JP2012079767A - Printed wiring board, manufacturing method thereof, multilayer printed wiring board, and manufacturing method thereof - Google Patents

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誠裕 岡本
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve connection reliability on the bottom surface of a via hole used for interlayer conduction.SOLUTION: An printed wiring board includes: a first isolation layer 21a that has flexibility; a seed layer 22a that is provided on a first main surface of the first isolation layer 21a; a first conductor circuit 23a provided on the seed layer 22a; a conductor layer 28a that is provided on the seed layer 22a exposed on the bottom surface of a via hole penetrating through the first isolation layer 21a; and an interlayer conduction part 24a that is embedded in the via hole and contacts the conductor layer 28a exposed on the bottom surface of the via hole. The compatibility between the interlayer conduction part 24a and the conductor layer 28a is higher than the compatibility between the interlayer conduction part 24a and the seed layer 22a.

Description

本発明は、可撓性を有するプリント配線板、その製造方法、複数のプリント配線板を積層した多層プリント配線板、及びその製造方法に関する。   The present invention relates to a flexible printed wiring board, a manufacturing method thereof, a multilayer printed wiring board in which a plurality of printed wiring boards are stacked, and a manufacturing method thereof.

電子機器の小型化、高機能化に伴って、電子機器に組み込まれる電子部品も小型化が進み、電子部品を実装するプリント配線板の配線も微細化されてきている。   As electronic devices become smaller and more functional, electronic components incorporated in electronic devices are also becoming smaller, and the wiring of a printed wiring board on which the electronic components are mounted has become finer.

可撓性を有する多層配線板、いわゆるフレキシブル多層配線板においては、銅箔が貼り合わされた樹脂フィルム(CCL:Copper Clad Laminate)が絶縁層として用いられる。しかし、サブトラクティブ法によりCCL等の銅層をエッチングして配線パターンを形成すると、配線パターンのエッジが過度に除去されてしまい、配線の微細が難しく、高速伝送に適さないという問題があった。この問題を解決するために、セミアディティブ法を用いて配線パターンを形成する方法が考えられる。   In a multilayer wiring board having flexibility, a so-called flexible multilayer wiring board, a resin film (CCL: Copper Clad Laminate) bonded with a copper foil is used as an insulating layer. However, when a wiring pattern is formed by etching a copper layer such as CCL by the subtractive method, the edge of the wiring pattern is excessively removed, and it is difficult to make the wiring fine, and there is a problem that it is not suitable for high-speed transmission. In order to solve this problem, a method of forming a wiring pattern using a semi-additive method is conceivable.

従来、銅箔に回路配線が形成された複数の絶縁層を層間接着剤で接着して多層化し、各絶縁層に形成したビアホールに導電性ペーストを充填して層間導通を取る多層配線板が提案されている(特許文献1参照)。   Conventionally, a multilayer wiring board has been proposed in which multiple insulation layers with circuit wiring formed on a copper foil are layered by bonding with an interlayer adhesive, and via holes formed in each insulation layer are filled with conductive paste to achieve interlayer conduction. (See Patent Document 1).

特許文献1では、層間導通に用いるビアホールが導電性ペーストで充填されているため、ビアホールの直上に実装部品や別のビアホールを配置することができ、ビアホールを任意の位置や層に配置することができる。また、メッキ工程を省略することができるので、最表層の配線は厚くならず、微細な配線を容易に形成することが可能となる。   In Patent Document 1, since a via hole used for interlayer conduction is filled with a conductive paste, a mounting component or another via hole can be arranged immediately above the via hole, and the via hole can be arranged at an arbitrary position or layer. it can. Further, since the plating step can be omitted, the outermost layer wiring does not become thick, and a fine wiring can be easily formed.

特許第4195619号公報Japanese Patent No. 4195619

しかしながら、絶縁層の上に、銅箔と異なる材料からなるシード層が形成され、シード層の上に銅箔が形成された樹脂フィルムを用いて多層配線板を形成する場合、ビアホールの底面にはシード層が表出する。よって、ビアホールの中に充填される導電性ペーストは、シード層に接触することになる。シード層は、銅箔に比べて、導電性ペーストとの間で合金層を形成しにくい材料からなるため、シード層と導電性ペーストとの間における接続信頼性が低下してしまう場合があった。   However, when a seed layer made of a material different from the copper foil is formed on the insulating layer, and a multilayer wiring board is formed using a resin film in which the copper foil is formed on the seed layer, the bottom surface of the via hole A seed layer is exposed. Therefore, the conductive paste filled in the via hole comes into contact with the seed layer. Since the seed layer is made of a material that hardly forms an alloy layer with the conductive paste compared to the copper foil, the connection reliability between the seed layer and the conductive paste may be reduced. .

本発明は上記課題に鑑みて成されたものであり、その目的は、層間導通に用いるビアホールの底面における接続信頼性が向上するプリント配線板、その製造方法、多層プリント配線板、及びその製造方法を提供することである。   SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and its object is to provide a printed wiring board with improved connection reliability at the bottom surface of a via hole used for interlayer conduction, a manufacturing method thereof, a multilayer printed wiring board, and a manufacturing method thereof. Is to provide.

本発明の第1の特徴は、可撓性を有する第1の絶縁層と、第1の絶縁層の第1の主表面に配置されたシード層と、シード層の上に配置された第1の導体回路と、第1の絶縁層を貫通するビアホールの底面に表出したシード層の上に配置された導体層と、ビアホールの中に埋め込まれ、且つビアホールの底面に表出した導体層に接触する層間導通部とを備えるプリント配線板であって、層間導通部と導体層との親和性が、層間導通部とシード層との親和性よりも高いことである。ここで、「親和性」とは、異なる2以上の金属間での合金の形成し易さを示す。   According to a first aspect of the present invention, there is provided a first insulating layer having flexibility, a seed layer disposed on a first main surface of the first insulating layer, and a first layer disposed on the seed layer. A conductor layer disposed on the seed layer exposed on the bottom surface of the via hole penetrating the first insulating layer, and a conductor layer embedded in the via hole and exposed on the bottom surface of the via hole. It is a printed wiring board provided with the interlayer conduction | electrical_connection part which contacts, Comprising: The affinity of an interlayer conduction | electrical_connection part and a conductor layer is higher than the affinity of an interlayer conduction | electrical_connection part and a seed layer. Here, “affinity” indicates the ease of forming an alloy between two or more different metals.

本発明の第1の特徴において、導体層と層間導通部との界面には、導体層と層間導通部との合金からなる合金層が介在してもよい。   In the first feature of the present invention, an alloy layer made of an alloy of the conductor layer and the interlayer conductive portion may be interposed at the interface between the conductor layer and the interlayer conductive portion.

本発明の第1の特徴において、層間導通部は、ニッケル、銀、銅から選択される少なくとも1種類の低電気抵抗の金属粒子と、錫、ビスマス、インジウム、鉛から選択される少なくとも1種類の低融点金属粒子を含む導電性ペーストを加熱して硬化させたものであることが望ましい。   In the first feature of the present invention, the interlayer conductive portion has at least one kind of low electrical resistance metal particles selected from nickel, silver and copper, and at least one kind selected from tin, bismuth, indium and lead. It is desirable that the conductive paste containing the low melting point metal particles is heated and cured.

本発明の第1の特徴において、導体層に含有される金属成分は、銅、銀、金から選択される少なくとも1種類の低電気抵抗金属であり、導体層と層間導通部との界面には、導体層中の低電気抵抗金属と、導電性ペースト中の低融点金属との合金からなる合金層が介在してもよい。   In the first feature of the present invention, the metal component contained in the conductor layer is at least one kind of low electrical resistance metal selected from copper, silver, and gold, and at the interface between the conductor layer and the interlayer conductive portion. An alloy layer made of an alloy of the low electrical resistance metal in the conductor layer and the low melting point metal in the conductive paste may be interposed.

本発明の第1の特徴において、導体層と層間導通部との界面は凹凸形状を有していてもよい。   In the first feature of the present invention, the interface between the conductor layer and the interlayer conductive portion may have an uneven shape.

