JP2012093208A - 放射線撮像装置 - Google Patents

放射線撮像装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2012093208A
JP2012093208A JP2010240419A JP2010240419A JP2012093208A JP 2012093208 A JP2012093208 A JP 2012093208A JP 2010240419 A JP2010240419 A JP 2010240419A JP 2010240419 A JP2010240419 A JP 2010240419A JP 2012093208 A JP2012093208 A JP 2012093208A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scintillator
imaging
imaging apparatus
radiation
visible light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010240419A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5833816B2 (ja
Inventor
Jiro Maruyama
次郎 丸山
Kazuhito Tomii
和仁 富井
Kazuyoshi Kodaira
計美 小平
Yusuke Yabana
佑介 矢花
Yasuhito Igarashi
康仁 五十嵐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RF KK
Original Assignee
RF KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by RF KK filed Critical RF KK
Priority to JP2010240419A priority Critical patent/JP5833816B2/ja
Publication of JP2012093208A publication Critical patent/JP2012093208A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5833816B2 publication Critical patent/JP5833816B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

【課題】 X線撮像装置の強度を確保しつつ、画像の解像度を向上させることができるX線撮像装置を提供する。
【解決手段】 被写体(30)に照射される放射線を用いて撮像動作を行う放射線撮像装置(20)であって、放射線を可視光に変換するシンチレータ(26)と、シンチレータに対して被写体側に配置され、放射線を通過させるとともに、可視光を遮蔽する遮光層(24)と、シンチレータで生成された可視光を光電変換する複数の撮像素子(43)と、シンチレータおよび撮像素子の間に配置され、光透過性を有する補強プレート(25)と、を有する。
【選択図】 図3

