JPS60142245A - 四重極質量分析計 - Google Patents
四重極質量分析計Info
- Publication number
- JPS60142245A JPS60142245A JP58246603A JP24660383A JPS60142245A JP S60142245 A JPS60142245 A JP S60142245A JP 58246603 A JP58246603 A JP 58246603A JP 24660383 A JP24660383 A JP 24660383A JP S60142245 A JPS60142245 A JP S60142245A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mass
- resolution
- resolving power
- data
- value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/4205—Device types
- H01J49/421—Mass filters, i.e. deviating unwanted ions without trapping
- H01J49/4215—Quadrupole mass filters
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ 産業上の利用分野
本発明は四正極質ｆａ分析計の分解能調整装置Ｉコ関す
る。
る。
口 従来技術
四重甑質↓ｉト分析泪では分解能を」二げろと感度か低
Ｆし、高感度を得ようとすると分解能が低下する。従っ
て分析操作前に分析目的に応じて分解能調整を行う。そ
して従来この調整は分析を行う者の知識と経験に頼って
行われていたカベその調整項目は感度、分解能、質量較
正等で、感度り分解能か関係しているのは勿論、分解能
を変えると質量ピークの中心位置かずツ１．乙ので、質
量較正か必要なのであり、感度、分解能、質量ビー４′
の中心の三者か互に関連して動くので、調整操作は大変
複雑で骨の折れる仕事であった１゜ ハ 目的 本発明は四重極質量分析計の調整に当っての分析者の負
担を軽減することを目的とする。
Ｆし、高感度を得ようとすると分解能が低下する。従っ
て分析操作前に分析目的に応じて分解能調整を行う。そ
して従来この調整は分析を行う者の知識と経験に頼って
行われていたカベその調整項目は感度、分解能、質量較
正等で、感度り分解能か関係しているのは勿論、分解能
を変えると質量ピークの中心位置かずツ１．乙ので、質
量較正か必要なのであり、感度、分解能、質量ビー４′
の中心の三者か互に関連して動くので、調整操作は大変
複雑で骨の折れる仕事であった１゜ ハ 目的 本発明は四重極質量分析計の調整に当っての分析者の負
担を軽減することを目的とする。
二 （＋１／ｌｌ成
本発明装置は四重極質毘分析３１で分解能を変えたとき
の質量ピークの中心の移動を予め測定しておき、この測
定データに基き、分解能の設定に応して自動的に質量変
化を補正するものである。
の質量ピークの中心の移動を予め測定しておき、この測
定データに基き、分解能の設定に応して自動的に質量変
化を補正するものである。
四重極質量分析訓で分解能・２変えると質量ピークの中
心か移動する理由を第１図によって説明する。四重画質
量分４ｆｒ装置は四つの’ｔ（Ｌｔ’Ｍで対向するもの
同士が同極性に隣り合うものが互１こ反対極性１こなる
よう］こ四つの電極に直流電圧Ｕと振幅がＶの高周波交
流電圧とを重量させて印加する。第１＆定線図と呼はれ
るもので横軸は交流振幅Ｖ１縦軸は直流′電圧Ｕを表わ
し、三角状のカーブはＭなる質はのイオノ１こ対して電
圧Ｕ、Ｖがこの三角状カーフの内側にあるとき、そのイ
オンの軌道は安′定て四重極空間を通り抜けてイオン検
出器に入射することがてき、Ｕ、Ｖが三角状カーフの外
に設′ボされたときはイオン軌道は不安定で発１１（シ
てしまい、イ鴻〕は検出器に入射てきＩ、（い。質量゛
か異れは、この三角状カーフも異り、ｋ”イオンＩこ対
する三角状カーブ程小さくなりかつ左方へ寄って行く。
心か移動する理由を第１図によって説明する。四重画質
量分４ｆｒ装置は四つの’ｔ（Ｌｔ’Ｍで対向するもの
同士が同極性に隣り合うものが互１こ反対極性１こなる
よう］こ四つの電極に直流電圧Ｕと振幅がＶの高周波交
流電圧とを重量させて印加する。第１＆定線図と呼はれ
るもので横軸は交流振幅Ｖ１縦軸は直流′電圧Ｕを表わ
し、三角状のカーブはＭなる質はのイオノ１こ対して電
