JP2012083133A - Drop test device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a drop test device which achieves a simple device configuration and downsizing and also allows simple operation, by changing the shape of a table for mounting a test object thereon.SOLUTION: A drop test device 20 for a test object 10 includes: columns 12 which are provided so as to stand out from a base 11; an elevating member 13 which is attached to the columns 12 so as to be slidable, and which can be fixed at a reference position; a vertical movement mechanism 14 which forces the elevating member 13 to fall only by a predetermined distance at acceleration over gravitational acceleration; a mount table 15 for the test object, which can move in a horizontal direction relative to the elevating member 13 and which has a notch 16 angled at 45 degrees to left and right with respect to the moving direction; and a horizontal movement mechanism 18 which causes, while the elevating member 13 is being forced to drop, the mount table 15 to move, so as to remove the mount table 15 from a range in which the test object 10 falls. Further, the test object 10 is placed with a slant on the mount table 15. This reduces a travel of the mount table 15 in the horizontal direction during drop test, thereby achieving downsizing of the drop test device.

Description

本出願は落下試験機に関し、特に、商品を梱包した状態の梱包部材を試験対象物として所定の高さから自由落下させることにより、梱包部材の内包商品に対する保護性能を試験する落下試験機に関する。   The present application relates to a drop tester, and more particularly, to a drop tester that tests a protection performance of a packaging member against a packaged product by allowing the packaging member in a state in which the product is packed to fall freely from a predetermined height as a test object.

梱包部材は、電気製品等の商品を梱包し、輸送中に外部から加わる衝撃から内部の商品を保護するためのものである。落下試験機は、商品が梱包された梱包部材を試験対象物として規定の高さから自由落下させ、落下後に内部の商品が梱包部材によって確実に保護されているかどうかを試験する装置である。落下試験機は一般に、装置基台、基台に突設された支柱、支柱上をスライドして基台からの高さを変更できる昇降部材、昇降部材に取り付けられて梱包部材を保持するテーブル、及びテーブルによる梱包部材の保持を解除する保持解除装置を備えている。   The packing member is for packing a product such as an electric product and protecting the product inside from a shock applied from the outside during transportation. The drop tester is a device that allows a packaging member packed with a product to freely drop from a specified height as a test object, and tests whether the product inside is reliably protected by the packaging member after dropping. In general, the drop tester is a device base, a column protruding from the base, a lifting member that can change the height from the base by sliding on the column, a table that is attached to the lifting member and holds the packing member, And a holding release device for releasing the holding of the packing member by the table.

保持解除装置は、テーブル上に保持した梱包部材にストレスを与えずに落下させるために、試験開始時に重力加速度による梱包部材の自由落下速度よりも速い速度で降下させたテーブルを、梱包部材の自由落下中に落下範囲から取り除く装置である。このような保持解除装置には、テーブルを水平方向に引き抜く方式、テーブルを円弧運動させて落下範囲から取り除く方式(特許文献1参照)、2組に分割したテーブルを梱包部材の幅方向に開く方式等がある。また、テーブルの代わりにアームで梱包部材を両側から挟んで保持し、落下試験時にアームを開く方式(特許文献2参照)や、梱包部材の上面を上方から吸引して保持し、落下試験時に吸引を解除する方式の落下試験機もある。   In order to drop the holding member on the table without applying stress to the packing member held on the table, the table released by the gravitational acceleration at a speed faster than the free dropping speed of the packing member at the start of the test is used. It is a device that removes from the fall range during the fall. In such a holding release device, a method of pulling out the table in the horizontal direction, a method of moving the table in an arc and removing it from the fall range (see Patent Document 1), a method of opening the two divided tables in the width direction of the packing member Etc. In addition, the packing member is held between both sides with an arm instead of a table, and the arm is opened during a drop test (see Patent Document 2), or the upper surface of the packing member is sucked and held from above, and sucked during a drop test. There is also a drop tester that releases

特開2003−344251号公報(図5)Japanese Patent Laying-Open No. 2003-344251 (FIG. 5)

特開2003−344252号公報(図9)Japanese Patent Laying-Open No. 2003-344252 (FIG. 9)

しかしながら、従来の落下試験機の各方式における梱包部材の保持解除装置には以下のような問題点があった。
(梱包部材の自由落下中にテーブルを水平方向に引き抜く方式)
梱包部材が大きい場合は、梱包部材が載る部分のテーブルの長さが、梱包部材の端面から重心までの距離よりも長くなるため、テーブルを引き抜く時間が長くなり、テーブル下降距離も長くなるので、低い位置からの落下評価試験ができない。また、テーブルを水平方向に移動させる長さが必要であるので、落下試験機のサイズが大きくなる。
However, the packaging member holding and releasing device in each method of the conventional drop tester has the following problems.
(Method of pulling out the table horizontally during free fall of the packing material)
When the packing member is large, the length of the table on which the packing member is placed becomes longer than the distance from the end surface of the packing member to the center of gravity, so the time for pulling out the table becomes longer, and the table lowering distance also becomes longer, Drop evaluation test from a low position is not possible. Moreover, since the length which moves a table to a horizontal direction is required, the size of a drop tester becomes large.

(梱包部材の自由落下中にテーブルを円弧運動させて取り除く方式)
梱包部材が大きい場合は、テーブル長さに梱包部材の長さの半分以上の支持半径が必要なため、大型梱包部材の低い位置からの落下評価試験ができない。
(2組に分割したテーブルを梱包部材の幅方向に開く方式)
駆動軸が増えることと、分割したテーブルの間隔を梱包部材の大きさによってその都度調正する必要があり、操作が煩雑である。
(Method to remove the table by moving the arc in the free fall of the packing material)
When the packaging member is large, the table length requires a support radius that is half or more of the length of the packaging member, so that a drop evaluation test from a low position of the large packaging member cannot be performed.
(Method to open the table divided into two sets in the width direction of the packing material)
Since the number of drive shafts increases and the distance between the divided tables needs to be adjusted according to the size of the packing member each time, the operation is complicated.

(テーブルの代わりにアームで梱包部材を両側から挟んで保持する方式)
梱包部材を両側からアームで挟むので、重い梱包部材を把持することができず、また、梱包部材の把持した部分が変形し、正確な落下評価試験ができない。
(梱包部材の上面を上方から吸引して保持する方式)
梱包部材の状面を吸引して保持するので、重い梱包部材を吸引保持することができず、また、梱包部材の吸引した部分が変形し、正確な落下評価試験ができない。
(Method to hold the packing material from both sides with an arm instead of a table)
Since the packing member is sandwiched by the arms from both sides, the heavy packing member cannot be gripped, and the gripped portion of the packing member is deformed, and an accurate drop evaluation test cannot be performed.
(Method of sucking and holding the upper surface of the packing member from above)
Since the surface of the packing member is sucked and held, the heavy packing member cannot be sucked and held, and the sucked portion of the packing member is deformed and an accurate drop evaluation test cannot be performed.

そこで、本出願は、前記従来の落下試験機の有する問題点を解消し、装置構成が簡単でかつ小型化が図れると共に、操作も簡単な落下試験機を提供することを目的とする。   In view of this, the present application aims to solve the problems of the conventional drop tester, and to provide a drop tester that has a simple device configuration, can be reduced in size, and can be easily operated.

