JP2012061607A - Screen printing apparatus and method - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a screen printing apparatus and method that can prevent defects in printing quality from occurring due to adhesiveness of a substrate.SOLUTION: Screen printing is applied to the substrate 9 clamped by a clamp member 8a. In the screen printing, the clamp state-controlling process for adjusting relative height of upper surfaces of the substrate 9 and clamp member 8a in a substrate-clamped state includes: a step of calculating the height HCM of the clamp member and the height HBM of the upper surface of the substrate, by measuring the heights of a plurality of first height-measuring points set in the clamp member 8a and a plurality of second height-measuring points set in the upper surface of the substrate 9, respectively; a step of controlling the behavior of a substrate underside-support unit 6 based on the calculated heights HCM and HBM; and adjusting the relative height of the upper surfaces of the substrate 9 and clamp member 8a.

Description

本発明は、クリーム半田などのペーストを基板に印刷するスクリーン印刷装置およびスクリーン印刷方法に関するものである。   The present invention relates to a screen printing apparatus and a screen printing method for printing paste such as cream solder on a substrate.

電子部品を基板に実装する際の接合方法として、半田接合が多用されている。この方法では半田接合に先立って基板の電極に、半田接合材料であるクリーム半田などのペーストが供給される。この半田供給方法として、マスクプレートに設けられたパターン孔を介してクリーム半田を基板に印刷するスクリーン印刷が広く用いられている(例えば特許文献1参照)。スクリーン印刷動作においては、印刷対象の基板をクランプ部材によって水平方向の両側から挟み込んで位置を固定するとともに、基板を下受け部材によって下面側から支持した状態で、マスクプレートの下面に当接させる。   Solder bonding is often used as a bonding method for mounting electronic components on a substrate. In this method, a paste such as cream solder, which is a solder bonding material, is supplied to the electrodes of the substrate prior to the solder bonding. As this solder supply method, screen printing in which cream solder is printed on a substrate through pattern holes provided in a mask plate is widely used (see, for example, Patent Document 1). In the screen printing operation, the substrate to be printed is sandwiched from both sides in the horizontal direction by the clamp member and the position is fixed, and the substrate is brought into contact with the lower surface of the mask plate while being supported from the lower surface side by the receiving member.

スクリーン印刷において高品質の印刷結果を得るためには、マスクプレート上でスキージを摺動させるスキージングにおいて、基板の印刷面をマスクプレートに高精度で密着させる必要がある。すなわち、基板の上面とこの基板を挟み込むクランプ部材の上面とが極力同一の平面内に位置するよう、基板とクランプ部材の高さ方向の相対位置を正しく設定する。このような目的のため、特許文献1に示す先行技術においては、レーザセンサなどの距離センサによって基板の上面およびクランプ部材(ステージ部)の高さ位置を計測する例が記載されている。   In order to obtain a high-quality printing result in screen printing, it is necessary to bring the printed surface of the substrate into close contact with the mask plate with high accuracy in squeezing by sliding the squeegee on the mask plate. That is, the relative position in the height direction of the substrate and the clamp member is correctly set so that the upper surface of the substrate and the upper surface of the clamp member that sandwiches the substrate are located in the same plane as much as possible. For this purpose, the prior art disclosed in Patent Document 1 describes an example in which the height position of the upper surface of the substrate and the clamp member (stage part) is measured by a distance sensor such as a laser sensor.

特開平9−76455号公報JP-A-9-76455

近年電子部品が実装される実装基板の形態も小型化・多様化し、部品実装工程において種々の形態の基板が実装作業の対象となる。例えば、小型基板の製造に際しては、生産効率向上のため複数の小型の子基板を1つの親基板に作り込んだ多面取り基板方式が採用され、親基板において子基板以外の領域の不要範囲は、予め各子基板を連結するために必要なブリッジ部を除いて切り欠かれている。このため、親基板全体としては従来の単一基板と比較して複雑な反り変形状態を呈している場合が多く、このような親基板をクランプ部材で水平方向から挟み込んで固定したクランプ状態においては、クランプ部材と親基板の上面高さに差異を生じやすい。   In recent years, the form of a mounting board on which electronic components are mounted has also been reduced in size and diversified, and various forms of boards have been subjected to mounting work in the component mounting process. For example, when manufacturing a small board, a multi-sided board method in which a plurality of small child boards are made in one parent board for improving production efficiency is adopted. It is cut out in advance except for a bridge portion necessary for connecting the sub boards. For this reason, the entire parent substrate often exhibits a complicated warp deformation state as compared with a conventional single substrate, and in such a clamped state where such a parent substrate is sandwiched and fixed by a clamp member from the horizontal direction. The difference between the upper surface height of the clamp member and the parent substrate is likely to occur.

そしてこのようなクランプ状態の親基板をマスクプレートの下面に当接させると、クランプ部材との高さ差に起因してマスクプレートとの間に隙間を生じて密着性が低下し、印刷品質の不良原因となる。またこのようなマスクプレートとの間の密着性に起因する品質不良は、基板厚みのばらつきや基板厚みデータの誤入力などによっても同様に生じる。このように、従来のスクリーン印刷装置には、基板とマスクプレートとの間の密着性に起因して、印刷品質不良を招くことが避けがたいという課題があった。   When the parent substrate in such a clamped state is brought into contact with the lower surface of the mask plate, a gap is generated between the mask plate and the mask plate due to the height difference from the clamp member, and the print quality is reduced. Causes a defect. Further, the quality defect due to such adhesion with the mask plate similarly occurs due to variations in substrate thickness, erroneous input of substrate thickness data, and the like. As described above, the conventional screen printing apparatus has a problem that it is unavoidable to cause a printing quality defect due to the adhesion between the substrate and the mask plate.

そこで本発明は、基板とマスクプレートとの間の密着性に起因して生じる印刷品質不良を防止することができるスクリーン印刷装置およびスクリーン印刷方法を提供することを目的とする。   Therefore, an object of the present invention is to provide a screen printing apparatus and a screen printing method that can prevent a print quality defect caused by the adhesion between the substrate and the mask plate.

本発明のスクリーン印刷装置は、パターン孔が形成されたマスクプレートの下面に基板を当接させ、ペーストが供給された前記マスクプレート上面でスキージを摺動させることにより前記パターン孔を介して基板にペーストを印刷するスクリーン印刷装置であって、前記マスクプレートに対して下方から昇降自在に配設され前記基板を下受けして前記マスクプレート下面側の印刷位置に保持する基板下受け部と、前記基板を第1方向に搬送することにより前記基板下受け部に基板を搬入し印刷後の基板を基板下受け部から搬出する基板搬送部と、前記基板下受け部によって下受けされた基板を前記第1方向と直交する第2方向から挟み込む1対のクランプ部材と、水平面内で移動自在に配設され前記1対のクランプ部材の上面および前記基板の上面を計測対象として高さ計測を行う高さ計測手段と、前記高さ計測手段を順次移動させて高さ計測を実行させるとともに、前記高さ計測手段による高さ計測結果に基づいて前記基板下受け部を制御することにより、前記基板をクランプ部材によって挟み込んだクランプ状態における前記基板の上面と前記クランプ部材の上面との相対高さを調整するクランプ状態制御部とを備え、さらに前記クランプ状態制御部は、前記1対のクランプ部材のそれぞれについて少なくとも両端部の2点を含んで設定された複数の第1の高さ計測点および前記基板の上面について予め規則配列で設定された複数の第2の高さ計測点を対象として高さ計測作業を実行させる計測実行部と、前記複数の第1の高さ計測点を対象として得られた高さ計測値の平均値を求めることによりクランプ部材高さを算出するとともに、前記複数の第2の高さ計測点を対象として得られた高さ計測値を予め定められた統計処理アルゴリズムにしたがってデータ処理することにより、基板の上面の高さ計測値とは認められない特異点を除いた複数の高さ計測値の平均値を求めて基板上面高さを算出する高さ演算処理部と、前記算出されたクランプ部材高さおよび基板上面高さに基づいて前記基板下受け部を制御することにより、前記基板の上面と前記クランプ部材の上面との相対高さを調整する高さ調整部とを有する。   In the screen printing apparatus of the present invention, the substrate is brought into contact with the lower surface of the mask plate in which the pattern holes are formed, and the squeegee is slid on the upper surface of the mask plate to which the paste is supplied, thereby causing the substrate to pass through the pattern holes. A screen printing apparatus for printing a paste, wherein the substrate receiving portion is disposed so as to be movable up and down from below with respect to the mask plate and holds the substrate at a printing position on the lower surface side of the mask plate; and A substrate transport unit that transports a substrate in the first direction by transporting the substrate in the first direction and unloads the printed substrate from the substrate support portion; and the substrate received by the substrate support portion A pair of clamp members sandwiched from a second direction orthogonal to the first direction; an upper surface of the pair of clamp members disposed in a horizontal plane; and the substrate A height measuring means for measuring the height of the upper surface as a measurement target, and the height measuring means are sequentially moved to execute height measurement, and based on the height measurement result by the height measuring means, A clamp state control unit that adjusts a relative height between the upper surface of the substrate and the upper surface of the clamp member in a clamped state in which the substrate is sandwiched between clamp members by controlling a receiving portion; The portion includes a plurality of first height measurement points set to include at least two points at both ends of each of the pair of clamp members, and a plurality of second heights set in advance in a regular arrangement with respect to the upper surface of the substrate. A measurement execution unit that executes a height measurement operation on a plurality of height measurement points, and an average value of height measurement values obtained on the plurality of first height measurement points By calculating the height of the clamp member by obtaining the data and processing the height measurement values obtained for the plurality of second height measurement points according to a predetermined statistical processing algorithm, A height calculation processing unit that calculates an average value of a plurality of height measurement values excluding a singular point that is not recognized as an upper surface height measurement value, and calculates the substrate upper surface height, and the calculated clamp member height And a height adjusting unit that adjusts a relative height between the upper surface of the substrate and the upper surface of the clamp member by controlling the substrate lower receiving portion based on the height of the upper surface of the substrate.

