JP2012042989A - 半導体集積回路 - Google Patents

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Abstract

【課題】チップサイズの大型化を防止することができる半導体集積回路。
【解決手段】同一のリセット信号が入力されることにより、互いに同期が取られる複数の送信ブロックを備える半導体集積回路。各送信ブロックは、基準クロック信号とフィードバッククロック信号との位相差に応じた制御電圧に基づいて周期Tの第1のクロック信号を発振する電圧制御発振器と、第1のクロック信号がN(Nは自然数)分周された第2のクロック信号が入力され、当該第2のクロック信号から、第1の送信用クロック信号と当該第1の送信用クロック信号よりも周波数の低い第2の送信用クロック信号とを生成し、リセット信号に応じて少なくとも第2の送信用クロック信号を出力するリセット機能付き分周器と、第1及び第2の送信用クロック信号が分配される複数の送信機と、を備える。
【選択図】図1

Description

本発明は、半導体集積回路に関し、特に複数のSERDESマクロを備える半導体集積回路に関する。
近年の各種高速シリアルインターフェース規格では、複数チャネルのそれぞれに対応する送信機(Tx)からの出力データ間のスキュー(以下、単にスキューという)を所定の値以下に抑えるよう規定されている。例えば、CEI−6G−SRでは500ps以下と規定されている。
図6は、高速シリアルインターフェース用の一般的なSerDes(Serializer/ Deserializer)マクロにおける送信側のブロック(以下、送信ブロックという)を示す図である。図6に示すSerDesマクロの送信ブロックは、位相同期ループ回路PLL(Phase-Locked Loop)及びn(nは自然数)個の送信機Tx1〜Txnを備えている。位相同期ループ回路PLLには、リファレンスクロック信号CLKrefと出力側からフィードバックされる低速クロック信号LCLKとが入力される。そして、位相同期ループ回路PLLから高速クロック信号HCLKと低速クロック信号LCLKとが出力され、各送信機Tx1〜Txnにチャネル間のスキュー=t1で分配されている。これにより、各チャネルからの送信出力データもチャネル間でのスキューがt1以内で出力される。よって、このt1の値を規格値内に収めることが、SerDesマクロのスペックとして設計者に要求される。
なお、特許文献1には、並列に設けられた複数のマクロ間の同期を取るためのクロック生成回路が開示されている。
特開2008−178017号公報
発明者は以下の問題を見出した。多チャネル化が求められる中、図6の送信ブロックにおいて単純に多チャネル化した場合、図6が横方向に伸びた構成となる。これは実際のレイアウトにおいても同じである。ここで、高速性能が要求されるSERDESマクロは、その性質からチップの周辺部へ配置されることが多い。さらに、多チャンネル構成の場合には、1つのマクロ内の各チャネルの特性を等しくするため、チップの1辺に収まるように配置されることが一般的である。そのため、多チャネル化によりSERDESマクロが一方向に伸びた構成となると、ダイレクトにチップサイズの大型化を招いてしまう問題があった。また、特許文献1のクロック生成回路では回路が複雑化・大型化してしまう問題があった。
本発明に係る半導体集積回路は、
同一のリセット信号が入力されることにより、互いに同期が取られる複数の送信ブロックを備え、
各前記複数の送信ブロックは、
基準クロック信号とフィードバッククロック信号との位相差に応じた制御電圧に基づいて周期Tの第1のクロック信号を発振する電圧制御発振器と、
前記第1のクロック信号がN(Nは自然数)分周された第2のクロック信号が入力され、当該第2のクロック信号から、第1の送信用クロック信号と当該第1の送信用クロック信号よりも周波数の低い第2の送信用クロック信号とを生成し、前記リセット信号に応じて少なくとも前記第2の送信用クロック信号を出力するリセット機能付き分周器と、
前記第1及び第2の送信用クロック信号が分配される複数の送信機と、を備えるものである。
本発明に係る半導体集積回路は、各送信ブロックがリセット信号に応じて送信用クロック信号を出力するリセット機能付き分周器を備えている。そのため、簡易な回路構成により並列に設けられた複数の送信ブロック間の同期を取ることができ、チップサイズの大型化を防止することができる。
本発明に係る半導体集積回路は、簡易な回路構成により並列に設けられた複数の送信ブロック間の同期を取ることができ、チップサイズの大型化を防止することができる。
