JP2012009637A - 可変容量装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】可動梁の自己駆動による影響を受けにくく、RF容量が緩やかに変化するバイアス電圧の電圧範囲を広げることができる、可変容量装置を提供する。
【解決手段】可変容量装置1は、支持板2と可動梁3とRF容量部C1A,C1Bと駆動容量部C2A,C2Bとを備える。可動梁3は片持ち梁構造であり、可動端周辺に矩形薄肉部3Eを設けて、曲げ剛性を局所的に低減した構成である。駆動容量部C2A,C2Bは、バイアス電圧が印加されて生じる駆動容量によって可動梁3を曲げ変形させる。RF容量部C1A,C1Bは、支持板2と可動梁3との間が近接状態となる領域面積に応じて容量値が変化するRF容量を生じる。
【選択図】 図2

Description

この発明は、静電力により駆動するMEMSを用いてRF容量を可変する可変容量装置に関するものである。
近年、可変容量装置において静電力で駆動するMEMSが利用されることがある(特許文献1,2参照。)。図1は、従来の可変容量装置の構成例を説明する図である。
可変容量装置101は可動板102,103を備える。可動板102,103はそれぞれ両持ち梁構造であり導電性材料からなる。可動板103は可動板102との対向面が凸形状で誘電体層104を表面に備える。可動板102と可動板103とは互いに間隔を隔てて平行に配置され、可動板102,103間にバイアス電圧を印加することで駆動容量が生じて、可動板102,103間の間隔が狭まる。バイアス電圧を増大させていくことで、まず、可動板103の凸形状先端領域が可動板102に誘電体層104を介して接触するプルイン状態になり、そこからバイアス電圧をさらに増大させることで接触面積が増大していく。この可変容量装置101は、可動板102,103間の接触面積に応じた容量値のRF容量素子として利用される。
特開2006−210843号公報 特開2008−182134号公報
上述のように、可変容量装置では可動梁と支持板とが近接状態となる領域面積の変化によってRF容量が変化するが、RF容量の変化はプルイン状態の直後に大きく、その後は緩やかに変化することになる。
例えば片持ち梁構造の場合、まず、所定のバイアス電圧値で可動端がプルイン状態となりRF容量が大きく立ち上がる。この時、支持板に対して可動梁は可動端のみが接触する状態である。その後、バイアス電圧値をさらに高く所定のバイアス電圧値に到達した時に、可動端周辺の面領域が近接状態(面領域プルイン状態)となり、RF容量がさらに大きく立ち上がる。その後、バイアス電圧値を高くしていくにしたがって近接領域面積は拡大していき、その間、RF容量は緩やかに変化していく。
両持ち梁構造の場合、片持ち梁の中央周辺の面領域が支持板に平行に近づくため、所定のバイアス電圧値でいきなり面領域プルイン状態となり、RF容量が極めて大きく立ち上がる。その後、バイアス電圧値を高くしていくにしたがって近接領域面積は拡大していき、その間、RF容量は緩やかに変化していく。
可変容量装置は上述のような容量特性を持つが、その容量特性においてRF容量が緩やかに変化するバイアス電圧の範囲が広いことが望まれる。RF容量が緩やかに変化するバイアス電圧の範囲を拡げるためには、可動梁として曲げ剛性の低い柔らかい材料を利用することが有効であるが、可動梁として極端に曲げ剛性が低い材料を利用することはできない。例えば、RF信号による静電引力が可動梁に作用することで、所謂、可動梁の自己駆動(セルフアクチュエーション)による変形を引き起こされ、この変形の影響から極端に曲げ剛性が低い可動梁ではバイアス電圧による可動梁の適正駆動が困難になることがある。
そこで本発明の目的は、可動梁の自己駆動による影響を受けにくく、RF容量が緩やかに変化するバイアス電圧の電圧範囲を広げることができる、可変容量装置を提供することにある。