前記目的を達成する本出願の落下試験機は、基台に対して垂直方向に突設された支柱、支柱にスライド可能に取り付けられて落下位置を変更できる昇降部材、昇降部材を落下位置から所定距離だけ重力加速度を超える加速度で強制落下させる垂直移動機構、昇降部材に対して水平方向に移動可能に取り付けられた試験対象物の載置テーブル、及び昇降部材の強制落下中に載置テーブルを試験対象物の落下範囲から取り除く水平移動機構とを備え、載置テーブルには、載置テーブルの移動方向に対して左右対称に45度ずつの角度を備える切欠部が設けられていることを特徴としている。   The drop tester of the present application that achieves the above-described object includes a support column that protrudes in a direction perpendicular to the base, a lifting member that can be slidably attached to the support column and can change the drop position, and a lifting member that is predetermined from the drop position. A vertical movement mechanism that forcibly drops at an acceleration exceeding the gravitational acceleration by a distance, a mounting table for a test object that is mounted so as to be movable in a horizontal direction with respect to the lifting member, and a testing of the mounting table during the forced dropping of the lifting member A horizontal movement mechanism for removing the object from the fall range, and the mounting table is provided with a notch portion having an angle of 45 degrees symmetrically with respect to the moving direction of the mounting table. Yes.

本出願の落下試験機によれば、以下のような効果が得られる。
(1)大型の梱包製品でも低い位置からの落下評価が可能になる。
(2)テーブルを引抜く長さが短いため、落下試験機の全長を短くすることができる。
(3)テーブルを降下させる距離が短くなるため試験機の高さを低くすることができる。
(4)テーブルを引抜く駆動源の出力が小さくなるため落下試験機が安価になる。
(5)大物から小物まで梱包製品の大きさが変化しても無調整で落下試験が可能になる。
According to the drop tester of the present application, the following effects can be obtained.
(1) Drop evaluation from a low position is possible even for a large packaged product.
(2) Since the length of pulling out the table is short, the total length of the drop tester can be shortened.
(3) Since the distance for lowering the table is shortened, the height of the testing machine can be reduced.
(4) Since the output of the drive source for pulling out the table is small, the drop tester is inexpensive.
(5) Even if the size of the packed product changes from large to small, a drop test can be performed without adjustment.

(a)はテーブル回転式の落下試験機の従来例の構成を示す斜視図、(b)は(a)の落下試験機に備えられたテーブルに試験対象物が載置された状態を示す部分側面図、(c)は(b)の状態からテーブルが重力加速度より大きい加速度で落下した状態を示す部分側面図、(d)は(c)の状態の直後にテーブルが回転して試験対象物の落下範囲から外れた状態を示す部分側面図である。(A) is a perspective view which shows the structure of the prior art example of a table rotation type drop tester, (b) is a part which shows the state by which the test object was mounted in the table with which the drop tester of (a) was equipped. Side view, (c) is a partial side view showing a state in which the table has dropped from the state of (b) at an acceleration greater than the gravitational acceleration, and (d) is a test object as the table rotates immediately after the state of (c). It is a partial side view which shows the state which remove | deviated from the fall range. (a)はテーブル引抜式の落下試験機の従来例の構成を示す側面図、(b)は(a)に示された落下試験機のテーブルに試験対象物が載置されて落下試験を行う時の、試験対象物とテーブルの落下面からの位置関係及びテーブルの引抜距離を、時間の推移と共に示す平面図と側面図を組み合わせた説明図である。(A) is a side view showing a configuration of a conventional example of a table pull-out type drop tester, and (b) is a drop test in which a test object is placed on the table of the drop tester shown in (a). It is explanatory drawing which combined the top view and side view which show the positional relationship from the test object, the fall surface of a table, and the drawing-out distance of a table with time transition at the time. (a)〜(d)は、図2(a)に示したテーブル引抜式の落下試験機において、テーブルに載置した試験対象物のサイズが大きすぎて落下試験に失敗する過程を時間の推移と共に示す平面図と側面図を組み合わせた説明図である。(A)-(d) are time transitions in the process of failing the drop test because the size of the test object placed on the table is too large in the table pull-out type drop tester shown in FIG. It is explanatory drawing which combined the top view and side view shown together. (a)は本出願に係る落下試験機の一実施例の構成を示す斜視図、(b)は(a)に示した落下試験機のテーブルの別の実施例の構成を示す部分斜視図である。(A) is a perspective view which shows the structure of one Example of the drop tester based on this application, (b) is a fragmentary perspective view which shows the structure of another Example of the table of the drop tester shown to (a). is there. 図4に示された落下試験機のテーブルに試験対象物が載置されて落下試験を行う時の、試験対象物とテーブルの落下面からの位置関係及びテーブルの引抜距離を、時間の推移と共に(a)〜(d)の段階で示す平面図と側面図を組み合わせた説明図である。When the test object is placed on the table of the drop tester shown in FIG. 4 and the drop test is performed, the positional relationship between the test object and the drop surface of the table and the pulling distance of the table with time It is explanatory drawing which combined the top view and side view which are shown in the stage of (a)-(d). (a)は本出願の落下試験機のテーブルに小さな試験対象物を載置した状態を示す部分平面図、(b)は本出願の落下試験機のテーブルに細長い試験対象物を載置した状態を示す部分平面図、(c)は本出願の落下試験機のテーブルに大きな試験対象物を載置した状態を示す部分平面図である。(A) is a partial plan view showing a state where a small test object is placed on the table of the drop tester of the present application, and (b) is a state where an elongated test object is placed on the table of the drop tester of the present application. (C) is a partial top view which shows the state which mounted the big test target object on the table of the drop tester of this application. (a)は図4(a)に示した落下試験機の平面図、(b)は(a)に示した落下試験機においてテーブルの移動方向を斜めにした変形実施例の平面図である。FIG. 5A is a plan view of the drop tester shown in FIG. 4A, and FIG. 5B is a plan view of a modified embodiment in which the moving direction of the table is inclined in the drop tester shown in FIG. (a)は図4(b)に示したテーブルの上面に試験対象物の載置位置を示すマークを記載した実施例を示す部分斜視図、(b)は図4(b)に示したテーブルの上面に試験対象物を載置するための凹部を形成した実施例を示す部分斜視図、(c)は図4(a)に示した落下試験機に転落防止治具を設けた場合の転落防止治具によるテーブル上の試験対象物の保持状態を示す部分斜視図である。(A) is the fragmentary perspective view which shows the example which described the mark which shows the mounting position of the test object on the upper surface of the table shown in FIG.4 (b), (b) is the table shown in FIG.4 (b). The fragmentary perspective view which shows the Example which formed the recessed part for mounting a test object on the upper surface of (2), (c) is a fall when a fall prevention jig is provided in the drop tester shown in FIG. 4 (a) It is a fragmentary perspective view which shows the holding state of the test target object on the table by a prevention jig. (a)は本出願の落下試験機の第2の実施例の構成を示すテーブル部分の部分斜視図、(b)は(a)に示した第2の実施例の落下試験機におけるテーブルの動作を示す部分斜視図、(c)は本出願の落下試験機の第2の実施例の変形例の構成を示すテーブル部分の部分斜視図である。(A) is a partial perspective view of a table portion showing the configuration of the second embodiment of the drop tester of the present application, (b) is the operation of the table in the drop tester of the second embodiment shown in (a). (C) is a partial perspective view of the table part which shows the structure of the modification of the 2nd Example of the drop tester of this application.