Description

本発明は、人等の被写体に放射線を照射して撮像を行う放射線撮像装置に関するものである。
X線撮像装置では、被写体を通過したX線をシンチレータによって可視光に変換し、可視光を撮像素子に到達させている。そして、撮像素子の出力によって、X線撮像装置に到達したX線の強度分布に応じた画像を得ることができる。
X線撮像を行う場合において、X線撮像装置は、被写体からの荷重を受けることがあるため、この荷重に耐える強度を有する必要がある。そこで、X線撮像装置の外装を構成するケースに対して強度を持たせているものがある。具体的には、ケースの厚さを厚くしたり、ケースを二重構造にしたりしている。
ケースに強度を持たせる構成では、シンチレータを被写体に近づけ難くなる。すなわち、ケースの厚さを厚くしたときには、ケースを厚くした分だけ、シンチレータが被写体から離れてしまう。ケースを二重構造にした場合でも、シンチレータが被写体から離れてしまう。
X線源の焦点は、点ではなく、ある程度の面積を有するため、半影(像のボケ)が発生してしまう。ここで、被写体およびシンチレータの距離が離れるほど、X線画像が拡大するとともに、半影も拡大してしまい、X線画像がぼけてしまう。すなわち、X線画像の解像度を向上させにくくなる。
本発明は、被写体に照射される放射線を用いて撮像動作を行う放射線撮像装置であって、放射線を可視光に変換するシンチレータと、シンチレータに対して被写体側に配置され、放射線を通過させるとともに、可視光を遮蔽する遮光層と、シンチレータで生成された可視光を光電変換する複数の撮像素子と、シンチレータおよび撮像素子の間に配置され、光透過性を有する補強プレートと、を有することを特徴とする。
ここで、放射線の通過を妨げずに可視光を遮蔽する遮光層は、シンチレータに接触させることができる。これにより、被写体に対してシンチレータをより近づけることができ、被写体を通過した放射線の拡散を抑えて、放射線をシンチレータに到達させることができる。遮光層の厚さは、例えば、1mm以下に設定することができる。
また、補強プレートは、シンチレータに接触させることができる。これにより、シンチレータで生成された可視光を、補強プレートを介して、撮像素子に導き易くすることができる。シンチレータに放射線が到達すると、拡散光としての可視光が生成されるが、補強プレートをシンチレータに接触させることにより、補強プレートの光屈折作用によって、可視光の拡散を抑制することができる。
補強プレートは、アクリル樹脂で形成することができる。また、補強プレートの厚さは、シンチレータおよび遮光層のそれぞれの厚さよりも厚くすることができる。補強プレートの厚さを厚くするほど、放射線撮像装置に作用する荷重に耐えることができる。ここで、放射線撮像装置に作用する荷重としては、例えば、被写体が放射線撮像装置に寄りかかったときの荷重や、被写体が放射線撮像装置の上に乗ったときの荷重がある。
補強プレートには、鉛粒子を分散させることができる。鉛粒子を分散させると、補強プレートを通過する放射線を減衰させることができる。シンチレータの特性によっては、放射線が可視光に変換されずに、補強プレートを通過して、撮像素子に向かうおそれがある。この場合には、補強プレートに鉛粒子を分散させることにより、補強プレートを通過する放射線を減衰させることができる。これにより、放射線が撮像素子に到達するのを抑制でき、放射線によって撮像素子の出力にノイズが含まれたり、放射線による撮像素子の劣化を抑制したりすることができる。
本発明によれば、シンチレータおよび撮像素子の間に、補強プレートを配置することにより、放射線撮像装置の強度を確保しつつ、シンチレータを被写体に近づけることができる。シンチレータを被写体に近づけた分だけ、半影(像のボケ)を抑制して、放射線撮像装置によって得られる画像の解像度を向上させることができる。また、光透過性を有する補強プレートを用いることにより、シンチレータで生成された可視光を撮像素子に導き易くすることができる。
X線撮像システムを示す概略図である。 X線撮像装置の正面図である。 図2のX−X断面図である。 X線撮像装置の断面を示す概略図である。 比較例であるX線撮像装置の断面を示す概略図である。
以下、本発明の実施例について説明する。
本発明の実施例1であるX線撮像装置(放射線撮像装置に相当する)について説明する。図1は、本実施例のX線撮像装置を含むX線撮像システムの概略図である。
X線撮像システム1は、被写体30に対してX線を照射するX線照射装置10と、X線照射装置10から照射され、被写体30を透過したX線を受けて、撮像動作を行うX線撮像装置20とを有する。X線照射装置10およびX線撮像装置20は、被写体30を挟むように配置される。
X線撮像システム1は、医療診断や工業用の非破壊検査等において用いることができる。すなわち、被写体30としては、人等の動物や、建物の内部構造といった非破壊検査の対象となるものが挙げられる。図1では、X線撮像装置20の撮像面を、垂直方向に沿って配置しているが、これに限るものではない。例えば、X線撮像装置20の撮像面を、水平面に沿って配置することができる。X線照射装置10およびX線撮像装置20は、互いに向かい合っていればよく、X線照射装置10やX線撮像装置20を配置する位置(言い換えれば、向き)は、適宜設定することができる。
次に、X線撮像装置20について、図2および図3を用いて説明する。図2は、X線撮像装置20の正面図であり、一部の領域においてX線撮像装置20の内部構造を示している。図3は、図2のX−X断面図であり、X線撮像装置20の一部を示している。図3に示す断面は、X線撮像装置20の撮像面と直交する面である。
図2に示すように、X線撮像装置20は、16個の撮像エリアA1〜A16を有する。撮像エリアA1〜A16は、同一平面内において、4行4列に配置されている。各撮像エリアA1〜A16の構成は、同一の構成である。本実施例では、16個の撮像エリアA1〜A16を設けているが、これに限るものではなく、撮像エリアの数や撮像エリアの並べ方は、適宜設定することができる。
