JP2012050509A - 電子内視鏡システム - Google Patents

Abstract

【課題】挿入部の先端に設けた温度センサが正常に機能するか否かを判別することができる電子内視鏡システムを提供する。
【解決手段】電子内視鏡システム１１は、電子内視鏡１２、測定部４１や判別部４２を有するプロセッサ装置１３、光源装置１４等からなる。電子内視鏡１２は、被検体内に挿入される挿入部の先端部２０に、温度センサ３０とＣＭＯＳセンサ２１を有する。測定部４１は、温度センサ３０を用いてＣＭＯＳ温度を測定する。光源装置１４は、ライトガイド２８等を通じて、光源４５で発生させた照明光を先端部２０から被検体内に照射する。判別部４２は、電子内視鏡システム１１が起動されたときに、光源装置１４から所定条件の判別用照明光を照射させることにより、先端部２０の温度を上昇させながら、ＣＭＯＳ温度を取得し、ＣＭＯＳ温度の変化に基づいて温度センサ３０が正常に機能するか否かを判別する。
【選択図】図２

Description

本発明は、被検体内に挿入される挿入部の先端に温度センサを有する電子内視鏡システムに関する。

従来、医療分野において、電子内視鏡システムを利用した検査が広く普及している。電子内視鏡システムは、被検体（患者）の体内に挿入される挿入部を有する電子内視鏡と、電子内視鏡に接続されるプロセッサ装置及び光源装置等から構成される。

電子内視鏡は、被検体内に照明光を照射する照明光学系や、被検体内を撮像する撮像素子を挿入部の先端（以下、先端部という）に有する。プロセッサ装置は、撮像素子から出力される撮像信号に対して各種信号処理を施し、診断に供する観察画像を生成する。観察画像は、プロセッサ装置に接続されたモニタに表示される。光源装置は、照明光を発生する光源を有し、光量を調節した照明光を電子内視鏡に供給する。照明光は、電子内視鏡内に挿通されたライトガイドを通じて先端部に導光され、照明光学系や照明窓を介して被検体内に照射される。

電子内視鏡を使用すると、ライトガイドの伝達損失による発熱や、撮像素子の発熱等によって先端部の温度が上昇する。先端部の温度が上昇すると、撮像素子の暗電流ノイズが増加し、いわゆる白傷が目立つようになり観察画像が劣化する。また、高温（例えば６５℃以上）の状態が続くと、撮像素子の寿命が縮まるという問題もある。

こうした先端部の温度上昇の問題を解決するために、近年では、先端部に温度センサを設け、先端部の温度が所定以上に上昇しないように照明光量を制御する電子内視鏡システムが知られている（特許文献１〜３）。また、先端部に照明光を発するＬＥＤを設けた電子内視鏡も知られているが、照明光を発光するときにＬＥＤが発熱するので、先端部の発熱の問題は上述と同様であり、温度センサによって先端部の温度を測定し、これに応じて照明光量を制御する電子内視鏡が知られている（特許文献４，５）。

特開昭６３−０７１２３３号公報 特開２００７−１１７５３８号公報 特開２００８−０８０１１２号公報 特開２００７−２５２５１６号公報 特開２００８−０３５８８３号公報

上述のように、電子内視鏡システムにおいては、先端部の温度に応じて照明光量を調節することによって先端部の温度上昇を抑えることが好ましい。特許文献１−５に記載されているような従来の電子内視鏡システムは、こうした制御を先端部の温度が正しく測定されることを前提として行っている。このため、温度センサが故障した場合には、先端部の温度上昇を適切に抑止することができないことがある。

例えば、温度センサの故障によって、先端部の温度が実際の温度よりも低く測定されてしまうと、観察画像に白傷が目立つようになる高温を超えても照明光量を増大させてしまうことがある。また、温度センサの故障によって、先端部の温度が実際の温度よりも高く測定されてしまうと、先端部の温度が低温であるにもかかわらず照明光量が低く抑えられ、常に暗い観察画像しか撮影できなくなり、診断に支障をきたすことがある。

また、先端部温度に応じて照明光量等を調節する電子内視鏡は、温度センサが故障した場合、上述のような不具合を抱えながらも観察画像の撮影は可能であるため、温度センサの故障には気付き難い。このため、温度センサが故障したまま使用され続けしまうこともあり、長期にわたって診断に支障をきたしてしまったり、撮像素子等の他の部材の故障を招いて、電子内視鏡が早期に故障してしまうこともある。

こうしたことから、先端部温度を測定し、これに応じて照明光量等を調節する電子内視鏡システムにおいては、先端部温度を測定する温度センサが正常に機能しているか否かを定期的にチェックすることが望ましい。

本発明は、上述の点に鑑みてなされたものであり、先端部に備える温度センサが正常に動作するか否かを判別する電子内視鏡システムを提供することを目的とする。

本発明の電子内視鏡システムは、被検体内に挿入される挿入部の先端部分に、温度センサと前記被検体内を撮像する撮像素子を有する電子内視鏡と、前記温度センサを用いて前記先端部分の温度を測定する先端温度測定手段と、前記先端部分から照明光を照射する照明光照射手段と、前記先端部分の温度が上昇するときに、前記先端部分の温度変化に基づいて前記温度センサが正常に機能するか否かを判別する判別手段と、を備えることを特徴とする。

前記温度センサが正常に機能する場合に、前記温度センサによって測定される前記先端部分の経時的な温度変化を表す昇温プロファイルを予め記憶する記憶手段を備え、前記判別手段は、前記先端部分の温度が上昇するときに、前記温度センサを用いて前記先端温度測定手段が測定した前記先端部分の経時的な温度変化を、前記昇温プロファイルと比較することにより、前記温度センサが正常に機能するか否かを判別することが好ましい。

前記先端部分の温度に基づいて前記照明光の光量を自動調節する照明光調節手段を備えることが好ましい。

前記照明光調節手段は、前記判別手段によって前記温度センサが正常に機能すると判別された場合に、前記先端部分の温度変化に基づいて前記照明光の光量の上限を設定して前記上限以下の範囲内で前記照明光の光量を調節し、前記判別手段によって前記温度センサが故障していると判別された場合に、前記照明光照射手段から前記先端部分の温度が所定温度以上に上昇しないことが保証される安全光量の前記照明光を照射させることが好ましい。

また、前記判別手段によって前記温度センサが故障していると判別された場合に機能し、前記照明光調節手段から取得する前記照明光の照射履歴に基づいて前記先端部分の温度を推定する先端温度推定手段を備え、前記照明光量調節手段は、前記判別手段によって前記温度センサが正常に機能すると判別された場合に、前記先端部分の温度変化に基づいて前記照明光の光量の上限を設定して前記上限以下の範囲内で前記照明光の光量を調節し、前記判別手段によって前記温度センサが故障していると判別された場合に、前記先端温度推定手段によって推定された前記先端部分の温度に基づいて前記照明光の光量の上限を設定して前記上限以下の範囲内で前記照明光の光量を調節しても良い。

この場合、前記先端温度推定手段は、前記照明光の照射履歴に基づいて前記照明光によって前記先端部分に流入した熱量を算出し、当該熱量と、前記先端部分について予め測定された前記先端部分の熱容量，熱抵抗，前記撮像素子の発熱量とに基づいて前記先端部分の温度を推定することが好ましい。

前記判別手段は、前記判別を行うときに、照明光照射手段から所定光量の前記照明光を判別用照明光として照射させることにより前記先端部分の温度を上昇させることが好ましい。

前記判別手段は、前記先端部分の温度から前記判別用照明光の照射を開始した時点の前記先端部分の温度を差し引いて算出した温度差の時間変化に基づいて前記判別を行うことが好ましい。

前記判別手段は、当該システムが起動されたときに前記判別を行うことが好ましい。

前記判別手段による判別結果を報知する報知手段を備えることが好ましい。

前記判別手段は、前記先端部分の温度が上昇し始めてから熱平衡状態に至るまでの過渡期内の１点を含む少なくとも２点において、前記温度センサによって測定される前記先端部分の温度変化と前記昇温プロファイルとを比較することが好ましい。

前記電子内視鏡は、前記温度センサとして、第１温度センサと第２温度センサの２個の温度センサを有し、前記先端温度測定手段は、前記第１温度センサを用いて前記先端部分の第１の温度を測定するとともに、前記第２温度センサを用いて前記先端部分の第２の温度を測定し、前記判別手段は、前記先端部分の温度が上昇するときに、前記第１の温度の経時変化と前記第２の温度の経時変化を比較することにより、前記第１温度センサ及び前記第２温度センサが正常に機能するか否かを判別しても良い。

前記第１温度センサと前記第２温度センサは、同一の箇所の温度を測定することが好ましい。

本発明によれば、先端部に備える温度センサが正常に動作するか否かを判別するする電子内視鏡システムを提供することができる。

電子内視鏡システムの構成を示す外観図である。 電子内視鏡システムの構成を示すブロック図である。 ＣＭＯＳセンサの電気的構成を示すブロック図である。 絞り機構の構成を示す説明図である。 昇温プロファイルの様態を示すグラフである。 電子内視鏡システムの作用を示すフローチャートである。 光量上限を制限する様態を示すグラフである。 温度センサを２個備えた電子内視鏡システムの構成を示すブロック図である。 ２個の温度センサの昇温プロファイルを示すグラフである。 温度センサを２個備えた電子内視鏡システムにおいて各温度センサの正常動作を判別する様態を示すグラフである。 温度センサを２個備えた電子内視鏡システムの作用を示すフローチャートである。 温度センサが故障した場合に、先端部の温度を推定する電子内視鏡システムの構成を示すブロック図である。