以下、添付図面を用いて本出願の落下試験機の実施の形態を、具体的な実施例に基づいて詳細に説明する。なお、本出願の落下試験機の動作をより良く理解するために、一般的なテーブル回転式とテーブル引抜式の落下試験機の構成、動作及び問題点を図1から図3を用いて説明する。   Hereinafter, embodiments of a drop tester of the present application will be described in detail based on specific examples with reference to the accompanying drawings. In order to better understand the operation of the drop tester of the present application, the configuration, operation, and problems of general table rotation type and table pull-out type drop testers will be described with reference to FIGS. .

図1(a)はテーブル回転式の落下試験機40の構成を示すものである。この例の落下試験機40には、装置の基台1、1本の支柱2、支柱2上をスライドする昇降部材3、試験対象物を保持するテーブル5及び制御装置7がある。また、昇降部材3内にはテーブル5による試験対象物の保持を解除する図示しない保持解除装置がある。昇降部材3は試験対象物の落下試験高さに合わせて支柱2の任意の位置に固定できる。落下試験時には図1(b)に示すように、テーブル5に試験対象物10が載置される。図1(b)にはテーブル5を垂直方向に移動させる保持解除装置である垂直移動機構4が示されている。試験対象物10は、例えば、電子機器を梱包した梱包部材10である。なお、以後の説明では試験対象物10は梱包部材10として説明する。   FIG. 1A shows the configuration of a table rotation type drop tester 40. The drop tester 40 in this example includes a base 1 of the apparatus, a single support column 2, an elevating member 3 that slides on the support column 2, a table 5 that holds a test object, and a control device 7. Further, in the elevating member 3, there is a holding release device (not shown) for releasing the holding of the test object by the table 5. The elevating member 3 can be fixed at an arbitrary position of the column 2 according to the drop test height of the test object. During the drop test, the test object 10 is placed on the table 5 as shown in FIG. FIG. 1B shows a vertical movement mechanism 4 that is a holding release device that moves the table 5 in the vertical direction. The test object 10 is, for example, a packaging member 10 in which an electronic device is packaged. In the following description, the test object 10 will be described as the packing member 10.

テーブル5の上に試験対象物である梱包部材10が載置されて落下試験が開始されると、まず、図1(c)に示すように、垂直移動機構4の動作によってテーブル5が重力加速度よりも速い加速度で降下する。続いて、図1(d)に示すようにテーブル回転機構6の動作によってテーブル5が回転して梱包部材10の落下範囲から外れる。この結果、梱包部材10が自然落下して基台1の上に落下する。落下試験機40では、テーブル5の長さに梱包部材10の長さの半分以上の支持半径が必要なため、大型の梱包部材10の低い位置からの落下評価試験ができないという問題点があった。   When the packaging member 10 as the test object is placed on the table 5 and the drop test is started, first, as shown in FIG. Descent with faster acceleration. Subsequently, as shown in FIG. 1 (d), the table 5 is rotated by the operation of the table rotating mechanism 6 to be out of the falling range of the packing member 10. As a result, the packing member 10 naturally falls and falls on the base 1. The drop tester 40 has a problem in that a drop evaluation test from a low position of the large packaging member 10 cannot be performed because the length of the table 5 requires a support radius that is at least half the length of the packaging member 10. .

図2(a)はテーブル引抜式の落下試験機50の構成を示すものである。落下試験機50には、装置の基台1、2本のガイドレール2G、支柱2P,ステー2S、ガイドレール2G上をスライドする昇降部材3、垂直移動機構4、試験対象物を保持するテーブル5S、制御装置7、テーブル引抜機構8及び落下高さ調整機構9がある。垂直移動機構4はテーブル5Sとテーブル引抜機構8を重力加速度より大きな加速度で下方に移動させる。テーブル引抜機構8はテーブル5Sを水平方向に移動させて本体内に引き込む、また、落下高さ調整機構9は梱包部材の落下試験高さに合わせて、テーブル5Sを任意の位置に固定できる。   FIG. 2A shows the configuration of a table pull-out type drop tester 50. The drop tester 50 includes an apparatus base 1, two guide rails 2G, a support 2P, a stay 2S, a lifting member 3 that slides on the guide rail 2G, a vertical movement mechanism 4, and a table 5S that holds a test object. , A control device 7, a table pulling mechanism 8, and a drop height adjusting mechanism 9. The vertical movement mechanism 4 moves the table 5S and the table pulling mechanism 8 downward at an acceleration larger than the gravitational acceleration. The table pulling mechanism 8 moves the table 5S in the horizontal direction and pulls it into the main body. The drop height adjusting mechanism 9 can fix the table 5S at an arbitrary position according to the drop test height of the packing member.

図2(b)は、落下試験時のテーブル5Sと梱包部材10及び基台1との位置関係を、平面図及び側面図を併用して時間の経過と共に示すものである。図2(b)の左側の部分には、テーブル5Sに梱包部材10が載置された落下前の状態が示されている。この時、テーブル5Sの上面の落下面(基台1の上面)からの高さをHとする。図2(b)の中央の部分には、落下試験開始直後の状態が示されている。この時、テーブル5Sは重力加速度より大きい加速度でテーブル下降高さh1だけ下降する。梱包部材10は重力加速度で自然落下中である。図2(b)の右側の部分には、テーブル5Sがテーブル引き抜き長さL1だけ引き抜かれた状態が示されている。テーブル5Sの先端部は、図2(a)に示したテーブル引抜機構8により、梱包部材10が高さHから下降高さh1だけ下降するまでの間に引き抜き長さL1だけ移動し、この後、梱包部材10が基台1の上に落下する。   FIG. 2B shows the positional relationship between the table 5S, the packing member 10 and the base 1 during the drop test with the passage of time using a plan view and a side view. The left part of FIG. 2 (b) shows a state before dropping, in which the packing member 10 is placed on the table 5S. At this time, the height of the upper surface of the table 5S from the falling surface (the upper surface of the base 1) is set to H. The state immediately after the start of the drop test is shown in the center part of FIG. At this time, the table 5S is lowered by the table lowering height h1 at an acceleration larger than the gravitational acceleration. The packing member 10 is falling naturally due to gravitational acceleration. 2B shows a state in which the table 5S has been extracted by the table extraction length L1. The front end portion of the table 5S is moved by the pulling length L1 by the table pulling mechanism 8 shown in FIG. 2A until the packing member 10 is lowered from the height H by the lowering height h1. The packing member 10 falls on the base 1.

