JP2012119315A - 電子顕微鏡検査のサンプル担体のための保持器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】マウントは、中央領域に貫通する開口部を有する基板と、開口部の周囲に少なくとも部分的に延在するサンプル担体の支持表面と、基板に備えられた支持表面で、サンプル担体を摩擦的な系合によって保持するための保持装置とを含み、保持装置は、サンプル担体を摩擦的な系合によって保持するための、少なくとも2つの相互に独立的なクリップ部材を含み、クリップ部材が、基板から開口部の方向に向かって延在し、クリップ部材が、互いに間隔を空けて離れた電子顕微鏡検査のサンプル担体の端部領域でサンプル担体を支持表面に保持可能である。電子顕微鏡検査のサンプル担体を搭載したマウントを載置するための載置装置及び当該載置装置を使用する方法も提供する。
【選択図】図1
Description
第1の視点に記載のとおり、電子顕微鏡検査のサンプル担体を保持するためのマウントは、中央領域に貫通する(中央)開口部を有する基板と、該(中央)開口部の周囲に少なくとも部分的に延在するサンプル担体の支持表面と、基板に備えられた支持表面で、サンプル担体を摩擦的な係合によって保持するための保持装置と、を含む。前記保持装置は、サンプル担体を摩擦的な係合によって保持するための、少なくとも2つの相互に独立的なクリップ部材を含む。前記クリップ部材は、基板から(中央)開口部へ向かって延在する。前記クリップ部材は、互いに間隔を空けて離れた電子顕微鏡検査のサンプル担体の端部領域でサンプル担体を支持表面に保持することができる。
第2の視点に記載のとおり、電子顕微鏡検査のサンプル担体を搭載したマウントを載置するための載置装置は、上記のマウントと、マウントを載置することが可能な載置補助要素とを含む。前記載置補助要素は、当接部材を含み、前記当接部材が、マウントの基板における各クリップ部材の下に配設された開口部(開孔)を通過する。前記当接部材は、マウントのクリップ部材の保持力に対抗して、基板から離れる方向へクリップ部材を移動させる。
第3の視点に記載のとおり、前記載置装置によって電子顕微鏡検査のサンプル担体を搭載したマウントを載置する方法は、以下のステップを含む。すなわち、a)載置補助要素にマウントを載置するステップと、b)載置補助要素の当接部材がクリップ部材を、基板から離れる方向であって上昇した位置へ移動させるステップと、c)マウントの支持表面にサンプル担体を載置するステップと、d)マウントを載置補助要素から取り出して、クリップ部材が元の位置へ戻ることによって、サンプル担体を摩擦的な係合様式で支持表面において保持するステップとを含む方法、が提供される。
第4の視点に記載のとおり、電子顕微鏡の標本保持装置であって、分離可能なように受容可能な前記マウントを含む標本保持装置、が提供される。
(形態5)
本発明において、保持装置が、クリップ部材として2つのクリップ部材を含むことが好ましい。
本発明において、クリップ部材が、互いに対向して配設されることが好ましい。
本発明において、クリップ部材が帯状に構成され、基板と実質的に平行に配設されることが好ましい。
本発明において、クリップ部材がバネ部材として構成されることが好ましい。
本発明において、各クリップ部材が、基板へ固定される第1の末端と、(中央)開口部に向けられて、支持表面にサンプル担体を摩擦的な係合によって保持する第2の末端とを含むことが好ましい。
本発明において、(中央)開口部において、クリップ部材の第2の末端が、支持表面の端の位置に揃っていることが好ましい。
本発明において、基板に配設されるカバープレートが、中央領域に、サンプル担体及びクリップ部材へのアクセスを可能にする中央開口領域を含むことが好ましい。
本発明において、各クリップ部材の第1の末端が、基板とカバープレートとの間で固定されていることが好ましい。
本発明において、中間プレートが基板とカバープレートとの間に配設され、クリップ部材が中間プレートの構成要素であることが好ましい。
本発明において、カバープレートの中央開口領域が、偏心状態でサンプル担体を載置することが可能な大きさを有すること、すなわち、先ず、マウント内でサンプル担体を保持することが可能な位置の横側にサンプル担体を載置することができ、次に、マウント内でサンプル担体を保持することが可能な位置へ載置されたサンプル担体を横方向移動させることができることが好ましい。
本発明において、基板を貫通して延在する開口部(開孔)が各クリップ部材の下に配設されることが好ましい。
本発明において、マウントが回転対称的な構造を有する外側の端部輪郭を含み、4回回転対称に相当することが好ましい。
本発明において、マウントが実質的に丸い外側の端部輪郭を有することが好ましい。