本発明の第2の特徴は、第1の特徴に関わるプリント配線板と、第1の絶縁層の第1の主表面に対向する第2の主表面に接着された可撓性を有する第2の絶縁層と、第2の絶縁層と第1の絶縁層とを接着させる接着層と、第1の絶縁層と第2の絶縁層との間に配置され、層間導通部に接触し、且つ導体層と同じ金属成分を含有する第2の導体回路とを備える多層プリント配線板であることを要旨とする。   A second feature of the present invention is a printed wiring board related to the first feature, and a second flexible member bonded to a second main surface opposite to the first main surface of the first insulating layer. The insulating layer, the adhesive layer that bonds the second insulating layer and the first insulating layer, the first insulating layer and the second insulating layer, and is in contact with the interlayer conductive portion; and The gist of the invention is a multilayer printed wiring board including a second conductive circuit containing the same metal component as the conductive layer.

本発明の第3の特徴は、可撓性を有する第1の絶縁層の第1の主表面に、シード層及び第1の導体回路からなる回路パターンを形成する第1の工程と、第1の絶縁層の第1の主表面に対向する第2の主表面からビアホールを形成して、ビアホールの底面にシード層を表出させる第2の工程と、ビアホールの底面に表出したシード層の上に、導体層を堆積する第3の工程と、底面に導体層が表出したビアホールの中に導電性ペーストを充填する第4の工程とを備えるプリント配線板の製造方法であって、導電性ペーストと導体層との親和性が、導電性ペーストとシード層との親和性よりも高いことである。   The third feature of the present invention is that a first step of forming a circuit pattern comprising a seed layer and a first conductor circuit on a first main surface of a flexible first insulating layer, A second step of forming a via hole from the second main surface opposite to the first main surface of the insulating layer and exposing the seed layer to the bottom surface of the via hole, and a seed layer exposed to the bottom surface of the via hole A method for manufacturing a printed wiring board, comprising: a third step of depositing a conductor layer; and a fourth step of filling a conductive paste in a via hole whose conductor layer is exposed on the bottom surface. The affinity between the conductive paste and the conductor layer is higher than the affinity between the conductive paste and the seed layer.

本発明の第3の特徴において、第3の工程では、ビアホールの底面に表出したシード層の上に、導体層をめっきしてもよい。   In the third feature of the present invention, in the third step, a conductor layer may be plated on the seed layer exposed on the bottom surface of the via hole.

更に、第3の工程では、電解めっき法によって、ビアホールの底面に表出したシード層の上に導体層を選択的に析出させてもよい。   Furthermore, in the third step, a conductor layer may be selectively deposited on the seed layer exposed on the bottom surface of the via hole by electrolytic plating.

また更に、第3工程で堆積する導体層の厚みは3μm以上5μm以下であることが望ましい。   Furthermore, the thickness of the conductor layer deposited in the third step is preferably 3 μm or more and 5 μm or less.

本発明の第3の特徴において、プリント配線板の製造方法は、第4の工程の前に、ビアホールの底面に表出した導体層の表面に凹凸加工を施す工程を更に備えていてもよい。   In the third feature of the present invention, the method for manufacturing a printed wiring board may further include a step of subjecting the surface of the conductor layer exposed to the bottom surface of the via hole to an unevenness process before the fourth step.

本発明の第4の特徴は、第3の特徴に関わるプリント配線板の製造方法によって製造されたプリント配線板を用意し、第2の導体回路が形成された第2の絶縁層の第1の主表面を第1の絶縁層の第2の主表面に接着層を介して重ね合わせ、第1の絶縁層及び第2の絶縁層を加熱して、接着層を硬化させることにより第1の絶縁層と第2の絶縁層を接合すると同時に、導電性ペーストを硬化させる多層プリント配線板の製造方法であることを要旨とする。   According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a printed wiring board manufactured by the method for manufacturing a printed wiring board related to the third characteristic, and the first insulating layer formed with the second conductor circuit is provided with the first insulating layer. The main surface is superposed on the second main surface of the first insulating layer via the adhesive layer, and the first insulating layer and the second insulating layer are heated to cure the adhesive layer, whereby the first insulation is achieved. The gist of the present invention is a method for producing a multilayer printed wiring board in which a conductive paste is cured at the same time as bonding a layer and a second insulating layer.

本発明のプリント配線板によれば、層間導通部が、ビアホールの底面において導体層に接触することにより、シード層に接触する場合に比べて、ビアホールの底面における接続信頼性を向上させることができる。   According to the printed wiring board of the present invention, the connection reliability at the bottom surface of the via hole can be improved compared to the case where the interlayer conductive portion contacts the conductor layer at the bottom surface of the via hole, as compared with the contact with the seed layer. .

本発明のプリント配線板の製造方法によれば、底面に導体層が表出したビアホールの中に導電性ペーストを充填することにより、導電性ペーストを、シード層よりも親和性が高い導体層に接触させることができる。よって、ビアホールの底面にてシード層と導電性ペーストとを接続させる場合に比べて、ビアホールの底面における接続信頼性を向上させることができる。   According to the printed wiring board manufacturing method of the present invention, the conductive paste is filled into a conductive layer having a higher affinity than the seed layer by filling the via hole whose conductive layer is exposed on the bottom surface with the conductive paste. Can be contacted. Therefore, the connection reliability at the bottom surface of the via hole can be improved as compared with the case where the seed layer and the conductive paste are connected at the bottom surface of the via hole.

本発明の第1の実施の形態に関わる多層プリント配線板の全体構成の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of the whole structure of the multilayer printed wiring board in connection with the 1st Embodiment of this invention. 図2(a)は第1のプリント配線板11の全体構成を示す断面図であり、図2(b)は第2のプリント配線板12の全体構成を示す断面図であり、図2(c)は第3のプリント配線板13の全体構成を示す断面図である。2A is a cross-sectional view showing the overall configuration of the first printed wiring board 11, and FIG. 2B is a cross-sectional view showing the overall configuration of the second printed wiring board 12, and FIG. ) Is a cross-sectional view showing the overall configuration of the third printed wiring board 13. 図3(a)〜図3(h)は、図1に示す多層プリント配線板の製造方法における主要な工程を示す断面図であり、図1の一点鎖線Gで囲んだ部分を示している。FIG. 3A to FIG. 3H are cross-sectional views showing main steps in the method for manufacturing the multilayer printed wiring board shown in FIG. 1, and show a portion surrounded by a one-dot chain line G in FIG.

以下図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。図面の記載において同一部分には同一符号を付している。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In the description of the drawings, the same parts are denoted by the same reference numerals.

先ず、図1及び図2(a)〜図2(c)を参照して、本発明の実施の形態に関わる多層プリント配線板の全体構成を説明する。図1に示す多層プリント配線板は、図2(a)に示す第1のプリント配線板11と、図2(b)に示す第2のプリント配線板12と、図2(c)に示す第3のプリント配線板13とを備える。第3のプリント配線板13の上に、第2のプリント配線板12が積層され、第2のプリント配線板12の上に第1のプリント配線板11が積層されている。   First, an overall configuration of a multilayer printed wiring board according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2A to 2C. The multilayer printed wiring board shown in FIG. 1 includes a first printed wiring board 11 shown in FIG. 2A, a second printed wiring board 12 shown in FIG. 2B, and a second printed wiring board shown in FIG. 3 printed wiring boards 13. A second printed wiring board 12 is laminated on the third printed wiring board 13, and a first printed wiring board 11 is laminated on the second printed wiring board 12.

第1のプリント配線板11は、可撓性を有する第1の絶縁層21aと、第1の絶縁層21aの第1の主表面に配置されたシード層22aと、シード層22aの上に配置された第1の導体回路23aと、第1の絶縁層21aを貫通するビアホールの底面に表出したシード層22aの上に配置された導体層28aと、ビアホールの中に埋め込まれた層間導通部24aと、第1の絶縁層21aの第2の主表面に配置された接着層25aとを備える。   The first printed wiring board 11 is disposed on the first insulating layer 21a having flexibility, the seed layer 22a disposed on the first main surface of the first insulating layer 21a, and the seed layer 22a. First conductor circuit 23a formed, conductor layer 28a disposed on seed layer 22a exposed on the bottom surface of the via hole penetrating first insulating layer 21a, and interlayer conductive portion embedded in the via hole 24a and an adhesive layer 25a disposed on the second main surface of the first insulating layer 21a.

同様に、第2のプリント配線板12は、可撓性を有する第2の絶縁層21bと、第2の絶縁層21bの第1の主表面に配置されたシード層22bと、シード層22bの上に配置された第2の導体回路23bと、第2の絶縁層21bを貫通するビアホールの底面に表出したシード層22bの上に配置された導体層28bと、ビアホールの中に埋め込まれた層間導通部24bと、第2の絶縁層21bの第2の主表面に配置された接着層25bとを備える。   Similarly, the second printed wiring board 12 includes a flexible second insulating layer 21b, a seed layer 22b disposed on the first main surface of the second insulating layer 21b, and a seed layer 22b. Embedded in the via hole, the second conductor circuit 23b disposed above, the conductor layer 28b disposed on the seed layer 22b exposed on the bottom surface of the via hole penetrating the second insulating layer 21b, and Interlayer conduction part 24b and adhesive layer 25b arranged on the second main surface of second insulating layer 21b are provided.