この発明の可変容量装置は、支持板と可動梁と容量形成部とを備える。可動梁は支持板の主面に平行に支持される。容量形成部は、支持板と可動梁との間に可動梁の主軸方向に沿って長尺に設けられ、バイアス電圧が印加されて生じる駆動容量によって可動梁を曲げ変形させ、曲げ変形によって支持板と可動梁との間が近接状態となる領域面積に応じて容量値が変化するRF容量を生じる。このような可変容量装置において可動梁は、容量形成部が最初に近接状態となる位置周辺で曲げ剛性を局所的に低減した構成である。
この構成では、容量形成部が最初に近接状態となる位置周辺での可動梁の曲げ剛性を局所的に低いものとすることで、その領域での曲げ変形の曲率を大きくすることが可能になり、面領域プルイン状態で近接状態になる領域面積を低減することができる。これにより、RF容量が緩やかに変化するバイアス電圧の電圧範囲を広げることができる。また、可動梁の支持端側は曲げ剛性が高いままであるため、可動梁の自己駆動による変形を抑制することができる。
この発明の可動梁は、容量形成部が最初に近接状態となる位置周辺で、前記支持板の主面法線方向の厚みを局所的に低減した構成であると好適である。この構成により、容量形成部が最初に近接状態となる位置周辺で、曲げ剛性を局所的に低減することができる。
この発明の可動梁は、支持端から容量形成部が最初に近接状態となる位置にかけて、前記支持板の主面法線方向の厚みを多段階に低減した構成であると好適である。この構成により、バイアス電圧の変化に対するRF容量の変化の線形性が高まり、RF容量の制御を精緻に行えるようになる。
この発明の可動梁は、主軸方向と直交する方向に延設した溝部を主面に配列し、溝部の主軸方向幅または主軸方向配列間隔を部分的に異ならせた構成であると好適である。この構成により、溝部の主軸方向幅または主軸方向配列間隔に応じて可動梁の剛性を部分的に異ならせることができる。その上、全ての溝部を深さ一定で形成しても、可動梁の曲げ剛性の分布を任意に設定でき、バイアス電圧の変化に対するRF容量の変化の線形性を高めることと、可動梁の成形とが容易になる。
この発明によれば、片持ち梁構造または両持ち梁構造の可動梁において容量形成部が最初に近接状態となる位置周辺で局所的に可動梁の曲げ剛性を低くすることにより、そこでの曲げ変形による曲率を大きくして面領域プルイン状態での近接領域面積を低減することができる。これにより、RF容量が緩やかに変化するバイアス電圧の電圧範囲を広げることができる。そして可動梁の支持端側は曲げ剛性が高いままとすることにより、可動梁の自己駆動による変形を抑制することができる。
従来の可変容量装置の構成例を説明する図である。 本発明の第1の実施形態に係る可変容量装置の構成例を説明する図である。 本発明の第1の実施形態に係る可変容量装置の容量特性を説明する図である。 本発明の第2の実施形態に係る可変容量装置の構成例を説明する図である。 本発明の第3の実施形態に係る可変容量装置の構成例を説明する図である。
本発明の実施形態に係る可変容量装置の構成例について図を参照して説明する。なお図中に、可動梁の厚み方向をZ軸方向、可動梁の主軸方向をX軸方向、可動梁の幅方向をY軸方向とする直交座標形のX−Y−Z軸を付記する。
《第1の実施形態》
図2(A)は第1の実施形態に係る可変容量装置1のX−Y面図である。図2(B)は可変容量装置1のX−Z面断面図である。図2(C)は可変容量装置1のY−Z面断面図である。
可変容量装置1は、バイアス電圧の印加によって容量値が変化するRF容量素子である。この可変容量装置1は、支持板2と可動梁3と下容量電極4A,4B,下駆動電極5A,5Bと上容量電極6,上駆動電極7A,7Bと誘電体膜8とを備える。
支持板2は平面視して矩形状のガラス基板からなり、上面に下容量電極4A,4B,下駆動電極5A,5Bが形成され、下容量電極4A,4B,下駆動電極5A,5Bを覆うように誘電体膜8が形成されている。下容量電極4A,4B,下駆動電極5A,5BはそれぞれX軸方向に長尺な線路状電極であり、下容量電極4A,4Bの両脇に下駆動電極5A,5Bを配置している。誘電体膜8は五酸化タンタルからなり、下容量電極4A,4B,下駆動電極5A,5Bを覆うように矩形状で支持板2の上面に積層している。
