JP2012078232A - 電流検出装置 - Google Patents

電流検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2012078232A
JP2012078232A JP2010224550A JP2010224550A JP2012078232A JP 2012078232 A JP2012078232 A JP 2012078232A JP 2010224550 A JP2010224550 A JP 2010224550A JP 2010224550 A JP2010224550 A JP 2010224550A JP 2012078232 A JP2012078232 A JP 2012078232A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic field
conductor
current
detection device
recess
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010224550A
Other languages
English (en)
Inventor
Masanori Samejima
正憲 鮫島
Shusuke Uematsu
秀典 植松
Shinji Harada
真二 原田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2010224550A priority Critical patent/JP2012078232A/ja
Publication of JP2012078232A publication Critical patent/JP2012078232A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

【課題】本発明は、消費電流が小さく、かつ小形で、出力の直線性が良好な電流検出装置を提供することを目的とするものである。
【解決手段】本発明は導体に流れる電流を検出する電流検出装置であって、磁界検出素子23を導体21に設けた凹部22内に配置することにより、磁界検出素子の感度と消費電流を最適化でき、これにより、被測定電流を直線性よく測定できるとともに、形状寸法を大幅に小形化することができるという優れた効果を奏する。
【選択図】図1

Description

本発明は、車両、産業機器等内において電流を検出する電流検出装置に関するものである。
従来、ホール素子や磁気抵抗素子等の磁界検出素子を用いた電流検出装置が知られている。図13はホール素子を磁界検出素子として用いた電流検出装置の分解斜視図である。図13において、この電流検出装置はバスバー1を流れる電流により発生する磁界を集磁するための集磁用コア2と、ホール素子3を含む各種電子部品が実装されるプリント基板4と、これらの部品を収納するケース5とからなる。ケース5の内部には、同ケース5の底面に開口する筒部5aが形成されており、同筒部5aの内部に前記バスバー1が挿入される。一方、前記集磁用コア2は環状に形成されており、その中央の空間に前記筒部5aが挿入されることで筒部5aおよびバスバー1を囲繞する。また前記集磁用コア2には前記ホール素子3を挿入するためのギャップ2aが形成されている。さらにプリント基板4はケース5の外壁に取付けられたオス端子側コネクタ6に接続されており、ホール素子3のホール電圧等の情報の外部への取り出しが行われる。この電流検出装置では、前記バスバー1を流れる電流により発生する磁界が前記集磁用コア2により集磁増幅され、前記ギャップ2aに漏れ磁束が発生する。この漏れ磁束がホール素子3に作用して発生するホール電圧からバスバーに流れる電流の大きさが検出されるものである。この出願の発明に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献1が知られている。
図14は磁気抵抗素子を磁界検出素子として用いた電流検出装置の斜視図である。図14において、この電流検出装置は磁気抵抗素子7と、磁気抵抗素子7にバイアス磁界Hbを印加する永久磁石8と、電流iを流す導体9とを磁気シールド容器10に収容してなる。このように構成した電流検出装置は、電流iを導体9に流した時発生する検出磁界Hが磁気抵抗素子7に作用して発生する抵抗変化から導体9に流れる電流の大きさが検出されるものである。この出願の発明に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献2が知られている。