第3のプリント配線板13は、可撓性を有する第3の絶縁層21cと、第3の絶縁層21cの第1の主表面に配置されたシード層22cと、シード層22cの上に配置された第3の導体回路23cとを備える。   The third printed wiring board 13 is disposed on the flexible third insulating layer 21c, the seed layer 22c disposed on the first main surface of the third insulating layer 21c, and the seed layer 22c. Third conductor circuit 23c.

第1の絶縁層21aの第2の主表面と第2の絶縁層21bの第1の主表面とは、接着層25aを介して接着され、第2の絶縁層21bの第2の主表面と第3の絶縁層21cの第1の主表面とは、接着層25bを介して接着されている。第2の導体回路23bは、導体層28aと同じ金属成分を含有し、層間導通部24aに接触している。同様にして、第3の導体回路23cは、導体層28bと同じ金属成分を含有し、層間導通部24bに接触している。   The second main surface of the first insulating layer 21a and the first main surface of the second insulating layer 21b are bonded via an adhesive layer 25a, and the second main surface of the second insulating layer 21b The third insulating layer 21c is bonded to the first main surface via an adhesive layer 25b. The second conductor circuit 23b contains the same metal component as that of the conductor layer 28a and is in contact with the interlayer conductive portion 24a. Similarly, the third conductor circuit 23c contains the same metal component as the conductor layer 28b and is in contact with the interlayer conductive portion 24b.

層間導通部24aと導体層28aとの親和性は、層間導通部24aとシード層22aとの親和性よりも高く、層間導通部24aは、ビアホールの底面において、シード層22aに比べて親和性が高い導体層28aに接触している。同様に、層間導通部24bと導体層28bとの親和性は、層間導通部24bとシード層22bとの親和性よりも高く、層間導通部24bは、ビアホールの底面において、シード層22bに比べて親和性が高い導体層28bに接触している。   The affinity between the interlayer conductive portion 24a and the conductor layer 28a is higher than the affinity between the interlayer conductive portion 24a and the seed layer 22a. The interlayer conductive portion 24a has a higher affinity than the seed layer 22a at the bottom of the via hole. It is in contact with the high conductor layer 28a. Similarly, the affinity between the interlayer conductive portion 24b and the conductor layer 28b is higher than the affinity between the interlayer conductive portion 24b and the seed layer 22b, and the interlayer conductive portion 24b is lower at the bottom surface of the via hole than the seed layer 22b. It is in contact with the conductor layer 28b having high affinity.

導体層28aと層間導通部24aとの界面には、導体層28aと層間導通部24aとの合金からなる合金層27aが介在する。同様に、導体層28bと層間導通部24bとの界面には、導体層28bと層間導通部24bとの合金からなる合金層27bが介在する。   An alloy layer 27a made of an alloy of the conductor layer 28a and the interlayer conductive portion 24a is interposed at the interface between the conductor layer 28a and the interlayer conductive portion 24a. Similarly, an alloy layer 27b made of an alloy of the conductor layer 28b and the interlayer conductive portion 24b is interposed at the interface between the conductor layer 28b and the interlayer conductive portion 24b.

層間導通部24a、24bは、ニッケル、銀、銅から選択される少なくとも1種類の低電気抵抗の金属粒子と、錫、ビスマス、インジウム、鉛から選択される少なくとも1種類の低融点金属粒子を含む導電性ペーストを加熱して硬化させたものである。   The interlayer conductive portions 24a and 24b include at least one kind of low electrical resistance metal particles selected from nickel, silver and copper and at least one kind of low melting point metal particles selected from tin, bismuth, indium and lead. The conductive paste is heated and cured.

導体層28a、28bに含有される金属成分は、銅、銀、金から選択される少なくとも1種類の低電気抵抗金属である。導体層28aと層間導通部24aとの界面に介在する合金層27aは、導体層28a中の低電気抵抗金属と、導電性ペースト(層間導通部24a)中の低融点金属との合金からなる。導体層28bと層間導通部24bとの界面に介在する合金層27bは、導体層28b中の低電気抵抗金属と、導電性ペースト(層間導通部24b)中の低融点金属との合金からなる。   The metal component contained in the conductor layers 28a and 28b is at least one kind of low electrical resistance metal selected from copper, silver, and gold. The alloy layer 27a interposed at the interface between the conductor layer 28a and the interlayer conductive portion 24a is made of an alloy of a low electrical resistance metal in the conductor layer 28a and a low melting point metal in the conductive paste (interlayer conductive portion 24a). The alloy layer 27b interposed at the interface between the conductor layer 28b and the interlayer conductive portion 24b is made of an alloy of a low electrical resistance metal in the conductor layer 28b and a low melting point metal in the conductive paste (interlayer conductive portion 24b).

第2の導体回路23b及び導体層28aに共通して含有される金属成分は、銅、銀、金から選択される少なくとも1種類の低電気抵抗金属である。第3の導体回路23c及び導体層27bに共通して含有される金属成分は、銅、銀、金から選択される少なくとも1種類の低電気抵抗金属である。また、第1の導体回路23a、第2の導体回路23b、及び第3の導体回路23cは、同じ金属成分を含有する。   The metal component contained in common in the second conductor circuit 23b and the conductor layer 28a is at least one low electrical resistance metal selected from copper, silver, and gold. The metal component contained in common in the third conductor circuit 23c and the conductor layer 27b is at least one low electrical resistance metal selected from copper, silver, and gold. The first conductor circuit 23a, the second conductor circuit 23b, and the third conductor circuit 23c contain the same metal component.

シード層22a、22b、22cの材料には、ニッケル、クロム、チタン、タングステン、チタンとタングステンの合金から選択される少なくとも1種類の金属が含まれる。シード層22a、22b、22cは、第1の絶縁層21a、第2の絶縁層21b及び第3の絶縁層21cの第1の主表面の表面粗さを吸収する。これにより、第1の導体回路23a、第2の導体回路23b、及び第3の導体回路23cの平坦性が向上し、電気的特性が良くなる。また、複数のプリント配線板を積層した際の平坦性も向上する。また、シード層22a、22b、22cは、比較的に硬度の高い材質で形成されているため、第1の導体回路23a、第2の導体回路23b、及び第3の導体回路23cの厚さ方向の変形を抑制することができる。また、第1の絶縁層21aと第1の導体回路23aの間、及び第2の絶縁層21bと第2の導体回路23bの間の密着強度を高めることができる。   The material of the seed layers 22a, 22b, and 22c includes at least one metal selected from nickel, chromium, titanium, tungsten, and an alloy of titanium and tungsten. The seed layers 22a, 22b, and 22c absorb the surface roughness of the first main surface of the first insulating layer 21a, the second insulating layer 21b, and the third insulating layer 21c. Thereby, the flatness of the first conductor circuit 23a, the second conductor circuit 23b, and the third conductor circuit 23c is improved, and the electrical characteristics are improved. Moreover, the flatness at the time of laminating | stacking a some printed wiring board also improves. Further, since the seed layers 22a, 22b, and 22c are formed of a material having a relatively high hardness, the thickness direction of the first conductor circuit 23a, the second conductor circuit 23b, and the third conductor circuit 23c is determined. Can be suppressed. Further, the adhesion strength between the first insulating layer 21a and the first conductor circuit 23a and between the second insulating layer 21b and the second conductor circuit 23b can be increased.

図1及び図2(a)〜図2(c)には図示しないが、導体層28aと層間導通部24aとの界面、及び導体層28bと層間導通部24bとの界面はそれぞれ凹凸形状を有していてもよい。具体的には、ビアホールの底面に表出した導体層28a、28bに対して、レーザなどを照射してダメージを加える、等の粗化処理により形成される微細な凹凸形状である。例えば、ビアホールの底面の算術平均粗さRaを0.1〜0.8μm、好ましくは0.1〜0.5μmとすればよい。   Although not shown in FIGS. 1 and 2A to 2C, the interface between the conductor layer 28a and the interlayer conductive portion 24a and the interface between the conductor layer 28b and the interlayer conductive portion 24b have concavo-convex shapes. You may do it. Specifically, it is a fine concavo-convex shape formed by a roughening process such as irradiating a laser or the like to the conductor layers 28a and 28b exposed on the bottom surface of the via hole. For example, the arithmetic average roughness Ra of the bottom surface of the via hole may be 0.1 to 0.8 μm, preferably 0.1 to 0.5 μm.

