JP2012109342A - 基板アセンブリおよび半導体試験装置 - Google Patents

基板アセンブリおよび半導体試験装置 Download PDF

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Abstract

【課題】ケーシングに着脱可能に装着される基板を高効率で冷却し、且つ交換作業を容易にすることを目的とする。
【解決手段】本発明の基板アセンブリ1は、複数の基板2を着脱可能に装着するケーシング3と、ケーシング3に着脱可能に装着され、ケーシング3の両端に形成した開口部8に対向した位置の複数箇所に通風部15を形成し、一方の通風部15側から流入し他方の通風部15側に流出する空気流が流れる箱状の整流ユニット10と、を備え、ケーシング3の基板2が装着されていない箇所に整流ユニット10を装着したことを特徴としている。本発明により、高い冷却効率が得られると共に、基板2を交換するときの作業が容易になる。また、基板2を装着したときに近い空気流を形成することができる。
【選択図】 図3

Description

本発明は、ケーシングに基板を装着して構成した基板アセンブリおよびこの基板アセンブリを適用した半導体試験装置に関するものである。
各種の機能を持つデジタル回路基板或いはアナログ回路基板といった基板をケーシングに複数枚装着して構成した基板アセンブリがある。基板には所定の回路や素子が搭載されており、これらは使用時に発熱をする。基板アセンブリを構成する隣接する基板の間は狭小な空間であることが多く、各基板が発熱することにより、基板およびケーシングの内部空間は高温状態になる。
このため、適宜の冷却手段を用いて冷却を行う。例えば、基板にヒートシンクを搭載し、ケーシングの内部空間から吸風或いは内部空間に向けて送風することで、ヒートシンクから効率的に放熱し、基板を冷却する。この種の技術が特許文献1に開示されている。
図7は従来の基板アセンブリ101を示している。基板アセンブリ101はケーシング102に複数枚の基板103を装着して構成している。ケーシング102はボックス状のケージであり、基板103を並べるようにして装着することが可能になっている。そして、基板103はケーシング102から脱着することもできるようになっている。図中ではケーシング102の全ての箇所に基板103を装着している。
基板103はこの基板103の1方向に延在した細長の放熱フィン104を複数搭載して構成しており、また基板103が所定の機能を果たすための所定の回路素子を搭載している。放熱フィン104は前記の回路素子が発熱することにより高温状態となった熱を放出するために設けたアルミニウムや銅等のヒートシンクである。また、基板103には電源を供給するための電源部105を設けている。
ケーシング102における放熱フィン104の延在方向の両端には複数箇所に細長の開口部106を形成している。開口部106は1枚の基板103に対応して例えば2つを設けている。よって、ケーシング102の一端側に形成した開口部106に対応して他端側の同じ位置に開口部106が形成されている。
ケーシング102の一端側と他端側とのうち何れかの外部(ここでは、他端側の外部)に図示しない吸風手段を配置する。この吸風手段により一端側(入口側)から他端側(出口側)に向けて空気流が形成される。基板103をケーシング102に装着したときに、この空気流の流路に放熱フィン104が位置している状態になる。よって、この空気流により放熱フィン104が冷却され、基板103の高い冷却効率が得られる。図8は、基板103を装着したときの空気の流れを示している。
ところで、図8に示すように、ケーシング102の入口側および出口側には基板103を固定保持する基板保持部107を複数箇所に形成している。この基板保持部107に基板103を固定保持させ、或いは取り外すことで、基板103を着脱することが可能になる。
基板アセンブリ101を構成したときに、全ての基板保持部107に基板103を保持させるとは限らず、敢えて一部の基板保持部107に基板103を保持させない場合がある。これは、後に新たな基板103を追加することで、基板アセンブリ101の機能を自由に拡張・変更することを可能にするためである。よって、ケーシング102には空きスペースが形成され、これが図9に示すような広範な空間108を形成する。
