JP2012039036A - 太陽電池評価装置およびそれに用いられる光源評価装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】太陽電池評価装置1におけるソーラシミュレータ(照明光源)3の光量校正を行う光源評価装置10において、分光放射計13によってソーラシミュレータ3の照射光を取込み、その分光放射照度L(λ)を求める。一方、分光感度測定装置5では、白色バイアス光の強度を複数i段階に変化させ、都度、分光光源から輝線照射を行うDSR法によって、太陽電池2の分光感度Pi(λ)=P(λ,Ib)=P(λ,∫L(λ)dλ)を求める。そして演算部14は、2つの分光放射照度S(λ)および分光放射照度L(λ)と分光感度Pi(λ)とから、基準太陽光で規定の短絡電流Istcとなるときの照射光エネルギーEssおよび実際にソーラシミュレータ3による照射光エネルギーEssを求め、両者が一致するようにソーラシミュレータ3の光量をフィードバック制御する。
【選択図】図1
Description
ES=EL・{∫S(λ)・P(λ)dλ}/{∫L(λ)・P(λ)dλ}
から換算することで、前記の基準セルを不要にする太陽電池の評価方法を提案している。
ここに、Pi(λ)は、基準太陽光と同じ放射照度で測定された太陽電池の分光感度である。以下、これを1Sunと記す。
前記演算部14での短絡電流Iscの演算結果は、上述のように表示部15に表示されるとともに、該演算部14は、その演算結果に応じた光量制御信号CTLを作成し、Isc=Iscrefとなるように、ソーラシミュレータ3の光量調整を行う。該演算部14はまた、演算結果を外部のパーソナルコンピュータなどに出力して、それらの外部機器を介して、ソーラシミュレータ3の光量調整等を行うようにしてもよい。
ΔE(λ)=k×A(λ) ・・・(3)
であり、短絡電流Iの変化分ΔI(λ)は、
ΔI(λ)=P(λ,ib)×ΔE(λ) ・・・(4)
であり、全エネルギーの変化分ΔE(I)は、
ΔE(I)=∫ΔE(λ)dλ=∫k×A(λ)dλ ・・・(5)
となり、全短絡電流の変化分ΔIは、
ΔI=∫ΔI(λ)dλ=∫P(λ,ib)×ΔE(λ)dλ
=∫P(λ,ib)×k×A(λ)dλ ・・・(6)
となる。そして、特定のスペクトルの光による照射強度の微少変化(dE)による短絡電流の微少変化(dI)の関係P(ib)は、
2 太陽電池
3 ソーラシミュレータ(照明光源)
4 電力計
5 分光感度測定装置
7 ミラー
10 光源評価装置
11 第1の記憶部
12 第2の記憶部
13 分光放射計
14 演算部
15 表示部
Claims (7)
- 太陽電池を照明する光源の分光放射照度L(λ)を測定する分光放射計と、
予め測定されている基準太陽光の分光放射照度S(λ)を記憶する第1の記憶部と、
予め複数iの各照度レベルで測定されている前記太陽電池の白色バイアス光による短絡電流Ibの波長λ毎の依存性:P(λ,Ib)を、前記各照度レベルにおける分光感度Pi(λ)として記憶する第2の記憶部と、
前記太陽電池の複数iの各照度レベルにおける分光感度Pi(λ)と、前記基準太陽光の分光放射照度S(λ)と、前記光源の分光放射照度L(λ)とを用いて演算で求める分光感度Ps(λ)を用いて、太陽電池を照明する光源の光量調整用の値を演算する演算部とを含むことを特徴とする光源評価装置。 - 前記演算部は、前記太陽電池の複数iの各照度レベルにおける分光感度Pi(λ)の中から、前記基準太陽光の分光放射照度S(λ)と前記光源の分光放射照度L(λ)との差に対応する分光感度Ps(λ)を選択し、その分光感度Ps(λ)の太陽電池に対して、前記光源からの照明光が実際に光電変換に作用する照度レベルの実効値を演算することを特徴とする請求項1記載の光源評価装置。
- 前記演算部は、演算結果に応答して、前記光源の光量をフィードバック制御することを特徴とする請求項1または2記載の光源評価装置。
- 前記演算部は、前記予め複数iの照度で測定されている前記太陽電池の分光感度Pi(λ)と、前記光源の分光放射照度L(λ)とから、絶対分光感度法を用いて、前記基準太陽光のスペクトルが、照射エネルギーが1000W/m2の場合と同じ短絡電流Ibを与える分光放射照度となるように、前記光源の光量を調整することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の光源評価装置。
- 前記演算部は、演算結果を表示することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の光源評価装置。
- 前記演算部は、演算結果を外部出力することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の光源評価装置。
- 前記請求項1〜6のいずれか1項に記載の光源評価装置と、
前記基準太陽光を模した光を発生し、測定対象の前記太陽電池に照射する前記光源としてのソーラシミュレータと、
前記ソーラシミュレータからの照射光による前記太陽電池の発電特性を測定する電流・電圧計とを備えることを特徴とする太陽電池評価装置。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012256778A (ja) * | 2011-06-10 | 2012-12-27 | Konica Minolta Optics Inc | 短絡電流測定装置、太陽電池評価装置、短絡電流測定方法、および、太陽電池評価方法 |
WO2014097512A1 (ja) * | 2012-12-17 | 2014-06-26 | コニカミノルタ株式会社 | 太陽電池用標準セル |
KR101472782B1 (ko) | 2013-06-10 | 2014-12-15 | 주식회사 맥사이언스 | 솔라 시뮬레이터의 광 보정 장치 및 방법 |
JP2016144253A (ja) * | 2015-01-30 | 2016-08-08 | コニカミノルタ株式会社 | 分光感度測定装置 |
JPWO2018216718A1 (ja) * | 2017-05-23 | 2020-03-26 | Agc株式会社 | 太陽電池用カバーガラス及び太陽電池モジュール |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE202011109424U1 (de) * | 2011-12-23 | 2012-01-20 | Grenzebach Maschinenbau Gmbh | Vorrichtung zur industriellen Verdrahtung und Endprüfung von photovoltaischen Konzentratormodulen |
US20130194564A1 (en) * | 2012-01-26 | 2013-08-01 | Solarworld Industries America, Inc. | Method and apparatus for measuring photovoltaic cells |
CN102621073B (zh) * | 2012-03-02 | 2013-08-14 | 北京卓立汉光仪器有限公司 | 一种太阳能电池的光谱响应值测量系统及方法 |
CN102664199B (zh) * | 2012-05-16 | 2015-04-08 | 中利腾晖光伏科技有限公司 | 适用于太阳模拟器测试仪的太阳能电池片及其制造方法 |
TWI451660B (zh) * | 2012-09-18 | 2014-09-01 | Compal Electronics Inc | 電子裝置與其控制方法 |
DE102013100593B4 (de) * | 2013-01-21 | 2014-12-31 | Wavelabs Solar Metrology Systems Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Vermessen von Solarzellen |
CN104953949B (zh) * | 2015-06-24 | 2017-12-29 | 陕西众森电能科技有限公司 | 一种太阳电池及太阳电池组件的电性能测试方法 |
CN109037091B (zh) * | 2018-06-12 | 2021-06-15 | 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 | 一种切片电池参考片及其标定方法 |
CN111262526B (zh) * | 2020-03-26 | 2023-07-28 | 广东产品质量监督检验研究院(国家质量技术监督局广州电气安全检验所、广东省试验认证研究院、华安实验室) | 一种自然光下测试高容性光伏组件电性能的检测方法 |
CN112748344B (zh) * | 2020-12-23 | 2023-04-07 | 江苏宜兴德融科技有限公司 | 校准太阳模拟器的方法、光源系统和太阳能电池测试方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010058649A1 (ja) * | 2008-11-19 | 2010-05-27 | コニカミノルタセンシング株式会社 | 太陽電池評価装置および太陽電池評価方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08235903A (ja) | 1995-02-23 | 1996-09-13 | Agency Of Ind Science & Technol | ソーラーシミュレーター |
JP2004134748A (ja) | 2002-07-26 | 2004-04-30 | Canon Inc | 光電変換素子の測定方法および装置、光電変換素子の製造方法及び製造装置 |
JP5256521B2 (ja) * | 2003-03-14 | 2013-08-07 | 独立行政法人科学技術振興機構 | Ledを用いた太陽電池の評価方法及びその評価装置 |
EP1611448A1 (en) * | 2003-04-04 | 2006-01-04 | BP Corporation North America Inc. | Performance monitor for a photovoltaic supply |
EP2245473B1 (de) * | 2008-02-22 | 2012-08-29 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Messverfahren und vorrichtung zur charakterisierung eines halbleiterbauelements |
EP2404179B1 (en) * | 2009-03-01 | 2014-07-09 | Tau Science Corporation | High speed quantum efficiency measurement apparatus utilizing solid state lightsource |
DE102009053504B3 (de) * | 2009-11-16 | 2011-07-07 | Sunfilm AG, 01900 | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Quanteneffizienz einer Solarzelle |
US8073645B2 (en) * | 2011-05-30 | 2011-12-06 | Cyrium Technologies Incorporated | Apparatus and method to characterize multijunction photovoltaic solar cells |
US9863890B2 (en) * | 2011-06-10 | 2018-01-09 | The Boeing Company | Solar cell testing apparatus and method |
-
2010
- 2010-08-11 JP JP2010180396A patent/JP4944231B2/ja active Active
-
2011
- 2011-07-15 EP EP11816212.2A patent/EP2605291B1/en not_active Not-in-force
- 2011-07-15 WO PCT/JP2011/004061 patent/WO2012020542A1/ja active Application Filing
- 2011-07-15 US US13/816,448 patent/US8729919B2/en active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010058649A1 (ja) * | 2008-11-19 | 2010-05-27 | コニカミノルタセンシング株式会社 | 太陽電池評価装置および太陽電池評価方法 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012256778A (ja) * | 2011-06-10 | 2012-12-27 | Konica Minolta Optics Inc | 短絡電流測定装置、太陽電池評価装置、短絡電流測定方法、および、太陽電池評価方法 |
WO2014097512A1 (ja) * | 2012-12-17 | 2014-06-26 | コニカミノルタ株式会社 | 太陽電池用標準セル |
KR101472782B1 (ko) | 2013-06-10 | 2014-12-15 | 주식회사 맥사이언스 | 솔라 시뮬레이터의 광 보정 장치 및 방법 |
JP2016144253A (ja) * | 2015-01-30 | 2016-08-08 | コニカミノルタ株式会社 | 分光感度測定装置 |
JPWO2018216718A1 (ja) * | 2017-05-23 | 2020-03-26 | Agc株式会社 | 太陽電池用カバーガラス及び太陽電池モジュール |
JP7094948B2 (ja) | 2017-05-23 | 2022-07-04 | Agc株式会社 | 太陽電池モジュール |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2012020542A1 (ja) | 2012-02-16 |
US20130169306A1 (en) | 2013-07-04 |
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EP2605291A1 (en) | 2013-06-19 |
US8729919B2 (en) | 2014-05-20 |
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