可動梁3は、X−Z面を視て略L字状の高抵抗シリコン基板(絶縁材料)からなり、一端で支持板2に支持される片持ち梁構造であり、2本の連結部3Bと可動部3Cと支持部3Aとラダー部3Dとを備える。支持部3Aは、支持板2に接合されて連結部3Bと可動部3Cとを支持板2から離間した状態で支持する。ここでは、支持部3AはY軸方向に長尺な柱状としている。2本の連結部3Bは、支持部3AのY軸方向両端から支持板2と平行にX軸方向に立設し、先端側で可動部3Cを支持する。ここでは、連結部3BをそれぞれX軸に対して蛇行するミアンダライン状としていて、これにより可動梁3の支持端を固定端ではなく回転端としている。可動部3CはX軸方向に長尺な平板状であり、X軸正方向端部にZ軸方向の厚み寸法が薄い矩形薄肉部3Eを設けて曲げ剛性を局所的に小さくした構成である。また可動部3Cは、X軸に沿って配列される複数の開口部からなる2列のラダー部3Dを設けた構成である。
上容量電極6,上駆動電極7A,7Bはそれぞれ可動梁3の下面に形成したX軸方向に長尺な線路状電極である。それらのうち上容量電極6は可動部3Cのラダー部3Dによって区画される中央の領域に、上駆動電極7A,7Bは可動部3Cのラダー部3Dによって区画されるY軸方向両外側の領域に設けている。なお、上容量電極6は下容量電極4A,4Bに対向配置していて、上駆動電極7A,7Bは下駆動電極5A,5Bに対向配置している。
このような構成の可変容量装置1において、下駆動電極5A,5Bにはバイアス電圧を印加するためのバイアス電圧端子を接続し、上駆動電極7A,7Bにはグランド端子を接続している。また、下容量電極4AはRF信号の入力端子(または出力端子)に接続し、下容量電極4BはRF信号の出力端子(または入力端子)に接続している。このため、下駆動電極5A,5Bはそれぞれ上駆動電極7A,7Bおよび誘電体膜8の対向する領域とともに駆動容量部C2A,C2Bを構成し、下容量電極4A,4Bはそれぞれ上容量電極6および誘電体膜8の対向する領域とともにRF容量部C1A,C1Bを構成することになる。駆動容量部C2A,C2Bは、バイアス電圧が印加されて生じる静電引力で可動梁3を支持板2側に引き付け、可動梁3を先端(X軸正方向側の端部)から誘電体膜8に接触させる駆動容量として機能する。また、RF容量部C1A,C1Bは、互いが直列に接続される構成であり、数百MHz〜数GHzの高周波回路の中で使用され、可動梁3と誘電体膜8との接触面積に応じて変化する容量可変なRF容量として機能する。
本実施形態の可変容量装置1は、前述のように可動梁3の可動端周辺に矩形薄肉部3Eを設けることで可動梁3の可動端における曲げ剛性を局所的に低減した構成であり、これにより、可動梁3が面領域プルイン状態となる際の、可動梁3と誘電体膜8との接触面積およびRF容量部C1A,C1Bの容量値を低減している。
図3(A)は可変容量装置1におけるバイアス電圧ごとの形状プロファイルの例を説明する図であり、図3(B)は比較構成におけるバイアス電圧ごとの形状プロファイルの例を説明する図である。なお比較構成としては、可変容量装置1における矩形薄肉部3Eを省いた構成、即ち可動部3Cを一様な厚みとした構成を採用している。
両図において、横軸は可動梁3の支持端をゼロとしたX軸上の位置(可動部3Cに対応する位置のみを図示)を、縦軸は無変形状態を基準にしたZ軸上の位置を示している。このため図中の各線分は、異なるバイアス電圧での可動部3Cの下面形状を上下逆向きにしたものと相似している。なお、各線分ごとのバイアス電圧の差は0.5Vである。