本発明のスクリーン印刷方法は、マスクプレートに対して下方から昇降自在に配設され基板を下受けして前記マスクプレート下面側の印刷位置に保持する基板下受け部と、前記基板を第1方向に搬送することにより前記基板下受け部に基板を搬入し印刷後の基板を基板下受け部から搬出する基板搬送部と、前記基板下受け部によって下受けされた基板を前記第1方向と直交する第2方向から挟み込む1対のクランプ部材と、水平面内で移動自在に配設され前記1対のクランプ部材の上面および前記基板の上面を計測対象として高さ計測を行う高さ計測手段とを備えたスクリーン印刷装置によって、パターン孔が形成された前記マスクプレートの下面に前記基板を当接させ、ペーストが供給された前記マスクプレート上面でスキージを摺動させることにより前記パターン孔を介して前記基板にペーストを印刷するスクリーン印刷方法であって、前記高さ計測手段を順次移動させて高さ計測を実行させるとともに、前記高さ計測手段による高さ計測結果に基づいて前記基板下受け部を制御することにより、基板クランプ状態における前記基板の上面と前記クランプ部材の上面との相対高さを調整するクランプ状態制御工程を実行し、さらに前記クランプ状態制御工程は、前記1対のクランプ部材のそれぞれについて少なくとも両端部の2点を含んで設定された複数の第1の高さ計測点および前記基板の上面について予め規則配列で設定された複数の第2の高さ計測点を対象として高さ計測作業を実行させる計測実行ステップと、前記複数の第1の高さ計測点を対象として得られた高さ計測値の平均値を求めることによりクランプ部材高さを算出するとともに、前記複数の第2の高さ計測点を対象として得られた高さ計測値を予め定められた統計処理アルゴリズムにしたがってデータ処理することにより、基板の上面の高さ計測値とは認められない特異点を除いた複数の高さ計測値の平均値を求めて基板上面高さを算出する高さ演算処理ステップと、前記算出されたクランプ部材高さおよび基板上面高さに基づいて前記基板下受け部を制御することにより、前記基板の上面と前記クランプ部材の上面との相対高さを調整する高さ調整ステップとを含む。   The screen printing method of the present invention includes a substrate receiving portion that is disposed so as to be movable up and down from below with respect to the mask plate and holds the substrate at a printing position on the lower surface side of the mask plate, and the substrate in the first direction. A substrate carrying unit that carries the substrate into the substrate receiving unit and unloads the printed substrate from the substrate receiving unit, and the substrate received by the substrate receiving unit is orthogonal to the first direction. A pair of clamp members sandwiched from the second direction, and a height measuring unit that is disposed so as to be movable in a horizontal plane and that measures the height of the upper surface of the pair of clamp members and the upper surface of the substrate. The substrate is brought into contact with the lower surface of the mask plate in which pattern holes are formed, and the squeegee is slid on the upper surface of the mask plate to which the paste is supplied. This is a screen printing method for printing a paste on the substrate through the pattern hole, wherein the height measurement means is sequentially moved to perform height measurement, and the height measurement result by the height measurement means A clamping state control step of adjusting a relative height between the upper surface of the substrate and the upper surface of the clamping member in a substrate clamping state by controlling the substrate lower receiving portion based on the clamping state control step. Each of the pair of clamp members includes a plurality of first height measurement points set to include at least two points at both ends, and a plurality of second heights set in advance in a regular arrangement with respect to the upper surface of the substrate. A measurement execution step for executing a height measurement operation on a height measurement point, and a height meter obtained on the plurality of first height measurement points The clamp member height is calculated by obtaining an average value, and the height measurement values obtained for the plurality of second height measurement points are subjected to data processing according to a predetermined statistical processing algorithm. A height calculation processing step of calculating an average value of a plurality of height measurement values excluding singular points that are not recognized as a height measurement value of the upper surface of the substrate, and calculating the substrate upper surface height; A height adjustment step of adjusting a relative height between the upper surface of the substrate and the upper surface of the clamp member by controlling the substrate receiving portion based on the height of the clamp member and the height of the upper surface of the substrate.

本発明によれば、基板クランプ状態における基板の上面とクランプ部材の上面との相対高さを調整するクランプ状態制御工程において、クランプ部材に設定された複数の第1の高さ計測点および基板の上面について設定された複数の第2の高さ計測点を対象として高さ計測作業を実行してクランプ部材高さおよび基板上面高さを算出し、算出されたクランプ部材高さおよび基板上面高さに基づいて基板下受け部を制御して、基板の上面とクランプ部材の上面との相対高さを調整することにより、基板とマスクプレートとの間の密着性に起因して生じる印刷品質不良を防止することができる。   According to the present invention, in the clamp state control step of adjusting the relative height between the upper surface of the substrate and the upper surface of the clamp member in the substrate clamp state, the plurality of first height measurement points set on the clamp member and the substrate A height measurement operation is executed for a plurality of second height measurement points set for the upper surface to calculate the clamp member height and the substrate upper surface height, and the calculated clamp member height and substrate upper surface height are calculated. Based on the above, by controlling the substrate receiving portion and adjusting the relative height between the upper surface of the substrate and the upper surface of the clamp member, print quality defects caused by the adhesion between the substrate and the mask plate can be reduced. Can be prevented.

本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の正面図1 is a front view of a screen printing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の側面図The side view of the screen printing apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の平面図The top view of the screen printing apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の印刷対象となる基板の平面図The top view of the board | substrate used as the printing object of the screen printing apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の制御系の構成を示すブロック図The block diagram which shows the structure of the control system of the screen printing apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態のスクリーン印刷方法におけるクランプ部材高さ計測の説明図Explanatory drawing of clamp member height measurement in the screen printing method of one embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態のスクリーン印刷方法における基板上面高さ計測の説明図Explanatory drawing of the board | substrate upper surface height measurement in the screen printing method of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態のスクリーン印刷方法におけるクランプ状態制御処理を示すフロー図The flowchart which shows the clamp state control processing in the screen printing method of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の動作説明図Operation explanatory diagram of a screen printing apparatus according to an embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態のスクリーン印刷方法における基板の上面とクランプ部材の上面との相対高さ調整の説明図Explanatory drawing of relative height adjustment of the upper surface of a board | substrate and the upper surface of a clamp member in the screen printing method of one embodiment of this invention

次に本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。まず図1〜図4を参照して、スクリーン印刷装置の構造を説明する。このスクリーン印刷装置は、パターン孔が形成されたマスクプレートの下面に基板を当接させ、ペーストが供給されたマスクプレート上面でスキージを摺動させることにより、パターン孔を介して基板にペーストを印刷する機能を有するものである。   Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. First, the structure of the screen printing apparatus will be described with reference to FIGS. This screen printing device prints the paste on the substrate through the pattern holes by bringing the substrate into contact with the lower surface of the mask plate on which the pattern holes are formed and sliding the squeegee on the upper surface of the mask plate to which the paste is supplied. It has the function to do.

