JP2012026916A - 試験装置 - Google Patents

Abstract

【課題】テストプローブなどの通電体の異常を検出するために測定値と比較を行う確認用閾値を、複数の測定条件で簡便かつ迅速に設定することができる試験装置を提供する。
【解決手段】漏れ電流試験装置１は、複数の測定条件に対応する複数の検査用許容値を記憶するフラッシュＲＯＭ４と、各々の測定条件に応じた電源ケーブル１０１、テストプローブＴ１〜Ｔ３を介して電気的な測定値を測定する漏れ電流測定部８と、複数の検査用許容値の各々に所定の変換率を乗算して一律に複数の確認用閾値を算出する算出手段と、複数の測定条件に対応する検査用許容値と測定値とを比較してその測定値の良否を判定すると共に、複数の測定条件のうちの一部又は全部の測定条件については、更に測定条件に対応する確認用閾値と測定値とを比較してその測定値の良否を判定する判定手段とを備えている。
【選択図】図１

Description

本発明は、複数の測定条件で、測定条件に応じた通電体を介して測定した測定値と検査用許容値とを比較して測定値の良否を判定する試験装置に関するものである。

漏れ電流試験装置、耐電圧試験装置、又は絶縁抵抗試験装置などの試験装置では、テストプローブや、電源供給用端子などの通電体を測定対象体に電気的に接続して、電流値、電圧値や抵抗値を測定することが行われている。又、このような試験装置で、複数の測定条件で測定を行い、測定条件に対応して試験装置に予め設定された検査用許容値と測定値とを比較することで測定値の良否を判定することが行われている。このような試験装置の一例が特許文献１に開示されている。

特許文献１に開示された漏れ電流計では、被測定装置の単相交流の２本の電源線及び１本のグランド線からなる電源ラインに条件設定部を接続して、電源ラインを正常状態又はいずれか１本の線を断線状態にさせるように結線状態を変えたり、電源線の極性を正相又は逆相に変えたりして、複数の測定条件で順次、漏れ電流を測定している。この漏れ電流計では、測定した漏れ電流が予め設定された許容上限値以下のときに正常状態を意味する「ＰＡＳＳ」の文字を表示し、許容上限値を超えたときに異常状態を意味する「ＦＡＩＬ」の文字を表示する。

このように漏れ電流計では、被測定装置の電源ラインに条件設定部（通電体）を電気的に接続させて測定を行う。しかしながら、条件設定部に漏れ電流が流れない場合、例えば条件設定部から電源ラインが外れていたり、電源ラインが断線したりしている場合には、許容上限値以下の測定値となるため、正常であると誤って判定しまう。

又、例えば特許文献２に開示された漏れ電流測定装置では、電源ラインに接続状態切換部を電気的に接続すると共に、測定時にテストプローブ（通電体）を測定対象体に接触させることで電気的に接続して漏れ電流を測定している。この漏れ電流測定装置では、接続状態切換部だけでなく、テストプローブが漏れ電流測定装置から外れていたり、テストプローブに断線したりしているときには、テストプローブに漏れ電流が流れず、許容上限値以下の値が測定されるため、正常であると誤って判定してしまう。

又、耐電圧試験装置では、テストプローブを介して所定の高電圧を測定対象装置に印加し、この際に流れる電流が許容上限値以下のときに正常であると判定するが、上記の漏れ電流計等と同様に、テストプローブが耐電圧試験装置から外れていたりすると正常であると誤って判定してしまう。

一方、絶縁抵抗試験装置では、測定した抵抗値が許容下限値以上のときに正常であると判定するが、テストプローブ（通電体）が絶縁抵抗試験装置から外れていたり断線したりする場合には、許容下限値以上の値が測定されるため、正常であると誤って判定してしまう。

特開平１０−２４６６４５号公報 特開２００４−１３２８８９号公報

テストプローブなどの通電体が試験装置から外れたり断線したりすることによる測定値の誤判定を防止するために、例えば漏れ電流試験装置では、漏れ電流が全く流れないときに測定値が異常であると判定すればよい。しかしながら、通電体が僅かに試験装置から外れている場合や通電体が断線している場合には、浮遊容量によって若干の電流が流れることがあり、この電流が測定されることで測定値が正常であると誤判定してしまう場合がある。