各撮像エリアA1〜A16には、複数の撮像ユニット40が配置されている。撮像ユニット40は、各撮像エリアA1〜A16において、3行4列に配置されている。各撮像ユニット40は、X線照射装置10から照射されたX線を受けて、電気信号を出力する。なお、各撮像エリアA1〜A16に配置される撮像ユニット40の数や撮像ユニット40の並べ方は、適宜設定することができる。
図3に示すように、X線撮像装置20は、撮像ユニット40等を収容するアッパーケース21およびロアーケース22を有する。アッパーケース21およびロアーケース22は、X線撮像装置20の外装を構成しており、X線撮像装置20の内部に可視光が侵入するのを阻止する機能を有する。
アッパーケース21およびロアーケース22の接続部分には、シール部材23が設けられている。シール部材23は、ゴム等の弾性部材によって構成されており、アッパーケース21およびロアーケース22の接続部分における密閉性を確保する機能を有する。また、シール部材23は、図2に示すように、アッパーケース21およびロアーケース22の外縁(接続部分に相当する)に沿って配置されている。
アッパーケース21には、X線照射装置10から照射されたX線を通過させるための開口部21aが形成されている。開口部21aは、トッププレート(遮光層に相当する)24によって塞がれており、トッププレート24は、X線撮像装置20の外面を構成しており、被写体30が接触する。トッププレート24は、X線撮像装置20の内部に可視光が入射するのを阻止する機能を有する。また、トッププレート24は、撮像ユニット40に導かれるX線を減衰させにくい材料で形成することが好ましい。例えば、トッププレート24をカーボンで形成することができる。
X線撮像装置20の内部には、インナープレート25が配置されており、インナープレート25は、トッププレート24と重なっている。トッププレート24およびインナープレート25の間には、シンチレータ26が配置されており、トッププレート24およびインナープレート25は、シンチレータ26に接触している。シンチレータ26は、X線照射装置10から照射されたX線を可視光に変換するものであり、放射線の検出器として用いられる。シンチレータ26の構成については、公知であるため、詳細な説明は省略する。
シンチレータ26には、インナープレート25が接触しているため、シンチレータ26で生成された可視光は、インナープレート25に直接入射する。そして、可視光は、インナープレート25を透過して、撮像ユニット40に導かれる。インナープレート25は、可視光を透過させるとともに、可視光を減衰させにくい材料で形成することができる。
インナープレート25の材料としては、例えば、ガラス、アクリル、ポリエチレンテレフタレート、ポリカーボネートを用いることができる。また、インナープレート25の厚さは、トッププレート24の厚さやシンチレータ26の厚さよりも厚くなっている。
なお、本実施例では、インナープレート25をシンチレータ26に接触させているが、インナープレート25およびシンチレータ26の間に隙間があってもよい。また、本実施例では、トッププレート24をシンチレータ26に接触させているが、トッププレート24およびシンチレータ26の間に隙間があってもよい。
次に、撮像ユニット40の構成について説明する。撮像ユニット40は、レンズ41と、撮像素子43とを有する。インナープレート25を通過した可視光は、レンズ41によって集光されて、撮像素子43に到達する。そして、撮像素子43は、可視光を受光することによって、光電変換を行い、電荷を蓄積する。蓄積された電荷は、所定のタイミングで出力されることになる。
本実施例では、撮像素子43として、CCD(Charge Coupled Device)センサを用いている。なお、撮像素子43として、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)センサを用いることもできる。撮像素子43は、ボンディングワイヤを介してカメラ基板に接続されている。ここで、カメラ基板28は、上述した撮像エリアA1〜A16毎に設けられており、各撮像エリアA1〜A16に含まれる撮像ユニット40の撮像素子43が接続されている。
各撮像エリアA1〜A16に配置された複数の撮像ユニット40(撮像素子43)から出力された信号は、所定の信号処理が施されることにより、被写体30に対応したX線画像が生成される。具体的には、各撮像エリアA1〜A16において、X線画像が生成されるとともに、各撮像エリアA1〜A16に対応したX線画像をつなげることにより、被写体30に対応する1つのX線画像を得ることができる。
レンズ41は、レンズホルダ42によって保持されており、レンズホルダ42は、レンズブラケット27によって保持されている。ここで、レンズブラケット27は、上述した撮像エリアA1〜A16毎に設けられており、各撮像エリアA1〜A16に含まれる撮像ユニット40のレンズホルダ42を保持している。
本実施例では、各撮像エリアA1〜A16において、複数の撮像ユニット40およびレンズブラケット27を含む1つのユニットを構成しておき、このユニットを、図2に示すようにマトリクス状(4行4列)に配置している。撮像エリアA1〜A16のそれぞれで、複数の撮像ユニット40およびレンズブラケット27を含むユニットを製造することができるため、各撮像エリアA1〜A16において、撮像ユニット40を取り付けるための取り付け面の平面度を確保することができる。そして、撮像エリアA1〜A16のすべてを含むエリアにおける平面度を確保し易くすることができる。なお、各撮像エリアA1〜A16に分割せずに、撮像エリアA1〜A16のすべてを含む1つの撮像エリア内に複数の撮像ユニット40を配置することもできる。
レンズブラケット27およびカメラ基板28は、X線撮像装置20の骨格となる第1フレーム29aおよび第2フレーム29bによって支持されている。
本実施例によれば、シンチレータ26がトッププレート24で覆われているだけであり、シンチレータ26を被写体30に近づけることができる。これにより、被写体30を通過した直後のX線をシンチレータ26に到達させやすくすることができ、半影(X線画像のボケ)を抑制して、X線画像の解像度を向上させることができる。