図15(a)は磁界検出素子として磁気抵抗素子を用いた他の電流検出装置の構成図である。図15(a)において、11は測定電流を流すための導体、12A,12Bは磁気抵抗素子、13A,13Bは前記磁気抵抗素子12A,12Bの動作点を決める永久磁石、14は補償電流を流すための導体、15は上記部品を形成、保持するための基板である。ここで導体14は導体11に比べて前記磁気抵抗素子12A,12Bのごく近傍に配置されている。図15(b)は前記磁気抵抗素子12A,12Bの磁界による抵抗変化を電圧変化に置き換えるブリッジ回路である。図15(b)において、16A,16Bは固定抵抗であり、17は差動増幅器である。導体11に流れる電流が零の時、磁気抵抗素子12A,12Bには永久磁石による磁界のみが印加され、ブリッジ回路は平衡するように構成されているため差動増幅器17の出力端子には出力電圧は現れない。導体11に電流が流れると、電流磁界が発生し、それによってブリッジ回路を構成する磁気抵抗素子12A,12Bの抵抗値が変化し、ブリッジ回路の平衡が破れ差動増幅器17の出力端子に出力電圧が発生する。この出力電圧により、図示しない補償電流発生回路が導体14に補償電流を流し、磁気抵抗素子12A,12Bの位置における測定電流による磁界を相殺し、磁気抵抗素子12A,12Bに印加される正味の磁界を永久磁石13A,13Bにより発生される磁界のみとすることにより、ブリッジ回路の出力電圧を零にするように動作する。このようにして再びブリッジ回路が平衡した時、導体14に流れる電流に比例した電圧から導体11に流れる電流の大きさが検出されるものである。この出願の発明に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献3が知られている。
特開2002−303642号公報 特開平1−299481号公報 特開平7−209336号公報
しかしながら、図13に示したホール素子を用いた電流検出装置においては、集磁用コア2が必須の構成要素となる。すなわち、ホール素子3は測定可能な磁界の範囲(ダイナミックレンジ)が大きい反面、ホール素子3に作用する磁界が小さい領域では、発生するホール電圧が小さいため高感度な電流測定が困難であるとともに、この領域においてホール素子3に作用する磁界とこの磁界によって発生するホール電圧との比例関係が成立しない。そのため集磁用コア2を用いてホール素子に印加される磁界を集磁増幅することが必須となる。そのため、電流検出装置の部品点数が増大するとともに、集磁用コア2をバスバー1の外側に配置せねばならないため電流検出装置自体が大きく、重くなってしまうという問題点があった。
また、図14に示した磁気抵抗素子を用いた電流検出装置においては、磁気抵抗素子7に作用する磁界が小さい領域でも、大きな抵抗変化が発生するため集磁用コアを用いなくても高感度な電流測定が可能である反面、磁気抵抗素子7に印加される磁界の変化に対する磁気抵抗の変化が非直線的で測定可能な磁界の範囲(ダイナミックレンジ)が小さいとともに、磁気抵抗素子7を導体9の外側に配置しているため電流検出装置が大きくなってしまうという課題があった。
さらにまた、図15に示した磁気抵抗素子を用いた他の電流検出装置においては、集磁用コアを用いなくても高感度な電流測定が可能であるとともに、磁気抵抗素子12には常に永久磁石からの一定の磁界が印加されるため、磁気抵抗素子の有する非直線的な磁気−抵抗特性は電流検出装置としての特性にまったく関与せず、電流導体11に流れる電流と電流検出装置の出力信号との間の直線性が良好で測定可能な磁界の範囲(ダイナミックレンジ)が大きい反面、磁気抵抗素子12A,12Bや導体14等を導体11の外側に配置しているため電流検出装置が大きくなってしまうという問題点があった。また、導体14および磁気抵抗素子12A,12Bと導体11との距離を小さくすれば、電流検出装置の形状寸法を小形化することができるが、導体11に大電流が流れると、それに応じて導体14に流すべき補償電流が大きくなるためセンサの消費電流が大きくなってしまうという問題点があった。
本発明は上記従来の問題点を解決するもので、被測定電流を直線性よく測定できるとともに、大幅な小形化が達成できる電流検出装置を提供することを目的とするものである。
上記目的を達成するために、本発明は以下の構成を有するものである。
本発明の請求項1に記載の発明は、導体に流れる電流を検出する電流検出装置であって、前記導体に流れる電流によって導体の周囲に発生する磁界を補償電流線に流す電流によって相殺することによって前記磁界を検知する磁界検出素子を備え、前記導体の主面に開口を有する凹部内または前記導体の両主面に開口を有する貫通孔内に前記磁界検出素子を収納したもので、この構成によれば、出力の直線性が良好で、電流検出装置を大幅に小形化することができるとともに、前記凹部または貫通孔の寸法形状およびこれらの凹部または貫通孔内に磁界検出素子を配置する位置を選択することにより磁界検出素子の感度と消費電流を最適化することができるという作用効果を有するものである。
本発明の請求項2に記載の発明は、特に、前記導体の貫通孔内に第1、第2の磁界検出素子を収納するとともに、前記第1、第2の磁界検出素子を前記導体の厚み方向の中心から略等距離だけ離して配置し、前記第1、第2の磁界検出素子が検知した磁界に対応する信号の差から前記導体に流れる電流を検出するようにしたもので、この構成によれば、地磁気等の外部磁界による外乱をキャンセルすることができ、これにより、導体に流れる電流をさらに精度よく測定することができるという作用効果を有するものである。
本発明の請求項3に記載の発明は、特に、前記導体の一方の主面に開口を有する第1の凹部内に第1の磁界検出素子を収納するとともに、前記導体の他方の主面に開口を有し前記第1の凹部と実質的に同じ形状を有する第2の凹部内に第2の磁界検出素子を収納するとともに、前記第1、第2の磁界検出素子を前記導体の厚み方向の中心から略等距離だけ離して配置し、前記第1、第2の磁界検出素子が検知した磁界に対応する信号の差から前記導体に流れる電流を検出するようにしたもので、この構成によれば、地磁気等の外部磁界による外乱をキャンセルすることができ、これにより、導体に流れる電流をさらに精度よく測定することができるという作用効果を有するものである。