［第１実施形態］
図１に示すように、電子内視鏡システム１１は、電子内視鏡１２、プロセッサ装置１３、及び光源装置１４からなる。電子内視鏡１２は、被検者の体内に挿入される可撓性の挿入部１６と、挿入部１６の基端部分に連接された操作部１７と、プロセッサ装置１３及び光源装置１４に接続されるコネクタ１８と、操作部１７‐コネクタ１８間を繋ぐユニバーサルコード１９とを有する。挿入部１６の先端（以下、先端部という）２０には、被検体内撮影用のＣＭＯＳ型イメージセンサ（図２参照。以下、ＣＭＯＳセンサという）２１が設けられている。

操作部１７には、先端部２０を上下左右方向に湾曲させるためのアングルノブや、挿入部１６の先端からエアーや水を噴出させるための送気／送水ボタン、観察画像を静止画記録するためのレリーズボタン、モニタ２２に表示された観察画像の拡大／縮小を指示するズームボタンといった操作部材が設けられている。また、操作部１７の先端側には、電気メス等の処置具が挿通される鉗子口が設けられている。鉗子口は、挿入部１６内の鉗子チャネルを通して、先端部２０に設けられた鉗子出口に連通している。

プロセッサ装置１３は、光源装置１４と電気的に接続され、電子内視鏡システム１１の動作を統括的に制御する。プロセッサ装置１３は、ユニバーサルコード１９や挿入部１６内に挿通された伝送ケーブルを介して電子内視鏡１２に給電を行い、ＣＭＯＳセンサ２１の駆動を制御する。また、プロセッサ装置１３は、伝送ケーブルを介して、ＣＭＯＳセンサ２１から出力された撮像信号を取得し、各種画像処理を施して画像データを生成する。プロセッサ装置１３で生成され画像データは、プロセッサ装置１３にケーブル接続されたモニタ２２に観察画像として表示される。

図２に示すように、先端部２０には、観察窓２３、照明窓２４、タイミングジェネレータ（以下、ＴＧという）２６、ＣＰＵ２７、温度センサ３０等が設けられている。観察窓２３の奥にはレンズ群およびプリズムからなる対物光学系２５によって被検体内の像が撮像領域５１（図３参照）に結像されるようにＣＭＯＳセンサ２１が配置されている。照明窓２４からは照明光が被検体内に照射される。照明光は、光源装置１４から電子内視鏡１２に供給され、ユニバーサルコード１９及び挿入部１６に挿通されたライトガイド２８によって導光され、出射端に配置された照明レンズ２９によって照明窓２４を介して被検体内に照射される。

ＣＭＯＳセンサ２１は、対物光学系２５によって撮像領域５１に結像された被検体内の像を光電変換する。ＣＭＯＳセンサ２１は、複数の画素を有し、各画素は入射光量に応じた画素値である撮像信号を出力する。撮像領域５１は、中央の受光部と、受光部を囲むように設けられたオプティカルブラックとからなる。受光部は開口された画素が配列された領域であり、各画素に複数の色セグメントからなるカラーフィルタが形成されている。カラーフィルタは、例えばベイヤー配列の原色（ＲＧＢ）あるいは補色（ＣＭＹまたはＣＭＹＧ）カラーフィルタである。オプティカルブラックは、遮光膜によって遮光された画素からなる領域であり、暗電流ノイズに応じた撮像信号（暗時出力値）を出力する。したがって、ＣＭＯＳセンサ２１が出力する撮像信号には、受光部の画素から出力される撮像信号とともに、オプティカルブラックの画素から出力される撮像信号が含まれる。受光部の画素から出力される撮像信号は観察画像の生成に用いられ、オプティカルブラックの画素から出力される撮像信号は、受光部の画素から出力される撮像信号の暗電流補正に用いられる。ＣＭＯＳ２１が出力する撮像信号は、ユニバーサルコード１９及びコネクタ１８を介してプロセッサ装置１３に入力され、ＤＳＰ３２（後述）の作業メモリに一旦格納される。その後、撮像信号に対して各種信号処理が施され、観察画像が生成される。

温度センサ３０は、例えばサーミスタからなり、ＣＭＯＳセンサ２１に取り付けられる。温度センサ３０は、ＣＭＯＳセンサ２１の温度が上昇すると抵抗値が増大し、ＣＭＯＳセンサ２１の温度が下降すると抵抗値が減少する。温度センサ３０の抵抗値は、後述するようにＤＳＰ３２に設けられた測定部４１によって測定され、温度に換算される。なお、ここでは、温度センサ３０としてサーミスタを用いる例を説明するが、熱電対等、他の温度センサを用いても良い。

ＴＧ２６には、ＣＭＯＳセンサ２１にクロック信号を与える。ＣＭＯＳセンサ２１は、ＴＧ２６から入力されるクロック信号に応じて撮像動作を行ない、撮像信号を出力する。なお、ＴＧ２６はＣＭＯＳセンサ２１内に設けられていても良い。ＣＰＵ２７は、電子内視鏡１２とプロセッサ装置１３とが接続された後、プロセッサ装置１３のＣＰＵ３１からの動作開始信号に基づいてＴＧ２６を駆動させる。

プロセッサ装置１３は、ＣＰＵ３１、デジタル信号処理回路（以下、ＤＳＰという）３２、デジタル画像処理回路（以下、ＤＩＰという）３３、表示制御回路３４、操作部３５等を有する。

ＣＰＵ３１は、図示しないデータバスやアドレスバス、制御線を介して各部と接続されており、プロセッサ装置１３全体の動作を統括的に制御する。ＲＯＭ３６には、プロセッサ装置１３の動作を制御するための各種プログラム（ＯＳ，アプリケーションプログラム等）やデータ（グラフィックデータ、温度センサ３０の抵抗値を温度に換算する特性データや起動時の昇温プロファイル４３等）が記憶されている。ＣＰＵ３１は、ＲＯＭ３６から必要なプログラムやデータを読み出して、作業メモリであるＲＡＭ３７に展開し、読み出したプログラムを逐次処理する。また、ＣＰＵ３１は、検査日時、被検体や術者の情報等の文字情報といった検査毎に変わる情報を、操作部３５やＬＡＮ等のネットワークより取得し、ＲＡＭ３７に記憶する。

ＤＳＰ３２は、ＣＭＯＳセンサ２１から入力される撮像信号に対して、色分離、色補間、ゲイン補正、ホワイトバランス調整、ガンマ補正等の各種信号処理を施し、画像データを生成する。ＤＳＰ３２で生成された画像データは、ＤＩＰ３３の作業メモリに入力される。また、ＤＳＰ３２は、例えば生成した画像データの各画素の輝度を平均した平均輝度値等、ＡＬＣ制御（後述）に必要なＡＬＣ制御用データを生成し、ＣＰＵ３１に入力する。

さらに、ＤＳＰ３２は、ＣＭＯＳセンサ２１の温度を測定する測定部４１、温度センサ３０の動作が正常であるか否かを自動的に判別する判別部４２を備える。

測定部４１は、温度センサ３０の抵抗値を測定し、これを温度センサ３０の特性データに基づいて温度に換算することによってＣＭＯＳセンサ２１の温度（以下、ＣＭＯＳ温度という）を測定する。測定部４１によるＣＭＯＳ温度の測定は、ＣＭＯＳセンサ２１の撮影フレーム毎や数フレーム毎など、所定の時間間隔毎に行われる。測定部４１によって測定されたＣＭＯＳ温度はＡＬＣ制御や判別部４２による温度センサ３０の動作チェックに用いられる。

判別部４２は、電子内視鏡システム１１の起動時に動作し、判別用照明光照射信号をプロセッサ装置１３のＣＰＵ３１を介して光源装置１４のＣＰＵ４８に入力する。これにより、電子内視鏡システム１１の起動時に、最大光量の照明光が判別用照明光として一定の時間出力される。こうして電子内視鏡システム１１の起動時に最大光量の照明光が照射されている間、判別部４２には測定部４１からＣＭＯＳ温度が入力される。電子内視鏡システム１１の起動直後のＣＭＯＳ温度は、室温等、先端部２０が置かれた環境の温度（以下、環境温度という）であり、判別用照明光が照射されることにより徐々に上昇する。そして、ある程度の時間が経過して先端部２０が熱平衡状態に達する。先端部２０が熱平衡状態になったときに示すＣＭＯＳ温度は、環境温度と判別用照明光の光量との関係によって定まるものであり、環境温度に応じて異なるが、先端部２０が熱平衡状態に達すれば一定の温度に落ち着く。

判別部４２は、測定部４１から入力されるＣＭＯＳ温度と、昇温プロファイル４３とに基づいて、温度センサ３０が正常に機能しているか否かを判別する。昇温プロファイル４３は、温度センサ３０が正常に動作する場合にＣＭＯＳ温度が上昇する様態を示すデータであり、予め測定され、ＲＯＭ３６に記憶されている。このため、判別部４２は、測定部４１から入力されるＣＭＯＳ温度が、昇温プロファイル４３に対して所定の範囲内に収まっているときに、温度センサ３０が正常に動作していると判別し、ＣＭＯＳ温度が昇温プロファイル４３に対して所定の範囲外であった場合に、温度センサ３０が故障しているものと判別する。判別部４２による温度センサ３０の動作に関する判別結果は、ＣＰＵ３１に入力される。ＣＰＵ３１は、温度センサ３０が故障していることを示す判別結果が判別部４２から入力されたときには、モニタ２２にその旨を表示し、温度センサ３０が故障していることを電子内視鏡システム１１の使用者に報知する。また、判別部４２による判別結果は、ＣＰＵ３１を介して、光源装置１４のＣＰＵ４８に入力され、ＡＬＣ制御に用いられる。

ＤＩＰ３３は、ＤＳＰ３２で生成された画像データに対して、電子変倍、色強調処理、エッジ強調処理等の各種画像処理を施す。ＤＩＰ３３で各種画像処理が施された画像データは、観察画像として表示制御回路３４に入力される。

