JP2012032230A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2012032230A5
JP2012032230A5 JP2010170840A JP2010170840A JP2012032230A5 JP 2012032230 A5 JP2012032230 A5 JP 2012032230A5 JP 2010170840 A JP2010170840 A JP 2010170840A JP 2010170840 A JP2010170840 A JP 2010170840A JP 2012032230 A5 JP2012032230 A5 JP 2012032230A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
component
signals
offset
position sensor
calculation means
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010170840A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5529666B2 (ja
JP2012032230A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from JP2010170840A external-priority patent/JP5529666B2/ja
Priority to JP2010170840A priority Critical patent/JP5529666B2/ja
Priority to US13/190,087 priority patent/US9140581B2/en
Priority to IT000397A priority patent/ITRM20110397A1/it
Priority to DE102011079912A priority patent/DE102011079912A1/de
Priority to CN201110219930.2A priority patent/CN102401664B/zh
Publication of JP2012032230A publication Critical patent/JP2012032230A/ja
Publication of JP2012032230A5 publication Critical patent/JP2012032230A5/ja
Publication of JP5529666B2 publication Critical patent/JP5529666B2/ja
Application granted granted Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (1)

  1. 測定変位に応じた位置情報を出力する位置検出装置において、
    測定対象物の変位に伴い正弦波状に変化するとともに互いに位相が90度異なる2つの信号を出力する位置センサと、
    前記位置センサからの出力信号に含まれるオフセット成分を、当該出力信号から除去するオフセット成分除去手段と
    前記オフセット成分除去後の2つの信号を位置情報に変換する内挿演算手段と、
    前記位置センサからの2つの信号又は、前記オフセット成分除去後の2つの信号の自乗和の平方根を演算する半径演算手段と、
    前記半径演算手段の出力の変動成分と前記位置センサからの2つの信号とをそれぞれ乗算する相関演算手段と、
    前記相関演算手段の出力値のDC成分を抽出するDC成分抽出手段と、
    前記DC成分出手段の出力値に基づいて、オフセット変位分を含んだオフセット成分を出力する手段と、
    を備えることを特徴とする位置検出装置。
JP2010170840A 2010-07-29 2010-07-29 位置検出装置 Expired - Fee Related JP5529666B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010170840A JP5529666B2 (ja) 2010-07-29 2010-07-29 位置検出装置
US13/190,087 US9140581B2 (en) 2010-07-29 2011-07-25 Position detector
IT000397A ITRM20110397A1 (it) 2010-07-29 2011-07-26 Rivelatore di posizione.
DE102011079912A DE102011079912A1 (de) 2010-07-29 2011-07-27 Positionsdetektor
CN201110219930.2A CN102401664B (zh) 2010-07-29 2011-07-28 位置检测器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010170840A JP5529666B2 (ja) 2010-07-29 2010-07-29 位置検出装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2012032230A JP2012032230A (ja) 2012-02-16
JP2012032230A5 true JP2012032230A5 (ja) 2013-03-14
JP5529666B2 JP5529666B2 (ja) 2014-06-25

Family

ID=44899063

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010170840A Expired - Fee Related JP5529666B2 (ja) 2010-07-29 2010-07-29 位置検出装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9140581B2 (ja)
JP (1) JP5529666B2 (ja)
CN (1) CN102401664B (ja)
DE (1) DE102011079912A1 (ja)
IT (1) ITRM20110397A1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5945973B2 (ja) * 2013-11-05 2016-07-05 株式会社安川電機 エンコーダ、エンコーダ付きモータ、サーボシステム、エンコーダの信号処理方法
TWI506943B (zh) 2013-12-05 2015-11-01 Rdc Semiconductor Co Ltd 運用於時變信號的信號處理裝置
JP6233641B2 (ja) * 2014-01-31 2017-11-22 パナソニックIpマネジメント株式会社 位置センサ
JP2016118439A (ja) * 2014-12-19 2016-06-30 オークマ株式会社 位置検出装置
JP6688166B2 (ja) * 2016-06-14 2020-04-28 オークマ株式会社 位置検出装置
JP2019141968A (ja) * 2018-02-22 2019-08-29 株式会社デンソーウェーブ ロボットのアーム回転軸速度検出装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030030816A1 (en) * 2001-08-11 2003-02-13 Eom Tae Bong Nonlinearity error correcting method and phase angle measuring method for displacement measurement in two-freqency laser interferometer and displacement measurement system using the same
JP4301913B2 (ja) * 2003-09-29 2009-07-22 オークマ株式会社 モータ制御装置
KR20060117324A (ko) 2003-11-18 2006-11-16 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. 위치 결정
FR2871880B1 (fr) 2004-06-18 2006-08-11 Siemens Vdo Automotive Sas Dispositif et un procede pour determiner la position d'un moteur
US7184876B2 (en) 2004-06-18 2007-02-27 Siemens Vdo Automotive Device and process for determining the position of an engine
JP4713123B2 (ja) * 2004-10-13 2011-06-29 株式会社ミツトヨ エンコーダ出力信号補正装置
JP4768248B2 (ja) * 2004-10-13 2011-09-07 株式会社ミツトヨ エンコーダ出力信号補正装置及び方法
US7064914B1 (en) * 2004-12-22 2006-06-20 Seagate Technology Llc Position error signal quality
CN101147041A (zh) 2005-03-04 2008-03-19 拉比特合资有限公司 信号处理和位置确定装置和方法
JP4568298B2 (ja) * 2007-03-16 2010-10-27 オークマ株式会社 位置検出装置
JP5270277B2 (ja) 2008-09-16 2013-08-21 愛三工業株式会社 位置センサ
JP5106336B2 (ja) * 2008-09-26 2012-12-26 オークマ株式会社 位置検出装置
JP2010170840A (ja) 2009-01-22 2010-08-05 Toshiba Lighting & Technology Corp 電気機器及び照明器具

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2012032230A5 (ja)
GB202101804D0 (en) Detecting and adapting to changes in a reasonant phase sensing system having a resistive-inductive-capacitive sensor
JP2015114967A5 (ja)
WO2011158165A3 (en) Diagnostic kit and method for measuring balloon dimension in vivo
FR2951826B1 (fr) Capteur a detection piezoresistive dans le plan
EP3053096A4 (en) A method to use array sensors to measure multiple types of data at full resolution of the sensor
WO2012024254A3 (en) Force and true capacitive touch measurement techniques for capacitive touch sensors
EP2708848A3 (en) System and method for magnetic field data compression
EP2603977B8 (de) Kapazitätsmessschaltung, sensorsystem und verfahren zum messen einer kapazität unter verwendung eines sinusförmigen spannungssignals
FR3002801B1 (fr) Sonde de mesure de pression totale d'un ecoulement et procede de mise en oeuvre de la sonde
WO2012170884A3 (en) Internal measurement collection system and method of using same
WO2014195076A3 (de) Messgerät
WO2011081882A3 (en) System and method for measuring individual force in multi-object sensing
JP2012110359A5 (ja)
WO2014186065A3 (en) System and method to measure force of location on an l-beam
FR2983965B1 (fr) Sonde de mesure d'incidence locale et procede mettant en oeuvre la sonde
WO2012163585A3 (de) Verfahren und vorrichtung zur winkelschätzung in einer synchronmaschine
EP2525274A3 (en) Mobile device including a magnetic sensor and method for calibrating the magnetic sensor
WO2010128280A3 (en) Ph measurement device
EP2363735A3 (en) Photoelectric sensor and method for aiding operational checking of photoelectric sensor
JP2009069083A5 (ja)
JP2010220690A5 (ja)
JP2014185884A5 (ja)
WO2013004539A3 (de) Verfahren und einrichtung zur messung des absoluten drehwinkels
EP2743645A8 (en) Phase difference detector and rotation angle detection device including the same