本発明の請求項4に記載の発明は、特に、前記導体に設けた凹部または貫通孔の開口部に磁性体を配したもので、この構成によれば、前記導体の厚み方向の位置の変化に伴う磁界の大きさの変動を小さくすることができ、これにより、導体に流れる電流をさらに精度よく測定することができるという作用効果を有するものである。
以上のように本発明は、導体に流れる電流を検出する電流検出装置であって、前記導体に流れる電流によって導体の周囲に発生する磁界を補償電流線に流す電流によって相殺することによって前記磁界を検知する磁界検出素子を備え、前記導体の主面に開口を有する凹部内または前記導体の両主面に開口を有する貫通孔内に前記磁界検出素子を収納したもので、磁界検出素子や補償電流を流す導体を被測定電流を流す導体の内側に配置できるとともに、磁界検出素子の感度と消費電流を最適化でき、これにより、被測定電流を直線性よく測定できるとともに、電流検出装置を大幅に小形化することができるという優れた効果を奏するものである。
(a)本発明の実施の形態1における電流検出装置の斜視図、(b)(a)における電流検出装置を凹部の位置でXZ平面に平行な面で切った断面図 (a)本発明の実施の形態1における磁界検出素子の上面図、(b)(a)におけるA−A線断面図 (a)本発明の実施の形態1における他の磁界検出素子の上面図、(b)(a)におけるB−B線断面図 本発明の実施の形態1における電流検出装置の動作を説明するための回路図 (a)W=18mm、T=3mm、w=10mm、深さ寸法tmmの凹部を有する導体において、深さ寸法tを変化させた場合のZ軸上における磁束密度のx方向成分Bxを計算したシミュレーション結果を示す図、(b)W=18mm、T=3mm、w=10mm、深さ寸法tmmの凹部を有する導体を示す断面模式図、(c)凹部のない矩形断面を有する導体のZ軸上における磁束密度のx方向成分Bxを示す断面模式図、(d)t=1.5mmの凹部を有する導体のZ軸上における磁束密度のx方向成分Bxを示す断面模式図 (a)W=18mm、T=3mm、t=1.5mm、幅寸法wの凹部を有する導体において、幅寸法wを変化させた場合のZ軸上における磁束密度のx方向成分Bxを計算したシミュレーション結果を示す図、(b)W=18mm、T=3mm、t=1.5mm、幅寸法wの凹部を有する導体を示す模式断面図 (a)本発明の実施の形態2における電流検出装置の斜視図、(b)(a)における電流検出装置を凹部の位置でXZ平面に平行な面で切った断面図 (a)W=18mm、T=3mmの導体において、貫通孔の直径φを変化させた場合のZ軸上における磁束密度のx方向成分Bxを計算したシミュレーション結果を示す図、(b)W=18mm、T=3mm、貫通孔の直径φの導体を示す断面模式図 (a)本発明の実施の形態3における電流検出装置の斜視図、(b)(a)における電流検出装置を凹部の位置でXZ平面に平行な面で切った断面図 (a)本発明の実施の形態4における電流検出装置の斜視図、(b)(a)における電流検出装置を凹部の位置でXZ平面に平行な面で切った断面図 (a)本発明の実施の形態5における電流検出装置の斜視図、(b)(a)における電流検出装置を凹部の位置でXZ平面に平行な面で切った断面図 (a)本発明の実施の形態5における電流検出装置のZ軸上における磁束密度のx方向成分Bxを計算したシミュレーション結果を示す図、(b)W=18mm、T=3mmの導体を示す断面模式図 ホール素子を磁界検出素子として用いた従来の電流検出装置の分解斜視図 磁気抵抗素子を磁界検出素子として用いた従来の電流検出装置の斜視図 (a)磁界検出素子として磁気抵抗素子を用いた従来の他の電流検出装置の構成図、(b)磁気抵抗素子の磁界による抵抗変化を電圧変化に置き換えるブリッジ回路の構成図
(実施の形態1)
以下、実施の形態1を用いて、本発明の特に請求項1に記載の発明について説明する。図1(a)は本発明の実施の形態1における電流検出装置の斜視図を示したもので、電気自動車あるいはハイブリッドカーのバッテリーと動力用モーターを接続する電流バー等に流れる電流の大きさ(数十A〜数百A)を検出するのに好適なものである。XYZ座標系を図のようにとった時、21はY軸方向に伸びX軸、Z軸に平行な方向の長さが各々W、Tである導体である。22は前記導体21の主面21Aに開口を有し、X軸、Z軸に平行な方向の長さが各々w、tである凹部であり、23は前記導体21に流れる電流Iによって導体21の周囲に発生する磁界を検出する磁界検出素子である。そして、この磁界検出素子23を前記凹部22内に収納したものである。図1(b)は図1(a)における電流検出装置を前記凹部22の位置でXZ平面に平行な面で切った断面図である。
図2(a)は図1(a)、図1(b)における磁界検出素子23の上面図、図2(b)は図2(a)におけるA−A線断面図である。図2(a)、図2(b)において、30a,30b,30c,30dはセラミック等の絶縁基板31上に形成された磁気抵抗素子であり、これらはNi−Co、Ni−Fe等の強磁性体からなる厚み約0.1μmの磁気抵抗薄膜である。そして、前記磁気抵抗素子30a,30bおよび磁気抵抗素子30c,30dは各々直列に接続され、磁気検出方向であるパターンの長手方向が互いに直交している。入力電極32aは絶縁基板31上に形成されているもので、前記磁気抵抗素子30aおよび磁気抵抗素子30dと電気的に接続されている。第1の出力電極32bも絶縁基板31上に形成されており、前記磁気抵抗素子30aおよび磁気抵抗素子30bと電気的に接続されている。同様にしてグランド電極32c、第2の出力電極32dも絶縁基板31上に形成されており、各々前記磁気抵抗素子30bおよび磁気抵抗素子30c、前記磁気抵抗素子30cおよび磁気抵抗素子30dと電気的に接続されている。