図1に示す多層プリント配線板は、第1の導体回路23a、第2の導体回路23b、及び第3の導体回路23cの形状を任意に設定したり、ビアホールを任意の位置や層に配置したりすることができる。よって、図1に示す多層プリント配線板の構成は一例であって、導体回路23a〜23cの形状や位置、及び層間導通部24a、24bの位置を変更することができる。   In the multilayer printed wiring board shown in FIG. 1, the shapes of the first conductor circuit 23a, the second conductor circuit 23b, and the third conductor circuit 23c are arbitrarily set, and via holes are arranged at arbitrary positions and layers. Can be. Therefore, the configuration of the multilayer printed wiring board shown in FIG. 1 is an example, and the shapes and positions of the conductor circuits 23a to 23c and the positions of the interlayer conductive portions 24a and 24b can be changed.

次に、図3(a)〜図3(h)を参照して、図1に示す多層プリント配線板の製造方法における主要な工程を説明する。なお、図3(a)〜図3(h)は、図1の一点鎖線Gで囲んだ部分の製造工程を示している。第1のプリント配線板11、第2のプリント配線板12、及び第3のプリント配線板13は、ほぼ同じ方法によって製造することができる。ここでは、第1のプリント配線板11を例にとり、説明する。   Next, with reference to FIGS. 3A to 3H, main steps in the method for manufacturing the multilayer printed wiring board shown in FIG. 1 will be described. 3A to 3H show a manufacturing process of a portion surrounded by a one-dot chain line G in FIG. The first printed wiring board 11, the second printed wiring board 12, and the third printed wiring board 13 can be manufactured by substantially the same method. Here, the first printed wiring board 11 will be described as an example.

先ず、図3(b)に示すように、可撓性を有する第1の絶縁層21aの第1の主表面に、シード層22a及び第1の導体回路23aからなる回路パターンCPを形成する(第1の工程)。具体的には、図3(a)に示すように、ポリイミドフィルム上にシード層22aを無電解めっき、スパッタ、蒸着により形成し、電解銅めっき23aを成長させた片面銅張板(CCL)を用意する。   First, as shown in FIG. 3B, a circuit pattern CP including a seed layer 22a and a first conductor circuit 23a is formed on the first main surface of the flexible first insulating layer 21a (see FIG. 3B). First step). Specifically, as shown in FIG. 3A, a single-sided copper-clad plate (CCL) in which a seed layer 22a is formed on a polyimide film by electroless plating, sputtering, and vapor deposition, and an electrolytic copper plating 23a is grown. prepare.

そして、電解銅めっき23aの上にフォトリソグラフィにより所望の回路パターンに対応するエッチングレジストパターン(エッチングマスク)を形成する。その後、このレジストパターンをエッチングマスクとして、電解銅めっき23a及びシード層22aを選択的に除去する。電解銅めっき23aは、塩化第二鉄、塩化第二銅、硫酸過水、硫酸、或いは塩酸を主成分とする薬液によるウェットエッチングによって除去する。シード層22aは、硝酸過水系の薬液によるウェットエッチングによって除去する。その後、レジストパターンを除去することにより、図3(b)に示すように、シード層22a及び第1の導体回路23aからなる回路パターンCPが形成される。   Then, an etching resist pattern (etching mask) corresponding to a desired circuit pattern is formed on the electrolytic copper plating 23a by photolithography. Thereafter, the electrolytic copper plating 23a and the seed layer 22a are selectively removed using the resist pattern as an etching mask. The electrolytic copper plating 23a is removed by wet etching using a chemical solution mainly composed of ferric chloride, cupric chloride, sulfuric acid / hydrogen peroxide, sulfuric acid, or hydrochloric acid. The seed layer 22a is removed by wet etching using a nitric acid / hydrogen peroxide based chemical. Thereafter, by removing the resist pattern, a circuit pattern CP including the seed layer 22a and the first conductor circuit 23a is formed as shown in FIG.

成膜の厚さばらつきの抑制、及び微細な回路パターン形成を考慮すると、シード層22aの膜厚は0.01〜3μmの範囲が望ましく、第1の導体回路23aの膜厚は3〜20μmの範囲が望ましい。また、第1の絶縁層21aとして、厚さが12〜50μmのポリイミド樹脂、或いは液晶ポリマーなどのプラスチックフィルムを使用する。   Considering suppression of film thickness variation and fine circuit pattern formation, the seed layer 22a preferably has a thickness of 0.01 to 3 μm, and the first conductor circuit 23a has a thickness of 3 to 20 μm. A range is desirable. Further, as the first insulating layer 21a, a polyimide film having a thickness of 12 to 50 μm or a plastic film such as a liquid crystal polymer is used.

次に、図3(c)に示すように、第1の絶縁層21aの第1の主表面に対向する第2の主表面に、25μm厚のエポキシ系の熱硬化性樹脂フィルムを加熱圧着により貼り付け、接着層25aを形成する。接着層25aの上に、25μm厚のポリイミド系の熱硬化性樹脂フィルムを加熱圧着により貼り付け、樹脂フィルム26aを形成する。加熱圧着には、真空ラミネータが用いられ、減圧雰囲気中において、熱硬化性樹脂フィルムの硬化温度以下の温度、例えば100℃〜140℃で、約0.25MPaの圧力で押圧して貼り合わされる。   Next, as shown in FIG. 3C, an epoxy-based thermosetting resin film having a thickness of 25 μm is applied to the second main surface opposite to the first main surface of the first insulating layer 21a by thermocompression bonding. Affixing and forming the adhesive layer 25a. On the adhesive layer 25a, a polyimide thermosetting resin film having a thickness of 25 μm is attached by thermocompression bonding to form a resin film 26a. For thermocompression bonding, a vacuum laminator is used, and in a reduced pressure atmosphere, the film is pressed and bonded at a temperature not higher than the curing temperature of the thermosetting resin film, for example, 100 ° C. to 140 ° C. at a pressure of about 0.25 MPa.

接着層25aの素材としては、エポキシ系の熱硬化性樹脂に代えてアクリル系樹脂などの接着材、或いは熱可塑性ポリイミドに代表される熱可塑性接着材を使用することもできる。また、接着層25aは、フィルム状素材に代えて例えばワニス状の樹脂接着剤を第1の絶縁層21aの第2の主表面に塗布して形成することもできる。   As a material for the adhesive layer 25a, an adhesive such as an acrylic resin or a thermoplastic adhesive represented by thermoplastic polyimide can be used instead of the epoxy thermosetting resin. Further, the adhesive layer 25a can be formed by applying, for example, a varnish-like resin adhesive to the second main surface of the first insulating layer 21a instead of the film-like material.

樹脂フィルム26aは、ポリイミドに代えてPET(ポリエチレンテレフタレート)やPEN(ポリエチレンナフタレート)などのプラスチックフィルムを使用してもよく、接着層25aの表面にUV照射によって接着や剥離が可能なフィルムを被着形成してもよい。   As the resin film 26a, a plastic film such as PET (polyethylene terephthalate) or PEN (polyethylene naphthalate) may be used instead of polyimide, and the surface of the adhesive layer 25a is covered with a film that can be bonded or peeled off by UV irradiation. You may form.

図3(d)に示すように、第1の絶縁層21aの第2の主表面からビアホールVHを形成して、ビアホールVHの底面BF1にシード層22aを表出させる(第2の工程)。具体的には、第1の絶縁層21a、接着層25a、及び樹脂フィルム26aを貫通するビアホールVHを形成する。ビアホールVHは、第1の絶縁層21aの第2の主表面側から、第1の導体回路23aが形成された位置に形成される。よって、ビアホールVHの底面BF1には、シード層22aが表出する。   As shown in FIG. 3D, a via hole VH is formed from the second main surface of the first insulating layer 21a, and the seed layer 22a is exposed on the bottom surface BF1 of the via hole VH (second step). Specifically, a via hole VH penetrating the first insulating layer 21a, the adhesive layer 25a, and the resin film 26a is formed. The via hole VH is formed from the second main surface side of the first insulating layer 21a at a position where the first conductor circuit 23a is formed. Therefore, the seed layer 22a is exposed on the bottom surface BF1 of the via hole VH.

