JP2012161861A - Processing machine - Google Patents
Processing machine Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012161861A JP2012161861A JP2011022782A JP2011022782A JP2012161861A JP 2012161861 A JP2012161861 A JP 2012161861A JP 2011022782 A JP2011022782 A JP 2011022782A JP 2011022782 A JP2011022782 A JP 2011022782A JP 2012161861 A JP2012161861 A JP 2012161861A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unit
- rotation angle
- motor
- movable part
- distance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 39
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 7
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Dicing (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
本発明は、簡易スケールを備えた切削装置、レーザ加工装置等の加工装置に関する。 The present invention relates to a processing apparatus such as a cutting apparatus or a laser processing apparatus having a simple scale.
半導体デバイス製造プロセスにおいては、略円板形状であるシリコンウエーハ、ガリウム砒素ウエーハ等の半導体ウエーハの表面に格子状に形成されたストリートと呼ばれる分割予定ラインによって複数の領域が区画され、区画された各領域にIC、LSI等のデバイスを形成する。そして、半導体ウエーハは切削装置又はレーザ加工装置によって個々のデバイスに分割され、分割されたデバイスは携帯電話、パソコン等の各種電気機器に広く利用されている。 In the semiconductor device manufacturing process, a plurality of regions are defined by dividing lines called streets formed in a lattice shape on the surface of a semiconductor wafer such as a silicon wafer or a gallium arsenide wafer having a substantially disk shape. A device such as an IC or LSI is formed in the region. The semiconductor wafer is divided into individual devices by a cutting device or a laser processing device, and the divided devices are widely used in various electric devices such as mobile phones and personal computers.
切削装置は、半導体ウエーハを保持するチャックテーブルと、チャックテーブルに保持されたウエーハを切削する切削ブレードを回転可能に支持した切削ユニット(切削手段)と、チャックテーブルをX軸方向に加工送りする加工送り手段と、切削ユニットをY軸方向に割り出し送りする割り出し送り手段とを備えており、ウエーハを高精度に個々のデバイスに分割することができる。 The cutting apparatus includes a chuck table that holds a semiconductor wafer, a cutting unit (cutting means) that rotatably supports a cutting blade that cuts the wafer held by the chuck table, and a process that feeds the chuck table in the X-axis direction. Feeding means and indexing feeding means for indexing and feeding the cutting unit in the Y-axis direction are provided, and the wafer can be divided into individual devices with high accuracy.
一方、レーザ加工装置は、半導体ウエーハ又は光デバイスウエーハ等のウエーハを保持するチャックテーブルと、チャックテーブルに保持されたウエーハにパルスレーザビームを照射するレーザビーム照射ユニットと、チャックテーブルをX軸方向に加工送りする加工送り手段と、チャックテーブルをY軸方向に割り出し送りする割り出し送り手段とを備えている。 On the other hand, the laser processing apparatus includes a chuck table for holding a wafer such as a semiconductor wafer or an optical device wafer, a laser beam irradiation unit for irradiating a wafer held on the chuck table with a pulsed laser beam, and a chuck table in the X-axis direction. Processing feed means for processing feed and index feed means for indexing and feeding the chuck table in the Y-axis direction are provided.
切削装置においては、所定ピッチで形成された分割予定ラインをY軸方向に割り出し送りしながら切削ブレードで分割予定ラインを切削するため、Y軸方向の高精度な位置決めを実現するために、低膨張ガラス等から形成されたリニアスケール及び読み取りヘッドから構成されるリニアスケールユニットがY軸方向に伸長するように搭載されている。 In the cutting machine, the planned dividing line is indexed and fed in the Y-axis direction while cutting the planned dividing line with the cutting blade, so that the low expansion is achieved in order to achieve high-precision positioning in the Y-axis direction. A linear scale unit composed of a linear scale formed of glass or the like and a reading head is mounted so as to extend in the Y-axis direction.
