JP2012099166A

JP2012099166A - 光検出器

Info

Publication number: JP2012099166A
Application number: JP2010243356A
Authority: JP
Inventors: Toru Hotta; 徹堀田; Ryoichi Kawasaki; 良一川崎
Original assignee: Sanyo Electric Co Ltd; Sanyo Optec Design Co Ltd
Current assignee: Sanyo Electric Co Ltd; Sanyo Electronic Device Sales Co Ltd
Priority date: 2010-10-29
Filing date: 2010-10-29
Publication date: 2012-05-24

Abstract

【課題】光ディスクの信号記録層から反射される戻り光が照射されるとともに光ピックアップ装置の制御動作を行う信号を生成するべく設けられる光検出器の受光面に傷が付かないようにする。
【解決手段】光ディスクの信号記録層に照射されたレーザー光の反射光である戻り光が照射されるとともに該戻り光の光量に応じた信号を出力する受光素子Ｐが透光性樹脂より成るカバー１５Ｂにて被覆された光検出器において、前記カバー１５Ｂの受光面１５Ｃを保護する保護用突部１６を該カバー１５Ｂに形成したことを特徴とする。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ディスクに記録されている信号の読み出し動作や光ディスクに信号の記録動作をレーザー光によって行う光ピックアップ装置に組み込まれる光検出器に関する。

光ピックアップ装置から照射されるレーザー光を光ディスクの信号記録層に照射することによって信号の読み出し動作や信号の記録動作を行うことが出来る光ディスク装置が普及している。

光ディスク装置としては、ＣＤやＤＶＤと呼ばれる光ディスクを使用するものが一般に普及しているが、最近では記録密度を向上させた光ディスク、即ちＢｌｕ−ｒａｙ規格の光ディスクを使用するものが開発されている。

ＣＤ規格の光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行うレーザー光としては、波長が７８５ｎｍである赤外光が使用され、ＤＶＤ規格の光ディスクに記録されている信号の読み出し動作行うレーザー光としては、波長が６５５ｎｍの赤色光が使用されている。

また、ＣＤ規格の光ディスクにおける信号記録層と光ディスクの表面との間に設けられている透明な保護層の厚さは１．２ｍｍであり、この信号記録層から信号の読み出し動作を行うために使用される対物レンズの開口数は、０．４７と設定されている。そして、ＤＶＤ規格の光ディスクにおける信号記録層と光ディスクの表面との間に設けられている透明な保護層の厚さは０．６ｍｍであり、この信号記録層から信号の読み出し動作を行うために使用される対物レンズの開口数は、０．６と設定されている。

斯かるＣＤ規格及びＤＶＤ規格の光ディスクに対して、Ｂｌｕ−ｒａｙ規格の光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行うレーザー光としては、波長が短いレーザー光、例えば波長が４０５ｎｍの青紫色光が使用されている。

Ｂｌｕ−ｒａｙ規格の光ディスクにおける信号記録層の上面に設けられている保護層の厚さは、０．１ｍｍであり、この信号記録層から信号の読み出し動作を行うために使用される対物レンズの開口数は、０．８５と設定されている。

Ｂｌｕ−ｒａｙ規格の光ディスクに設けられている信号記録層に記録されている信号の読み出し動作や該信号記録層に信号を記録するためにレーザー光を集光させることによって生成されるレーザースポットの径を小さくする必要がある。所望のレーザースポット形状を得るために使用される対物レンズは、開口数が大きくなるだけでなく焦点距離が短くなるので、対物レンズの曲率半径が小さくなるという特徴がある。

前述したＣＤ規格、ＤＶＤ規格及びＢｌｕ−ｒａｙ規格の全ての光ディスクに記録されている信号の読み出し動作や記録動作を行うことが出来る光ディスク装置が製品化されているが、斯かる光ディスク装置に組み込まれる光ピックアップ装置として、Ｂｌｕ−ｒａｙ規格の光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行う第１レーザー光を放射するレーザーダイオード、該レーザーダイオードから放射される第１レーザー光を信号記録層に集光させる第１対物レンズ、ＤＶＤ規格の光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行う第２レーザー光及びＣＤ規格の光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行う第３レーザー光を放射する２波長レーザーダイオード、そして第２レーザー光
及び第３レーザー光を各光ディスクの信号記録層に集光させる第２対物レンズが組み込まれた光ピックアップ装置が一般に採用されている(特許文献１参照。)。