表示制御回路３４は、ＤＩＰ３３から入力された観察画像を格納するＶＲＡＭを有する。また、表示制御回路３４は、ＣＰＵ３１からＲＯＭ３６及びＲＡＭ３７に記憶されたグラフィックデータ等を受け取る。グラフィックデータ等には、観察画像のうち、被写体が写された有効画素領域のみを表示させる表示マスク、検査日時、被検体や術者の情報等の文字情報、ＧＵＩといったものがある。表示制御回路３４は、ＶＲＡＭに格納した観察画像に対して、グラフィックデータ等の重畳処理を行うとともに、モニタ２２の表示形式に応じたビデオ信号（コンポーネント信号、コンポジット信号等）に変換してモニタ２２に出力する。これにより、モニタ２２に観察画像が表示される。

操作部３５は、プロセッサ装置１３の筐体に設けられる操作パネル、マウスやキーボード等の周知の入力デバイスであり、電子内視鏡１２の操作部１７にあるボタン等も含む。ＣＰＵ３１は、操作部３５からの操作信号に応じて、電子内視鏡システム１１の各部を動作させる。

プロセッサ装置１３には、上記の他にも、画像データに所定の圧縮形式（例えばＪＰＥＧ形式）で画像圧縮処理を施す圧縮処理回路や、レリーズボタンの操作に連動して、圧縮された画像をリムーバブルメディアに記録するメディアＩ／Ｆ、ＬＡＮ等のネットワークとの間で各種データの伝送制御を行うネットワークＩ／Ｆ等が設けられている。これらは，データバス等を介してＣＰＵ３１と接続されている。

光源装置１４は、光源４５、絞り機構４６、波長選択フィルタ４７、ＣＰＵ４８を有する。

光源４５は、赤色から青色までのブロードな波長の光（例えば、主に４００ｎｍ以上８００ｎｍ以下の波長帯の光、以下、通常光という）を発生する。光源４５は例えばキセノンランプからなり、一定の光量の通常光を発光する。光源４５で発生した通常光の光量は、絞り機構４６によって調節される。また、光源４５で発生した通常光は、波長選択フィルタ４７によって特定の狭い波長帯の光（以下、特殊光という）に制限されて被検体内に照射される場合がある。こうして光源４５から発せられた照明光（通常光または特殊光）は、集光レンズ４９で就航されてライトガイド２８の入射端に導光される。

絞り機構４６は、後述するように絞り開口６４（図４参照）や絞り開口６４を開閉する絞り羽根６５（図４参照）等からなり、照明光の光量を調節する。絞り機構４６は、撮影の様態やＣＭＯＳ温度等に応じて、ＣＰＵ４８によって自動的に制御される。

波長選択フィルタ４７は、光源４５から発せられた通常光を特殊光に制限するフィルタである。波長選択フィルタ４７は、例えば円板の半分が切り欠かれた半円状の形状を有し、光源４５と集光レンズ４９の間を横切るようにモータ回転される。また、波長選択フィルタ４７には、その回転位置を検出するセンサが設けられている。波長選択フィルタ４７が光源４５と集光レンズ４９の間を横切っている間は特殊光が照明光として被検体内に照射され、波長選択フィルタ４７の切り欠き部分が光源４５と集光レンズ４９の間を横切っている間は通常光が照明光として被検体内に照射される。特殊光としては、例えば、４５０ｎｍ、５００ｎｍ、５５０ｎｍ、６００ｎｍ、７８０ｎｍ近傍の波長の光が挙げられる。

４５０ｎｍ近傍の特殊光による撮影は、表層の血管やピットパターン等の被観察部位表面の異微細構造の観察に適している。５００ｎｍ近傍の照明光では、被観察部位の陥凹や隆起等のマクロな凹凸構造を観察することができる。５５０ｎｍ近傍の照明光は、ヘモグロビンによる吸収率が高く、微細血管や発赤の観察に適し、６５０ｎｍ近傍の照明光は、肥厚の観察に適している。深層血管の観察には、インドシアニングリーン（ＩＣＧ）等の蛍光物質を静脈注射し、７８０ｎｍ近傍の照明光を用いることで明瞭に観察することができる。

なお、ここでは波長選択フィルタ４７を用いるが、波長選択フィルタ４７にかえて、あるいは波長選択フィルタ４７に加えて、光源４５として波長帯が異なる光を発スルＬＥＤやＬＤ等を複数備えておき、これらの点灯と消灯を制御することにより通常光と特殊光を切り替えても良い。また、青色レーザー光源と、青色レーザー光の照射により緑色〜赤色の蛍光光を発する蛍光体を用いて通常光を発生させ、さらに波長選択フィルタで特殊光を発生させても良い。

ＣＰＵ４８は、プロセッサ装置１３のＣＰＵ３１と通信し、絞り機構４６及び波長選択フィルタ４７の動作制御を行う。ＣＰＵ４８による絞り機構４６の制御は、撮影の様態に応じて自動的に照明光の光量を調節するＡＬＣ（Auto Light Control）制御である。ＣＰＵ４８の行うＡＬＣ制御は、ＤＳＰ３２で生成されたＡＬＣ制御用データに基づいて行われる。また、ＣＰＵ４８は、ＡＬＣ制御を行う際に、プロセッサ装置１３のＣＰＵ３１を介して、ＣＭＯＳ温度を取得する。そして、ＣＭＯＳ温度に応じて照明光量の上限を所定値に制限し、この上限以下の光量となる範囲内でＡＬＣ制御を行う。

例えば、ＣＭＯＳ温度が所定の閾値以下の温度である場合には、ＣＰＵ４８は、光源４５の発光量や絞り機構４６の構成によって決まる最大光量Ｌｍａｘを上限として、最大光量Ｌｍａｘ以下の範囲内でＡＬＣ制御用データに基づいて撮影に最適となるように照明光量を調節する。また、ＣＭＯＳ温度が所定の閾値よりも高温である場合には、ＣＰＵ４８は照明光量の上限を光量上限Ｌ１に制限し、光量上限Ｌ１以下の範囲内でＡＬＣ制御用データに基づいて撮影に最適となるように照明光量を調節する。

さらに、電子内視鏡システム１１の起動時に、判別部４２によって温度センサ３０が故障していると判別された場合には、ＣＰＵ４８は、先端部２０の温度上昇が最も抑止され、ＣＭＯＳセンサ２１等に不具合が生じないことが保証される安全光量Ｌ２に照明光量を制限する。

ライトガイド４８は、例えば、複数の石英製光ファイバーを巻回テープ等で収束してバンドル化したものである。ライトガイド２８の出射端に導かれた照明奥は、照明レンズ２９によって拡散されて被検体内に照射される。

図３に示すように、ＣＭＯＳセンサ２１は、垂直走査回路５６、相関二重サンプリング（ＣＤＳ）回路５７、列選択トランジスタ５８、水平走査回路５９、及び出力隘路６１から構成される。

撮像領域５１には、画素６２がマトリクス状に配列されている。画素６２は、フォトダイオードＤ１、増幅用トランジスタＭ１、画素選択用トランジスタＭ２、およびリセット用トランジスタＭ３を有する。フォトダイオードＤ１は、光電変換によって、入射光量に応じた信号電荷を生成するとともに、これを蓄積する。フォトダイオードＤ１に蓄積された信号電荷は、増幅用トランジスタＭ１によって撮像信号として増幅され、画素選択用トランジスタＭ２によって、所定のタイミングで画素６２外に出力される。また、フォトダイオードＤ１に蓄積された信号電荷は、所定のタイミングでリセット用トランジスタＭ３を介してドレインに排出される。画素選択用トランジスタＭ２、およびリセット用トランジスタＭ３はＮチャンネルトランジスタであり、ゲートにＨｉｇｈレベル“１”が印加されるとオン、Ｌｏｗレベル“０”が印加されるとオフとなる。

撮像領域５１には、垂直走査回路５６からから水平方向（Ｘ方向）に行選択線Ｌ１および行リセット線Ｌ２が配線されているとともに、ＣＤＳ回路５７から垂直方向（Ｙ方向）に列信号線Ｌ３が配線されている。行選択線Ｌ１は、画素選択用トランジスタＭ２のゲートに接続されており、行リセット線Ｌ２は、リセット用トランジスタＭ３のゲートに接続されている。また、列信号線Ｌ３は、画素選択用トランジスタＭ２のソースに接続され、ＣＤＳ回路５７を介して、対応する列の列選択トランジスタ５８に接続されている。

ＣＤＳ回路５７は、垂直走査回路５６によって選択された行選択線Ｌ１に接続された画素６２の撮像信号を、ＴＧ２６から入力されるクロック信号に基づいて保持し、ノイズ除去を行う。水平走査回路５９は、ＴＧ２６から入力されるクロック信号に基づいて水平走査信号を発生し、列選択トランジスタ５８のオン、オフ制御を行う。

列選択トランジスタ５８は、出力回路６１に接続された出力バスライン６３とＣＤＳ回路５７との間に設けられており、水平走査信号に応じて、出力バスライン６３に撮像信号を転送させる画素を選択する。

出力回路６１は、ＣＤＳ回路５７から出力バスライン６３に順に転送される撮像信号を増幅し、Ａ／Ｄ変換して出力する。出力回路６１による撮像信号の増幅率は、ＣＰＵ２７から出力回路６１にゲイン調節信号を入力することにより調節される。その後、出力回路６１は、撮像信号をＡ／Ｄ変換してＤＳＰ３２に出力する。