レーザ加工装置においては、Y軸方向の割り出し送り用リニアスケールユニットに加えて、チャックテーブルに保持されたウエーハに対するレーザビーム照射ユニットのX軸方向の位置決めも重要であるため、X軸方向にも高精度な位置決めを実現するためリニアスケールユニットがX軸方向に伸長するように搭載されている。 In the laser processing apparatus, in addition to the linear scale unit for index feed in the Y-axis direction, positioning of the laser beam irradiation unit with respect to the wafer held on the chuck table in the X-axis direction is also important. In order to realize accurate positioning, a linear scale unit is mounted so as to extend in the X-axis direction.
加工送り手段及び割り出し送り手段は、一般的にボールねじとパルスモータの組み合わせから構成されているため、室温の変化や、装置立ち上げに伴う装置内部の温度変化によってボールねじが熱膨張してしまうため、熱膨張を補正して高精度な位置決めを実現するためリニアスケールユニットが設けられている。 Since the processing feed means and the index feed means are generally composed of a combination of a ball screw and a pulse motor, the ball screw is thermally expanded due to a change in room temperature or a change in temperature inside the apparatus accompanying the start-up of the apparatus. Therefore, a linear scale unit is provided in order to correct thermal expansion and realize highly accurate positioning.
リニアスケールユニットは低膨張ガラス等から形成されたリニアスケールと読み取りヘッドとから構成されており、非常に高価である。そこで、リニアスケールユニットを搭載せずに安価な機構で高精度な位置決めを実現したいという要望がある。 The linear scale unit is composed of a linear scale formed of low expansion glass or the like and a read head, and is very expensive. Therefore, there is a demand for realizing high-precision positioning with an inexpensive mechanism without mounting a linear scale unit.
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、比較的安価な機構により高精度な位置決めを実現可能な加工装置を提供することである。 The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a machining apparatus that can realize highly accurate positioning by a relatively inexpensive mechanism.
本発明によると、可動部と、該可動部を移動させるモータとボールねじとを含む移動手段と、該移動手段を制御する制御手段とを備えた加工装置であって、該可動部が基準距離の始点から終点まで移動したことを検出する簡易スケールユニットを具備し、該制御手段は、所定のタイミングで該モータを回転させて該可動部を該基準距離の始点から終点まで移動させた際の該モータの回転角を記憶する回転角記憶部と、該回転角記憶部で記憶した回転角と該基準距離とから単位回転当たりの該可動部の移動距離を算出する単位回転角移動距離算出部と、該単位回転角移動距離算出部で算出した該単位回転当たりの移動距離に基づいて、該可動部を所定距離移動させるのに必要な該モータの回転角を算出する回転角算出部を、該回転角算出部で算出した該回転角だけ該モータを回転させて該可動部を該所定距離移動させるモータ制御部と、を含むことを特徴とする加工装置が提供される。 According to the present invention, there is provided a processing apparatus including a movable part, a moving means including a motor for moving the movable part and a ball screw, and a control means for controlling the moving means, wherein the movable part is a reference distance. A simple scale unit that detects the movement from the start point to the end point, and the control means rotates the motor at a predetermined timing to move the movable part from the start point to the end point of the reference distance. A rotation angle storage unit that stores the rotation angle of the motor, and a unit rotation angle movement distance calculation unit that calculates a movement distance of the movable unit per unit rotation from the rotation angle stored in the rotation angle storage unit and the reference distance And a rotation angle calculation unit for calculating a rotation angle of the motor necessary to move the movable unit by a predetermined distance based on the movement distance per unit rotation calculated by the unit rotation angle movement distance calculation unit, Calculated by the rotation angle calculator Processing apparatus is provided which comprises and a motor control unit for the predetermined distance moves the movable portion by rotating the motor by the rotation angle is, the.
好ましくは、簡易スケールユニットは、第1スリットと第1スリットから基準距離離間した第2スリットとを有し、可動部に取り付けられた簡易スケールと、簡易スケールを挟んでベース上に対向するように配設された発光素子と受光素子とからなるフォトインターラプターとから構成される。 Preferably, the simple scale unit has a first slit and a second slit spaced apart from the first slit by a reference distance, and is opposed to the base with the simple scale attached to the movable part and the simple scale interposed therebetween. It is comprised from the photo interrupter which consists of the arrange | positioned light emitting element and light receiving element.
