JP2012083233A5 - - Google Patents

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2728305B1 (de) * 2012-10-31 2016-06-29 VITRONIC Dr.-Ing. Stein Bildverarbeitungssysteme GmbH Verfahren und Lichtmuster zum Messen der Höhe oder des Höhenverlaufs eines Objekts
JP6254849B2 (ja) * 2014-01-17 2017-12-27 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法
CN106796721B (zh) 2014-09-11 2021-05-04 赛博光学公司 三维轮廓测量中根据多个相机和源的点云合并
WO2017163537A1 (ja) * 2016-03-22 2017-09-28 三菱電機株式会社 距離計測装置及び距離計測方法
JP7133554B2 (ja) * 2016-12-07 2022-09-08 マジック アイ インコーポレイテッド 焦点調整可能な画像センサを含む距離センサ
JP7028623B2 (ja) * 2017-12-07 2022-03-02 Ckd株式会社 三次元計測装置
WO2023195394A1 (ja) * 2022-04-05 2023-10-12 富士フイルム株式会社 撮像支援装置、移動体、撮像支援方法、及びプログラム
JP2025133207A (ja) * 2024-03-01 2025-09-11 三菱重工業株式会社 計測装置、及び積層造形装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08136222A (ja) * 1994-11-12 1996-05-31 Omron Corp 三次元計測方法およびその装置
JP3595736B2 (ja) * 1999-07-14 2004-12-02 株式会社オプトン 非接触形状測定方法
JP4255865B2 (ja) * 2003-03-31 2009-04-15 株式会社ミツトヨ 非接触三次元形状測定方法及び装置
JP5252820B2 (ja) * 2007-03-27 2013-07-31 パナソニック株式会社 ３次元計測方法及びそれを用いた３次元形状計測装置
JP2009168789A (ja) * 2008-01-15 2009-07-30 Hideo Fujii ３次元形状計測方法およびそのシステム
JP2010133840A (ja) * 2008-12-05 2010-06-17 Nokodai Tlo Kk 形状測定装置及び形状測定方法
JP5395507B2 (ja) * 2009-05-21 2014-01-22 キヤノン株式会社 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法及びコンピュータプログラム

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