図3(A),(B)において、バイアス電圧を印加していない電圧値{V(0),V’(0)}の状態から電圧値{V(n),V’(n)}までの電圧増加に従い、可動梁3には連結部3Bでの曲げ変形が生じ、可動部3Cの傾きが徐々に大きくなっていく。そして、電圧値{V(n),V’(n)}から電圧値{V(n+1),V’(n+1)}への0.5Vの電圧増加により、一気に可動部3Cの傾きが増大し、可動部3Cの先端が誘電体膜8に接触するプルイン状態になる。次いで、バイアス電圧値{V(n+1),V’(n+1)}から電圧{V(m),V’(m)}までの電圧増加に従い、可動部3Cに曲げ変形が生じ、可動部3Cと誘電体膜8との接触角が徐々に低減していく。そして、電圧値{V(m),V’(m)}から電圧値{V(m+1),V’(m+1)}への0.5Vの電圧増加により、一気に接触角がゼロになり、可動端周辺の面領域が誘電体膜8に接触する面領域プルイン状態になる。
図3(B)の従来構成では、可動部3Cの曲げ剛性が一様に高いために、面領域プルイン状態とするために必要な静電引力が大きく、プルイン状態から面領域プルイン状態になるまでのバイアス電圧の電圧範囲{V’(n+1)〜V’(m)}が広いものになっている。また、面領域プルイン状態で接触する領域面積が大きくなっていて、面領域プルイン状態でのRF容量の容量値、即ち、RF容量の制御範囲の下限値が大きいものになっている。
一方、図3(A)の本願構成では、可動部3Cの先端周辺での曲げ剛性が局所的に低いために、面領域プルイン状態とするために必要な静電引力が小さく、プルイン状態から面領域プルイン状態になるまでのバイアス電圧の電圧範囲{V(n+1)〜V(m)}が狭いものになっている。このため、面領域プルイン状態になった後のRF容量を連続変化させることができるバイアス電圧の範囲{V(m+1)〜}が従来構成よりも広いものになる。また、面領域プルイン状態で接触する領域面積が小さくなっていて、面領域プルイン状態でのRF容量の容量値、即ち、RF容量の制御範囲の下限値が小さくなっている。このため、RF容量の制御範囲が従来構成よりも広いものになる。
図3(C)は可変容量装置の容量特性の一例を説明する図である。図中に破線で示す従来構成では、約3Vの電圧値でプルイン状態になり、この際にRF容量が急増する。その後、約8Vの電圧値で面領域プルイン状態になり、この際にもRF容量が急増する。一方、図中に実線で示す本願構成では、約3Vの電圧値でプルイン状態になるまでは従来構成と同様であるが、その後、約5.5Vと従来構成よりも低い電圧値で面領域プルイン状態になり、この際のRF容量の増加の程度が従来構成よりも緩やかなものになる。なお、約7Vの電圧値でもRF容量の増加が見られるが、これは、可動部3Cの厚肉部分が面接触することによる。このように、本願構成では、面領域プルイン状態でのRF容量の変化を抑制でき、従来構成よりもRF容量の連続性が高まるため、RF容量を従来構成よりも精緻に設定することが可能となる。
《第2の実施形態》
図4(A)は第2の実施形態に係る可変容量装置11の構成を説明する図である。
この可変容量装置11は、X−Y面断面形状が可変容量装置1と相違する可動梁13を備える。前述の可変容量装置1は可動梁が1段の段付き形状であったが、本実施形態の可変容量装置11は可動梁13が多段(3段)の段付き形状で、支持端側から可動端側にかけて、段階的にZ軸方向の厚み寸法が小さくなる形状として、可動梁13の曲げ剛性を支持端側から可動端側にかけて段階的に低減している。
図4(B)は可変容量装置11の容量特性の例を説明する図である。図中に実線で示す本願構成では、約3Vの電圧値で一気に面領域プルイン状態になり、RF容量の増加が従来構成よりも大きい。その後も、厚みが増す位置まで変形が進む際に若干のRF容量の急増があるが、電圧増加に従ってほぼ緩やかにRF容量が増加していく。このように、可動梁13における厚みを多段にして、曲げ剛性の勾配の離散度を高めることでRF容量の変化の連続性を高めることができる。
《第3の実施形態》
図5(A)は第3の実施形態に係る可変容量装置21の構成を説明する図である。