33aは第1の絶縁層で、この第1の絶縁層33aは厚みが約1μmのSiO2薄膜からなり、前記磁気抵抗素子30a,30b,30c,30dを覆うことにより後述する薄膜磁石34からなるバイアス磁界発生手段との電気的絶縁を行うものである。
34は薄膜磁石で、この薄膜磁石34は厚みが約0.6μmのCoPt等からなり、前記第1の絶縁層33aの上に蒸着、スパッタ法等により形成した後、露光、エッチングによりパターニングすることにより、前記磁気抵抗素子30a,30b,30c,30dの磁気検出方向と45度をなす方向に長手方向を有する複数の略長方体に分割されているものである。そして、この複数の略長方体形状の薄膜の幅方向にきわめて大きな磁界を印加することにより、略長方体形状の薄膜が幅方向に磁化されて、薄膜磁石34を得ることができる。XYZ軸を図1(a)と同様に規定した時、薄膜磁石34からはY軸方向の磁界が発生し、磁気抵抗素子30a,30b,30c,30dの磁気検出方向に対して45度をなす方向にバイアス磁界HBが印加されることになる。
33bは第2の絶縁層で、この第2の絶縁層33bは厚みが約1μmのSiO2薄膜からなり、前記薄膜磁石34を覆うことにより後述する補償電流線35との電気的絶縁を行うものである。
35は補償電流線で、この補償電流線35は厚みが約0.6μmの銅薄膜からなり、前記第2の絶縁層33bの上に蒸着法等により形成した後、露光、エッチングによりパターニングすることにより形成している。
上記したような構成とすることにより、絶縁基板31の上に磁気抵抗素子30a,30b,30c,30d、薄膜磁石34、補償電流線35を一体的に互いにきわめて近接させて、かつ精度よく配置することができるものである。
図3(a)は図1(a)、図1(b)における他の磁界検出素子23の上面図、図3(b)は図3(a)におけるB−B線断面図である。図3(a)、図3(b)において、本磁界検出素子23が図2に示した磁界検出素子23と相違する点は、磁石粉末をゴムなどと一緒に練ったプラスチックマグネット50をバイアス磁界発生手段とするとともに、巻線コイル51を絶縁基板31の周囲に巻回して補償電流線35とした点である。このような構成とすることにより、補償電流線35に流れる電流により発生する磁界を巻線のターン数倍だけ増大させることができるため、補償電流線35に流す電流をさらに小さくでき、これにより、被測定電流を直線性よくさらに低消費電流で測定することができるものである。
図4は本発明の実施の形態1における電流検出装置の動作を説明するための回路図を示したもので、前記磁界検出素子23の入力電極32aとグランド電極32cとの間には定電圧を印加する電源36が接続されている。また、この図3において、37は第1の出力電極32bと第2の出力電極32dの電位差を検出する検出部で、この検出部37の出力信号によって電流制御部38が補償電流線35に流れる電流を制御している。39は出力変換部で、この出力変換部39は前記補償電流線35に流れる電流による負荷抵抗40での電圧降下を増幅して出力端子41に出力するものである。
導体21に流れる電流が零の時、バイアス磁界HBのみが磁気抵抗素子30a,30b,30c,30dに対して一定の角度(45度)をなすように印加されるため、磁気抵抗素子30a,30b,30c,30dは実質的に同一の抵抗値となる。このため、磁気抵抗素子ブリッジは平衡し、第1の出力電極32bと第2の出力電極32dは同電位となり、検出部37から信号は出力されない。これにより、補償電流線35と負荷抵抗40に電流が流れないため、出力端子41には出力電圧は現れないことになる。
導体21に電流Iが流れると、この電流Iによる磁界HIが発生して磁界検出素子23に印加され、磁気抵抗素子30a,30cの抵抗が小さくなるとともに、磁気抵抗素子30b,30dの抵抗が大きくなる。このため、磁気抵抗素子ブリッジの平衡が破れ、第1の出力電極32bと第2の出力電極32dとの間に電位差が発生する。この電位差は検出部37で検出されて電流制御部38に入力される。電流制御部38はこの電位差に基づいて補償電流線35に電流を流して、この電流による磁界Hcを発生させ、磁気抵抗素子30a,30b,30c,30dに印加される正味の磁界を薄膜磁石34から発生するバイアス磁界HBのみとすることにより、磁気抵抗素子ブリッジの電位差を零にするように動作する。こうして再び磁気抵抗素子ブリッジが平衡した時、負荷抵抗40の両端に発生する電圧をモニターして適度に増幅すれば、導体21に流れる電流に対応した信号が出力端子41に出力されることになる。
このように、本発明の実施の形態1における電流検出装置においては、導体21に電流が流れている時であっても磁気抵抗素子30a,30b,30c,30dに印加される磁界は実質的に薄膜磁石34から発生する一定の磁界HBのみとなるため、磁気抵抗素子の有する非直線的な磁気−抵抗特性および温度、経時等による特性劣化が電流検出装置としての特性にまったく関与せず、導体21に流れる電流と電流検出装置の出力信号との間の直線性が良好に保たれることになる。
