JP2012159609A - 光走査装置、画像形成装置及び制御プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】２つの光走査ラインの開始位置のずれ量を測定する際に、回転多面鏡を正常に定速回転させることができなくなることを抑制する。
【解決手段】スキャナ部１２では、３８：制御回路は、受光センサ３２が第１レーザ光Ｌ１を検出した第１検出タイミング、及び、第２レーザ光Ｌ２を検出した第２検出タイミングに基づき、感光体１０上での２本の走査ラインの主走査方向における開始位置のずれ量Ｄを測定し、そのずれ量が測定されない測定不実行期間には、第２検出タイミングに基づきブラシレスモータ３３を回転制御し、測定実行期間には、ずれ量を測定のために使用する第１検出タイミングを使用せずにブラシレスモータ３３を回転制御する。
【選択図】図７

Description

本発明は、感光体上に同時に形成する２本の走査ラインの開始位置を測定する技術に関する。

電子写真方式の画像形成装置には、２つの光源からの光ビームを、回転多面鏡により偏向して、感光体上に２本の走査ラインを同時に形成する光走査装置を備えるものがある。この光走査装置では、２つの光ビームを検出するセンサが備えられ、当該センサが一方の光ビームを検出した検出タイミングに基づき、上記２本の走査ラインの主走査方向における書き出しタイミングが決定される。

ところが、例えば、２つの光ビームが回転多面鏡のミラー面に入射する位置が、回転多面鏡の回転方向においてずれていることにより、２つの光ビームが感光体に照射し始めるタイミングが互いにずれることがある。そうすると、上記したように、一方の光ビームの検出タイミングに基づき、２本の走査ラインの書き出しタイミングを決定する構成では、感光体上における２本の走査ラインの開始位置がずれてしまい、形成された画像の品質が低下してしまうおそれがある。

そこで、２つの光ビームを交互に点灯させて、センサにおける一方の光ビームの検出タイミングと他方の光ビームの検出タイミングとの間の時間に基づき、２本の走査ラインの開始位置のずれ量を測定し、そのずれ量を抑制するように、２本の走査ラインの開始位置を補正するマルチビームレーザ走査装置がある（特許文献１参照）。

特開平１０−２３９６０６号公報

ところで、回転多面鏡を有する光走査装置では、一方の光ビームのセンサにおける検出タイミングが一定周期になるように、モータをセンサからの入力信号に基づいてフィードバック制御することにより、そのモータに連結された回転多面鏡を定速回転させるものが多い。ところが、上記マルチビームレーザ走査装置のように、２つの光ビームを選択的に点灯して上記開始位置のずれ量を測定する光走査装置では、その測定時に回転多面鏡を正常に定速回転させることができなくなるおそれがある。なぜならば、この光走査装置では、ずれ量の測定時において、回転多面鏡の回転制御に使用していた一方の光ビームが一時的に消灯し、当該一方の光ビームとはセンサでの検出タイミングが異なる他方の光ビームが点灯する。このため、回転多面鏡の実際の回転周期と、センサでの光ビームの検出周期とが一時的に相違してしまうからである。

本明細書では、２つの光走査ラインの開始位置のずれ量を測定する際に、回転多面鏡を正常に定速回転させることができなくなることを抑制する技術を開示する。

本明細書によって開示される光走査装置は、第１光ビーム及び第２光ビームを発光する発光部と、モータと、前記モータによって回転駆動され、前記発光部からの第１光ビーム及び第２光ビームを周期的に偏向し、２本の走査ラインを走査対象物上に同時に形成する回転多面鏡と、前記回転多面鏡によって偏向された第１光ビーム及び第２ビームを検出する光センサと、前記光センサが前記第１光ビームを検出した第１検出タイミング、及び、前記光センサが前記第２ビームを検出した第２検出タイミングに基づき、前記走査対象物上での前記２本の走査ラインの主走査方向における開始位置のずれ量を測定するずれ測定部と、前記ずれ測定部によりずれ量が測定されない測定不実行期間には、前記第２検出タイミングに基づき前記モータを回転制御し、前記ずれ測定部によりずれ量が測定される測定実行期間には、前記ずれ量を測定のために使用する第１検出タイミングを使用せずに前記モータを回転制御するモータ制御部と、を備える。

上記光走査装置では、前記ずれ測定部は、前記第１検出タイミングと前記第２検出タイミングとの間の第１時間と、前記第２検出タイミング同士の間の第２時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、前記モータ制御部は、前記測定実行期間には、前記第１検出タイミング及び前記第２検出タイミングにかかわらず、予め定められた回転周期で前記モータを回転制御してもよい。

上記光走査装置では、前記モータ制御部は、前記測定不実行期間における前記モータの回転周期をメモリに記憶し、前記測定実行期間には、前記メモリに記憶された回転周期を、前記予め定められた回転周期として、前記モータを回転制御してもよい。

上記光走査装置では、前記ずれ測定部は、前記モータの一の回転周期内において、前記回転多面鏡の一のミラー面で前記第１光ビームが反射したときの第１検出タイミングと、他のミラー面で前記第２光ビームが反射したときの第２検出タイミングとの間の第３時間と、前記モータの他の回転周期内において、前記一のミラー面及び前記他のミラー面で前記第２光ビームが反射したときの第２検出タイミング同士の間の第４時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、前記モータ制御部は、前記測定不実行期間には、前記他のミラー面で前記第２光ビームが反射したときの第２検出タイミングに基づき前記モータを回転制御してもよい。

上記光走査装置では、前記一のミラー面は１つでもよい。

上記光走査装置では、前記ずれ測定部は、前記回転多面鏡の一のミラー面で前記第１光ビーム及び前記第２光ビームが反射したときに先に検出した光ビームの検出始期と後に検出した光ビームの検出終期との間の第５時間と、前記一のミラー面または他のミラー面で前記第２光ビームが反射したときにおける当該第２光ビームの検出始期と検出終期との間の第６時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、前記モータ制御部は、前記測定不実行期間には、前記第２光ビームの検出始期及び検出終期のうち、第１光ビームの検出期間から遠い方の期に基づき前記モータを回転制御してもよい。

上記光走査装置では、前記光センサが前記第１光ビーム、前記第２光ビームの順に検出する構成とされ、前記ずれ測定部は、前記回転多面鏡の一のミラー面で前記第１光ビーム及び前記第２光ビームが反射したときにおける当該第１光ビームの検出始期と、前記一のミラー面または他のミラー面で前記第２光ビームが反射したときにおける当該第２光ビームの検出始期との間の第７時間と、前記一のミラー面または前記他のミラー面で前記第２光ビームが反射したときにおける当該第２光ビームの検出始期同士の間の第８時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、前記モータ制御部は、前記測定不実行期間には、前記第２光ビームの検出終期に基づき前記モータを回転制御してもよい。

上記光走査装置では、前記光センサが前記第２光ビーム、前記第１光ビームの順に検出する構成とされ、前記ずれ測定部は、前記回転多面鏡の一のミラー面で前記第１光ビーム及び前記第２光ビームが反射したときにおける当該第１光ビームの検出終期と、前記一のミラー面または他のミラー面で前記第２光ビームが反射したときにおける当該第２光ビームの検出終期との間の第７時間と、前記一のミラー面または前記他のミラー面で前記第２光ビームが反射したときにおける当該第２光ビームの検出終期同士の間の第８時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、前記モータ制御部は、前記測定不実行期間には、前記第２光ビームの検出始期に基づき前記モータを回転制御してもよい。