本発明の第1の実施の形態に係る半導体装置のブロック図である。 同一マクロ内での最大スキューΔtmax(in)を説明するためのタイミングチャートである。 複数マクロ間での最大スキューΔtmaxを説明するためのタイミングチャートである。 第1の実施の形態に係るリセット機能付き分周器DIV3の詳細図である。 第1の実施の形態の変形例に係るリセット機能付き分周器DIV3の詳細図である。 本発明の第2の実施の形態に係る半導体装置のブロック図である。 高速シリアルインターフェース用の一般的なSerDesマクロにおける送信ブロックを示す図である。
以下、本発明を適用した具体的な実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。ただし、本発明が以下の実施の形態に限定される訳ではない。また、説明を明確にするため、以下の記載及び図面は、適宜、簡略化されている。
(実施の形態1)
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る半導体集積回路のブロック図である。まず、全体構成について説明する。この半導体装置は、m(mは自然数)個のSerDesマクロMCR_A、MCR_B、MCR_C、・・・、MCR_mを備えている。ここで、図1にはSerDesマクロの送信ブロックのみを示している。図1には図示されていないが、当然のことながら各SerDesマクロは、送信ブロック(TRANSMITTER BLOCK)に対応する受信ブロック(RECEIVER BLOCK)を備えている。
図1に示すように、SerDesマクロMCR_Aの送信ブロックは、位相同期ループ回路PLL、リセット機能付き分周器DIV3、n個の送信機Tx1〜Txnを備えている。ここで、位相同期ループ回路PLLは、位相周波数検出回路PFD(Phase Frequency Detector)、チャージポンプCP(Charge Pump)、ローパスフィルタLPF(Low-Pass Filter)及び分周器DIV1、DIV2を備えている。なお、各SerDesマクロMCR_A以外の各SerDesマクロの送信ブロックも、SerDesマクロMCR_Aの送信ブロックと同様の構成を備えている。
次に、各構成要素について説明する。位相周波数検出回路PFDには、リファレンスクロック信号CLKrefと位相同期ループ回路PLLの出力側から(図1の例では分周器DIV2から)のフィードバッククロック信号とが入力される。そして、位相周波数検出回路PFDは、これら2つのクロック信号の位相差及び周波数差に応じた信号を、チャージポンプCPに対し出力する。
具体的には、フィードバッククロック信号の周波数がリファレンスクロック信号CLKrefの周波数よりも低ければ、位相周波数検出回路PFDはチャージポンプCPに対し、クロック信号の周波数を上げるためのUP信号を出力する。反対に、フィードバッククロック信号の周波数がリファレンスクロック信号CLKrefの周波数よりも高ければ、位相周波数検出回路PFDはチャージポンプCPに対し、リカバリクロックの周波数を下げるためのDOWN信号を出力する。
また、フィードバッククロック信号の位相がリファレンスクロック信号CLKrefの位相よりも遅れていれば、位相周波数検出回路PFDはチャージポンプCPに対し、クロックの位相を進めるためのUP信号を出力する。反対に、フィードバッククロック信号の位相がリファレンスクロック信号の位相よりも進んでいれば、位相周波数検出回路PFDはチャージポンプCPに対し、クロック信号の位相を遅らせるためのDOWN信号を出力する。
チャージポンプCPは、位相周波数検出回路PFDから入力された位相及び周波数についてのUP信号又はDOWN信号に応じたアナログ電流信号を出力する。
ローパスフィルタLPFは、チャージポンプCPから入力されたアナログ電流信号に基づいて制御電圧信号を生成する。
そして、電圧制御発振回路VCOは、ローパスフィルタLPFから入力された制御電圧信号に基づいてクロック信号VCOCLK_Aを生成する。このクロック信号VCOCLK_Aは、分周数Nの分周器DIV1に入力される。分周器DIV1からは、周波数が電圧制御発振回路VCOから出力されたクロック信号VCOCLK_Aの1/Nであるクロック信号CLKR_Aが出力される。
クロック信号CLKR_Aは分周器DIV2へ入力される。分周器DIV2から出力されたクロック信号は上記フィードバック信号として位相周波数検出回路PFDへ入力される。
他方、クロック信号CLKR_Aはリセット機能付き分周器DIV3へも入力される。リセット機能付き分周器DIV3は、送信用の高速クロック信号HCLKと低速クロック信号LCLKとを出力する。この高速クロック信号HCLKと低速クロック信号LCLKとが、各送信機Tx1〜Txnに分配されている。ここで、図1に示すように、送信機Tx1〜Txnへの高速クロック信号HCLK及び低速クロック信号LCLKの分配スキューはt1となる。ここで、送信機Tx1〜Txnは、パラレルデータをシリアルデータに変換するパラレルシリアル変換回路である。