本発明において、マウントは、電子顕微鏡の標本保持装置に受容可能なように構成されることが好ましい。
本発明において、標本保持装置は、ゴニオメータの形状、特にサイドエントリ型のゴニオメータの形状であることが好ましい。
本発明において、マウントが、サンプル担体の平面における少なくとも1本の軸を中心として、好ましくは、サンプル担体の平面における2本の軸を中心として、チルト運動が可能なように載置されることが好ましい。
例えば、欧州特許公開EP 1 947 675 A1号(特許文献2)は、2本の平行する保持棒を含む標本保持装置を開示しており、当該保持棒はマウントの外側の端部輪郭の周辺に延在する溝と噛み合う。欧州特許公開EP 1 868 225 A1号(特許文献1)では、マウントは、スナップ機構によって標本保持装置に固定される。
を含む場合には、特に有利である。好ましくは、サンプル担体がこの(中央)開口部領域
にフィットすることができるように、サンプル担体へのアクセスを可能にする(中央)開口部が形成される。このことは、マウントにおけるサンプル担体の配向(Orientieren)を促進する。クリップ部材へのアクセスに関しては、サンプル担体の載置の際にクリップ部材を操作することが可能なように、カバープレートの中央開口領域が形成される。
a)載置補助要素にマウントを載置するステップ、
b)載置補助要素の当接部材がクリップ部材を、基板から離れる方向であって上昇した位置へ移動させるステップ、
c)マウントの支持表面にサンプル担体を載置するステップ、及び
d)マウントを載置補助要素から取り出して、クリップ部材が元の位置へ戻ることによって、サンプル担体を摩擦的な係合様式で支持表面において保持するステップ。
当接部材305a、305bの目的は、以下に示す。
101 :基板(ベースプレート)
102 :カバープレート
103 :(中央)開口部
103a :(中央)開口部領域
103b :(長孔状)開口部領域
104a、104b:保持装置ないしクリップ部材
105a、105b:第1の末端
106a、106b:第2の末端
107 :支持表面
107a、107b:支持表面領域
108 :基板の開口領域
109 :カバープレートの中央開口領域
110 :外側の端部輪郭
111 :貫通孔
112 :タブ
113 :中間プレート
120a、120b:開口部(開孔)
200 :カートリッジ
210 :丸い外側の端部輪郭
300 :載置装置
301 :載置補助要素
302 :凹状部
303 :ガイド部
304 :窪み
305a、305b:当接部材
310 :グリッド
311 :偏心位置
312 :保持位置
313a、313b:端部領域
400 :ゴニオメータ
401 :(ゴニオメータの)受容領域
402 :(ゴニオメータの)支持表面
403 :弾性クリップ
500 :ゴニオメータ
501 :(ゴニオメータの)受容領域
Claims (20)
- 電子顕微鏡検査のサンプル担体(310)を保持するためのマウント(100、200)であって、
当該マウント(100、200)は、
中央領域に貫通する開口部(103)を有する基板(101)と、
該開口部(103)の周囲に少なくとも部分的に延在するサンプル担体(310)の支持表面(107)と、
基板(101)に備えられた支持表面(107)で、サンプル担体(310)を摩擦的な係合によって保持するための保持装置(104a、104b)と、
を含み、
前記保持装置(104a、104b)は、サンプル担体(310)を摩擦的な係合によって保持するための、少なくとも2つの相互に独立的なクリップ部材(104a、104b)を含み、
前記クリップ部材(104a、104b)が、基板(101)から該開口部(103)へ向かって延在すること、
前記クリップ部材(104a、104b)が、互いに間隔を空けて離れた電子顕微鏡検査のサンプル担体(310)の端部領域(313a、313b)でサンプル担体(310)を支持表面(107)に保持することができること、
を特徴とするマウント。 - 保持装置が、前記クリップ部材として2つのクリップ部材(104a、104b)を含むことを特徴とする請求項1に記載のマウント。
- 前記クリップ部材(104a、104b)が、互いに対向して配設されることを特徴とする請求項2に記載のマウント。
- 前記クリップ部材(104a、104b)が帯状に構成され、基板(101)と実質的に平行に配設されることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載のマウント。
- 前記クリップ部材(104a、104b)がバネ部材として構成されることを特徴とする請求項1〜4の何れか1項に記載のマウント。