本発明の実施の形態1における電流検出装置は磁界検出素子23を導体21の主面21Aに設けた開口22を有する凹部22内に収納することにより、導体21に流れる電流と電流検出装置の出力信号との間の直線性が良好で測定可能な磁界の範囲(ダイナミックレンジ)を大きくとれ、電流検出装置の大幅な小形化が可能となるとともに、前記凹部または貫通孔の寸法形状およびこれらの凹部または貫通孔内に磁界検出素子を配置する位置を選択することにより磁界検出素子の感度と消費電流を最適化することができるものである。以下、本発明の実施の形態1における電流検出装置でこのような効果が得られることを図5を用いて説明する。
図5(a)は、図5(b)に示すW=18mm、T=3mm、w=10mm、深さ寸法tmmの凹部22を有する導体21において、電流Iが400Aの時、深さ寸法tを変化させた場合のZ軸上における磁束密度のx方向成分Bxを計算したシミュレーション結果である。なお、このシミュレーションでは凹部22のY軸方向の長さは無限大としている。
図5(a)において、添字t=0mmの曲線は凹部のないW=18mm、T=3mmの矩形断面を有する導体21に対してZ軸上における磁束密度のx方向成分Bxを計算したものであり、本発明の実施の形態1における電流検出装置との比較のために表示している。この曲線においては導体21の主面21A上でのBxは12.2mT(テスラ)であり、原点からの距離zに応じてBxは減少してz=5mmの点で8.3mTとなる。図5(c)はこの状態を示す断面模式図である。これに対して、凹部22の深さtが大きくなればなるほど凹部22内のZ軸上における磁束密度のx方向成分Bxは小さくなる。たとえば、添字t=1.5mmの曲線はw=10mm、t=1.5mmの凹部22を有する導体21に対してZ軸上における磁束密度のx方向成分Bxを計算したものであり、Z軸上でz=−1mmにおける磁束密度のx方向成分Bxは8.67mTとなる。図5(d)はこの状態を示す断面模式図である。
図5(c)に示すように、凹部を持たない導体と磁界検出素子23とからなる電流検出装置を用いて導体に流れる電流Iを検出する時、磁界検出素子23の補償電流線35に供給すべき補償電流を小さくして電流検出装置の消費電流を低減したい時には、磁界検出素子23が感知する磁界の大きさを小さくするために磁界検出素子23を導体表面から離して設置する必要がある。そのために電流検出装置自体の形状寸法が大きくなってしまう。これに対して、本発明の実施の形態1における電流検出装置においては、図5(d)に示すように、磁界検出素子23を凹部22内に配置することにより、磁界検出素子23が感知する磁界の大きさを小さくすることができ、磁界検出素子23の補償電流線35に供給すべき補償電流を小さくして電流検出装置の消費電流を低減することができる。また、凹部22の深さtをたとえば1mmに設定するとともに、磁界検出素子23を凹部22内に配置することにより磁界検出素子23が感知する磁界の大きさを大きくすることができるものである。
図6(a)は、図6(b)に示すW=18mm、T=3mm、t=1.5mm、幅寸法wの凹部22を有する導体21において、電流Iが400Aの時、幅寸法wを変化させた場合のZ軸上における磁束密度のx方向成分Bxを計算したシミュレーション結果である。なお、このシミュレーションでは凹部22のY軸方向の長さは無限大としている。図6(a)から凹部22の幅寸法wを変化させることにより凹部22内のZ軸上における磁束密度のx方向成分Bxの大きさを適宜な値に調整できることが分かる。たとえば、Z軸上でz=−1mmにおける磁束密度のx方向成分Bxはw=10mmの時には8.67mTであるが、w=6mmの時には7.35mTに低下し、w=2mmとすると5.86mTにまで低下させることができる。
このように、本発明の実施の形態1における電流検出装置においては、導体21に設けた凹部22の幅寸法、深さ寸法を適宜に選択し、この凹部22内に磁界検出素子23を配置することにより、磁界検出素子の感度と消費電流を最適化でき、これにより、被測定電流を直線性よく測定できるとともに、電流検出装置を大幅に小形化することができるものである。
(実施の形態2)
以下、実施の形態2を用いて、本発明の特に請求項1に記載の発明について説明する。図7(a)は本発明の実施の形態2における電流検出装置の斜視図を示したもので、図7(b)は図7(a)における電流検出装置を前記凹部22の位置でXZ平面に平行な面で切った断面図である。なお、この本発明の実施の形態2においては、上記した本発明の実施の形態1の構成と同様の構成を有するものについては、同一符号を付しており、その説明は省略する。
図7(a)、図7(b)において、本発明の実施の形態2が上記した本発明の実施の形態1と相違する点は、導体21にはその両主面21A,21Bに開口を有する貫通孔24を設け、磁界検出素子23を前記貫通孔24内に収納した点であり、磁界検出素子23とその回路構成は図2、図3に示したものと同様である。
図8(a)は、図8(b)に示すW=18mm、T=3mmの導体21において、電流Iが400Aの時、貫通孔24の直径φを変化させた場合のZ軸上における磁束密度のx方向成分Bxを計算したシミュレーション結果である。