図1、図2において、基板位置決め部1は、Y軸テーブル2およびX軸テーブル3よりなる移動テーブル上にθ軸テーブル4およびZ軸テーブル5を段積みし、さらにその上に基板下受け部6を配設した構成となっている。基板下受け部6は印刷対象の基板9を下面側から下受けして保持し、Z軸テーブル5を駆動することにより、基板下受け部6は保持した基板9とともに昇降する。すなわち基板下受け部6は以下に説明するマスクプレート12に対して下方から昇降自在に配設され、基板9を下受けしてマスクプレート12下面側の印刷位置に保持する機能を有している。またY軸テーブル2、X軸テーブル3、θ軸テーブル4を駆動することにより、基板下受け部6に保持された基板9を水平面内で移動させ、マスクプレート12に対して水平方向に位置合わせすることができる。   1 and 2, the substrate positioning unit 1 includes a θ-axis table 4 and a Z-axis table 5 stacked on a moving table made up of a Y-axis table 2 and an X-axis table 3, and further a substrate receiving unit thereon. 6 is provided. The substrate receiving portion 6 receives and holds the substrate 9 to be printed from the lower surface side, and drives the Z-axis table 5 so that the substrate receiving portion 6 moves up and down together with the held substrate 9. In other words, the substrate lower receiving portion 6 is disposed so as to be movable up and down with respect to the mask plate 12 described below, and has a function of receiving the substrate 9 and holding it at the printing position on the lower surface side of the mask plate 12. . Further, by driving the Y-axis table 2, the X-axis table 3, and the θ-axis table 4, the substrate 9 held by the substrate receiving portion 6 is moved in a horizontal plane and aligned with the mask plate 12 in the horizontal direction. can do.

基板位置決め部1の上方には、それぞれ1対の搬入コンベア7a、印刷コンベア7b、搬出コンベア7cを直列に配列して成る基板搬送部7が水平に配設されている。図3に示すように、搬入コンベア7aは上流側から受け取った基板9を基板位置決め部1までX方向(第1方向)に搬送し、印刷コンベア7bに受け渡す。ここで、基板9は複数の単位基板9aが同一基板内に作り込まれた多面取り基板となっている。すなわち図4に示すように、基板9には複数(ここでは3つ)の単位基板9aが形成されている。   Above the substrate positioning unit 1, there is horizontally disposed a substrate transport unit 7 in which a pair of carry-in conveyor 7a, print conveyor 7b, and carry-out conveyor 7c are arranged in series. As shown in FIG. 3, the carry-in conveyor 7a conveys the substrate 9 received from the upstream side to the substrate positioning unit 1 in the X direction (first direction) and delivers it to the printing conveyor 7b. Here, the substrate 9 is a multi-sided substrate in which a plurality of unit substrates 9a are formed in the same substrate. That is, as shown in FIG. 4, a plurality of (here, three) unit substrates 9 a are formed on the substrate 9.

各単位基板9aは、基板9の外縁部を構成する外枠部9bから各単位基板9aに対して延出した連結ブリッジ9cによって保持されて、全体として1枚の基板9を形成する構成となっている。連結ブリッジ9cは単位基板9aを保持するのに必要な範囲のみに設けられており、外枠部9bと各単位基板9aの間において連結ブリッジ9cが設けられていない範囲は、基板9の板部分が存在しない切り欠き部9dとなっている。このような構成により、基板9は全体として通常型の1枚基板と比較して曲げ剛性が小さく、反り変形を生じやすいという特性を有している。   Each unit substrate 9a is held by a connecting bridge 9c extending from the outer frame portion 9b constituting the outer edge portion of the substrate 9 to each unit substrate 9a to form a single substrate 9 as a whole. ing. The connection bridge 9c is provided only in a range necessary for holding the unit substrate 9a, and a range in which the connection bridge 9c is not provided between the outer frame portion 9b and each unit substrate 9a is a plate portion of the substrate 9. This is a notch portion 9d that does not exist. With such a configuration, the substrate 9 as a whole has the characteristics that bending rigidity is smaller than that of a normal single substrate and warpage deformation is likely to occur.

印刷コンベア7bは、受け渡された基板9を以下に説明するスクリーン印刷部10による印刷作業位置に搬入する。そして基板位置決め部1にて後述するスクリーン印刷部10によって印刷が行われた後の基板9は、同様に搬出コンベア7cによって下流側に搬出される。すなわち基板搬送部7は、基板9をX方向に搬送することにより、基板位置決め部1に基板9を搬入し、印刷後の基板9を基板位置決め部1から搬出する。印刷コンベア7bには1対のクランプ部材8aを開閉駆動機構(図示省略)によって開閉駆動する構成のクランプ機構8が設けられている。   The printing conveyor 7b carries the delivered substrate 9 into a printing work position by the screen printing unit 10 described below. And the board | substrate 9 after printing by the screen printing part 10 mentioned later in the board | substrate positioning part 1 is similarly carried out downstream by the carrying-out conveyor 7c. That is, the substrate transport unit 7 transports the substrate 9 in the X direction, thereby loading the substrate 9 into the substrate positioning unit 1 and unloading the printed substrate 9 from the substrate positioning unit 1. The print conveyor 7b is provided with a clamp mechanism 8 configured to open and close a pair of clamp members 8a by an open / close drive mechanism (not shown).

印刷作業位置に搬入された基板9は、1対のクランプ部材8aによってX方向と直交するY方向(第2方向)から挟み込まれ、これにより印刷作業時の基板9の水平方向の位置が固定される。さらに印刷コンベア7bは搬送部昇降機構(図示省略)によって昇降可能となっており、印刷動作時にクランプ部材8aによってクランプされた基板9をマスクプレート12の下面に当接させることができる。   The substrate 9 carried into the printing work position is sandwiched by the pair of clamp members 8a from the Y direction (second direction) orthogonal to the X direction, thereby fixing the horizontal position of the substrate 9 during the printing work. The Further, the printing conveyor 7b can be moved up and down by a transport unit lifting mechanism (not shown), and the substrate 9 clamped by the clamp member 8a can be brought into contact with the lower surface of the mask plate 12 during a printing operation.

ここで基板9は前述のように複数の単位基板9aを有する多面取り基板であって、反り変形を生じやすい特性を有していることから、反り変形状態のままクランプ部材8aによってクランプされる。そしてこの結果、基板9をマスクプレート12に当接させた状態で、基板9がマスクプレート12の下面に良好に密着せず、隙間を生じたままスクリーン印刷動作が実行される場合が生じるおそれがある。このため、本実施の形態においては、後述するような方法によって基板9とマスクプレート12との密着性を向上させるようにしている。   Here, since the substrate 9 is a multi-sided substrate having a plurality of unit substrates 9a as described above and has a characteristic that warp deformation is likely to occur, the substrate 9 is clamped by the clamp member 8a while being warped. As a result, when the substrate 9 is in contact with the mask plate 12, the substrate 9 does not adhere well to the lower surface of the mask plate 12, and there is a possibility that the screen printing operation may be performed with a gap left. is there. For this reason, in the present embodiment, the adhesion between the substrate 9 and the mask plate 12 is improved by a method described later.

基板位置決め部1の上方には、スクリーン印刷部10が配設されている。スクリーン印刷部10は、矩形のホルダ11に展張され複数のパターン孔(図示省略)が設けられたマスクプレート12の上方に、スキージユニット13を配置した構成となっている。図2に示すように、スキージユニット13は、水平なベース14に垂直に配設された2つのスキージ昇降機構15によってスキージ16を昇降自在に配置した構成となっており、図示しないスキージ移動機構によって、Y方向に往復移動する。   A screen printing unit 10 is disposed above the substrate positioning unit 1. The screen printing unit 10 has a configuration in which a squeegee unit 13 is disposed above a mask plate 12 that is extended on a rectangular holder 11 and provided with a plurality of pattern holes (not shown). As shown in FIG. 2, the squeegee unit 13 has a configuration in which a squeegee 16 is vertically moved by two squeegee lifting mechanisms 15 vertically disposed on a horizontal base 14, and a squeegee moving mechanism (not shown) is used. , Reciprocates in the Y direction.

スクリーン印刷動作においては、まず基板9をマスクプレート12の下面に当接させ、マスクプレート12上にクリーム半田17を供給する。そしてスキージユニット13の2つのスキージ16のいずれかをマスクプレート12の表面に当接させて摺動させることにより、基板9の印刷面にはマスクプレート12に設けられたパターン孔を介してクリーム半田17が印刷される。   In the screen printing operation, first, the substrate 9 is brought into contact with the lower surface of the mask plate 12, and the cream solder 17 is supplied onto the mask plate 12. Then, one of the two squeegees 16 of the squeegee unit 13 is brought into contact with the surface of the mask plate 12 and is slid, whereby the printed surface of the substrate 9 is cream soldered via a pattern hole provided in the mask plate 12. 17 is printed.