ここで、図1に示すように、SerDesマクロMCR_Aのリセット機能付き分周器DIV3には、リセット信号RSTB_Aが入力される。同様に、他のSerDesマクロのリセット機能付き分周器DIV3(不図示)にもリセット信号RSTB_B、RSTB_C、・・・、RSTB_mが入力される。これにより、非同期の複数SerDesマクロ間のクロック信号を同期させることができる。ここで、図1に示すように、複数SerDesマクロへのリセット信号RSTBの分配スキューはt2となる。
次に、図2、3を用いて、同一SerDesマクロ内におけるスキュー及び複数SerDesマクロ間のスキューの詳細について説明する。図2は、同一SerDesマクロMCR_A内での最大スキューΔtmax(in)を説明するためのタイミングチャートである。図3は、複数SerDesマクロ間での最大スキューΔtmaxを説明するためのタイミングチャートである。
ここで、図2、3では分周器DIV1の分周数N=2の場合を示している。そのため、電圧制御発振回路VCOの出力クロック信号VCOCLK_Aの周期をTとすると、分周器DIV1から出力され、リセット付き分周器DIV3へ入力されるクロック信号CLKR_Aの周期はN×T=2Tとなる。
図2の最上段にはリセット信号RSTB_Aが示されている。その下には、リセット信号RSTB_Aに対して、「タイミングずれ小」及び「タイミングずれ大」の2つの場合にグループ分けして示されている。
具体的には、「タイミングずれ小」及び「タイミングずれ大」のそれぞれの最上段に、電圧制御発振回路VCOの出力クロック信号VCOCLK_Aが示されている。その下には、リセット付き分周器DIV3への入力クロック信号CLKR_Aが示されている。その下には、リセット付き分周器DIV3から出力される高速クロック信号HCLK_Aが示されている。その下には、リセット付き分周器DIV3から出力される低速クロック信号LCLK_Aのうち送信機Tx1に入力される低速クロック信号LCLK_A1が示されている。最下段には、リセット付き分周器DIV3から出力される低速クロック信号LCLK_Aのうち送信機Txnに入力される低速クロック信号LCLK_Anが示されている。
上段の「タイミングずれ小」のグループは、リセット信号RSTB_Aの解除のタイミングとリセット付き分周器DIV3への入力クロック信号CLKR_Aの立ち上がりのタイミングとのずれが小さい場合を示している。具体的には、リセット信号RSTB_Aの解除直後にクロック信号CLKR_Aが立ち上がる。
下段の「タイミングずれ大」のグループは、リセット信号RSTB_Aの解除のタイミングとリセット付き分周器DIV3への入力クロック信号CLKR_Aの立ち上がりのタイミングとのずれが大きい場合を示している。具体的には、リセット信号RSTB_Aの解除直前にクロック信号CLKR_Aが立ち上がっているため、リセット信号RSTB_Aの解除後、クロック信号CLKR_Aはその約1周期N×T=2T分遅れて立ち上がる。
従って、同じ送信機Tx1に入力される低速クロック信号LCLK_A1については、リセット信号RSTB_Aの解除のタイミングによるスキューは、最大N×T=2Tとなる。他方、SerDesマクロMCR_A内の信号分配スキューは上述の通りt1である。そのため、同一SerDesマクロMCR_A内での最大スキューΔtmax(in)=N×T+t1=2T+t1となる。
図3には、SerDesマクロMCR_Aにおいてリセット信号RSTB_Aに対してタイミングのずれが小さい「タイミングずれ小」及びSerDesマクロMCR_mにおいてリセット信号RSTB_mに対してタイミングのずれが大きい「タイミングずれ大」の2つの場合にグループ分けして示されている。
具体的には、「タイミングずれ小」の最上段に、リセット信号RSTB_Aが示されている。その下には、リセット付き分周器DIV3への入力クロック信号CLKR_Aが示されている。その下には、リセット付き分周器DIV3から出力される高速クロック信号HCLK_Aが示されている。その下には、リセット付き分周器DIV3から出力される低速クロック信号LCLK_Aのうち送信機Tx1に入力される低速クロック信号LCLK_A1が示されている。最下段には、リセット付き分周器DIV3から出力される低速クロック信号LCLK_Aのうち送信機Txnに入力される低速クロック信号LCLK_Anが示されている。
