JP2012018820A - Lpp方式のeuv光源とその発生方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】所定の真空環境に保持された真空チャンバー12と、真空チャンバー内にターゲット物質の極超音速定常ガスジェット1を回収可能に形成するガスジェット装置14と、極超音速定常ガスジェットにその流れと平行な磁場5を印加する磁場発生装置20と、極超音速定常ガスジェットにレーザー光3を集光して照射するレーザー装置16と、を備え、レーザー光の集光点2においてターゲット物質を励起してプラズマを発生させ、そこから極端紫外光4を発光させる。
【選択図】図1
Description
本発明は、LPP方式のEUV光源に関する。LPP方式EUV光源は、例えば、特許文献1,2に開示されている。
また、実用出力を目指す、高繰り返し運転化(10〜100kHz)においては、発光源物質(すなわちターゲット物質)の廃棄は、デブリ発生、チャンバーの真空度悪化などの大きな問題を引き起こしていた。
該真空チャンバー内にターゲット物質の極超音速定常ガスジェットを回収可能に形成するガスジェット装置と、
前記極超音速定常ガスジェットにその流れと平行な磁場を印加する磁場発生装置と、
前記極超音速定常ガスジェットにレーザー光を集光して照射するレーザー装置と、を備える、ことを特徴とするLPP方式EUV光源が提供される。
該真空チャンバー内にターゲット物質の極超音速定常ガスジェットを回収可能に形成し、
前記極超音速定常ガスジェットにその流れと平行な磁場を印加し、
前記極超音速定常ガスジェットにレーザー光を集光して照射し、
前記レーザー光の集光点においてターゲット物質を励起してプラズマを発生させ、そこから極端紫外光を発光させる、ことを特徴とするLPP方式EUV光発生方法が提供される。
なお、ガス流の流れ方向へのプラズマの流れは磁場の影響を受けないため、発光物質の排出には影響を与えない。
ターゲット物質は、Xe(キセノン),Sn(スズ),Li(リチウム)等のガスもしくはクラスターであることが好ましい。
極超音速ノズル14aの末端(図で上端)と極超音速ディフューザー14bの先端(図で下端)とは、集光点2を挟んで所定の隙間を隔てている。この隙間は、真空チャンバー12内の真空環境に連通している。
なお、一般的に、極超音速及び極超音速定常ガスジェット1とは、M>5の極超音速流を意味するが、本発明では、上記要件を満たす限りで、M>1であればよい。
ここで、レーザー装置16は連続出力のほか、パルス出力の装置の使用も可能である。
磁場発生装置20は、極超音速定常ガスジェット1にその流れと平行な磁場5を印加する。磁場5は、この例では一様な静磁場(静磁界)である。
磁場5の方向は、この例では極超音速定常ガスジェット1と反対方向であるが、同一方向であってもよい。
(A) 真空チャンバー12内を所定の真空環境に保持し、
(B) 真空チャンバー12内にターゲット物質の極超音速定常ガスジェット1を回収可能に形成し、
(C) 極超音速定常ガスジェット1にその流れと平行な磁場5を印加し、
(D) 極超音速定常ガスジェット1にレーザー光3を集光して照射して、レーザー光の集光点2においてターゲット物質を励起してプラズマを発生させ、そこから極端紫外光4を発光させる。
ターゲット物質をプラズマ化して極端紫外光4を発光させるには、集光点2においてターゲット物質がプラズマ化する温度まで加熱する必要がある。このプラズマ化温度の最適温度条件は、キセノンガスの場合は約30eVであり、リチウムガスの場合は10〜30eVである。
上述した輻射量に相当するエネルギーを集光点2に集光させるために、集光点2の直径は、小さいほど好ましく、その観点から、YAGレーザー又はCOレーザーを用いるのが好ましい。
EUV光4を発光させるプラズマは、EUV光4の発生効率、発生量の観点から、リチウムガスの場合、その電子温度、密度はおおよそ、10〜30eV、1018/cm3〜1019/cm3の範囲にある。
このような、高温、高密度のプラズマは、大きな内部圧力を有し、これとバランスする外力がなければ、短時間で発散してしまう。
また、kはボルツマン定数(1.38x10−23J/K)、Tは電子温度(絶対温度K)であり、電子温度1eVは1.16x104Kに相当する。
さらに、Bは磁場(テスラ)、μ0は真空の透磁率(4πx10−7H/m)、Zは電離価数(リチウムプラズマ光源の場合:2程度)である。
1テスラ未満の強度Bの場合、プラズマの閉じ込め作用が不足するため、プラズマの膨張と共に所望の波長領域(13.5nm近傍)の出力が低下するため、レーザー出力のEUV変換効率が低くなる。
また、20テスラを超える強度Bは、磁場発生装置20が大型になりすぎる。
なお、ガス流の流れ方向へのプラズマの流れは磁場5の影響を受けないため、発光物質の排出には影響を与えない。
2 集光点、3 レーザー光、4 EUV光(極端紫外光)、
5 磁場、
10 LPP方式EUV光源、12 真空チャンバー、
12a 光学窓、13 真空ポンプ、
14 ガスジェット装置、
14a 極超音速ノズル、14b 極超音速ディフューザー、
15 ガス再循環装置、15a 吸引ポンプ、
15b ターゲットチャンバー、15b 吐出ポンプ、
16 レーザー装置、
16a レーザー発振器、16b 集光レンズ、
17a 供給ライン、17b 戻りライン、
18 ターゲット加熱装置、
20 磁場発生装置
Claims (4)
- 所定の真空環境に保持された真空チャンバーと、
該真空チャンバー内にターゲット物質の極超音速定常ガスジェットを回収可能に形成するガスジェット装置と、
前記極超音速定常ガスジェットにその流れと平行な磁場を印加する磁場発生装置と、
前記極超音速定常ガスジェットにレーザー光を集光して照射するレーザー装置と、を備える、ことを特徴とするLPP方式EUV光源。 - 前記ガスジェット装置は、前記真空チャンバー内に前記集光点を挟んで対向配置された極超音速ノズル及び極超音速ディフューザーと、前記極超音速定常ガスジェットを極超音速ノズルから噴射しかつ極超音速ディフューザーから回収して循環させるガス再循環装置とからなる、ことを特徴とする請求項1に記載のLPP方式EUV光源。
- 前記集光点における前記磁場の強度は、1テスラ以上、20テスラ以下である、ことを特徴とする請求項1又は2に記載のLPP方式EUV光源。
- 真空チャンバー内を所定の真空環境に保持し、
該真空チャンバー内にターゲット物質の極超音速定常ガスジェットを回収可能に形成し、
前記極超音速定常ガスジェットにその流れと平行な磁場を印加し、
前記極超音速定常ガスジェットにレーザー光を集光して照射し、
前記レーザー光の集光点においてターゲット物質を励起してプラズマを発生させ、そこから極端紫外光を発光させる、ことを特徴とするLPP方式EUV光発生方法。
Priority Applications (1)
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JP (1) | JP5709084B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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