マスクプレート12の上方には、3次元計測センサ20が設けられている。図3に示すように、3次元計測センサ20はX軸テーブル21およびY軸テーブル22によってXY方向に水平移動する。X軸テーブル21およびY軸テーブル22は、3次元計測センサ20を移動させるセンサ移動手段となっている。基板位置決め部1は、Y軸テーブル2によってマスクプレート12の下方からY方向に移動して(矢印a)、保持した基板9を3次元計測センサ20による高さ計測位置まで移動させることができるようになっている(図9参照)。この状態で3次元計測センサ20をクランプ部材8aおよび基板9に設定された複数の計測対象位置の上方に順次移動させることにより、クランプ部材8aの高さおよび基板9の高さを計測することができる。本実施の形態においては、これらの計測結果に基づいて、クランプ部材8aの上面と基板9の上面との相対高さを調整するようにしている。   A three-dimensional measurement sensor 20 is provided above the mask plate 12. As shown in FIG. 3, the three-dimensional measurement sensor 20 is horizontally moved in the XY directions by the X-axis table 21 and the Y-axis table 22. The X-axis table 21 and the Y-axis table 22 are sensor moving means for moving the three-dimensional measurement sensor 20. The substrate positioning unit 1 is moved in the Y direction from below the mask plate 12 by the Y-axis table 2 (arrow a) so that the held substrate 9 can be moved to the height measurement position by the three-dimensional measurement sensor 20. (See FIG. 9). In this state, the height of the clamp member 8a and the height of the substrate 9 can be measured by sequentially moving the three-dimensional measurement sensor 20 above a plurality of measurement target positions set on the clamp member 8a and the substrate 9. it can. In the present embodiment, the relative height between the upper surface of the clamp member 8a and the upper surface of the substrate 9 is adjusted based on these measurement results.

次に図5を参照して、制御系の構成を説明する。制御部30はCPU機能を有しており、記憶部31に記憶された各種の動作・処理プログラムを実行することにより、以下に説明する各部を統括して制御し、スクリーン印刷装置によるスクリーン印刷作業動作や各種の制御処理を実行させる。記憶部31には上述の各種の動作・処理プログラムおよびこれらの処理に用いられる各種のデータのほか、基板下受け部6による基板9の下受け時に、基板9の上面とクランプ部材8aの上面との相対高さを調整するために参照される下受け高さデータ31aを記憶する。ここでは、対象となる基板9の厚みデータに基づき、基板下受け部6によって下受けされた基板9を印刷作業位置においてマスクプレート12に密着させるための基板下受け部6の適正高さが、下受け高さデータとして記憶される。   Next, the configuration of the control system will be described with reference to FIG. The control unit 30 has a CPU function, and executes various operation / processing programs stored in the storage unit 31 to control and control each unit described below to perform screen printing work by a screen printing apparatus. Perform operations and various control processes. In addition to the above-described various operation / processing programs and various data used for these processes, the storage unit 31 stores the upper surface of the substrate 9 and the upper surface of the clamp member 8a when the substrate 9 is received by the substrate receiving unit 6. The base height data 31a referred to for adjusting the relative height is stored. Here, based on the thickness data of the target substrate 9, the appropriate height of the substrate receiving portion 6 for bringing the substrate 9 received by the substrate receiving portion 6 into close contact with the mask plate 12 at the printing work position is as follows. It is stored as under height data.

機構駆動部32は、制御部30によって制御されて、基板搬送部7、基板位置決め部1、クランプ機構8、スクリーン印刷部10の各部を駆動する。これにより、基板9を対象とするスクリーン印刷作業が実行される。高さ計測処理部33は、前述のセンサ移動手段21,22および3次元計測センサ20を制御することにより、3次元計測センサ20によってクランプ部材8a、基板9を対象として高さ計測結果を実行させる。高さ計測処理部33および3次元計測センサ20は、水平面内で移動自在に配設され1対のクランプ部材8aの上面および基板9の上面を計測対象として高さ計測を行う高さ計測手段を構成する。   The mechanism driving unit 32 is controlled by the control unit 30 to drive each unit of the substrate transport unit 7, the substrate positioning unit 1, the clamp mechanism 8, and the screen printing unit 10. Thereby, the screen printing work for the substrate 9 is executed. The height measurement processing unit 33 controls the sensor moving units 21 and 22 and the three-dimensional measurement sensor 20 to cause the three-dimensional measurement sensor 20 to execute the height measurement result for the clamp member 8a and the substrate 9. . The height measurement processing unit 33 and the three-dimensional measurement sensor 20 are provided so as to be movable in a horizontal plane, and a height measurement unit that performs height measurement using the upper surface of the pair of clamp members 8a and the upper surface of the substrate 9 as measurement targets. Constitute.

クランプ状態制御部34は、高さ計測手段の3次元計測センサ20を順次移動させて上述の高さ計測を実行させるともに、3次元計測センサ20によって取得された高さ計測結果に基づいて基板下受け部6の動作を制御することにより、基板9をクランプ部材8aによって挟み込んだクランプ状態における基板9の上面とクランプ部材8aの上面との相対高さを調整するための制御処理を行う。すなわち、クランプ状態制御部34が基板位置決め部1のZ軸テーブル5の駆動を制御することにより、基板下受け部6に保持された基板9のクランプ部材8aに対する高さが調整される。   The clamp state control unit 34 sequentially moves the three-dimensional measurement sensor 20 of the height measurement unit to execute the above-described height measurement, and below the substrate based on the height measurement result acquired by the three-dimensional measurement sensor 20. By controlling the operation of the receiving portion 6, a control process for adjusting the relative height between the upper surface of the substrate 9 and the upper surface of the clamp member 8a in a clamped state in which the substrate 9 is sandwiched between the clamp members 8a is performed. That is, the clamp state control unit 34 controls the drive of the Z-axis table 5 of the substrate positioning unit 1 to adjust the height of the substrate 9 held by the substrate receiving unit 6 with respect to the clamp member 8a.

クランプ状態制御部34の詳細機能について説明する。本実施の形態においてクランプ状態制御部34は、計測実行部34a、高さ演算処理部34b、高さ調整部34cを含んだ構成となっている。計測実行部34aは、3次元計測センサ20を移動させて高さ計測点の上方に位置させ、各高さ計測点を対象として高さ計測を実行する処理を行う。図6は、クランプ部材8aを対象とするクランプ部材高さ計測動作を示している。図6(a)に示すように、1対のクランプ部材8aにはそれぞれの両端部近傍に位置して、第1の高さ計測点であるクランプ部材計測点PC1、PC2およびクランプ部材計測点PC3、PC4が設定されている。なおここでは、1つのクランプ部材8aについて両端部2点の高さ計測点を設定する例を示したが、もちろん高さ計測点の数を多く設定するようにしてもよい。   Detailed functions of the clamp state control unit 34 will be described. In the present embodiment, the clamp state control unit 34 includes a measurement execution unit 34a, a height calculation processing unit 34b, and a height adjustment unit 34c. The measurement execution unit 34a moves the three-dimensional measurement sensor 20 so as to be positioned above the height measurement point, and performs a process of executing height measurement for each height measurement point. FIG. 6 shows a clamp member height measuring operation for the clamp member 8a. As shown in FIG. 6 (a), the pair of clamp members 8a are positioned in the vicinity of both ends, and are clamp member measurement points PC1, PC2 and clamp member measurement points PC3 which are first height measurement points. , PC4 is set. Here, an example in which two height measurement points at both end portions are set for one clamp member 8a has been shown, but it goes without saying that a large number of height measurement points may be set.

クランプ部材8aを対象とした高さ計測では、図6(b)に示すように、まず一方側のクランプ部材8a上に3次元計測センサ20を移動させ、クランプ部材計測点PC1、PC2を対象として高さ計測を実行する。この計測結果を高さ計測処理部33が取得することにより、クランプ部材計測点PC1、PC2のそれぞれの高さが、高さ計測値HC1,HC2として検出される。次いで3次元計測センサ20をもう1つのクランプ部材8a上に移動させ(矢印b)、同様にクランプ部材計測点PC3、PC4を対象として高さ計測を実行する。この計測結果を高さ計測処理部33が取得することにより、クランプ部材計測点PC3、PC4のそれぞれの高さが、高さ計測値HC3,HC4として検出される。   In the height measurement for the clamp member 8a, as shown in FIG. 6B, first, the three-dimensional measurement sensor 20 is moved onto the clamp member 8a on one side, and the clamp member measurement points PC1 and PC2 are targeted. Perform height measurement. When the height measurement processing unit 33 acquires the measurement result, the heights of the clamp member measurement points PC1 and PC2 are detected as the height measurement values HC1 and HC2. Next, the three-dimensional measurement sensor 20 is moved onto another clamp member 8a (arrow b), and the height measurement is similarly performed on the clamp member measurement points PC3 and PC4. When the height measurement processing unit 33 acquires the measurement result, the heights of the clamp member measurement points PC3 and PC4 are detected as height measurement values HC3 and HC4.

また基板9を対象とする高さ計測においては、図7(a)に示すように、基板9に格子配列で設定された複数の第2の高さ計測点である基板計測点PB(i)を対象として、高さ計測が実行される。基板計測点PB(i)の配列は、基板9の大きさや反り変形の度合いなどに応じて適宜設定するが、ここでは約100個の高さ計測点を格子配列した例を示している。   In the height measurement for the substrate 9, as shown in FIG. 7A, substrate measurement points PB (i) that are a plurality of second height measurement points set in a lattice arrangement on the substrate 9. Height measurement is performed on the target. The arrangement of the board measurement points PB (i) is appropriately set according to the size of the board 9 and the degree of warpage deformation. Here, an example is shown in which about 100 height measurement points are arranged in a grid.