図４に示すように、絞り機構４６は、絞り開口６４を開閉する絞り羽根６５と、絞り開口８７を閉じる位置に絞り羽根６５を付勢するスプリング６６とを備えている。絞り羽根６５は、モータ６７から与えられるトルクによってスプリング６６の付勢力に抗して絞り開口６４の開口量が大きくなる方向（時計方向）に回転し、トルクの大きさとスプリング６６の付勢力が釣り合う位置で停止する。トルクが大きいとスプリング６６の付勢力に抗する力も大きくなるので、絞り開口６４の開口量も大きくなる。トルクが小さいとスプリング６６の付勢力に抗する力が小さくなるので絞り開口６４の開口量が小さくなる。モータ６７のトルクは、ＰＷＭ値（後述）の増加とともに大きくなり、ＰＷＭ値が下がると減少する。

光源装置１４のＣＰＵ４８は、ＤＳＰ３２によって算出されたＡＬＣ制御用データに基づいて、絞り羽根６５とスプリング６６からなる絞り調節機構６８を制御する。ＣＰＵ４８は、ＡＬＣ制御用データに応じて、モータ６７のトルクを決定するＰＷＭ（パルス幅変調）値を算出し、モータドライバ（図示しない）によってＰＷＭ値に応じた駆動パルスを発生させてモータ６７を駆動する。ＰＷＭ値は、モータ６７の駆動パルスのデューティ比（パルス幅をパルス周期で割った値）を決定するもので、モータ６７のトルクを決定する。ＣＰＵ４８は、ＡＬＣ制御用データが増加を要求する信号であるバアには、増加分に応じてＰＷＭ値を上げ、減少を要求する信号である場合には、減少分に応じてＰＷＭ値を下げることにより、ＡＬＣ制御を行う。

図５に示すように、昇温プロファイル４３は、電子内視鏡システム１１の起動時からの経過時間ｔに対して、ＣＭＯＳ温度Ｔ（ｔ）と環境温度Ｔ_０からの差（以下、単に温度差という）ΔＴ（ｔ）＝Ｔ（ｔ）−Ｔ_０を記録したデータである。電子内視鏡システム１１は、起動時に、判別部４２によって判別用照明光が照射されることにより、先端部２０の温度は環境温度Ｔ_０から上昇し、最終的に環境温度Ｔ_０によって定まる所定温度Ｔ_１に収束して熱平衡状態に達する。したがって、昇温プロファイル４３は、温度差ΔＴが０（＝Ｔ_０−Ｔ_０）からΔＴ_１＝Ｔ_１−Ｔ_０まで変化する様態である。

昇温プロファイル４３に記録された温度差ΔＴ（ｔ）は、電子内視鏡システム１１の起動時（時刻ｔ＝０）からＣＭＯＳ温度Ｔ（ｔ）が熱平衡状態の温度Ｔ１に至る過程である過渡期Ｃ１のデータと、先端部２０が熱平衡状態に達した後の定常期Ｃ２のデータとを含む。過渡期Ｃ１は、電子内視鏡システム１１の起動時（時刻ｔ＝０）から判別用照明光を照射したときに、温度差ΔＴ（ｔ）が０からΔＴ１に収束する間の期間であり、図５に示すように一定の曲線にしたがって変化する期間である。定常期Ｃ２は、先端部２０の温度が熱平衡状態に達して、温度差ΔＴ（ｔ）がΔＴ１に収束した後、判別部４２によって温度センサ３０の動作に関する判別が完了して判別用照明光の照射が終了されるまでの期間である。

電子内視鏡システム１１の起動時に測定されるＣＭＯＳ温度Ｔ（ｔ）や、定常期Ｃ２に到達したＣＭＯＳ温度Ｔ_１は、環境温度Ｔ_０に応じて異なる。しかし、温度差ΔＴ（ｔ）はＣＭＯＳ温度Ｔ（ｔ）から環境温度Ｔ_０を差し引いて算出されるので、温度差ΔＴ（ｔ）の時間変化を記録した昇温プロファイル４３は、環境温度Ｔ_０に対してほぼ普遍である。

電子内視鏡システム１１の起動時には、ＣＭＯＳセンサ２１が周辺環境と熱平衡状態にあり、ＣＭＯＳ温度Ｔが環境温度Ｔ_０に等しい。このため、判別部４２は、電子内視鏡システム１１の起動時（ｔ＝０）に測定されたＣＭＯＳ温度Ｔ（ｔ＝０）を環境温度Ｔ_０とし、これを測定部４１によって順次測定され入力されるＣＭＯＳ温度Ｔ（ｔ）から差し引くことにより温度差ΔＴ’（ｔ）を算出する。そして、判別部４２は、算出した温度差ΔＴ’（ｔ）を昇温プロファイル４３と比較し、温度差ΔＴ’（ｔ）が昇温プロファイル４３とほぼ一致する場合に、温度センサ３０が正常に動作すると判別し、温度差ΔＴ’（ｔ）が昇温プロファイル４３と一致しない場合に温度センサ３０が故障していると判別し、判別結果をＣＰＵ３１に入力する。

電子内視鏡システム１１の起動時に算出される温度差ΔＴ’（ｔ）が昇温プロファイル４３と一致するか否かの判断は、温度差ΔＴ’（ｔ）が昇温プロファイル４３に対して一定の範囲（以下、正常範囲という）４４に収まっているか否かで判別される。正常範囲４４は、例えば、図５に破線で示すように、昇温プロファイル４３の各時のデータ値に対して±５％の幅を持たせた数値範囲であり、昇温プロファイル４３とともに予め定められ、ＲＯＭ３６に記憶される。例えば、温度センサ３０が故障して、ＣＭＯＳセンサ２１の温度を正しく反映しない抵抗値を示すようになってしまった場合、これにより算出される温度差ΔＴ’（ｔ）のグラフＧ１は正常範囲４４から外れる。

また、電子内視鏡システム１１の起動時に算出される温度差ΔＴ’（ｔ）と昇温プロファイル４３が一致するか否かの比較は、少なくとも過渡期Ｃ１の範囲内の１点を含む２点以上のデータ値を比較して行われる。温度センサ３０が正常に機能しているか否かを正確に判別するためである。

例えば、温度センサ３０が故障してＣＭＯＳセンサ２１の温度によらず一定の抵抗値を示すようになってしまった場合、算出されるΔＴ’（ｔ）のグラフＧ２も経過時間ｔによらず、一定値を示す。グラフＧ２は、昇温プロファイル４３と交わるため、偶然にもこの１点だけでグラフＧ２のデータと昇温プロファイル４３のデータを比較すると、正常範囲４４にグラフＧ２が収まっているように判別され、温度センサ３０が故障しているにもかかわらず、これを検出することができない。算出されたΔＴ’（ｔ）と昇温プロファイル４３を２点以上で比較することにより、こうしたエラーを回避することができる。

さらに、故障した温度センサ３０が示す抵抗値から算出される温度差ΔＴ’（ｔ）が、昇温プロファイル４３の定常期Ｃ２で示す温度差ΔＴ_１と一致する場合、定常期Ｃ２内の２点以上で温度差ΔＴ’（ｔ）と昇温プロファイル４３を比較しても、測定された温度差ΔＴ’（ｔ）が正常範囲４４内に収まっているように判別され、温度センサ３０の故障が見逃されてしまう。こうしたエラーは、少なくとも過渡期Ｃ１に含まれるデータで、測定された温度差ΔＴ’（ｔ）と昇温プロファイル４３を比較することにより回避される。

上述のように構成される電子内視鏡システム１１の作用について説明する。電子内視鏡１２で被検体内を観察する際、術者は、電子内視鏡１２とプロセッサ装置１３及び光源装置１４を接続し、プロセッサ装置１３及び光源装置１４の電源をオンにする。

図６に示すように、電子内視鏡システム１１を起動すると、判別部４２が光源装置１４のＣＰＵ４８に判別用照明光照射信号を入力することにより、開口絞り６４が全開され、開口絞り６４の大きさで定まる最大光量Ｌｍａｘの照明光が判別用照明光として照射される（ステップＳ１１）。判別用照明光が照射されることにより、先端部２０の温度は徐々に上昇し、最終的に先端部２０がおかれた環境温度Ｔ_０に応じた所定の温度Ｔ_１に安定する。

判別用照明光の照射開始と同時に、測定部４１は、温度センサ３０の抵抗値の測定を開始し、測定した温度センサ３０の抵抗値をＣＭＯＳ温度Ｔに換算して、判別部４２に入力する。

判別部４２は、電子内視鏡システム１１の起動時（ｔ＝０）に測定部４１から入力されるＣＭＯＳ温度Ｔ（ｔ＝０）を環境温度Ｔ_０とし、ＣＭＯＳ温度Ｔ（ｔ）と環境温度Ｔ_０との温度差ΔＴ’（ｔ）を算出する（ステップＳ１２）。そして、判別部４２は、算出した温度差ΔＴ’（ｔ）と昇温プロファイル４３を比較し（ステップＳ１３）、測定した温度差ΔＴ’（ｔ）が昇温プロファイル４３に対して一定の範囲（正常範囲４４）内に収まっているか否かによって、温度センサ３０が正常に機能しているか否かを判別する（ステップＳ１４）。

測定した温度差ΔＴ’（ｔ）が昇温プロファイル４３に対して正常範囲４４内にある場合、判別部４２は温度センサ３０が正常に機能している旨の判別結果をプロセッサ装置１３のＣＰＵ３１に入力する。ＣＰＵ３１は、温度センサ３０が正常に機能していることを示す判別結果が判別部４２から入力されると、温度センサ３０に関する判別が完了したこと、及び、温度センサ３０が正常に機能していることを示すメッセージをモニタ２２に表示する（ステップＳ１５）。

また、ＣＰＵ３１は、温度センサ３０の動作に関する判別が完了したことを示す判別完了信号と判別結果を光源装置１４のＣＰＵ４８に入力する。光源装置１４のＣＰＵ４８は、判別完了信号を受けると、絞り開口６４を全て覆う位置に絞り羽根６５が移動するように絞り調節機構６８を制御することにより、判別用照明光の照射を停止する。