図9では、ケーシング102の両端の2箇所にそれぞれ基板103を装着しているが、その内側の箇所は非装着状態としている。従って、ケーシング102の中央部分には広範な空間108が形成される。1枚の基板103に対応して入口側および出口側の4箇所に開口部106を形成しているが、基板103を非装着状態としている空間108に対応する箇所にも開口部106が形成されている。
このとき、基板103を非装着状態としている箇所の開口部106はブランクパネル109により閉塞する。ブランクパネル109は基板保持部107に着脱可能になっており、装着状態のときに開口部106を閉塞する。そして、入口側および出口側の2箇所にそれぞれ装着する。これにより、吸風手段の吸風力を基板103が設けられている箇所の開口部106に集中させ、基板103が装着されていない箇所に不要な吸風力を作用させないようにしている。
特開2003−46287号公報
図10は図9の上面図を示している。なお、ケーシング102の上部側および下部側も閉塞がされるが、図10は閉塞していない状態の上面図を示している。この図に示すように、基板103と基板103との間を流れる空気流は狭小な間隔を1方向に流れ、且つ所定の吸風力が作用するため、高い冷却効率が得られる。
一方、空間108は広範な空間であるため空気抵抗が低い。このため、空間108に面した基板103に対応する開口部106から流入した空気流は空間108に向けて分散する。従って、当該基板103に対して作用する空気流の風量が減少するため、基板103の冷却効率が低下する。
また、ブランクパネル109は開口部106を閉塞するために使用される部材であり、基板103の1枚に対応する箇所につき入口側と出口側との2箇所に装着しなければならない。基板103は装着および脱着の両者を行って交換するが、その度に入口側と出口側との2箇所のブランクパネル109を装着および脱着を行わなければならず、交換作業が煩雑になる。
そこで、本発明は、ケーシングに着脱可能に装着される基板を高効率で冷却し、且つ交換作業を容易にすることを目的とする。
以上の課題を解決するため、本発明の第1の基板アセンブリは、複数の基板を着脱可能に装着するケーシングと、前記ケーシングに着脱可能に装着され、前記ケーシングの両端に形成した開口部に対向した位置の複数箇所に通風部を形成し、一方の通風部側から流入し他方の通風部側に流出する空気流が流れる箱状の空気流形成部材と、 を備え、前記ケーシングの前記基板が装着されていない箇所に前記空気流形成部材を装着したことを特徴とする。
この基板アセンブリによれば、基板と空気流形成部材との間を狭小な空間とすることができ、高い冷却効率を得ることができる。空気流形成部材には通風部を設けることで、基板間を流れる空気流に近い空気流を形成して、冷却の分布をできる限り偏在しないようにすることができる。また、空気流形成部材を一体の部材として着脱可能に構成したことで、交換作業が容易になる。
本発明の第2の基板アセンブリは、第1の基板アセンブリであって、前記基板にはこの基板を冷却するための細長の放熱フィンを複数配列して形成し、前記通風部の前記放熱フィンの配列方向における長さを、隣接または離間した前記放熱フィンの間の間隔と一致させたことを特徴とする。
この基板アセンブリによれば、通風部の長さを放熱フィン間の間隔と一致させており、基板間を流れる空気流と同等の空気流を形成することができる。これにより、冷却の分布をより均一なものにすることができるようになる。
本発明の第3の基板アセンブリは、第1または第2の基板アセンブリであって前記空気流形成部材を前記ケーシングと電気的に接続したことを特徴とする。
この基板アセンブリによれば、ケーシングと空気流形成部材を電気的に接続することで、空気流形成部材にシールド機能を持たせることができるようになる。
本発明の第4の半導体試験装置は、第1乃至第3の何れか1つに記載の基板アセンブリを備えたことを特徴とする。
この基板アセンブリは半導体試験装置に適用できる。半導体試験装置はデジタル回路基板やアナログ回路基板等を複数搭載して構成するため、前述した基板アセンブリを適用することができる。
本発明は、空気流形成部材をケーシングに装着することにより高い冷却効率を得ることができ、空気流形成部材を一体の部材として着脱可能に構成していることから交換作業の容易性が向上する。空気流形成部材には複数箇所に通風部を設けて空気流が流れるようにしているため、冷却の分布に偏在しないようにすることができる。