上記光走査装置では、前記モータは、複数のコイルが配置されたステータ、及び、磁石が配置されたロータを有するブラシレスモータであり、前記各コイルへの通電をオンオフする通電切替部と、前記ロータの回転位置に応じた検出信号を出力する位置検出部と、前記モータ制御部は、前記第２検出タイミングに基づき前記ブラシレスモータを回転制御することと、前記検出信号に基づき前記通電切替部による通電をオンオフさせ、且つ、その通電オン期間に前記通電切替部をチョッピング制御し、当該チョッピング制御におけるデューティ比を変えることで目標値に近づくよう前記ブラシレスモータを回転制御することを行う構成とされ、前記測定不実行期間には、前記検出信号に基づき前記モータを回転制御してもよい。

上記光走査装置では、前記ずれ測定部は、前記ずれ量を複数回測定し、その複数回分のずれ量の平均値を、最終的なずれ量とする構成でもよい。

なお、この発明は、光走査装置、制御方法、画像形成装置、これらの方法または装置の機能を実現するためのコンピュータプログラム、そのコンピュータプログラムを記録した記録媒体等の種々の態様で実現することができる。

本発明によれば、２つの光走査ラインの開始位置のずれ量を測定する際に、回転多面鏡を正常に定速回転させることができなくなることを抑制することができる。

実施形態１に係るレーザプリンタの要部側断面図 レーザプリンタの電気的構成を例示するブロック図 スキャナ部の構成を示す模式図 ＦＧ信号及び通電オンオフ信号の波形を示すタイムチャート 印刷前処理を示したフローチャート ずれ測定処理を示すフローチャート ポリゴンミラーの回転数、ＢＤ信号及び回転制御の関係を示すタイムチャート 実施形態２のずれ測定処理を示すフローチャート ポリゴンミラーの回転数、ＢＤ信号及び回転制御の関係を示すタイムチャート 実施形態３のずれ測定処理を示すフローチャート ポリゴンミラーの回転数、ＢＤ信号及び回転制御の関係を示すタイムチャート 実施形態４のずれ測定処理を示すフローチャート ポリゴンミラーの回転数、ＢＤ信号及び回転制御の関係を示すタイムチャート

＜実施形態１＞
実施形態１について図１から図７を参照しつつ説明する。
１．レーザプリンタの構成
図１は、レーザプリンタ１（画像形成装置の一例）の要部側断面図である。以下、同図の紙面右方を、レーザプリンタ１の前方として説明する。このレーザプリンタ１では、２つのレーザ光により２本の走査ラインを感光体上に同時に形成する、いわゆるマルチビーム方式が採用されている。なお、レーザプリンタ１は、単色プリンタだけでなく、２色以上のカラープリンタでもよい。また、画像形成（印刷）機能を有していれば、例えば、ファクシミリ機能、コピー機能、読み取り機能（スキャナ機能）等を備えた複合機でもよい。

レーザプリンタ１は、本体フレーム２内に、用紙等のシート３を給紙するためのフィーダ部４や、給紙されたシート３に画像を形成するための画像形成部５などを備えている。

フィーダ部４は、トレイ６、押圧板７、ピックアップローラ８、一対のレジストレーションローラ９，９を有する。押圧板７は、その後端部を中心に回転可能とされており、押圧板７上の最上位にあるシート３がピックアップローラ８に向かって押圧されている。そして、シート３は、ピックアップローラ８の回転によって１枚毎に取り出される。

取り出されたシート３は、レジストレーションローラ９，９によってレジストされた後に転写位置に送られる。転写位置は、シート３に感光体１０上のトナー像を転写する位置であって、感光体１０と転写ローラ１１との接触位置である。

画像形成部５は、例えば、スキャナ部１２（光走査装置の一例）、プロセスカートリッジ１３および定着部１４を備えている。スキャナ部１２は、ツインレーザ１５（発光部の一例 図３参照）、及び、ポリゴンミラー１６（回転多面鏡の一例）等を備えている。ツインレーザ１５から発光された第１レーザ光Ｌ１及び第２レーザ光Ｌ２（光ビームの一例）は、ポリゴンミラー１６によって周期的に偏向されつつ感光体１０の表面上に照射される。スキャナ部１２の詳細については後述する。

また、プロセスカートリッジ１３は、感光体１０（走査対象物の一例）、スコロトロン型の帯電器１７、現像ローラ１８を備えている。なお、感光体１０は、ドラムタイプに限らずベルトタイプでもよい。帯電器１７は、感光体１０の表面を一様に正極性に帯電させる。帯電された感光体１０の表面は、スキャナ部１２からのレーザ光Ｌ１、Ｌ２により露光され、静電潜像が形成される。次いで、現像ローラ１８の表面上に担持されるトナーが、感光体１０上に形成された静電潜像に供給され現像化されトナー像が形成される。

トナー像が形成されたシート３は、そのトナー像が定着器１４によって熱定着され、排紙パス１９を介して排紙トレイ２０上に排紙される。

２．レーザプリンタの電気的構成
図２は、レーザプリンタ１の電気的構成を例示するブロック図である。
レーザプリンタ１は、ＣＰＵ２１、ＲＯＭ２２、ＲＡＭ２３、ＥＥＰＲＯＭ２４、フィーダ部４、画像形成部５、各種ランプや液晶パネルなどからなる表示部２５、入力パネルなどの操作部２６、メインモータ２８などを備えている。これら以外にも、外部機器と接続するための図示しないネットワークインタフェースなどが設けられている。ＥＥＰＲＯＭ２４には、後述する印刷前処理を実行するための制御プログラムが記憶されている。

メインモータ２８は、前述したフィーダ部４の各種の搬送ローラ８，９等、感光体１０、転写ローラ１１を回転駆動するためのモータであり、後述するスキャナ部１２に備えられたブラシレスモータ３３とは独立に回転駆動する。

３．スキャナ部の構成
図３は、スキャナ部１２の構成を示す模式図である。スキャナ部１２は、ツインレーザ１５、第１レンズ部３０、ポリゴンミラー１６、第２レンズ部３１、受光センサ３２（光センサの一例）、ブラシレスモータ３３（モータの一例）、制御基板３４等を備える。

ツインレーザ１５は、２つのレーザ光源を有し、第１レーザ光Ｌ１と第２レーザ光Ｌ２とを互いにオフセットした位置から発光することができる。なお、レーザ光源の一例としては半導体レーザが挙げられる。また、ツインレーザ１５は、２つのレーザ光源が１つのチップとして一体化されたものでもよいし、別体とされたものでもよい。第１レンズ部３０は、コリメータレンズやシリンドリカルレンズなどで構成されており、ツインレーザ１５から発光されたレーザ光Ｌ１、Ｌ２を透過してポリゴンミラー１６に照射させる。第２レンズ部３１は、ｆθレンズやシリンドリカルレンズなどで構成されており、ポリゴンミラー１６にて偏向（反射）されたレーザ光Ｌ１、Ｌ２を透過して感光体１０上に照射させる。

ポリゴンミラー１６は、６つのミラー面で構成されており、ブラシレスモータ３３によって高速で回転駆動される。なお、ミラー面の数は６つに限らず、例えば４つや８つなどでもよい。ツインレーザ１５から発光された第１レーザ光Ｌ１と第２レーザ光Ｌ２は、ポリゴンミラー１６の各ミラー面に対し、ポリゴンミラー１６の回転軸方向においてずれた位置で反射するよう構成されている。このため、ポリゴンミラー１６は、高速回転されることで、ツインレーザ１５から発光されたレーザ光Ｌ１，Ｌ２を周期的に偏向し、第２レンズ部３１を介して、２本の走査ラインＭ１、Ｍ２を感光体１０上に同時に形成することが可能である（図３参照）。なお、走査ラインＭ１は第１レーザ光Ｌ１により形成され、走査ラインＭ２は第２レーザ光Ｌ２により形成される。また、走査ラインＭ１、Ｍ２は、画像データの各ラインデータに応じたドット状の露光ラインであり、各ラインデータが画像の空白部分に対応する場合には走査ラインは形成されない。