図8(a)において、Z軸上における磁束密度のx方向成分Bxは導体21の第1の主面21Aから第2の主面21B方向に進むにつれ小さくなり、導体の中央部で零となる。そして、さらに第2の主面21B方向に進むにつれ、方向を反転して大きくなるという変化を示す。よって、図7に示すように、磁界検出素子23を貫通孔24内の適宜の位置に配することにより、磁界検出素子23が感知する磁界の大きさと磁界検出素子23の補償電流線35に供給すべき補償電流を最適化することができるとともに、電流検出装置の大幅な小形化が可能となるものである。なお、貫通孔24の形状は図7に示すような円柱状に限定されるものではなく、直方体またはその他の形状をなしても同様の効果が得られるものである。
(実施の形態3)
以下、実施の形態3を用いて、本発明の特に請求項2に記載の発明について説明する。図9(a)は本発明の実施の形態3における電流検出装置の斜視図を示したもので、図9(b)は図9(a)における電流検出装置をXZ平面に平行な面で切った断面図である。なお、この本発明の実施の形態2においては、上記した本発明の実施の形態2の構成と同様の構成を有するものについては、同一符号を付しており、その説明は省略する。
図9(a)、図9(b)において、本発明の実施の形態3が上記した本発明の実施の形態2と相違する点は、貫通孔24内に第1の磁界検出素子23Aと、第2の磁界検出素子23Bを収納するとともに、前記第1、第2の磁界検出素子23A,23Bを前記導体21の厚み方向の中心から略等距離だけ離して配置し、前記第1、第2の磁界検出素子23A,23Bが検知した磁界に対応する信号の差から前記導体に流れる電流を検出する点である。ここで磁界検出素子23A,23Bとその回路構成は図2、図3、図4に示したものと同様である。このように構成した電流検出装置においては、図8に示したように、前記第1の磁界検出素子23Aを配した位置における磁束密度のx方向成分Bx1の大きさと、前記第2の磁界検出素子23Bを配した位置における磁束密度のx方向成分Bx2の大きさとは実質的に同一で、符号が異なることになるため、図4に示した電流検出装置の回路の出力端子41に現れる電圧は逆極性となる。一方、地磁気等の外部磁界が本発明の実施の形態3における電流検出装置に印加された場合には、前記第1の磁界検出素子23Aを配した位置における磁束密度のx方向成分の大きさと、前記第2の磁界検出素子23Bを配した位置における磁束密度のx方向成分の大きさとは実質的に同一であり、符号が同一となるため、図4に示した電流検出装置の回路の出力端子41に現れる電圧は同極性となる。よって、前記第1、第2の磁界検出素子23A,23Bを貫通孔24内に配置し、前記第1、第2の磁界検出素子23A,23Bが感知する磁界の大きさを十分に小さくするとともに、前記第1、第2の磁界検出素子23A,23Bが検知した磁界に対応する信号の差から前記導体に流れる電流を検出することにより、電流検出装置の大幅な小形化が可能となるとともに、地磁気等の外部磁界による外乱がキャンセルされ、導体21に流れる電流をさらに精度よく測定することができるものである。なお、貫通孔24の形状は図9に示すような円柱状に限定されるものではなく、直方体またはその他の形状をなしても同様の効果が得られるものである。
(実施の形態4)
以下、実施の形態4を用いて、本発明の特に請求項3に記載の発明について説明する。図10(a)は本発明の実施の形態4における電流検出装置の斜視図を示したもので、図10(b)は図10(a)における電流検出装置をXZ平面に平行な面で切った断面図である。なお、この本発明の実施の形態4においては、上記した本発明の実施の形態1の構成と同様の構成を有するものについては、同一符号を付しており、その説明は省略する。
図10(a)、図10(b)において、本発明の実施の形態4が上記した本発明の実施の形態1と相違する点は、導体21の第1の主面21Aに開口を有する第1の凹部22A内に第1の磁界検出素子23Aを収納するとともに、前記導体21の第2の主面21Bに開口を有し前記第1の凹部22Aと実質的に同じ形状を有する第2の凹部22B内に第2の磁界検出素子23Bを収納するとともに、前記第1、第2の磁界検出素子23A,23Bを前記導体21の厚み方向の中心から略等距離だけ離して配置し、前記第1、第2の磁界検出素子23A,23Bが検知した磁界に対応する信号の差から前記導体に流れる電流を検出する点である。ここで磁界検出素子23A,23Bとその回路構成は図2、図3に示したものと同様である。このように構成した電流検出装置においては、図9の場合と同様に、前記第1の磁界検出素子23Aを配した位置における磁束密度のx方向成分Bx1の大きさと、前記第2の磁界検出素子23Bを配した位置における磁束密度のx方向成分Bx2の大きさとは実質的に同一で、符号が異なることになるため、図4に示した電流検出装置の回路の出力端子41に現れる電圧は逆極性となる。一方、地磁気等の外部磁界が本発明の実施の形態4における電流検出装置に印加された場合には、前記第1の磁界検出素子23Aを配した位置における磁束密度のx方向成分の大きさと、前記第2の磁界検出素子23Bを配した位置における磁束密度のx方向成分の大きさとは実質的に同一であり、符号が同一となるため、図4に示した電流検出装置の回路の出力端子41に現れる電圧は同極性となる。よって、前記第1、第2の磁界検出素子23A,23Bを貫通孔24内に配置することにより、電流検出装置の大幅な小形化が可能となるとともに、地磁気等の外部磁界による外乱がキャンセルされ、導体21に流れる電流をさらに精度よく測定することができるものである。なお、第1の凹部22Aと第2の凹部22Bは図10に示すような円柱形状に限定されるものではなく、直方体形状や半球形状としても良い。また、第1の凹部22Aの中心軸と第2の凹部22Bの中心軸は図10に示すような同軸に限定されるものではない。