圧Ｕ、Ｖがこの三角状カーフの内側にあるとき、そのイ
オンの軌道は安′定て四重極空間を通り抜けてイオン検
出器に入射することがてき、Ｕ、Ｖが三角状カーフの外
に設′ボされたときはイオン軌道は不安定で発１１（シ
てしまい、イ鴻〕は検出器に入射てきＩ、（い。質量゛
か異れは、この三角状カーフも異り、ｋ”イオンＩこ対
する三角状カーブ程小さくなりかつ左方へ寄って行く。
そこて、ＵとＶの１１ｉｌ！が直線１′に沿って変化す
るようなプログラムによってＵ、Ｖを変化さぜると、質
量へ・ＩのイオンはＵ、Ｖか第１図に示すようにＵｉ、
ＶｌからＵ１＋ΔＵ、Ｖｌ＋Δ訃まで変化する間イオン
検出器に検出される。そこで交流電圧の振幅■を質量を
表わすパラメータとしてイオン検出出力を記録すると第
２図へのような質量スペクトルのプロファイルが得られ
る。この場合のピーク幅の中心の■の値をＶｐとすると
、Ｕ、Ｖの変化プログラムを直線ＰのようＩこ設定した
ときは、Ｖｐが質量Ｍを示すように表示装置を調整する
。同様にしてＵ、■の変化のプロクラムを第１図で直線
Ｑのように設定すると、質量Ｍのイオンは交流振幅Ｖｈ
）Ｖｌ’からＶ１′十ΔＶ′まで変化する量検出されて
おり、この場合の質量スペクトルのプロファイルは第２
図Ｈのよう１こなり、ピーク幅が広くなると共ｉコ、安
定線図が非対称な形であるためピーク中心はＶｐからＶ
ｑｌこ移動する。
るようなプログラムによってＵ、Ｖを変化さぜると、質
量へ・ＩのイオンはＵ、Ｖか第１図に示すようにＵｉ、
ＶｌからＵ１＋ΔＵ、Ｖｌ＋Δ訃まで変化する間イオン
検出器に検出される。そこで交流電圧の振幅■を質量を
表わすパラメータとしてイオン検出出力を記録すると第
２図へのような質量スペクトルのプロファイルが得られ
る。この場合のピーク幅の中心の■の値をＶｐとすると
、Ｕ、Ｖの変化プログラムを直線ＰのようＩこ設定した
ときは、Ｖｐが質量Ｍを示すように表示装置を調整する
。同様にしてＵ、■の変化のプロクラムを第１図で直線
Ｑのように設定すると、質量Ｍのイオンは交流振幅Ｖｈ
）Ｖｌ’からＶ１′十ΔＶ′まで変化する量検出されて
おり、この場合の質量スペクトルのプロファイルは第２
図Ｈのよう１こなり、ピーク幅が広くなると共ｉコ、安
定線図が非対称な形であるためピーク中心はＶｐからＶ
ｑｌこ移動する。
他方ピーク幅が広くなったたけ感度は向］二し、分解能
は低下している。
は低下している。
質量Ｍのイオンの安定線図の形は四重極の寸法、配置間
隔等によって変化し、従って分解能を変えたときの質ｈ
↓スペクトルの中心位置の移動量と分解能との関係は装
置個有の関数となる。本発明は予めこの関数形を調へて
おいて、実際の装置調整の場合に任意に設定した分解能
１こ対する質量ビークの中心の移動量を先にめである開
数形から割り出して、質量目盛を自動的に較正するもの
である。
隔等によって変化し、従って分解能を変えたときの質ｈ
↓スペクトルの中心位置の移動量と分解能との関係は装
置個有の関数となる。本発明は予めこの関数形を調へて
おいて、実際の装置調整の場合に任意に設定した分解能
１こ対する質量ビークの中心の移動量を先にめである開
数形から割り出して、質量目盛を自動的に較正するもの
である。
（トス下 ン欠側）
ホ 実施例
第３図は本発明の一実施例を示す。Ｑが四重極質量分析
器、Ｅは四重極電源で先に説明した血流’ｃＨＩＥＩＥ
Ｕ及び高周波交流Ｖを発生している。ＣはＣＰＵであり
四重極電源Ｅｌこ制御借料を送ってＵ。
器、Ｅは四重極電源で先に説明した血流’ｃＨＩＥＩＥ
Ｕ及び高周波交流Ｖを発生している。ＣはＣＰＵであり
四重極電源Ｅｌこ制御借料を送ってＵ。
■を変化させると共１こ、高周波交流電圧の振幅Ｖのデ
ータ１こ係数Ｋを掛け、質量ＭをＭ＝ＫＶＩこよってＶ
の値から算出して表示装置りにＭの値を表示させる。こ
＼で前述したようにＫの値か分解能の設定１こ応じて変
化するので、ＣＰＵには予め分） 解能ＲとＩ（との関係Ｋ ＝ ｆ （Ｒ）のデータル実
ａｔｌｌ ｌこよって記憶させておき、Ｒの設定１こ応
じてｍ〔ちにＭ＝ ｆ（＋＜）・Ｖとして質量を表示さ
せればよいのであるが、更にこの分解能Ｒは第１図から
分るように、Ｕ ／′Ｖによって決まるので、設定分解
能のデータとしてＵｉＶの値を採用し、Ｍ−Ｖ（ＵｉＶ
）・Ｖとして質量を表示装置りに表示させる。
ータ１こ係数Ｋを掛け、質量ＭをＭ＝ＫＶＩこよってＶ
の値から算出して表示装置りにＭの値を表示させる。こ
＼で前述したようにＫの値か分解能の設定１こ応じて変
化するので、ＣＰＵには予め分） 解能ＲとＩ（との関係Ｋ ＝ ｆ （Ｒ）のデータル実