ブラシレスモータ３３は、例えば３相のブラシレスＤＣモータであり、Ｕ相、Ｖ相、Ｗ相の各コイルが配置された固定子であるステータ３５、及び、１０極の界磁用永久磁石が配置された回転子であるロータ３６を有する。なお、界磁用永久磁石の数は１０極以外でもよい。また、ブラシレスモータ３３は、各コイルがスター結線で配置されている。そして、ポリゴンミラー１６は、ロータ３６と共に一体的に回転する。

制御基板３４には、ブラシレスモータ３３を回転駆動する駆動回路３７、及び、制御回路３８（ずれ測定部、モータ制御部、位置補正部の一例）等が実装されている。駆動回路３７は、例えばインバータ３７Ａ（通電切替部の一例）を有し、各コイルへの通電をオンオフ（入り切り）する。制御回路３８は、例えばＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）で構成されており、上記ＣＰＵ２１からの指示に基づきツインレーザ１５の発光制御、ブラシレスモータ３３（ポリゴンミラー１６）の回転制御などを行う。

受光センサ３２は、ポリゴンミラー１６で偏向されたレーザ光Ｌ１、Ｌ２が感光体１０に達する前に当該レーザ光Ｌ１、Ｌ２を受光する位置に配置されている。受光センサ３２は、レーザ光Ｌ１、Ｌ２による各走査ラインの書き出しタイミングを決定するためのものであって、ツインレーザ１５から発光されたレーザ光Ｌ１、Ｌ２を受光して、検出信号としてＢＤ（Ｂｅａｍ Ｄｅｔｅｃｔ）信号を制御回路３８に出力する。なお、受光センサ３２は、レーザ光Ｌ１、Ｌ２が感光体１０を通過した後に当該レーザ光Ｌ１、Ｌ２を受光する位置に配置してもよい。

４．ロータの位置検出のための構成
制御回路３８は、ホール素子等の位置検出素子を利用せずにロータ３６の位置を検出することが可能である。即ち、ステータ３５に対するロータ３６の回転に伴って各コイルに発生する誘起電圧に基づきロータ３６の位置を検出する。

ロータ３６の回転により、各コイルには、Ｓ極の磁石とＮ極の磁石とが交互に接近、換言すれば着磁し、これに伴ってコイル中の磁束が変化して各コイルに誘起電圧が発生する。また、各コイルのインピーダンスは、その接近する磁石がＳ極かＮ極かによって異なる。従って、誘起電圧は、Ｓ極が接近したときとＮ極が接近したときとで異なるレベルに周期的に変化した波形（例えば正弦波）を示す。従って、この誘起電圧を検出することにより、各コイルにどの極性の磁石が接近しているか、即ち、ロータ３６の位置を検出することが可能になる。

誘起電圧を検出するための構成は次の通りである。図３に示すように、駆動回路３７は、各コイルに対応する３つの電圧検出回路３９，３９，３９（位置検出部の一例）を備える。各電圧検出回路３９は、対応するコイルの端点Ｐとスター結線の中位点Ｏとの間の電圧差に応じた検出信号を出力する。なお、端点Ｐは、駆動回路３７と接続される側のコイルの端部であり、上記電圧差には誘起電圧が含まれる。駆動回路３７は、各検出信号を、例えば図示しないコンパレータを介して、誘起電圧の変化、換言すれば、各コイルに接近する磁石の極性の入れ替わりに応じてレベル反転するハイロー信号に変換して制御回路３８に与える。以下、このハイロー信号を、ＦＧ信号という。

図４は、ＦＧ信号及び通電オンオフ信号の波形を示すタイムチャートである。同図に示すように、各相に対応するＦＧ信号は、互いに略１２０度ずつ位相がずれた波形として制御回路３８に与えられる。そして、制御回路３８は、各ＦＧ信号に応じた通電オンオフ信号を駆動回路３７に与えて各コイルへの通電の入りきりを制御（チョッピング制御）し、これにより、ブラシレスモータ３３を回転駆動することができる。

各相のコイルに対してチョッピング制御を実行して積極的に通電をしている通電オン期間（チョッピングオン期間）は、図４に示す山形のオンオフ波形のうち、ＰＷＭ信号の振幅が一定になっている期間である。なお、各相における上記オンオフ波形のうち、ＰＷＭ信号の振幅が徐々に増加／減少している期間は、当該相の通電オフ期間であり、他の相のコイルへの通電により生じた信号レベルが現れているに過ぎない。

そして、誘起電圧は、通電オン期間のうち、通電オンオフ信号が例えばゼロ［Ｖ］であるローレベルの期間に検出される。なお、以下、通電オン期間のうち、通電オンオフ信号がローレベルの期間をデューティオフ期間といい、通電オンオフ信号がハイレベルの期間をデューティオン期間という。

また、制御回路３８は、例えばパルス幅変調によって通電オン期間内の通電量を調整することにより、ブラシレスモータ３３及びポリゴンミラー１６の回転速度を変更することができる。具体的には、図４に示すように、制御回路３８は通電オン期間にＰＷＭ信号に基づきインバータ３７Ａをチョッピング制御しつつ、このＰＷＭ値、換言すればデューティオン期間とデューティオフ期間との比率を変更することによりブラシレスモータ３３の回転速度を変更する。

なお、図３に示すように、制御基板３４は、ブラシレスモータ３３（ポリゴンミラー１６）の設置場所から離間した位置に配置されており、制御基板３４とブラシレスモータ３３とは、３つのコイルの端点Ｐ及び中位点０とそれぞれ接続された４本の信号線のみによって接続されている。

５．印刷前処理について
図５は印刷前処理を示すフローチャートであり、図６はずれ測定処理を示すフローチャートであり、図７は、ポリゴンミラーの回転数、ＢＤ信号及び回転制御の関係を示すタイムチャートである。図７では、ミラー面のタイムチャートに付された１から６の数字は、ポリゴンミラー１６について一のミラー面を先頭の１としたとき、レーザ光Ｌが照射されるミラー面の順番を意味する。また、ＢＤ信号のタイムチャートに付された数字の１は、第１レーザ光Ｌ１がミラー面に反射したときに出力されたＢＤ信号を意味し、数字の２は、第２レーザ光Ｌ２がミラー面に反射したときに出力されたＢＤ信号を意味する。以下、前者を第１ＢＤ信号といい、後者を第２ＢＤ信号という。

例えば、ユーザが操作部２６にて印刷要求（印刷ジョブ）のための入力操作をしたり、図示しない外部機器（例えばパーソナルコンピュータ）がレーザプリンタ１に印刷要求（印刷データを含んでもよい）を送信したりすると、ＣＰＵ２１は、その印刷要求に基づき、制御回路３８にポリゴンミラー１６の回転開始指令を送信する。制御回路３８は、その回転開始指令を受けたときに、図５に示す印刷前処理を実行する。この印刷前処理では、起動処理、安定化処理、図６に示すずれ測定処理を順次実行する。

（５−１）起動処理
制御回路３８は、起動処理において、まず、ロータ３６の初期位置、換言すれば起動前の停止位置を検出する（Ｓ１）。具体的には、駆動回路３７を制御して、各コイルにパルス電流を流すことにより、コイル中の磁束がロータ３６の位置に応じて変化し、コイルのインダクタンスの変化に伴って変化するコイル電圧を検出することにより、ロータ３６の初期位置を検出することができる。