高さ計測の実行に際しては、予め全ての基板計測点PB(i)上を順序よく3次元計測センサ20が通過するように3次元計測センサ20の移動経路(図(a)に示す矢印d参照)を設定しておく。そして図7(b)に示すように、3次元計測センサ20を基板9の上方で設定された移動経路に沿って移動させながら(矢印c)各基板計測点PB(i)を対象として順次高さ計測を実行する。この計測結果を高さ計測処理部33が取得することにより、各基板計測点PB(i)の高さが、高さ計測値HB(i)として検出される。すなわち、計測実行部34aは、1対のクランプ部材8aのそれぞれについて少なくとも両端部の2点を含んで設定された複数の第1の高さ計測点(クランプ部材計測点PC1,PC2,PC3,PC4)および基板9の上面について予め規則配列で設定された複数の第2の高さ計測点(基板計測点PB(i))を対象として、高さ計測作業を実行させる。   When executing the height measurement, the movement path of the three-dimensional measurement sensor 20 so that the three-dimensional measurement sensor 20 passes through all the substrate measurement points PB (i) in order in advance (see arrow d shown in FIG. 1A). Is set in advance. Then, as shown in FIG. 7 (b), the three-dimensional measurement sensor 20 is moved along the movement path set above the substrate 9 (arrow c), and each substrate measurement point PB (i) is sequentially increased. Execute measurement. When the height measurement processing unit 33 acquires the measurement result, the height of each board measurement point PB (i) is detected as the height measurement value HB (i). That is, the measurement execution unit 34a includes a plurality of first height measurement points (clamp member measurement points PC1, PC2, PC3, PC4) that are set to include at least two points on both ends of each of the pair of clamp members 8a. ) And a plurality of second height measurement points (substrate measurement points PB (i)) set in a regular arrangement in advance on the upper surface of the substrate 9 are executed.

なお、基板9を対象とする高さ計測においては、基板9には部分的に切り欠き部9dが存在することから、図7(c)に示すように、基板9の上面9eに位置する通常の基板計測点PBと、切り欠き部9dの範囲に位置する基板計測点PB*とでは、高さ計測結果に相違が生じる。例えば、基板9が基板下受け部6によって面支持示されている場合には、切り欠き部9dの範囲では3次元計測センサ20は基板9を下受けする基板下受け部6の上面高さを検出する。また基板9がピン支持されているような場合には、切り欠き部9dの範囲では3次元計測センサ20はさらに低い位置にある下受けピンの保持部材などの高さを検出する。いずれの場合にも、通常の基板計測点PBと、切り欠き部9dの範囲に位置する基板計測点PB*とでは、高さ検出結果に基板9の厚み寸法tに相当する高さ差、もしくはさらに大きな高さ差が存在する。この高さ差により、切り欠き部9dの範囲に位置する基板計測点PB*は、基板9の上面の高さ計測値とは認められない特異点と見なされる。   In the height measurement for the substrate 9, the substrate 9 partially has a notch 9 d, so that the normal position located on the upper surface 9 e of the substrate 9 as shown in FIG. There is a difference in the height measurement result between the board measurement point PB and the board measurement point PB * located in the range of the notch 9d. For example, when the substrate 9 is supported by the substrate support 6, the three-dimensional measurement sensor 20 sets the height of the upper surface of the substrate support 6 that receives the substrate 9 within the range of the notch 9 d. To detect. When the substrate 9 is pin-supported, the three-dimensional measurement sensor 20 detects the height of the holding member of the receiving pin at a lower position in the range of the notch 9d. In any case, a difference in height corresponding to the thickness dimension t of the substrate 9 is detected in the height detection result between the normal substrate measurement point PB and the substrate measurement point PB * located in the range of the notch 9d, or There are even greater height differences. Due to this height difference, the board measurement point PB * located in the range of the notch 9d is regarded as a singular point that is not recognized as the height measurement value of the upper surface of the board 9.

高さ演算処理部34bは、上述の複数の高さ計測値に基づき、クランプ機構8の上面の高さを単一の代表値で示すクランプ部材高さHCM(図10(a)参照)および基板9の上面の高さを単一の代表値で示す基板上面高さHBM(図10(a)参照)を算出する高さ演算処理を行う。まずクランプ部材8aについては、1対のクランプ部材8aについて算出された4つのクランプ部材高さ計測値HC1,HC2、HC3,HC4の平均値を算出して、クランプ部材8aの高さを示す代表値としてのクランプ部材高さHCMとする。また基板9については、図7(c)にて説明した特異点、すなわち切り欠き部9dの範囲内についての高さ計測値を棄却した残余の複数の基板高さ計測値HB(i)の平均値を算出して、基板9の高さを示す代表値としての基板上面高さHBMとする。   The height calculation processing unit 34b is a clamp member height HCM (see FIG. 10A) indicating the height of the upper surface of the clamp mechanism 8 as a single representative value based on the plurality of height measurement values described above and the substrate. A height calculation process for calculating a substrate upper surface height HBM (see FIG. 10A) indicating the height of the upper surface 9 with a single representative value is performed. First, for the clamp member 8a, an average value of the four measured clamp member heights HC1, HC2, HC3, and HC4 calculated for the pair of clamp members 8a is calculated to represent a representative value indicating the height of the clamp member 8a. As a clamp member height HCM. Further, for the substrate 9, the average of a plurality of remaining substrate height measurement values HB (i) that reject the height measurement values within the range of the singular point described in FIG. 7C, that is, the notch 9d. A value is calculated and set as a substrate upper surface height HBM as a representative value indicating the height of the substrate 9.

ここで、複数の基板高さ計測値HB(i)から上述の特異点を抜き出して棄却するために、予め規定された統計処理アルゴリズムにしたがってデータ処理を行う。ここでは、全ての基板高さ計測値HB(i)を対象としてこれらの計測値の標準偏差を求め、その標準偏差と比較して明らかに分布中心から大きくはずれた計測値を特異点として棄却する。この特異点棄却のための判定しきい値は、各基板毎に実際に高さ計測値HB(i)を求め、その分布状態を勘案して各基板品種毎に設定する。   Here, in order to extract and reject the above-mentioned singular point from the plurality of substrate height measurement values HB (i), data processing is performed according to a predefined statistical processing algorithm. Here, the standard deviations of these measurement values are obtained for all the substrate height measurement values HB (i), and the measurement values clearly deviating from the center of distribution compared with the standard deviation are rejected as singular points. . The determination threshold for rejecting the singular point is set for each board type in consideration of the distribution state by actually obtaining the height measurement value HB (i) for each board.

すなわち高さ演算処理部34bは、複数の第1の高さ計測点を対象として得られた高さ計測値の平均値を求めることによりクランプ部材高さHCMを算出するとともに、複数の第2の高さ計測点を対象として得られた高さ計測値を予め定められた統計処理アルゴリズムにしたがってデータ処理することにより、基板9の上面の高さ計測値とは認められない特異点を除いた複数の高さ計測値の平均値を求めて基板上面高さHBMを算出する。   That is, the height calculation processing unit 34b calculates the clamp member height HCM by obtaining an average value of the height measurement values obtained with respect to the plurality of first height measurement points, and the plurality of second height measurement points. By processing the height measurement values obtained for the height measurement points according to a predetermined statistical processing algorithm, a plurality of singular points that are not recognized as height measurement values on the upper surface of the substrate 9 are removed. The average value of the height measurement values of the substrate is obtained to calculate the substrate upper surface height HBM.

高さ調整部34cは、算出されたクランプ部材高さHCMおよび基板上面高さHBMに基づいて、基板下受け部6の昇降動作を制御することにより、基板9の上面とクランプ部材8aの上面との相対高さを調整する処理を行う。すなわち、高さ調整部34cはクランプ部材高さHCM、基板上面高さHBMの高さ差ΔH(図10(a)参照)を求め、その高さ差ΔHを補正するようにZ軸テーブル5を駆動することにより、基板9を補正分だけ昇降させて、基板9の上面をクランプ部材8aの上面に合わせる高さ調整を行う。そして当該基板品種について求められた高さ差Δを加味した下受け高さによって記憶部31の下受け高さデータ31aが更新される。   Based on the calculated clamp member height HCM and the substrate upper surface height HBM, the height adjusting unit 34c controls the raising / lowering operation of the substrate receiving unit 6 to thereby adjust the upper surface of the substrate 9 and the upper surface of the clamp member 8a. Process to adjust the relative height of. That is, the height adjustment unit 34c obtains a height difference ΔH (see FIG. 10A) between the clamp member height HCM and the substrate upper surface height HBM, and sets the Z-axis table 5 so as to correct the height difference ΔH. By driving, the substrate 9 is moved up and down by a correction amount, and the height is adjusted so that the upper surface of the substrate 9 is aligned with the upper surface of the clamp member 8a. Then, the base height data 31a of the storage unit 31 is updated with the base height in consideration of the height difference Δ obtained for the board type.