すなわち、被写体30を通過したX線は、分散することなく、シンチレータ26に到達することができるため、半影(X線画像のボケ)を抑制することができる。また、被写体30を通過した直後のX線の強度分布と、シンチレータ26に到達したX線の強度分布とを略一致させることができる。これにより、被写体30に対応したX線画像を取得しやすくなり、X線画像の解像度を向上させることができる。ここで、シンチレータ26がトッププレート24(言い換えれば、被写体30)から離れるほど、シンチレータ26に到達するX線が分散しやすくなり、X線画像にぼけが発生しやすくなってしまう。
X線撮像装置20を用いてX線撮像を行うときには、被写体30がトッププレート24に寄りかかったり、トッププレート24の上面に被写体30が乗ったりするため、トッププレート24やシンチレータ26に荷重がかかる。本実施例では、トッププレート24およびシンチレータ26に対して、インナープレート25を重ねているため、インナープレート25において、荷重を受けることができる。これにより、トッププレート24やシンチレータ26が過度に撓んだり、破損したりしてしまうのを防止することができる。ここで、X線撮像装置20に作用する荷重(想定される上限値)に基づいて、インナープレート25の厚さを適宜設定することができる。
シンチレータ26で生成された可視光は、散乱光になるが、シンチレータ26と隣り合う位置に、光透過性を有するインナープレート25を配置することにより、可視光の散乱を抑制して、可視光を撮像ユニット40に導きやすくすることができる。
また、シンチレータ26および撮像ユニット40の間に、インナープレート25を配置することにより、撮像ユニット40は、シンチレータ26によって形成された可視光の画像にピントを合わせやすくすることができる。この点について、図4および図5を用いて具体的に説明する。
図4には、比較例であるX線撮像装置の断面を示す。図4に示す構成では、シンチレータ26および撮像ユニット40の間にシンチレータ26が配置されておらず、シンチレータ26で生成された可視光が、撮像ユニット40に直接入射する。図4に示す構成では、X線撮像装置の強度を確保するために、シンチレータ26の被写体側に、2つのプレート50を配置している。撮像ユニット40は、画角Fを有している。
図4に示す構成では、シンチレータ26の平面内に可視光の画像が形成され、この可視光が撮像ユニット40(撮像素子43)の撮像面に入射する。ここで、撮像面の外縁部POに入射する可視光の光路と、撮像面の中心部PCに入射する可視光の光路とは、互いに異なっている。具体的には、中心部PCに入射する可視光の光路は、外縁部POに入射する可視光の光路よりも長くなっている。このため、X線画像に歪みが発生するおそれがある。
図5に示す構成は、本実施例のX線撮像装置の構成である。本実施例では、シンチレータ26および撮像ユニット40の間に、インナープレート26を配置しているため、撮像面の外縁部POに入射する可視光の光路と、撮像面の中心部PCに入射する可視光の光路とを、略一致させることができる。ここで、曲線Cは、撮像面(中心部PCや外縁部POを含む)からの光路長が等しい位置を示している。このように、本実施例によれば、撮像面に到達する可視光の光路長にバラツキが発生するのを抑制することができる。これにより、X線画像の歪みを抑制することができる。
なお、本実施例では、トッププレート24およびシンチレータ26を重ねているが、これに限るものではない。例えば、被写体30と対向するシンチレータ26の面に対して、可視光を遮蔽する遮光フィルムを貼り付けたり、可視光を遮蔽する遮光材を塗布したりすることができる。
一方、インナープレート25に鉛粒子を含ませることができる。鉛粒子を含ませることにより、インナープレート25を通過するX線を減衰させることができる。X線がシンチレータ26に到達しても、シンチレータ26の特性に応じて、X線から可視光に変換される割合が変化し、X線がシンチレータ26を通過して撮像ユニット40に向かってしまうおそれがある。
そこで、インナープレート25に鉛粒子を分散させることにより、シンチレータ26からのX線をインナープレート25で減衰させることができ、X線が撮像ユニット40に到達するのを抑制することができる。X線が撮像ユニット40に到達するのを抑制すれば、撮像ユニット40(撮像素子43)の出力にノイズが含まれるのを抑制したり、X線による撮像ユニット40の劣化を抑制したりすることができる。撮像ユニット40(撮像素子43)の出力にノイズが含まれるのを抑制することにより、X線撮像動作によって得られた画像のコントラストや解像度が低下するのを抑制することができる。
ここで、鉛粒子は、インナープレート25の全体に対して、略均等に分散させることが好ましい。インナープレート25内の位置に応じて、鉛粒子の密度が大きく異なると、撮像ユニット40に到達するX線の強度が異なってしまう。この場合には、複数の撮像ユニット40における出力にバラツキが発生したり、複数の撮像ユニット40の劣化度合いにバラツキが発生したりしてしまう。そこで、鉛粒子を略均等に分散させることにより、複数の撮像ユニット40に到達するX線の強度分布のバラツキを抑制することができる。
一方、鉛粒子の含有量を増加させすぎると、シンチレータ26で生成された可視光が撮像ユニット40に到達し難くなってしまう。このため、X線の減衰効果および可視光の減衰効果を考慮しながら、鉛粒子の含有量を適宜設定することができる。鉛粒子の含有量を調整する方法としては、例えば、鉛粒子の含有率が略同一である複数のプレートを用意しておき、重ねるプレートの数を変更することにより、鉛粒子の含有量を変化させることができる。
1:X線撮像システム 10:X線照射装置
20:X線撮像装置(放射線撮像装置) 21:アッパーケース
22:ロアーケース 23:シール部材
24:トッププレート(遮光層) 25:インナープレート(補強プレート)
26:シンチレータ 27:レンズブラケット
28:カメラ基板 29a:第1フレーム
29b:第2フレーム 30:被写体
40:撮像ユニット 41:レンズ
42:レンズホルダ 43:撮像素子
A1〜A16:撮像エリア