次に、制御回路３８は強制通電を実行する（Ｓ２）。具体的には、制御回路３８は、上記初期位置の検出結果を踏まえて、駆動回路３７により各コイルへの通電を順次オンオフして強制的に通電を行う。そして、ＦＧ信号に基づきロータ３６が回転し始めると、各コイルに生じる誘起電圧がＦＧ信号に反映されるから、このＦＧ信号に基づきロータ３６の位置及びロータ３６の回転速度を検出することが可能になる。

次に、制御回路３８は、上記通電オン期間におけるデューティオフ期間にＦＧ信号を読み出し、ＰＷＭ信号を駆動回路３７に与えて各コイルへの通電のオンオフを制御し、ＦＧ信号に基づく回転速度制御を実行することで、ブラシレスモータ３３の本格的な起動を試みる。なお、ＦＧ信号は、誘起電圧より検出した信号の一部から生成される。相の切替タイミングは、誘起電圧（Ｕ，Ｖ，Ｗ）に基づいて決定され、ブラシレスモータ３３（ロータ３６）の回転速度制御は、例えば誘起電圧（Ｕ）から生成されたＦＧ信号によって行われる。

誘起電圧が検出できる回転数に到達すると、制御回路３８はＦＧ信号に基づく回転速度制御によりブラシレスモータ３３の回転速度が安定しているか否かを判断する（Ｓ３）。具体的には上記３つのＦＧ信号のうち少なくとも１つの信号（本実施形態では１つのＦＧ信号）のオンオフ周期に基づきブラシレスモータ３３の回転周期、換言すれば回転速度を検出し、その検出した回転周期が所定の目標範囲内になっているか否かを判断する。

検出した回転周期が目標範囲外であれば、回転速度が不安定であるとする（Ｓ３：ＮＯ）。例えば上記Ｓ３でロータ３６の初期位置の誤検出が生じていた場合、Ｓ５の強制通電後、ブラシレスモータ３３が正常に回転駆動されず、回転速度が不安定になり、起動に失敗することがある。この場合、ブラシレスモータ３３を停止させる。この際に例えば逆電流を流す、或いは、ブラシレスモータ３３の両端子同士をショートしてブラシレスモータ３３にブレーキ（ショートブレーキ）をかけ、誘起電圧が検出されない状態になったらブレーキを解除することが好ましい。これにより、素早くブラシレスモータ３３を停止させ、リトライに備えることができる。

続いて、起動パラメータ（通電オンオフ信号の周波数、モータ進角やＰＷＭ値（モータ電流値））の一部または全部を変更し（Ｓ４）、Ｓ１に戻り、ブラシレスモータ３３の再起動を試みる。例えば通電オンオフ信号の周波数やモータ進角を大きく（予測通電のタイミングを早く）したり、ＰＷＭ値を増大させて起動電流を大きくしたりしてブラシレスモータ３３をより起動し易くする。

検出した回転周期が目標範囲内であれば、回転速度が安定しているとし（Ｓ３：ＹＥＳ）、安定化処理に進む。

（５−２）安定化処理
制御回路３８は、安定化処理において、まずツインレーザ１５に第２レーザ光Ｌ２の発光のみ開始させる（Ｓ５）。但し、ポリゴンミラー１６の各ミラー面が、第２レーザ光Ｌ２を感光体１０上に照射させる方向に向いている期間は第２レーザ光Ｌ２の発光を停止する。これにより、受光センサ３２は、ポリゴンミラー１６にて偏向されたレーザ光Ｌ１、Ｌ２を周期的に受光し、その受光タイミングに応じて第２ＢＤ信号を出力するようになる。このように、ブラシレスモータ３３の回転速度が安定したことを条件に（Ｓ３：ＹＥＳ）、ツインレーザ１５を発光させる。従って、回転制御エラーが発生しているにもかかわらず、ツインレーザ１５からのレーザ光Ｌ１、Ｌ２が感光体１０に照射されて感光体１０を傷めることを抑制することができる。

次に、制御回路３８は、上記起動処理で実行したＦＧ信号に基づく回転制御から、第２ＢＤ信号に基づく回転制御に切り替える（Ｓ６）。第２ＢＤ信号に基づく回転制御は、制御回路３８が、受光センサ３２からの第２ＢＤ信号をフィードバックして、その第２ＢＤ信号の出力周期、換言すれば第２レーザ光Ｌ２の検出周期が、上記目標範囲内になるようにＰＷＭ信号のＰＷＭ値を調整するフィードバック制御である。

具体的には、図７に示すポリゴンミラー回転数がＫ回、Ｋ＋１回のときのように、制御回路３８は、第２ＢＤ信号のパルス波の立下りエッジ（第２検出タイミングの一例）に同期して回転制御用パルスを生成し、この回転制御用パルスの発生周期Ｔが上記目標範囲内になるようにＰＷＭ信号のＰＷＭ値を調整する。なお、本実施形態では、図７に示すように、制御回路３８は、ポリゴンミラー１６の６面のうち、１回転ごとに同一のミラー面で反射した第２レーザ光Ｌ２に対応する第２ＢＤ信号のみに基づき回転制御を行う。同図では、この同一のミラー面は、第２のミラー面とされている。

互いに異なる面で反射した第２レーザ光Ｌ２に対応するＢＤ信号を利用してもよいが、本実施形態の構成であれば、面同士の配置バラツキなどによる影響を抑制して、ポリゴンミラー１６の回転周期の検出精度を高くすることができる。また、制御回路３８は、同一のミラー面に対応する第２ＢＤ信号であるかどうかは、第２ＢＤ信号の発生数をカウントすることにより判断することができる。

続いて、制御回路３８は、ブラシレスモータ３３の回転速度が安定しているか否かを判断する（Ｓ７）。具体的には回転制御用パルスの：発生周期Ｔが上記目標範囲内であるかどうかを判断する。発生周期Ｔが目標範囲外であれば回転速度が不安定であるとして（Ｓ７：ＮＯ）、Ｓ４に戻る。一方、発生周期Ｔが目標範囲内であれば回転速度が安定しているとし（Ｓ７：ＹＥＳ）、ずれ測定処理（Ｓ８）に進む。ブラシレスモータ３３の回転速度が安定しているか否かの判断は、発生周期Ｔが所定周期連続で目標範囲内であるか否かを判断することにより行ってもよい。なお、安定化処理の実行時期は、測定不実行期間の一例である。

（５−３）ずれ測定処理
まず、２本の走査ラインＭ１、Ｍ２の主走査方向における開始位置のずれについて説明する。
図３に示すように、ツインレーザ１５から発光された第１レーザ光Ｌ１と第２レーザ光Ｌ２は、ポリゴンミラー１６の各ミラー面に対し、同図の白抜き矢印で示すポリゴンミラー１６の回転方向にもずれた位置で反射することがある。これは、２つのレーザ光源の物理的な位置の相違や、第１レンズ部３０などの光学系のずれなどに起因する。

このため、第２レーザ光Ｌ２は、第１レーザ光Ｌ１よりも遅れて受光センサ３２にて検出され、また、第１レーザ光Ｌ１よりも遅れて感光体１０上に照射される。ここで、印刷前処理後に実行される印刷処理では、感光体１０への走査前の期間では、第２レーザ光Ｌ２のみを発光させ、受光センサ３２からの第２ＢＤ信号の検出タイミングのみから、走査時での第１レーザ光Ｌ１及び第２レーザ光Ｌ２による２本の走査ラインの書き出しタイミングを決定する。このため、第１レーザ光Ｌ１及び第２レーザ光Ｌ２の書き出しタイミングを、第２ＢＤ信号の検出タイミングから同一時間経過後に設定すると、図３に示すように、感光体１０上において２本の走査ラインの開始位置が、主走査方向においてずれ量Ｄだけずれてしまい、印刷された画像の品質が低下してしまうおそれがある。