また、「タイミングずれ大」の最上段に、リセット信号RSTB_mが示されている。その下には、リセット付き分周器DIV3への入力クロック信号CLKR_mが示されている。その下には、リセット付き分周器DIV3から出力される高速クロック信号HCLK_mが示されている。その下には、リセット付き分周器DIV3から出力される低速クロック信号LCLK_mのうち送信機Tx1に入力される低速クロック信号LCLK_m1が示されている。最下段には、リセット付き分周器DIV3から出力される低速クロック信号LCLK_mのうち送信機Txnに入力される低速クロック信号LCLK_mnが示されている。
図2同様、図3においても上段の「タイミングずれ小」のグループは、リセット信号RSTB_Aの解除のタイミングとリセット付き分周器DIV3への入力クロック信号CLKR_Aの立ち上がりのタイミングとのずれが小さい場合を示している。具体的には、リセット信号RSTB_Aの解除直後にクロック信号CLKR_Aが立ち上がる。
下段の「タイミングずれ大」のグループは、リセット信号RSTB_mの解除のタイミングとリセット付き分周器DIV3への入力クロック信号CLKR_mの立ち上がりのタイミングとのずれが大きい場合を示している。具体的には、リセット信号RSTB_mの解除直前にクロック信号CLKR_mが立ち上がっているため、リセット信号RSTB_mの解除後、クロック信号CLKR_mはその約1周期N×T=2T分遅れて立ち上がる。
ここで、リセット信号RSTB_Aとリセット信号RSTB_mとのスキューは、上述のリセット信号RSTBの分配スキューt2である。また、図2で説明したとおり、同一SerDesマクロMCR_A内での最大スキューΔtmax(in)=N×T+t1=2T+t1である。従って、複数SerDesマクロ間での最大スキューΔtmaxは、図3に示すように、同一SerDesマクロMCR_A内での最大スキューΔtmax(in)に、リセット信号RSTBの分配スキューt2を加算したものとなる。即ち、複数SerDesマクロ間での最大スキューΔtmaxは次式(1)となる。
Δtmax=N×T+t1+t2=2T+t1+t2・・・(1)
次に、複数SerDesマクロ間での最大スキューΔtmax=N×T+t1+t2に基づいた設計方法について説明する。当該最大スキューΔtmaxは、N=1の場合にスキューは最小となる。但し、実際の設計では、規格を満足した上で、消費電力、面積などを考慮することも重要となる。
例えば、8チャネルのSerDesマクロを2つ用いて(合計16チャネル)、規格CEI−6G−SR(送信機Tx出力間スキューは最大500ps)である場合を考える。ここで、T=160ps(電圧制御発振回路VCOの発振周波数=6.25GHz)、t1=100ps、t2=200psと仮定する。この場合、式(1)よりN=1とする必要がある。
他方、同じ8チャネルのSerDesマクロを2つ用いて、規格PCIe−Gen2(送信機Tx出力間スキューは最大500ps+4UI=1300ps(ここでユニットインターバルUI=200ps))である場合を考える。T=200ps(電圧制御発振回路VCOの発振周波数=5GHz)、t1=100ps、t2=200ps、送信機Txに分配する高速クロック信号HCLK=2.5GHz、低速クロック信号LCLK=250MHzと仮定する。この場合、式(1)より送信機Tx出力間スキューの最大値はN=1の場合500ps、N=2の場合でも700psとなり規格を満足する。
なお、N=3の場合も計算上は規格を満足する。しかしながら、この場合、リセット機能付き分周器DIV3へ入力されるクロック信号CLKRよりも、出力される高速クロック信号HCLKの方が高周波数となってしまう。そのため、分周器の構成上、実現することができない。
この場合のN=1及びN=2、図1に示した分周器DIV1から出力されるクロック信号CLKR_Aが入力されるリセット機能付き分周器DIV3の構成について考える。図4Aは、N=2の場合のリセット機能付き分周器DIV3の詳細図である。図4Bは、N=1の場合のリセット機能付き分周器DIV3の詳細図である。
まず、図4Aに示すように、N=2の場合、リセット機能付き分周器DIV3への入力クロック信号CLKRがそのまま高速クロック信号HCLKとして出力される。そのため、リセット機能付き分周器DIV3には、低速クロック信号LCLK用の分周器DIV3aのみが必要となる。
他方、図4Bに示すように、N=1の場合、低速クロック信号LCLK用の分周器DIV3aに加えて高速(5GHz)で動作する2分周の高速クロック信号HCLK用の分周器DIV3bが必要となる。そのため、図4Aに示すN=2の場合に比べ、スキューは半分に抑えられるものの、消費電力と面積が大きくなる。よって、規格を満足した上で、消費電力、面積などを小さくするため、Nの値をできるだけ大きく設定することが望ましいといえる。
(実施の形態2)