図3(a)〜(d)は、図2(a)に示したテーブル引抜式の落下試験機50において、テーブル5Sに載置した梱包部材10のサイズが大きすぎて落下試験に失敗する過程を、時間の推移と共に示す平面図と側面図とを組み合わせて示すものである。図3(a)はテーブル5Sに梱包部材10が載置された落下前の状態を示すものである。図3(b)はテーブル5Sが重力加速度より大きい加速度で高さHから高さh1だけ下降した状態を示すものである。図3(c)は梱包部材10が高さHから高さh1だけ下降するまでの間に、テーブル5Sを梱包部材10の落下範囲から引き抜くことができず、梱包部材10の一端がテーブル5Sの先端部に衝突した状態を示すものである。図3(d)は梱包部材10が基台1の上に傾いて落下した状態を示すものであり、落下試験が失敗に終わった状態を示すものである。   3 (a) to 3 (d) show a process in which the drop test fails because the size of the packing member 10 placed on the table 5S is too large in the table pull-out type drop tester 50 shown in FIG. 2 (a). Is shown in combination with a plan view and a side view showing the change with time. FIG. 3A shows a state before dropping, in which the packing member 10 is placed on the table 5S. FIG. 3B shows a state in which the table 5S is lowered from the height H by the height h1 at an acceleration larger than the gravitational acceleration. In FIG. 3C, the table 5S cannot be pulled out from the falling range of the packing member 10 until the packing member 10 is lowered from the height H by the height h1, and one end of the packing member 10 is not attached to the table 5S. The state which collided with the front-end | tip part is shown. FIG. 3D shows a state in which the packaging member 10 is tilted and dropped on the base 1, and shows a state in which the drop test has failed.

このように、梱包部材10が大きい場合は、落下試験時に梱包部材10が載る部分のテーブル5Sの長さが長く、テーブルを引き抜く時間が長くなってテーブルが梱包部材10の落下範囲から引き抜かれる前に梱包部材10がテーブル5Sまで達することがある。このような場合は落下試験が失敗に終わり、低い位置からの落下評価試験ができないという問題点があった。また、テーブルを水平方向に移動させる長さが長いのでテーブル引抜機構8を大型化してその出力を大きくする必要であり、落下試験機のサイズが大きくなるという問題点もあった。   Thus, when the packing member 10 is large, the length of the table 5S of the portion on which the packing member 10 is placed during the drop test is long, the time for pulling out the table becomes long, and before the table is pulled out from the drop range of the packing member 10 The packing member 10 may reach the table 5S. In such a case, the drop test ended in failure, and there was a problem that a drop evaluation test from a low position could not be performed. Further, since the length for moving the table in the horizontal direction is long, it is necessary to increase the size of the table pulling mechanism 8 to increase its output, and there is a problem that the size of the drop tester increases.

図4(a)は、以上のような問題点を解消する本出願に係る落下試験機20の一実施例の構成を示すものである。落下試験機20には基台11があり、基台11の上には垂直に2本のガイド支柱12が突設されている。ガイド支柱12には、ガイド支柱12に沿ってスライドする昇降部材13があり、ガイド支柱12の上端部に掛け渡された天井板12Cには昇降部材13に取り付けられたテーブル15の落下高さを調整する落下高さ調整機構19が設けられている。また、天井板12Cと基台11との間には補強材である2本のステー12Sが設けられており、2本のステー12Sの間の基台11上には落下試験機20の制御装置17がある。   FIG. 4A shows the configuration of an embodiment of the drop tester 20 according to the present application that solves the above-described problems. The drop tester 20 has a base 11, and two guide struts 12 project vertically from the base 11. The guide column 12 has a lifting member 13 that slides along the guide column 12, and the ceiling plate 12 </ b> C spanned over the upper end of the guide column 12 has a drop height of the table 15 attached to the lifting member 13. A fall height adjustment mechanism 19 for adjustment is provided. Further, two stays 12S, which are reinforcing materials, are provided between the ceiling plate 12C and the base 11, and a control device for the drop tester 20 is provided on the base 11 between the two stays 12S. There are seventeen.

昇降部材13は固定部13Bと移動部13Aから構成されており、固定部13Bには移動部13Aを固定部13Bから下方に所定距離だけ、重力加速度を超える加速度で強制落下させる下方駆動機構14が設けられている。また、昇降部材13の移動部13Aには、動作板28を介してテーブル15が取り付けられている。テーブル15は移動部13Aに取り付けられた水平移動機構であるテーブル引抜機構18によって動作板18が移動させられると、矢印Mで示す方向に移動することができる。そしてテーブル15には、テーブル15の移動方向Mに対して左右対称に45度ずつの角度を備えるV字状の切欠部16が設けられている。   The elevating member 13 includes a fixed portion 13B and a moving portion 13A. The fixed portion 13B has a lower drive mechanism 14 that forcibly drops the moving portion 13A downward from the fixed portion 13B by a predetermined distance at an acceleration exceeding the gravitational acceleration. Is provided. A table 15 is attached to the moving portion 13 </ b> A of the elevating member 13 via an operation plate 28. The table 15 can move in the direction indicated by the arrow M when the operation plate 18 is moved by the table pulling mechanism 18 which is a horizontal moving mechanism attached to the moving portion 13A. The table 15 is provided with a V-shaped notch 16 having an angle of 45 degrees symmetrically with respect to the moving direction M of the table 15.

この実施例の落下試験機20にあるテーブル15は、矩形のテーブルに切欠部16を設けたものであり、落下試験機20のテーブル15に載置される試験対象物である梱包部材10は、落下試験機20の長手方向に対して斜めにテーブル15の上に載置される。即ち、梱包部材10の底面の隣り合う底辺が、テーブル15の切欠部16の近傍にある破線で示す位置に載置される。なお、この実施例のテーブル15は、矩形の板状体にV字状の切欠部16を設けたものであるが、別の実施例として、図4(b)に示すように、第1のアーム25Lと第2のアーム25Rを備え、上方から見てY字状のテーブル25とすることもできる。   The table 15 in the drop tester 20 of this embodiment is a rectangular table provided with a notch 16, and the packing member 10 that is a test object placed on the table 15 of the drop tester 20 is: It is placed on the table 15 obliquely with respect to the longitudinal direction of the drop tester 20. That is, the adjacent bottom sides of the bottom surface of the packing member 10 are placed at the positions indicated by the broken lines in the vicinity of the notch portion 16 of the table 15. The table 15 in this embodiment is a rectangular plate-like body provided with a V-shaped cutout portion 16, but as another embodiment, as shown in FIG. An arm 25L and a second arm 25R are provided, and a Y-shaped table 25 can be formed as viewed from above.

図5は、図4(b)に示された落下試験機20のテーブル25に梱包部材10が載置されて落下試験を行う時の、梱包部材20とテーブル15の位置関係を、平面図と側面図とを用いて時間の経過と共に示すものである。図5の(a)で示す部分には、テーブル25の上に梱包部材10が置かれた落下前の状態が示されている。梱包部材10の底面の隣接する2辺がテーブル25の第1のアーム25Lと第2のアーム25Rの縁部の上に載置されている。この時のテーブル26の基台11からの高さ(落下高さ)を高さHであり、この高さは梱包部材10の落下試験高さによって決まるので従来装置と同じである。   FIG. 5 is a plan view showing the positional relationship between the packing member 20 and the table 15 when the packing member 10 is placed on the table 25 of the drop tester 20 shown in FIG. It shows with progress of time using a side view. The part shown by (a) of FIG. 5 shows the state before the drop when the packing member 10 is placed on the table 25. Two adjacent sides of the bottom surface of the packing member 10 are placed on the edges of the first arm 25L and the second arm 25R of the table 25. The height (drop height) of the table 26 from the base 11 at this time is the height H, and this height is determined by the drop test height of the packaging member 10 and is the same as that of the conventional apparatus.

