JP2012104424A - 質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】前段線形多重極電極Q0と、前段線形多重極電極Q0から出射したイオンが入射する後段線形多重極電極Q1とを有する質量分析装置において、イオンが、後段線形多重極電極Q1に入射するまでに、前段線形多重極電極Q0と後段線形多重極電極Q1の中心軸P0、P1の延長線の互いの軸ずれ量ΔX、ΔY分を偏向するように、前段線形多重極電極Q0を構成する複数のロッド電極に直流オフセット電圧Vofs1、Vofs2、Vofs3、Vofs4を印加するように制御する制御部を有する。制御部は、直流オフセット電圧Vofs1、Vofs2、Vofs3、Vofs4を、後段線形多重極電極Q1に入射させるイオンの質量数に応じて変更する。
【選択図】図8
Description
前記イオンが、前記後段線形多重極電極に入射するまでに、前記前段線形多重極電極と前記後段線形多重極電極の中心軸の延長線の互いの軸ずれ量分を偏向するように、前記前段線形多重極電極を構成する複数のロッド電極に直流オフセット電圧を印加するように制御する制御部を有することを特徴としている。
図1に、本発明の第1の実施形態に係る質量分析装置10の構成図を示す。第1の実施形態では、本発明を、3連四重極形質量分析計(QMS: Quadrupole Mass Spectrometer)の質量分析装置10に適用した場合について説明する。
第2の実施形態でも、第1の実施形態の質量分析装置10をそのまま用いることができる。第2の実施形態では、第1の実施形態と比べて、質量分析方法、特に、測定前の処理方法が、異なっている。第1の実施形態では、図9のステップS2に示すように、軸ずれ量ΔX、ΔYを、オペレータ等が計測し、制御部11に取得させる必要があった。しかしながら、軸ずれ量ΔX、ΔYは、概念としては存在するが実体としては存在しない中心軸の延長線P0、P1間の距離であるので、測定し難く、時間やコストがかかるため、例えば量産時などにおいては、軸ずれ量ΔX、ΔYの測定がコスト的に困難となる場合もある。そこで、第2の実施形態では、軸ずれ量ΔX、ΔYの取得を省ける質量分析方法(測定前の処理方法)について記載する。
2 DCオフセット電源
3 高周波電源
4 加算部
5 DCオフセット電源
6 高周波電源
7 検出器(二次電子増倍管)
8 引き出し電極
9 イオンレンズ
10 質量分析装置
11 制御部
12 衝突ガス
13 衝突室
14 DCオフセット電源
15 高周波電源
16 信号処理部
17 サンプリングコーン
18 スキマーコーン
19 ロータリーポンプ
20、21 ターボ分子ポンプ
Q0 四重極イオンガイド(前段線形四重極電極)
Q1 一段目四重極電極(後段線形四重極電極)
Q2 二段目四重極電極
Q3 三段目四重極電極
Q0a、Q0b、Q0c、Q0d ロッド電極
Claims (17)
- 前段線形多重極電極と、前記前段線形多重極電極から出射したイオンが入射する後段線形多重極電極とを有する質量分析装置において、
前記イオンが、前記後段線形多重極電極に入射するまでに、前記前段線形多重極電極と前記後段線形多重極電極の中心軸の延長線の互いの軸ずれ量分を偏向するように、前記前段線形多重極電極を構成する複数のロッド電極に直流オフセット電圧を印加するように制御する制御部を有することを特徴とする質量分析装置。 - 前記前段線形多重極電極は、三連四重極質量分析装置における四重極イオンガイドであり、
前記後段線形多重極電極は、前記三連四重極質量分析装置においてプリカーサーイオンの選択を行う一段目四重極電極であることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。 - 前記前段線形多重極電極は、三連四重極質量分析装置においてプリカーサーイオンの選択を行う一段目四重極電極であり、
前記後段線形多重極電極は、前記三連四重極質量分析装置において前記プリカーサーイオンの衝突誘起解離を行う二段目四重極電極であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の質量分析装置。 - 前記前段線形多重極電極は、三連四重極質量分析装置においてプリカーサーイオンの衝突誘起解離を行いプロダクトイオンを生成する二段目四重極電極であり、
前記後段線形多重極電極は、前記三連四重極質量分析装置において前記プロダクトイオンの質量分離を行う三段目四重極電極であることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の質量分析装置。 - 前記制御部は、前記直流オフセット電圧を、前記後段線形多重極電極に入射させる前記イオンの質量数に応じて変更することを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載の質量分析装置。
- 前記制御部は、前記前段線形四重極電極の中心軸の方向の長さ、前記前段線形四重極電極と前記後段線形四重極電極間の距離、前記軸ずれ量、前記イオンの質量数、前記イオンを前記前段線形四重極電極に入射する前に中心軸の方向に加速する加速電圧に基づいて、前記直流オフセット電圧が印加される複数の前記ロッド電極間の複数の電位差を算出することを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載の質量分析装置。