具体的には、第1の絶縁層21a、接着層25a、及び樹脂フィルム26aを第2の主表面側から貫通するようにYAGレ−ザで穿孔することによって、直径100μmのビアホールVHを形成する。その後、穴開け加工時に発生したスミアを除去するために、四フッ化炭素(CF)及び酸素(O)の混合ガスによるプラズマデスミア処理を施す。 Specifically, a via hole VH having a diameter of 100 μm is formed by drilling the first insulating layer 21a, the adhesive layer 25a, and the resin film 26a with a YAG laser so as to penetrate from the second main surface side. . Thereafter, in order to remove smear generated during drilling, plasma desmear treatment with a mixed gas of carbon tetrafluoride (CF 4 ) and oxygen (O 2 ) is performed.

ビアホールVHは、炭酸ガスレーザやエキシマレーザなどによるレーザ加工、或いはドリル加工や化学的エッチングによって形成することもできる。   The via hole VH can also be formed by laser processing using a carbon dioxide laser or excimer laser, drill processing, or chemical etching.

また、プラズマデスミア処理は、使用ガスの種類として、CF及びO混合ガスに限定されず、アルゴン(Ar)などの他の不活性ガスを使用することもできるし、ドライ処理に代えて、薬液によるウェットデスミア処理を適用してもよい。 In addition, the plasma desmear process is not limited to the mixed gas of CF 4 and O 2 as the type of gas used, and other inert gas such as argon (Ar) can be used. You may apply the wet desmear process by a chemical | medical solution.

(ニ)ビアホールVHの底面BF1に表出したシード層22aの上に、導体層28aを堆積する(第3の工程)。具体的には、ビアホールVHの底面BF1に表出したシード層22aの上に、導体層28aをめっきする。例えば、電解めっき法によって、ビアホールVHの底面BF1に表出したシード層22aの上に導体層28aを選択的に析出させ、シード層22a全体を被覆すればよい。この時、電解めっきに必要な給電は第1の導体回路23aから供給し、且つ、第1の導体回路23aに不要なめっきがされないように、図示しないめっきレジストで第1の導体回路23aを被覆し、めっき処理後に剥離する。なお、第3の工程において、めっきの代わりに、スパッタ、蒸着などの方法により導体層28aを堆積してもかまわない。   (D) A conductor layer 28a is deposited on the seed layer 22a exposed on the bottom surface BF1 of the via hole VH (third step). Specifically, the conductor layer 28a is plated on the seed layer 22a exposed on the bottom surface BF1 of the via hole VH. For example, the conductor layer 28a may be selectively deposited on the seed layer 22a exposed on the bottom surface BF1 of the via hole VH by electrolytic plating to cover the entire seed layer 22a. At this time, electric power necessary for electrolytic plating is supplied from the first conductor circuit 23a, and the first conductor circuit 23a is covered with a plating resist (not shown) so that unnecessary plating is not applied to the first conductor circuit 23a. And peeled off after plating. In the third step, the conductor layer 28a may be deposited by a method such as sputtering or vapor deposition instead of plating.

第3工程で堆積する導体層28aの厚さが薄すぎると、後述する合金層27aの形成において、層間導通部24aから導体層28aへ拡散する低融点金属が導体層28aを通過してシード層22aに達してしまう。これにより、シード層22aと層間導通部24a内の低融点金属が接触することになり、接続信頼性が低下してしまう。一方、第3工程で堆積する導体層28aの厚さが厚すぎると、コストが高くなる。したがって、第3工程で堆積する導体層28aの厚みは、3〜5μmが望ましい。   If the thickness of the conductor layer 28a deposited in the third step is too thin, the low melting point metal diffusing from the interlayer conductive portion 24a to the conductor layer 28a passes through the conductor layer 28a in the formation of the alloy layer 27a described later, and passes through the conductor layer 28a. 22a is reached. As a result, the seed layer 22a and the low melting point metal in the interlayer conductive portion 24a come into contact with each other, and the connection reliability is lowered. On the other hand, if the thickness of the conductor layer 28a deposited in the third step is too thick, the cost increases. Therefore, the thickness of the conductor layer 28a deposited in the third step is desirably 3 to 5 μm.

底面BF2に導体層28aが表出したビアホールVHの中に導電性ペースト31aを充填する(第4の工程)。具体的には、ビアホールVHに、スクリーン印刷法により導電性ペースト31aをそれぞれの空間を埋め尽くすまで充填する。導電性ペースト31aは、ニッケル、銀、銅から選択される少なくとも1種類の低電気抵抗の金属粒子と、錫、ビスマス、インジウム、鉛から選択される少なくとも1種類の低融点金属粒子とを含み、エポキシ樹脂を主成分とするバインダ成分を混合したペーストで構成される。導電性ペースト31aは、接着層25aの硬化温度程度の低温で、金属粒子がその粒子同士で拡散接合したり、導体層28aや第2の導体回路23bと拡散接合したりして合金化し易い金属組成を用いる。   The conductive paste 31a is filled into the via hole VH in which the conductor layer 28a is exposed on the bottom surface BF2 (fourth step). Specifically, the via hole VH is filled with the conductive paste 31a by screen printing until each space is filled. The conductive paste 31a includes at least one low electrical resistance metal particle selected from nickel, silver, and copper, and at least one low melting point metal particle selected from tin, bismuth, indium, and lead. It is composed of a paste in which a binder component mainly composed of an epoxy resin is mixed. The conductive paste 31a is a metal that is easy to be alloyed at a low temperature, such as the curing temperature of the adhesive layer 25a, with metal particles being diffusion bonded to each other or diffusion bonded to the conductor layer 28a or the second conductor circuit 23b. Use composition.

なお、本発明の実施の形態では、上記した第4の工程の前に、ビアホールVHの底面BF2に表出した導体層28aの表面に凹凸加工を施す工程を実施してもよい。具体的には、ビアホールVHの底面BF2に表出した導体層28aに対して、レーザなどを照射してダメージを加える、等の粗化処理により微細な凹凸形状を形成する。例えば、ビアホールVHの底面BF2の算術平均粗さRaを0.1〜0.8μm、好ましくは0.1〜0.5μmとすればよい。   In the embodiment of the present invention, a step of subjecting the surface of the conductor layer 28a exposed to the bottom surface BF2 of the via hole VH to an unevenness process may be performed before the fourth step. Specifically, a fine uneven shape is formed by a roughening process such as irradiating a laser or the like to the conductor layer 28a exposed on the bottom surface BF2 of the via hole VH. For example, the arithmetic average roughness Ra of the bottom surface BF2 of the via hole VH may be 0.1 to 0.8 μm, preferably 0.1 to 0.5 μm.

その後、樹脂フィルム26aを剥離する。その結果、印刷充填した導電性ペースト31aの先端(下面)の部分は、剥離した樹脂フィルム26aの厚さ寸法分の高さをもって接着層25aの下面側に突出した状態で露出される。このように、樹脂フィルム26aは、その厚さを適宜選定することによって、後に層間導通部24aとなる導電性ペースト31aの突出高さを調整する。以上の工程を経て、第1のプリント配線板11となる部分が形成される。   Thereafter, the resin film 26a is peeled off. As a result, the tip (lower surface) portion of the printed and filled conductive paste 31a is exposed with a height corresponding to the thickness dimension of the peeled resin film 26a and protruding toward the lower surface side of the adhesive layer 25a. Thus, the resin film 26a adjusts the protrusion height of the conductive paste 31a that will later become the interlayer conductive portion 24a by appropriately selecting the thickness thereof. Through the above steps, a portion to be the first printed wiring board 11 is formed.

前述したように、図2(b)の第2のプリント配線板12の製造工程は、第1のプリント配線板11と同一工程であるため、その説明及びその図示は省略する。また、図2(c)の第3のプリント配線板13の製造工程は、図3(b)に示した第1の工程と同じであり、説明及び図示を省略する。   As described above, the manufacturing process of the second printed wiring board 12 in FIG. 2B is the same as that of the first printed wiring board 11, and the description and illustration thereof are omitted. Further, the manufacturing process of the third printed wiring board 13 in FIG. 2C is the same as the first process shown in FIG.