そのため、通電体の状態が正常であるか否かを確認するための微小な確認用の閾値を設定して、測定値と確認用閾値とを比較して測定値が確認用閾値よりも小さい場合に測定値（通電体）が異常であると判定することが考えられる。しかしながら、複数の測定条件で測定を行う場合、すべての測定条件で同じ値の確認用閾値を用いると、測定条件によって漏れ電流の大小に差があるので、測定値が正常であるにもかかわらず異常であると誤判定してしまったり、逆に通電体に断線等があったりしても測定値を正常であると誤判定してしまう可能性がある。又、複数の測定条件の各々で確認用閾値の値を設定するようにすると、各測定条件で確認用閾値をどの程度の値で設定すればよいかを測定者が考える必要があり、更に測定者が各測定条件で確認用閾値の設定作業を行う必要があるので煩雑であると共に設定に時間が掛る。

本発明は前記の課題を解決するためになされたもので、テストプローブなどの通電体の異常を検出するために測定値と比較を行う確認用閾値を、複数の測定条件で簡便かつ迅速に設定することができる試験装置を提供することを目的とする。

前記の目的を達成するためになされた、特許請求の範囲の請求項１に記載された試験装置は、複数の測定条件に対応する複数の検査用許容値を記憶する記憶部と、各々の該測定条件に応じた通電体を介して電気的な測定値を測定する測定部と、該複数の検査用許容値の各々に所定の変換率を乗算して一律に複数の確認用閾値を算出する算出手段と、該複数の測定条件に対応する該検査用許容値と該測定値とを比較してその測定値の良否を判定すると共に、該複数の測定条件のうちの一部又は全部の該測定条件については、更に該測定条件に対応する該確認用閾値と該測定値とを比較してその測定値の良否を判定する判定手段とを備えることを特徴とする。

請求項２に記載された試験装置は、請求項１に記載されたもので、前記変換率を入力するための入力手段を備えることを特徴とする。

請求項３に記載された試験装置は、請求項１に記載されたもので、前記確認用閾値と前記測定値との比較を前記判定手段が行うか否かを、前記測定条件ごとに設定可能な選択手段を更に備えることを特徴とする。

請求項４に記載された試験装置は、請求項１に記載されたもので、前記判定部が、前記複数の測定条件のうち、前記確認用閾値と前記測定値との比較が既に終了している測定条件と同じ通電体を介して測定値を測定する測定条件については、該確認用閾値と該測定値との比較を行わないことを特徴とする。

請求項５に記載された試験装置は、請求項１に記載されたもので、前記検査用許容値が前記測定値の許容上限値であり、前記変換率が最大でも１００％未満の値であることを特徴とする。

請求項６に記載された試験装置は、請求項１に記載されたもので、前記検査用許容値が前記測定値の許容下限値であり、前記変換率が最小でも１００％よりも大きな値であることを特徴とする。

請求項７に記載された試験装置は、請求項１〜６のいずれかに記載されたもので、漏れ電流試験装置、耐電圧試験装置、又は絶縁抵抗試験装置であることを特徴とする。

本発明の試験装置は、複数の測定条件に応じた通電体を介して測定部が測定を行う際に、判定部が測定値と確認用閾値とを比較することで、試験装置からの通電体の外れや通電体の断線などの通電体の異常があるにもかかわらず測定値が正常であると誤判定してしまうことを防止する。この確認用閾値は、算出手段が各測定条件における検査用許容値から所定の変換率で自動的に一律に算出するため、測定者が測定条件ごとに一つずつ通電値を入力する必要がなく、確認用閾値を簡便かつ迅速に設定することができる。更に、この確認用閾値は、検査用許容値に比例した値であるので、検査用許容値が大きければ確認用閾値も大きくなり、検査用許容値が小さければ確認用閾値も小さくなる。測定値の大小は、検査用許容値の大小に概ね比例するので、例えば全ての測定条件で同じ値の確認用閾値を用いる場合よりも、誤判定を防止することができる。

又、入力手段を備えて変換率を入力可能とする場合には、測定対象機器等に対応させて確認用閾値を適切な値に設定できるため、通電体の異常に基づく測定値の誤判定を一層確実に防止することができる。

又、選択手段を備えて確認用閾値と測定値との比較を行う測定条件を選択可能とする場合には、例えば、特に通電体の異常に基づく測定値の誤判定を防止したい測定条件についてだけ確認用閾値に対する判定を行ったり、一律に設定された確認用閾値では正常な測定値であっても異常と判定される測定条件では確認用閾値に対する判定を停止したりするなど、測定条件等に柔軟に対応して測定を行うことができる。

又、確認用閾値と測定値とを比較する通電確認が既に終了した通電体に対して通電確認を行わない場合には、複数の測定条件での測定時間を短縮することができる。

検査用許容値は、測定値の許容上限値であっても、測定値の許容下限値であってもよい。したがって、種々の試験装置で通電体の異常に基づく測定値の誤判定を防止することができる。特に、漏れ電流試験装置、耐電圧試験装置、又は絶縁抵抗試験装置に好適に本発明を適用することができる。