そこで、制御回路３８は、図６に示すずれ測定処理を実行する。このとき、制御回路３８は、ずれ測定部およびモータ制御部として機能する。制御回路３８は、まずＲＡＭ２３またはＥＥＰＲＯＭ２４（メモリの一例）に予め記憶された固定周期Ｔ０（予め定められた回転周期の一例）を読み出して、この固定周期Ｔ０で疑似信号を生成する（Ｓ２１）。なお、制御回路３８は、例えば上記安定化処理において、実際の発生周期Ｔを、固定周期Ｔ０として予めＲＡＭ２３等に記憶する。従って、ずれ測定処理中でも、直近に取得した実際の発生周期Ｔを反映した回転制御を行うことができる。

次に、制御回路３８は、上記ＢＤ信号に基づく回転制御を停止し、疑似信号に基づきポリゴンミラー１６の回転制御に切り替える（Ｓ２２）。具体的には、制御回路３８は、上記回転制御用パルスの代わりに、固定周期Ｔ０の疑似信号を、制御回路３８内の図示しないモータ制御回路に与える。これにより、ポリゴンミラー１６は、ＢＤ信号の影響を受けずに、固定周期Ｔ０で回転制御される。

制御回路３８は、第１レーザ光Ｌ１を一時的に発光させる（Ｓ２３）。なお、図７では、ポリゴンミラー回転数がＫ＋２の第２のミラー面に対してのみ第１レーザ光Ｌ１を発光して、第１ＢＤ信号が出力された例が示されている。しかし、第１、第３のミラー面など、第２以外のミラー面に対しても第１レーザ光Ｌ１を発光してもよい。また、第１レーザ光Ｌ１を発光するとき、第２レーザ光Ｌ２を消灯させることが好ましい。第１ＢＤ信号と第２ＢＤ信号とが区別できなくなることを抑制するためである。

そして、制御回路３８は、例えば、Ｋ＋２回転目における第２のミラー面に対する第１ＢＤ信号の立ち上りエッジ（第１検出タイミングの一例）と、Ｋ＋３回転目における第２のミラー面に対する第２ＢＤ信号の立ち上りエッジとの間の第１時間Ｔ１を算出する。また、Ｋ＋３回転目とＫ＋４回転目における第２のミラー面に対する第２ＢＤ信号の立ち上りエッジの間の第２時間Ｔ２を算出する。第１時間Ｔ１と第２時間Ｔ２との時間差ΔＴ（＝Ｔ１−Ｔ２）は、２本の走査ラインＭ１、Ｍ２の主走査方向における開始位置のずれ量に対応する。なお、上記第２時間Ｔ２は、Ｋ＋２回転目よりも前の回転目、例えば安定化処理時の第２ＢＤ信号に基づき算出したものでもよい。

制御回路３８は、上記時間差ΔＴを、ずれ量として例えばＲＡＭ２３またはＥＥＰＲＯＭ２４に記憶し（Ｓ２４）、上記疑似信号の生成を中止し、図７のＫ＋５回転目に示すように、上記ＢＤ信号に基づく回転制御に再び切り替えて（Ｓ２５）、本ずれ測定処理を終了し、図５のＳ９に戻る。なお、ずれ測定処理においてＫ＋２回転目からＫ＋４回転目までの時期は、測定実行期間の一例である。

その後、制御回路３８は、Ｓ７と同様に、ブラシレスモータ３３の回転速度が安定しているか否かを判断し、安定すれば（Ｓ９：ＹＥＳ）、本印刷前処理を終了し、印刷処理に進む。なお、このずれ測定処理の後の期間は、測定不実行期間の一例である。この印刷処理では、制御回路３８は、上記時間差ΔＴを相殺するように、第１レーザ光Ｌ１の書き出しタイミングと第２レーザ光Ｌ２の書き出しタイミングとの時間差を変更する。このとき、制御回路３８は、位置補正部として機能する。

具体的には、第２レーザ光Ｌ２の書き出しタイミングを、第２ＢＤ信号の検出タイミングから所定時間だけ経過した時とすると、第１レーザ光Ｌ１の書き出しタイミングを、第２ＢＤ信号の検出タイミングから、上記所定時間に加えて更に上記時間差ΔＴだけ経過した時とするのである。これにより、第１レーザ光Ｌ１及び第２レーザ光Ｌ２による２本の走査ラインＭ１、Ｍ２について、主走査方向の開始位置を略一致させることができる。

６．本実施形態の効果
本実施形態によれば、感光体１０上における２本の走査ラインＭ１、Ｍ２の開始位置のずれ量を測定しない測定不実行期間には、第２検出タイミング、換言すれば第２ＢＤ信号の発生タイミングに基づきブラシレスモータ３３を回転制御し、上記ずれ量を測定する測定実行期間には、そのずれ量測定のために使用する第１検出タイミング、換言すれば第１ＢＤ信号を使用せずにブラシレスモータ３３を回転制御する。従って、ずれ量を測定する際、その測定のために使用する第１検出タイミングに影響を受けずに、ブラシレスモータ３３が回転制御される。

具体的には、測定不実行期間には、第２検出タイミングに基づきブラシレスモータ３３を回転制御し、測定実行期間には、前記第１検出タイミング及び前記第２検出タイミングにかかわらず、換言すれば、ＢＤ信号が発生しようと無かろうと、予め定められた回転周期でブラシレスモータ３３を回転制御する。従って、ずれ量を測定する際、その測定のために使用する第１検出タイミングに影響を受けずに、ブラシレスモータ３３が回転制御される。このため、２つの光走査ラインＭ１、Ｍ２の開始位置のずれ量を測定する際に、ポリゴンミラー１６を正常に定速回転させることができなくなることを抑制することができる。

また、測定不実行期間におけるブラシレスモータ３３の回転周期をＲＡＭ２３等に記憶し、測定実行期間には、ＲＡＭ２３等に記憶された回転周期を、予め定められた回転周期として、ブラシレスモータ３３を回転制御する。従って、測定実行期間における回転周期を、測定不実行期間での回転周期とは無関係に決定する構成に比べて、測定実行期間において、回転周期の実測値に即したモータの回転制御を行うことができる。

＜実施形態２＞
図８及び図９は実施形態２を示す。実施形態１との相違は、ずれ測定処理にあり、その他の点は実施形態１と同様である。従って、実施形態１と同一符号を付して重複する説明を省略し、異なるところのみを次に説明する。

１．ずれ測定処理
本実施形態では、制御回路３８は、安定化処理の次に図８に示すずれ測定処理を実行する。このとき、制御回路３８は、ずれ測定部およびモータ制御部として機能する。制御回路３８は、図９に示すように、安定化処理と同様に、第２のミラー面に対応する第２ＢＤ信号に基づきブラシレスモータ３３の回転制御を続行する。そして、制御回路３８は、Ｋ＋２回転目（一の回転周期の一例）において第１のミラー面（一のミラー面の一例）に対してのみ第１レーザ光Ｌ１を一時的に発光させる（Ｓ１０１）。なお、第１レーザ光Ｌ１を発光するとき、第２レーザ光Ｌ２を消灯させることが好ましい。第１ＢＤ信号と第２ＢＤ信号とが区別できなくなることを抑制するためである。

そして、制御回路３８は、例えば、Ｋ＋２回転目における第１のミラー面に対する第１ＢＤ信号の立下りエッジと、Ｋ＋２回転目における第２のミラー面（他のミラー面の一例）に対する第２ＢＤ信号の立下りエッジとの間の第３時間Ｔ３を算出する。また、Ｋ＋３回転目（他の回転周期の一例）における第１及び第２のミラー面に対する第２ＢＤ信号の立下りエッジ同士の間の第４時間Ｔ４を算出する。第３時間Ｔ３と第４時間Ｔ４との時間差ΔＴ（＝Ｔ３−Ｔ４）は、２本の走査ラインＭ１、Ｍ２の主走査方向における開始位置のずれ量に対応する。なお、上記第４時間Ｔ４は、Ｋ＋２回転目よりも前の回転目、例えば安定化処理時の第２ＢＤ信号に基づき算出したものでもよい。