(実施の形態5)
以下、実施の形態5を用いて、本発明の特に請求項4に記載の発明について説明する。図11(a)は本発明の実施の形態5における電流検出装置の斜視図を示したもので、図11(b)は図11(a)における電流検出装置をXZ平面に平行な面で切った断面図である。なお、この本発明の実施の形態5においては、上記した本発明の実施の形態1の構成と同様の構成を有するものについては、同一符号を付しており、その説明は省略する。
図11(a)、図11(b)において、本発明の実施の形態5が上記した本発明の実施の形態1〜4と相違する点は、前記凹部22または貫通孔24の開口部に磁性体25A,25Bを配した点である。
図12(a)は、図12(b)に示すW=18mm、T=3mmの導体21において、電流Iが400Aの時、径φ3の貫通孔24の開口部に2mm、厚み0.1mmの珪素鋼板を配置した場合のZ軸上における磁束密度のx方向成分Bxを計算したシミュレーション結果である。
図12(a)において、Z軸上における磁束密度のx方向成分Bxはさらに低下し、最大値が約1.5mTに抑制されるとともに、Z軸上の位置の変化に伴う磁束密度のx方向成分Bxの変動が小さくなっている。
よって、図11に示すように、磁界検出素子23を貫通孔24内に配する場合に要求される位置精度が緩和され、これにより、導体21に流れる電流をさらに精度よく測定することができるものである。
本発明の電流検出装置は、出力の直線性が良好で、電流検出装置を大幅に小形化することができるとともに、前記凹部または貫通孔の寸法形状およびこれらの凹部または貫通孔内に磁界検出素子を配置する位置を選択することにより磁界検出素子の感度と消費電流を最適化することができるという効果を有するものであり、特に、車両、産業機器等内における電流を検出する電流検出装置として有用なものである。
21 導体
22 凹部
22A 第1の凹部
22B 第2の凹部
23 磁界検出素子
23A 第1の磁界検出素子
23B 第2の磁界検出素子
24 貫通孔
25A,25B 磁性体

Claims (4)

  1. 導体に流れる電流を検出する電流検出装置であって、前記導体に流れる電流によって導体の周囲に発生する磁界を補償電流線に流す電流によって相殺することによって前記磁界を検知する磁界検出素子を備え、前記導体の主面に開口を有する凹部内または前記導体の両主面に開口を有する貫通孔内に前記磁界検出素子を収納した電流検出装置。
  2. 前記導体の貫通孔内に第1、第2の磁界検出素子を収納するとともに、前記第1、第2の磁界検出素子を前記導体の厚み方向の中心から略等距離だけ離して配置し、前記第1、第2の磁界検出素子が検知した磁界に対応する信号の差から前記導体に流れる電流を検出する請求項1記載の電流検出装置。
  3. 前記導体の一方の主面に開口を有する第1の凹部内に第1の磁界検出素子を収納するとともに、前記導体の他方の主面に開口を有し前記第1の凹部と実質的に同じ形状を有する第2の凹部内に第2の磁界検出素子を収納するとともに、前記第1、第2の磁界検出素子を前記導体の厚み方向の中心から略等距離だけ離して配置し、前記第1、第2の磁界検出素子が検知した磁界に対応する信号の差から前記導体に流れる電流を検出する請求項1記載の電流検出装置。
  4. 前記凹部または貫通孔の開口部に磁性体を配した請求項1から3記載の電流検出装置。
JP2010224550A 2010-10-04 2010-10-04 電流検出装置 Pending JP2012078232A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010224550A JP2012078232A (ja) 2010-10-04 2010-10-04 電流検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010224550A JP2012078232A (ja) 2010-10-04 2010-10-04 電流検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2012078232A true JP2012078232A (ja) 2012-04-19

Family

ID=46238642

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010224550A Pending JP2012078232A (ja) 2010-10-04 2010-10-04 電流検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2012078232A (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013238434A (ja) * 2012-05-11 2013-11-28 Osaka City Univ 力率計測装置
WO2014050068A1 (ja) * 2012-09-28 2014-04-03 アルプス・グリーンデバイス株式会社 電流センサ
JP2014066623A (ja) * 2012-09-26 2014-04-17 Alps Green Devices Co Ltd 電流センサ
