method using a marker will be described in detail.
図４および図５は、傾斜角度ごとの試料Ｓおよび試料Ｓ上に形成されたマーカーＭを模式的に示す断面図である。図４は、試料Ｓがドリフトしない理想的な場合を示し、図５は、試料Ｓがドリフトした場合を示している。なお、図４および図５は、傾斜軸ＴＡ方向から試料Ｓの断面を見た図である。電子線Ｌは、上から下に向けて試料Ｓに入射する。 4 and 5 are cross-sectional views schematically showing the sample S and the marker M formed on the sample S for each inclination angle. FIG. 4 shows an ideal case where the sample S does not drift, and FIG. 5 shows a case where the sample S drifts. 4 and 5 are views of a cross section of the sample S viewed from the direction of the tilt axis TA. The electron beam L enters the sample S from the top to the bottom.
ステージ６に保持された試料Ｓは、傾斜軸ＴＡを中心として傾斜する。これに伴いマーカーＭの軌跡は、理想的には、図４に示すように、傾斜軸ＴＡを中心とする円弧を描く。しかし、試料Ｓがドリフトすると、図５に示すように、マーカーＭの軌跡は、傾斜軸ＴＡを中心とする円弧からずれる。したがって、図５において、マーカーＭの軌跡が、図４に示すような、理想的な円弧を描くように、傾斜角度ごとに取得された一連の透過電子顕微鏡像の位置を補正することにより、複数の透過電子顕微鏡像間の位置あわせを行うことができる。なお、図示はしないが、マーカーＭを複数形成してもよい。これにより、位置合わせ精度を向上できる。 The sample S held on the stage 6 is tilted about the tilt axis TA. Accordingly, the locus of the marker M ideally draws an arc centering on the tilt axis TA as shown in FIG. However, when the sample S drifts, as shown in FIG. 5, the locus of the marker M deviates from an arc centered on the tilt axis TA. Therefore, in FIG. 5, a plurality of trajectories of the marker M are corrected by correcting the positions of a series of transmission electron microscope images acquired for each inclination angle so as to draw an ideal arc as shown in FIG. Alignment between the transmission electron microscope images can be performed. Although not shown, a plurality of markers M may be formed. Thereby, alignment accuracy can be improved.
次に、位置合わせされた第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像に対して、３次元構築処理を行う（工程Ｓ１４）。 Next, a three-dimensional construction process is performed on the plurality of transmission electron microscope images constituting the aligned first tilt image series (step S14).
３次元像構築部２６は、位置合わせされた第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像にＣＴ法（Computerized Tomography Method）を適用して、３次元構築処理を行う。 The three-dimensional image constructing unit 26 applies a CT method (Computerized Tomography Method) to a plurality of transmission electron microscope images constituting the aligned first tilt image series, and performs a three-dimensional construction process.
３次元構築処理は、まず、位置合わせされた第１傾斜像シリーズを構成する一連の透過電子顕微鏡像に対してＣＴ法を適用することで、再構成断面像（２次元像）を得る。そして、得られた一連の断面像を重ね合わせることで３次元像を得ることができる。 In the three-dimensional construction process, first, a reconstructed cross-sectional image (two-dimensional image) is obtained by applying the CT method to a series of transmission electron microscope images constituting the aligned first tilt image series. A three-dimensional image can be obtained by superimposing the obtained series of cross-sectional images.
以上の工程により、試料の３次元像を構築することができる。 Through the above steps, a three-dimensional image of the sample can be constructed.
本実施形態では、第２傾斜像シリーズに基づいて、第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像間の位置合わせを行うアライメント処理を行い、位置合わせされた前記第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像に対して、３次元構築処理を行う。これにより、試料Ｓ上にマーカーが形成されていない状態で撮像された一連の透過電子顕微鏡像間の位置合わせを、試料Ｓ上にマーカーが形成されている場合と同様に行うことができる。したがって、マーカーが３次元像に与える影響をなくすことができ、かつ、第１傾斜像シリーズを構成する一連の透過電子顕微鏡像を精度よく位置合わせすることができる。したがって、ＣＴ法によって得られる３次元像の像質を向上させることができる。 In the present embodiment, based on the second tilt image series, alignment processing is performed to perform alignment between a plurality of transmission electron microscope images constituting the first tilt image series, and the aligned first tilt image series is obtained. A three-dimensional construction process is performed on the plurality of transmission electron microscope images that are configured. Thereby, alignment between a series of transmission electron microscope images captured in a state where no marker is formed on the sample S can be performed in the same manner as when the marker is formed on the sample S. Accordingly, the influence of the marker on the three-dimensional image can be eliminated, and a series of transmission electron microscope images constituting the first tilt image series can be aligned with high accuracy. Therefore, the image quality of a three-dimensional image obtained by the CT method can be improved.