制御回路３８は、上記時間差ΔＴを、ずれ量として例えばＲＡＭ２３またはＥＥＰＲＯＭ２４に記憶し（Ｓ１０２）、本ずれ測定処理を終了し、図５のＳ９に戻る。なお、ずれ測定処理において少なくともＫ＋２回転目からＫ＋３回転目までの時期は、測定実行期間の一例である。

２．本実施形態の効果
本実施形態によれば、上記第３時間Ｔ３と上記第４時間Ｔ４との時間差ΔＴに基づき前記ずれ量を測定する。また、測定実行期間だけでなく、測定不実行期間でも、第２のミラー面に対応する第２検出タイミング、換言すれば第２ＢＤ信号の発生タイミングに基づきブラシレスモータ３３を回転制御する。即ち、ずれ量の測定では、第１及び第２のミラー面を使用するが、ブラシレスモータ３３の回転制御では、第１レーザ光Ｌ１が照射される第１のミラー面は使用せずに、第２レーザ光Ｌ２が照射される第２のミラー面しか使用しない。従って、ずれ量を測定する際、その測定のために使用する第１ＢＤ信号の影響を受けずに、ブラシレスモータ３３が回転制御される。このため、２つの光走査ラインの開始位置のずれ量を測定する際に、ポリゴンミラー１６を正常に定速回転させることができなくなることを抑制することができる。

また、例えば第１、第３、第５のミラー面にだけ第１レーザ光Ｌ１を照射し、第２、第４、第６のミラー面にだけ第２レーザ光Ｌ２を照射して、これらに基づき上記第３時間及び第４時間の平均値などを求めてもよい。但し、本実施形態のように、１つのミラー面にだけ第１レーザ光Ｌ１を照射すれば、ポリゴンミラー１６のミラー面間の位置ずれなどにより、ずれ量の測定精度が低下することを抑制することができる。また、１つのミラー面に対応する第２ＢＤ信号だけに基づきポリゴンミラー１６を回転制御すれば、ミラー面間の位置ずれなどにより、回転制御の精度が低下することを抑制することができる。

＜実施形態３＞
図１０及び図１１は実施形態３を示す。実施形態１との相違は、ずれ測定処理にあり、その他の点は実施形態１と同様である。従って、実施形態１と同一符号を付して重複する説明を省略し、異なるところのみを次に説明する。

１．ずれ測定処理
本実施形態では、制御回路３８は、安定化処理の次に図１０に示すずれ測定処理を実行する。このとき、制御回路３８は、ずれ測定部およびモータ制御部として機能する。制御回路３８は、図１１に示すように、安定化処理と同様に、第２のミラー面に対応する第２ＢＤ信号の立下りエッジ（第１光ビームの検出期間から遠い方の期の一例）に基づきブラシレスモータ３３の回転制御を続行する。そして、制御回路３８は、Ｋ＋２回転目において第２のミラー面（一のミラー面の一例）のみに対して第１レーザ光Ｌ１を一時的に発光させる（Ｓ２０１）。従って、第１のミラー面には、第１レーザ光Ｌ１及び第２レーザ光Ｌ２が照射されることになる。

そして、制御回路３８は、例えば、Ｋ＋２回転目における第２のミラー面に対する第１ＢＤ信号の立ち上りエッジ（先に検出した光ビームの検出始期の一例）と、第２ＢＤ信号の立下りエッジ（後に検出した光ビームの検出終期の一例）との間の第５時間Ｔ５を算出する。また、Ｋ＋３回転面における第２のミラー面に対する第２ＢＤ信号の立ち上りエッジと立下りエッジ（第２光ビームの検出始期と検出終期の一例）の間の第６時間Ｔ６を算出する。第５時間Ｔ５と第６時間Ｔ６との時間差ΔＴ（＝Ｔ５−Ｔ６）は、２本の走査ラインＭ１、Ｍ２の主走査方向における開始位置のずれ量に対応する。なお、上記第６時間Ｔ６は、Ｋ＋２回転目よりも前の回転目、例えば安定化処理時の第２ＢＤ信号に基づき算出したものでもよい。

制御回路３８は、上記時間差ΔＴを、ずれ量として例えばＲＡＭ２３またはＥＥＰＲＯＭ２４に記憶し（Ｓ２０２）、本ずれ測定処理を終了し、図５のＳ９に戻る。なお、ずれ測定処理において少なくともＫ＋２回転目からＫ＋３回転目までの時期は、測定実行期間の一例である。

２．本実施形態の効果
本実施形態によれば、上記第５時間Ｔ５と上記第６時間Ｔ６との時間差ΔＴに基づきずれ量を測定する。また、測定不実行期間には、第２レーザ光Ｌ２の検出始期及び検出終期のうち、第１レーザ光Ｌ１の検出期間から遠い方の期、図１１では、第１レーザ光Ｌ１の検出期とは異なる期に基づきブラシレスモータ３３を回転制御する。即ち、ずれ量の測定では、第１レーザ光Ｌ１及び第２レーザ光Ｌ２の検出タイミングを使用するが、ブラシレスモータ３３の回転制御では、第２レーザ光Ｌ２の検出タイミングしか使用しない。従って、ずれ量を測定する際、その測定のために使用する第１レーザ光Ｌ１の検出タイミングの影響を受けずに、ブラシレスモータ３３が回転制御される。このため、２つの光走査ラインの開始位置のずれ量を測定する際に、ポリゴンミラー１６を正常に定速回転させることができなくなることを抑制することができる。

＜実施形態４＞
図１２及び図１３は実施形態４を示す。実施形態１との相違は、安定化処理の一部及びずれ測定処理にあり、その他の点は実施形態１と同様である。従って、実施形態１と同一符号を付して重複する説明を省略し、異なるところのみを次に説明する。

１．安定化処理及びずれ測定処理
本実施形態では、制御回路３８は、安定化処理において、図５のＳ６は実行しない。即ち、図１３に示すように、ＦＧ信号に基づく回転制御を続行したまま、ずれ測定処理に進む。次に、制御回路３８は、図１２に示すずれ測定処理を実行する。このとき、制御回路３８は、ずれ測定部およびモータ制御部として機能する。

制御回路３８は、図６のＳ２３，Ｓ２４と同様、第１レーザ光を一時的に発光し（Ｓ３０１）、時間差ΔＴを算出し、ＲＡＭ２３等に記憶する（Ｓ３０２）。そして、制御回路３８は、この時間差ΔＴを基準回数（例えば５回）繰り返し算出すると（Ｓ３０３：ＹＥＳ）、その基準回数分の時間差ΔＴの平均値を算出してＲＡＭ２３等に記憶する（Ｓ３０４）。次に、制御回路３８は、ＦＧ信号に基づく回転制御からＢＤ信号に基づく回転制御に切り替えて（Ｓ３０５ 図１３参照）、本ずれ測定処理を終了し、図５のＳ９に戻る。

２．本実施形態の効果
本実施形態によれば、測定不実行期間には、第２検出タイミングではなく、ＦＧ信号に基づきブラシレスモータ３３を回転制御する。即ち、ずれ量の測定では、ＢＤ信号を使用するが、ブラシレスモータ３３の回転制御では、ＦＧ信号しか使用しない。従って、ずれ量を測定する際、ＢＤ信号の影響を受けずに、ブラシレスモータ３３が回転制御される。このため、２つの光走査ラインの開始位置のずれ量を測定する際に、ポリゴンミラー１６を正常に定速回転させることができなくなることを抑制することができる。