本発明の加工装置は、基準距離を検出する比較的安価な機構から構成される簡易スケールユニットを具備しており、簡易スケールユニットで可動部の基準距離の移動を検出し、可動部が基準距離移動した際のモータの回転角から単位回転当たりの移動距離を算出する。 The processing apparatus of the present invention includes a simple scale unit including a relatively inexpensive mechanism for detecting a reference distance. The simple scale unit detects the movement of the reference distance of the movable part, and the movable part is the reference distance. The movement distance per unit rotation is calculated from the rotation angle of the motor at the time of movement.
そして、可動部を所定距離移動させる際には、単位回転角当たりの移動距離から回転すべきモータの回転角を算出して可動部を移動させるようにしたため、室温や装置内部に温度変化が生じても精密な位置決めが可能となる。 When the movable part is moved by a predetermined distance, the rotation angle of the motor to be rotated is calculated from the movement distance per unit rotation angle and the movable part is moved. However, precise positioning is possible.
以下、本発明実施形態に係る切削装置2を図面を参照して詳細に説明する。図1は、切削装置2の概略構成図を示している。切削装置2は、静止基台(ベース)4上に搭載されたX軸方向に伸長する一対のガイドレール6を含んでいる。
Hereinafter, a
X軸移動ブロック8は、ボール螺子10及びパルスモータ12とから構成されるX軸送り機構(加工送り手段)14により加工送り方向、即ちX軸方向に移動される。X軸移動ブロック8上には円筒状支持部材22を介してチャックテーブル20が搭載されている。
The
チャックテーブル20は多孔性セラミックス等から形成された吸着部(吸着チャック)24を有している。チャックテーブル20には図2に示す環状フレームFをクランプする複数(本実施形態では4個)のクランプ26が配設されている。
The chuck table 20 has a suction part (suction chuck) 24 formed of porous ceramics or the like. A plurality of (four in this embodiment)
図2に示すように、切削装置2の加工対象である半導体ウエーハWの表面においては、第1のストリートS1と第2のストリートS2とが直交して形成されており、第1のストリートS1と第2のストリートS2とによって区画された領域に多数のデバイスDが形成されている。
As shown in FIG. 2, the first street S1 and the second street S2 are formed orthogonal to each other on the surface of the semiconductor wafer W to be processed by the
ウエーハWは粘着テープであるダイシングテープTに貼着され、ダイシングテープTの外周部は環状フレームFに貼着されている。これにより、ウエーハWはダイシングテープTを介して環状フレームFに支持された状態となり、図1に示すクランプ26により環状フレームFをクランプすることにより、チャックテーブル20上に支持固定される。
The wafer W is attached to a dicing tape T that is an adhesive tape, and the outer periphery of the dicing tape T is attached to an annular frame F. As a result, the wafer W is supported by the annular frame F via the dicing tape T, and the annular frame F is clamped by the
静止基台4上には更に、Y軸方向に伸長する一対のガイドレール28が固定されている。Y軸移動ブロック30は、ボール螺子32及びパルスモータ34とから構成されるY軸送り機構(割り出し送り手段)36によりY軸方向に移動される。
A pair of
Y軸移動ブロック30にはZ軸方向に伸長する一対の(一本のみ図示)ガイドレール38が形成されている。Z軸移動ブロック40は、図示しないボール螺子とパルスモータ42から構成されるZ軸送り機構44によりZ軸方向に移動される。
The Y-