- 前記制御部は、複数の前記電位差の条件を満たし、隣接するロッド電極間の電圧の差の最大値が最小になるように、前記直流オフセット電圧を算出することを特徴とする請求項6に記載の質量分析装置。
- 前記制御部は、
前記直流オフセット電圧を変化させながら印加し、
変化させた前記直流オフセット電圧毎に、質量分析の測定を実施し、質量スペクトルを取得し、
前記質量スペクトルのピークの信号強度が最大となるか、前記ピークの半値幅が最小となるかの、少なくともどちらか一方の条件を満たす前記直流オフセット電圧を抽出することを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載の質量分析装置。 - 前記制御部は、
抽出された前記直流オフセット電圧に基づいて、前記直流オフセット電圧が印加される複数の前記ロッド電極間の複数の電位差を算出することを特徴とする請求項8に記載の質量分析装置。 - 前記制御部は、質量分析の測定に先立って、前記電位差を、前記質量数と関係付けて記憶することを特徴とする請求項7又は請求項9に記載の質量分析装置。
- 前記制御部は、質量分析の測定に先立って、前記直流オフセット電圧を、前記質量数と関係付けて記憶することを特徴とする請求項7又は請求項9に記載の質量分析装置。
- 前記制御部は、質量分析の測定に先立って、
前記直流オフセット電圧と前記質量数の比例関係を利用し、変化させた前記質量数毎に前記直流オフセット電圧を算出し、
複数の前記質量数毎に前記直流オフセット電圧が関係付けられたデータマップを記憶することを特徴とする請求項11に記載の質量分析装置。 - 前記制御部は、質量分析の測定に先立って、
前記電位差と前記質量数の比例関係を利用し、変化させた前記質量数毎に前記電位差を算出し、
複数の前記質量数毎に前記電位差が関係付けられたデータマップを記憶することを特徴とする請求項10に記載の質量分析装置。 - 前記制御部は、質量分析の測定において、
オペレータによる指定に応じて、測定試料から生成されるイオンの前記質量数を取得し、
前記データマップから、取得した前記質量数に関係付けられた前記電位差を読み出し、
読み出された複数の前記電位差の条件を満たすように、前記直流オフセット電圧を算出することを特徴とする請求項13に記載の質量分析装置。 - 前記制御部は、質量分析の測定において、
オペレータによる指定に応じて、測定試料から生成されるイオンの前記質量数を取得し、
前記データマップから、取得した前記質量数に関係付けられた前記直流オフセット電圧を読み出すことを特徴とする請求項12に記載の質量分析装置。 - 前記制御部は、質量分析の測定において、
オペレータによる指定に応じて、測定試料から生成されるイオンの前記質量数を取得し、
関係付けて記憶された前記直流オフセット電圧と前記質量数を読み出し、
前記直流オフセット電圧と前記質量数の比例関係を利用し、前記測定試料から生成されるイオンの前記質量数に対応する前記直流オフセット電圧を算出することを特徴とする請求項11に記載の質量分析装置。 - 前記制御部は、質量分析の測定において、
オペレータによる指定に応じて、測定試料から生成されるイオンの前記質量数を取得し、
関係付けて記憶された前記電位差と前記質量数を読み出し、
前記電位差と前記質量数の比例関係を利用し、前記測定試料から生成されるイオンの前記質量数に対応する前記電位差を算出し、
算出された複数の前記電位差の条件を満たすように、前記直流オフセット電圧を算出することを特徴とする請求項10に記載の質量分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2010253363A JP5507421B2 (ja) | 2010-11-12 | 2010-11-12 | 質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2010253363A JP5507421B2 (ja) | 2010-11-12 | 2010-11-12 | 質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2012104424A true JP2012104424A (ja) | 2012-05-31 |
JP5507421B2 JP5507421B2 (ja) | 2014-05-28 |
Family
ID=46394572
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010253363A Active JP5507421B2 (ja) | 2010-11-12 | 2010-11-12 | 質量分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP5507421B2 (ja) |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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