また、ＦＧ信号に基づく回転制御は、ＢＤ信号に基づく回転制御に比べて制御の精度が低いことがある。従って、本実施形態のように、時間差ΔＴを複数回算出し、その複数回分の時間差ΔＴの平均値を、ずれ量としてＲＡＭ２３等に記憶することが好ましい。

＜他の実施形態＞
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような種々の態様も本発明の技術的範囲に含まれる。

（１）上記実施形態では、スキャナ部１２は、レーザプリンタ１が有する感光体１０を露光するために使用した。しかし、スキャナ部と同様の構成を、例えばレーザ加工装置に設けて、加工対象物（走査対象物の一例）のレーザ加工に使用してもよい。要するに、２本の走査ラインを走査対象物上に同時に形成する光走査装置であればよい。また、ずれ量を抑制するための位置補正部の構成を有さずに、単に、ずれ量の測定値、その測定値が所定値を超えたことによるエラー情報など、測定値に基づく情報を外部に通知する構成でもよい。

（２）上記実施形態では、ポリゴンミラーを回転駆動するためのモータとしてセンサレスタイプのブラシレスモータ３３を例に挙げた。しかし、ホール素子を有するセンサ有りのブラシレスモータや、ブラシ有りモータでもよい。但し、センサレスタイプのブラシレスモータ３３は、特に回転位置の検出精度が高くないため、本発明を適用することは特に有用である。また、上記実施形態のブラシレスモータは、３相、アウターロータ型、且つ、スター結線を採用したものであったが、本発明はこれに限られない。２相、或いは、４相以上であってもよい。また、インナーロータ型であってもよく、デルタ結線であってもよい。なお、デルタ結線の場合、例えば各コイルの端子間電圧に基づき、誘起電圧に応じた検出信号を得ることができる。

（３）上記実施形態では、印刷前処理を、レーザプリンタ１が印刷要求を受けたときに実行した。しかし、印刷前処理と同じ制御処理を、印刷の後や、印刷要求の待機時などに実行してもよく、要するに印刷を実行しない非印刷期間であればよい。

（４）上記実施形態では、固定周期Ｔ０を、制御回路３８が内蔵するメモリに記憶してもよいし、レーザプリンタ１の外部に設けられるメモリに記憶してもよい。

（５）上記実施形態では、ＢＤ信号の立ち上りエッジまたは立下りエッジを、レーザ光の検出タイミングとした。しかし、ＢＤ信号の立ち上りエッジ、立下りエッジ、及び、両エッジの間のタイミングを、検出タイミングとしてもよい。但し、第１ＢＤ信号と第２ＢＤ信号が近接する場合には、他方のＢＤ信号とは反対側のエッジを検出タイミングとすることが好ましい。

（６）上記実施形態２では、第１のミラー面と第２のミラー面を使用した。しかし、それら以外の２つのミラー面を使用してもよい。

（７）上記実施形態３では、第２のミラー面に対して第１レーザ光Ｌ１及び第２レーザ光Ｌ２を照射させた。しかし、第２のミラー面以外の面に対して第１レーザ光Ｌ１及び第２レーザ光Ｌ２を照射させてもよい。また、一回転周期内において、複数のミラーに対して第１レーザ光Ｌ１及び第２レーザ光Ｌ２を照射させてもよい。但し、上記実施形態３のように一回転周期内において１つの面だけに対して第１レーザ光Ｌ１及び第２レーザ光Ｌ２を照射させる構成ではあれば、ポリゴンミラー１６のミラー面間の位置ずれなどにより、ずれ量の測定精度が低下することを抑制することができる。

また、第５時間Ｔ５を算出するために使用するミラー面と、第６時間Ｔ６を算出するために使用するミラー面とが異なる構成でもよい。但し、同じミラー面を使用する上記実施形態３の構成ではあれば、ポリゴンミラー１６のミラー面間の位置ずれなどにより、ずれ量の測定精度が低下することを抑制することができる。

（８）上記実施形態３では、受光センサ３２から第１ＢＤ信号、第２ＢＤ信号の順に出力される構成を説明した。しかし、受光センサ３２から第２ＢＤ信号、第１ＢＤ信号の順に出力される構成でもよい。この場合、第２ＢＤ信号の立ち上りエッジと第１ＢＤ信号の立下りエッジとの間の時間を第５時間として算出し、第２ＢＤ信号の立ち上りエッジに基づきブラシレスモータ３３の回転制御をすることが好ましい。

（９）上記実施形態３において、ずれ量の測定及びブラシレスモータ３３の回転制御は次のようにしてもよい。即ち、制御回路３８は、図１１に示すように、Ｋ＋２回転目の第２のミラー面に対応する第１ＢＤ信号の立ち上りエッジ（第１光ビームの検出始期の一例）と、Ｋ＋３回転目の第２のミラー面に対応する第２ＢＤ信号の立ち上りエッジ（第２光ビームの検出始期の一例）との間の第７時間Ｔ７を算出する。また、制御回路３８は、Ｋ＋３回転目の第２のミラー面に対応する第２ＢＤ信号の立ち上りエッジとＫ＋４回転目の第２のミラー面に対応する第２ＢＤ信号の立ち上りエッジとの間の第８時間Ｔ８との時間差ΔＴに基づきずれ量を測定する。

一方、制御回路３８は、ずれ測定処理中には、第２のミラー面に対応する第２ＢＤ信号の立下りエッジ（第２光ビームの検出終期の一例）に基づきブラシレスモータ３３を回転制御する。即ち、ずれ量の測定では、第１レーザ光Ｌ１及び第２レーザ光Ｌ２の検出タイミングを使用するが、ブラシレスモータ３３の回転制御では、第２レーザ光Ｌ２の検出タイミングしか使用しない。従って、ずれ量を測定する際、その測定のために使用する第１レーザ光Ｌ１の検出タイミングに影響を受けずに、ブラシレスモータ３３が回転制御される。このため、２つの光走査ラインの開始位置のずれ量を測定する際に、回転多面鏡を正常に定速回転させることができなくなることを抑制することができる。

なお、受光センサ３２が、第２レーザ光Ｌ２、第１レーザ光Ｌ１の順に検出する構成では次のようになる。即ち、制御回路３８は、Ｋ＋２回転目の第２のミラー面に対応する第１ＢＤ信号の立下りエッジ（第１光ビームの検出終期の一例）と、Ｋ＋３回転目の第２のミラー面に対応する第２ＢＤ信号の立下りエッジ（第２光ビームの検出終期の一例）との間の第７時間Ｔ７を算出する。また、制御回路３８は、Ｋ＋３回転目の第２のミラー面に対応する第２ＢＤ信号の立下りエッジとＫ＋４回転目の第２のミラー面に対応する第２ＢＤ信号の立下りエッジとの間の第８時間Ｔ８との時間差ΔＴに基づきずれ量を測定する。

一方、制御回路３８は、ずれ測定処理中には、第２のミラー面に対応する第２ＢＤ信号の立ち上りエッジ（第２光ビームの検出始期の一例）に基づきブラシレスモータ３３を回転制御する。このような構成でも上記構成と同様の効果を得ることができる。

（１０）上記実施形態では、印刷前処理を全て、制御回路３８が実行する例を説明したが、本発明はこれに限れない。各処理、或いは、各処理中の各ステップを、互いに異なる制御回路にて実行する構成でもよい。なお、制御回路は、ＡＳＩＣに限らず、汎用のハード回路から構成したものでもよく、また、演算素子（ＣＰＵ）及び記憶素子から構成されたものでもよい。