46は切削ユニット(切削手段)であり、切削ユニット46のスピンドルハウジング48がZ軸移動ブロック40中に挿入されて支持されている。スピンドルハウジング48中にはスピンドル49(図3及び図4参照)が収容されて、エアベアリングにより回転可能に支持されている。スピンドル49はスピンドルハウジング48中に収容された図示しないモータにより回転駆動され、スピンドル49の先端部には切削ブレード50が着脱可能に装着されている。
スピンドルハウジング48にはアライメントユニット(アライメント手段)52が搭載されている。アライメントユニット52はチャックテーブル20に保持されたウエーハWを撮像する撮像ユニット(撮像手段)54を有している。切削ブレード50と撮像ユニット54はX軸方向に整列して配置されている。
An alignment unit (alignment means) 52 is mounted on the
Y軸移動ブロック30には枠体58が取り付けられており、枠体58に簡易スケール60が装着されている。簡易スケール60はゼロ膨張ガラスバー又は低膨張ガラスバーから形成されており、少なくともその一面には図4に示すように、光の透過を防止するために金属メッキ62が施されている。簡易スケール60を構成する材料はゼロ膨張ガラス又は低膨張ガラスの他、低膨張セラミック、低膨張金属等の熱膨張が少ない材料から形成することができる。
A
簡易スケール60は第1スリット64aと第2スリット64bとを有しており、第1スリット64aの内側エッジと第2スリット64bの内側エッジとの間の距離が基準距離L1に設定されている。
The
図1及び図3に示されるように、簡易スケール60を挟んで発光素子66と受光素子68が対向するように静止基台4上に配設されている。発光素子66と受光素子68でフォトインターラプターを構成する。簡易スケール60と発光素子66及び受光素子68とからなるフォトインターラプターとで基準距離を検出する簡易スケールユニット65を構成する。
As shown in FIGS. 1 and 3, the
発光素子66は図示しない駆動回路を介して制御手段70に接続されており、受光素子68も制御手段70に接続されている。受光素子68で光電変換された電気信号が制御手段70に入力される。Y軸送り機構36のパルスモータ34も制御手段70に接続されている。
The
図5のブロック図に示すように、制御手段70は、パルスモータ34を回転させてY軸移動ブロック30をY軸方向に基準距離L1移動させた際のパルスモータ34の回転角を記憶する回転角記憶部72と、回転角記憶部72で記憶した回転角と基準距離L1とに基づいて、単位回転当たりのY軸移動ブロック30の移動距離を算出する単位回転角移動距離算出部74を有している。
As shown in the block diagram of FIG. 5, the control means 70 stores the rotation angle of the
制御手段70は更に、単位回転角移動距離算出部74で算出した単位回転角当たりの移動距離に基づいて、Y軸移動ブロック30を所定距離移動させるのに必要なパルスモータ34の回転角を算出する回転角算出部76と、回転角算出部76で算出した回転角だけ、パルスモータ34を回転させてY軸移動ブロック30を所定距離移動させるモータ制御部78を有している。
The control means 70 further calculates the rotation angle of the
以下、上述した構成を有する切削装置2の作用について説明する。通常、切削装置2の立ち上げ時には切削水を供給しながら所定時間のアイドリング運転を実施する。十分な時間アイドリング運転を実施した後、所定のタイミングでY軸送り機構36のパルスモータ34を回転させて、Y軸移動ブロック30即ち切削ユニット46をY軸方向に移動して、簡易スケール60と発光素子66及び受光素子68とからなるフォトインターラプターとから構成される簡易スケールユニット65により、切削ユニット46の基準距離L1の移動を検出し、基準距離L1の移動を検出した際のパルスモータ34の回転角を制御手段70の回転角記憶部72で記憶する。
Hereinafter, the operation of the
図示の実施形態では、図4に示すように、基準距離L1が第1スリット64aの内側エッジと第2スリット64bの内側エッジとで規定されているので、受光素子68で第1スリット64aを透過した発光素子66からの光を一旦検出し、この検出が中断されてから第2スリット64bを通して発光素子66からの光を検出するまでのパルスモータ34の回転角を回転角記憶部72で記憶する。
In the illustrated embodiment, as shown in FIG. 4, the reference distance L1 is defined by the inner edge of the
次いで、回転角記憶部72で記憶した回転角と基準距離L1とに基づいて、単位回転当たりの切削ユニット46の移動距離を単位回転角移動距離算出部74で算出する。そして、単位回転角移動距離算出部74で算出した単位回転角当たりの移動距離に基づいて、切削ユニット46を所定距離、例えば隣接する第1のストリートS1の間隔だけ移動させるのに必要なパルスモータ34の回転角を回転角算出部76で算出する。
Next, based on the rotation angle stored in the rotation
モータ制御部78では、回転角算出部76で算出した回転角だけ、パルスモータ34を回転させて切削ユニット46を所定距離、例えば第1のストリートS1のピッチだけ割り出し送りする。