ａｔｌｌ ｌこよって記憶させておき、Ｒの設定１こ応
じてｍ〔ちにＭ＝ ｆ（＋＜）・Ｖとして質量を表示さ
せればよいのであるが、更にこの分解能Ｒは第１図から
分るように、Ｕ ／′Ｖによって決まるので、設定分解
能のデータとしてＵｉＶの値を採用し、Ｍ−Ｖ（ＵｉＶ
）・Ｖとして質量を表示装置りに表示させる。
ｙ（ＵｉＶ）の実際の形は既知質量Ｍのイオンを用いて
ＵｉＶの値を３種類設定し、夫々の場合に質量スペクト
ルピークの中心のＶの値Ｖｌ、Ｖ２、Ｖ：３を実ｊｌＯ
Ｌ、この、′３点の実測値から、ｙ（ＵｉＶ）＝Ａ（Ｕ
ｉＶ） 十Ｂ（ＵｉＶ）＋Ｃ・・・・・・・・・・（１
）の形でｙ（ＵｉＶ ）か与えられるとして係数Ａ。
ＵｉＶの値を３種類設定し、夫々の場合に質量スペクト
ルピークの中心のＶの値Ｖｌ、Ｖ２、Ｖ：３を実ｊｌＯ
Ｌ、この、′３点の実測値から、ｙ（ＵｉＶ）＝Ａ（Ｕ
ｉＶ） 十Ｂ（ＵｉＶ）＋Ｃ・・・・・・・・・・（１
）の形でｙ（ＵｉＶ ）か与えられるとして係数Ａ。
Ｂ、Ｃを５１算し、ＣＰＵのメモリ１こ記憶させておく
。」二の係数の計算はＵ、ＶをＵｌ、、Ｖｌ＋こ設定し
たとき、 ！７（Ｕｌ、／′Ｖｌ）−昔−Ａ（Ｕｌ、／Ｖｌ ）
＋Ｂ（Ｕｌ、／’Ｖｌ ）−１−ｃ・・・・（２）（２
）と同（４）の式がＶ２．Ｖ３の場合１こ対しても出来
るので９．これら三式からＡ、Ｂ、Ｃがまる。
。」二の係数の計算はＵ、ＶをＵｌ、、Ｖｌ＋こ設定し
たとき、 ！７（Ｕｌ、／′Ｖｌ）−昔−Ａ（Ｕｌ、／Ｖｌ ）
＋Ｂ（Ｕｌ、／’Ｖｌ ）−１−ｃ・・・・（２）（２
）と同（４）の式がＶ２．Ｖ３の場合１こ対しても出来
るので９．これら三式からＡ、Ｂ、Ｃがまる。
第４図は分析動作のフローチャートを示づ−。分（１１
者か分解能を任意に設定（Ｕ、／Ｖの設定） （（）
Ｌ、較正キーを押す（ロ）と、ＣＰＵはメモリからＡ、
Ｂ。
者か分解能を任意に設定（Ｕ、／Ｖの設定） （（）
Ｌ、較正キーを押す（ロ）と、ＣＰＵはメモリからＡ、
Ｂ。
Ｃのテークを読出し、」−記（１）式１こより、設Ｖ「
された（ ＵｉＶ ）の値を代入してり（ＵｉＶ）を算
出（／→して、結眼をメモリに記憶させ（勾、測定が開
始されると、以後はに）のステップでメモリされた７（
ＵｉＶ ）の値を用い、その時々のＶの値１こり（ｔ７
ｖ）をｌ’ＪＩ Ｎ： （、Ｉ→して表示裟工１こ質量
数の表示を行う（ハ）。
された（ ＵｉＶ ）の値を代入してり（ＵｉＶ）を算
出（／→して、結眼をメモリに記憶させ（勾、測定が開
始されると、以後はに）のステップでメモリされた７（
ＵｉＶ ）の値を用い、その時々のＶの値１こり（ｔ７
ｖ）をｌ’ＪＩ Ｎ： （、Ｉ→して表示裟工１こ質量
数の表示を行う（ハ）。
に）９すではｙ （ＵｉＶ ）は２次式として表現した
が、折線で表示してもよい。
が、折線で表示してもよい。
へ 効果
本発明ｌこよれは、質ｉＭ＝ＫｖでＩくの値と分解能を
関係づける言１算資料、」−例のＡ、Ｂ、Ｃ等はメーカ
ー側で実測によってめて制御用ｃ ｐ Ｕのメモリに格
納しておけはよく、ユーザーの側で（ｊ分析に当って分
析目的に応して分解能と感度との兼ね合いを適当１こ選
択すれは、四重極電圧（Ｕ又はＶ）に対する質量の較正
は自動的に完了し、分析者の装置調整の負担か太幅１こ
軽減され、調整１こ消費される時間か短縮されて分析能
率か向−１ニし、調整１こ間違いが入り込まないから分
析結宋のイ８頼性か向」ニする。
関係づける言１算資料、」−例のＡ、Ｂ、Ｃ等はメーカ
ー側で実測によってめて制御用ｃ ｐ Ｕのメモリに格
納しておけはよく、ユーザーの側で（ｊ分析に当って分
析目的に応して分解能と感度との兼ね合いを適当１こ選
択すれは、四重極電圧（Ｕ又はＶ）に対する質量の較正
は自動的に完了し、分析者の装置調整の負担か太幅１こ
軽減され、調整１こ消費される時間か短縮されて分析能
率か向−１ニし、調整１こ間違いが入り込まないから分
析結宋のイ８頼性か向」ニする。
！１０１図は四正極質量分析器の安γ線図、第２図（４
分解能１こよってピーク中心かすれる様子を示すクラ７
、第；３図は本発明回置のフロック図、第４図（ま動作
のフローチャー１・である。 Ｑ・・・・四電極質量分析器、Ｅ・・・・四重％ ’ｒ
（ｉ ＩＭ、Ｃ・・・ＣＰ［Ｊ、Ｄ・・・・表示装置。
分解能１こよってピーク中心かすれる様子を示すクラ７
、第；３図は本発明回置のフロック図、第４図（ま動作
のフローチャー１・である。 Ｑ・・・・四電極質量分析器、Ｅ・・・・四重％ ’ｒ
（ｉ ＩＭ、Ｃ・・・ＣＰ［Ｊ、Ｄ・・・・表示装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 と 質量と四重極畦土とを関係づける係数や分解能との関係