Claims (6)

  1. 被写体に照射される放射線を用いて撮像動作を行う放射線撮像装置であって、
    放射線を可視光に変換するシンチレータと、
    前記シンチレータに対して被写体側に配置され、放射線を通過させるとともに、可視光を遮蔽する遮光層と、
    前記シンチレータで生成された可視光を光電変換する複数の撮像素子と、
    前記シンチレータおよび前記撮像素子の間に配置され、光透過性を有する補強プレートと、
    を有することを特徴とする放射線撮像装置。
  2. 前記遮光層は、前記シンチレータに接触していることを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。
  3. 前記補強プレートは、前記シンチレータに接触していることを特徴とする請求項1又は2に記載の放射線撮像装置。
  4. 前記補強プレートは、アクリル樹脂で形成されていることを特徴とする請求項1から3のいずれか1つに記載の放射線撮像装置。
  5. 前記補強プレートの厚さは、前記シンチレータおよび前記遮光層のそれぞれの厚さよりも厚いことを特徴とする請求項1から4のいずれか1つに記載の放射線撮像装置。
  6. 前記補強プレートは、前記補強プレート中に分散された鉛粒子を有することを特徴とする請求項1から5のいずれか1つに記載の放射線撮像装置。
JP2010240419A 2010-10-27 2010-10-27 放射線撮像装置 Active JP5833816B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010240419A JP5833816B2 (ja) 2010-10-27 2010-10-27 放射線撮像装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010240419A JP5833816B2 (ja) 2010-10-27 2010-10-27 放射線撮像装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012093208A true JP2012093208A (ja) 2012-05-17
JP5833816B2 JP5833816B2 (ja) 2015-12-16

Family

ID=46386698

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010240419A Active JP5833816B2 (ja) 2010-10-27 2010-10-27 放射線撮像装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5833816B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016125900A (ja) * 2014-12-26 2016-07-11 京セラオプテック株式会社 間接撮影用レンズ装置

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10171047A (ja) * 1996-12-13 1998-06-26 Canon Inc ガラス基板保持手段及び放射線撮影装置
JPH10186045A (ja) * 1996-12-26 1998-07-14 Canon Inc 放射線検出装置および放射線検出方法
JPH10282243A (ja) * 1997-04-09 1998-10-23 Hamamatsu Photonics Kk 医療用小型x線画像検出装置
JP2000241551A (ja) * 1999-02-17 2000-09-08 Canon Inc 撮像装置、放射線検出装置および画像処理システム
JP2000298175A (ja) * 1999-02-12 2000-10-24 Konica Corp 放射線画像検出器及び放射線画像形成システム
JP2003066148A (ja) * 2000-07-10 2003-03-05 Canon Inc 撮像装置、放射線撮像装置及び画像処理システム
JP2003153094A (ja) * 2001-11-15 2003-05-23 Hamamatsu Photonics Kk イメージセンサおよびそのイメージセンサを用いた撮像システム
JP2004085456A (ja) * 2002-08-28 2004-03-18 Canon Inc 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP2005043330A (ja) * 2003-07-25 2005-02-17 Morita Mfg Co Ltd X線画像検出器
JP2005106541A (ja) * 2003-09-29 2005-04-21 Toshiba Corp カラーシンチレータおよびイメージセンサ
JP2006189377A (ja) * 2005-01-07 2006-07-20 Canon Inc シンチレータパネル、放射線検出装置、及び放射線検出システム
JP2010069061A (ja) * 2008-09-19 2010-04-02 Shimadzu Corp X線センサ及びそれを用いたx線装置
JP2010117366A (ja) * 2005-01-13 2010-05-27 Aloka Co Ltd シンチレータ部材及び放射線測定装置