図5の(b)で示す部分には、テーブル25の上に梱包部材10が置かれた状態から、テーブル25が急降下したテーブル下降状態が示されている。テーブル25の急降下における加速度は重力加速度より大きく、テーブル25が急降下した状態では、梱包部材10は宙に浮いた状態にある。テーブル25が急降下する高さを高さh2とする。テーブル25が急降下する高さを高さh2は、後述するようにテーブル25の引抜き長さが従来に比べて短いので、図2(a)に示したテーブル5Sの落下高さh1よりも小さくすることができる。   The part shown by (b) of FIG. 5 shows the table lowering state in which the table 25 has fallen rapidly from the state in which the packing member 10 is placed on the table 25. The acceleration due to the sudden drop of the table 25 is greater than the acceleration of gravity, and the packaging member 10 is in a suspended state when the table 25 is suddenly lowered. A height at which the table 25 suddenly descends is defined as a height h2. The height h2 at which the table 25 suddenly descends is set to be smaller than the drop height h1 of the table 5S shown in FIG. 2A because the pull-out length of the table 25 is shorter than the conventional one as will be described later. be able to.

図5の(c)で示す部分には、テーブル25が下降した状態から、テーブル25が動作板28の移動によって梱包部材10の直下から退避した状態が示されている。テーブル25は、重力加速度より大きい加速度で急降下した後、或いは急降下中に、図4に示したテーブル引抜機構18によって、テーブル引抜き長さL2だけ移動させられる。テーブル引抜き長さL2は、梱包部材10の落下範囲にテーブル25が存在しなくなる長さである。また、テーブル25がテーブル引抜き長さL2だけ移動する時間は、梱包部材10が高さHから高さh2だけ自然落下する時間よりも短い時間である。   The part shown in FIG. 5C shows a state in which the table 25 is retracted from directly below the packing member 10 by the movement of the operation plate 28 from the state in which the table 25 is lowered. The table 25 is moved by the table pulling length L2 by the table pulling mechanism 18 shown in FIG. 4 after suddenly dropping at an acceleration larger than the gravitational acceleration or during the rapid dropping. The table drawing length L2 is a length at which the table 25 does not exist in the fall range of the packing member 10. Moreover, the time for the table 25 to move by the table drawing length L2 is shorter than the time for the packing member 10 to fall naturally from the height H to the height h2.

一方、落下試験機20のテーブル15や25は、梱包部材10の底面の隣り合う2辺を僅かな面積で支えて梱包部材10を保持しているので、テーブル引抜き長さL2は、図2に示した落下試験機50のテーブル5Sの引抜き長さL1よりも短くて済む。このため、テーブル引抜機構18を出力を小さくすることができ、図2に示した落下試験機50のテーブル引抜き機構8よりも小型化することができる。また、テーブル引抜き機構18の小型化により、ガイド支柱12からステー12Sまでの長さを短くすることができ、落下試験機20の小型化を図ることができる。   On the other hand, the tables 15 and 25 of the drop tester 20 hold the packing member 10 by supporting the two adjacent sides of the bottom surface of the packing member 10 with a small area, so the table drawing length L2 is shown in FIG. The pulling length L1 of the table 5S of the drop tester 50 shown may be shorter. For this reason, the output of the table pulling mechanism 18 can be reduced, and the table pulling mechanism 8 of the drop tester 50 shown in FIG. Further, by reducing the size of the table pulling mechanism 18, the length from the guide column 12 to the stay 12S can be shortened, and the drop tester 20 can be reduced in size.

更に、テーブル引抜き機構18のテーブル引抜き長さL2が短く、短時間でテーブル15や25を梱包部材10の落下範囲から引抜くことができるので、テーブル15や25の落下高さh2も前述のテーブル5Sの落下高さh1よりも小さくすることができる。図5の(d)で示す部分には、テーブル25が落下完了した状態が示されている。梱包部材10は、テーブル25の切欠部26をすり抜けて基台11の上に落下するので、テーブル25の引抜き長さL2が小さくても、梱包部材10は落下時にテーブル25に接触させずに基台11の上に落下させることができる。   Furthermore, since the table pulling length L2 of the table pulling mechanism 18 is short and the tables 15 and 25 can be pulled out from the drop range of the packing member 10 in a short time, the drop height h2 of the tables 15 and 25 is also the above-mentioned table. It can be made smaller than the drop height h1 of 5S. The part shown by (d) in FIG. 5 shows a state where the table 25 has been dropped. Since the packing member 10 passes through the notch 26 of the table 25 and falls onto the base 11, the packing member 10 does not come into contact with the table 25 at the time of dropping even if the extraction length L2 of the table 25 is small. It can be dropped onto the table 11.

以上のように構成された落下試験機20では、テーブル引抜機構18の低出力化による小型化、テーブルの落下高さの低減により、落下試験機20のサイズの小型化が図れ、安価に製造することができる。また、この構成の落下試験機20では、図6(a)〜(c)に示すように、テーブル25には種々のサイズの梱包部材10を載置することができる。図6(a)はテーブル25に小さなサイズの梱包部材10Sを載置した状態を示している。また、図6(b)は、テーブル25に細長いサイズの梱包部材10Lを載置した状態を示している。更に、図6(c)は、テーブル25に大きなサイズの梱包部材10Bを載置した状態を示している。   In the drop tester 20 configured as described above, the drop tester 20 can be reduced in size by reducing the output of the table pulling mechanism 18 and the drop height of the table can be reduced, and the drop tester 20 can be manufactured at a low cost. be able to. Moreover, in the drop tester 20 of this structure, the packing member 10 of various sizes can be mounted on the table 25, as shown to Fig.6 (a)-(c). FIG. 6A shows a state in which a small-sized packing member 10 </ b> S is placed on the table 25. FIG. 6B shows a state in which a long and narrow packing member 10 </ b> L is placed on the table 25. Further, FIG. 6C shows a state in which a large size packing member 10B is placed on the table 25. FIG.

図7(a)は、図4(a)に示した落下試験機20を平面視した状態を示している。この実施例の落下試験機20では、前述のように、テーブル引抜き機構18によって動作板28がテーブル引抜き機構18内に引き込まれると、テーブル15が矢印Mで示す方向に移動する。一方、この落下試験機20では、落下試験機20の長手方向に対して梱包部材10を45度傾けてテーブル15の上に載置して落下試験が行われる。   Fig.7 (a) has shown the state which planarly viewed the drop tester 20 shown to Fig.4 (a). In the drop tester 20 of this embodiment, as described above, when the operation plate 28 is pulled into the table pulling mechanism 18 by the table pulling mechanism 18, the table 15 moves in the direction indicated by the arrow M. On the other hand, in this drop tester 20, the packing member 10 is inclined 45 degrees with respect to the longitudinal direction of the drop tester 20 and placed on the table 15 to perform a drop test.