また、光ピックアップ装置は、レーザー光を光ディスクに設けられている信号記録層に集光させるフォーカス制御動作や信号記録層に設けられている信号トラックにレーザー光を追従させるトラッキング制御動作を行うことによって光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行うように構成されているが、斯かるフォーカス制御動作やトラッキング制御動作は光ディスクの信号記録層から反射される戻り光が照射される光検出器から得られる信号を利用して行うように構成されている(特許文献２参照。)。

特開２０１０−６１７８１号公報特開２００９−５４２７１号公報

１つの波長のレーザー光を放射するレーザーダイオード、２つの波長のレーザー光を放射する２波長レーザーダイオード、そして２つの対物レンズによって規格の異なる３つの光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行うように構成された光ピックアップ装置において、各レーザー光毎に光路を設けた場合には多くの光学部品を必要とするため高価になるだけでなく、小型化することが出来ないという問題がある。

斯かる問題を解決する方法として第１レーザー光、第２レーザー光及び第３レーザー光の光路を共通化することが行われている。斯かる構成の光ピックアップ装置について図６及び図７を参照して説明する。

図６において、１は例えば波長が４０５ｎｍの青紫色光である第１レーザー光を生成放射するレーザーダイオード、２は前記レーザーダイオード１から放射される第１レーザー光が入射される第１回折格子であり、レーザー光を０次光であるメインビーム、＋１次光及び−１次光である２つのサブビームに分離する回折格子部２ａと入射されるレーザー光をＳ方向の直線偏光光に変換する１／２波長板２ｂとより構成されている。

３は例えば波長が６５５ｎｍの赤色光である第２レーザー光を生成放射する第１レーザー素子及び７８５ｎｍの赤外色光である第３レーザー光を生成放射する第２レーザー素子が同一のケース内に収納されている２波長レーザーダイオードである。

４は前記２波長レーザーダイオード３に組み込まれている第１レーザー素子から放射される第２レーザー光及び第２レーザー素子から放射される第３レーザー光が入射される第２回折格子であり、レーザー光を０次光であるメインビーム、＋１次光及び−１次光である２つのサブビームに分離する回折格子部４ａと入射されるレーザー光をＳ方向の直線偏光光に変換する１／２波長板４ｂとより構成されている。

５は前記２波長レーザーダイオード３から放射される第２レーザー光及び第３レーザー光が前記第２回折格子４を通して入射される位置に設けられているダイバージェンスレンズであり、入射される発散光であるレーザー光の発散角度を調整する作用を成すものである。

６は前記第１回折格子２を透過して入射される第１レーザー光のＳ偏光光を反射するとともに後述する光路を通して光ディスクから反射されてくる第１レーザー光、第２レーザ
ー光及び第３レーザー光の戻り光であるＰ偏光光を透過するハーフミラーである。７は前記第２回折格子４及びダイバージェンスレンズ５を通して入射される第２レーザー光及び第３レーザー光のＳ偏光光を反射するとともに前記ハーフミラー６にて反射されて入射される第１レーザー光を透過させ、且つ光ディスクから反射されてくる第１レーザー光、第２レーザー光及び第３レーザー光の戻り光であるＰ偏光光を透過させる偏光ビームスプリッタである。

８は前記偏光ビームスプリッタ７を透過した第１レーザー光、該偏光ビームスプリッタ７にて反射された第２レーザー光及び第３レーザー光が入射される位置に設けられているとともに３つの異なる波長のレーザー光に対応して入射されるレーザー光を直線偏光光から円偏光光に、また反対に円偏光光から直線偏光光に変換する作用を成す３波長対応型の１／４波長板である。

９は前記１／４波長板８を透過したレーザー光が入射されるとともに入射されるレーザー光を平行光に変換するコリメートレンズであり、該コリメートレンズ９の光軸方向への変位動作によって光ディスクの保護層の厚さに起因して生じる球面収差を補正するように構成されている。

１０は第１レーザー光を第１光ディスクＤ１(図７参照)に設けられている信号記録層Ｌ１に集光する第１対物レンズ、１１は第２レーザー光を第２光ディスクＤ２に設けられている信号記録層Ｌ２に集光させるとともに第３レーザー光を第３光ディスクＤ３に設けられている信号記録層Ｌ３に集光させる２波長対応の第２対物レンズである。斯かる構成において、第１対物レンズ１０と第２対物レンズ１１とは、例えば４本の支持ワイヤーによって光ディスクの面に対して直角方向であるフォーカシング方向への変位動作及び光ディスクの径方向であるトラッキング方向への変位動作を行うことが出来るように支持されているレンズホルダーと呼ばれる部材に搭載されている。

前記コリメートレンズ９を透過した第１レーザー光、第２レーザー光及び第３レーザー光は、図７に示す光学系によって第１対物レンズ１０及び第２対物レンズ１１に導かれるように構成されている。図７において、１２は波長選択性素子であり、第１レーザー光を透過させるとともに第２レーザー光及び第３レーザー光を第２対物レンズ１１方向へ反射させるように構成されている。１３は前記波長選択性素子１２を透過した第１レーザー光を第１対物レンズ１０方向へ反射させる立ち上げミラーである。斯かる構成は特許文献１に記載されている技術と同一であるので、その説明は省略する。

斯かる構成において、コリメートレンズ９を透過した第１レーザー光は、前記波長選択性素子１２を透過するとともに立ち上げミラー１３にて反射されて第１対物レンズ１０に入射されることになる。このようにして第１対物レンズ１０に入射された第１レーザー光は、該第１対物レンズ１０の集光動作によって第１光ディスクＤ１に設けられている信号記録層Ｌ１に集光されることになる。

また、前記コリメートレンズ９を透過した第２レーザー光は、前記波長選択性素子１２にて反射されて第２対物レンズ１１に入射されることになる。このようにして第２対物レンズ１１に入射された第２レーザー光は、該第２対物レンズ１１の集光動作によって第２光ディスクＤ２に設けられている信号記録層Ｌ２に集光されることになる。そして、コリメートレンズ９を透過した第３レーザー光は、前記波長選択性素子１２にて反射されて第２対物レンズ１１に入射されることになる。このようにして第２対物レンズ１１に入射された第３レーザー光は、該第２対物レンズ１１の集光動作によって第３光ディスクＤ３に設けられている信号記録層Ｌ３に集光されることになる。

斯かる構成において、レーザーダイオード１から放射された第１レーザー光は、第１回折格子２、ハーフミラー６、偏光ビームスプリッタ７、１／４波長板８、コリメートレンズ９、波長選択性素子１２及び立ち上げミラー１３を介して第１対物レンズ１０に入射された後、該第１対物レンズ１０の集光動作によって第１光ディスクＤ１に設けられている信号記録層Ｌ１に集光スポットとして照射されるが、前記信号記録層Ｌ１に照射された第１レーザー光は該信号記録層Ｌ１にて戻り光として反射されることになる。

また、２波長レーザーダイオード３の第１レーザー素子から放射された第２レーザー光は、第２回折格子４、ダイバージェンスレンズ５、偏光ビームスプリッタ７、１／４波長板８、コリメートレンズ９及び波長選択性素子１２を介して第２対物レンズ１１に入射された後、該第２対物レンズ１１の集光動作によって第２光ディスクＤ２に設けられている信号記録層Ｌ２に集光スポットとして照射されるが、前記信号記録層Ｌ２に照射された第２レーザー光は該信号記録層Ｌ２にて戻り光として反射されることになる。

そして、２波長レーザーダイオード３の第２レーザー素子から放射された第３レーザー光は、第２回折格子４、ダイバージェンスレンズ５、偏光ビームスプリッタ７、１／４波長板８、コリメートレンズ９及び波長選択性素子１２を介して第２対物レンズ１１に入射された後、該第２対物レンズ１１の集光動作によって第３光ディスクＤ３に設けられている信号記録層Ｌ３に集光スポットとして照射されるが、前記信号記録層Ｌ３に照射された第３レーザー光は該信号記録層Ｌ３にて戻り光として反射されることになる。

第１光ディスクＤ１の信号記録層Ｌ１から反射された第１レーザー光の戻り光は、第１対物レンズ１０、立ち上げミラー１３、波長選択性素子１２、コリメートレンズ９、１／４波長板８及び偏光ビームスプリッタ７を通してハーフミラー６に入射される。このようにしてハーフミラー６に入射される戻り光は、前記１／４波長板８による位相変更動作によってＰ方向の直線偏光光に変更されている。従って、斯かる第１レーザー光の戻り光は前記ハーフミラー６にて反射されることはなく、制御用レーザー光として該ハーフミラー６を透過することになる。

また、第２光ディスクＤ２の信号記録層Ｌ２から反射された第２レーザー光の戻り光は、第２対物レンズ１１、波長選択性素子１２、コリメートレンズ９、１／４波長板８及び偏光ビームスプリッタ７を通してハーフミラー６に入射される。このようにしてハーフミラー６に入射される戻り光は、前記１／４波長板８による位相変更動作によってＰ方向の直線偏光光に変更されている。従って、斯かる第２レーザー光の戻り光は前記ハーフミラー６にて反射されることはなく、制御用レーザー光として該ハーフミラー６を透過することになる。

そして、第３光ディスクＤ３の信号記録層Ｌ３から反射された第３レーザー光の戻り光は、第２対物レンズ１１、波長選択性素子１２、コリメートレンズ９、１／４波長板８及び偏光ビームスプリッタ７を通してハーフミラー６に入射される。このようにしてハーフミラー６に入射される戻り光は、前記１／４波長板８による位相変更動作によってＰ方向の直線偏光光に変更されている。従って、斯かる第３レーザー光の戻り光は前記ハーフミラー６にて反射されることはなく、制御用レーザー光として該ハーフミラー６を透過することになる。

１４は前記ハーフミラー６を透過した制御用レーザー光が入射されるＡＳ板であり、該ハーフミラー６にて生成される非点収差の大きさをフォーカスエラー信号を生成するために適した大きさになるように拡大する作用を成すとともに該ハーフミラー６にて発生するコマ収差を補正する作用を成すものである。斯かるＡＳ板は、収差補正板と呼ばれる光学素子である。

１５は前記ＡＳ板１４を通して制御用レーザー光が照射される光検出器であり、図５に示すような４分割センサー等が設けられており、メインビームの照射動作によって光ディスクの信号記録層に記録されている信号の読み出し動作に伴う信号生成動作及び非点収差法によるフォーカシング制御動作を行うためのフォーカスエラー信号生成動作、そして２つのサブビームの照射動作によってトラッキング制御動作を行うためのトラッキングエラー信号生成動作を行うように構成されている。斯かる各種の信号生成のための制御動作は、周知であるので、その説明は省略する。

前述したようにレーザーダイオード１から放射される第１レーザー光の第１光ディスクＤ１の信号記録層Ｌ１までの往路、２波長レーザーダイオード３から放射される第２レーザー光の第２光ディスクＤ２の信号記録層Ｌ２までの往路及び２波長レーザーダイオード３から放射される第３レーザー光の第３光ディスクＤ３の信号記録層Ｌ３までの往路について比較すると、偏光ビームスプリッタ７から波長選択性素子１２までの光路を兼用していることがわかる。

そして、第１光ディスクＤ１の信号記録層Ｌ１から反射される第１レーザー光の戻り光の光検出器１５までの復路、第２光ディスクＤ２の信号記録層Ｌ２から反射される第２レーザー光の戻り光の光検出器１５までの復路及び第３光ディスクＤ３の信号記録層Ｌ３から反射される第３レーザー光の戻り光の光検出器１５までの復路について比較すると、波長選択性素子１２から光検出器１５までの光路を兼用していることがわかる。

図６に示した光ピックアップ装置は、レーザー光を光ディスクの信号記録層に導く往路及び光ディスクの信号記録層から反射される戻り光を光検出器１５に導く復路を全てのレーザー光で兼用しているので、光学部品の数を減らすことが出来、その結果、製造価格を下げることが出来るだけでなく光ピックアップ装置を小型化することが出来るという利点を有している。

前述した２波長レーザーダイオードは、一般に第２レーザー光を生成放射する第１レーザー素子と第３レーザー光を生成放射する第２レーザー素子とが１１０μｍ離間して配置されているので、第２レーザー光の光軸と第３レーザー光の光軸とがずれることになる。また、３つの異なる波長のレーザー光の戻り光が照射される光検出器１５は、第２レーザー光用の受光部と第３レーザー光用の受光部とが光軸のずれに対応して別個に設けられているが、第３レーザー光用の受光部を第１レーザー光用の受光部と兼用するように一般に構成されている。

図５は前述した光ピックアップ装置を構成する光検出器１５に組み込まれる受光素子の配置例を示すものであり、第１レーザー光と第３レーザー光のメインビームの戻り光が照射される第１メインビーム用受光部Ｍ１、第１レーザー光と第３レーザー光のサブビームの戻り光が照射されるサブビーム用受光部Ｓ１、Ｓ２、そして第２レーザー光のメインビームの戻り光が照射される第２メインビーム用受光部Ｍ２が図示したように配置されている。

光ピックアップ装置では、前述した第１メインビーム用受光部Ｍ１、サブビーム用受光部Ｓ１、Ｓ２及び第２メインビーム用受光部Ｍ２から得られる信号を利用して非点収差法及び差動プッシュプル法等によるフォーカス制御動作や３ビーム法及び位相差法等によるトラッキング制御動作を行うように構成されているが、斯かる動作は周知であるので、その説明は省略する。

図４は従来の光検出器を示すものであり、(Ａ)は平面図、(Ｂ)はその側面図である。同
図において、１５Ａは基台であり、図５に示したような受光部が組み込まれている受光素子Ｐが搭載されている。１５Ｂは前記受光素子Ｐを被覆するとともに透光性樹脂にて構成されているカバーであり、モールド技術によって前記受光素子Ｐを被覆するように構成されている。

斯かる構成において、光ディスクの信号記録層から反射される戻り光は、前記カバー１５Ｂの上面である受光面１５Ｃを通して前記受光素子Ｐに照射されるように構成されている。前述した光ピックアップ装置のように複数のレーザー光による信号の読み出し動作を行うことが出来るように構成された光ピックアップ装置では、光検出器１５に組み込まれている受光素子Ｐに各レーザー光を正確に照射させることが非常に難しくなる。各レーザー光の戻り光を受光素子Ｐに正確に照射させるためには、十分な光量が必要であり、カバー１５Ｂの厚さは、例えば０．３ｍｍのように薄くされている。

斯かる構成の光検出器において、製造時や修理を行うときにカバー１５Ｂの受光面１５Ｃを下にして作業台に載せると、該受光面１５Ｂに傷が付くことになる。前記受光面１５Ｂに傷が付くと、その傷によって戻り光が回折や散乱せしめられるので、受光素子Ｐに照射される戻り光の光量が不足するという問題が発生することになる。

本発明は、光ピックアップ装置に組み込まれる光検出器が有する前述した問題を解決することが出来る光検出器を提供しようとするものである。

本発明は、光ディスクの信号記録層に照射されたレーザー光の反射光である戻り光が照射されるとともに該戻り光の光量に応じた信号を出力する受光素子が透光性樹脂より成るカバーにて被覆された光検出器において、戻り光が照射されるカバーの受光面を保護する保護用突部を該カバーに形成したことを特徴とするものである。

また、本発明は、保護用突部をカバーに一体成形したことを特徴とするものである。

そして、本発明は、保護用突部を受光素子に対応する受光面を囲むように円環状に形成したことを特徴とするものである。

また、本発明は、保護用突部として複数の突部を形成したことを特徴とするものである。

そして、本発明は、保護用突部が受光素子に対応する受光面の周囲に形成されていることを特徴とするものである。

本発明は、光ディスクの信号記録層に照射されたレーザー光の反射光である戻り光が照射される受光素子を被覆するカバーの受光面に保護用の突部を形成したので、光検出器が作業台等に受光面を下にして載せられても受光面に傷が付くことはない。従って、本発明の光検出器によれば受光素子に照射される戻り光の光量が散乱や回折によって減少せしめられることはなく、フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号の生成動作を正確に行うことが出来る。

本発明に係る光検出器の実施例１を示す概略図である。本発明に係る光検出器の実施例２を示す概略図である。本発明に係る光検出器の実施例３を示す概略図である。従来の光検出器を示す概略図である。光検出器に組み込まれる受光素子の配置例を示す図である。本発明に係る光ピックアップ装置の光学系を説明するための概略図である。本発明に係る光ピックアップ装置の光学系を説明するための概略図である。

光ピックアップ装置におけるフォーカス制御動作を行うためのフォーカスエラー信号やトラッキング制御動作を行うためのトラッキングエラー信号を生成するために設けられる光検出器に関するものである。

図１は本発明の光検出器の一実施例であり、図４に示した光検出器と同一の作用を成す部品には同一の符号を付している。

本実施例は、図１に示すように受光素子Ｐに対応する受光面１５ＣＣを囲むように円環状の保護用突部１６を形成したことを特徴とするものである。斯かる保護用突部１６は、カバー１５Ｂをモールド成形する工程時に該カバー１５Ｂと一体成形することが出来るが、別々に成形し、カバー１５Ｂの受光面１５Ｃに接着固定することも出来る。

斯かる構成によれば、カバー１５Ｂの受光面１５Ｃより上方に突出した保護用突部１６が設けられているので、光検出器１５が受光面１５Ｃを下にして作業台上に載せられても該受光面１５Ｃが作業台に接触することはない。従って、カバー１５Ｂの受光面１５Ｃに傷が付くことはなく、光ディスクの信号記録層から反射される戻り光が前記受光面１５Ｃにて散乱や回折されることはない。

このように本発明の光検出器によれば、カバー１５Ｂの受光面１５Ｃを通して受光素子Ｐに照射される戻り光の光量が不足することはなく光ピックアップ装置におけるフォーカス制御動作及びトラッキング制御動作等を行うための光検出動作を正確に行うことが出来る。

図２は本発明の光検出器の一実施例であり、図４に示した光検出器と同一の作用を成す部品には同一の符号を付している。

本実施例は、図２に示すように３つの円柱状の保護用突部１７をカバー１５Ｂの受光面１５Ｃに形成したことを特徴とするものである。斯かる保護用突部１７は、カバー１５Ｂをモールド成形する工程時に該カバー１５Ｂと一体成形することが出来るが、別々に成形し、カバー１５Ｂの受光面１５Ｃに接着固定することも出来る。

斯かる構成によれば、カバー１５Ｂの受光面１５Ｃより上方に突出した保護用突部１７が設けられているので、光検出器１５が受光面１５Ｃを下にして作業台上に載せられても該受光面１５Ｃが作業台に接触することはない。従って、カバー１５Ｂの受光面１５Ｃに傷が付くことはなく、光ディスクの信号記録層から反射される戻り光が前記受光面１５Ｃにて散乱や回折されることはない。

また、本実施例では、３つの保護用突部１７をカバー１５Ｂの受光面１５Ｃに形成したが、保護用突部１７の数は３以上であれば良く、その数は限定されるものではない。また、斯かる保護用突部１７は、受光素子Ｐに対応する受光面１５ＣＣを囲むように配置すれば良い。

尚、本実施例では、保護用突部１７の形状を円柱状にしたが、三角柱状や四角柱状にすることも出来る。

図３は本発明の光検出器の一実施例であり、図４に示した光検出器と同一の作用を成す部品には同一の符号を付している。

本実施例は、図３に示すように一対のレール状の保護用突部１８をカバー１５Ｂの受光面１５Ｃに形成したことを特徴とするものである。斯かる保護用突部１８は、カバー１５Ｂをモールド成形する工程時に該カバー１５Ｂと一体成形することが出来るが、別々に成形し、カバー１５Ｂの受光面１５Ｃに接着固定することも出来る。

斯かる構成によれば、カバー１５Ｂの受光面１５Ｃより上方に突出した保護用突部１８が設けられているので、光検出器１５が受光面１５Ｃを下にして作業台上に載せられても該受光面１５Ｃが作業台に接触することはない。従って、カバー１５Ｂの受光面１５Ｃに傷が付くことはなく、光ディスクの信号記録層から反射される戻り光が前記受光面１５Ｃにて散乱や回折されることはない。

また、本実施例では、一対の保護用突部１８を平行に配置したが、必ずしも平行に配置する必要はない。一対の保護用突部１８を受光素子Ｐに対応する受光面１５ＣＣを挟むように平行に配置させると該受光面１５ＣＣに埃が付着した場合の刷毛によるクリーニング作業を容易に行うことが出来るという利点がある。

本説明では、３つのレーザー光によって規格が異なる複数の光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行うことが出来る光ピックアップ装置に組み込まれる光検出器に実施した場合について説明したが、１つのレーザー光によって１つの規格の光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行うように構成された光ピックアップ装置に実施した場合にも大きな効果を奏するものである。

１５光検出器
１５Ａ基台
１５Ｂカバー
１５Ｃ受光面
１６保護用突部
１７保護用突部
１８保護用突部

Claims

光ディスクの信号記録層に照射されたレーザー光の反射光である戻り光が照射されるとともに該戻り光の光量に応じた信号を出力する受光素子が透光性樹脂より成るカバーにて被覆された光検出器であり、戻り光が照射されるカバーの受光面を保護する保護用突部を該カバーに形成したことを特徴とする光検出器。
保護用突部をカバーに一体成形したことを特徴とする請求項１に記載の光検出器。
保護用突部が受光素子に対応する受光面を囲む円環状に形成されていることを特徴とする請求項１に記載の光検出器。
保護用突部として複数の突部を形成したことを特徴とする請求項１に記載の光検出器。
保護用突部が受光素子に対応する受光面の周囲に形成されていることを特徴とする請求項４に記載の光検出器。
保護用突部として一対のレール状の突部を形成したことを特徴とする請求項１に記載の光検出器。