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10171047A (ja) * 1996-12-13 1998-06-26 Canon Inc ガラス基板保持手段及び放射線撮影装置
JPH10186045A (ja) * 1996-12-26 1998-07-14 Canon Inc 放射線検出装置および放射線検出方法
JPH10282243A (ja) * 1997-04-09 1998-10-23 Hamamatsu Photonics Kk 医療用小型x線画像検出装置
JP2000298175A (ja) * 1999-02-12 2000-10-24 Konica Corp 放射線画像検出器及び放射線画像形成システム
JP2000241551A (ja) * 1999-02-17 2000-09-08 Canon Inc 撮像装置、放射線検出装置および画像処理システム
JP2003066148A (ja) * 2000-07-10 2003-03-05 Canon Inc 撮像装置、放射線撮像装置及び画像処理システム
JP2003153094A (ja) * 2001-11-15 2003-05-23 Hamamatsu Photonics Kk イメージセンサおよびそのイメージセンサを用いた撮像システム
JP2004085456A (ja) * 2002-08-28 2004-03-18 Canon Inc 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP2005043330A (ja) * 2003-07-25 2005-02-17 Morita Mfg Co Ltd X線画像検出器
JP2005106541A (ja) * 2003-09-29 2005-04-21 Toshiba Corp カラーシンチレータおよびイメージセンサ
JP2006189377A (ja) * 2005-01-07 2006-07-20 Canon Inc シンチレータパネル、放射線検出装置、及び放射線検出システム
JP2010117366A (ja) * 2005-01-13 2010-05-27 Aloka Co Ltd シンチレータ部材及び放射線測定装置
JP2010069061A (ja) * 2008-09-19 2010-04-02 Shimadzu Corp X線センサ及びそれを用いたx線装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016125900A (ja) * 2014-12-26 2016-07-11 京セラオプテック株式会社 間接撮影用レンズ装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP5833816B2 (ja) 2015-12-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8331536B2 (en) Apparatus for reducing scattered X-ray detection and method of same
WO2019012846A1 (ja) 放射線撮像装置および放射線撮像システム
US20130187054A1 (en) Radiation imaging apparatus and radiation imaging system
JPH0466147B2 (ja)
JP5118661B2 (ja) X線撮像装置
US7875855B2 (en) Apparatus and method for detecting an image
US11054531B2 (en) Radiation detector and radiation detecting system
US11243313B2 (en) Radiation image capturing apparatus and radiation image capturing system
US11086029B2 (en) Apparatus for optically capturing a screen
JP5618880B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法並びに画像処理プログラム
JP2017200522A (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP5833816B2 (ja) 放射線撮像装置
JP2008089459A (ja) X線検出器、シンチレータパネル、x線検出器の製造方法およびシンチレータパネルの製造方法
KR102653420B1 (ko) 엑스레이 검출 장치 및 그를 이용한 엑스레이 영상 시스템
JP2016151446A (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP6177663B2 (ja) X線透過像撮像装置
JP5706387B2 (ja) シンチレータプレート及び画像取得装置
JP2017067681A (ja) 放射線画像撮影装置
US10839972B2 (en) High resolution X-Ray imaging system
WO2014132728A1 (ja) 放射線イメージセンサ
JP6057588B2 (ja) 放射線画像撮影装置
WO2019069824A1 (ja) 放射線検出ユニット、放射線検出装置および放射線検出システム
JP2023117956A (ja) センサ基板、放射線撮像装置、放射線撮像システム、および、センサ基板の製造方法
KR101179258B1 (ko) 직접변환방법을 이용한 라인타입의 방사선 영상센서, 이로 이루어진 영상센싱유닛 및 이를 포함하여 이루어진 방사선 영상 촬영장치
JP2010112742A (ja) 放射線検出器およびその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20131003

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140529

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140603

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140716

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20141209

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150126

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20150512

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150715

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20150904

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20151027

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20151030

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5833816

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250