本発明を適用する漏れ電流試験装置の使用状態を示すブロック図である。 本発明を適用する漏れ電流試験装置の記憶部に記憶された測定条件及び許容上限値を示す概要図である。 本発明を適用する漏れ電流試験装置の表示部に、変換率を設定するための設定画面を表示した状態を示す正面図である。 本発明を適用する漏れ電流試験装置が許容上限値から確認用閾値を算出する方法を示すフローチャートである。 図２の記憶部に更に確認用閾値が記憶された状態を示す概要図である。 本発明を適用する漏れ電流試験装置の表示部に、測定画面を表示した状態を示す正面図である。 図６の測定画面の測定値表示窓を拡大して示す図である。 図５に示した測定条件のうちの１つで、確認用閾値と測定値との比較を行わない設定にした状態を示す概要図である。 本発明を適用する漏れ電流試験装置が許容上限値から確認用閾値を算出し、同様の通電体で測定を行う測定条件では確認用閾値を算出しない方法を示すフローチャートである。 図７のフローチャートを実行したときに、記憶部に確認用閾値が記憶された状態を示す概要図である。

以下、本発明の実施形態を詳細に説明するが、本発明の範囲はこれらの実施形態に限定されるものではない。

図１に、本発明の試験装置の実施形態の一例である漏れ電流試験装置１を示す。漏れ電流試験装置１は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）２に、ＲＯＭ（Read Only Memory）３、フラッシュＲＯＭ４、ＲＡＭ（Random Access Memory）５、表示部６、操作部７が各々接続されている。更に、ＣＰＵ２には、接続切換器１３が接続されている。この接続切換器１３には、人体模擬インピーダンス回路１１、電圧検出部１０、及びアナログ／デジタル変換器（Ａ／Ｄ変換器）９がこの順で接続されている。Ａ／Ｄ変換器９の出力はＣＰＵ２に接続されている。このような漏れ電流試験装置１は、一例として、一般電気機器や医療用電気機器などの測定対象機器１００の漏れ電流を、ＪＩＳ規格、ＩＥＣ規格、ＵＬ規格、及び電気用品安全法などの各種規格・法律に対応して測定可能なものである。

ＣＰＵ２は、ＲＯＭ３に記憶された動作用プログラムに従って作動して、漏れ電流試験装置１の動作を総合的に制御する。このＣＰＵ２及びＲＯＭ３によって、本発明における判定手段及び算出手段が実現されている。フラッシュＲＯＭ４は、本発明における記憶部に相当し、書き換え可能な不揮発性のメモリであり、複数の測定条件、各測定条件における検査用許容値となる漏れ電流の許容上限値、後述する変換率、後述する確認用閾値及び通電確認のＯＦＦ設定、並びに測定値などを記憶する。ＲＡＭ５は、ＣＰＵ２が演算した値などを一時的に記憶すると共に入力される変換率を記憶する。なお、測定条件、許容上限値、確認用閾値及び通電確認のＯＦＦ設定を、ＲＡＭ５に記憶させる構成としてもよい（本発明における記憶部の他の一例）。

表示部６及び操作部７は、一例としてタッチパネル式液晶ディスプレイで一体的に構成されており、ＣＰＵ２によって制御されてディスプレイに測定値などを表示可能であると共に、ディスプレイに操作者が触れることで入力操作が可能になっている。なお、表示部６をディスプレイとし、操作部７をキーボードや操作ボタンとして別々に構成してもよい。

ＣＰＵ２、接続切換器１３、人体模擬インピーダンス回路１１、電圧検出部１０、Ａ／Ｄ変換器９、交流信号源１２、及び電源ケーブル１５は、本発明の測定部の一例である漏れ電流測定部８を構成している。

人体模擬インピーダンス回路１１は、人体のインピーダンスを模したものであり、ＣＰＵ２に制御されて各種規格等に従ったインピーダンスに切換設定可能になっている。例えば、人体模擬インピーダンス回路１１は、ＣＰＵ２の制御により、そのインピーダンスを、１ｋΩや１．５ｋΩ等の抵抗に切り換えたり、更に容量を付加したり、更にフィルタ回路を追加したりする。交流信号源１２は、測定対象機器１００に高電圧を印加する際に作動させるものである。電源ケーブル１５は、一例として接地端子付きの単相交流１００Ｖの商用交流電源に接続可能なプラグ付きの電源用のケーブルである。電源ケーブル１５は、電源線Ｌ，Ｎと接地線Ｇを有している。人体模擬インピーダンス回路１１、交流信号源１２、及び電源ケーブル１５は、接続切換器１３に各々接続されている。