その後、操作部３５を操作して、被検体に関する情報等を入力するとともに、挿入部１６を被検体に挿入して検査が開始される（ステップＳ１６）。このとき、ＣＰＵ４８は、測定部４１からＣＰＵ３１を介して入力されるＣＭＯＳ温度Ｔ（ｔ）、及びＤＳＰ３２から入力されるＡＬＣ制御用データに基づいて通常のＡＬＣ制御を行う（ステップＳ１７）。温度センサ３０が正常に機能している場合の通常のＡＬＣ制御は、照明光量の上限を制限する必要が生じたときに、照明光量の上限が光量上限Ｌ１に制限される。

一方、測定した温度差ΔＴ’（ｔ）が昇温プロファイル４３に対して正常範囲４４外にある場合、判別部４２は温度センサ３０が故障している旨の判別結果をプロセッサ装置１３のＣＰＵ３１に入力する。ＣＰＵ３１は、温度センサ３０が故障していることを示す判別結果が判別部４２から入力されると、温度センサ３０に関する判別が完了したこと、及び、温度センサ３０が故障していることを示すメッセージをモニタ２２に表示する（ステップＳ２１）。

また、ＣＰＵ３１は、温度センサ３０の動作に関する判別が完了したことを示す判別完了信号と判別結果を光源装置１４のＣＰＵ４８に入力する。光源装置１４のＣＰＵ４８は、判別完了信号を受けて、前述と同様に判別用照明光の照射を停止する。

その後、操作部３５を操作して、被験体に関する情報等を入力するとともに、挿入部１６を被検体内に挿入して検査が開始される（ステップＳ２２）。このとき、ＣＰＵ４８は、照明光量を安全光量Ｌ２に制限する（ステップＳ２３）。

検査時の照明光量の制御は、図７に示すように行われる。まず、グラフＧ３に示すように、温度センサ３０が正常に機能している場合、検査を開始した時点では、照明光量の上限は最大光量Ｌｍａｘまで開放し、最大光量Ｌｍａｘ以下の範囲内で、ＡＬＣ制御用データに基づいて自動的に制御される。検査を続け、ＣＭＯＳ温度Ｔが光量上限を制限が必要となる温度Ｔａを超えると、ＣＰＵ４８は、光量上限を所定の光量上限Ｌ１に制限し、光量上限Ｌ１以下の範囲内で、ＡＬＣ制御用データに基づいて照明光量を自動調節する。その後、ＣＭＯＳ温度Ｔが光量上限の制限を解除可能な温度Ｔｂになるまで、光量上限の制限は継続され、温度ＴｂにまでＣＭＯＳ温度Ｔが下降したときに、再び光量上限を最大光量Ｌｍａｘに引き上げる。これを繰り返すことにより、ＣＭＯＳ温度を、観察画像に白傷が目立つようになる温度以下の範囲内に収めたまま、検査を行うことができる。

一方、温度センサ３０が故障しているときに検査を開始すると、グラフＧ４に示すように、ＣＰＵ４８は、照明光量を常に安全光量Ｌ２に制限する。例えば、故障した温度センサ３０を用いて測定したＣＭＯＳ温度Ｔを無視して、ＡＬＣ制御用データだけに基づいて照明光量を調節すると、ＡＬＣ制御用データが照明光量を増大することを示すデータであれば、ＣＭＯＳ温度Ｔが、白傷が目立つようになる高温状態であっても、さらに照明光量を増大させてしまうからである。照明光量が安全光量Ｌ２以下であれば、ＣＭＯＳ温度Ｔは、常に閾値Ｔａよりも低い温度に保たれる。

上述のように、電子内視鏡システム１１は、起動時に温度センサ３０が正常に動作するか否かを判別し、温度センサ３０が正常に機能しているか否かを検知することができる。

なお、上述の第１実施形態では、ＣＭＯＳセンサ２１に温度センサ３０を設け、先端部２０の温度として、ＣＭＯＳ温度Ｔを測定する例を説明したが、温度センサ３０は、先端部２０の最先端の表面（先端面）等、先端部２０の他の箇所に設けても良い。

なお、上述の第１実施形態では、昇温プロファイル４３をプロセッサ装置１３のＲＯＭ３６に記憶しておく例を説明したが、これに限らない。電子内視鏡１２は、機種や用途、製造時期等の種類が異なると、先端部２０の構成や温度センサ３０の特性等が異なるため、昇温プロファイル４３も電子内視鏡１２の種類毎に異なる。また、電子内視鏡システム１１は、複数種類の電子内視鏡の中から検査等に適切なものを選択し、電子内視鏡１２だけを交換して使用されることがある。したがって、電子内視鏡システム１１で使用される可能性のある全ての電子内視鏡１２に対応するように、各々の昇温プロファイル４３をプロセッサ装置１３に予め記憶しておくことが困難である場合もある。このため、昇温プロファイル４３は、各電子内視鏡１２にＲＯＭを設ける等して、電子内視鏡１２に記憶しておくことがより好ましい。この場合、プロセッサ装置１３は、電子内視鏡システム１１の起動時に電子内視鏡１２のＲＯＭに記憶された昇温プロファイル４３を取得すれば良い。

また、上述の第１実施形態では、昇温プロファイル４３がＲＯＭ３６に予め記憶されている例を説明したが、これに限らない。例えば、昇温プロファイル４３は、電子内視鏡システム１１とＬＡＮ等の通信ネットワークで接続されたサーバー等に記憶しておき、プロセッサ装置１３は、電子内視鏡システム１１の起動時に、電子内視鏡１２のＩＤ等を読み取り、読み取ったＩＤ等に応じた昇温プロファイル４３を取得するようにしても良い。

なお、上述の第１実施形態では、ＣＭＯＳセンサ２１に温度センサ３０を設けることによりＣＭＯＳ温度Ｔを測定する例を説明したが、温度センサ３０の配置スペースや配線等の都合によっては、温度センサ３０を先端部２０の他の箇所に設けても良い。この場合にも、上述の第１実施形態と同様にして温度センサ３０が正常に機能しているか否かを判別することができる。

なお、上述の第１実施形態では、先端部２０に温度センサ３０を１つ設ける例を説明したが、温度センサ３０は先端部２０の複数箇所に設けても良い。こうして複数箇所に温度センサ３０を設ける場合には、昇温プロファイル４３を用いずに、各温度センサが正常に機能しているか否かを判別することができる。この例を、以下、第２実施形態として説明する。但し、第１実施形態で説明したものと同じ部材等には同様の符号を付し、その説明を省略する。

［第２実施形態］
図８に示すように、電子内視鏡システム７１は、先端部２０に２つの温度センサを有する電子内視鏡システムであり、ＣＭＯＳセンサ２１に温度センサ３０が取り付けられているとともに、先端部２０の筐体表面（以下、先端面という）７２に温度センサ７３が取り付けられている。先端部２０の外面にはアタッチメントカバー（図示しない）が取り付けられることもあるが、温度センサ７３は、概ね先端部２０の外面の温度を測定するセンサである。温度センサ７３は、ＣＭＯＳセンサ２１に設けられた温度センサ３０と同様に、例えばサーミスタからなり、ここでは温度センサ３０と温度センサ７３はほぼ同様の昇温特性を持つとする。また、温度センサ７３の抵抗値は、測定部４１によって測定される。

測定部４１は、温度センサ３０及び温度センサ７３の抵抗値をそれぞれ測定し、各々の温度センサ３０，７３について予め記憶された特性データを用いて、各抵抗値を温度に換算する。温度センサ３０はＣＭＯＳセンサ２１に設けられているため、温度センサ３０によって測定される温度はＣＭＯＳ温度である。温度センサ７３は、先端面７２に設けられているため、温度センサ７３によって測定される温度は先端面温度である。測定部４１によって測定されたＣＭＯＳ温度及び先端面温度は、判別部７４に入力され、各温度センサ３０，７３が正常に機能しているか否かの判別に用いられる。また、ＣＭＯＳ温度及び先端面温度は、ＣＰＵ３１を介して光源装置１４のＣＰＵ４８に入力され、ＡＬＣ制御に用いられる。

判別部７４は、電子内視鏡システム１１の起動時に動作し、判別用照明光照射信号をＣＰＵ３１を介して光源装置ＣＰＵ４８に入力する。これにより、電子内視鏡システム１１の起動時に、判別用照明光が照射される。また、判別部７４は、測定部４１から入力されるＣＭＯＳ温度と先端面温度に基づいて、温度センサ３０及び温度センサ７３が正常に機能しているか否かを判別する。

まず、判別部７４は、ＣＭＯＳ温度が入力されると、電子内視鏡システム１１の起動時のＣＭＯＳ温度をＣＭＯＳセンサ２１近傍の環境温度Ｔ_０（センサ）を記憶し、これを用いて順次入力されるＣＭＯＳ温度Ｔ_センサ（ｔ）から環境温度Ｔ_０（センサ）を差し引くことにより、温度差ΔＴ_センサ（ｔ）を算出する。

同時に、判別部７４は、電子内視鏡システム１１の起動時（ｔ＝０）に入力された先端面温度Ｔ_先端（ｔ＝０）を先端面７２近傍の環境温度Ｔ_０（先端）を記憶し、これを用いて順次入力される先端面温度Ｔ_先端（ｔ＝０）から環境温度Ｔ_０（先端）を差し引くことにより、温度差ΔＴ_先端（ｔ）を算出する。