次に、第1のプリント配線板11、第2のプリント配線板12、及び第3のプリント配線板13を重ね合わせる。具体的には、図3(g)に示すように、第2の導体回路23bが形成された第2の絶縁層21bの第1の主表面を第1の絶縁層21aの第2の主表面に接着層25aを介して重ね合わせる。なお、図面には、第1のプリント配線板11、第2のプリント配線板12の一部分を示し、その他の部分の図示を省略している。   Next, the first printed wiring board 11, the second printed wiring board 12, and the third printed wiring board 13 are overlaid. Specifically, as shown in FIG. 3G, the first main surface of the second insulating layer 21b on which the second conductor circuit 23b is formed is the second main surface of the first insulating layer 21a. Are overlaid through the adhesive layer 25a. In the drawing, a part of the first printed wiring board 11 and the second printed wiring board 12 is shown, and the other parts are not shown.

そして、図3(h)に示すように、接着層25a、25b、及び導電性ペースト31a、31bの硬化温度より低温で加熱して、第1のプリント配線板11、第2のプリント配線板12、及び第3のプリント配線板13の仮留めを行う。この時、導電性ペースト31aの下端が第2の導体回路23bに重なるように、位置あわせを行う。同様に、図示は省略するが、導電性ペースト31bの下端が第3の導体回路23cに重なるように、位置あわせを行う。   Then, as shown in FIG. 3 (h), the first printed wiring board 11 and the second printed wiring board 12 are heated at a temperature lower than the curing temperature of the adhesive layers 25a and 25b and the conductive pastes 31a and 31b. And the 3rd printed wiring board 13 is temporarily fixed. At this time, alignment is performed so that the lower end of the conductive paste 31a overlaps the second conductor circuit 23b. Similarly, although illustration is omitted, alignment is performed so that the lower end of the conductive paste 31b overlaps the third conductor circuit 23c.

仮留めで積層された第1のプリント配線板11、第2のプリント配線板12、及び第3のプリント配線板13を、真空キュアプレス装置を用いて、加熱温度150℃〜200℃で、1kPa以下の減圧雰囲気中で一括して加熱圧着する。この方法を一括積層法という。加熱圧着の際に、接着層25aが熱硬化されて、第1の絶縁層21aと第2の絶縁層21bが接合され、接着層25bが熱硬化されて、第2の絶縁層21bと第3の絶縁層21cが接合される。また、導電性ペースト31a、31bも熱硬化されて焼結体、すなわち層間導通部24a、24bが形成される。   The 1st printed wiring board 11, the 2nd printed wiring board 12, and the 3rd printed wiring board 13 which were laminated | stacked by temporary fixing are 1 kPa at the heating temperature of 150 to 200 degreeC using a vacuum curing press apparatus. The thermocompression bonding is performed collectively in the following reduced pressure atmosphere. This method is called a batch lamination method. At the time of thermocompression bonding, the adhesive layer 25a is thermally cured, the first insulating layer 21a and the second insulating layer 21b are joined, the adhesive layer 25b is thermally cured, and the second insulating layer 21b and the third insulating layer 21b. Insulating layer 21c is joined. In addition, the conductive pastes 31a and 31b are also thermally cured to form sintered bodies, that is, interlayer conductive portions 24a and 24b.

また、これと同時に、導体層28aと層間導通部24aとの界面に、導体層28aと層間導通部24aとの合金からなる合金層27aが形成される。同様に、導体層28bと層間導通部24bとの界面に、導体層28bと層間導通部24bとの合金からなる合金層27bが形成される。このようにして、図1に示した多層プリント配線板が完成する。   At the same time, an alloy layer 27a made of an alloy of the conductor layer 28a and the interlayer conductive portion 24a is formed at the interface between the conductor layer 28a and the interlayer conductive portion 24a. Similarly, an alloy layer 27b made of an alloy of the conductor layer 28b and the interlayer conductive portion 24b is formed at the interface between the conductor layer 28b and the interlayer conductive portion 24b. In this way, the multilayer printed wiring board shown in FIG. 1 is completed.

以上説明したように、本発明の実施の形態によれば、以下の作用効果が得られる。   As described above, according to the embodiment of the present invention, the following effects can be obtained.

層間導通部24a、24bが、ビアホールVHの底面BF2において、シード層22a、22bに比べて親和性が高い導体層28a、28bにそれぞれ接触することにより、シード層22a、22bに接触する場合に比べて、ビアホールVHの底面BF2における接続信頼性を向上させることができる。   Compared to the case where the interlayer conductive portions 24a and 24b are in contact with the conductor layers 28a and 28b having higher affinity than the seed layers 22a and 22b, respectively, on the bottom surface BF2 of the via hole VH, thereby contacting the seed layers 22a and 22b. Thus, the connection reliability at the bottom surface BF2 of the via hole VH can be improved.

導体層28a、28bと層間導通部24a、24bとの界面には、導体層28a、28bと層間導通部24a、24bとの合金からなる合金層27a、27bが介在する。これにより、導体層28a、28bと層間導通部24a、24bの間の接続信頼性が向上し、導体層28a、28bと層間導通部24a、24bの間の電気抵抗も低下する。また、ビアホールVHの底面BF2に表出した導体層28a、28bの周囲にはシード層22a、22bが配置されているため、合金層27a、27bの形成において、導電性ペースト31a、31b(層間導通部24a、24b)内の金属成分が第1の導体回路23a、第2の導体回路23bへ過度に拡散することを抑制できる。これにより、例えば、層間導通部の脆性が増加して強度不足になることを抑制することができる。   Alloy layers 27a and 27b made of an alloy of the conductor layers 28a and 28b and the interlayer conductive portions 24a and 24b are interposed at the interfaces between the conductor layers 28a and 28b and the interlayer conductive portions 24a and 24b. Thereby, the connection reliability between the conductor layers 28a and 28b and the interlayer conductive portions 24a and 24b is improved, and the electrical resistance between the conductor layers 28a and 28b and the interlayer conductive portions 24a and 24b is also reduced. In addition, since the seed layers 22a and 22b are arranged around the conductor layers 28a and 28b exposed on the bottom surface BF2 of the via hole VH, in forming the alloy layers 27a and 27b, the conductive pastes 31a and 31b (interlayer conduction) It is possible to suppress excessive diffusion of the metal components in the parts 24a and 24b) to the first conductor circuit 23a and the second conductor circuit 23b. Thereby, it can suppress that the brittleness of an interlayer conduction | electrical_connection part increases and it becomes intensity | strength insufficient, for example.

層間導通部24a、24bは、ニッケル、銀、銅から選択される少なくとも1種類の低電気抵抗の金属粒子と、錫、ビスマス、インジウム、鉛から選択される少なくとも1種類の低融点金属粒子を含む導電性ペーストを加熱して硬化させたものである。導電性ペーストを加熱することで導電性ペーストを硬化すると同時に、導体層28aとの界面において合金が形成される。これにより導体層28aとの接続信頼性が向上する。   The interlayer conductive portions 24a and 24b include at least one kind of low electrical resistance metal particles selected from nickel, silver and copper and at least one kind of low melting point metal particles selected from tin, bismuth, indium and lead. The conductive paste is heated and cured. The conductive paste is cured by heating the conductive paste, and at the same time, an alloy is formed at the interface with the conductor layer 28a. Thereby, the connection reliability with the conductor layer 28a is improved.

導体層28a、28bと層間導通部24a、24bとの界面に存在する合金層27a、27bが、導体層28a、28bに含まれる低電気抵抗金属と、導電性ペースト31a、31b(層間導通部24a、24b)に含まれる低融点金属との合金からなる。これにより、導体層28a、28bと層間導通部24a、24bの接続が強固となり、且つ電気抵抗を低くすることができるので、接続信頼性が向上する。   The alloy layers 27a and 27b existing at the interface between the conductor layers 28a and 28b and the interlayer conductive portions 24a and 24b are formed of the low electrical resistance metal contained in the conductor layers 28a and 28b and the conductive pastes 31a and 31b (interlayer conductive portions 24a). 24b) and an alloy with a low melting point metal. As a result, the connection between the conductor layers 28a and 28b and the interlayer conductive portions 24a and 24b is strengthened and the electrical resistance can be lowered, so that the connection reliability is improved.

導体層28a、28bと層間導通部24a、24bとの界面は凹凸形状を有していてもよい。例えば、導体層28a、28bと層間導通部24a、24bとの界面の算術平均粗さRaを0.1〜0.8μm、好ましくは0.1〜0.5μmとすればよい。これにより、導体層28a、28bと層間導通部24a、24bの接触面積が増加し、接続信頼性が更に向上する。   The interface between the conductor layers 28a and 28b and the interlayer conductive portions 24a and 24b may have an uneven shape. For example, the arithmetic average roughness Ra of the interface between the conductor layers 28a and 28b and the interlayer conductive portions 24a and 24b may be 0.1 to 0.8 μm, preferably 0.1 to 0.5 μm. This increases the contact area between the conductor layers 28a and 28b and the interlayer conductive portions 24a and 24b, further improving the connection reliability.