そこで、図7(b)に示す変形実施例の落下試験機30では、テーブル引抜き機構18を昇降部材13に対して斜め方向に傾けて、例えば45度傾けてガイド支柱12の間の部分に取り付けている。そして、テーブル引抜き機構18が駆動する動作板38の先端部を、第1と第2のアーム35L,35RでL字状に形成したテーブル35の一方の先端部に連結している。この実施例の落下試験機30では、第1のアーム35Lと第2のアーム35Rがそれぞれ落下試験機30の長手方向と短手方向に一致するので、梱包部材10を落下試験機30の長手方向と同じ方向にテーブル35の上に置くことができる。そして、テーブル引抜き機構18によって動作板38がテーブル引抜き機構18内に引き込まれると、テーブル35が矢印Nで示す方向に移動するので、落下試験機20と同様の落下試験を行うことができる。   Therefore, in the drop tester 30 of the modified example shown in FIG. 7B, the table pulling mechanism 18 is tilted with respect to the elevating member 13 in an oblique direction, for example, 45 degrees, and is attached to a portion between the guide columns 12. ing. And the front-end | tip part of the action | operation board 38 which the table extraction mechanism 18 drives is connected with one front-end | tip part of the table 35 formed in L shape by the 1st and 2nd arms 35L and 35R. In the drop tester 30 of this embodiment, the first arm 35L and the second arm 35R match the longitudinal direction and the short direction of the drop tester 30, respectively. Can be placed on the table 35 in the same direction. When the operation plate 38 is pulled into the table pulling mechanism 18 by the table pulling mechanism 18, the table 35 moves in the direction indicated by the arrow N, so that a drop test similar to the drop tester 20 can be performed.

ここで、図4(b)に示したテーブル25の変形例を説明する。図8(a)は、テーブル25の上面に、梱包部材10の載置位置を示すマーク21を記載した実施例を示している。梱包部材10はこのマーク21に沿ってテーブル25の上に置けば、落下試験をミスなく行うことができる。また、図8(b)は、テーブル25の上面の梱包部材10を載置する位置を窪ませて凹部22を設けた実施例を示している。梱包部材10はこの凹部22の中にきっちり置けば、落下試験をミスなく行うことができる。更に、図8(c)は、落下試験機に転落防止治具23を設けた実施例を示すものである。転落防止治具23はテーブル25が落下してもその位置が変わらないように、落下試験機の動かない部分に取り付ける。転落防止治具23を使用する場合は、テーブル25のサイズに対して梱包部材10のサイズが大きい場合である。   Here, a modification of the table 25 shown in FIG. 4B will be described. FIG. 8A shows an embodiment in which a mark 21 indicating the placement position of the packing member 10 is described on the upper surface of the table 25. If the packing member 10 is placed on the table 25 along the mark 21, the drop test can be performed without mistake. FIG. 8B shows an embodiment in which a recess 22 is provided by recessing the position on the upper surface of the table 25 where the packing member 10 is placed. If the packing member 10 is placed exactly in the recess 22, the drop test can be performed without mistake. Furthermore, FIG.8 (c) shows the Example which provided the fall prevention jig | tool 23 in the drop tester. The fall prevention jig 23 is attached to a portion where the drop tester does not move so that the position does not change even if the table 25 falls. When the fall prevention jig 23 is used, the size of the packing member 10 is larger than the size of the table 25.

図9(a)は、本出願の第2の実施例の落下試験機32の構成を示すものであり、テーブル部分のみを示すものである。第2の実施例では、図4(a)に示した落下試験機20におけるテーブル引抜き機構18は不要であり、テーブル25は昇降部材の移動部13Aに取付板33によって固着しておけば良い。第2の実施例では、テーブル25を構成する第1のアーム25Lと第2のアーム25Rの切欠部16に対向する端面25Tに、この端面25Tから出没するスライド板24が設けられている。スライド板24は、第1のアーム25Lと第2のアーム25Rの切欠部16と反対側の端面に取り付けられた水平移動機構27によって端面25Tから出没させることができる。   FIG. 9A shows the configuration of the drop tester 32 of the second embodiment of the present application, and shows only the table portion. In the second embodiment, the table pulling mechanism 18 in the drop tester 20 shown in FIG. 4A is unnecessary, and the table 25 may be fixed to the moving part 13A of the elevating member by the mounting plate 33. In the second embodiment, a slide plate 24 protruding and projecting from the end surface 25T is provided on the end surface 25T facing the cutout portions 16 of the first arm 25L and the second arm 25R constituting the table 25. The slide plate 24 can be projected and retracted from the end surface 25T by a horizontal movement mechanism 27 attached to the end surfaces of the first arm 25L and the second arm 25R on the opposite side to the notch 16.

スライド板24の上面には、梱包部材を載置する時に使用するマーク21を施しておけば、スライド板24上に梱包部材を正しく載置することができる。図9(b)は、水平移動機構27によってスライド板24がテーブル25を構成する第1のアーム25Lと第2のアーム25Rの内部に没入した状態を示すものである。この構成では、テーブル引抜き機構18が不要であり、スライド板24の移動距離も短いので水平移動機構27のサイズも小型化でき、落下試験機32のサイズを小さくすることができる。   If the mark 21 used when placing the packaging member is provided on the upper surface of the slide plate 24, the packaging member can be correctly placed on the slide plate 24. FIG. 9B shows a state in which the slide plate 24 is immersed in the first arm 25L and the second arm 25R constituting the table 25 by the horizontal movement mechanism 27. In this configuration, the table pulling mechanism 18 is unnecessary, and the moving distance of the slide plate 24 is short, so that the size of the horizontal moving mechanism 27 can be reduced, and the size of the drop tester 32 can be reduced.

また、図9(c)に示すように、スライド板24の代わりに、テーブル25を構成する第1のアーム25Lと第2のアーム25Rの切欠部16に対向する端面25Tに、この端面25Tから出没する複数のスライド突起29を設けることもできる。スライド突起29も、第1のアーム25Lと第2のアーム25Rの切欠部16と反対側の端面に取り付けられた水平移動機構27によって端面25Tから出没させることができる。スライド突起29の中間部分には、梱包部材を載置する時に使用するマーク31を施しておけば、スライド突起29上に梱包部材を正しく載置することができる。マーク31に代えてスライド突起29の先端部側を塗装して梱包部材の載置位置を示すようにしても良い。   Further, as shown in FIG. 9 (c), instead of the slide plate 24, an end surface 25T facing the cutout portions 16 of the first arm 25L and the second arm 25R constituting the table 25 is separated from the end surface 25T. A plurality of slide protrusions 29 can be provided. The slide protrusion 29 can also be projected and retracted from the end face 25T by the horizontal movement mechanism 27 attached to the end face on the opposite side to the notch 16 of the first arm 25L and the second arm 25R. If the mark 31 used when placing the packing member is provided in the middle portion of the slide protrusion 29, the packing member can be correctly placed on the slide protrusion 29. Instead of the mark 31, the tip end side of the slide projection 29 may be painted to indicate the mounting position of the packing member.

以上、本発明を特にその好ましい実施の形態を参照して詳細に説明した。本発明の容易な理解のために、本発明の具体的な形態を以下に付記する。   The present invention has been described in detail with particular reference to preferred embodiments thereof. For easy understanding of the present invention, specific embodiments of the present invention will be described below.