を規定ずろ子−りを予めメモリ１こ蓄えておき、調整操
作において分解能を設定すると、」二記メモリに蓄えら
れたデータを用い、設定された分解能ｌこ応じた係数を
算出するプログラムと、この＄９出さ、ｌした係数を用
いτ、四重極７ｕ圧１こ対応する質量を算出して表示す
るプロクラムを有する制御回路を設けたことを特徴とす
る四重極質量分析言１゜
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58246603A JPS60142245A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 四重極質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58246603A JPS60142245A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 四重極質量分析計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60142245A true JPS60142245A (ja) | 1985-07-27 |
| JPH0562424B2 JPH0562424B2 (ja) | 1993-09-08 |
Family
ID=17150862
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58246603A Granted JPS60142245A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 四重極質量分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60142245A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6098840A (en) * | 1997-02-26 | 2000-08-08 | Kabushiki Kaisha Nippon Conlux | Inclining slide for card dispensing device |
| JP2007323838A (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Shimadzu Corp | 四重極型質量分析装置 |
| JP2012104424A (ja) * | 2010-11-12 | 2012-05-31 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
-
1983
- 1983-12-29 JP JP58246603A patent/JPS60142245A/ja active Granted
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6098840A (en) * | 1997-02-26 | 2000-08-08 | Kabushiki Kaisha Nippon Conlux | Inclining slide for card dispensing device |
| US6231042B1 (en) | 1997-02-26 | 2001-05-15 | Kabushiki Kaisha Nippon Conlux | Inclining slide for card dispensing device |
| US6267370B1 (en) | 1997-02-26 | 2001-07-31 | Kabushiki Kaisha Nippon Conlux | Inclining slide for card dispensing device |
| JP2007323838A (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Shimadzu Corp | 四重極型質量分析装置 |
| JP2012104424A (ja) * | 2010-11-12 | 2012-05-31 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0562424B2 (ja) | 1993-09-08 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |