JP2012095180A - 入力装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】入力装置は、該入力装置の操作面である外側に面する基材と、該入力装置
の操作面とは反対側である内側に前記基材に対向配置される基板と、前記基板に誘電体の
部材を介して前記基材と対向配置され静電容量を検出する一以上の第一パッドと、前記基
板に空気層を介して前記基材と対向配置され静電容量を検出する一以上の第二パッドと、
前記第一パッド及び前記第二パッドに接続され、前記第一パッド及び前記第二パッドを制
御する制御部と、を備える。
【選択図】図1
Description
方式のタッチセンサー(タッチパネル、タッチパッド、タッチスイッチなどを含む。)が
知られている(例えば、特許文献1)。このタッチセンサーは、例えば、電子機器の筐体
の操作パネルに使用され、ユーザーの手入力を受け付ける入力装置として電子機器を機能
させる。
ッドから出力された静電容量の変化を検出してCPU等に出力するコントローラー(例え
ば、コントロールIC)とが含まれる。コントローラーは、例えば、パッドから出力され
る信号をCPUで処理可能な信号(例えば、電位を示す値や周波数)に変換して出力する
。
。そのため、静電容量という微小な変化の検出にあたっては、それらの個体ごとの特性が
大きく影響し、各電子機器間では、コントローラーにより測定される値にばらつきが発生
する。
電子機器の製造工程においては、タッチセンサーを電子機器に取り付けた後、その調整が
行われる。タッチセンサーの調整では、例えば、パッドに指やその他の物体が接近又は接
触していない状態(OFF状態)でそのパッドの出力値を測定し、その測定値が予め定め
られている基準値(OFF状態と判定するための適正値)に達することができる補正値(
例えば、ゲインを調整するための補正値)を算出し、不揮発性メモリーなどに記憶してお
く。その後、パッドの出力は、コントロールIC及びCPUの少なくとも一方の処理によ
って、この補正値に基づいて補正(例えば、ゲイン調整)が行われ、適切な値が測定され
ようになる。
具その他の物体がパッドに接近又は接触し、適切に測定値を得ることができない場合があ
る。すると、適切な補正値が得られず、その結果、タッチセンサーの不具合が起きること
となる。
うことを目的とする。
入力装置であって、
該入力装置の操作面である外側に面する基材と、
該入力装置の操作面とは反対側である内側に、前記基材に対向配置される基板と、
前記基板に、誘電体の部材を介して前記基材と対向配置され、静電容量を検出する一以
上の第一パッドと、
前記基板に、空気層を介して前記基材と対向配置され、静電容量を検出する一以上の第
二パッドと、
前記第一パッド、及び前記第二パッドに接続され、前記第一パッド、及び前記第二パッ
ドを制御する制御部と、を備える、
ことを特徴とする。
パッドの出力に基づいて前記第一パッドの出力を調整する補正値を求めるためのパッドで
ある、ことを特徴としていてもよい。
としていてもよい。
、
ことを特徴としていてもよい。
とを特徴としていてもよい。
される、ことを特徴としていてもよい。
とを接続する配線よりも長い、ことを特徴としていてもよい。
へ導き、前記基材の前記誘電体の部材に対応する部分は、前記光源の光を透過する、こと
を特徴としていてもよい。
電子機器である、ことを特徴としていてもよい。
ー、コピー機、複合機などの電子機器である。電子機器は、例えば、その筐体(筐体の外
側、操作面)にユーザーが電子機器への入力を行うための操作パネル領域を備える。操作
パネル領域の下(筐体の内側、電子機器の内部)には、操作パネル領域と対向してタッチ
センサー基板が設けられており、操作パネル領域のユーザーのタッチ操作を検出できるよ
うになっている。
。
本図は、上述の電子機器の操作パネル領域の下に設けられるタッチセンサー基板2を正面
から見た図である。図2は、本発明の第一実施形態に係る電子機器とタッチセンサー基板
の関係を説明する図である。本図は、タッチセンサー基板2が電子機器の筐体1の内部に
取り付けられた状態を側面から見た図である(筐体1は断面)。
とを備える。操作用パッド3とコントロールIC6とは、配線7で接続されている。調整
用パッド4とコントロールIC6とは、配線8で接続されている。
の下に配置された電極とから構成される。操作用パッド3は、例えば、人の指などの誘電
体が接近又は接触することにより蓄積される電荷を検出し、配線7を介してコントロール
IC6に出力する。
上端は、筐体1の内側から筐体1に接触し又は接合され、下端は、操作用パッド3の上側
に接触し又は接合される。タッチセンサー基板2の操作用パッド3の近隣には、LED等
の光源(不図示)が配置され、導光板5は、光源の光を筐体1へと導く。筐体1の少なく
とも導光板5と接触又は接合されている部分は、光を透過する材質又は構成となっており
、ユーザーはこの光を見て操作すべき位置を確認できる。
が接近又は接触することにより蓄積される静電容量を検出することができる。なお、本実
施形態では、操作用パッド3及び調整用パッド4は、誘電体が接近していない状態と誘電
体が接近している状態のいずれにおいても、静電容量の出力を行い、コントロールIC6
は、誘電体が接近していない状態と誘電体が接近している状態のいずれにおいても、測定
値を得ることができる。
ド4は、例えば、人の指などの誘電体が接近することにより蓄積される電荷を検出し、配
線8を介してコントロールIC6に出力する。
例えば、調整用パッド4からの出力直後の電流値は操作用パッド3からの出力直後の電流
値と同じであるが、コントロールIC6で検出される際には、操作用パッド3よりも小さ
くなるような配置である。本実施形態では、配線8の長さが配線7よりも長くなるように
、調整用パッド4が配置される。
整を行うための補正値が算出されるので、その補正値を使用すれば、測定条件が調整用パ
ッド4よりも良い操作用パッド3の測定値は適正になる。
ばよいので、上記のように配線長に差をつける方法に限定されず、例えば、調整用パッド
4を操作用パッド3よりも面積が小さいものとしてもよい。これらの方法を組み合わせて
もよい。また、例えば、調整用パッド4を複数設け、この中で最も悪い測定値を使用する
ようにしてもよい。また、例えば、調整用パッド4を操作用パッド3と同様の測定条件の
位置に配置する場合には、配線8の長さが配線7の長さよりも長くなるように配線8を蛇
行させるなどして、測定条件を悪く設定しても良い。
い。すなわち、調整用パッド4と筐体1との間には、空気層(エアギャップ)が存在し、
筐体1の表面への誘電体の接近又は接触が調整用パッド4の出力に与える影響ができる限
り小さい状態となっている。空気層の幅(W1)は、筐体1の表面への誘電体の接近又は
接触が調整用パッド4で検出される静電容量に与える影響が、できる限り小さくなる又は
なくなる幅である。
IC6は、例えば、電子機器の製造工程において、調整用パッド4の出力を測定し、CP
Uが処理可能な信号に変換してCPUなどに出力する。また、コントロールIC6は、C
PUにより設定された補正値により、操作用パッド3のゲインを補正する。また、補正さ
れた操作用パッド3の測定値を取得し、CPUが処理可能な信号に変換してCPUに出力
する。
板(不図示)などに接続されている。メインコントローラー基板には、例えば、CPU、
RAM、ROMなどが設けられている。コントロールIC6は、測定値をCPUに出力す
る。もちろん、タッチセンサー基板2とメインコントローラー基板は一体となっていても
よいし、各パッドとコントロールIC6とは、別々の基板に搭載されていてもよい。
トロールIC6から出力された調整用パッド4の測定値を受け付けるとともに、予め定め
られた変換式や変換テーブルを使用して、その測定値が予め定められている基準値に達す
ることができる補正値を算出する。そして、該補正値をROMなどに記憶する。
器の起動時に、CPUがコントロールIC6に該補正値を設定し、コントロールIC6は
、操作用パッド3のゲインを該補正値で補正する。なお、CPUは、例えば、操作用パッ
ド3から所定時間ごとに測定値を取得し、ある時点の測定値と所定時間後のある時点の測
定値との差分を算出し、該差分が予め定められた値を超えている場合に操作用パッド3の
タッチがされたと判定する。
Cにより算出されるようにしてもよい。また、本実施形態では、補正値がコントロールI
Cに設定されるようになっているが、例えば、コントロールICは補正を行わず、CPU
が補正値を使用して補正を行ってもよい。
本願発明の特徴を説明するにあたって主要構成を説明したのであって、上記の構成に限ら
れない。また、一般的なタッチセンサー基板及び電子機器が備える構成を排除するもので
はない。
けない状態でタッチセンサーの調整を行うことができる。
が設けられ、該調整用パッドは、筐体と空気層を介して隔てられている。このような構成
により、筐体に指や物体が接近又は接触した場合であっても、その影響を受けることなく
静電容量を検出することができる。その結果、タッチセンサーの調整を適正に行うことが
できる。
センサー基板2´は、操作用パッド3と、コントロールIC6と、配線7とを備えるが、
調整用パッド4と配線8とを備えない。操作用パッド3は、導光板5を介して、筐体1と
接触または接合されている。
があり、筐体1に指や物体が接近または接触した場合には、適切な測定値を得ることがで
きない。
する。
示す図である。
筐体1とタッチセンサー基板2との距離(W2)が、第一実施形態における距離(W1)
よりも短い。そのため、タッチセンサー基板2の筐体側に調整用パッド4が設けられてい
ると、筐体1の表面に指などが接近又は接触した場合に静電容量に変化が起きる可能性が
あり、適切な測定値を得ることができない。
側)の面に設置される。なお、配線8もタッチセンサー基板2の裏側の面に設置される。
も、外部の影響をできる限り受けない状態でタッチセンサーの調整を行うことができる。
定するものではない。多くの代替物、修正および変形例が当業者にとって明らかである。
、例えば、ユーザーに購入された後、電子機器の電源が投入されたタイミング、節電モー
ドから通常モードに復帰するタイミングで、補正値を決定するようにしてもよい。
、6:コントロールIC、7:配線8:配線
Claims (9)
- 入力装置であって、
該入力装置の操作面である外側に面する基材と、
該入力装置の操作面とは反対側である内側に、前記基材に対向配置される基板と、
前記基板に、誘電体の部材を介して前記基材と対向配置され、静電容量を検出する一以
上の第一パッドと、
前記基板に、空気層を介して前記基材と対向配置され、静電容量を検出する一以上の第
二パッドと、
前記第一パッド、及び前記第二パッドに接続され、前記第一パッド、及び前記第二パッ
ドを制御する制御部と、を備える、
ことを特徴とする入力装置。 - 請求項1に記載の入力装置であって、
前記第二パッドは、前記制御部又は前記制御部に接続されるCPUが前記第二パッドの
出力に基づいて前記第一パッドの出力を調整する補正値を求めるためのパッドである、
ことを特徴とする入力装置。 - 請求項1又は2に記載の入力装置であって、
前記第二パッドは、前記基板の前記基材と対向する面に配置される、
ことを特徴とする入力装置。 - 請求項1又は2に記載の入力装置であって、
前記第二パッドは、前記基板の前記基材と対向する面とは反対の面に配置される、
ことを特徴とする入力装置。 - 請求項1〜4いずれか一項に記載の入力装置であって、
前記誘電体の部材は、前記基材と接するとともに、前記第一パッドと接する、
ことを特徴とする入力装置。 - 請求1〜5いずれか一項に記載の入力装置であって、
前記第二パッドは、その出力の測定条件が前記第一パッドよりも悪い位置に配置される
、
ことを特徴とする入力装置。 - 請求項6に記載の入力装置であって、
前記第二パッドと前記制御部とを接続する配線は、前記第一パッドと前記制御部とを接
続する配線よりも長い、
ことを特徴とする入力装置。 - 請求項1〜7いずれか一項に記載の入力装置であって、
前記誘電体の部材は、導光体であり、前記基板に配置された光源の光を前記基材へ導き
、
前記基材の前記誘電体の部材に対応する部分は、前記光源の光を透過する、
ことを特徴とする入力装置。 - 請求項1〜8いずれか一項に記載の入力装置であって、
該入力装置は、プリンター、スキャナー、コピー機、複合機のいずれか一つの電子機器
である、
ことを特徴とする入力装置。
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