(付記1) 基台に対して垂直方向に突設された支柱、前記支柱にスライド可能に取り付けられて落下位置を変更できる昇降部材、前記昇降部材を前記落下位置から所定距離だけ重力加速度を超える加速度で強制落下させる垂直移動機構、前記昇降部材に対して水平方向に移動可能に取り付けられた試験対象物の載置テーブル、及び前記昇降部材の強制落下中に前記載置テーブルを前記試験対象物の落下範囲から取り除く水平移動機構とを備え、
前記載置テーブルには、前記載置テーブルの移動方向に対して左右対称に45度ずつの角度を備える切欠部が設けられていることを特徴とする落下試験機。
(付記2) 前記支柱が所定間隔を隔てた2本の支柱であり、前記水平移動機構は、前記載置テーブルを前記2本の支柱を結ぶ線に対して垂直方向に移動させることを特徴とする付記1に記載の落下試験機。
(付記3) 前記載置テーブルの上方には、前記載置テーブルに対して高さ調整が可能であり、前記載置テーブルに前記試験対象物が載置された時に、前記試験対象物の前記載置テーブルからの転落を防止する転落防止治具が設けられており、
前記転落防止治具は、前記昇降部材が前記落下位置から強制落下してもの位置が変わらないように設置されていることを特徴とする付記1又は2に記載の落下試験機。
(付記4) 前記載置テーブルの切欠部に隣接する部位には、前記載置テーブルに載置する試験対象物の載置位置を示すマークが印刷されていることを特徴とする付記1から3の何れかに記載の落下試験機。
(付記5) 前記支柱が所定間隔を隔てた2本の支柱であり、前記水平移動機構は、前記載置テーブルを、前記2本の支柱を結ぶ線に対して斜めの方向に移動させることを特徴とする付記1から4の何れかに記載の落下試験機。
(Additional remark 1) The support | pillar which protruded perpendicularly | vertically with respect to the base, the raising / lowering member which is attached to the said support | pillar so that a fall position can be changed, and the gravitational acceleration of the said raising / lowering member exceeds predetermined gravity distance from the said fall position A vertical movement mechanism for forcedly dropping by acceleration, a placing table for a test object mounted so as to be movable in a horizontal direction with respect to the elevating member, and the placing table described above during the forced dropping of the elevating member With a horizontal movement mechanism to remove from the fall range of
A drop tester characterized in that the mounting table is provided with a notch portion having an angle of 45 degrees symmetrically with respect to the moving direction of the mounting table.
(Additional remark 2) The said support | pillar is two support | pillars which left the predetermined space | interval, The said horizontal movement mechanism moves the said mounting table to the orthogonal | vertical direction with respect to the line which connects the said 2 support | pillars, The drop tester according to appendix 1.
(Appendix 3) Above the placement table, the height can be adjusted with respect to the placement table, and when the test object is placed on the placement table, the height of the test object is increased. A fall prevention jig is provided to prevent falls from the table.
The drop test machine according to appendix 1 or 2, wherein the fall prevention jig is installed so that the position of the elevating member does not change even when the elevating member is forcibly dropped from the drop position.
(Additional remark 4) The mark which shows the mounting position of the test target object mounted in the previous mounting table is printed in the site | part adjacent to the notch part of the previous mounting table. The drop tester according to any one of the above.
(Additional remark 5) The said support | pillar is two support | pillars which separated the predetermined space | interval, and the said horizontal movement mechanism moves the said mounting table to the diagonal direction with respect to the line which connects the said two support | pillars. 5. The drop tester according to any one of appendices 1 to 4, which is characterized.

(付記6) 前記載置テーブルは、上方から見た時にY字状をしていることを特徴とする付記1から4の何れかに記載の落下試験機。
(付記7) 前記テーブルの前記切欠部に対抗する端面に所定幅の凹部が設けられており、前記試験対象物は前記凹部に載置されることを特徴とする付記1から6の何れかに記載の落下試験機。
(付記8) 前記斜めの方向が45度であることを特徴とする付記5に記載の落下試験機。
(付記9) 前記載置テーブルは、上方から見た時にL字状をしており、前記動作板は前記載置テーブルの一方の先端部に接続されていることを特徴とする付記8に記載の落下試験機。
(付記10) 基台に対して垂直方向に突設された支柱、前記支柱にスライド可能に取り付けられて落下位置を変更できる昇降部材、前記昇降部材を前記落下位置から所定距離だけ重力加速度を超える加速度で強制落下させる垂直移動機構、前記昇降部材に取り付けられ、前記昇降部材を左右に二等分する線に対してそれぞれ45度ずつの角度を備える切欠部が設けられた試験対象物の載置テーブル、前記載置テーブルの前記切欠部側の端面から出没可能に設けられた前記試験対象物の保持部材、及び前記載置テーブルの前記切欠部の反対側に設けられて前記保持部材を前記端面から出没させる水平移動機構とを備え、
前記水平移動機構は、前記昇降部材の強制落下中に前記保持部材を移動させて前記載置テーブルを前記試験対象物の落下範囲から取り除くことを特徴とする落下試験機。
(Supplementary note 6) The drop tester according to any one of supplementary notes 1 to 4, wherein the placement table is Y-shaped when viewed from above.
(Additional remark 7) The recessed part of predetermined width is provided in the end surface which opposes the said notch part of the said table, The said test subject is mounted in the said recessed part, The any one of Additional remark 1 to 6 characterized by the above-mentioned. Described drop tester.
(Supplementary note 8) The drop tester according to supplementary note 5, wherein the oblique direction is 45 degrees.
(Supplementary note 9) The supplementary table 8 is L-shaped when viewed from above, and the operation plate is connected to one tip of the placement table. Drop tester.
(Additional remark 10) The support | pillar which protruded perpendicularly | vertically with respect to the base, the raising / lowering member which is attached to the said support | pillar so that a fall position can be changed, and the gravitational acceleration exceeds the gravitational acceleration by only a predetermined distance from the said fall position. A vertical movement mechanism for forcibly dropping by acceleration, and mounting of a test object provided with a notch portion that is attached to the elevating member and has an angle of 45 degrees with respect to a line that bisects the elevating member to the left and right A table, a holding member for the test object provided so as to be able to protrude from an end surface on the notch portion side of the mounting table, and an end surface of the holding table provided on the opposite side of the notch portion of the mounting table. With a horizontal movement mechanism that appears and disappears from the
The horizontal movement mechanism moves the holding member during the forced drop of the elevating member to remove the mounting table from the drop range of the test object.

(付記11) 前記保持部材が前記端面に沿って設けられた板状部材から構成されることを特徴とする付記10に記載の落下試験機。
(付記12) 前記保持部材が前記端面から出没する複数のピン状部材から構成されることを特徴とする付記10に記載の落下試験機。
(付記13) 前記保持部材には、前記試験対象物の載置位置を示すマークが印刷されていることを特徴とする付記10から12の何れかに記載の落下試験機。
(付記14) 前記試験対象物が電子機器を梱包した直方体の梱包部材であることを特徴とする付記1から13の何れかに記載の落下試験機。
(Additional remark 11) The said holding member is comprised from the plate-shaped member provided along the said end surface, The drop test machine of Additional remark 10 characterized by the above-mentioned.
(Additional remark 12) The drop tester according to Additional remark 10, wherein the holding member is composed of a plurality of pin-shaped members protruding and protruding from the end face.
(Additional remark 13) The mark which shows the mounting position of the said test target object is printed on the said holding member, The drop tester in any one of Additional remark 10 to 12 characterized by the above-mentioned.
(Supplementary note 14) The drop tester according to any one of supplementary notes 1 to 13, wherein the test object is a rectangular parallelepiped packing member in which an electronic device is packed.