図９に示すように、判別部７４で算出される温度差ΔＴ_センサ（ｔ）や温度差ΔＴ_先端（ｔ）は、温度センサ３０及び温度センサ７３が正常に機能している場合、いずれも判別用照明光の照射により過渡期Ｃ１に徐々に上昇し、所定時間の経過後、先端部２０が熱平衡状態に達して定常期Ｃ２にはいると、ほぼ一定の温度に安定する。温度センサ３０と温度センサ７３がほぼ同様の特性のセンサの場合には、温度差ΔＴ_センサ（ｔ）と温度差ΔＴ_先端（ｔ）はほぼ同様の時間変化を示す。判別部７４は、温度差ΔＴ_センサ（ｔ）と温度差ΔＴ_先端（ｔ）をＣＭＯＳ温度及び先端面温度が入力されると同時に各時刻について算出する。温度センサ３０や温度センサ７３が故障している場合には、例えば、故障した温度センサについて測定される温度差ΔＴのグラフはグラフＧ５のように一定値を示すようになったり、センサ特性の経時変化等によってグラフＧ６のように本来示すべき値とは異なる値を示すようになる。

上述のように、温度差ΔＴ_センサ（ｔ）及び温度差ΔＴ_先端（ｔ）を算出すると、図１０に示すように、判別部７４は、さらに温度差ΔＴ_センサ（ｔ）と温度差ΔＴ_先端（ｔ）のギャップδ（ｔ）＝ΔＴ_先端（ｔ）−ΔＴ_センサ（ｔ）を算出する。こうして算出される各温度差ΔＴ間のギャップδ（ｔ）には、正常範囲７５が設けられている。正常範囲７５は、温度センサ３０及び温度センサ７３の配置や先端部２０内の構成等によって予め定められる。判別部７４は、少なくとも過渡期Ｃ１の範囲内の１点を含む２点以上のデータ値を比較することにより、ギャップδ（ｔ）が正常範囲７５に収まっているか否かを判別し、その判別結果に応じて温度センサ３０及び温度センサ７３が正常に機能しているか否かを判別する。

具体的には、ギャップδ（ｔ）がグラフＧ７のように正常範囲４４に収まっている場合、判別部７４は、温度センサ３０及び温度センサ７３がともに正常に機能していると判別する。ギャップδ（ｔ）がグラフＧ８やグラフＧ９のように正常範囲７５から外れる場合には、判別部７４は、温度センサ３０または温度センサ７３の少なくともいずれかが故障していると判別する。グラフＧ８は、温度センサ３０が故障し、温度差ΔＴ_センサ（ｔ）がグラフＧ５（図９参照）のような特性を示す場合の例であり、グラフＧ９は、温度センサ３０が故障し、温度差ΔＴ_センサ（ｔ）がグラフＧ６（図９参照）のような特性を示す場合の例である。

温度センサ３０及び温度センサ７３の動作についての判別結果は、ＣＰＵ３１に入力される。ＣＰＵ３１は、判別部７４から入力される判別結果に基づいて、モニタ２２にメッセージ等を表示するとともに、判別結果を光源装置１４のＣＰＵ４８に入力する。光源装置１４のＣＰＵ４８は、ＣＭＯＳ温度、先端面温度、ＡＬＣ制御用データ、及び判別結果に基づいてＡＬＣ制御を行う。

上述のように構成される電子内視鏡システム７１は、以下のように動作する。図１１に示すように、電子内視鏡システム７１を起動すると、判別用照明光が照射される（ステップＳ３１）。判別用照明光が照射されることにより、先端部２０の温度が徐々に上昇し、最終的に先端部２０がおかれた環境温度Ｔ_０（≒Ｔ_０（先端），Ｔ_０（センサ））に応じた所定の温度に安定する。

判別用照明光の照射開始と同時に、測定部４１は、温度センサ３０及び温度センサ７３の抵抗値の測定を開始し、測定した温度センサ３０及び温度センサ７３の抵抗値をそれぞれＣＭＯＳ温度及び先端面温度に換算して、判別部７４に入力する。

判別部７４は、電子内視鏡システム７１の起動時（ｔ＝０）に測定部４１から入力されるＣＭＯＳ温度Ｔ_センサ（ｔ）及び先端面温度Ｔ_先端（ｔ）を、それぞれ環境温度Ｔ_０（センサ）及び環境温度Ｔ_０（先端）とし、ＣＭＯＳ温度Ｔ_センサ（ｔ）と環境温度Ｔ_０（センサ）の温度差ΔＴ_センサ（ｔ）と、先端面温度Ｔ_先端（ｔ）と環境温度Ｔ_０（先端）の温度差ΔＴ_先端（ｔ）を算出する（ステップＳ３２）。さらに、判別部７４は、温度差ΔＴ_先端（ｔ）から温度差ΔＴ_センサ（ｔ）を差し引くことにより、温度差ΔＴ_センサ（ｔ）とΔＴ_先端（ｔ）のギャップδ（ｔ）を算出する（ステップＳ３３）。そして、判別部７４は、ギャップδ（ｔ）が正常範囲７５に収まっているか否かによって、温度センサ３０及び温度センサ７３が正常に機能しているか否かを判別する（ステップＳ３４）。

ギャップδ（ｔ）が正常範囲７５内に収まっていた場合、判別部７４は、温度センサ３０及び温度センサ７３がともに正常に機能している旨の判別結果をプロセッサ装置１３のＣＰＵ３１に入力する。ＣＰＵ３１は、温度センサ及び温度センサ７３がともに正常に機能していることを示す判別結果が判別部７４から入力されると、温度センサ３０及び温度センサ７３が正常に機能するか否かの判別が完了したこと、温度センサ３０及び温度センサ７３が正常に機能していることを示すメッセージをモニタ２２に表示する（ステップＳ３５）。

また、ＣＰＵ３１は、温度センサ３０及び温度センサ７３が正常に機能するか否かの判別が完了したことを示す判別完了信号と判別結果を、光源装置１４のＣＰＵ４８に入力する。光源装置１４のＣＰＵ４８は、判別完了信号を受けると、判別用照明光の照射を停止する。

その後、操作部３５を操作して、被検体に関する情報等を入力するとともに、挿入部１６を被検体に挿入して検査が開始される（ステップＳ３６）。このとき、ＣＰＵ４８は、測定部４１からＣＰＵ３１を介して入力されるＣＭＯＳ温度Ｔ_センサ（ｔ）、先端面温度Ｔ_先端（ｔ）、ＤＳＰ３２から入力されるＡＬＣ制御用データに基づいてＡＬＣ制御を行う（ステップＳ３７）。温度センサ３０及び温度センサ７３が正常に機能している場合の通常のＡＬＣ制御は、照明光量の上限を制限する必要が生じたときに、照明光量の上限が光量上限Ｌ１に制限される。なお、照明光量の上限を制限する必要があるか否かは、前述の第１実施形態と同様にして、ＣＭＯＳ温度Ｔ_センサ（ｔ）と先端面温度Ｔ_先端（ｔ）の２つの温度についてそれぞれ判断される。

そして、これらのうち少なくともいずれか一方の判断で照明光量が必要と判断された場合に、照明光量の上限が光量上限Ｌ１に制限される。一方、照明光量の上限が光量上限Ｌ１に制限された後、ＣＭＯＳ温度Ｔ_センサ（ｔ）と先端面温度Ｔ_先端（ｔ）がともに所定の閾値以下の温度に低下したときに、照明光量の上限を再び最大光量Ｌｍａｘに引き上げられる。なお、ＡＬＣ制御において用いるＣＭＯＳ温度Ｔ_センサ（ｔ）についての閾値（第１実施形態ではＴａ及びＴｂ）と先端面温度Ｔ_先端（ｔ）についての閾値は、各々別個に定められている。

一方、ギャップδ（ｔ）が正常範囲７５内に収まっていない場合、判別部７４は、温度センサ３０または温度センサ７３の少なくとも一方が故障している旨の判別結果をプロセッサ装置１３のＣＰＵ３１に入力する。ＣＰＵ３１は、温度センサ３０または温度センサ７３が故障している旨の判別結果が入力されると、温度センサ３０及び温度センサ７３が正常に機能するか否かの判別が完了したこと、温度センサ３０または温度センサ７３が故障していることを示すメッセージをモニタ２２に表示する（ステップＳ４１）。

また、ＣＰＵ３１は、温度センサ３０または温度センサ７３が正常に機能するか否かの判別が完了したことを示す判別完了信号と判別結果を、光源装置１４のＣＰＵ４８に入力する。光源装置１４のＣＰＵ４８は、判別完了信号を受けると、判別用照明光の照射を停止する。

その後、操作部３５を操作して、被験体に関する情報等を入力するとともに、挿入部１６を被検体に挿入して検査が開始される（ステップＳ４２）。このとき、ＣＰＵ４８は、照明光量を安全光量Ｌ２に制限する（ステップＳ４３）。

上述のように、電子内視鏡システム７１は、先端部２０に２つの温度センサ３０，７３を有し、これらが正常に機能するか否かを各温度センサ３０，７３によって測定される温度差ΔＴ_センサ（ｔ）と温度差ΔＴ_先端（ｔ）のギャップδ（ｔ）の大きさによって判別することができる。これは２つの温度センサ３０，７３が同時に故障することが極めて稀であることを利用して簡便に温度センサ３０，７３が正常に機能するか否かを判別することができる。また、第１実施形態の電子内視鏡システム１１のように、昇温プロファイル４３を予め記憶しておく必要がないので、電子内視鏡１２を製造するときに昇温プロファイル４３を測定する手間を省けるとともに、ＲＯＭ３６の節約になる。

なお、上述の第２実施形態では、ＣＭＯＳ温度と先端面温度を測定する例を説明したが、温度センサは温度を測定する必要のある任意の箇所に設けて良い。また、温度センサ３０，７３を両方共にＣＭＯＳセンサ２１に取り付けるなど、複数の温度センサを同一の箇所に設けても良い。