基板およびケーシングの斜視図である。 整流ユニットの構成を示す斜視図である。 基板および整流ユニットをケーシングに装着するときの説明図である。 図3の上面図である。 基板と整流ユニットとの関係を説明するための側面図である。 基板と整流ユニットとの他の関係を説明するための側面図である。 従来技術の基板をケーシングに装着したときの斜視図である。 図7の上面図である。 一部の基板を非装着状態としたときのケーシングの斜視図である。 図9の上面図である。
以下、本発明の実施形態について説明する。本発明の基板アセンブリ1は、半導体試験装置に適用するものとして説明する。ただし、半導体試験装置以外の装置に適用してもよい。図1に示すように、基板アセンブリ1は複数枚の基板2をケーシング3に着脱可能に構成している。
基板2は種々の機能を持つ回路基板であり、ここではデジタル回路基板(半導体試験装置におけるピンエレクトロニクスカード)やアナログ回路基板(アナログ回路を搭載した基板)等を適用している。勿論、他の種類の基板を基板2として適用してもよい。基板2はX方向(長手方向)に延在した細長の放熱フィン4をZ方向(短手方向:放熱フィン4の配列方向)に複数配列して構成している。また、基板2には電源を供給するための電源部5を搭載して構成している。
また、基板2には所定の機能を果たすためのデジタル回路やアナログ回路等の回路素子が搭載されており、使用時には発熱をする。放熱フィン4はアルミニウムや銅等といった熱伝導性が高い金属材料であり、基板2から突出するように設けられている。これにより、広範な放熱面積を確保して、放熱効率を向上させている。放熱フィン4および電源部5は基板2のX方向における両端にまで搭載するのではなく、その両端に所定の露出部分を確保している。この露出部分がケーシング3に保持される被保持部6を形成する。
ケーシング3はボックス形状をしており、複数枚の基板2を着脱可能に構成している。基板2はケーシング3のY方向(基板配列方向)に並べて装着されるようになっている。ケーシング3のX方向の両端の面(YZ平面)には複数箇所に基板保持部7が設けられている。
基板保持部7は基板2の厚み分を挟持するようになっており、この基板保持部7に基板2の被保持部6を挿入することにより基板2がケーシング3に装着された状態になる。また、基板保持部7から基板2をZ方向に抜去することにより基板2がケーシング3から脱着された状態とすることができる。
隣接する基板保持部7の間には開口部8を形成している。図1ではZ方向に分割しているが、分割しないものであってもよい。開口部8はケーシング3の内部空間と外部空間とを連通しており、基板2をケーシング3に装着したときに、基板2に搭載された放熱フィン4の端部は開口部8に対向するようにしている。
図2は空気流形成部材としての整流ユニット10を示している。整流ユニット10は2つの同一構成の整流部材11A、11Bを表裏で一体化して構成している。整流部材11Aと11Bとの一体化はネジ止めや溶接等の任意の手段を用いてよい。ここでは、ネジ止めにより整流部材11Aと11Bとを一体化しているものとする。
整流部材11A、11B(以下、整流部材11)はそれぞれ平板状のベース板12A、12B(以下、ベース板12)とカバー部材13A、13B(以下、カバー部材13)とを備えている。整流部材11は板金加工等により箱状に形成する。ベース板12はカバー部材13とZ方向(Z方向)において同じ長さに構成しており(ベース板12の方を長く構成してもよい)、X方向(X方向)においてベース板12の方を長く構成している。
そして、X方向においてカバー部材13とベース板12との中央位置を一致させるようにする。これにより、ベース板12のX方向の両端にベース板12が露出している部位(カバー部材13が設けられていない部位)が形成される。この露出している部位が基板保持部7に保持される被保持部14A、14B(以下、被保持部14)を構成する。
2枚のベース板12は接合されるが、この2枚のベース板12の厚みの合計が基板2の厚みと一致させるようにして構成する。これにより、ベース板12の両端に形成された被保持部14はケーシング3の基板保持部7に挿入および抜去される。よって、整流ユニット10をケーシング3に装着および脱着することが可能になる。