例えば、観察したい領域上に金粒子等のマーカーがあると、再構成断面像に虚像（メタルアーティファクト）が現れる場合があり、良好な像質の３次元像を構築できない。このように、試料にマーカーが形成されると、再構築された３次元像に影響を与えてしまうことがあり、観察の妨げになる場合がある。本実施形態によれば、３次元像を構築するための第１傾斜像シリーズは、試料Ｓ上にマーカーが形成されていない状態で撮像されているため、メタルアーティファクトの影響を受けず、マーカーが３次元像に与える影響をなくすことができる。さらに、本実施形態によれば、試料Ｓ上にマーカーが形成されていない状態で撮像された一連の透過電子顕微鏡像間の位置合わせを、試料Ｓ上にマーカーが形成されている場合と同様に行うことができる。これにより、アライメント不足による空間分解能の低下を抑えることができる。したがって、本実施形態によれば、空間分解能が高く、かつマーカーが形成されることによる影響がない、像質のよい３次元像を構築することができる。 For example, if there are markers such as gold particles on the region to be observed, a virtual image (metal artifact) may appear in the reconstructed cross-sectional image, and a three-dimensional image with good image quality cannot be constructed. Thus, when a marker is formed on a sample, the reconstructed three-dimensional image may be affected, which may hinder observation. According to the present embodiment, the first tilted image series for constructing the three-dimensional image is captured in a state in which no marker is formed on the sample S, so that the marker is not affected by the metal artifact. The influence on the three-dimensional image can be eliminated. Furthermore, according to the present embodiment, the alignment between a series of transmission electron microscope images captured in a state where no marker is formed on the sample S is performed in the same manner as when the marker is formed on the sample S. It can be carried out. Thereby, the fall of the spatial resolution by alignment lack can be suppressed. Therefore, according to the present embodiment, it is possible to construct a three-dimensional image with high image quality that has high spatial resolution and is not affected by the formation of the marker.
本実施形態では、第２傾斜像シリーズに基づいて、マーカーの位置情報を傾斜角度ごとに取得し、取得された傾斜角度ごとのマーカーの位置情報を、対応する傾斜角度で得られた第１傾斜像シリーズの透過電子顕微鏡像に適用することにより、第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像間の位置合わせを行う。これにより、マーカーが３次元像に与える影響をなくすことができ、かつ、３次元像を構築するための第１傾斜像シリーズを構成する一連の透過電子顕微鏡像を精度よく位置合わせすることができる。 In this embodiment, based on the second tilt image series, marker position information is acquired for each tilt angle, and the marker position information for each acquired tilt angle is obtained at the corresponding tilt angle. By applying to the transmission electron microscope images of the image series, alignment between a plurality of transmission electron microscope images constituting the first tilted image series is performed. As a result, the influence of the marker on the three-dimensional image can be eliminated, and a series of transmission electron microscope images constituting the first tilt image series for constructing the three-dimensional image can be accurately aligned. .
本実施形態によれば、電子線を試料の所定の領域に照射して、マーカーを形成することができるため、電子顕微鏡内でマーカーを形成できる。さらに、マーカーを、所望の位置に所望の数だけ形成することができる。 According to this embodiment, since a marker can be formed by irradiating a predetermined region of a sample with an electron beam, the marker can be formed in an electron microscope. Further, a desired number of markers can be formed at a desired position.
３． 実験例
本実験例では、マーカーの形成例を示す。
3. Experimental Example This experimental example shows an example of marker formation.
マーカーを形成する際に、試料の種類、形状、試料厚みに制限はないが、今回は、汎用的な高分子材料のひとつとして、アクリロニトリル・ブタジエン・スチレン重合合成樹脂（ＡＢＳ樹脂）を用いて実験を行った。 There are no restrictions on the type, shape, or thickness of the sample when forming the marker, but this time, we used acrylonitrile / butadiene / styrene polymerized synthetic resin (ABS resin) as one of the general-purpose polymer materials. Went.
実験は、まず、ＡＢＳ樹脂を試料Ｓとして、汎用的な高分子材料の１つである、アクリロニトリル・ブタジエン・スチレン重合合成樹脂（ＡＢＳ樹脂）を用いた。まず、ＡＢＳ樹脂からウルトラミクロトームを用いて１μｍ厚みの試料切片を切り出し、ＴＥＭ・ＳＴＥＭ観察用銅製のグリッドの上に乗せた。その後、四酸化オスミウム溶液の蒸気により、ポリブタジエン（ＰＢ）相を金属染色させ、ＴＥＭを用いて、染色した試料の透過電子顕微鏡像を得た。 In the experiment, first, an ABS resin was used as a sample S, and acrylonitrile / butadiene / styrene polymerization synthetic resin (ABS resin), which is one of general-purpose polymer materials, was used. First, a sample section having a thickness of 1 μm was cut out from the ABS resin using an ultramicrotome and placed on a copper grid for TEM / STEM observation. Thereafter, the polybutadiene (PB) phase was metal-stained with vapor of an osmium tetroxide solution, and a transmission electron microscope image of the stained sample was obtained using TEM.