- 各クリップ部材(104a、104b)が、基板(101)へ固定される第1の末端(105a、105b)と、該開口部(103)に向けられて、支持表面(107)にサンプル担体(310)を摩擦的な係合によって保持する第2の末端(106a、106b)とを含むことを特徴とする請求項1〜5の何れか1項に記載のマウント。
- 該開口部(103)において、前記クリップ部材(104a、104b)の第2の末端(106a、106b)が、支持表面(107)の端の位置に揃っていることを特徴とする請求項6に記載のマウント。
- 基板(101)に配設されるカバープレート(102)が、中央領域に、サンプル担体(310)及び前記クリップ部材(104a、104b)へのアクセスを可能にする中央開口領域(109)を含むことを特徴とする請求項1〜7の何れか1項に記載のマウント。
- 各クリップ部材(104a、104b)の第1の末端(105a、105b)が、基板(101)とカバープレート(102)との間に固定されていることを特徴とする請求項8に記載のマウント。
- 中間プレートが基板(101)とカバープレート(102)との間に配設され、クリップ部材(104a、104b)が中間プレートの構成要素であることを特徴とする請求項8に記載のマウント。
- カバープレート(102)の前記中央開口領域(109)が、偏心状態でサンプル担体(310)を載置することが可能な大きさを有すること、
すなわち、先ず、マウント(100、200)内でサンプル担体(310)を保持することが可能な位置(312)の横側にサンプル担体(310)を載置することができ、次に、マウント(100、200)内でサンプル担体(310)を保持することが可能な位置(312)へ載置されたサンプル担体(310)を横方向移動させることができること、
を特徴とする請求項8〜10の何れか1項に記載のマウント - 基板(101)を貫通して延在する開口部(120a、120b)が各クリップ部材(104a、104b)の下に配設されることを特徴とする請求項1〜11の何れか1項に記載のマウント。
- マウント(100)が回転対称的な構造を有する外側の端部輪郭(110)を含み、4回回転対称に相当することを特徴とする請求項1〜12の何れか1項に記載のマウント。
- マウント(200)が実質的に丸い外側の端部輪郭(210)を有することを特徴とする請求項1〜12の何れか1項に記載のマウント。
- 電子顕微鏡の標本保持装置(400、500)に受容可能なように構成されることを特徴とする請求項1〜14の何れか1項に記載のマウント。
- 電子顕微鏡検査のサンプル担体を搭載したマウント(100、200)を載置するための載置装置(300)であって、
当該載置装置(300)は、請求項1〜15の何れか1項に記載のマウント(100、200)と、該マウント(100、200)を載置することが可能な載置補助要素(301)とを含み、
前記載置補助要素(301)は、当接部材(305a、305b)を含み、
前記当接部材(305a、305b)が、該マウント(100、200)の基板(101)における各クリップ部材(104a、104b)の下に配設された開口部(120a、120b)を通過すること、
前記当接部材(305a、305b)が、該マウント(100、200)のクリップ部材(104a、104b)の保持力に対抗して、基板(101)から離れる方向へクリップ部材(104a、104b)を移動させること、
を特徴とする載置装置。 - 請求項16に記載の載置装置(300)によって電子顕微鏡検査のサンプル担体(310)を搭載したマウント(100、200)を載置する方法であって、
a)載置補助要素(301)にマウント(100、200)を載置するステップと、
b)載置補助要素(301)の当接部材(305a、305b)がクリップ部材(104a、104b)を、基板(101)から離れる方向であって上昇した位置へ移動させるステップと、
c)マウント(100、200)の支持表面(107)にサンプル担体(310)を載置するステップと、
d)マウント(100、200)を載置補助要素(310)から取り出して、クリップ部材(104a、104b)が元の位置へ戻ることによって、サンプル担体(310)を摩擦的な係合様式で支持表面(107)において保持するステップと、
を含む方法。 - 電子顕微鏡の標本保持装置(400、500)であって、
分離可能なように受容可能な請求項1〜15の何れか1項に記載のマウント(100、200)を含む標本保持装置。 - ゴニオメータの形状であることを特徴とする請求項18に記載の標本保持装置。
- マウントが、サンプル担体の平面における少なくとも1本の軸を中心としてチルト運動が可能なように載置されることを特徴とする請求項18又は19に記載の標本保持装置。
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