第2の導体回路23bは、層間導通部24aに接触し、且つ導体層28aと同じ金属成分を含有する。これにより、層間導通部24aの材料として、導体層28a及び第2の導体回路23bに共通する材料との間の親和性を考慮すればいいので、材料選択の幅が広がる。   The second conductor circuit 23b is in contact with the interlayer conductive portion 24a and contains the same metal component as the conductor layer 28a. Thereby, as the material of the interlayer conductive portion 24a, it is only necessary to consider the affinity between the material common to the conductor layer 28a and the second conductor circuit 23b, so that the range of material selection is widened.

層間導通部24a、24bは、接着層25a、25bの硬化温度において硬化する導電性ペースト31a、31bから形成されている。接着層25a、25bを硬化させて第1の絶縁層21a、第2の絶縁層21b及び第3の絶縁層21cを接着する際に、同時に、導電性ペースト31a、31bを硬化させて層間導通部24a、24bを形成することができる。よって、多層プリント配線板の製造方法の簡略化に寄与する。また、接着層25a、25bの硬化と導電性ペースト31a、31bの硬化が一回の加熱で同時に達成される。   The interlayer conductive portions 24a and 24b are formed of conductive pastes 31a and 31b that are cured at the curing temperature of the adhesive layers 25a and 25b. When the adhesive layers 25a and 25b are cured to bond the first insulating layer 21a, the second insulating layer 21b, and the third insulating layer 21c, at the same time, the conductive pastes 31a and 31b are cured so that the interlayer conductive portion 24a and 24b can be formed. Therefore, it contributes to simplification of the manufacturing method of a multilayer printed wiring board. Further, the curing of the adhesive layers 25a and 25b and the curing of the conductive pastes 31a and 31b are simultaneously achieved by one heating.

第3の工程において、底面BF2に導体層28aが表出したビアホールVHの中に導電性ペースト31aを充填することにより、導電性ペースト31aを、シード層22aよりも親和性が高い導体層28aに接触させることができる。よって、ビアホールVHの底面BF2にてシード層22aと導電性ペースト31aとを接続させる場合に比べて、ビアホールVHの底面BF2における接続信頼性を向上させることができる。   In the third step, the conductive paste 31a is filled into the conductor layer 28a having higher affinity than the seed layer 22a by filling the via hole VH in which the conductor layer 28a is exposed on the bottom surface BF2 with the conductive paste 31a. Can be contacted. Therefore, the connection reliability at the bottom surface BF2 of the via hole VH can be improved as compared with the case where the seed layer 22a and the conductive paste 31a are connected at the bottom surface BF2 of the via hole VH.

第3の工程では、ビアホールVHの底面BF2に表出したシード層22aの上に、導体層28aをめっきする。これにより、導体層28aの厚さを容易に調整することができるので、良好な電気特性が得られる。   In the third step, the conductor layer 28a is plated on the seed layer 22a exposed on the bottom surface BF2 of the via hole VH. Thereby, since the thickness of the conductor layer 28a can be adjusted easily, a favorable electrical property is acquired.

第3の工程では、電解めっき法によって、ビアホールVHの底面BF2に表出したシード層22aの上に導体層28aを選択的に析出させる。シード層22a或いは第1の導体回路23aをカソード電極とした電解めっき法を実施すれば、シード層22aの上にだけ選択的に導体層28aをめっきできるので、製造工程を簡略化することができる。   In the third step, the conductor layer 28a is selectively deposited on the seed layer 22a exposed on the bottom surface BF2 of the via hole VH by electrolytic plating. If the electroplating method using the seed layer 22a or the first conductor circuit 23a as a cathode electrode is performed, the conductor layer 28a can be selectively plated only on the seed layer 22a, so that the manufacturing process can be simplified. .

第3工程で堆積する導体層28aの厚みは3μm以上5μm以下である。これにより、導電性ペースト31a内の低融点金属が導体層28aを通過してシード層22aまで拡散されることが無くなり、且つ、製造コストを低く抑えることができる。   The thickness of the conductor layer 28a deposited in the third step is 3 μm or more and 5 μm or less. Thereby, the low melting point metal in the conductive paste 31a does not pass through the conductor layer 28a and is diffused to the seed layer 22a, and the manufacturing cost can be kept low.

第4の工程の前に、ビアホールVHの底面BF2に表出した導体層28aの表面に凹凸加工を施す工程を実施してもよい。例えば、導体層28aと層間導通部24aとの界面の算術平均粗さRaを0.1〜0.8μm、好ましくは0.1〜0.5μmとすればよい。これにより、導体層28aと導電性ペースト31aの接触面積が増加し、接続信頼性が更に向上する。   Before the fourth step, a step of performing unevenness processing on the surface of the conductor layer 28a exposed on the bottom surface BF2 of the via hole VH may be performed. For example, the arithmetic average roughness Ra of the interface between the conductor layer 28a and the interlayer conductive portion 24a may be 0.1 to 0.8 μm, preferably 0.1 to 0.5 μm. As a result, the contact area between the conductor layer 28a and the conductive paste 31a increases, and the connection reliability is further improved.

絶縁層21a〜21cを加熱して接着層25a、25bを硬化させることにより絶縁層21a〜21cを接合すると同時に、導電性ペースト31a、31bを硬化させる。これにより、導電性ペースト31a、31bが加熱されて硬化すると同時に、導電性ペースト31a、31bと導体層28a、28bとの界面において合金が形成される。よって、導電性ペースト31a、31bと導体層28a、28bとの接続信頼性が向上する。また、接着層25a、25bの硬化と導電性ペースト31a、31bの硬化を同時に行うことができるので、製造方法を簡略化することができる。更に、導体層28a、28bの周囲にはシード層22a、22bが配置されているため、合金の形成において、導電性ペースト31a、31b内の金属成分が第1の導体回路23a及び第2の導体回路23bへ過度に拡散することを抑制できる。これにより、例えば、層間導通部の脆性が増加して強度不足になることを抑制することができる。   The insulating layers 21a to 21c are heated to cure the adhesive layers 25a and 25b, thereby bonding the insulating layers 21a to 21c and simultaneously curing the conductive pastes 31a and 31b. Thereby, the conductive pastes 31a and 31b are heated and cured, and at the same time, an alloy is formed at the interface between the conductive pastes 31a and 31b and the conductor layers 28a and 28b. Therefore, the connection reliability between the conductive pastes 31a and 31b and the conductor layers 28a and 28b is improved. Further, since the curing of the adhesive layers 25a and 25b and the curing of the conductive pastes 31a and 31b can be performed at the same time, the manufacturing method can be simplified. Furthermore, since the seed layers 22a and 22b are disposed around the conductor layers 28a and 28b, the metal components in the conductive pastes 31a and 31b are used as the first conductor circuit 23a and the second conductor in forming the alloy. It is possible to suppress excessive diffusion to the circuit 23b. Thereby, it can suppress that the brittleness of an interlayer conduction | electrical_connection part increases and it becomes intensity | strength insufficient, for example.

導電性ペースト31aは、接着層25aの硬化温度程度の低温で、金属粒子がその粒子同士で拡散接合したり、導体層28aや第2の導体回路23bと拡散接合したりして合金化し易い金属組成を用いる。これにより、バルクの金属やめっきによる層間接続と同等の接続信頼性を確保できる。なお、導電性ペースト31aは、熱伝導性にも優れているので、発生熱を外部へ熱伝導並びに放散させる効果を得ることもできる。   The conductive paste 31a is a metal that is easy to be alloyed at a low temperature, such as the curing temperature of the adhesive layer 25a, with metal particles being diffusion bonded to each other or diffusion bonded to the conductor layer 28a or the second conductor circuit 23b. Use composition. Thereby, connection reliability equivalent to the interlayer connection by bulk metal or plating can be secured. In addition, since the conductive paste 31a is also excellent in thermal conductivity, it is possible to obtain an effect of conducting and dissipating generated heat to the outside.

上記のように、本発明は、1つの実施形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。   As described above, the present invention has been described by way of one embodiment, but it should not be understood that the discussion and drawings that form part of this disclosure limit the present invention. From this disclosure, various alternative embodiments, examples and operational techniques will be apparent to those skilled in the art.