１：レーザプリンタ １０：感光体 １２：スキャナ部 １５：ツインレーザ １６：ポリゴンミラー ２３：ＲＡＭ ２４：ＥＥＰＲＯＭ ３２：受光センサ ３３：ブラシレスモータ ３８：制御回路 Ｄ：ずれ量 Ｌ１：第１レーザ光 Ｌ２：第２レーザ光 Ｍ１、Ｍ２：走査ライン

Claims (13)

1. 第１光ビーム及び第２光ビームを発光する発光部と、
   モータと、
   前記モータによって回転駆動され、前記発光部からの第１光ビーム及び第２光ビームを周期的に偏向し、２本の走査ラインを走査対象物上に同時に形成する回転多面鏡と、
   前記回転多面鏡によって偏向された第１光ビーム及び第２ビームを検出する光センサと、
   前記光センサが前記第１光ビームを検出した第１検出タイミング、及び、前記光センサが前記第２ビームを検出した第２検出タイミングに基づき、前記走査対象物上での前記２本の走査ラインの主走査方向における開始位置のずれ量を測定するずれ測定部と、
   前記ずれ測定部によりずれ量が測定されない測定不実行期間には、前記第２検出タイミングに基づき前記モータを回転制御し、前記ずれ測定部によりずれ量が測定される測定実行期間には、前記ずれ量を測定のために使用する第１検出タイミングを使用せずに前記モータを回転制御するモータ制御部と、を備える光走査装置。
2. 請求項１に記載の光走査装置であって、
   前記ずれ測定部は、前記第１検出タイミングと前記第２検出タイミングとの間の第１時間と、前記第２検出タイミング同士の間の第２時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、
   前記モータ制御部は、前記測定実行期間には、前記第１検出タイミング及び前記第２検出タイミングにかかわらず、予め定められた回転周期で前記モータを回転制御する光走査装置。
3. 請求項２に記載の光走査装置であって、
   前記モータ制御部は、前記測定不実行期間における前記モータの回転周期をメモリに記憶し、前記測定実行期間には、前記メモリに記憶された回転周期を、前記予め定められた回転周期として、前記モータを回転制御する光走査装置。
4. 請求項１に記載の光走査装置であって、
   前記ずれ測定部は、前記モータの一の回転周期内において、前記回転多面鏡の一のミラー面で前記第１光ビームが反射したときの第１検出タイミングと、他のミラー面で前記第２光ビームが反射したときの第２検出タイミングとの間の第３時間と、前記モータの他の回転周期内において、前記一のミラー面及び前記他のミラー面で前記第２光ビームが反射したときの第２検出タイミング同士の間の第４時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、
   前記モータ制御部は、前記測定不実行期間には、前記他のミラー面で前記第２光ビームが反射したときの第２検出タイミングに基づき前記モータを回転制御する光走査装置。
5. 請求項４に記載の光走査装置であって、
   前記一のミラー面は１つである光走査装置。
6. 請求項１に記載の光走査装置であって、
   前記ずれ測定部は、前記回転多面鏡の一のミラー面で前記第１光ビーム及び前記第２光ビームが反射したときに先に検出した光ビームの検出始期と後に検出した光ビームの検出終期との間の第５時間と、前記一のミラー面または他のミラー面で前記第２光ビームが反射したときにおける当該第２光ビームの検出始期と検出終期との間の第６時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、
   前記モータ制御部は、前記測定不実行期間には、前記第２光ビームの検出始期及び検出終期のうち、第１光ビームの検出期間から遠い方の期に基づき前記モータを回転制御する光走査装置。
7. 請求項１に記載の光走査装置であって、
   前記光センサが前記第１光ビーム、前記第２光ビームの順に検出する構成とされ、
   前記ずれ測定部は、前記回転多面鏡の一のミラー面で前記第１光ビーム及び前記第２光ビームが反射したときにおける当該第１光ビームの検出始期と、前記一のミラー面または他のミラー面で前記第２光ビームが反射したときにおける当該第２光ビームの検出始期との間の第７時間と、前記一のミラー面または前記他のミラー面で前記第２光ビームが反射したときにおける当該第２光ビームの検出始期同士の間の第８時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、
   前記モータ制御部は、前記測定不実行期間には、前記第２光ビームの検出終期に基づき前記モータを回転制御する光走査装置。
8. 請求項１に記載の光走査装置であって、
   前記光センサが前記第２光ビーム、前記第１光ビームの順に検出する構成とされ、
   前記ずれ測定部は、前記回転多面鏡の一のミラー面で前記第１光ビーム及び前記第２光ビームが反射したときにおける当該第１光ビームの検出終期と、前記一のミラー面または他のミラー面で前記第２光ビームが反射したときにおける当該第２光ビームの検出終期との間の第７時間と、前記一のミラー面または前記他のミラー面で前記第２光ビームが反射したときにおける当該第２光ビームの検出終期同士の間の第８時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、
   前記モータ制御部は、前記測定不実行期間には、前記第２光ビームの検出始期に基づき前記モータを回転制御する光走査装置。
9. 請求項１に記載の光走査装置であって、
   前記モータは、複数のコイルが配置されたステータ、及び、磁石が配置されたロータを有するブラシレスモータであり、
   前記各コイルへの通電をオンオフする通電切替部と、
   前記ロータの回転位置に応じた検出信号を出力する位置検出部と、
   前記モータ制御部は、前記第２検出タイミングに基づき前記ブラシレスモータを回転制御することと、前記検出信号に基づき前記通電切替部による通電をオンオフさせ、且つ、その通電オン期間に前記通電切替部をチョッピング制御し、当該チョッピング制御におけるデューティ比を変えることで目標値に近づくよう前記ブラシレスモータを回転制御することを行う構成とされ、前記測定不実行期間には、前記検出信号に基づき前記モータを回転制御する光走査装置。
10. 請求項２に記載の光走査装置であって、
    前記ずれ測定部は、前記ずれ量を複数回測定し、その複数回分のずれ量の平均値を、最終的なずれ量とする構成である光走査装置。
11. 請求項１から請求項１０のいずれか一項に記載の光走査装置であって、
    前記ずれ測定部が測定したずれ量に基づき、前記２本の走査ラインを形成するときの前記第１光ビームと前記第２ビームの発光タイミングの時間差を変更して、前記ずれ量を減少させる位置補正部を備える抑制する光走査装置。
12. 請求項１から請求項１１のいずれか一項に記載の光走査装置と、
    前記走査対象物としての感光体と、を有し、
    前記光走査装置により感光体上に形成した静電潜像に基づく画像を被画像形成媒体に形成する画像形成装置。
13. 第１光ビーム及び第２光ビームを発光する発光部と、
    モータと、
    前記モータによって回転駆動され、前記発光部からの第１光ビーム及び第２光ビームを周期的に偏向し、２本の走査ラインを走査対象物上に同時に形成する回転多面鏡と、
    前記回転多面鏡によって偏向された第１光ビーム及び第２ビームを検出する光センサと、を備える光走査装置が有するコンピュータに、
    前記光センサが前記第１光ビームを検出した第１検出タイミング、及び、前記光センサが前記第２ビームを検出した第２検出タイミングに基づき、前記走査対象物上での前記２本の走査ラインの主走査方向における開始位置のずれ量を測定するずれ測定処理と、
    前記ずれ測定処理によりずれ量が測定されない測定不実行期間には、前記第２検出タイミングに基づき前記モータを回転制御し、前記ずれ測定処理によりずれ量が測定される測定実行期間には、前記ずれ量を測定のために使用する第１検出タイミングを使用せずに前記モータを回転制御するモータ制御処理と、を実行させる制御プログラム。

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