なお、上述の第２実施形態では、先端部２０に２個の温度センサ３０，７３を設ける例を説明したが、先端部２０には３以上の温度センサを設けても良く、温度を測定する必要がある箇所に任意に温度センサを設けることができる。先端部２０に３以上の温度センサを設ける場合には、その中の１つ（例えばＣＭＯＳセンサ２１に取り付けた温度センサ３０）を基準として、基準の温度センサと他の１の温度センサとの間でギャップδを算出し、これを判断基準とすることで上述の第２実施形態と同様に各温度センサが正常に機能するか否かを判別することができる。また、３以上の温度センサを用いる場合には、温度センサが故障していたときに、どの温度センサが故障しているか容易に特定できる。したがって、温度センサが故障した場合には、故障した温度センサだけを用いないようにして、ＡＬＣ制御を行うようにしても良い。

なお、上述の第２実施形態では、簡単のために２つの温度センサ３０，７３の特性がほぼ同じであるものとしたが、これに限らない。例えば、温度センサ３０と温度センサ７３を各々特性の異なるサーミスタで構成するときには、当然に昇温時のプロファイルも異なる。こうした場合であっても、各温度センサの特性は既知であるので、各温度センサ３０，７３の昇温プロファイルが合致するように、一方の温度差ΔＴ（ｔ）を他方の温度センサのプロファイルに合わせて変換すれば、上述の第２実施形態で説明したように各温度センサが正しく機能するか否かを判別することができる。

なお、上述の第２実施形態では、温度差ΔＴ_センサ（ｔ）と温度差ΔＴ_先端（ｔ）のギャップδ（ｔ）を算出し、ギャップδ（ｔ）の値が正常範囲７５に収まるか否かを判別し、これに応じて温度センサ３０及び温度センサ７３が正常に機能しているか否かを判別するが、これに限らない。先端部２０の温度が、ＣＭＯＳセンサ２１と先端面７２とでほぼ同じ温度であるときには、温度差を算出せず、ＣＭＯＳ温度と先端面温度のギャップを直接算出し、これに基づいて温度センサ３０，７３が正常に機能しているか否かを判別するようにしても良い。

なお、上述の第２実施形態では、ＣＭＯＳセンサ２１に温度センサ３０を設けるとともに、先端面７２に温度センサ７３を設け、先端部２０の異なる２箇所の温度を各々の温度センサ３０，７３で測定する例を説明したがこれに限らない。例えば、ＣＭＯＳセンサ２１に温度センサ３０，７３を取り付けたり、先端面７２に温度センサ３０，７３を取り付け、２つの温度センサで同一箇所の温度を測定するようにしても良い。こうしてほぼ同じ特性を持つ２つの温度センサ３０，７３で同一箇所の温度を測定するようにすると、温度センサ３０，７３の相互の動作が正常か否かをより正確に診断することができる。

なお、上述の第１，第２実施形態では、温度センサが故障していた場合に、照明光量の上限を安全光量Ｌ２に制限する例を説明したがこれに限らない。例えば、温度センサが故障した場合には、電子内視鏡１２のメンテナンスを促すメッセージをモニタ２２に表示するとともに、温度センサが故障した電子内視鏡１２を用いた検査が開始できないように、プロセッサ装置１３や光源装置１４の各部の機能を停止させる等して、電子内視鏡システム１１の使用を禁止しても良い。

また、温度センサが故障していた場合、照明光量の上限を安全光量Ｌ２に一律に制限するのではなく、照明光を照射した履歴から先端部２０の温度を推定し、先端部２０の推定温度に基づいてＡＬＣ制御が行われるようにしても良い。この場合、図１２に示す電子内視鏡システム８１のように、ＤＳＰ３２に先端温度推定部８２を設ける。ここでは昇温プロファイル４３を用いる第１実施形態の例をベースに説明するが、第２実施形態の電子内視鏡システム７１をベースにする場合にも同様である。

先端温度推定部８２は、判別部４２において温度センサ３０が故障していると判別された場合に駆動され、ＣＰＵ３１を介して光源装置１４のＣＰＵ４８から照明光の照射履歴を順次取得する。照明光の照射履歴は、例えば、検査が開始されてからＰＷＭ値をどのように変化させたかを示す履歴データ（各時刻のＰＷＭ値の具体的な値）である。先端温度推定部８２は、取得した照明光の照射履歴に基づいて、現在の先端部２０の温度を推定する。そして、先端温度推定部８２によって推定された先端部温度は、ＣＰＵ３１を介して光源装置１４のＣＰＵ４８に入力され、ＣＰＵ４８は推定された先端部温度に基づいて、通常のＡＬＣ制御（最大光量Ｌｍａｘと光量上限Ｌ１のいずれかに上限が制限されるＡＬＣ制御。第１実施形態参照。）を行う。このように、温度センサが故障した場合に、先端部２０の推定温度を算出し、これに基づいてＡＬＣ制御を行うようにすることで、温度センサが故障した場合であっても光量不足にならない状態で観察画像を撮影することができる。

先端温度推定部８２による先端部２０の温度の推定は、例えば以下のようにして行われる。

先端部２０の温度をＴ（℃）、あるサンプリング時刻ｔ_ｎとｔ_ｎ−１との間で生じた先端部２０の温度変化量をΔＴ_ｎ、先端部２０の熱容量Ｃ、サンプリング時刻ｔ_ｎ〜ｔ_ｎ−１間に照明光等によって先端部２０に流入した熱量をΔＱ_ｎとすると、先端部２０の温度変化量ΔＴ_ｎは、ΔＴ_ｎ＝ΔＴ_ｎ−１＋ΔＱ_ｎ／Ｃ （以下、式１という）と表せる。先端部２０の熱容量Ｃは予め測定され、ＲＯＭ３６に記録されている。

サンプリング時刻ｔ_ｎ〜ｔ_ｎ−１間に先端部２０に流入した熱量ΔＱ_ｎは、サンプリング間隔ｄｔ＝ｔ_ｎ−ｔ_ｎ−１間の照明光による単位時間あたりの発熱量をｑ_Ｌ、ＣＭＯＳセンサ２１の発熱量をｑ_Ｓ、先端部２０の熱抵抗をＲとすると、ΔＱ_ｎ＝（ｑ_Ｌ＋ｑ_Ｓ）ｄｔ−ΔＴ_ｎ−１・ｄｔ／Ｒ （以下、式２という）で表せる。ＣＭＯＳセンサ２１の発熱量ｑ_Ｓ，先端部２０の熱抵抗Ｒは予め測定され、ＲＯＭ３６に記録されている。

上記式２を式１に代入すると、先端部２０の温度変化量ΔＴ_ｎは、ΔＴ_ｎ＝ΔＴ_ｎ−１＋（ｑ_Ｌ＋ｑ_Ｓ）ｄｔ／Ｃ−ΔＴ_ｎ−１・ｄｔ／（Ｃ・Ｒ） （以下、式３という）と表せる。

先端温度推定部８２は、ＰＷＭ値の履歴データに基づいてｑ_Ｌを算出する。そして、算出したｑ_Ｌを用いることにより、上記式３にしたがってΔＴ_ｎを算出し、これを累積的に加算することによって先端部温度の推定値を算出する。

なお、第１，第２実施形態では、電子内視鏡システム１１，７１の起動時に温度センサ３０（，７３）が正常に機能するか否かの判別を実施する例を説明したが、判別のタイミングは任意である。但し、上述の第１，第２実施形態のように、少なくとも検査開始前であることが好ましい。また、電子内視鏡システム１１，７１の起動毎に判別を行う必要はなく、一定の期間（例えば、１ヶ月に１回等）毎に判別が行われるようにしても良い。また、定期的に行われるメンテナンス時に判別が実施されるようにしても良い。

また、上述の第１，第２実施形態では、電子内視鏡システム１１，７１が起動されると、温度センサ３０（，７３）が正常に機能するか否かの判別が自動的に実施される例を説明したが、操作部３５等からの入力によって、任意のタイミングで温度センサが正常に機能するか否かの判別を実施可能にしておくことが好ましい。

なお、上述の第１，第２実施形態では、ＣＭＯＳ温度（及び先端面温度）に対して２つの閾値Ｔａ，Ｔｂを設けてＡＬＣ制御を行う例を説明したが、ＡＬＣ制御において照明光量の上限を切り替える閾値は、１つでも良く、３以上でも良い。また、上述の第１，第２実施形態では、ＡＬＣ制御を行う際に、照明光量の上限を最大光量Ｌｍａｘと光量上限Ｌ１とで切り替える例を説明したが、３以上の閾値によって照明光量の上限を切り替える際には、ＣＭＯＳ温度等に対して設けられた各閾値に対応して、より細かく照明光量の上限が切り替えられるように、光量上限を複数定めておくことが好ましい。ＣＭＯＳ温度の閾値や照明光量の上限を定めた数が多い場合、照明光量の上限を切り替える際に生じるハンチングが抑止され、観察画像の視認性を向上させることができる。

なお、上述の第１，第２実施形態では、撮像素子（イメージセンサ）としてＣＭＯＳイメージセンサ２１を用いる例を説明したが、ＣＣＤ型のイメージセンサ等、他の周知のイメージセンサを用いることができる。

なお、上述の第１，第２実施形態では、各画素６２にＲＧＢのカラーフィルタが設けられ、カラーの撮像信号を得る方式（いわゆる同時式）を用いる例を説明したが、画素６２にカラーフィルタを設けず、照明光の色をＲＧＢに順に切り替えてフレーム毎に各色の撮像信号を得る方式（いわゆる面順次式）を採用しても良い。

なお、上述の第１，第２実施形態では、光源４５としてキセノンランプを用いる例を説明したが、光源４５はＬＤやＬＥＤ等他の周知の光源を好適に用いることができる。上述の実施形態では、絞り機構４６によって照明光量を調節する例を説明したが、ＬＤやＬＥＤ等の光量調節の容易な光源を用いる場合には、ＬＤやＬＥＤの出力を調節することによって照明光量を調節するようにしても良い。また、ＬＤやＬＥＤを照明光の光源として用いる場合には、これを先端部２０に設けても良い。