又、接続切換器１３には、各々本発明における通電体の一例として、測定対象機器１００の電源ケーブル１０１の電源線Ｌ，Ｎ及び接地線Ｇ、並びにテストプローブＴ１、Ｔ２、Ｔ３がコネクタで接続可能になっている。接続切換器１３は、ＣＰＵ２の制御に従って、電源ケーブル１５と電源ケーブル１０１との接続の結線状態を変えたり電源極性を変えたり、電源ケーブル１０１、テストプローブＴ１〜Ｔ３、人体模擬インピーダンス１１、交流信号源１２との接続を様々に切り換える。

測定対象機器１００の外装からの漏れ電流を測定する際には、テストプローブＴ１を測定対象機器１００の外装（筐体）に接続して、テストプローブＴ２を接地線Ｇ（接地点）に接続する。テストプローブＴ１−Ｔ２間には人体模擬インピーダンス回路１１を接続しておく。この場合、測定対象機器１００内で電源線（ＬまたはＮ）と筐体との間に絶縁不良が生じているときには、測定対象機器１００の外装と接地点との間に接続されている人体模擬インピーダンス１１に漏れ電流が流れて電圧が発生する。電圧検出部１０は、人体模擬インピーダンス回路１１内部の電流検出用抵抗の両端に発生した電圧を検出し、直流電圧に変換した後、Ａ／Ｄ変換器９へ出力する。Ａ／Ｄ変換器９は電圧検出部１０で検出した直流電圧の電圧値をＣＰＵ２が読み取り可能なデジタル値に変換してＣＰＵ２に入力する。ＣＰＵ２は、Ａ／Ｄ変換部９によって変換された電圧値と人体模擬インピーダンス回路１１における電流検出用抵抗の値とに基づいて除算により漏れ電流値を演算（測定）する。

このようにして漏れ電流測定部８は、ＣＰＵ２の制御により、各々の測定条件に応じた通電体を介して漏れ電流値（電気的な測定値の一例）を測定する。このような漏れ電流測定部８は、公知の漏れ電流試験装置に用いられているものと同様のものであるので、詳細な説明は省略する。

次に、漏れ電流試験装置１の動作について説明する。

漏れ電流試験装置１を使用する場合、先ず、複数の測定条件、及び各測定条件における漏れ電流の許容上限値（検査用許容値の一例）を設定する。ＣＰＵ２は、表示部６に測定条件等の設定画面（図示せず）を表示して、測定者によって操作部７が操作されて測定条件の設定及び許容上限値の設定がされたときに、その内容をフラッシュＲＯＭ４に記憶させる。

図２に、フラッシュＲＯＭ４に記憶された漏れ電流の測定条件、及び許容上限値の一例の概要を図示する。確認用閾値はまだ設定されていないため同図に示すように空欄（未設定）になっている。

同図では、測定条件１〜８は、測定対象機器１に極性正相で正常な電源が加えられる例を示す。測定条件１では、人体模擬インピーダンス回路１１を接続したテストプローブＴ２−接地線Ｇを介して漏れ電流を測定するという条件を示している。測定条件２は、測定条件１と同様の条件であるが、測定対象機器１００にテストプローブＴ２を接触させる位置が異なるため、測定条件１とは別に設定されている。測定条件３〜８はいずれも、人体模擬インピーダンス回路１１を経由して電流を測定する条件を示し、測定条件３では電源線Ｌ−テストプローブＴ１間、測定条件４では電源線Ｌ−テストプローブＴ２間、測定条件５では電源線Ｎ−テストプローブＴ１間、測定条件６では電源線Ｎ−テストプローブＴ２間、測定条件７ではテストプローブＴ１−Ｔ２間、測定条件８では更に交流信号源１２を接続したテストプローブＴ１−Ｔ３間における漏れ電流を測定するという条件を示している。

又、同図に示すように、測定条件１〜８ごとに既に設定された許容上限値が記憶されている。なお、これら測定条件の内容や数、及び許容上限値は例示であるので、その内容や数等は検査規格などに合わせて適宜設定することができる。

測定条件及び許容上限値の設定の終了により、ＣＰＵ２は、一例として図３に示すように、確認用閾値設定画面３１を表示部６に表示する。

ＣＰＵ２は、確認用閾値設定画面３１に、通電確認を行う場合に測定者が選択するためのＯＮボタン３２、通電確認を行わない場合に測定者が選択するためのＯＦＦボタン３３、確認用閾値を設定するための変換率を入力する変換率入力画面３４を表示する。ここで通電確認とは、テストプローブＴ１等の通電体を介して測定した測定値と確認用閾値との比較を行い、測定値の良否を判定することで通電体の状態の良否を判定することをいう。

ＣＰＵ２は、初期値としてＯＮボタン３２が選択されていることを示すように、ＯＮボタン３２を色つき（同図では斜線で示す）で表示する。又、ＣＰＵ２は、変換率入力画面３４に、変換率を表示するための表示窓３５、変換率を入力するための数値設定用ボタン３６、及び設定ボタン３７を表示する。なお、この変換率入力画面３４が、本発明の入力手段の一例に相当する。

測定者は、数値設定用ボタン３６を操作して、所定の変換率を一例として百分率で入力する。ＣＰＵ２は、数値設定用ボタン３６が操作されて入力された変換率を表示窓３５に表示する。同図では、変換率として５．０％が入力された例を示している。

この変換率は、電源ケーブル１０１の電源線Ｌ，Ｎや接地線Ｇ、テストプローブＴ１〜Ｔ３（図１参照）を介して測定される測定値が許容上限値に対してどの程度の比率であるときに漏れ電流試験装置１から外れていたり、断線したりしているかを判定するためのものである。電源ケーブル１０１やテストプローブＴ１〜Ｔ３が外れたりしていると、漏れ電流はほとんど測定されなくなるため、測定値は許容上限値よりもかなり小さな値になる。したがって、変換率は最大でも１００％未満つまり１未満の値である。最適な変換率は、測定対象機器１００や測定条件によって異なるが、テストプローブＴ１等の通電体の何れか一つでもオープン状態となったときに測定値が異常（確認用閾値以下）であると判定でき、正常な測定値のときには正常（確認用閾値以上）であると判定できるような値である。変換率は、一例として１％〜２０％、好ましくは１％〜１０％の値に設定する。ＣＰＵ２は、変換率が１００％以上の値で入力されたときに、表示部６にエラーである旨を表示し、１００％以上の値で設定できないようにすることが好ましい。ＣＰＵ２は、入力された変換率をＲＡＭ５に記憶させる。

測定者は、変換率が入力した数値でよければ、設定ボタン３７を押す。ＣＰＵ２は、設定ボタン３７が押されると、算出手段を起動して、図４のフローチャートに従って確認用閾値を算出する。具体的には、ＣＰＵ２は、フラッシュＲＯＭ４（図２参照）に記憶されている測定条件１の許容上限値（図２参照）に変換率を乗算して確認用閾値を算出する（ステップ１）。なお同図では、ステップを「Ｓ」で示している。この場合、許容上限値が１．０００ｍＡであるので、５．０％（０．０５０）を乗算して、確認用閾値として０．０５０ｍＡを算出する。

次に、ＣＰＵ２は、算出した確認用閾値を測定条件１に対応させてフラッシュＲＯＭ４に記憶させる（ステップ２）。続いて、ＣＰＵ２は、フラッシュＲＯＭ４に記憶されている全ての測定条件について確認用閾値を算出（記憶）したか否かを判別する（ステップ３）。この場合、測定条件２〜８（図２参照）についてまだ算出が終了していないので、ステップ１に戻り、測定条件２についてステップ２、３を行い、確認用閾値を算出し、フラッシュＲＯＭ４に記憶させる。このようにしてＣＰＵ２は、ステップ１〜３を繰り返し、測定条件１〜８の全てについて、確認用閾値をフラッシュＲＯＭ４に記憶させる。図５に、確認用閾値を記憶した状態のフラッシュＲＯＭ４の概要を図示する。以上で、確認用閾値の設定が終了する。

このように、ＣＰＵ２が各許容上限値に対して一律に変換率を乗算して、各測定条件における確認用閾値を設定するため、測定者が測定条件１〜８それぞれに対して確認用閾値を一つずつ入力する必要がないので、簡便かつ迅速に設定することができると共に、確認用閾値を誤って設定してしまうことを防止できる。

一方、測定者が通電確認を行わないとして、図３に示したＯＦＦボタン３３を押したときには、ＣＰＵ２は、フラッシュＲＯＭ４の測定条件１〜８の全ての確認用閾値欄に「ＯＦＦ」を設定する（図示せず）。

ＣＰＵ２は、フラッシュＲＯＭ４に、確認用閾値を設定、又は通電確認の「ＯＦＦ」を設定したときには、表示部６に測定開始画面（図示せず）を表示する。測定者は、測定対象機器１００を接続して、測定の準備が整ったときに操作部７を操作して測定を開始する。

通電確認を行う場合、つまり確認用閾値を設定した場合の測定動作について説明する。この場合、ＣＰＵ２は、測定を開始すると、測定条件１〜８の順番に従って順次測定を行う。先ず、ＣＰＵ２は、フラッシュＲＯＭ４から測定条件１の内容を読み込み、接続切換器１３の接続を切り換えて、Ａ／Ｄ変換器９から電圧値を読み込み、漏れ電流を測定する。又、ＣＰＵ２は、判定手段を起動して、測定条件１に対応する許容上限値及び確認用閾値をフラッシュＲＯＭ４から読み込み、その許容上限値及び測定値を比較して測定値の良否を判定すると共に、確認用閾値及び測定値を比較して測定値の良否を判定する。具体的には、ＣＰＵ２は、測定条件１で測定した測定値が許容上限値以下であるときに測定値が正常であると判定し、更に測定値が確認用閾値以上であるときに、テストプローブＴ２及びその接続状態が良好であり、その測定値が正常であると判定する。つまり、測定値が許容上限値以下であり確認用閾値以上であるときに、ＣＰＵ２は、測定値が正常である判定する。又、測定値が、許容上限値を超えているか、又は確認用閾値よりも小さいときに、ＣＰＵ２は、測定値が異常であると判定する。

ＣＰＵ２は、測定条件１における測定値及び判定結果を表示部６に表示させると共に、フラッシュＲＯＭ４に記憶させる。このようにしてＣＰＵ２は、測定条件２〜８まで順次測定を行う。全ての測定値が正常であるとＣＰＵ２が判定したときは、テストプローブＴ１〜Ｔ３及びその接続状態が良好であると共に、全ての測定値が正常であることが判る。測定の途中で測定値が異常であるとＣＰＵ２が判定したときは、その時点で測定を停止するようにしてもよい。なお、確認用閾値の値によっては、テストプローブＴ１等が外れていても正常であると判定手段に判定されるときや、テストプローブＴ１等が外れていないにもかかわらず異常と判定されるときには、測定者は操作部７を操作して図３の設定画面３１に戻り、変換率の値を適宜変更して設定する。変換率の値を変更設定すると、ＣＰＵ２（算出手段）は、フラッシュＲＯＭ４の確認用閾値をリセットして、再度図４に示すフローチャートで確認用閾値を算出し、フラッシュＲＯＭ４に記憶させる。

図６に、測定時にＣＰＵ２が表示部６に表示する測定画面４１の一例を示す。

ＣＰＵ２は、測定画面４１に、測定値表示窓４２、最大値表示窓４３、及び測定条件表示窓４４を表示する。ＣＰＵ２は、測定値表示窓４２に、そのときの測定条件で測定された測定値を表示すると共に測定条件を絵表示で表示する。又、ＣＰＵ２は、測定値表示窓４２に、測定値が許容上限値以下であり確認用閾値以上であったときに、測定値が正常であることを示す「ＰＡＳＳ」の文字を表示する。

ＣＰＵ２は、測定値が測定上限値を超えたと判定したときには、図７（ａ）に測定値表示窓４２を拡大して示すように、測定値が異常であることを示す「ＵＰＰＥＲ−ＦＡＩＬ」の文字を表示する。又、ＣＰＵ２は、測定値が確認用閾値よりも小さいと判定したときには、図７（ｂ）に測定値表示窓４２を拡大して示すように、測定値が異常であることを示す「ＬＯＷＥＲ−ＦＡＩＬ」の文字を表示する。このように、測定値が許容上限値を超えているときと、確認用閾値よりも小さいときとで表示を変えていることから、測定者は、通電体の状態が悪いのか、測定値自体（測定対象機器１００）が悪いのかを知ることができる。

又、ＣＰＵ２は、図６に示すように、最大値表示窓４３に、それまでに測定された測定値のうちの最大の測定値を測定条件と共に表示する。又、ＣＰＵ２は、最大値表示窓４３に、その最大の測定値の判定結果を表示する。

ＣＰＵ２は、測定条件表示窓４４に、その測定条件における許容上限値４５を数値で表示すると共に、確認用閾値４６を数値で表示する。更にＣＰＵ２は、その測定条件において、確認用閾値と測定値との比較を判定手段が行うか否かを設定するためのＯＮボタン４７及びＯＦＦボタン４８を表示する。ＯＮボタン４７は、ＣＰＵ２（判定手段）が通電確認を行う状態に設定されていることを示すように、色つき（図では斜線で示す）で表示されている。

測定条件や測定対象機器１００によっては、一部の測定条件で漏れ電流が小さな値になり、一律に設定された確認用閾値よりも測定値のほうが小さくなってしまい、測定値が異常であると誤判定されてしまう場合がある。このような場合には、操作者はＯＦＦボタン４８を押すことで、その測定条件の場合だけ、確認用閾値と測定値との比較を行わないようにすることができる。例えば測定条件７のときに、測定者がＯＦＦボタン４８を押した場合、ＣＰＵ２は、図８に示すように、フラッシュＲＯＭ４の測定条件７の確認用閾値の欄に「ＯＦＦ」を設定する。これにより、ＣＰＵ２は、測定条件７のときに、確認用閾値と測定値との比較は行わず、許容上限値と測定値との比較のみを行って測定値の良否を判定する。ＯＦＦボタン４８が押されたときには、ＣＰＵ２は、ＯＦＦボタン４８を色つきで表示（図示せず）してＯＮボタン４７を色なし表示にすると共に、測定条件表示窓４４に確認用閾値の表示は行わない。再度、ＯＮボタン４７が押されたときには、ＣＰＵ２は確認用閾値を再演算して、フラッシュＲＯＭ４に記憶させる。このような選択は、測定条件ごとに行うことができる。なお、このＯＮボタン４７、及びＯＦＦボタン４８が本発明における選択手段の一例に相当する。

一方、図３でＯＦＦボタン３３が押されたときには、全ての測定条件の確認用閾値の欄に「ＯＦＦ」が設定されているので、ＣＰＵ２は、測定条件１〜８の全てにおいて許容上限値と比較値との比較だけ行い、測定値の良否を判定する。この場合、特に通電確認を行いたい測定条件でＯＮボタン４７を押すことで、その測定条件だけで通電確認を行うことができる。

なお、ＣＰＵ２（判定手段）は、複数の測定条件１〜８のうち、確認用閾値と測定値との比較が既に終了している測定条件と同じ通電体を介して測定値を測定する測定条件については、確認用閾値と測定値との比較を行わないようにすることもできる。

このようにする場合、漏れ電流試験装置１は、図３に示す確認用閾値設定画面３１で、変換率が入力されて設定ボタン３７が押されたときに、図４のフローチャートに換えて、一例として図９に示すフローチャートを算出手段が実行して確認用閾値を算出する。

具体的には、図９に示すフローチャートでは、最初にＣＰＵ２は、図２に示す測定条件１で、既に同様の通電体を介して測定を行う測定条件で確認用閾値を算出（記憶）したか否かを判別する（ステップ１１）。この場合、何れの測定条件でも確認用閾値を算出していないので、ＣＰＵ２は、ステップ１２に進み、許容上限値に変換率を乗算して確認用閾値を算出し、ステップ１３で、確認用閾値を測定条件１の確認用閾値欄に記憶させる。ＣＰＵ２は、全ての許容上限値について確認用閾値を記憶させたか否かを判別し（ステップ１４）、この場合、測定条件２〜８についてまだ算出が終了していないので、ステップ１１に戻る。

測定条件２では、ステップ１１で、ＣＰＵ２は、測定条件２と同様の通電体で測定を行う測定条件１で確認用閾値を既にフラッシュＲＯＭ４に設定していることを判別して、ステップ１５に進む。ステップ１５でＣＰＵ２は、フラッシュＲＯＭ４の測定条件２の確認用閾値欄に「ＯＦＦ」を設定し、ステップ１４、１１に進む。ＣＰＵ２は、測定条件３〜８では、ステップ１１〜１４を繰り返し、測定条件３〜８の確認用閾値を算出してフラッシュＲＯＭ４に記憶させる。このようにして設定されたフラッシュＲＯＭ４の概要を図１０に図示する。

同図に示すように、測定条件２の確認用閾値欄に「ＯＦＦ」が設定されることで、ＣＰＵ２は、測定条件２において測定値と確認用閾値との比較を行わない。つまり、同様の通電体を介して測定を行う測定条件では、確認用閾値と測定値との比較が１度だけ行われるので、複数の測定条件での測定時間を短縮することができる。

なお、上記では本発明を漏れ電流試験装置１に適用した例について説明したが、本発明は耐電圧試験装置にも好適に適用することができる。又、本発明の適用範囲はこれに限られず、通電体を介して測定値を測定して検査用許容値と比較する試験装置であれば、電流測定装置、電圧測定装置、電力測定装置、容量測定装置などの種々の試験装置に本発明を適用することができる。更に、検査用許容値を測定値の許容上限値とする例について説明したが、検査用許容値を測定値の許容下限値とする絶縁抵抗試験装置にも本発明を好適に適用することもできる。この場合、変換率として、最小でも１００％（１）よりも大きな値を設定する。変換率の入力画面では、１００％以下の変換率が入力されたときには、ＣＰＵ２は表示部にエラーである旨を表示し、１００％以下の値で設定できないようにすることが好ましい。最適な変換率は、測定対象機器や測定条件等によって異なるが、通電体の何れか一つでもオープン状態となったときに測定値が異常（確認用閾値以上）であると判定でき、正常な測定値のときには正常（確認用閾値以下）であると判定できるような値である。一例として変換率として、２００％（２）〜１００００％（１００）程度の値で設定する。この場合、絶縁抵抗試験装置は、測定値が許容下限値以上であり、確認用閾値以下である場合に測定値が正常であると判定する。また、絶縁抵抗試験装置は、測定値が許容下限値よりも小さいときに測定値が異常であると判定し、測定値が確認用閾値よりも大きいときに異常であると判定する。

又、変換率を百分率で入力する例を示したが、入力する変換率は、例えば５％の場合０．０５や２００％の場合２のように乗算する数値そのままを入力する構成としてもよいし、分数や千分率で入力する構成としてもよい。又、変換率を測定者が入力して設定する例について示したが、フラッシュＲＯＭ４やＲＯＭ３に予め記憶されている一つの固定値を用いてもよいし、予め記憶されている幾つかの固定値の中から選択できるようにしてもよい。

又、測定条件ごとの確認用閾値と測定値との比較の実行の有無を、図６に示す測定画面４１のＯＮボタン４７及びＯＦＦボタン４８で設定する例について示したが、例えば、表示部６に図８に示したような一覧表を表示させて、その一覧表でＯＦＦを設定できるようにしてもよい。

更に、ＣＰＵ２（算出部）が、検査用許容値から確認用閾値を算出して測定前にフラッシュＲＯＭ４に予め記憶させる例について示したが、例えば、入力手段から入力された変換率をフラッシュＲＯＭ４に記憶させておいて、各測定条件で測定を行う都度、ＣＰＵ２がフラッシュＲＯＭ４から変換率を読み込んでその際に測定条件における確認用閾値を算出してもよい。

１は漏れ電流試験装置、２はＣＰＵ、３はＲＯＭ、４はフラッシュＲＯＭ、５はＲＡＭ、６は表示部、７は操作部、８は漏れ電流測定部、９はアナログ／デジタル変換器、１０は電圧検出部、１１は人体模擬インピーダンス回路、１２は交流信号源、１３は接続切換器、１５は電源ケーブル、３１は確認用閾値設定画面、３２はＯＮボタン、３３はＯＦＦボタン、３４は変換率入力画面、３５は表示窓、３６は数値設定用ボタン、３７は設定ボタン、４１は測定画面、４２は測定値表示窓、４３は最大値表示窓、４４は測定条件表示窓、４５は許容上限値、４６は確認用閾値、４７はＯＮボタン、４８はＯＦＦボタン、１００は測定対象機器、１０１は電源ケーブル、Ｌ・Ｎは電源線、Ｇは接地線、Ｓ１〜Ｓ３・Ｓ１１〜Ｓ１４はフローチャートにおける各ステップ、Ｔ１〜Ｔ３はテストプローブである。

Claims (7)

1. 複数の測定条件に対応する複数の検査用許容値を記憶する記憶部と、
   各々の該測定条件に応じた通電体を介して電気的な測定値を測定する測定部と、
   該複数の検査用許容値の各々に所定の変換率を乗算して一律に複数の確認用閾値を算出する算出手段と、
   該複数の測定条件に対応する該検査用許容値と該測定値とを比較してその測定値の良否を判定すると共に、該複数の測定条件のうちの一部又は全部の該測定条件については、更に該測定条件に対応する該確認用閾値と該測定値とを比較してその測定値の良否を判定する判定手段とを備えることを特徴とする試験装置。
2. 前記変換率を入力するための入力手段を備えることを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
3. 前記確認用閾値と前記測定値との比較を前記判定手段が行うか否かを、前記測定条件ごとに設定可能な選択手段を更に備えることを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
4. 前記判定部が、前記複数の測定条件のうち、前記確認用閾値と前記測定値との比較が既に終了している測定条件と同じ通電体を介して測定値を測定する測定条件については、該確認用閾値と該測定値との比較を行わないことを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
5. 前記検査用許容値が前記測定値の許容上限値であり、前記変換率が最大でも１００％未満の値であることを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
6. 前記検査用許容値が前記測定値の許容下限値であり、前記変換率が最小でも１００％よりも大きな値であることを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
7. 漏れ電流試験装置、耐電圧試験装置、又は絶縁抵抗試験装置であることを特徴とする請求項１〜６のいずれかに記載の試験装置。

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