操作・入力部35はキーボードやタッチパネルスイッチなどの入力手段であり、スクリーン印刷装置を稼働させるための操作指令や、各種のデータ入力が行われる。表示部36は、液晶パネルなどの表示装置であり、操作・入力時の案内画面の表示や、各種の報知画面の表示を行う。   The operation / input unit 35 is an input means such as a keyboard and a touch panel switch, and performs operation commands for operating the screen printing apparatus and various data inputs. The display unit 36 is a display device such as a liquid crystal panel, and displays a guidance screen at the time of operation / input and various notification screens.

このスクリーン印刷装置は上記のように構成されており、次にこのスクリーン印刷装置によるスクリーン印刷作業におけるクランプ状態制御処理について、図8のフローに則して、各図を参照して説明する。このクランプ状態制御処理は、多面取り基板である基板9など反り変形を生じやすく、マスクプレート12との密着状態の不良を招きやすい基板を対象とする場合にあっても、マスクプレート12と基板9との良好な密着性を確保することを目的として実行される処理である。そしてこのクランプ状態制御処理は、新たな基板種との品種切替が行われる際に、下受け高さデータ31aを実際の基板に対応した適正データに更新するために行われるティーチング処理としての意味合いを持つものである。もちろん個別基板によって厚みや反り変形状態のばらつきが大きい場合には、必要に応じて実行回数を増やすようにしてもよい。   The screen printing apparatus is configured as described above. Next, clamp state control processing in screen printing work by the screen printing apparatus will be described with reference to the drawings in accordance with the flow of FIG. This clamping state control processing is performed even when the substrate such as the substrate 9 which is a multi-sided substrate is likely to be warped and deformed, and the substrate is likely to cause a poor contact state with the mask plate 12. Is a process executed for the purpose of ensuring good adhesion. This clamping state control process has the meaning as a teaching process that is performed to update the receiving height data 31a to appropriate data corresponding to the actual board when the product type is switched to a new board type. It is what you have. Of course, when the variation in thickness and warpage deformation state is large depending on individual substrates, the number of executions may be increased as necessary.

クランプ状態制御処理の開始に際しては、まず基板搬送部7によって基板9を搬入し(ST1)、搬入された基板9を基板下受け部6によって下受け保持する(ST2)。この下受け動作は、対象とする基板9の基板厚みデータから求められた下受け高さデータ31aに基づいて基板下受け部6を上昇させることによって行われる。このとき、基板9の厚み誤差や厚みデータ誤入力、反り変形、さらにはZ軸テーブル5による基板下受け部6の昇降時の機構誤差など各種の要因によって、基板9の上面とクランプ部材8aの上面とは必ずしも同一高さとはならず、図10(a)に示すように、基板9の上面とクランプ部材8aの上面との間に高さ差ΔHが生じる場合がある。このため、この高さ差ΔHを補正するための処理が、クランプ状態制御部34の処理機能によって以下のように実行される。   At the start of the clamp state control process, first, the substrate 9 is loaded by the substrate transfer unit 7 (ST1), and the loaded substrate 9 is received and held by the substrate receiving unit 6 (ST2). This receiving operation is performed by raising the substrate receiving portion 6 based on the receiving height data 31a obtained from the substrate thickness data of the target substrate 9. At this time, the upper surface of the substrate 9 and the clamp member 8a are caused by various factors such as a thickness error of the substrate 9, an erroneous input of thickness data, warpage deformation, and a mechanism error when the substrate receiving portion 6 is raised and lowered by the Z-axis table 5. The height is not necessarily the same as the upper surface, and there may be a height difference ΔH between the upper surface of the substrate 9 and the upper surface of the clamp member 8a as shown in FIG. For this reason, the process for correcting the height difference ΔH is executed as follows by the processing function of the clamp state control unit 34.

まずクランプ部材8aを対象として第1の高さ計測点(クランプ部材計測点PC1,PC2,PC3,PC4)の高さ計測作業が実行される(ST3)。すなわち、図9(a)に示すように、基板位置決め部1においてY軸テーブル2を駆動して、基板下受け部6に保持された基板9をマスクプレート12の下方から引き出す(矢印e)。そして図6に示す方法により、クランプ部材計測点PC1,PC2,PC3,PC4の高さを計測し、クランプ部材高さ計測値HC1,HC2,HC3,HC4を検出する。次いで基板9の上面を対象として、第2の高さ計測点(基板計測点PB(i))の高さ計測作業を実行する(ST4)。すなわち図9(b)に示すように、3次元計測センサ20を基板9の上方に移動させて、図7(a)に示す基板計測点PB(i)の高さを順次計測し、各計測点について基板高さ計測値HB(i)を検出する。   First, the height measurement operation of the first height measurement points (clamp member measurement points PC1, PC2, PC3, PC4) is performed on the clamp member 8a (ST3). That is, as shown in FIG. 9A, the substrate positioning unit 1 drives the Y-axis table 2 to pull out the substrate 9 held by the substrate receiving unit 6 from below the mask plate 12 (arrow e). Then, the height of the clamp member measurement points PC1, PC2, PC3, PC4 is measured by the method shown in FIG. 6, and the clamp member height measurement values HC1, HC2, HC3, HC4 are detected. Next, the height measurement operation of the second height measurement point (substrate measurement point PB (i)) is performed on the upper surface of the substrate 9 (ST4). That is, as shown in FIG. 9B, the three-dimensional measurement sensor 20 is moved above the substrate 9, and the heights of the substrate measurement points PB (i) shown in FIG. The substrate height measurement value HB (i) is detected for the point.

次に(ST3)の計測結果に基づき、クランプ部材高さを算出する(ST5)。すなわち、高さ演算処理部34bが4つの高さ計測値HC1,HC2、HC3,HC4の平均値を算出することにより、クランプ部材8aの高さを示す代表値としてのクランプ部材高さHCMが算出される。次いで、基板上面高さを算出する(ST6)。すなわち、高さ演算処理部34bが予め規定された統計処理アルゴリズムにしたがってデータ処理を行うことにより、複数の基板高さ計測値HB(i)から前述の特異点を抜き出して棄却し、残余の複数の基板高さ計測値HB(i)の平均値を算出することにより、基板9の高さを示す代表値としての基板上面高さHBMが算出される。   Next, the clamp member height is calculated based on the measurement result of (ST3) (ST5). That is, the height calculation processing unit 34b calculates the average value of the four height measurement values HC1, HC2, HC3, and HC4, thereby calculating the clamp member height HCM as a representative value indicating the height of the clamp member 8a. Is done. Next, the substrate top surface height is calculated (ST6). That is, the height calculation processing unit 34b performs data processing according to a predetermined statistical processing algorithm, thereby extracting and rejecting the above-mentioned singular points from the plurality of substrate height measurement values HB (i). By calculating the average value of the measured substrate heights HB (i), the substrate upper surface height HBM as a representative value indicating the height of the substrate 9 is calculated.

次いで下受け高さデータを算出する(ST7)。すなわち算出されたクランプ部材高さHCMおよび基板上面高さHBMに基づいて、当該基板9の上面をクランプ部材8aの上面と同一高さとするための必要な補正値を求める。ここでは図10(a)に示すように、クランプ部材高さHCMと基板上面高さHBMとの高さ差ΔHを求める。そしてこの高さ差ΔHを加味した新たな下受け高さデータ31aが算出され、記憶部31に記憶された既存データが更新される。次いで、基板9の上面とクランプ部材8aの上面との相対高さを調整する(ST8)。すなわち、図10(b)に示すように、クランプ機構8を作動させてクランプ部材8aにより基板9のクランプ状態を一端解除した後、基板下受け部6を補正値である高さ差ΔHだけ昇降させる(矢印g)。そして図10(c)に示すように、クランプ部材8aによって基板9を挟み込んでクランプする(ST9)。   Next, the receiving height data is calculated (ST7). That is, based on the calculated clamp member height HCM and substrate upper surface height HBM, a necessary correction value for making the upper surface of the substrate 9 the same height as the upper surface of the clamp member 8a is obtained. Here, as shown in FIG. 10A, a height difference ΔH between the clamp member height HCM and the substrate upper surface height HBM is obtained. Then, new base height data 31a is calculated in consideration of the height difference ΔH, and the existing data stored in the storage unit 31 is updated. Next, the relative height between the upper surface of the substrate 9 and the upper surface of the clamp member 8a is adjusted (ST8). That is, as shown in FIG. 10B, after the clamp mechanism 8 is operated and the clamp state of the substrate 9 is once released by the clamp member 8a, the substrate support 6 is moved up and down by a height difference ΔH which is a correction value. (Arrow g). Then, as shown in FIG. 10C, the substrate 9 is sandwiched and clamped by the clamp member 8a (ST9).