図６は、ＡＢＳ樹脂の透過電子顕微鏡像である。なお、図６（ａ）に示す観察視野と図６（ｂ）に示す観察視野は、同じである。また、図６（ａ）は、絞った電子線を照射する前の透過電子顕微鏡像であり、図６（ｂ）は、絞った電子線を照射した後の透過電子顕微鏡像である。 FIG. 6 is a transmission electron microscope image of ABS resin. In addition, the observation visual field shown to Fig.6 (a) and the observation visual field shown to FIG.6 (b) are the same. FIG. 6A is a transmission electron microscope image before irradiation with the focused electron beam, and FIG. 6B is a transmission electron microscope image after irradiation with the focused electron beam.
図６に示す透過電子顕微鏡像において、黒色の相がブタジエン相であり、マトリックスと黒色の内部の小さな円形の相がアクリロニトリルとスチレンの混合相である。図６（ａ）に示す透過電子顕微鏡像の中心付近の領域に電子線を絞って、数分試料に照射した。この結果、図６（ｂ）に示すように、透過電子顕微鏡像の中心付近の領域に黒い円形状のものが観察された。この黒い円形状のものがカーボン等を含むコンタミネーションで形成されたマーカーである。以上の結果から、試料上の任意の領域にナノマーカーを形成できることが確認できた。 In the transmission electron microscope image shown in FIG. 6, the black phase is a butadiene phase, and the small circular phase inside the matrix and black is a mixed phase of acrylonitrile and styrene. An electron beam was focused on a region near the center of the transmission electron microscope image shown in FIG. 6A, and the sample was irradiated for several minutes. As a result, as shown in FIG. 6B, a black circular shape was observed in a region near the center of the transmission electron microscope image. This black circular shape is a marker formed by contamination containing carbon or the like. From the above results, it was confirmed that nanomarkers could be formed in any region on the sample.
なお、本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成（例えば、機能、方法および結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成）を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。 Note that the present invention includes substantially the same configuration (for example, a configuration having the same function, method, and result, or a configuration having the same purpose and effect) as the configuration described in the embodiment. In addition, the invention includes a configuration in which a non-essential part of the configuration described in the embodiment is replaced. In addition, the present invention includes a configuration that exhibits the same operational effects as the configuration described in the embodiment or a configuration that can achieve the same object. Further, the invention includes a configuration in which a known technique is added to the configuration described in the embodiment.
１ 電子線源、２ 照射レンズ系、３ 照射レンズ系制御装置、４ 偏向器、６ ステージ、７ ステージ制御装置、８ 対物レンズ、１０ 投影レンズ、１２ 検出器、１４ 鏡筒、２０ 処理部、２２ 制御信号生成部、２４ 像取得部、２６ ３次元像構築部、３０ 操作部、３２ 表示部、３４ 記憶部、３６ 情報記憶媒体、１００ 透過型電子顕微鏡 1 electron beam source, 2 irradiation lens system, 3 irradiation lens system control device, 4 deflector, 6 stage, 7 stage control device, 8 objective lens, 10 projection lens, 12 detector, 14 lens barrel, 20 processing unit, 22 Control signal generation unit, 24 image acquisition unit, 26 3D image construction unit, 30 operation unit, 32 display unit, 34 storage unit, 36 information storage medium, 100 transmission electron microscope
Claims (6)
前記試料傾斜部によって設定された傾斜角度ごとに得られる前記試料の透過電子顕微鏡像を取得する像取得部と、
取得した前記傾斜角度ごとの前記試料の透過電子顕微鏡像に基づいて、前記試料の３次元像を構築する３次元像構築処理を行う３次元像構築部と、
前記試料にマーカーを形成するマーカー形成部と、
を含み、
前記像取得部は、
前記マーカーが形成される前の前記試料の透過電子顕微鏡像を、前記傾斜角度ごとに取得することにより、第１傾斜像シリーズを取得する第１処理と、
前記マーカーが形成された前記試料の透過電子顕微鏡像を、前記傾斜角度ごとに取得することにより、第２傾斜像シリーズを取得する第２処理と、
を行い、
前記３次元像構築部は、
前記第２傾斜像シリーズに基づいて、前記第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像間の位置あわせを行うアライメント処理を行い、位置合わせされた前記第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像に対して、前記３次元構築処理を行う、電子顕微鏡。 A sample tilting section for tilting the sample in multiple stages;
An image acquisition unit for acquiring a transmission electron microscope image of the sample obtained for each inclination angle set by the sample inclination unit;
A three-dimensional image constructing unit that performs a three-dimensional image construction process for constructing a three-dimensional image of the sample based on the acquired transmission electron microscope image of the sample for each inclination angle;
A marker forming part for forming a marker on the sample;
Including
The image acquisition unit
A first process of acquiring a first tilt image series by acquiring a transmission electron microscope image of the sample before the marker is formed for each tilt angle;