In the
上述した実施形態では、簡易スケール60とフォトインターラプターとから構成される比較的安価な簡易スケールユニット65により、切削ユニット46を基準距離L1だけY軸方向に移動した際のパルスモータ34の回転角からパルスモータ34の単位回転当たりの移動距離を算出し、切削ユニット46を所定距離移動させる際には、単位回転当たりの移動距離から回転すべきパルスモータ34の回転角を算出して切削ユニット46を移動させるようにしたため、室温や装置内部に温度変化が生じても切削ユニット46の精密な位置決めが可能となる。
In the embodiment described above, the rotation angle of the
上述した実施形態では、切削ユニット46が可動部を構成するが、レーザ加工装置においては、レーザビーム照射ユニット又はチャックテーブルを有するチャックテーブルユニットが可動部を構成する。
In the embodiment described above, the cutting
2 切削装置
20 チャックテーブル
30 Y軸移動ブロック
34 パルスモータ
36 Y軸移動機構
46 切削ユニット(切削手段)
50 切削ブレード
60 簡易スケール
64a 第1スリット
64b 第2スリット
65 簡易スケールユニット
66 発光素子
68 受光素子
70 制御手段
2 Cutting
50
Claims (2)
該可動部が基準距離の始点から終点まで移動したことを検出する簡易スケールユニットを具備し、
該制御手段は、所定のタイミングで該モータを回転させて該可動部を該基準距離の始点から終点まで移動させた際の該モータの回転角を記憶する回転角記憶部と、
該回転角記憶部で記憶した回転角と該基準距離とから単位回転当たりの該可動部の移動距離を算出する単位回転角移動距離算出部と、
該単位回転角移動距離算出部で算出した該単位回転当たりの移動距離に基づいて、該可動部を所定距離移動させるのに必要な該モータの回転角を算出する回転角算出部を、
該回転角算出部で算出した該回転角だけ該モータを回転させて該可動部を該所定距離移動させるモータ制御部と、
を含むことを特徴とする加工装置。 A processing apparatus comprising a movable part, a moving means including a motor and a ball screw for moving the movable part, and a control means for controlling the moving means,
A simple scale unit for detecting that the movable part has moved from the start point to the end point of the reference distance;
The control means rotates the motor at a predetermined timing to store the rotation angle of the motor when the movable part is moved from the start point to the end point of the reference distance;
A unit rotation angle movement distance calculation unit for calculating a movement distance of the movable unit per unit rotation from the rotation angle stored in the rotation angle storage unit and the reference distance;
A rotation angle calculation unit for calculating a rotation angle of the motor necessary to move the movable unit by a predetermined distance based on the movement distance per unit rotation calculated by the unit rotation angle movement distance calculation unit;
A motor control unit that rotates the motor by the rotation angle calculated by the rotation angle calculation unit and moves the movable unit by the predetermined distance;
The processing apparatus characterized by including.
該簡易スケールを挟んでベース上に対向するように配設された発光素子と受光素子とからなるフォトインターラプターとから構成される請求項1記載の加工装置。 The simple scale unit has a first slit and a second slit that is spaced from the first slit by a reference distance, and is attached to the movable part.