第1〜第3のプリント配線板11、12、13を積層した多層プリント配線板について説明したが、多層プリント配線板は、2層或いは4層以上の積層構造を有していてもよい。   Although the multilayer printed wiring board which laminated | stacked the 1st-3rd printed wiring boards 11, 12, and 13 was demonstrated, the multilayer printed wiring board may have a laminated structure of 2 layers or 4 layers or more.

21a 第1の絶縁層
21b 第2の絶縁層
22a シード層
23a 第1の導体回路
23b 第2の導体回路
24a 層間導通部
25a 接着層
27a 合金層
28a 導体層
31a 導電性ペースト
CP 回路パターン
BF1、BF2 底面
VH ビアホール
21a 1st insulating layer 21b 2nd insulating layer 22a seed layer 23a 1st conductor circuit 23b 2nd conductor circuit 24a interlayer conduction part 25a adhesive layer 27a alloy layer 28a conductor layer 31a conductive paste CP circuit pattern BF1, BF2 Bottom VH Via hole

Claims (12)

可撓性を有する第1の絶縁層と、
前記第1の絶縁層の第1の主表面に配置されたシード層と、
前記シード層の上に配置された第1の導体回路と、
前記第1の絶縁層を貫通するビアホールの底面に表出した前記シード層の上に配置された導体層と、
前記ビアホールの中に埋め込まれ、且つ前記ビアホールの底面に表出した前記導体層に接触する層間導通部と、を備え、
前記層間導通部と前記導体層との親和性は、前記層間導通部と前記シード層との親和性よりも高い
ことを特徴とするプリント配線板。
A first insulating layer having flexibility;
A seed layer disposed on a first main surface of the first insulating layer;
A first conductor circuit disposed on the seed layer;
A conductor layer disposed on the seed layer exposed on the bottom surface of the via hole penetrating the first insulating layer;
An interlayer conductive portion embedded in the via hole and in contact with the conductor layer exposed on the bottom surface of the via hole, and
The printed wiring board, wherein the affinity between the interlayer conductive portion and the conductor layer is higher than the affinity between the interlayer conductive portion and the seed layer.
前記導体層と前記層間導通部との界面には、前記導体層と前記層間導通部との合金からなる合金層が介在することを特徴とする請求項1に記載のプリント配線板。   The printed wiring board according to claim 1, wherein an alloy layer made of an alloy of the conductor layer and the interlayer conductive portion is interposed at an interface between the conductor layer and the interlayer conductive portion. 前記層間導通部は、ニッケル、銀、銅から選択される少なくとも1種類の低電気抵抗の金属粒子と、錫、ビスマス、インジウム、鉛から選択される少なくとも1種類の低融点金属粒子を含む導電性ペーストを加熱して硬化させたものであることを特徴とする請求項1又は2に記載のプリント配線板。   The interlayer conductive portion includes at least one type of low electrical resistance metal particles selected from nickel, silver, and copper and at least one type of low melting point metal particles selected from tin, bismuth, indium, and lead. The printed wiring board according to claim 1 or 2, wherein the paste is cured by heating. 前記導体層に含有される金属成分は、銅、銀、金から選択される少なくとも1種類の低電気抵抗金属であり、前記導体層と前記層間導通部との界面には、前記導体層中の低電気抵抗金属と、前記導電性ペースト中の低融点金属との合金からなる合金層が介在することを特徴とする請求項3に記載のプリント配線板。   The metal component contained in the conductor layer is at least one kind of low electrical resistance metal selected from copper, silver, and gold, and the interface between the conductor layer and the interlayer conductive portion is in the conductor layer. 4. The printed wiring board according to claim 3, wherein an alloy layer made of an alloy of a low electrical resistance metal and a low melting point metal in the conductive paste is interposed. 前記導体層と前記層間導通部との界面は凹凸形状を有することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載のプリント配線板。   The printed wiring board according to claim 1, wherein an interface between the conductor layer and the interlayer conductive portion has an uneven shape. 請求項1〜5のいずれか一項に記載のプリント配線板と、
前記第1の絶縁層の第1の主表面に対向する第2の主表面に接着された可撓性を有する第2の絶縁層と、
前記第2の絶縁層と前記第1の絶縁層とを接着させる接着層と、
前記第1の絶縁層と前記第2の絶縁層との間に配置され、前記層間導通部に接触し、且つ前記導体層と同じ金属成分を含有する第2の導体回路と、
を備えることを特徴とする多層プリント配線板。
The printed wiring board according to any one of claims 1 to 5,
A flexible second insulating layer bonded to a second main surface opposite to the first main surface of the first insulating layer;
An adhesive layer for bonding the second insulating layer and the first insulating layer;
A second conductor circuit disposed between the first insulating layer and the second insulating layer, in contact with the interlayer conductive portion, and containing the same metal component as the conductor layer;
A multilayer printed wiring board comprising:
可撓性を有する第1の絶縁層の第1の主表面に、シード層及び第1の導体回路からなる回路パターンを形成する第1の工程と、
前記第1の絶縁層の第1の主表面に対向する第2の主表面からビアホールを形成して、前記ビアホールの底面に前記シード層を表出させる第2の工程と、
前記ビアホールの底面に表出した前記シード層の上に、導体層を堆積する第3の工程と、
底面に前記導体層が表出した前記ビアホールの中に導電性ペーストを充填する第4の工程と、を備え、
前記導電性ペーストと前記導体層との親和性は、前記導電性ペーストと前記シード層との親和性よりも高い
ことを特徴とするプリント配線板の製造方法。
A first step of forming a circuit pattern comprising a seed layer and a first conductor circuit on the first main surface of the first insulating layer having flexibility;
A second step of forming a via hole from a second main surface facing the first main surface of the first insulating layer, and exposing the seed layer on a bottom surface of the via hole;
A third step of depositing a conductor layer on the seed layer exposed on the bottom surface of the via hole;
A fourth step of filling a conductive paste into the via hole in which the conductor layer is exposed on the bottom surface,
The method for producing a printed wiring board, wherein the affinity between the conductive paste and the conductor layer is higher than the affinity between the conductive paste and the seed layer.
第3の工程では、前記ビアホールの底面に表出した前記シード層の上に、前記導体層をめっきすることを特徴とする請求項7に記載のプリント配線板の製造方法。   8. The method of manufacturing a printed wiring board according to claim 7, wherein, in the third step, the conductor layer is plated on the seed layer exposed on the bottom surface of the via hole. 第3の工程では、電解めっき法によって、前記ビアホールの底面に表出した前記シード層の上に前記導体層を選択的に析出させることを特徴とする請求項8に記載のプリント配線板の製造方法。   9. The printed wiring board according to claim 8, wherein in the third step, the conductor layer is selectively deposited on the seed layer exposed on the bottom surface of the via hole by an electrolytic plating method. Method. 第3工程で堆積する前記導体層の厚みは3μm以上5μm以下であることを特徴とする請求項7〜9のいずれか一項に記載のプリント配線板の製造方法。   The method for manufacturing a printed wiring board according to any one of claims 7 to 9, wherein the conductor layer deposited in the third step has a thickness of 3 µm or more and 5 µm or less. 前記第4の工程の前に、前記ビアホールの底面に表出した前記導体層の表面に凹凸加工を施す工程を更に備えることを特徴とする請求項7〜10のいずれか一項に記載のプリント配線板の製造方法。   The print according to any one of claims 7 to 10, further comprising a step of subjecting the surface of the conductor layer exposed on the bottom surface of the via hole to a concavo-convex process before the fourth step. A method for manufacturing a wiring board. 請求項7〜11のいずれか一項に記載のプリント配線板の製造方法によって製造されたプリント配線板を用意し、
前記第2の導体回路が形成された第2の絶縁層の第1の主表面を前記第1の絶縁層の第2の主表面に接着層を介して重ね合わせ、
前記第1の絶縁層及び前記第2の絶縁層を加熱して、前記接着層を硬化させることにより前記第1の絶縁層と前記第2の絶縁層を接合すると同時に、前記導電性ペーストを硬化させる
ことを特徴とする多層プリント配線板の製造方法。
A printed wiring board manufactured by the method for manufacturing a printed wiring board according to any one of claims 7 to 11 is prepared,
The first main surface of the second insulating layer on which the second conductor circuit is formed is superimposed on the second main surface of the first insulating layer via an adhesive layer,
The first insulating layer and the second insulating layer are heated to cure the adhesive layer, thereby bonding the first insulating layer and the second insulating layer and simultaneously curing the conductive paste. A method for producing a multilayer printed wiring board, characterized by comprising:
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