この可変容量装置21は、X−Y面断面形状が可変容量装置1,11と相違する可動梁23を備える。本実施形態の可変容量装置21はX軸に沿って配列される複数の溝部24を備える形状である。各溝部24はY軸に沿って所定深さで延設するとともに、溝部24の配置間隔を可動端側を狭く支持端側を広くしていて、これにより、支持端側から可動端側にかけて段階的に曲げ剛性を低減している。可動梁の成形にはエッチング等の製造技術を採用することができるが、前述の可変容量装置11ではエッチング深さを変更して複数回のエッチングプロセスを必要とし、一方、本実施形態の構成では、一度のエッチングで複数の溝部を成形でき、プロセス数を低減してより容易に製造できる。
図5(B)は可変容量装置21の容量特性の例を説明する図である。図中に実線で示す本願構成では、約3Vの電圧値でプルイン状態になり、約5Vの電圧値で面領域プルイン状態になっている。そして、その後、電圧増加に従ってほぼ緩やかにRF容量が増加している。このように、可動梁13における曲げ剛性の分布を多段にして、曲げ剛性の勾配の離散度を高めることでRF容量の変化の連続性を高めることができる。
なお、溝部24の配置間隔だけでなく溝部24自体の幅寸法の調整によっても曲げ剛性の勾配を変更することができ、それらの配置間隔や幅寸法を調整することにより、可変容量装置21の容量特性をより自由に設計することが可能になる。 以上の各実施形態で説明したように本発明は実施できるが、本発明の範囲は上述の実施形態の記載に制限されるものではなく、本発明の範囲は特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図されるものである。
1,11,21…可変容量装置
2…支持板
3,13,23…可動梁
3A…支持部
3B…連結部
3C…可動部
3D…ラダー部
3E…矩形薄肉部
4A,4B…下容量電極
6…上容量電極
5A,5B…下駆動電極
7A,7B…上駆動電極
8…誘電体膜
24…溝部
C1A,C1B…RF容量部
C2A,C2B…駆動容量部

Claims (4)

  1. 支持板と、
    前記支持板の主面に平行に支持される可動梁と、
    前記支持板と前記可動梁との間に前記可動梁の主軸方向に沿って長尺に設けられ、バイアス電圧が印加されて生じる駆動容量によって前記可動梁を曲げ変形させ、曲げ変形によって前記支持板と前記可動梁とが近接状態となる領域面積に応じて容量値が変化するRF容量を生じる容量形成部と、を備え、
    前記可動梁が、前記容量形成部が最初に近接状態となる位置周辺で曲げ剛性を局所的に低減した構成である、可変容量装置。
  2. 前記可動梁は、前記容量形成部が最初に近接状態となる位置周辺で、前記支持板の主面法線方向の厚みを局所的に低減した構成である、請求項1に記載の可変容量装置。
  3. 前記可動梁は、支持端から前記容量形成部が最初に近接状態となる位置にかけて、前記支持板の主面法線方向の厚みを多段階に低減した構成である、請求項1または2に記載の可変容量装置。
  4. 前記可動梁は、前記主軸方向と直交する方向に延設した溝部を主面に配列し、前記溝部の主軸方向幅または主軸方向配列間隔を部分的に異ならせた構成である、請求項1または2に記載の可変容量装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2013215811A (ja) * 2012-04-05 2013-10-24 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 微小メカニカル素子およびその作製方法
KR101393787B1 (ko) * 2012-06-29 2014-05-12 엘지이노텍 주식회사 커패시터 및 이의 제조방법

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