The processing apparatus according to claim 1, comprising a photointerrupter including a light emitting element and a light receiving element disposed so as to face each other with the simple scale interposed therebetween.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011022782A JP5730048B2 (en) | 2011-02-04 | 2011-02-04 | Processing equipment |
CN201210023465.XA CN102629566B (en) | 2011-02-04 | 2012-02-02 | Processing unit (plant) |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011022782A JP5730048B2 (en) | 2011-02-04 | 2011-02-04 | Processing equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012161861A true JP2012161861A (en) | 2012-08-30 |
JP5730048B2 JP5730048B2 (en) | 2015-06-03 |
Family
ID=46587794
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011022782A Active JP5730048B2 (en) | 2011-02-04 | 2011-02-04 | Processing equipment |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5730048B2 (en) |
CN (1) | CN102629566B (en) |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015093359A (en) * | 2013-11-13 | 2015-05-18 | 株式会社ジェイテクト | Grinder |
CN104703755A (en) * | 2012-10-11 | 2015-06-10 | 株式会社牧野铣床制作所 | Tool path-generating method, machine tool control device and tool path-generating device |
CN104756025A (en) * | 2012-10-30 | 2015-07-01 | 株式会社牧野铣床制作所 | Workpiece-attachment-information reporting device |
JP2015128122A (en) * | 2013-12-28 | 2015-07-09 | Towa株式会社 | Cutting device and cutting method for manufacturing electronic component |
JP2016124097A (en) * | 2014-12-29 | 2016-07-11 | エルジー シルトロン インコーポレイテッド | Wafer polishing device and polishing method of the same |
EP2915625A4 (en) * | 2012-10-30 | 2016-07-20 | Makino Milling Machine | Machine tool control device and machine tool |
EP2915614A4 (en) * | 2012-10-31 | 2016-07-27 | Makino Milling Machine | Machine tool control device and machine tool |
KR20190010438A (en) | 2017-07-21 | 2019-01-30 | 가부시기가이샤 디스코 | Grinding apparatus |
CN109531840A (en) * | 2018-11-29 | 2019-03-29 | 武汉畅新科技发展有限公司 | The cutter device of LED wafer |
JP2020049588A (en) * | 2018-09-27 | 2020-04-02 | 株式会社ジェイテクト | Machine tool |
KR20200081239A (en) | 2018-12-27 | 2020-07-07 | 가부시기가이샤 디스코 | Processing apparatus with self-diagnostic function |
CN115284167A (en) * | 2022-06-13 | 2022-11-04 | 哈尔滨汽轮机厂有限责任公司 | Bearing box base frame grinding nonstandard equipment and using method thereof |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016165785A (en) * | 2015-03-10 | 2016-09-15 | 株式会社ディスコ | Movable device and processing device |
CN105773303A (en) * | 2016-04-12 | 2016-07-20 | 莱芜钢铁集团有限公司 | Milling machine rectilinear rising and falling precision correction auxiliary component and method |
CN105855629B (en) * | 2016-05-25 | 2018-05-08 | 重庆大学 | It is automatic to repair file device and its repair file method |
JP7114166B2 (en) * | 2018-01-16 | 2022-08-08 | 株式会社ディスコ | Cutting blade management method and cutting device |
CN112223501A (en) * | 2020-10-13 | 2021-01-15 | 沈阳汉为科技有限公司 | Novel honeycomb ceramic mould fluting device |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5272180A (en) * | 1975-12-13 | 1977-06-16 | Fujitsu Ltd | Positioning stopper for moving object |
JPS55132971U (en) * | 1979-03-14 | 1980-09-20 | ||
JPH01109048A (en) * | 1987-10-23 | 1989-04-26 | Matsuo Sangyo Kk | Automatic control method for screw feeder |
-
2011
- 2011-02-04 JP JP2011022782A patent/JP5730048B2/en active Active
-
2012
- 2012-02-02 CN CN201210023465.XA patent/CN102629566B/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5272180A (en) * | 1975-12-13 | 1977-06-16 | Fujitsu Ltd | Positioning stopper for moving object |
JPS55132971U (en) * | 1979-03-14 | 1980-09-20 | ||
JPH01109048A (en) * | 1987-10-23 | 1989-04-26 | Matsuo Sangyo Kk | Automatic control method for screw feeder |
Cited By (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2907621A4 (en) * | 2012-10-11 | 2016-07-13 | Makino Milling Machine | Tool path-generating method, machine tool control device and tool path-generating device |
CN104703755A (en) * | 2012-10-11 | 2015-06-10 | 株式会社牧野铣床制作所 | Tool path-generating method, machine tool control device and tool path-generating device |
US10042348B2 (en) | 2012-10-11 | 2018-08-07 | Makino Milling Machine Co., Ltd. | Tool path-generating method, machine tool control device and tool path-generating device |