次に、図5を参照して本発明の第2の実施の形態について説明する。図5は、本発明の第2の実施の形態に係る半導体集積回路である。図5のSerDesマクロMCR_Aにおけるリセット機能付き分周器DIV3は、図4A、4Bに示したリセット機能付き分周器DIV3の両方の構造を兼ね備えている。図4Bの構成に加え、N=1の場合とN=2の場合とを選択的に使用するためのセレクタSELを備えている。
N=1のパスでは、電圧制御発振回路VCOから出力されたクロック信号CLKR_A1(即ちVCOCLK_A)が高速クロック信号HCLK用の分周器DIV3bに入力される。そして、分周器DIV3bから出力されたクロック信号がセレクタSELに入力される。N=2のパスでは、分周器DIV1から出力されたクロック信号CLKR_A2もセレクタSELに入力される。2つのパスを経由した信号のうち、セレクタSELに選択された信号は、そのまま高速クロック信号として出力される。また、セレクタSELに選択された信号は、低速クロック信号LCLK用の分周器DIV3aに入力される。そして、低速クロック信号LCLK用の分周器DIV3aから低速クロック信号LCLKが出力される。その他の構成は同様であるため説明を省略する。
例えば、規格に応じてN=1又はN=2のパスを選択することができる。具体的には、N=1でなければ送信機Tx出力間スキューの規格を満足できない場合はN=1を選択し、N=2でも規格を満足できる場合はN=2のパスを選択する。これにより、1種類のSerDesマクロで複数の規格に対応することができる。
以上、実施の形態を参照して本願発明を説明したが、本願発明は上記によって限定されるものではない。本願発明の構成や詳細には、発明のスコープ内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。
CP チャージポンプ
DIV1、DIV2 分周器
DIV3 リセット機能付き分周器
DIV3a 低速クロック信号LCLK用の分周器
DIV3b 高速クロック信号HCLK用の分周器
LPF ローパスフィルタ
MCR_A、MCR_B、MCR_C、MCR_m SerDesマクロ
PFD 位相周波数検出回路
PLL 位相同期ループ回路
SEL セレクタ
Tx1〜Txn 送信機
VCO 電圧制御発振回路

Claims (7)

  1. 同一のリセット信号が入力されることにより、互いに同期が取られる複数の送信ブロックを備え、
    各前記複数の送信ブロックは、
    基準クロック信号とフィードバッククロック信号との位相差に応じた制御電圧に基づいて周期Tの第1のクロック信号を発振する電圧制御発振器と、
    前記第1のクロック信号がN(Nは自然数)分周された第2のクロック信号が入力され、当該第2のクロック信号から、第1の送信用クロック信号と当該第1の送信用クロック信号よりも周波数の低い第2の送信用クロック信号とを生成し、前記リセット信号に応じて少なくとも前記第2の送信用クロック信号を出力するリセット機能付き分周器と、
    前記第1及び第2の送信用クロック信号が分配される複数の送信機と、を備える半導体集積回路。
  2. 前記リセット機能付き分周器は、前記電圧制御発振器を含む位相同期ループの外側に設けられていることを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。
  3. 前記第1及び第2の送信用クロック信号の前記複数の送信機への分配スキューをt1とし、
    前記リセット信号の前記複数の送信ブロックへの分配スキューをt2とした場合、
    N×T+t1+t2の値が、要求される送信機の出力スキュー規格を満足することを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体集積回路。
  4. Nの値が最大であることを特徴とする請求項3に記載の半導体集積回路。
  5. 前記第1のクロック信号が入力され、前記第2のクロック信号を出力する分周器を更に備えることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の半導体集積回路。
  6. 前記リセット機能付き分周器に、Nの値が異なる複数の前記第2のクロック信号が入力され、
    前記リセット機能付き分周器は、複数の前記第2のクロック信号のいずれか1つを選択するセレクタを更に備えることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の半導体集積回路。
  7. 前記送信機は、パラレルデータをシリアルデータに変換するパラレルシリアル変換回路であることを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の半導体集積回路。
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