カバー部材13とベース板12との間は隙間が生じないように一体的に構成する。よって、カバー部材13を取り付けることにより、整流部材11には密閉的な空間が形成される。そして、カバー部材13のX方向における両端の複数箇所に通風部15を設ける。各通風部15はカバー部材13の両端のZ方向の複数箇所を開口することで形成される。これにより、整流部材11の内部の密閉された空間が外部と連通する。また、カバー部材13の一端側に設けられる通風部15と他端側に設けられる通風部15とはZ方向において同じ位置に設けるようにする。
図3はケーシング3のY方向両端のそれぞれ2箇所に基板2を装着(合計4枚の基板2を装着した状態)し、その内側に整流ユニット10を装着する状態を示している。この図に示すように、Z方向から基板2および整流ユニット10をケーシング3に装着する。そして、基板2が装着されていない基板保持部7の箇所に全て整流ユニット10を装着する。
ケーシング3の両端の面には開口部8が形成されている。一端の面の外部側から図示しない吸風手段により吸風力を作用させる。これにより、開口部8から吸風力が作用し、開口部8から開口部8に向けて流れる空気流が形成される。従って、ケーシング3の一端の面(開口部8が形成されている面)が入口側を構成し、他端の面(開口部8が形成されている面)が出口側を構成する。そして、入口側から出口側に向けて空気流が形成される。
ケーシング3の内部に装着された4枚の基板2には放熱フィン4が搭載されており、吸風手段により形成された空気流により放熱フィン4が冷却される。これにより、基板2の搭載されているデジタル回路やアナログ回路等の回路素子が冷却される。なお、放熱フィン4の冷却には吸風力を用いているが、入口側から出口側に向けて強制的に送風するものであってもよい。
ケーシング3に装着されている4枚の基板2のうち内側の基板2については、一面側が基板2に隣接しているが、反対面側には基板2と隣接していない。ただし、その位置に整流ユニット10が装着されている。整流ユニット10は箱状のカバー部材13を有して構成しており、基板2とカバー部材13との間に狭小な空間を形成する。よって、基板2を装着したときと同じく、整流ユニット10を基板2が装着される部位に装着することで、空気流がケーシング3の内部に分散されることを抑制できる。このため、基板2に対して所定の空気流を作用させることができ、高い冷却効率を得ることができる。
図4は、図3の上面図を示している。ただし、ケーシング3の上面(XY平面)および下面(同じくXY平面)は、実際は閉塞されている。この図に示すように、隣接する基板2の間に流れる空気流は狭小な空間を流れるため分散をすることなく、所定の空気流が流れる。これにより、基板2の放熱フィン4の冷却効率が向上する。
また、内側の基板2に隣接する基板保持部7には整流ユニット10を装着しており、基板2とカバー部材13との間は狭小な空間を形成する。これにより、空気流が分散することなく、放熱フィン4に高い冷却効率を作用させることができる。しかも、一体化した整流ユニット10を基板保持部7に挿抜するだけで、着脱可能になる。これにより、入口側と出口側との2箇所にそれぞれブランクパネルを装着する必要がなく、整流ユニット10を交換するときにも、その着脱作業が簡単になる。且つ、整流ユニット10は箱状のカバー部材13とベース板12とにより構成することができるため、単純な板金加工により構成することが可能になる。
整流ユニット10はベース板12とカバー部材13とにより箱状になり、狭小な内部空間が形成される。そして、カバー部材13には複数の通風部15を形成している。通風部15を形成する方向を放熱フィン4の配列方向(Y方向)とすることで、隣接する基板2の間に流れる空気流と通風部15から整流ユニット10の内部を流れる空気流との風量分布を近づけることができるようになる。
次に、図5および図6を用いて、通風部15の配置態様について説明する。基板2および整流ユニット10はケーシング3に装着されて固定的に保持される。ケーシング3に装着したときの基板2および整流ユニット10を図5および図6に示している。図5は基板2の隣接した放熱フィン4の間の間隔(L1)と整流ユニット10の通風部のZ方向の長さ(L1)とを一致させたものになる。図6は基板2の離間した(間に3つの放熱フィン4を挟んだ)放熱フィン4の間の間隔(L2)と整流ユニット10の通風部のZ方向の長さ(L2)とを一致させたものになる。
まず、図5について説明する。基板2については、ケーシング3に作用させた吸風力により放熱フィン4と放熱フィン4との間の空間21を空気流が流れるようになる。整流ユニット10については、ケーシング3に作用させた吸風力により複数の通風部15から空気流が整流ユニット10の内部に空気が流入して、通風部15から空気が流出する。