これにより、クランプ部材高さHCと基板上面高さHBが高い精度でほぼ同一高さにセットされる。そしてこの状態でスクリーン印刷が実行される(ST10)。すなわち、クランプ部材8aによってクランプされた状態の基板9を上昇させて、マスクプレート12の下面に当接させ、次いでマスクプレート12の上面でスキージ16を摺動させることにより、マスクプレート12のパターン孔を介して基板9にクリーム半田17を印刷する。そしてこれ以降に実行される同一基板種の基板9を対象とするスクリーン印刷においては、更新された下受け高さデータ31aに基づいて、基板下受け動作が実行される。このスクリーン印刷においては、クランプ部材高さHCと基板上面高さHBとが同一高さとなっていることから、マスクプレート12と基板9との密着性が向上し、印刷品質が確保される。   Thereby, the clamp member height HC and the substrate upper surface height HB are set to substantially the same height with high accuracy. In this state, screen printing is executed (ST10). That is, the substrate 9 clamped by the clamp member 8 a is raised and brought into contact with the lower surface of the mask plate 12, and then the squeegee 16 is slid on the upper surface of the mask plate 12. The cream solder 17 is printed on the substrate 9 via In the screen printing for the same substrate type substrate 9 that is executed thereafter, the substrate underlay operation is executed based on the updated underlay height data 31a. In this screen printing, since the clamp member height HC and the substrate upper surface height HB are the same height, the adhesion between the mask plate 12 and the substrate 9 is improved, and the printing quality is ensured.

すなわち上述のスクリーン印刷方法においては、3次元計測センサ20を順次移動させて高さ計測を実行させるとともに、3次元計測センサ20による高さ計測結果に基づいて基板下受け部6の動作を制御することにより、基板クランプ状態における基板9の上面とクランプ部材8aの上面との相対高さを調整するクランプ状態制御工程を実行する形態となっている。そして上述フローにおける(ST3)、(ST4)は、1対のクランプ部材8aのそれぞれについて少なくとも両端部の2点を含んで設定された複数の第1の高さ計測点(クランプ部材計測点PC1,PC2,PC3,PC4)および基板9の上面について予め規則配列で設定された複数の第2の高さ計測点(基板計測点PB(i))を対象として高さ計測作業を実行させる計測実行ステップとなっている。   That is, in the above-described screen printing method, the three-dimensional measurement sensor 20 is sequentially moved to perform height measurement, and the operation of the substrate support 6 is controlled based on the height measurement result by the three-dimensional measurement sensor 20. Thus, the clamp state control process is performed in which the relative height between the upper surface of the substrate 9 and the upper surface of the clamp member 8a in the substrate clamp state is adjusted. (ST3) and (ST4) in the above-described flow are a plurality of first height measurement points (clamp member measurement points PC1, PC1 that are set including at least two points on both ends of each of the pair of clamp members 8a. PC2, PC3, PC4) and a measurement execution step for executing a height measurement operation on a plurality of second height measurement points (substrate measurement points PB (i)) set in a regular arrangement in advance on the upper surface of the substrate 9 It has become.

また上述フローにおける(ST5)、(ST6)は、複数の第1の高さ計測点(クランプ部材計測点PC1,PC2,PC3,PC4)を対象として得られたクランプ部材高さ計測値HC1,HC2、HC3,HC4の平均値を求めることによりクランプ部材高さHCMを算出するとともに、複数の第2の高さ計測点(基板計測点PB(i))を対象として得られた高さ計測値(基板高さ計測値HB(i))を予め定められた統計処理アルゴリズムにしたがってデータ処理することにより、基板9の上面の高さ計測値とは認められない特異点を除いた複数の高さ計測値の平均値を求めて基板上面高さを算出する高さ演算処理ステップとなっている。さらに上述フローにおける(ST7)、(ST8)は、算出されたクランプ部材高さHCMおよび基板上面高さHBMに基づいて基板下受け部6の動作を制御することにより、基板9の上面とクランプ部材8aの上面との相対高さを調整する高さ調整ステップとなっている。   In addition, (ST5) and (ST6) in the above-described flow are clamp member height measurement values HC1 and HC2 obtained by targeting a plurality of first height measurement points (clamp member measurement points PC1, PC2, PC3, PC4). In addition to calculating the average value of HC3 and HC4, the clamp member height HCM is calculated, and the height measurement values obtained for a plurality of second height measurement points (substrate measurement points PB (i)) ( The substrate height measurement value HB (i)) is subjected to data processing according to a predetermined statistical processing algorithm, whereby a plurality of height measurements excluding singular points that are not recognized as the height measurement value of the upper surface of the substrate 9 are obtained. This is a height calculation processing step for calculating an average value of the values and calculating the substrate upper surface height. Further, (ST7) and (ST8) in the above-described flow indicate that the upper surface of the substrate 9 and the clamp member are controlled by controlling the operation of the substrate receiving portion 6 based on the calculated clamp member height HCM and the substrate upper surface height HBM. This is a height adjustment step for adjusting the relative height of the upper surface of 8a.

上記説明したように、本実施の形態に示すスクリーン印刷においては、基板クランプ状態における基板9の上面とクランプ部材8aの上面との相対高さを調整するクランプ状態制御工程において、クランプ部材8aに設定された複数の第1の高さ計測点および基板9の上面について設定された複数の第2の高さ計測点を対象として高さ計測作業を実行してクランプ部材高さHCMおよび基板上面高さHBMを算出し、算出されたクランプ部材高さHCMおよび基板上面高さHBMに基づいて基板下受け部6の動作を制御して、基板9の上面とクランプ部材8aの上面との相対高さを調整するようにしたものである。   As described above, in the screen printing shown in the present embodiment, the clamp member 8a is set in the clamp state control step of adjusting the relative height between the upper surface of the substrate 9 and the upper surface of the clamp member 8a in the substrate clamp state. The height measurement operation is performed on the plurality of first height measurement points and the plurality of second height measurement points set for the upper surface of the substrate 9 to perform the clamp member height HCM and the substrate upper surface height. HBM is calculated, and the operation of the substrate receiving portion 6 is controlled based on the calculated clamp member height HCM and substrate upper surface height HBM, and the relative height between the upper surface of the substrate 9 and the upper surface of the clamp member 8a is determined. It is intended to be adjusted.

これにより、対象とする基板9の厚みデータと実物厚みとに誤差がある場合や、基板9に反り変形が生じている場合など、基板9とマスクプレート12との密着性の確保が困難な場合にあっても、高さ計測を実際に実行することによって、これらの誤差要因を排除して基板9とクランプ部材8aの高さを同一にセットすることが可能となる。これにより、マスクプレート12との密着性を向上させることができ、基板9とマスクプレート12との間の密着性に起因して生じる印刷品質不良を防止することができる。   As a result, when it is difficult to ensure the adhesion between the substrate 9 and the mask plate 12, such as when there is an error between the thickness data of the target substrate 9 and the actual thickness, or when the substrate 9 is warped and deformed. Even so, by actually executing the height measurement, it is possible to eliminate these error factors and set the height of the substrate 9 and the clamp member 8a to be the same. Thereby, the adhesiveness with the mask plate 12 can be improved, and the printing quality defect resulting from the adhesiveness between the board | substrate 9 and the mask plate 12 can be prevented.

本発明のスクリーン印刷装置およびスクリーン印刷方法は、基板とマスクプレートとの間の密着性に起因して生じる印刷品質不良を防止することができるという効果を有し、基板にクリーム半田や導電性ペーストなどのペーストを印刷する分野において有用である。   INDUSTRIAL APPLICABILITY The screen printing apparatus and the screen printing method of the present invention have an effect that it is possible to prevent print quality defects caused by the adhesion between the substrate and the mask plate, and cream solder or conductive paste is applied to the substrate. It is useful in the field of printing pastes.