A second process of acquiring a second tilt image series by acquiring a transmission electron microscope image of the sample on which the marker is formed for each tilt angle;
And
The three-dimensional image construction unit
Based on the second tilt image series, alignment processing is performed to perform alignment between a plurality of transmission electron microscope images constituting the first tilt image series, and a plurality of the first tilt image series are aligned. An electron microscope that performs the three-dimensional construction process on a transmission electron microscope image of
前記３次元像構築部は、
前記第２傾斜像シリーズに基づいて、前記マーカーの位置情報を前記傾斜角度ごとに取得し、
取得された前記傾斜角度ごとの前記マーカーの位置情報を、対応する傾斜角度で得られた前記第１傾斜像シリーズの透過電子顕微鏡像に適用することにより、前記第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像間の位置あわせを行う、電子顕微鏡。 In claim 1,
The three-dimensional image construction unit
Based on the second tilt image series, to obtain the position information of the marker for each tilt angle,
By applying the acquired positional information of the marker for each inclination angle to a transmission electron microscope image of the first inclination image series obtained at the corresponding inclination angle, a plurality of pieces constituting the first inclination image series An electron microscope that aligns the transmission electron microscope images of each other.
前記マーカー形成部は、電子線を前記試料の所定の領域に照射して、前記マーカーを形成する、電子顕微鏡。 In claim 1 or 2,
The said marker formation part is an electron microscope which irradiates the predetermined area | region of the said sample with an electron beam, and forms the said marker.
前記３次元像構築部は、位置合わせされた前記第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像にＣＴ法を適用して前記３次元構築処理を行う、電子顕微鏡。 In any one of Claims 1 thru | or 3,
The three-dimensional image construction unit is an electron microscope that performs the three-dimensional construction process by applying a CT method to a plurality of transmission electron microscope images constituting the aligned first tilt image series.
前記第１傾斜像シリーズを取得する工程の後に、前記試料にマーカーを形成する工程と、
前記マーカーが形成された前記試料を複数段階に傾斜させて、前記マーカーが形成された前記試料の透過電子顕微鏡像を、前記傾斜角度ごとに取得することにより、第２傾斜像シリーズを取得する工程と
前記第２傾斜像シリーズに基づいて、前記第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像間の位置合わせを行う工程と、
位置合わせされた前記第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像に基づいて、３次元像を構築する工程と、
を含む、３次元像構築方法。 Obtaining a first tilt image series by tilting the sample in a plurality of stages and obtaining a transmission electron microscope image of the sample for each tilt angle;
After the step of obtaining the first tilt image series, forming a marker on the sample;
The step of acquiring the second inclined image series by inclining the sample on which the marker is formed in a plurality of stages and acquiring transmission electron microscopic images of the sample on which the marker is formed for each inclination angle. And a step of aligning a plurality of transmission electron microscope images constituting the first tilt image series based on the second tilt image series;
Constructing a three-dimensional image based on a plurality of transmission electron microscope images constituting the aligned first tilt image series;
A three-dimensional image construction method.
前記第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像間の位置合わせを行う工程では、
前記第２傾斜像シリーズに基づいて、前記マーカーの位置情報を前記傾斜角度ごとに検出し、
検出された前記傾斜角度ごとの前記マーカーの位置情報を、対応する傾斜角度で得られた前記第１傾斜像シリーズの透過電子顕微鏡像に適用することにより、前記第１傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像間の位置あわせを行う、３次元像構築方法。 In claim 5,
In the step of performing alignment between a plurality of transmission electron microscope images constituting the first inclined image series,
Based on the second tilt image series, the position information of the marker is detected for each tilt angle,
By applying the detected positional information of the marker for each inclination angle to the transmission electron microscope image of the first inclination image series obtained at the corresponding inclination angle, a plurality of pieces constituting the first inclination image series A method for constructing a three-dimensional image in which alignment between transmission electron microscope images is performed.
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