図5の例では、1つの空間21と1つの通風部15とを対応させるようにしている。つまり、ケーシング3に装着したときに、Z方向において空間21と通風部15とが同じ位置となるように通風部15をカバー部材13に形成する。換言すれば、Z方向において放熱フィン4が位置する箇所に通風部15と通風部15との間の部位(空気流を遮断する遮風部16)を位置させるようにカバー部材13を形成する。且つ、Z方向における長さが一致している。
これにより、基板2と整流ユニット10とに流れる空気流をほぼ均一にすることができる。つまり、空気流の分布に偏在がなくなりほぼ一様な空気流がケーシング3の内部に作用する。よって、冷却効率に偏りのない均一な冷却を行うことができるようになる。
図5は空間21と通風部15とを1対1に対応させたものになるが、放熱フィン4の断面は狭小になっており、空間21の断面も狭小になる。よって、カバー部材13に微小な通風部15を多数箇所に形成しなければならなくなる。整流ユニット10は単純な板金加工によって生成することができるが、この場合には通風部15を開口させるための加工が煩雑になる。
そこで、1つの通風部15に複数の空間21を対応させたものが図6になる。この図に示すように、通風部15のZ方向の長さ(L2)は前記のL1よりも長く構成している。そして、間に2つの空間21を挟んで離間した放熱フィン4と放熱フィン4との間の間隔(L2)と一致するように通風部15の長さを構成している。
これにより、基板2と整流ユニット10とに作用する空気流の分布を近づけることができる。そして、通風部15は図5の場合と比べて広い開口とし、且つ形成する個数が少なくなることから、加工性が容易になる。
なお、図5および図6に示すように、放熱フィン4のY方向における幅(L3)と通風部15のY方向における幅(L3)とを一致させている。基板2とほぼ等しい空気流を整流ユニット10に作用させるためには、Y方向における幅も等しくすることが望ましい。ただし、厳格に一致させなくても、擬似的に均一化することは可能になる。
また、整流ユニット10にシールド機能を持たせることもできる。ケーシング3を金属素材で構成し、且つ基板保持部7との間にガスケットを設ければ、整流ユニット10とケーシング3との間が電気的に接続される。前述したように、基板2としてはデジタル回路基板やアナログ回路基板等を適用できるが、デジタル回路基板はノイズを発生する。このノイズがアナログ回路基板に作用して、影響を及ぼすおそれがある。
そこで、デジタル回路基板とアナログ回路基板との間にケーシング3に電気的に接続された整流ユニット10を装着する。整流ユニット10はノイズを遮断するシールド機能を発揮するため、デジタル回路基板が発生したノイズをアナログ回路基板に作用させないように遮断することができるようになる。
1 基板アセンブリ
2 基板
3 ケーシング
4 放熱フィン
5 電源部
6 被保持部
7 基板保持部
8 開口部
10 整流ユニット
11 整流部材
11 ベース部材
12 ベース板
13 カバー部材
14 被保持部
15 通風部

Claims (4)

  1. 複数の基板を着脱可能に装着するケーシングと、
    前記ケーシングに着脱可能に装着され、前記ケーシングの両端に形成した開口部に対向した位置の複数箇所に通風部を形成し、一方の通風部側から流入し他方の通風部側に流出する空気流が流れる箱状の空気流形成部材と、
    を備え、
    前記ケーシングの前記基板が装着されていない箇所に前記空気流形成部材を装着したこと
    を特徴とする基板アセンブリ。
  2. 前記基板にはこの基板を冷却するための細長の放熱フィンを複数配列して形成し、
    前記通風部の前記放熱フィンの配列方向における長さを、隣接または離間した前記放熱フィンの間の間隔と一致させたこと
    を特徴とする請求項1記載の基板アセンブリ。
  3. 前記空気流形成部材を前記ケーシングと電気的に接続したこと
    を特徴とする請求項1または2記載の基板アセンブリ。
  4. 請求項1乃至3の何れか1項に記載の基板アセンブリを備えたこと
    を特徴とする半導体試験装置。
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