US9791845B2 (en) | 2012-10-30 | 2017-10-17 | Makino Milling Machine Co., Ltd. | Workpiece-attachment-information reporting device |
EP2916184A4 (en) * | 2012-10-30 | 2016-06-29 | Makino Milling Machine | Workpiece-attachment-information reporting device |
EP2915625A4 (en) * | 2012-10-30 | 2016-07-20 | Makino Milling Machine | Machine tool control device and machine tool |
CN104756025B (en) * | 2012-10-30 | 2017-11-14 | 株式会社牧野铣床制作所 | Workpiece mount message annunciator |
US10007251B2 (en) | 2012-10-30 | 2018-06-26 | Makino Milling Machine Co., Ltd. | Machine tool control device and machine tool |
CN104756025A (en) * | 2012-10-30 | 2015-07-01 | 株式会社牧野铣床制作所 | Workpiece-attachment-information reporting device |
EP2915614A4 (en) * | 2012-10-31 | 2016-07-27 | Makino Milling Machine | Machine tool control device and machine tool |
US10180675B2 (en) | 2012-10-31 | 2019-01-15 | Makino Milling Machine Co., Ltd. | Machine tool control device and machine tool |
JP2015093359A (en) * | 2013-11-13 | 2015-05-18 | 株式会社ジェイテクト | Grinder |
JP2015128122A (en) * | 2013-12-28 | 2015-07-09 | Towa株式会社 | Cutting device and cutting method for manufacturing electronic component |
JP2016124097A (en) * | 2014-12-29 | 2016-07-11 | エルジー シルトロン インコーポレイテッド | Wafer polishing device and polishing method of the same |
KR20190010438A (en) | 2017-07-21 | 2019-01-30 | 가부시기가이샤 디스코 | Grinding apparatus |
JP2020049588A (en) * | 2018-09-27 | 2020-04-02 | 株式会社ジェイテクト | Machine tool |
JP7279326B2 (en) | 2018-09-27 | 2023-05-23 | 株式会社ジェイテクト | Machine Tools |
CN109531840A (en) * | 2018-11-29 | 2019-03-29 | 武汉畅新科技发展有限公司 | The cutter device of LED wafer |
KR20200081239A (en) | 2018-12-27 | 2020-07-07 | 가부시기가이샤 디스코 | Processing apparatus with self-diagnostic function |
JP2020106375A (en) * | 2018-12-27 | 2020-07-09 | 株式会社ディスコ | Machining device equipped with self-diagnosis function |
JP7246827B2 (en) | 2018-12-27 | 2023-03-28 | 株式会社ディスコ | Processing equipment with self-diagnosis function |
CN115284167A (en) * | 2022-06-13 | 2022-11-04 | 哈尔滨汽轮机厂有限责任公司 | Bearing box base frame grinding nonstandard equipment and using method thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102629566A (en) | 2012-08-08 |
JP5730048B2 (en) | 2015-06-03 |
CN102629566B (en) | 2016-04-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5730048B2 (en) | Processing equipment | |
JP4532895B2 (en) | Plate cutting machine | |
JP5248339B2 (en) | Cutting blade management method | |
CN104867842B (en) | The center wafer detection method of processing unit (plant) | |
JP2012256796A (en) | Scheduled division line detection method | |
KR102008532B1 (en) | Machining apparatus | |
JP2010089094A (en) | Laser beam machining apparatus | |
JP5762005B2 (en) | Processing position adjustment method and processing apparatus | |
KR101786123B1 (en) | Semiconductor device manufacturing method and laser machining apparatus | |
JP6143668B2 (en) | Cutting apparatus and method for manufacturing electronic parts | |
JP4554265B2 (en) | Method for detecting misalignment of cutting blade | |
JP2011151117A (en) | Processing device | |
JP2019115962A (en) | Chuck table correction method, and cutting device | |
JP2011009652A (en) | Position-detecting method of cutting blade in cutting apparatus | |
JP2015103752A (en) | Dicing device and cutting method thereof | |
JP2017038028A (en) | Method for detecting positional deviation of cutting blade | |
JP5645692B2 (en) | Processing method | |
JP5372429B2 (en) | How to divide a plate | |
KR20160110136A (en) | Moving apparatus and machining apparatus | |
JP2015131303A (en) | Operation characteristic detection method for processing feeding mechanism in laser processor, and laser processor | |
JP5248341B2 (en) | Cutting blade management method | |
JP5839383B2 (en) | Wafer processing method | |
JP2005183584A (en) | Cutting device of plate-like article | |
JP4683866B2 (en) | Semiconductor device manufacturing equipment | |
JP5001064B2 (en) | Chuck table mechanism |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140110 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20141022 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20141028 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20141226 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150407 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150407 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5730048 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |