JP2012021922A - 品質測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】投光手段3が測定対象物Wに対して平行光又は平行に近い光を照射するものであり、受光手段4を投光手段3に対向する位置から照射光L1の光軸と直交する方向へオフセット距離Gだけ平行移動させた位置に配置し、このように配置された受光手段4が測定対象物W内を拡散透過した光L2を受光可能なように支持手段2にスリット6を形成するとともに、測定対象物Wを透過した光が支持手段表面5で反射しないように測定対象物Wと支持手段2との間に無反射材7を介在させた。
【選択図】図1
Description
また、青果物の品質測定装置として、光源から被測定物に照射した光の透過光を回折格子で分光し、必要とする波長の分光をラインセンサにより測定し、該測定値を信号処理・制御装置により演算処理及び波形分析するとともに検量線を用いて演算処理する透過光式品質測定装置がある(例えば、特許文献3及び特許文献4参照。)。
その上、食品の多くは、その表面が均一でなく、大小様々な凸凹がある場合が多く、拡散反射により得られるスペクトルは、表面状態により正反射光と拡散反射光の比率が変動し、その受光強度が変動する。また、反射係数が凸凹の粒度と波長の関係により異なるため、スペクトル形状が変動し測定時に誤差要因となり、十分な精度が得られない場合がある。
よって、測定対象物が透明度の高いもの(光の吸収が弱いもの)や厚みの薄いもの(光路長の短いもの)であっても高速にS/N比のよい分光データを取得することができるため、測定対象物の内部品質の測定を高精度に行うことができるとともに、測定対象物の供給コンベアに直接接続して品質測定を行うオンライン測定にも対応することができる。
その上、前記オフセット距離だけ平行移動させた位置に配置された受光手段が測定対象物内を拡散透過した光を受光するため、測定対象物の一部の品質ではなく、光路が含まれる部分全体の内部品質を測定することができる。
このような構成によれば、投光手段が測定対象物に対して平行光又は平行に近い光を照射するものであることから、測定対象物の厚みや上下方向の位置変動に関係なく照射面積が略一定となり、照射部から受光手段までの距離を略一定にすることができるため、測定対象物ごとの光路長の変動を小さくすることができる。
このような構成によれば、測定対象物を透過した光が支持手段表面で反射しないように測定対象物と支持手段との間に無反射材を介在させていることから、測定対象物を透過した光が支持手段表面で反射し、測定対象物内へ進入して拡散する影響をなくすことができる。
このような構成によれば、測定対象物がない状態で反射手段により反射された光を受光手段に受光させてリファレンス光とすることができることから、オンライン測定時にリファレンス測定を自動的に行うことができるため、測定対象物の測定前に行うリファレンス測定作業を不要にすることができる。
このような構成によれば、位置変更手段により前記オフセット距離を変更することができることから、測定対象物に合わせてS/N比をより大きくするために行う上記オフセット距離の調整作業を容易に行うことができる。
本発明に係る品質測定装置における測定対象物は、菓子類、乳製品、パン類、麺類、調味料、冷凍食品、練り製品、魚介類、肉類、漬物及び発酵食品等の食品の他、肥料、ペットフード及び土壌等の食品以外であってもよく、さらに、医薬品やプラスチック製品等であってもよい。そして、本発明に係る品質測定装置は、その構成上、特に透明度の高いもの(光の吸収が弱いもの)や厚みの薄いもの(光路長の短いもの)の内部品質測定に適している。
また、分光分析手段は、例えば、受光手段4により受光した測定対象物Wからの拡散透過光L2を分光処理する分光器、必要とする波長の分光を測定するラインセンサ、該測定値を演算処理及び波形分析するとともに検量線を用いて演算処理する信号処理・制御装置等からなる。
なお、このような測定対象物Wを搬送しながらオンライン測定を行う構成ではなく、支持手段2を移動しないものとしてもよく、その場合には、搬送ベルト2A,2B間のスリット6ではなく、受光手段4の上側には開口が形成される。
ここで、平行に近い光として集光光を用いる場合には、集光距離を測定対象物Wよりも十分遠くにすればよく、同様の考え方により平行に近い光として拡散光を用いてもよい。
なお、測定対象物Wの厚みが略一定である場合には、照射光L1は、平行光又は平行に近い光でなくてもよい。
また、受光手段4は、投光手段4に対向する位置から照射光L1の光軸と直交する方向へオフセット距離Dだけ平行移動させた位置に配置され、このように配置された受光手段4が測定対象物W内を拡散透過した光L2を受光可能なように、支持手段2(搬送ベルト2A,2B)には上記スリット6が形成されている。
なお、投光手段3及び受光手段4は、これらの位置に投光用光ファイバー及び受光用光ファイバーのみをそれぞれ配設し、これらの光ファイバーにより光を伝送するようにしてもよく、投光手段3及び受光手段4にはこのような光ファイバーを用いる構成も含まれる。
ここで、無反射材7は、例えば近赤外吸収シート又は植毛紙等を支持手段表面5に貼付等により取り付けて形成してもよいし、支持手段表面5自体を例えばテフロン(登録商標)のような近赤外領域にて吸収が少ない材質にして形成してもよい。
なお、反射手段10を備えない構成においては、測定対象物Wと同等の透過率を有する物質で、測定波長域(近赤外領域)に吸収がほとんどないもの、一般的にはセラミックス、合成樹脂(例えばテフロン(登録商標)等)又は酸化チタン等を用い、これらを用いて測定対象物Wを測定する前に測定しておいた光をリファレンス光とすることができる。
なお、位置変更手段により受光手段4の位置を前記光軸と直交する方向へ変更してもよいし、位置変更手段により投光手段3及び受光手段4の両方の位置を前記光軸と直交する方向へ変更可能に構成してもよい。
図1に示すようにオフセット距離Dは測定対象物Wの幅よりも小さい距離にする必要があるとともに、図2に示すようにオフセット距離Dを大きくすると吸収信号のレベル(吸収信号強度)は大きくなるが、オフセット距離Dを大きくし過ぎるとセンサノイズが増大する。
したがって、測定対象物Wの基準サンプルに対して、前記基準サンプルの幅よりも小さい範囲で、位置変更手段によりオフセット距離Dを変化させながら前記基準サンプルからの拡散透過光L2を受光手段4により受光し、前記基準サンプルの吸収信号のレベルが大きく、かつ、センサノイズが少ない位置、すなわち吸収信号のS/N比が大きくなる位置をオフセット距離Dとして設定すればよい。
よって、測定対象物Wが透明度の高いもの(光の吸収が弱いもの)や厚みの薄いもの(光路長の短いもの)であっても高速にS/N比のよい分光データを取得することができるため、測定対象物Wの内部品質の測定を高精度に行うことができ、例えば、0.5mmから20mm程度の厚みの比較的薄い測定対象物Wの内部品質を透過光測定により精度よく測定することが可能となるとともに、測定対象物Wの供給コンベアに直接接続して品質測定を行うオンライン測定にも対応することができる。
その上、オフセット距離Dだけ平行移動させた位置に配置された受光手段4が測定対象物W内を拡散透過した光L2を受光するため、測定対象物Wの一部の品質ではなく、光路が含まれる部分全体の内部品質を測定することができる。
さらに、測定対象物Wを透過した光が支持手段表面5で反射しないように測定対象物Wと支持手段2との間に無反射材7を介在させていることから、測定対象物Wを透過した光が支持手段表面5で反射し、測定対象物W内へ進入して拡散する影響をなくすことができる。
また、投光手段3及び受光手段4の少なくともどちらかの位置を照射光L1の光軸と直交する方向へ移動可能にする位置変更手段を備え、測定対象物Wに合わせてオフセット距離Dを変更する構成によれば、位置変更手段によりオフセット距離Dを変更することができることから、測定対象物Wに合わせてS/N比をより大きくするために行うオフセット距離の調整作業を容易に行うことができる。
例えば、図1において、厚みの薄い測定対象物Wの搬送方向(図1における紙面垂直方向)に向かって左右端部に2個の光源8(投光手段3)を配置し、前記搬送方向に向かって左右方向の中央に受光手段4を配置するように構成することができ、このような構成によれば、測定対象物Wの略全体の内部品質の測定をすることができる。
なお、3個以上の光源8(投光手段3)を配置するようにしてもよい。
D オフセット距離
L1 照射光
L2 透過光
R リファレンス光
W 測定対象物
1 品質測定装置
2 支持手段
2A,2B 搬送ベルト
3 投光手段
4 受光手段
5 支持手段表面
6 スリット
7 無反射材
8 光源
9 凸レンズ
10 反射手段
Claims (5)
- 測定対象物を支持する支持手段、前記測定対象物に光を照射する投光手段、前記測定対象物からの透過光を受光する受光手段及び前記透過光を分光分析する分光分析手段を備えた、前記測定対象物の内部品質を測定する品質測定装置であって、
前記受光手段を前記投光手段に対向する位置から前記照射光の光軸と直交する方向へオフセット距離だけ平行移動させた位置に配置し、このように配置された前記受光手段が前記測定対象物内を拡散透過した光を受光可能なように前記支持手段にスリット又は開口を形成してなることを特徴とする品質測定装置。 - 前記投光手段が前記測定対象物に対して平行光又は平行に近い光を照射するものである請求項1記載の品質測定装置。
- 前記測定対象物を透過した光が前記支持手段表面で反射しないように前記測定対象物と前記支持手段との間に無反射材を介在させてなる請求項1記載の品質測定装置。
- 前記照射光の一部を前記受光手段へ導入する反射手段を備え、前記測定対象物がない状態で前記受光手段が受光した光をリファレンス光としてなる請求項1又は2記載の品質測定装置。
- 前記投光手段及び受光手段の少なくともどちらかの位置を前記照射光の光軸と直交する方向へ移動可能にする位置変更手段を備え、前記測定対象物に合わせて前記オフセット距離を変更してなる請求項1又は2記載の品質測定装置。
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JP2010161243A JP2012021922A (ja) | 2010-07-16 | 2010-07-16 | 品質測定装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019082355A (ja) * | 2017-10-30 | 2019-05-30 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 樹脂判定方法及び装置 |
Citations (3)
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JPS6421339A (en) * | 1987-07-16 | 1989-01-24 | Yokogawa Electric Corp | Physical quantity measuring apparatus |
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- 2010-07-16 JP JP2010161243A patent/JP2012021922A/ja active Pending
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