なお、上述の第１，第２実施形態では、照明光量を調節して先端部２０の発熱を低減させる例を説明したが、これに限らない。例えば、ＣＭＯＳ温度等に応じて撮像信号の増幅率を変動させ、ＡＬＣ制御用データの内容を調節することによって間接的にＡＬＣ制御による照明光の光量を調節しても良い。

なお、上述の第１，第２実施形態では、ＣＭＯＳ温度等に応じて照明光量の上限を設定する例を説明したが、ＣＭＯＳ温度が閾値Ｔａ（あるいは別途定めた所定閾値）を超えた場合に、撮像信号に暗電流補正を施すようにし、白傷の発生を抑止することが好ましい。また、ＣＭＯＳ温度は、専ら暗電流補正のオンオフの切り替えに用いるようにしても良い。

なお、上述の第１，第２実施形態では、所定時間間隔毎にＣＭＯＳ温度を測定する例を説明したが、ＣＭＯＳ温度を測定する時間間隔は、ＣＭＯＳセンサ２１のフレーム（例えば３０ｆｐｓや６０ｆｐｓ）毎でも良く、また、数フレーム毎でも良い。

なお、上述の第１，第２実施形態では、ＣＭＯＳ温度等、温度を用いて温度センサ３０（，７３）が正常に機能するか否かの判別を行う例を説明したがこれに限らない。例えば、温度センサ３０の抵抗値を用いて、温度センサ３０が正常に機能するか否かの判別を行うようにしても良い。また、温度センサとして熱電対等を用いる場合も同様である。

なお、上述の第１，第２実施形態では、温度センサ３０が正常に動作するか否かを判別するときに、環境温度が室温である例を説明したが、これに限らない。例えば、電子内視鏡システム１１，７１の起動時に、先端部２０を恒温槽等に入れ、任意の一定温度環境下に置くことで、先端部２０近傍の環境温度を積極的に一定値に保つようにしても良い。

なお、温度センサ３０（，７３）が正常に動作するか否か判別されるときには、ＣＭＯＳセンサ２１は停止されていても良く、予め定められたフレームレートで駆動してＣＭＯＳセンサ２１からの発熱量を所定量に調節した状態で温度センサ３０（，７３）が正常に動作するか否かの判別を行っても良い。

なお、上述の第１，第２実施形態では、温度センサ３０が正常に機能するか否かの判別を行った後、判別が完了したことや判別結果をモニタ２２に表示して、技師等に報知する例を説明したがこれに限らない。例えば、ＬＥＤランプやスピーカ等から音や光を発してこうした情報を技師等に報知しても良い。

なお、上述の第１実施形態では、昇温プロファイル４３に定められた正常範囲４４は、昇温プロファイル４３の値に±５％の範囲内としたが、正常範囲４４は任意に定めることができる。また、第１実施形態では、正常範囲４４が昇温プロファイル４３の値に対してパーセンテージで定められているが、一定の温度幅で定められていても良い。第２実施形態については、ギャップδ（ｔ）について同様の正常範囲７５が定められているが、これについても同様である。

なお、上述の第１，第２実施形態では、温度センサ３０，７３が正常に機能するか否かを判別するときに、判別用照明光を照射して先端部２０を加熱する例を説明したが、これに限らない。例えば、先端部２０を所定温度の熱浴に入れる等して先端部２０を加熱しても良い。この場合、環境温度Ｔ_０は熱浴に入れる直前の先端部２０の温度であり、最終的に熱平衡状態に達した定常期Ｃ２においては熱浴の温度に安定する点を除けば上述の第１，第２実施形態と同様であり、前述の方法で温度センサ３０，７３が正常に機能するか否かを判別することができる。

１１，７１，８１ 電子内視鏡システム
１２ 電子内視鏡
１３ プロセッサ装置
１４ 光源装置
１６ 挿入部
１７ 操作部
１８ コネクタ
１９ ユニバーサルコード
２０ 先端部
２１ ＣＭＯＳセンサ
２２ モニタ
２３ 観察窓
２４ 照明窓
２５ 対物光学系
２６ ＴＧ
２７ ＣＰＵ
２８ ライトガイド
２９ 照明レンズ
３０，７３ 温度センサ
３１ ＣＰＵ
３２ ＤＳＰ
３３ ＤＩＰ
３４ 表示制御回路
３５ 操作部
３６ ＲＯＭ
３７ ＲＡＭ
４１ 測定部
４２，７４ 判別部
４３ 昇温プロファイル
４４，７５ 正常範囲
４５ 光源
４６ 絞り機構
４７ 波長選択フィルタ
４８ ＣＰＵ
４９ 集光レンズ
５１ 撮像領域
５６ 垂直走査回路
５７ ＣＤＳ回路
５８ 列選択トランジスタ
５９ 水平走査回路
６１ 出力回路
６２ 画素
６３ 出力バスライン
６４ 絞り開口
６５ 絞り羽根
６６ スプリング
６７ モータ
６８ 絞り調節機構
７２ 先端面
８２ 先端温度推定部

Claims (13)

1. 被検体内に挿入される挿入部の先端部分に、温度センサと前記被検体内を撮像する撮像素子を有する電子内視鏡と、
   前記温度センサを用いて前記先端部分の温度を測定する先端温度測定手段と、
   前記先端部分から照明光を照射する照明光照射手段と、
   前記先端部分の温度が上昇するときに、前記先端部分の温度変化に基づいて前記温度センサが正常に機能するか否かを判別する判別手段と、
   を備えることを特徴とする電子内視鏡システム。
2. 前記温度センサが正常に機能する場合に、前記温度センサによって測定される前記先端部分の経時的な温度変化を表す昇温プロファイルを予め記憶する記憶手段を備え、
   前記判別手段は、前記先端部分の温度が上昇するときに、前記温度センサを用いて前記先端温度測定手段が測定した前記先端部分の経時的な温度変化を、前記昇温プロファイルと比較することにより、前記温度センサが正常に機能するか否かを判別すること
   を特徴とする請求項１記載の電子内視鏡システム。
3. 前記先端部分の温度に基づいて前記照明光の光量を自動調節する照明光調節手段を備えることを特徴とする請求項１または２に記載の電子内視鏡システム。
4. 前記照明光調節手段は、前記判別手段によって前記温度センサが正常に機能すると判別された場合に、前記先端部分の温度変化に基づいて前記照明光の光量の上限を設定して前記上限以下の範囲内で前記照明光の光量を調節し、前記判別手段によって前記温度センサが故障していると判別された場合に、前記照明光照射手段から前記先端部分の温度が所定温度以上に上昇しないことが保証される安全光量の前記照明光を照射させることを特徴とする請求項３に記載の電子内視鏡システム。
5. 前記判別手段によって前記温度センサが故障していると判別された場合に機能し、前記照明光調節手段から取得する前記照明光の照射履歴に基づいて前記先端部分の温度を推定する先端温度推定手段を備え、
   前記照明光量調節手段は、前記判別手段によって前記温度センサが正常に機能すると判別された場合に、前記先端部分の温度変化に基づいて前記照明光の光量の上限を設定して前記上限以下の範囲内で前記照明光の光量を調節し、前記判別手段によって前記温度センサが故障していると判別された場合に、前記先端温度推定手段によって推定された前記先端部分の温度に基づいて前記照明光の光量の上限を設定して前記上限以下の範囲内で前記照明光の光量を調節することを特徴とする請求項３に記載の電子内視鏡システム。
6. 前記先端温度推定手段は、前記照明光の照射履歴に基づいて前記照明光によって前記先端部分に流入した熱量を算出し、当該熱量と、前記先端部分について予め測定された前記先端部分の熱容量，熱抵抗，前記撮像素子の発熱量とに基づいて前記先端部分の温度を推定することを特徴とする請求項５に記載の電子内視鏡システム。
7. 前記判別手段は、前記判別を行うときに、照明光照射手段から所定光量の前記照明光を判別用照明光として照射させることにより前記先端部分の温度を上昇させることを特徴とする請求項１〜６のいずれか１項に記載の電子内視鏡システム。
8. 前記判別手段は、前記先端部分の温度から前記判別用照明光の照射を開始した時点の前記先端部分の温度を差し引いて算出した温度差の時間変化に基づいて前記判別を行うことを特徴とする請求項１〜７のいずれか１項に記載の電子内視鏡システム。
9. 前記判別手段は、当該システムが起動されたときに前記判別を行うことを特徴とする請求項１〜８のいずれか１項に記載の電子内視鏡システム。
10. 前記判別手段による判別結果を報知する報知手段を備えることを特徴とする請求項１〜９のいずれか１項に記載の電子内視鏡システム。
11. 前記判別手段は、前記先端部分の温度が上昇し始めてから熱平衡状態に至るまでの過渡期内の１点を含む少なくとも２点において、前記温度センサによって測定される前記先端部分の温度変化と前記昇温プロファイルとを比較することを特徴とする請求項２〜１０のいずれか１項に記載の電子内視鏡システム。
12. 前記電子内視鏡は、前記温度センサとして、第１温度センサと第２温度センサの２個の温度センサを有し、
    前記先端温度測定手段は、前記第１温度センサを用いて前記先端部分の第１の温度を測定するとともに、前記第２温度センサを用いて前記先端部分の第２の温度を測定し、
    前記判別手段は、前記先端部分の温度が上昇するときに、前記第１の温度の経時変化と前記第２の温度の経時変化を比較することにより、前記第１温度センサ及び前記第２温度センサが正常に機能するか否かを判別すること
    を特徴とする請求項１記載の電子内視鏡システム。
13. 前記第１温度センサと前記第２温度センサは、同一の箇所の温度を測定することを特徴とする請求項１２に記載の電子内視鏡システム。

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