1 基板位置決め部
2 Y軸テーブル
3 X軸テーブル
4 θ軸テーブル
5 Z軸テーブル
6 基板下受け部
7 基板搬送部
8a クランプ部材
9 基板
9a 単位基板
9d 切り欠き部
10 スクリーン印刷部
12 マスクプレート
13 スキージユニット
16 スキージ
17 クリーム半田
20 3次元計測センサ
PC1,PC2,PC3,PC4 クランプ部材計測点
HC1,HC2,HC3,HC4 クランプ部材高さ計測値
PB、PB(i) 基板計測点
HB(i) 基板高さ計測値
HC、HCM クランプ部材高さ
HB、HBM 基板上面高さ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate positioning part 2 Y-axis table 3 X-axis table 4 θ-axis table 5 Z-axis table 6 Substrate receiving part 7 Substrate transport part 8a Clamp member 9 Substrate 9a Unit substrate 9d Notch part 10 Screen printing part 12 Mask plate 13 Squeegee Unit 16 Squeegee 17 Cream solder 20 Three-dimensional measurement sensor PC1, PC2, PC3, PC4 Clamp member measurement point HC1, HC2, HC3, HC4 Clamp member height measurement value PB, PB (i) Substrate measurement point HB (i) Substrate height Measured value HC, HCM Clamp member height HB, HBM Upper surface height of substrate

Claims (2)

パターン孔が形成されたマスクプレートの下面に基板を当接させ、ペーストが供給された前記マスクプレート上面でスキージを摺動させることにより前記パターン孔を介して基板にペーストを印刷するスクリーン印刷装置であって、
前記マスクプレートに対して下方から昇降自在に配設され前記基板を下受けして前記マスクプレート下面側の印刷位置に保持する基板下受け部と、前記基板を第1方向に搬送することにより前記基板下受け部に基板を搬入し印刷後の基板を基板下受け部から搬出する基板搬送部と、前記基板下受け部によって下受けされた基板を前記第1方向と直交する第2方向から挟み込む1対のクランプ部材と、
水平面内で移動自在に配設され前記1対のクランプ部材の上面および前記基板の上面を計測対象として高さ計測を行う高さ計測手段と、
前記高さ計測手段を順次移動させて高さ計測を実行させるとともに、前記高さ計測手段による高さ計測結果に基づいて前記基板下受け部を制御することにより、前記基板をクランプ部材によって挟み込んだクランプ状態における前記基板の上面と前記クランプ部材の上面との相対高さを調整するクランプ状態制御部とを備え、
さらに前記クランプ状態制御部は、前記1対のクランプ部材のそれぞれについて少なくとも両端部の2点を含んで設定された複数の第1の高さ計測点および前記基板の上面について予め規則配列で設定された複数の第2の高さ計測点を対象として高さ計測作業を実行させる計測実行部と、
前記複数の第1の高さ計測点を対象として得られた高さ計測値の平均値を求めることによりクランプ部材高さを算出するとともに、前記複数の第2の高さ計測点を対象として得られた高さ計測値を予め定められた統計処理アルゴリズムにしたがってデータ処理することにより、基板の上面の高さ計測値とは認められない特異点を除いた複数の高さ計測値の平均値を求めて基板上面高さを算出する高さ演算処理部と、
前記算出されたクランプ部材高さおよび基板上面高さに基づいて前記基板下受け部を制御することにより、前記基板の上面と前記クランプ部材の上面との相対高さを調整する高さ調整部とを有することを特徴とするスクリーン印刷装置。
A screen printing apparatus for printing a paste on a substrate through the pattern hole by bringing the substrate into contact with the lower surface of the mask plate on which the pattern hole is formed and sliding a squeegee on the upper surface of the mask plate to which the paste is supplied. There,
A substrate lower receiving portion that is disposed so as to be movable up and down with respect to the mask plate and receives the substrate and holds it at a printing position on the lower surface side of the mask plate, and transporting the substrate in a first direction. A substrate carrying unit that carries the substrate into the substrate receiving unit and unloads the printed substrate from the substrate receiving unit, and the substrate received by the substrate receiving unit is sandwiched from a second direction orthogonal to the first direction. A pair of clamp members;
A height measuring means that is movably disposed in a horizontal plane and that measures the height of the upper surface of the pair of clamp members and the upper surface of the substrate as measurement objects;
The height measurement unit is sequentially moved to perform height measurement, and the substrate receiving portion is controlled based on a height measurement result by the height measurement unit, whereby the substrate is sandwiched between clamp members. A clamp state control unit that adjusts a relative height between the upper surface of the substrate and the upper surface of the clamp member in a clamped state;
Further, the clamp state control unit is preset in a regular arrangement with respect to the plurality of first height measurement points set to include at least two points on both ends of each of the pair of clamp members and the upper surface of the substrate. A measurement execution unit that executes height measurement work on a plurality of second height measurement points;
The clamp member height is calculated by obtaining an average value of the height measurement values obtained for the plurality of first height measurement points, and is obtained for the plurality of second height measurement points. By processing the obtained height measurement values according to a predetermined statistical processing algorithm, an average value of a plurality of height measurement values excluding singular points that are not recognized as height measurement values on the upper surface of the substrate is obtained. A height calculation processing unit for calculating the upper surface height of the substrate,
A height adjusting unit that adjusts a relative height between the upper surface of the substrate and the upper surface of the clamp member by controlling the substrate lower receiving portion based on the calculated clamp member height and the substrate upper surface height; A screen printing apparatus comprising:
マスクプレートに対して下方から昇降自在に配設され基板を下受けして前記マスクプレート下面側の印刷位置に保持する基板下受け部と、前記基板を第1方向に搬送することにより前記基板下受け部に基板を搬入し印刷後の基板を基板下受け部から搬出する基板搬送部と、前記基板下受け部によって下受けされた基板を前記第1方向と直交する第2方向から挟み込む1対のクランプ部材と、
水平面内で移動自在に配設され前記1対のクランプ部材の上面および前記基板の上面を計測対象として高さ計測を行う高さ計測手段とを備えたスクリーン印刷装置によって、パターン孔が形成された前記マスクプレートの下面に前記基板を当接させ、ペーストが供給された前記マスクプレート上面でスキージを摺動させることにより前記パターン孔を介して前記基板にペーストを印刷するスクリーン印刷方法であって、
前記高さ計測手段を順次移動させて高さ計測を実行させるとともに、前記高さ計測手段による高さ計測結果に基づいて前記基板下受け部を制御することにより、基板クランプ状態における前記基板の上面と前記クランプ部材の上面との相対高さを調整するクランプ状態制御工程を実行し、
さらに前記クランプ状態制御工程は、前記1対のクランプ部材のそれぞれについて少なくとも両端部の2点を含んで設定された複数の第1の高さ計測点および前記基板の上面について予め規則配列で設定された複数の第2の高さ計測点を対象として高さ計測作業を実行させる計測実行ステップと、
前記複数の第1の高さ計測点を対象として得られた高さ計測値の平均値を求めることによりクランプ部材高さを算出するとともに、前記複数の第2の高さ計測点を対象として得られた高さ計測値を予め定められた統計処理アルゴリズムにしたがってデータ処理することにより、基板の上面の高さ計測値とは認められない特異点を除いた複数の高さ計測値の平均値を求めて基板上面高さを算出する高さ演算処理ステップと、
前記算出されたクランプ部材高さおよび基板上面高さに基づいて前記基板下受け部を制御することにより、前記基板の上面と前記クランプ部材の上面との相対高さを調整する高さ調整ステップとを含むことを特徴とするスクリーン印刷方法。
A substrate lower receiving portion that is disposed so as to be movable up and down with respect to the mask plate and holds the substrate at a printing position on the lower surface side of the mask plate; and by transporting the substrate in the first direction A pair of a substrate carrying unit that carries the substrate into the receiving unit and unloads the printed substrate from the substrate receiving unit and a substrate that is received by the substrate receiving unit from a second direction orthogonal to the first direction. A clamping member of
A pattern hole is formed by a screen printing apparatus that is movably arranged in a horizontal plane and includes a height measuring unit that measures the height of the upper surface of the pair of clamp members and the upper surface of the substrate as measurement targets. A screen printing method for printing a paste on the substrate through the pattern hole by bringing the substrate into contact with the lower surface of the mask plate and sliding a squeegee on the upper surface of the mask plate supplied with the paste,
The height measurement unit is sequentially moved to perform height measurement, and the substrate lower portion is controlled based on the height measurement result by the height measurement unit, thereby the upper surface of the substrate in the substrate clamped state. And a clamp state control step of adjusting the relative height between the upper surface of the clamp member and the clamp member,
Further, in the clamp state control step, a plurality of first height measurement points set including at least two points on both ends of each of the pair of clamp members and an upper surface of the substrate are set in a regular arrangement in advance. A measurement execution step for performing height measurement work on a plurality of second height measurement points,
The clamp member height is calculated by obtaining an average value of the height measurement values obtained for the plurality of first height measurement points, and is obtained for the plurality of second height measurement points. By processing the obtained height measurement values according to a predetermined statistical processing algorithm, an average value of a plurality of height measurement values excluding singular points that are not recognized as height measurement values on the upper surface of the substrate is obtained. A height calculation processing step for calculating and calculating a substrate upper surface height;
A height adjusting step of adjusting a relative height between the upper surface of the substrate and the upper surface of the clamp member by controlling the substrate lower receiving portion based on the calculated clamp member height and the substrate upper surface height; A screen printing method comprising:
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