WO2015019534A1 (ja) * 2013-08-06 2015-02-12 パナソニックIpマネジメント株式会社 磁気センサおよびこの磁気センサを用いた電流センサ
JP2015148470A (ja) * 2014-02-05 2015-08-20 日立金属株式会社 電流検出構造
JP2018072299A (ja) * 2016-11-04 2018-05-10 日立金属株式会社 電流センサ
JP2018151406A (ja) * 2018-06-01 2018-09-27 日立金属株式会社 電流検出構造
JP6452060B1 (ja) * 2018-06-12 2019-01-16 日立金属株式会社 ターボチャージャ
JP2019516971A (ja) * 2016-05-04 2019-06-20 サフラン エレクトリカル アンド パワー バスバー電流センサアセンブリ
CN112014615A (zh) * 2019-05-29 2020-12-01 英飞凌科技股份有限公司 汇流排和具有汇流排的功率模块

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013238434A (ja) * 2012-05-11 2013-11-28 Osaka City Univ 力率計測装置
US10120001B2 (en) 2012-05-11 2018-11-06 Osaka City University Power factor measurement device
JP2014066623A (ja) * 2012-09-26 2014-04-17 Alps Green Devices Co Ltd 電流センサ
US9599642B2 (en) 2012-09-28 2017-03-21 Alps Electric Co., Ltd. Current sensor
JPWO2014050068A1 (ja) * 2012-09-28 2016-08-22 アルプス・グリーンデバイス株式会社 電流センサ
WO2014050068A1 (ja) * 2012-09-28 2014-04-03 アルプス・グリーンデバイス株式会社 電流センサ
WO2015019534A1 (ja) * 2013-08-06 2015-02-12 パナソニックIpマネジメント株式会社 磁気センサおよびこの磁気センサを用いた電流センサ
JP2015148470A (ja) * 2014-02-05 2015-08-20 日立金属株式会社 電流検出構造
JP2019516971A (ja) * 2016-05-04 2019-06-20 サフラン エレクトリカル アンド パワー バスバー電流センサアセンブリ
JP2018072299A (ja) * 2016-11-04 2018-05-10 日立金属株式会社 電流センサ
JP2018151406A (ja) * 2018-06-01 2018-09-27 日立金属株式会社 電流検出構造
JP6452060B1 (ja) * 2018-06-12 2019-01-16 日立金属株式会社 ターボチャージャ
CN112014615A (zh) * 2019-05-29 2020-12-01 英飞凌科技股份有限公司 汇流排和具有汇流排的功率模块
US11796571B2 (en) 2019-05-29 2023-10-24 Infineon Technologies Ag Busbar and power module with busbar

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2012078232A (ja) 電流検出装置
EP2442117B1 (en) Magnetic balance current sensor
JP6116061B2 (ja) 電流センサ
US8669763B2 (en) Multi-axis fluxgate magnetic sensor
JP2018072220A (ja) 電流測定装置
US11397225B2 (en) Current sensor, magnetic sensor and circuit
JP2013170878A (ja) 電流センサ
JP6384677B2 (ja) 電流センサ
US20230204630A1 (en) Magnetic sensor device, inverter apparatus, and battery apparatus
JP5487403B2 (ja) 電流センサ
JP6413317B2 (ja) 電流センサ
JP2013171013A (ja) 電流センサ
JP2019219294A (ja) 磁気センサ
JP7156249B2 (ja) 位置検出装置
JP2013047610A (ja) 磁気平衡式電流センサ
JP5703470B2 (ja) 電流センサ
JP2011174775A (ja) 電流センサ
JP6226091B2 (ja) 電流センサ
JP7119695B2 (ja) 磁気センサ
JP2011196698A (ja) 電流検出装置
WO2015019534A1 (ja) 磁気センサおよびこの磁気センサを用いた電流センサ
WO2013179613A1 (ja) 電流センサ
JP2013200250A (ja) 電力計測装置
JP2020041869A (ja) 磁気センサ
JP2013200252A (ja) 電力計測装置