11 基台
12 ガイド支柱
13 昇降部材
14 テーブル下方駆動機構
15、25、35 テーブル
16、26、36 切欠部
18 テーブル引抜機構
19 落下高さ調整機構
20,30、32 落下試験機
21,31 載置位置マーク
22 載置用凹部
23 転落防止治具
24 スライド板
27 水平移動機構
28,38 動作板
29 スライドピン
32 取付板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Base 12 Guide support | pillar 13 Elevating member 14 Table downward drive mechanism 15, 25, 35 Table 16, 26, 36 Notch part 18 Table pull-out mechanism 19 Drop height adjustment mechanism 20, 30, 32 Drop test machine 21, 31 Mounting Position mark 22 Mounting recess 23 Fall prevention jig 24 Slide plate 27 Horizontal movement mechanism 28, 38 Operation plate 29 Slide pin 32 Mounting plate

Claims (5)

基台に対して垂直方向に突設された支柱、前記支柱にスライド可能に取り付けられて落下位置を変更できる昇降部材、前記昇降部材を前記落下位置から所定距離だけ重力加速度を超える加速度で強制落下させる垂直移動機構、前記昇降部材に対して水平方向に移動可能に取り付けられた試験対象物の載置テーブル、及び前記昇降部材の強制落下中に前記載置テーブルを前記試験対象物の落下範囲から取り除く水平移動機構とを備え、
前記載置テーブルには、前記載置テーブルの移動方向に対して左右対称に45度ずつの角度を備える切欠部が設けられていることを特徴とする落下試験機。
A strut that protrudes perpendicularly to the base, a lifting member that is slidably attached to the strut and can change the drop position, and the lift member is forcibly dropped at an acceleration exceeding the gravitational acceleration by a predetermined distance from the drop position. A vertical movement mechanism, a placing table for a test object mounted so as to be movable in a horizontal direction with respect to the elevating member, and the placing table from the fall range of the test object during forced dropping of the elevating member A horizontal movement mechanism to remove,
A drop tester characterized in that the mounting table is provided with a notch portion having an angle of 45 degrees symmetrically with respect to the moving direction of the mounting table.
前記支柱が所定間隔を隔てた2本の支柱であり、前記水平移動機構は、前記載置テーブルを前記2本の支柱を結ぶ線に対して垂直方向に移動させることを特徴とする請求項1に記載の落下試験機。   The said support | pillar is two support | pillars which left the predetermined space | interval, The said horizontal movement mechanism moves the said mounting table to the orthogonal | vertical direction with respect to the line which connects the said 2 support | pillars. The drop tester described in 1. 前記載置テーブルの上方には、前記載置テーブルに対して高さ調整が可能であり、前記載置テーブルに前記試験対象物が載置された時に、前記試験対象物の前記載置テーブルからの転落を防止する転落防止治具が設けられており、
前記転落防止治具は、前記昇降部材が前記落下位置から強制落下してもその位置が変わらないように設置されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の落下試験機。
Above the mounting table, the height can be adjusted with respect to the mounting table, and when the test object is placed on the mounting table, from the mounting table of the testing object. A fall prevention jig to prevent the fall of
The drop tester according to claim 1 or 2, wherein the fall prevention jig is installed so that the position of the elevating member does not change even when the elevating member is forcibly dropped from the drop position.
前記載置テーブルの切欠部に隣接する部位には、前記載置テーブルに載置する試験対象物の載置位置を示すマークが印刷されていることを特徴とする請求項1から3の何れか1項に記載の落下試験機。   The mark which shows the mounting position of the test object mounted on the said mounting table is printed on the site | part adjacent to the notch part of the said mounting table, The any one of Claim 1 to 3 characterized by the above-mentioned. 1. A drop tester according to item 1. 前記支柱が所定間隔を隔てた2本の支柱であり、前記水平移動機構は、前記載置テーブルを、前記2本の支柱を結ぶ線に対して斜めの方向に移動させることを特徴とする請求項1から4の何れか1項に記載の落下試験機。   The said support | pillar is two support | pillars which left the predetermined space | interval, The said horizontal movement mechanism moves the said mounting table to the diagonal direction with respect to the line which connects the said 2 support | pillars. Item 5. The drop tester according to any one of Items 1 to 4.
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103645090A (en) * 2013-11-26 2014-03-19 成都发动机(集团)有限公司 Fracture test sample mounting and clamping device matched with shock testing machine
CN108020431A (en) * 2017-12-29 2018-05-11 北斗航天汽车(北京)有限公司 Free-fall testing device
WO2018159199A1 (en) * 2017-02-28 2018-09-07 国際計測器株式会社 Collision simulation test apparatus and impact test apparatus
JP2019035705A (en) * 2017-08-21 2019-03-07 国際計測器株式会社 Impact-testing apparatus
JP2020020817A (en) * 2017-08-21 2020-02-06 国際計測器株式会社 Impact testing device
JP2020112532A (en) * 2019-01-09 2020-07-27 允乗 李 Bounce test device
CN111458095A (en) * 2020-04-15 2020-07-28 京东方科技集团股份有限公司 Drop test device and method thereof
WO2021132043A1 (en) * 2019-12-27 2021-07-01 国際計測器株式会社 Impact test device
CN114500715A (en) * 2022-04-18 2022-05-13 天易机电设备(深圳)有限公司 Test fixture platform for mobile phone detection
CN118067349A (en) * 2024-04-18 2024-05-24 江西联丰合金工具有限公司 Alloy bar falling inspection machine

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103645090A (en) * 2013-11-26 2014-03-19 成都发动机(集团)有限公司 Fracture test sample mounting and clamping device matched with shock testing machine
US11199475B2 (en) 2017-02-28 2021-12-14 Kokusai Keisokuki Kabushiki Kaisha Collision simulation test apparatus and impact test apparatus
US11892371B2 (en) 2017-02-28 2024-02-06 Kokusai Keisokuki Kabushiki Kaisha Collision simulation test apparatus and impact test apparatus
WO2018159199A1 (en) * 2017-02-28 2018-09-07 国際計測器株式会社 Collision simulation test apparatus and impact test apparatus
US11609152B2 (en) 2017-02-28 2023-03-21 Kokusai Keisokuki Kabushiki Kaisha Collision simulation test apparatus and impact test apparatus
JP2019035705A (en) * 2017-08-21 2019-03-07 国際計測器株式会社 Impact-testing apparatus
JP2020020817A (en) * 2017-08-21 2020-02-06 国際計測器株式会社 Impact testing device
CN108020431A (en) * 2017-12-29 2018-05-11 北斗航天汽车(北京)有限公司 Free-fall testing device
JP2020112532A (en) * 2019-01-09 2020-07-27 允乗 李 Bounce test device
WO2021132043A1 (en) * 2019-12-27 2021-07-01 国際計測器株式会社 Impact test device
JP2021105578A (en) * 2019-12-27 2021-07-26 国際計測器株式会社 Impact testing device
CN111458095A (en) * 2020-04-15 2020-07-28 京东方科技集团股份有限公司 Drop test device and method thereof
CN114500715A (en) * 2022-04-18 2022-05-13 天易机电设备(深圳)有限公司 Test fixture platform for mobile phone detection
CN114500715B (en) * 2022-04-18 2022-07-15 天易机电设备(深圳)有限公司 Test fixture platform for mobile phone detection
CN118067349A (en) * 2024-04-18 2024-05-24 江西联丰合金工具有限公司 Alloy bar falling inspection machine

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